(57) Tester dynamiczny współpracujący z jednej strony (13) B1 (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) PL B1. (54) Tester dynamiczny

Wielkość: px
Rozpocząć pokaz od strony:

Download "(57) Tester dynamiczny współpracujący z jednej strony (13) B1 (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) PL B1. (54) Tester dynamiczny"

Transkrypt

1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: (22) Data zgłoszenia: (51) IntCl5: G01R 31/28 (54) Tester dynamiczny (43) Zgłoszenie ogłoszono: BUP 23/91 (73) Uprawniony z patentu: Centrum Naukowo-Produkcyjne Elektroniki Profesjonalnej "UNITRA RADWAR", Warszawskie Zakłady Radiowe "RAWAR", Warszawa, PL (45) O udzieleniu patentu ogłoszono: WUP 04/95 (72) Twórcy wynalazku: Irena Cichowska, Warszawa, PL Paweł Jarosz, Warszawa, PL Iwona Sapińska, Warszawa, PL Michał Tuszyński, Warszawa, PL PL B1 (57) Tester dynamiczny współpracujący z jednej strony z komputerem, z drugiej zaś z badanym blokiem cyfrowym, zawierający blok buforów szyny komputera i blok dekodera adresów, dołączone do wyjść komputera oraz umieszczony na ich wyjściu blok sterowania połączony poprzez blok pamięci testera z blokiem układów wejściowo-wyjściowych, znam ienny tym, że blok sterowania (3) składa się z bloku odczytu adresów (6), którego pierwsze wejście połączone Jest z wyjściem bloku buforów szyny komputera (1) oraz z komparatora okna obserwacji (8), którego wejście połączone jest z wyjściem bloku dekodera adresów (2), a wyjście z wejściem generatora sygnałów sterujących (9) i jednocześnie z drugim wejściem bloku odczytu adresów (6) i pierwszym wejściem bloku generacji adresu i sterowania (7), przy czym wyjścia generatora sygnałów sterujących (9) są połączone kolejno, pierwsze z trzecim wejściem bloku odczytu adresów (6), drugie z drugim wejściem bloku generacji adresu i sterowania (7). a trzecie z drugim wejściem bloku pamięci testera (4) i ponadto pierwsze wyjście bloku generacji adresu i sterowania (7) jest dołączone do czwartego wejścia bloku odczytu adresów (6), drugie zaś do pierwszego wejścia bloku pamięci testera (4). Fig. 2

2 Tester dynamiczny Zastrzeżenie patentowe Tester dynamiczny współpracujący z jednej strony z komputerem, z drugiej zaś z badanym blokiem cyfrowym, zawierający blok buforów szyny komputera i blok dekodera adresów, dołączone do wyjść komputera oraz umieszczony na ich wyjściu blok sterowania połączony poprzez blok pamięci testera z blokiem układów wejściowo-wyjściowych, znamienny tym, że blok sterowania (3) składa się z bloku odczytu adresów (6), którego pierwsze wejście połączone jest z wyjściem bloku buforów szyny komputera (1) oraz z komparatora okna obserwacji (8), którego wejście połączone jest z wyjściem bloku dekodera adresów (2), a wyjście z wejściem generatora sygnałów sterujących (9) i jednocześnie z drugim wejściem bloku odczytu adresów (6) i pierwszym wejściem bloku generacji adresu i sterowania (7), przy czym wyjścia generatora sygnałów sterujących (9) są połączone kolejno, pierwsze z trzecim wejściem bloku odczytu adresów (6), drugie z drugim wejściem bloku generacji adresu i sterowania (7), a trzecie z drugim wejściem bloku pamięci testera (4) i ponadto pierwsze wyjście bloku generacji adresu i sterowania (7) jest dołączone do czwartego wejścia bloku odczytu adresów (6), drugie zaś do pierwszego wejścia bloku pamięci testera (4). * * * Przedmiotem wynalazku jest tester dynamiczny przeznaczony do testowania bloków cyfrowych wchodzących w skład toru przetwarzania sygnału wizyjnego w stacji radiolokacyjnej. Znany jest układ testowania dynamicznego funkcjonalnego, przeznaczony do kontroli układów scalonych i innych badanych obiektów, w których istotne są przebiegi czasowe, opisany w 24 numerze zeszytu "Elektronizacja - Systemy pomiarowe" aut. Andrzej Sowiński, wyd. K i Ł, Wa-wa 1986r., na str Układ ten zawiera układ sterujący i połączoną z nim pamięć buforową. Na jej wyjściu znajduje się komparator oraz układ stymulujący, połączone z układem badanym dołączonym do drugich wejść komparatora sterowanego z układu sterującego. Układ sterujący jest jednocześnie połączony szyną z układem stymulującym. Dwa zbiory słów, przygotowane w komputerze są wprowadzane do pamięci buforowej. Część informacji jest wprowadzana przez układ stymulujący na wejścia badanego układu, a część na wejścia komparatora. Na inne wejścia komparatora jest podawana informacja wyjściowa z badanego układu i porównywana z informacją pamięci buforowej. W czasie testowania pamięć buforowa jest rozładowywana cyklicznie, co powoduje pojawienie się kolejnych słów na wejściu badanego układu. Znany jest również z polskiego opisu patentowego nr "Sposób testowania i tester układów elektronicznych", przeznaczony do stosowania w produkcji aparatury elektronicznej. Tester według tego patentu zawiera testowaną i wzorcową płytkę, których wyjścia są połączone przez zespoły sond analogowych i analogowy komutator z urządzeniami pozwalającymi na odczyt i interpretację wyników pomiarów. Wyjście analogowego komutatora jest połączone z elektronicznym rozdzielającym układem. Testowanie układów elektronicznych polega na porównaniu wielkości mierzonej z wielkością wzorcową. Sygnały próbek pobiera się z testowanej i wzorcowej płytki, po czym sygnały te podaje się do układu komutacji. Tester dynamiczny według wynalazku wyróżnia się tym, że jego blok sterowania składa się z bloku odczytu adresów, którego pierwsze wejście połączone jest z wyjściem bloku buforów szyny komputera oraz z komparatora okna obserwacji, którego wejście połączone jest z wyjściem bloku dekodera adresów a wyjście z wejściem generatora sygnałów sterujących i jednocześnie z drugim wejściem bloku odczytu adresów i pierwszym wejściem bloku generacji adresu i sterowania. Wyjścia generatora sygnałów sterujących są połączone kolejno, pierwsze z trzecim wejściem bloku odczytu adresów, drugie z drugim wejściem bloku generacji adresu i sterowania

3 a trzecie z drugim wejściem bloku pamięci testera. Ponadto pierwsze wyjście bloku generacji adresu i sterowania jest dołączone do czwartego wejścia bloku odczytu adresów, drugie zaś do pierwszego wejścia bloku pamięci testera. Korzystną cechą testera dynamicznego według wynalazku jest możliwość realizacji trzech funkcji: rejestracji, imitacji i testowania, co pozwala na wszechstronne i szybkie badanie bloków cyfrowych, przy pełnej szybkości działania w warunkach zbliżonych do warunków rzeczywistych oraz ocenę ich parametrów czasowych. Przedmiot wynalazku jest uwidoczniony w przykładzie wykonania na rysunku, na którym fig. 1 przedstawia jego schemat blokowy, a fig. 2 - schemat blokowy bloku sterowania testera według wynalazku. Tester dynamiczny według wynalazku jest dołączony z jednej strony do szyny komputera typu IBM PC 10, a z drugiej do badanego bloku cyfrowego i składa się z bloku buforów szyny komputera 1, którego wyjście jest połączone z blokiem sterowania 3 i jednocześnie z pierwszym wejściem bloku pamięci testera 4 oraz z bloku dekodera adresów 2 połączonego z drugim wejściem bloku sterowania 3. Jedno wyjście tego bloku jest połączone z drugim wejściem bloku pamięci testera 4. Trzecie wejście bloku pamięci testera 4 jest dołączone do wyjścia bloku układów wejściowo-wyjściowych 5, a wyjście bloku pamięci testera 4 jest połączone z pierwszym wejściem bloku układów wejściowo-wyjściowych 5. Blok ten jest połączony z badanym blokiem cyfrowym przez szynę danych wyjściowych WY i dwie szyny wejściowe: szynę sygnałów sterujących WE1 i szynę danych wejściowych WE2. Drugie wyjście bloku sterowania 3 jest połączone z drugim wejściem bloku układów wejściowo-wyjściowych 5. Blok sterowania 3 jest zbudowany z bloku odczytu adresów 6, którego pierwsze wejście połączone jest z wyjściem bloku buforów szyny komputera 1 oraz z komparatora okna obserwacji 8, którego wejście połączone jest z wyjściem bloku dekodera adresów 2. Wyjście komparatora okna obserwacji 8 połączone jest z wejściem generatora sygnałów sterujących 9 i jednocześnie z drugim wejściem bloku odczytu adresów 6 i pierwszym wejściem bloku generacji adresu i sterowania 7. Wyjścia generatora sygnałów sterujących 9 są połączone kolejno, pierwsze z trzecim wejściem bloku odczytu adresów 6, drugie z drugim wejściem bloku generacji adresu i sterowania 7, a trzecie z drugim wejściem bloku pamięci testera 4. Ponadto pierwsze wyjście bloku generacji adresu i sterowania 7 jest dołączone do czwartego wejścia bloku odczytu adresów 6, drugie zaś do pierwszego wejścia bloku pamięci testera 4. Blok buforów szyny komputera 1 jest zbudowany z dwóch trójstanowych 8-bitowych rejestrów buforujących szynę adresową, 8-bitowego bufora sygnałów sterujących i 8-bitowego trójstanowego bufora szyny danych komputera. Blok ten zapewnia odseparowanie szyn wewnętrznych testera od szyny komputera, zachowanie właściwego obciążenia szyny komputera i właściwe warunki sterowania szyn wewnętrznych testera. Blok dekodera adresów 2 zawiera układ PAL dekodujący adres w przestrzeni adresowej pamięci i układ 8-bitowego komparatora oraz układ PAL dekodujący adres w przestrzeni adresowej wejście/wyjście. Blok ten zapewnia reagowanie przez tester dynamiczny na właściwe adresy generowane przez komputer 10. Blok pamięci testera 4 składa się z sześciu układów pamięci statycznej CMOS RAM oraz sześciu dwukierunkowych buforów trójstanowych. Połączenie buforów z układami pamięci umożliwia zapisywanie i odczytywanie danych 8-bitowych, wykorzystywane do współpracy testera z komputerem oraz odczytywanie i zapisywanie danych 48-bitowych przy pracy w trybie rejestracji, imitacji i testowania. Wyjścia układów pamięci są dołączone także do bloku układów wejściowo-wyjściowych 5. Blok ten składa się z kolei z układów buforujących i rozdzielających linie wejściowe od linii wyjściowych zespołów rejestrów szyn wejściowych i wyjściowych oraz układów buforujących wejściową szynę sygnałów sterujących. Blok odczytu adresów 6 zawiera układ równoległego wejścia/wyjście, służący do wytwarzania sygnałów sterujących pracą testera oraz odczytu stanu testera i aktualnego adresu pamięci. Blok ten umożliwia sterowanie testerem przez współpracujący z nim komputer. Blok komparatora okna obserwacji 8 zawiera sześć 16-bitowych liczników, które poprzez zliczanie impulsów z szyny sygnałów sterujących umożliwiają ustalenie obszaru, w którym tester jest aktywny. Blok generacji adresu i sterowania 7 zawiera dwa układy PAL służące do generacji sygnałów

4 sterujących blokiem pamięci, blokiem układów wejściowo-wyjściowych oraz blokiem generacji adresów i sygnałów, informujących o stanie testera. Działanie testera według wynalazku jest następujące: badany blok cyfrowy, którego wejścia danych są połączone z szyną danych wyjściowych, a wyjścia danych są połączone z szyną danych wejściowych testera jest pobudzany sygnałem cyfrowym zapisanym w pamięci testera, a dane wyjściowe badanego bloku są zapisywane w pamięci testera. Po zarejestrowaniu danych wyjściowych są one przesyłane do komputera typu IBM PC 10 i poddawane analizie, która umożliwia zbadanie poprawności działania bloku i wyznaczenie parametrów sygnałowych bloku. Sygnał pobudzający blok może także zostać wygenerowany przez komputer, co pozwala na tworzenie złożonych sygnałów syntetycznych umożliwiających wszechstronne testowanie bloku. Ponieważ analiza zarejestrowanych odpowiedzi bloku odbywa się na drodze programowej, możliwe jest wykorzystanie skomplikowanych algorytmów wyznaczających parametry, trudne do zbadania w inny sposób. W przypadku badania bloków z wejściami lub wyjściami analogowymi możliwe jest także zastosowanie przystawek wyposażonych w przetworniki analogowo-cyfrowe i cyfrowo-analogowe. Tester według wynalazku może pracować w dwóch trybach: w trybie podporządkowanym oraz w trybie automatycznym, w którym wykonuje jedną z trzech funkcji: rejestrację, imitację łub testowanie. W trybie podporządkowanym jest on obsługiwany przez komputer jako urządzenie wejście/wyjście i blok pamięci RAM, co pozwala na przesyłanie danych pomiędzy komputerem współpracującym z testerem i pamięcią testera oraz programowanie testera. Funkcja rejestracji poza rejestracją cyfrowego sygnału wizyjnego z toru przetwarzania sygnału wizyjnego działającej stacji radiolokacyjnej może być także wykorzystywana do rejestracji sygnału wyjściowego badanego bloku. Funkcja imitacji umożliwia pobudzenie badanego bloku sygnałem imitującym rzeczywisty sygnał radiolokacyjny. Główną funkcją jest testowanie polegające na jednoczesnym wykonywaniu przez tester funkcji imitacji i rejestracji. W czasie testowania tester wysyła na szynę danych wyjściowych dane zapisane w swojej pamięci, w ten sposób imitując stację radiolokacyjną, jednocześnie zapisując w pamięci dane wyjściowe bloku przesyłane po szynie danych wejściowych testera. Wysyłanie i wczytywanie danych jest zawsze synchronizowane sygnałem zegarowym, pobieranym z zewnątrz testera. Może to być na przykład sygnał zegara odległości. Obszar przestrzeni obserwowanej przez tester, czyli tak zwane okno obserwacji, w którym tester pracuje w trybie autonomicznym ma kształt wycinka pierścienia o rozmiarach określonych przez zaprogramowane parametry: początkowy i końcowy numer impulsu sygnału sondowania oraz początkowy i końcowy numer impulsu sygnału zegara odległości. Blok komparatora okna obserwacji zlicza impulsy sygnałów zegara obrotu, sondowania czyli azymutu i odległości. Następnie wysyła odpowiednio zsynchronizowany sygnał powodujący zmianę trybu pracy z podporządkowanego na autonomiczny. W czasie pracy w trybie autonomicznym każdy impuls sygnału zegara odległości powoduje, w zależności od wykonywanej funkcji zapisanie, odczytanie lub zapisanie i odczytanie danych w pamięci testera oraz wyznaczenie nowego adresu pamięci przez blok generacji adresów. Blok generacji sygnałów sterujących blokuje w tym czasie dostęp do pamięci testera przez komputer i wysyła odpowiednie sygnały stanu testera, które komputer może odczytać za pomocą bloku odczytu adresu i sterowania. Po zakończeniu pracy w trybie autonomicznym tester wraca do trybu podporządkowanego, w którym możliwe jest przesłanie zawartości pamięci testera do komputera i wpisanie do niej nowych danych.

5 Fig. 1 Fig. 2 Departament Wydawnictw UP RP. Nakład 90 egz. Cena 1,00 zł.

(13) B1 (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) PL B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA. (21) Numer zgłoszenia: (51) IntCl7 H02M 7/42

(13) B1 (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) PL B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA. (21) Numer zgłoszenia: (51) IntCl7 H02M 7/42 RZECZPOSPOLITA POLSKA Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 184340 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 323484 (22) Data zgłoszenia: 03.12.1997 (51) IntCl7 H02M 7/42 (54)

Bardziej szczegółowo

PL B1 H04L 17/00. Fig2. Instytut Łączności, Warszawa, PL. Józef Odrobiński, Warszawa, PL Zbigniew Główka, Warszawa, PL

PL B1 H04L 17/00. Fig2. Instytut Łączności, Warszawa, PL. Józef Odrobiński, Warszawa, PL Zbigniew Główka, Warszawa, PL RZECZPOSPOLITA POLSKA Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej ( 1 2 ) OPIS PATENTOWY ( 1 9 ) PL (11) 187506 ( 1 3 ) B1 (21) Numer zgłoszenia 324539 ( 5 1 ) IntCl7 H04L 17/00 (22) Data zgłoszenia 28.01.1998

Bardziej szczegółowo

H03K 3/86 (13) B1 (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) PL B1 RZECZPO SPO LITA POLSKA. (21) Numer zgłoszenia:

H03K 3/86 (13) B1 (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) PL B1 RZECZPO SPO LITA POLSKA. (21) Numer zgłoszenia: RZECZPO SPO LITA POLSKA Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 173599 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 304553 (22) Data zgłoszenia: 04.08.1994 (51) IntCl6: H03K 3/86 (

Bardziej szczegółowo

PL B1. Sposób i układ pomiaru całkowitego współczynnika odkształcenia THD sygnałów elektrycznych w systemach zasilających

PL B1. Sposób i układ pomiaru całkowitego współczynnika odkształcenia THD sygnałów elektrycznych w systemach zasilających RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 210969 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 383047 (51) Int.Cl. G01R 23/16 (2006.01) G01R 23/20 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22)

Bardziej szczegółowo

PL B1 PRZEDSIĘBIORSTWO BADAWCZO- -PRODUKCYJNE I USŁUGOWO-HANDLOWE MICON SPÓŁKA Z OGRANICZONĄ ODPOWIEDZIALNOŚCIĄ, KATOWICE, PL

PL B1 PRZEDSIĘBIORSTWO BADAWCZO- -PRODUKCYJNE I USŁUGOWO-HANDLOWE MICON SPÓŁKA Z OGRANICZONĄ ODPOWIEDZIALNOŚCIĄ, KATOWICE, PL RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 205621 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 368490 (22) Data zgłoszenia: 14.06.2004 (51) Int.Cl. H04L 29/00 (2006.01)

Bardziej szczegółowo

(54) (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) (13) B1 PL B1 C23F 13/04 C23F 13/22 H02M 7/155

(54) (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) (13) B1 PL B1 C23F 13/04 C23F 13/22 H02M 7/155 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 169318 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 296640 (22) Data zgłoszenia: 16.11.1992 (51) IntCl6: H02M 7/155 C23F

Bardziej szczegółowo

PL 175488 B1 (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 175488 (13) B1. (22) Data zgłoszenia: 08.12.1994

PL 175488 B1 (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 175488 (13) B1. (22) Data zgłoszenia: 08.12.1994 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 175488 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 306167 (22) Data zgłoszenia: 08.12.1994 (51) IntCl6: G01K 13/00 G01C

Bardziej szczegółowo

(12) OPIS PATENTOWY (19)PL (11) 172082 (13) B1

(12) OPIS PATENTOWY (19)PL (11) 172082 (13) B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19)PL (11) 172082 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 300168 (51) IntCl6: G07G 1/12 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data zgłoszenia: 19.08.1993 (54)

Bardziej szczegółowo

(13) B1 (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) PL B1 G06F 12/16 G06F 1/30 H04M 1/64. (57)1. Układ podtrzymywania danych przy

(13) B1 (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) PL B1 G06F 12/16 G06F 1/30 H04M 1/64. (57)1. Układ podtrzymywania danych przy RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 175315 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 307287 (22) Data zgłoszenia: 15.02.1995 (51) IntCl6: H04M 1/64 G06F

Bardziej szczegółowo

PL 198457 B1. ABB Sp. z o.o.,warszawa,pl 17.12.2001 BUP 26/01. Michał Orkisz,Kraków,PL Mirosław Bistroń,Jarosław,PL 30.06.

PL 198457 B1. ABB Sp. z o.o.,warszawa,pl 17.12.2001 BUP 26/01. Michał Orkisz,Kraków,PL Mirosław Bistroń,Jarosław,PL 30.06. RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 198457 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 340813 (51) Int.Cl. G06F 17/21 (2006.01) G06Q 10/00 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22)

Bardziej szczegółowo

(12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 186542 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 327422 PL 186542 B1

(12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 186542 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 327422 PL 186542 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 186542 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 327422 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data zgłoszenia: 10.07.1998 (51 ) IntCl7 G01N 33/24 G01N

Bardziej szczegółowo

(12)OPIS PATENTOWY (19)PL (11)186470

(12)OPIS PATENTOWY (19)PL (11)186470 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12)OPIS PATENTOWY (19)PL (11)186470 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia. 327773 (22) Data zgłoszenia- 29.07.1998 (13)B1 (51 ) IntCl7 G06F 13/14 H04M 11/06

Bardziej szczegółowo

Temat: Pamięci. Programowalne struktury logiczne.

Temat: Pamięci. Programowalne struktury logiczne. Temat: Pamięci. Programowalne struktury logiczne. 1. Pamięci są układami służącymi do przechowywania informacji w postaci ciągu słów bitowych. Wykonuje się jako układy o bardzo dużym stopniu scalenia w

Bardziej szczegółowo

PL B1 (13) B1. (54) Sposób i układ do pomiaru energii elektrycznej G 01R 21/127. (73) Uprawniony z patentu: (43) Zgłoszenie ogłoszono:

PL B1 (13) B1. (54) Sposób i układ do pomiaru energii elektrycznej G 01R 21/127. (73) Uprawniony z patentu: (43) Zgłoszenie ogłoszono: RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 170542 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 297 394 Urząd Patentowy (22) Data zgłoszenia: 11.01.1993 Rzeczypospolitej Polskiej (51) IntCl6: G 01R 21/127

Bardziej szczegółowo

(12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11)

(12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) RZECZPOSPOLITA POLSKA Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 181834 (21) Numer zgłoszenia: 326385 (22) Data zgłoszenia: 30.10.1996 (86) Data i numer zgłoszenia międzynarodowego:

Bardziej szczegółowo

RZECZPOSPOLITA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11)

RZECZPOSPOLITA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) RZECZPOSPOLITA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 161259 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 282353 (51) IntCl5: G01R 13/00 Urząd Patentowy (22) Data zgłoszenia: 16.11.1989 Rzeczypospolitej Polskiej (54)Charakterograf

Bardziej szczegółowo

(12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 180331 (13) B1 PL 180331 B1 H04M 11/00 H04L 12/16 G06F 13/00 RZECZPOSPOLITA POLSKA. (21) Numer zgłoszenia: 315315

(12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 180331 (13) B1 PL 180331 B1 H04M 11/00 H04L 12/16 G06F 13/00 RZECZPOSPOLITA POLSKA. (21) Numer zgłoszenia: 315315 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 180331 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 315315 (22) Data zgłoszenia: 17.07.1996 (51) IntCl7: H04M 1/64 H04M

Bardziej szczegółowo

PL B1. Akademia Górniczo-Hutnicza im. St. Staszica,Kraków,PL BUP 24/01. Wiesław Wajs,Kraków,PL

PL B1. Akademia Górniczo-Hutnicza im. St. Staszica,Kraków,PL BUP 24/01. Wiesław Wajs,Kraków,PL RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19)PL (11)195329 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 340134 (51) Int.Cl. G05B 15/00 (2006.01) G06F 15/163 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22)

Bardziej szczegółowo

PL B1. Sposób badania przyczepności materiałów do podłoża i układ do badania przyczepności materiałów do podłoża

PL B1. Sposób badania przyczepności materiałów do podłoża i układ do badania przyczepności materiałów do podłoża RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 203822 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 358564 (51) Int.Cl. G01N 19/04 (2006.01) G01N 29/00 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22)

Bardziej szczegółowo

(54) (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) PL B1 (13) B1 H02J 3/12

(54) (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) PL B1 (13) B1 H02J 3/12 (54) RZECZPOSPOLITA POLSKA Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 181465 (21) Numer zgłoszenia: 324043 (22) Data zgłoszenia: 17.05.1996 (86) Data i numer zgłoszenia

Bardziej szczegółowo

(12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) (13) B1

(12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) (13) B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 175293 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 306266 (22) Data zgłoszenia: 12.12.1994 (51) IntCl6: G01R 31/08 (54)

Bardziej szczegółowo

PL B1. Sposób i układ do modyfikacji widma sygnału ultraszerokopasmowego radia impulsowego. POLITECHNIKA GDAŃSKA, Gdańsk, PL

PL B1. Sposób i układ do modyfikacji widma sygnału ultraszerokopasmowego radia impulsowego. POLITECHNIKA GDAŃSKA, Gdańsk, PL PL 219313 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 219313 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 391153 (51) Int.Cl. H04B 7/00 (2006.01) H04B 7/005 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej

Bardziej szczegółowo

PL 214592 B1. POLITECHNIKA CZĘSTOCHOWSKA, Częstochowa, PL 14.03.2011 BUP 06/11

PL 214592 B1. POLITECHNIKA CZĘSTOCHOWSKA, Częstochowa, PL 14.03.2011 BUP 06/11 PL 214592 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 214592 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 388915 (51) Int.Cl. G01B 5/28 (2006.01) G01C 7/04 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej

Bardziej szczegółowo

PL B1. UNIWERSYTET ŁÓDZKI, Łódź, PL BUP 03/06. JANUSZ BACZYŃSKI, Łódź, PL MICHAŁ BACZYŃSKI, Łódź, PL

PL B1. UNIWERSYTET ŁÓDZKI, Łódź, PL BUP 03/06. JANUSZ BACZYŃSKI, Łódź, PL MICHAŁ BACZYŃSKI, Łódź, PL RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 208357 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 369252 (22) Data zgłoszenia: 23.07.2004 (51) Int.Cl. H04B 3/46 (2006.01)

Bardziej szczegółowo

(2)Data zgłoszenia: (57) Układ do obniżania temperatury spalin wylotowych oraz podgrzewania powietrza kotłów energetycznych,

(2)Data zgłoszenia: (57) Układ do obniżania temperatury spalin wylotowych oraz podgrzewania powietrza kotłów energetycznych, RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 173096 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 302418 (2)Data zgłoszenia: 28.02.1994 (51) IntCl6: F23L 15/00 F23J

Bardziej szczegółowo

PL 204370 B1. Moduł pomiarowy wielokrotnego użytku do pomiaru temperatury wewnątrz konstrukcji budowlanych. Instytut Techniki Budowlanej, Warszawa,PL

PL 204370 B1. Moduł pomiarowy wielokrotnego użytku do pomiaru temperatury wewnątrz konstrukcji budowlanych. Instytut Techniki Budowlanej, Warszawa,PL RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 204370 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 365980 (22) Data zgłoszenia: 08.03.2004 (51) Int.Cl. G01K 1/02 (2006.01)

Bardziej szczegółowo

PL B1. TELEKOMUNIKACJA POLSKA SPÓŁKA AKCYJNA, Warszawa, PL BUP 11/09. JACEK IGALSON, Warszawa, PL WALDEMAR ADAMOWICZ, Warszawa, PL

PL B1. TELEKOMUNIKACJA POLSKA SPÓŁKA AKCYJNA, Warszawa, PL BUP 11/09. JACEK IGALSON, Warszawa, PL WALDEMAR ADAMOWICZ, Warszawa, PL PL 213874 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 213874 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 383846 (51) Int.Cl. G04G 7/00 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data zgłoszenia:

Bardziej szczegółowo

(2)Data zgłoszenia:

(2)Data zgłoszenia: RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 170702 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (2 1) Numer zgłoszenia: 298615 (2)Data zgłoszenia: 15.04.1993 (5 1) IntCl6: G01G 11/04 G01G3/14

Bardziej szczegółowo

PL B1. Układ do lokalizacji elektroakustycznych przetworników pomiarowych w przestrzeni pomieszczenia, zwłaszcza mikrofonów

PL B1. Układ do lokalizacji elektroakustycznych przetworników pomiarowych w przestrzeni pomieszczenia, zwłaszcza mikrofonów PL 224727 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 224727 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 391882 (51) Int.Cl. G01S 5/18 (2006.01) G01S 3/80 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej

Bardziej szczegółowo

Architektura komputerów

Architektura komputerów Architektura komputerów Tydzień 11 Wejście - wyjście Urządzenia zewnętrzne Wyjściowe monitor drukarka Wejściowe klawiatura, mysz dyski, skanery Komunikacyjne karta sieciowa, modem Urządzenie zewnętrzne

Bardziej szczegółowo

Technika Cyfrowa. Badanie pamięci

Technika Cyfrowa. Badanie pamięci LABORATORIUM Technika Cyfrowa Badanie pamięci Opracował: mgr inż. Andrzej Biedka CEL ĆWICZENIA Celem ćwiczenia jest zapoznanie się studentów z budową i zasadą działania scalonych liczników asynchronicznych

Bardziej szczegółowo

PL B1. INSTYTUT MECHANIKI GÓROTWORU POLSKIEJ AKADEMII NAUK, Kraków, PL BUP 21/08. PAWEŁ LIGĘZA, Kraków, PL

PL B1. INSTYTUT MECHANIKI GÓROTWORU POLSKIEJ AKADEMII NAUK, Kraków, PL BUP 21/08. PAWEŁ LIGĘZA, Kraków, PL RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 209493 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 382135 (51) Int.Cl. G01F 1/698 (2006.01) G01P 5/12 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22)

Bardziej szczegółowo

PL B1. POLITECHNIKA WROCŁAWSKA, Wrocław, PL BUP 07/10. ZDZISŁAW NAWROCKI, Wrocław, PL DANIEL DUSZA, Inowrocław, PL

PL B1. POLITECHNIKA WROCŁAWSKA, Wrocław, PL BUP 07/10. ZDZISŁAW NAWROCKI, Wrocław, PL DANIEL DUSZA, Inowrocław, PL RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 213448 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 386136 (51) Int.Cl. H03H 11/16 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data zgłoszenia: 23.09.2008

Bardziej szczegółowo

PL B BUP 26/ WUP 04/07 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19)PL (11) (13) B1

PL B BUP 26/ WUP 04/07 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19)PL (11) (13) B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19)PL (11)194002 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 340855 (22) Data zgłoszenia: 16.06.2000 (51) Int.Cl. G01B 7/14 (2006.01)

Bardziej szczegółowo

(86) Data i numer zgłoszenia międzynarodowego: 09.08.2001, PCT/DE01/02954 (87) Data i numer publikacji zgłoszenia międzynarodowego:

(86) Data i numer zgłoszenia międzynarodowego: 09.08.2001, PCT/DE01/02954 (87) Data i numer publikacji zgłoszenia międzynarodowego: RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 199888 (21) Numer zgłoszenia: 360082 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data zgłoszenia: 09.08.2001 (86) Data i numer zgłoszenia

Bardziej szczegółowo

OPIS PATENTOWY RZECZPOSPOLITA POLSKA URZĄD PATENTOWY

OPIS PATENTOWY RZECZPOSPOLITA POLSKA URZĄD PATENTOWY RZECZPOSPOLITA POLSKA OPIS PATENTOWY 153 906 Patent dodatkowy do patentu nr --- Zgłoszono: 85 12 03 (P. 256613) lrit. C1. 5 H03B 19/14 Pierwszeństwo --- URZĄD PATENTOWY RP Zgłoszenie ogłoszono: 8708 10

Bardziej szczegółowo

Podział układów cyfrowych. rkijanka

Podział układów cyfrowych. rkijanka Podział układów cyfrowych rkijanka W zależności od przyjętego kryterium możemy wyróżnić kilka sposobów podziału układów cyfrowych. Poniżej podam dwa z nich związane ze sposobem funkcjonowania układów cyfrowych

Bardziej szczegółowo

(57) 1. Sposób definiowania znaków graficznych

(57) 1. Sposób definiowania znaków graficznych RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (1)178077 (13)B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 310234 (22) Data zgłoszenia: 31.08.1995 (51) IntCl6: G06F 3/023 H03M

Bardziej szczegółowo

Zapoznanie się z podstawowymi strukturami liczników asynchronicznych szeregowych modulo N, zliczających w przód i w tył oraz zasadą ich działania.

Zapoznanie się z podstawowymi strukturami liczników asynchronicznych szeregowych modulo N, zliczających w przód i w tył oraz zasadą ich działania. Badanie liczników asynchronicznych - Ćwiczenie 4 1. el ćwiczenia Zapoznanie się z podstawowymi strukturami liczników asynchronicznych szeregowych modulo N, zliczających w przód i w tył oraz zasadą ich

Bardziej szczegółowo

PL B1. WOJSKOWY INSTYTUT MEDYCYNY LOTNICZEJ, Warszawa, PL BUP 26/13

PL B1. WOJSKOWY INSTYTUT MEDYCYNY LOTNICZEJ, Warszawa, PL BUP 26/13 PL 222456 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 222456 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 399487 (51) Int.Cl. A61B 3/113 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data zgłoszenia:

Bardziej szczegółowo

(12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) (13) B1

(12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) (13) B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 171065 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 299277 (22) Data zgłoszenia: 11.06.1993 (51) IntCl6: G01R 35/02 (54)

Bardziej szczegółowo

Mikroprocesor Operacje wejścia / wyjścia

Mikroprocesor Operacje wejścia / wyjścia Definicja Mikroprocesor Operacje wejścia / wyjścia Opracował: Andrzej Nowak Bibliografia: Urządzenia techniki komputerowej, K. Wojtuszkiewicz Operacjami wejścia/wyjścia nazywamy całokształt działań potrzebnych

Bardziej szczegółowo

PROGRAM TESTOWY LCWIN.EXE OPIS DZIAŁANIA I INSTRUKCJA UŻYTKOWNIKA

PROGRAM TESTOWY LCWIN.EXE OPIS DZIAŁANIA I INSTRUKCJA UŻYTKOWNIKA EGMONT INSTRUMENTS PROGRAM TESTOWY LCWIN.EXE OPIS DZIAŁANIA I INSTRUKCJA UŻYTKOWNIKA EGMONT INSTRUMENTS tel. (0-22) 823-30-17, 668-69-75 02-304 Warszawa, Aleje Jerozolimskie 141/90 fax (0-22) 659-26-11

Bardziej szczegółowo

PL 203461 B1. Politechnika Warszawska,Warszawa,PL 15.12.2003 BUP 25/03. Mateusz Turkowski,Warszawa,PL Tadeusz Strzałkowski,Warszawa,PL

PL 203461 B1. Politechnika Warszawska,Warszawa,PL 15.12.2003 BUP 25/03. Mateusz Turkowski,Warszawa,PL Tadeusz Strzałkowski,Warszawa,PL RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 203461 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 354438 (51) Int.Cl. G01F 1/32 (2006.01) G01P 5/01 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data

Bardziej szczegółowo

(57) 1. Układ samowzbudnej przetwornicy transformatorowej (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) (13) B2 PL B2 H02M 3/315. fig.

(57) 1. Układ samowzbudnej przetwornicy transformatorowej (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) (13) B2 PL B2 H02M 3/315. fig. RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 161056 (13) B2 (21) Numer zgłoszenia: 283989 (51) IntCl5: H02M 3/315 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data zgłoszenia: 23.02.1990 (54)Układ

Bardziej szczegółowo

Badanie układów średniej skali integracji - ćwiczenie Cel ćwiczenia. 2. Wykaz przyrządów i elementów: 3. Przedmiot badań

Badanie układów średniej skali integracji - ćwiczenie Cel ćwiczenia. 2. Wykaz przyrządów i elementów: 3. Przedmiot badań adanie układów średniej skali integracji - ćwiczenie 6. Cel ćwiczenia Celem ćwiczenia jest zapoznanie się z podstawowymi układami SSI (Średniej Skali Integracji). Przed wykonaniem ćwiczenia należy zapoznać

Bardziej szczegółowo

Zastosowania mikrokontrolerów w przemyśle

Zastosowania mikrokontrolerów w przemyśle Zastosowania mikrokontrolerów w przemyśle Cezary MAJ Katedra Mikroelektroniki i Technik Informatycznych Współpraca z pamięciami zewnętrznymi Interfejs równoległy (szyna adresowa i danych) Multipleksowanie

Bardziej szczegółowo

PL B1. Sposób chłodzenia obwodów form odlewniczych i układ technologiczny urządzenia do chłodzenia obwodów form odlewniczych

PL B1. Sposób chłodzenia obwodów form odlewniczych i układ technologiczny urządzenia do chłodzenia obwodów form odlewniczych PL 221794 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 221794 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 404233 (22) Data zgłoszenia: 06.06.2013 (51) Int.Cl.

Bardziej szczegółowo

PL B1. POLITECHNIKA WARSZAWSKA, Warszawa, PL BUP 04/11. KRZYSZTOF GOŁOFIT, Lublin, PL WUP 06/14

PL B1. POLITECHNIKA WARSZAWSKA, Warszawa, PL BUP 04/11. KRZYSZTOF GOŁOFIT, Lublin, PL WUP 06/14 PL 217071 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 217071 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 388756 (51) Int.Cl. H03K 3/023 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data zgłoszenia:

Bardziej szczegółowo

System mikroprocesorowy i peryferia. Dariusz Chaberski

System mikroprocesorowy i peryferia. Dariusz Chaberski System mikroprocesorowy i peryferia Dariusz Chaberski System mikroprocesorowy mikroprocesor pamięć kontroler przerwań układy wejścia wyjścia kontroler DMA 2 Pamięć rodzaje (podział ze względu na sposób

Bardziej szczegółowo

PL B1. HERTZ SYSTEMS LTD SPÓŁKA Z OGRANICZONĄ ODPOWIEDZIALNOŚCIĄ, Zielona Góra, PL BUP 21/13 PRZEMYSŁAW CZESNOWICZ,

PL B1. HERTZ SYSTEMS LTD SPÓŁKA Z OGRANICZONĄ ODPOWIEDZIALNOŚCIĄ, Zielona Góra, PL BUP 21/13 PRZEMYSŁAW CZESNOWICZ, PL 221155 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 221155 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 398668 (51) Int.Cl. H03L 7/06 (2006.01) G04F 5/10 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej

Bardziej szczegółowo

(13) B1 (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) PL B1 H01H 43/00. (54) Urządzenie do zasilania instalacji oświetleniowej klatki schodowej

(13) B1 (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) PL B1 H01H 43/00. (54) Urządzenie do zasilania instalacji oświetleniowej klatki schodowej RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 174926 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 305847 (22) Data zgłoszenia: 14.11.1994 (5 1) IntCl6. H01H 47/00 H01H

Bardziej szczegółowo

(13) B1 (12) OPIS PATENTOW Y (19)PL (11)182539 PL 182539 B1 B03C 1/025 B03C 1/18

(13) B1 (12) OPIS PATENTOW Y (19)PL (11)182539 PL 182539 B1 B03C 1/025 B03C 1/18 RZECZPOSPOLITA POLSKA Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (12) OPIS PATENTOW Y (19)PL (11)182539 (21) Numer zgłoszenia: 319932 (22) Data zgłoszenia: 13.05.1997 (13) B1 (51) IntCl7 B03C 1/025 B03C

Bardziej szczegółowo

PL B1. Sposób wyznaczania błędów napięciowego i kątowego indukcyjnych przekładników napięciowych dla przebiegów odkształconych

PL B1. Sposób wyznaczania błędów napięciowego i kątowego indukcyjnych przekładników napięciowych dla przebiegów odkształconych PL 216925 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 216925 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 389198 (51) Int.Cl. G01R 35/02 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data zgłoszenia:

Bardziej szczegółowo

PL B1. Sposób oceny dokładności transformacji indukcyjnych przekładników prądowych dla prądów odkształconych. POLITECHNIKA ŁÓDZKA, Łódź, PL

PL B1. Sposób oceny dokładności transformacji indukcyjnych przekładników prądowych dla prądów odkształconych. POLITECHNIKA ŁÓDZKA, Łódź, PL PL 223692 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 223692 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 399602 (51) Int.Cl. G01R 35/02 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data zgłoszenia:

Bardziej szczegółowo

3.2. Zegar/kalendarz z pamięcią statyczną RAM 256 x 8

3.2. Zegar/kalendarz z pamięcią statyczną RAM 256 x 8 3.2. Zegar/kalendarz z pamięcią statyczną RAM 256 x 8 Układ PCF 8583 jest pobierającą małą moc, 2048 bitową statyczną pamięcią CMOS RAM o organizacji 256 x 8 bitów. Adresy i dane są przesyłane szeregowo

Bardziej szczegółowo

PC 3 PC^ TIMER IN RESET PC5 TIMER OUT. c 3. L 5 c.* Cl* 10/H CE RO WR ALE ADO AD1 AD2 AD3 AD4 A05 A06 LTJ CO H 17 AD7 U C-"

PC 3 PC^ TIMER IN RESET PC5 TIMER OUT. c 3. L 5 c.* Cl* 10/H CE RO WR ALE ADO AD1 AD2 AD3 AD4 A05 A06 LTJ CO H 17 AD7 U C- PC 3 PC^ TIMER IN RESET PC5 TIMER OUT 10/H CE RO WR ALE ADO AD1 AD2 AD3 AD4 A05 A06 AD7 U ss c 3 L 5 c.* Cl* S 9 10 11 12 13 U 15 H 17 Cu C-" ln LTJ CO 2.12. Wielofunkcyjne układy współpracujące z mikroprocesorem

Bardziej szczegółowo

PL 181236 B1 (19) PL (11) 181236 (12) OPIS PATENTOWY (13) B1. (51) Int.Cl.7: G 06F 3 /1 2 G06K 15/02 G06F 17/60 G07G 1/12

PL 181236 B1 (19) PL (11) 181236 (12) OPIS PATENTOWY (13) B1. (51) Int.Cl.7: G 06F 3 /1 2 G06K 15/02 G06F 17/60 G07G 1/12 RZECZPOSPOLITA POLSKA Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (12) OPIS PATENTOWY (21 ) Numer zgłoszenia: 3 1 6 4 8 2 (22) Data zgłoszenia- 1 1.1 0.1 9 9 6 (19) PL (11) 181236 (13) B1 (51) Int.Cl.7:

Bardziej szczegółowo

PL B1. AKADEMIA GÓRNICZO-HUTNICZA IM. STANISŁAWA STASZICA, Kraków, PL BUP 01/11. WIESŁAW WAJS, Kraków, PL

PL B1. AKADEMIA GÓRNICZO-HUTNICZA IM. STANISŁAWA STASZICA, Kraków, PL BUP 01/11. WIESŁAW WAJS, Kraków, PL PL 215208 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 215208 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 388382 (22) Data zgłoszenia: 25.06.2009 (51) Int.Cl.

Bardziej szczegółowo

PL 187505 B1 (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 187505 (13) B1. (21) Numer zgłoszenia: 324415. (51) IntCl7 A61F 5/34

PL 187505 B1 (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 187505 (13) B1. (21) Numer zgłoszenia: 324415. (51) IntCl7 A61F 5/34 RZECZPOSPOLITA POLSKA Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 187505 (21) Numer zgłoszenia: 324415 (22) Data zgłoszenia: 22.01.1998 (13) B1 (51) IntCl7 A61F 5/34 (54)Urządzenie

Bardziej szczegółowo

Wykład Mikroprocesory i kontrolery

Wykład Mikroprocesory i kontrolery Wykład Mikroprocesory i kontrolery Cele wykładu: Poznanie podstaw budowy, zasad działania mikroprocesorów i układów z nimi współpracujących. Podstawowa wiedza potrzebna do dalszego kształcenia się w technice

Bardziej szczegółowo

Architektura Systemów Komputerowych. Bezpośredni dostęp do pamięci Realizacja zależności czasowych

Architektura Systemów Komputerowych. Bezpośredni dostęp do pamięci Realizacja zależności czasowych Architektura Systemów Komputerowych Bezpośredni dostęp do pamięci Realizacja zależności czasowych 1 Bezpośredni dostęp do pamięci Bezpośredni dostęp do pamięci (ang: direct memory access - DMA) to transfer

Bardziej szczegółowo

OPIS OCHRONNY PL 60841

OPIS OCHRONNY PL 60841 RZECZPOSPOLITA POLSKA Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej EGZEMPLARZ ARCHIWALNY OPIS OCHRONNY PL 60841 WZORU UŻYTKOWEGO (2n Numer zgłoszenia: 111013 (22) Data zgłoszenia: 25.05.2000 Y1 Intel7: G07C

Bardziej szczegółowo

PAMIĘCI. Część 1. Przygotował: Ryszard Kijanka

PAMIĘCI. Część 1. Przygotował: Ryszard Kijanka PAMIĘCI Część 1 Przygotował: Ryszard Kijanka WSTĘP Pamięci półprzewodnikowe są jednym z kluczowych elementów systemów cyfrowych. Służą do przechowywania informacji w postaci cyfrowej. Liczba informacji,

Bardziej szczegółowo

Urządzenia zewnętrzne

Urządzenia zewnętrzne Urządzenia zewnętrzne SZYNA ADRESOWA SZYNA DANYCH SZYNA STEROWANIA ZEGAR PROCESOR PAMIĘC UKŁADY WE/WY Centralna jednostka przetw arzająca (CPU) DANE PROGRAMY WYNIKI... URZ. ZEWN. MO NITORY, DRUKARKI, CZYTNIKI,...

Bardziej szczegółowo

PL B1. ADAPTRONICA SPÓŁKA Z OGRANICZONĄ ODPOWIEDZIALNOŚCIĄ, Łomianki k. Warszawy, PL BUP 20/10

PL B1. ADAPTRONICA SPÓŁKA Z OGRANICZONĄ ODPOWIEDZIALNOŚCIĄ, Łomianki k. Warszawy, PL BUP 20/10 PL 214845 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 214845 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 387534 (51) Int.Cl. F16F 9/50 (2006.01) F16F 9/508 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej

Bardziej szczegółowo

1.2 Schemat blokowy oraz opis sygnałów wejściowych i wyjściowych

1.2 Schemat blokowy oraz opis sygnałów wejściowych i wyjściowych Dodatek A Wyświetlacz LCD. Przeznaczenie i ogólna charakterystyka Wyświetlacz ciekłokrystaliczny HY-62F4 zastosowany w ćwiczeniu jest wyświetlaczem matrycowym zawierającym moduł kontrolera i układ wykonawczy

Bardziej szczegółowo

PL B1. GRZENIK ROMUALD, Rybnik, PL MOŁOŃ ZYGMUNT, Gliwice, PL BUP 17/14. ROMUALD GRZENIK, Rybnik, PL ZYGMUNT MOŁOŃ, Gliwice, PL

PL B1. GRZENIK ROMUALD, Rybnik, PL MOŁOŃ ZYGMUNT, Gliwice, PL BUP 17/14. ROMUALD GRZENIK, Rybnik, PL ZYGMUNT MOŁOŃ, Gliwice, PL PL 223654 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 223654 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 402767 (51) Int.Cl. G05F 1/10 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data zgłoszenia:

Bardziej szczegółowo

(12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) (13) B1

(12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) (13) B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 175233 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 307218 (22) Data zgłoszenia: 13.02.1995 (51) Int.Cl.6: E05F 15/02

Bardziej szczegółowo

PL B1. ABB Spółka z o.o.,warszawa,pl BUP 03/02. Paweł Mróz,Wrocław,PL WUP 02/08 RZECZPOSPOLITA POLSKA

PL B1. ABB Spółka z o.o.,warszawa,pl BUP 03/02. Paweł Mróz,Wrocław,PL WUP 02/08 RZECZPOSPOLITA POLSKA RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 196928 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 341637 (51) Int.Cl. F22G 5/20 (2006.01) F22G 5/12 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data

Bardziej szczegółowo

PL B1. POLITECHNIKA GDAŃSKA, Gdańsk, PL BUP 19/09. MACIEJ KOKOT, Gdynia, PL WUP 03/14. rzecz. pat.

PL B1. POLITECHNIKA GDAŃSKA, Gdańsk, PL BUP 19/09. MACIEJ KOKOT, Gdynia, PL WUP 03/14. rzecz. pat. PL 216395 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 216395 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 384627 (51) Int.Cl. G01N 27/00 (2006.01) H01L 21/00 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej

Bardziej szczegółowo

LEKCJA TEMAT: Zasada działania komputera.

LEKCJA TEMAT: Zasada działania komputera. LEKCJA TEMAT: Zasada działania komputera. 1. Ogólna budowa komputera Rys. Ogólna budowa komputera. 2. Komputer składa się z czterech głównych składników: procesor (jednostka centralna, CPU) steruje działaniem

Bardziej szczegółowo

PL B1. AKADEMIA GÓRNICZO-HUTNICZA IM. STANISŁAWA STASZICA W KRAKOWIE, Kraków, PL BUP 14/12

PL B1. AKADEMIA GÓRNICZO-HUTNICZA IM. STANISŁAWA STASZICA W KRAKOWIE, Kraków, PL BUP 14/12 PL 218560 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 218560 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 393408 (51) Int.Cl. H03F 3/18 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data zgłoszenia:

Bardziej szczegółowo

Programowanie w językach asemblera i C

Programowanie w językach asemblera i C Programowanie w językach asemblera i C Mariusz NOWAK Programowanie w językach asemblera i C (1) 1 Dodawanie dwóch liczb - program Napisać program, który zsumuje dwie liczby. Wynik dodawania należy wysłać

Bardziej szczegółowo

(54) Sposób sterowania prędkości obrotowej silnika klatkowego przez przełączanie

(54) Sposób sterowania prędkości obrotowej silnika klatkowego przez przełączanie RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 164000 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 2 8 5 2 3 8 (22) Data zgłoszenia: 1 6.0 5.1 9 9 0 (51) IntCl5: H02P

Bardziej szczegółowo

Przykładowe rozwiązanie zadania dla zawodu technik telekomunikacji

Przykładowe rozwiązanie zadania dla zawodu technik telekomunikacji PROJEKT REALIZACJI PRAC ZWIĄZANYCH Z URUCHOMIENIEM I TESTOWANIEM KODERA I DEKODERA PCM ORAZ WYKONANIE PRAC OBEJMUJĄCYCH OPRACOWANIE WYNIKÓW POMIARÓW Z URUCHOMIENIA I SPRAWDZENIA DZIAŁANIA JEGO CZĘŚCI CYFROWEJ

Bardziej szczegółowo

BADANIE PRZERZUTNIKÓW ASTABILNEGO, MONOSTABILNEGO I BISTABILNEGO

BADANIE PRZERZUTNIKÓW ASTABILNEGO, MONOSTABILNEGO I BISTABILNEGO Ćwiczenie 11 BADANIE PRZERZUTNIKÓW ASTABILNEGO, MONOSTABILNEGO I BISTABILNEGO 11.1 Cel ćwiczenia Celem ćwiczenia jest poznanie rodzajów, budowy i właściwości przerzutników astabilnych, monostabilnych oraz

Bardziej szczegółowo

Przetworniki AC i CA

Przetworniki AC i CA KATEDRA INFORMATYKI Wydział EAIiE AGH Laboratorium Techniki Mikroprocesorowej Ćwiczenie 4 Przetworniki AC i CA Cel ćwiczenia Celem ćwiczenia jest poznanie budowy i zasady działania wybranych rodzajów przetworników

Bardziej szczegółowo

PL B1. Urządzenie do pomiaru poziomowości i prostoliniowości elementów wydłużonych, zwłaszcza szyn suwnicowych

PL B1. Urządzenie do pomiaru poziomowości i prostoliniowości elementów wydłużonych, zwłaszcza szyn suwnicowych RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 205362 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 374034 (22) Data zgłoszenia: 31.03.2005 (51) Int.Cl. G01C 15/00 (2006.01)

Bardziej szczegółowo

PL B1. PĘKACKI PAWEŁ, Skarżysko-Kamienna, PL BUP 02/06. PAWEŁ PĘKACKI, Skarżysko-Kamienna, PL

PL B1. PĘKACKI PAWEŁ, Skarżysko-Kamienna, PL BUP 02/06. PAWEŁ PĘKACKI, Skarżysko-Kamienna, PL RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 208199 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 369112 (51) Int.Cl. A61C 5/02 (2006.01) A61B 5/00 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data

Bardziej szczegółowo

(54) Sposób pomiaru cech geometrycznych obrzeża koła pojazdu szynowego i urządzenie do

(54) Sposób pomiaru cech geometrycznych obrzeża koła pojazdu szynowego i urządzenie do RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19)PL (11)167818 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 2 9 3 7 2 5 (22) Data zgłoszenia: 0 6.0 3.1 9 9 2 (51) Intcl6: B61K9/12

Bardziej szczegółowo

PL B1. AREVA T&D Spółka z o.o. Zakład Transformatorów w Mikołowie, Świebodzice,PL BUP 12/ WUP 10/09

PL B1. AREVA T&D Spółka z o.o. Zakład Transformatorów w Mikołowie, Świebodzice,PL BUP 12/ WUP 10/09 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 203542 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 344295 (51) Int.Cl. H02M 7/04 (2007.01) H02M 7/06 (2007.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data

Bardziej szczegółowo

Fig. 1 (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) PL B1 (13) B1 G 01S 3/72 E21F 11/00 RZECZPOSPOLITA POLSKA. (21) Numer zgłoszenia:

Fig. 1 (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) PL B1 (13) B1 G 01S 3/72 E21F 11/00 RZECZPOSPOLITA POLSKA. (21) Numer zgłoszenia: RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 174214 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 296697 (22) Data zgłoszenia: 23.11.1992 (51) IntCl6: G01S 11/00 G

Bardziej szczegółowo

(54) (13) B1 (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) PL B1. Fig. 2

(54) (13) B1 (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) PL B1. Fig. 2 RZECZPOSPOLITA POLSKA Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 184012 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 322413 (22) Data zgłoszenia: 03.10.1997 (51) IntCl7 E04B 1/70 (54)

Bardziej szczegółowo

Architektura komputera. Dane i rozkazy przechowywane są w tej samej pamięci umożliwiającej zapis i odczyt

Architektura komputera. Dane i rozkazy przechowywane są w tej samej pamięci umożliwiającej zapis i odczyt Architektura komputera Architektura von Neumanna: Dane i rozkazy przechowywane są w tej samej pamięci umożliwiającej zapis i odczyt Zawartośd tej pamięci jest adresowana przez wskazanie miejsca, bez względu

Bardziej szczegółowo

(73) Uprawniony z patentu: (72) Twórcy wynalazku:

(73) Uprawniony z patentu: (72) Twórcy wynalazku: RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 176418 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21)Numer zgłoszenia: 310220 (22) Data zgłoszenia: 28.08.1995 (51) IntCl6: F15B 13/02 E21D

Bardziej szczegółowo

Projekt z przedmiotu Systemy akwizycji i przesyłania informacji. Temat pracy: Licznik binarny zliczający do 10.

Projekt z przedmiotu Systemy akwizycji i przesyłania informacji. Temat pracy: Licznik binarny zliczający do 10. Projekt z przedmiotu Systemy akwizycji i przesyłania informacji Temat pracy: Licznik binarny zliczający do 10. Andrzej Kuś Aleksander Matusz Prowadzący: dr inż. Adam Stadler Układy cyfrowe przetwarzają

Bardziej szczegółowo

Sposób korekcji pasma częstotliwości w strukturach monolitycznych i układ do korekcji pasma częstotliwości w strukturach monolitycznych

Sposób korekcji pasma częstotliwości w strukturach monolitycznych i układ do korekcji pasma częstotliwości w strukturach monolitycznych PL 220246 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 220246 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 397627 (51) Int.Cl. H03G 3/10 (2006.01) H03H 11/12 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej

Bardziej szczegółowo

(54) Układ automatycznej kontroli procesu wzbogacania węgla

(54) Układ automatycznej kontroli procesu wzbogacania węgla RZECZPOSPOLITA POLSKA Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 184138 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia. 321770 (22) Data zgłoszenia. 22.08.1997 (51) IntCl7 B03B 13/00 (54)

Bardziej szczegółowo

PL 201347 B1. Politechnika Białostocka,Białystok,PL 29.07.2002 BUP 16/02. Roman Kaczyński,Białystok,PL Marek Jałbrzykowski,Wysokie Mazowieckie,PL

PL 201347 B1. Politechnika Białostocka,Białystok,PL 29.07.2002 BUP 16/02. Roman Kaczyński,Białystok,PL Marek Jałbrzykowski,Wysokie Mazowieckie,PL RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 201347 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 351999 (51) Int.Cl. G01N 3/56 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data zgłoszenia: 04.02.2002

Bardziej szczegółowo

PL 196881 B1. Trójfazowy licznik indukcyjny do pomiaru nadwyżki energii biernej powyżej zadanego tg ϕ

PL 196881 B1. Trójfazowy licznik indukcyjny do pomiaru nadwyżki energii biernej powyżej zadanego tg ϕ RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 196881 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 340516 (51) Int.Cl. G01R 11/40 (2006.01) G01R 21/00 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22)

Bardziej szczegółowo

PL B1. Sposób pomiaru składowych impedancji czujnika indukcyjnego i układ pomiarowy składowych impedancji czujnika indukcyjnego

PL B1. Sposób pomiaru składowych impedancji czujnika indukcyjnego i układ pomiarowy składowych impedancji czujnika indukcyjnego PL 218944 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 218944 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 391744 (22) Data zgłoszenia: 05.07.2010 (51) Int.Cl.

Bardziej szczegółowo

Pamięci półprzewodnikowe w oparciu o książkę : Nowoczesne pamięci. Ptc 2013/2014 13.12.2013

Pamięci półprzewodnikowe w oparciu o książkę : Nowoczesne pamięci. Ptc 2013/2014 13.12.2013 Pamięci półprzewodnikowe w oparciu o książkę : Nowoczesne pamięci półprzewodnikowe, Betty Prince, WNT Ptc 2013/2014 13.12.2013 Pamięci statyczne i dynamiczne Pamięci statyczne SRAM przechowywanie informacji

Bardziej szczegółowo

PL B1. AKADEMIA GÓRNICZO-HUTNICZA IM. STANISŁAWA STASZICA W KRAKOWIE, Kraków, PL BUP 22/09. CEZARY WOREK, Kraków, PL

PL B1. AKADEMIA GÓRNICZO-HUTNICZA IM. STANISŁAWA STASZICA W KRAKOWIE, Kraków, PL BUP 22/09. CEZARY WOREK, Kraków, PL PL 215148 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 215148 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 385023 (51) Int.Cl. H04B 1/26 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data zgłoszenia:

Bardziej szczegółowo

ZAKŁAD SYSTEMÓW ELEKTRONICZNYCH I TELEKOMUNIKACYJNYCH Laboratorium Podstaw Telekomunikacji WPŁYW SZUMÓW NA TRANSMISJĘ CYFROWĄ

ZAKŁAD SYSTEMÓW ELEKTRONICZNYCH I TELEKOMUNIKACYJNYCH Laboratorium Podstaw Telekomunikacji WPŁYW SZUMÓW NA TRANSMISJĘ CYFROWĄ Laboratorium Podstaw Telekomunikacji Ćw. 4 WPŁYW SZUMÓW NA TRANSMISJĘ CYFROWĄ 1. Zapoznać się z zestawem do demonstracji wpływu zakłóceń na transmisję sygnałów cyfrowych. 2. Przy użyciu oscyloskopu cyfrowego

Bardziej szczegółowo

LICZNIKI PODZIAŁ I PARAMETRY

LICZNIKI PODZIAŁ I PARAMETRY LICZNIKI PODZIAŁ I PARAMETRY Licznik jest układem służącym do zliczania impulsów zerojedynkowych oraz zapamiętywania ich liczby. Zależnie od liczby n przerzutników wchodzących w skład licznika pojemność

Bardziej szczegółowo

Mikrokontroler ATmega32. System przerwań Porty wejścia-wyjścia Układy czasowo-licznikowe

Mikrokontroler ATmega32. System przerwań Porty wejścia-wyjścia Układy czasowo-licznikowe Mikrokontroler ATmega32 System przerwań Porty wejścia-wyjścia Układy czasowo-licznikowe 1 Przerwanie Przerwanie jest inicjowane przez urządzenie zewnętrzne względem mikroprocesora, zgłaszające potrzebę

Bardziej szczegółowo

(57) 1. Układ ham ulcowy dla pojazdów szynowych z w y- (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 188123 (13) B1 PL 188123 B1 B61H 13/00 B60T 13/26 B 6 1 F 7/00

(57) 1. Układ ham ulcowy dla pojazdów szynowych z w y- (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 188123 (13) B1 PL 188123 B1 B61H 13/00 B60T 13/26 B 6 1 F 7/00 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 188123 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 325944 (22) Data zgłoszenia: 23.04.1998 (51) IntCl7 B61H 13/00 B60T

Bardziej szczegółowo

RZECZPOSPOLITA OPIS PATENTOWY POLSKA PATENTU TYMCZASOWEGO

RZECZPOSPOLITA OPIS PATENTOWY POLSKA PATENTU TYMCZASOWEGO RZECZPOSPOLITA OPIS PATENTOWY 151 485 POLSKA PATENTU TYMCZASOWEGO Patent tymczasowy dodatkowy T t Tl 5 HfllT VIX do patentunr." ' G05F im Zgłoszono: 87 06 09 (P. 266181) URZĄD PATENTOWY RP Pierwszeństwo

Bardziej szczegółowo

(12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 174940 (13) B1

(12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 174940 (13) B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 174940 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 305007 (22) Data zgłoszenia: 12.09.1994 (51) IntCl6: B25J 9/06 B25J

Bardziej szczegółowo