Sprawdzenie poprawności podstawowych bramek logicznych: NOT, NAND, NOR

Podobne dokumenty
Zbudować 2wejściową bramkę (narysować schemat): a) NANDCMOS, b) NORCMOS, napisać jej tabelkę prawdy i wyjaśnić działanie przy pomocy charakterystyk

Projektowanie i badanie liczników synchronicznych i asynchronicznych

Ćwiczenie 24 Temat: Układy bramek logicznych pomiar napięcia i prądu. Cel ćwiczenia

Podstawowe układy cyfrowe

Technika Cyfrowa 2 wykład 4: FPGA odsłona druga technologie i rodziny układów logicznych

Zapoznanie się z podstawowymi strukturami funktorów logicznych realizowanymi w technice RTL (Resistor Transistor Logic) oraz zasadą ich działania.

Funkcje logiczne X = A B AND. K.M.Gawrylczyk /55

WSTĘP. Budowa bramki NAND TTL, ch-ka przełączania, schemat wewnętrzny, działanie 2

płytka montażowa z tranzystorami i rezystorami, pokazana na rysunku 1. płytka montażowa do badania przerzutnika astabilnego U CC T 2 masa

Ćwiczenie 26. Temat: Układ z bramkami NAND i bramki AOI..

Elementy cyfrowe i układy logiczne

Ćwiczenie 25 Temat: Interfejs między bramkami logicznymi i kombinacyjne układy logiczne. Układ z bramkami NOR. Cel ćwiczenia

Komputerowa symulacja bramek w technice TTL i CMOS

Komputerowa symulacja bramek w technice TTL i CMOS

z ćwiczenia nr Temat ćwiczenia: BADANIE UKŁADÓW FUNKCJI LOGICZNYCH (SYMULACJA)

Technika Cyfrowa. dr inż. Marek Izdebski Kontakt: Instytut Fizyki PŁ, ul. Wólczańska 219, pok. 111, tel ,

INSTRUKCJA DO ĆWICZENIA BADANIE STANDARDOWEJ BRAMKI NAND TTL (UCY 7400)

Ćwiczenie D1 Bramki. Wydział Fizyki UW

Katedra Przyrządów Półprzewodnikowych i Optoelektronicznych Laboratorium Przyrządów Półprzewodnikowych. Ćwiczenie 4

AKADEMIA GÓRNICZO-HUTNICZA IM. STANISŁAWA STASZICA W KRAKOWIE. Wydział Informatyki, Elektroniki i Telekomunikacji LABORATORIUM.

Ćw. 8 Bramki logiczne

Bramki logiczne. 2. Cele ćwiczenia Badanie charakterystyk przejściowych inwertera. tranzystorowego, bramki 7400 i bramki

Badanie działania bramki NAND wykonanej w technologii TTL oraz układów zbudowanych w oparciu o tę bramkę.

Układy TTL i CMOS. Trochę logiki

Ćwiczenie 23. Temat: Własności podstawowych bramek logicznych. Cel ćwiczenia

Instrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego

BADANIE UKŁADÓW CYFROWYCH. CEL: Celem ćwiczenia jest poznanie właściwości statycznych układów cyfrowych serii TTL. PRZEBIEG ĆWICZENIA

Temat: Projektowanie i badanie liczników synchronicznych i asynchronicznych. Wstęp:

LABORATORIUM. Technika Cyfrowa. Badanie Bramek Logicznych

Podstawy Elektroniki dla Tele-Informatyki. Tranzystory unipolarne MOS

Generatory kwarcowe Generator kwarcowy Colpittsa-Pierce a z tranzystorem bipolarnym

Statyczne badanie przerzutników - ćwiczenie 3

Cyfrowe układy kombinacyjne. 5 grudnia 2013 Wojciech Kucewicz 2

Cyfrowe Elementy Automatyki. Bramki logiczne, przerzutniki, liczniki, sterowanie wyświetlaczem

Ćwiczenie 1 Program Electronics Workbench

Statyczne i dynamiczne badanie przerzutników - ćwiczenie 2

Temat i cel wykładu. Tranzystory

Podstawowe bramki logiczne

Ćwiczenie ZINTEGROWANE SYSTEMY CYFROWE. Pakiet edukacyjny DefSim Personal. Analiza prądowa IDDQ

LABORATORIUM ELEKTRONIKA I ENERGOELEKTRONIKA BADANIE GENERATORÓW PRZEBIEGÓW PROSTOKĄTNYCH I GENERATORÓW VCO

Przerzutnik (z ang. flip-flop) jest to podstawowy element pamiętający każdego układu

Zwykle układ scalony jest zamknięty w hermetycznej obudowie metalowej, ceramicznej lub wykonanej z tworzywa sztucznego.

Wykład nr 1 Techniki Mikroprocesorowe. dr inż. Artur Cichowski

Wydział Fizyki UW CC=5V 4A 4B 4Y 3A 3B 3Y

Podstawy Elektroniki dla Informatyki. Tranzystory unipolarne MOS

Technika Mikroprocesorowa

GENERATORY KWARCOWE. Politechnika Wrocławska. Instytut Telekomunikacji, Teleinformatyki i Akustyki. Instrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego

LABORATORIUM TECHNIKA CYFROWA BRAMKI. Rev.1.0

Systemy Wbudowane. Arduino - rozszerzanie. Podłączanie wyświetlacza LCD. Podłączanie wyświetlacza LCD. Podłączanie wyświetlacza LCD

Inwerter logiczny. Ilustracja 1: Układ do symulacji inwertera (Inverter.sch)

Badanie układów średniej skali integracji - ćwiczenie Cel ćwiczenia. 2. Wykaz przyrządów i elementów: 3. Przedmiot badań

ĆWICZENIE 15 BADANIE WZMACNIACZY MOCY MAŁEJ CZĘSTOTLIWOŚCI

Państwowa Wyższa Szkoła Zawodowa

1 Kombinacyjne układy logiczne

CHARAKTERYSTYKI BRAMEK CYFROWYCH TTL

Rys. 2. Symbole dodatkowych bramek logicznych i ich tablice stanów.

Laboratorium elektroniki. Ćwiczenie E14IS. Elementy logiczne. Wersja 1.0 (29 lutego 2016)

Systemy Wbudowane. Arduino dołączanie urządzeń Wersja Arduino więcej portów I/O. Układy serii 74. Układy serii 74xx a seria 40xx

Badanie charakterystyk elementów półprzewodnikowych

dr inż. Rafał Klaus Zajęcia finansowane z projektu "Rozwój i doskonalenie kształcenia i ich zastosowań w przemyśle" POKL

Ćwiczenie - 3. Parametry i charakterystyki tranzystorów

Ćwiczenie 29 Temat: Układy koderów i dekoderów. Cel ćwiczenia

III. TRANZYSTOR BIPOLARNY

Laboratorium Analogowych Układów Elektronicznych Laboratorium 6

Projekt Układów Logicznych

Statyczne badanie wzmacniacza operacyjnego - ćwiczenie 7

UKŁADY KOMBINACYJNE (BRAMKI: AND, OR, NAND, NOR, NOT)

SWB - Wprowadzenie, funkcje boolowskie i bramki logiczne - wykład 1 asz 1. Plan wykładu

Elementy cyfrowe i układy logiczne

Podstawy Automatyki. Wykład 13 - Układy bramkowe. dr inż. Jakub Możaryn. Warszawa, Instytut Automatyki i Robotyki

Ćwiczenie 5. Zastosowanie tranzystorów bipolarnych cd. Wzmacniacze MOSFET

Laboratorium Przyrządów Półprzewodnikowych test kompetencji zagadnienia

Laboratorium Analogowych Układów Elektronicznych Laboratorium 6

Układy cyfrowe. Najczęściej układy cyfrowe służą do przetwarzania sygnałów o dwóch poziomach napięć:

2. Który oscylogram przedstawia przebieg o następujących parametrach amplitudowo-czasowych: Upp=4V, f=5khz.

LABORATORIUM PROJEKTOWANIA UKŁADÓW VLSI

Rys Schemat montażowy (moduł KL blok e) Tablica C B A F

Wykład 1. Informatyka Stosowana. 3 października Informatyka Stosowana Wykład 1 3 października / 26

1 Tranzystor MOS. 1.1 Stanowisko laboratoryjne. 1 TRANZYSTOR MOS

PRZED PRZYSTĄPIENIEM DO ZAJĘĆ PROSZĘ O BARDZO DOKŁADNE

Tranzystor JFET i MOSFET zas. działania

Część 2. Funkcje logiczne układy kombinacyjne

Ćwiczenie 2 Przekaźniki Czasowe

Wzmacniacze operacyjne

Politechnika Białostocka

Pracownia pomiarów i sterowania Ćwiczenie 3 Proste przyrządy elektroniczne

Ćwiczenie 27 Temat: Układy komparatorów oraz układy sumujące i odejmujące i układy sumatorów połówkowych i pełnych. Cel ćwiczenia

TEST KONKURSOWY CZAS TESTU 40 MIN ILOŚĆ MAKSYMALNA PUNKTÓW 20 INSTRUKCJA:

Dioda półprzewodnikowa

Cyfrowe układy scalone

Laboratorium Elektroniki

Podstawy elektroniki cyfrowej dla Inżynierii Nanostruktur. Piotr Fita

Bramki logiczne. (spadek napięcia na diodzie D oraz złączu BE tranzystora R 2

Bramki logiczne Podstawowe składniki wszystkich układów logicznych

Skrócony opis dostępnych na stanowiskach studenckich makiet laboratoryjnych oraz zestawu elementów do budowy i badań układów elektronicznych

Uniwersytet Pedagogiczny

Logiczne układy bistabilne przerzutniki.

AKADEMIA MORSKA KATEDRA NAWIGACJI TECHNICZEJ

Tranzystor jako element cyfrowy

Wykład X TRANZYSTOR BIPOLARNY

Transkrypt:

Laboratorium Podstaw Techniki Cyfrowej dr Marek Siłuszyk mgr Arkadiusz Wysokiński Ćwiczenie 01 PTC Sprawdzenie poprawności podstawowych bramek logicznych: NOT, NAND, NOR opr. tech. Mirosław Maś Uniwersytet Przyrodniczo Humanistyczny Siedlce 2019

1. Wstęp W ćwiczeniu badamy prawidłowość działania dwuwejściowych bramek logicznych wykorzystując komputerowy program do symulacji PSpice, oraz praktycznie na platformie laboratoryjnej testujemy działanie jednej z bramek w układzie scalonym. W skład zestawu laboratoryjnego wchodzą: 1. Komputer PC z programem PSpice 9.1 2. Generator sygnałowy NDN DF1641B 3. Zasilacz NDN DF1731SB3A 4. Próbnik stanów logicznych GLP-1A 5. Platforma laboratoryjna 6. Przewody połączeniowe zwykłe i koncentryczne. UWAGA: Wyniki symulacji programu PSpice zapisuj w katalogu roboczym. Przed rozpoczęciem ćwiczenia sprawdź czy zestaw na stanowisku jest kompletny. Do ćwiczenia należy opanować następujące zagadnienia teoretyczne: Nazwa; Symbol; Funkcja; Wyrażenie algebraiczne; Tabela prawdy. Oznaczenie układu scalonego. Parametry zasilania. Pojęcie logicznego zera i jedynki. Bramki funkcjonalnie pełne. 2

2. Rys historyczny Jedną z najważniejszych historycznie serii monolitycznych układów scalonych jest 74xx i jej pochodne. Oryginalną serię 74xx stanowiły układy typu Transistor-Transistor Logic (TTL) o napięciu zasilania 5 V. Jako pierwsza do masowej produkcji wprowadziła układy TTL firma Texas Instruments w roku 1961. W okresie największej popularności układów TTL, przypadającym na lata 1970 80, asortyment tych układów obejmował ponad 300 pozycji katalogowych. W latach 90 układy bipolarne TTL zaczęły ustępować miejsca układom CMOS (Complementary MOS). Do budowy układów TTL wykorzystywane są tranzystory bipolarne. Sygnał TTL jest niski (logiczne "0") - potencjał względem masy ma wartość od 0V 0,8V, wysoki (logiczna "1") - przy wartości potencjału między 2V 5V. Wyróżnia się odmiany oznaczone odpowiednio literami: L (Low power) wersja o małym poborze mocy (10 razy mniejszy niż TTL), ale wolniejsza od standardowej (10 MHz); nigdy nie zyskała popularności, gdyż została niemal natychmiast zastąpiona układami CMOS serii 4000. H (High speed) wersja szybsza od standardowej (58 MHz), ale o większym poborze mocy niż standardowa. Większą szybkość uzyskano przez zastosowanie 2x mniejszych rezystorów, co spowodowało szybsze przełączanie tranzystorów. S (Schottky) odmiana szybka (125 MHz), której tranzystory zawierają dodatkową diodę Schottky'ego włączoną równolegle do złącza kolektor-baza i zabezpieczającą tranzystor przed nasyceniem co powoduje dużo szybsze przechodzenie tranzystora ze stanu przewodzenia do zatkania. AS (Advanced Schottky) ulepszona seria S, charakteryzuje się jeszcze większą szybkością działania. LS (Low power Schottky) wersja S o znacznie niższym poborze prądu (40 MHz), zbliżonym do standardowej bramki; główna seria układów TTL, stosowana w większości zastosowań. ALS (Advanced Low power Schottky) unowocześniona seria LS, z mniejszym poborem mocy. F (Fast) nowoczesna, najszybsza seria TTL (125 MHz). Układy w technologii CMOS są zgodne końcówkowo z układami TTL o takich samych oznaczeniach, mają także takie same poziomy stanów logicznych jak TTL, przez co można je łączyć ze sobą. TTL ma większy pobór prądu niż układy wykonane w technologii CMOS, ale układy tego typu są szybsze. W technice TTL buduje się oprócz standardowych układów logicznych także układy z tzw. otwartym kolektorem na wyjściu (OC). Dzięki temu można realizować "sumę na drucie" (wired OR), obecnie już rzadko stosowany, kiedyś służył do podłączania urządzeń do magistrali albo do podłączania odbiorników większej mocy (np. diod świecących, a nawet żarówek) bezpośrednio do wyjścia bramki. Typowy układ serii (74xx) ma czternaście wyprowadzeń w 2 rzędach: wyprowadzenie numer 7 - wyprowadzenie masy (GND, Vss - Ground) a 14 -zasilania +5 V (Vcc, Vdd). 3

3. Wprowadzenie Bramka logiczna element konstrukcyjny maszyn i mechanizmów (dziś zazwyczaj: układ scalony), realizujący fizycznie pewną prostą funkcję logiczną, której argumenty (zmienne logiczne) oraz wartość samej funkcji mogą przybierać jedną z dwóch wartości: 0 lub 1. Elektroniczne bramki logiczne działają dzięki przepływającemu przez nie prądowi. Podstawowymi elementami logicznymi, stosowanymi powszechnie w budowie układów logicznych, są elementy realizujące funkcje logiczne: alternatywy, koniunkcji i negacji. Są to odpowiednio bramki OR, AND i NOT. Za pomocą dwóch takich bramek (np. OR i NOT lub AND i NOT) można zbudować układ, realizujący dowolną funkcję logiczną. Bramki NAND (negacja koniunkcji), oraz NOR (negacja alternatywy) nazywa się bramkami funkcjonalnie pełnymi, ponieważ za ich pomocą (tzn. używając samych NAND albo samych NOR) można zbudować układ realizujący dowolną funkcję logiczną. Dowolną bramkę logiczną można też skonstruować za pomocą pary bramek, np. za pomocą OR i NOT lub AND i NOT. Układy takie nazywamy układami zupełnymi. Układ 7400 Jeden z pierwszych cyfrowych układów scalonych wykonany w technologii TTL. Zawiera cztery dwuwejściowe bramki logiczne NAND. Istnieje również w wersjach: szybkiej (SN 74S00) i niskoprądowej (SN 74LS00), wykorzystujących dodatkową diodę Schottky ego. Układ produkowany także w wersjach CMOS serii HC i HCT. Szczegółowe oznaczenia literowe zależą od wersji i producenta; przykładowo, w Polsce układ ten był produkowany przez firmę CEMI pod nazwą UCY 7400. Schemat układu 7400. Fotografia układu SN7400N. 4

NAND (funkcja Sheffera, dysjunkcja) jest to dwuargumentowa funkcja boolowska realizująca zaprzeczoną koniunkcję (NOT AND) - jest fałszywa wtedy i tylko wtedy, gdy oba argumenty są prawdziwe. Często przedstawiana jest symbolicznie jako ~(p q). Układ 7402 Podobnie jak układ 7400 jest to jeden z pierwszych cyfrowych układów scalonych wykonany w technologii TTL. Zawiera w swym wnętrzu cztery dwuwejściowe bramki NOR. Układ umieszczany jest w obudowie o 14 wyprowadzeniach. Układy o tej samej funkcji mogą różnić się technologią wykonania i przez to podstawowymi parametrami, jak np. 74LS02, 74HCT02, 74F02. W Polsce układ ten był produkowany przez firmę CEMI pod nazwą UCY 7402. Schemat budowy układu 7402. NOR (binegacja) jest to funkcja boolowska realizująca zaprzeczoną sumę logiczną (NOT OR) - jest prawdziwa wtedy i tylko wtedy, gdy oba składniki są fałszywe. Często przedstawiana jest symbolicznie jako ~(p q). 5

4. Przebieg ćwiczenia: Każde z ćwiczeń składa się z: 1. Przeprowadzenia symulacji działania badanej bramki za pomocą programu Pspice. 2. Wykonania badania układu na platformie laboratoryjnej. 3. Zadania dodatkowe. Ad 1. W celu poprawnego wykonania symulacji należy zaprojektować schemat badanego układu, ustalić parametry wejściowe, wykonać analizę stanów logicznych układu, zapisać otrzymane wyniki: schemat oraz graficzne przedstawienie przebiegów logicznych, zapisać uzyskane wyniki w postaci tabeli błędów. UWAGA: Opis pracy z programem Pspice jest w instrukcji wstępnej. Po zatwierdzeniu uzyskanych wyników symulacji komputerowej przez prowadzącego zajęcia można przystąpić do realizacji drugiej części ćwiczenia. W ćwiczeniu bada się poprawność działania bramek logicznych NAND oraz NOR na podstawie układów 2. Ad 2. Ćwiczący ma wykonać następujące doświadczenie eksperyment w tym celu musi zaprojektować schemat elektryczny badanego układu z uwzględnieniem obrazowania stanów logicznych na wejściach i wyjściu badanej bramki, oraz prawidłowego zasilania badanego układu scalonego. Po sprawdzeniu poprawności( przez prowadzącego zajęcia) narysowanego układu elektrycznego ćwiczący otrzyma do badania odpowiedni układ scalony UCY7400 lub UCY7402. Ad 3. Zbadanie inwertera ( NOT) oraz zaprojektowanie i sprawdzenie poprawności działania zamienników.(zbudowanie inwertera z innych bramek logicznych). Wszystkie uzyskane wyniki muszą być udokumentowane w sprawozdaniu. 6

5. Przykład wykonania: Ad 1) Symulacja w programie Pspice. a) Układ 7400 Zrzut schematu do symulacji komputerowej wykonanej w programie Pspice. U1A:A U1A:B U1A:Y 0s 0.5s 1.0s 1.5s 2.0s Time Zrzut przebiegów stanów logicznych uzyskanych w symulacji komputerowej. czas [s] A B Y 0-0,25 0 0 1 0,25-0,5 0 1 1 0,5-0,75 1 0 1 0,75-1 1 1 0 Tabela prawdy (stanów logicznych) utworzona na podstawie analizy zrzutu przebiegów stanów ligicznych 7

b) Układ 7402 Schemat układu do symulacji komputerowej w Pspice. U2A:A U2A:B U2A:Y 0s 0.5s 1.0s 1.5s 2.0s Time Analiza stanów logicznych na podstawie symulacji komputerowej. czas [s] A B Y 0-0,25 0 0 1 0,25-0,5 0 1 0 0,5-0,75 1 0 0 0,75-1 1 1 0 Tabela prawdy 8

Ad 2) Badanie układu na platformie laboratoryjnej. a) Przykładowy schemat połączeń elektrycznych układu zawierającego bramki NAND 1 i 2 diody obrazujące sygnał na wejściu A i B. 3 dioda obrazuje sygnał na wyjściu bramki logicznej Y. UWAGA: Narysowany na schemacie przełącznik służy do zmiany wartości podawanego na wejście układu sygnału. b) Podłączenie bramki NOR UWAGA: ZASILANIE układu włącza się tylko na wyraźne polecenie prowadzącego zajęcia. Przebieg badania Podajemy na wejście bramki sygnały wejściowe w kolejności zgodnej z zapisaną tabelą prawdy. Wszystkie poziomy sygnałów wejściowych i wyjściowych sprawdzamy używając sondy pomiarowej.(nawet, gdy diody obrazujące stany logiczne świecą się). Wyniki zapisujemy opisowo(np.: po podaniu na oba wejścia bramki NAND stanu wysokiego dioda obrazująca stan na wyjściu nie paliła się, wskaźnik sondy pokazał stan LO. Jest to zgodne z uzyskanym wynikiem badania w programie PSpice.) UWAGA: Należy opisać wszystkie możliwe konfiguracje sygnału wejściowego. 9

Ad 3) Zadanie dodatkowe a) Bramka NOT (Inwerter) Schemat w Pspice. U4A:A U4A:Y 0s 0.5s 1.0s 1.5s 2.0s Time Analiza stanów logicznych na podstawie symulacji komputerowej. b) Realizacja poprzez bramkę NAND (ukł. 7400) Schemat w Pspice. U1A:A U1A:Y 0s 0.5s 1.0s 1.5s 2.0s Time Analiza stanów logicznych na podstawie symulacji komputerowej. 10

c) Realizacja poprzez bramkę NOR (ukł. 7402) Schemat w Pspice. U1A:A U1A:Y 0s 0.5s 1.0s 1.5s 2.0s Time Analiza stanów logicznych d) Realizacja poprzez bramkę NOR (ukł. 7402) z jednym wejściem na sztywno złączonym z masą. (Rys.17) Schemat do symulacji komputerowej wykonanej w programie Pspice. U2A:A U2A:B U2A:Y 0s 0.5s 1.0s 1.5s 2.0s Time Analiza stanów logicznych. 11

6. Literatura: [1] Instrukcje do ćwiczeń z PTC M. Siłuszyk, A. Wysokiński UP-H Siedlce 2010 [2] Wstęp do Laboratorium Podstaw Techniki Cyfrowej [3] Sprawozdania z wykonania ćwiczeń z LPTC Piotr Pietruczynik Siedlce 2015 12