SPECYFIKACJA ISTOTNYCH WARUNKÓW ZAMÓWIENIA zwana dalej w skrócie SIWZ

Transkrypt

1 BIURO ZAMÓWIEŃ PUBLICZNYCH UNIWERSYTETU JAGIELLOŃSKIEGO Ul. Straszewskiego 25/9, Kraków tel , fax lub ; Zamówienie jako Projekt pn.: Badanie układów w skali atomowej, nauki ścisłe dla innowacyjnej gospodarki, jest współfinansowane przez Unię Europejską w ramach Europejskiego Funduszu Rozwoju Regionalnego Program Operacyjny Innowacyjna Gospodarka, lata , Priorytet 2. Infrastruktura sfery B+R, Działanie 2.1. Rozwój ośrodków o wysokim potencjale badawczym. Kraków, dnia 8 lutego 2011r. SPECYFIKACJA ISTOTNYCH WARUNKÓW ZAMÓWIENIA zwana dalej w skrócie SIWZ 1) Nazwa (firma) oraz adres Zamawiającego. 1.1 Uniwersytet Jagielloński, ul. Gołębia 24, Kraków. 1.2 Jednostka prowadząca sprawę: Biuro Zamówień Publicznych UJ, ul. Straszewskiego 25/9, Kraków; tel ; fax lub ; bzp@uj.edu.pl strona internetowa miejsce publikacji ogłoszeń i informacji 2) Tryb udzielenia zamówienia. 1. Postępowanie prowadzone jest w trybie przetargu nieograniczonego, zgodnie z przepisami ustawy z dnia 29 stycznia 2004 r. Prawo zamówień publicznych, zwaną w dalszej części SIWZ PZP (t.j. Dz. U. z 2010 r., Nr 113, poz. 759, z późn. zm.). 2. Postępowanie prowadzone jest przez komisję przetargową powołaną do przeprowadzenia niniejszego postępowania o udzielenie zamówienia publicznego. 3. Do czynności podejmowanych przez Zamawiającego i Wykonawców w postępowaniu o udzielenie zamówienia stosuje się przepisy powołanej ustawy Prawo zamówień publicznych oraz aktów wykonawczych wydanych na jej podstawie, a w sprawach nieuregulowanych przepisy ustawy z dnia 23 kwietnia 1964 r. - Kodeks cywilny (Dz. U. Nr 16, poz. 93, z późn. zm.). bzp@uj.edu.pl Strona 1 z 50

2 3) Opis przedmiotu zamówienia. 1. Przedmiotem postępowania i zamówienia jest wyłonienie Wykonawcy w zakresie dostawy i montażu Systemu Scanningowego Mikroskopu Elektronowo-Jonowego z oprogramowaniem i zintegrowanym systemem EDS/EBSD oraz Mikroskopu HR-TEM z akcesoriami, dotyczące projektu ATOMIN, współfinansowanego przez UE w ramach EFRR POIG 2.1, dla Wydziału Chemii i Wydziału Fizyki, Astronomii i Informatyki Stosowanej Uniwersytetu Jagiellońskiego w Krakowie. 1.1 Zakres zamówienia obejmuje w szczególności: dostawę, montaż (wykonanie instalacji) systemu skaningowego mikroskopu elektronowo-jonowego z akcesoriami, wyposażeniem, oprogramowaniem i zintegrowanym systemem EDS/EBSD/WDS, dostawę, montaż (wykonanie instalacji) wysokorozdzielczego analitycznego transmisyjnego mikroskopu elektronowego wyposażonego w układ skanujący (STEM) z detektorem HAADF, z oprogramowaniem do tomografii elektronowej, z filtrem energetycznym obrazowym, ze spektrometrem strat energii elektronów (EFTEM i EELS) i spektrometrem energodyspersyjnym (EDX), wraz z akcesoriami, wyposażeniem i oprogramowaniem, uruchomienie, przetestowanie i przeszkolenie personelu oraz świadczenie usług serwisowych w miejscu dostawy i instalacji, tj. przy ul. Łojasiewicza 6 w Krakowie. 2. Wykonawca musi zapewnić realizację zamówienia we wskazanym w pkt 4) SIWZ terminie, czyli do 9 miesięcy liczonych od udzielenia zamówienia. 3. Wykonawca musi zaoferować przedmiot zamówienia zgodny z wymogami Zamawiającego określonymi w SIWZ, przy czym zobowiązany jest dołączyć do oferty jego szczegółowe opisy techniczne i/lub funkcjonalne, czy też katalogi producenta (np. poprzez wskazanie typów, modeli, producentów, konfiguracji itp.), pozwalające na ocenę zgodności oferowanych elementów i urządzeń oraz ich parametrów z wymaganiami SIWZ (dopuszcza się angielskojęzyczną wersję niniejszych dokumentów). 4. Wykonawca musi zaoferować, co najmniej 48 miesięczny wymagany okres gwarancyjny obejmujący całość przedmiotu zamówienia, liczony od daty odbioru całości zamówienia wraz z nieodpłatną (wliczoną w cenę oferty) bieżącą konserwacją wynikającą z warunków gwarancji, przeglądami co najmniej raz w roku i naprawą w okresie gwarancyjnym w miejscu użytkowania realizowaną przez osoby lub podmioty posiadające stosowną autoryzację producenta. Przy czym po upływie połowy okresu gwarancyjnego, czyli w okresie ostatnich 24 miesięcy, Zamawiający pokrywa koszty niezbędnych części zamiennych i materiałów. 5. Wykonawca powinien przedstawić cenę ryczałtową oferty za przedmiot umowy w formie indywidualnej kalkulacji, przy uwzględnieniu wymagań i zapisów SIWZ. 6. W przypadku, gdy Wykonawca zapowiada zatrudnienie podwykonawców do oferty musi być załączony wykaz z zakresem powierzonych im zadań (części zamówienia). 7. Wykonawca powinien podpisać oraz wypełnić formularz oferty wraz z załącznikami lub złożyć ofertę odpowiadającą ich treści, przy czym może podpisać oraz dołączyć do oferty wzór umowy, stanowiące integralną część SIWZ. bzp@uj.edu.pl Strona 2 z 50

3 8. Wykonawca musi dołączyć do oferty wszystkie dokumenty i oświadczenia oraz załączniki przedstawione w SIWZ. 9. Oznaczenie przedmiotu zamówienia według kodu Wspólnego Słownika Zamówień CPV: mikroskopy elektronowe, skanujące mikroskopy elektronowe, spektrometry, kamery cyfrowe, różne komponenty do mikroskopów, aparatura kontrolna i badawcza, komputer biurkowy, monitory ekranowe, drukarki laserowe, analityczne lub naukowe pakiety oprogramowania, pakiety oprogramowania dla systemów operacyjnych komputerów osobistych (PC). 10. Szczegółowy opis przedmiotu zamówienia zawierający elementy składowe o następujących parametrach i wymaganiach technicznych oraz funkcjonalnych w odniesieniu do całości zamówienia: 10.1 System Skaningowego Mikroskopu Elektronowo-Jonowego z oprogramowaniem i zintegrowanym systemem EDS/EBSD/WDS. Wymagane jest w ramach realizacji i kosztów wykonania zamówienia zapewnienie zapasu części zamiennych, jak również wszelkich materiałów eksploatacyjnych zgodnie ze specyfikacją niżej opisaną zapewniających ciągłość pracy urządzeń w początkowym okresie eksploatacji. Zamówienie obejmuje ponadto szkolenie w zakresie obsługi i eksploatacji dostarczonych urządzeń w siedzibie Zamawiającego w wymiarze i dla liczby osób opisanych szczegółowo poniżej, które musi zostać wliczone w cenę oferty Wymagania podstawowe: Mikroskop spełniający wymagania instrumentu wysokorozdzielczego najnowszej musi być urządzeniem fabrycznie nowym (nie pokazywanym na imprezach targowych lub konferencjach) wyposażonym w zintegrowany układ dwóch kolumn optycznych kolumnę elektronową (SEM) i kolumnę jonową (FIB) Kolumna elektronowa mikroskopu musi być wyposażona w działo elektronowe z termiczną emisją polową (emiter Schottky'ego), o dużej jasności i stabilności pracy Kolumna elektronowa mikroskopu musi umożliwiać zmianę napięcia przyspieszającego w zakresie od 200V do 30kV z całkowitą kompensacją efektów związanych z przesuwem i rotacją obrazu System musi umożliwiać redukcję energii wiązki elektronowej padającej na powierzchnię preparatu do wartości nie większej niż 100eV Kolumna elektronowa mikroskopu musi umożliwiać prowadzenie badań z zastosowaniem prądów wiązki elektronowej o wartości natężenia do co najmniej 200 na Wiązka elektronowa musi charakteryzować się wysoką stabilnością (w krótkim okresie czasu <0.1%/10min, w długim okresie czasu 1%/10 godz.) Mikroskop ma umożliwiać pracę w warunkach zmiennej próżni i umożliwiać badania wierzchnich warstw różnych materiałów, w tym materiałów nieprzewodzących w ich naturalnym stanie (bez wstępnej preparatyki). bzp@uj.edu.pl Strona 3 z 50

4 Wymagany jest układ, który w reżimie niskopróżniowym umożliwia stosowanie ciśnień gazu roboczego o wartości z zakresu od co najwyżej 10 do co najmniej 1000 Pa Wymagany jest układ pracujący z różnymi gazami roboczymi, w tym z parą wodną Mikroskop musi być wyposażony w co najmniej następujące detektory elektronów: detektor elektronów wtórnych do pracy w trybie wysokiej próżni co najmniej jeden detektor elektronów wtórnych do pracy w trybie niskiej próżni detektor elektronów wstecznie rozproszonych detektor elektronów przechodzących (STEM) Detektor (detektory) elektronów wtórnych SE do pracy w modzie niskiej próżni musi (muszą) działać na zasadzie bezpośredniej detekcji elektronów wtórnych Zdolność rozdzielcza mikroskopu gwarantowana w miejscu instalacji - rozdzielczość obrazów elektronów wtórnych (SE) przy napięciu przyspieszającym 30kV w warunkach wysokiej próżni dla próbki (krystality Au na błonce węglowej) nie gorsza niż 1.0 nm oraz odpowiednio dla niskiej próżni nie gorsza niż 1.5 nm Zdolność rozdzielcza mikroskopu definiowana jako rozdzielczość obrazów elektronów wtórnych przy napięciu przyspieszającym 3kV co najmniej 3,0 nm w niskiej próżni Zdolność rozdzielcza mikroskopu dla obrazów BSE (elektronów wstecznie rozproszonych) w trybie wysokiej i niskiej próżni, gwarantowana dla napięcia przyspieszającego 30 kv co najmniej 2,5 nm Zdolność rozdzielcza mikroskopu dla obrazów STEM (elektronów przechodzących), gwarantowana dla napięcia przyspieszającego 30 kv co najmniej 0,8 nm Kolumna jonowa mikroskopu musi być wyposażona w polowy emiter jonów galu Napięcie przyspieszające w kolumnie jonowej musi być ustawialne co najmniej w zakresie od 2kV do 30kV Kolumna jonowa mikroskopu musi umożliwiać prowadzenie badań z zastosowaniem prądów wiązki jonów o wartości natężenia do co najmniej 65 na Mikroskop musi być wyposażony w układ śluzy pozwalający na wprowadzenie preparatu SEM (o wymiarach: średnica 30mm, wysokość 10mm) bez konieczności otwierania komory mikroskopu Mikroskop musi być wyposażony w mrożeniową pułapkę antykontaminacyjną Mikroskop musi być wyposażony w układ do pomiaru prądu wiązki Mikroskop musi być wyposażony w układ do precyzyjnego podawania gazu roboczego, pozwalający na depozycję platyny (Pt) Układ punktowego bzp@uj.edu.pl Strona 4 z 50

5 podawania gazu musi być sterowany z poziomu głównego interfejsu użytkownika mikroskopu Mikroskop musi posiadać możliwość rozbudowy o co najmniej dwa dodatkowe układy do precyzyjnego podawania gazu roboczego, pozwalające na depozycję takich materiałów jak np. wolfram (W), węgiel (C) lub złoto (Au). Pojedynczy układ musi służyć do precyzyjnego podawania jednego rodzaju gazu Mikroskop musi być wyposażony w mikromanipulator pozwalający na preparatykę próbek TEM (przenoszenie cienkich folii na dedykowane siatki TEM) Mikroskop musi być wyposażony w oprogramowanie pozwalające na zautomatyzowane, sekwencyjne wycinanie wielu preparatów TEM Komora preparatu mikroskopu musi umożliwiać montaż próbek o średnicy co najmniej do 30 mm Mikroskop musi być wyposażony w kamerę telewizyjną CCD czułą w zakresie promieniowania podczerwonego do podglądu wnętrza komory Stolik goniometryczny preparatu musi zapewniać możliwość przesuwu w kierunkach X, Y, Z w zakresie, odpowiednio, co najmniej 50mm x 50mm x 25mm oraz eucentryczne pochylanie w zakresie 900 i eucentryczny obrót 3600 dla wszystkich położeń X-Y. Wymagana motoryzacja przesuwów X, Y, Z oraz pochyłu i rotacji Mikroskop ma umożliwiać zapamiętywanie położeń dla próbek i punktów pomiarowych oraz automatyczny powrót do zapamiętanych położeń Mikroskop ma być wyposażony w system kontroli dostępu dla użytkowników różnych szczebli System mikroskopu musi umożliwiać cyfrowy zapis obrazów mikroskopowych z rozdzielczością nie mniejszą niż 12 Megapikseli i w skali szarości z rozdzielczością do 24 bit Musi istnieć możliwość cyfrowej rejestracji obrazów w co najmniej następujących przyjętych standardach: TIFF, BMP i JPEG oraz rejestracji sekwencji filmowych w formacie AVI System mikroskopu musi być wyposażony w co najmniej dwa kolorowe monitory LCD o przekątnej co najmniej Stanowisko komputerowe do obsługi mikroskopu oraz modułów i urządzeń dodatkowych Wymagane są komputery PC z monitorami LCD (zestawy komputerowe z klawiaturami i myszkami) w liczbie niezbędnej do prawidłowego i wygodnego funkcjonowania kompletnego systemu mikroskopu wraz z oprzyrządowaniem. Komputery muszą mieć wystarczającą moc obliczeniową dla realizacji wszystkich wymaganych przez oprogramowanie funkcji z bezzwłocznym przełączaniem pomiędzy równolegle pracującymi aplikacjami w ich najbardziej krytycznej konfiguracji i jednoczesnej obsłudze wszystkich kamer, detektorów i spektrometrów. Przynajmniej jeden komputer powinien być wyposażony w bzp@uj.edu.pl Strona 5 z 50

6 czytnik i rejestrator dysków blue-ray oraz drukarkę laserową z możliwością wydruku A4 w kolorze i rozdzielczości co najmniej 1200x1200 dpi, i automatycznym drukiem dwustronnym. Sprzęt komputerowy musi być dostosowany do oferowanych urządzeń podstawowych zgodnie z zaleceniami i wymaganiami ich producenta Musi istnieć możliwość jednoczesnej obserwacji na ekranie jednego monitora czterech różnych obrazów żywych, pochodzących z detektorów sygnałowych Oprogramowanie sterujące mikroskopu i wszystkie aplikacje specjalistyczne występujące w oferowanym instrumencie (w tym oprogramowanie wymaganego zintegrowanego układu EDS/WDS/EBSD) muszą być uruchamiane w systemie operacyjnym MS Windows XP i kompatybilne z innymi standardowymi programami środowiska Microsoft Windows Bezpłatna aktualizacja oprogramowania w okresie gwarancji Mikroskop oraz wszystkie zintegrowane z nim układy powinny posiadać bezpieczne połączenie z sieciami WAN i LAN System ma posiadać zintegrowany program do pomiarów odległości z automatycznym zapisem rezultatów pomiarów System musi być wyposażony w stolik grzewczy pozwalający na dynamiczne obserwacje in-situ w komorze preparatu próbek grzanych do temperatury 1000ºC. Musi być zapewniona możliwość bieżącego obrazowania (obserwacji) próbki na żywo i w pełnym zakresie wymaganych temperatur Sterowanie temperaturą stolika grzewczego (w tym programowanymi zmianami temperatury) musi odbywać się z poziomu głównego oprogramowania sterującego mikroskopu (interfejs użytkownika mikroskopu) Mikroskop musi być wyposażony w bezolejowy układ próżniowy, sterowany w sposób całkowicie automatyczny System mikroskopu musi zawierać układ chłodzenia wodą w obiegu zamkniętym Wymagany zestaw materiałów eksploatacyjnych w postaci: co najmniej 200 podstawek pod preparat SEM co najmniej 5 pudełek na próbki SEM co najmniej dwóch przewodzących taśm węglowych do montażu próbek SEM (o szerokości 8 mm lub 12 mm) co najmniej 400 przewodzących krążków węglowych do montażu próbek SEM (o średnicy 12 mm) co najmniej 100 sztuk siateczek dedykowanych do współpracy z mikromanipulatorem do preparatyki próbek TEM co najmniej jednego zestawu przewodzącego kleju węglowego wraz z rozpuszczalnikiem Wymagane jest co najmniej jedno dodatkowe źródło jonów dostarczane na zgłoszenie Zamawiającego. bzp@uj.edu.pl Strona 6 z 50

7 Wymagany jest co najmniej jeden dodatkowy emiter (źródło elektronów) dostarczany na zgłoszenie Zamawiającego Wymagane są 2 sztuki specjalistycznych stanowisk dla operatorów do pracy siedzącej dedykowanych do pracy z mikroskopem SEM/FIB Wymagany jest układ filtracji i podtrzymania napięcia zasilającego: całkowite zabezpieczenie przed przepięciami i krótkotrwałymi zanikami napięcia podtrzymanie pracy mikroskopu przez co najmniej 5 min. (po tym czasie bezpieczne włączenie ręczne lub automatyczne trybu podtrzymania pracy działa mikroskopu) Mikroskop musi być wyposażony w zintegrowany system EDS/WDS/EBSD sprzętowo i programowo przystosowany do współpracy z mikroskopem SEM/FIB i bezwzględnie spełniający następujące wymagania: Rentgenowski spektrometr EDS: Układ spektrometru EDS musi umożliwiać detekcję pierwiastków od węgla wzwyż Bezazotowy detektor typu SDD spektrometru EDS musi posiadać zdolność rozdzielczą 131 ev lub lepszą (specyfikowaną dla linii Mn Kα, przy liczbie zliczeń zl/s) Powierzchnia elementu aktywnego detektora musi być nie mniejsza niż 10mm Spektrometr EDS musi umożliwiać wykonywanie analizy jakościowej w sposób automatyczny lub manualny Spektrometr EDS musi umożliwiać wykonywanie analizy ilościowej całkowicie bezwzorcowo oraz z wykorzystaniem wzorców analitycznych Układ spektrometru EDS musi dysponować możliwością kontroli wiązki elektronowej mikroskopu w celu akwizycji obrazów elektronowych i map rtg. z użyciem własnego wysokorozdzielczego generatora skanu Układ spektrometru EDS musi dysponować możliwością rejestracji obrazów elektronowych z rozdzielczością maksymalną co najmniej 50 megapikseli i map rozkładów promieniowania rtg z rozdzielczością maksymalną co najmniej 2048 x 1600 pikseli Układ akwizycji oraz analizy obrazów dyfrakcyjnych i map orientacji krystalograficznych (system EBSD): Układ EBSD musi umożliwiać akwizycję i analizę obrazów dyfrakcji elektronów wstecznie rozproszonych Układ EBSD musi być wyposażony w osprzęt i oprogramowanie niezbędne do akwizycji i analizy map orientacji krystalograficznych oraz do prowadzenia pełnej identyfikacji faz Układ EBSD musi być wyposażony w wysokoczułą kamerę CCD, chłodzoną w układzie Peltiera i charakteryzującą się rozdzielczością akwizycji obrazów dyfrakcyjnych, co najmniej 1392 x 1040 x 12 bit Kamera CCD musi być połączona z komorą mikroskopu elektronowego w sposób zapewniający całkowitą integralność próżniową, a mechanizm bzp@uj.edu.pl Strona 7 z 50

8 wprowadzania i wyjmowania kamery do i z komory mikroskopu musi być zmotoryzowany Układ EBSD musi być wyposażony we wszystkie elementy niezbędne do przejęcia kontroli nad wiązką elektronową mikroskopu za pośrednictwem własnego generatora skanu, oraz umożliwiać import obrazów SE i BSE oraz sygnału z detektora EDS do oprogramowania EBSD System ma posiadać funkcję automatycznej korekcji dryftu dla wiązki elektronowej i stolika goniometrycznego w trakcie długotrwałej akwizycji map rozkładu pierwiastków EDS oraz map topografii orientacji krystalograficznych EBSD Układ EBSD musi umożliwiać wskaźnikowanie wszystkich układów krystalicznych i krystalograficznych grup punktowych Oprogramowanie akwizycji danych EBSD powinno zawierać zintegrowany edytor plików z referencyjnymi danymi dyfrakcji elektronowej dla różnych materiałów, z możliwością wprowadzania stałych sieci, symetrii i położeń atomów oraz budowania własnej bazy danych dyfrakcji elektronowej Wybór obszaru skanowania dla uzyskania map orientacji krystalograficznych musi być możliwy poprzez zaznaczenie obszaru w polu obrazu mikroskopowego Kształt obszaru skanowania musi być dowolny, w tym również liniowy Powinno być możliwe zbieranie map orientacji krystalograficznych przy zastosowaniu heksagonalnego rastra skanowania System EBSD musi umożliwiać automatyczne wskaźnikowanie obrazów dyfrakcyjnych i identyfikację faz w oparciu o informację o składzie chemicznym, wykorzystując możliwość jednoczesnej akwizycji danych EBSD i danych spektralnych EDS, zbieranych przez układ EDS System EBSD musi zawierać wszechstronny pakiet funkcji analizy zebranych map orientacji krystalograficznych Rentgenowski spektrometr WDS: Układ spektrometru WDS musi być optymalizowany do pracy z niskimi wartościami prądów wiązki i przy niskich napięciach przyspieszających Detektor spektrometru WDS musi posiadać co najmniej 4 wymienialne kryształy analizujące Wymagana rozdzielczość spektralna nie gorsza niż 20 ev dla energii fotonów X w całym zakresie poniżej 2,4 kev Spektrometr WDS musi zapewniać możliwość analizy w wybranych przedziałach energetycznych w zakresie co najmniej od 100eV do 2400eV lub skanowanie ciągłe całego dostępnego zakresu energetycznego Detektor WDS nie może wymagać dodatkowego chłodzenia Układ spektrometru WDS musi umożliwiać współpracę ze spektrometrem EDS Wysokopróżniowa napylarka do preparatyki próbek SEM: bzp@uj.edu.pl Strona 8 z 50

9 Wymagane jest urządzenie umożliwiające pokrycie powierzchni preparatu warstwą przewodzącą: zarówno metaliczną, jak i węglową Musi istnieć możliwość osadzania ciągłych powłok metali szlachetnych oraz węglowych; Ultra cienkie powłoki mają zapewniać prawidłowe odprowadzanie ładunku zbieranego na powierzchni preparatu w czasie obserwacji mikroskopowej (powinny mieć ciągły charakter oceniany wg obserwacji TEM) Sterowanie parametrami urządzenia powinno odbywać się z wykorzystaniem panelu sterującego wbudowanego w samo urządzenie Wymagany jest zintegrowany wyświetlacz wbudowany w urządzenie wskazujący podstawowe parametry procesu takie jak: temperatura stolika, czas, napięcie, prąd Wymagana jest możliwość płynnej regulacji wysokości stolika do montowania próbek Urządzenie musi posiadać przesłonę do zabezpieczenia preparatu w wstępnej fazie napylania Urządzenie musi być wyposażone w szklaną komorę próżniową o średnicy co najmniej 100mm, wraz z obudową zabezpieczającą Wymagana jest możliwość rozbudowy urządzenia o komorę próżniową do napylania preparatów o dużych rozmiarach o średnicy co najmniej 30 mm i wysokości co najmniej 60mm Urządzenie musi umożliwiać trawienie powierzchni preparatu Urządzenie musi być wyposażone w płynny regulator dopływu gazu roboczego do układu Urządzenie musi posiadać zawór odcinający dopływ gazu roboczego do układu w momencie wyłączenia urządzenia Urządzenie musi umożliwiać uzyskanie próżni co najmniej 10-5 mbar lub lepszej Wymagane jest wyposażenie urządzenia w pompę przeponową oraz wysokowydajną bezolejową pompę turbomolekularną Wymagana jest możliwość zapamiętania parametrów napylania (również po wyłączeniu i ponownym uruchomieniu) Wymagany jest zestaw materiałów eksploatacyjnych w postaci: co najmniej jednego źródła pozwalającego na nanoszenie warstw metalicznych (Au, Pt, W lub Pt/Pd) co najmniej 8 m włókna węglowego do nanoszenia warstw węglowych (o średnicy min. 1,5 mm) Wyposażenie dodatkowe (wraz z montażem) w osprzęt niezbędny do działania mikroskopu butle z gazami wraz z podłączeniami i reduktorami przewody i osprzęt hydrauliczny (reduktory, filtry, zbiorniki) osprzęt instalacji sprzężonego powietrza (reduktory, filtry, zawory, kompresor) Szkolenie: bzp@uj.edu.pl Strona 9 z 50

10 Wymagane jest wstępne (przed instalacyjne) co najmniej pięciodniowe szkolenie audytoryjne w siedzibie Zamawiającego dla co najmniej 10 osób Wymagane jest co najmniej dziesięciodniowe szkolenie z zakresu pełnej obsługi systemu SEM/FIB w miejscu instalacji dla co najmniej 4 osób Wymagane jest co najmniej pięciodniowe zaawansowane szkolenie aplikacyjne z zakresu obsługi systemu SEM/FIB w siedzibie producenta lub w miejscu instalacji dla co najmniej 2 osób, przy czym w przypadku szkolenia u producenta Zamawiający pokrywa koszty przejazdu i pobytu oddelegowanych osób Wymagane jest co najmniej 4 tygodniowe wsparcie techniczne oraz aplikacyjne (cykl szkoleń) w zakresie obsługi systemu SEM/FIB i oprzyrządowania w miejscu instalacji lub siedzibie producenta dla co najmniej 4 osób, przy czym w przypadku szkolenia u producenta Zamawiający pokrywa koszty przejazdu i pobytu oddelegowanych osób Wykonawca najpóźniej na miesiąc przed realizacją dostawy urządzeń musi dostarczyć Zamawiającemu wyniki testów dokonanych na urządzeniu stanowiącym przedmiot zamówienia w siedzibie producenta, potwierdzających uzyskanie deklarowanych parametrów. Zamawiający zastrzega sobie możliwość wykonania testów w obecności przedstawiciela Zamawiającego, przy czym koszty przejazdu i pobytu oddelegowanej osoby pokrywa Zamawiający Gwarancja, serwis, instalacja: Zainstalowany system musi być objęty gwarancją na okres co najmniej 48 miesięcy w miejscu instalacji urządzeń, której koszty winny zostać wliczone w cenę oferty Po upływie połowy okresu gwarancyjnego, czyli w okresie ostatnich 24 miesięcy, Zamawiający pokrywa koszty niezbędnych części zamiennych i materiałów Pod koniec każdego roku użytkowania w ramach gwarancji wymagane jest dokonanie przeglądu mikroskopu Wykonawca zobowiązuje się przedstawić w treści oferty lub w terminie do 1 miesiąca licząc od dnia podpisania umowy opis wymagań i standardów, jakie winny zostać zapewnione przez Zamawiającego w pomieszczeniach, w których zostaną zainstalowane urządzenia, natomiast po podpisaniu umowy musi zapewnić wstępny projekt (na przykład opisy, rysunki, rzuty, zalecenia itp.) adaptacji oraz specjalistyczne doradztwo przy przystosowaniu pomieszczeń laboratorium mikroskopowego Wysokorozdzielczy analityczny transmisyjny mikroskop elektronowy wyposażony w układ skanujący (STEM) z detektorem HAADF, oprogramowanie do tomografii elektronowej, filtr energetyczny obrazowy i spektrometr strat energii elektronów (EFTEM i EELS), spektrometr energodyspersyjny (EDX) wraz z akcesoriami (zwany dalej TEM). Wymagane jest w ramach realizacji i kosztów wykonania zamówienia zapewnienie zapasu części zamiennych, jak również wszelkich materiałów eksploatacyjnych zgodnie bzp@uj.edu.pl Strona 10 z 50

11 ze specyfikacją niżej opisaną zapewniających ciągłość pracy urządzeń w początkowym okresie eksploatacji. Zamówienie obejmuje ponadto szkolenie w zakresie obsługi i eksploatacji dostarczonych urządzeń w siedzibie Zamawiającego w wymiarze i dla liczby osób opisanych szczegółowo poniżej, które musi zostać wliczone w cenę oferty Mikroskop elektronowy: Mikroskop musi być fabrycznie nowym (nie pokazywanym na imprezach targowych lub konferencjach), wysokorozdzielczym instrumentem najnowszej generacji Mikroskop musi być wyposażony w działo elektronowe z termiczną emisją polową (emiter Schottky ego) o stabilności prądu emisji lepszą niż 1% dziennie Wymagana jasność źródła elektronów 4 x 10 8 A/cm 2 srad Wymagane rozmycie energetyczne źródła 1,1 ev Musi istnieć możliwość uzyskania prądu co najmniej 1 na w wiązce elektronowej skupionej do plamki o średnicy 1 nm (przy napięciu przyspieszającym 200 kv) Mikroskop musi umożliwiać pracę w zakresie napięć przyspieszających od 80 kv do 200 kv. Wymagana możliwość zmiany napięcia przyspieszającego wiązkę elektronową, w pełnym zakresie, podczas pracy mikroskopu Mikroskop musi charakteryzować się punktową zdolnością rozdzielczą 0,25 nm Mikroskop musi charakteryzować się limitem informacyjnym 0,14 nm Mikroskop pracujący w trybie TEM musi umożliwiać uzyskiwanie obrazów w powiększeniach z zakresu od co najwyżej 25x do co najmniej x (bez konieczności użycia oprogramowania do swobodnego doboru warunków pracy poszczególnych elementów optyki elektronowej) Mikroskop musi być wyposażony w moduł skanowania wiązką elektronową STEM wraz z detektorem HAADF Mikroskop pracujący w trybie STEM (z detektorem obrazowym HAADF) musi charakteryzować się zdolnością rozdzielczą 0,18 nm Mikroskop pracujący w trybie STEM musi umożliwiać uzyskiwanie obrazów w powiększeniach z zakresu od co najwyżej 150x do co najmniej x (na ekranie monitora 19 ) Wymagana możliwość obserwacji obrazu dyfrakcyjnego przy maksymalnym kącie widzenia nie mniejszym niż ±120 (w trybie dyfrakcji SAED z przysłoną selekcyjną) Przemieszczenia preparatu (ruchy goniometru) we wszystkich pięciu osiach, czyli przesuwy liniowe X, Y i Z oraz pochyły kątowe α i β, musi być zmotoryzowane i sterowane z głównego interfejsu graficznego użytkownika Musi istnieć możliwość zapisu nieograniczonej liczby położeń (X, Y, Z, α, β) i samoczynnego precyzyjnego powrotu do zapamiętanych współrzędnych wraz z odtworzeniem parametrów wysterowania optyki elektronowej Oś obrotu goniometru musi przecinać się z osią optyczną kolumny bzp@uj.edu.pl Strona 11 z 50

12 mikroskopu dokładnie w połowie odległości między nabiegunnikami obiektywu dla wszystkich trybów pracy: TEM i STEM oraz dla wszystkich technik analitycznych Szybkość przesuwu zmotoryzowanego musi być automatycznie dostosowywana do wartości ustawionego powiększenia Zakres przesuwu próbki w kierunku pionowym Z nie może być mniejszy od ± 0,3 mm, natomiast w kierunkach X i Y nie mniejszy niż ± 1 mm Przesłony kondensora, obiektywu i selekcyjna (minimum trzy rozmiary każdej), zmieniane oraz przesuwane mechanicznie i sterowane komputerowo System musi być wyposażony w kamerę pozwalającą na zdalną obsługę systemu TEM (przez sieć komputerową lub z innego pomieszczenia) oraz umożliwiającą zdalne wykonywanie wszystkich ustawień mikroskopu. Wymagana kamera o szybkości odczytu co najmniej 40 ramek/sek., z korekcją wzmocnienia Mikroskop musi być wyposażony w jednopochyłowy uchwyt preparatu, umożliwiający pochył próbki wokół osi α w zakresie co najmniej ±60º Mikroskop musi być wyposażony w dwupochyłowy analityczny berylowy uchwyt preparatu z niskim poziomem tła, umożliwiający pochyły próbki α i β wokół osi prostopadłych w zakresach co najmniej ±30º Mikroskop musi być wyposażony w specjalistyczny, jednopochyłowy, tomograficzny uchwyt preparatu (Ø3mm), o dużym polu widzenia, umożliwiający pochył próbki wokół osi α w zakresie co najmniej ±75º Mikroskop musi być wyposażony w dedykowaną kamerę CCD o rozdzielczości min 4000 x 2672 pikseli (wielkość piksela przynajmniej 9x9 µm 2, 16 bitowe kodowanie pikseli) do cyfrowej rejestracji obrazów mikroskopowych i obrazów dyfrakcyjnych, montowaną pod kolumną mikroskopu, kompatybilną z podkolumnowym filtrem strat energii elektronów (EELS/EFTEM), chłodzenie elementami Peltiera, czas odczytu w pełnej rozdzielczości nie dłuższy niż 1 s oraz możliwość cyfrowej rejestracji obrazów dyfrakcyjnych) Podkolumnowy spektrometr strat energii elektronów oraz filtr energetyczny obrazowy EELS/EFTEM o parametrach: wyposażony w dedykowaną kamerę CCD o rozdzielczości min 2k x 2k pikseli (wielkość piksela przynajmniej 14x14 µm 2 ) do cyfrowej rejestracji obrazów mikroskopowych i obrazów dyfrakcyjnych rozdzielczość energetyczna 1,1 ev układu mikroskop-spektrometr przy 200 kv błąd izochromatyczny 2eV (przy 200 kv) całkowita korekcja aberracji II i III rzędu (EFTEM) Zamawiający dopuszcza możliwość udzielenia co najmniej 12 miesięcznej gwarancji w zakresie filtru energetycznego-obrazowego Detektor EDX (energodyspersyjny analizator składu chemicznego): detektor typu SDD bzp@uj.edu.pl Strona 12 z 50

13 wymagana spektralna zdolność rozdzielcza 140 ev (mierzona dla linii MnKα przy zliczeń na sekundę na wyjściu detektora) wymagany kąt bryłowy akwizycji sygnału EDX: Ω 0,28 srad możliwość pracy w całym zakresie napięć przyspieszających system musi umożliwiać przeprowadzanie badań tomograficznych w trybie TEM - musi być wyposażony w całkowicie zintegrowaną i zautomatyzowaną technikę tomografii TEM (w szczególności do sterowania uchwytem jednopochyłowym, do akwizycji serii obrazów tomograficznych oraz rekonstrukcji i wizualizacji struktur w trzech wymiarach) wymagane oprogramowanie: zapewniające możliwość pisania skryptów do automatycznej pracy mikroskopu zapewniające możliwość automatycznej kalibracji powiększeń umożliwiające automatyczna korekcję dryftu próbki dla pomiarów w trybie STEM, EDX i EELS do mapowania rozkładu pierwiastków metodą EDX do mapowania rozkładu pierwiastków metodą EELS off-line do obróbki wyników pracy mikroskopu (co najmniej 10 licencji) off-line do zaawansowanej obróbki wyników badań wykonanych z użyciem spektrometru EDS (co najmniej 1 licencja) off-line do pracy z wynikami badań wykonanych w technice tomografii TEM na zewnętrznym komputerze (co najmniej 1 licencja) bezpłatna aktualizacja oprogramowania w okresie gwarancji Mikroskop musi być wyposażony w co najmniej dwa kolorowe monitory LCD o przekątnej min. 24 cali Stanowisko komputerowe do obsługi mikroskopu oraz modułów i urządzeń dodatkowych Wymagane są komputery PC z monitorami LCD (zestawy komputerowe z klawiaturami i myszkami) w liczbie niezbędnej do prawidłowego i wygodnego funkcjonowania kompletnego systemu mikroskopu TEM wraz z oprzyrządowaniem. Komputery muszą mieć wystarczającą moc obliczeniową dla realizacji wszystkich wymaganych przez oprogramowanie funkcji z bezzwłocznym przełączaniem pomiędzy równolegle pracującymi aplikacjami w ich najbardziej krytycznej konfiguracji i jednoczesnej obsłudze wszystkich kamer, detektorów i spektrometrów. Przynajmniej jeden komputer powinien być wyposażony w czytnik i rejestrator dysków blue-ray oraz drukarkę laserową z możliwością wydruku A4 w kolorze i rozdzielczości co najmniej 1200x1200 dpi, i automatycznym drukiem dwustronnym. Sprzęt komputerowy musi być dostosowany do oferowanych urządzeń podstawowych zgodnie z zaleceniami i wymaganiami ich producenta Musi istnieć możliwość połączenia systemu mikroskopu z siecią zewnętrzną dla umożliwienia łatwego importu lub eksportu danych lub sterowania mikroskopem i jego detektorami poprzez sieć Działanie wszystkich elementów optycznych, układu goniometru, układu bzp@uj.edu.pl Strona 13 z 50

14 próżniowego, układu kamery do cyfrowej rejestracji obrazu oraz sterowanie wszystkimi trybami pracy, w tym techniką tomografii TEM oraz techniką STEM i HAADF oraz modułami EDS i EELS, powinno być kontrolowane z jednego wspólnego interfejsu graficznego użytkownika w oprogramowaniu sterującym mikroskopu. W szczególności wymagane są możliwości: jednoczesnego zbierania widm EDS i EELS oraz sygnałów HAADF i widma EDS Wymagane są co najmniej dwa dodatkowe emitery polowe (źródła elektronów) dostarczane na zgłoszenie Zamawiającego System mikroskopu musi być wyposażony w układ chłodzenia w obiegu zamkniętym Wymagany zestaw materiałów eksploatacyjnych w postaci: co najmniej 100 siatek TEM (o średnicy 3mm) wykonanych z niklu (Ni) co najmniej 100 siatek TEM (o średnicy 3mm) wykonanych z miedzi (Cu) co najmniej 100 siatek TEM (o średnicy 3mm) pokrytych węglem (holey carbon grids) co najmniej 100 siatek TEM (o średnicy 3mm) pokrytych formvarem (formvar carbon grids) co najmniej 5 indeksowanych pudełek na próbki TEM Podręczny mikroskop optyczny do przygotowywania preparatów do obserwacji TEM Wymagane 2 sztuki specjalistycznych niemagnetycznych stanowisk dla operatorów dedykowanych do pracy siedzącej z mikroskopem TEM Układ filtracji i podtrzymania napięcia zasilającego: całkowite zabezpieczenie przed przepięciami i krótkotrwałymi zanikami napięcia podtrzymanie pracy mikroskopu przez co najmniej 5 min. (po tym czasie bezpieczne włączenie ręczne lub automatyczne trybu podtrzymania pracy działa mikroskopu) Wyposażenie dodatkowe (wraz z montażem) w osprzęt niezbędny do działania mikroskopu butle z gazami wraz z podłączeniami i reduktorami przewody i osprzęt hydrauliczny (reduktory, filtry, zbiorniki) osprzęt instalacji sprzężonego powietrza (reduktory, filtry, zawory, kompresor) Szkolenie: Wymagane jest wstępne (przed instalacyjne) co najmniej pięciodniowe szkolenie audytoryjne w siedzibie Zamawiającego dla co najmniej 10 osób Wymagane jest co najmniej dziesięciodniowe szkolenie z zakresu pełnej obsługi systemu TEM wraz z akcesoriami w miejscu instalacji dla co najmniej 4 osób Wymagane jest co najmniej pięciodniowe zaawansowane szkolenie aplikacyjne z zakresu obsługi systemu TEM w siedzibie producenta lub w miejscu instalacji dla co najmniej 2 osób, przy czym w przypadku szkolenia u producenta Zamawiający pokrywa koszty przejazdu i pobytu oddelegowanych osób. bzp@uj.edu.pl Strona 14 z 50

15 Wymagane jest co najmniej 4 tygodniowy wsparcie techniczne oraz aplikacyjne (cykl szkoleń) w zakresie obsługi systemu TEM i oprzyrządowania w miejscu instalacji lub siedzibie producenta dla co najmniej 4 osób, przy czym w przypadku szkolenia u producenta Zamawiający pokrywa koszty przejazdu i pobytu oddelegowanych osób Wykonawca najpóźniej na miesiąc przed realizacją dostawy urządzeń musi dostarczyć Zamawiającemu wyniki testów dokonanych na urządzeniu stanowiącym przedmiot zamówienia w siedzibie producenta, potwierdzających uzyskanie deklarowanych parametrów. Zamawiający zastrzega sobie możliwość wykonania testów w obecności przedstawiciela Zamawiającego, przy czym koszty przejazdu i pobytu oddelegowanej osoby pokrywa Zamawiający Gwarancja, serwis, instalacja: Zainstalowany system musi być objęty gwarancją na okres co najmniej 48 miesięcy w miejscu instalacji urządzeń, której koszty winny zostać wliczone w cenę oferty Po upływie połowy okresu gwarancyjnego, czyli w okresie ostatnich 24 miesięcy, Zamawiający pokrywa koszty niezbędnych części zamiennych i materiałów Pod koniec każdego roku użytkowania w ramach gwarancji wymagane jest dokonanie przeglądu mikroskopu Wykonawca zobowiązuje się przedstawić w treści oferty lub w terminie do 1 miesiąca licząc od dnia podpisania umowy opis wymagań i standardów, jakie winny zostać zapewnione przez Zamawiającego w pomieszczeniach, w których zostaną zainstalowane urządzenia, natomiast po podpisaniu umowy musi zapewnić wstępny projekt (na przykład opisy, rysunki, rzuty, zalecenia itp.) adaptacji oraz specjalistyczne doradztwo przy przystosowaniu pomieszczeń laboratorium mikroskopowego. Wymogi Zamawiającego i dodatkowe informacje: a) Oferta musi by jednoznaczna i kompleksowa, tj. obejmować cały asortyment przedmiotu zamówienia, b) Wykonawca musi skalkulować w cenie zamówienia koszty dostarczenia i montażu systemu (instalacji urządzeń), uruchomienia i przetestowania w miejscu dostawy, szkoleń, doradztwa itp., c) Dostawa według formuły DDP. Adres dostawy i montażu: Polska, Małopolska, Kraków, ul. Łojasiewicza 6, d) Certyfikat bezpieczeństwa znak CE (kopie certyfikatu lub deklaracji zgodności należy dostarczyć wraz z dostawą przedmiotu zamówienia), e) Zamawiający wymaga aby cały sprzęt był fabrycznie nowy. Wymagania dotyczące gwarancji: a) Wymagana jest co najmniej 48 miesięczna gwarancja na wszystkie dostarczone urządzenia i ich elementy (licząc od daty oddania urządzenia do eksploatacji tj. od daty zainstalowania, uruchomienia i przetestowania przedmiotu zamówienia), wraz z nieodpłatną (wliczoną w cenę oferty) bieżącą konserwacją wynikającą z warunków gwarancji, przeglądami co najmniej raz w roku i naprawą w okresie gwarancyjnym w miejscu bzp@uj.edu.pl Strona 15 z 50

16 użytkowania realizowaną przez osoby lub podmioty posiadające stosowną autoryzację producenta, przy czym po upływie połowy okresu gwarancyjnego, czyli w okresie ostatnich 24 miesięcy, Zamawiający pokrywa koszty niezbędnych części zamiennych i materiałów, b) Gwarancja musi być świadczona przez producenta lub autoryzowany przez niego serwis lub osoby na koszt Wykonawcy w siedzibie Zamawiającego, a jeżeli jest to technicznie niemożliwe to wszelkie działania organizacyjne i koszty z tym związane ponosi Wykonawca, c) Wykonawca gwarantuje najwyższą jakość dostarczonego produktu zgodnie ze specyfikacją techniczną. Odpowiedzialność z tytułu gwarancji jakości obejmuje zarówno wady powstałe z przyczyn tkwiących w przedmiocie zamówienia w chwili dokonania odbioru przez zamawiającego jak i wszelkie inne wady fizyczne, powstałe z przyczyn, za które wykonawca ponosi odpowiedzialność, pod warunkiem, że wady te ujawnią się w ciągu terminu obowiązywania gwarancji, d) Bieg terminu gwarancji rozpoczyna się w dniu następnym, po odbiorze technicznym przedmiotu umowy, e) Czas reakcji na zgłoszenie usterki (przystąpienie do niezwłocznego usunięcia usterki poprzez stawiennictwo serwisanta lub telefoniczne czy owe rozwiązanie problemu) w terminie nie dłuższym niż 7 dni od zgłoszenia usterki (powiadomienia telefonicznego) z wyłączeniem dni ustawowo wolnych od pracy, f) Naprawa gwarancyjna będzie wykonana w terminie nie dłuższym niż 14 dni licząc od dnia przyjęcia zgłoszenia przez serwis (telefonicznie, faxem lub em). W przypadku konieczności sprowadzenia specjalistycznych części zamiennych termin ten nie może by dłuższy niż 28 dni, chyba że Strony w oparciu o stosowny protokół konieczności wzajemnie podpisany uzgodnią dłuższy czas naprawy, g) Gwarancja ulega automatycznie przedłużeniu o okres naprawy, h) W przypadku trzykrotnej awarii tego samego elementu wykonawca zobowiązany jest do wymiany wadliwego elementu na nowy, i) W przypadku gdy wykonawca nie wypełni warunków gwarancji lub nie zastosuje się do powyższych punktów zamawiający jest uprawniony do usunięcia wad (usterek) w drodze naprawy na ryzyko i koszt Wykonawcy zachowując przy tym inne uprawnienia przysługujące mu na podstawie umowy. W Takich przypadkach Zamawiający ma prawo zaangażować innego Wykonawcę do usunięcia wad (usterek), a Wykonawca zobowiązany jest pokryć związane z tym koszty w ciągu 14 dni od daty otrzymania dowodu zapłaty. 1. Warunki realizacji zamówienia zawarte zostały również we wzorze umowy stanowiącym integralną część SIWZ. 2. Oryginał SIWZ podpisany przez osoby uprawnione w imieniu Zamawiającego, stanowiący podstawę do rozstrzygania ewentualnych sporów związanych z treścią tego dokumentu, dostępny jest w formie papierowej u Zamawiającego i udostępniony na stronie internetowej i może być przekazywany nieodpłatnie Wykonawcom w formie elektronicznej lub płytka CD. Natomiast po uprzednim zamówieniu przez Wykonawców, Zamawiający przewiduje możliwość powielenia i przesłania za odpłatnością kopii SIWZ w formie papierowej SIWZ jest nieodpłatna, w Wykonawca ponosi jedynie koszty wysyłki. 4) Termin wykonania zamówienia. bzp@uj.edu.pl Strona 16 z 50

17 1. Zamówienie musi zostać wykonane w terminie do 9 miesięcy, liczonym od daty udzielenia zamówienia, tj. daty podpisania umowy. 2. Zamawiający zaznacza, iż dopuszcza możliwość wcześniejszej realizacji. 5) Warunki udziału w postępowaniu oraz opis sposobu dokonywania oceny spełniania tych warunków. 1. Wykonawca musi posiadać uprawnienia do wykonywania określonej działalności lub czynności pozwalające na realizację zamówienia, jeżeli przepisy prawa nakładają obowiązek ich posiadania. Ocena spełnienia warunku będzie dokonywana metodą 0 1, tj. spełnia/nie spełnia, w oparciu o oświadczenie dołączone do oferty, którego wzór stanowi załącznik nr 1 do formularza oferty będącego integralną częścią SIWZ. 2. Wykonawca musi posiadać wiedzę i doświadczenie pozwalające na realizację zamówienia, dlatego też musi wykazać, w formie załączonego do oferty wykazu dostaw i oświadczenia uprzednich odbiorców o ich należytym wykonaniu, potwierdzonego odpowiednimi dokumentami, że w ciągu ostatnich 3 lat (a w przypadku, gdy okres prowadzenia działalności jest krótszy w tym okresie), licząc wstecz od dnia upływu terminu składania ofert, wykonał, tj. zrealizował przynajmniej dwa zamówienia, przy czym: 2.1 jedno polegające na dostawie systemu skaningowego mikroskopu elektronowojonowego z wyposażeniem, 2.2 drugie polegające na dostawie wysokorozdzielczego analitycznego transmisyjnego mikroskopu elektronowego z wyposażeniem, o łącznej wartości wykazanych dwóch wykonanych dostaw nie mniejszej niż ,00 złotych brutto. Wykonawca musi udokumentować, że wyżej wymienione dostawy wykonał należycie załączając dokumenty potwierdzające ich należytą realizację, a w wykazie podać ich wartość, przedmiot (zakres, rodzaj), datę(y) wykonania i odbiorcę(ów). Ocena spełnienia warunku będzie dokonywana metodą 0 1, tj. spełnia/nie spełnia, w oparciu o wykaz dostaw, dokumenty i oświadczenia dołączone do oferty, których wzór stanowią załączniki nr 1 i 2 do formularza oferty będącego integralną częścią SIWZ. Wykonawca może polegać na wiedzy i doświadczeniu innych podmiotów, niezależnie od charakteru prawnego łączących go z nimi stosunków. Wykonawca w takiej sytuacji zobowiązany jest udowodnić zamawiającemu, iż będzie dysponował zasobami niezbędnymi do realizacji zamówienia w zakresie wiedzy i doświadczenia przedstawiając w tym celu pisemne zobowiązanie tych podmiotów do oddania mu do dyspozycji niezbędnych zasobów na okres korzystania z nich przy wykonywaniu zamówienia oraz ich faktyczny udział przy realizacji zamówienia w charakterze podwykonawcy (ów), a także dołączyć odpowiednio wszystkie dokumenty wymagane w pkt 6)2. ppkt SIWZ na potwierdzenie braku podstaw do wykluczenia podwykonawcy (ów). 3. Wykonawca musi dysponować odpowiednim potencjałem technicznym pozwalającym na realizację zamówienia. Ocena spełnienia warunku będzie dokonywana metodą 0 1, tj. spełnia/nie spełnia, w oparciu o oświadczenie dołączone do oferty, którego wzór stanowi załącznik nr 1 do formularza oferty będącego integralną częścią SIWZ. bzp@uj.edu.pl Strona 17 z 50

18 4. Wykonawca musi dysponować osobami zdolnymi do wykonania zamówienia. Ocena spełnienia warunku będzie dokonywana metodą 0 1, tj. spełnia/nie spełnia, w oparciu o oświadczenie dołączone do oferty, którego wzór stanowi załącznik nr 1 do formularza oferty będącego integralną częścią SIWZ. 5. Wykonawca musi znajdować się w sytuacji ekonomicznej i finansowej pozwalającej na realizację zamówienia. Ocena spełnienia warunku będzie dokonywana metodą 0 1, tj. spełnia/nie spełnia, w oparciu o oświadczenie dołączone do oferty, którego wzór stanowi załącznik nr 1 do formularza oferty będącego integralną częścią SIWZ. 6) Wykaz oświadczeń lub dokumentów, jakie mają dostarczyć Wykonawcy w celu potwierdzenia spełnienia warunków udziału w postępowaniu i w celu wykazania braku podstaw do wykluczenia z postępowania. 1. W celu wykazania spełniania przez Wykonawcę warunków, o których mowa w art. 22 ust. 1 ustawy, Wykonawca zobowiązany jest złożyć: 1.1 oświadczenie o spełnianiu warunków udziału w postępowaniu, o których mowa w art. 22 ust. 1 pkt 1 4 ustawy PZP, 1.2 wykaz zrealizowanych przez Wykonawcę dostaw wraz z oświadczeniem i dokumentami potwierdzającymi ich należyte wykonanie. 2. W celu wykazania braku podstaw do wykluczenia z postępowania, o którym mowa w art. 24 ust. 1 ustawy PZP, Wykonawca zobowiązany jest złożyć: 2.1 oświadczenie o braku podstaw do wykluczenia, 2.2 aktualny na dzień składania ofert odpis z właściwego rejestru, jeżeli odrębne przepisy wymagają wpisu do rejestru (wystawiony nie wcześniej niż 6 miesięcy przed upływem terminu składania ofert), w celu wykazania braku podstaw do wykluczenia w oparciu o art. 24 ust. 1 pkt 2 ustawy PZP; w przypadku, gdy ofertę składa kilka podmiotów działających wspólnie dotyczy to każdego z nich przy czym wymóg ten nie dotyczy osób fizycznych, 2.3 aktualne na dzień składania ofert zaświadczenie od właściwego naczelnika urzędu skarbowego o nie zaleganiu z opłacaniem podatków lub o uzyskaniu przewidzianego prawem zwolnienia, odroczenia lub rozłożenia na raty zaległych płatności lub wstrzymania w całości wykonania decyzji organu podatkowego (wystawione nie wcześniej niż 3 miesiące przed upływem terminu składania ofert); w przypadku, gdy ofertę składa kilka osób fizycznych lub podmiotów działających wspólnie dotyczy to każdego z nich. 2.4 aktualne na dzień składania ofert zaświadczenie z właściwego oddziału Zakładu Ubezpieczeń Społecznych lub Kasy Rolniczego Ubezpieczenia Społecznego o nie zaleganiu z opłacaniem składek na ubezpieczenie zdrowotne i społeczne lub potwierdzenie o uzyskaniu przewidzianego prawem zwolnienia, odroczenia lub rozłożenia na raty zaległych płatności lub wstrzymania w całości wykonania decyzji właściwego organu (wystawione nie wcześniej niż 3 miesiące przed upływem terminu składania ofert); w przypadku, gdy ofertę składa kilka osób fizycznych lub podmiotów działających wspólnie dotyczy to każdego z nich, 2.5 aktualną na dzień składania ofert informację z Krajowego Rejestru Karnego (wystawioną nie wcześniej niż 6 miesięcy przed upływem terminu składania ofert) bzp@uj.edu.pl Strona 18 z 50