3. ZŁĄCZE p-n 3.1. BUDOWA ZŁĄCZA

Podobne dokumenty
Podstawy fizyki ciała stałego półprzewodniki domieszkowane

Repeta z wykładu nr 5. Detekcja światła. Plan na dzisiaj. Złącze p-n. złącze p-n

Rys.1. Struktura fizyczna diody epiplanarnej (a) oraz wycinek złącza p-n (b)

Fizyka i technologia złącza PN. Adam Drózd r.

Równanie Shockley a. Potencjał wbudowany

Badanie charakterystyki diody

Złącze p-n powstaje wtedy, gdy w krysztale półprzewodnika wytworzone zostaną dwa obszary o odmiennym typie przewodnictwa p i n. Nośniki większościowe

Część 2. Przewodzenie silnych prądów i blokowanie wysokich napięć przy pomocy przyrządów półprzewodnikowych

3.4 Badanie charakterystyk tranzystora(e17)

I. DIODA ELEKTROLUMINESCENCYJNA

Ćwiczenie 1 LABORATORIUM ELEKTRONIKI POLITECHNIKA ŁÓDZKA KATEDRA PRZYRZĄDÓW PÓŁPRZEWODNIKOWYCH I OPTOELEKTRONICZNYCH

Zjawiska zachodzące w półprzewodnikach Przewodniki samoistne i niesamoistne

W1. Właściwości elektryczne ciał stałych

III. TRANZYSTOR BIPOLARNY

Półprzewodniki. złącza p n oraz m s

2. Półprzewodniki. Istnieje duża jakościowa różnica między właściwościami elektrofizycznymi półprzewodników, przewodników i dielektryków.

Złącza p-n, zastosowania. Własności złącza p-n Dioda LED Fotodioda Dioda laserowa Tranzystor MOSFET

SYMBOLE GRAFICZNE. Tyrystory. Struktura Charakterystyka Opis

LABORATORIUM INŻYNIERII MATERIAŁOWEJ

Część 2. Przewodzenie silnych prądów i blokowanie wysokich napięć przy pomocy przyrządów półprzewodnikowych

Budowa. Metoda wytwarzania

Czym jest prąd elektryczny

Przyrządy i układy półprzewodnikowe

STRUKTURA PASM ENERGETYCZNYCH

Złącze p-n: dioda. Przewodnictwo półprzewodników. Dioda: element nieliniowy

Układy nieliniowe. Stabilizator - dioda Zenera. Dioda LED. Prostownik na diodach (Graetza) Logiczna bramka NAND. w.7, p.1

Elementy elektroniczne Wykłady 3: Półprzewodniki. Teoria złącza PN

Instrukcja do ćwiczenia: Badanie diod półprzewodnikowych i LED (wersja robocza)

Cel ćwiczenia: Wyznaczenie szerokości przerwy energetycznej przez pomiar zależności oporności elektrycznej monokryształu germanu od temperatury.

6. TRANZYSTORY UNIPOLARNE

Półprzewodniki samoistne. Struktura krystaliczna

EFEKT FOTOWOLTAICZNY OGNIWO SŁONECZNE

IA. Fotodioda. Cel ćwiczenia: Pomiar charakterystyk prądowo - napięciowych fotodiody.

Badanie charakterystyk elementów półprzewodnikowych

5. Tranzystor bipolarny

LABORATORIUM ELEKTRONIKI ĆWICZENIE 4 POLITECHNIKA ŁÓDZKA KATEDRA PRZYRZĄDÓW PÓŁPRZEWODNIKOWYCH I OPTOELEKTRONICZNYCH

Ćwiczenie 123. Dioda półprzewodnikowa

Podstawy działania elementów półprzewodnikowych - diody

Wykład V Złącze P-N 1

Instytut Systemów Inżynierii Elektrycznej Wydział Elektrotechniki, Elektroniki Informatyki i Automatyki Politechnika Łódzka

7. Tyrystory. Tyrystor SCR (Silicon Controlled Rectifier)

Ciała stałe. Literatura: Halliday, Resnick, Walker, t. 5, rozdz. 42 Orear, t. 2, rozdz. 28 Young, Friedman, rozdz

1 Źródła i detektory. V. Fotodioda i diody LED Cel ćwiczenia: Pomiar charakterystyk prądowo - napięciowych fotodiody i diod LED.

IX. DIODY PÓŁPRZEWODNIKOWE Janusz Adamowski

Struktura pasmowa ciał stałych

Aleksandra Banaś Dagmara Zemła WPPT/OPTOMETRIA

Wykład IV. Półprzewodniki samoistne i domieszkowe

Różne dziwne przewodniki

Diody, tranzystory, tyrystory. Materiały pomocnicze do zajęć.

ELEKTRONIKA ELM001551W

TEORIA TRANZYSTORÓW MOS. Charakterystyki statyczne

Ćwiczenie 241. Wyznaczanie ładunku elektronu na podstawie charakterystyki złącza p-n (diody półprzewodnikowej) .. Ω.

W5. Rozkład Boltzmanna

Układy nieliniowe. Stabilizator dioda Zenera. Dioda LED. Prostownik na diodach (Graetza) w.9, p.1

LABORATORIUM INŻYNIERII MATERIAŁOWEJ

Fotodetektory. Fotodetektor to przyrząd, który mierzy strumień fotonów bądź moc optyczną przetwarzając energię fotonów na inny użyteczny sygnał

(12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) (13) B1

TEORIA PASMOWA CIAŁ STAŁYCH

Elektryczne własności ciał stałych

Teoria pasmowa. Anna Pietnoczka

Ćwiczenie 4. Parametry statyczne tranzystorów polowych JFET i MOSFET

Wykład 7. Złącza półprzewodnikowe - przyrządy półprzewodnikowe

1. Właściwości materiałów półprzewodnikowych 2. Półprzewodniki samoistne i domieszkowane 3. Złącze pn 4. Polaryzacja złącza

EL08s_w03: Diody półprzewodnikowe

Elektryczne własności ciał stałych

Przewodność elektryczna ciał stałych. Elektryczne własności ciał stałych Izolatory, metale i półprzewodniki

V. Fotodioda i diody LED

Laboratorium Półprzewodniki Dielektryki Magnetyki Ćwiczenie nr 1 Badanie złącz Schottky'ego metodą I-V

Nazwisko i imię: Zespół: Data: Ćwiczenie nr 123: Półprzewodnikowe złącze p-n

Układy nieliniowe. Stabilizator dioda Zenera. Dioda LED. Prostownik na diodach (Graetza) w.9, p.1

Zasada działania tranzystora bipolarnego

Skończona studnia potencjału

Base. Paul Sherz Practical Electronic for Inventors McGraw-Hill 2000

ELEKTRONIKA ELM001551W

Przyrządy półprzewodnikowe część 2

Repeta z wykładu nr 6. Detekcja światła. Plan na dzisiaj. Metal-półprzewodnik

WYZNACZANIE STAŁEJ PLANCKA Z POMIARU CHARAKTERYSTYK PRĄDOWO-NAPIĘCIOWYCH DIOD ELEKTROLUMINESCENCYJNYCH. Irena Jankowska-Sumara, Magdalena Krupska

Ryszard J. Barczyński, 2012 Politechnika Gdańska, Wydział FTiMS, Katedra Fizyki Ciała Stałego Materiały dydaktyczne do użytku wewnętrznego

Rekapitulacja. Detekcja światła. Rekapitulacja. Rekapitulacja

Repeta z wykładu nr 3. Detekcja światła. Struktura krystaliczna. Plan na dzisiaj

ĆWICZENIE 39 WYZNACZANIE CHARAKTERYSTYKI DIODY PÓŁPRZEWODNIKOWEJ

Wykład X TRANZYSTOR BIPOLARNY

TRANZYSTORY BIPOLARNE ZŁĄCZOWE

Przyrządy i Układy Półprzewodnikowe

Przerwa energetyczna w germanie

4. Diody DIODY PROSTOWNICZE. Są to diody przeznaczone do prostowania prądu przemiennego.

Cel ćwiczenia. Podstawowe informacje. eu exp mkt ] 1 (1) I =I S[

E3. Badanie temperaturowej zależności oporu elektrycznego ciał stałych 1/5

IV. TRANZYSTOR POLOWY

Absorpcja związana z defektami kryształu

Diody półprzewodnikowe

Zygmunt Kubiak Instytut Informatyki Politechnika Poznańska

Przewodniki, półprzewodniki i izolatory

MATERIAŁY PÓŁPRZEWODNIKOWE

V. DIODA ELEKTROLUMINESCENCYJNA

WYZNACZANIE CHARAKTERYSTYK DIÓD PÓŁPRZEWODNIKOWYCH

Repeta z wykładu nr 4. Detekcja światła. Dygresja. Plan na dzisiaj

Badanie diod półprzewodnikowych

Diody półprzewodnikowe

Transkrypt:

3. ZŁĄCZE p-n 3.1. BUDOWA ZŁĄCZA Złącze p-n jest to obszar półprzewodnika monokrystalicznego utworzony przez dwie graniczące ze sobą warstwy jedną typu p i drugą typu n. Na rysunku 3.1 przedstawiono uproszczony płaski model rozkładu ładunków w złączu. W półprzewodniku typu n istnieją dodatnie nieruchome ładunki zjonizowanych atomów domieszki donorowej i ujemne ładunki ruchomych elektronów - nośników większościowych. Ponadto istnieje niewielka liczba dziur - nośników mniejszościowych. W półprzewodniku typu p istnieją ujemne nieruchome ładunki zjonizowanych atomów domieszki akceptorowej oraz dodatnie ładunki ruchomych dziur - nośników większościowych. Jest tam jeszcze niewielka liczba elektronów - nośników mniejszościowych. W momencie utworzenia złącza (dzieje się to w specjalnym procesie technologicznym) wskutek dużej koncentracji ruchomych nośników ładunku, nastąpi proces dyfuzji elektronów z materiału n do p oraz dziur z materiału p do n. Powstaną dwa strumienie prądu dyfuzyjnego Jpd i Jnd (rys.3.1a). Proces ten ma na celu wyrównanie koncentracji nośników ładunku. Gdyby dziury i elektrony były cząstkami obojętnymi elektrycznie, doszłoby do całkowitego wyrównania koncentracji w obu materiałach p i n. Jednakże wskutek dyfuzyjnego przepływu elektronów w obszarze granicznym półprzewodnika n pozostają nieskompensowane ładunki dodatnie nieruchomych jonów donorowych. Analogicznie wskutek dyfuzyjnego przepływu dziur w obszarze granicznym półprzewodnika p pozostają nieskompensowane ładunki ujemne nieruchomych jonów akceptorowych. Nieskompensowane jony po obu stronach złącza tworzą dipolową warstwę ładunku wytwarzającą pole przeciwdziałające dalszej dyfuzji nośników większościowych. Skutkiem działania tego pola jest unoszenie elektronów i dziur w kierunkach przeciwnych. W ten sposób powstają dwa strumienie prądów unoszenia nośników (dziur z obszaru n do p - prąd Jpu i elektronów z obszaru p do n - prąd Jnu) skierowane przeciwnie do odpowiednich strumieni prądów dyfuzyjnych. Wymienione cztery składowe prądu przedstawiono na rys. 3.1a. W złączu dochodzi do równowagi dynamicznej, tzn. sumaryczny prąd płynący przez złącze musi mieć wartość zero, a ładunek przestrzenny wartość ustaloną. Te dwa warunki są spełnione, gdy prąd dyfuzyjny jest równy prądowi unoszenia, oddzielnie dla dziur i elektronów: Jpd = Jpu Jnd = Jnu (3.1) przy czym: Jpd - gęstość prądu dyfuzyjnego dziur, Jpu - gęstość prądu unoszenia dziur, Jnd - gęstość prądu dyfuzyjnego elektronów, Jnu - gęstość prądu unoszenia elektronów. Wojciech Wawrzyński Podstawy Elektroniki Złącze p-n 1

Rys. 3.1. Obraz złącza p-n: a) utworzone złącze z zaznaczeniem prądów dyfuzyjnych i unoszenia, b) rozkład ładunku przestrzennego, c) rozkład potencjału Skutkiem tej równowagi dynamicznej jest zachowanie istnienia na złączu dipolowej warstwy ładunków (rys. 3.1b), którą nazywa się warstwą zaporową lub warstwą ładunku przestrzennego. Napięcie wytworzone w obszarze granicznym złącza nosi nazwę bariery potencjału lub napięcia dyfuzyjnego U D (rys.3.1c). W temperaturze pokojowej przy umiarkowanych koncentracjach domieszek dla złącza krzemowego U D=0,7V, a dla złącza germanowego U D=0,3V. 3.2. POLARYZACJA ZŁĄCZA Złącze p-n można polaryzować w kierunku zaporowym lub przewodzenia. Polaryzacja złącza p-n w kierunku zaporowym ma miejsce wtedy, gdy zewnętrzne źródło napięcia jest połączone biegunem dodatnim z obszarem typu n, a biegunem ujemnym z obszarem typu p (rys.3.2a). W tym przypadku polaryzacja zewnętrzna jest zgodna z biegunowością napięcia dyfuzyjnego. Bariera potencjału złącza zwiększa się o wartość napięcia zewnętrznego. Maleją składowe dyfuzyjne prądu elektronowego i dziurowego, pozostają natomiast niezależne od napięcia składowe prądu unoszenia nośników mniejszościowych. Niezależność od napięcia prądu unoszenia wyjaśnia się tym, że napięcie zewnętrzne praktycznie odkłada się tylko na warstwie zaporowej złącza, a w obszarach sąsiednich nie ma pola elektrycznego. Ruch nośników w tych obszarach jest chaotyczny i Wojciech Wawrzyński Podstawy Elektroniki Złącze p-n 2

pozbawiony składowej unoszenia. Dostarczanie zatem nośników do krawędzi złącza, gdzie jest pole elektryczne, nie zależy od napięcia zewnętrznego. Uogólniając można stwierdzić, że przy polaryzacji złącza p-n w kierunku zaporowym płynie prąd nośników mniejszościowych (prąd unoszenia) w dużym zakresie niezależny od przyłożonego napięcia. Prąd ten jest nazywany prądem nasycenia i oznaczany IS. Rys. 3.2. Złącze p-n spolaryzowane w kierunku: a) zaporowym, b) przewodzenia 1 Polaryzacja złącza p-n w kierunku przewodzenia ma miejsce wtedy, gdy źródło zewnętrzne jest połączone biegunem dodatnim z obszarem typu p półprzewodnika, a biegunem ujemnym z obszarem typu n (rys. 3.2b). W tym przypadku polaryzacja zewnętrzna jest przeciwna w stosunku do biegunowości napięcia dyfuzyjnego. Bariera potencjału złącza maleje o wartość napięcia zewnętrznego. Wzrastają składowe prądów dyfuzyjnych elektronów z obszaru n do p i dziur z obszaru p do n. Składowe prądu unoszenia pozostają na nie zmienionym, małym poziomie. Przy odpowiednio dużych wartościach polaryzacji złącza prąd dyfuzyjny zdecydowanie przeważa nad prądem unoszenia, a jego wartość zwiększa się wraz ze wzrostem napięcia polaryzacji. Uogólniając można stwierdzić, że przy polaryzacji złącza p-n w kierunku przewodzenia płynie prąd nośników większościowych (prąd dyfuzyjny), którego wartość silnie zależy od przyłożonego napięcia zewnętrznego. Rys. 3.3. Charakterystyka prądowo napięciowa złącza p-n Trzeba podkreślić, że zarówno przy polaryzacji złącza p-n w kierunku zaporowym, jak i w kierunku przewodzenia spadek napięcia na złączu (napięcie dyfuzyjne) zachowuje taką biegunowość, jak w przypadku złącza niespolaryzowanego. Przyłożone napięcie zewnętrzne powoduje jedynie wzrost bariery potencjału (polaryzacja w kierunku zaporowym) lub zmniejszenie się tej bariery (polaryzacja w kierunku przewodzenia). Zależność prądu złącza od napięcia opisuje się funkcją wykładniczą: Wojciech Wawrzyński Podstawy Elektroniki Złącze p-n 3

I = I S [exp ( U φ T ) 1] (3.2) gdzie: IS - prąd nasycenia złącza, φt - potencjał termiczny elektronu (dla T=300K φt = 26mV) Równanie (3.2) zwane jest równaniem Schockley a. Odwzorowuje ono podstawową zależność prądu od napięcia w złączu p-n (rys.3.3), jednak nie uwzględnia szeregu zjawisk mających miejsce w elementach rzeczywistych lub specjalnie konstruowanych celem wykorzystania specyficznych właściwości złącza p-n. Będzie o tym mowa w dalszej części tekstu przy okazji omawiania różnych rodzajów diod. 3.3. PRZEBICIE ZŁĄCZA Przebiciem złącza p-n nazywamy zjawisko gwałtownego przyrostu prądu przy polaryzacji w kierunku zaporowym napięciem o wartości wyższej niż pewna charakterystyczna dla danego złącza wartość, nazywana napięciem przebicia (rys.3.4). Wyróżnia się dwie podstawowe przyczyny gwałtownego wzrostu prądu, tj. przebicie Zenera i przebicie lawinowe. Rys 3.4. Charakterystyka złącza p-n z uwzględnieniem zakresu przebicia Przebicie Zenera (zjawisko Zenera, zjawisko tunelowe) występuje w złączach o cienkiej warstwie zaporowej. Przy polaryzacji złącza w kierunku zaporowym natężenie pola w cienkiej warstwie zaporowej może osiągnąć takie wartości, że jest możliwe wyrwanie elektronów z wiązania kowalencyjnego atomów w sieci krystalicznej. W rezultacie zerwania wiązania powstaje para nośników elektron - dziura. Rys.3.5. Ilustracja przebicia Zenera w modelu pasmowym złącza Wojciech Wawrzyński Podstawy Elektroniki Złącze p-n 4

Rys.3.6. Ilustracja zjawiska lawinowej jonizacji zderzeniowej W energetycznym modelu pasmowym akt jonizacji można zinterpretować jako tunelowe przejście elektronów z pasma walencyjnego przez barierę potencjału (pasmo zabronione) do pasma przewodnictwa (rys.3.5). Dzieje się to bez konieczności pobierania energii. Prawdopodobieństwo przejścia elektronu jest tym większe, im węższa jest bariera. Szerokość bariery, tj. szerokość warstwy zaporowej złącza maleje w miarę wzrostu koncentracji domieszek po obu stronach złącza. Zatem przebicie Zenera może wystąpić w złączach silnie domieszkowanych, gdy warstwa zaporowa jest cienka. Zjawisko Zenera charakteryzuje mała wartość napięcia przebicia U<5V. Przebicie lawinowe. Jeśli złącze ulega przebiciu przy napięciu w kierunku zaporowym wyższym, tj. U>7V, oznacza to, że gwałtowny wzrost prądu spowodowany był zjawiskiem lawinowej jonizacji zderzeniowej. Zjawisko to polega na rozerwaniu wiązań w sieci krystalicznej na skutek dostarczania energii przez swobodny nośnik ładunku rozpędzony w silnym polu elektrycznym. Swobodny nośnik poruszając się ruchem przyspieszonym w polu elektrycznym może uzyskać energię kinetyczną wystarczającą do jonizacji zderzeniowej. Rozrywa on wiązanie atomów w sieci i powstaje w ten sposób para nośników elektron dziura. Te z kolei uzyskując wystarczającą energię kinetyczną kontynuują proces jonizacji. W ten sposób następuje powielanie liczby nośników w obszarze o silnym polu elektrycznym, tj. w warstwie zaporowej. Jeżeli szerokość warstwy zaporowej jest znacznie większa od drogi swobodnej nośnika (drogi między dwoma kolejnymi zderzeniami), można mówić o lawinowym powielaniu liczby nośników (rys.3.6). Wzrost liczby nośników w polu elektrycznym powoduje wzrost wartości prądu. Przy napięciu polaryzacji zaporowej z zakresu 5-7 V występują oba zjawiska jednocześnie. 3.4. WYBRANE WŁAŚCIWOŚCI ZŁĄCZA Wpływ temperatury na charakterystykę napięciowo - prądową złącza p-n. W zakresie przewodzenia wpływ zmian temperatury określany jest przez wielkość dryftu temperaturowego napięcia na złączu p-n przy stałym prądzie przewodzenia. Otóż w miarę wzrostu temperatury napięcie na złączu maleje w tempie ok. 2 mv/ C, zatem dryft temperaturowy jest ujemny i wynosi właśnie -2 mv/ C (rys. 3.7). W zakresie zaporowym ze wzrostem temperatury rośnie wartość prądu nasycenia złącza. Dla szacunkowych obliczeń inżynierskich można przyjąć, że prąd ten zwiększa się dwukrotnie przy wzroście temperatury o ok. 10 C (rys.3.7). Wojciech Wawrzyński Podstawy Elektroniki Złącze p-n 5

Rys.3.7. Wpływ temperatury na charakterystykę prądowo napięciową złącza Zmiany szerokości warstwy zaporowej przy zmianie napięcia polaryzacji złącza. Szerokość warstwy zaporowej ld (rys.3.1) ulega zmianie przy polaryzacji złącza. Szerokość ta jest proporcjonalna do pierwiastka z wartości przyłożonego napięcia: l d ~ U D U (3.3) Napięcie U we wzorze (3.3) należy podstawić ze znakiem minus dla kierunku zaporowego, a ze znakiem plus dla kierunku przewodzenia. Jak widać, przy polaryzacji w kierunku zaporowym warstwa zaporowa rozszerza się. W przypadku złącza niesymetrycznego (tj. takiego złącza, w którym istnieje duża różnica w koncentracji domieszek po obu jego stronach) większe jest wnikanie warstwy zaporowej w obszar o mniejszej koncentracji. Pojemności występujące w złączu. W złączu ładunek jest magazynowany w warstwie zaporowej oraz w obszarach materiału typu p i n. Pojemność warstwy zaporowej, zwana też pojemnością złączową Cj jest pojemnością jakby kondensatora utworzonego z dipolowych warstw ładunków oddalonych od siebie na odległość równą szerokości warstwy zaporowej. Uwzględniając wcześniej wspomnianą zależność szerokości warstwy zaporowej od polaryzacji złącza, a więc jakby odległości pomiędzy okładkami kondensatora od wielkości napięcia, można stwierdzić, że: 1 C j ~ (3.4) U D U co zilustrowano na wykresie (rys. 3.8). Rys.3.8. Zależność pojemności złącza C j od napięcia Wojciech Wawrzyński Podstawy Elektroniki Złącze p-n 6

Pojemność dyfuzyjna Cd jest znacznie trudniejszym pojęciem niż pojemność złączowa. Przy polaryzacji złącza w kierunku przewodzenia następuje wstrzykiwanie nośników mniejszościowych do obszarów półprzewodnika po obu stronach złącza. Największa koncentracja tych nośników jest tuż przy granicy złącza, a w miarę oddalania w głąb materiału typu p i typu n koncentracja maleje. Istnieje zatem proces gromadzenia ładunków w obszarach półprzewodnika po obu stronach złącza p-n. Odzwierciedleniem tego procesu jest właśnie pojemność dyfuzyjna. Wojciech Wawrzyński Podstawy Elektroniki Złącze p-n 7