System oceny struktury geometrycznej powierzchni po obróbce ściernej

MECHANIK NR 9/2014 219 System oceny struktury geometrycznej powierzchni po obróbce ściernej System to the analysis and the evaluation of the topography of surfaces after grinding processes WOJCIECH KACALAK ROBERT TOMKOWSKI DARIUSZ LIPIŃSKI FILIP SZAFRANIEC* W artykule przedstawiono kompleksowy system modelowania i oceny topografii powierzchni technicznych pozwalający na tanią i pełną ocenę struktury geometrycznej powierzchni. Na system składa się duża liczba (ponad 200) skryptów, funkcji i aplikacji, także z graficznym interfejsem użytkownika (GUI). System został opracowany z wykorzystaniem systemu obliczeniowego Matlab, który jest najczęściej używanym systemem w obliczeniach naukowych i inżynierskich. SŁOWA KLUCZOWE: topografia powierzchni, system oceny, cechy stereometryczne, parametry, analiza topograficzna The article presents a comprehensive system to modeling and evaluation of technical surfaces topography allowing for cheap and full assessment of the geometric structure of the surface. The system consists of a large number (over 200) scripts, functions and applications, also with the graphical user interface (GUI). The system was developed using Matlab computing system, which is the most commonly used system for scientific and engineering calculations. KEYWORDS: surface topography, evaluation system, stereometric features, parameters, topographic analysis WPROWADZENIE Analiza topografii powierzchni technicznych i ocena ich właściwości stereometrycznych jest coraz powszechniejszym zadaniem, ważnym dla oceny jakości procesów * prof. dr hab. inż. Wojciech Kacalak (wk5@tu.koszalin.pl) dr inż. Robert Tomkowski (robert.tomkowski@tu.koszalin.pl) dr inż. Dariusz Lipiński (dariusz.lipinski@tu.koszalin.pl) mgr inż. Filip Szafraniec (filip.szfraniec@tu.koszalin.pl) obróbki oraz dla oceny jakości produktów i prognozowaniu ich właściwości eksploatacyjnych [1]. W pracach [2 6] wykazano, że struktura geometryczna powierzchni ma znaczny wpływ między innymi na procesy tarcia i zużycia skojarzonych powierzchni, współpracujących tocznie i ślizgowo, na odkształcenia i sztywność stykową, koncentrację naprężeń i wytrzymałość zmęczeniową, odporność na oddziaływanie korozyjne, na tłumienie drgań, szczelność połączeń, rezystancję stykową, stykowe przewodnictwo ciepła, właściwości magnetyczne, zjawiska odbicia, pochłaniania i przenikania fal (świetlnych, elektromagnetycznych itp.), procesy nanoszenia, przyczepność i wytrzymałość powłok uszlachetniających, właściwości aero- i hydrodynamiczne, na subiektywne wrażenia dotyczące wyglądu, a także na preferencje nabywców określonych produktów. W okresie ostatnich kilkunastu lat, nastąpił niezwykły postęp w metodach pomiaru i przetwarzania danych, charakteryzujących stereometrię powierzchni [7, 8]. Wzrost wymagań w zakresie dokładności i właściwości części maszyn, a także minimalizacja zużycia materiałów, masy i rozmiarów części, wzrost obciążalności i wytrzymałości, a także rozwój technologii wytwarzania, spowodowały opracowanie wielu metod pomiarów i urządzeń do ich przeprowadzania oraz zwiększanie liczby parametrów do wykorzystania w ocenie cech stereometrycznych powierzchni [9 14]. Nadal jednak dobór parametrów oceny cech stereometrycznych powierzchni technicznych, tworzących komplementarny zbiór, zapewniających wysoką skuteczność klasyfikacyjną i łatwość interpretacji ocen, z uwzględnieniem określonych zastosowań powierzchni, jest trudnym zada-

220 MECHANIK NR 9/2014 niem, wymagającym rozwiązania wielu problemów, opracowania oraz upowszechnienia systemów do wspomagania obliczeń i analiz oraz wspomagania podejmowania decyzji [15], odnoszących się do ustaleń konstrukcyjnych, technologicznych i eksploatacyjnych. ZAŁOŻENIA DO SYSTEMU OCENY SGP maksymalizować będą przydatność informacyjną, będą spełniać warunek komplementarności, zawierać będą informację o rozproszeniu i zmienności parametrów geometrycznych oraz spełniać warunek, łatwych do interpretacji relacji, między wartościami parametrów, a określonymi cechami powierzchni, a ponadto umożliwią wyznaczenie ewentualnych korekt procesu kształtowania powierzchni. Zbiór założeń i wymagań dotyczących budowy systemu uwzględniał zarówno oczekiwania użytkowników, jak również możliwości przetwarzania danych z zastosowaniem nowych procedur i parametrów oceny. Uwzględniono wyniki badań zdolności klasyfikacyjnej, zawartości informacyjnej znanych parametrów i przyjęto następujące założenia do budowy systemu: 1. Podstawą wyboru parametrów, które zostaną wykorzystane do oceny określonej powierzchni, powinno być przeznaczenie elementu i warunki jego eksploatacji, przy czym przydatna jest też wiedza o procesie stosowanym do kształtowania powierzchni. 2. Kształtowanie powierzchni wielu dokładnych elementów następuje w procesach obróbki ściernej lub erozyjnej. Powierzchnie takie posiadają randomizowane cechy fraktalne, z niekiedy obcą składową główną. 3. Wiele parametrów chropowatości jest silnie skorelowanych dla pewnych klas powierzchni. 4. Zawartość informacyjna poszczególnych parametrów jest zróżnicowana. 5. Wiele parametrów zyskuje na znaczeniu dopiero po integracji zawartej w nich informacji z informacją z innych parametrów. 6. Większość użytkowanych powierzchni przeznaczonych jest do współpracy z innymi powierzchniami, a zatem rozmieszczenie, rozmiary i cechy statystyczne potencjalnych pól kontaktu mają duże znaczenie. 7. Dla oceny jakości, klasyfikacji i interpretacji wyniku kształtowania powierzchni, wielkie znaczenie ma łatwość interpretacji wartości parametrów i ich odniesienia do cech i efektów procesu kształtowania powierzchni. 8. W ocenie cech stereometrycznych powierzchni za ważne należy uznać relacje między określonymi parametrami profilu (2D) we wzajemnie prostopadłych kierunkach, dlatego, iż szczególnie ważny jest kształt i rozmieszczenie obszarów prawdopodobnego styku kontaktujących się powierzchni. 9. Wskazywanie jednego uniwersalnego zbioru parametrów, zalecanego do oceny cech stereometrycznych powierzchni, do powierzchni o różnych przeznaczeniach, funkcjach użytkowych i zastosowaniach eksploatacyjnych, nie jest uzasadnione. 10. W zależności od warunków planowanej eksploatacji oraz, w pewnym stopniu, również od cech procesu kształtowania powierzchni, należy tworzyć zbiór parametrów, które (rys. 1): Rys. 1. Schemat do ilustracji problemów kompleksowej oceny cech stereometrycznych powierzchni technicznych 11. Opracowane i zastosowane nowe zbiory parametrów do analizy cech stereometrycznych powierzchni, powinny wynikać z analiz: wartości i cech rozkładu pierwszej pochodnej zarysu: dz/dx, dz/dy (w tym statystyki wartości zbliżonych do zera), rozkładu rzędnych wierzchołków powierzchni i zarysów P(xmax) x>x0, P(ymax) y>y0, rozkładu odległości wierzchołków w określonym kierunku, rozmiarów, położenia i odległości pól prawdopodobnego styku z po-wierzchnią współpracującą o określonej topografii lub z powierzchnią równoważną statystycznie, dla określonych warunków zbliżenia powierzchni (rys. 2), rozkładu kątów pochylenia linii łączących sąsiednie wierzchołki wzniesień zarysu, rozkładu wartości stosunku wysokości do pierwiastka z pola wyniesienia, rozkładu wartości stosunku obwodu do pierwiastka z pola wyniesienia powierzchni ponad określony poziom, relacji między stosowanymi parametrami oceny wysokości nierówności, cech opisujących kształt wierzchołków nierówności i pól ich przecięcia na określonym poziomie. 12. Do oceny powierzchni o bardzo małej chropowatości należy stosować zbiór parametrów zależnych od: liczby wzniesień powyżej określonego poziomu, powierzchni postawy wzniesień na określonym poziomie, liczby wzniesień płaskich (dla przyjętych kryteriów płaskości), powierzchni wzniesień płaskich, odległości między wzniesieniami powyżej określonego poziomu, liczby wzniesień płaskich w stosunku do wszystkich wzniesień powyżej określonego poziomu, sumy pól powierzchni wzniesień

MECHANIK NR 9/2014 221 zdefiniowanych jako płaskie, w stosunku do sumy wszystkich wzniesień powyżej określonego poziomu. PRZYKŁADOWE MODUŁY SYSTEMU OCENY SGP Moduł analizy topografii powierzchni Na zbiór opracowanego w Katedrze Mechaniki Precyzyjnej (http://kmp.wm.politechnika.koszalin.pl/) systemu oceny SGP, składają się różne moduły analiz w formie tzw. Graficznego Interfejsu Użytkownika (ang. GUI Graphical User Interface), a także wiele samodzielnych skryptów, które łącznie tworzą zaawansowane narzędzie. System ATOP zawiera m.in. takie funkcje jak: 1 Rys. 2. Ilustracja do metodyki i zastosowań opracowanych metod analizy cech stereometrycznych powierzchni 13. W tworzeniu syntetycznych wskaźników oceny powierzchni, z uwzględnieniem wielu parametrów elementarnych, niezbędna jest normalizacja wielkości wejściowych, a następnie wskazane jest wyznaczanie średniej geometrycznej, która w stosunku do średniej arytmetycznej w większym stopniu zależy od danych uznawanych za niekorzystne. 14. Zdolność klasyfikacyjna określonych parametrów oceny cech stereometrycznych powierzchni, dla określonego zbioru porównywanych powierzchni (normalizowanego dla danego zbioru), jest tym większa im bardziej równomierny jest rozkład wartości ocen wszystkich powierzchni (w przedziale 0, 1). W przypadku, gdy oceny, z zastosowaniem danego parametru, są dla kilku powierzchni podobne, to parametr ten ma niską zdolność klasyfikacyjną. Wskaźnikiem zdolności klasyfikacyjnej może być średnia geometryczna różnic wartości kolejnych ocen w posortowanym ciągu ocen. 15. Klasyfikacja powierzchni na podstawie ich cech stereometrycznych, z określeniem klasy przydatności do wyodrębnionej grupy zastosowań, wymaga zastosowania następującej metodyki: najpierw określa się zbiór różnych zastosowań i warunków pracy powierzchni, następnie określa się zbiór parametrów, wykorzystywanych do opisywania cech stereometrycznych powierzchni, w kolejnym kroku określa się wzorce cech stereometrycznych, typowe dla określonych zastosowań, wymagań i warunków pracy. W końcowym kroku, z zastosowaniem nowego algorytmu ulepszającego zdolności klasyfikacyjne sztucznej sieci neuronowej Hamminga, następuje zakwalifikowanie ocenianej powierzchni, na podstawie wartości parametrów, opisujących jej cechy stereometryczne, jako najbliższej jednego z wzorców, co oznacza przypisanie określonego wyróżnika klasyfikacyjnego. 16. Wnioskowanie o wartościach parametrów 3D na podstawie parametrów 2D jest możliwe dla określonych klas powierzchni, z wykorzystaniem wyznaczonych zależności lub wprost z wykorzystaniem opracowanych aplikacji. zapis i odczyt plików z profilometrów Talusurf CCI 6000 oraz Talysurf CLI 2000 firmy Taylor Hobson, obliczanie parametrów 2D na podstawie norm, obliczanie parametrów 3D zgodnie z projektami norm, analiza statystyczna, określanie współzależności parametrów, filtrację, wyodrębnianie profili, wyodrębnianie powierzchni, klasyfikator powierzchni z zastosowaniem sztucznych sieci neuronowych. Do jednej z najbardziej rozbudowanej aplikacji należy pakiet Analiza Topografii Powierzchni (akronim ATOP) przedstawiony na rysunku 3. Jest to mocno rozbudowane środowisko graficzne, które w przejrzysty sposób wspomaga użytkownika we wprowadzaniu (wczytywaniu) danych, ich podstawowej analizie parametrycznej oraz wizualizacji. Możliwe jest wczytywanie plików z różnymi rozszerzeniami takimi jak: pliki powierzchni z rozszerzeniem *.sur, pliki profili z rozszerzeniem *.pro, pliki projektowe ATOP z rozszerzeniem *.proj.mat (są to pliki wewnętrzne pakietu Matlab), wczytywanie danych z przestrzeni roboczej programu Matlab. Po wczytaniu odpowiednich danych w oknie głównym aplikacji znajduje się szereg informacji, które aktualizowane są wraz ze zmianą (wyborem) danych do analizy. Na informacje te składają się między innymi: lista wczytanych obiektów danych, informacje podstawowe odczytywane z nagłówka pliku, podstawowe dane statystyczne, oraz podstawowe analizy parametryczne dla powierzchni i jej dwóch losowych profili w kierunkach X i Y, a w przypadku profilu tylko dla niego, wizualizacja 3D (rys. 4). W celu rozszerzenia zbioru informacji o parametrach opracowano zbiór funkcji wyznaczających podstawowe parametry w układzie 2D (rys. 5 a) i 3D (rys. 5 b) zgodnie z normami i projektami norm (dotyczy parametrów 3D). Wszystkie dane wyznaczone i wypisane przez aplikację, można zapisać do pliku Microsoft Excel w celu ich dalszego przetwarzania i analizy. Ponadto do wglądu jest cały nagłówek pliku *.SUR (rys. 6) utworzony podczas pomiaru powierzchni przez odpowiednie urządzenie pomiarowe.

222 MECHANIK NR 9/2014 Rys. 3. Okno główne systemu oceny topografii powierzchni ATOP Rys. 4. Wizualizacja 3D z zastosowaniem pakietu ATOP

MECHANIK NR 9/2014 223 a) edytować te pola nagłówka, które nie spowodują błędów zapisu do pliku *.SUR (rys. 7). b) Rys. 6. Zaawansowane informacje z nagłówka pliku powierzchni Wczytane do aplikacji dane pomiarowe, można również zapisać w formie projektu *.pro.mat. Zapisany projekt można wczytać w dowolnym momencie do aplikacji i dokonywać dalszych przekształceń. Wszelkie zmiany dotyczą zazwyczaj samej powierzchni. Wczytane dane zapisywane są tablicy o nazwie tab_powierzchni{nr}, która znajduje się w przestrzeni roboczej programu Matlab. Tablica zawiera szereg struktur odpowiadających kolejno wczytywanym danym (profil lub powierzchnia). Dane powierzchni (macierz z wartościami wysokości nierówności) znajdują się w ostatnim polu nagłówka: tab_powierzchni{nr pow.}.dane_powierzchni. Rys. 5. a) Okno parametrów 2D dla wybranego profilu powierzchni w kierunku X, b) okno parametrów 3D Jeżeli do programu zostanie wczytana powierzchnia bez nagłówka (np. z przestrzeni roboczej programu Matlab), to do niej dodawany jest automatycznie nagłówek wzorcowy. Dane wysokości rzędnych oraz dotyczące rozdzielczości aktualizowane są w nagłówku na podstawie danych obliczonych z wczytywanej powierzchni. Dodatkowo, można Rys. 7. Edycja pól nagłówka powierzchni wczytywanej z przestrzeni roboczej programu Matlab

224 MECHANIK NR 9/2014 Moduł oceny współzależności parametrów SGP Aplikacja umożliwia określenie zależności pomiędzy parametrami zarysu (parametrami 2D) w osi x i y (osi prostopadłej i równoległej do śladów obróbki) oraz parametrami powierzchni (parametrami 3D). Dane wejściowe zawierają informacje o wybranych powierzchniach. Dane zapisane są w komórce o nazwie P (rys. 8). Indeks komórki odpowiada indeksowi analizowanej powierzchni (np. P{3} jest komórką zawierającą dane dla trzeciej powierzchni). Każda z komórek zawiera trzy poniższe struktury: p2dx struktura zawierająca wartość parametrów 2D wybranego zarysu w osi x (zarys prostopadły do śladów obróbki), p2dy struktura zawierająca wartość parametrów 2D wybranego zarysu w osi y (zarys równoległy do śladów obróbki), p3d struktura zawierająca wartości parametrów 3D dla powierzchni. obszar oznaczony kolorem niebieskim umożliwia podstawową analizę wartości parametrów 2D dla zarysów w osi y, obszar oznaczony kolorem zielonym umożliwia podstawową analizę wartości parametrów 3D, obszar oznaczony kolorem pomarańczowym umożliwia zaawansowaną analizę zależności występujących zarówno między poszczególnymi parametrami zarysu (zarówno w osi x jak i y) lub powierzchni jak i wzajemnie między nimi. Podstawowa analiza parametrów 2D (dla zarysów zarówno w osi x jak i y) umożliwia (rys. 10.): analizę wartości poszczególnych parametrów zarysu powierzchni. Dane przedstawione są w obszarze oznaczonym cyfrą 2 w macierzy, której kolumny stanowią parametry zarysu a wiersze indeksy kolejnych powierzchni (o tym, który zarys z danej powierzchni wybierany jest do analizy decydujemy na etapie tworzenie danych wejściowych do aplikacji), analizę wartości minimalnych, średnich i maksymalnych parametrów zarysów powierzchni (obszar oznaczony cyfrą 3), możliwość wyłączenia/włączenia do dalszych analiz zaawansowanych poszczególnych parametrów zarysu (obszar oznaczony cyfrą 1). Podstawowa analiza parametrów 3D umożliwia (rys. 11): analizę wartości poszczególnych parametrów powierzchni. Dane przedstawione są w obszarze oznaczonym cyfrą 2 w macierzy, której kolumny stanowią parametry powierzchni a wiersze indeksy kolejnych powierzchni, analizę wartości minimalnych, średnich i maksymalnych parametrów powierzchni (obszar oznaczony cyfrą 3), możliwość wyłączenia/włączenia do dalszych analiz zaawansowanych poszczególnych parametrów powierzchni (obszar oznaczony cyfrą 1). Aplikacja umożliwia również wykonanie złożonych analizy parametrów oceny powierzchni, takich jak (rys. 12): Rys. 8. Struktura danych wejściowych Struktury p2dx i p2dy zawierają pola o nazwach odpowiadających nazwom parametrów 2D a wartościom tych pól przypisane są wartości odpowiadających im parametrów. Struktury te zawierają pola: Ra, Rq, Rv, Rp, Rt, Rz, Rsk, Rku, RSm, Rc, Rdq, Rmr, Rdc, Rk, Mr1, Mr2, Rpk, Rvk, A1, A2. Struktura p3d zawiera pola o nazwach odpowiadających nazwom parametrów 3D a wartościom tych pól przypisane są wartości odpowiadających im parametrów. Struktura ta zawiera pola: Sa, Sq, Sv, Sp, St, Sz, Ssk, Sku, Smr, Sdc, Sbi, Sdr, Sdq, Sds, Sk, Sr1, Sr2, Spk, Svk, A1, A2, Smmr, Smvr. Okno główne aplikacji składa się z czterech obszarów (rys. 9): obszar oznaczony kolorem czerwonym umożliwia podstawową analizę wartości parametrów 2D dla zarysów w osi x, modelowanie zależności między parametrami poszczególnymi grupami parametrów oraz pomiędzy poszczególnymi parametrami w grupie, analizę czynników głównych, analizę graficzną zbiorów wartości parametrów w poszczególnych grupach. Algorytm analizujący podobieństwa pomiędzy zbiorami wartości danego parametru realizowany jest w poniższych krokach: znajdowane są podobieństwa pomiędzy każdą parą parametrów w zbiorze danych (dla k obiektów istnieje 1 /2 par. Wyznaczana jest odległość pomiędzy każdą analizowaną parą, parametry o największym podobieństwie, wyznaczanym na podstawie wcześniej obliczonych odległości między nimi, grupowane są w klastry, a następnie do klastrów mogą być dodawane kolejne parametry lub klastry tworząc klastry wyższego poziomu, utworzona hierarchia klastrów przedstawiana jest w postaci graficznej. Na osi poziomej przedstawione są analizowane parametry. Parametry grupowane są w klastry. Wysokość linii łączącej klastry/parametry zależna jest od odległości między nimi.

MECHANIK NR 9/2014 225 Rys. 9. Widok okna głównego aplikacji z przykładowymi danymi Rys. 12. Widok obszaru okna głównego aplikacji do zaawansowanej analizy parametrów Rys. 10. Widok obszaru okna głównego aplikacji do podstawowej analizy parametrów 2D W modelowanych zależnościach optymalizowane są parametry modeli (modeli potęgowych i ekspotencjalnych) a następnie wybierany model o najwyższym współczynniku 2 determinacji R. Wartości współczynników determinacji wpisywane są do macierzy współczynników determinacji. Po zaznaczeniu pola Zaznaczenie komórki wyświetla dopasowanie modelu, kliknięcie na dowolną komórkę w macierzy powoduje wyświetlenie wykresu, na którym przedstawione są wartości poszczególnych parametrów oraz ich model analityczny i jego parametry. Ssk =0,011 0.011 + 0.046 * Sa 1.9, 0,046 0.12 wsp czynnik regresji (R 2 =0.618121) 0.1 Sa 0.08 0.06 0.04 0.02 Rys. 11. Widok obszaru okna głównego aplikacji do podstawowej analizy parametrów 3D 0 0 0.2 0.4 0.6 0.8 1 Ssk Rys. 13. Przykładowy model zależności Ssk=f(Sa) 1.2 1.4

226 MECHANIK NR 9/2014 Moduł generowania powierzchni (metoda fraktalna) Wśród prac, dotyczących modelowania topografii powierzchni narzędzi ściernych oraz powierzchni po obróbce ściernej, można wymienić prace opisujące wyniki badań nad zastosowaniem teorii fraktali, analiz częstości składowych, przekształceń falkowych, analiz statystycznych, analiz wywodzących się z teorii chaosu i katastrof. Większość wyników wykazuje ograniczoną przydatność i dość wąski zakres adekwatności lub wielką złożoność obliczeniową, z ograniczoną możliwością sterowania procesami generowania trójwymiarowego obrazu powierzchni i jego specyficznych cech. To powoduje, że nadal poszukuje się prostych i uniwersalnych generatorów pozwalających na generowanie współrzędnych powierzchni o cechach statystycznie zgodnych z powierzchniami rzeczywistymi. Autorzy opracowali generator struktury stereometrycznej powierzchni, wykorzystujący charakterystyczne, dla randomizowanych fraktali, mechanizmy kumulacji składowych w operacjach na zbiorach funkcji z = f(x,y). Tworzenie generatorów powierzchni technicznych jest potrzebne nie tylko dla doskonalenie modelowania i wizualizacji, ale również dla tworzenia licznych zbiorów powierzchni, w celu rozszerzenia zakresu analiz i badań właściwości stereometrycznych, relacji między parametrami 2D i 3D oraz poszukiwania struktur stereometrycznych uważanych za korzystne w określonych zastosowaniach eksploatacyjnych. Podsumowanie Opisany system został opracowany i jest przeznaczony do wykorzystywania w środowisku Matlab, jako środowisku najczęściej używanym w obliczeniach naukowych i inżynierskich. Dostępny jest wraz kodem aplikacji oraz szkoleniem użytkowników. Użytkownicy nie są ograniczeni w analizach i modyfikacjach procedur obliczeniowych do własnych potrzeb, lub ich uzupełnianie o nowe procedury i dostosowywanie do kolejnych wersji zestawów pomiarowych, choć w przytaczaniu wyników powinni zawierać odnośniki do publikacji o systemie. Dostępne są ponadto informacje wprowadzające, wiele filmów do przykładowych zastosowań, filmy ilustracyjne oraz bardzo dużo wzorcowych wyników. LITERATURA 1. Whitehouse D. J.: Handbook of surface and nanometrology. IOP, 2003. 2. Field M., Kahales J.F., Koster W.P: Surface finish and surface integrity. ASM Handbook: Machining, (DOI: 10.1361/asmhba0002119), Vol. 16, 1989, s. 19 36. 3. De Chiffre L., Christiansen S., Skade S.: Advantages and industrial applications of three dimensional surface topography. Ann. CIRP, 43, 1994, s. 473 478. 4. Tomkowski R., Kacalak W., Lipiński D., Analiza właściwości stereometrycznych powierzchni w procesach mikro- i nanowygładzania. Podstawy i technika obróbki ściernej, NSOŚ, Łódź 2010, s. 427-454. 5. Kapłonek W., Tomkowski R., Analiza topografii powierzchni dyfrakcyjnych elementów optycznych z wykorzystaniem interferometrii światła białego. PAK, vol. 54, nr 4/2009, s. 272-275, 2009. 6. Kapłonek W., Tomkowski R., Zastosowanie systemu pomiarowego Talysurf CLI 2000 do analizy topografii powierzchni narzędzi ściernych. Współczesne problemy obróbki, NSOŚ, Koszalin, 2009. 7. Mathia T.G., Pawlus P., Wieczorowski M.: Recent trends in surface metrology. Wear, 271, 2011, s. 494 508. 8. Wieczorowski M.: Metrologia nierówności powierzchni. Metody i systemy. Wydawnictwo ZAPOL, Szczecin, 2013. 9. Sout K. J., Blunt L.: Three Dimensional Surface Topography. Elsevier, 2000 10. Pawlus P.: Topografia powierzchni: pomiar, analiza, oddziaływanie. Oficyna Wydawnicza Politechniki Rzeszowskiej, Rzeszów, 2005. 11. Wieczorowski M.: Wykorzystanie analizy topograficznej w pomiarach nierówności powierzchni. Rozprawy Nr 429, Wydawnictwo Politechniki Poznańskiej, Poznań, 2009. 12. Tomkowski R., Kacalak W., Lipiński D., Evaluation of the surface topography after precision machining, Journal of Machine Engineering, Vol. 12, No. 4, s. 71-80, 2012. 13. Kacalak W. Szafraniec F., Tomkowski R. Lipiński D. Łukianowicz Cz., Metodyka oceny zdolności klasyfikacyjnej parametrów charakteryzujących cechy stereometryczne nierówności powierzchni, PAK, Vol. 57, s. 542-546, 2011. 14. Tomkowski R., Kapłonek W., Kacalak W., Łukianowicz C., Lipiński D., Cincio R., Metody filtracji cyfrowej w ocenie topografii powierzchni, PAK, vol. 59, nr 6 2013, 507-511 15. Kacalak. W., Lipiński D., Tomkowski R., Podstawy jakościowej oceny stanu powierzchni kształtowanych. PAK, vol. 54, nr 4/2008, s. 180-183, 2008. Opracowany system charakteryzuje się szerokim zakresem jego przydatności w różnych dziedzinach przemysłu. Powszechną przydatność systemu charakteryzują następujące dane obecnie w Polsce nabywa się około 100 profilometrów rocznie, co w warunkach ich dziesięcioletniej eksploatacji, daje liczbę ponad 1000 użytkowanych urządzeń. Liczbę pomiarów i analiz wyników można oszacować z liczby urządzeń oraz średnich potrzeb ich użytkowania oznacza to około miliona pomiarów rocznie. Podstawowe oprogramowanie nabywane wraz z profilometrem, jest zazwyczaj ograniczone w liczbie licencji i liczbie użytkowników, a często może być wykorzystywane tylko z kluczem sprzętowym. Nie zawiera ponadto możliwości jego uzupełniania przez użytkownika o nowsze procedury. Artykuł został sfinansowany ze środków Narodowego Centrum Nauki przyznanych na podstawie decyzji numer DEC-2012/05/B/ST8/02802.