Ćwiczenie 9 TRANZYSTORY POLOWE MOS
|
|
- Bogdan Stasiak
- 7 lat temu
- Przeglądów:
Transkrypt
1 Ćwiczenie 9 TRNZYSTORY POLOWE MOS Wstęp Celem ćwiczenia jest wyznaczenie charakterystyk napięciowo-prądowych tranzystorów n-mosfet i p-mosfet, tworzących pary komplementarne w układzie scalonym CD4007 (rys.1). Wyniki pomiarów pozwolą na określenie wartości parametrów występujących w schematach zastępczych tych tranzystorów. Następnym etapem będzie badanie inwertera zbudowanego z pary tranzystorów n-mos i p-mos. Do pomiarów służy dydaktyczny model pomiarowy DMP p p p n n n CD Rys.1. Schemat wewnętrzny układu scalonego CD4007 Konspekt przygotowanie przed zajęciami Konspekt, który należy przygotować na zajęcia składa się z części teoretycznej związanej z tematem ćwiczenia. Przebieg ćwiczenia 1. STNOWISKO POM IROWE Stanowisko pomiarowe zbudowane jest z modułu pomiarowego DMP9 oraz zasilacza dwukanałowego gilent E3646, multimetru gilent pracującego jako amperomierz lub woltomierz i woltomierza (np. Metex) do badania inwertera. Dodatkowo stanowisko wyposażone jest w komputer z odpowiednią aplikacją pomiarową zaprojektowaną w środowisku Labiew. Poniżej przedstawiono poglądowy rysunek modułu DMP9 (rys. 2). Zaznaczono na nim położenie Katedra Elektroniki GH ver
2 przełączników, wejścia i wyjścia pomiarowe oraz mozaikę ścieżek połączeniowych. WE WY C O P.P DYN. P6 STT. 2 1 ½ P5 I ZS I D P1 INW TR P2 PMOS NMOS P3 CH-KI P4 regu SB U SB=0 Rys. 2. Rozmieszczenie przełączników, wejść i wyjść pomiarowych oraz połączeń na płytce DMP9. 2. POMIRY CH-K PRZEJ ŚCIOWYCH TRNZYSTOR n-mos Schemat pomiarowy służący do badań charakterystyk przejściowych i wyjściowych tranzystora NMOSFET przedstawiono na rysunku 3. Realizacja tego schematu przy użyciu modułu pomiarowego wymaga ustawienia odpowiednich przełączników. Bardzo istotne jest właściwie ustawienie przełączników, gdyż w przeciwnym razie badany układ scalony może ulec uszkodzeniu. U1 Rys. 3. Schemat pomiarowy do pomiaru ch-k przejściowych i wyjściowych tr. n-mosfet Na płytce DMP9 podłączyć multimetr gilent do gniazda I D będzie służył do pomiaru prądu drenu badanego tranzystora. Do pomiaru napięć będzie wykorzystany zasilacz gilent E3646. Zapewnić dodatnią polaryzację napięć zasilających U1 i przez odpowiednie podłączenia wtyków bananowych do gniazd zasilacza (czerwony wtyk czerwone gniazdo, czarny wtyk czarne gniazdo). Przełączniki ustawić w następujących pozycjach: P1 TR, P2 NMOS, P3 CH-KI, P4 U SB =0, P5 1 i P6 dowolnie. Zmierzyć charakterystykę przejściową tranzystora n-mosfet w zakresie napięć dodatnich na bramce U GS = 0 do 10 dla kilku stałych wartości napięcia U DS. można wykonać za pomocą programu NMOS_ch-przej, (przykładowe ustawienia: U1max = 10, max = 10, krok U1 = 1, krok = 0,2). Katedra Elektroniki GH ver
3 Na podstawie zebranych wyników wykreślić w sprawozdaniu charakterystyki. Wykreślić pomocniczą ch-kę dla przypadku, gdy tranzystor pracował w nasyceniu w celu wyznaczenia napięcia progowego T. Zaznaczyć obszar pracy liniowej i nasycenia tranzystora na wykreślonych ch-kach. W oparciu o otrzymane charakterystyki wyznaczyć wartości prądu nasycenia drenu I DSS dla różnych napięć U DS. 3. POMIRY CH-K WYJ ŚCIOWYCH TRNZYSTOR n-mos W układzie pomiarowym jak poprzednio (rys.3), przy takim samym ustawieniu przełączników, wykonać pomiary potrzebne do wykreślenia charakterystyk wyjściowych w zakresie napięć U DS = 0 do 10 dla kilku stałych napięć na bramce (np.: U GS = 2, 4, 6, 8, 10 ). można wykonać za pomocą programu NMOS_ch-wyj (przykładowe ustawienia: U1max = 10, max = 10, krok U1 = 0,2, krok = 1). Na podstawie zebranych wyników wykreślić w sprawozdaniu charakterystyki wyjściowe i wrysować krzywą rozdzielającą zakres pracy liniowej od nasycenia. Na podstawie powyższych ch-k wyznaczyć parametr. 4. BDNIE EFEKTU OBJĘTOŚCIOWEGO W TRNZYSTORZE n-mos Napięcie podłoża U SB ma wpływ na napięcie progowe tranzystora poprzez tzw. efekt objętościowy. Schemat pomiarowy do badania efektu objętościowego przedstawiono na rysunku 4. U1 Rys. 4. Schemat pomiarowy do wyznaczania współczynnika tranzystora n-mosfet Zasilacz gilent E3646 aby odzyskać władzę nad zasilaczem po zakończeniu automatycznych pomiarów z komputerem należy wcisnąć przycisk Local na panelu zasilacza. używając przycisków Output 1 i Output 2 oraz pokrętła (z prawej strony) można ustawiać napięcia wyjściowe zasilacza. Rys. 5. Płyta czołowa zasilacza gilent E3646 Katedra Elektroniki GH ver
4 Przed rozpoczęciem przełączania konfiguracji pomiarowej ustawić napięcia U1 i zasilacza na 0 (rys. 5), gdyż w trakcie przełączania może zaistnieć konfiguracja układu, w której testowany układ scalony zostanie uszkodzony. Przełącznik P3 ustawić w pozycji, P4 regu SB, a P5 w pozycji 1, pozostałe pozostawić bez zmian (P1 TR, P2 NMOS, P6 dowolnie). Zmienić polaryzację napięcia na ujemną (zamienić wtyki w gnieździe Output2 zasilacza: czerwony wtyk czarne gniazdo, czarny wtyk czerwone gniazdo). Zmierzyć ch-ki przejściowe dla kilku wartości napięć U SB. UWG: Nie przekraczać napięcia U SB = 10. można wykonać za pomocą programu NMOS_ch-wyj (Przykładowe ustawienia: U1max = 10, krok U1 = 0,2, krok = 1. by nie uszkodzić tranzystora należy obserwować zmiany napięcia i przy wartości 10 wcisnąć przycisk Save to File, co spowoduje przerwanie pomiarów i zapis wyników do pliku). Na podstawie zebranych pomiarów prądu drenu wykreślić w sprawozdaniu ch-ki. Na ich podstawie wyznaczyć współczynnik objętościowy napięcia progowego oraz parametr. Porównać wyniki z wynikami uzyskanymi w poprzednim punkcie. Wyznaczanie parametrów T, i tranzystora MOS. Parametry T, i można wyznaczyć z charakterystyk przejściowych, które zostały zmierzone dla różnych napięć polaryzujących podłoże U SB. Prąd drenu tranzystora pracującego w nasyceniu (gdy: u DS > u GS T ) jest opisany równaniem: k W 2 id ( ugs T ) (1 uds ) (5.2) 2 L gdzie: napięcie progowe zależne od napięcia polaryzującego podłoże u SB wyrażą się wzorem: ( u ) (5.3) T T 0 SB gdzie: T0 to napięcie progowe przy napięciu źródło-podłoże u SB =0, współczynnik objętościowy napięcia progowego, współczynnik modulacji długości kanału, potencjał powierzchniowy przy silnej inwersji półprzewodnika. Jeśli wpływ modulacji długości kanału zostanie pominięty i wprowadzimy współczynnik wzmocnienia tranzystora określony jako: W k to równanie (5.2) można przekształcić do postaci pozwalającej na L wyznaczenie : 2iD (5.4) ugs T 0 oraz równanie (5.3) do postaci pozwalającej na wyznaczenie parametru : T ( usb T 0 ) (5.5) u Jeśli na wykresie przedstawiającym zależność 2iD f ( ugs uds ) (rys. 6) dla poszczególnych serii danych pomiarowych wykonanych dla różnych u SB zostaną wykreślone proste, to ich współczynniki kierunkowe są równe pierwiastkowi wzmocnienia tranzystora ( ), zgodnie z równaniem (5.4). Dla każdej prostej można wyznaczyć napięcie progowe z przecięcia prostej z osią odciętych, a następnie korzystając z zależności (5.5) można wyliczyć współczynnik objętościowy napięcia progowego. a) b) D G U GS =U DS I D S Rys. 6. Konfiguracja tranzystora do pomiarów (a) i sposób wykreślania ch-k przejściowych do wyznaczania parametrów Tx, i (b) Katedra Elektroniki GH ver B U SB 2 I D SB U SB=0 U SB1 U SB2 T0 T1 T2 U GS=U DS
5 5. POMIRY CH-K PRZEJ ŚCIOWYCH TRNZYSTOR p-mos Schemat pomiarowy służący do badań charakterystyk przejściowych i wyjściowych tranzystora PMOSFET przedstawiono na rysunku 7. Podobnie jak poprzednio realizacja tego schematu przy użyciu modułu pomiarowego DMP9 wymaga ustawienia odpowiednich przełączników. Należy zwrócić uwagę na właściwie ustawienie przełączników oraz zerowe wartości napięć zasilacza. U1 Rys. 7. Schemat pomiarowy do pomiaru ch-k przejściowych i wyjściowych tr. p-mosfet Przed rozpoczęciem przełączania konfiguracji pomiarowej ustawić napięcia U1 i zasilacza na 0 (rys. 5), gdyż w trakcie przełączania może zaistnieć konfiguracja układu, w której testowany układ scalony zostanie uszkodzony. Na płytce DMP9 podłączyć multimetr gilent do gniazda I D będzie służył do pomiaru prądu drenu badanego tranzystora. Zapewnić ujemną polaryzację napięć zasilających U1 i przez odpowiednie podłączenia wtyków bananowych do gniazd zasilacza (czerwony wtyk czarne gniazdo, czarny wtyk czerwone gniazdo). Przełączniki ustawić w następujących pozycjach: P1 TR, P2 PMOS, P3 CH-KI, P4 U SB =0, P5 1 i P6 dowolnie. Zmierzyć charakterystykę przejściową tranzystora p-mosfet w zakresie napięć ujemnych na bramce od U GS = 0 do 10 dla kilku stałych wartości napięcia U DS. można wykonać za pomocą programu PMOS_ch-przej (przykładowe ustawienia: U1max = 10, krok U1 = 0,2, krok = 1). Na podstawie zebranych wyników wykreślić w sprawozdaniu charakterystyki i D =f(u GS ). Wykreślić pomocniczą ch-kę dla przypadku, gdy tranzystor pracował w nasyceniu w celu wyznaczenia napięcia progowego T. Zaznaczyć obszar pracy liniowej i nasycenia tranzystora na wykreślonych ch-kach. W oparciu o otrzymane charakterystyki wyznaczyć wartości prądu nasycenia drenu I DSS dla różnych napięć U DS. 6. POMIRY CH-K WYJ ŚCIOWYCH TRNZYSTOR p-mos W układzie pomiarowym jak poprzednio (rys.8), przy takim samym ustawieniu przełączników, wykonać pomiary potrzebne do wykreślenia charakterystyk wyjściowych w zakresie napięć od U DS = 0 do U DS = 10 dla kilku stałych napięć na bramce (np.: U GS = 2, 4, 6, 8, 10 ). można wykonać za pomocą programu PMOS_ch-wyj (przykładowe ustawienia: U1max = 10, krok U1 = 0,2, krok = 1). Katedra Elektroniki GH ver
6 Na podstawie zebranych wyników wykreślić w sprawozdaniu charakterystyki wyjściowe i wrysować krzywą rozdzielającą zakres pracy liniowej od nasycenia. Na podstawie powyższych ch-k wyznaczyć parametr. 7. BDNIE EFEKTU OBJĘTOŚCIOWEGO W TRNZYSTORZE p-mos Niezerowe napięcie podłoża U SB na wpływ na napięcie progowe poprzez tzw. efekt objętościowy. Schemat pomiarowy do badania efektu objętościowego przedstawiono na rysunku 8. U1 Rys. 8. Schemat pomiarowy do pomiaru parametru tranzystora p-mosfet Przed rozpoczęciem przełączania konfiguracji pomiarowej ustawić napięcia U1 i zasilacza na 0 (rys. 5), gdyż w trakcie przełączania może zaistnieć konfiguracja układu, w której testowany układ scalony zostanie uszkodzony. Przełącznik P3 ustawić w pozycji, P4 regu SB, a P5 w pozycji 1, pozostałe pozostawić bez zmian (P1 TR, P2 PMOS, P6 dowolnie). Zmienić polaryzację napięcia na dodatnią (zamienić wtyki w gnieździe Output2 zasilacza: czerwony wtyk czerwone gniazdo, czarny wtyk czarne gniazdo). Zmierzyć ch-ki przejściowe dla kilku wartości napięć U SB. UWG: Nie przekraczać napięcia U SB = 10. można wykonać za pomocą programu PMOS_ch-wyj (Przykładowe ustawienia: U1max = 10, krok U1 = 0,2, krok = 1. by nie uszkodzić tranzystora należy obserwować zmiany napięcia i przy wartości 10 wcisnąć przycisk Save to File, co spowoduje przerwanie pomiarów i zapis wyników do pliku). Na podstawie zebranych pomiarów prądu drenu wykreślić w sprawozdaniu ch-ki. Na ich podstawie wyznaczyć współczynnik objętościowy napięcia progowego oraz parametr. Porównać wyniki z wynikami uzyskanymi w poprzednim punkcie. 8. BDNIE INWERTER CMOS Łącząc dwa tranzystory odmiennych typów (PMOS i NMOS) szeregowo jak na rysunku 9 można otrzymać inwerter, czyli podstawową bramkę logiczną. Takie połączenie jest nazywane układem CMOS (Complementary Metal Oxide Semiconductor). Katedra Elektroniki GH ver
7 U1 Rys. 9. Schemat pomiarowy do badania inwertera CMOS Przed rozpoczęciem przełączania konfiguracji pomiarowej ustawić napięcia U1 i zasilacza na 0, gdyż w trakcie przełączania może zaistnieć konfiguracja układu, w której testowany układ scalony zostanie uszkodzony. Polaryzacja napięć zasilających powinna być dodatnia (tak jak dla badania n-mos). Podłączyć amperomierz do gniazda I ZS w celu pomiaru prądu zasilania inwertera. Podłączyć woltomierz do gniazda WY (wyjście inwertera). Przełącznik P1 ustawić w pozycji INW, a przełącznik P6 STT. Napięcie zasilania inwertera U1 (Output 1) ustawić na 10. Wykonać pomiary prądu zasilającego inwerter oraz napięcia wyjściowego w funkcji napięcia wejściowego (teraz to ) w zakresie od 0 do 10. Zmieniając napięcie zasilacza 2 (Output 2) znaleźć taką wartość napięcia wejściowego, dla której prąd będzie największy. Na podstawie zebranych wyników wykreślić w sprawozdaniu zależność inwertera. Odczytać z wykresu napięcie wejściowe dla maksymalnej wartości prądu zasilania. Na podstawie zebranych wyników wykreślić w sprawozdaniu charakterystykę przejściową inwertera inwertera. Określić napięcie przełączania inwertera. Skomentować wyznaczone powyżej wartości napięć wejściowych. Katedra Elektroniki GH ver
TRANZYSTOR UNIPOLARNY MOS
KTEDR ELEKTRONIKI GH L B O R T O R I U M ELEMENTY ELEKTRONICZNE TRNZYSTOR UNIPOLRNY MOS RE. 2.1 Laboratorium Elementów Elektronicznych: TRNZYSTOR UNIPOLRNY MOS 1. CEL ĆWICZENI - zapoznanie się z działaniem
Bardziej szczegółowoTRANZYSTOR UNIPOLARNY MOS
L A B O R A T O R I U M ELEMENTY ELEKTRONICZNE TRANZYSTOR UNIPOLARNY MOS RE. 1.0 1. CEL ĆWICZENIA - zapoznanie się z działaniem tranzystora unipolarnego MOS, - wykreślenie charakterystyk napięciowo-prądowych
Bardziej szczegółowoBadanie tranzystorów MOSFET
Instytut Fizyki ul Wielkopolska 5 7045 Szczecin Pracownia Elektroniki Badanie tranzystorów MOSFET Zakres materiału obowiązujący do ćwiczenia: budowa i zasada działania tranzystora MOSFET; charakterystyki
Bardziej szczegółowoInstrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego nr 10
Instrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego nr 10 Temat: Charakterystyki i parametry tranzystorów MIS Cel ćwiczenia. Celem ćwiczenia jest poznanie charakterystyk statycznych i parametrów tranzystorów MOS oraz
Bardziej szczegółowoZŁĄCZOWY TRANZYSTOR POLOWY
L A B O R A T O R I U M ELEMENTY ELEKTRONICZNE ZŁĄCZOWY TRANZYSTOR POLOWY RE. 2.0 1. CEL ĆWICZENIA - Pomiary charakterystyk prądowo-napięciowych tranzystora. - Wyznaczenie podstawowych parametrów tranzystora
Bardziej szczegółowo1 Tranzystor MOS. 1.1 Stanowisko laboratoryjne. 1 TRANZYSTOR MOS
1 Tranzystor MOS Podczas bierzącego ćwiczenia omówiony zostanie sposób działania tranzystora polowego nmos, zbadane zostaną podstawowe charakterystyki tranzystora, oraz szybkość jego działania. Przed przystąpieniem
Bardziej szczegółowoĆwiczenie 7 PARAMETRY MAŁOSYGNAŁOWE TRANZYSTORÓW BIPOLARNYCH
Ćwiczenie 7 PRMETRY MŁOSYGNŁO TRNZYSTORÓW BIPOLRNYCH Wstęp Celem ćwiczenia jest wyznaczenie niektórych parametrów małosygnałowych hybrydowego i modelu hybryd tranzystora bipolarnego. modelu Konspekt przygotowanie
Bardziej szczegółowoUniwersytet Pedagogiczny
Uniwersytet Pedagogiczny im. Komisji Edukacji Narodowej w Krakowie Laboratorium elektroniki Ćwiczenie nr 4 Temat: PRZYRZĄDY PÓŁPRZEWODNIKOWE TRANZYSTOR UNIPOLARNY Rok studiów Grupa Imię i nazwisko Data
Bardziej szczegółowoĆwiczenie 24 Temat: Układy bramek logicznych pomiar napięcia i prądu. Cel ćwiczenia
Ćwiczenie 24 Temat: Układy bramek logicznych pomiar napięcia i prądu. Cel ćwiczenia Poznanie własności i zasad działania różnych bramek logicznych. Zmierzenie napięcia wejściowego i wyjściowego bramek
Bardziej szczegółowoSERIA IV. 1. Tranzystor unipolarny: budowa, symbole, zastosowanie, parametry.
SERIA IV ĆWICZENIE _ Temat ćwiczenia: Badanie tranzystorów unipolarnych. Wiadomości do powtórzenia:. Tranzystor unipolarny: budowa, symbole, zastosowanie, parametry.. Charakterystyki statyczne tranzystora
Bardziej szczegółowoPodstawy Elektroniki dla Informatyki. Tranzystory unipolarne MOS
AGH Katedra Elektroniki Podstawy Elektroniki dla Informatyki Tranzystory unipolarne MOS Ćwiczenie 3 2014 r. 1 1. Wstęp. Celem ćwiczenia jest zapoznanie się z działaniem i zastosowaniami tranzystora unipolarnego
Bardziej szczegółowoVgs. Vds Vds Vds. Vgs
Ćwiczenie 18 Temat: Wzmacniacz JFET i MOSFET w układzie ze wspólnym źródłem. Cel ćwiczenia: Wzmacniacz JFET w układzie ze wspólnym źródłem. Zapoznanie się z konfiguracją polaryzowania tranzystora JFET.
Bardziej szczegółowoWzmacniacze napięciowe z tranzystorami komplementarnymi CMOS
Wzmacniacze napięciowe z tranzystorami komplementarnymi CMOS Cel ćwiczenia: Praktyczne wykorzystanie wiadomości do projektowania wzmacniacza z tranzystorami CMOS Badanie wpływu parametrów geometrycznych
Bardziej szczegółowoPodstawy Elektroniki dla Tele-Informatyki. Tranzystory unipolarne MOS
AGH Katedra Elektroniki Podstawy Elektroniki dla Tele-Informatyki Tranzystory unipolarne MOS Ćwiczenie 4 2014 r. 1. Wstęp. Celem ćwiczenia jest zapoznanie się z działaniem i zastosowaniami tranzystora
Bardziej szczegółowoPomiar podstawowych parametrów liniowych układów scalonych
Instytut Fizyki ul Wielkopolska 15 70-451 Szczecin 5 Pracownia Elektroniki Pomiar podstawowych parametrów liniowych układów scalonych Zakres materiału obowiązujący do ćwiczenia: wzmacniacz operacyjny,
Bardziej szczegółowoEFEKT FOTOWOLTAICZNY OGNIWO SŁONECZNE
ĆWICZENIE 104 EFEKT FOTOWOLTAICZNY OGNIWO SŁONECZNE Instrukcja wykonawcza 1. Wykaz przyrządów 1. Panel z ogniwami 5. Zasilacz stabilizowany oświetlacza 2. Oświetlacz 3. Woltomierz napięcia stałego 4. Miliamperomierz
Bardziej szczegółowoInstrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego nr 9
Instrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego nr 9 Temat: Charakterystyki i parametry tranzystorów PNFET Cel ćwiczenia. Celem ćwiczenia jest poznanie charakterystyk statycznych oraz parametrów tranzystorów PNFET.
Bardziej szczegółowoInstrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego nr 5
Instrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego nr 5 Temat: Charakterystyki statyczne tranzystorów bipolarnych Cel ćwiczenia. Celem ćwiczenia jest poznanie charakterystyk prądowonapięciowych i wybranych parametrów
Bardziej szczegółowoĆWICZENIE NR 1 TEMAT: Wyznaczanie parametrów i charakterystyk wzmacniacza z tranzystorem unipolarnym
ĆWICZENIE NR 1 TEMAT: Wyznaczanie parametrów i charakterystyk wzmacniacza z tranzystorem unipolarnym 4. PRZEBIE ĆWICZENIA 4.1. Wyznaczanie parametrów wzmacniacza z tranzystorem unipolarnym złączowym w
Bardziej szczegółowoĆwiczenie 17 Temat: Własności tranzystora JFET i MOSFET. Cel ćwiczenia
Ćwiczenie 17 Temat: Własności tranzystora JFET i MOSFET. Cel ćwiczenia Poznanie budowy i zasady pracy tranzystora JFET. Pomiar charakterystyk tranzystora JFET. Czytanie schematów elektronicznych. Przestrzeganie
Bardziej szczegółowoLABORATORIUM TECHNIKA CYFROWA BRAMKI. Rev.1.0
LABORATORIUM TECHNIKA CYFROWA BRAMKI Rev..0 LABORATORIUM TECHNIKI CYFROWEJ: Bramki. CEL ĆWICZENIA - praktyczna weryfikacja wiedzy teoretycznej z zakresu działania bramek, - pomiary parametrów bramek..
Bardziej szczegółowoPARAMETRY MAŁOSYGNAŁOWE TRANZYSTORÓW BIPOLARNYCH
L B O R T O R I U M ELEMENTY ELEKTRONICZNE PRMETRY MŁOSYGNŁOWE TRNZYSTORÓW BIPOLRNYCH REV. 1.0 1. CEL ĆWICZENI - celem ćwiczenia jest zapoznanie się z metodami pomiaru i wyznaczania parametrów małosygnałowych
Bardziej szczegółowoEFEKT FOTOELEKTRYCZNY ZEWNĘTRZNY
ĆWICZENIE 91 EFEKT FOTOELEKTRYCZNY ZEWNĘTRZNY Instrukcja wykonawcza 1. Wykaz przyrządów 1. Monochromator 5. Zasilacz stabilizowany oświetlacza. Oświetlacz 6. Zasilacz fotokomórki 3. Woltomierz napięcia
Bardziej szczegółowoPRZEŁĄCZANIE DIOD I TRANZYSTORÓW
L A B O R A T O R I U M ELEMENTY ELEKTRONICZNE PRZEŁĄCZANIE DIOD I TRANZYSTORÓW REV. 1.1 1. CEL ĆWICZENIA - obserwacja pracy diod i tranzystorów podczas przełączania, - pomiary charakterystycznych czasów
Bardziej szczegółowoZŁĄCZOWE TRANZYSTORY POLOWE
L A B O R A T O R I U M ELEMENTY ELEKTRONICZNE ZŁĄCZOWE TRANZYSTORY POLOWE RE. 0.4 1. CEL ĆWICZENIA Wyznaczenie podstawowych parametrów tranzystora unipolarnego takich jak: o napięcie progowe, o transkonduktancja,
Bardziej szczegółowoLaboratorium Przyrządów Półprzewodnikowych test kompetencji zagadnienia
Wrocław, 21.03.2017 r. Laboratorium Przyrządów Półprzewodnikowych test kompetencji zagadnienia Podczas testu kompetencji studenci powinni wykazać się znajomością zagadnień określonych w kartach kursów
Bardziej szczegółowoUniwersytet Pedagogiczny im. Komisji Edukacji Narodowej w Krakowie
Uniwersytet Pedagogiczny im. Komisji Edukacji Narodowej w Krakowie Laboratorium elektroniki Ćwiczenie nr 4 Temat: PRZYRZĄDY PÓŁPRZEWODNIKOWE TRANZYSTOR BIPOLARNY Rok studiów Grupa Imię i nazwisko Data
Bardziej szczegółowoBADANIE UKŁADÓW CYFROWYCH. CEL: Celem ćwiczenia jest poznanie właściwości statycznych układów cyfrowych serii TTL. PRZEBIEG ĆWICZENIA
BADANIE UKŁADÓW CYFROWYCH CEL: Celem ćwiczenia jest poznanie właściwości statycznych układów cyfrowych serii TTL. PRZEBIEG ĆWICZENIA 1. OGLĘDZINY Dokonać oględzin badanego układu cyfrowego określając jego:
Bardziej szczegółowo1 Dana jest funkcja logiczna f(x 3, x 2, x 1, x 0 )= (1, 3, 5, 7, 12, 13, 15 (4, 6, 9))*.
EUROELEKTRA Ogólnopolska Olimpiada Wiedzy Elektrycznej i Elektronicznej Rok szkolny 0/0 Odpowiedzi do zadań dla grupy elektronicznej na zawody II stopnia (okręgowe) Dana jest funkcja logiczna f(x 3, x,
Bardziej szczegółowoInstrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego nr 5
nstrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego nr 5 Temat: Charakterystyki i parametry tranzystorów unipolarnych Cel ćwiczenia: Poznanie charakterystyk i parametrów statycznych tranzystorów unipolarnych.. Wymagany
Bardziej szczegółowoPolitechnika Białostocka
Politechnika Białostocka Wydział Elektryczny Katedra Automatyki i Elektroniki Instrukcja do ćwiczeń laboratoryjnych z przedmiotu: ELEKTRONIKA 2 (EZ1C500 055) BADANIE DIOD I TRANZYSTORÓW Białystok 2006
Bardziej szczegółowoĆw. 8 Bramki logiczne
Ćw. 8 Bramki logiczne 1. Cel ćwiczenia Celem ćwiczenia jest zapoznanie się z podstawowymi bramkami logicznymi, poznanie ich rodzajów oraz najwaŝniejszych parametrów opisujących ich własności elektryczne.
Bardziej szczegółowoLiniowe stabilizatory napięcia
. Cel ćwiczenia. Liniowe stabilizatory napięcia Celem ćwiczenia jest praktyczne poznanie właściwości stabilizatora napięcia zbudowanego na popularnym układzie scalonym. Zakres ćwiczenia obejmuje projektowanie
Bardziej szczegółowoPolitechnika Białostocka
Politechnika Białostocka Wydział Elektryczny Katedra Automatyki i Elektroniki Instrukcja do ćwiczeń laboratoryjnych z przedmiotu: ELEKTRONIKA 2 Kod: ES1C400 026 BADANIE WYBRANYCH DIOD I TRANZYSTORÓW BIAŁYSTOK
Bardziej szczegółowoĆwiczenie - 3. Parametry i charakterystyki tranzystorów
Spis treści Ćwiczenie - 3 Parametry i charakterystyki tranzystorów 1 Cel ćwiczenia 1 2 Podstawy teoretyczne 2 2.1 Tranzystor bipolarny................................. 2 2.1.1 Charakterystyki statyczne
Bardziej szczegółowoĆw. III. Dioda Zenera
Cel ćwiczenia Ćw. III. Dioda Zenera Zapoznanie się z zasadą działania diody Zenera. Pomiary charakterystyk statycznych diod Zenera. Wyznaczenie charakterystycznych parametrów elektrycznych diod Zenera,
Bardziej szczegółowoPolitechnika Białostocka
Politechnika Białostocka Wydział Elektryczny Katedra Automatyki i Elektroniki Instrukcja do ćwiczeń laboratoryjnych z przedmiotu: ELEKTRONIKA EKS1A300024 BADANIE TRANZYSTORÓW BIAŁYSTOK 2015 1. CEL I ZAKRES
Bardziej szczegółowoELEMENTY ELEKTRONICZNE
KATEDRA ELEKTRONIKI AGH L A B O R A T O R I U M ELEMENTY ELEKTRONICZNE DIODY REV. 2.0 1. CEL ĆWICZENIA - pomiary charakterystyk stałoprądowych diod prostowniczych, świecących oraz stabilizacyjnych - praktyczne
Bardziej szczegółowoStatyczne badanie wzmacniacza operacyjnego - ćwiczenie 7
Statyczne badanie wzmacniacza operacyjnego - ćwiczenie 7 1. Cel ćwiczenia Celem ćwiczenia jest zapoznanie się z podstawowymi zastosowaniami wzmacniacza operacyjnego, poznanie jego charakterystyki przejściowej
Bardziej szczegółowoPomiar parametrów tranzystorów
Instytut Fizyki ul Wielkopolska 5 70-45 Szczecin Pracownia Elektroniki Pomiar parametrów tranzystorów (Oprac dr Radosław Gąsowski) Zakres materiału obowiązujący do ćwiczenia: zasada działania tranzystora
Bardziej szczegółowoPRAWO OHMA DLA PRĄDU PRZEMIENNEGO. Instrukcja wykonawcza
ĆWICZENIE 53 PRAWO OHMA DLA PRĄDU PRZEMIENNEGO Instrukcja wykonawcza 1 Wykaz przyrządów a. Generator AG 1022F. b. Woltomierz napięcia przemiennego. c. Miliamperomierz prądu przemiennego. d. Zestaw składający
Bardziej szczegółowoInstrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego nr 7
Instrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego nr 7 Temat: Badanie właściwości elektrycznych półprzewodnikowych przyrządów optoelektronicznych.. Cel ćwiczenia: Poznanie budowy, zasady działania, charakterystyk
Bardziej szczegółowoTRANZYSTORY BIPOLARNE
KTDR LKTRONIKI GH L O R T O R I U M LMNTY LKTRONIZN TRNZYSTORY IPOLRN Parametry stałoprądowe R. 0.3 Laboratorium lementów lektronicznych: TRNZYSTORY IPOLRN 1. L ĆWIZNI Wyznaczenie podstawowych parametrów
Bardziej szczegółowoBADANIE TRANZYSTORA BIPOLARNEGO
BADANIE TRANZYSTORA BIPOLARNEGO CEL poznanie charakterystyk tranzystora bipolarnego w układzie WE poznanie wybranych parametrów statycznych tranzystora bipolarnego w układzie WE PRZEBIEG ĆWICZENIA: 1.
Bardziej szczegółowoKatedra Przyrządów Półprzewodnikowych i Optoelektronicznych Laboratorium Przyrządów Półprzewodnikowych. Ćwiczenie 4
Ćwiczenie 4 Cel ćwiczenia Celem ćwiczenia jest poznanie charakterystyk statycznych układów scalonych CMOS oraz ich własności dynamicznych podczas procesu przełączania. Wiadomości podstawowe. Budowa i działanie
Bardziej szczegółowoKatedra Energetyki. Laboratorium Podstaw Elektrotechniki i Elektroniki
1 Katedra Energetyki Laboratorium Podstaw Elektrotechniki i Elektroniki Temat ćwiczenia: POMIARY PODSTAWOWYCH WIELKOŚCI ELEKTRYCZNYCH W OBWODACH PRĄDU STAŁEGO (obwód 3 oczkowy) 2 1. POMIARY PRĄDÓW I NAPIĘĆ
Bardziej szczegółowoŹródła i 1detektory IV. ZJAWISKO FOTOELEKTRYCZNE WEWNĘTRZNE W PÓŁPRZEWODNIKACH.
Źródła i 1detektory IV. ZJAWISKO FOTOELEKTRYCZNE WEWNĘTRZNE W PÓŁPRZEWONIKACH. Cel ćwiczenia: Wyznaczenie podstawowych parametrów spektralnych fotoprzewodzącego detektora podczerwieni. Opis stanowiska:
Bardziej szczegółowoPomiar charakterystyk statycznych tranzystora JFET oraz badanie własności sterowanego dzielnika napięcia.
WFiIS LABORATORIUM Z ELEKTRONIKI Imię i nazwisko: 1. 2. TEMAT: ROK GRUPA ZESPÓŁ NR ĆWICZENIA Data wykonania: Data oddania: Zwrot do poprawy: Data oddania: Data zliczenia: OCENA CEL ĆWICZENIA Pomiar charakterystyk
Bardziej szczegółowoĆwiczenie 12 Temat: Wzmacniacz w układzie wspólnego emitera. Cel ćwiczenia
Ćwiczenie 12 Temat: Wzmacniacz w układzie wspólnego emitera. Cel ćwiczenia Poznanie konfiguracji zasady pracy wzmacniacza w układzie OE. Wyznaczenie charakterystyk wzmacniacza w układzie OE. Czytanie schematów
Bardziej szczegółowoPolitechnika Białostocka
Politechnika Białostocka Wydział Elektryczny Katedra Automatyki i Elektroniki Instrukcja do ćwiczeń laboratoryjnych z przedmiotu: ELEKTRONIKA ENS1C300 022 BADANIE TRANZYSTORÓW BIAŁYSTOK 2013 1. CEL I ZAKRES
Bardziej szczegółowoSymulacje inwertera CMOS
Rozdział: Przygotowanie środowiska Symulacje inwertera CMOS * punktu opcjonalne 1 Przygotowanie środowiska 1. Uruchom komputer w systemie Linux (opensuse)*. 2. Otwórz konsole wykonując następujące kroki*
Bardziej szczegółowoWydział Elektrotechniki, Automatyki, Informatyki i Elektroniki Katedra Elektroniki
Wydział Elektrotechniki, Automatyki, Informatyki i Elektroniki Na podstawie instrukcji Wtórniki Napięcia,, Laboratorium układów Elektronicznych Opis badanych układów Spis Treści 1. CEL ĆWICZENIA... 2 2.
Bardziej szczegółowoWzmacniacze napięciowe z tranzystorami komplementarnymi CMOS
Wzmacniacze napięciowe z tranzystorami komplementarnymi CMOS Cel ćwiczenia: Praktyczne wykorzystanie wiadomości do projektowania wzmacniacza z tranzystorami CMOS Badanie wpływu parametrów geometrycznych
Bardziej szczegółowoLABORATORIUM ELEKTRONIKI ĆWICZENIE 4 POLITECHNIKA ŁÓDZKA KATEDRA PRZYRZĄDÓW PÓŁPRZEWODNIKOWYCH I OPTOELEKTRONICZNYCH
LABORATORIUM ELEKTRONIKI ĆWICZENIE 4 Parametry statyczne tranzystorów polowych złączowych Cel ćwiczenia Podstawowym celem ćwiczenia jest poznanie statycznych charakterystyk tranzystorów polowych złączowych
Bardziej szczegółowoĆwiczenie 4. Parametry statyczne tranzystorów polowych JFET i MOSFET
Ćwiczenie 4 Parametry statyczne tranzystorów polowych JFET i MOSFET Cel ćwiczenia Podstawowym celem ćwiczenia jest poznanie charakterystyk statycznych tranzystorów polowych złączowych oraz z izolowaną
Bardziej szczegółowoĆwiczenie 10 Temat: Własności tranzystora. Podstawowe własności tranzystora Cel ćwiczenia
Ćwiczenie 10 Temat: Własności tranzystora. Podstawowe własności tranzystora Cel ćwiczenia Poznanie podstawowych własności tranzystora. Wyznaczenie prądów tranzystorów typu n-p-n i p-n-p. Czytanie schematów
Bardziej szczegółowoĆwiczenie 5: Pomiar parametrów i charakterystyk scalonych Stabilizatorów Napięcia i prądu REGIONALNE CENTRUM EDUKACJI ZAWODOWEJ W BIŁGORAJU
REGIONALNE CENTRUM EDUKACJI ZAWODOWEJ W BIŁGORAJU R C E Z w B I Ł G O R A J U LABORATORIUM pomiarów elektronicznych UKŁADÓW ANALOGOWYCH Ćwiczenie 5: Pomiar parametrów i charakterystyk scalonych Stabilizatorów
Bardziej szczegółowoĆwiczenie ZINTEGROWANE SYSTEMY CYFROWE. Pakiet edukacyjny DefSim Personal. Analiza prądowa IDDQ
Ćwiczenie 2 ZINTEGROWANE SYSTEMY CYFROWE Pakiet edukacyjny DefSim Personal Analiza prądowa IDDQ K A T E D R A M I K R O E L E K T R O N I K I I T E C H N I K I N F O R M A T Y C Z N Y C H Politechnika
Bardziej szczegółowoTranzystory bipolarne. Właściwości dynamiczne wzmacniaczy w układzie wspólnego emitera.
ĆWICZENIE 5 Tranzystory bipolarne. Właściwości dynamiczne wzmacniaczy w układzie wspólnego emitera. I. Cel ćwiczenia Badanie właściwości dynamicznych wzmacniaczy tranzystorowych pracujących w układzie
Bardziej szczegółowoĆwiczenie - 9. Wzmacniacz operacyjny - zastosowanie nieliniowe
Ćwiczenie - 9 Wzmacniacz operacyjny - zastosowanie nieliniowe Spis treści 1 Cel ćwiczenia 1 2 Przebieg ćwiczenia 2 2.1 Wyznaczanie charakterystyki przejściowej U wy = f(u we ) dla ogranicznika napięcia
Bardziej szczegółowoInstrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego nr 6b
Instrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego nr 6b Temat: Charakterystyki i parametry półprzewodnikowych przyrządów optoelektronicznych. Cel ćwiczenia: Zapoznać z budową, zasadą działania, charakterystykami
Bardziej szczegółowoTRANZYSTOROWY UKŁAD RÓŻNICOWY (DN 031A)
TRANZYSTOROWY UKŁAD RÓŻNICOWY (DN 031A) obciąże nie dynamiczne +1 +1 + 1 R 47k z erowanie R 8 3k R 9 6, 8 k R 11 6,8 k R 12 3k + T 6 BC17 T 7 BC17 + R c 20k zespół sterowania WY 1 R 2k R 23 9 R c dyn R
Bardziej szczegółowoBadanie wzmacniacza operacyjnego
Badanie wzmacniacza operacyjnego CEL: Celem ćwiczenia jest poznanie właściwości wzmacniaczy operacyjnych i komparatorów oraz możliwości wykorzystania ich do realizacji bloków funkcjonalnych poprzez dobór
Bardziej szczegółowoE1. OBWODY PRĄDU STAŁEGO WYZNACZANIE OPORU PRZEWODNIKÓW I SIŁY ELEKTROMOTORYCZNEJ ŹRÓDŁA
E1. OBWODY PRĄDU STŁEGO WYZNCZNIE OPORU PRZEWODNIKÓW I SIŁY ELEKTROMOTORYCZNEJ ŹRÓDŁ tekst opracowała: Bożena Janowska-Dmoch Prądem elektrycznym nazywamy uporządkowany ruch ładunków elektrycznych wywołany
Bardziej szczegółowoTranzystory bipolarne. Właściwości wzmacniaczy w układzie wspólnego kolektora.
I. Cel ćwiczenia ĆWICZENIE 6 Tranzystory bipolarne. Właściwości wzmacniaczy w układzie wspólnego kolektora. Badanie właściwości wzmacniaczy tranzystorowych pracujących w układzie wspólnego kolektora. II.
Bardziej szczegółowoĆwiczenie 1. Sprawdzanie podstawowych praw w obwodach elektrycznych przy wymuszeniu stałym
Ćwiczenie 1 Sprawdzanie podstawowych praw w obwodach elektrycznych przy wymuszeniu stałym Wprowadzenie Celem ćwiczenia jest sprawdzenie podstawowych praw elektrotechniki w obwodach prądu stałego. Badaniu
Bardziej szczegółowoLaboratorium elektroniki. Ćwiczenie E09IS. Komparatory. Wersja 1.0 (19 kwietnia 2016)
Laboratorium elektroniki Ćwiczenie E09IS Komparatory Wersja 1.0 (19 kwietnia 2016) Spis treści: 1. Cel ćwiczenia... 3 2. Zagrożenia... 3 3. Wprowadzenie teoretyczne... 3 4. Dostępna aparatura... 5 4.1.
Bardziej szczegółowoStanowisko do badania zjawiska tłumienia światła w ośrodkach materialnych
Stanowisko do badania zjawiska tłumienia światła w ośrodkach materialnych Na rys. 3.1 przedstawiono widok wykorzystywanego w ćwiczeniu stanowiska pomiarowego do badania zjawiska tłumienia światła w ośrodkach
Bardziej szczegółowoLABORATORIUM INŻYNIERII MATERIAŁOWEJ
Politechnika Lubelska Wydział Elektrotechniki i Informatyki Katedra Urządzeń Elektrycznych i TWN 20-618 Lublin, ul. Nadbystrzycka 38A www.kueitwn.pollub.pl LABORATORIUM INŻYNIERII MATERIAŁOWEJ Protokół
Bardziej szczegółowoPolitechnika Białostocka
Politechnika Białostocka Wydział Elektryczny Katedra utomatyki i Elektroniki Instrukcja do ćwiczeń laboratoryjnych z przedmiotu: ELEKTRONIK ENS1C300 022 WYBRNE ZSTOSOWNI DIOD PÓŁPRZEWODNIKOWYCH BIŁYSTOK
Bardziej szczegółowoNIEZBĘDNY SPRZĘT LABORATORYJNY
Ćwiczenie 5 Temat: Pomiar napięcia i prądu stałego. Cel ćwiczenia Poznanie zasady pomiaru napięcia stałego. Zapoznanie się z działaniem modułu KL-22001. Obsługa przyrządów pomiarowych. Przestrzeganie przepisów
Bardziej szczegółowo3. Funktory CMOS cz.1
3. Funktory CMOS cz.1 Druga charakterystyczna rodzina układów cyfrowych to układy CMOS. W jej ramach występuje zbliżony asortyment funktorów i przerzutników jak dla układów TTL (wejście standardowe i wejście
Bardziej szczegółowoPRACOWNIA ELEKTRONIKI
PRACOWNIA ELEKTRONIKI Ćwiczenie nr 4 Temat ćwiczenia: Badanie wzmacniacza UNIWERSYTET KAZIMIERZA WIELKIEGO W BYDGOSZCZY INSTYTUT TECHNIKI 1. 2. 3. Imię i Nazwisko 1 szerokopasmowego RC 4. Data wykonania
Bardziej szczegółowoĆwiczenie 4 Pomiar prądu i napięcia stałego
Ćwiczenie 4 Pomiar prądu i napięcia stałego Instrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego opracowali: Łukasz Śliwczyński Witold Skowroński Karol Salwik ver. 3, 05.2019 1. Cel ćwiczenia Zapoznanie się z metodami
Bardziej szczegółowoTranzystory bipolarne. Podstawowe układy pracy tranzystorów.
ĆWICZENIE 4 Tranzystory bipolarne. Podstawowe układy pracy tranzystorów. I. Cel ćwiczenia Zapoznanie się z układami zasilania tranzystorów. Wybór punktu pracy tranzystora. Statyczna prosta pracy. II. Układ
Bardziej szczegółowoLABORATORIUM ELEKTRONIKI TRANZYSTOR UNIPOLARNY
ZESPÓŁ LABORATORIÓW TELEMATYKI TRANSPORTU ZAKŁAD TELEKOMUNIKACJI W TRANSPORCIE WYDZIAŁ TRANSPORTU POLITECHNIKI WARSZAWSKIEJ LABORATORIUM ELEKTRONIKI INSTRUKCJA DO ĆWICZENIA NR 7 TRANZYSTOR UNIPOLARNY DO
Bardziej szczegółowoInstrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego nr 4
Instrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego nr 4 Temat: Parametry czwórnikowe tranzystorów bipolarnych. Cel ćwiczenia: Zapoznanie się z parametrami czwórnikowymi tranzystora bipolarnego (admitancyjnymi [y],
Bardziej szczegółowoĆwiczenie 26. Temat: Układ z bramkami NAND i bramki AOI..
Temat: Układ z bramkami NAND i bramki AOI.. Ćwiczenie 26 Cel ćwiczenia Zapoznanie się ze sposobami konstruowania z bramek NAND różnych bramek logicznych. Konstruowanie bramek NOT, AND i OR z bramek NAND.
Bardziej szczegółowoBadanie wzmacniacza niskiej częstotliwości
Instytut Fizyki ul Wielkopolska 5 70-45 Szczecin 9 Pracownia Elektroniki Badanie wzmacniacza niskiej częstotliwości (Oprac dr Radosław Gąsowski) Zakres materiału obowiązujący do ćwiczenia: klasyfikacje
Bardziej szczegółowoLaboratorium Metrologii
Laboratorium Metrologii Ćwiczenie nr 3 Oddziaływanie przyrządów na badany obiekt I Zagadnienia do przygotowania na kartkówkę: 1 Zdefiniować pojęcie: prąd elektryczny Podać odpowiednią zależność fizyczną
Bardziej szczegółowoŹródła i detektory IV. ZJAWISKO FOTOELEKTRYCZNE WEWNĘTRZNE W PÓŁPRZEWODNIKACH.
IV. ZJAWISKO FOTOELEKTRYCZNE WEWNĘTRZNE W PÓŁPRZEWONIKACH. Cel ćwiczenia: Wyznaczenie podstawowych parametrów spektralnych fotoprzewodzącego detektora podczerwieni. Opis stanowiska: Monochromator-SPM-2
Bardziej szczegółowoTranzystory bipolarne
TRANZYSTORY IPOLARN Tranzystory bipolarne 1. el ćwiczenia elem ćwiczenia jest ugruntowanie wiadomości dotyczącyc zasad działania i właściwości tranzystorów bipolarnyc. Podstawowa część ćwiczenia poświęcona
Bardziej szczegółowoBadanie właściwości multipleksera analogowego
Ćwiczenie 3 Badanie właściwości multipleksera analogowego Program ćwiczenia 1. Sprawdzenie poprawności działania multipleksera 2. Badanie wpływu częstotliwości przełączania kanałów na pracę multipleksera
Bardziej szczegółowoĆwiczenie 3 Badanie obwodów prądu stałego
Ćwiczenie 3 Badanie obwodów prądu stałego Skład grupy (obecność na zajęciach) 3 Obecność - dzień I Data.. Obecność - dzień II Data.. Celem ćwiczenia jest zapoznanie się z istotą praw Kirchhoffa oraz zastosowaniem
Bardziej szczegółowoĆw. 7 Przetworniki A/C i C/A
Ćw. 7 Przetworniki A/C i C/A 1. Cel ćwiczenia Celem ćwiczenia jest zapoznanie się z zasadami przetwarzania sygnałów analogowych na cyfrowe i cyfrowych na analogowe poprzez zbadanie przetworników A/C i
Bardziej szczegółowoĆwiczenie 21. Badanie właściwości dynamicznych obiektów II rzędu. Zakres wymaganych wiadomości do kolokwium wstępnego: Program ćwiczenia:
Ćwiczenie Badanie właściwości dynamicznych obiektów II rzędu Program ćwiczenia:. Pomiary metodą skoku jednostkowego a. obserwacja charakteru odpowiedzi obiektu dynamicznego II rzędu w zależności od współczynnika
Bardziej szczegółowoBudowa. Metoda wytwarzania
Budowa Tranzystor JFET (zwany też PNFET) zbudowany jest z płytki z jednego typu półprzewodnika (p lub n), która stanowi tzw. kanał. Na jego końcach znajdują się styki źródła (ang. source - S) i drenu (ang.
Bardziej szczegółowoBadanie tranzystorów bipolarnych.
1 POLITECHNIKA ŚLĄSKA WYDZIAŁ INŻYNIERII ŚRODOWISKA I ENERGETYKI INSTYTUT MASZYN I URZĄDZEŃ ENERGETYCZNYCH LABORATORIUM ELEKTRYCZNE Badanie tranzystorów bipolarnych. (E 8) Opracował: Dr inż. Włodzimierz
Bardziej szczegółowoRys. 1 Schemat układu L 2 R 2 E C 1. t(0+)
Autor: Piotr Fabijański Koreferent: Paweł Fabijański Zadanie Obliczyć napięcie na stykach wyłącznika S zaraz po jego otwarciu, w chwili t = (0 + ) i w stanie ustalonym, gdy t. Do obliczeń przyjąć następujące
Bardziej szczegółowoĆwiczenie - 6. Wzmacniacze operacyjne - zastosowanie liniowe
Ćwiczenie - 6 Wzmacniacze operacyjne - zastosowanie liniowe Spis treści 1 Cel ćwiczenia 1 2 Przebieg ćwiczenia 2 2.1 Wyznaczenie charakterystyk przejściowych..................... 2 2.2 Badanie układu różniczkującego
Bardziej szczegółowoInstrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego nr 5b
Instrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego nr 5b Temat: Charakterystyki i parametry półprzewodnikowych elementów przełączających. Cel ćwiczenia : Poznanie właściwości elektrycznych tranzystorów bipolarnych
Bardziej szczegółowoRys.1. Układy przełączników tranzystorowych
KLUCZ TRANZYSTOROWY 1. WSTĘP Tematem ćwiczenia jest badanie elementarnych układów przełączających (kluczy). Przeprowadza się pomiary i obserwacje przebiegów czasowych w układach podstawowych: tranzystorowym
Bardziej szczegółowoPrzyrządy i Układy Półprzewodnikowe
VI. Prostownik jedno i dwupołówkowy Cel ćwiczenia: Poznanie zasady działania układu prostownika jedno i dwupołówkowego. A) Wstęp teoretyczny Prostownik jest układem elektrycznym stosowanym do zamiany prądu
Bardziej szczegółowoInstrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego nr 13
Instrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego nr 13 Temat: Charakterystyki i parametry dyskretnych półprzewodnikowych przyrządów optoelektronicznych Cel ćwiczenia. Celem ćwiczenia jest poznanie budowy, zasady
Bardziej szczegółowoĆwiczenie 2 LABORATORIUM ELEKTRONIKI POLITECHNIKA ŁÓDZKA KATEDRA PRZYRZĄDÓW PÓŁPRZEWODNIKOWYCH I OPTOELEKTRONICZNYCH
LABORATORIUM LKTRONIKI Ćwiczenie Parametry statyczne tranzystorów bipolarnych el ćwiczenia Podstawowym celem ćwiczenia jest poznanie statycznych charakterystyk tranzystorów bipolarnych oraz metod identyfikacji
Bardziej szczegółowoInstrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego
Instrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego adanie parametrów statycznych i dynamicznych ramek Logicznych Opracował: mgr inż. ndrzej iedka Wymagania, znajomość zagadnień: 1. Parametry statyczne bramek logicznych
Bardziej szczegółowoBramki logiczne. 2. Cele ćwiczenia Badanie charakterystyk przejściowych inwertera. tranzystorowego, bramki 7400 i bramki 74132.
Bramki logiczne 1. Czas trwania: 3h 2. Cele ćwiczenia Badanie charakterystyk przejściowych inwertera. tranzystorowego, bramki 7400 i bramki 74132. 3. Wymagana znajomość pojęć stany logiczne Hi, Lo, stan
Bardziej szczegółowoOpis dydaktycznych stanowisk pomiarowych i przyrządów w lab. EE (paw. C-3, 302)
Opis dydaktycznych stanowisk pomiarowych i przyrządów w lab. EE (paw. C-3, 302) 1. Elementy elektroniczne stosowane w ćwiczeniach Elementy elektroniczne będące przedmiotem pomiaru, lub służące do zestawienia
Bardziej szczegółowoLABORATORIUM PRZYRZĄDÓW PÓŁPRZEWODNIKOWYCH
Wydział Elektroniki Mikrosystemów i Fotoniki Politechniki Wrocławskiej STUDIA DZIENNE e LABORATORIUM PRZYRZĄDÓW PÓŁPRZEWODNIKOWYCH Ćwiczenie nr 3 Pomiary wzmacniacza operacyjnego Wykonując pomiary PRZESTRZEGAJ
Bardziej szczegółowoWyznaczanie parametrów równania Tafela w katodowym wydzielaniu metali na elektrodzie platynowej
Ćwiczenie 2. Wyznaczanie parametrów równania Tafela w katodowym wydzielaniu metali na elektrodzie platynowej 1. Przygotowanie do wykonania ćwiczenia. 1.1. Włączyć zasilacz potencjostatu i nastawić go na
Bardziej szczegółowo