Instytutu Ceramiki i Materiałów Budowlanych



Podobne dokumenty
10. Analiza dyfraktogramów proszkowych

Metoda DSH. Dyfraktometria rentgenowska. 2. Dyfraktometr rentgenowski: - budowa anie - zastosowanie

Uniwersytet Śląski Instytut Chemii Zakład Krystalografii Laboratorium specjalizacyjne

Laboratorium z Krystalografii specjalizacja: Fizykochemia związków nieorganicznych

Zaawansowane Metody Badań Materiałów dla WIMiR

Conception of reuse of the waste from onshore and offshore in the aspect of

NOWA STRONA INTERNETOWA PRZEDMIOTU:

Dyfrakcja rentgenowska (XRD) w analizie fazowej Wykład 5

Monochromatyzacja promieniowania molibdenowej lampy rentgenowskiej

Rentgenografia - teorie dyfrakcji

Natęż. ężenie refleksu dyfrakcyjnego

Dokładność i precyzja w dyfraktometrii rentgenowskiej

S. Baran - Podstawy fizyki materii skondensowanej Dyfrakcja na kryształach. Dyfrakcja na kryształach

Zaawansowane Metody Badań Strukturalnych. Badania strukturalne materiałów Badania właściwości materiałów

ANALIZA JAKOŚCIOWA Rentgenowska analiza fazowa nieznanej próbki przy wykorzystaniu programu XRAYAN

Krystalografia. Dyfrakcja na monokryształach. Analiza dyfraktogramów

Wyznaczanie struktury krystalicznej i molekularnej wybranego związku koordynacyjnego w oparciu o rentgenowską analizę strukturalną

Wyznaczanie stopnia krystaliczności wybranych próbek polimerów wykorzystanie programu WAXSFIT

Promieniowanie rentgenowskie. Podstawowe pojęcia krystalograficzne

Laboratorium z Krystalografii. 2 godz.

Analiza danych proszkowej dyfrakcji X (XRPD) krótka instrukcja

Prezentacja przebiegu pomiaru obrazu dyfrakcyjnego monokryształu na czterokołowym dyfraktometrze Oxford Diffraction Gemini A Ultra.

Fizyka, technologia oraz modelowanie wzrostu kryształów Dyfrakcja i Reflektometria Rentgenowska

Wyznaczanie stopnia krystaliczności wybranych próbek polimerów wykorzystanie programu WAXSFIT

Tekstura krystalograficzna pomocna w interpretacji wyników badań materiałowych

Strukturalne i termiczne metody charakteryzacji materiałów

Laboratorium z Krystalografii. 2 godz.

Walidacja metod analitycznych Raport z walidacji

Bezpośredni opiekunowie laboratorium: Prof. dr hab. Marek Szafrański. Prof. dr hab. Maciej Kozak, dr Marceli Kaczmarski.

Wskaźnikowanie rentgenogramów i wyznaczanie parametrów sieciowych Wykład 8

Metody dyfrakcyjne do wyznaczania struktury krystalicznej materiałów

Określanie ilościowego składu mineralnego skał zawierających minerały ilaste metodą Rietvelda

LABORATORIUM DYFRAKCJI RENTGENOWSKIEJ (L-3)

Dyfrakcja rentgenowska (XRD) w analizie fazowej Wykład 7

Charakterystyka struktury kryształu na podstawie pliku CIF (Crystallographic Information File)

Instytutu Ceramiki i Materiałów Budowlanych

Opis przedmiotu zamówienia. Specyfikacja techniczna oferowanego sprzętu

BADANIA PÓL NAPRĘśEŃ W IMPLANTACH TYTANOWYCH METODAMI EBSD/SEM. Klaudia Radomska

Laboratorium z Krystalografii. 2 godz.

RENTGENOGRAFIA. Poziom przedmiotu Studia I stopnia niestacjonarne Liczba godzin/zjazd 1W e, 2L PRZEWODNIK PO PRZEDMIOCIE

Część A wprowadzenie do programu

STRUKTURA MATERIAŁÓW

Ocena błędów systematycznych związanych ze strukturą CCD danych astrometrycznych prototypu Pi of the Sky

Uniwersytet Śląski w Katowicach str. 1 Wydział

Instytutu Ceramiki i Materiałów Budowlanych

Instytutu Ceramiki i Materiałów Budowlanych

BUDOWA KRYSTALICZNA CIAŁ STAŁYCH. Stopień uporządkowania struktury wewnętrznej ciał stałych decyduje o ich podziale

PRACE. Instytutu Ceramiki i Materia³ów Budowlanych. Nr 7. Scientific Works of Institute of Ceramics and Construction Materials ISSN

Tytuł pracy w języku angielskim: Microstructural characterization of Ag/X/Ag (X = Sn, In) joints obtained as the effect of diffusion soledering.

s. 281 posypa si wzory (1) (2) Wstęp

Wyznaczanie minimalnej odważki jako element kwalifikacji operacyjnej procesu walidacji dla wagi analitycznej.

LABORATORIUM ANALITYCZNEJ MIKROSKOPII ELEKTRONOWEJ (L - 2)

Instytutu Ceramiki i Materiałów Budowlanych

ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 097

Chemia kryminalistyczna

Instytut Fizyki Doświadczalnej Wydział Matematyki, Fizyki i Informatyki UNIWERSYTET GDAŃSKI

Metody badań monokryształów metoda Lauego

Zaawansowane Metody Badań Strukturalnych. Dyfrakcja rentgenowska cz.2 Mikroskopia Sił Atomowych AFM

Dyfrakcja rentgenowska (XRD) w analizie fazowej Wykład 3

WPŁYW OBCIĄŻEŃ ZMĘCZENIOWYCH NA WYSTĘPOWANIE ODMIAN POLIMORFICZNYCH PA6 Z WŁÓKNEM SZKLANYM

MODYFIKACJA TYTANEM, BOREM I FOSFOREM SILUMINU AK20

Określenie rodzaju azbestu w izolacji termicznej metodą proszkową (DSH) dyfrakcji rentgenowskiej

Krystalografia i krystalochemia Wykład 15 Repetytorium

Zaawansowane Metody Badań Materiałów. Badania strukturalne materiałów Badania właściwości materiałów

Walidacja metod wykrywania, identyfikacji i ilościowego oznaczania GMO. Magdalena Żurawska-Zajfert Laboratorium Kontroli GMO IHAR-PIB

NIEPEWNOŚĆ POMIARÓW POZIOMU MOCY AKUSTYCZNEJ WEDŁUG ZNOWELIZOWANEJ SERII NORM PN-EN ISO 3740

Instrukcja do ćwiczenia. Analiza rentgenostrukturalna materiałów polikrystalicznych

Instytut Fizyki Doświadczalnej Wydział Matematyki, Fizyki i Informatyki UNIWERSYTET GDAŃSKI

DYFRAKTOMETRIA RENTGENOWSKA W BADANIACH NIENISZCZĄCYCH - NOWE NORMY EUROPEJSKIE

IDENTYFIKACJA FAZ W MODYFIKOWANYCH CYRKONEM ŻAROWYTRZYMAŁYCH ODLEWNICZYCH STOPACH KOBALTU METODĄ DEBYEA-SCHERRERA

Zaawansowane Metody Badań Materiałów. Badania strukturalne materiałów Badania właściwości materiałów

LABORATORIUM SPEKTRALNEJ ANALIZY CHEMICZNEJ (L-6)

PROMIENIOWANIE RENTGENOWSKIE

Akademia Morska w Szczecinie. Wydział Mechaniczny

Imię i nazwisko (e mail): Rok: 2018/2019 Grupa: Ćw. 5: Pomiar parametrów sygnałów napięciowych Zaliczenie: Podpis prowadzącego: Uwagi:

Rejestracja dyfraktogramów polikrystalicznych związków. Wskaźnikowanie dyfraktogramów i wyznaczanie typu komórki Bravais go.

Dyfrakcja rentgenowska (XRD) w analizie fazowej Wykład 6 i 7

Projektowanie systemów pomiarowych. 02 Dokładność pomiarów

Opis efektów kształcenia dla modułu zajęć

Pozyskiwanie wodoru na nanostrukturalnych katalizatorach opartych o tlenki żelaza

Instytut Techniki Budowlanej. SPRAWOZDANIE Z BADAŃ Nr LZK /16/Z00NZK

Instytutu Ceramiki i Materiałów Budowlanych

STRUKTURA CIAŁA STAŁEGO

Rodzina i pas płaszczyzn sieciowych

7. Identyfikacja defektów badanego obiektu

Katedra Fizyki i Biofizyki instrukcje do ćwiczeń laboratoryjnych dla kierunku Lekarskiego

ANALiZA WPŁYWU PARAMETRÓW SAMOLOTU NA POZiOM HAŁASU MiERZONEGO WEDŁUG PRZEPiSÓW FAR 36 APPENDiX G

DOKUMENTACJA SYSTEMU ZARZĄDZANIA LABORATORIUM. Procedura szacowania niepewności

BADANIE INTERFEROMETRU YOUNGA

WPŁYW GĘSTOŚCI SUROWCA NA BILANSOWANIE PRODUKTÓW KLASYFIKACJI HYDRAULICZNEJ W HYDROCYKLONACH W OPARCIU O WYNIKI LASEROWYCH ANALIZ UZIARNIENIA**

Nazwa przedmiotu BAZY DANYCH I METODY KOMPUTEROWE W KRYSTALOGRAFII Databases and Computer Methods in Crystallography

WPŁYW METODY DOPASOWANIA NA WYNIKI POMIARÓW PIÓRA ŁOPATKI INFLUENCE OF BEST-FIT METHOD ON RESULTS OF COORDINATE MEASUREMENTS OF TURBINE BLADE

DIGITALIZACJA GEOMETRII WKŁADEK OSTRZOWYCH NA POTRZEBY SYMULACJI MES PROCESU OBRÓBKI SKRAWANIEM

Urządzenie i sposób pomiaru skuteczności filtracji powietrza.

Dyfrakcja rentgenowska cz.2 Mikroskopia Sił Atomowych AFM

BADANIA STRUKTURY MATERIAŁÓW. Publikacja współfinansowana ze środków Unii Europejskiej w ramach Europejskiego Funduszu Społecznego

Właściwości fizykochemiczne popiołów fluidalnych

Badanie dylatometryczne żeliwa w zakresie przemian fazowych zachodzących w stanie stałym

SILUMIN OKOŁOEUTEKTYCZNY Z DODATKAMI Cr, Mo, W i Co

Deuterowa korekcja tła w praktyce

Transkrypt:

Instytutu Ceramiki i Materiałów Budowlanych Scientific Works of Institute of Ceramics and Building Materials Nr 22 (lipiec wrzesień) Prace są indeksowane w BazTech i Index Copernicus ISSN 1899-3230 Rok VIII Warszawa Opole 2015

GUSTAW KONOPKA KRZYSZTOF PERKOWSKI * MAGDALENA GIZOWSKA ** MARCIN OSUCHOWSKI *** **** IRENA WITOSŁAWSKA BEATA MARCINIAK-MALISZEWSKA ***** IZABELA KOBUS ****** ******* Prace ICiMB 2015 nr 22: 34 43 Słowa kluczowe: krzemiany warstwowe, metodyka rentgenowska, ilościowa analiza fazowa. Do opracowania metodyki badawczej zastosowano wzorce materiałów, w tym wzorce krzemianów warstwowych, z których sporządzono mieszaniny o ustalonym składzie. Przygotowanie próbek obejmowało separację grawitacyjną w celu możliwie najwyższego stopnia oczyszczenia zakupionych wzorców z domieszek minerałów nieilastych. Wyseparowane próbki były analizowane metodą dyfrakcji rentgenowskiej, a ich obraz dyfrakcyjny został zapisany jako wzorzec i wykorzystany w późniejszych badaniach przygotowanych mieszanin wieloskładnikowych. Próbki wzorcowe i mieszaniny były analizowane z wykorzystaniem posiadanego oprogramowania TOPAS v4.2 i TOPAS v5.0 oraz DIFFRAC EVA, co pozwoliło na użycie metody Rietvelda oraz innych metod polegających na dopasowywaniu obliczonego obrazu dyfrakcyjnego względem zmierzonego, na podstawie udokładnianych parametrów strukturalnych. Wykazano, że metoda PONKCS w połączeniu * Mgr, Instytut Ceramiki i Materiałów Budowlanych w Warszawie, g.konopka@icimb.pl ** Dr inż., Instytut Ceramiki i Materiałów Budowlanych w Warszawie, k.perkowski@icimb.pl *** Dr inż., Instytut Ceramiki i Materiałów Budowlanych w Warszawie, m.gizowska@icimb.pl **** Dr inż., Instytut Ceramiki i Materiałów Budowlanych w Warszawie, m.osuchowski@icimb.pl ***** Mgr inż., Instytut Ceramiki i Materiałów Budowlanych w Warszawie, i.witoslawska@icimb.pl ****** Mgr, Instytut Ceramiki i Materiałów Budowlanych w Warszawie, b.maliszewska@icimb.pl ******* Mgr inż., Instytut Ceramiki i Materiałów Budowlanych w Warszawie, i.kobus@icimb.pl

OPRACOWANIE METODYKI RENTGENOWSKIEJ ILOŚCIOWEJ ANALIZY FAZOWEJ MIESZANIN... 35 z tradycyjnie stosowaną w rentgenowskiej ilościowej analizie fazowej metodą Rietvelda pozwala na efektywne i stosunkowo precyzyjne oznaczenie zawartości zdefektowanych minerałów ilastych w mieszaninach wieloskładnikowych. Rentgenowska analiza fazowa z wykorzystaniem metody Rietvelda jest powszechnie stosowana do ilościowego oznaczania składu próbek zawierających zróżnicowane fazy krystaliczne. Jednak zastosowanie tej metody jest zazwyczaj ograniczone do faz o dobrze scharakteryzowanej strukturze, w której ilość defektów strukturalnych jest ograniczona. Wiele próbek, w tym szczególnie np. surowców ceramicznych powszechnie stosowanych do produkcji ceramiki, zawiera fazy krystaliczne o silnie zaburzonej strukturze, np. turbostratycznie nieuporządkowane minerały ilaste. Nieuporządkowanie tego rodzaju może być wyjaśnione jako seria defektów typu stacking faults w kierunku osi krystalograficznej c. Oznacza to przypadkową rotację bądź translację w kierunku krystalograficznym ±b/3 kolejnych warstw strukturalnych w danym minerale [1]. Ilościowe oznaczanie zawartości tego typu faz napotyka na znaczne problemy, gdyż obliczony numerycznie (przy użyciu modelu kryształu o idealnych parametrach) sygnał dyfrakcji rentgenowskiej znacznie różni się od sygnału zarejestrowanego, co wyraża się szczególnie w anizotropowym kształcie i poszerzeniu refleksów dyfrakcyjnych. Do ilościowego oznaczania mieszanin zawierających zdefektowane fazy krystaliczne są stosowane różne metody, z których część wykorzystuje intensywność wybranych refleksów, np. refleksu 060 pochodzącego od minerałów ilastych w metodzie MIF (Mineral Intensity Factor) [2], inne z kolei polegają na modelowaniu pełnego zakresu dyfraktogramu (whole-pattern fitting) [3]. Możliwe jest także oznaczanie zawartości minerałów ilastych za pomocą specjalistycznego oprogramowania, np. NEWMOD, w którym ponadto istnieje opcja obliczenia sygnału dyfrakcyjnego od minerałów mieszanopakietowych [4]. W ramach niniejszej pracy zweryfikowano metodę PONKCS (Partial Or No Known Crystal Structure) [5] w połączeniu z metodą Rietvelda [6], które potencjalnie pozwalają na stosunkowo wydajne oznaczanie ilościowe zarówno minerałów ilastych, jak i innych nanokrystalicznych i zdefektowanych faz. W tej metodzie konieczna jest tylko jednokrotna rejestracja czystej próbki, a następnie próbki zawierającej domieszany wzorzec wewnętrzny. W metodzie Rietvelda zawartość danej fazy obliczana jest zgodnie ze wzorem [7]: W α S α( ZMV) α n S ( ZMV) k 1 k k (1)

36 GUSTAW KONOPKA I IN. gdzie: W α zawartość procentowa fazy α, Z α liczba jednostek formalnych w komórce elementarnej fazy α, M α masa jednostki formalnej fazy α, V α objętość komórki elementarnej fazy α, S α czynnik skali fazy α, S k czynnik skali dla wszystkich faz, n liczba modelowanych faz, k suma faz w mieszaninie = 1. Metoda PONKCS umożliwia oznaczanie procentowej zawartości dowolnych materiałów w próbce, o ile możliwa jest uprzednia rejestracja próbki zawierającej czystą fazę oznaczaną lub wówczas, gdy fazy zanieczyszczające są dobrze scharakteryzowane i ich zawartość może być określona ilościowo metodą Rietvelda. W metodzie PONKCS obraz dyfrakcyjny modelowany jest za pomocą tzw. fazy hkl (w przypadku gdy znana jest grupa przestrzenna w jakiej krystalizuje dana faza) lub za pomocą zestawu refleksów dyfrakcyjnych (peaks phase, gdy struktura jest całkowicie nieznana). Dla każdej z faz dokonuje się obliczenia wartości ZM α zgodnie z podanym wzorem: ZM α W S s ZM V α W S V s s s p p gdzie: parametry oznaczone symbolem α odnoszą się do fazy badanej, a parametry oznaczone symbolem s dotyczą dodanego standardu wewnętrznego, który powinien być wysokokrystaliczny i posiadać dobrze scharakteryzowaną strukturę. Do wykonania mieszanin wzorcowych wykorzystano wzorce zakupione od Clay Minerals Society: kaolinit (KGa-2), montmorillonit (SWy-2, grupa smektytu), illit (IMt-2), nontronit (NAu-1, grupa smektytu), ripidolit (CCa-2, grupa chlorytu) oraz własny wzorzec serpentynitu (SH-9, mieszanina lizardytu i chryzotylu). Próbki wstępnie oczyszczono poprzez separację grawitacyjną w wodzie w celu otrzymania frakcji o średnicy zastępczej cząstek < 2 µm. W przypadku próbki SH-9 dodatkowo usunięto magnetyt metodą ręcznej separacji magnetycznej. Próbki przygotowano zarówno w postaci czystej, jak i z domieszanym wzorcem wewnętrznym. Z zakupionych i oczyszczonych surowców sporządzono również mieszaniny o znanym składzie. Próbki do badań rentenowskich umieszczono (2)

OPRACOWANIE METODYKI RENTGENOWSKIEJ ILOŚCIOWEJ ANALIZY FAZOWEJ MIESZANIN... 37 w holderach, w których próbkę wprowadza się od tyłu, co minimalizuje stopień preferowanej orientacji krystalitów. Analizę składu mineralnego próbki wykonano metodą dyfrakcji rentgenowskiej w układzie Bragg-Brentano na dyfraktometrze Bruker-AXS D8 DAVINCI, wyposażonym w lampę z anodą miedzianą. Dyfraktogramy zostały zarejestrowane w zakresie kątowym od 2 do 100 2θ (Cu Kα), krok pomiarowy wynosił 0,01, a czas pomiaru 1 s/krok. Układ optyczny dyfraktometru składa się ze szczeliny dywergencji 0,3, szczeliny przeciwrozproszeniowej 1,5, dwóch szczelin Sollera 2,5, filtra Ni oraz detektora paskowego LynxEye o polu widzenia 2,94. Identyfikacji faz dokonano poprzez porównanie zarejestrowanych dyfraktogramów ze wzorcami znajdujących się w bazie ICDD PDF-2 i PDF-4+ 2013 przy użyciu programu DIFFRACplus EVA-SEARCH. W celu obliczenia właściwych współczynników masowych (ZM) dla badanych struktur krystalicznych w metodzie PONKCS, wprowadzono do próbek domieszkę ok. 33% wag. Al 2 O 3 (NIST SRM 676a). Obliczenia wielkości ZM przeprowadzono zgodnie ze wzorem (2) w programie TOPAS v4.2. Przygotowane i oczyszczone wzorce zostały zarejestrowane, a kształt refleksów odwzorowano metodą Pawleya w programie TOPAS v4.2. W przypadku niektórych struktur konieczne było zastosowanie funkcji uwzględniających anizotropię kształtu (szerokości i/lub asymetrii) refleksów dyfrakcyjnych w zależności od kąta 2θ. Parametry struktury i mikrostruktury, udokładnione na zarejestrowanym dyfraktogramie od czystej próbki, zostały zablokowane i cały model struktury (tzw. faza hkl) był następnie wykorzystany do obliczenia współczynnika masowego ZM, zgodnie ze wzorem (2) na dyfraktogramie zarejestrowanym od próbki zawierającej tę samą fazę i dodatkowo standard wewnętrzny (Al 2 O 3 ). Modele strukturalne z obliczoną wartością współczynnika ZM mogły być następnie wykorzystane do obliczenia zawartości danej fazy w dowolnej próbce. Poniżej przedstawiono fragmenty pliku zawierającego informacje o strukturze dla tzw. fazy hkl reprezentującej serpentynit, intensywność refleksów dyfrakcyjnych od poszczególnych płaszczyzn sieciowych obliczono metodą Pawleya w programie TOPAS (tab. 1). Do odwzorowania właściwego kształtu refleksów dyfrakcyjnych w prezentowanym przykładzie użyto harmonik sferycznych ósmego rzędu (spherical harmonics). Dla każdej fazy hkl mogą być użyte także innego rodzaju modyfikatory, w tym w przypadku minerałów ilastych o wykształceniu blaszkowym warto użyć np. korekcji March-Dollase a na wartość preferowanej orientacji krystalitów w wybranym kierunku krystalograficznym (w tym wypadku 001).

38 GUSTAW KONOPKA I IN. T a b e l a 1 Wybrane fragmenty opisu fazy hkl w pliku wsadowym programu TOPAS przy dopasowaniu struktury metodą Pawleya Makro w pliku wsadowym programu TOPAS hkl_m_d_th2 0 0 2 2 7.31125546 12.0955667 I 1.6368654_1939942.27 LVol_FWHM_CS_G_L(0.89, 67.99099`_18.11478, 0.89,106.80000`_28.45464,,,@, 120.00000`_31.97150 max =120;) e0_from_strain(0.44978`_0.14485,@, 0.00010`_0.54255_LIMIT_MIN_0.0001,@, 1.79998`_0.20417_LIMIT_MAX_1.8 max =1.8;) space_group P63 Hexagonal(@ 5.31165`_0.00244_ LIMIT_MIN_5.3 min =5.3; max =5.35;, @ 14.60494`_0.00618_ LIMIT_ MAX_14.63 min =14.55; max =14.63;) MVW( 0.136,@ 356.853107`_0.361024511, 36.852`_0.520) Preferred_Orientation(@, 0.96754`_0.00549_ LIMIT_MAX_1 min =0.75; max =1;,, 0 0 1) sh_order 8 load sh_cij_prm { y00!sh_c00 1.00000 y20!sh_c20-0.00430_0.03738 y40!sh_c40 0.00303_0.05197 y60!sh_c60-0.00110_0.00432 y66p!sh_c66p -0.26247_1086307.54197 y66m!sh_c66m -0.26247_1086308.11238 y80!sh_c80 0.00065_0.05900 y86p!sh_c86p 0.12195_0.02932 y86m!sh_c86m -1.92555_0.73345 } exp_conv_const = (sh-1) / Sin(Th); scale @ 1.99438989`_0.0421 Ź r ó d ł o: Opracowanie własne. Opis Dane identyfikujące refleks dyfrakcyjny pozycja (kąt 2θ), wskaźniki Millera oraz intensywność danego refleksu Parametry charakteryzujące mikrostrukturę (1) poszerzenie refleksów dyfrakcyjnych wynikające z wielkości krystalitów (rozkład wielkości wg Gaussa i Lorentza) Parametry charakteryzujące mikrostrukturę (2) poszerzenie refleksów dyfrakcyjnych wynikające z odkształceń sieci Grupa przestrzenna i parametry komórki elementarnej Masa jednostki formalnej w komórce elementarnej (M), objętość komórki elementarnej (V), obliczona zawartość danej fazy w próbce (W) Korekcja March-Dollase a na preferowaną orientację krystalitów danej fazy krystalicznej Harmoniki sferyczne zastosowane do opisu anizotropowego poszerzenia refleksów dyfrakcyjnych Czynnik skali proporcjonalny do zawartości danej fazy w próbce Stwierdzono, że wystarczająca jest rejestracja dyfraktogramów w zakresie od 2 do 70 o 2θ. Uwzględnianie w oprogramowaniu wyższych zakresów kątowych prowadzi do błędów, ponieważ w tych zakresach dochodzi do nakładania się sygnału od wielu refleksów dyfrakcyjnych. Parametry tła i intensywność poszczególnych refleksów fazy hkl są wtedy ze sobą silnie skorelowane i wyliczo-

OPRACOWANIE METODYKI RENTGENOWSKIEJ ILOŚCIOWEJ ANALIZY FAZOWEJ MIESZANIN... 39 ny sygnał dyfrakcyjny od fazy hkl może zastępować właściwy kształt tła. Jeśli jest to możliwe, parametry tła powinny być zablokowane podczas początkowych etapów udokładniania parametrów danej fazy hkl. Kolejnym etapem była weryfikacja dokładności metody na mieszaninach o znanym składzie. Zawartość kwarcu i anatazu, wykrytych jako zanieczyszczenie w próbkach surowców KGa-2, IMt-2 oraz SWy-2, została określona metodą Rietvelda i uwzględniona w obliczeniach. Stwierdzono, że zawartość poszczególnych minerałów ilastych może być wiarygodnie obliczona za pomocą wybranej metody. Wykazano jednak systematyczną różnicę w przypadku illitu, kaolinitu i montmorillonitu, z czego zawartość dwóch pierwszych była zawsze nieznacznie przeszacowana, a ostatniego niedoszacowana (tab. 2). Stosunkowo najdokładniej został obliczony skład mieszaniny M2 (tab. 3) T a b e l a 2 Zawartość faz krystalicznych [% wag.] w badanej próbce M1 Próbka M1 Zważone Zmierzone Illit 32,34 33,71 ± 0,70 Montmorillonit 29,87 25,74 ± 0,55 Kaolinit 32,92 36,31 ± 0,47 Kwarc 4,42 3,66 ± 0,10 Anataz 0,45 0,58 ± 0,06 Ź r ó d ł o: Opracowanie własne. 4 000 3 3 000 2 2 000 1 1 000 0 - Anatase 0.58 Quartz 3.66 % kaolinite_hkl 36.31 Montmorillonite_hkl25.74 Illite_hkl 33.71 % 5 10 15 20 25 30 35 40 45 50 55 60 65 70 75 80 85 90 95 100 Ź r ó d ł o: Ryciny 1 4 opracowanie własne. Ryc. 1. Dyfraktogram dla próbki M1 zmierzony (niebieski) i obliczony (czerwony) w programie TOPAS

40 GUSTAW KONOPKA I IN. T a b e l a 3 Zawartość faz krystalicznych [% wag.] w badanej próbce M2 Próbka M2 Zważone Zmierzone Nontronit 33,34 33,85 ± 0,35 Serpentynit 33,32 36,85 ± 0,52 Chloryt 33,34 29,30 ± 0,35 Ź r ó d ł o: Opracowanie własne. 8 000 7 000 6 000 5 000 4 000 3 000 2 000 1 000 0 - -1 000 5 10 15 20 25 30 35 40 45 50 55 60 65 70 75 80 85 Nontronite_hkl 33.85 % Serpentine_hkl 36.85 % Chlorite_hkl 29.30 % 90 95 100 Ryc. 2. Dyfraktogram dla próbki M2 zmierzony (czarny) i obliczony (czerwony) w programie TOPAS T a b e l a 4 Zawartość faz krystalicznych [% wag.] w badanej próbce M3 Próbka M3 Zważone Zmierzone Illit 4,96 6,07 ± 0,72 Montmorillonit 25,21 20,06 ± 0,43 Kaolinit 65,87 69,96 ± 0,65 Kwarc 3,07 2,69 ± 0,08 Anataz 0,89 1,22 ± 0,06 Ź r ó d ł o: Opracowanie własne. 6000 0 4000 3000 2000 1000 0 - -1000 5 10 15 20 25 30 35 40 45 50 55 60 65 70 75 Quartz Anatase 1.22 kaolinite_hkl 69.96 2.69 Illite_hkl Montmorillonite_hkl 20.06 6.07 % 80 85 90 95 100 Ryc. 3. Dyfraktogram dla próbki M3 zmierzony (niebieski) i obliczony (czerwony) w programie TOPAS

OPRACOWANIE METODYKI RENTGENOWSKIEJ ILOŚCIOWEJ ANALIZY FAZOWEJ MIESZANIN... 41 T a b e l a 5 Zawartość faz krystalicznych [% wag.] w badanej próbce M4 6 000 5 000 4 000 3 000 2 000 1 000 0 - -1 000 5 10 15 Próbka M4 Zważone Zmierzone Montmorillonit 65,58 60,55 ± 0,32 Kaolinit 26,45 31,44 ± 0,30 Kwarc 7,61 7,16 ± 0,10 Anataz 0,36 0,85 ± 0,07 Ź r ó d ł o: Opracowanie własne. 20 25 30 35 40 45 50 55 60 65 70 75 Quartz Anatase 0.85 7.16 kaolinite_hkl 31.44 Montmorillonite_hkl 60.55 % Ryc. 4. Dyfraktogram dla próbki M4 zmierzony (niebieski) i obliczony (czerwony) w programie TOPAS 80 85 90 95 100 W przypadku obecności w próbce nieuporządkowanych minerałów ilastych zastosowanie klasycznej metody Rietvelda napotyka na znaczne trudności. Możliwe jest wykorzystanie modyfikatorów kształtu refleksów dyfrakcyjnych dla danej struktury, takich jak np. harmoniki sferyczne do opisu anizotropowego poszerzenia lub asymetrii refleksów w zależności od kąta 2θ. Podobnym fenomenologicznym podejściem jest użycie modelu Stephensa [8]. Metody te mogą sprawdzić się w obliczeniach zawartości substancji o relatywnie wysokim stopniu krystaliczności (np. kaolinit, chloryt), gdzie obecnych jest wiele refleksów, z których wszystkie spełniają warunek Bragga. Obliczenie zawartości faz krystalicznych w przygotowanych mieszaninach M1 M4, z wykorzystaniem tych metod, nie dało satysfakcjonujących rezultatów (dane niepublikowane), gdyż wiele z badanych minerałów było bardzo silnie zdefektowanych. Fenomenologiczne modyfikatory kształtu refleksów dyfrakcyjnych nie sprawdzają się, gdy związek ma niską symetrię (np. układ jednoskośny) i jednocześnie obserwuje się tylko pojedyncze refleksy dyfrakcyjne. W przypadku np. minerałów z grupy smektytów zazwyczaj stopień zdefektowania jest tak duży, że obecnych jest tylko kilka szerokich pasm dyfrakcyjnych. W takim przypadku ilość obserwacji jest zbyt mała w stosunku do ogromnej liczby parametrów, które należy udokładnić w metodzie Rietvelda. Dodatkowo obraz dyfrakcyjny takich minerałów jak smektyty może ulegać zmianie w zależności od wilgotności. W celu ominięcia

42 GUSTAW KONOPKA I IN. tych problemów zastosowano metodę PONKCS. Uzyskane wyniki potwierdzają możliwość wykorzystania tej metody do badań zawartości faz o zdefektowanej strukturze krystalicznej. W niektórych przypadkach stwierdzono, że choć zawartość minerałów ilastych wyliczana jest zasadniczo poprawnie, to błąd może być zauważalny. Obliczone zawartości najdokładniej zgadzały się ze zważonymi masami w przypadku mieszaniny M2. Struktury minerałów wchodzących w skład tej mieszaniny (serpentynit, nontronit, chloryt) zostały dobrze dopasowane metodą Pawleya i ich obraz dyfrakcyjny pozostawał praktycznie niezmieniony zarówno w próbce czystej, jak i w tej z domieszanym Al 2 O 3. Te minerały nie wykazywały istotnych zmian widocznych na dyfraktogramach zależności od warunków przeprowadzania eksperymentu (np. wilgotności i temperatury). W przypadku mieszanin M1, M2 i M3 zawierających kaolinit, illit i montmorillonit istniały pewne różnice w wyliczonej zawartości faz w stosunku do zawartości zważonej. W tych mieszaninach problematyczna była struktura montmorillonitu, której obraz dyfrakcyjny zmieniał się w trakcie analizy. Zróżnicowanie dyfrakcji w próbce czystej i w próbce z domieszanym wzorcem wewnętrznym (Al 2 O 3 ) skutkowało prawdopodobnie uzyskaniem współczynnika masowego (ZM), odbiegającego od właściwego i wpłynęło na ostateczne wyniki. Przypuszczalnie zachowanie stałej wilgotności w laboratorium i w komorze dyfraktometru umożliwiłoby zwiększenie dokładności pomiaru zawartości tej fazy krystalicznej i tym samym faz współobecnych w przygotowanych próbkach. Metoda PONKCS w połączeniu z metodą Rietvelda może być użyta do oznaczania zawartości faz o zróżnicowanym stopniu nieuporządkowania struktury krystalicznej. Opracowano i wdrożono metodę pomiaru próbek oraz przygotowano bibliotekę typowych struktur, która może być uzupełniana o nowe fazy. Wskazane jest dalsze dopracowanie metodyki badawczej dla minerałów z grupy smektytów. Zastosowana metoda może być z powodzeniem wykorzystywana również do analizy nanoproszków używanych do syntezy ceramik optycznych, a także do określania zawartości substancji nanokrystalicznych i amorficznych w cementach i betonach *. [1] B e r g a y a F., T h e n g B.K.G., L a g a l y G., Handbook of clay science, Elsevier, Oxford 2006. [2] Ś r o d o ń J., D r i t s V.A., M c C a r t y D.K., H s i e h J.C.C., E b e r l D.D., Quantitative X-ray diffraction analysis of clay bearing rocks from random preparations, Clays and Clay Minerals 2001, Vol. 49, No. 6, s. 514 528. * Praca została sfinansowana ze środków na działalność statutową Instytutu Ceramiki i Materiałów Budowlanych.

OPRACOWANIE METODYKI RENTGENOWSKIEJ ILOŚCIOWEJ ANALIZY FAZOWEJ MIESZANIN... 43 [3] O m o t o s o O., M c C a r t y D.K., H i l l i e r S., K l e e b e r g R., Some successful approaches to quantitative mineral analysis as revealed by the 3 rd Reynolds cup contest, Clays and Clay Minerals 2006, Vol. 54, No. 6, s. 748 760. [4] http://www.newmod-for-clays.com/newmod-ii.html (20.02.2015). [5] S c a r l e t t N.V.Y., M a d s e n I.C., Quantification of phases with partial or no known crystal structure, Powder Diffraction 2006, Vol. 21, No. 4, s. 278 284. [6] B i s h D., H o w a r d S., Quantitative Phase Analysis Using the Rietveld Method, Journal of Applied Crystallography 1988, Vol. 21, s. 86 91. [7] U t e K., S h a n k l a n d K., M e s h i L., A v i l o v A., W i l l i a m D., Uniting Electron Crystallography and Powder Diffraction, Springer, Dordrecht 2012. [8] S t e p h e n s P., Phenomenological model of anisotropic peak broadening in powder diffraction, Journal of Applied Crystallography 1999, Vol. 32, No. 2, s. 281 289. GUSTAW KONOPKA KRZYSZTOF PERKOWSKI MAGDALENA GIZOWSKA MARCIN OSUCHOWSKI IRENA WITOSŁAWSKA BEATA MARCINIAK-MALISZEWSKA IZABELA KOBUS THE METHODOLOGY FOR XRD QUANTITATIVE PHASE ANALYSIS OF MIXTURES CONTAINING DISORDERED LAYER SILICATES Keywords: layer silicates, xrd methodology, quantitative phase analysis. In order to define the proper analytical methodology a set of standards including layer silicates was used, from which the mixtures of known composition were prepared. Sample preparation included gravity separation aimed to purify purchased standards from non-clay admixtures. Separated samples were analyzed by roentgen diffraction technique (XRD) and their diffraction signal was saved and used in the later analyses of prepared multicomponent mixtures. Standard samples and prepared mixtures were analyzed with TOPAS v4.2, TOPAS v5.0 and DIFFRAC EVA software which allowed for implementation of the Rietveld method as well as other techniques relying on fitting of the calculated to measured diffraction profile due to the adjustment of the refinable parameters. It was shown that the PONKCS method combined with the traditional Rietveld refinement allows for effective and relatively precise measurement of the quanitity of the highly defected clay minerals in the multicomponent mixtures.