Techniki skaningowej mikroskopii elektronowej



Podobne dokumenty
Przykłady wykorzystania mikroskopii elektronowej w poszukiwaniach ropy naftowej i gazu ziemnego. mgr inż. Katarzyna Kasprzyk

LABORATORIUM ANALITYCZNEJ MIKROSKOPII ELEKTRONOWEJ (L - 2)

MIKROSKOPIA ELEKTRONOWA. Publikacja współfinansowana ze środków Unii Europejskiej w ramach Europejskiego Funduszu Społecznego

Inkluzje Protodikraneurini trib. nov.. (Hemiptera: Cicadellidae) w bursztynie bałtyckim i ich badania w technice SEM

Skaningowy Mikroskop Elektronowy. Rembisz Grażyna Drab Bartosz

FORMULARZ WYMAGANYCH WARUNKÓW TECHNICZNYCH

Elektronowa mikroskopia. T. 2, Mikroskopia skaningowa / Wiesław Dziadur, Janusz Mikuła. Kraków, Spis treści

Skaningowy mikroskop elektronowy - Ilość: 1 kpl.

WYJAŚNIENIE TREŚCI SIWZ

METODY BADAŃ BIOMATERIAŁÓW

h λ= mv h - stała Plancka (4.14x10-15 ev s)

Skaningowy Mikroskop Elektronowy (SEM) jako narzędzie do oceny morfologii powierzchni materiałów

Dotyczy: Specyfikacji Istotnych Warunków Zamówienia do przetargu nieograniczonego na dostawę mikroskopu elektronowego - numer Zp/pn/76/2015

Katedra Fizyki Ciała Stałego Uniwersytetu Łódzkiego

FORMULARZ OFERTY-SPECYFIKACJA

Fotolitografia. xlab.me..me.berkeley.

Metody i techniki badań II. Instytut Inżynierii Materiałowej Wydział Inżynierii Mechanicznej i Mechatroniki ZUT

Źródło typu Thonnemena dostarcza jony: H, D, He, N, O, Ar, Xe, oraz J i Hg.

SZCZEGÓŁOWY OPIS PRZEDMIOTU ZAMÓWIENIA STANOWIĄCY JEDNOCZEŚNIE DRUK POTWIERDZENIE ZGODNOŚCI TECHNICZNEJ OFERTY

PRZYGOTOWANIE PRÓBEK DO MIKROSKOPI SKANINGOWEJ

12. WYBRANE METODY STOSOWANE W ANALIZACH GEOCHEMICZNYCH. Atomowa spektroskopia absorpcyjna

Rozpraszanie nieelastyczne

Wymagane parametry dla platformy do mikroskopii korelacyjnej

Techniki mikroskopowe

Laboratorium nanotechnologii

ZDALNA REJESTRACJA POWIERZCHNI ZIEMI

2. Metody, których podstawą są widma atomowe 32

Laboratorium Badania Materiałów Inżynierskich i Biomedycznych

Spektrometr XRF THICK 800A

THICK 800A DO POMIARU GRUBOŚCI POWŁOK. THICK 800A spektrometr XRF do szybkich, nieniszczących pomiarów grubości powłok i ich składu.

Fizykochemiczne metody w kryminalistyce. Wykład 7

DOTYCZY: Sygn. akt SZ /12/6/6/2012

Ćwiczenie 5: Metody mikroskopowe w inżynierii materiałowej. Mikroskopia elektronowa

IM-4 BADANIE ABSORPCJI ŚWIATŁA W MATERIAŁACH PÓŁPRZEWODNIKOWYCH

NOWOCZESNE TECHNIKI BADAWCZE W INŻYNIERII MATERIAŁOWEJ. Beata Grabowska, pok. 84A, Ip

Spektrometry Ramana JASCO serii NRS-5000/7000

Badania korozji oraz elementów metalowych

SPEKTROMETRIA CIEKŁOSCYNTYLACYJNA

Rezonanse magnetyczne oraz wybrane techniki pomiarowe fizyki ciała stałego

Scenariusz wycieczki badawczej, przeprowadzonej w klasie II szkoły ponadgimnazjalnej, z przyrody

Promieniowanie rentgenowskie. Podstawowe pojęcia krystalograficzne

Oferta badań materiałowych

SPEKTROMETR FLUORESCENCJI RENTGENOWSKIEJ EDXRF DO PEŁNEJ ANALIZY PIERWIASTKOWEJ Energy dispersive X-Ray Fluorescence Spectrometer

ZAPLECZE LABORATORYJNO-TECHNICZNE Wydział Nauk o Ziemi i Gospodarki Przestrzennej UMCS

Wydział Mechaniczny LABORATORIUM MATERIAŁOZNAWSTWA

PRZYDATNOŚĆ RÓŻNYCH TECHNIK OBRAZOWANIA STRUKTUR BIOLOGICZNYCH WYKORZYSTUJĄCYCH ELEKTRONOWY MIKROSKOP SKANINGOWY *)

Spektroskopia charakterystycznych strat energii elektronów EELS (Electron Energy-Loss Spectroscopy)

Prezentacja aparatury zakupionej przez IKiFP. Mikroskopy LEEM i PEEM

Zastosowanie deflektometrii do pomiarów kształtu 3D. Katarzyna Goplańska

GEOLOGIA: Petrologia i petrografia Mineralogia i geochemia Geologia dynamiczna Gleboznawstwo Tektonika Stratygrafia Paleontologia Kartowanie

Charakter struktury połączenia porcelany na podbudowie cyrkonowej w zaleŝności od rodzaju materiału licującego.

BADANIA WTRĄCEŃ TLENKOWYCH W BRĄZIE KRZEMOWYM CUSI3ZN3MNFE METODĄ MIKROANALIZY RENTGENOWSKIEJ

Rys. 1. Schemat budowy elektronowego mikroskopu skaningowego (SEM).

Załącznik nr 6 I. SZCZEGÓŁOWY OPIS PRZEDMIOTU ZAMÓWIENIA

Techniki mikroskopowe mikroskopia optyczna i fluorescencyjna, skaningowy mikroskop elektronowy i mikroskop sił atomowych

Spektroskopia fotoelektronów (PES)

Badania komponentów do samolotów, pojazdów i maszyn

LABORATORIUM SPEKTRALNEJ ANALIZY CHEMICZNEJ (L-6)

Opis przedmiotu zamówienia

Aparatura do osadzania warstw metodami:

Aparatura w absorpcyjnej spektrometrii atomowej

Promotor: prof. nadzw. dr hab. Jerzy Ratajski. Jarosław Rochowicz. Wydział Mechaniczny Politechnika Koszalińska

Promieniowanie X. Jak powstaje promieniowanie rentgenowskie Budowa lampy rentgenowskiej Widmo ciągłe i charakterystyczne promieniowania X

Budowa i zasada działania skanera

Zaawansowane Metody Badań Strukturalnych. Badania strukturalne materiałów Badania właściwości materiałów

Katedra Fizyki Ciała Stałego Uniwersytetu Łódzkiego

OPIS PRZEDMIOTU ZAMÓWIENIA WRAZ Z WYCENĄ DLA CZĘŚCI I

Czy atomy mogą być piękne?

Nowoczesne metody analizy pierwiastków

I. Poziom: poziom rozszerzony (nowa formuła)

Widmo promieniowania

SPM Scanning Probe Microscopy Mikroskopia skanującej sondy STM Scanning Tunneling Microscopy Skaningowa mikroskopia tunelowa AFM Atomic Force

Szczegółowa charakterystyka przedmiotu zamówienia

Warszawa, dnia r.

Katedra Fizyki Ciała Stałego Uniwersytetu Łódzkiego. Ćwiczenie 8 Mikroanalizator rentgenowski EDX w badaniach składu chemicznego ciał stałych

OBRAZOWANIE ORAZ BADANIE ROZMIARÓW I POŁOŻENIA OBIEKTÓW NAŚWIETLONYCH PROMIENIOWANIEM X

ANALIZA SPECJACYJNA WYKŁAD 7 ANALIZA SPECJACYJNA

Skaningowy mikroskop elektronowy

Pomiar drogi koherencji wybranych źródeł światła

Techniki analityczne. Podział technik analitycznych. Metody spektroskopowe. Spektroskopia elektronowa

INFORMACJA DLA WYKONAWCÓW NR 2

WSPÓŁCZESNA TRANSMISYJNA MIKROSKOPIA ELEKTRONOWA PODSTAWY I MOŻLIWOŚCI TECHNIK S/TEM

NOWOCZESNE TECHNIKI BADAWCZE W INŻYNIERII MATERIAŁOWEJ. Beata Grabowska, pok. 84A, Ip

Przewaga klasycznego spektrometru Ramana czyli siatkowego, dyspersyjnego nad przystawką ramanowską FT-Raman

Metody analizy pierwiastków z zastosowaniem wtórnego promieniowania rentgenowskiego. XRF, SRIXE, PIXE, SEM (EPMA)

Podstawy przetwarzania obrazów teledetekcyjnych. Format rastrowy

OGŁOSZENIE DODATKOWYCH INFORMACJI, INFORMACJE O NIEKOMPLETNEJ PROCEDURZE LUB SPROSTOWANIE

Podstawy fizyki kwantowej i budowy materii

SPECYFIKACJA ISTOTNYCH WARUNKÓW ZAMÓWIENIA zwana dalej w skrócie SIWZ

Dorota Kunkel. WyŜsza Szkoła InŜynierii Dentystycznej

1. Niskoenergetyczne elektrony wtórne SE (podstawowy sygnał w SEM) 2. Charakterystyczne promieniowanie rentgenowskie (mikroanaliza w SEM i TEM)

Badania elementów i zespołów maszyn laboratorium (MMM4035L)

Własności optyczne materii. Jak zachowuje się światło w zetknięciu z materią?

Spektrometr ICP-AES 2000

Mikroskopia fluorescencyjna

ZASTOSOWANIE MIKROSKOPII SKANINGOWEJ DO INSPEKCJI UKŁADÓW ELEKTRONICZNYCH WYKONANYCH W TECHNOLOGII SMT

RoHS-Vision / X-RoHS + SDD

(Pieczęć Wykonawcy) Załącznik nr 8 do SIWZ Nr postępowania: ZP/259/050/D/11. Opis oferowanej dostawy OFERUJEMY:

Unikalne cechy płytek i szalek IBIDI

Urządzenia do wprowadzania informacji graficznej. Skanery, Digitizery, Aparaty i Kamery cyfrowe

Transkrypt:

mgr Ewa Starnawska Techniki skaningowej mikroskopii elektronowej SE morfologia BSE kompozycja i topografia BSEX - dyfrakcja EDX informacja o składzie chemicznym CL - katodoluminescencja

Skaningowy mikroskop elektronowy jest urządzeniem, wykorzystującym strumień ukierunkowanych elektronów, które linia po linii omiatają powierzchnię badanej próbki tworząc c jej obraz. W odróżnieniu od tradycyjnego obrazu z mikroskopu optycznego, który tworzy się dzięki przechodzącej cej fali światła a widzialnego i jest obrazem kolorowym, obraz elektronowy próbki (SE/BSE) jest obrazem czarno-bia białym, a uzyskiwane powiększenia sąs znacznie większe ksze niż powiększenia w mikroskopii optycznej. Zmienia się także e rozdzielczość ść,, czyli zdolność rozróżniania szczegółów w obrazu z 0,2µm m do 2-3nm2 Pumpellyit, obraz z mikroskopu polaryzacyjnego, Nikole II, pow.200x Pumpellyit obraz z mikroskopu elektronowego fot. BSE 200µm

Schemat działania ania mikroskopu elektronowego Przekrój j kolumny

Niektóre dane z historii powstania i rozwoju skaningowej mikroskopii elektronowej 1935 - M. Knoll konstruuje elektronowy mikroskop transmisyjny. 1938 - M. Von Arden przystępuje puje do prac konstrukcyjnych nad skaningowym mikroskopem elektronowym. 1948 - C. Oatley wraz z zespołem em 5 asystentów w przejmuje prace konstrukcyjne nad SEM. 1953 - O. Wells konstruuje scyntylator dla detektora BSE i ulepsza soczewki elektrostatyczne skupiające pierwotną wiązk zkę elektronów. 1955 - Everhart i Thornley ulepszają detektor SE obniżaj ając c poziom szumów w tła t a co polepsza obraz elektronowy próbki 1960 zespół kontruktorów dodaje soczewki magnetyczne dla poprawienia rozdzielczości ci obrazu. 1965 - pojawia się pierwszy skaningowy mikroskop elektronowy przeznaczony do sprzeda daży.

Niektóre dane z historii powstania i rozwoju skaningowej mikroskopii elektronowej Dawniej Ciekawostki Obecnie Pierwsza konstrukcja SEM miała kolumnę działa a elektronowego znajdującą się pod próbk bką. Pierwsze uzyskane zdjęcie skaningowe przedstawiało o kryształ ZnO w powiększeniu 8000 x ; uzyskano je przy napięciu przyspieszającym 23kV. Zdjęcie to zeskanowano przy pomocy 400 linii w ciągu 20 minut, a film był synchronicznie przesuwany zgodnie z prędko dkością skanowania. Prognozy marketingowe przewidywały ogólne światowe zapotrzebowanie na mikroskopy skaningowe na poziomie 6 szt. Stąd d prof. Oatley w celu obniżenia kosztów w produkcji uznał uzyskaną rozdzielczość 50nm za całkowicie wystarczającą. Uzyskiwane powiększenia zawierają się w granicach od kilku do kilkuset tysięcy razy. Uzyskiwana rozdzielczość wynosi: 2-3nm2 Napięcie przyspieszające wiązki. elektronowej zawiera się w granicach od 0,1 40kV. Przy zastosowaniu mikroskopów w o zmiennej próżni próbki nie muszą być napylane. Przeciętna prędko dkość skanowania dla zapisywanych obrazów w cyfrowych jest dobierana przez operatora. Przy przeglądaniu powierzchni skanowanie 1 obrazu zajmuje zaledwie 2,5 sek. Przy zapisywaniu obrazu o rozdzielczości ci 1024x768 pikseli skanowanie trwa ok. 40 sek, jeżeli eli rozdzielczość zwiększy się do wartości 3072x2304 piksele to wówczas w wczas musimy poczekać aż 6 minut. Przy bardzo wolnym skanowaniu i dużej rozdzielczości ci może e to być nawet ok. 24min.

Schemat oddziaływania pierwotnej wiązki elektronów i generowania efektów w wtórnych

Przykład zależno ności pomiędzy napięciem przyspieszającym a obszarem wzbudzenia w funkcji liczby atomowej próbki Cu 10 kv Al 20 kv Symulacja Monte Carlo dla elektronów BS wzbudzanych w próbce materiału

SE/BSE- Sterowanie energią wiązki elektronowej Zmniejszenie napięcia przyspieszającego pierwotnej wiązki elektronowej, umożliwia badanie delikatnych struktur próbek, bez ich zniszczenia Ślady oddziaływania wiązki elektronowej na powierzchnię próbki węglanów

Zalety zastosowania technik skaningowej mikroskopii elektronowej Łatwa preparatyka gdyż próbki napylane sąs węglem lub złotem z i naklejane na specjalne uchwyty. Możliwo liwość badania minimalnej ilości próbki. Wykonywanie badań,, które nie niszczą próbki. Wysoka rozdzielczość umożliwiaj liwiająca dokładne rozpoznanie morfologii badanego obiektu. Stosowanie różnych r detektorów w daje wszechstronną informację o naturze próbek wszelkiej materii stałej zarówno mineralnej i biologicznej: SE do badań morfologii próbek BSE - do oznaczania skład adów w fazowych i topografii BSED do zbierania kompleksowej informacji o strukturze krystalograficznej składnik adników, obecnych w polu widzenia EDX i WDX do oznaczania składu chemicznego w mikroobszarze a - w postaci analizy punktowej b w postaci rozkładu pierwiastków w wzdłuż zadanej linii c -w w postaci mapy rozkładu pierwiastków w w mikroobszarze CL do uzyskiwania informacji o luminescencji oraz jej zapisu w postaci obrazowej wraz z możliwo liwością pomiaru długości fali. Zbieranie tych informacji jest stosunkowo szybkie i wygodne, a obrazy cyfrowe mogą podlegać dalszej analizie i obróbce bce cyfrowej.

Sekcja Mikroskopii Elektronowej Państwowego Instytutu Geologicznego w Warszawie Mikroskop elektronowy JEOL, typ JSM-35 z mikrosondą elektronową EDS-ISIS 200 oraz mikrosondą WDS, typ JXA 35a Mikroskop elektronowy LEO, typ 1430 z mikrosondą elektronową EDS-ISIS 300 oraz urządzeniem do katodoluminescencji obrazowej typ: VIS-View wraz ze spektrometrem

Sekcja Mikroskopii Elektronowej Państwowego Instytutu Geologicznego w Warszawie Mikroskop elektronowy LEO, typ 1430 z mikrosondą elektronową EDS-ISIS 300 Oraz urządzeniem do katodoluminescencji obrazowej VIS-View, wraz ze spektrometrem. Obok mikroskop polaryzacyjny do światła przechodzącego i odbitego, wraz z kamerą CCD do cyfrowego zbierania obrazów. Całość jest podłączona do sieci komputerowej i centralnej bazy danych.

SE informacja o morfologii próbek Mikrostruktura skały

SE informacja o morfologii próbki Struktury rozpuszczania w siarce i węglanach

SE informacja o morfologii próbki Rozpuszczanie i rekrystalizacja kwarcu W widoczna kierunkowość procesu rozpuszczania bądźb rekrystalizacji wynika z uporządkowania struktury i symetrii kryształu

SE informacja o morfologii próbki Cementacja minerałami ilastymi blaszki chlorytowe blaszki i włókna illitowe Identyfikację minerałów w uzyskuje się dzięki punkowej analizie jakościowej

SE informacja o morfologii próbki cementacja Spoiwo hematytowo - kwarcowe w piaskowcu Spoiwo illitowe w piaskowcu

BSE informacja o składzie fazowym Py+tl Fe Zmienny kontrast w obrębie bie obrazu wskazuje na obecność składowych o większej lub mniejszej liczbie Z. Im większa jest liczba atomowa składnik adników w w minerale tym jego obraz BSE jest jaśniejszy

BSE informacja o topografii TOPO TOPO - KOMPO

BSED informacja o strukturze kryształu

Sygnał z detektora EDX przetwarzany jest w spektra analityczne

Komputeryzacja spektrometru dyspersji energii promieniowania rentgenowskiego umożliwia bardzo szybkie zbieranie sygnału u i przetwarzanie jego zliczeń w postać analizy ilościowej. Wyniki analiz ilościowych sąs przeliczane w oparciu o naturalne wzorce mineralne i uwzględniaj dniają poprawki ZAF

Informację o składzie próbki można uzyskać w postaci ilościowej zawartości pierwiastka wzdłuż zadanej linii, czyli tzw. profilu Profil jakościowego rozkładu pierwiastków w zsyderytyzowanym ziarnie dolomitu

Sygnał z detektora EDX przetwarzany jest jako maping,, czyli obraz rozmieszczenia wybranych pierwiastków w w mikroobszarze

Interpretacja uzyskanych wyników Jaki pierwiastek? tenantyt /Ca

Katodoluminescencja jest zjawiskiem luminescencji próbki pod wpływem strumienia elektronów. Stosowane sąs dwa rodzaje technik Zimna katoda w mikroskopie optycznym W skład tego urządzenia wchodzi mikroskop polaryzacyjny, na którego stoliku obecna jest komora próżniowa z elektrodami i okienkiem. Strumień elektronów w generowany jest pomiędzy elektrodami w niskiej próżni. Cechą tego typu urządzenia jest: Łatwość stosowania dzięki prostemu systemowi próżniowemu. Duże e pole obserwacji, 2x5cm Nie jest konieczne napylanie próbki Łatwy jest zapis kolorowego obrazu na kliszy fotograficznej. Dzięki połą łączeniu z mikroskopem polaryzacyjnym, łatwa jest identyfikacja mineralogiczna Urządzenie ma stosunkowo niską cenę Aparat ten jest bardzo użyteczny u w badaniach petrologicznych aczkolwiek posiada szereg niedogodności którymi są: s Niska rozdzielczość przestrzenna wynikająca z zastosowania stosunkowo małych powiększe kszeń Niekiedy istniejąca niestabilność spowodowana zmianami ciśnienia gazu w obrębie bie komory próżniowej Wypalanie badanej powierzchni pod wpływem bombardowania elektronami Brak możliwo liwości zapisu luminescencji chwilowych czy też krótkotrwa tkotrwałych w przypadku wygaszania centów w luminescencji w niektórych minerałach. ach. Urządzenie daje zapis obrazowy, który na ogół nie jest związany zany z zapisem spektralnym

Katodoluminescencja jest zjawiskiem luminescencji próbki pod wpływem strumienia elektronów. Stosowane sąs dwa rodzaje technik Gorąca katoda w mikroskopie elektronowym: skaningowym lub transmisyjnym, a także e w mikrosondach elektronowych. Wiązka elektronów w generowana jest przez działo o elektronowe mikroskopu a następnie ogniskowana na powierzchni próbki Zaletami tego urządzenia są: s Dobra rozdzielczość przestrzenna wynikająca z małej wielkości strumienia elektronów Obserwacje przy dużych powiększeniach Możliwo liwość zbierania obrazów w generowanych określon loną długością fali Wygoda powiązania obrazów w CL z obrazami z detektora BSE i EDX Zapis spektralny długod ugości pasma luminescencji BEI CL Pewnymi niedogodnościami sąs natomiast: Konieczność napylenia, węglem, w aluminium, niklem lub złotemz Wysoka próżnia w komorze mikroskopu Czarno-bia biały y zapis obrazu Zjawisko równoczesnej r fosforescencji, które stwarza trudności w otrzymywaniu obrazu niektórych minerałów w takich jak np. kalcyt Wysoki koszt urządzenia

Obrazy i spektra katodoluminescencyjne Obraz katodoluminescencyjny skalenia potasowego użylonego albitem (mikropertyt złożony) ony)

Dziękuj kuję za uwagę Zapraszam do korzystania z naszej aparatury i umiejętno tności