PL B1. POLITECHNIKA WROCŁAWSKA, Wrocław, PL BUP 02/08. PIOTR KURZYNOWSKI, Wrocław, PL JAN MASAJADA, Nadolice Wielkie, PL

Save this PDF as:
 WORD  PNG  TXT  JPG

Wielkość: px
Rozpocząć pokaz od strony:

Download "PL B1. POLITECHNIKA WROCŁAWSKA, Wrocław, PL BUP 02/08. PIOTR KURZYNOWSKI, Wrocław, PL JAN MASAJADA, Nadolice Wielkie, PL"

Transkrypt

1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: (22) Data zgłoszenia: (51) Int.Cl. G01N 21/23 ( ) G01B 9/02 ( ) G01J 9/02 ( ) (54) Sposób pomiaru dwójłomności materiału i układ do pomiaru dwójłomności materiału (43) Zgłoszenie ogłoszono: BUP 02/08 (45) O udzieleniu patentu ogłoszono: WUP 04/12 (73) Uprawniony z patentu: POLITECHNIKA WROCŁAWSKA, Wrocław, PL (72) Twórca(y) wynalazku: PIOTR KURZYNOWSKI, Wrocław, PL JAN MASAJADA, Nadolice Wielkie, PL (74) Pełnomocnik: rzecz. pat. Regina Kozłowska PL B1

2 2 PL B1 Opis wynalazku Przedmiotem wynalazku jest sposób pomiaru dwójłomności materiału i układ do pomiaru dwójłomności materiału, w szczególności anizotropowego ośrodka liniowo dwójłomnego, stosowane do badania dwójłomności kryształów, polimerów, ciekłych kryształów. Znany jest z polskiego opisu patentowego nr sposób pomiaru dwójłomności materiału optycznie jednoosiowego w układzie optycznym z liniowo spolaryzowaną zbieżną wiązką promieniowania elektromagnetycznego. Sposób polega na tym, że z badanego materiału optycznie jednoosiowego wycina się płaskorównoległą próbkę tak, aby oś optyczna była prostopadła do jej powierzchni czołowych, następnie w układzie pomiarowym konoskopu umieszcza się ją bezpośrednio przed liniowym analizatorem, którego oś przepuszczania jest równoległa lub prostopadła do płaszczyzny polaryzacji wiązki promieniowania, powierzchniami czołowymi prostopadle do osi symetrii wiązki promieniowania i przepuszcza przez nią liniowo spolaryzowaną zbieżną wiązkę promieniowania elektromagnetycznego, po czym w obrazie konoskopowym próbki mierzy się średnice dwóch izochromat, a następnie dwójłomność materiału próbki wyznacza się z odpowiedniej zależności. Sposób polega również na tym, że z badanego materiału optycznie jednoosiowego wycina się płaskorównoległą próbkę tak, aby oś optyczna była równoległa do jej powierzchni czołowych, następnie w układzie pomiarowym konoskopu umieszcza się ją bezpośrednio przed liniowym analizatorem, którego oś przepuszczania jest równoległa lub prostopadła do płaszczyzny polaryzacji wiązki promieniowania, powierzchniami czołowymi prostopadle do osi symetrii wiązki promieniowania i przepuszcza się przez nią liniowo spolaryzowaną wiązkę promieniowania elektromagnetycznego, po czym w obrazie konoskopowym próbki mierzy się odległości pomiędzy dwoma izochromatami w kierunku równoległym do osi optycznej oraz odpowiednio w kierunku prostopadłym do tej osi, a następnie dwójłomność materiału próbki wyznacza się również z odpowiedniej zależności. Z polskiego opisu zgłoszenia patentowego nr znany jest sposób badania struktury wewnętrznej dwójłomnej warstwy przezroczystej, stosowany do badania dwójłomności kryształów, polimerów, ciekłych kryształów, jak również struktury wewnętrznej rogówki oka. Sposób polega na tym, że wiązkę światła laserowego polaryzuje się, generuje różne stany polaryzacji, rozszerza i kieruje na badaną warstwę. Po przejściu przez warstwę wiązkę światła laserowego analizuje się przy różnych kątach azymutu, rejestruje natężenie światła, następnie wiązkę światła przekształca na sygnał elektryczny, zamienia na sygnał cyfrowy, zapamiętuje, poddaje obróbce cyfrowej oraz wyznacza rozkłady kąta azymutu i opóźnienia fazowego badanej warstwy. Z polskiego opisu zgłoszenia patentowego nr znane jest urządzenie do badania struktury wewnętrznej dwójłomnej warstwy przezroczystej. Urządzenie charakteryzuje się tym, że wiązka światła z lasera poprzez polaryzator, płytkę ćwierćfalową i kolimator pada na badaną warstwę, przez którą przechodzi i rozprasza się na matówce. Następnie ponownie przechodzi przez badaną warstwę, analizator i jest kierowana do kamery, z której sygnał elektryczny przez kartę obrazową jest przesyłany do komputera. Znane jest też z polskiego opisu zgłoszenia patentowego nr urządzenie do badania struktury wewnętrznej dwójłomnej warstwy przezroczystej, w którym wiązka światła z lasera poprzez polaryzator, płytkę ćwierćfalową i kolimator, badaną warstwę i analizator jest kierowana do kamery, z której sygnał elektryczny przez kartę obrazową jest przesyłany do komputera. Układy pomiarowe dwójłomności materiału znane są z opisów patentowych USA nr US , brytyjskiego nr GB i japońskiego nr JP Układy te składają się z polaryzatora i analizatora, których kierunki przepuszczania światła, czyli kąty azymutu są ortogonalne. Między polaryzator i analizator wstawione są zarówno elementy kompensacyjne, takie jak pryzmat Wollastona, jak i badany obiekt dwójłomny pod kątami azymutu ±45. Wskutek tego rejestrowany rozkład natężenia światła na wyjściu układu ma charakter prążków interferencyjnych. W szczególności, środki czarnych prążków tworzą układ równoległych lub prawie równoległych linii. Metody analizy bazują na badaniu odstępstw od wyjściowej prostoliniowej struktury prążkowej obrazu. Istota sposobu według wynalazku polega na tym, że tworzy się monochromatyczną płaską falę świetlną z użyciem źródła światła wraz z kolimatorem, biegnącą wzdłuż osi optycznej układu, którą polaryzuje się liniowo w polaryzatorze. Po czym falę świetlną moduluje się zmienną różnicą faz wnoszoną przez pierwszy pryzmat Wollastona, a jako różnicę faz w płaszczyźnie prostopadłej do kierunku propagacji fali proporcjonalną do zmiennej różnicy faz wnoszonej przez pierwszy pryzmat Wollastona przyjmuje się różnicę faz między jej składowymi x i y w tej płaszczyźnie. Tak zmodulowaną falę kieruje

3 PL B1 3 się na płytkę płaskorównoległą wykonaną z badanego materiału dwójłomnego. Po czym falę świetlną moduluje się ponownie zmienną różnicą faz wnoszoną przez drugi pryzmat Wollastona, przy czym kierunki obu modulacji fali świetlej zgodne są z kątami azymutów pryzmatów i wynoszą odpowiednio α 1 = 45 i α 2 = 0. Następnie wytwarza się pole interferencyjne w wyniku przejścia fali świetlnej przez analizator i rejestruje się kamerą siatkę w postaci wirów optycznych, stanowiących izolowane punkty o zerowej wartości natężenia światła, o nieokreślonej fazie fali świetlnej w tych punktach. Korzystnie w zmodulowanej fali świetlnej w wyniku przejścia przez płytkę płaskorównoległą wykonaną z materiału dwójłomnego następuje przesunięcie wirów optycznych spowodowane różnicą faz wnoszoną przez badany materiał dwójłomny, przy czym przesunięcie to jest proporcjonalne do różnicy faz. Korzystnym jest również to, że w zmodulowanej fali świetlnej w wyniku przejścia przez płytkę płaskorównoległą wykonaną z materiału dwójłomnego następuje obrót tych wirów optycznych, przy czym kąt obrotu jest proporcjonalny do kąta azymutu ośrodka dwójłomnego. Istota układu według wynalazku polega na tym, że wzdłuż wiązki światła ma zestawione źródło światła, kolimator, polaryzator ustawiony pod kątem azymutu α P =0, pierwszy pryzmat Wollastona ustawiony pod kątem azymutu α 1 = 45, drugi pryzmat Wollastona ustawiony pod kątem azymutu α 2 = 0, analizator ustawiony pod kątem azymutu α A = 45 oraz kamerę podłączoną do komputera, przy czym pomiędzy pierwszym pryzmatem Wollastona i drugim pryzmatem Wollastona jest umieszczona płytka płaskorównoległa wykonana z badanego materiału dwójłomnego. Zaletą nowego układu jest to, że wytwarza on wiry optyczne, zwane dalej znacznikami, które charakteryzują się większą stabilnością niż odpowiednie znaczniki generowane np. w różnego rodzaju interferometrach optycznych, ponieważ powstają one w jednej wiązce światła. Wynika to z tego, że przejście jednej fali świetlnej przez pryzmat Wollastona można traktować w efekcie jako interferencję dwóch fal własnych tego elementu, biegnących w tych samych kierunkach i różniących się azymutem, a zatem kąt między falami tworzącymi pole interferencyjne jest stały i nie podlega takim fluktuacjom jak kąt między frontami falowymi w układach czysto interferencyjnych. Deformacja czoła fali świetlnej w którymkolwiek miejscu przedstawionego układu przejawia się w zmianie położenia znaczników, prostymi metodami można zatem określić tą deformację śledząc ruch danego znacznika. Zmiany te można obserwować nie tylko gdy deformacja ma charakter globalny (dotyczy na przykład zmiany kierunku biegu wiązki świetlnej), ale i lokalny, przy czym w tym przypadku należy zadbać o to, by siatka znaczników na wyjściu układu optycznego była dostatecznie gęsta. Regulacji gęstości dokonuje się przez odpowiedni dobór kąta klina w każdym z pryzmatów Wollastona - im większy ten kąt tym gęstsza siatka znaczników. Dodatkową zaletą układu do generacji wirów optycznych jest to, że można elementy tego układu połączyć na stałe, np. poprzez sklejenie. I tak, gdy przedmiotem badań jest anizotropowy ośrodek liniowo dwójłomny, na trwale mogą być połączone następujące elementy polaryzator i pierwszy pryzmat Wollastona oraz drugi pryzmat Wollastona i analizator. Dzięki temu stabilność układu pomiarowego jeszcze bardziej wzrasta. Przedmiotem wynalazku w przykładzie realizacji jest uwidoczniony na rysunku, który przedstawia schemat blokowy układu do pomiaru dwójłomności materiału optycznie jednoosiowego. P r z y k ł a d 1 Sposób pomiaru dwójłomności materiału, polega na tym, że tworzy się monochromatyczną płaską falę świetlną z użyciem źródła światła Z wraz z kolimatorem K biegnącą wzdłuż osi optycznej układu, którą polaryzuje się liniowo w polaryzatorze P. Po czym falę świetlną moduluje się zmienną różnicą faz wnoszoną przez pierwszy pryzmat Wollastona W1, a jako różnicę faz w płaszczyźnie prostopadłej do kierunku propagacji fali proporcjonalną do zmiennej różnicy faz wnoszonej przez pierwszy pryzmat Wollastona W1 przyjmuje się różnicę faz między jej składowymi x i y w tej płaszczyźnie. Tak zmodulowaną falę kieruje się na płytkę płaskorównoległą PP wykonaną z badanego materiału dwójłomnego, przy czym w zmodulowanej fali świetlnej w wyniku przejścia przez płytkę płaskorównoległą PP następuje przesunięcie wirów optycznych spowodowane różnicą faz wnoszoną przez badany materiał dwójłomny, przy czym przesunięcie to jest proporcjonalne do różnicy faz. Po czym falę świetlną moduluje się ponownie zmienną różnicą faz wnoszoną przez drugi pryzmat Wollastona W2, przy czym kierunki obu modulacji fali świetlej zgodne są z kątami azymutów pryzmatów W1, W2 i wynoszą odpowiednio α 1 = 45 i α 2 =0. Następnie wytwarza się pole interferencyjne w wyniku przejścia fali świetlnej przez analizator A, po czym rejestruje się kamerą D siatkę w postaci wirów optycznych,

4 4 PL B1 stanowiących izolowane punkty o zerowej wartości natężenia światła, o nieokreślonej fazie fali świetlnej w tych punktach. P r z y k ł a d 2 Sposób pomiaru dwójłomności materiału przebiega jak w przykładzie pierwszym z tą różnicą, że w zmodulowanej fali świetlnej w wyniku przejścia przez płytkę płaskorównoległą PP wykonaną z materiału dwójłomnego następuje obrót tych wirów optycznych, przy czym kąt obrotu jest proporcjonalny do kąta azymutu ośrodka dwójłomnego. P r z y k ł a d 3 Układ do pomiaru dwójłomności materiału ma wzdłuż wiązki światła zestawione źródło światła Z, kolimator K, polaryzator P ustawiony pod kątem azymutu α P = 0, pierwszy pryzmat Wollastona W1 ustawiony pod kątem azymutu α 1 = 45, drugi pryzmat Wollastona W2 ustawiony pod kątem azymutu α 2 = 0, analizator A ustawiony pod kątem azymutu α A =45 oraz kamerę D podłączoną do komputera C. Pomiędzy pierwszym pryzmatem Wollastona W1 i drugim pryzmatem Wollastona W2 jest umieszczona płytka płaskorównoległa PP wykonana z badanego materiału dwójłomnego. Zasada działania układu jest następująca: źródło światła Z wraz z kolimatorem K tworzy monochromatyczną płaską falę świetlną biegnącą wzdłuż osi optycznej układu i padającą na polaryzator P. Za ostatnim z wymienionych elementów fala świetlna jest liniowo spolaryzowana i po przejściu przez pryzmat Wollastona W1 jej różnica faz (rozumiana jako różnica faz między jej składowymi x i y) w płaszczyźnie prostopadłej do kierunku propagacji fali jest proporcjonalna do zmiennej różnicy faz wnoszonej przez pryzmat W1. Po przejściu przed drugi pryzmat W2 fala modulowana jest również zmienną różnicą faz wnoszoną przez ten pryzmat, przy czym kierunki modulacji zgodne są z kątami azymutów pryzmatów W1 i W2, wynoszącymi odpowiednio α = 45, 0. Po przejściu światła przez analizator A powstaje pole interferencyjne, rejestrowane przez kamerę D, którego najważniejszą cechą jest istnienie w nim siatki tzw. wirów optycznych, tzn. izolowanych punktów o zerowej wartości natężenia światła, charakteryzujących się tym, że faza fali świetlnej w tych punktach jest nieokreślona. Jest to odpowiednik amplitudowego złożenia dwóch układów prążków interferencyjnych, jakie tworzą pryzmaty Wollastona umieszczone w odpowiedni sposób pomiędzy liniowym polaryzatorem a liniowym analizatorem. Wstawienie pomiędzy pryzmaty Wollastona W1 i W2 płytki płaskorównoległej PP wykonanej z takiego ośrodka, powoduje zmianę położenia znaczników pola interferencyjnego: różnica faz wnoszona przez ośrodek dwójłomny - przesunięcie znaczników proporcjonalne do tej różnicy, natomiast zmiana kąta azymutu ośrodka dwójłomnego - obrót tych znaczników. Jeżeli znaczniki rozmieszczone są w polu interferencyjnym dostatecznie gęsto to możliwe jest również lokalne badanie właściwości anizotropowych tych ośrodków. Różnica pomiędzy dotychczas stosowanymi układami polaryskopowymi a przedstawionym polega na tym, że do identyfikacji właściwości ośrodka wykorzystuje się ruch wirów optycznych, podczas gdy w klasycznych metodach stosowano metody rejestracji wielu obrazów interferencyjnych przy zmiennych parametrach układu polaryskopowego, takich jak zmienne azymuty polaryzatora P, analizatora A i anizotropowych płytek fazowych, umieszczonych w układzie w tym samym miejscu jak pryzmaty Wollastona w przedstawionej w niniejszym patencie metodzie. Polaryskopowy układ do generacji wirów optycznych pozwala zmierzyć właściwości ośrodka anizotropowego jedynie przy dwóch rejestracjach obrazów interferencyjnych: przed i po wstawieniu w bieg wiązki świetlnej ośrodka anizotropowego przy stałych położeniach elementów układu rejestrującego. Zastrzeżenia patentowe 1. Sposób pomiaru dwójłomności materiału, w którym falę świetlną polaryzuje się i moduluje, a zmodulowaną falę kieruje się na badany materiał dwójłomny, po czym falę świetlną moduluje się ponownie, znamienny tym, że tworzy się monochromatyczną płaską falę świetlną z użyciem źródła światła (Z) wraz z kolimatorem (K) biegnącą wzdłuż osi optycznej układu, którą polaryzuje się liniowo w polaryzatorze (P), po czym falę świetlną moduluje się zmienną różnicą faz wnoszoną przez pierwszy pryzmat Wollastona (W1), a jako różnicę faz w płaszczyźnie prostopadłej do kierunku propagacji fali proporcjonalną do zmiennej różnicy faz wnoszonej przez pierwszy pryzmat Wollastona (W1) przyjmuje się różnicę faz między jej składowymi x i y w tej płaszczyźnie, tak zmodulowaną falę kieruje się na płytkę płaskorównoległą (PP) wykonaną z badanego materiału dwójłomnego, po czym falę świetlną moduluje się ponownie zmienną różnicą faz wnoszoną przez drugi pryzmat Wollastona (W2), przy

5 PL B1 5 czym kierunki obu modulacji fali świetlej zgodne są z kątami azymutów pryzmatów (W1, W2) i wynoszą odpowiednio α 1 = 45 i α 2 = 0, następnie wytwarza się pole interferencyjne w wyniku przejścia fali świetlnej przez analizator (A), po czym rejestruje się kamerą (D) siatkę w postaci wirów optycznych, stanowiących izolowane punkty o zerowej wartości natężenia światła, o nieokreślonej fazie fali świetlnej w tych punktach. 2. Sposób, według zastrz. 1, znamienny tym, że w zmodulowanej fali świetlnej w wyniku przejścia przez płytkę płaskorównoległą (PP) wykonaną z materiału dwójłomnego następuje przesunięcie wirów optycznych spowodowane różnicą faz wnoszoną przez badany materiał dwójłomny, przy czym przesunięcie to jest proporcjonalne do różnicy faz. 3. Sposób, według zastrz. 1, znamienny tym, że w zmodulowanej fali świetlnej w wyniku przejścia przez płytkę płaskorównoległą (PP) wykonaną z materiału dwójłonmego następuje obrót tych wirów optycznych, przy czym kąt obrotu jest proporcjonalny do kąta azymutu ośrodka dwójłomnego. 4. Układ do pomiaru dwójłomności materiału, zawierający zestawione wzdłuż wiązki światła, źródło światła, polaryzator i analizator, a pomiędzy polaryzator i analizator wstawiony element kompensacyjny w postaci pryzmatu Wollastona i badany obiekt dwójłomny, znamienny tym, że wzdłuż wiązki światła ma zestawione źródło światła (Z), kolimator (K), polaryzator (P) ustawiony pod kątem azymutu α P =0, pierwszy pryzmat Wollastona (W1) ustawiony pod kątem azymutu α 1 =45, drugi pryzmat Wollastona (W2) ustawiony pod kątem azymutu α 2 = 0, analizator (A) ustawiony pod kątem azymutu α A = 45 oraz kamerę (D) podłączoną do komputera (C), przy czym pomiędzy pierwszym pryzmatem Wollastona (W1) i drugim pryzmatem Wollastona (W2) jest umieszczona płytka płaskorównoległa (PP) wykonana z badanego materiału dwójłomnego.

6 6 PL B1 Rysunek Departament Wydawnictw UP RP Cena 2,46 zł (w tym 23% VAT)

Polaryzatory/analizatory

Polaryzatory/analizatory Polaryzatory/analizatory Polaryzator eliptyczny element układu optycznego lub układ optyczny, za którym światło jest spolaryzowane eliptycznie i o parametrach ściśle określonych przez polaryzator zazwyczaj

Bardziej szczegółowo

(12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 175051

(12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 175051 RZECZPO SPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 175051 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 307033 (22) Data zgłoszenia: 31.01.1995 (51) Int.Cl.6: A61B 3/107

Bardziej szczegółowo

Polaryzacyjne metody zmiany fazy w interferometrii dwuwiązkowej

Polaryzacyjne metody zmiany fazy w interferometrii dwuwiązkowej Polaryzacyjne metody zmiany fazy w interferometrii dwuwiązkowej Cel ćwiczenia: Celem ćwiczenia jest demonstracja i ilościowa analiza wybranych metod dyskretnej i ciągłej zmiany fazy w interferometrach

Bardziej szczegółowo

LASERY I ICH ZASTOSOWANIE

LASERY I ICH ZASTOSOWANIE LASERY I ICH ZASTOSOWANIE Laboratorium Instrukcja do ćwiczenia nr 3 Temat: Efekt magnetooptyczny 5.1. Cel ćwiczenia Celem ćwiczenia jest zapoznanie się z metodą modulowania zmiany polaryzacji światła oraz

Bardziej szczegółowo

PL B1. Sposób odczytu topografii linii papilarnych i układ do odczytu topografii linii papilarnych. Politechnika Wrocławska,Wrocław,PL

PL B1. Sposób odczytu topografii linii papilarnych i układ do odczytu topografii linii papilarnych. Politechnika Wrocławska,Wrocław,PL RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 202905 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 357399 (51) Int.Cl. G06K 9/00 (2006.01) A61B 5/117 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22)

Bardziej szczegółowo

PL B1. Sposób badania przyczepności materiałów do podłoża i układ do badania przyczepności materiałów do podłoża

PL B1. Sposób badania przyczepności materiałów do podłoża i układ do badania przyczepności materiałów do podłoża RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 203822 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 358564 (51) Int.Cl. G01N 19/04 (2006.01) G01N 29/00 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22)

Bardziej szczegółowo

Metody Optyczne w Technice. Wykład 8 Polarymetria

Metody Optyczne w Technice. Wykład 8 Polarymetria Metody Optyczne w Technice Wykład 8 Polarymetria Fala elektromagnetyczna div D div B 0 D E rot rot E H B t D t J B J H E Fala elektromagnetyczna 2 2 E H 2 t 2 E 2 t H 2 v n 1 0 0 c n 0 Fala elektromagnetyczna

Bardziej szczegółowo

PL B1. INSTYTUT MASZYN PRZEPŁYWOWYCH PAN, Gdańsk, PL JASIŃSKI MARIUSZ, Wągrowiec, PL GOCH MARCIN, Braniewo, PL MIZERACZYK JERZY, Rotmanka, PL

PL B1. INSTYTUT MASZYN PRZEPŁYWOWYCH PAN, Gdańsk, PL JASIŃSKI MARIUSZ, Wągrowiec, PL GOCH MARCIN, Braniewo, PL MIZERACZYK JERZY, Rotmanka, PL PL 215139 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 215139 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 383703 (22) Data zgłoszenia: 06.11.2007 (51) Int.Cl.

Bardziej szczegółowo

BADANIE WYMUSZONEJ AKTYWNOŚCI OPTYCZNEJ

BADANIE WYMUSZONEJ AKTYWNOŚCI OPTYCZNEJ ĆWICZENIE 89 BADANIE WYMUSZONEJ AKTYWNOŚCI OPTYCZNEJ Cel ćwiczenia: Zapoznanie się ze zjawiskiem Faradaya. Wyznaczenie stałej Verdeta dla danej próbki. Wyznaczenie wartości ładunku właściwego elektronu

Bardziej szczegółowo

Problemy optyki falowej. Teoretyczne podstawy zjawisk dyfrakcji, interferencji i polaryzacji światła.

Problemy optyki falowej. Teoretyczne podstawy zjawisk dyfrakcji, interferencji i polaryzacji światła. . Teoretyczne podstawy zjawisk dyfrakcji, interferencji i polaryzacji światła. Rozwiązywanie zadań wykorzystujących poznane prawa I LO im. Stefana Żeromskiego w Lęborku 27 luty 2012 Dyfrakcja światła laserowego

Bardziej szczegółowo

PL B1. Sposób i układ pomiaru całkowitego współczynnika odkształcenia THD sygnałów elektrycznych w systemach zasilających

PL B1. Sposób i układ pomiaru całkowitego współczynnika odkształcenia THD sygnałów elektrycznych w systemach zasilających RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 210969 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 383047 (51) Int.Cl. G01R 23/16 (2006.01) G01R 23/20 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22)

Bardziej szczegółowo

Katedra Fizyki Ciała Stałego Uniwersytetu Łódzkiego. Ćwiczenie 1 Badanie efektu Faraday a w monokryształach o strukturze granatu

Katedra Fizyki Ciała Stałego Uniwersytetu Łódzkiego. Ćwiczenie 1 Badanie efektu Faraday a w monokryształach o strukturze granatu Katedra Fizyki Ciała Stałego Uniwersytetu Łódzkiego Ćwiczenie 1 Badanie efektu Faraday a w monokryształach o strukturze granatu Cel ćwiczenia: Celem ćwiczenia jest pomiar kąta skręcenia płaszczyzny polaryzacji

Bardziej szczegółowo

PL B1. POLITECHNIKA WROCŁAWSKA, Wrocław, PL BUP 07/10. ZDZISŁAW NAWROCKI, Wrocław, PL DANIEL DUSZA, Inowrocław, PL

PL B1. POLITECHNIKA WROCŁAWSKA, Wrocław, PL BUP 07/10. ZDZISŁAW NAWROCKI, Wrocław, PL DANIEL DUSZA, Inowrocław, PL RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 213448 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 386136 (51) Int.Cl. H03H 11/16 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data zgłoszenia: 23.09.2008

Bardziej szczegółowo

PL B1. Urządzenie do badania nieciągłości struktury detali ferromagnetycznych na małej przestrzeni badawczej. POLITECHNIKA LUBELSKA, Lublin, PL

PL B1. Urządzenie do badania nieciągłości struktury detali ferromagnetycznych na małej przestrzeni badawczej. POLITECHNIKA LUBELSKA, Lublin, PL PL 212769 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 212769 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 381653 (51) Int.Cl. G01N 27/82 (2006.01) G01R 33/12 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej

Bardziej szczegółowo

PL B1. Lubuskie Zakłady Aparatów Elektrycznych LUMEL S.A.,Zielona Góra,PL BUP 16/04. Andrzej Au,Racula,PL

PL B1. Lubuskie Zakłady Aparatów Elektrycznych LUMEL S.A.,Zielona Góra,PL BUP 16/04. Andrzej Au,Racula,PL RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 200563 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 358608 (51) Int.Cl. G01R 5/14 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data zgłoszenia: 06.02.2003

Bardziej szczegółowo

PL 214592 B1. POLITECHNIKA CZĘSTOCHOWSKA, Częstochowa, PL 14.03.2011 BUP 06/11

PL 214592 B1. POLITECHNIKA CZĘSTOCHOWSKA, Częstochowa, PL 14.03.2011 BUP 06/11 PL 214592 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 214592 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 388915 (51) Int.Cl. G01B 5/28 (2006.01) G01C 7/04 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej

Bardziej szczegółowo

MGR 10. Ćw. 1. Badanie polaryzacji światła 2. Wyznaczanie długości fal świetlnych 3. Pokaz zmiany długości fali świetlnej przy użyciu lasera.

MGR 10. Ćw. 1. Badanie polaryzacji światła 2. Wyznaczanie długości fal świetlnych 3. Pokaz zmiany długości fali świetlnej przy użyciu lasera. MGR 10 10. Optyka fizyczna. Dyfrakcja i interferencja światła. Siatka dyfrakcyjna. Wyznaczanie długości fali świetlnej za pomocą siatki dyfrakcyjnej. Elektromagnetyczna teoria światła. Polaryzacja światła.

Bardziej szczegółowo

PL B1. Układ zabezpieczenia od zwarć doziemnych wysokooporowych w sieciach średniego napięcia. POLITECHNIKA WROCŁAWSKA, Wrocław, PL

PL B1. Układ zabezpieczenia od zwarć doziemnych wysokooporowych w sieciach średniego napięcia. POLITECHNIKA WROCŁAWSKA, Wrocław, PL RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 211182 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 385971 (51) Int.Cl. H02H 7/26 (2006.01) H02H 3/16 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data

Bardziej szczegółowo

PL B BUP 26/ WUP 04/07 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19)PL (11) (13) B1

PL B BUP 26/ WUP 04/07 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19)PL (11) (13) B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19)PL (11)194002 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 340855 (22) Data zgłoszenia: 16.06.2000 (51) Int.Cl. G01B 7/14 (2006.01)

Bardziej szczegółowo

40. Międzynarodowa Olimpiada Fizyczna Meksyk, lipca 2009 r. DWÓJŁOMNOŚĆ MIKI

40. Międzynarodowa Olimpiada Fizyczna Meksyk, lipca 2009 r. DWÓJŁOMNOŚĆ MIKI ZADANIE DOŚWIADCZALNE 2 DWÓJŁOMNOŚĆ MIKI W tym doświadczeniu zmierzysz dwójłomność miki (kryształu szeroko używanego w optycznych elementach polaryzujących). WYPOSAŻENIE Oprócz elementów 1), 2) i 3) powinieneś

Bardziej szczegółowo

PL B1. POLITECHNIKA WROCŁAWSKA, Wrocław, PL

PL B1. POLITECHNIKA WROCŁAWSKA, Wrocław, PL PL 217542 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 217542 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 395085 (22) Data zgłoszenia: 01.06.2011 (51) Int.Cl.

Bardziej szczegółowo

PL B1. POLITECHNIKA GDAŃSKA, Gdańsk, PL BUP 19/09. MACIEJ KOKOT, Gdynia, PL WUP 03/14. rzecz. pat.

PL B1. POLITECHNIKA GDAŃSKA, Gdańsk, PL BUP 19/09. MACIEJ KOKOT, Gdynia, PL WUP 03/14. rzecz. pat. PL 216395 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 216395 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 384627 (51) Int.Cl. G01N 27/00 (2006.01) H01L 21/00 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej

Bardziej szczegółowo

PL B1 A61B 1/26 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12)OPIS PATENTOWY (19)PL (11) (13) B1. (21) Numer zgłoszenia:

PL B1 A61B 1/26 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12)OPIS PATENTOWY (19)PL (11) (13) B1. (21) Numer zgłoszenia: RZECZPOSPOLITA POLSKA (12)OPIS PATENTOWY (19)PL (11)175300 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 305449 (22) Data zgłoszenia: 14.10.1994 (21) IntCl6: G01D 9/42 A61B 1/26

Bardziej szczegółowo

Fig. 2 PL B1 (13) B1 G02B 23/02 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) (21) Numer zgłoszenia:

Fig. 2 PL B1 (13) B1 G02B 23/02 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) (21) Numer zgłoszenia: RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 167356 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 293293 Urząd Patentowy (22) Data zgłoszenia: 24.01.1992 Rzeczypospolitej Polskiej (51) IntCl6: G02B 23/12 G02B

Bardziej szczegółowo

PL B1. ES-SYSTEM SPÓŁKA AKCYJNA, Kraków, PL BUP 17/08. BOGUSŁAW PILSZCZEK, Kraków, PL ARTUR ZAWADZKI, Kraków, PL

PL B1. ES-SYSTEM SPÓŁKA AKCYJNA, Kraków, PL BUP 17/08. BOGUSŁAW PILSZCZEK, Kraków, PL ARTUR ZAWADZKI, Kraków, PL RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 213579 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 381717 (51) Int.Cl. H05B 37/02 (2006.01) F21V 21/15 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22)

Bardziej szczegółowo

Ćwiczenie 363. Polaryzacja światła sprawdzanie prawa Malusa. Początkowa wartość kąta 0..

Ćwiczenie 363. Polaryzacja światła sprawdzanie prawa Malusa. Początkowa wartość kąta 0.. Nazwisko... Data... Nr na liście... Imię... Wydział... Dzień tyg.... Godzina... Polaryzacja światła sprawdzanie prawa Malusa Początkowa wartość kąta 0.. 1 25 49 2 26 50 3 27 51 4 28 52 5 29 53 6 30 54

Bardziej szczegółowo

PL B1. Hybrydowy układ optyczny do rozsyłu światła z tablicy znaków drogowych o zmiennej treści

PL B1. Hybrydowy układ optyczny do rozsyłu światła z tablicy znaków drogowych o zmiennej treści PL 219112 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 219112 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 392659 (22) Data zgłoszenia: 15.10.2010 (51) Int.Cl.

Bardziej szczegółowo

(13) B1 (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) PL B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA. (21) Numer zgłoszenia: (51) IntCl7 H02M 7/42

(13) B1 (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) PL B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA. (21) Numer zgłoszenia: (51) IntCl7 H02M 7/42 RZECZPOSPOLITA POLSKA Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 184340 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 323484 (22) Data zgłoszenia: 03.12.1997 (51) IntCl7 H02M 7/42 (54)

Bardziej szczegółowo

POLITECHNIKA WROCŁAWSKA,

POLITECHNIKA WROCŁAWSKA, PL 216377 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 216377 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 384643 (51) Int.Cl. B62K 21/18 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data zgłoszenia:

Bardziej szczegółowo

PL B1. HIKISZ BARTOSZ, Łódź, PL BUP 05/07. BARTOSZ HIKISZ, Łódź, PL WUP 01/16. rzecz. pat.

PL B1. HIKISZ BARTOSZ, Łódź, PL BUP 05/07. BARTOSZ HIKISZ, Łódź, PL WUP 01/16. rzecz. pat. PL 220905 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 220905 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 376878 (51) Int.Cl. F16H 7/00 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data zgłoszenia:

Bardziej szczegółowo

PL B1. Sposób wyznaczania błędów napięciowego i kątowego indukcyjnych przekładników napięciowych dla przebiegów odkształconych

PL B1. Sposób wyznaczania błędów napięciowego i kątowego indukcyjnych przekładników napięciowych dla przebiegów odkształconych PL 216925 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 216925 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 389198 (51) Int.Cl. G01R 35/02 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data zgłoszenia:

Bardziej szczegółowo

Fala EM w izotropowym ośrodku absorbującym

Fala EM w izotropowym ośrodku absorbującym Fala EM w izotropowym ośrodku absorbującym Fala EM powoduje generację zmienne pole elektryczne E Zmienne co do kierunku i natężenia, Pole E Nie wywołuje w ośrodku prądu elektrycznego Powoduje ruch elektronów

Bardziej szczegółowo

PL B1. Układ do lokalizacji elektroakustycznych przetworników pomiarowych w przestrzeni pomieszczenia, zwłaszcza mikrofonów

PL B1. Układ do lokalizacji elektroakustycznych przetworników pomiarowych w przestrzeni pomieszczenia, zwłaszcza mikrofonów PL 224727 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 224727 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 391882 (51) Int.Cl. G01S 5/18 (2006.01) G01S 3/80 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej

Bardziej szczegółowo

Pomiar drogi koherencji wybranych źródeł światła

Pomiar drogi koherencji wybranych źródeł światła Politechnika Gdańska WYDZIAŁ ELEKTRONIKI TELEKOMUNIKACJI I INFORMATYKI Katedra Optoelektroniki i Systemów Elektronicznych Pomiar drogi koherencji wybranych źródeł światła Instrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego

Bardziej szczegółowo

LASERY I ICH ZASTOSOWANIE

LASERY I ICH ZASTOSOWANIE LASERY I ICH ZASTOSOWANIE Laboratorium Instrukcja do ćwiczenia nr 5 Temat: Interferometr Michelsona 7.. Cel i zakres ćwiczenia 7 INTERFEROMETR MICHELSONA Celem ćwiczenia jest zapoznanie się z budową i

Bardziej szczegółowo

WYZNACZANIE DŁUGOŚCI FALI ŚWIETLNEJ ZA POMOCĄ SIATKI DYFRAKCYJNEJ

WYZNACZANIE DŁUGOŚCI FALI ŚWIETLNEJ ZA POMOCĄ SIATKI DYFRAKCYJNEJ ĆWICZENIE 84 WYZNACZANIE DŁUGOŚCI FALI ŚWIETLNEJ ZA POMOCĄ SIATKI DYFRAKCYJNEJ Cel ćwiczenia: Wyznaczenie długości fali emisji lasera lub innego źródła światła monochromatycznego, wyznaczenie stałej siatki

Bardziej szczegółowo

(12) OPIS PATENTOWY (19) PL

(12) OPIS PATENTOWY (19) PL RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 165426 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 291751 (22) Data zgłoszenia: 18.09.1991 (51) IntCl5: G01H5/00 G01N

Bardziej szczegółowo

WŁASNOŚCI FAL ELEKTROMAGNETYCZNYCH: INTERFERENCJA, DYFRAKCJA, POLARYZACJA

WŁASNOŚCI FAL ELEKTROMAGNETYCZNYCH: INTERFERENCJA, DYFRAKCJA, POLARYZACJA WŁASNOŚCI FAL ELEKTROMAGNETYCZNYCH: INTERFERENCJA, DYFRAKCJA, POLARYZACJA 1. Interferencja fal z dwóch źródeł 2. Fale koherentne i niekoherentne 3. Interferencja fal z wielu źródeł 4. Zasada Huygensa 5.

Bardziej szczegółowo

BADANIE INTERFEROMETRU YOUNGA

BADANIE INTERFEROMETRU YOUNGA Celem ćwiczenia jest: BADANIE INTERFEROMETRU YOUNGA 1. poznanie podstawowych właściwości interferometru z podziałem czoła fali w oświetleniu monochromatycznym i świetle białym, 2. demonstracja możliwości

Bardziej szczegółowo

Wyznaczanie współczynnika załamania światła

Wyznaczanie współczynnika załamania światła Ćwiczenie O2 Wyznaczanie współczynnika załamania światła O2.1. Cel ćwiczenia Celem ćwiczenia jest wyznaczenie współczynnika załamania światła dla przeźroczystych, płaskorównoległych płytek wykonanych z

Bardziej szczegółowo

PL 207433 B1. PRZEMYSŁOWY INSTYTUT AUTOMATYKI I POMIARÓW PIAP, Warszawa, PL 26.06.2006 BUP 13/06. ZBIGNIEW BORKOWICZ, Wrocław, PL 31.12.

PL 207433 B1. PRZEMYSŁOWY INSTYTUT AUTOMATYKI I POMIARÓW PIAP, Warszawa, PL 26.06.2006 BUP 13/06. ZBIGNIEW BORKOWICZ, Wrocław, PL 31.12. RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 207433 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 371716 (51) Int.Cl. G01N 27/82 (2006.01) B25J 15/06 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22)

Bardziej szczegółowo

PL B1. POLITECHNIKA LUBELSKA, Lublin, PL BUP 01/12. VIKTOR LOZBIN, Lublin, PL PIOTR BYLICKI, Świdnik, PL

PL B1. POLITECHNIKA LUBELSKA, Lublin, PL BUP 01/12. VIKTOR LOZBIN, Lublin, PL PIOTR BYLICKI, Świdnik, PL PL 218000 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 218000 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 391573 (51) Int.Cl. G01N 25/56 (2006.01) G01N 25/68 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej

Bardziej szczegółowo

Fizyka elektryczność i magnetyzm

Fizyka elektryczność i magnetyzm Fizyka elektryczność i magnetyzm W5 5. Wybrane zagadnienia z optyki 5.1. Światło jako część widma fal elektromagnetycznych. Fale elektromagnetyczne, które współczesny człowiek potrafi wytwarzać, i wykorzystywać

Bardziej szczegółowo

(12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 176571 (13) B1

(12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 176571 (13) B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 176571 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 307998 (22) Data zgłoszenia: 03.04.1995 (51) IntCl6: G01L1/24 B25J

Bardziej szczegółowo

PL B1. POLITECHNIKA WROCŁAWSKA, Wrocław, PL BUP 06/14

PL B1. POLITECHNIKA WROCŁAWSKA, Wrocław, PL BUP 06/14 PL 223622 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 223622 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 403511 (51) Int.Cl. G01T 1/04 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data zgłoszenia:

Bardziej szczegółowo

PL B1. POLITECHNIKA LUBELSKA, Lublin, PL BUP 21/11

PL B1. POLITECHNIKA LUBELSKA, Lublin, PL BUP 21/11 PL 218599 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 218599 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 390920 (51) Int.Cl. G01K 15/00 (2006.01) H01L 35/34 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej

Bardziej szczegółowo

PL B1. MAXSTAL SPÓŁKA Z OGRANICZONĄ ODPOWIEDZIALNOŚCIĄ, Kraków, PL BUP 05/14

PL B1. MAXSTAL SPÓŁKA Z OGRANICZONĄ ODPOWIEDZIALNOŚCIĄ, Kraków, PL BUP 05/14 PL 222028 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 222028 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 400506 (22) Data zgłoszenia: 24.08.2012 (51) Int.Cl.

Bardziej szczegółowo

PL B1. INSTYTUT MECHANIKI GÓROTWORU POLSKIEJ AKADEMII NAUK, Kraków, PL BUP 21/08. PAWEŁ LIGĘZA, Kraków, PL

PL B1. INSTYTUT MECHANIKI GÓROTWORU POLSKIEJ AKADEMII NAUK, Kraków, PL BUP 21/08. PAWEŁ LIGĘZA, Kraków, PL RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 209493 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 382135 (51) Int.Cl. G01F 1/698 (2006.01) G01P 5/12 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22)

Bardziej szczegółowo

Skręcenie płaszczyzny polaryzacji światła w cieczach (PF13)

Skręcenie płaszczyzny polaryzacji światła w cieczach (PF13) Skręcenie płaszczyzny polaryzacji światła w cieczach (PF13) Celem ćwiczenia jest: obserwacja zjawiska skręcenia płaszczyzny polaryzacji światła w roztworach cukru, obserwacja zależności kąta skręcenia

Bardziej szczegółowo

PL B1. POLITECHNIKA WROCŁAWSKA, Wrocław, PL BUP 25/09. ANDRZEJ KOLONKO, Wrocław, PL ANNA KOLONKO, Wrocław, PL

PL B1. POLITECHNIKA WROCŁAWSKA, Wrocław, PL BUP 25/09. ANDRZEJ KOLONKO, Wrocław, PL ANNA KOLONKO, Wrocław, PL RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 209351 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 385341 (51) Int.Cl. F16L 55/165 (2006.01) F16L 58/02 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22)

Bardziej szczegółowo

PL B1. POLITECHNIKA WROCŁAWSKA, Wrocław, PL BUP 19/10

PL B1. POLITECHNIKA WROCŁAWSKA, Wrocław, PL BUP 19/10 PL 218159 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 218159 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 387380 (22) Data zgłoszenia: 02.03.2009 (51) Int.Cl.

Bardziej szczegółowo

PL B1. Sposób chłodzenia ogniw fotowoltaicznych oraz urządzenie do chłodzenia zestawów modułów fotowoltaicznych

PL B1. Sposób chłodzenia ogniw fotowoltaicznych oraz urządzenie do chłodzenia zestawów modułów fotowoltaicznych PL 218032 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 218032 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 389224 (22) Data zgłoszenia: 07.10.2009 (51) Int.Cl.

Bardziej szczegółowo

Efekt Faradaya. Materiały przeznaczone dla studentów Inżynierii Materiałowej w Instytucie Fizyki Uniwersytetu Jagiellońskiego

Efekt Faradaya. Materiały przeznaczone dla studentów Inżynierii Materiałowej w Instytucie Fizyki Uniwersytetu Jagiellońskiego Efekt Faradaya Materiały przeznaczone dla studentów Inżynierii Materiałowej w Instytucie Fizyki Uniwersytetu Jagiellońskiego 1 Cel ćwiczenia Ćwiczenie jest eksperymentem z dziedziny optyki nieliniowej

Bardziej szczegółowo

PL B1. Akademia Górniczo-Hutnicza im. Stanisława Staszica,Kraków,PL BUP 17/05. Józef Salwiński,Kraków,PL Piotr Trzaskoś,Dębowiec,PL

PL B1. Akademia Górniczo-Hutnicza im. Stanisława Staszica,Kraków,PL BUP 17/05. Józef Salwiński,Kraków,PL Piotr Trzaskoś,Dębowiec,PL RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 202672 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 364956 (51) Int.Cl. A47G 29/12 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data zgłoszenia: 09.02.2004

Bardziej szczegółowo

WZORU UŻYTKOWEGO PL Y1 F16K 1/18 ( ) Fabryka ARMATURY HAWLE Sp. z o.o., Koziegłowy, PL BUP 25/07. Artur Kubicki, Poznań, PL

WZORU UŻYTKOWEGO PL Y1 F16K 1/18 ( ) Fabryka ARMATURY HAWLE Sp. z o.o., Koziegłowy, PL BUP 25/07. Artur Kubicki, Poznań, PL RZECZPOSPOLITA POLSKA Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (12) OPIS OCHRONNY WZORU UŻYTKOWEGO (21) Numer zgłoszenia: 116156 (22) Data zgłoszenia: 31.05.2006 (19) PL (11) 63991 (13) Y1 (51) Int.Cl.

Bardziej szczegółowo

PL B1. SKRZETUSKI RAFAŁ, Niemodlin, PL SKRZETUSKI ZBIGNIEW, Niemodlin, PL SKRZETUSKI BARTOSZ, Niemodlin, PL

PL B1. SKRZETUSKI RAFAŁ, Niemodlin, PL SKRZETUSKI ZBIGNIEW, Niemodlin, PL SKRZETUSKI BARTOSZ, Niemodlin, PL RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 209287 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 376523 (51) Int.Cl. E04H 17/20 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data zgłoszenia: 05.08.2005

Bardziej szczegółowo

OPTYKA FALOWA I (FTP2009L) Ćwiczenie 2. Dyfrakcja światła na szczelinach.

OPTYKA FALOWA I (FTP2009L) Ćwiczenie 2. Dyfrakcja światła na szczelinach. OPTYKA FALOWA I (FTP2009L) Ćwiczenie 2. Dyfrakcja światła na szczelinach. Zagadnienia, które należy znać przed wykonaniem ćwiczenia: Dyfrakcja światła to zjawisko fizyczne zmiany kierunku rozchodzenia

Bardziej szczegółowo

PL 210006 B1. POLITECHNIKA WARSZAWSKA, Warszawa, PL

PL 210006 B1. POLITECHNIKA WARSZAWSKA, Warszawa, PL RZECZPOSPOLITA POLSKA Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 210006 (21) Numer zgłoszenia: 380722 (22) Data zgłoszenia: 01.10.2006 (13) B1 (51) Int.Cl. A61G 5/02 (2006.01)

Bardziej szczegółowo

PL B1. Sposób i układ do modyfikacji widma sygnału ultraszerokopasmowego radia impulsowego. POLITECHNIKA GDAŃSKA, Gdańsk, PL

PL B1. Sposób i układ do modyfikacji widma sygnału ultraszerokopasmowego radia impulsowego. POLITECHNIKA GDAŃSKA, Gdańsk, PL PL 219313 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 219313 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 391153 (51) Int.Cl. H04B 7/00 (2006.01) H04B 7/005 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej

Bardziej szczegółowo

Badania elementów i zespołów maszyn laboratorium (MMM4035L)

Badania elementów i zespołów maszyn laboratorium (MMM4035L) Badania elementów i zespołów maszyn laboratorium (MMM4035L) Ćwiczenie 23. Zastosowanie elektronicznej interferometrii obrazów plamkowych (ESPI) do badania elementów maszyn. Opracowanie: Ewelina Świątek-Najwer

Bardziej szczegółowo

Fig. 1 (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) PL B1 (13) B1 G 01S 3/72 E21F 11/00 RZECZPOSPOLITA POLSKA. (21) Numer zgłoszenia:

Fig. 1 (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) PL B1 (13) B1 G 01S 3/72 E21F 11/00 RZECZPOSPOLITA POLSKA. (21) Numer zgłoszenia: RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 174214 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 296697 (22) Data zgłoszenia: 23.11.1992 (51) IntCl6: G01S 11/00 G

Bardziej szczegółowo

Wyznaczanie rozmiarów szczelin i przeszkód za pomocą światła laserowego

Wyznaczanie rozmiarów szczelin i przeszkód za pomocą światła laserowego Ćwiczenie O5 Wyznaczanie rozmiarów szczelin i przeszkód za pomocą światła laserowego O5.1. Cel ćwiczenia Celem ćwiczenia jest wykorzystanie zjawiska dyfrakcji i interferencji światła do wyznaczenia rozmiarów

Bardziej szczegółowo

PL B1. ADAPTRONICA SPÓŁKA Z OGRANICZONĄ ODPOWIEDZIALNOŚCIĄ, Łomianki k. Warszawy, PL BUP 20/10

PL B1. ADAPTRONICA SPÓŁKA Z OGRANICZONĄ ODPOWIEDZIALNOŚCIĄ, Łomianki k. Warszawy, PL BUP 20/10 PL 214845 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 214845 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 387534 (51) Int.Cl. F16F 9/50 (2006.01) F16F 9/508 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej

Bardziej szczegółowo

PL 214324 B1. SMAY SPÓŁKA Z OGRANICZONĄ ODPOWIEDZIALNOŚCIĄ, Kraków, PL 02.08.2010 BUP 16/10. JAROSŁAW WICHE, Kraków, PL 31.07.

PL 214324 B1. SMAY SPÓŁKA Z OGRANICZONĄ ODPOWIEDZIALNOŚCIĄ, Kraków, PL 02.08.2010 BUP 16/10. JAROSŁAW WICHE, Kraków, PL 31.07. PL 214324 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 214324 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 387102 (22) Data zgłoszenia: 23.01.2009 (51) Int.Cl.

Bardziej szczegółowo

FACULTY OF ADVANCED TECHNOLOGIES AND CHEMISTRY. Wprowadzenie Podstawowe prawa Przetwarzanie sygnału obróbka optyczna obróbka elektroniczna

FACULTY OF ADVANCED TECHNOLOGIES AND CHEMISTRY. Wprowadzenie Podstawowe prawa Przetwarzanie sygnału obróbka optyczna obróbka elektroniczna Interferometry światłowodowe Wprowadzenie Podstawowe prawa Przetwarzanie sygnału obróbka optyczna obróbka elektroniczna Wprowadzenie Układy te stanowią nową klasę czujników, gdzie podstawowy mechanizm

Bardziej szczegółowo

PL B1. Sposób pomiaru składowych impedancji czujnika indukcyjnego i układ pomiarowy składowych impedancji czujnika indukcyjnego

PL B1. Sposób pomiaru składowych impedancji czujnika indukcyjnego i układ pomiarowy składowych impedancji czujnika indukcyjnego PL 218944 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 218944 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 391744 (22) Data zgłoszenia: 05.07.2010 (51) Int.Cl.

Bardziej szczegółowo

PL B1. AKADEMIA GÓRNICZO-HUTNICZA IM. STANISŁAWA STASZICA W KRAKOWIE, Kraków, PL BUP 13/13

PL B1. AKADEMIA GÓRNICZO-HUTNICZA IM. STANISŁAWA STASZICA W KRAKOWIE, Kraków, PL BUP 13/13 PL 221694 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 221694 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 397538 (51) Int.Cl. G01R 31/34 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data zgłoszenia:

Bardziej szczegółowo

Rys. 1 Interferencja dwóch fal sferycznych w punkcie P.

Rys. 1 Interferencja dwóch fal sferycznych w punkcie P. Ćwiczenie 4 Doświadczenie interferencyjne Younga Wprowadzenie teoretyczne Charakterystyczną cechą fal jest ich zdolność do interferencji. Światło jako fala elektromagnetyczna również może interferować.

Bardziej szczegółowo

(13) B1 (12) OPIS PATENTOW Y (19)PL (11)182539 PL 182539 B1 B03C 1/025 B03C 1/18

(13) B1 (12) OPIS PATENTOW Y (19)PL (11)182539 PL 182539 B1 B03C 1/025 B03C 1/18 RZECZPOSPOLITA POLSKA Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (12) OPIS PATENTOW Y (19)PL (11)182539 (21) Numer zgłoszenia: 319932 (22) Data zgłoszenia: 13.05.1997 (13) B1 (51) IntCl7 B03C 1/025 B03C

Bardziej szczegółowo

PL B1. C & T ELMECH SPÓŁKA Z OGRANICZONĄ ODPOWIEDZIALNOŚCIĄ, Pruszcz Gdański, PL BUP 07/10

PL B1. C & T ELMECH SPÓŁKA Z OGRANICZONĄ ODPOWIEDZIALNOŚCIĄ, Pruszcz Gdański, PL BUP 07/10 PL 215666 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 215666 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 386085 (51) Int.Cl. H02M 7/48 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data zgłoszenia:

Bardziej szczegółowo

PL B1. PĘKACKI PAWEŁ, Skarżysko-Kamienna, PL BUP 02/06. PAWEŁ PĘKACKI, Skarżysko-Kamienna, PL

PL B1. PĘKACKI PAWEŁ, Skarżysko-Kamienna, PL BUP 02/06. PAWEŁ PĘKACKI, Skarżysko-Kamienna, PL RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 208199 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 369112 (51) Int.Cl. A61C 5/02 (2006.01) A61B 5/00 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data

Bardziej szczegółowo

(13) B1 (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) PL B1. Fig. 2 RZECZPOSPOLITA POLSKA. (21) Numer zgłoszenia:

(13) B1 (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) PL B1. Fig. 2 RZECZPOSPOLITA POLSKA. (21) Numer zgłoszenia: RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 178809 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 308862 (22) Data zgłoszenia: 01.06.1995 (51) IntCl7: F16B7/18 E04F

Bardziej szczegółowo

PL 208802 B1. NYK BOGUSŁAW, Warszawa, PL 13.10.2008 BUP 21/08. BOGUSŁAW NYK, Warszawa, PL 30.06.2011 WUP 06/11. rzecz. pat.

PL 208802 B1. NYK BOGUSŁAW, Warszawa, PL 13.10.2008 BUP 21/08. BOGUSŁAW NYK, Warszawa, PL 30.06.2011 WUP 06/11. rzecz. pat. RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 208802 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 382138 (51) Int.Cl. A47H 1/02 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data zgłoszenia: 04.04.2007

Bardziej szczegółowo

PL B1. Urządzenie wskazujące do elektronarzędzi, zwłaszcza wyposażonych w obrotowe tarcze, zwłaszcza dla szlifierek kątowych

PL B1. Urządzenie wskazujące do elektronarzędzi, zwłaszcza wyposażonych w obrotowe tarcze, zwłaszcza dla szlifierek kątowych PL 216884 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 216884 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 390556 (22) Data zgłoszenia: 26.02.2010 (51) Int.Cl.

Bardziej szczegółowo

Prawa optyki geometrycznej

Prawa optyki geometrycznej Optyka Podstawowe pojęcia Światłem nazywamy fale elektromagnetyczne, o długościach, na które reaguje oko ludzkie, tzn. 380-780 nm. O falowych własnościach światła świadczą takie zjawiska, jak ugięcie (dyfrakcja)

Bardziej szczegółowo

PL 203461 B1. Politechnika Warszawska,Warszawa,PL 15.12.2003 BUP 25/03. Mateusz Turkowski,Warszawa,PL Tadeusz Strzałkowski,Warszawa,PL

PL 203461 B1. Politechnika Warszawska,Warszawa,PL 15.12.2003 BUP 25/03. Mateusz Turkowski,Warszawa,PL Tadeusz Strzałkowski,Warszawa,PL RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 203461 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 354438 (51) Int.Cl. G01F 1/32 (2006.01) G01P 5/01 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data

Bardziej szczegółowo

Laboratorium Informatyki Optycznej ĆWICZENIE 3. Dwuekspozycyjny hologram Fresnela

Laboratorium Informatyki Optycznej ĆWICZENIE 3. Dwuekspozycyjny hologram Fresnela ĆWICZENIE 3 Dwuekspozycyjny hologram Fresnela 1. Wprowadzenie Holografia umożliwia zapis pełnej informacji o obiekcie, zarówno amplitudowej, jak i fazowej. Dzięki temu można m.in. odtwarzać trójwymiarowe

Bardziej szczegółowo

Ćwiczenie: "Zagadnienia optyki"

Ćwiczenie: Zagadnienia optyki Ćwiczenie: "Zagadnienia optyki" Opracowane w ramach projektu: "Wirtualne Laboratoria Fizyczne nowoczesną metodą nauczania realizowanego przez Warszawską Wyższą Szkołę Informatyki. Zakres ćwiczenia: 1.

Bardziej szczegółowo

PL B1. Urządzenie do pomiaru poziomowości i prostoliniowości elementów wydłużonych, zwłaszcza szyn suwnicowych

PL B1. Urządzenie do pomiaru poziomowości i prostoliniowości elementów wydłużonych, zwłaszcza szyn suwnicowych RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 205362 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 374034 (22) Data zgłoszenia: 31.03.2005 (51) Int.Cl. G01C 15/00 (2006.01)

Bardziej szczegółowo

PL B1. ADAPTRONICA SPÓŁKA Z OGRANICZONĄ ODPOWIEDZIALNOŚCIĄ, Łomianki, PL BUP 01/12

PL B1. ADAPTRONICA SPÓŁKA Z OGRANICZONĄ ODPOWIEDZIALNOŚCIĄ, Łomianki, PL BUP 01/12 PL 218470 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 218470 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 391629 (51) Int.Cl. G01M 3/28 (2006.01) F17D 5/02 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej

Bardziej szczegółowo

PL B1. Sposób oceny dokładności transformacji indukcyjnych przekładników prądowych dla prądów odkształconych. POLITECHNIKA ŁÓDZKA, Łódź, PL

PL B1. Sposób oceny dokładności transformacji indukcyjnych przekładników prądowych dla prądów odkształconych. POLITECHNIKA ŁÓDZKA, Łódź, PL PL 223692 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 223692 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 399602 (51) Int.Cl. G01R 35/02 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data zgłoszenia:

Bardziej szczegółowo

PL B1. AKADEMIA GÓRNICZO-HUTNICZA IM. STANISŁAWA STASZICA, Kraków, PL BUP 17/10

PL B1. AKADEMIA GÓRNICZO-HUTNICZA IM. STANISŁAWA STASZICA, Kraków, PL BUP 17/10 PL 214364 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 214364 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 387186 (22) Data zgłoszenia: 03.02.2009 (51) Int.Cl.

Bardziej szczegółowo

PL B1. POLITECHNIKA WROCŁAWSKA, Wrocław, PL BUP 02/14. PIOTR OSIŃSKI, Wrocław, PL WUP 10/16. rzecz. pat.

PL B1. POLITECHNIKA WROCŁAWSKA, Wrocław, PL BUP 02/14. PIOTR OSIŃSKI, Wrocław, PL WUP 10/16. rzecz. pat. PL 223648 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 223648 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 404800 (51) Int.Cl. F04C 2/08 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data zgłoszenia:

Bardziej szczegółowo

PL 175488 B1 (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 175488 (13) B1. (22) Data zgłoszenia: 08.12.1994

PL 175488 B1 (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 175488 (13) B1. (22) Data zgłoszenia: 08.12.1994 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 175488 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 306167 (22) Data zgłoszenia: 08.12.1994 (51) IntCl6: G01K 13/00 G01C

Bardziej szczegółowo

WYZNACZANIE PROMIENIA KRZYWIZNY SOCZEWKI I DŁUGOŚCI FALI ŚWIETLNEJ ZA POMOCĄ PIERŚCIENI NEWTONA

WYZNACZANIE PROMIENIA KRZYWIZNY SOCZEWKI I DŁUGOŚCI FALI ŚWIETLNEJ ZA POMOCĄ PIERŚCIENI NEWTONA Ćwiczenie 81 A. ubica WYZNACZANIE PROMIENIA RZYWIZNY SOCZEWI I DŁUGOŚCI FALI ŚWIETLNEJ ZA POMOCĄ PIERŚCIENI NEWTONA Cel ćwiczenia: poznanie prążków interferencyjnych równej grubości, wykorzystanie tego

Bardziej szczegółowo

PL B1. AKU SPÓŁKA Z OGRANICZONĄ ODPOWIEDZIALNOŚCIĄ, Tczew, PL BUP 25/11

PL B1. AKU SPÓŁKA Z OGRANICZONĄ ODPOWIEDZIALNOŚCIĄ, Tczew, PL BUP 25/11 PL 218174 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 218174 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 391342 (51) Int.Cl. B65B 9/08 (2006.01) B65D 75/00 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej

Bardziej szczegółowo

PL 210566 B1. UNIWERSYTET PRZYRODNICZY WE WROCŁAWIU, Wrocław, PL 11.07.2005 BUP 14/05. KAZIMIERZ ĆMIELEWSKI, Wrocław, PL 29.02.

PL 210566 B1. UNIWERSYTET PRZYRODNICZY WE WROCŁAWIU, Wrocław, PL 11.07.2005 BUP 14/05. KAZIMIERZ ĆMIELEWSKI, Wrocław, PL 29.02. RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 210566 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 371985 (51) Int.Cl. G02B 27/30 (2006.01) G02B 23/00 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22)

Bardziej szczegółowo

(54) (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) (13) B1 PL B1 C23F 13/04 C23F 13/22 H02M 7/155

(54) (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) (13) B1 PL B1 C23F 13/04 C23F 13/22 H02M 7/155 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 169318 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 296640 (22) Data zgłoszenia: 16.11.1992 (51) IntCl6: H02M 7/155 C23F

Bardziej szczegółowo

PL 208214 B1. DZIŻA SŁAWOMIR-PRACOWNIA PLASTYCZNA REKLAMA, Szadkowice, PL 12.12.2005 BUP 25/05. SŁAWOMIR DZIŻA, Szadkowice, PL 31.03.

PL 208214 B1. DZIŻA SŁAWOMIR-PRACOWNIA PLASTYCZNA REKLAMA, Szadkowice, PL 12.12.2005 BUP 25/05. SŁAWOMIR DZIŻA, Szadkowice, PL 31.03. RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 208214 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 368426 (51) Int.Cl. G09F 13/22 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data zgłoszenia: 07.06.2004

Bardziej szczegółowo

PL B1. AREVA T&D Spółka z o.o. Zakład Transformatorów w Mikołowie, Świebodzice,PL BUP 12/ WUP 10/09

PL B1. AREVA T&D Spółka z o.o. Zakład Transformatorów w Mikołowie, Świebodzice,PL BUP 12/ WUP 10/09 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 203542 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 344295 (51) Int.Cl. H02M 7/04 (2007.01) H02M 7/06 (2007.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data

Bardziej szczegółowo

Wykład FIZYKA II 8. Optyka falowa Dr hab. inż. Władysław Artur Woźniak Instytut Fizyki Politechniki Wrocławskiej http://www.if.pwr.wroc.pl/~wozniak/ Nakładanie się fal nazywamy ogólnie superpozycją. Nakładanie

Bardziej szczegółowo

PL B1. POLITECHNIKA WROCŁAWSKA, Wrocław, PL BUP 03/07. CZESŁAW KOZIARSKI, Wrocław, PL WUP 08/11

PL B1. POLITECHNIKA WROCŁAWSKA, Wrocław, PL BUP 03/07. CZESŁAW KOZIARSKI, Wrocław, PL WUP 08/11 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 209323 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 376387 (51) Int.Cl. B62K 3/02 (2006.01) B62M 1/02 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data

Bardziej szczegółowo

PL B1. DOROS TEODORA D. A. GLASS, Rzeszów, PL BUP 26/07. WIESŁAW DOROS, Rzeszów, PL ANGIE DOROS-ABRAMCZYK, Warszawa, PL

PL B1. DOROS TEODORA D. A. GLASS, Rzeszów, PL BUP 26/07. WIESŁAW DOROS, Rzeszów, PL ANGIE DOROS-ABRAMCZYK, Warszawa, PL RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 209383 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 379970 (51) Int.Cl. A47B 11/00 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data zgłoszenia: 19.06.2006

Bardziej szczegółowo

LABORATORIUM POMIARY W AKUSTYCE. ĆWICZENIE NR 4 Pomiar współczynników pochłaniania i odbicia dźwięku oraz impedancji akustycznej metodą fali stojącej

LABORATORIUM POMIARY W AKUSTYCE. ĆWICZENIE NR 4 Pomiar współczynników pochłaniania i odbicia dźwięku oraz impedancji akustycznej metodą fali stojącej LABORATORIUM POMIARY W AKUSTYCE ĆWICZENIE NR 4 Pomiar współczynników pochłaniania i odbicia dźwięku oraz impedancji akustycznej metodą fali stojącej 1. Cel ćwiczenia Celem ćwiczenia jest poznanie metody

Bardziej szczegółowo

PL B1. PRZEDSIĘBIORSTWO HAK SPÓŁKA Z OGRANICZONĄ ODPOWIEDZIALNOŚCIĄ, Wrocław, PL BUP 20/14. JACEK RADOMSKI, Wrocław, PL

PL B1. PRZEDSIĘBIORSTWO HAK SPÓŁKA Z OGRANICZONĄ ODPOWIEDZIALNOŚCIĄ, Wrocław, PL BUP 20/14. JACEK RADOMSKI, Wrocław, PL PL 224252 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 224252 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 403166 (51) Int.Cl. B66C 13/08 (2006.01) H02K 7/14 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej

Bardziej szczegółowo

,CZ,PUV FERMATA,

,CZ,PUV FERMATA, RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 198144 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 346437 (51) Int.Cl. G11B 23/40 (2006.01) G11B 7/24 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22)

Bardziej szczegółowo

PL B1 (13) B1. (54) Sposób i układ do pomiaru energii elektrycznej G 01R 21/127. (73) Uprawniony z patentu: (43) Zgłoszenie ogłoszono:

PL B1 (13) B1. (54) Sposób i układ do pomiaru energii elektrycznej G 01R 21/127. (73) Uprawniony z patentu: (43) Zgłoszenie ogłoszono: RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 170542 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 297 394 Urząd Patentowy (22) Data zgłoszenia: 11.01.1993 Rzeczypospolitej Polskiej (51) IntCl6: G 01R 21/127

Bardziej szczegółowo

PL B1. AKADEMIA GÓRNICZO-HUTNICZA IM. STANISŁAWA STASZICA W KRAKOWIE, Kraków, PL BUP 12/12

PL B1. AKADEMIA GÓRNICZO-HUTNICZA IM. STANISŁAWA STASZICA W KRAKOWIE, Kraków, PL BUP 12/12 PL 219586 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 219586 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 392996 (51) Int.Cl. H03F 1/30 (2006.01) H04R 3/06 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej

Bardziej szczegółowo

n 02 + n 02 ) / (n e2 polaryzator oś optyczna polaryskop polaryzator Rys. 28 Bieg promieni w polaryskopie Savarta.

n 02 + n 02 ) / (n e2 polaryzator oś optyczna polaryskop polaryzator Rys. 28 Bieg promieni w polaryskopie Savarta. Interferometria polaryzacyjna Po zapoznaniu się ze zjawiskiem podwójnego załamania w płytce z materiału anizotropowego moŝemy powrócić do części wykładu dotyczącej interferometrii, w szczególności interferometrii

Bardziej szczegółowo

PL B1. POLITECHNIKA LUBELSKA, Lublin, PL BUP 20/12

PL B1. POLITECHNIKA LUBELSKA, Lublin, PL BUP 20/12 PL 218402 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 218402 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 394247 (51) Int.Cl. B23F 5/27 (2006.01) B21D 53/28 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej

Bardziej szczegółowo