11.Zasady projektowania komórek standardowych



Podobne dokumenty
Ogólny schemat inwertera MOS

Zadanie 5 Projekt licznika wykorzystanie komórek standardowych

Układy cyfrowe w technologii CMOS

Zadanie 5 Projekt licznika wykorzystanie komórek standardowych

LABORATORIUM z przedmiotu ALGORYTMY I PROJEKTOWANIE UKŁADÓW VLSI

Ćw. 8 Bramki logiczne

Inwerter logiczny. Ilustracja 1: Układ do symulacji inwertera (Inverter.sch)

Symulacje inwertera CMOS

Wzmacniacze napięciowe z tranzystorami komplementarnymi CMOS

S P R A W O Z D A N I E T e m a t: Projektowanie układów realizujących złożone funkcje logiczne.

Logiczne układy bistabilne przerzutniki.

LABORATORIUM PROJEKTOWANIA UKŁADÓW VLSI

Podstawy Elektroniki dla Tele-Informatyki. Tranzystory unipolarne MOS

4. Funktory CMOS cz.2

Podstawy Elektroniki dla Informatyki. Tranzystory unipolarne MOS

Projektowania Układów Elektronicznych CAD Laboratorium

Różnicowe układy cyfrowe CMOS

LICZNIKI LABORATORIUM. Elektronika AKADEMIA GÓRNICZO-HUTNICZA IM. STANISŁAWA STASZICA W KRAKOWIE. Wydział Informatyki, Elektroniki i Telekomunikacji

AKADEMIA MORSKA KATEDRA NAWIGACJI TECHNICZEJ

340_163 Moduł liczników binarnych

Ćwiczenie 9 TRANZYSTORY POLOWE MOS

SML3 październik

Prostowniki. Prostownik jednopołówkowy

Laboratorium Elektroniki

Część II Wyświetlanie obrazów

b) bc a Rys. 1. Tablice Karnaugha dla funkcji o: a) n=2, b) n=3 i c) n=4 zmiennych.

Podstawowe układy cyfrowe

LABORATORIUM. Technika Cyfrowa. Badanie Bramek Logicznych

Dokument zawiera podstawowe informacje o użytkowaniu komputera oraz korzystaniu z Internetu.

dwójkę liczącą Licznikiem Podział liczników:

Laboratorium KOMPUTEROWE PROJEKTOWANIE UKŁADÓW

Instrukcja obsługi programu Creative Fotos

ćw. Symulacja układów cyfrowych Data wykonania: Data oddania: Program SPICE - Symulacja działania układów liczników 7490 i 7493

POLITECHNIKA BIAŁOSTOCKA

Wprowadzenie do techniki Cyfrowej i Mikroelektroniki

202_NAND Moduł bramek NAND

Bramki TTL i CMOS 7400, 74S00, 74HC00, 74HCT00, 7403, 74132

Badanie diod półprzewodnikowych

Przerzutnik ma pewną liczbę wejść i z reguły dwa wyjścia.

Instrukcja nr 5. Wzmacniacz różnicowy Stabilizator napięcia Tranzystor MOSFET

Instrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego

Ćwiczenie 24 Temat: Układy bramek logicznych pomiar napięcia i prądu. Cel ćwiczenia

Rys. 1. Rozpoczynamy rysunek pojedynczej części

Synteza układów kombinacyjnych

Drukowanie i sklejanie wykrojów w formacie A4 INSTRUKCJA

Projektowanie układów VLSI-ASIC techniką od szczegółu do ogółu (bottom-up) przy użyciu pakietu CADENCE w technologii UMC 0.18µm

Katedra Przyrządów Półprzewodnikowych i Optoelektronicznych Laboratorium Przyrządów Półprzewodnikowych. Ćwiczenie 4

1. Umieść kursor w miejscu, w którym ma być wprowadzony ozdobny napis. 2. Na karcie Wstawianie w grupie Tekst kliknij przycisk WordArt.

CHARAKTERYSTYKI BRAMEK CYFROWYCH TTL

Wzmacniacze napięciowe z tranzystorami komplementarnymi CMOS

PL B1. AKADEMIA GÓRNICZO-HUTNICZA IM. STANISŁAWA STASZICA W KRAKOWIE, Kraków, PL BUP 14/12

Ćwiczenie 1. Symulacja układu napędowego z silnikiem DC i przekształtnikiem obniżającym.

Bramki logiczne Instrukcja do ćwiczeń laboratoryjnych

Projekt współfinansowany ze środków Unii Europejskiej w ramach Europejskiego Funduszu Społecznego

Podstawy użytkowania i pomiarów za pomocą MULTIMETRU

Badanie działania bramki NAND wykonanej w technologii TTL oraz układów zbudowanych w oparciu o tę bramkę.

PRZEŁĄCZANIE DIOD I TRANZYSTORÓW

TECH-AGRO B ę d z i n

1. Włączamy listę wielopoziomową: rozwijamy trzecią ikonę do włączania list i wybieramy wzór:

1. Przekrój poprzeczny tranzystora nmos. Uzupełnij rysunek odpowiednimi nazwami domieszek (n lub p). S G D

POLITECHNIKA BIAŁOSTOCKA

Budowa. Metoda wytwarzania

Podstawy Elektroniki dla Informatyki. Pętla fazowa

Przewodnik Użytkownika systemu PBN. dodawanie publikacji w formie artykułu

Automatyzacja i robotyzacja procesów produkcyjnych

Maskowanie i selekcja

Arkusz kalkulacyjny MS Excel 2010 PL.

LABORATORIUM ELEKTROTECHNIKI POMIAR PRZESUNIĘCIA FAZOWEGO

Poradnik korzystania z usługi FTP

Układy witryn internetowych

ADMINISTRACJA STRONĄ EMPIRE MUSIC

Ćwiczenie 26. Temat: Układ z bramkami NAND i bramki AOI..

Ćwiczenie 25 Temat: Interfejs między bramkami logicznymi i kombinacyjne układy logiczne. Układ z bramkami NOR. Cel ćwiczenia

Instrukcja obsługi funkcji specjalnych szablonu C01 v.1.0

Ćwiczenie 2: pomiar charakterystyk i częstotliwości granicznych wzmacniacza napięcia REGIONALNE CENTRUM EDUKACJI ZAWODOWEJ W BIŁGORAJU

FORMUŁY AUTOSUMOWANIE SUMA

WZMACNIACZ NAPIĘCIOWY RC

Foto instrukcja pomiaru i zamówienia: żaluzje poziome

Pasek menu. Ustawienia drukowania

Spis treści. Konwencje zastosowane w książce...5. Dodawanie stylów do dokumentów HTML oraz XHTML...6. Struktura reguł...9. Pierwszeństwo stylów...

TECH-AGRO B ę d z i n

Uwaga! CorelDRAW ćwiczenia kl. III Strona 1 z 6

PL B1. POLITECHNIKA GDAŃSKA, Gdańsk, PL BUP 19/09. MACIEJ KOKOT, Gdynia, PL WUP 03/14. rzecz. pat.

Labona Vyměř a namontuj

Liniowe układy scalone w technice cyfrowej

Użycie przestrzeni papieru i odnośników - ćwiczenie

Podstawy Techniki Cyfrowej Liczniki scalone

Cyfrowe układy sekwencyjne. 5 grudnia 2013 Wojciech Kucewicz 2

Instrukcja montażu. Akustyczny system ścienny Vescom

Zadanie 1 Projekt bramki NAND lub NOR optymalizacja charakterystyk przejściowych

Opis dydaktycznych stanowisk pomiarowych i przyrządów w lab. EE (paw. C-3, 302)

6.1 Pasek menu. Pasek menu modułu 3Dstudio zawiera następujące przyciski funkcyjne:

Temat: Organizacja skoroszytów i arkuszy

AKADEMIA GÓRNICZO-HUTNICZA IM. STANISŁAWA STASZICA W KRAKOWIE. Wydział Informatyki, Elektroniki i Telekomunikacji LABORATORIUM.

Ćwiczenie ZINTEGROWANE SYSTEMY CYFROWE. Pakiet edukacyjny DefSim Personal. Analiza prądowa IDDQ

b) Dorysuj na warstwie pierwszej (1) ramkę oraz tabelkę (bez wymiarów) na warstwie piątej (5) według podanego poniżej wzoru:

Tranzystory bipolarne. Właściwości dynamiczne wzmacniaczy w układzie wspólnego emitera.

Technologia BiCMOS Statystyka procesów produkcji

Dioda półprzewodnikowa

Wykonanie ślimaka ze zmiennym skokiem na tokarce z narzędziami napędzanymi

Transkrypt:

LABORATORIUM PODSTAW MIKROELEKTRONIKI 39 11.Zasady projektowania komórek standardowych 11.1.Projektowanie komórek standardowych Formę komórki standardowej powinny mieć wszystkie projekty od inwertera do przerzutnika T, z wyjątkiem oscylatorów pierścieniowych. 1. Tranzystory można rysować zawsze w parach: 1 PMOS na górze, 1 NMOS na dole. Jednak wyższą ocenę projektu można uzyskać przez lepsze rozplanowanie tranzystorów. 2. Polikrzem bramki powinien przebiegać po linii prostej nad tranzystorami oraz w odległości od nich równej minimalnej, na jaką polikrzem powinien wystawać poza dyfuzję (reguła r305 patrz skrypt [6]). Powyższa zasada jest wymaganiem programu Microwind dla poprawnej ekstrakcji parametrów tranzystorów. Rysunek 12-7 w skrypcie pokazuje, że komórka może być mniejsza, jeżeli bramka jest załamana. 3. Poza tranzystorami kształt ścieżki polikrzemowej może być dowolny, dzięki czemu komórka może osiągnąć mniejsze rozmiary. 4. Wszystkie komórki muszą mieć tę samą wysokość. Górna i dolna granica komórki jest wyznaczona przez brzegi szyn zasilających VDD i VSS. 5. Wysokość komórki powinna być tak dobrana, aby zmieścić tranzystory i połączenia wewnątrzkomórkowe dla najbardziej złożonej komórki w przypadku laboratorium będzie to przerzutnik D z zerowaniem i przerzutnik T. Wstępne pojęcie o rozmiarach tego układu daje rysunek. 35. 6. Szerokość komórki powinna być najmniejsza pozwalająca na zmieszczenie wszystkich jej elementów składowych przy zachowaniu reguł projektowania. Lewa i prawa granica komórki jest wyznaczona przez krańce szyn zasilających VDD i VSS.

40 LABORATORIUM PODSTAW MIKROELEKTRONIKI 7. Komórki są łączone ze sobą na jeden z dwóch sposobów: a)zetknięcie w poziomie, tworząc rzędy, przy czym jedna lub obie komórki mogą być odbite względem linii pionowej; b)zetknięcie w pionie, jako składniki dwóch sąsiednich rzędów, przy czym jedna z komórek musi być wówczas odbita względem linii poziomej (VDD lub VSS jednej z komórek łączymy z VDD drugiej) oraz jedna lub obie mogą być odbite względem linii pionowej. Biorąc pod uwagę przypadek a), szyny zasilania i studnie obu komórek na ich granicy powinny być idealne dopasowane. Położenie szyn zasilania i studni powinno być utrzymane przez całą szerokość komórki. W celu minimalizacji rozmiarów komórki, wysokość studni może być wewnątrz komórki zwiększona lub zmniejszona, jednak należy wówczas zwrócić szczególną uwagę na zapewnienie zachowania reguł projektowania przy składaniu komórek (reguły r101, r102, r203, r204). Biorąc pod uwagę przypadek b), przebieg szyn zasilania i studni powinien zapewnić ich połączenie na całej szerokości granicy komórek. 8. Szyny zasilające prowadzić należy metalem 1. Ich wysokość powinna uwzględniać fakt zasilania dużej liczby komórek. 9. Na całej szerokości komórki na szynie zasilania powinny się znajdować kontakty polaryzujące odpowiednio podłoże lub studnię. Skrajne kontakty powinny znajdować się jak najbliżej skraju komórki. Odległość kontaktów od zewnętrznego i bocznych skrajów komórki powinna gwarantować zachowanie reguł projektowania przy składaniu komórek w poziomie lub pionie (r202). 10. Wszystkie ścieżki metali (oprócz realizujących połączenia komórki z innymi komórkami, w tym szyn zasilania), ścieżki polikrzemu oraz dyfuzje N+ i P+ muszą znajdować się w odpowiedniej odległości od lewego i prawego skraju komórki, aby przy składaniu komórek w poziomie nie naruszyć reguł projektowania (r202, r302, r502, r702). 11. Studnia powinna wykraczać poza szynę zasilania z lewej strony, z prawej strony oraz na zewnątrz na minimalną odległość, na jaką studnia powinna wykraczać poza znajdującą się w niej dyfuzję (reguła r203), pomniejszoną o odległość, o jaką metal szyn zasilania wykracza poza dyfuzję skrajnego kontaktu (zasada 7). 12. Każde wejście i każde wyjście komórki powinno posiadać kontakt do metalu 2. Do tego punktu zostanie przyłączona ścieżka metalu 2 lub 3 łącząca komórkę z inną (innymi). 13. Połączenia wewnątrz komórki wykonujemy przede wszystkim metalem 1. Jeżeli zachodzi konieczność skrzyżowania dwóch ścieżek metalicznych, to na jednej z nich należy zrobić mostek metalem 2 (jak najkrótszy, bo metal ten zasadniczo jest przeznaczony do prowadzenia w pionie

LABORATORIUM PODSTAW MIKROELEKTRONIKI 41 połączeń na zewnątrz komórki); w ostateczności mostek można wykonać z metalu 3. Sygnały dołączane do bramek można również prowadzić polikrzemem, szczególnie jeżeli pozwala to na wyeliminowanie dodatkowych kontaktów. 14. Dla zapewnienia jak najlepszych warunków polaryzacji, sygnały do źródeł i drenów tranzystorów doprowadza się za pośrednictwem maksymalnej liczby kontaktów mieszczących się na obszarze dyfuzji; metal powinien ciągnąć się nieprzerwanie od pierwszego do ostatniego kontaktu. 15. Szerokość polikrzemu w tranzystorach powinna odpowiadać optymalnej (czyli minimalnej) długości kanału. Poza tranzystorami, począwszy od minimalnej odległości, na jaką polikrzem powinien wystawać poza dyfuzję (reguła r305), ścieżki polikrzemu mogą być poszerzone do 3 4 λ, co pozwala zmniejszyć ich rezystancję. 11.2.Łączenie komórek standardowych Licznik powinien być układem złożonym z odpowiedniej liczby komórek standardowych. Poszczególne komórki standardowe należy rozmieścić tak, aby uzyskać minimalne długości połączeń między nimi oraz kształt całego układu jak najbardziej zbliżony do kwadratu. Połączenia między kontaktami wejścia/wyjścia poszczególnych komórek standardowych należy wykonać prowadząc ścieżki nad komórkami (routing over the cells). W pionie należy stosować metal 2, zaś w poziomie metal 3. Na krótkich odcinkach (porównywalnych z rozmiarami kontaktów) dopuszczalne są odstępstwa od tej reguły.

42 LABORATORIUM PODSTAW MIKROELEKTRONIKI 11.3.Przykłady poprawnie zaprojektowanych układów Rys. 33. Trzywejściowa bramka NOR z tranzystorami ułożonymi parami jeden pod drugim. Rys. 34. Trzywejściowa bramka NOR o zoptymalizowanej szerokości.

LABORATORIUM PODSTAW MIKROELEKTRONIKI 43 Rys. 35. Licznik 3-bitowy zliczający w pętli od 0 do 6, złożony z komórek standardowych (począwszy od górnego lewego rogu; niniejszą stronę należy obrócić o 90 zgodnie z ruchem wskazówek zegara): 1 trzywejściowej bramki NAND, 4 dwuwejściowych bramek NAND i 3 przerzutników T.

44 LABORATORIUM PODSTAW MIKROELEKTRONIKI 12.Program Microwind często spotykane problemy 12.1.O czym należy pamiętać Zawsze po uruchomieniu programu wybrać odpowiednią technologię. Zawsze przy pierwszej symulacji zmniejszyć 10-krotnie krok symulacji. Funkcja Undo cofa wyłącznie jedną ostatnią operację. 12.2.Rozwiązania najczęściej występujących problemów Problem Wstawiane są kontakty o dziwnych rozmiarach. W oknie symulacji nie wyświetla się przebieg, chociaż w odpowiednim punkcie układu został umieszczony punkt obserwacyjny. Rozwiązanie Nie została wybrana technologia. Należy wybrać technologię, a kontakt skasować i wstawić jeszcze raz. Warstwa, na której umieszczono punkt, jest elektrycznie zwarta z inną, która ma już nadaną nazwę poprzez sygnał zegarowy, inny punkt obserwacyjny lub zasilanie (Vdd, Vss). Ponieważ oba przebiegi są de facto tym samym przebiegiem, w oknie symulacji wykreślony będzie tylko jeden z nich (lub żaden jeżeli punkt jest zwarty z Vdd lub Vss).

LABORATORIUM PODSTAW MIKROELEKTRONIKI 45 Problem Nie są wyświetlane czasy narastania i opadania. Mierzone przez program czasy opóźnień są różne w kolejnych okresach pracy. Przebiegi napięć mają nieregularne kształty, obserwowane są na nich krótkie szpilki. Czasy mierzone w domu i na zajęciach różnią się. Układ działa poprawnie, ale napięcie w jakimś punkcie układu nie osiąga nigdy górnej kreski. Rozwiązanie Należy sprawdzić, czy poprawnie zostały określone sygnały: wejściowy (between) i wyjściowy (and) oraz zaznaczona opcja Display/Delay. Jeżeli tak, to należy zmniejszyć krok symulacji. Jeżeli to nie pomaga, kliknąć kilka razy More. W ostateczności można zmniejszyć stromość sygnałów zegarowych lub obciążyć wyjście układu inwerterem. Kliknąć More tak, aby odczytać opóźnienie po kilkunastu okresach. Jeżeli czasy nadal się zmieniają, zmniejszyć krok symulacji. Zmniejszyć krok symulacji. Upewnić się, że w obu przypadkach wykorzystywany jest ten sam plik z opisem technologii oraz czy wybrany jest taki sam krok symulacji Sprawdzić, czy napięcie zasilania doprowadzone do układu to napięcie rdzenia ( niebieskie ) a nie peryferyjne ( czerwone ). Analogicznie sprawdzić amplitudy sygnałów zegarowych. Sprawdzić, czy napięcie zasilania jest odpowiednio doprowadzone do dyfuzji P + i do studni. W niektórych układach jest to wynik prawidłowy.