METODY OPISU MIKROSTRUKTURY KOMPOZYTÓW BUDOWLANYCH

Wielkość: px
Rozpocząć pokaz od strony:

Download "METODY OPISU MIKROSTRUKTURY KOMPOZYTÓW BUDOWLANYCH"

Transkrypt

1 INśYNIERIA MATERIAŁÓW BUDOWLANYCH Rok akademicki 28/29 dr hab. inŝ. Andrzej Garbacz METODY OPISU MIKROSTRUKTURY KOMPOZYTÓW BUDOWLANYCH Politechnika Warszawska, Wydział InŜynierii Lądowej Analiza relacji mikrostruktura właściwości: analiza jakościowa - zdefiniowania zbioru elementów struktury, które w głównej mierze kształtują właściwości materiału analiza ilościowa - opis cech geometrycznych elementów mikrostruktury. Intensywny rozwój technik komputerowych, pozwalający na graficzną prezentację ogromnej ilości danych, umoŝliwił formalizację opisu elementów mikrostruktury odnośnie do analizowanych zjawisk. 1

2 Metody analizy ilościowej : stereologia ilościowa fraktografia ilościowa, elementy geometrii nieliniowej, np. teoria fraktali. Wzrost zainteresowania metodami opisu struktury materiałów ze względu na rozwój technik mikroskopowych i komputerowej analizy obrazu, pozwalający na zautomatyzowanie Ŝmudnych procedur badawczych, od etapu rejestracji obrazu struktury, poprzez jego przekształcenie do postaci umoŝliwiającej analizę, aŝ do opisu struktury w postaci rozkładu odpowiednich parametrów geometrycznych.. Mikroskopia świetlna Światło: - Odbite - przechodzące rozróŝnienie elementów struktury i określenie ich morfologii, ilości, rozmiarów i rozmieszczenie. Badania przeprowadza się przy powiększeniach z zakresu 5-2x na specjalnie przygotowanych próbkach - zgładach. Przygotowanie zgładu: -zgrubne wyrównywanie powierzchni próbki: szlifierki, intensywnie chłodzone wodą, - szlifowanie na sucho na papierach ściernych o zmniejszającej się gradacji ziarna lub na mokro na wodoodpornych papierach karborundowych ( w przypadku materiałów twardych uŝywa się past diamentowych) -polerowanie w celu usunięcia drobnych rys - obrotowe tarcze polerskie, pokryte filcem, zwilŝone wodną zawiesiną AL2O3 lub Fe2O3 oraz pasty diamentowe o bardzo IMB: dr małym hab. inŝ uziarnieniu. A.Garbacz 2

3 W mikroskopach na światło odbite dla ujawnienia struktury stosuje się szereg technik zróŝnicowanych przede wszystkim sposobem oświetlania próbek oraz biegu promieni od próbki poprzez obiektyw do okularu: obserwacje w jasnym polu: promienie świetlne odbijają się od powierzchni próbki; promienie odbite od elementów struktury prostopadłych do osi optycznej mikroskopu powracają do obiektywu - obiekt widoczny jako jasny, a promienie odbite od powierzchni nachylonych nie powracają do obiektywu obiekt ciemny, obserwacje w świetle ukośnym: obraz jest obserwowany jak w jasnym polu, natomiast ukośne oświetlenie uwidacznia róŝnice w wysokości poszczególnych elementów struktury, obserwacje w ciemnym polu: technika dająca kontrast zupełnie odwrotny do obserwacji w jasnym polu; promienie świetlne po odbiciu się od powierzchni próbki przechodzą przez specjalnie skonstruowane układów optyczne tak, Ŝe miejsca jasne stają się ciemne (elementy struktury prostopadłe do osi optycznej mikroskopu), a miejsca ciemne widoczne są jako jasne (powierzchnie nachylone IMB: dr hab. do inŝosi A.Garbacz optycznej), mikroskopia kontrastowo-fazowa: wykorzystanie, podczas obserwacji w jasnym polu, róŝnic w fazie róŝnych promieni światła odbitego i przetransformowanie ich tak aby oko ludzkie obserwowało róŝnice w intensywności promieni świetlnych, mikroskopia polaryzacyjna: wykorzystanie optycznej anizotropii wykazywanej przez wiele faz, zarówno metalicznych jak i niemetalicznych; przy zastosowaniu polaryzatorów i analizatorów niektóre elementy struktury są rozjaśnione, a inne wygaszone; ponadto wykorzystywany jest tu tzw. pleochroizm, czyli wykazywanie przez poszczególne elementy struktury róŝnej barwy w świetle splaryzowanym, mikroskopia interferencyjna róŝniczkowa G.Nomarskiego: odmiana techniki interferencyjno-polaryzacyjnej, w której obok elementów polaryzacyjnych wykorzystuje się elementy dwójłomne (pryzmat Wollastona); powstający obraz jest wynikiem nakładania się dwóch wiązek świetlnych; technika szczególnie przydatna przy badaniu próbek wykazujących relif wynikający z obecności róŝnych elementów strukturalnych. 3

4 Analiza jakościowa + rejestracja obrazu (1) Mikroskopy optyczne światło przechodzące światło odbite Mikroskop optyczny fluoroscencyjny rozkład rys i porów rozkład polimerów w asfalcie Badania mikrostruktury stwardniałego zaczynu cementowego 4

5 Elektronowa mikroskopia skaningowa SEM, obraz mikrostruktury przy znacznie wyŝszych powiększeniach niŝ w przypadku mikroskopów świetlnych, a takŝe przy większej zdolności rozdzielczej (najmniejszej odległości przy której rozróŝnialne są dwa sąsiednie elementy obrazu): SEM: powiększenia z zakresu 1 3x, przy zdolności rozdzielczej kilku Angstremów. Obserwacje za pomocą SEM moŝna prowadzić zarówno na przełomach, jak i zgładach. Do tworzenia obrazu w SEM wykorzystuje się wszystkie rodzaje elektronów i promieniowania elektromagnetycznego emitowanego z próbki pod wpływem pierwotnej wiązki elektronów Najnowsza generacja SEM: -Mikroskop SEM + mikroanalizator rentgenowski - ESEM nie wymaga przygotowania próbek obserwacja w czasie rzeczywistym ZJAWISKA WYKORZYSTYWANE PRZY REJESTROWANIU OBRAZU MIKROSTRUKTURY: elektrony wtórne (SE), elektrony wstecznie rozproszone - odbite (BSE), elektrony zaabsorbowane, promieniowanie rentgenowskie, elektrony Augera, elektrony przechodzące, efekty związane z dyfrakcją i anomalną absorpcją elektronów, promieniowanie świetlne, nadfioletowe i podczerwone (katodoluminescencja), prądy i napięcia w próbkach pólprzewodników. 5

6 Analiza jakościowa + rejestracja obrazu (2) Mikroskopy skaningowe (SEM) CaCO3+CSH Środowiskowy mikroskop skaningowy (SEM) Skanowanie zawartości Si L.Czarnecki, H.Schorn SE Obraz mikrostruktury betonu Ŝywicznego Skanowanie zawartości Si BSE 6

7 14 Czarnecki / Schorn 18 Czarnecki / Schorn 7

8 4 nm 21 Czarnecki / Schorn Transmisyjne mikroskopy elektronowe TEM 8

9 Analiza i analizatory obrazu: przetwarzanie analizowanego obrazu optycznego na zbiór impulsów, korygowanie przetworzonego obrazu głównie pod względem prawidłowości oświetlenia oraz kształtu analizowanej części obrazu, wydzielenie z obrazu fragmentu, który będzie podlegał dalszej analizie (detekcja obrazu), np. na podstawie poziomu szarości, mierzenie wybranych elementów przetworzonego obrazu wg załoŝonych procedur, opracowanie wyników pomiarów obrazu przy zastosowaniu mikrokomputerów. Celem analizy obrazu NIE jest poprawianie jego jakości Obrazy są zapisywane w róŝny sposób zaleŝnie od potrzeb: obrazy czarno-białe (binarne): najprostsze, zajmujące najmniej pamięci do zapamiętania jednego punktu potrzeba 1bit pamięci, ale równocześnie bardzo waŝne; wiele przekształceń moŝe być wykonywanych tylko na obrazach binarnych, obrazy wieloodcieniowe: zapis analizowanej mikrostruktury w róŝnych stopniach szarości pojedyńczego punktu; do zapamiętania potrzebny jest 1 bajt, czyli 8 bitów, obraz kolorowy: do zapisu wykorzystywany jest standard wykorzystywany w telewizji, tj standard RGB (red-green-blue), który tworzy kolory z trzech podstawowych: czerwonego, zielonego i niebieskiego; obrazy kolorowe zajmują duŝo pamięci, gdyŝ dla zapisania jednego punktu potrzeba aŝ 24 bitów, 9

10 Procedury AO moŝna zgrupować w cztery najwaŝniejsze grupy: przekształcenia geometryczne: przesunięcia, obroty, odbicia; wykorzystuje się je do korekcji błędów optyki (likwidacja beczkowatości obrazu) lub jako operacje pomocnicze, przekształcenia punktowe: operacje logiczne, arytmetyczne, tablice korekcji LUT oraz binaryzacja; słuŝą do modyfikacji poszczególnych punktów niezaleŝnie od tego jakich mają sąsiadów, filtry: przekształcenia którego wynik zaleŝy nie tylko od właściwości modyfikowanego punktu, ale równieŝ od jego otoczenia, przekształcenia morfologiczne: przekształcenie, które podobnie jak filtr uwzględnia otoczenie analizowanego punktu, natomiast w przeciwieństwie do filtrów operacje morfologiczne działają tylko wtedy gdy spełniony jest pewien warunek logiczny, tzw wzorzec struktury Jednymi z najwaŝniejszych operacji punktowych jest binaryzacja i tablice korekcji. Binaryzacja przekształca obrazy wieloodcieniowe lub kolorowe na obrazy czarno-białe (binarne). Obrazy te, i zwykle tylko te, są wykorzystywane do: wykonywania podstawowych pomiarów na obrazach: liczebność elementów, pola powierzchni, długość, itp., analizowania i modyfikowania kształtu obiektów (rozdzielanie i sklejanie cząstek), definiowanie przekształceń obrazów wieloodcieniowych (które traktuje się jako zbiór tylu obrazów binarnych ile jest odcieni szarości). 1

11 . Przykład róŝnych operacji binaryzacji obrazu wieloodcieniowego (a): (b) - binaryzacja z dolnym progiem - wszystko poniŝej staje się czarne, (c) -binaryzacja z górnym progiem - wszystko powyŝej staje się czarne, (d) - binaryzacja z podwójnym ograniczeniem wprowadzenie progu górnego i dolnego tylko punkty miedzy punktami pozostają białe, (e) binaryzacja warunkowa punkt o intensywności > p1 jest zamieniany na biały, punkt < p2 jest zamieniany na czarny, ciągły obszar punktów o intensywności pomiędzy p1 i p2 zostaje zamieniony na punkty białe jeśli sąsiaduje z punktami zamienionymi na białe, w przeciwnym wypadku obszar punktów zostaje zamieniony na punkty czarne Przykład zastosowania tablic korekcji LUT do przekształcania obrazu przełomu. Obraz wyjściowy (a), ten sam obraz po b) normalizacji c) gamma modulacji d) solaryzacji oraz przebiegi odpowiadających im funkcji korekcyjnych 11

12 przekształcenia morfologiczne: erozję: przekształcenie usuwające odizolowane punkty, małe cząstki oraz wąskie wypustki; wygładza brzegi figur i zmniejsza ich powierzchnię, w niektórych przypadkach prowadzi do podziału figury na kilku mniejszych, co jest wykorzystywane do podziału sklejonych cząstek, dylatacja: przekształcenie odwrotne do erozji; dylatacja zamyka małe otwory i wąskie zatoki, powierzchnia przekształcanej figury jest zwiększana, co czasami prowadzi do sklejania cząstek, ścienianie: przekształcenie które moŝe słuŝyć wyznaczaniu ostrej granicy między obiektem a tłem, np. brzegów figury, pogrubianie: przekształcenie odwrotne do ścieniania, wykorzystywane przy przywracaniu powierzchni obiektu po erozji, np. dylatacja bez dotykania, szkieletyzacja: przekształcenie wykorzystywane do określania niektórych parametrów, jak np. określanie orientacji cząstek wydłuŝonych, klasyfikacja cząstek na podstawie ich kształtu, rozdzielanie cząstek posklejanych. Przykłady przekształceń c) d) morfologicznych: (a) i (b) erozja (c) i (d) dylatacji kołem B o promieniu r ; e) (e) przykład szkieletyzacji (gruba linia) wybranych figur geometrycznych 12

13 Stereologia - opis mikrostryktury obiektu 3D na podstawie jego obrazu 2D powierzchnia ziarna, A maksymalny wymiar ziarna, d max d 2 minimalny wymiar ziarna, d min A a min dmin d m ax a max Ekwiwalentna powierzc hnia koła F y wskaźnik orientacji ziarna, α max i α min ekwiwalentna średnica ziarna, d 2 obwód ziarna, p średnica Fereta współczynniki kształtu q 1, i q 2. Zasada Cavalieriego- Hacquerta p F h p(c) objętość względna, V V powierzchnia względna, S V liczność względna, N V E(X) wartość średnią rozkładu parametru X, SD(X) - odchylenie standardowe rozkładu, CV(X) =SD(X)/E(X) współczynnik zmienności rozkładu. Relacja: palność tynków - mikrostruktura Tynk T-1 /2,5 mm T-2 T-3 2,5 mm Faktura powierzchni kornikowa dowolna kamyczkowa Zawartość polimerów [%],5-,7,8-1,2,8-1,2 75 o C piec czas trwania spalania płomieniowego, s względny ubytek masy, % T-1 T-2 T rodzaj tynku T-1 T-2 T-3 rodzaj tynku światło odbite światło przechodzące Analiza statystyczna (analiza wariancji) 13

14 Analiza wariancji 6 udział obj. [%] 4 2 kruszywo kruszywo kruszywo T-1 T-2 T-3 kruszywo pory Udział objętościowy porów [%] r=,74 95% p.ufności ,,9,8,7 95% p.ufności r=,79, Udział objętościowy kruszywa [%] Udział objętościowy kruszywa [%] Wsp. kształtu porów [%] Charakterystyka rys w betonie Powierzchnia posadzki Powierzchnia posadzki Warstwa Surface area 12,2 wierzchnia Internal rdzeńarea 1 Warstwa wierzchnia rdzeń,15 8 Próbka 1,1 6 Próbka 2 Próbka 3, Specimen number Numer próbki M.Glinicki, A.Litorowicz, 25 Szerokość rys [mm] Gęstość rys [mm/mm 2 ] D e n s it y o f c r a c k s [m m /m m 2 ] Skumulowana długość rys [mm] 14

15 Metoda siecznych róŝa orientacji rys długość rys L [mm] - całkowita długość rys istniejących na obrazie; średnia szerokość rys W [mm] - stosunek pola powierzchni wszystkich rys do całkowitej długości rys; pole powierzchni rys A [mm2] - pole powierzchni wszystkich rys na obrazie; gęstość rys LA [mm/mm2] stosunek całkowitej długości rys do pola powierzchni analizowanego obrazu; udział powierzchniowy AA [mm2/mm2] stosunek pola powierzchni wszystkich rys do całkowitego pola powierzchni Fraktografia ilościowa opis przełomów rough profile S m X t X p X m mean line Xa - średnia arytmetyczna odchylenia od średniej profilu Xp maksymalne odchylenie od średniej linii profilu Sm średnia odległość między dwoma sąsiednimi pikami profilu odniesiona do linii średniego profilu 15

16 Szorstkość powierzchni betonu Ocena wizualna CSP1 CSP2 CSP3 Opis ilościowy CSP4 CSP5 CSP6 CSP7 CSP8 CSP9 Skala szorstkości ICRI SEM 1x Szorstkość przyczepność, MPa odporność na ścieranie (WW) przyczepność (P) C2/25 C3/35 C4/5 C5/ wskaźnik chropowatości, mm Współczynnik rozwinięcia linii profilu L' 1 ( x,) D 2 ( x,) L 2 ( x) R L = L/L O L π L' 1 x, ( 2 R l x) L = L' 1 2( x) ( x, π/2) L O R v ( x) D = L' 1 2( x,) ( x, π/2) 16

17 Współczynnik rozwinięcia powierzchni profilu Surfometria S R S = S/S O S o Profilometria Profilometry: - Mechaniczne (igłowe) - Laserowe 17

18 PROFILOMETR MECHANICZNY L.Courard, M. Niels University of Liege (1) Bez obróbki polerowanie ( próbka PW) (próbka University of Liege) (2) szlifowanie (4, 5, 6) śrutowanie (3) piaskowanie (7,8) frezowanie ręczne i mech. 18

19 Bez obróbki Polerowanie (U..Liege) szlifowanie śrutowanie Surfoscan, University of Liege PROFILOMETR OPTYCZNY Fukuzawa, Ibaraki University, 2 19

20 Fukuzawa, Ibaraki University, 2 Profilometr laserowy do badań in-situ: Przekształcenia matematyczne 2

21 Parametry struktury geometrycznej powierzchni (PN-EN ISO 4287): Profil Total ogólny profile m x linia i wartość średnia FILTRATION FILTRACJA Falistość Waviness profilu the profile Chropowatość Roughness profilu the profile Wa lp Ra Wp Wt Rp Rt X p max wysokość X m max głę łębokość X t X a X a X q S k ść piku max wysokość profilu odchylenie standardowe średnie odchylenie kwadratowe współczynnik skośności S m Średni okres Parametry struktury geometrycznej powierzchni (cd.): CR - średnia wysokość wzniesień CF - średnia wysokość profilu z pominięciem wzniesień i wgłębień CL - średnia wysokość wgłębień 21

22 Wymiar fraktalny: profilu L powierzchni a d c b R = S/S S R = L/L L S S L L L' Wymiar fraktalny D jako miara samopodobieństwa a i A 1i D i d i A 2i b i c i C i A i B i r Prostokąt pomiarowy a R = 2Nh/m = s 3/27 = 1,78 log N(a) = D b log a log L(r) = (1 D s )logr N całkowita liczba przecięć z profilem N liczba kwadratów L długość profilu mierzona h wysokość prostokąta pomiarowego a wymiar kwadratu z krokiem o długości r m całkowita liczba przecięć z prostokątem pomiarowym PRZYKŁADY WYKORZYSTANIA FRAKTOGRAFII W INśYNIERII MATERIAŁÓW BUDOWLANYCH 22

23 Efekt skali betonów Ŝywicznych 1x 25x 63x 16x 4x fc [MPa] f c [MPa] fc [MPa] r = RS fb [MPa] fb [MPa] r = r = r = RS RS r =.18 fb [MPa] RS R S 5 r =.19 RS 4 x Współczynnik korelacji, r statystycznie istotna wartość r 1 6 x 1x log (N) Czarnecki L., Garbacz A., Kurach J., Cem.&Conc.Comp. 21 fb fc 1 x 2 5 x 6 3 x RELACJA MIĘDZY WSPÓŁCZYNNIKAMI GEOMETRYCZNEGO OPISU PRZEŁOMÓW: R S = f (R L ) Coster i Chermant: 2 ( R L 1) RS = RL -.75 Π 2 Wright i Karlsson: ( RL 1) RS = Underwood: RS = L ( R 1) 1.27 RL -.27 Π Gokhale i Underwood: R S = 1.16 R L 1.57 RL

24 2,4 2,2 R S = 1, R L -, r =, ró w n.3 rów n.4 ró w n.6 R S 2, 1,8 1,6 1,4 w a rtoś ć R L typow a dla be tonów cem entow ych 1 w a rtoś ć R L dla be tonów c e m e ntow yc h pod obc ią Ŝe nie m 2 3 ró w n.5 1x 25x 63x 16x Parametry przełomu betonu Ŝywicznego przy róŝnych 1,2 powiększen 1, 1, 1,1 1,2 1,3 1,4 1,5 1,6 1,7 1,8 1,9 2, 4x. R L Ocena odporności na pękanie na podstawie parametrów fraktograficznych odporność R S (R L ) na pękanie (np. Underwood, 199) 8 beton cementowy z kruszywem: 4 w/c=,6 K IIc [M P a m,5 ] bazaltowym węglanowym: G.Prokopski, K I Ic [M N /m 1,5 ] 3 w/c=,7 w/c=,8 w/c=,9 2 Z.Rawicki, R L R L 3. beton Ŝywiczny: r =.93 1 w/c p f C R S p [%] fc [MPa] r = R S f C K IIC 24

25 Beton winyloestrowy (test WST) niemodyfikowany R S = f c = 99 MPa f b = 38 MPa K IC = 2,13 MPam,5 modyfikowany dodatek silanu do Ŝywicy R S = f c = 113 MPa f b = 41 MPa K IC = 2,36 MPam,5 modyfikowany (mikrokrzemionka pokryta silanem) R S = f c = 128 MPa f b = 43 MPa K IC = 2,56 MPam,5 L.Czarnecki, B.Chmielewska, F.H. Wittmann, H. Sadouki, J. for Restauration of Buildings and Monuments, 23 Wpływ obróbki na jakość powierzchni betonu: B2 obróbka mechaniczna szlifowanie piaskowanie śrutowanie frezowanie ocena stanu powierzchni 1x mikroskop optyczny 25-5x SEM materiał naprawy warstwa sczepna naprawa podkład betonowy pull-off test 25

26 Ocena wizualna stanu powierzchni betonu: piaskowanie frezowanie SEM 25x 1x 5x Falistość profilu & parametry krzywej Abbotta: Wap [µm] 5 r= Wts vs Wtp 2 Wvs vs Wvp r =.76 Was, Wap [µm] Wtp, Wvp [µm] Was [µm] r = MMIL r= Wts, Wvs [µm] r= SRI [mm] Garbacz A., Courard L., Kostana K., Mat.Char

27 Podsumowanie: Metody analizy obrazu są przydatnym narzędziem inŝynierii materiałów budowlanych w badaniach relacji: skład - mikrostruktura - właściwości zastosowanie Nowe wyzwania: nanotechnologia w zastosowaniach budowlanych Ŝel C-S-H; Ca/Si=1 nanorurki w matrycy cementowej supermocne kleje D.Van Gemert, 23 (wykład w ramach przedmiotu InŜynieria Materiałów Budowlanych) W.Zhu, 25 (Seminarium EMR Fall Meeting Adhesion in building bonds: macro, micro- and nanoscale, Warszawa,25) 27

PODSTAWY METALOGRAFII ILOŚCIOWEJ I KOMPUTEROWEJ ANALIZY OBRAZU

PODSTAWY METALOGRAFII ILOŚCIOWEJ I KOMPUTEROWEJ ANALIZY OBRAZU 1 PODSTAWY METALOGRAFII ILOŚCIOWEJ I KOMPUTEROWEJ ANALIZY OBRAZU 2 Metalografia - nauka o wewnętrznej budowie materiałów metalicznych (metale i ich stopy), oparta głównie na badaniach mikroskopowych. 3

Bardziej szczegółowo

Reprezentacja i analiza obszarów

Reprezentacja i analiza obszarów Cechy kształtu Topologiczne Geometryczne spójność liczba otworów liczba Eulera szkielet obwód pole powierzchni środek cięŝkości ułoŝenie przestrzenne momenty wyŝszych rzędów promienie max-min centryczność

Bardziej szczegółowo

Operacje morfologiczne w przetwarzaniu obrazu

Operacje morfologiczne w przetwarzaniu obrazu Przekształcenia morfologiczne obrazu wywodzą się z morfologii matematycznej działu matematyki opartego na teorii zbiorów Wykorzystuje się do filtracji morfologicznej, wyszukiwania informacji i analizy

Bardziej szczegółowo

LABORATORIUM ANALITYCZNEJ MIKROSKOPII ELEKTRONOWEJ (L - 2)

LABORATORIUM ANALITYCZNEJ MIKROSKOPII ELEKTRONOWEJ (L - 2) LABORATORIUM ANALITYCZNEJ MIKROSKOPII ELEKTRONOWEJ (L - 2) Posiadane uprawnienia: ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO NR AB 120 wydany przez Polskie Centrum Akredytacji Wydanie nr 5 z 18 lipca 2007

Bardziej szczegółowo

Przetwarzanie obrazów wykład 2

Przetwarzanie obrazów wykład 2 Przetwarzanie obrazów wykład 2 Adam Wojciechowski Wykład opracowany na podstawie Komputerowa analiza i przetwarzanie obrazów R. Tadeusiewicz, P. Korohoda Etapy obróbki pozyskanego obrazu Obróbka wstępna

Bardziej szczegółowo

MIKROSKOPIA ELEKTRONOWA. Publikacja współfinansowana ze środków Unii Europejskiej w ramach Europejskiego Funduszu Społecznego

MIKROSKOPIA ELEKTRONOWA. Publikacja współfinansowana ze środków Unii Europejskiej w ramach Europejskiego Funduszu Społecznego MIKROSKOPIA ELEKTRONOWA Publikacja współfinansowana ze środków Unii Europejskiej w ramach Europejskiego Funduszu Społecznego Tło historyczne Pod koniec XIX wieku stosowanie mikroskopów świetlnych w naukach

Bardziej szczegółowo

Zygmunt Wróbel i Robert Koprowski. Praktyka przetwarzania obrazów w programie Matlab

Zygmunt Wróbel i Robert Koprowski. Praktyka przetwarzania obrazów w programie Matlab Zygmunt Wróbel i Robert Koprowski Praktyka przetwarzania obrazów w programie Matlab EXIT 2004 Wstęp 7 CZĘŚĆ I 9 OBRAZ ORAZ JEGO DYSKRETNA STRUKTURA 9 1. Obraz w programie Matlab 11 1.1. Reprezentacja obrazu

Bardziej szczegółowo

Wyższa Szkoła Inżynierii Dentystycznej im. Prof. Meissnera w Ustroniu

Wyższa Szkoła Inżynierii Dentystycznej im. Prof. Meissnera w Ustroniu Wyższa Szkoła Inżynierii Dentystycznej im. Prof. Meissnera w Ustroniu Katedra Nauk o Materiałach Wprowadzenie do Nauki o Materiałach Przygotowanie próbek do badań metalograficznych na mikroskopie świetlnym.

Bardziej szczegółowo

Technologia elementów optycznych

Technologia elementów optycznych Technologia elementów optycznych dr inż. Michał Józwik pokój 507a jozwik@mchtr.pw.edu.pl Część 1 Treść wykładu Specyfika wymagań i technologii elementów optycznych. Ogólna struktura procesów technologicznych.

Bardziej szczegółowo

Wymagane parametry dla platformy do mikroskopii korelacyjnej

Wymagane parametry dla platformy do mikroskopii korelacyjnej Strona1 ROZDZIAŁ IV OPIS PRZEDMIOTU ZAMÓWIENIA Wymagane parametry dla platformy do mikroskopii korelacyjnej Mikroskopia korelacyjna łączy dane z mikroskopii świetlnej i elektronowej w celu określenia powiązań

Bardziej szczegółowo

Promotor: prof. nadzw. dr hab. Jerzy Ratajski. Jarosław Rochowicz. Wydział Mechaniczny Politechnika Koszalińska

Promotor: prof. nadzw. dr hab. Jerzy Ratajski. Jarosław Rochowicz. Wydział Mechaniczny Politechnika Koszalińska Promotor: prof. nadzw. dr hab. Jerzy Ratajski Jarosław Rochowicz Wydział Mechaniczny Politechnika Koszalińska Praca magisterska Wpływ napięcia podłoża na właściwości mechaniczne powłok CrCN nanoszonych

Bardziej szczegółowo

BADANIA STRUKTURY MATERIAŁÓW. Publikacja współfinansowana ze środków Unii Europejskiej w ramach Europejskiego Funduszu Społecznego

BADANIA STRUKTURY MATERIAŁÓW. Publikacja współfinansowana ze środków Unii Europejskiej w ramach Europejskiego Funduszu Społecznego BADANIA STRUKTURY MATERIAŁÓW Publikacja współfinansowana ze środków Unii Europejskiej w ramach Europejskiego Funduszu Społecznego 1. MAKROSTRUKTURA 2. MIKROSTRUKTURA 3. STRUKTURA KRYSTALICZNA Makrostruktura

Bardziej szczegółowo

Zamiana reprezentacji wektorowej na rastrową - rasteryzacja

Zamiana reprezentacji wektorowej na rastrową - rasteryzacja MODEL RASTROWY Siatka kwadratów lub prostokątów stanowi elementy rastra. Piksel - pojedynczy element jest najmniejszą rozróŝnialną jednostką powierzchniową, której własności są opisane atrybutami. Model

Bardziej szczegółowo

Niezwykłe światło. ultrakrótkie impulsy laserowe. Piotr Fita

Niezwykłe światło. ultrakrótkie impulsy laserowe. Piotr Fita Niezwykłe światło ultrakrótkie impulsy laserowe Laboratorium Procesów Ultraszybkich Zakład Optyki Wydział Fizyki Uniwersytetu Warszawskiego Światło Fala elektromagnetyczna Dla światła widzialnego długość

Bardziej szczegółowo

Interferencja jest to zjawisko nakładania się fal prowadzące do zwiększania lub zmniejszania amplitudy fali wypadkowej. Interferencja zachodzi dla

Interferencja jest to zjawisko nakładania się fal prowadzące do zwiększania lub zmniejszania amplitudy fali wypadkowej. Interferencja zachodzi dla Interferencja jest to zjawisko nakładania się fal prowadzące do zwiększania lub zmniejszania amplitudy fali wypadkowej. Interferencja zachodzi dla wszystkich rodzajów fal, we wszystkich ośrodkach, w których

Bardziej szczegółowo

LASERY I ICH ZASTOSOWANIE

LASERY I ICH ZASTOSOWANIE LASERY I ICH ZASTOSOWANIE Laboratorium Instrukcja do ćwiczenia nr 13 Temat: Biostymulacja laserowa Istotą biostymulacji laserowej jest napromieniowanie punktów akupunkturowych ciągłym, monochromatycznym

Bardziej szczegółowo

h λ= mv h - stała Plancka (4.14x10-15 ev s)

h λ= mv h - stała Plancka (4.14x10-15 ev s) Twórcy podstaw optyki elektronowej: De Broglie LV. 1924 hipoteza: każde ciało poruszające się ma przyporządkowaną falę a jej długość jest ilorazem stałej Plancka i pędu. Elektrony powinny więc mieć naturę

Bardziej szczegółowo

7. Wyznaczanie poziomu ekspozycji

7. Wyznaczanie poziomu ekspozycji 7. Wyznaczanie poziomu ekspozycji Wyznaczanie poziomu ekspozycji w przypadku promieniowania nielaserowego jest bardziej złożone niż w przypadku promieniowania laserowego. Wynika to z faktu, że pracownik

Bardziej szczegółowo

Technika świetlna. Przegląd rozwiązań i wymagań dla tablic rejestracyjnych. Dokumentacja zdjęciowa

Technika świetlna. Przegląd rozwiązań i wymagań dla tablic rejestracyjnych. Dokumentacja zdjęciowa Technika świetlna Przegląd rozwiązań i wymagań dla tablic rejestracyjnych. Dokumentacja zdjęciowa Wykonał: Borek Łukasz Tablica rejestracyjna tablica zawierająca unikatowy numer (kombinację liter i cyfr),

Bardziej szczegółowo

Inkluzje Protodikraneurini trib. nov.. (Hemiptera: Cicadellidae) w bursztynie bałtyckim i ich badania w technice SEM

Inkluzje Protodikraneurini trib. nov.. (Hemiptera: Cicadellidae) w bursztynie bałtyckim i ich badania w technice SEM Muzeum i Instytut Zoologii Polska Akademia Nauk Akademia im. Jana DługoszaD ugosza Inkluzje Protodikraneurini trib. nov.. (Hemiptera: Cicadellidae) w bursztynie bałtyckim i ich badania w technice SEM Magdalena

Bardziej szczegółowo

Piotr Targowski i Bernard Ziętek WYZNACZANIE MACIERZY [ABCD] UKŁADU OPTYCZNEGO

Piotr Targowski i Bernard Ziętek WYZNACZANIE MACIERZY [ABCD] UKŁADU OPTYCZNEGO Instytut Fizyki Uniwersytet Mikołaja Kopernika Piotr Targowski i Bernard Ziętek Pracownia Optoelektroniki Specjalność: Fizyka Medyczna WYZNAZANIE MAIERZY [ABD] UKŁADU OPTYZNEGO Zadanie II Zakład Optoelektroniki

Bardziej szczegółowo

Miernictwo i systemy pomiarowe CHROPOWATOŚĆ POWIERZCHNI

Miernictwo i systemy pomiarowe CHROPOWATOŚĆ POWIERZCHNI Miernictwo i systemy pomiarowe CHROPOWATOŚĆ POWIERZCHNI Wstęp Chropowatość ma ogromny wpływ na zjawiska takie jak współczynnik tarcia, zużycie powierzchni trących, odporność termiczną, wytrzymałość zmęczeniową

Bardziej szczegółowo

Instytut Spawalnictwa SPIS TREŚCI

Instytut Spawalnictwa SPIS TREŚCI Tytuł: Makroskopowe i mikroskopowe badania metalograficzne materiałów konstrukcyjnych i ich połączeń spajanych Opracował: pod redakcją dr. hab. inż. Mirosława Łomozika Rok wydania: 2009 Wydawca: Instytut

Bardziej szczegółowo

Oświetlenie obiektów 3D

Oświetlenie obiektów 3D Synteza i obróbka obrazu Oświetlenie obiektów 3D Opracowanie: dr inż. Grzegorz Szwoch Politechnika Gdańska Katedra Systemów Multimedialnych Rasteryzacja Spłaszczony po rzutowaniu obraz siatek wielokątowych

Bardziej szczegółowo

WyŜsza Szkoła InŜynierii Dentystycznej im. prof. Meissnera

WyŜsza Szkoła InŜynierii Dentystycznej im. prof. Meissnera WyŜsza Szkoła InŜynierii Dentystycznej im. prof. Meissnera ANALIZA POŁĄCZENIA WARSTW CERAMICZNYCH Z PODBUDOWĄ METALOWĄ Promotor: Prof. zw. dr hab. n. tech. MACIEJ HAJDUGA Tadeusz Zdziech CEL PRACY Celem

Bardziej szczegółowo

6. Badania mikroskopowe proszków i spieków

6. Badania mikroskopowe proszków i spieków 6. Badania mikroskopowe proszków i spieków Najprostszy układ optyczny stanowią dwie współosiowe soczewki umieszczone na końcach tubusu (rysunek 42). Odwzorowanie mikroskopowe jest dwustopniowe: obiektyw

Bardziej szczegółowo

Dorota Kunkel. WyŜsza Szkoła InŜynierii Dentystycznej

Dorota Kunkel. WyŜsza Szkoła InŜynierii Dentystycznej Dorota Kunkel Implant wszystkie przyrządy medyczne wykonywane z jednego lub więcej biomateriałów, które mogą być umiejscowione wewnątrz organizmu, jak też częściowo lub całkowicie pod powierzchnią nabłonka

Bardziej szczegółowo

4. Wyniki bada uzupełniaj cych własno ci stali szybkotn cych

4. Wyniki bada uzupełniaj cych własno ci stali szybkotn cych 4. Wyniki bada uzupełniaj cych własno ci stali szybkotn cych 4.1. Wyniki bada twardo ci Pomiarów twardo ci stali w skali C Rockwella dokonano na przekroju próbek poddanych uprzednio badaniu współczynnika

Bardziej szczegółowo

POMIARY MIKROGEOMETRII POWIERZCHNI

POMIARY MIKROGEOMETRII POWIERZCHNI POMIARY MIKROGEOMETRII POWIERZCHNI Mikrogeometria (chropowatość i falistość), Makrogeometria (odchyłki kształtu) Podział s h Ilustracja graficzna chropowatości powierzchni szlifowanej s/h

Bardziej szczegółowo

Matematyka do liceów i techników Szczegółowy rozkład materiału Zakres podstawowy

Matematyka do liceów i techników Szczegółowy rozkład materiału Zakres podstawowy Matematyka do liceów i techników Szczegółowy rozkład materiału Zakres podstawowy Wariant nr (klasa I 4 godz., klasa II godz., klasa III godz.) Klasa I 7 tygodni 4 godziny = 48 godzin Lp. Tematyka zajęć

Bardziej szczegółowo

Własności mechaniczne i strukturalne wybranych gipsów w mechanizmie wiązania.

Własności mechaniczne i strukturalne wybranych gipsów w mechanizmie wiązania. WYśSZA SZKOŁA INśYNIERII DENTYSTYCZNEJ im. prof. Meissnera w Ustroniu Własności mechaniczne i strukturalne wybranych gipsów w mechanizmie wiązania. Promotor: Prof. zw. dr hab. n. tech. MACIEJ HAJDUGA Barbara

Bardziej szczegółowo

Badanie zjawisk optycznych przy użyciu zestawu Laser Kit

Badanie zjawisk optycznych przy użyciu zestawu Laser Kit LABORATORIUM OPTOELEKTRONIKI Ćwiczenie 5 Badanie zjawisk optycznych przy użyciu zestawu Laser Kit Cel ćwiczenia: Zapoznanie studentów ze zjawiskami optycznymi. Badane elementy: Zestaw ćwiczeniowy Laser

Bardziej szczegółowo

BADANIA PÓL NAPRĘśEŃ W IMPLANTACH TYTANOWYCH METODAMI EBSD/SEM. Klaudia Radomska

BADANIA PÓL NAPRĘśEŃ W IMPLANTACH TYTANOWYCH METODAMI EBSD/SEM. Klaudia Radomska WyŜsza Szkoła InŜynierii Dentystycznej im. prof. Meissnera w Ustroniu Wydział InŜynierii Dentystycznej BADANIA PÓL NAPRĘśEŃ W IMPLANTACH TYTANOWYCH METODAMI EBSD/SEM Klaudia Radomska Praca dyplomowa napisana

Bardziej szczegółowo

Akademia Morska w Szczecinie Instytut InŜynierii Transportu Zakład Techniki i Transportu

Akademia Morska w Szczecinie Instytut InŜynierii Transportu Zakład Techniki i Transportu Akademia Morska w Szczecinie Instytut InŜynierii Transportu Zakład Techniki i Transportu Instrukcja Wprowadzenie do badań materiałowych Opracował: dr inŝ. Jarosław Chmiel Szczecin - styczeń 2005 Niniejsza

Bardziej szczegółowo

Mikrostruktura wybranych implantów stomatologicznych w mikroskopie świetlnym i skaningowym mikroskopie elektronowym

Mikrostruktura wybranych implantów stomatologicznych w mikroskopie świetlnym i skaningowym mikroskopie elektronowym WYśSZA SZKOŁA INśYNIERII DENTYSTYCZNEJ IM. PROF. MEISSNERA W USTRONIU WYDZIAŁ INśYNIERII DENTYSTYCZNEJ Mikrostruktura wybranych implantów stomatologicznych w mikroskopie świetlnym i skaningowym mikroskopie

Bardziej szczegółowo

Mikroskopy uniwersalne

Mikroskopy uniwersalne Mikroskopy uniwersalne Źródło światła Kolektor Kondensor Stolik mikroskopowy Obiektyw Okular Inne Przesłony Pryzmaty Płytki półprzepuszczalne Zwierciadła Nasadki okularowe Zasada działania mikroskopu z

Bardziej szczegółowo

SPRAWOZDANIE Z BADAŃ

SPRAWOZDANIE Z BADAŃ POLITECHNIKA ŁÓDZKA ul. Żeromskiego 116 90-924 Łódź KATEDRA BUDOWNICTWA BETONOWEGO NIP: 727 002 18 95 REGON: 000001583 LABORATORIUM BADAWCZE MATERIAŁÓW I KONSTRUKCJI BUDOWLANYCH Al. Politechniki 6 90-924

Bardziej szczegółowo

ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 097

ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 097 ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 097 wydany przez POLSKIE CENTRUM AKREDYTACJI 01-382 Warszawa, ul. Szczotkarska 42 Wydanie nr 14 Data wydania: 5 lutego 2016 r. AB 097 Kod identyfikacji

Bardziej szczegółowo

Temat ćwiczenia. Pomiary oświetlenia

Temat ćwiczenia. Pomiary oświetlenia POLITECHNIKA ŚLĄSKA W YDZIAŁ TRANSPORTU Temat ćwiczenia Pomiary oświetlenia Cel ćwiczenia Celem ćwiczenia jest zapoznanie się z metodami pomiaru natęŝenia oświetlenia oraz wyznaczania poŝądanej wartości

Bardziej szczegółowo

Pomiar drogi koherencji wybranych źródeł światła

Pomiar drogi koherencji wybranych źródeł światła Politechnika Gdańska WYDZIAŁ ELEKTRONIKI TELEKOMUNIKACJI I INFORMATYKI Katedra Optoelektroniki i Systemów Elektronicznych Pomiar drogi koherencji wybranych źródeł światła Instrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego

Bardziej szczegółowo

Najprostszą soczewkę stanowi powierzchnia sferyczna stanowiąca granicę dwóch ośr.: powietrza, o wsp. załamania n 1. sin θ 1. sin θ 2.

Najprostszą soczewkę stanowi powierzchnia sferyczna stanowiąca granicę dwóch ośr.: powietrza, o wsp. załamania n 1. sin θ 1. sin θ 2. Ia. OPTYKA GEOMETRYCZNA wprowadzenie Niemal każdy system optoelektroniczny zawiera oprócz źródła światła i detektora - co najmniej jeden element optyczny, najczęściej soczewkę gdy system służy do analizy

Bardziej szczegółowo

Interferencyjny pomiar krzywizny soczewki przy pomocy pierścieni Newtona

Interferencyjny pomiar krzywizny soczewki przy pomocy pierścieni Newtona Interferencyjny pomiar krzywizny soczewki przy pomocy pierścieni Newtona Jakub Orłowski 6 listopada 2012 Streszczenie W doświadczeniu dokonano pomiaru krzywizny soczewki płasko-wypukłej z wykorzystaniem

Bardziej szczegółowo

Wstęp do astrofizyki I

Wstęp do astrofizyki I Wstęp do astrofizyki I Wykład 5 Tomasz Kwiatkowski Uniwersytet im. Adama Mickiewicza w Poznaniu Wydział Fizyki Instytut Obserwatorium Astronomiczne Tomasz Kwiatkowski, shortinst Wstęp do astrofizyki I,

Bardziej szczegółowo

Zbigniew Figiel, Piotr Dzikowicz. Skanowanie 3D przy projektowaniu i realizacji inwestycji w Koksownictwie KOKSOPROJEKT

Zbigniew Figiel, Piotr Dzikowicz. Skanowanie 3D przy projektowaniu i realizacji inwestycji w Koksownictwie KOKSOPROJEKT 1 Zbigniew Figiel, Piotr Dzikowicz Skanowanie 3D przy projektowaniu i realizacji inwestycji w Koksownictwie 2 Plan prezentacji 1. Skanowanie laserowe 3D informacje ogólne; 2. Proces skanowania; 3. Proces

Bardziej szczegółowo

PLANIMETRIA CZYLI GEOMETRIA PŁASZCZYZNY CZ. 1

PLANIMETRIA CZYLI GEOMETRIA PŁASZCZYZNY CZ. 1 PLANIMETRIA CZYLI GEOMETRIA PŁASZCZYZNY CZ. 1 Planimetria to dział geometrii, w którym przedmiotem badań są własności figur geometrycznych leżących na płaszczyźnie (patrz określenie płaszczyzny). Pojęcia

Bardziej szczegółowo

FORMULARZ WYMAGANYCH WARUNKÓW TECHNICZNYCH

FORMULARZ WYMAGANYCH WARUNKÓW TECHNICZNYCH Załącznik Nr 2 WYMAGANIA BEZWZGLĘDNE: FORMULARZ WYMAGANYCH WARUNKÓW TECHNICZNYCH Przedmiotem zamówienia jest dostawa i instalacja fabrycznie nowego skaningowego mikroskopu elektronowego (SEM) ze zintegrowanym

Bardziej szczegółowo

9. OBRAZY i FILTRY BINARNE 9.1 Erozja, dylatacja, zamykanie, otwieranie

9. OBRAZY i FILTRY BINARNE 9.1 Erozja, dylatacja, zamykanie, otwieranie 9. OBRAZY i FILTRY BINARNE 9.1 Erozja, dylatacja, zamykanie, otwieranie Obrazy binarne to takie, które mają tylko dwa poziomy szarości: 0 i 1 lub 0 i 255. ImageJ wykorzystuje to drugie rozwiązanie - obrazy

Bardziej szczegółowo

1. Płyta: Płyta Pł1.1

1. Płyta: Płyta Pł1.1 Plik: Płyta Pł1.1.rtd Projekt: Płyta Pł1.1 1. Płyta: Płyta Pł1.1 1.1. Zbrojenie: Typ : Przedszk Kierunek zbrojenia głównego : 0 Klasa zbrojenia głównego : A-III (34GS); wytrzymałość charakterystyczna =

Bardziej szczegółowo

ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 342

ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 342 ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 342 wydany przez POLSKIE CENTRUM AKREDYTACJI 01-382 Warszawa ul. Szczotkarska 42 Wydanie nr 13, Data wydania: 22 kwietnia 2015 r. Nazwa i adres INSTYTUT

Bardziej szczegółowo

Pomiar długości fali świetlnej i stałej siatki dyfrakcyjnej.

Pomiar długości fali świetlnej i stałej siatki dyfrakcyjnej. POLITECHNIKA ŚLĄSKA WYDZIAŁ CHEMICZNY KATEDRA FIZYKOCHEMII I TECHNOLOGII POLIMERÓW LABORATORIUM Z FIZYKI Pomiar długości fali świetlnej i stałej siatki dyfrakcyjnej. Wprowadzenie Przy opisie zjawisk takich

Bardziej szczegółowo

Ćw.6. Badanie własności soczewek elektronowych

Ćw.6. Badanie własności soczewek elektronowych Pracownia Molekularne Ciało Stałe Ćw.6. Badanie własności soczewek elektronowych Brygida Mielewska, Tomasz Neumann Zagadnienia do przygotowania: 1. Budowa mikroskopu elektronowego 2. Wytwarzanie wiązki

Bardziej szczegółowo

Prawa optyki geometrycznej

Prawa optyki geometrycznej Optyka Podstawowe pojęcia Światłem nazywamy fale elektromagnetyczne, o długościach, na które reaguje oko ludzkie, tzn. 380-780 nm. O falowych własnościach światła świadczą takie zjawiska, jak ugięcie (dyfrakcja)

Bardziej szczegółowo

KRUSZYWA WAPIENNE ZASTOSOWANIE W PRODUKCJI BETONU TOWAROWEGO I ELEMENTÓW PREFABRYKOWANYCH

KRUSZYWA WAPIENNE ZASTOSOWANIE W PRODUKCJI BETONU TOWAROWEGO I ELEMENTÓW PREFABRYKOWANYCH KRUSZYWA WAPIENNE ZASTOSOWANIE W PRODUKCJI BETONU TOWAROWEGO I ELEMENTÓW PREFABRYKOWANYCH Marek Krajewski Instytut Badawczy Materiałów Budowlanych Sp. z o.o. 13 KRUSZYWA WAPIENNE I ICH JAKOŚĆ Kruszywo

Bardziej szczegółowo

Metody badań kamienia naturalnego: Oznaczanie wytrzymałości na zginanie pod działaniem siły skupionej

Metody badań kamienia naturalnego: Oznaczanie wytrzymałości na zginanie pod działaniem siły skupionej Metody badań kamienia naturalnego: Oznaczanie wytrzymałości na zginanie pod działaniem siły skupionej 1. Zasady metody Zasada metody polega na stopniowym obciążaniu środka próbki do badania, ustawionej

Bardziej szczegółowo

Załącznik nr 8. do sprawozdania merytorycznego z realizacji projektu badawczego

Załącznik nr 8. do sprawozdania merytorycznego z realizacji projektu badawczego Załącznik nr 8 do sprawozdania merytorycznego z realizacji projektu badawczego Szybka nieliniowość fotorefrakcyjna w światłowodach półprzewodnikowych do zastosowań w elementach optoelektroniki zintegrowanej

Bardziej szczegółowo

Zasady oświetlania przejść dla pieszych

Zasady oświetlania przejść dla pieszych Zasady oświetlania przejść dla pieszych dr hab. inż. Piotr Tomczuk Politechnika Warszawska Wydział Transportu 1 Plan wystąpienia 1. Wstęp. 2. Wymagania oświetleniowe. 3. Propozycja zaleceń dotyczących

Bardziej szczegółowo

OCENA PRACY WZROKOWEJ NA STANOWISKACH KOMPUTEROWYCH W RÓśNYCH WARUNKACH OŚWIETLENIOWYCH

OCENA PRACY WZROKOWEJ NA STANOWISKACH KOMPUTEROWYCH W RÓśNYCH WARUNKACH OŚWIETLENIOWYCH STUDIA NIESTACJONARNE II STOPNIA wersja z dnia 3.12.2009 KIERUNEK ELEKTROTECHNIKA SEM 3. Laboratorium PODSTAW TECHNIKI ŚWIETLNEJ TEMAT: OCENA PRACY WZROKOWEJ NA STANOWISKACH KOMPUTEROWYCH W RÓśNYCH WARUNKACH

Bardziej szczegółowo

SZCZEGÓŁOWY OPIS PRZEDMIOTU ZAMÓWIENIA

SZCZEGÓŁOWY OPIS PRZEDMIOTU ZAMÓWIENIA ZP/UR/153/2013 Załącznik nr 2 do SIWZ SZCZEGÓŁOWY OPIS PRZEDMIOTU ZAMÓWIENIA Zadanie 1 pn: Dostawa mikroskopu metalograficznego Opis przedmiotu zamówienia: Dostarczenie, instalacja, nieodpłatne szkolenie

Bardziej szczegółowo

ZAGADNIENIA na egzamin klasyfikacyjny z fizyki klasa III (IIIA) rok szkolny 2013/2014 semestr II

ZAGADNIENIA na egzamin klasyfikacyjny z fizyki klasa III (IIIA) rok szkolny 2013/2014 semestr II ZAGADNIENIA na egzamin klasyfikacyjny z fizyki klasa III (IIIA) rok szkolny 2013/2014 semestr II Piotr Ludwikowski XI. POLE MAGNETYCZNE Lp. Temat lekcji Wymagania konieczne i podstawowe. Uczeń: 43 Oddziaływanie

Bardziej szczegółowo

Szczegółowy rozkład materiału z fizyki dla klasy III gimnazjum zgodny z nową podstawą programową.

Szczegółowy rozkład materiału z fizyki dla klasy III gimnazjum zgodny z nową podstawą programową. Szczegółowy rozkład materiału z fizyki dla klasy III gimnazjum zgodny z nową podstawą programową. Lekcja organizacyjna. Omówienie programu nauczania i przypomnienie wymagań przedmiotowych Tytuł rozdziału

Bardziej szczegółowo

ZASTOSOWANIE METODY SKALOWANIA W ULTRADŹWIĘKOWEJ OCENIE WŁAŚCIWOŚCI BETONU ŻYWICZNEGO

ZASTOSOWANIE METODY SKALOWANIA W ULTRADŹWIĘKOWEJ OCENIE WŁAŚCIWOŚCI BETONU ŻYWICZNEGO ZASTOSOWANIE METODY SKALOWANIA W ULTRADŹWIĘKOWEJ OCENIE WŁAŚCIWOŚCI BETONU ŻYWICZNEGO Andrzej GARBACZ Politechnika Warszawska Wydział Inżynierii Lądowej 1. WPROWADZENIE Betony żywiczne PC ( z ang. Polymer

Bardziej szczegółowo

Wyznaczanie ogniskowej soczewki za pomocą ławy optycznej

Wyznaczanie ogniskowej soczewki za pomocą ławy optycznej POLITECHNIKA ŚLĄSKA WYDZIAŁ CHEMICZNY KATEDRA FIZYKOCHEMII I TECHNOLOGII POLIMERÓW LABORATORIUM Z FIZYKI Wyznaczanie ogniskowej soczewki za pomocą ławy optycznej Wstęp Jednym z najprostszych urządzeń optycznych

Bardziej szczegółowo

DOPPLEROWSKA ANEMOMETRIA LASEROWA (L D A)

DOPPLEROWSKA ANEMOMETRIA LASEROWA (L D A) DOPPLEROWSKA ANEMOMETRIA LASEROWA (L D A) Dopplerowska anemometria laserowa (LDA) jest techniką pomiarową umożliwiająca pomiar chwilowej prędkości przepływu poprzez pomiar przesunięcia częstotliwości światła

Bardziej szczegółowo

FOTOGRAMETRIA I TELEDETEKCJA

FOTOGRAMETRIA I TELEDETEKCJA FOTOGRAMETRIA I TELEDETEKCJA 2014-2015 program podstawowy dr inż. Paweł Strzeliński Katedra Urządzania Lasu Wydział Leśny UP w Poznaniu Format Liczba kolorów Rozdzielczość Wielkość pliku *.tiff CMYK 300

Bardziej szczegółowo

Współczesne metody badań instrumentalnych

Współczesne metody badań instrumentalnych Współczesne metody badań instrumentalnych Wykład III Techniki fotograficzne Fotografia w świetle widzialnym Techniki fotograficzne Techniki fotograficzne techniki rejestracji obrazów powstałych wskutek

Bardziej szczegółowo

KLUCZ PUNKTOWANIA ODPOWIEDZI

KLUCZ PUNKTOWANIA ODPOWIEDZI Egzamin maturalny maj 009 FIZYKA I ASTRONOMIA POZIOM ROZSZERZONY KLUCZ PUNKTOWANIA ODPOWIEDZI Zadanie 1.1 Narysowanie toru ruchu ciała w rzucie ukośnym. Narysowanie wektora siły działającej na ciało w

Bardziej szczegółowo

Analiza wariancji. dr Janusz Górczyński

Analiza wariancji. dr Janusz Górczyński Analiza wariancji dr Janusz Górczyński Wprowadzenie Powiedzmy, że badamy pewną populację π, w której cecha Y ma rozkład N o średniej m i odchyleniu standardowym σ. Powiedzmy dalej, że istnieje pewien czynnik

Bardziej szczegółowo

ĆWICZENIE Nr 8. Laboratorium InŜynierii Materiałowej. Opracowali: dr inŝ. Krzysztof Pałka dr Hanna Stupnicka

ĆWICZENIE Nr 8. Laboratorium InŜynierii Materiałowej. Opracowali: dr inŝ. Krzysztof Pałka dr Hanna Stupnicka Akceptował: Kierownik Katedry prof. dr hab. inŝ. A. Weroński POLITECHNIKA LUBELSKA WYDZIAŁ MECHANICZNY KATEDRA INśYNIERII MATERIAŁOWEJ Laboratorium InŜynierii Materiałowej ĆWICZENIE Nr 8 Opracowali: dr

Bardziej szczegółowo

LABORATORIUM FIZYKI PAŃSTWOWEJ WYŻSZEJ SZKOŁY ZAWODOWEJ W NYSIE

LABORATORIUM FIZYKI PAŃSTWOWEJ WYŻSZEJ SZKOŁY ZAWODOWEJ W NYSIE LABORATORIUM FIZYKI PAŃSTWOWEJ WYŻSZEJ SZKOŁY ZAWODOWEJ W NYSIE Ćwiczenie nr 6 Temat: Wyznaczenie stałej siatki dyfrakcyjnej i dyfrakcja światła na otworach kwadratowych i okrągłych. 1. Wprowadzenie Fale

Bardziej szczegółowo

Analiza obrazu. wykład 3. Marek Jan Kasprowicz Uniwersytet Rolniczy 2009

Analiza obrazu. wykład 3. Marek Jan Kasprowicz Uniwersytet Rolniczy 2009 Analiza obrazu komputerowego wykład 3 Marek Jan Kasprowicz Uniwersytet Rolniczy 2009 Binaryzacja Binaryzacja jest jedną z ważniejszych ż czynności punktowego przetwarzania obrazów. Poprzedza prawie zawsze

Bardziej szczegółowo

ScrappiX. Urządzenie do wizyjnej kontroli wymiarów oraz kontroli defektów powierzchni

ScrappiX. Urządzenie do wizyjnej kontroli wymiarów oraz kontroli defektów powierzchni ScrappiX Urządzenie do wizyjnej kontroli wymiarów oraz kontroli defektów powierzchni Scrappix jest innowacyjnym urządzeniem do kontroli wizyjnej, kontroli wymiarów oraz powierzchni przedmiotów okrągłych

Bardziej szczegółowo

KLASYFIKACJI I BUDOWY STATKÓW MORSKICH

KLASYFIKACJI I BUDOWY STATKÓW MORSKICH PRZEPISY KLASYFIKACJI I BUDOWY STATKÓW MORSKICH ZMIANY NR 5/2012 do CZĘŚCI IX MATERIAŁY I SPAWANIE 2008 GDAŃSK Zmiany Nr 5/2012 do Części IX Materiały i spawanie 2008, Przepisów klasyfikacji i budowy statków

Bardziej szczegółowo

Metoda osłabionego całkowitego wewnętrznego odbicia ATR (Attenuated Total Reflection)

Metoda osłabionego całkowitego wewnętrznego odbicia ATR (Attenuated Total Reflection) Metoda osłabionego całkowitego wewnętrznego odbicia ATR (Attenuated Total Reflection) Całkowite wewnętrzne odbicie n 2 θ θ n 1 n > n 1 2 Kiedy promień pada na granicę ośrodków pod kątem większym od kąta

Bardziej szczegółowo

Ćwiczenie: "Zagadnienia optyki"

Ćwiczenie: Zagadnienia optyki Ćwiczenie: "Zagadnienia optyki" Opracowane w ramach projektu: "Wirtualne Laboratoria Fizyczne nowoczesną metodą nauczania realizowanego przez Warszawską Wyższą Szkołę Informatyki. Zakres ćwiczenia: 1.

Bardziej szczegółowo

ĆWICZENIE NR 4. Zakład Budownictwa Ogólnego. Kruszywa budowlane - oznaczenie gęstości nasypowej - oznaczenie składu ziarnowego

ĆWICZENIE NR 4. Zakład Budownictwa Ogólnego. Kruszywa budowlane - oznaczenie gęstości nasypowej - oznaczenie składu ziarnowego Zakład Budownictwa Ogólnego ĆWICZENIE NR 4 Kruszywa budowlane - oznaczenie gęstości nasypowej - oznaczenie składu ziarnowego Instrukcja z laboratorium: Budownictwo ogólne i materiałoznawstwo Instrukcja

Bardziej szczegółowo

INSTRUKCJA DO ĆWICZEŃ LABORATORYJNYCH

INSTRUKCJA DO ĆWICZEŃ LABORATORYJNYCH INSTYTUT MASZYN I URZĄDZEŃ ENERGETYCZNYCH Politechnika Śląska w Gliwicach INSTRUKCJA DO ĆWICZEŃ LABORATORYJNYCH POMIARY TWARDOŚCI Instrukcja przeznaczona jest dla studentów następujących kierunków: 1.

Bardziej szczegółowo

Badanie przy użyciu stolika optycznego lub ławy optycznej praw odbicia i załamania światła. Wyznaczanie ogniskowej soczewki metodą Bessela.

Badanie przy użyciu stolika optycznego lub ławy optycznej praw odbicia i załamania światła. Wyznaczanie ogniskowej soczewki metodą Bessela. Badanie przy użyciu stolika optycznego lub ławy optycznej praw odbicia i załamania światła. Wyznaczanie ogniskowej soczewki metodą Bessela. I LO im. Stefana Żeromskiego w Lęborku 20 luty 2012 Stolik optyczny

Bardziej szczegółowo

Problematyka budowy skanera 3D doświadczenia własne

Problematyka budowy skanera 3D doświadczenia własne Problematyka budowy skanera 3D doświadczenia własne dr inż. Ireneusz Wróbel ATH Bielsko-Biała, Evatronix S.A. iwrobel@ath.bielsko.pl mgr inż. Paweł Harężlak mgr inż. Michał Bogusz Evatronix S.A. Plan wykładu

Bardziej szczegółowo

Struktura warstwy wierzchniej układ elementów powierzchni rzeczywistej przedmiotu i elementów budowy wewnętrznej warstwy wierzchniej przedmiotu.

Struktura warstwy wierzchniej układ elementów powierzchni rzeczywistej przedmiotu i elementów budowy wewnętrznej warstwy wierzchniej przedmiotu. ROZDZIAŁ V Warstwa wierzchnia. Chropowatość i falistość powierzchni 1. Określenia podstawowe KaŜdy rodzaj obróbki skrawaniem pozostawia charakterystyczne ślady na powierzchni obrabianej. Ślady te, związane

Bardziej szczegółowo

Spis treści. Wykaz ważniejszych symboli i akronimów... 11

Spis treści. Wykaz ważniejszych symboli i akronimów... 11 Spis treści Wykaz ważniejszych symboli i akronimów... 11 WPROWADZENIE... 15 1. PROBLEMY WYSTĘPUJĄCE W PROCESACH SZLIFOWANIA OTWORÓW ŚCIERNICAMI Z MIKROKRYSTALICZNYM KORUNDEM SPIEKANYM I SPOIWEM CERAMICZNYM...

Bardziej szczegółowo

BADANIA MIKROSKOPOWE

BADANIA MIKROSKOPOWE BADANIA MIKROSKOPOWE Cel ćwiczenia. Zapoznanie się z budową i obsługą mikroskopów metalograficznych Zapoznanie się z podstawowymi technikami mikroskopii metalograficznej świetlnej Zapoznanie się z wyposażeniem

Bardziej szczegółowo

Fotobeton jako alternatywa dla standardowych elewacji budynków

Fotobeton jako alternatywa dla standardowych elewacji budynków Akademia Górniczo-Hutnicza im. Stanisława Staszica w Krakowie Wydział Górnictwa i Geoinżynierii Technologia robót budowlanych Fotobeton jako alternatywa dla standardowych elewacji budynków Wojciech Basiuk,

Bardziej szczegółowo

Laboratorium badań materiałowych i technologicznych. dr inż. Tomasz Kurzynowski

Laboratorium badań materiałowych i technologicznych. dr inż. Tomasz Kurzynowski Laboratorium badań materiałowych i technologicznych dr inż. Tomasz Kurzynowski Agenda Oferta badawcza Wyposażenie laboratorium Przykłady realizowanych badań Opracowanie i rozwój nowych materiałów Zastosowanie

Bardziej szczegółowo

Kierunek i poziom studiów: Biologia, poziom pierwszy

Kierunek i poziom studiów: Biologia, poziom pierwszy Uniwersytet Śląski w Katowicach str. 1 Kierunek i poziom studiów: Biologia, poziom pierwszy Sylabus modułu: Techniki mikroskopowe modułu: 1BL_49 1. Informacje ogólne koordynator modułu Prof. dr hab. Ewa

Bardziej szczegółowo

Analiza obrazu. wykład 7. Marek Jan Kasprowicz Uniwersytet Rolniczy 2009

Analiza obrazu. wykład 7. Marek Jan Kasprowicz Uniwersytet Rolniczy 2009 Analiza obrazu komputerowego wykład 7 Marek Jan Kasprowicz Uniwersytet Rolniczy 2009 Slajdy przygotowane na podstawie książki Komputerowa analiza obrazu R.Tadeusiewicz, P. Korohoda, Filtry morfologiczne

Bardziej szczegółowo

Zwierciadło kuliste stanowi część gładkiej, wypolerowanej powierzchni kuli. Wyróżniamy zwierciadła kuliste:

Zwierciadło kuliste stanowi część gładkiej, wypolerowanej powierzchni kuli. Wyróżniamy zwierciadła kuliste: Fale świetlne Światło jest falą elektromagnetyczną, czyli rozchodzącymi się w przestrzeni zmiennymi i wzajemnie przenikającymi się polami: elektrycznym i magnetycznym. Szybkość światła w próżni jest największa

Bardziej szczegółowo

ZESPÓŁ SZKÓL OGÓLNOKSZTAŁCĄCYCH i TECHNICZNYCH NR 13 W TORUNIU. Pomocnicze materiały dydaktyczne dla uczniów

ZESPÓŁ SZKÓL OGÓLNOKSZTAŁCĄCYCH i TECHNICZNYCH NR 13 W TORUNIU. Pomocnicze materiały dydaktyczne dla uczniów ZESPÓŁ SZKÓL OGÓLNOKSZTAŁCĄCYCH i TECHNICZNYCH NR 13 W TORUNIU Pomocnicze materiały dydaktyczne dla uczniów Podstawy Konstrukcji Maszyn. Dokładność wytwarzania i kontroli wytworów. Weryfikacja i oznaczanie

Bardziej szczegółowo

Rozkłady dwóch zmiennych losowych

Rozkłady dwóch zmiennych losowych Rozkłady dwóch zmiennych losowych Uogólnienie pojęć na rozkład dwóch zmiennych Dystrybuanta i gęstość prawdopodobieństwa Rozkład brzegowy Prawdopodobieństwo warunkowe Wartości średnie i odchylenia standardowe

Bardziej szczegółowo

POMIAR GRANULACJI SUROWCÓW W MINERALURGII PRZY UśYCIU NOWOCZESNYCH ELEKTRONICZNYCH URZĄDZEŃ POMIAROWYCH

POMIAR GRANULACJI SUROWCÓW W MINERALURGII PRZY UśYCIU NOWOCZESNYCH ELEKTRONICZNYCH URZĄDZEŃ POMIAROWYCH POMIAR GRANULACJI SUROWCÓW W MINERALURGII PRZY UśYCIU NOWOCZESNYCH ELEKTRONICZNYCH URZĄDZEŃ POMIAROWYCH Stanisław Kamiński, Dorota Kamińska KAMIKA Instruments, ul. Strawczyńska 16, 01-473 Warszawa, www.kamika.pl,

Bardziej szczegółowo

Badanie uporządkowania magnetycznego w ultracienkich warstwach kobaltu w pobliżu reorientacji spinowej.

Badanie uporządkowania magnetycznego w ultracienkich warstwach kobaltu w pobliżu reorientacji spinowej. Tel.: +48-85 7457229, Fax: +48-85 7457223 Zakład Fizyki Magnetyków Uniwersytet w Białymstoku Ul.Lipowa 41, 15-424 Białystok E-mail: vstef@uwb.edu.pl http://physics.uwb.edu.pl/zfm Praca magisterska Badanie

Bardziej szczegółowo

Katedra Fizyki Ciała Stałego Uniwersytetu Łódzkiego

Katedra Fizyki Ciała Stałego Uniwersytetu Łódzkiego Katedra Fizyki Ciała Stałego Uniwersytetu Łódzkiego Ćwiczenie 7 Elektronowy mikroskop skaningowy-analogowy w badaniach morfologii powierzchni ciała stałego. Cel ćwiczenia: Celem ćwiczenia jest zapoznanie

Bardziej szczegółowo

Statystyka w pracy badawczej nauczyciela Wykład 4: Analiza współzależności. dr inż. Walery Susłow walery.suslow@ie.tu.koszalin.pl

Statystyka w pracy badawczej nauczyciela Wykład 4: Analiza współzależności. dr inż. Walery Susłow walery.suslow@ie.tu.koszalin.pl Statystyka w pracy badawczej nauczyciela Wykład 4: Analiza współzależności dr inż. Walery Susłow walery.suslow@ie.tu.koszalin.pl Statystyczna teoria korelacji i regresji (1) Jest to dział statystyki zajmujący

Bardziej szczegółowo

LABORATORIUM. Temat 11: Dokładność ustalania przesuwnych zespołów maszyn

LABORATORIUM. Temat 11: Dokładność ustalania przesuwnych zespołów maszyn LABORATORIUM Temat 11: Dokładność ustalania przesuwnych zespołów maszyn 1. Wprowadzenie Szybki wzrost liczby maszyn sterowanych numerycznie oraz robotów przemysłowych zmusił producentów i uŝytkowników

Bardziej szczegółowo

17. Który z rysunków błędnie przedstawia bieg jednobarwnego promienia światła przez pryzmat? A. rysunek A, B. rysunek B, C. rysunek C, D. rysunek D.

17. Który z rysunków błędnie przedstawia bieg jednobarwnego promienia światła przez pryzmat? A. rysunek A, B. rysunek B, C. rysunek C, D. rysunek D. OPTYKA - ĆWICZENIA 1. Promień światła padł na zwierciadło tak, że odbił się od niego tworząc z powierzchnią zwierciadła kąt 30 o. Jaki był kąt padania promienia na zwierciadło? A. 15 o B. 30 o C. 60 o

Bardziej szczegółowo

ZAAWANSOWANE TECHNIKI WYTWARZANIA W MECHATRONICE

ZAAWANSOWANE TECHNIKI WYTWARZANIA W MECHATRONICE : BMiZ Studium: stacj. II stopnia : : MCH Rok akad.: 05/6 Liczba godzin - 5 ZAAWANSOWANE TECHNIKI WYTWARZANIA W MECHATRONICE L a b o r a t o r i u m ( h a l a H 0 Z O S ) Prowadzący: dr inż. Marek Rybicki

Bardziej szczegółowo

OPTYKA W INSTRUMENTACH GEODEZYJNYCH

OPTYKA W INSTRUMENTACH GEODEZYJNYCH OPTYKA W INSTRUMENTACH GEODEZYJNYCH Prawa Euklidesa: 1. Promień padający i odbity znajdują się w jednej płaszczyźnie przechodzącej przez prostopadłą wystawioną do powierzchni zwierciadła w punkcie odbicia.

Bardziej szczegółowo

Przewodnik po soczewkach

Przewodnik po soczewkach Przewodnik po soczewkach 1. Wchodzimy w program Corel Draw 11 następnie klikamy Plik /Nowy => Nowy Rysunek. Następnie wchodzi w Okno/Okno dokowane /Teczka podręczna/ Przeglądaj/i wybieramy plik w którym

Bardziej szczegółowo

POLITECHNIKA OPOLSKA WYDZIAŁ MECHANICZNY Katedra Technologii Maszyn i Automatyzacji Produkcji POMIAR CHROPOWATOŚCI POWIERZCHNI

POLITECHNIKA OPOLSKA WYDZIAŁ MECHANICZNY Katedra Technologii Maszyn i Automatyzacji Produkcji POMIAR CHROPOWATOŚCI POWIERZCHNI POLITECHNIKA OPOLSKA WYDZIAŁ MECHANICZNY Katedra Technologii Maszyn i Automatyzacji Produkcji Ćwiczenie nr 5 TEMAT: POMIAR CHROPOWATOŚCI POWIERZCHNI ZADANIA DO WYKONANIA: 1. stosując metodę wzrokowo-dotykowego

Bardziej szczegółowo

SPRAWDZIAN NR 1 ROBERT KOPERCZAK, ID studenta : k4342

SPRAWDZIAN NR 1 ROBERT KOPERCZAK, ID studenta : k4342 TECHNIKI ANALITYCZNE W BIZNESIE SPRAWDZIAN NR 1 Autor pracy ROBERT KOPERCZAK, ID studenta : k4342 Kraków, 22 Grudnia 2009 2 Spis treści 1 Zadanie 1... 3 1.1 Szereg rozdzielczy wag kobiałek.... 4 1.2 Histogram

Bardziej szczegółowo