METODY OPISU MIKROSTRUKTURY KOMPOZYTÓW BUDOWLANYCH

Wielkość: px
Rozpocząć pokaz od strony:

Download "METODY OPISU MIKROSTRUKTURY KOMPOZYTÓW BUDOWLANYCH"

Transkrypt

1 INśYNIERIA MATERIAŁÓW BUDOWLANYCH Rok akademicki 28/29 dr hab. inŝ. Andrzej Garbacz METODY OPISU MIKROSTRUKTURY KOMPOZYTÓW BUDOWLANYCH Politechnika Warszawska, Wydział InŜynierii Lądowej Analiza relacji mikrostruktura właściwości: analiza jakościowa - zdefiniowania zbioru elementów struktury, które w głównej mierze kształtują właściwości materiału analiza ilościowa - opis cech geometrycznych elementów mikrostruktury. Intensywny rozwój technik komputerowych, pozwalający na graficzną prezentację ogromnej ilości danych, umoŝliwił formalizację opisu elementów mikrostruktury odnośnie do analizowanych zjawisk. 1

2 Metody analizy ilościowej : stereologia ilościowa fraktografia ilościowa, elementy geometrii nieliniowej, np. teoria fraktali. Wzrost zainteresowania metodami opisu struktury materiałów ze względu na rozwój technik mikroskopowych i komputerowej analizy obrazu, pozwalający na zautomatyzowanie Ŝmudnych procedur badawczych, od etapu rejestracji obrazu struktury, poprzez jego przekształcenie do postaci umoŝliwiającej analizę, aŝ do opisu struktury w postaci rozkładu odpowiednich parametrów geometrycznych.. Mikroskopia świetlna Światło: - Odbite - przechodzące rozróŝnienie elementów struktury i określenie ich morfologii, ilości, rozmiarów i rozmieszczenie. Badania przeprowadza się przy powiększeniach z zakresu 5-2x na specjalnie przygotowanych próbkach - zgładach. Przygotowanie zgładu: -zgrubne wyrównywanie powierzchni próbki: szlifierki, intensywnie chłodzone wodą, - szlifowanie na sucho na papierach ściernych o zmniejszającej się gradacji ziarna lub na mokro na wodoodpornych papierach karborundowych ( w przypadku materiałów twardych uŝywa się past diamentowych) -polerowanie w celu usunięcia drobnych rys - obrotowe tarcze polerskie, pokryte filcem, zwilŝone wodną zawiesiną AL2O3 lub Fe2O3 oraz pasty diamentowe o bardzo IMB: dr małym hab. inŝ uziarnieniu. A.Garbacz 2

3 W mikroskopach na światło odbite dla ujawnienia struktury stosuje się szereg technik zróŝnicowanych przede wszystkim sposobem oświetlania próbek oraz biegu promieni od próbki poprzez obiektyw do okularu: obserwacje w jasnym polu: promienie świetlne odbijają się od powierzchni próbki; promienie odbite od elementów struktury prostopadłych do osi optycznej mikroskopu powracają do obiektywu - obiekt widoczny jako jasny, a promienie odbite od powierzchni nachylonych nie powracają do obiektywu obiekt ciemny, obserwacje w świetle ukośnym: obraz jest obserwowany jak w jasnym polu, natomiast ukośne oświetlenie uwidacznia róŝnice w wysokości poszczególnych elementów struktury, obserwacje w ciemnym polu: technika dająca kontrast zupełnie odwrotny do obserwacji w jasnym polu; promienie świetlne po odbiciu się od powierzchni próbki przechodzą przez specjalnie skonstruowane układów optyczne tak, Ŝe miejsca jasne stają się ciemne (elementy struktury prostopadłe do osi optycznej mikroskopu), a miejsca ciemne widoczne są jako jasne (powierzchnie nachylone IMB: dr hab. do inŝosi A.Garbacz optycznej), mikroskopia kontrastowo-fazowa: wykorzystanie, podczas obserwacji w jasnym polu, róŝnic w fazie róŝnych promieni światła odbitego i przetransformowanie ich tak aby oko ludzkie obserwowało róŝnice w intensywności promieni świetlnych, mikroskopia polaryzacyjna: wykorzystanie optycznej anizotropii wykazywanej przez wiele faz, zarówno metalicznych jak i niemetalicznych; przy zastosowaniu polaryzatorów i analizatorów niektóre elementy struktury są rozjaśnione, a inne wygaszone; ponadto wykorzystywany jest tu tzw. pleochroizm, czyli wykazywanie przez poszczególne elementy struktury róŝnej barwy w świetle splaryzowanym, mikroskopia interferencyjna róŝniczkowa G.Nomarskiego: odmiana techniki interferencyjno-polaryzacyjnej, w której obok elementów polaryzacyjnych wykorzystuje się elementy dwójłomne (pryzmat Wollastona); powstający obraz jest wynikiem nakładania się dwóch wiązek świetlnych; technika szczególnie przydatna przy badaniu próbek wykazujących relif wynikający z obecności róŝnych elementów strukturalnych. 3

4 Analiza jakościowa + rejestracja obrazu (1) Mikroskopy optyczne światło przechodzące światło odbite Mikroskop optyczny fluoroscencyjny rozkład rys i porów rozkład polimerów w asfalcie Badania mikrostruktury stwardniałego zaczynu cementowego 4

5 Elektronowa mikroskopia skaningowa SEM, obraz mikrostruktury przy znacznie wyŝszych powiększeniach niŝ w przypadku mikroskopów świetlnych, a takŝe przy większej zdolności rozdzielczej (najmniejszej odległości przy której rozróŝnialne są dwa sąsiednie elementy obrazu): SEM: powiększenia z zakresu 1 3x, przy zdolności rozdzielczej kilku Angstremów. Obserwacje za pomocą SEM moŝna prowadzić zarówno na przełomach, jak i zgładach. Do tworzenia obrazu w SEM wykorzystuje się wszystkie rodzaje elektronów i promieniowania elektromagnetycznego emitowanego z próbki pod wpływem pierwotnej wiązki elektronów Najnowsza generacja SEM: -Mikroskop SEM + mikroanalizator rentgenowski - ESEM nie wymaga przygotowania próbek obserwacja w czasie rzeczywistym ZJAWISKA WYKORZYSTYWANE PRZY REJESTROWANIU OBRAZU MIKROSTRUKTURY: elektrony wtórne (SE), elektrony wstecznie rozproszone - odbite (BSE), elektrony zaabsorbowane, promieniowanie rentgenowskie, elektrony Augera, elektrony przechodzące, efekty związane z dyfrakcją i anomalną absorpcją elektronów, promieniowanie świetlne, nadfioletowe i podczerwone (katodoluminescencja), prądy i napięcia w próbkach pólprzewodników. 5

6 Analiza jakościowa + rejestracja obrazu (2) Mikroskopy skaningowe (SEM) CaCO3+CSH Środowiskowy mikroskop skaningowy (SEM) Skanowanie zawartości Si L.Czarnecki, H.Schorn SE Obraz mikrostruktury betonu Ŝywicznego Skanowanie zawartości Si BSE 6

7 14 Czarnecki / Schorn 18 Czarnecki / Schorn 7

8 4 nm 21 Czarnecki / Schorn Transmisyjne mikroskopy elektronowe TEM 8

9 Analiza i analizatory obrazu: przetwarzanie analizowanego obrazu optycznego na zbiór impulsów, korygowanie przetworzonego obrazu głównie pod względem prawidłowości oświetlenia oraz kształtu analizowanej części obrazu, wydzielenie z obrazu fragmentu, który będzie podlegał dalszej analizie (detekcja obrazu), np. na podstawie poziomu szarości, mierzenie wybranych elementów przetworzonego obrazu wg załoŝonych procedur, opracowanie wyników pomiarów obrazu przy zastosowaniu mikrokomputerów. Celem analizy obrazu NIE jest poprawianie jego jakości Obrazy są zapisywane w róŝny sposób zaleŝnie od potrzeb: obrazy czarno-białe (binarne): najprostsze, zajmujące najmniej pamięci do zapamiętania jednego punktu potrzeba 1bit pamięci, ale równocześnie bardzo waŝne; wiele przekształceń moŝe być wykonywanych tylko na obrazach binarnych, obrazy wieloodcieniowe: zapis analizowanej mikrostruktury w róŝnych stopniach szarości pojedyńczego punktu; do zapamiętania potrzebny jest 1 bajt, czyli 8 bitów, obraz kolorowy: do zapisu wykorzystywany jest standard wykorzystywany w telewizji, tj standard RGB (red-green-blue), który tworzy kolory z trzech podstawowych: czerwonego, zielonego i niebieskiego; obrazy kolorowe zajmują duŝo pamięci, gdyŝ dla zapisania jednego punktu potrzeba aŝ 24 bitów, 9

10 Procedury AO moŝna zgrupować w cztery najwaŝniejsze grupy: przekształcenia geometryczne: przesunięcia, obroty, odbicia; wykorzystuje się je do korekcji błędów optyki (likwidacja beczkowatości obrazu) lub jako operacje pomocnicze, przekształcenia punktowe: operacje logiczne, arytmetyczne, tablice korekcji LUT oraz binaryzacja; słuŝą do modyfikacji poszczególnych punktów niezaleŝnie od tego jakich mają sąsiadów, filtry: przekształcenia którego wynik zaleŝy nie tylko od właściwości modyfikowanego punktu, ale równieŝ od jego otoczenia, przekształcenia morfologiczne: przekształcenie, które podobnie jak filtr uwzględnia otoczenie analizowanego punktu, natomiast w przeciwieństwie do filtrów operacje morfologiczne działają tylko wtedy gdy spełniony jest pewien warunek logiczny, tzw wzorzec struktury Jednymi z najwaŝniejszych operacji punktowych jest binaryzacja i tablice korekcji. Binaryzacja przekształca obrazy wieloodcieniowe lub kolorowe na obrazy czarno-białe (binarne). Obrazy te, i zwykle tylko te, są wykorzystywane do: wykonywania podstawowych pomiarów na obrazach: liczebność elementów, pola powierzchni, długość, itp., analizowania i modyfikowania kształtu obiektów (rozdzielanie i sklejanie cząstek), definiowanie przekształceń obrazów wieloodcieniowych (które traktuje się jako zbiór tylu obrazów binarnych ile jest odcieni szarości). 1

11 . Przykład róŝnych operacji binaryzacji obrazu wieloodcieniowego (a): (b) - binaryzacja z dolnym progiem - wszystko poniŝej staje się czarne, (c) -binaryzacja z górnym progiem - wszystko powyŝej staje się czarne, (d) - binaryzacja z podwójnym ograniczeniem wprowadzenie progu górnego i dolnego tylko punkty miedzy punktami pozostają białe, (e) binaryzacja warunkowa punkt o intensywności > p1 jest zamieniany na biały, punkt < p2 jest zamieniany na czarny, ciągły obszar punktów o intensywności pomiędzy p1 i p2 zostaje zamieniony na punkty białe jeśli sąsiaduje z punktami zamienionymi na białe, w przeciwnym wypadku obszar punktów zostaje zamieniony na punkty czarne Przykład zastosowania tablic korekcji LUT do przekształcania obrazu przełomu. Obraz wyjściowy (a), ten sam obraz po b) normalizacji c) gamma modulacji d) solaryzacji oraz przebiegi odpowiadających im funkcji korekcyjnych 11

12 przekształcenia morfologiczne: erozję: przekształcenie usuwające odizolowane punkty, małe cząstki oraz wąskie wypustki; wygładza brzegi figur i zmniejsza ich powierzchnię, w niektórych przypadkach prowadzi do podziału figury na kilku mniejszych, co jest wykorzystywane do podziału sklejonych cząstek, dylatacja: przekształcenie odwrotne do erozji; dylatacja zamyka małe otwory i wąskie zatoki, powierzchnia przekształcanej figury jest zwiększana, co czasami prowadzi do sklejania cząstek, ścienianie: przekształcenie które moŝe słuŝyć wyznaczaniu ostrej granicy między obiektem a tłem, np. brzegów figury, pogrubianie: przekształcenie odwrotne do ścieniania, wykorzystywane przy przywracaniu powierzchni obiektu po erozji, np. dylatacja bez dotykania, szkieletyzacja: przekształcenie wykorzystywane do określania niektórych parametrów, jak np. określanie orientacji cząstek wydłuŝonych, klasyfikacja cząstek na podstawie ich kształtu, rozdzielanie cząstek posklejanych. Przykłady przekształceń c) d) morfologicznych: (a) i (b) erozja (c) i (d) dylatacji kołem B o promieniu r ; e) (e) przykład szkieletyzacji (gruba linia) wybranych figur geometrycznych 12

13 Stereologia - opis mikrostryktury obiektu 3D na podstawie jego obrazu 2D powierzchnia ziarna, A maksymalny wymiar ziarna, d max d 2 minimalny wymiar ziarna, d min A a min dmin d m ax a max Ekwiwalentna powierzc hnia koła F y wskaźnik orientacji ziarna, α max i α min ekwiwalentna średnica ziarna, d 2 obwód ziarna, p średnica Fereta współczynniki kształtu q 1, i q 2. Zasada Cavalieriego- Hacquerta p F h p(c) objętość względna, V V powierzchnia względna, S V liczność względna, N V E(X) wartość średnią rozkładu parametru X, SD(X) - odchylenie standardowe rozkładu, CV(X) =SD(X)/E(X) współczynnik zmienności rozkładu. Relacja: palność tynków - mikrostruktura Tynk T-1 /2,5 mm T-2 T-3 2,5 mm Faktura powierzchni kornikowa dowolna kamyczkowa Zawartość polimerów [%],5-,7,8-1,2,8-1,2 75 o C piec czas trwania spalania płomieniowego, s względny ubytek masy, % T-1 T-2 T rodzaj tynku T-1 T-2 T-3 rodzaj tynku światło odbite światło przechodzące Analiza statystyczna (analiza wariancji) 13

14 Analiza wariancji 6 udział obj. [%] 4 2 kruszywo kruszywo kruszywo T-1 T-2 T-3 kruszywo pory Udział objętościowy porów [%] r=,74 95% p.ufności ,,9,8,7 95% p.ufności r=,79, Udział objętościowy kruszywa [%] Udział objętościowy kruszywa [%] Wsp. kształtu porów [%] Charakterystyka rys w betonie Powierzchnia posadzki Powierzchnia posadzki Warstwa Surface area 12,2 wierzchnia Internal rdzeńarea 1 Warstwa wierzchnia rdzeń,15 8 Próbka 1,1 6 Próbka 2 Próbka 3, Specimen number Numer próbki M.Glinicki, A.Litorowicz, 25 Szerokość rys [mm] Gęstość rys [mm/mm 2 ] D e n s it y o f c r a c k s [m m /m m 2 ] Skumulowana długość rys [mm] 14

15 Metoda siecznych róŝa orientacji rys długość rys L [mm] - całkowita długość rys istniejących na obrazie; średnia szerokość rys W [mm] - stosunek pola powierzchni wszystkich rys do całkowitej długości rys; pole powierzchni rys A [mm2] - pole powierzchni wszystkich rys na obrazie; gęstość rys LA [mm/mm2] stosunek całkowitej długości rys do pola powierzchni analizowanego obrazu; udział powierzchniowy AA [mm2/mm2] stosunek pola powierzchni wszystkich rys do całkowitego pola powierzchni Fraktografia ilościowa opis przełomów rough profile S m X t X p X m mean line Xa - średnia arytmetyczna odchylenia od średniej profilu Xp maksymalne odchylenie od średniej linii profilu Sm średnia odległość między dwoma sąsiednimi pikami profilu odniesiona do linii średniego profilu 15

16 Szorstkość powierzchni betonu Ocena wizualna CSP1 CSP2 CSP3 Opis ilościowy CSP4 CSP5 CSP6 CSP7 CSP8 CSP9 Skala szorstkości ICRI SEM 1x Szorstkość przyczepność, MPa odporność na ścieranie (WW) przyczepność (P) C2/25 C3/35 C4/5 C5/ wskaźnik chropowatości, mm Współczynnik rozwinięcia linii profilu L' 1 ( x,) D 2 ( x,) L 2 ( x) R L = L/L O L π L' 1 x, ( 2 R l x) L = L' 1 2( x) ( x, π/2) L O R v ( x) D = L' 1 2( x,) ( x, π/2) 16

17 Współczynnik rozwinięcia powierzchni profilu Surfometria S R S = S/S O S o Profilometria Profilometry: - Mechaniczne (igłowe) - Laserowe 17

18 PROFILOMETR MECHANICZNY L.Courard, M. Niels University of Liege (1) Bez obróbki polerowanie ( próbka PW) (próbka University of Liege) (2) szlifowanie (4, 5, 6) śrutowanie (3) piaskowanie (7,8) frezowanie ręczne i mech. 18

19 Bez obróbki Polerowanie (U..Liege) szlifowanie śrutowanie Surfoscan, University of Liege PROFILOMETR OPTYCZNY Fukuzawa, Ibaraki University, 2 19

20 Fukuzawa, Ibaraki University, 2 Profilometr laserowy do badań in-situ: Przekształcenia matematyczne 2

21 Parametry struktury geometrycznej powierzchni (PN-EN ISO 4287): Profil Total ogólny profile m x linia i wartość średnia FILTRATION FILTRACJA Falistość Waviness profilu the profile Chropowatość Roughness profilu the profile Wa lp Ra Wp Wt Rp Rt X p max wysokość X m max głę łębokość X t X a X a X q S k ść piku max wysokość profilu odchylenie standardowe średnie odchylenie kwadratowe współczynnik skośności S m Średni okres Parametry struktury geometrycznej powierzchni (cd.): CR - średnia wysokość wzniesień CF - średnia wysokość profilu z pominięciem wzniesień i wgłębień CL - średnia wysokość wgłębień 21

22 Wymiar fraktalny: profilu L powierzchni a d c b R = S/S S R = L/L L S S L L L' Wymiar fraktalny D jako miara samopodobieństwa a i A 1i D i d i A 2i b i c i C i A i B i r Prostokąt pomiarowy a R = 2Nh/m = s 3/27 = 1,78 log N(a) = D b log a log L(r) = (1 D s )logr N całkowita liczba przecięć z profilem N liczba kwadratów L długość profilu mierzona h wysokość prostokąta pomiarowego a wymiar kwadratu z krokiem o długości r m całkowita liczba przecięć z prostokątem pomiarowym PRZYKŁADY WYKORZYSTANIA FRAKTOGRAFII W INśYNIERII MATERIAŁÓW BUDOWLANYCH 22

23 Efekt skali betonów Ŝywicznych 1x 25x 63x 16x 4x fc [MPa] f c [MPa] fc [MPa] r = RS fb [MPa] fb [MPa] r = r = r = RS RS r =.18 fb [MPa] RS R S 5 r =.19 RS 4 x Współczynnik korelacji, r statystycznie istotna wartość r 1 6 x 1x log (N) Czarnecki L., Garbacz A., Kurach J., Cem.&Conc.Comp. 21 fb fc 1 x 2 5 x 6 3 x RELACJA MIĘDZY WSPÓŁCZYNNIKAMI GEOMETRYCZNEGO OPISU PRZEŁOMÓW: R S = f (R L ) Coster i Chermant: 2 ( R L 1) RS = RL -.75 Π 2 Wright i Karlsson: ( RL 1) RS = Underwood: RS = L ( R 1) 1.27 RL -.27 Π Gokhale i Underwood: R S = 1.16 R L 1.57 RL

24 2,4 2,2 R S = 1, R L -, r =, ró w n.3 rów n.4 ró w n.6 R S 2, 1,8 1,6 1,4 w a rtoś ć R L typow a dla be tonów cem entow ych 1 w a rtoś ć R L dla be tonów c e m e ntow yc h pod obc ią Ŝe nie m 2 3 ró w n.5 1x 25x 63x 16x Parametry przełomu betonu Ŝywicznego przy róŝnych 1,2 powiększen 1, 1, 1,1 1,2 1,3 1,4 1,5 1,6 1,7 1,8 1,9 2, 4x. R L Ocena odporności na pękanie na podstawie parametrów fraktograficznych odporność R S (R L ) na pękanie (np. Underwood, 199) 8 beton cementowy z kruszywem: 4 w/c=,6 K IIc [M P a m,5 ] bazaltowym węglanowym: G.Prokopski, K I Ic [M N /m 1,5 ] 3 w/c=,7 w/c=,8 w/c=,9 2 Z.Rawicki, R L R L 3. beton Ŝywiczny: r =.93 1 w/c p f C R S p [%] fc [MPa] r = R S f C K IIC 24

25 Beton winyloestrowy (test WST) niemodyfikowany R S = f c = 99 MPa f b = 38 MPa K IC = 2,13 MPam,5 modyfikowany dodatek silanu do Ŝywicy R S = f c = 113 MPa f b = 41 MPa K IC = 2,36 MPam,5 modyfikowany (mikrokrzemionka pokryta silanem) R S = f c = 128 MPa f b = 43 MPa K IC = 2,56 MPam,5 L.Czarnecki, B.Chmielewska, F.H. Wittmann, H. Sadouki, J. for Restauration of Buildings and Monuments, 23 Wpływ obróbki na jakość powierzchni betonu: B2 obróbka mechaniczna szlifowanie piaskowanie śrutowanie frezowanie ocena stanu powierzchni 1x mikroskop optyczny 25-5x SEM materiał naprawy warstwa sczepna naprawa podkład betonowy pull-off test 25

26 Ocena wizualna stanu powierzchni betonu: piaskowanie frezowanie SEM 25x 1x 5x Falistość profilu & parametry krzywej Abbotta: Wap [µm] 5 r= Wts vs Wtp 2 Wvs vs Wvp r =.76 Was, Wap [µm] Wtp, Wvp [µm] Was [µm] r = MMIL r= Wts, Wvs [µm] r= SRI [mm] Garbacz A., Courard L., Kostana K., Mat.Char

27 Podsumowanie: Metody analizy obrazu są przydatnym narzędziem inŝynierii materiałów budowlanych w badaniach relacji: skład - mikrostruktura - właściwości zastosowanie Nowe wyzwania: nanotechnologia w zastosowaniach budowlanych Ŝel C-S-H; Ca/Si=1 nanorurki w matrycy cementowej supermocne kleje D.Van Gemert, 23 (wykład w ramach przedmiotu InŜynieria Materiałów Budowlanych) W.Zhu, 25 (Seminarium EMR Fall Meeting Adhesion in building bonds: macro, micro- and nanoscale, Warszawa,25) 27

Operacje morfologiczne w przetwarzaniu obrazu

Operacje morfologiczne w przetwarzaniu obrazu Przekształcenia morfologiczne obrazu wywodzą się z morfologii matematycznej działu matematyki opartego na teorii zbiorów Wykorzystuje się do filtracji morfologicznej, wyszukiwania informacji i analizy

Bardziej szczegółowo

LABORATORIUM ANALITYCZNEJ MIKROSKOPII ELEKTRONOWEJ (L - 2)

LABORATORIUM ANALITYCZNEJ MIKROSKOPII ELEKTRONOWEJ (L - 2) LABORATORIUM ANALITYCZNEJ MIKROSKOPII ELEKTRONOWEJ (L - 2) Posiadane uprawnienia: ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO NR AB 120 wydany przez Polskie Centrum Akredytacji Wydanie nr 5 z 18 lipca 2007

Bardziej szczegółowo

Przetwarzanie obrazów wykład 2

Przetwarzanie obrazów wykład 2 Przetwarzanie obrazów wykład 2 Adam Wojciechowski Wykład opracowany na podstawie Komputerowa analiza i przetwarzanie obrazów R. Tadeusiewicz, P. Korohoda Etapy obróbki pozyskanego obrazu Obróbka wstępna

Bardziej szczegółowo

Wyższa Szkoła Inżynierii Dentystycznej im. Prof. Meissnera w Ustroniu

Wyższa Szkoła Inżynierii Dentystycznej im. Prof. Meissnera w Ustroniu Wyższa Szkoła Inżynierii Dentystycznej im. Prof. Meissnera w Ustroniu Katedra Nauk o Materiałach Wprowadzenie do Nauki o Materiałach Przygotowanie próbek do badań metalograficznych na mikroskopie świetlnym.

Bardziej szczegółowo

Technologia elementów optycznych

Technologia elementów optycznych Technologia elementów optycznych dr inż. Michał Józwik pokój 507a jozwik@mchtr.pw.edu.pl Część 1 Treść wykładu Specyfika wymagań i technologii elementów optycznych. Ogólna struktura procesów technologicznych.

Bardziej szczegółowo

Wymagane parametry dla platformy do mikroskopii korelacyjnej

Wymagane parametry dla platformy do mikroskopii korelacyjnej Strona1 ROZDZIAŁ IV OPIS PRZEDMIOTU ZAMÓWIENIA Wymagane parametry dla platformy do mikroskopii korelacyjnej Mikroskopia korelacyjna łączy dane z mikroskopii świetlnej i elektronowej w celu określenia powiązań

Bardziej szczegółowo

Zamiana reprezentacji wektorowej na rastrową - rasteryzacja

Zamiana reprezentacji wektorowej na rastrową - rasteryzacja MODEL RASTROWY Siatka kwadratów lub prostokątów stanowi elementy rastra. Piksel - pojedynczy element jest najmniejszą rozróŝnialną jednostką powierzchniową, której własności są opisane atrybutami. Model

Bardziej szczegółowo

6. Badania mikroskopowe proszków i spieków

6. Badania mikroskopowe proszków i spieków 6. Badania mikroskopowe proszków i spieków Najprostszy układ optyczny stanowią dwie współosiowe soczewki umieszczone na końcach tubusu (rysunek 42). Odwzorowanie mikroskopowe jest dwustopniowe: obiektyw

Bardziej szczegółowo

LASERY I ICH ZASTOSOWANIE

LASERY I ICH ZASTOSOWANIE LASERY I ICH ZASTOSOWANIE Laboratorium Instrukcja do ćwiczenia nr 13 Temat: Biostymulacja laserowa Istotą biostymulacji laserowej jest napromieniowanie punktów akupunkturowych ciągłym, monochromatycznym

Bardziej szczegółowo

Instytut Spawalnictwa SPIS TREŚCI

Instytut Spawalnictwa SPIS TREŚCI Tytuł: Makroskopowe i mikroskopowe badania metalograficzne materiałów konstrukcyjnych i ich połączeń spajanych Opracował: pod redakcją dr. hab. inż. Mirosława Łomozika Rok wydania: 2009 Wydawca: Instytut

Bardziej szczegółowo

Badanie zjawisk optycznych przy użyciu zestawu Laser Kit

Badanie zjawisk optycznych przy użyciu zestawu Laser Kit LABORATORIUM OPTOELEKTRONIKI Ćwiczenie 5 Badanie zjawisk optycznych przy użyciu zestawu Laser Kit Cel ćwiczenia: Zapoznanie studentów ze zjawiskami optycznymi. Badane elementy: Zestaw ćwiczeniowy Laser

Bardziej szczegółowo

WyŜsza Szkoła InŜynierii Dentystycznej im. prof. Meissnera

WyŜsza Szkoła InŜynierii Dentystycznej im. prof. Meissnera WyŜsza Szkoła InŜynierii Dentystycznej im. prof. Meissnera ANALIZA POŁĄCZENIA WARSTW CERAMICZNYCH Z PODBUDOWĄ METALOWĄ Promotor: Prof. zw. dr hab. n. tech. MACIEJ HAJDUGA Tadeusz Zdziech CEL PRACY Celem

Bardziej szczegółowo

Inkluzje Protodikraneurini trib. nov.. (Hemiptera: Cicadellidae) w bursztynie bałtyckim i ich badania w technice SEM

Inkluzje Protodikraneurini trib. nov.. (Hemiptera: Cicadellidae) w bursztynie bałtyckim i ich badania w technice SEM Muzeum i Instytut Zoologii Polska Akademia Nauk Akademia im. Jana DługoszaD ugosza Inkluzje Protodikraneurini trib. nov.. (Hemiptera: Cicadellidae) w bursztynie bałtyckim i ich badania w technice SEM Magdalena

Bardziej szczegółowo

Dorota Kunkel. WyŜsza Szkoła InŜynierii Dentystycznej

Dorota Kunkel. WyŜsza Szkoła InŜynierii Dentystycznej Dorota Kunkel Implant wszystkie przyrządy medyczne wykonywane z jednego lub więcej biomateriałów, które mogą być umiejscowione wewnątrz organizmu, jak też częściowo lub całkowicie pod powierzchnią nabłonka

Bardziej szczegółowo

4. Wyniki bada uzupełniaj cych własno ci stali szybkotn cych

4. Wyniki bada uzupełniaj cych własno ci stali szybkotn cych 4. Wyniki bada uzupełniaj cych własno ci stali szybkotn cych 4.1. Wyniki bada twardo ci Pomiarów twardo ci stali w skali C Rockwella dokonano na przekroju próbek poddanych uprzednio badaniu współczynnika

Bardziej szczegółowo

Najprostszą soczewkę stanowi powierzchnia sferyczna stanowiąca granicę dwóch ośr.: powietrza, o wsp. załamania n 1. sin θ 1. sin θ 2.

Najprostszą soczewkę stanowi powierzchnia sferyczna stanowiąca granicę dwóch ośr.: powietrza, o wsp. załamania n 1. sin θ 1. sin θ 2. Ia. OPTYKA GEOMETRYCZNA wprowadzenie Niemal każdy system optoelektroniczny zawiera oprócz źródła światła i detektora - co najmniej jeden element optyczny, najczęściej soczewkę gdy system służy do analizy

Bardziej szczegółowo

POMIARY MIKROGEOMETRII POWIERZCHNI

POMIARY MIKROGEOMETRII POWIERZCHNI POMIARY MIKROGEOMETRII POWIERZCHNI Mikrogeometria (chropowatość i falistość), Makrogeometria (odchyłki kształtu) Podział s h Ilustracja graficzna chropowatości powierzchni szlifowanej s/h

Bardziej szczegółowo

Mikrostruktura wybranych implantów stomatologicznych w mikroskopie świetlnym i skaningowym mikroskopie elektronowym

Mikrostruktura wybranych implantów stomatologicznych w mikroskopie świetlnym i skaningowym mikroskopie elektronowym WYśSZA SZKOŁA INśYNIERII DENTYSTYCZNEJ IM. PROF. MEISSNERA W USTRONIU WYDZIAŁ INśYNIERII DENTYSTYCZNEJ Mikrostruktura wybranych implantów stomatologicznych w mikroskopie świetlnym i skaningowym mikroskopie

Bardziej szczegółowo

Mikroskopy uniwersalne

Mikroskopy uniwersalne Mikroskopy uniwersalne Źródło światła Kolektor Kondensor Stolik mikroskopowy Obiektyw Okular Inne Przesłony Pryzmaty Płytki półprzepuszczalne Zwierciadła Nasadki okularowe Zasada działania mikroskopu z

Bardziej szczegółowo

SPRAWOZDANIE Z BADAŃ

SPRAWOZDANIE Z BADAŃ POLITECHNIKA ŁÓDZKA ul. Żeromskiego 116 90-924 Łódź KATEDRA BUDOWNICTWA BETONOWEGO NIP: 727 002 18 95 REGON: 000001583 LABORATORIUM BADAWCZE MATERIAŁÓW I KONSTRUKCJI BUDOWLANYCH Al. Politechniki 6 90-924

Bardziej szczegółowo

Interferencyjny pomiar krzywizny soczewki przy pomocy pierścieni Newtona

Interferencyjny pomiar krzywizny soczewki przy pomocy pierścieni Newtona Interferencyjny pomiar krzywizny soczewki przy pomocy pierścieni Newtona Jakub Orłowski 6 listopada 2012 Streszczenie W doświadczeniu dokonano pomiaru krzywizny soczewki płasko-wypukłej z wykorzystaniem

Bardziej szczegółowo

Prawa optyki geometrycznej

Prawa optyki geometrycznej Optyka Podstawowe pojęcia Światłem nazywamy fale elektromagnetyczne, o długościach, na które reaguje oko ludzkie, tzn. 380-780 nm. O falowych własnościach światła świadczą takie zjawiska, jak ugięcie (dyfrakcja)

Bardziej szczegółowo

KLUCZ PUNKTOWANIA ODPOWIEDZI

KLUCZ PUNKTOWANIA ODPOWIEDZI Egzamin maturalny maj 009 FIZYKA I ASTRONOMIA POZIOM ROZSZERZONY KLUCZ PUNKTOWANIA ODPOWIEDZI Zadanie 1.1 Narysowanie toru ruchu ciała w rzucie ukośnym. Narysowanie wektora siły działającej na ciało w

Bardziej szczegółowo

Ćw.6. Badanie własności soczewek elektronowych

Ćw.6. Badanie własności soczewek elektronowych Pracownia Molekularne Ciało Stałe Ćw.6. Badanie własności soczewek elektronowych Brygida Mielewska, Tomasz Neumann Zagadnienia do przygotowania: 1. Budowa mikroskopu elektronowego 2. Wytwarzanie wiązki

Bardziej szczegółowo

ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 342

ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 342 ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 342 wydany przez POLSKIE CENTRUM AKREDYTACJI 01-382 Warszawa ul. Szczotkarska 42 Wydanie nr 13, Data wydania: 22 kwietnia 2015 r. Nazwa i adres INSTYTUT

Bardziej szczegółowo

ZAGADNIENIA na egzamin klasyfikacyjny z fizyki klasa III (IIIA) rok szkolny 2013/2014 semestr II

ZAGADNIENIA na egzamin klasyfikacyjny z fizyki klasa III (IIIA) rok szkolny 2013/2014 semestr II ZAGADNIENIA na egzamin klasyfikacyjny z fizyki klasa III (IIIA) rok szkolny 2013/2014 semestr II Piotr Ludwikowski XI. POLE MAGNETYCZNE Lp. Temat lekcji Wymagania konieczne i podstawowe. Uczeń: 43 Oddziaływanie

Bardziej szczegółowo

Współczesne metody badań instrumentalnych

Współczesne metody badań instrumentalnych Współczesne metody badań instrumentalnych Wykład III Techniki fotograficzne Fotografia w świetle widzialnym Techniki fotograficzne Techniki fotograficzne techniki rejestracji obrazów powstałych wskutek

Bardziej szczegółowo

Szczegółowy rozkład materiału z fizyki dla klasy III gimnazjum zgodny z nową podstawą programową.

Szczegółowy rozkład materiału z fizyki dla klasy III gimnazjum zgodny z nową podstawą programową. Szczegółowy rozkład materiału z fizyki dla klasy III gimnazjum zgodny z nową podstawą programową. Lekcja organizacyjna. Omówienie programu nauczania i przypomnienie wymagań przedmiotowych Tytuł rozdziału

Bardziej szczegółowo

Metoda osłabionego całkowitego wewnętrznego odbicia ATR (Attenuated Total Reflection)

Metoda osłabionego całkowitego wewnętrznego odbicia ATR (Attenuated Total Reflection) Metoda osłabionego całkowitego wewnętrznego odbicia ATR (Attenuated Total Reflection) Całkowite wewnętrzne odbicie n 2 θ θ n 1 n > n 1 2 Kiedy promień pada na granicę ośrodków pod kątem większym od kąta

Bardziej szczegółowo

Wyznaczanie ogniskowej soczewki za pomocą ławy optycznej

Wyznaczanie ogniskowej soczewki za pomocą ławy optycznej POLITECHNIKA ŚLĄSKA WYDZIAŁ CHEMICZNY KATEDRA FIZYKOCHEMII I TECHNOLOGII POLIMERÓW LABORATORIUM Z FIZYKI Wyznaczanie ogniskowej soczewki za pomocą ławy optycznej Wstęp Jednym z najprostszych urządzeń optycznych

Bardziej szczegółowo

Wstęp do astrofizyki I

Wstęp do astrofizyki I Wstęp do astrofizyki I Wykład 5 Tomasz Kwiatkowski Uniwersytet im. Adama Mickiewicza w Poznaniu Wydział Fizyki Instytut Obserwatorium Astronomiczne Tomasz Kwiatkowski, shortinst Wstęp do astrofizyki I,

Bardziej szczegółowo

1. Płyta: Płyta Pł1.1

1. Płyta: Płyta Pł1.1 Plik: Płyta Pł1.1.rtd Projekt: Płyta Pł1.1 1. Płyta: Płyta Pł1.1 1.1. Zbrojenie: Typ : Przedszk Kierunek zbrojenia głównego : 0 Klasa zbrojenia głównego : A-III (34GS); wytrzymałość charakterystyczna =

Bardziej szczegółowo

ĆWICZENIE Nr 8. Laboratorium InŜynierii Materiałowej. Opracowali: dr inŝ. Krzysztof Pałka dr Hanna Stupnicka

ĆWICZENIE Nr 8. Laboratorium InŜynierii Materiałowej. Opracowali: dr inŝ. Krzysztof Pałka dr Hanna Stupnicka Akceptował: Kierownik Katedry prof. dr hab. inŝ. A. Weroński POLITECHNIKA LUBELSKA WYDZIAŁ MECHANICZNY KATEDRA INśYNIERII MATERIAŁOWEJ Laboratorium InŜynierii Materiałowej ĆWICZENIE Nr 8 Opracowali: dr

Bardziej szczegółowo

POLITECHNIKA OPOLSKA WYDZIAŁ MECHANICZNY Katedra Technologii Maszyn i Automatyzacji Produkcji POMIAR CHROPOWATOŚCI POWIERZCHNI

POLITECHNIKA OPOLSKA WYDZIAŁ MECHANICZNY Katedra Technologii Maszyn i Automatyzacji Produkcji POMIAR CHROPOWATOŚCI POWIERZCHNI POLITECHNIKA OPOLSKA WYDZIAŁ MECHANICZNY Katedra Technologii Maszyn i Automatyzacji Produkcji Ćwiczenie nr 5 TEMAT: POMIAR CHROPOWATOŚCI POWIERZCHNI ZADANIA DO WYKONANIA: 1. stosując metodę wzrokowo-dotykowego

Bardziej szczegółowo

17. Który z rysunków błędnie przedstawia bieg jednobarwnego promienia światła przez pryzmat? A. rysunek A, B. rysunek B, C. rysunek C, D. rysunek D.

17. Który z rysunków błędnie przedstawia bieg jednobarwnego promienia światła przez pryzmat? A. rysunek A, B. rysunek B, C. rysunek C, D. rysunek D. OPTYKA - ĆWICZENIA 1. Promień światła padł na zwierciadło tak, że odbił się od niego tworząc z powierzchnią zwierciadła kąt 30 o. Jaki był kąt padania promienia na zwierciadło? A. 15 o B. 30 o C. 60 o

Bardziej szczegółowo

Zbigniew Figiel, Piotr Dzikowicz. Skanowanie 3D przy projektowaniu i realizacji inwestycji w Koksownictwie KOKSOPROJEKT

Zbigniew Figiel, Piotr Dzikowicz. Skanowanie 3D przy projektowaniu i realizacji inwestycji w Koksownictwie KOKSOPROJEKT 1 Zbigniew Figiel, Piotr Dzikowicz Skanowanie 3D przy projektowaniu i realizacji inwestycji w Koksownictwie 2 Plan prezentacji 1. Skanowanie laserowe 3D informacje ogólne; 2. Proces skanowania; 3. Proces

Bardziej szczegółowo

Ćwiczenie: "Zagadnienia optyki"

Ćwiczenie: Zagadnienia optyki Ćwiczenie: "Zagadnienia optyki" Opracowane w ramach projektu: "Wirtualne Laboratoria Fizyczne nowoczesną metodą nauczania realizowanego przez Warszawską Wyższą Szkołę Informatyki. Zakres ćwiczenia: 1.

Bardziej szczegółowo

Katedra Fizyki Ciała Stałego Uniwersytetu Łódzkiego

Katedra Fizyki Ciała Stałego Uniwersytetu Łódzkiego Katedra Fizyki Ciała Stałego Uniwersytetu Łódzkiego Ćwiczenie 7 Elektronowy mikroskop skaningowy-analogowy w badaniach morfologii powierzchni ciała stałego. Cel ćwiczenia: Celem ćwiczenia jest zapoznanie

Bardziej szczegółowo

LABORATORIUM. Temat 11: Dokładność ustalania przesuwnych zespołów maszyn

LABORATORIUM. Temat 11: Dokładność ustalania przesuwnych zespołów maszyn LABORATORIUM Temat 11: Dokładność ustalania przesuwnych zespołów maszyn 1. Wprowadzenie Szybki wzrost liczby maszyn sterowanych numerycznie oraz robotów przemysłowych zmusił producentów i uŝytkowników

Bardziej szczegółowo

Zwierciadło kuliste stanowi część gładkiej, wypolerowanej powierzchni kuli. Wyróżniamy zwierciadła kuliste:

Zwierciadło kuliste stanowi część gładkiej, wypolerowanej powierzchni kuli. Wyróżniamy zwierciadła kuliste: Fale świetlne Światło jest falą elektromagnetyczną, czyli rozchodzącymi się w przestrzeni zmiennymi i wzajemnie przenikającymi się polami: elektrycznym i magnetycznym. Szybkość światła w próżni jest największa

Bardziej szczegółowo

POMIAR GRANULACJI SUROWCÓW W MINERALURGII PRZY UśYCIU NOWOCZESNYCH ELEKTRONICZNYCH URZĄDZEŃ POMIAROWYCH

POMIAR GRANULACJI SUROWCÓW W MINERALURGII PRZY UśYCIU NOWOCZESNYCH ELEKTRONICZNYCH URZĄDZEŃ POMIAROWYCH POMIAR GRANULACJI SUROWCÓW W MINERALURGII PRZY UśYCIU NOWOCZESNYCH ELEKTRONICZNYCH URZĄDZEŃ POMIAROWYCH Stanisław Kamiński, Dorota Kamińska KAMIKA Instruments, ul. Strawczyńska 16, 01-473 Warszawa, www.kamika.pl,

Bardziej szczegółowo

FOTOGRAMETRIA I TELEDETEKCJA

FOTOGRAMETRIA I TELEDETEKCJA FOTOGRAMETRIA I TELEDETEKCJA 2014-2015 program podstawowy dr inż. Paweł Strzeliński Katedra Urządzania Lasu Wydział Leśny UP w Poznaniu Format Liczba kolorów Rozdzielczość Wielkość pliku *.tiff CMYK 300

Bardziej szczegółowo

Załącznik nr 8. do sprawozdania merytorycznego z realizacji projektu badawczego

Załącznik nr 8. do sprawozdania merytorycznego z realizacji projektu badawczego Załącznik nr 8 do sprawozdania merytorycznego z realizacji projektu badawczego Szybka nieliniowość fotorefrakcyjna w światłowodach półprzewodnikowych do zastosowań w elementach optoelektroniki zintegrowanej

Bardziej szczegółowo

Badanie przy użyciu stolika optycznego lub ławy optycznej praw odbicia i załamania światła. Wyznaczanie ogniskowej soczewki metodą Bessela.

Badanie przy użyciu stolika optycznego lub ławy optycznej praw odbicia i załamania światła. Wyznaczanie ogniskowej soczewki metodą Bessela. Badanie przy użyciu stolika optycznego lub ławy optycznej praw odbicia i załamania światła. Wyznaczanie ogniskowej soczewki metodą Bessela. I LO im. Stefana Żeromskiego w Lęborku 20 luty 2012 Stolik optyczny

Bardziej szczegółowo

Rozkłady dwóch zmiennych losowych

Rozkłady dwóch zmiennych losowych Rozkłady dwóch zmiennych losowych Uogólnienie pojęć na rozkład dwóch zmiennych Dystrybuanta i gęstość prawdopodobieństwa Rozkład brzegowy Prawdopodobieństwo warunkowe Wartości średnie i odchylenia standardowe

Bardziej szczegółowo

LABORATORIUM METROLOGII

LABORATORIUM METROLOGII LABORATORIUM METROLOGII POMIARY TEMPERATURY NAGRZEWANEGO WSADU Cel ćwiczenia: zapoznanie z metodyką pomiarów temperatury nagrzewanego wsadu stalowego 1 POJĘCIE TEMPERATURY Z definicji, która jest oparta

Bardziej szczegółowo

Spis treści. Wykaz ważniejszych symboli i akronimów... 11

Spis treści. Wykaz ważniejszych symboli i akronimów... 11 Spis treści Wykaz ważniejszych symboli i akronimów... 11 WPROWADZENIE... 15 1. PROBLEMY WYSTĘPUJĄCE W PROCESACH SZLIFOWANIA OTWORÓW ŚCIERNICAMI Z MIKROKRYSTALICZNYM KORUNDEM SPIEKANYM I SPOIWEM CERAMICZNYM...

Bardziej szczegółowo

LABORATORIUM Z FIZYKI

LABORATORIUM Z FIZYKI Projekt Plan rozwoj Politechniki Częstochowskiej współinansowany ze środków UNII EUROPEJSKIEJ w ramach EUROPEJSKIEGO FUNDUSZU SPOŁECZNEGO Nmer Projekt: POKL.04.0.0-00-59/08 INSTYTUT FIZYKI WYDZIAŁINśYNIERII

Bardziej szczegółowo

Pomiar natężenia oświetlenia

Pomiar natężenia oświetlenia Pomiary natężenia oświetlenia jako jedyne w technice świetlnej nie wymagają stosowania wzorców. Pomiary natężenia oświetlenia dokonuje się za pomocą miernika zwanego luksomierzem. Powody dla których nie

Bardziej szczegółowo

Grafen materiał XXI wieku!?

Grafen materiał XXI wieku!? Grafen materiał XXI wieku!? Badania grafenu w aspekcie jego zastosowań w sensoryce i metrologii Tadeusz Pustelny Plan prezentacji: 1. Wybrane właściwości fizyczne grafenu 2. Grafen materiał 21-go wieku?

Bardziej szczegółowo

ANALIZA FRAKTALNA STRUKTURY GEOMETRYCZNEJ POWIERZCHNI

ANALIZA FRAKTALNA STRUKTURY GEOMETRYCZNEJ POWIERZCHNI ANALIZA FRAKTALNA STRUKTURY GEOMETRYCZNEJ POWIERZCHNI Józef GAWLIK, Wojciech MAGDZIARCZYK, Leszek WOJNAR Streszczenie: Warstwa wierzchnia ogrywa zasadniczą rolę w procesie eksploatacji maszyn i urządzeń

Bardziej szczegółowo

KARTA INFORMACYJNA PRZEDMIOTU

KARTA INFORMACYJNA PRZEDMIOTU Uniwersytet Rzeszowski WYDZIAŁ KIERUNEK Matematyczno-Przyrodniczy Fizyka techniczna SPECJALNOŚĆ RODZAJ STUDIÓW stacjonarne, studia pierwszego stopnia KARTA INFORMACYJNA PRZEDMIOTU NAZWA PRZEDMIOTU WG PLANU

Bardziej szczegółowo

Wstęp... CZĘŚĆ 1. Podstawy technologii materiałów budowlanych...

Wstęp... CZĘŚĆ 1. Podstawy technologii materiałów budowlanych... Spis treści Wstęp... CZĘŚĆ 1. Podstawy technologii materiałów budowlanych... 1. Spoiwa mineralne... 1.1. Spoiwa gipsowe... 1.2. Spoiwa wapienne... 1.3. Cementy powszechnego użytku... 1.4. Cementy specjalne...

Bardziej szczegółowo

WYMAGANIA EDUKACYJN KRYTERIA OCENY Z MATEMATYKI W KLASIE II GIMNAZJUM

WYMAGANIA EDUKACYJN KRYTERIA OCENY Z MATEMATYKI W KLASIE II GIMNAZJUM Na ocenę dopuszczającą uczeń umie : WYMAGANIA EDUKACYJN KRYTERIA OCENY Z MATEMATYKI W KLASIE II GIMNAZJUM stosować cztery podstawowe działania na liczbach wymiernych, zna kolejność wykonywania działań

Bardziej szczegółowo

Zasady wykonania walidacji metody analitycznej

Zasady wykonania walidacji metody analitycznej Zasady wykonania walidacji metody analitycznej Walidacja metod badań zasady postępowania w LOTOS Lab 1. Metody badań stosowane w LOTOS Lab należą do następujących grup: 1.1. Metody zgodne z uznanymi normami

Bardziej szczegółowo

TREŚCI NAUCZANIA z przedmiotu pracowania ekonomiczno - informatyczna na podstawie programu nr 341[02]/MEN/2008.05.20. klasa 3 TE

TREŚCI NAUCZANIA z przedmiotu pracowania ekonomiczno - informatyczna na podstawie programu nr 341[02]/MEN/2008.05.20. klasa 3 TE TREŚCI NAUCZANIA z przedmiotu pracowania ekonomiczno - informatyczna na podstawie programu nr [0]/MEN/008.05.0 klasa TE LP TREŚCI NAUCZANIA NAZWA JEDNOSTKI DYDAKTYCZNEJ Lekcja organizacyjna Zapoznanie

Bardziej szczegółowo

Ć W I C Z E N I E N R O-4

Ć W I C Z E N I E N R O-4 INSTYTUT FIZYKI WYDZIAŁ INŻYNIERII PRODUKCJI I TECHNOLOGII MATERIAŁÓW POLITECHNIKA CZĘSTOCHOWSKA PRACOWNIA OPTYKI Ć W I C Z E N I E N R O-4 BADANIE WAD SOCZEWEK I Zagadnienia do opracowania Równanie soewki,

Bardziej szczegółowo

Często spotykany jest również asymetryczny rozkład gamma (Г), opisany za pomocą parametru skali θ i parametru kształtu k:

Często spotykany jest również asymetryczny rozkład gamma (Г), opisany za pomocą parametru skali θ i parametru kształtu k: Statystyczne opracowanie danych pomiarowych W praktyce pomiarowej często spotykamy się z pomiarami wielokrotnymi, gdy podczas pomiaru błędy pomiarowe (szumy miernika, czynniki zewnętrzne) są na tyle duże,

Bardziej szczegółowo

ZAŁOŻENIA DO PLANU RALIZACJI MATERIAŁU NAUCZANIA MATEMATYKI W KLASIE II ( zakres podstawowy)

ZAŁOŻENIA DO PLANU RALIZACJI MATERIAŁU NAUCZANIA MATEMATYKI W KLASIE II ( zakres podstawowy) 1 ZAŁOŻENIA DO PLANU RALIZACJI MATERIAŁU NAUCZANIA MATEMATYKI W KLASIE II ( zakres podstawowy) Program nauczania: Matematyka z plusem Liczba godzin nauki w tygodniu: 3 Planowana liczba godzin w ciągu roku:

Bardziej szczegółowo

9. OBRAZY i FILTRY BINARNE 9.1 Erozja, dylatacja, zamykanie, otwieranie

9. OBRAZY i FILTRY BINARNE 9.1 Erozja, dylatacja, zamykanie, otwieranie 9. OBRAZY i FILTRY BINARNE 9.1 Erozja, dylatacja, zamykanie, otwieranie Obrazy binarne to takie, które mają tylko dwa poziomy szarości: 0 i 1 lub 0 i 255. ImageJ wykorzystuje to drugie rozwiązanie - obrazy

Bardziej szczegółowo

CHARAKTERYSTYKA ZMIAN STRUKTURALNYCH W WARSTWIE POŁĄCZENIA SPAJANYCH WYBUCHOWO BIMETALI

CHARAKTERYSTYKA ZMIAN STRUKTURALNYCH W WARSTWIE POŁĄCZENIA SPAJANYCH WYBUCHOWO BIMETALI Mariusz Prażmowski 1, Henryk Paul 1,2, Fabian Żok 1,3, Aleksander Gałka 3, Zygmunt Szulc 3 1 Politechnika Opolska, ul. Mikołajczyka 5, Opole. 2 Instytut Metalurgii i Inżynierii Materiałowej PAN, ul. Reymonta

Bardziej szczegółowo

Przewodnik po soczewkach

Przewodnik po soczewkach Przewodnik po soczewkach 1. Wchodzimy w program Corel Draw 11 następnie klikamy Plik /Nowy => Nowy Rysunek. Następnie wchodzi w Okno/Okno dokowane /Teczka podręczna/ Przeglądaj/i wybieramy plik w którym

Bardziej szczegółowo

AUTOMATYCZNA AKTUALIZACJA BAZY DANYCH O BUDYNKACH W OPARCIU O WYSOKOROZDZIELCZĄ ORTOFOTOMAPĘ SATELITARNĄ

AUTOMATYCZNA AKTUALIZACJA BAZY DANYCH O BUDYNKACH W OPARCIU O WYSOKOROZDZIELCZĄ ORTOFOTOMAPĘ SATELITARNĄ AUTOMATYCZNA AKTUALIZACJA BAZY DANYCH O BUDYNKACH W OPARCIU O WYSOKOROZDZIELCZĄ ORTOFOTOMAPĘ SATELITARNĄ Ireneusz WYCZAŁEK Zakład Geodezji Politechnika Poznańska CEL Aktualizacja baz danych przestrzennych,

Bardziej szczegółowo

BADANIA MIKROSKOPOWE

BADANIA MIKROSKOPOWE BADANIA MIKROSKOPOWE Cel ćwiczenia. Zapoznanie się z budową i obsługą mikroskopów metalograficznych Zapoznanie się z podstawowymi technikami mikroskopii metalograficznej świetlnej Zapoznanie się z wyposażeniem

Bardziej szczegółowo

Kierunek i poziom studiów: Biologia, poziom pierwszy

Kierunek i poziom studiów: Biologia, poziom pierwszy Uniwersytet Śląski w Katowicach str. 1 Kierunek i poziom studiów: Biologia, poziom pierwszy Sylabus modułu: Techniki mikroskopowe modułu: 1BL_49 1. Informacje ogólne koordynator modułu Prof. dr hab. Ewa

Bardziej szczegółowo

Ćwiczenie 2. Wyznaczanie ogniskowych soczewek cienkich oraz płaszczyzn głównych obiektywów lub układów soczewek. Aberracje. Wprowadzenie teoretyczne

Ćwiczenie 2. Wyznaczanie ogniskowych soczewek cienkich oraz płaszczyzn głównych obiektywów lub układów soczewek. Aberracje. Wprowadzenie teoretyczne Ćwiczenie 2 Wyznaczanie ogniskowych soczewek cienkich oraz płaszczyzn głównych obiektywów lub układów soczewek. Aberracje. Wprowadzenie teoretyczne Podstawy Działanie obrazujące soczewek lub układu soczewek

Bardziej szczegółowo

2011-05-19. Tablica 1. Wymiary otworów sit do określania wymiarów ziarn kruszywa. Sita dodatkowe: 0,125 mm; 0,25 mm; 0,5 mm.

2011-05-19. Tablica 1. Wymiary otworów sit do określania wymiarów ziarn kruszywa. Sita dodatkowe: 0,125 mm; 0,25 mm; 0,5 mm. Kruszywa do mieszanek mineralno-asfaltowych powinny odpowiadad wymaganiom przedstawionym w normie PN-EN 13043 Kruszywa do mieszanek bitumicznych i powierzchniowych utrwaleo stosowanych na drogach, lotniskach

Bardziej szczegółowo

Prof. Eugeniusz RATAJCZYK. Makrogemetria Pomiary odchyłek kształtu i połoŝenia

Prof. Eugeniusz RATAJCZYK. Makrogemetria Pomiary odchyłek kształtu i połoŝenia Prof. Eugeniusz RATAJCZYK Makrogemetria Pomiary odchyłek kształtu i połoŝenia Rodzaje odchyłek - symbole Odchyłki kształtu okrągłości prostoliniowości walcowości płaskości przekroju wzdłuŝnego Odchyłki

Bardziej szczegółowo

klasa III technikum I. FIGURY I PRZEKSZTAŁCENIA Wiadomości i umiejętności

klasa III technikum I. FIGURY I PRZEKSZTAŁCENIA Wiadomości i umiejętności I. FIGURY I PRZEKSZTAŁCENIA - zna i rozumie pojęcia, zna własności figur: ogólne równanie prostej, kierunkowe równanie prostej okrąg, równanie okręgu - oblicza odległość dwóch punktów na płaszczyźnie -

Bardziej szczegółowo

Mini tablice matematyczne. Figury geometryczne

Mini tablice matematyczne. Figury geometryczne Mini tablice matematyczne Figury geometryczne Spis treści Własności kwadratu Ciekawostka:Kwadrat magiczny Prostokąt Własności prostokąta Trapez Własności trapezu Równoległobok Własności równoległoboku

Bardziej szczegółowo

Ćwiczenie 53. Soczewki

Ćwiczenie 53. Soczewki Ćwiczenie 53. Soczewki Małgorzata Nowina-Konopka, Andrzej Zięba Cel ćwiczenia Pomiar ogniskowych soczewki skupiającej i układu soczewek (skupiająca i rozpraszająca), obliczenie ogniskowej soczewki rozpraszającej.

Bardziej szczegółowo

+OPTYKA 3.stacjapogody.waw.pl K.M.

+OPTYKA 3.stacjapogody.waw.pl K.M. Zwierciadło płaskie, prawo odbicia. +OPTYKA.stacjapogody.waw.pl K.M. Promień padający, odbity i normalna leżą w jednej płaszczyźnie, prostopadłej do płaszczyzny zwierciadła Obszar widzialności punktu w

Bardziej szczegółowo

Analiza wariancji. dr Janusz Górczyński

Analiza wariancji. dr Janusz Górczyński Analiza wariancji dr Janusz Górczyński Wprowadzenie Powiedzmy, że badamy pewną populację π, w której cecha Y ma rozkład N o średniej m i odchyleniu standardowym σ. Powiedzmy dalej, że istnieje pewien czynnik

Bardziej szczegółowo

Przedmowa 11 Ważniejsze oznaczenia 14 Spis skrótów i akronimów 15 Wstęp 21 W.1. Obraz naturalny i cyfrowe przetwarzanie obrazów 21 W.2.

Przedmowa 11 Ważniejsze oznaczenia 14 Spis skrótów i akronimów 15 Wstęp 21 W.1. Obraz naturalny i cyfrowe przetwarzanie obrazów 21 W.2. Przedmowa 11 Ważniejsze oznaczenia 14 Spis skrótów i akronimów 15 Wstęp 21 W.1. Obraz naturalny i cyfrowe przetwarzanie obrazów 21 W.2. Technika obrazu 24 W.3. Normalizacja w zakresie obrazu cyfrowego

Bardziej szczegółowo

B&M OPTIK http://www.bmo.pl WSZELKIE PRAWA ZASTRZEśONE

B&M OPTIK http://www.bmo.pl WSZELKIE PRAWA ZASTRZEśONE Strona z 8 05-0-5 B&M OPTIK http://www.bmo.pl WSZELKIE PRAWA ZASTRZEśONE. Cięcie szkła Pracownik pobiera w magazynie surowców materiał w postaci bloków szklanych lub tafli, z archiwum pobiera dokumentację

Bardziej szczegółowo

Badanie uporządkowania magnetycznego w ultracienkich warstwach kobaltu w pobliżu reorientacji spinowej.

Badanie uporządkowania magnetycznego w ultracienkich warstwach kobaltu w pobliżu reorientacji spinowej. Tel.: +48-85 7457229, Fax: +48-85 7457223 Zakład Fizyki Magnetyków Uniwersytet w Białymstoku Ul.Lipowa 41, 15-424 Białystok E-mail: vstef@uwb.edu.pl http://physics.uwb.edu.pl/zfm Praca magisterska Badanie

Bardziej szczegółowo

na poprawę cech mieszanki z materiałem z recyklingu

na poprawę cech mieszanki z materiałem z recyklingu Wpływ nanotechnologii na poprawę cech mieszanki z materiałem z recyklingu mgr inż. Piotr Heinrich, 27.11.2014, Warszawa TEZY PREZENTACJI Stosowanie granulatu doświadczenia Definicja i zasada działania

Bardziej szczegółowo

TARCZE DIAMENTOWE O ŚREDNICACH DO 500 MM SPAWANE LASEROWO

TARCZE DIAMENTOWE O ŚREDNICACH DO 500 MM SPAWANE LASEROWO TARCZE DIAMENTOWE O ŚREDNICACH DO 500 MM SPAWANE LASEROWO Pol Bruk (Construction Universal) 230. Kombi 125-450 Twarde materiały 230 Twarde materiały Premium 230 500 Asfalt Standard 300 500 Asphalt Premium

Bardziej szczegółowo

AFM. Mikroskopia sił atomowych

AFM. Mikroskopia sił atomowych AFM Mikroskopia sił atomowych Siły van der Waalsa F(r) V ( r) = c 1 r 1 12 c 2 r 1 6 Siły van der Waalsa Mod kontaktowy Tryby pracy AFM związane z zależnością oddziaływania próbka ostrze od odległości

Bardziej szczegółowo

1. MIKROSKOP BADAWCZY (1 SZT.) Z SYSTEMEM KONTRASTU NOMARSKIEGO DIC ORAZ CYFROWĄ DOKUMENTACJĄ I ANALIZĄ OBRAZU WRAZ Z OPROGRAMOWANIEM

1. MIKROSKOP BADAWCZY (1 SZT.) Z SYSTEMEM KONTRASTU NOMARSKIEGO DIC ORAZ CYFROWĄ DOKUMENTACJĄ I ANALIZĄ OBRAZU WRAZ Z OPROGRAMOWANIEM 1. MIKROSKOP BADAWCZY (1 SZT.) Z SYSTEMEM KONTRASTU NOMARSKIEGO DIC ORAZ CYFROWĄ DOKUMENTACJĄ I ANALIZĄ OBRAZU WRAZ Z OPROGRAMOWANIEM Producent:... Typ/model:... Kraj pochodzenia:... LP. 1. Minimalne wymagane

Bardziej szczegółowo

Statystyka w pracy badawczej nauczyciela Wykład 4: Analiza współzależności. dr inż. Walery Susłow walery.suslow@ie.tu.koszalin.pl

Statystyka w pracy badawczej nauczyciela Wykład 4: Analiza współzależności. dr inż. Walery Susłow walery.suslow@ie.tu.koszalin.pl Statystyka w pracy badawczej nauczyciela Wykład 4: Analiza współzależności dr inż. Walery Susłow walery.suslow@ie.tu.koszalin.pl Statystyczna teoria korelacji i regresji (1) Jest to dział statystyki zajmujący

Bardziej szczegółowo

Ocena trwałości powłok malarskich i wypraw tynkarskich elewacyjnych, czyli o prowadzeniu badań starzeniowych w Spektrochemie

Ocena trwałości powłok malarskich i wypraw tynkarskich elewacyjnych, czyli o prowadzeniu badań starzeniowych w Spektrochemie Ocena trwałości powłok malarskich i wypraw tynkarskich elewacyjnych, czyli o prowadzeniu badań starzeniowych w Spektrochemie Konferencja Nowe wyzwania dla chemii budowlanej Warszawa, 11.06.2015 Promieniowanie

Bardziej szczegółowo

CYNKOWANIE OGNIOWE JAKO JEDEN ZE SPOSOBÓW ZABEZPIECZENIA PRZED KOROZJĄ SPRZĘTU MEDYCZNEGO

CYNKOWANIE OGNIOWE JAKO JEDEN ZE SPOSOBÓW ZABEZPIECZENIA PRZED KOROZJĄ SPRZĘTU MEDYCZNEGO ktualne Problemy iomechaniki, nr 6/2012 169 Węgrzynkiewicz Sylwia, Hajduga Maciej, Sołek ariusz, Jędrzejczyk ariusz: Wydział udowy Maszyn i Informatyki, kademia Techniczno- Humanistyczna, ielsko- iała

Bardziej szczegółowo

Ćwiczenie nr 71: Dyfrakcja światła na szczelinie pojedynczej i podwójnej

Ćwiczenie nr 71: Dyfrakcja światła na szczelinie pojedynczej i podwójnej Wydział Imię i nazwisko 1. 2. Rok Grupa Zespół PRACOWNIA Temat: Nr ćwiczenia FIZYCZNA WFiIS AGH Data wykonania Data oddania Zwrot do popr. Data oddania Data zaliczenia OCENA Ćwiczenie nr 71: Dyfrakcja

Bardziej szczegółowo

PROGRAM BADANIA BIEGŁOŚCI

PROGRAM BADANIA BIEGŁOŚCI P O B I E R A N I E P R Ó B E K K R U S Z Y W Opracował: Zatwierdził: Imię i Nazwisko Przemysław Domoradzki Krzysztof Wołowiec Data 28 maja 2015 r. 28 maja 2015 r. Podpis Niniejszy dokument jest własnością

Bardziej szczegółowo

LABORATORIUM ELEKTROTECHNIKI POMIAR PRZESUNIĘCIA FAZOWEGO

LABORATORIUM ELEKTROTECHNIKI POMIAR PRZESUNIĘCIA FAZOWEGO POLITECHNIKA ŚLĄSKA WYDZIAŁ TRANSPORTU KATEDRA LOGISTYKI I TRANSPORTU PRZEMYSŁOWEGO NR 1 POMIAR PRZESUNIĘCIA FAZOWEGO Katowice, październik 5r. CEL ĆWICZENIA Poznanie zjawiska przesunięcia fazowego. ZESTAW

Bardziej szczegółowo

2. Metody, których podstawą są widma atomowe 32

2. Metody, których podstawą są widma atomowe 32 Spis treści 5 Spis treści Przedmowa do wydania czwartego 11 Przedmowa do wydania trzeciego 13 1. Wiadomości ogólne z metod spektroskopowych 15 1.1. Podstawowe wielkości metod spektroskopowych 15 1.2. Rola

Bardziej szczegółowo

LEKCJA. TEMAT: Napędy optyczne.

LEKCJA. TEMAT: Napędy optyczne. TEMAT: Napędy optyczne. LEKCJA 1. Wymagania dla ucznia: Uczeń po ukończeniu lekcji powinien: umieć omówić budowę i działanie napędu CD/DVD; umieć omówić budowę płyty CD/DVD; umieć omówić specyfikację napędu

Bardziej szczegółowo

Akademia Sztuk Pięknych w Warszawie, Wydział Konserwacji i Restauracji Dzieł Sztuki, Zakład Badań Specjalistycznych i Technik Dokumentacyjnych

Akademia Sztuk Pięknych w Warszawie, Wydział Konserwacji i Restauracji Dzieł Sztuki, Zakład Badań Specjalistycznych i Technik Dokumentacyjnych SPRAWOZDANIE Z REALIZACJI pierwszego etapu UMOWY o DZIEŁO p.t.: Wykonanie szlifów i analiza produktów korozji próbek metali konstrukcyjnych parowozów metodami mikro-chemicznymi i laserowej spektrometrii

Bardziej szczegółowo

Narzędzia skrawające firmy Sandvik Coromant. Narzędzia obrotowe FREZOWANIE WIERCENIE WYTACZANIE SYSTEMY NARZĘDZIOWE

Narzędzia skrawające firmy Sandvik Coromant. Narzędzia obrotowe FREZOWANIE WIERCENIE WYTACZANIE SYSTEMY NARZĘDZIOWE Narzędzia skrawające firmy Sandvik Coromant Narzędzia obrotowe RZOWANI WIRCNI WYTACZANI SYSTMY NARZĘDZIOW 2012 WIRCNI ak dobrać odpowiednie wiertło ak dobrać odpowiednie wiertło 1 Określenie średnicy i

Bardziej szczegółowo

WYBÓR PUNKTÓW POMIAROWYCH

WYBÓR PUNKTÓW POMIAROWYCH Scientific Bulletin of Che lm Section of Technical Sciences No. 1/2008 WYBÓR PUNKTÓW POMIAROWYCH WE WSPÓŁRZĘDNOŚCIOWEJ TECHNICE POMIAROWEJ MAREK MAGDZIAK Katedra Technik Wytwarzania i Automatyzacji, Politechnika

Bardziej szczegółowo

TOLERANCJE WYMIAROWE SAPA

TOLERANCJE WYMIAROWE SAPA TOLERANCJE WYMIAROWE SAPA Tolerancje wymiarowe SAPA zapewniają powtarzalność wymiarów w normalnych warunkach produkcyjnych. Obowiązują one dla wymiarów, dla których nie poczyniono innych ustaleń w trakcie

Bardziej szczegółowo

BADANIE MIKROSKOPU. POMIARY MAŁYCH DŁUGOŚCI

BADANIE MIKROSKOPU. POMIARY MAŁYCH DŁUGOŚCI ĆWICZENIE 43 BADANIE MIKROSKOPU. POMIARY MAŁYCH DŁUGOŚCI Układ optyczny mikroskopu składa się z obiektywu i okularu rozmieszczonych na końcach rury zwanej tubusem. Przedmiot ustawia się w odległości większej

Bardziej szczegółowo

Ćwiczenie 42 WYZNACZANIE OGNISKOWEJ SOCZEWKI CIENKIEJ. Wprowadzenie teoretyczne.

Ćwiczenie 42 WYZNACZANIE OGNISKOWEJ SOCZEWKI CIENKIEJ. Wprowadzenie teoretyczne. Ćwiczenie 4 WYZNACZANIE OGNISKOWEJ SOCZEWKI CIENKIEJ Wprowadzenie teoretyczne. Soczewka jest obiektem izycznym wykonanym z materiału przezroczystego o zadanym kształcie i symetrii obrotowej. Interesować

Bardziej szczegółowo

Tabela 1. Odchyłki graniczne wymiarów liniowych, z wyjątkiem wymiarów krawędzi załamanych wg ISO 2768-1

Tabela 1. Odchyłki graniczne wymiarów liniowych, z wyjątkiem wymiarów krawędzi załamanych wg ISO 2768-1 1. Informacje ogólne Tworzywa konstrukcyjne w istotny sposób różnią się od metali. Przede wszystkim cechują się 8-10 krotnie większą rozszerzalnością cieplną. Niektóre gatunki tworzyw są mało stabilne

Bardziej szczegółowo

Plan wykładu. Wprowadzenie Program graficzny GIMP Edycja i retusz zdjęć Podsumowanie. informatyka +

Plan wykładu. Wprowadzenie Program graficzny GIMP Edycja i retusz zdjęć Podsumowanie. informatyka + Plan wykładu Wprowadzenie Program graficzny GIMP Edycja i retusz zdjęć Podsumowanie 2 Po co obrabiamy zdjęcia Poprawa jasności, kontrastu, kolorów itp. Zdjęcie wykonano w niesprzyjających warunkach (złe

Bardziej szczegółowo

oraz kilka uwag o cyfrowej rejestracji obrazów

oraz kilka uwag o cyfrowej rejestracji obrazów oraz kilka uwag o cyfrowej rejestracji obrazów Matryca CCD i filtry Bayera Matryca CCD i filtry Bayera Demozaikowanie Metody demozaikowania Tradycyjne metody interpolacyjne (nienajlepsze efekty) Variable

Bardziej szczegółowo

Spektroskopia ramanowska w badaniach powierzchni

Spektroskopia ramanowska w badaniach powierzchni Spektroskopia ramanowska w badaniach powierzchni z Efekt Ramana (1922, CV Raman) I, ν próbka y Chandra Shekhara Venketa Raman x I 0, ν 0 Monochromatyczne promieniowanie o częstości ν 0 ulega rozproszeniu

Bardziej szczegółowo

IR II. 12. Oznaczanie chloroformu w tetrachloroetylenie metodą spektrofotometrii w podczerwieni

IR II. 12. Oznaczanie chloroformu w tetrachloroetylenie metodą spektrofotometrii w podczerwieni IR II 12. Oznaczanie chloroformu w tetrachloroetylenie metodą spektrofotometrii w podczerwieni Promieniowanie podczerwone ma naturę elektromagnetyczną i jego absorpcja przez materię podlega tym samym prawom,

Bardziej szczegółowo

Efekt Halla w germanie.

Efekt Halla w germanie. E-1/2. Efekt Halla w germanie. 1. Efekt Halla. Materiały przewodzące, jak na przykład metale, czy półprzewodniki, których nośniki ładunku mają róŝną od zera prędkość dryfu V, wykazują, w zewnętrznym polu

Bardziej szczegółowo