Laboratorium elektroniki i miernictwa

Wielkość: px
Rozpocząć pokaz od strony:

Download "Laboratorium elektroniki i miernictwa"

Transkrypt

1 Numer indeksu Michał Moroz Imię i nazwisko Numer indeksu Paweł Tarasiuk Imię i nazwisko kierunek: Informatyka semestr 2 grupa II rok akademicki: 2008/2009 Laboratorium elektroniki i miernictwa Ćwiczenie D Diody Ocena:

2 Streszczenie Sprawozdanie z ćwiczenia, którego celem było wyznaczenie charakterystyk prądowo-napięciowych dla diod: germanowej, krzemowej, Zenera oraz Schottky ego. 1 Teoria W tym rozdziale zostaną omówione pokrótce poszczególne zagadnienia związane z tematem przeprowadzanego ćwiczenia. 1.1 Złącze p-n Złącze p-n to rodzaj złącza dwóch półprzewodników domieszkowych typu p i typu n. Półprzewodnikiem domieszkowym nazywamy taki półprzewodnik, w którym w podstawowej strukturze krystalicznej znajdują się obce atomy które zostały wprowadzone do niej celowo w procesie produkcyjnym (stąd nazwa - domieszkowy). Ten zabieg stosuje się najczęściej aby zwiększyć przewodność półprzewodnika, zwiększając ilość elektronów swobodnych w jego strukturze. Dzięki różnym rodzajom domieszek, możemy stworzyć półprzewodniki o różnych parametrach. Zasadniczo dzielą się one na dwie grupy - półprzewodniki typu n i typu p. Półprzewodnik typu n tworzony jest poprzez wprowadzanie atomów zawierających więcej elektronów do samoistnej struktury krystalicznej. Domieszka taka powoduje powstanie dodatkowego poziomu energetycznego, nazywanego donorowym, blisko dna pasma przewodzenia. Po przyłożeniu względnie niewielkiego napięcia, nadmiarowe elektrony dostają wystarczającą energię, aby przejść z poziomu donorowego do pasma przewodnictwa. Półprzewodnik typu p zawiera domieszki o mniejszej liczbie elektronów. Dzięki temu w półprzewodniku występują dziury i powstaje dodatkowy poziom energetyczny zwany poziomem akceptorowym. Dziury są w stanie przewodzić prąd, jednak nie są tak ruchliwe jak same elektrony, co powoduje, że półprzewodnik typu p ma zwykle większą rezystancję od półprzewodnika typu n. Zestawieniem obu typów półprzewodników jest złącze p-n. Gdy na złącze nie działa żadna zewnętrzna siła elektromotoryczna, złącze dążąc do równowagi wytwarza na granicy części p i części n warstwę zubożoną poprzez rekombinację - tj. łączenie się nadmiarowych elektronów z dziurami tak, że przepływ nośników stopniowo ustaje. Po przyłożeniu do złącza napięcia, złącze reaguje dwojako, w zależności od tego, w jakim kierunku zostało spolaryzowane. Kiedy złącze jest spolaryzowane w kierunku przewodzenia, obszar zubożony znika pod wpływem napięcia i po przekroczeniu progu, zwanego napięciem dyfuzyjnym, następuje przepływ prądu dyfuzyjnego. Proces rekombinacji cały czas występuje, ale ze względu na ciągły dopływ nowych nośników ze źródła zasilania, przepływ prądu nie zanika. Kiedy złącze jest spolaryzowane w kierunku odwrotnym do kierunku przewodzenia, powstaje zjawisko odwrotne - obszar zubożony zwiększa się w miarę zwiększania się różnicy potencjałów na wyprowadzeniach złącz. Płynie niewielki prąd zwany prądem wstecznym. Jego wartość zazwyczaj nie zależy od wartości przyłożonego napięcia ale od temperatury i własności materiału. Przy odpowiednio dużym napięciu wstecznym, następuje przebicie lawinowe, powyżej którego wartość prądu przepływającego przez złącze rośnie w szybkim tempie, co przy odpowiednio dużym prądzie może spowodować spalenie złącza. Poza tym przypadkiem, samo zjawisko przebicia lawinowego nie jest groźne dla złącza p-n. 1.2 Dioda krzemowa Dioda krzemowa to najpopularniejsze zastosowanie złącza p-n. Większość jej charakterystyk została już opisana w rozdziale 1.1. W kierunku przewodzenia napięcie dyfuzyjne zwyczajowo określa się jako 0,6 V 0,7 V. Diody krzemowe mają bardzo wiele zastosowań są standardowym Michał Moroz, Paweł Tarasiuk, ćw. D 2 / 18

3 wyposażeniem prostowników napięcia, mogą w szczególnych przypadkach zastępować tranzystory bipolarne, znajdują zastosowanie w układach audio, radiach, oraz jako elementy w układach scalonych o dowolnym stopniu integracji W typowych zastosowaniach diody krzemowej przebicie lawinowe jest wyjątkowo niepożądanym zjawiskiem, dlatego produkuje się diody o różnych progach maksymalnego dopuszczalnego napięcia wstecznego które mogą się wahać od kilkunastu do kilku tysięcy woltów. 1.3 Dioda germanowa Dioda germanowa to odmiana diody półprzewodnikowej p-n, której podstawą są kryształy germanu, a nie krzemu. Jej zachowanie jest podobne do złącza p-n a od diody krzemowej różni się większym prądem wstecznym i dużą wrażliwością na zmiany temperatury. Jej napięcie dyfuzyjne to ok. 0,3 V. W popularnych układach diody germanowe są obecnie rzadko spotykane, właśnie ze względu na problemy ze stabilnością temperaturową. Jednym z współczesnych zastosowań diod germanowych są detektory XRS, gdzie diody te są schładzane do bardzo niskich temperatur i służą wykrywaniu promieniowania gamma. 1.4 Dioda Zenera W diodach Zenera celowo wykorzystuje się efekt przebicia lawinowego oraz efekt Zenera dla uzyskania diody o konkretnym napięciu przebicia. Efekt Zenera, występujący w silnie domieszkowanych złączach p-n, polega na tunelowaniu elektronów z pasma walencyjnego obszaru typu p do pasma przewodzenia obszaru typu n bez zmiany energii elektronu. Niewielki wzrost napięcia powoduje duży przyrost prądu. Zjawisko Zenera ma duży udział poniżej 5-6 V, powyżej tego napięcia, znacznie większy wpływ ma omówione powyżej zjawisko przebicia lawinowego. Diody Zenera bardzo często znajdują zastosowania w prostych układach stabilizacji napięcia, gdzie napięcie nie musi być precyzyjne do działania układu. 1.5 Dioda Schottky ego i złącze m-s Złącze p-n ma jedną zasadniczą wadę długi czas przełączania. Dla diod krzemowych jest on rzędu setek nanosekund. Wynika to z czasu potrzebnego na generację i rekombinację nośników. Potrzeba budowy szybkich diod przełączających spowodowała powstanie diod Schottky ego. Zastosowano w nich złącze metal-półprzewodnik, które dzięki swojej budowie posiada znacznie mniejszy obszar zubożony. Efektem tego są czasy przełączania rzędu setek pikosekund, aż do kilkudziesięciu nanosekund dla dużych diod o dużej pojemności. Złącze posiada także mniejsze napięcie dyfuzyjne, mieszczące się typowo w zakresie 0,18 V 0,45 V. Diody Schottky ego znajdują zastosowanie jako układy zabezpieczające tranzystor bipolarny przed zbytnią saturacją, w zasilaczach impulsowych, urządzeniach radiowych i bezprzewodowych. Opisane powyżej złącze m-s nazywane jest złączem prostującym, bądź złączem Schottky ego. Istnieje także inny rodzaj złącza m-s, które dobrze przewodzi w obie strony przy niskich napięciach. Takie złącze nazywane jest złączem omowym i służy najczęściej do połączeń wewnątrz układów scalonych. 2 Wyniki pomiarów Pomiary zostały zrealizowane za pomocą multimetrów M 4650, nr J3/M 1/2 i J3/M/1/9 pracujących jako amperomierz i woltomierz. Do zasilania został użyty zasilacz DF1731SB3A, nr J3 T6 261/A. Pomiary przeprowadzane były w układzie przestawionym na rysunku 1. Michał Moroz, Paweł Tarasiuk, ćw. D 3 / 18

4 +25V A A1 M-4650 R1 A E S S1 1 1 A D1 DZG4 D2 1N4001 D3 BZP620C4V3 D4 1N Dx SL1 V V1 M V GND Rysunek 1: Schemat układu pomiarowego. Pomiary dla diody germanowej D 1 zostały zestawione w tabeli 1, dla diody krzemowej D 2 w tabeli 2, dla diody Zenera D 3 zostały zestawione w tabeli 3, a w tabeli 4 zaprezentowano wyniki dla diody D 4. W tym i dalszych zestawach wyników, wartości ujemne są konsekwencją zastosowanych podłączeń amperomierza i woltomierza w układzie, pozwalając jednocześnie szybko rozpoznać rodzaj podłączenia diody (wszystkie ujemne pomiary są przeprowadzane w kierunku zaporowym, a wszystkie dodatnie w kierunku przewodzenia). Tabela 1: Pomiary diody D 1 Kierunek przewodzenia Kierunek zaporowy U [V] I [ma] Zakres [A] U [V] I [µa] Zakres [A] (0,009 0,003) (0,0115 ± 0,0004) (-0,037 ± 0,003) (-22,85 ± 0,10) (0,123 ± 0,003) (0,7861 ± 0,0026) 2 m (-0,240 ± 0,004) (-31,74 ± 0,13) (0,158 ± 0,003) (1,6513 ± 0,005) (-0,524 ± 0,004) (-32,20 ± 0,13) (0,194 ± 0,003) (3,35 ± 0,05) (-1,020 ± 0,004) (-32,76 ± 0,13) (0,209 ± 0,004) (4,16 ± 0,05) (-2,083 ± 0,004) (-35,16 ± 0,14) 200 µ (0,252 ± 0,004) (10,46 ± 0,09) (-3,097 ± 0,005) (-43,17 ± 0,16) (0,301 ± 0,004) (25,56 ± 0,16) 200 m (-4,033 ± 0,005) (-64,41 ± 0,23) (0,323 ± 0,004) (38,40 ± 0,23) (-5,002 ± 0,006) (-108,67 ± 0,36) (0,354 ± 0,004) (64,56 ± 0,35) (-6,001 ± 0,006) (-153,01 ± 0,49) (0,361 ± 0,004) (73,47 ± 0,40) (-7,266 ± 0,007) (-232,4 ± 1,0) (-8,924 ± 0,007) (-303,5 ± 1,3) 2 m Michał Moroz, Paweł Tarasiuk, ćw. D 4 / 18

5 Tabela 2: Pomiary diody D 2 Kierunek przewodzenia Kierunek zaporowy U [V] I [A] Zakres [A] U [V] I [µa] Zakres [A] (0,000 ± 0,003) (0,00 ± 0,03) µ (0,000 ± 0,003) (0,00 ± 0,03) (0,205 ± 0,003) (0,04 ± 0,03) µ (-0,249 ± 0,004) (-0,02 ± 0,03) (0,300 ± 0,003) (0,37 ± 0,04) µ (-0,501 ± 0,004) (-0,04 ± 0,03) (0,327 ± 0,004) (0,74 ± 0,04) µ (-0,599 ± 0,004) (-0,05 ± 0,03) (0,350 ± 0,004) (1,43 ± 0,04) µ -(0,699 ± 0,004) (-0,07 ± 0,03) (0,375 ± 0,004) (3,01 ± 0,04) µ (-0,753 ± 0,004) (-0,07 ± 0,03) (0,400 ± 0,004) (6,52 ± 0,05) µ (-1,000 ± 0,004) (-0,10 ± 0,03) 200 µ (0,424 ± 0,004) (14,48 ± 0,08) µ (-1,250 ± 0,004) (-0,12 ± 0,03) (0,450 ± 0,004) (34,76 ± 0,14) µ (-1,500 ± 0,004) (-0,15 ± 0,03) 200 µ (0,460 ± 0,004) (48,06 ± 0,18) µ (-1,700 ± 0,004) (-0,17 ± 0,03) (0,470 ± 0,004) (64,97 ± 0,23) µ (-2,008 ± 0,004) (-0,20 ± 0,03) (0,480 ± 0,004) (89,01 ± 0,30) µ (-2,251 ± 0,005) (-0,22 ± 0,03) (0,490 ± 0,004) (123,21 ± 0,40) µ (-3,515 ± 0,005) (-0,35 ± 0,04) (0,500 ± 0,004) (165,10 ± 0,53) µ (-5,991 ± 0,006) (-0,60 ± 0,04) (0,510 ± 0,004) (0,2259 ± 0,0010) m (-7,000 ± 0,007) (-0,70 ± 0,04) (0,519 ± 0,004) (0,2878 ± 0,0011) m (-7,998 ± 0,007) (-0,80 ± 0,04) (0,530 ± 0,004) (0,3938 ± 0,0015) m (-8,963 ± 0,008) (-0,89 ± 0,04) 2 m (0,539 ± 0,004) (0,5002 ± 0,0018) m (0,550 ± 0,004) (0,6657 ± 0,0023) m (0,575 ± 0,004) (1,2529 ± 0,0040) m (0,602 ± 0,004) (2,44 ± 0,05) m (0,623 ± 0,004) (4,10 ± 0,05) m (0,650 ± 0,004) (7,92 ± 0,07) m (0,675 ± 0,004) (13,90 ± 0,10) m 200 m (0,701 ± 0,004) (26,20 ± 0,17) m (0,725 ± 0,004) (48,15 ± 0,27) m (0,742 ± 0,004) (73,33 ± 0,40) m Michał Moroz, Paweł Tarasiuk, ćw. D 5 / 18

6 Tabela 3: Pomiary diody D 3 Kierunek przewodzenia Kierunek zaporowy U [V] I [A] Zakres [A] U [V] I [A] Zakres [A] (0,207 ± 0,003) (0,04 ± 0,03) µ (-0,501 ± 0,004) (-0,13 ± 0,03) µ (0,302 ± 0,004) (0,16 ± 0,03) µ (-0,997 ± 0,004) (-2,32 ± 0,04) µ 200 µ 200 µ (0,400 ± 0,004) (0,76 ± 0,04) µ (-1,501 ± 0,004) (-41,76 ± 0,16) µ (0,512 ± 0,004) (7,21 ± 0,06) µ (-2,002 ± 0,004) (-0,3261 ± 0,013) m (0,575 ± 0,004) (0,0331 ± 0,0004) m (-2,260 ± 0,005) (-0,7954 ± 0,0027) m 2 m (0,600 ± 0,004) (0,0770 ± 0,0006) m (-2,504 ± 0,005) (-1,7099 ± 0,0055) m 2 m (0,620 ± 0,004) (0,1570 ± 0,0008) m (-2,748 ± 0,005) (-3,45 ± 0,048) m (0,689 ± 0,004) (1,4836 ± 0,0048) m (-3,023 ± 0,005) (-7,35 ± 0,067) m (0,700 ± 0,004) (2,22 ± 0,05) m (-3,246 ± 0,005) (-12,32 ± 0,10) m 200 m (0,749 ± 0,004) (14,05 ± 0,10) m (-3,499 ± 0,005) (-22,20 ± 0,15) m 200 m (0,775 ± 0,004) (33,87 ± 0,20) m (-3,754 ± 0,005) (-39,34 ± 0,23) m (0,793 ± 0,004) (79,42 ± 0,43) m (-3,997 ± 0,005) (-68,20 ± 0,38) m Tabela 4: Pomiary diody D 4 Kierunek przewodzenia Kierunek zaporowy U [V] I [A] Zakres [A] U [V] I [µa] Zakres [A] (0,022 ± 0,003) (0,73 ± 0,04) µ (-0,010 ± 0,003) (-0,25 ± 0,03) (0,103 ± 0,003) (26,57 ± 0,11) µ 200 µ (-0,104 ± 0,003) (-0,55 ± 0,04) (0,152 ± 0,003) (179,18 ± 0,57) µ (-0,198 ± 0,003) (-0,58 ± 0,04) (0,204 ± 0,003) (1,2804 ± 0,0042) m (-0,355 ± 0,004) (-0,61 ± 0,04) 2 m (0,214 ± 0,004) (1,9053 ± 0,0061) m (-0,403 ± 0,004) (-0,63 ± 0,04) (0,257 ± 0,004) (9,38 ± 0,08) m (-0,504 ± 0,004) (-0,66 ± 0,04) (0,277 ± 0,004) (18,97 ± 0,13) m (-0,760 ± 0,004) (-0,72 ± 0,04) 200 m (0,303 ± 0,004) (44,50 ± 0,26) m (-1,009 ± 0,004) (-0,77 ± 0,04) 200 µ (0,319 ± 0,004) (73,50 ± 0,40) m (-1,256 ± 0,004) (-0,82 ± 0,04) (-2,015 ± 0,004) (-0,96 ± 0,04) (-3,079 ± 0,005) (-1,16 ± 0,04) (-4,072 ± 0,005) (-1,33 ± 0,04) (-6,047 ± 0,006) (-1,67 ± 0,04) (-7,018 ± 0,007) (-1,84 ± 0,04) (-8,956 ± 0,008) (-2,16 ± 0,04) Wyniki pomiarów w postaci tabelarycznej nie są jednakże najwygodniejsze w zastosowaniu. Znacznie wygodniej jest analizować wykresy otrzymane z powyższych wyników. Charakterystyki prądowo-napięciowe dla diod D 1, D 2, D 3 oraz D 4 znajdują się na rysunkach 2, 3, 4, 5, 6, 7, 8 i Dioda D 1 Pomiar diody D 1 był utrudniony ze względu na niestabilne odczyty prądu i napięcia w kierunku przewodzenia, jak i kierunku zaporowym. Zastosowaliśmy tu metodę zapisywania pierwszego wyniku, który uda się odczytać po zakończeniu regulacji potencjometrem, co dało całkiem dobre wyniki potwierdzające, że dioda D 1 jest diodą germanową. Już przy napięciu ok 0,28 V można zaobserwować duże przyrosty prądu przy niewielkich zmianach napięcia. Aproksymacja daje przybliżoną wartość 150mA przy napięciu 0,4 V, co jest połową średniego prądu przewodzenia zalecanego przez notę katalogową diody. Michał Moroz, Paweł Tarasiuk, ćw. D 6 / 18

7 U [V] 0 I [A] Rysunek 2: Charakterystyka prądowo-napięciowa dla diody D 1 w kierunku przewodzenia. Michał Moroz, Paweł Tarasiuk, ćw. D 7 / 18

8 e U [V] 0 - I [A] Rysunek 3: Charakterystyka prądowo-napięciowa dla diody D 1 w kierunku zaporowym. Michał Moroz, Paweł Tarasiuk, ćw. D 8 / 18

9 We wstecznym kierunku (rysunek 3) możemy z kolei zaobserwować dość ciekawy, nielinowy wykres. Należy zauważyć, że dla napięć poniżej 4 V wykres pokrywa się z przewidywanymi wartościami. Potem prąd nagle zaczyna rosnąć niewspółmiernie do napięcia. Aby ten wykres był zgodny z wartościami podanymi w nocie katalogowej, należałoby założyć, że temperatura diody była o kilka, bądź kilkanaście stopni wyższa niż temperatura otoczenia 25 C i ciągle rosła. Wtedy wartości dla napięć większych od 7V mieściłyby się w górnej granicy charakterystyki prądu wstecznego, a krzywa nachylenia (bardziej stroma niż przewidywana) dałaby się wytłumaczyć zmianami temperatury. Istnieje także możliwość, że niedokładne pomiary zwiększyły błąd pomiaru do takiego stopnia, że sfałszował charakterystykę prądowo-napięciową diody. 2.2 Dioda D 2 Pomiary diody D 2 zaprezentowano na rysunkach 4 oraz 5. Charakterystyka potwierdza napięcie dyfuzji diody krzemowej, w granicy 0,6 V 0,7 V. W kierunku przewodzenia charakterystyka jest prawie idealną eksponentą, co łatwo można potwierdzić na rysunku 6. Niewielkie, ale nieprzypadkowe odchyły od wykresu eksponenty świadczą o niedoskonałości materiału - o błędach pomiarowych lub niezależnych mogłyby świadczyć losowe wyniki, jednak na tej charakterystyce widać wyraźnie odcinki, na których wszystkie punkty znajdują się po jednej, bądź po drugiej stronie eksponenty. Potwierdza to charakterystyka diody znajdująca się w nocie katalogowej - dla tego odcinka wykres jest prawie idealną eksponentą - dopiero przy większych prądach można byłoby zauważyć większe odchylenie od charakterystyki idealnej diody. W kierunku wstecznym udało się osiągnąć całkowicie liniowy wykres. Z noty katalogowej wyczytujemy, że dla napięcia 10 V i temperatury 25 C wartość prądu wstecznego powinna wynosić w idealnych warunkach 0,05 µa. Z charakterystyki odczytujemy wartość 1 µa. Mimo, że ta wartość nie pasuje do wykresu, mieści się w granicy maksymalnego prądu wstecznego dla diody, wynoszącego 5,0 µa. Zatem stwierdzamy, że dioda, mimo charakterystyki niezgodnej z notą katalogową nadal mieści się w dopuszczalnym zakresie prądu wstecznego. Następnie określamy współczynnik kierunkowy nachylenia a = 27, 60. Ta wartość posłuży nam do wyliczenia wartości stałej m korzystając ze wzoru: ln(i) = eu mkt + ln(i s) (1) gdzie e - ładunek elektronu, k - stała Boltzmanna, T - temperatura złącza w skali Kelwina, I s - wsteczny prąd nasycenia. Z samego tego wzoru wynika, że wartość logarytmu naturalnego z natężenia prądu płynącego przez diodę jest zależna liniowo od przyłożonego napięcia, co możemy zapisać ln(i) = au +b. Aby zachodziła równość wielomianów, współczynniki na odpowiadających sobie pozycjach muszą być ze sobą równe, zatem: au = eu mkt m = e akt (2) (3) Przyjmując temperaturę pokojową jako T = 21, 5 C, możemy oszacować wartość bezwymiarowego parametru m = 1, 43. Michał Moroz, Paweł Tarasiuk, ćw. D 9 / 18

10 U [V] 0 I [A] Rysunek 4: Charakterystyka prądowo-napięciowa dla diody D 2 w kierunku przewodzenia. Michał Moroz, Paweł Tarasiuk, ćw. D 10 / 18

11 1e-06 9e-07 8e-07 7e-07 6e-07 5e-07 4e-07 3e-07 2e-07 1e U [V] 0 - I [A] Rysunek 5: Charakterystyka prądowo-napięciowa dla diody D 2 w kierunku zaporowym. Michał Moroz, Paweł Tarasiuk, ćw. D 11 / 18

12 e-05 1e-06 1e-07 1e U [V] I [A] Rysunek 6: Charakterystyka prądowo-napięciowa dla diody D 2 w kierunku przewodzenia w skali półlogarytmicznej. Michał Moroz, Paweł Tarasiuk, ćw. D 12 / 18

13 2.3 Dioda D 3 Z charakterystyki z rysunku 7 i z tabeli 3 możemy w prosty sposób porównać diodę Zenera do diody krzemowej w kierunku przewodzenia. Obie diody zachowują się bardzo podobnie, prąd diody krzemowej nieco wcześniej (przekroczenie granicy 1 ma o ok. 0,1 V wcześniej) zaczyna wzrastać, ale charakterystyka diody Zenera w ostatnich punktach ma większy kąt od charakterystyki diody krzemowej. Można z tego wysnuć wniosek, że dioda Zenera w kierunku przewodzenia może być wykorzystana z równym powodzeniem, co zwykła dioda krzemowa. We wstecznym kierunku doskonale widać efekt Zenera - prąd zaczyna nagle wzrastać po przekroczeniu napięcia w punkcie U Z. Przez ponad 1V prąd rośnie do wartości I Zmax, ustalonej przez ograniczenie prądowe. Mając I Zmax = 68, 20 ma możemy obliczyć: I Zmin = 0, 05 I Zmax = 3, 41 ma Dla tej wartości odczytujemy U Z, które wynosi 2,7198 V. Wartość ta nie jest wartością wyczytaną z noty katalogowej, ale należy zauważyć, że powyższe wyliczenie jest silnie uzależnione od zakresu pomiarów prądu, czyli od zastosowanego ograniczenia prądowego. Gdybyśmy przeprowadzali pomiary aż do szczytowego napięcia przewodzenia 3 A, wartość U Z dla 150 ma byłaby znacznie bliższa wzorcowemu 4,3 V, niż wynik powyższego wyliczenia. Michał Moroz, Paweł Tarasiuk, ćw. D 13 / 18

14 Rysunek 7: Charakterystyka prądowo-napięciowa dla diody D 3. Michał Moroz, Paweł Tarasiuk, ćw. D 14 / 18

15 2.4 Dioda D 4 Charakterystyka kierunku przewodzenia przedstawiona na rysunku 8 potwierdza nasze teoretyczne rozważania na temat diody Schottky ego. Przy napięciu równym 0,2 V dioda przekracza próg 1 ma. Niestety, wyników nie możemy porównać z notą katalogową, gdyż jedyna charakterystyka prądowo-napięciowa wykonywana nie jest dla prądu stałego, a dla prądu zmiennego. W kierunku zaporowym, charakterystyka nie jest w pełni prosta. Nie udało nam się znaleźć uzasadnienia dla tego faktu wydaje nam się, może to być kwestia materiałów wykorzystanych do budowy tego złącza. Niestety, bezpośrednie porównanie również jest niemożliwe ze względu na brak charakterystyk napięciowo-prądowych wykonywanych bez testów pulsacyjnych. Ponadto pomiar prądu dla bardzo małego napięcia (0, 01 V) został odrzucony przy dopasowaniu krzywej do wyników, gdyż wyraźnie odbiega od oczekiwanej charakterystyki diody - tak małe napięcie wyraźnie odbiega od jej oczekiwanego zastosowania. Jeśli jednak mielibyśmy porównywać te charakterystyki ze sobą, okazałoby się, że dla kierunku przewodzenia zmierzona wartość prądu jest ok. dziesięć razy mniejsza od wartości oczekiwanych, a w kierunku zaporowym są około dwa razy mniejsze od wartości oczekiwanych, co akurat w drugim przypadku jest pozytywnym rezultatem. Michał Moroz, Paweł Tarasiuk, ćw. D 15 / 18

16 U [V] 0 I [A] Rysunek 8: Charakterystyka prądowo-napięciowa dla diody D 4 w kierunku przewodzenia. Michał Moroz, Paweł Tarasiuk, ćw. D 16 / 18

17 2.5e-06 2e e-06 1e-06 5e U [V] 0 - I [A] Rysunek 9: Charakterystyka prądowo-napięciowa dla diody D 4 w kierunku zaporowym. Michał Moroz, Paweł Tarasiuk, ćw. D 17 / 18

18 3 Wnioski końcowe Analiza wyników pozwala przypuszczać, że dioda D 1 to DZG4, dioda D 2 to 1N4001, dioda D 3 to BZP620C4V3, a dioda D 4 to 1N5819. Powyższe pomiary pozwoliły stwierdzić, że wzorcowe charakterystyki dla diod stanowią jedynie przybliżony opis ich zachowania. Ma to podłoże w warunkach zewnętrznych, a także w samym procesie produkcyjnym. Może się okazać, że dwa elementy mimo tego samego oznaczenia posiadać będą różne charakterystyki, pomimo znajdowania się w zakresie podanym przez producenta. Nie bez znaczenia są także poziom eksploatacji oraz wiek elementów - niektóre serie produkowane są od kilkudziesięciu lat. W tym czasie proces produkcyjny mógł się ulepszać, przez co współcześniejsze elementy mogą mieć charakterystyki bardziej zbliżone do wzorcowych, choć nie jest to wszędzie regułą. Podstawowe niepewności pomiarów wynikają z błędów pomiaru woltomierza i amperomierza, szczególnie tego drugiego ze względu na część pomiarów przeprowadzaną przy wartościach prądu nieprzekraczających 1 µa. Innym nieprzypadkowym źródłem błędu może być zasilacz a także ograniczenie prądowe znajdujące się w środku układu pomiarowego, o którym nic nie wiadomo. Przy niewielkich prądach należałoby uwzględnić także niezerową rezystancję doprowadzeń i styków. Ponadto nagrzewanie się układu mogło mieć wpływ zarówno na same diody (charakterystyka zależy od temperatury) jak i na przyrządy pomiarowe. Miał to szczególne znaczenie w przypadku diody germanowej, dla której zalecane było jak najszybsze wykonanie pomiarów, tak aby była ona utrzymywana pod napięciem jak najkrócej. Zatem dla dokładniejszej analizy badanych diod, szczególnie diody D 1, konieczne byłoby przeprowadzanie pomiarów temperatury diody. Należałoby usprawnić także sam proces mierzenia, aby zredukować ciepło wydzielane na diodzie dla przykładu mogąc łatwo załączać i wyłączać prąd płynący przez diodę. Problem wtedy sprawiałby jednak pomiar napięcia bez obciążenia, ponieważ woltomierz, ze względu na rezystancję wewnętrzną zasilacza nie będzie wskazywał tej samej wartości napięcia przy podłączeniu diody i bez niej. Doświadczeniem wartym przeprowadzenia jest też wykonanie tych samych pomiarów dla prądu zmiennego o określonej częstotliwości. W przypadku diod które to technicznie umożliwiają, warto by było także sprawdzić charakterystyki dla większej rozpiętości napięć - w przypadku diody D 2 można by było bardziej zaobserwować jej niedoskonałość. Literatura [1] Bogdan Żółtowski, Wprowadzenie do zajęć laboratoryjnych z fizyki, Skrypt Politechniki Łódzkiej, Łódź [2] Unitra, Nota katalogowa diody BZP620-C [3] Vishay Semiconductors, Nota katalogowa diody 1N [4] Fairchild Semiconductor, Nota katalogowa diody 1N [5] Unitra, Nota katalogowa diody DZG4 [6] S. M. Kaczmarek, PRZEBICIE I MODELE ZŁĄCZA p-n Michał Moroz, Paweł Tarasiuk, ćw. D 18 / 18

Badanie diod półprzewodnikowych

Badanie diod półprzewodnikowych POLITECHNIKA ŚLĄSKA WYDZIAŁ INŻYNIERII ŚRODOWISKA I ENERGETYKI INSTYTUT MASZYN I URZĄDZEŃ ENERGETYCZNYCH LABORATORIUM ELEKTRYCZNE Badanie diod półprzewodnikowych (E - 7) www.imiue.polsl.pl/~wwwzmiape Opracował:

Bardziej szczegółowo

Cel ćwiczenia. Podstawowe informacje. eu exp mkt ] 1 (1) I =I S[

Cel ćwiczenia. Podstawowe informacje. eu exp mkt ] 1 (1) I =I S[ Cel ćwiczenia Celem ćwiczenia jest zapoznanie się z diodami półprzewodnikowymi poprzez pomiar ich charakterystyk prądowonapięciowych oraz jednoczesne doskonalenie techniki pomiarowej. Zakres ćwiczenia

Bardziej szczegółowo

BADANIE DIOD PÓŁPRZEWODNIKOWYCH

BADANIE DIOD PÓŁPRZEWODNIKOWYCH BAANE O PÓŁPZEWONKOWYCH nstytut izyki Akademia Pomorska w Słupsku Cel i ćwiczenia. Celem ćwiczenia jest: - zapoznanie się z przebiegiem charakterystyk prądowo-napięciowych diod różnych typów, - zapoznanie

Bardziej szczegółowo

Ćwiczenie 1 LABORATORIUM ELEKTRONIKI POLITECHNIKA ŁÓDZKA KATEDRA PRZYRZĄDÓW PÓŁPRZEWODNIKOWYCH I OPTOELEKTRONICZNYCH

Ćwiczenie 1 LABORATORIUM ELEKTRONIKI POLITECHNIKA ŁÓDZKA KATEDRA PRZYRZĄDÓW PÓŁPRZEWODNIKOWYCH I OPTOELEKTRONICZNYCH LABORAORUM ELEKRONK Ćwiczenie 1 Parametry statyczne diod półprzewodnikowych Cel ćwiczenia Celem ćwiczenia jest poznanie statycznych charakterystyk podstawowych typów diod półprzewodnikowych oraz zapoznanie

Bardziej szczegółowo

Tranzystor. C:\Program Files (x86)\cma\coach6\full.en\cma Coach Projects\PTSN Coach 6 \Elektronika\Tranzystor_cz2b.cmr

Tranzystor. C:\Program Files (x86)\cma\coach6\full.en\cma Coach Projects\PTSN Coach 6 \Elektronika\Tranzystor_cz2b.cmr Tranzystor Program: Coach 6 Projekt: komputer H : C:\Program Files (x86)\cma\coach6\full.en\cma Coach Projects\PTSN Coach 6 \Elektronika\Tranzystor_cz1.cmr C:\Program Files (x86)\cma\coach6\full.en\cma

Bardziej szczegółowo

Ćwiczenie nr 123: Dioda półprzewodnikowa

Ćwiczenie nr 123: Dioda półprzewodnikowa Wydział PRACOWNIA FIZYCZNA WFiIS AGH Imię i nazwisko 1. 2. Temat: Rok Grupa Zespół Nr ćwiczenia Data wykonania Data oddania Zwrot do popr. Data oddania Data zaliczenia OCENA Ćwiczenie nr 123: Dioda półprzewodnikowa

Bardziej szczegółowo

Badanie charakterystyki diody

Badanie charakterystyki diody Badanie charakterystyki diody Cel ćwiczenia Celem ćwiczenia jest poznanie charakterystyk prądowo napięciowych różnych diod półprzewodnikowych. Wstęp Dioda jest jednym z podstawowych elementów elektronicznych,

Bardziej szczegółowo

Podstawy fizyki ciała stałego półprzewodniki domieszkowane

Podstawy fizyki ciała stałego półprzewodniki domieszkowane Podstawy fizyki ciała stałego półprzewodniki domieszkowane Półprzewodnik typu n IV-Ge V-As Jeżeli pięciowartościowy atom V-As zastąpi w sieci atom IV-Ge to cztery elektrony biorą udział w wiązaniu kowalentnym,

Bardziej szczegółowo

Nazwisko i imię: Zespół: Data: Ćwiczenie nr 123: Półprzewodnikowe złącze p-n

Nazwisko i imię: Zespół: Data: Ćwiczenie nr 123: Półprzewodnikowe złącze p-n Nazwisko i imię: Zespół: Data: Ćwiczenie nr 123: Półprzewodnikowe złącze p-n Cel ćwiczenia: Zapoznanie się z własnościami warstwowych złącz półprzewodnikowych p-n. Wyznaczanie charakterystyk stałoprądowych

Bardziej szczegółowo

Pomiar współczynnika pochłaniania światła

Pomiar współczynnika pochłaniania światła Politechnika Łódzka FTIMS Kierunek: Informatyka rok akademicki: 2008/2009 sem. 2. grupa II Termin: 12 V 2009 Nr. ćwiczenia: 431 Temat ćwiczenia: Pomiar współczynnika pochłaniania światła Nr. studenta:

Bardziej szczegółowo

Badanie diod półprzewodnikowych

Badanie diod półprzewodnikowych POLITECHNIKA ŚLĄSKA WYDZIAŁ INŻYNIERII ŚRODOWISKA I ENERGETYKI INSTYTUT MASZYN I URZĄDZEŃ ENERGETYCZNYCH LABORATORIUM ELEKTRYCZNE Badanie diod półprzewodnikowych (E 7) Opracował: Dr inż. Włodzimierz OGULEWICZ

Bardziej szczegółowo

Laboratorium elektroniki i miernictwa

Laboratorium elektroniki i miernictwa Numer indeksu 150946 Michał Moroz Imię i nazwisko Numer indeksu 151021 Paweł Tarasiuk Imię i nazwisko kierunek: Informatyka semestr 2 grupa II rok akademicki: 2008/2009 Laboratorium elektroniki i miernictwa

Bardziej szczegółowo

I we. F (filtr) U we. Rys. 1. Schemat blokowy układu zasilania odbiornika prądu stałego z sieci energetycznej z zastosowaniem stabilizatora napięcia

I we. F (filtr) U we. Rys. 1. Schemat blokowy układu zasilania odbiornika prądu stałego z sieci energetycznej z zastosowaniem stabilizatora napięcia 22 ĆWICZENIE 3 STABILIZATORY NAPIĘCIA STAŁEGO Wiadomości wstępne Stabilizatory napięcia stałego są to układy elektryczne dostarczające do odbiornika napięcie o stałej wartości niezależnie od zmian w określonych

Bardziej szczegółowo

Ćwiczenie 10 Temat: Własności tranzystora. Podstawowe własności tranzystora Cel ćwiczenia

Ćwiczenie 10 Temat: Własności tranzystora. Podstawowe własności tranzystora Cel ćwiczenia Ćwiczenie 10 Temat: Własności tranzystora. Podstawowe własności tranzystora Cel ćwiczenia Poznanie podstawowych własności tranzystora. Wyznaczenie prądów tranzystorów typu n-p-n i p-n-p. Czytanie schematów

Bardziej szczegółowo

SYMBOLE GRAFICZNE. Tyrystory. Struktura Charakterystyka Opis

SYMBOLE GRAFICZNE. Tyrystory. Struktura Charakterystyka Opis SYMBOLE GRAFICZNE y Nazwa triasowy blokujący wstecznie SCR asymetryczny ASCR Symbol graficzny Struktura Charakterystyka Opis triasowy blokujący wstecznie SCR ma strukturę czterowarstwową pnpn lub npnp.

Bardziej szczegółowo

Laboratorium Analogowych Układów Elektronicznych Laboratorium 6

Laboratorium Analogowych Układów Elektronicznych Laboratorium 6 Laboratorium Analogowych Układów Elektronicznych Laboratorium 6 1/5 Stabilizator liniowy Zadaniem jest budowa i przebadanie działania bardzo prostego stabilizatora liniowego. 1. W ćwiczeniu wykorzystywany

Bardziej szczegółowo

3.4 Badanie charakterystyk tranzystora(e17)

3.4 Badanie charakterystyk tranzystora(e17) 152 Elektryczność 3.4 Badanie charakterystyk tranzystora(e17) Celem ćwiczenia jest wyznaczenie charakterystyk tranzystora npn w układzie ze wspólnym emiterem W E. Zagadnienia do przygotowania: półprzewodniki,

Bardziej szczegółowo

Ćwiczenie 17 Temat: Własności tranzystora JFET i MOSFET. Cel ćwiczenia

Ćwiczenie 17 Temat: Własności tranzystora JFET i MOSFET. Cel ćwiczenia Ćwiczenie 17 Temat: Własności tranzystora JFET i MOSFET. Cel ćwiczenia Poznanie budowy i zasady pracy tranzystora JFET. Pomiar charakterystyk tranzystora JFET. Czytanie schematów elektronicznych. Przestrzeganie

Bardziej szczegółowo

Repeta z wykładu nr 5. Detekcja światła. Plan na dzisiaj. Złącze p-n. złącze p-n

Repeta z wykładu nr 5. Detekcja światła. Plan na dzisiaj. Złącze p-n. złącze p-n Repeta z wykładu nr 5 Detekcja światła Sebastian Maćkowski Instytut Fizyki Uniwersytet Mikołaja Kopernika Adres poczty elektronicznej: mackowski@fizyka.umk.pl Biuro: 365, telefon: 611-3250 Konsultacje:

Bardziej szczegółowo

Budowa. Metoda wytwarzania

Budowa. Metoda wytwarzania Budowa Tranzystor JFET (zwany też PNFET) zbudowany jest z płytki z jednego typu półprzewodnika (p lub n), która stanowi tzw. kanał. Na jego końcach znajdują się styki źródła (ang. source - S) i drenu (ang.

Bardziej szczegółowo

ELEKTROTECHNIKA I ELEKTRONIKA

ELEKTROTECHNIKA I ELEKTRONIKA NWERSYTET TECHNOLOGCZNO-PRZYRODNCZY W BYDGOSZCZY WYDZAŁ NŻYNER MECHANCZNEJ NSTYTT EKSPLOATACJ MASZYN TRANSPORT ZAKŁAD STEROWANA ELEKTROTECHNKA ELEKTRONKA ĆWCZENE: E7 BADANE DODY PROSTOWNCZEJ DODY ZENERA

Bardziej szczegółowo

Ćwiczenie 01. Temat: Własności diody Zenera Cel ćwiczenia

Ćwiczenie 01. Temat: Własności diody Zenera Cel ćwiczenia Temat: Własności diody Zenera Cel ćwiczenia Ćwiczenie 01 Zrozumienie właściwości diod ze złączem p n. Poznanie własności diod każdego typu. Nauka testowania parametrów diod każdego typu za pomocą różnych

Bardziej szczegółowo

Ćw. III. Dioda Zenera

Ćw. III. Dioda Zenera Cel ćwiczenia Ćw. III. Dioda Zenera Zapoznanie się z zasadą działania diody Zenera. Pomiary charakterystyk statycznych diod Zenera. Wyznaczenie charakterystycznych parametrów elektrycznych diod Zenera,

Bardziej szczegółowo

STABILIZATOR NAPIĘCIA

STABILIZATOR NAPIĘCIA STABILIZATOR NAPIĘCIA Indywidualna Pracownia Elektroniczna Michał Dąbrowski asystent: Krzysztof Piasecki 16 XI 2010 1 Streszczenie Celem doświadczenia jest zapoznanie się z zasadą działania i wykonanie

Bardziej szczegółowo

POLITECHNIKA ŁÓDZKA INSTYTUT FIZYKI. Temperaturowa zależność statycznych i dynamicznych charakterystyk złącza p-n

POLITECHNIKA ŁÓDZKA INSTYTUT FIZYKI. Temperaturowa zależność statycznych i dynamicznych charakterystyk złącza p-n POLITECHNIKA ŁÓDZKA INSTYTUT FIZYKI LABORATORIUM FIZYKI FAZY SKONDENSOWANEJ Ćwiczenie 9 Temperaturowa zależność statycznych i dynamicznych charakterystyk złącza p-n Cel ćwiczenia Celem ćwiczenia jest poznanie

Bardziej szczegółowo

LI OLIMPIADA FIZYCZNA ETAP II Zadanie doświadczalne

LI OLIMPIADA FIZYCZNA ETAP II Zadanie doświadczalne LI OLIMPIADA FIZYCZNA ETAP II Zadanie doświadczalne ZADANIE D1 Cztery identyczne diody oraz trzy oporniki o oporach nie różniących się od siebie o więcej niż % połączono szeregowo w zamknięty obwód elektryczny.

Bardziej szczegółowo

Złącze p-n powstaje wtedy, gdy w krysztale półprzewodnika wytworzone zostaną dwa obszary o odmiennym typie przewodnictwa p i n. Nośniki większościowe

Złącze p-n powstaje wtedy, gdy w krysztale półprzewodnika wytworzone zostaną dwa obszary o odmiennym typie przewodnictwa p i n. Nośniki większościowe Diody Dioda jest to przyrząd elektroniczny z dwiema elektrodami mający niesymetryczna charakterystykę prądu płynącego na wyjściu w funkcji napięcia na wejściu. Symbole graficzne diody, półprzewodnikowej

Bardziej szczegółowo

Cel ćwiczenia: Wyznaczenie szerokości przerwy energetycznej przez pomiar zależności oporności elektrycznej monokryształu germanu od temperatury.

Cel ćwiczenia: Wyznaczenie szerokości przerwy energetycznej przez pomiar zależności oporności elektrycznej monokryształu germanu od temperatury. WFiIS PRACOWNIA FIZYCZNA I i II Imię i nazwisko: 1. 2. TEMAT: ROK GRUPA ZESPÓŁ NR ĆWICZENIA Data wykonania: Data oddania: Zwrot do poprawy: Data oddania: Data zliczenia: OCENA Cel ćwiczenia: Wyznaczenie

Bardziej szczegółowo

Półprzewodniki. złącza p n oraz m s

Półprzewodniki. złącza p n oraz m s złącza p n oraz m s Ryszard J. Barczyński, 2012 Politechnika Gdańska, Wydział FTiMS, Katedra Fizyki Ciała Stałego Materiały dydaktyczne do użytku wewnętrznego Publikacja współfinansowana ze środków Unii

Bardziej szczegółowo

Elementy przełącznikowe

Elementy przełącznikowe Elementy przełącznikowe Dwie główne grupy: - niesterowane (diody p-n lub Schottky ego), - sterowane (tranzystory lub tyrystory) Idealnie: stan ON zwarcie, stan OFF rozwarcie, przełączanie bez opóźnienia

Bardziej szczegółowo

Ćwiczenie nr 4 Charakterystyki I= f(u) złącza p-n.

Ćwiczenie nr 4 Charakterystyki I= f(u) złącza p-n. Wydział Elektroniki Mikrosystemów i otoniki Politechniki Wrocławskiej TUDA DZENNE LABORATORUM PRZYRZĄDÓW PÓŁPRZEWODNKOWYCH Ćwiczenie nr 4 Charakterystyki = f(u) złącza p-n.. Zagadnienia do samodzielnego

Bardziej szczegółowo

Temat: Zastosowanie multimetrów cyfrowych do pomiaru podstawowych wielkości elektrycznych

Temat: Zastosowanie multimetrów cyfrowych do pomiaru podstawowych wielkości elektrycznych INSTYTUT SYSTEMÓW INŻYNIERII ELEKTRYCZNEJ POLITECHNIKI ŁÓDZKIEJ WYDZIAŁ: KIERUNEK: ROK AKADEMICKI: SEMESTR: NR. GRUPY LAB: SPRAWOZDANIE Z ĆWICZEŃ W LABORATORIUM METROLOGII ELEKTRYCZNEJ I ELEKTRONICZNEJ

Bardziej szczegółowo

Laboratorium elektroniki. Ćwiczenie E02IS. Diody. Wersja 2.0 (21 lutego 2018)

Laboratorium elektroniki. Ćwiczenie E02IS. Diody. Wersja 2.0 (21 lutego 2018) Laboratorium elektroniki Ćwiczenie E02IS Diody Wersja 2.0 (21 lutego 2018) Spis treści: 1. Cel ćwiczenia...3 2. Zagrożenia...3 3. Wprowadzenie teoretyczne...3 4. Dostępna aparatura...5 4.1. Moduł doświadczalny...5

Bardziej szczegółowo

3. ZŁĄCZE p-n 3.1. BUDOWA ZŁĄCZA

3. ZŁĄCZE p-n 3.1. BUDOWA ZŁĄCZA 3. ZŁĄCZE p-n 3.1. BUDOWA ZŁĄCZA Złącze p-n jest to obszar półprzewodnika monokrystalicznego utworzony przez dwie graniczące ze sobą warstwy jedną typu p i drugą typu n. Na rysunku 3.1 przedstawiono uproszczony

Bardziej szczegółowo

Instrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego nr 2

Instrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego nr 2 Instrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego nr 2 Temat: Wpływ temperatury na charakterystyki i parametry statyczne diod Cel ćwiczenia. Celem ćwiczenia jest poznanie wpływu temperatury na charakterystyki i

Bardziej szczegółowo

Ćwiczenie nr 2 Charakterystyki I= f(u) złącza p-n.

Ćwiczenie nr 2 Charakterystyki I= f(u) złącza p-n. Wydział Elektroniki Mikrosystemów i otoniki Opracował zespół: Marek Panek, Waldemar Oleszkiewicz, wona Zborowska-Lindert, Bogdan Paszkiewicz, Małgorzata Kramkowska, Beata Ściana, Zdzisław ynowiec, Bogusław

Bardziej szczegółowo

Politechnika Białostocka

Politechnika Białostocka Politechnika Białostocka Wydział Elektryczny Katedra Automatyki i Elektroniki Instrukcja do ćwiczeń laboratoryjnych z przedmiotu: ELEKTRONIKA 2 (EZ1C500 055) BADANIE DIOD I TRANZYSTORÓW Białystok 2006

Bardziej szczegółowo

STABILIZATORY NAPIĘCIA STAŁEGO O DZIAŁANIU CIĄGŁYM

STABILIZATORY NAPIĘCIA STAŁEGO O DZIAŁANIU CIĄGŁYM STABILIZATORY NAPIĘCIA STAŁEGO O DZIAŁANIU CIĄGŁYM Celem ćwiczenia jest zapoznanie się z problemami związanymi z projektowaniem, realizacją i pomiarami wartości parametrów stabilizatorów parametrycznych

Bardziej szczegółowo

O złączu p-n możliwie najprościej

O złączu p-n możliwie najprościej O złączu p-n możliwie najprościej strona 1/10 Robert Pełka Złącze p-n, warstwa graniczna między półprzewodnikami typu p i typu n, jest bez wątpienia jednym z najważniejszych obiektów badanych przez fizyków.

Bardziej szczegółowo

Urządzenia półprzewodnikowe

Urządzenia półprzewodnikowe Urządzenia półprzewodnikowe Diody: - prostownicza - Zenera - pojemnościowa - Schottky'ego - tunelowa - elektroluminescencyjna - LED - fotodioda półprzewodnikowa Tranzystory - tranzystor bipolarny - tranzystor

Bardziej szczegółowo

Ć W I C Z E N I E N R E-12

Ć W I C Z E N I E N R E-12 INSTYTUT FIZYKI WYDZIAŁ INŻYNIERII PRODUKCJI I TECHNOLOGII MATERIAŁÓW POLITECHNIKA CZĘSTOCHOWSKA PRACOWNIA ELEKTRYCZNOŚCI I MAGNETYZMU Ć W I C Z E N I E N R E-12 BADANIE CHARAKTERYSTYKI ZŁĄCZA p-n Energia

Bardziej szczegółowo

NIEZBĘDNY SPRZĘT LABORATORYJNY

NIEZBĘDNY SPRZĘT LABORATORYJNY Temat: Własności diody p-n Cel ćwiczenia Ćwiczenie 30 Zrozumienie właściwości diod ze złączem p-n. Poznanie własności diod każdego typu. Nauka testowania parametrów diod każdego typu za pomocą różnych

Bardziej szczegółowo

E104. Badanie charakterystyk diod i tranzystorów

E104. Badanie charakterystyk diod i tranzystorów E104. Badanie charakterystyk diod i tranzystorów Cele: Wyznaczenie charakterystyk dla diod i tranzystorów. Dla diod określa się zależność I d =f(u d ) prądu od napięcia i napięcie progowe U p. Dla tranzystorów

Bardziej szczegółowo

Diody półprzewodnikowe cz II

Diody półprzewodnikowe cz II Diody półprzewodnikowe cz II pojemnościowe Zenera tunelowe PIN Schottky'ego Ryszard J. Barczyński, 2012 Politechnika Gdańska, Wydział FTiMS, Katedra Fizyki Ciała Stałego Materiały dydaktyczne do użytku

Bardziej szczegółowo

21. Diody i układy diodowe

21. Diody i układy diodowe 21. Diody i układy diodowe Celem ćwiczenia jest poznanie budowy, zasady działania i właściwości podstawowych układów elektronicznych, w których zastosowano diody prostownicze i diody Zenera. 21.1. Diody

Bardziej szczegółowo

Badanie własności diód krzemowej, germanowej, oraz diody Zenera

Badanie własności diód krzemowej, germanowej, oraz diody Zenera 23 kwietnia 2001 Ryszard Kostecki Badanie własności diód krzemowej, germanowej, oraz diody Zenera Streszczenie Celem tej pracy jest zapoznanie się z tematyką i zbadanie diód krzemowej, germanowej, oraz

Bardziej szczegółowo

WYZNACZANIE STAŁEJ PLANCKA Z POMIARU CHARAKTERYSTYK PRĄDOWO-NAPIĘCIOWYCH DIOD ELEKTROLUMINESCENCYJNYCH. Irena Jankowska-Sumara, Magdalena Krupska

WYZNACZANIE STAŁEJ PLANCKA Z POMIARU CHARAKTERYSTYK PRĄDOWO-NAPIĘCIOWYCH DIOD ELEKTROLUMINESCENCYJNYCH. Irena Jankowska-Sumara, Magdalena Krupska 1 II PRACOWNIA FIZYCZNA: FIZYKA ATOMOWA Z POMIARU CHARAKTERYSTYK PRĄDOWO-NAPIĘCIOWYCH DIOD ELEKTROLUMINESCENCYJNYCH Irena Jankowska-Sumara, Magdalena Krupska Cel ćwiczenia Celem ćwiczenia jest wyznaczenie

Bardziej szczegółowo

LABORATORIUM INŻYNIERII MATERIAŁOWEJ

LABORATORIUM INŻYNIERII MATERIAŁOWEJ Politechnika Lubelska Wydział Elektrotechniki i Informatyki Katedra Urządzeń Elektrycznych i TWN 20-618 Lublin, ul. Nadbystrzycka 38A www.kueitwn.pollub.pl LABORATORIUM INŻYNIERII MATERIAŁOWEJ Protokół

Bardziej szczegółowo

Różne dziwne przewodniki

Różne dziwne przewodniki Różne dziwne przewodniki czyli trzy po trzy o mechanizmach przewodzenia prądu elektrycznego Przewodniki elektronowe Metale Metale (zwane również przewodnikami) charakteryzują się tym, że elektrony ich

Bardziej szczegółowo

7. Tyrystory. Tyrystor SCR (Silicon Controlled Rectifier)

7. Tyrystory. Tyrystor SCR (Silicon Controlled Rectifier) 7. Tyrystory 1 Tyrystory są półprzewodnikowymi przyrządami mocy pracującymi jako łączniki dwustanowe to znaczy posiadające stan włączenia (charakteryzujący się małą rezystancją) i stan wyłączenia (o dużej

Bardziej szczegółowo

Laboratorium Metrologii

Laboratorium Metrologii Laboratorium Metrologii Ćwiczenie nr 3 Oddziaływanie przyrządów na badany obiekt I Zagadnienia do przygotowania na kartkówkę: 1 Zdefiniować pojęcie: prąd elektryczny Podać odpowiednią zależność fizyczną

Bardziej szczegółowo

LABORATORIUM OPTOELEKTRONIKI

LABORATORIUM OPTOELEKTRONIKI LABORATORIUM OPTOELEKTRONIKI ĆWICZENIE 1 ŹRÓDŁA ŚWIATŁA Gdańsk 2001 r. ĆWICZENIE 1: ŹRÓDŁA ŚWIATŁA 2 1. Wstęp Zasada działania półprzewodnikowych źródeł światła (LED-ów i diod laserowych LD) jest bardzo

Bardziej szczegółowo

Zasada działania tranzystora bipolarnego

Zasada działania tranzystora bipolarnego Tranzystor bipolarny Ryszard J. Barczyński, 2016 Politechnika Gdańska, Wydział FTiMS, Katedra Fizyki Ciała Stałego Materiały dydaktyczne do użytku wewnętrznego Zasada działania tranzystora bipolarnego

Bardziej szczegółowo

BADANIE TRANZYSTORA BIPOLARNEGO

BADANIE TRANZYSTORA BIPOLARNEGO BADANIE TRANZYSTORA BIPOLARNEGO CEL poznanie charakterystyk tranzystora bipolarnego w układzie WE poznanie wybranych parametrów statycznych tranzystora bipolarnego w układzie WE PRZEBIEG ĆWICZENIA: 1.

Bardziej szczegółowo

Wyznaczanie cieplnego współczynnika oporności właściwej metali

Wyznaczanie cieplnego współczynnika oporności właściwej metali Politechnika Łódzka FTIMS Kierunek: Informatyka rok akademicki: 2008/2009 sem. 2. grupa II Termin: 5 V 2009 Nr. ćwiczenia: 303 Temat ćwiczenia: Wyznaczanie cieplnego współczynnika oporności właściwej metali

Bardziej szczegółowo

Laboratorium elektroniki i miernictwa

Laboratorium elektroniki i miernictwa Numer indeksu 150946 Michał Moroz Imię i nazwisko Numer indeksu 151021 Paweł Tarasiuk Imię i nazwisko kierunek: Informatyka semestr 2 grupa II rok akademicki: 2008/2009 Laboratorium elektroniki i miernictwa

Bardziej szczegółowo

Laboratorum 4 Dioda półprzewodnikowa

Laboratorum 4 Dioda półprzewodnikowa Laboratorum 4 Dioda półprzewodnikowa Marcin Polkowski (251328) 19 kwietnia 2007 r. Spis treści 1 Cel ćwiczenia 2 2 Opis ćwiczenia 2 3 Wykonane pomiary 3 3.1 Dioda krzemowa...............................................

Bardziej szczegółowo

str. 1 d. elektron oraz dziura e.

str. 1 d. elektron oraz dziura e. 1. Półprzewodniki samoistne a. Niska temperatura b. Wzrost temperatury c. d. elektron oraz dziura e. f. zjawisko fotoelektryczne wewnętrzne g. Krzem i german 2. Półprzewodniki domieszkowe a. W półprzewodnikach

Bardziej szczegółowo

Uniwersytet Pedagogiczny

Uniwersytet Pedagogiczny Uniwersytet Pedagogiczny im. Komisji Edukacji Narodowej w Krakowie Laboratorium elektroniki Ćwiczenie nr 5 Temat: STABILIZATORY NAPIĘCIA Rok studiów Grupa Imię i nazwisko Data Podpis Ocena 1. Cel ćwiczenia

Bardziej szczegółowo

Zadania z podstaw elektroniki. Zadanie 1. Wyznaczyć pojemność wypadkową układu (C1=1nF, C2=2nF, C3=3nF):

Zadania z podstaw elektroniki. Zadanie 1. Wyznaczyć pojemność wypadkową układu (C1=1nF, C2=2nF, C3=3nF): Zadania z podstaw elektroniki Zadanie 1. Wyznaczyć pojemność wypadkową układu (C1=1nF, C2=2nF, C3=3nF): Układ stanowi szeregowe połączenie pojemności C1 z zastępczą pojemnością równoległego połączenia

Bardziej szczegółowo

Akademia Górniczo Hutnicza im. Stanisława Staszica w Krakowie Wydział IEiT. Ćwiczenie laboratoryjne Badanie modułu fotowoltaicznego

Akademia Górniczo Hutnicza im. Stanisława Staszica w Krakowie Wydział IEiT. Ćwiczenie laboratoryjne Badanie modułu fotowoltaicznego Akademia Górniczo Hutnicza im. Stanisława Staszica w Krakowie Wydział IEiT Katedra Elektroniki Alternatywne Źródła Energii Ćwiczenie laboratoryjne Badanie modułu fotowoltaicznego Opracowanie instrukcji:

Bardziej szczegółowo

EL08s_w03: Diody półprzewodnikowe

EL08s_w03: Diody półprzewodnikowe EL08s_w03: Diody półprzewodnikowe Złącza p-n i m-s Dioda półprzewodnikowa ( Zastosowania diod ) 1 Złącze p-n 2 Rozkład domieszek w złączu a) skokowy b) stopniowy 3 Rozkłady przestrzenne w złączu: a) bez

Bardziej szczegółowo

Sprzęganie światłowodu z półprzewodnikowymi źródłami światła (stanowisko nr 5)

Sprzęganie światłowodu z półprzewodnikowymi źródłami światła (stanowisko nr 5) Wojciech Niwiński 30.03.2004 Bartosz Lassak Wojciech Zatorski gr.7lab Sprzęganie światłowodu z półprzewodnikowymi źródłami światła (stanowisko nr 5) Zadanie laboratoryjne miało na celu zaobserwowanie różnic

Bardziej szczegółowo

Diody, tranzystory, tyrystory. Materiały pomocnicze do zajęć.

Diody, tranzystory, tyrystory. Materiały pomocnicze do zajęć. Diody, tranzystory, tyrystory Materiały pomocnicze do zajęć. Złącze PN stanowi podstawę diod półprzewodnikowych. Rozpatrzmy właściwości złącza poddanego napięciu. Na poniŝszym rysunku pokazano złącze PN,

Bardziej szczegółowo

Ćwiczenie nr 34. Badanie elementów optoelektronicznych

Ćwiczenie nr 34. Badanie elementów optoelektronicznych Ćwiczenie nr 34 Badanie elementów optoelektronicznych 1. Cel ćwiczenia Celem ćwiczenia jest zapoznanie się z elementami optoelektronicznymi oraz ich podstawowymi parametrami, a także doświadczalne sprawdzenie

Bardziej szczegółowo

Ćwiczenie 2 BADANIE DIODY PÓŁPRZEWODNIKOWEJ I TRANZYSTORA

Ćwiczenie 2 BADANIE DIODY PÓŁPRZEWODNIKOWEJ I TRANZYSTORA II pracownia fizyczna dr Wiaczesław Szamow Ćwiczenie 2 BADANIE DIODY PÓŁPRZEWODNIKOWEJ I TRANZYSTORA opr. tech. Mirosław Maś Krystyna Ługowska Siedlce 2004 1. Wstęp Zasadniczym celem ćwiczenia jest zbadanie

Bardziej szczegółowo

Badanie licznika Geigera- Mullera

Badanie licznika Geigera- Mullera Badanie licznika Geigera- Mullera Cel ćwiczenia Celem ćwiczenia jest zbadanie charakterystyki napięciowej licznika Geigera-Müllera oraz wyznaczenie szczególnych napięć detektora Wstęp Licznik G-M jest

Bardziej szczegółowo

LABORATORIUM ELEKTRONIKI

LABORATORIUM ELEKTRONIKI INSTYTUT NWIGCJI MORSKIEJ ZKŁD ŁĄCZNOŚCI I CYBERNETYKI MORSKIEJ UTOMTYKI I ELEKTRONIK OKRĘTOW LBORTORIUM ELEKTRONIKI Studia dzienne I rok studiów Specjalności: TM, IRM, PHiON, RT, PM, MSI ĆWICZENIE NR

Bardziej szczegółowo

Rys.1. Struktura fizyczna diody epiplanarnej (a) oraz wycinek złącza p-n (b)

Rys.1. Struktura fizyczna diody epiplanarnej (a) oraz wycinek złącza p-n (b) Ćwiczenie E11 UKŁADY PROSTOWNIKOWE Elementy półprzewodnikowe złączowe 1. Złącze p-n Złącze p-n nazywamy układ dwóch półprzewodników.jednego typu p w którym nośnikami większościowymi są dziury obdarzone

Bardziej szczegółowo

III. TRANZYSTOR BIPOLARNY

III. TRANZYSTOR BIPOLARNY 1. TRANZYSTOR BPOLARNY el ćwiczenia: Wyznaczenie charakterystyk statycznych tranzystora bipolarnego Zagadnienia: zasada działania tranzystora bipolarnego. 1. Wprowadzenie Nazwa tranzystor pochodzi z języka

Bardziej szczegółowo

Dioda półprzewodnikowa

Dioda półprzewodnikowa COACH 10 Dioda półprzewodnikowa Program: Coach 6 Projekt: na MN060c CMA Coach Projects\PTSN Coach 6\ Elektronika\dioda_2.cma Przykład wyników: dioda2_2.cmr Cel ćwiczenia - Pokazanie działania diody - Wyznaczenie

Bardziej szczegółowo

Ćwiczenie 24 Temat: Układy bramek logicznych pomiar napięcia i prądu. Cel ćwiczenia

Ćwiczenie 24 Temat: Układy bramek logicznych pomiar napięcia i prądu. Cel ćwiczenia Ćwiczenie 24 Temat: Układy bramek logicznych pomiar napięcia i prądu. Cel ćwiczenia Poznanie własności i zasad działania różnych bramek logicznych. Zmierzenie napięcia wejściowego i wyjściowego bramek

Bardziej szczegółowo

Badanie zjawiska rezonansu elektrycznego w obwodzie RLC

Badanie zjawiska rezonansu elektrycznego w obwodzie RLC Politechnika Łódzka FTIMS Kierunek: Informatyka rok akademicki: 2008/2009 sem. 2. grupa II Termin: 21 IV 2009 Nr. ćwiczenia: 321 Temat ćwiczenia: Badanie zjawiska rezonansu elektrycznego w obwodzie RLC

Bardziej szczegółowo

LABORATORIUM INŻYNIERII MATERIAŁOWEJ

LABORATORIUM INŻYNIERII MATERIAŁOWEJ Politechnika Lubelska Wydział Elektrotechniki i Informatyki Katedra Urządzeń Elektrycznych i TWN 20-618 Lublin, ul. Nadbystrzycka 38A www.kueitwn.pollub.pl LABORATORIUM INŻYNIERII MATERIAŁOWEJ Podstawy

Bardziej szczegółowo

Ćwiczenie 2 LABORATORIUM ELEKTRONIKI POLITECHNIKA ŁÓDZKA KATEDRA PRZYRZĄDÓW PÓŁPRZEWODNIKOWYCH I OPTOELEKTRONICZNYCH

Ćwiczenie 2 LABORATORIUM ELEKTRONIKI POLITECHNIKA ŁÓDZKA KATEDRA PRZYRZĄDÓW PÓŁPRZEWODNIKOWYCH I OPTOELEKTRONICZNYCH LABORATORIUM LKTRONIKI Ćwiczenie Parametry statyczne tranzystorów bipolarnych el ćwiczenia Podstawowym celem ćwiczenia jest poznanie statycznych charakterystyk tranzystorów bipolarnych oraz metod identyfikacji

Bardziej szczegółowo

Badanie elementów składowych monolitycznych układów scalonych II

Badanie elementów składowych monolitycznych układów scalonych II 1 Wydział Elektroniki Mikrosystemów i Fotoniki Politechniki Wrocławskiej STUDIA DZIENNE Ćwiczenie nr 14 LABORATORIUM PRZYRZĄDÓW PÓŁPRZEWODNIKOWYCH Badanie elementów składowych monolitycznych układów scalonych

Bardziej szczegółowo

Miłosz Andrzejewski IE

Miłosz Andrzejewski IE Miłosz Andrzejewski IE Diody Diody przepuszczają prąd tylko w jednym kierunku; służą do prostowania. W tym celu używa się ich w: prostownikach wchodzących w skład zasilaczy. Ogólnie rozpowszechnione są

Bardziej szczegółowo

ELEMENTY ELEKTRONICZNE

ELEMENTY ELEKTRONICZNE KATEDRA ELEKTRONIKI AGH L A B O R A T O R I U M ELEMENTY ELEKTRONICZNE DIODY REV. 2.0 1. CEL ĆWICZENIA - pomiary charakterystyk stałoprądowych diod prostowniczych, świecących oraz stabilizacyjnych - praktyczne

Bardziej szczegółowo

A6: Wzmacniacze operacyjne w układach nieliniowych (diody)

A6: Wzmacniacze operacyjne w układach nieliniowych (diody) A6: Wzmacniacze operacyjne w układach nieliniowych (diody) Jacek Grela, Radosław Strzałka 17 maja 9 1 Wstęp Poniżej zamieszczamy podstawowe wzory i definicje, których używaliśmy w obliczeniach: 1. Charakterystyka

Bardziej szczegółowo

Ćwiczenie C1 Diody. Wydział Fizyki UW

Ćwiczenie C1 Diody. Wydział Fizyki UW Wydział Fizyki UW Pracownia fizyczna i elektroniczna (w tym komputerowa) dla Inżynierii Nanostruktur (1100-1INZ27) oraz Energetyki i Chemii Jądrowej (1100-1ENPRFIZELEK2) Ćwiczenie C1 Diody Streszczenie

Bardziej szczegółowo

Wyznaczanie sprawności grzejnika elektrycznego i ciepła właściwego cieczy za pomocą kalorymetru z grzejnikiem elektrycznym

Wyznaczanie sprawności grzejnika elektrycznego i ciepła właściwego cieczy za pomocą kalorymetru z grzejnikiem elektrycznym Politechnika Łódzka FTIMS Kierunek: Informatyka rok akademicki: 2008/2009 sem. 2. grupa II Termin: 24 III 2009 Nr. ćwiczenia: 215 Temat ćwiczenia: Wyznaczanie sprawności grzejnika elektrycznego i ciepła

Bardziej szczegółowo

F = e(v B) (2) F = evb (3)

F = e(v B) (2) F = evb (3) Sprawozdanie z fizyki współczesnej 1 1 Część teoretyczna Umieśćmy płytkę o szerokości a, grubości d i długości l, przez którą płynie prąd o natężeniu I, w poprzecznym polu magnetycznym o indukcji B. Wówczas

Bardziej szczegółowo

Sprawozdanie z laboratorium proekologicznych źródeł energii

Sprawozdanie z laboratorium proekologicznych źródeł energii P O L I T E C H N I K A G D A Ń S K A Sprawozdanie z laboratorium proekologicznych źródeł energii Temat: Wyznaczanie charakterystyk prądowo-napięciowych modułu ogniw fotowoltaicznych i sprawności konwersji

Bardziej szczegółowo

ĆWICZENIE LABORATORYJNE. TEMAT: Wyznaczanie parametrów diod i tranzystorów

ĆWICZENIE LABORATORYJNE. TEMAT: Wyznaczanie parametrów diod i tranzystorów ĆWICZENIE LBORTORYJNE TEMT: Wyznaczanie parametrów diod i tranzystorów 1. WPROWDZENIE Przedmiotem ćwiczenia jest zapoznanie się z budową i zasadą działania podstawowych rodzajów diod półprzewodnikowych

Bardziej szczegółowo

Przyrządy i układy półprzewodnikowe

Przyrządy i układy półprzewodnikowe Przyrządy i układy półprzewodnikowe Prof. dr hab. Ewa Popko ewa.popko@pwr.edu.pl www.if.pwr.wroc.pl/~popko p.231a A-1 Zawartość wykładu Wy1, Wy2 Wy3 Wy4 Wy5 Wy6 Wy7 Wy8 Wy9 Wy10 Wy11 Wy12 Wy13 Wy14 Wy15

Bardziej szczegółowo

LABORATORIUM. Zasilacz impulsowy. Switch-Mode Power Supply (SMPS) Opracował: dr inż. Jerzy Sawicki

LABORATORIUM. Zasilacz impulsowy. Switch-Mode Power Supply (SMPS) Opracował: dr inż. Jerzy Sawicki LABORATORIUM Zasilacz impulsowy Switch-Mode Power Supply (SMPS) Opracował: dr inż. Jerzy Sawicki Wymagania, znajomość zagadnień: 1. Znajomość schematów, zasady działania i przeznaczenia poszczególnych

Bardziej szczegółowo

Wyznaczanie długości fali świetlnej za pomocą spektrometru siatkowego

Wyznaczanie długości fali świetlnej za pomocą spektrometru siatkowego Politechnika Łódzka FTIMS Kierunek: Informatyka rok akademicki: 2008/2009 sem. 2. grupa II Termin: 19 V 2009 Nr. ćwiczenia: 413 Temat ćwiczenia: Wyznaczanie długości fali świetlnej za pomocą spektrometru

Bardziej szczegółowo

Złącze p-n: dioda. Przewodnictwo półprzewodników. Dioda: element nieliniowy

Złącze p-n: dioda. Przewodnictwo półprzewodników. Dioda: element nieliniowy Złącze p-n: dioda Półprzewodniki Przewodnictwo półprzewodników Dioda Dioda: element nieliniowy Przewodnictwo kryształów Atomy dyskretne poziomy energetyczne (stany energetyczne); określone energie elektronów

Bardziej szczegółowo

Drgania relaksacyjne w obwodzie RC

Drgania relaksacyjne w obwodzie RC Politechnika Łódzka FTIMS Kierunek: Informatyka rok akademicki: 2008/2009 sem. 2. grupa II Termin: 21 IV 2009 Nr. ćwiczenia: 311 Temat ćwiczenia: Drgania relaksacyjne w obwodzie RC Nr. studenta: 5 Nr.

Bardziej szczegółowo

E12. Wyznaczanie parametrów użytkowych fotoogniwa

E12. Wyznaczanie parametrów użytkowych fotoogniwa 1/5 E12. Wyznaczanie parametrów użytkowych fotoogniwa Celem ćwiczenia jest poznanie podstaw zjawiska konwersji energii świetlnej na elektryczną, zasad działania fotoogniwa oraz wyznaczenie jego podstawowych

Bardziej szczegółowo

Badanie charakterystyk elementów półprzewodnikowych

Badanie charakterystyk elementów półprzewodnikowych Badanie charakterystyk elementów półprzewodnikowych W ramach ćwiczenia student poznaje praktyczne właściwości elementów półprzewodnikowych stosowanych w elektronice przez badanie charakterystyk diody oraz

Bardziej szczegółowo

DIODY PÓŁPRZEWODNIKOWE

DIODY PÓŁPRZEWODNIKOWE Instrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego DIODY PÓŁPRZEWODNIKOWE Instrukcję opracował: dr inż. Jerzy Sawicki Wymagania i wiedza konieczna do wykonania ćwiczenia: 1. Znajomość instrukcji do ćwiczenia, w tym

Bardziej szczegółowo

Katedra Przyrządów Półprzewodnikowych i Optoelektronicznych Laboratorium Przyrządów Półprzewodnikowych. Ćwiczenie 2

Katedra Przyrządów Półprzewodnikowych i Optoelektronicznych Laboratorium Przyrządów Półprzewodnikowych. Ćwiczenie 2 Ćwiczenie 2 Cel ćwiczenia Celem ćwiczenia jest poznanie statycznych charakterystyk tranzystorów bipolarnych oraz metod identyfikacji parametrów odpowiadających im modeli małosygnałowych, poznanie metod

Bardziej szczegółowo

Ćwiczenie nr 23. Charakterystyka styku między metalem a półprzewodnikiem typu n. str. 1. Cel ćwiczenia:

Ćwiczenie nr 23. Charakterystyka styku między metalem a półprzewodnikiem typu n. str. 1. Cel ćwiczenia: Ćwiczenie nr 23 Charakterystyka styku między metalem a półprzkiem typu n. Cel ćwiczenia: Wyznaczanie charakterystyki napięciowo - prądowej złącza metal-półprzk n oraz zaobserwowanie działania elementów

Bardziej szczegółowo

Ćwiczenie 4. Pomiary rezystancji metodami technicznymi

Ćwiczenie 4. Pomiary rezystancji metodami technicznymi Ćwiczenie 4 Pomiary rezystancji metodami technicznymi Program ćwiczenia: 1. Techniczna metoda pomiaru rezystancji wyznaczenie charakterystyki =f(u) elementu nieliniowego (żarówka samochodowa) 2. Pomiar

Bardziej szczegółowo

Elementy półprzewodnikowe. Materiały dydaktyczne dla kierunku Technik Optyk (W12) Kwalifikacyjnego kursu zawodowego.

Elementy półprzewodnikowe. Materiały dydaktyczne dla kierunku Technik Optyk (W12) Kwalifikacyjnego kursu zawodowego. Elementy półprzewodnikowe Materiały dydaktyczne dla kierunku Technik Optyk (W12) Kwalifikacyjnego kursu zawodowego. Elementy elektroniczne i ich zastosowanie. Elementy stosowane w elektronice w większości

Bardziej szczegółowo

Ćwiczenie nr 4 Tranzystor bipolarny (npn i pnp)

Ćwiczenie nr 4 Tranzystor bipolarny (npn i pnp) Ćwiczenie nr 4 Tranzystor bipolarny (npn i pnp) Tranzystory są to urządzenia półprzewodnikowe, które umożliwiają sterowanie przepływem dużego prądu, za pomocą prądu znacznie mniejszego. Tranzystor bipolarny

Bardziej szczegółowo

Ćwiczenie - 3. Parametry i charakterystyki tranzystorów

Ćwiczenie - 3. Parametry i charakterystyki tranzystorów Spis treści Ćwiczenie - 3 Parametry i charakterystyki tranzystorów 1 Cel ćwiczenia 1 2 Podstawy teoretyczne 2 2.1 Tranzystor bipolarny................................. 2 2.1.1 Charakterystyki statyczne

Bardziej szczegółowo

Część 2. Przewodzenie silnych prądów i blokowanie wysokich napięć przy pomocy przyrządów półprzewodnikowych

Część 2. Przewodzenie silnych prądów i blokowanie wysokich napięć przy pomocy przyrządów półprzewodnikowych Część 2 Przewodzenie silnych prądów i blokowanie wysokich napięć przy pomocy przyrządów półprzewodnikowych Łukasz Starzak, Przyrządy i układy mocy, studia niestacjonarne, lato 2018/19 23 Półprzewodniki

Bardziej szczegółowo

Laboratorium Przyrządów Półprzewodnikowych test kompetencji zagadnienia

Laboratorium Przyrządów Półprzewodnikowych test kompetencji zagadnienia Wrocław, 21.03.2017 r. Laboratorium Przyrządów Półprzewodnikowych test kompetencji zagadnienia Podczas testu kompetencji studenci powinni wykazać się znajomością zagadnień określonych w kartach kursów

Bardziej szczegółowo