Międzynarodowe Tablice Krystalograficzne (International Tables for Crystallography)



Podobne dokumenty
Międzynarodowe Tablice Krystalograficzne (International Tables for Crystallography)

Międzynarodowe Tablice Krystalograficzne (International Tables for Crystallography)

Podstawowe pojęcia opisujące sieć przestrzenną

Elementy symetrii makroskopowej.

Rodzina i pas płaszczyzn sieciowych

Kombinacje elementów symetrii. Klasy symetrii.

Układy krystalograficzne

Uniwersytet Śląski w Katowicach str. 1 Wydział

Konwersatorium z chemii ciała stałego Specjalność: chemia budowlana ZESTAW 3. Symetria makro- i mikroskopowa

Uniwersytet Śląski Instytut Chemii Zakład Krystalografii. Laboratorium z Krystalografii. 2 godz. Komórki Bravais go

Podstawy krystalochemii pierwiastki

Kombinacje elementów symetrii. Klasy symetrii.

Laboratorium z Krystalografii. 2 godz.

Układ regularny. Układ regularny. Możliwe elementy symetrii: Możliwe elementy symetrii: 3 osie 3- krotne. m płaszczyzny przekątne.

Grupy przestrzenne i ich symbolika

Rozwiązanie: Zadanie 2

Krystalochemia białek 2016/2017

KRYSTALOGRAFIA Crystallography. Poziom przedmiotu Studia I stopnia Liczba godzin/tydzień 2W, 1Ćw PRZEWODNIK PO PRZEDMIOCIE

Uniwersytet Śląski w Katowicach str. 1 Wydział

Strukturalne elementy symetrii. Krystalograficzne grupy przestrzenne.

Wykład 5. Komórka elementarna. Sieci Bravais go

Krystalografia i krystalochemia Wykład 15 Repetytorium

Położenia, kierunki, płaszczyzny

Opracowanie: mgr inż. Antoni Konitz, dr hab inż. Jarosław Chojnacki Politechnika Gdańska, Gdańsk 2007, 2016

3. Operacje symetrii, macierze operacji symetrii. Grupy punktowe. Przypisywanie grupy punktowej dla zadanych obiektów

Rok akademicki: 2013/2014 Kod: JFT s Punkty ECTS: 4. Poziom studiów: Studia II stopnia Forma i tryb studiów: Stacjonarne

STRUKTURA MATERIAŁÓW

Metody badań monokryształów metoda Lauego

ELEMENTY I OPERACJE SYMETRII Symbol Element symetrii Operacja symetrii

KRYSTALOGRAFIA Studia pierwszego stopnia, stacjonarne II rok

BUDOWA KRYSTALICZNA CIAŁ STAŁYCH. Stopień uporządkowania struktury wewnętrznej ciał stałych decyduje o ich podziale

Sieć przestrzenna. c r. b r. a r. komórka elementarna. r r

WIDOKI I PRZEKROJE PRZEDMIOTÓW LINIE PRZENIKANIA BRYŁ

Wykład 5 Otwarte i wtórne operacje symetrii

WYKŁAD 5 Zastosowanie teorii grup w analizie widm oscylacyjnych

Aby opisać strukturę krystaliczną, konieczne jest określenie jej części składowych: sieci przestrzennej oraz bazy atomowej.

S 2, C 2h,D 2h,D 3d,D 4h, D 6h, O h

Metody badań monokryształów metoda Lauego

FIGURY I PRZEKSZTAŁCENIA GEOMETRYCZNE

Elementy teorii powierzchni metali

Wykład 1. Symetria Budowy Kryształów

Wyznaczanie struktury krystalicznej i molekularnej wybranego związku koordynacyjnego w oparciu o rentgenowską analizę strukturalną

Natęż. ężenie refleksu dyfrakcyjnego

Nazwa przedmiotu BAZY DANYCH I METODY KOMPUTEROWE W KRYSTALOGRAFII Databases and Computer Methods in Crystallography

Charakterystyka struktury kryształu na podstawie pliku CIF (Crystallographic Information File)

Opis efektów kształcenia dla modułu zajęć

ROZDZIAŁ I. Symetria budowy kryształów

Krystalografia. Analiza wyników rentgenowskiej analizy strukturalnej i sposób ich prezentacji

STRUKTURA IDEALNYCH KRYSZTAŁÓW

Laboratorium z Krystalografii. 2 godz.

Analiza kinematyczna i dynamiczna układu roboczego. koparki DOSAN

1.1. Przykład projektowania konstrukcji prętowej z wykorzystaniem ekranów systemu ROBOT Millennium

Elementy symetrii makroskopowej w ujęciu macierzowym.

Opis efektów kształcenia dla modułu zajęć

Maszyny technologiczne. dr inż. Michał Dolata

Rejestracja dyfraktogramów polikrystalicznych związków. Wskaźnikowanie dyfraktogramów i wyznaczanie typu komórki Bravais go.

STRUKTURA KRYSTALICZNA

Laboratorium z Krystalografii specjalizacja: Fizykochemia związków nieorganicznych

Widoki WPROWADZENIE. Rzutowanie prostokątne - podział Rzuty prostokątne dzieli się na trzy rodzaje: widoki,.przekroje, kłady.

Zastosowanie teorii grup. Grupy symetrii w fizyce i chemii.

Synteza Fouriera. Synteza Pattersona. Rozwiązywanie modelowych struktur na podstawie analizy map Pattersona.

WYZNACZANIE BRYŁY FOTOMETRYCZNEJ LAMP I OPRAW OŚWIETLENIOWYCH

Laboratorium z Krystalografii. 2 godz.

ĆWICZENIE Nr 27. Laboratorium Inżynierii Materiałowej. Akceptował: Kierownik Katedry prof. dr hab. B. Surowska. Opracował: dr inż. S.

RENTGENOGRAFIA. Poziom przedmiotu Studia I stopnia niestacjonarne Liczba godzin/zjazd 1W e, 2L PRZEWODNIK PO PRZEDMIOCIE

ZESTAW PRZYKŁADOWYCH ZADAŃ Z MATEMATYKI ZAKRES ROZSZERZONY

Rentgenowska analiza strukturalna Synteza Fouriera. Synteza Pattersona. Rozwiązywanie modelowych struktur na podstawie analizy map Pattersona.

STRUKTURA CIAŁA STAŁEGO

WYMAGANIA EDUKACYJNE NA POSZCZEGÓLNE OCENY MATEMATYKA KLASA 8 DZIAŁ 1. LICZBY I DZIAŁANIA

WIDOKI I PRZEKROJE PRZEDMIOTÓW

Podstawy Automatyki. Wykład 8 - Wprowadzenie do automatyki procesów dyskretnych. dr inż. Jakub Możaryn. Warszawa, Instytut Automatyki i Robotyki

Przykład Łuk ze ściągiem, obciążenie styczne. D A

Symetria w fizyce materii

Wstęp. Krystalografia geometryczna

Przekształcenia wykresów funkcji

2. Wymagania wstępne w zakresie wiedzy, umiejętności oraz kompetencji społecznych (jeśli obowiązują):

Prof. nzw. dr hab. Jarosław Mizera & dr inż. Joanna Zdunek

WYMAGANIA EDUKACYJNE Z MATEMATYKI DLA KL.I

Liniowe Zadanie Decyzyjne model matematyczny, w którym zarówno funkcja celu jak i warunki

6 Grafika 2D. 6.1 Obiekty 2D

KURS FUNKCJE. LEKCJA 2 PODSTAWOWA Przekształcenia wykresu funkcji ZADANIE DOMOWE. Strona 1

Kształtowanie w uczniach umiejętności identyfikowania zależności i analogii matematycznych w otaczającym świecie.

Elementy symetrii. obiekt geometryczny taki jak linia, płaszczyzna lub punkt, względem którego dokonuje się operacji symetrii.

WPŁYW WYBRANYCH USTAWIEŃ OBRABIARKI CNC NA WYMIARY OBRÓBKOWE

Grafika inżynierska i projektowanie geometryczne WF-ST1-GI--12/13Z-GRAF. Liczba godzin stacjonarne: Wykłady: 15 Zajęcia projektowe: 40

Przekształcenia wykresów funkcji

GRAFIKA KOMPUTEROWA Przekroje Kłady

Kryteria oceniania z matematyki Klasa III poziom rozszerzony

WYMAGANIA EDUKACYJNE Z MATEMATYKI W KLASIE VIII

Bezpośredni opiekunowie laboratorium: Prof. dr hab. Marek Szafrański. Prof. dr hab. Maciej Kozak, dr Marceli Kaczmarski.

2. Na każdej stronie wpisz, w odpowiednim miejscu, kod zdającego.

Grafika inżynierska geometria wykreślna. 5a. Obroty i kłady. Rozwinięcie wielościanu.

Rzuty aksonometryczne służą do poglądowego przedstawiania przedmiotów.

Krystalografia. Dyfrakcja na monokryształach. Analiza dyfraktogramów

Instytut Fizyki Doświadczalnej Wydział Matematyki, Fizyki i Informatyki UNIWERSYTET GDAŃSKI

1. PRZYKŁADY WYKORZYSTANIA PROGRAMU RCAD - ŻELBET

Kryteria oceniania z matematyki Klasa III poziom podstawowy

1. PRZYKŁADY WYKORZYSTANIA PROGRAMU AUTOCAD STRUCTURAL DETAILING - ŻELBET

WYKŁAD 2 Znormalizowane elementy rysunku technicznego. Przekroje.

Wymagania edukacyjne niezbędne do otrzymania poszczególnych śródrocznych i rocznych ocen klasyfikacyjnych z matematyki dla klasy VIII

Transkrypt:

Uniwersytet Śląski Instytut Chemii Zakład Krystalografii Laboratorium z Krystalografii Międzynarodowe Tablice Krystalograficzne (International Tables for Crystallography) 2 godz. Cel ćwiczenia: analiza informacji zawartych w Międzynarodowych Tablicach Krystalograficznych, nabycie umiejętności odczytywania podstawowych danych charakterystycznych dla danej grupy przestrzennej. Pomoce naukowe: Międzynarodowe Tablice Krystalograficzne Wstęp teoretyczny. Międzynarodowe Tablice Krystalograficzne zawierają dokładną charakterystykę 230 grup przestrzennych. Prezentują symetrię grup przestrzennych i współrzędne pozycji równoważnych. O czym informują: w pierwszej linii prezentują nazwę układu, skrócony symbol międzynarodowy klasy krystalograficznej, pełny i skrócony symbol międzynarodowy grupy przestrzennej, jej numer wśród 230 grup oraz symbol Schoenfliesa. następnie tablice podają rzut komórki elementarnej z zaznaczonymi punktami symetrycznie równoważnymi dla zespołu pozycji ogólnych. Komórka jest wykreślana w rzucie wzdłuż osi Z na płaszczyznę (001). Osie krystalograficzne X i Y leżą w płaszczyźnie rzutu, oś X jest skierowana w dół rysunku, oś Y skierowana od lewej strony do prawej (kąt między osiami zależy od układu krystalograficznego). elementy symetrii na takich rzutach oznacza się standardowymi symbolami graficznymi, a punkty w zespołach pozycji kółkami, na poniższym rysunku przedstawiono symbole pozycji punktu. a) pkt. nad płaszczyzną rzutu, dla którego z 0 b) pkt. pod płaszczyzną rzutu, dla którego z 0 c) pkt. nad płaszczyzną rzutu, dla którego z = 1/2 + z d) pkt. pod płaszczyzną rzutu, dla którego z = 1/2 - z e) pkt., który powstał w wyniku odbicia w płaszczyźnie lub środku symetrii f i g ) dwa punkty znajdujące się jeden nad drugim, z których jeden powstał w wyniku odbicia w płaszczyźnie lub środku symetrii (znaczenia + i oraz ½+ i ½- jak wyżej). każda grupa przestrzenna ma umownie przedstawiony początek układu (powinien znajdować się na elemencie symetrii o najwyższej krotności), w tablicach podaje się dla każdej grupy przestrzennej zespół pozycji ogólnych i szczególnych punktów równoważnych.

Każdy punkt w komórce elementarnej, który przedstawia położenie atomu (jonu), przekształcony symetrycznie względem występujących w komórce elementów symetrii daje zbiór punktów spokrewnionych symetrycznie tzw. punktów lub pozycji równoważnych. Liczebność punktów symetrycznie równoważnych, zależy od: - elementów symetrii, charakterystycznych dla grup przestrzennych, - umiejscowienia punktu, który poddajemy przekształceniom symetrycznym Punkty mogą zajmować pozycje ogólne i szczególne (specjalne). Pozycję ogólną posiadają punkty o współrzędnych x, y, z (wyrażone ułamkami odcinków translacji wzdłuż krawędzi komórki) nie leżące na żadnym z elementów symetrii. Na punkty w położeniu ogólnym działają wszystkie przekształcenia symetryczne zapisane w symbolu grupy przestrzennej. Jeśli punkt leży na płaszczyźnie, w środku symetrii na osi właściwej lub inwersyjnej to ma pozycję szczególną (jest w położeniu specjalnym) i nie jest przez ten element powielany. Jeśli punkt leży na osiach śrubowych lub na płaszczyznach poślizgu to działa na niego wektor ślizgu - jest wówczas symetrycznie powielony. przyjmuje się, że punkt w pozycji ogólnej jest asymetryczny (symetria 1), natomiast punkty w pozycjach szczególnych wykazują symetrię tych pozycji. W Tablicach Krystalograficznych podaje się: liczebność pozycji ogólnej i pozycji szczególnej, symbol Wyckoffa (mała litera alfabetu) charakteryzuje pozycje punku początkowego, symetrię własną punktu (położenie punktu w stosunku do elementów symetrii). współrzędne punktów symetrycznie równoważnych. Skrócony symbol grupy przestrzennej Pełny symbol grupy przestrzennej Grupa punktowa Układ krystalograficzny symbol Schoenfliesa Położenie punktów symetrycznie równoważnych Położenia elementów symetrii Liczebność pozycji Współrzędne punktów w pozycji ogólnej Informacje o refleksach dyfrakcyjnych Współrzędne punktów w pozycji szczególnej Symbol Wyckoffa Symetria własna punktu

Wykonanie ćwiczenia: Zadanie 1 Korzystając z Międzynarodowych Tablic Krystalograficznych podać dla podanych poniżej grup przestrzennych następujące dane nazwę układu; symbol międzynarodowy klasy krystalograficznej; pełny i skrócony symbol międzynarodowy grupy przestrzennej; symbol Schoenfliesa; liczebność pozycji ogólnej i współrzędne punktów symetrycznie równoważnych; liczebność pozycji szczególnej dla punktu o danej symetrii własnej; symbol Wyckoffa dla pozycji punku początkowego i pozycji ogólnej; symetrię własną punktu dla danej pozycji szczególnej. Wybrane grupy przestrzenne: P121, P222, P4, P4 1, P m 4, P6, P63, Pm3m. Zadanie 2 Dla poniższych grup przestrzennych wykonaj rysunek rozmieszczenia elementów symetrii oraz przedstaw zespół ogólnych pozycji równoważnych:p2 (pełny symbol P112); P m 2 (pełny symbol P1 m 2 1); P11m; P1m1; Pmm2; Pmc21. Zadanie 3 Dla kilku wybranych grup przestrzennych przedstawiono poniżej rozmieszczenie elementów symetrii. Przedstaw zespół ogólnych pozycji równoważnych (we wszystkich przypadkach uwzględnij komórkę typu P) oraz podaj współrzędne punktów równoważnych w pozycjach ogólnych. Wskaż wtórne elementy symetrii. Rozmieszczenie elementów symetrii Zespół ogólnych pozycji równoważnych

Zadanie 4 Dla kilku wybranych grup przestrzennych przedstawiono poniżej rozmieszczenie elementów symetrii oraz odpowiadający mu zespół ogólnych pozycji równoważnych. Podaj symbole przedstawionych grup przestrzennych. Wskaż wtórne elementy symetrii. Rozmieszczenie elementów symetrii Zespół ogólnych pozycji równoważnych

Zadanie 5 Dla grup przestrzennych P4 2 /m, P6 3, P6 2 i P6 3 /m podać współrzędne pozycji symetrycznie równoważnych dla szczególnej pozycji punktu wyjściowego 0,0,z. Zadanie 6 Dla grupy przestrzennej P4 wykreśl rozmieszczenie elementów symetrii i przedstaw zespół ogólnych pozycji równoważnych, a następnie uzupełnij poniższą tabelę. Liczebność punktów Oznaczenie Wyckoffa Symetria własna punktu Współrzędne punktów równoważnych x,y,z; 0, ½,z;. ½,½,z 0,0,z Literatura 1. Z.Trzaska-Durski, H.Trzaska-Durska, Podstawy krystalografii strukturalnej i rentgenowskiej, PWN Warszawa 1994. 2. Z. Trzaska-Durski i H. Trzaska-Durska Podstawy krystalografii, Oficyna Wydawnicza Politechniki Warszawskiej, Warszawa 2003. 3. Z.Bojarski, M.Gigla, K.Stróż, M.Surowiec, Materiały do nauki krystalografii podręcznik wspomagany komputerowo PWN Warszawa 1996. 4. Z. Bojarski, M. Gigla, K. Stróż, M. Surowiec, Krystalografia, PWN, Warszawa 2007. 5. Z. Kosturkiewicz, Metody krystalografii, Wydawnictwo Naukowe UAM, Poznań 2004. 6. M. Van Meerssche i J. Feneau-Dupont, Krystalografia i chemia strukturalna, PWN, Warszawa 1984.