Ćwiczenie nr 71: Dyfrakcja światła na szczelinie pojedynczej i podwójnej



Podobne dokumenty
Ćwiczenie nr 43: HALOTRON

Ćwiczenie nr 31: Modelowanie pola elektrycznego

Ćwiczenie nr 25: Interferencja fal akustycznych

ε (1) ε, R w ε WYZNACZANIE SIŁY ELEKTROMOTOTYCZNEJ METODĄ KOMPENSACYJNĄ

Ćwiczenie nr 82: Efekt fotoelektryczny

Instrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego nr 13

E12. Wyznaczanie parametrów użytkowych fotoogniwa

II. Badanie charakterystyki spektralnej źródła termicznego promieniowania elektromagnetycznego

Ćwiczenie nr 2: ZaleŜność okresu drgań wahadła od amplitudy

Ćwiczenie nr 9. Pomiar rezystancji metodą porównawczą.

LABORATORIUM TERMODYNAMIKI ĆWICZENIE NR 3 L3-1

Instrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego nr 13

Nazwisko i imię: Zespół: Data: Ćwiczenie nr 9: Swobodne spadanie

1 Źródła i detektory. I. Badanie charakterystyki spektralnej nietermicznych źródeł promieniowania elektromagnetycznego

LABORATORIUM FIZYKI PAŃSTWOWEJ WYŻSZEJ SZKOŁY ZAWODOWEJ W NYSIE

Stanowisko do pomiaru fotoprzewodnictwa

LABORATORIUM Pomiar charakterystyki kątowej

Ćwiczenie nr 123: Dioda półprzewodnikowa

Nazwisko i imię: Zespół: Data: Ćwiczenie nr 53: Soczewki

Stanowisko do badania zjawiska tłumienia światła w ośrodkach materialnych

Ćw. nr 31. Wahadło fizyczne o regulowanej płaszczyźnie drgań - w.2

Instrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego nr 5

Wyznaczanie rozmiarów szczelin i przeszkód za pomocą światła laserowego

Ćwiczenie nr 41: Busola stycznych

Katedra Elektrotechniki Teoretycznej i Informatyki

Ćwiczenie 9. Mostki prądu stałego. Zakres wymaganych wiadomości do kolokwium wstępnego: Program ćwiczenia:

Ćwiczenie nr 53: Soczewki

BADANIE INTERFEROMETRU YOUNGA

Ćwiczenie 14. Sprawdzanie przyrządów analogowych i cyfrowych. Program ćwiczenia:

WYZNACZANIE DŁUGOŚCI FALI ŚWIETLNEJ ZA POMOCĄ SIATKI DYFRAKCYJNEJ

Ćwiczenie 1. Parametry statyczne diod LED

BADANIE PROMIENIOWANIA CIAŁA DOSKONALE CZARNEGO

Ćwiczenie 9. Mostki prądu stałego. Program ćwiczenia:

BADANIE PROSTEGO ZJAWISKA PIEZOELEKTRYCZNEGO POMIAR NAPRĘśEŃ BADANIE ODWROTNEGO ZJAWISKA PIEZOELEKTRYCZNEGO METODĄ STATYCZNĄ. POMIAR MAŁYCH DEFORMACJI

WYZNACZANIE DŁUGOŚCI FALI ŚWIETLNEJ ZA POMOCĄ SIATKI DYFRAKCYJNEJ

ZADANIE 111 DOŚWIADCZENIE YOUNGA Z UŻYCIEM MIKROFAL

Ćwiczenie: "Mierniki cyfrowe"

Pomiar drogi koherencji wybranych źródeł światła

CECHOWANIE TERMOELEMENTU Fe-Mo I WYZNACZANIE PUNKTU INWERSJI

Zakład Zastosowań Elektroniki i Elektrotechniki

13 K A T E D R A F I ZYKI S T O S O W AN E J

Katedra Elektrotechniki Teoretycznej i Informatyki

WYZNACZANIE OGNISKOWYCH SOCZEWEK

Doświadczenie nr 6 Pomiar energii promieniowania gamma metodą absorpcji elektronów komptonowskich.

Badanie wzmacniacza operacyjnego

Analiza spektralna i pomiary spektrofotometryczne

Ile wynosi całkowite natężenie prądu i całkowita oporność przy połączeniu równoległym?

POMIAR NAPIĘCIA STAŁEGO PRZYRZĄDAMI ANALOGOWYMI I CYFROWYMI. Cel ćwiczenia. Program ćwiczenia

BADANIE PROSTEGO ZJAWISKA PIEZOELEKTRYCZNEGO POMIAR NAPRĘŻEŃ

LVII Olimpiada Fizyczna (2007/2008)

Ćwiczenie 363. Polaryzacja światła sprawdzanie prawa Malusa. Początkowa wartość kąta 0..

Pomiar podstawowych parametrów liniowych układów scalonych

SPRAWDZENIE PRAWA OHMA POMIAR REZYSTANCJI METODĄ TECHNICZNĄ

ĆWICZENIE 41 POMIARY PRZY UŻYCIU GONIOMETRU KOŁOWEGO. Wprowadzenie teoretyczne

Efekt fotoelektryczny

Laboratorium techniki laserowej Ćwiczenie 2. Badanie profilu wiązki laserowej

ZJAWISKO PIEZOELEKTRYCZNE.

OPTYKA FALOWA I (FTP2009L) Ćwiczenie 2. Dyfrakcja światła na szczelinach.

Ć W I C Z E N I E N R J-1

Ćwiczenie nr 1. Regulacja i pomiar napięcia stałego oraz porównanie wskazań woltomierzy.

BADANIE CHARAKTERYSTYK FOTOELEMENTU

Instrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego nr 11

Ćwiczenie 2a. Pomiar napięcia z izolacją galwaniczną Doświadczalne badania charakterystyk układów pomiarowych CZUJNIKI POMIAROWE I ELEMENTY WYKONAWCZE

Uśrednianie napięć zakłóconych

Bierne układy różniczkujące i całkujące typu RC

EFEKT FOTOELEKTRYCZNY ZEWNĘTRZNY

Badanie wzmacniacza niskiej częstotliwości

Laboratorium Metrologii

Badanie transformatora

J Wyznaczanie względnej czułości widmowej fotorezystorów

Badanie charakterystyki prądowo-napięciowej opornika, żarówki i diody półprzewodnikowej z wykorzystaniem zestawu SONDa

Kalibracja czujnika temperatury zestawu COACH Lab II+. Piotr Jacoń. K-5a I PRACOWNIA FIZYCZNA

WYDZIAŁ.. LABORATORIUM FIZYCZNE

E12. Wyznaczanie parametrów użytkowych fotoogniwa

Ćwiczenie nr 3 Sprawdzenie prawa Ohma.

DYFRAKCJA ŚWIATŁA NA POJEDYNCZEJ I PODWÓJNEJ SZCZELINIE

Wyznaczanie oporu elektrycznego właściwego przewodników

Instrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego nr 2

Wyznaczanie krzywej ładowania kondensatora

Ćwiczenie nr 34. Badanie elementów optoelektronicznych

Interferencja i dyfrakcja

WYZNACZANIE PROMIENIA KRZYWIZNY SOCZEWKI I DŁUGOŚCI FALI ŚWIETLNEJ ZA POMOCĄ PIERŚCIENI NEWTONA

LABORATORIUM Z FIZYKI

Ćw. 8 Weryfikacja praw Kirchhoffa

Ćwiczenie 1. Sprawdzanie podstawowych praw w obwodach elektrycznych przy wymuszeniu stałym

E1. OBWODY PRĄDU STAŁEGO WYZNACZANIE OPORU PRZEWODNIKÓW I SIŁY ELEKTROMOTORYCZNEJ ŹRÓDŁA

CHARAKTERYSTYKA PIROMETRÓW I METODYKA PRZEPROWADZANIA POMIARÓW

BADANIE INTERFERENCJI MIKROFAL PRZY UŻYCIU INTERFEROMETRU MICHELSONA

Dyfrakcja na Spiralnej Strukturze (Całkowita liczba pkt.: 10)

Laser z podwojeniem częstotliwości

3.5 Wyznaczanie stosunku e/m(e22)

Ćwiczenie 42 WYZNACZANIE OGNISKOWEJ SOCZEWKI CIENKIEJ. Wprowadzenie teoretyczne.

Państwowa Wyższa Szkoła Zawodowa w Kaliszu

Ćwiczenie 5 Badanie sensorów piezoelektrycznych

DOKŁADNOŚĆ POMIARU DŁUGOŚCI

Rys. 1 Interferencja dwóch fal sferycznych w punkcie P.

Pomiar oporu elektrycznego za pomocą mostka Wheatstone a

Test powtórzeniowy. Prąd elektryczny

Źródła i 1detektory IV. ZJAWISKO FOTOELEKTRYCZNE WEWNĘTRZNE W PÓŁPRZEWODNIKACH.

Transkrypt:

Wydział Imię i nazwisko 1. 2. Rok Grupa Zespół PRACOWNIA Temat: Nr ćwiczenia FIZYCZNA WFiIS AGH Data wykonania Data oddania Zwrot do popr. Data oddania Data zaliczenia OCENA Ćwiczenie nr 71: Dyfrakcja światła na szczelinie pojedynczej i podwójnej Cel ćwiczenia Wyznaczenie rozkładu natęŝenia światła laserowego dla obrazu dyfrakcyjnego pojedynczej szczeliny i układu dwu szczelin. Obliczanie szerokości szczeliny. Zagadnienia kontrolne 1. Przedstaw własności wiązki laserowej i porównaj je z własnościami wiązki uzyskiwanej z naturalnego źródła promieniowania jakim jest np. Słońce. Ocena i podpis 2. Dyfrakcja światła na pojedynczej szczelinie (omówienie obrazu dyfrakcyjnego). 3. Opisz w jaki sposób moŝna wyznaczyć szerokość nieznanej szczeliny w oparciu o uzyskany obraz dyfrakcyjny dla światła monochromatycznego. 4. Wyjaśnij dlaczego w celu wyznaczenia szerokości szczeliny w omawianym ćwiczeniu odległość szczelina - ekran powinna wynosić przynajmniej 70 cm. 5. Jakiej szerokości maksimum dyfrakcyjne otrzymamy dla szczeliny o szerokości d = 0,1mm, długości fali światła laserowego λ = 600 nm i odległości ekran szczelina L = 90 cm? 6. Przedstaw schemat elektryczny układu do pomiaru natęŝenia światła. 7. Oszacuj stosunek natęŝenia światła mierzonego w pierszym maksimum bocznym I (x max (1) ) do natęŝenia światła w maksimum głównym I 0. 95

1. Układ pomiarowy W skład części optycznej zestawu pomiarowego (rys. w1) wchodzą zamocowane na ławie optycznej elementy: 1. Laser emitujący światło czerwone, zasilany z zasilacza sieciowego. Długość fali λ = 650 nm. 2. Przesłona metalowa zawierająca: szczelinę podwójną, szczelinę pojedynczą i układ 4 szczelin, z układem przesuwu umoŝliwiającym wybór szczeliny lub opcjonalnie (tylko zestaw b) pojedyncza szczelina o regulowanej szerokości 3. Ekran zaopatrzony w fotodiodę oraz układ jej przesuwu w kierunku poziomym i pionowym. 2 ekran 3 laser 1 szczelina x 4 6 5 y L Rys. w1. Schemat układu pomiarowego: 1 - badana szczelina, 2 detektor (fotodioda), 3 - regulacja połoŝenia fotodiody w osi y, 4 - doprowadzenie zasilania fotodiody, 5 - regulacja połoŝenia fotodiody w osi x, 6 - doprowadzenie zasilania lasera. Wewnątrz obudowy lasera znajduje się właściwa dioda laserowa oraz układ optyczny formujący wiązkę światła. Wiązka światła jest skierowana na badaną szczelinę. Obraz dyfrakcyjny obserwujemy na ekranie. W płaszczyźnie równoległej do ekranu moŝemy ustawiać fotodiodę. PołoŜenie fotodiody regulujemy w kierunku poziomym tak, by natęŝenie światła miało wartość maksymalną. Właściwy pomiar wykonujemy w kierunku pionowym przy pomocy układu przesuwu umoŝliwiającego pomiar połoŝenia fotodiody z dokładnością 0.01 mm (pokrętło 5 na rys. W1). Układ elektryczny pomiaru natęŝenia światła przedstawia rys. w2. W skład obwodu wchodzą: 4. Fotodioda (umieszczonej w przesuwniku x-y), por. rys. w1. 5. Woltomierz cyfrowy o pojedynczym zakresie pomiarowym 400 mv do odczytu względnych zmian natęŝęnia światła w obrazie dyfrakcyjnym. 6. Bateria zasilająca 2 1,5 V. 7. Opornik regulowany dekadowy 10 100 Ω. 8. Dodatkowe oporniki 1 kω i 2 kω. 96

Rys. w2. Schemat elektryczny układu do pomiaru natęŝenia światła. Elementy pokazane wewnątrz przerywanej ramki umocowane są na płytce montaŝowej. 2. Wykonanie ćwiczenia 2A. Pojedyncza szczelina 1. Zapoznać się z układem eksperymentalnym. W szczególności przyrzeć się układowi szczelin oraz fotodiodzie będącej detektorem światła. Połączyć (lub sprawdzić połączenia) układu zasilania detektora światła. 2. W obecności prowadzącego włączyć zasilanie lasera i układu detekcyjnego. 3. Regulacja połoŝenia szczeliny względem wiązki lasera. Ćwiczenie wykonujemy przy uŝyciu szczeliny stałej (jedna z trzech w zestawie, pozostałe, to szczelina podwójna i poczwórna) lub szczeliny o regulowanej szerokości. Wstawić do wiązki lasera wybraną szczelinę. Wykorzystując regulację pionowego połoŝenia szczeliny dąŝyć do uzyskania jak największej jasności obrazu dyfrakcyjnego. W celu ułatwienia obserwacji obrazu ustawić przed fotodiodą pomocniczy ekran w postaci np. kartki papieru. 4. Przygotowanie pomiaru rozkładu natęŝenia. Wypróbować przesuw fotodiody w obu kierunkach. Przy uŝyciu przesuwu poziomego oraz pionowego nastawić element czynny fotodiody na maksimum jasności obrazu dyfrakcyjnego, kierując się wskazaniami woltomierza. Następnie ustawić wartość oporu R do uzyskania jak największej wartości wskazań woltomierza, ale nie przekraczającej zakresu 400 mv. Wykorzystujemy w tym celu opornik dekadowy 10 100 Ω (rys. W2) (MoŜliwe jest teŝ powiększenie oporu o dodakowe 1 kω i 2 Ω przez przeniesienie połączenia do baterii i wotomierza z zacisku A na zacisk B lub C (rys. W2)). Od tego momentu nie zmieniamy wartości oporu. 5. Wykonać pomiar natęŝenia światła I w funkcji połoŝenia x w zakresie obejmującym maksimum główne oraz co najmniej po dwa prąŝki boczne po obu stronach maksimum 97

głównego. By odtworzyć kształt dość złoŝonej krzywej potrzeba kilkadziesiąt punktów pomiarowych zalecany jest przesuw detektora co 0,2 mm. Uwaga: tabela wyników pomiaru zawiera tylko dwie kolumny, połoŝenie fotodiody oraz natęŝenie światła I w jednostkach umownych ([j. u.]). Ta jednostka uŝywana jest przez eksperymentatorów, jeŝeli chcemy podkreślić, Ŝe bezwzględna wartość badanej wielkości pozostaje nieznana, ale jest proporcjonalna do wskazań jakiegoś przyrządu pomiarowego. W wykonywanym ćwiczeniu jako [j.u.] moŝna wpisywać albo napięcie woltomierza w mv, albo same cyfry z jego wyświetlacza, bez nieistotnego przecinka dziesiętnego. 6. Wyłączyć laser i zasilanie fotodiody. 7. Zmierzyć odległość L od szczelin do ekranu, zapisać długość fali światła lasera. 2B. Szczelina podwójna. 1. Przy pomocy układu przesuwu pionowego nasunąć podwójną szczelinę na wiązkę lasera. 2. Czynności przygotowawcze oraz pomiar ilościowy obrazu dyfrakcyjnego wykonujemy jak dla szczeliny pojedynczej. Winien obejmować kilkanaście prąŝków interferencyjnych. 98

3. Wyniki pomiarów Tabela 1. Pojedyncza szczelina: odległość szczelina-fotodioda: x I [j. u.] 99

Tabela 2. Szczelina podwójna: odległość szczelina-fotodioda: x I [j. u.] podpis 96

4. Opracowanie wyników pomiarów 4A. Pojedyncza szczelina 1. Wykonać wykres zaleŝności natęŝenia światła I od połoŝenia detektora x: (i) we współrzędnych zwykłych, oraz (ii) z uŝyciem skali logarytmicznej na osi pionowej. (Por. rysunki 2b i 4). Wykres we współrzędnych półlogarytmicznych zrealizować przu uŝyciu papieru półlogarytmicznego lub stosowanej opcji w programie komputerowym. NiezaleŜnie od sposobu realizacji, przez punkty pomiarowe I(x) poprowadzić odręcznie gładką krzywą. 2. Odczytać z wykresu, z prawej i lewej strony maksimum głównego: a) połoŝenia x l oraz x p pierwszego minimum bocznego z lewej i prawej strony maksimum głównego b) połoŝenia i amplitudę maksimum pierwszego rzędu po obu stronach maksimum głównego c) współrzędne dalszych minimów i maksimów. Wyniki zestawić w tabeli 3. 3. Na podstawie połoŝeń znalezionych dla a), b) etc. obliczyć wartość średnią współrzędnej, na podstawie wzorów na połoŝenie minimów i maksimów (wzory 9 i 10 w skrypcie) wartości szerokości szczeliny d. Następnie średnią i jej niepewność. 4. Obliczyć z danych doświadczalnych stosunek natęŝeń prąŝków bocznych do natęŝenia światła w maksimum, I / I 0. Porównać z wartościami teoretycznymi (wzór 11). Tabela 3. PołoŜenia maksimów i minimów natęŝenia światła Element obrazu dyfrakcyjnego PołoŜenie z lewej x l PołoŜenie z prawej x p x = x p x l 2 Obliczona szerokość szczeliny d 1 minimum 1 maksimum boczne 2 minimum 2 maksimum boczne Tabela 4. NatęŜenie światła w maksimach bocznych NatęŜenie światła w maksimum głównym: I 0 =.. [j. u.] Element obrazu dyfrakcyjnego NatęŜenie z lewej I l [j. u.] NatęŜenie z prawej I p [j. u.] NatęŜenie względne doświadczalne I ( x max ) I + I l p = I0 2 I 0 NatęŜenie względne teoretyczne I ( x max ) I0 1 maksimum boczne 2 maksimum boczne 96

4B. Szczelina podwójna. 1. Wykonać wykres zaleŝności natęŝenia światła I od połoŝenia detektora x w skali liniowej. 2. Ponumeruj maksima interferencyjne na wykresie przy uŝyciu liczb całkowitych m ( 3, 2, 1, 0, 1, 2, 3,.) tak, by wskaźnik zero wypadał dla maksimum o największym natęŝeniu. 3. Dla kolejnych maksimów o tym samym wskaźniku dodatnim i ujemnym ( m oraz m) odczytaj odpowiadające połoŝenia x l o oraz x p a następnie oblicz połoŝenie średnie i wynikającą wartość odległości między szczelinami d. 4. Obliczyć wartość średnią i niepewność d. 5. Odczytaj z wykresu maksymalne natęŝenie I max i natęŝenie w najbliŝszym minimum I min, a następnie stosunek I min / I max. Uwaga: wartość ta, będąca liczbą z przedziału (0, 1) jest miarą jakości obrazu interferencyjnego. Dla idealnego obrazu I min / I max = 0, wartość I min / I max = 1 odpowiada zniknięciu prąŝków interferencyjnych. Tabela 5. PołoŜenia maksimów natęŝenia światła Numer maksimum m PołoŜenie z lewej x l PołoŜenie z prawej x p x = x p x l 2 Obliczona odległość d Wnioski: 97