1 Kombinacyjne układy logiczne
|
|
- Dominika Król
- 7 lat temu
- Przeglądów:
Transkrypt
1 1 Kombinacyjne układy logiczne Układy elektroniczne przetwarzające informacje zgodnie z wymogami logiki kombinacyjnej 1 są układami,w których odpowiedź y dostępna na wyjściu jest uzależniona tylko i wyłącznie od aktualnie dostępnej kombinacji stanów wejściowych a, b, c... y = F (a, b, c,...) (1) gdzie F () jest logiczną funkcją przełączającą, na podstawie której definiuje się wartość sygnału wyjściowego. Tematem bieżących ćwiczeń jest badanie właściwości elektrycznych i funkcjonalnych prostych układów kombinacyjnych zawierających statyczne bramki logiczne w realizacji TTL 2. Ćwiczenia mają za zadanie przygotować studenta do posługiwania się dokumentacją techniczną układów scalonych jak również przedstawić mu podstawy obsługi cyfrowego analizatora stanów logicznych. 1.1 Bramki logiczne Wyrażenie opisujące zależność kombinacyjną może zostać zdekomponowane do postaci ciągu elementarnych działań logicznych operujących na zmiennych niezależnych wyrażenia. Do działań tych zaliczamy: sumę logiczną, iloczyn logiczny oraz negację, co pozwala stworzyć tzw. zbiór funkcjonalnie pełny, na podstawie którego można stworzyć dowolny układ logiczny spełniający prawa algebry Boole a. W realizacjach sprzętowych rolę elementarnych bloków pełnią pełnią bramki logiczne. Na rys. 1 zaprezentowano symbole podstawowych bramek logiki kombinacyjnej. Uzupełnieniem opisu działania poszczególnych bramek są tabele prawdziwości (ang. truth tables) jednoznacznie przypisujące stan logiczny panujący na wyjściu bramki do wszystkich możliwych kombinacji logicznych stanów wejściowych. Z punktu widzenia realizacji technicznej o wiele prościej jest uzyskać bramki dające negację elementarnych operacji sumowania i iloczynu. Stąd uzupełnieniem dla zestawu bramek AN D,OR są bramki negujące N AN D oraz NOR: Można dowieść, iż bramki N AN D oraz N OR są również bramkami funkcjonalnie pełnymi, które pozwalają na zrealizowanie dowolnie złożonego układu kombinacyjnego. W dalszych rozważaniach ograniczymy się do badania układów kombinacyjnych realizowanych wyłącznie z bramek NAND oraz NOR. 1.2 Kodowanie poziomów logicznych W sprzętowych realizacjach systemów cyfrowych zachodzi konieczność zaprezentowania dyskretnych stanów logicznych 1 oraz 0 przy pomocy napięć lub prądów osiągalnych w poszczególnych gałęziach obwodów. W większości zastosowań stosuje się kodowanie napięciowe polegające na przyporządkowaniu wyróżnionym stanom logicznych wartości napięć mieszczących się określonych przedziałach. Sposób przyporządkowania jest standaryzowany. Proces standaryzacji został powiązany z wprowadzeniem na rynek rodzin układów scalonych realizujących podstawowe operacje logiczne. Na rys. 3 zaprezentowano przedziały napięć odpowiadające poszczególnym poziomom logicznym w różnych standardach kodowania. Przy opisie standardu kodowania należy zwrócić szczególną uwagę na prawidłową interpretację dwóch kluczowych parametrów: VIL (ang. Voltage Input Low) oznacza najwyższą wartość napięcia wejściowego, które zostanie zinterpretowane jako poziom logicznnego 0. VIH (ang. Voltage Input High) oznacza najniższą wartość napięcia wejściowego, które zostanie zinterpretowane jako poziom logicznej 1 1 należy wyraźnie rozróżnić pojęcie logiki kombinacyjnej od logiki kombinatorycznej. 2 TTL - ang. transistor-transistor logic technologia produkcji układów kombinacyjnych z wykorzystaniem tranzystorów bipolarnych w odróżnieniu od technologii CMOS, w której bramki statyczne są realizowane przez łączenie tranzystorów nmos oraz pmos Piotr Katarzyński c 2011r. 1
2 Rysunek 1: Zestaw bramek realizujących podstawowe operacje logiczne 1.3 Układy logiki kombinacyjnej w realizacji TTL Układy TTL 3 są historycznie najstarsze spośród masowo stosowanych podzespołów logiki kombinacyjnej. Działanie poszczególnych bramek logicznych jest w tej rodzinie zrealizowane poprzez wzajemne łącznie tranzystorów bipolarnych i rezystorów. Podstawą działania komórek logicznych w tej realizacji stało się opracowanie tranzystorów bipolarnych o wielu bramkach. Standard T T L został opracowany w 1961 roku i był to pierwszy standard realizacji układów cyfrowych, w którym wyprodukowano większe ilości komputerów osobistych. Układy TTL wymagają do zasilania napięcia o wartości 5V. Poziom napięcia odpowiadający logicznemu 0 mieści się w przedziale < 0.0; 0.8 > V. Poziom napięcia odpowiadający logicznej 1 mieści się w przedziale < 2.2; 5.0 > V. Szczegółowe informacje techniczne na temat poszczególnych układów scalonych znajdują się w notach katalogowych dołączonych do niniejszego opracowania. 1.4 Zestaw laboratoryjny W ćwiczeniach zostanie wykorzystana dedykowana płyta laboratoryjna, której zdjęcie zamieszczono na rys. 4. Zasilanie płyty odbywa się za pośrednictwem zasilacza laboratoryjnego lub wtyczkowego o napięciu stałym powyżej +6V. Obecność zasilania w obwodach płyty jest wskazywana zaświeceniem zielonej diody P W R umieszczonej w prawym, górnym narożu. Na płycie zgromadzono następujące bloki funkcyjne: Układy scalone logiki TTL. Do układów scalonych podłączonym napięciem podłączono fabrycznie napięcia zasilające oraz pojemności odsprzęgające. Pozostałe wyprowadzenia układów podłączono do złącz 3 ang. Transistor-Transistor-Logic Piotr Katarzyński c 2011r. 2
3 Rysunek 2: Bramki negujące Rysunek 3: Poziomy napięć wyrażające wartości logiczne w różnych standardach kodowania. pozwalających na prowadzenie badań. Do dyspozycji użytkownika są układy z bramkami NOT oraz dwuwejściowymi AND oraz OR Przyciski oznaczone jako A,B,C. Pozwalają na zadawanie określonych poziomów logicznych na wyprowadzeniach złącza BTNS. Stan przycisku jest monitorowany zieloną diodą. Jej zapalenie odpowiada stanowi 1 a wygaszenie: 0 Diody oznaczone 4..0 pozwalają na monitorowanie poziomów logicznych w wybranych miejscach płyty. Wejścia dla diod zgromadzono w złączu oznaczonym LED. Układ do badania charakterystyki przejściowej z wykorzystaniem generatora unipolarnego przebiegu trójkątnego podłączanego do wejścia GEN oraz oscyloskopu OSC(X) oraz OSC(Y) Złącza masy oznaczonego GND. Złącza zasilania +5V oznaczonego +5V, które może posłużyć do wymuszania stanu wysokiego 1 w wybranych eksperymentach. Piotr Katarzyński c 2011r. 3
4 1 KOMBINACYJNE UKŁADY LOGICZNE Rysunek 4: Płyta ćwiczeniowa używana w eksperymentach. 1.5 Badanie charakterystyki przejściowej inwertera Bramka negująca (NOT) zwana również inwerterem logicznym zawiera jeno wejście oraz jedno wyjście. To predysponuje ten typ bramki do wyznaczenia parametrów napięciowych skojarzonych z kodowaniem poziomów logicznych. Z tego względu wprowadza się następujące umowne parametry napięciowe: VIL Voltage Input Low: największe napięcie wejściowe rozpoznawane jako poziom niski. VIH Voltage Input High: najmniejsze napięcie wejściowe rozpoznawane jako poziom wysoki. VOL Voltage Output Low: największe napięcie wyjściowe uznawane jako poziom niski. VOH Voltage Output High: najmniejsze napięcie wyjściowe rozpoznawane jako poziom wysoki. Powyższe parametry można określić przez zbadanie zależności między napięciami: wejściowym i wyjściowym dla bramki Przebieg ćwiczenia 1. Przygotuj układ pomiarowy według schematu z rys. 5. Wykorzystaj płytę ćwiczeniową. Podłącz płytę do źródła napięcia stałego o napięciu z zakresu 6..12V 2. Ustaw zwory na płytce w położenie lewe. Spowoduje to dołączenie do złącza OSC(Y) wyjścia pojedynczego inwertera. 3. Do wejścia oznaczonego GEN podłącz sygnał z generatora przebiegów trójkątnych lub sinusoidalnych. 4. Do węzła oznaczonego OSC(x) połącz kanał X oscyloskopu (CH1) 5. Do węzła oznaczonego OSC(y) połącz kanał Y oscyloskopu (CH2) 6. Przedstaw układ połączeń do weryfikacji przez prowadzącego 7. Uruchom generator i oscyloskop. c Piotr Katarzyński 2011r. 4
5 Rysunek 5: Schemat ideowy układu do badań charakterystyki przejściowej bramki NOT 8. Naciśnij przycisk CH1 oscyloskopu i z menu ekranowego ustaw sprzężenie kanału (coupling) na stałoprądowe DC 9. Podobnie ustaw sprzężenie dla kanału CH2 10. Przy pomocy opcji Measure ustaw pomiar wartości międzyszczytowej sygnału Vpp dla kanału CH1 11. Ustaw przebieg trójkątny bądź sinusoidalny. Ustaw wartość międzyszczytową przebiegu na około 5V 12. Przy pomocy kursorów oscyloskopu odczytaj wartości napięć przebiegu z generatora, dla których zachodzi przełączanie wyjścia bramki NOT pomiędzy stanami 0 oraz 1 będą to parametry V IL oraz V IH W razie potrzeby dokonaj odpowiedniego wyskalowania wykresu w osi czasu dla powiększenia szczegółów obserwowanego przebiegu. Przykładowy odczyt napięcia przełączenia z użyciem kursora zaprezentowano na rys Przy pomocy kursorów oscyloskopu odczytaj ustaloną wartość napięcia dla stanu 1 na wyjściu. Oblicz wartości parametrów V OL oraz V OH jako odpowiednio 10% oraz 90% tej wartości. 14. W sprawozdaniu zamieść stosowne oscylogramy ukazujące moment pomiaru ora wartości wyznaczonych napięć V IH, V IL, V OH, V OL Piotr Katarzyński c 2011r. 5
6 1 KOMBINACYJNE UKŁADY LOGICZNE Rysunek 6: Kursor oscyloskopu przy wyznaczeniu napięcia przełączenia inwertera. (1) wyznacza położenie kursora dające punkt na krzywej napięcia wejściowego (2), dla którego zachodzi przełączenie inwertera opisanego przebiegiem (4). Pole (3) pozwala na odczytanie napięcia progowego na poziomie 2.4V 1.6 Badanie charakterystyki dynamicznej inwertera Podstawowym parametrem użytecznym dla bramek logicznych jest ich prędkość działania. Każdy system przetwarzający dane binarne jest na tyle wydajny, jak szybko działa jego najwolniejszy element składowy. Stąd na współcześnie produkowane bramki logiczne nakładane są silne rygory związane z prędkością przełączania się, aby nadążyć za zmianami wejściowego pobudzenia kombinacyjnego. W bieżącym ćwiczeniu zbadamy wpływ szybkości przełączania sygnału wejściowego dla inwertera na szybkość jego reakcji Przebieg ćwiczenia Czynności przygotowawcze dla tego ćwiczenia są takie same jak w ćwiczeniu związanym z wyznaczaniem charakterystyki przejściowej. 1. Przygotuj układ pomiarowy według schematu z rys. 5. Wykorzystaj płytę ćwiczeniową. Podłącz płytę do źródła napięcia stałego o napięciu z zakresu 6..12V 2. Do złącza GEN podłącz wyjście generatora przebiegu prostokątnego TTL. 3. Przełącz zworki na płycie w położenie prawe spowoduje to przekazanie sygnału z generatora na łańcuch 6-u szeregowo połączonych bramek N OT 4. Do złącz oznaczonych OSC(x) oraz OSC(y) podłącz odpowiednio kanał X oraz Y oscyloskopu. 5. Stopniowo zwiększaj częstotliwość pracy generatora i obserwuj reakcję układu (kanał Y) na pobudzenie (kanał X) 6. Ustaw częstotliwość generatora spośród przedziału 1..10M Hz Wyboru częstotliwości dokonuje prowadzący zajęcia. 7. Przy pomocy narzędzi Cursors wyznacz czasy związane z przechodzeniem ciągu bramek ze stanu 0 1 oraz 1 0. Przykładowy oscylogram dla częstotliwości 3MHz prezentuje rys. 7. Oscylogram z eksperymentu ukazujący moment pomiaru oraz szacowane wartości czasów przejść (tranzycji) zamieść w sprawozdaniu. 8. Powtórz eksperyment dla pojedynczego inwertera w łańcuchu (przełącz obydwie zworki w położenie lewe) c Piotr Katarzyński 2011r. 6
7 1 KOMBINACYJNE UKŁADY LOGICZNE 9. Jak liczba bramek w łańcuchu (ścieżce logicznej) wpływa na czas przechodzenia (propagacji) informacji cyfrowej przez ścieżkę? Rysunek 7: Oscylogram z badania czasu przejścia dla częstotliwości pobudzenia 3MHz w łańcuchu 6-u inwerterów. Przebieg żółty obrazuje sygnał ze złącza OSC(x). Przebieg niebieski OSC(y). Pionowe kursory pokazują okres przejścia ze stanu 0 na 1 wynoszący w tym przypadku 156ns. 1.7 Analiza układów kombinacyjnych Elektryczne parametry opisujące bramki precyzują fizyczną stronę ich natury. Drugą stroną jest strona użytkowa, która objawia się w możliwości przetwarzania przez bramkę (lub układ bramek) określonych pobudzeń binarnych. Chcąc badać tą naturę konieczne jest zapewnienie sobie możliwość wizualizacji aktualnych poziomów logicznych w poszczególnych węzłach struktury bramkowej. Do tego celu służą rozmaite analizatory. Obecnie przećwiczymy zastosowanie cyfrowego analizatora stanów logicznych Przebieg ćwiczenia 1. Zapoznaj się z notami katalogowymi układów: 74HC04 (bramki NOT) 74HC08 (bramki AND) oraz 74HC32 (bramki OR). Szczególną uwagę zwróć na ułożenie wejść i wyjść bramek w układzie scalonym 2. Korzystając z płyty ćwiczeniowej zbuduj układ zaprezentowany na schemacie 8. Zapewnij wizualizację stanów wyjściowych bramek na diodach LED. 3. Podłącz kolejne kanały głowicy analizatora stanów logicznych do linii wejściowych (przyciski A oraz B) a także wyjściowych dla bramek NOT, AND, OR 4. Uruchom oscyloskop oraz podłącz zasilanie do płyty. 5. W oscyloskopie wybierz opcję LA. 6. Dobierz pokrętłem < scale > skalowanie podstawy czasu analizy na 1s 7. Pokrętłem < position > ustaw znacznik początku analizy na lewą krawędź ekranu. 8. Wciskając przyciski A oraz B zaobserwuj zmiany rejestrowanych poziomów logicznych na poszczególnych kanałach analizatora 9. Wykonaj zrzut z ekranu analizatora ukazujący działanie inwertera i bramek dwuwejściowych AN D, OR na wszystkie możliwe kombinacje pobudzeń zadawanych przyciskami. Przykładową rejestrację takiego stanu prezentuje rys. 9 c Piotr Katarzyński 2011r. 7
8 1 KOMBINACYJNE UKŁADY LOGICZNE Rysunek 8: Połączenia na płycie ćwiczeniowej oraz sposób dołączenia analizatora stanów logicznych dla badania przetwarzania informacji przez podstawowe bramki logiczne. Rysunek 9: Analizator stanów logicznych podczas badania bramek. Znacznik czasu analizy (T) należy dosunąć do lewej krawędzi ekranu. 1.8 Sprawozdanie W sprawozdaniu należy zamieścić: 1. Oscylogramy z momentu pomiaru oraz wyniki pomiarów parametrów napięciowych inwertera 2. Oscylogramy z momentu pomiaru czasów propagacji 0 1 oraz 1 0 dla łańcucha inwerterów oraz pojedynczego inwertera. 3. Zrzut z ekranu analizatora stanów logicznych c Piotr Katarzyński 2011r. 8
9 Wszystkie zdjęcia/zrzuty ekranowe należy odpowiednio opisać. W szczególności należy oznaczyć przebieg i miejsce jego zarejestrowania w obwodzie. Dla analizatora stanów logicznych należy podpisać kanały D0..D15 użyte w pomiarach. Na podstawie analizy zrzutu należy rozpoznać i opisać operacje wykonywane na danych wejściowych przez poszczególne bramki. Piotr Katarzyński c 2011r. 9
Ćw. 8 Bramki logiczne
Ćw. 8 Bramki logiczne 1. Cel ćwiczenia Celem ćwiczenia jest zapoznanie się z podstawowymi bramkami logicznymi, poznanie ich rodzajów oraz najwaŝniejszych parametrów opisujących ich własności elektryczne.
Bardziej szczegółowoĆwiczenie 24 Temat: Układy bramek logicznych pomiar napięcia i prądu. Cel ćwiczenia
Ćwiczenie 24 Temat: Układy bramek logicznych pomiar napięcia i prądu. Cel ćwiczenia Poznanie własności i zasad działania różnych bramek logicznych. Zmierzenie napięcia wejściowego i wyjściowego bramek
Bardziej szczegółowoInstrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego
Instrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego adanie parametrów statycznych i dynamicznych ramek Logicznych Opracował: mgr inż. ndrzej iedka Wymagania, znajomość zagadnień: 1. Parametry statyczne bramek logicznych
Bardziej szczegółowoPRZEŁĄCZANIE DIOD I TRANZYSTORÓW
L A B O R A T O R I U M ELEMENTY ELEKTRONICZNE PRZEŁĄCZANIE DIOD I TRANZYSTORÓW REV. 1.1 1. CEL ĆWICZENIA - obserwacja pracy diod i tranzystorów podczas przełączania, - pomiary charakterystycznych czasów
Bardziej szczegółowoKatedra Przyrządów Półprzewodnikowych i Optoelektronicznych Laboratorium Przyrządów Półprzewodnikowych. Ćwiczenie 4
Ćwiczenie 4 Cel ćwiczenia Celem ćwiczenia jest poznanie charakterystyk statycznych układów scalonych CMOS oraz ich własności dynamicznych podczas procesu przełączania. Wiadomości podstawowe. Budowa i działanie
Bardziej szczegółowoPodstawy Elektroniki dla Tele-Informatyki. Tranzystory unipolarne MOS
AGH Katedra Elektroniki Podstawy Elektroniki dla Tele-Informatyki Tranzystory unipolarne MOS Ćwiczenie 4 2014 r. 1. Wstęp. Celem ćwiczenia jest zapoznanie się z działaniem i zastosowaniami tranzystora
Bardziej szczegółowoWzmacniacze napięciowe z tranzystorami komplementarnymi CMOS
Wzmacniacze napięciowe z tranzystorami komplementarnymi CMOS Cel ćwiczenia: Praktyczne wykorzystanie wiadomości do projektowania wzmacniacza z tranzystorami CMOS Badanie wpływu parametrów geometrycznych
Bardziej szczegółowoĆwiczenie 23. Temat: Własności podstawowych bramek logicznych. Cel ćwiczenia
Temat: Własności podstawowych bramek logicznych. Cel ćwiczenia Ćwiczenie 23 Poznanie symboli własności. Zmierzenie parametrów podstawowych bramek logicznych TTL i CMOS. Czytanie schematów elektronicznych,
Bardziej szczegółowo1 Tranzystor MOS. 1.1 Stanowisko laboratoryjne. 1 TRANZYSTOR MOS
1 Tranzystor MOS Podczas bierzącego ćwiczenia omówiony zostanie sposób działania tranzystora polowego nmos, zbadane zostaną podstawowe charakterystyki tranzystora, oraz szybkość jego działania. Przed przystąpieniem
Bardziej szczegółowoLABORATORIUM. Technika Cyfrowa. Badanie Bramek Logicznych
WYDZIAŁ ELEKTRYCZNY Katedra Inżynierii Systemów, Sygnałów i Elektroniki LABORATORIUM Technika Cyfrowa Badanie Bramek Logicznych Opracował: mgr inż. Andrzej Biedka 1 BADANIE FUNKCJI LOGICZNYCH 1.1 Korzystając
Bardziej szczegółowo1 Badanie aplikacji timera 555
1 Badanie aplikacji timera 555 Celem ćwiczenia jest zapoznanie studenta z podstawowymi aplikacjami układu 555 oraz jego działaniem i właściwościami. Do badania wybrane zostały trzy podstawowe aplikacje
Bardziej szczegółowoBADANIE UKŁADÓW CYFROWYCH. CEL: Celem ćwiczenia jest poznanie właściwości statycznych układów cyfrowych serii TTL. PRZEBIEG ĆWICZENIA
BADANIE UKŁADÓW CYFROWYCH CEL: Celem ćwiczenia jest poznanie właściwości statycznych układów cyfrowych serii TTL. PRZEBIEG ĆWICZENIA 1. OGLĘDZINY Dokonać oględzin badanego układu cyfrowego określając jego:
Bardziej szczegółowoWZMACNIACZ OPERACYJNY
1. OPIS WKŁADKI DA 01A WZMACNIACZ OPERACYJNY Wkładka DA01A zawiera wzmacniacz operacyjny A 71 oraz zestaw zacisków, które umożliwiają dołączenie elementów zewnętrznych: rezystorów, kondensatorów i zwór.
Bardziej szczegółowoPodstawy Elektroniki dla Informatyki. Tranzystory unipolarne MOS
AGH Katedra Elektroniki Podstawy Elektroniki dla Informatyki Tranzystory unipolarne MOS Ćwiczenie 3 2014 r. 1 1. Wstęp. Celem ćwiczenia jest zapoznanie się z działaniem i zastosowaniami tranzystora unipolarnego
Bardziej szczegółowo1 Układy wzmacniaczy operacyjnych
1 Układy wzmacniaczy operacyjnych Wzmacniacz operacyjny jest elementarnym układem przetwarzającym sygnały analogowe. Stanowi blok funkcjonalny powszechnie stosowany w układach wstępnego przetwarzania i
Bardziej szczegółowoBramki TTL i CMOS 7400, 74S00, 74HC00, 74HCT00, 7403, 74132
Skład zespołu: 1. 2. 3. 4. KTEDR ELEKTRONIKI G Wydział EIiE LBORTORIUM TECNIKI CYFROWEJ Data wykonania: Suma punktów: Grupa Ocena 1 Bramki TTL i CMOS 7400, 74S00, 74C00, 74CT00, 7403, 74132 I. Konspekt
Bardziej szczegółowoBadanie właściwości multipleksera analogowego
Ćwiczenie 3 Badanie właściwości multipleksera analogowego Program ćwiczenia 1. Sprawdzenie poprawności działania multipleksera 2. Badanie wpływu częstotliwości przełączania kanałów na pracę multipleksera
Bardziej szczegółowoBramki logiczne. 2. Cele ćwiczenia Badanie charakterystyk przejściowych inwertera. tranzystorowego, bramki 7400 i bramki 74132.
Bramki logiczne 1. Czas trwania: 3h 2. Cele ćwiczenia Badanie charakterystyk przejściowych inwertera. tranzystorowego, bramki 7400 i bramki 74132. 3. Wymagana znajomość pojęć stany logiczne Hi, Lo, stan
Bardziej szczegółowoWzmacniacze napięciowe z tranzystorami komplementarnymi CMOS
Wzmacniacze napięciowe z tranzystorami komplementarnymi CMOS Cel ćwiczenia: Praktyczne wykorzystanie wiadomości do projektowania wzmacniacza z tranzystorami CMOS Badanie wpływu parametrów geometrycznych
Bardziej szczegółowoLABORATORIUM TECHNIKA CYFROWA BRAMKI. Rev.1.0
LABORATORIUM TECHNIKA CYFROWA BRAMKI Rev..0 LABORATORIUM TECHNIKI CYFROWEJ: Bramki. CEL ĆWICZENIA - praktyczna weryfikacja wiedzy teoretycznej z zakresu działania bramek, - pomiary parametrów bramek..
Bardziej szczegółowoSprzęt i architektura komputerów
Krzysztof Makles Sprzęt i architektura komputerów Laboratorium Temat: Elementy i układy półprzewodnikowe Katedra Architektury Komputerów i Telekomunikacji Zakład Systemów i Sieci Komputerowych SPIS TREŚCI
Bardziej szczegółowoPolitechnika Białostocka
Politechnika Białostocka Wydział Elektryczny Katedra Automatyki i Elektroniki Instrukcja do ćwiczeń laboratoryjnych z przedmiotu: ELEKTRONIKA EKS1A300024 BADANIE TRANZYSTORÓW BIAŁYSTOK 2015 1. CEL I ZAKRES
Bardziej szczegółowoPolitechnika Białostocka
Politechnika Białostocka Wydział Elektryczny Katedra Automatyki i Elektroniki Instrukcja do ćwiczeń laboratoryjnych z przedmiotu: UKŁADY ELEKTRONICZNE 2 (TS1C500 030) Tranzystor w układzie wzmacniacza
Bardziej szczegółowoLABORATORIUM PROJEKTOWANIA UKŁADÓW VLSI
Wydział EAIiE LABORATORIUM PROJEKTOWANIA UKŁADÓW VLSI Temat projektu OŚMIOWEJŚCIOWA KOMÓRKA UKŁADU PAL Z ZASTOSOWANIEM NA PRZYKŁADZIE MULTIPLEKSERA Autorzy Tomasz Radziszewski Zdzisław Rapacz Rok akademicki
Bardziej szczegółowoSystemy i architektura komputerów
Bogdan Olech Mirosław Łazoryszczak Dorota Majorkowska-Mech Systemy i architektura komputerów Laboratorium nr 4 Temat: Badanie tranzystorów Spis treści Cel ćwiczenia... 3 Wymagania... 3 Przebieg ćwiczenia...
Bardziej szczegółowoInstrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego nr 10
Instrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego nr 10 Temat: Charakterystyki i parametry tranzystorów MIS Cel ćwiczenia. Celem ćwiczenia jest poznanie charakterystyk statycznych i parametrów tranzystorów MOS oraz
Bardziej szczegółowoPodstawy Elektroniki dla Informatyki. Wzmacniacze operacyjne
AGH Katedra Elektroniki Podstawy Elektroniki dla Informatyki 2014 r. Wzmacniacze operacyjne Ćwiczenie 4 1 1. Wstęp. Celem ćwiczenia jest zapoznanie się z działaniem i wybranymi zastosowaniami wzmacniaczy
Bardziej szczegółowoCHARAKTERYSTYKI BRAMEK CYFROWYCH TTL
CHARAKTERYSTYKI BRAMEK CYFROWYCH TTL. CEL ĆWICZENIA Celem ćwiczenia jest poznanie zasad działania, budowy i właściwości podstawowych funktorów logicznych wykonywanych w jednej z najbardziej rozpowszechnionych
Bardziej szczegółowoPolitechnika Białostocka
Politechnika Białostocka Wydział Elektryczny Katedra Automatyki i Elektroniki Instrukcja do ćwiczeń laboratoryjnych z przedmiotu: ELEKTRONIKA EKS1A300024 ZASTOSOWANIE WZMACNIACZY OPERACYJNYCH W UKŁADACH
Bardziej szczegółowoWydział Elektrotechniki, Automatyki, Informatyki i Elektroniki Katedra Elektroniki
Wydział Elektrotechniki, Automatyki, Informatyki i Elektroniki Na podstawie instrukcji Wtórniki Napięcia,, Laboratorium układów Elektronicznych Opis badanych układów Spis Treści 1. CEL ĆWICZENIA... 2 2.
Bardziej szczegółowoStatyczne badanie wzmacniacza operacyjnego - ćwiczenie 7
Statyczne badanie wzmacniacza operacyjnego - ćwiczenie 7 1. Cel ćwiczenia Celem ćwiczenia jest zapoznanie się z podstawowymi zastosowaniami wzmacniacza operacyjnego, poznanie jego charakterystyki przejściowej
Bardziej szczegółowoTranzystory bipolarne. Właściwości dynamiczne wzmacniaczy w układzie wspólnego emitera.
ĆWICZENIE 5 Tranzystory bipolarne. Właściwości dynamiczne wzmacniaczy w układzie wspólnego emitera. I. Cel ćwiczenia Badanie właściwości dynamicznych wzmacniaczy tranzystorowych pracujących w układzie
Bardziej szczegółowoPodstawowe układy cyfrowe
ELEKTRONIKA CYFROWA SPRAWOZDANIE NR 4 Podstawowe układy cyfrowe Grupa 6 Prowadzący: Roman Płaneta Aleksandra Gierut CEL ĆWICZENIA Celem ćwiczenia jest zapoznanie się z podstawowymi bramkami logicznymi,
Bardziej szczegółowoParametry układów cyfrowych
Sławomir Kulesza Technika cyfrowa Parametry układów cyfrowych Wykład dla studentów III roku Informatyki Wersja 3.1, 25/10/2012 Rodziny bramek logicznych Tranzystory bipolarne Tranzystory unipolarne Porównanie
Bardziej szczegółowoInstrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego nr 4
Instrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego nr 4 Temat: Badanie własności przełączających diod półprzewodnikowych Cel ćwiczenia. Celem ćwiczenia jest poznanie własności przełączających złącza p - n oraz wybranych
Bardziej szczegółowoĆWICZENIE NR 1 TEMAT: Wyznaczanie parametrów i charakterystyk wzmacniacza z tranzystorem unipolarnym
ĆWICZENIE NR 1 TEMAT: Wyznaczanie parametrów i charakterystyk wzmacniacza z tranzystorem unipolarnym 4. PRZEBIE ĆWICZENIA 4.1. Wyznaczanie parametrów wzmacniacza z tranzystorem unipolarnym złączowym w
Bardziej szczegółowoLaboratorium elektroniki. Ćwiczenie E14IS. Elementy logiczne. Wersja 1.0 (29 lutego 2016)
Laboratorium elektroniki Ćwiczenie E14IS Elementy logiczne Wersja 1.0 (29 lutego 2016) Spis treści: 1. Cel ćwiczenia... 3 2. Zagrożenia... 3 3. Wprowadzenie... 3 4. Dostępna aparatura... 5 4.1. Moduł doświadczalny...
Bardziej szczegółowoPodstawy Elektroniki dla Teleinformatyki. Generator relaksacyjny
AGH Katedra Elektroniki Podstawy Elektroniki dla Teleinformatyki 2014 r. Generator relaksacyjny Ćwiczenie 6 1. Wstęp Celem ćwiczenia jest zapoznanie się, poprzez badania symulacyjne, z działaniem generatorów
Bardziej szczegółowoPodstawy Elektroniki dla Informatyki. Generator relaksacyjny
AGH Katedra Elektroniki Podstawy Elektroniki dla Informatyki 2015 r. Generator relaksacyjny Ćwiczenie 5 1. Wstęp Celem ćwiczenia jest zapoznanie się, poprzez badania symulacyjne, z działaniem generatorów
Bardziej szczegółowoBogdan Olech Mirosław Łazoryszczak Dorota Majorkowska-Mech. Elektronika. Laboratorium nr 3. Temat: Diody półprzewodnikowe i elementy reaktancyjne
Bogdan Olech Mirosław Łazoryszczak Dorota Majorkowska-Mech Elektronika Laboratorium nr 3 Temat: Diody półprzewodnikowe i elementy reaktancyjne SPIS TREŚCI Spis treści... 2 1. Cel ćwiczenia... 3 2. Wymagania...
Bardziej szczegółowoInstrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego nr 5b
Instrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego nr 5b Temat: Charakterystyki i parametry półprzewodnikowych elementów przełączających. Cel ćwiczenia : Poznanie właściwości elektrycznych tranzystorów bipolarnych
Bardziej szczegółowoBierne układy różniczkujące i całkujące typu RC
Instytut Fizyki ul. Wielkopolska 15 70-451 Szczecin 6 Pracownia Elektroniki. Bierne układy różniczkujące i całkujące typu RC........ (Oprac. dr Radosław Gąsowski) Zakres materiału obowiązujący do ćwiczenia:
Bardziej szczegółowoPrzetwarzanie A/C i C/A
Przetwarzanie A/C i C/A Instrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego opracował: Łukasz Buczek 05.2015 Rev. 204.2018 (KS) 1 1. Cel ćwiczenia Celem ćwiczenia jest zapoznanie się z przetwornikami: analogowo-cyfrowym
Bardziej szczegółowoSTABILIZATORY NAPIĘCIA I PRĄDU STAŁEGO O DZIAŁANIU CIĄGŁYM Instrukcja do ćwiczeń laboratoryjnych
STABILIZATORY NAPIĘCIA I PRĄDU STAŁEGO O DZIAŁANIU CIĄGŁYM Instrukcja do ćwiczeń laboratoryjnych Wstęp Celem ćwiczenia jest zapoznanie się z problemami związanymi z projektowaniem, realizacją i pomiarami
Bardziej szczegółowoTRANZYSTORY BIPOLARNE
Instrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego TRANZYSTORY BIPOLARNE Instrukcję opracował: dr inż. Jerzy Sawicki Wymagania, znajomość zagadnień: 1. Tranzystory bipolarne rodzaje, typowe parametry i charakterystyki,
Bardziej szczegółowoELEMENTY ELEKTRONICZNE
KATEDRA ELEKTRONIKI AGH L A B O R A T O R I U M ELEMENTY ELEKTRONICZNE DIODY REV. 2.0 1. CEL ĆWICZENIA - pomiary charakterystyk stałoprądowych diod prostowniczych, świecących oraz stabilizacyjnych - praktyczne
Bardziej szczegółowoĆwiczenie 25 Temat: Interfejs między bramkami logicznymi i kombinacyjne układy logiczne. Układ z bramkami NOR. Cel ćwiczenia
Ćwiczenie 25 Temat: Interfejs między bramkami logicznymi i kombinacyjne układy logiczne. Układ z bramkami NOR. Cel ćwiczenia Zapoznanie się z techniką połączenia za pośrednictwem interfejsu. Zbudowanie
Bardziej szczegółowoBADANIE ELEMENTÓW RLC
KATEDRA ELEKTRONIKI AGH L A B O R A T O R I U M ELEMENTY ELEKTRONICZNE BADANIE ELEMENTÓW RLC REV. 1.0 1. CEL ĆWICZENIA - zapoznanie się z systemem laboratoryjnym NI ELVIS II, - zapoznanie się z podstawowymi
Bardziej szczegółowoLaboratorium Przyrządów Półprzewodnikowych test kompetencji zagadnienia
Wrocław, 21.03.2017 r. Laboratorium Przyrządów Półprzewodnikowych test kompetencji zagadnienia Podczas testu kompetencji studenci powinni wykazać się znajomością zagadnień określonych w kartach kursów
Bardziej szczegółowoStatyczne badanie przerzutników - ćwiczenie 3
Statyczne badanie przerzutników - ćwiczenie 3. Cel ćwiczenia Zapoznanie się z podstawowymi strukturami przerzutników w wersji TTL realizowanymi przy wykorzystaniu bramek logicznych NAND oraz NO. 2. Wykaz
Bardziej szczegółowopłytka montażowa z tranzystorami i rezystorami, pokazana na rysunku 1. płytka montażowa do badania przerzutnika astabilnego U CC T 2 masa
Tranzystor jako klucz elektroniczny - Ćwiczenie. Cel ćwiczenia Zapoznanie się z podstawowymi układami pracy tranzystora bipolarnego jako klucza elektronicznego. Bramki logiczne realizowane w technice RTL
Bardziej szczegółowoPodstawy Elektroniki dla Teleinformatyki. Wzmacniacze operacyjne-część sprzętowa
AGH Katedra Elektroniki Podstawy Elektroniki dla Teleinformatyki Wzmacniacze operacyjne-część sprzętowa Ćwiczenie 5a 2014 r. 1 1. Wstęp. Celem ćwiczenia jest zamodelowanie trzech układów aplikacyjnych
Bardziej szczegółowoĆwiczenie 1 Program Electronics Workbench
Systemy teleinformatyczne Ćwiczenie Program Electronics Workbench Symulacja układów logicznych Program Electronics Workbench służy do symulacji działania prostych i bardziej złożonych układów elektrycznych
Bardziej szczegółowo1. Nadajnik światłowodowy
1. Nadajnik światłowodowy Nadajnik światłowodowy jest jednym z bloków światłowodowego systemu transmisyjnego. Przetwarza sygnał elektryczny na sygnał optyczny. Jakość transmisji w dużej mierze zależy od
Bardziej szczegółowoINSTRUKCJA DO ĆWICZENIA BADANIE STANDARDOWEJ BRAMKI NAND TTL (UCY 7400)
INSTRUKCJA DO ĆWICZENIA BADANIE STANDARDOWEJ BRAMKI NAND TTL (UCY 74).Cel ćwiczenia Celem ćwiczenia jest zapoznanie się z charakterystykami statycznymi i parametrami statycznymi bramki standardowej NAND
Bardziej szczegółowoLaboratorium Przyrządów Półprzewodnikowych Laboratorium 1
Laboratorium Przyrządów Półprzewodnikowych Laboratorium 1 1/10 2/10 PODSTAWOWE WIADOMOŚCI W trakcie zajęć wykorzystywane będą następujące urządzenia: oscyloskop, generator, zasilacz, multimetr. Instrukcje
Bardziej szczegółowoPrzetworniki AC i CA
KATEDRA INFORMATYKI Wydział EAIiE AGH Laboratorium Techniki Mikroprocesorowej Ćwiczenie 4 Przetworniki AC i CA Cel ćwiczenia Celem ćwiczenia jest poznanie budowy i zasady działania wybranych rodzajów przetworników
Bardziej szczegółowoPrzetwarzanie AC i CA
1 Elektroniki Elektroniki Elektroniki Elektroniki Elektroniki Katedr Przetwarzanie AC i CA Instrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego opracował: Łukasz Buczek 05.2015 1. Cel ćwiczenia 2 Celem ćwiczenia jest
Bardziej szczegółowoZŁĄCZOWE TRANZYSTORY POLOWE
L A B O R A T O R I U M ELEMENTY ELEKTRONICZNE ZŁĄCZOWE TRANZYSTORY POLOWE RE. 0.4 1. CEL ĆWICZENIA Wyznaczenie podstawowych parametrów tranzystora unipolarnego takich jak: o napięcie progowe, o transkonduktancja,
Bardziej szczegółowoELEMENTY ELEKTRONICZNE TS1C
Politechnika Białostocka Wydział Elektryczny Katedra Automatyki i Elektroniki nstrukcja do ćwiczeń laboratoryjnych z przedmiotu: ELEMENTY ELEKTRONCZNE TS1C300 018 BAŁYSTOK 013 1. CEL ZAKRES ĆWCZENA LABORATORYJNEGO
Bardziej szczegółowoSprawdzenie poprawności podstawowych bramek logicznych: NOT, NAND, NOR
Laboratorium Podstaw Techniki Cyfrowej dr Marek Siłuszyk mgr Arkadiusz Wysokiński Ćwiczenie 01 PTC Sprawdzenie poprawności podstawowych bramek logicznych: NOT, NAND, NOR opr. tech. Mirosław Maś Uniwersytet
Bardziej szczegółowoStatyczne i dynamiczne badanie przerzutników - ćwiczenie 2
tatyczne i dynamiczne badanie przerzutników - ćwiczenie 2. Cel ćwiczenia Zapoznanie się z podstawowymi strukturami przerzutników w wersji TTL realizowanymi przy wykorzystaniu bramek logicznych NAND oraz
Bardziej szczegółowoĆwiczenie 26. Temat: Układ z bramkami NAND i bramki AOI..
Temat: Układ z bramkami NAND i bramki AOI.. Ćwiczenie 26 Cel ćwiczenia Zapoznanie się ze sposobami konstruowania z bramek NAND różnych bramek logicznych. Konstruowanie bramek NOT, AND i OR z bramek NAND.
Bardziej szczegółowo3. Funktory CMOS cz.1
3. Funktory CMOS cz.1 Druga charakterystyczna rodzina układów cyfrowych to układy CMOS. W jej ramach występuje zbliżony asortyment funktorów i przerzutników jak dla układów TTL (wejście standardowe i wejście
Bardziej szczegółowoSystemy cyfrowe z podstawami elektroniki i miernictwa Wyższa Szkoła Zarządzania i Bankowości w Krakowie Informatyka II rok studia
Systemy cyfrowe z podstawami elektroniki i miernictwa Wyższa Szkoła Zarządzania i Bankowości w Krakowie Informatyka II rok studia Ćwiczenie nr 2: Bramka NAND. l. Cel ćwiczenia Celem ćwiczenia jest poznanie
Bardziej szczegółowoRys. 2. Symbole dodatkowych bramek logicznych i ich tablice stanów.
Cel ćwiczenia Celem ćwiczenia jest zapoznanie się z funktorami realizującymi podstawowe funkcje logiczne poprzez zaprojektowanie, wykonanie i przetestowanie kombinacyjnego układu logicznego realizującego
Bardziej szczegółowoĆwiczenie - 9. Wzmacniacz operacyjny - zastosowanie nieliniowe
Ćwiczenie - 9 Wzmacniacz operacyjny - zastosowanie nieliniowe Spis treści 1 Cel ćwiczenia 1 2 Przebieg ćwiczenia 2 2.1 Wyznaczanie charakterystyki przejściowej U wy = f(u we ) dla ogranicznika napięcia
Bardziej szczegółowoPaństwowa Wyższa Szkoła Zawodowa
Państwowa Wyższa Szkoła Zawodowa w Legnicy Laboratorium Podstaw Elektroniki i Miernictwa Ćwiczenie nr 5 WZMACNIACZ OPERACYJNY A. Cel ćwiczenia. - Przedstawienie właściwości wzmacniacza operacyjnego - Zasada
Bardziej szczegółowoZapoznanie z przyrządami stanowiska laboratoryjnego. 1. Zapoznanie się z oscyloskopem HAMEG-303.
Zapoznanie z przyrządami stanowiska laboratoryjnego. 1. Zapoznanie się z oscyloskopem HAMEG-303. Dołączyć oscyloskop do generatora funkcyjnego będącego częścią systemu MS-9140 firmy HAMEG. Kanał Yl dołączyć
Bardziej szczegółowoĆwiczenie 3 Badanie własności podstawowych liniowych członów automatyki opartych na biernych elementach elektrycznych
Ćwiczenie 3 Badanie własności podstawowych liniowych członów automatyki opartych na biernych elementach elektrycznych Cel ćwiczenia Celem ćwiczenia jest poznanie podstawowych własności członów liniowych
Bardziej szczegółowoPodstawy Elektroniki dla Informatyki. Pętla fazowa
AGH Katedra Elektroniki Podstawy Elektroniki dla Informatyki Pętla fazowa Ćwiczenie 6 2015 r. 1. Wstęp Celem ćwiczenia jest zapoznanie się, poprzez badania symulacyjne, z działaniem pętli fazowej. 2. Konspekt
Bardziej szczegółowoELEMENTY ELEKTRONICZNE
KATEDRA ELEKTRONIKI AGH L A B O R A T O R I U M ELEMENTY ELEKTRONICZNE DIODY REV. 1.2 1. CEL ĆWICZENIA - pomiary charakterystyk stałoprądowych diod prostowniczych, świecących oraz stabilizacyjnych - praktyczne
Bardziej szczegółowoĆwiczenie 1. Sprawdzanie podstawowych praw w obwodach elektrycznych przy wymuszeniu stałym
Ćwiczenie 1 Sprawdzanie podstawowych praw w obwodach elektrycznych przy wymuszeniu stałym Wprowadzenie Celem ćwiczenia jest sprawdzenie podstawowych praw elektrotechniki w obwodach prądu stałego. Badaniu
Bardziej szczegółowoRys.1. Układy przełączników tranzystorowych
KLUCZ TRANZYSTOROWY 1. WSTĘP Tematem ćwiczenia jest badanie elementarnych układów przełączających (kluczy). Przeprowadza się pomiary i obserwacje przebiegów czasowych w układach podstawowych: tranzystorowym
Bardziej szczegółowoUkłady TTL i CMOS. Trochę logiki
Układy TTL i CMOS O liczbie elementów użytych do budowy jakiegoś urządzenia elektronicznego, a więc i o możliwości obniżenia jego ceny, decyduje dzisiaj liczba zastosowanych w nim układów scalonych. Najstarszą
Bardziej szczegółowoSynteza częstotliwości z pętlą PLL
Synteza częstotliwości z pętlą PLL. Cel ćwiczenia. Celem ćwiczenia jest zapoznanie się z zasadą działania pętli synchronizacji fazowej (PLL Phase Locked Loop). Ćwiczenie polega na zaprojektowaniu, uruchomieniu
Bardziej szczegółowoZworka amp. C 1 470uF. C2 100pF. Masa. R pom Rysunek 1. Schemat połączenia diod LED. Rysunek 2. Widok płytki drukowanej z diodami LED.
Ćwiczenie. Parametry dynamiczne detektorów i diod LED. Cel ćwiczenia. Celem ćwiczenia jest zapoznanie się z podstawowymi parametrami dynamicznymi diod LED oraz detektorów. Poznanie możliwych do uzyskania
Bardziej szczegółowoWzmacniacze operacyjne
Wzmacniacze operacyjne Cel ćwiczenia Celem ćwiczenia jest badanie podstawowych układów pracy wzmacniaczy operacyjnych. Wymagania Wstęp 1. Zasada działania wzmacniacza operacyjnego. 2. Ujemne sprzężenie
Bardziej szczegółowoTRANZYSTOROWY UKŁAD RÓŻNICOWY (DN 031A)
TRANZYSTOROWY UKŁAD RÓŻNICOWY (DN 031A) obciąże nie dynamiczne +1 +1 + 1 R 47k z erowanie R 8 3k R 9 6, 8 k R 11 6,8 k R 12 3k + T 6 BC17 T 7 BC17 + R c 20k zespół sterowania WY 1 R 2k R 23 9 R c dyn R
Bardziej szczegółowoUKŁADY Z PĘTLĄ SPRZĘŻENIA FAZOWEGO (wkładki DA171A i DA171B) 1. OPIS TECHNICZNY UKŁADÓW BADANYCH
UKŁADY Z PĘTLĄ SPRZĘŻENIA FAZOWEGO (wkładki DA171A i DA171B) WSTĘP Układy z pętlą sprzężenia fazowego (ang. phase-locked loop, skrót PLL) tworzą dynamicznie rozwijającą się klasę układów, stosowanych głównie
Bardziej szczegółowoĆWICZENIE 15 BADANIE WZMACNIACZY MOCY MAŁEJ CZĘSTOTLIWOŚCI
1 ĆWICZENIE 15 BADANIE WZMACNIACZY MOCY MAŁEJ CZĘSTOTLIWOŚCI 15.1. CEL ĆWICZENIA Celem ćwiczenia jest poznanie podstawowych właściwości wzmacniaczy mocy małej częstotliwości oraz przyswojenie umiejętności
Bardziej szczegółowoLogiczne układy bistabilne przerzutniki.
Przerzutniki spełniają rolę elementów pamięciowych: -przy pewnej kombinacji stanów na pewnych wejściach, niezależnie od stanów innych wejść, stany wyjściowe oraz nie ulegają zmianie; -przy innej określonej
Bardziej szczegółowoInstrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego nr 11
Instrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego nr 11 Temat: Charakterystyki i parametry tyrystora Cel ćwiczenia. Celem ćwiczenia jest poznanie właściwości elektrycznych tyrystora. I. Wymagane wiadomości. 1. Podział
Bardziej szczegółowoĆwiczenie 7 PARAMETRY MAŁOSYGNAŁOWE TRANZYSTORÓW BIPOLARNYCH
Ćwiczenie 7 PRMETRY MŁOSYGNŁO TRNZYSTORÓW BIPOLRNYCH Wstęp Celem ćwiczenia jest wyznaczenie niektórych parametrów małosygnałowych hybrydowego i modelu hybryd tranzystora bipolarnego. modelu Konspekt przygotowanie
Bardziej szczegółowoĆw. III. Dioda Zenera
Cel ćwiczenia Ćw. III. Dioda Zenera Zapoznanie się z zasadą działania diody Zenera. Pomiary charakterystyk statycznych diod Zenera. Wyznaczenie charakterystycznych parametrów elektrycznych diod Zenera,
Bardziej szczegółowoPaństwowa Wyższa Szkoła Zawodowa
Państwowa Wyższa Szkoła Zawodowa w Legnicy Laboratorium Podstaw Elektroniki i Miernictwa Ćwiczenie nr 17 WZMACNIACZ OPERACYJNY A. Cel ćwiczenia. - Przedstawienie właściwości wzmacniacza operacyjnego -
Bardziej szczegółowoPARAMETRY MAŁOSYGNAŁOWE TRANZYSTORÓW BIPOLARNYCH
L B O R T O R I U M ELEMENTY ELEKTRONICZNE PRMETRY MŁOSYGNŁOWE TRNZYSTORÓW BIPOLRNYCH REV. 1.0 1. CEL ĆWICZENI - celem ćwiczenia jest zapoznanie się z metodami pomiaru i wyznaczania parametrów małosygnałowych
Bardziej szczegółowoGeneratory kwarcowe Generator kwarcowy Colpittsa-Pierce a z tranzystorem bipolarnym
1. Cel ćwiczenia Generatory kwarcowe Celem ćwiczenia jest zapoznanie się z zagadnieniami dotyczącymi generacji przebiegów sinusoidalnych w podstawowych strukturach generatorów kwarcowych. Ponadto ćwiczenie
Bardziej szczegółowoBadanie działania bramki NAND wykonanej w technologii TTL oraz układów zbudowanych w oparciu o tę bramkę.
WFiIS LABORATORIUM Z ELEKTRONIKI Imię i nazwisko: 1. 2. TEMAT: ROK GRUPA ZESPÓŁ NR ĆWICZENIA Data wykonania: Data oddania: Zwrot do poprawy: Data oddania: Data zliczenia: OCENA CEL ĆWICZENIA Badanie działania
Bardziej szczegółowoĆwiczenie 3: Pomiar parametrów przebiegów sinusoidalnych, prostokątnych i trójkątnych. REGIONALNE CENTRUM EDUKACJI ZAWODOWEJ W BIŁGORAJU
REGIONALNE CENTRUM EDUKACJI ZAWODOWEJ W BIŁGORAJU R C E Z w B I Ł G O R A J U LABORATORIUM pomiarów elektronicznych UKŁADÓW ANALOGOWYCH Ćwiczenie 3: Pomiar parametrów przebiegów sinusoidalnych, prostokątnych
Bardziej szczegółowoĆwiczenie ZINTEGROWANE SYSTEMY CYFROWE. Pakiet edukacyjny DefSim Personal. Analiza prądowa IDDQ
Ćwiczenie 2 ZINTEGROWANE SYSTEMY CYFROWE Pakiet edukacyjny DefSim Personal Analiza prądowa IDDQ K A T E D R A M I K R O E L E K T R O N I K I I T E C H N I K I N F O R M A T Y C Z N Y C H Politechnika
Bardziej szczegółowoPRZED PRZYSTĄPIENIEM DO ZAJĘĆ PROSZĘ O BARDZO DOKŁADNE
ĆWICZENIE 1) UKŁADY PRZEŁĄCZAJĄCE OPARTE NA ELEMENTACH STYKOWYCH PRZED PRZYSTĄPIENIEM DO ZAJĘĆ PROSZĘ O BARDZO DOKŁADNE ZAPOZNANIE SIĘ Z TREŚCIĄ INSTRUKCJI CEL ĆWICZENIA: Celem ćwiczenia jest poznanie:
Bardziej szczegółowoPodstawowe zastosowania wzmacniaczy operacyjnych
ĆWICZENIE 0 Podstawowe zastosowania wzmacniaczy operacyjnych I. Cel ćwiczenia Celem ćwiczenia jest zapoznanie się z budową i właściwościami wzmacniaczy operacyjnych oraz podstawowych układów elektronicznych
Bardziej szczegółowoU 2 B 1 C 1 =10nF. C 2 =10nF
Dynamiczne badanie przerzutników - Ćwiczenie 3. el ćwiczenia Zapoznanie się z budową i działaniem przerzutnika astabilnego (multiwibratora) wykonanego w technice TTL oraz zapoznanie się z działaniem przerzutnika
Bardziej szczegółowoCyfrowe Elementy Automatyki. Bramki logiczne, przerzutniki, liczniki, sterowanie wyświetlaczem
Cyfrowe Elementy Automatyki Bramki logiczne, przerzutniki, liczniki, sterowanie wyświetlaczem Układy cyfrowe W układach cyfrowych sygnały napięciowe (lub prądowe) przyjmują tylko określoną liczbę poziomów,
Bardziej szczegółowoInstrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego nr 9
Instrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego nr 9 Temat: Charakterystyki i parametry tranzystorów PNFET Cel ćwiczenia. Celem ćwiczenia jest poznanie charakterystyk statycznych oraz parametrów tranzystorów PNFET.
Bardziej szczegółowoZapoznanie się z podstawowymi strukturami funktorów logicznych realizowanymi w technice RTL (Resistor Transistor Logic) oraz zasadą ich działania.
adanie funktorów logicznych RTL - Ćwiczenie. Cel ćwiczenia Zapoznanie się z podstawowymi strukturami funktorów logicznych realizowanymi w technice RTL (Resistor Transistor Logic) oraz zasadą ich działania..
Bardziej szczegółowoŚwiatłowodowy kanał transmisyjny w paśmie podstawowym
kanał transmisyjny w paśmie podstawowym Układ do transmisji binarnej w paśmie podstawowym jest przedstawiony na rys.1. Medium transmisyjne stanowi światłowód gradientowy o długości 3 km. Źródłem światła
Bardziej szczegółowo1 Ćwiczenia wprowadzające
1 W celu prawidłowego wykonania ćwiczeń w tym punkcie należy posiłkować się wiadomościami umieszczonymi w instrukcji punkty 1.1.1. - 1.1.4. oraz 1.2.2. 1.1 Rezystory W tym ćwiczeniu należy odczytać wartość
Bardziej szczegółowoĆwicz. 4 Elementy wykonawcze EWA/PP
1. Wprowadzenie Temat ćwiczenia: Przekaźniki półprzewodnikowe Istnieje kilka rodzajów przekaźników półprzewodnikowych. Zazwyczaj są one sterowane optoelektrycznie z pełną izolacja galwaniczną napięcia
Bardziej szczegółowo