MIKROSYSTEMY. Ćwiczenie nr 2a Utlenianie
|
|
- Seweryna Kozieł
- 7 lat temu
- Przeglądów:
Transkrypt
1 MIKROSYSTEMY Ćwiczenie nr 2a Utlenianie 1. Cel ćwiczeń: Celem zajęć jest wykonanie kompletnego procesu mokrego utleniania termicznego krzemu. W skład ćwiczenia wchodzą: obliczenie czasu trwania procesu utleniania dla zadanych parametrów w celu u zyskania tlenku krzemu o odpowiedniej grubości, przygotowanie (procedura mycia) podłoży krzemowych do utleniania, włożenie podłoży krzemowych do pieca, po procesie utleniania pomiar grubości tlenku. 2. Wprowadzenie: Utlenianie krzemu jest procesem wysokotemperaturowym ( C) mający na celu wytworzenie na krzemie warstwy tlenku krzemu (SiO 2 ), która jest głównym materiałem dielektrycznym używanym w technologii krzemowej. Najważniejsze funkcje warstw SiO 2 to: - pasywacja powierzchni półprzewodnika, - maskowanie w procesach trawienia, dyfuzji, - izolowanie elektryczne w obrębie układu, - zabezpieczenie półprzewodnika przez czynnikami zewnętrznymi. W zależności od warunków w jakich prowadzimy proces można utleniać krzem w atmosferze czystego tlenu lub parze wodnej: - suchy tlen - Si + O 2 SiO 2 - para wodna - Si + 2H 2 O SiO 2 + 2H 2 Cechy utleniania suchego: - warstwa tlenku rośnie bardzo powoli, - warstwa cechuje się jednorodnością, - małe zdefektowanie. Wytwarzane są tą metodą warstwy cienkie (~100 Å) potrzebne w układach MOS. Cechy utleniania mokrego: - warstwa ma duży ładunek powierzchniowy, - warstwa tlenku rośnie szybko, - duże zdefektowanie. Wytwarzane są tą metodą warstwy grube (~ 1μm). Najważniejsze parametry procesu utleniania to: - temperatura utleniania, - czas trwania procesu, - skład chemiczny gazu utleniającego, - ciśnienie tlenu w reaktorze, - orientacja krystalograficzna podłoża krzemowego
2 Podczas otrzymywania warstw SiO 2 w procesie utleniania termicznego wiązany jest krzem. Powstały tlenek zużywa warstwę krzemu o grubości równej 44% grubości otrzymanego tlenku. 2a Obliczenia: Rys. 1 Zużywanie podłoża w wyniku utleniania termicznego krzemu rysunek: A. Javey, Berkeley Univ., EECS143 Szybkość narastania warstwy jest zależna od temperatury, czasu wygrzewania i rodzaju procesu (mokre lub suche utlenianie). Wyprowadzenie podanych wzorów można znaleźć w [1]. W przypadku mokrgo utlaniania szybkość narastania warstwy jest zależna: - dla długiego czasu utleniania grubość tlenku x 0 zależy od czasu wg funkcji parabolicznej: t - czas wygrzewania [h]; Parametr B podano w tabeli 1. x dla krótkiego czasu utleniania grubość tlenku zależy od czasu wg funkcji liniowej Bt Parametr B podano w tabeli 1. x 0 B A t x 2 i Axi, x i - początkowa grubość tlenku krzemu przed procesem utleniania B
3 Tabela 1 Parametry dla procesu utleniania w parze wodnej w warunkach: O 2 = 30 l/h, H 2 = 50 l/h, N 2 =<5l/h A [μm] B [μ 2 m/h] 850 C C C C C C C W przypadku nasteawienia innej temperatury pieca należy korzystać z wykresu poniżej.
4 2b Pomiar grubości tlenku krzemu: Najdokładniejsze I najbardziej rozpowczechniowe są optyczne metody pomiaru grubości tlenku krzemu. Są nimi: - metoda barw interferencyjnych - metoda prążków interferencyjnych jednakowej grubości - metoda elipsometrii Na zajęciach wykorzystamy metodę barw intrferencyjnych, gdzie warstwa dielektryczna daje wrażenie barwne, jeśli wskutek interferncji zachodzi wzmocnienie światła o wybranej długośći fali. Dla pionowego padania światła wzmocnienie to wystąpi dla długości światła określonej zależnośćią: 2dn N λ długość fali światła d grubość warstwy dielektrycznej n współczynnik załamania warstwy dielektrycznej N rząd interferencji KOLORY INTERFERENCYJNE TLENKÓW SIO 2. d[μm] kolor 0.05 żółto-brązowy, orzechowy 0.07 brązowy 0.10 ciemny fiolet do czerwony fiolet 0.12 jaskrawo-niebieski 0.15 jasno-niebieski do metaliczno-niebieski 0.17 metaliczny do bardzo jasno-żółtozielony 0.20 jasno-żółty lub żółty, nieznacznie metaliczny 0.25 złoty z nieznacznym żółtym oranżem 0.27 czerwono-fioletowy 0.30 niebieski do fioletowo-niebieski 0.31 niebieski niebieski do niebiesko-zielony 0.34 jasno-zielony 0.35 zielony do żółto-zielony 0.36 żółto-zielony 0.37 zielono-żółty 0.39 żółty 0.41 jasno-pomarańczowy 0.42 różowy goździk 0.44 fioletowo-czerwony 0.46 czerwono-fioletowy
5 0.47 fioletowy 0.48 niebiesko-fioletowy 0.49 niebieski 0.50 niebiesko-zielony 0.52 zielony 0.54 żółto-zielony 0.56 zielono-żółty 0.57 żółty do prawie żółty, czasami jasno-krzemowo-szary lub metaliczny 0.58 jasno-pomarańczowy lub żółty do różowego 0.60 różowy goździk 0.63 fioletowo-czerwony 0.68 pomiędzy fioletem a niebiesko-zielonym, niebieskawy 0.72 niebiesko-zielony do zielonego 0.77 żółtawy 0.80 pomarańczowy 0.82 łososiowy 0.85 mętny, jasny czerwono-fioletowy 0.86 fioletowy 0.87 niebiesko-fioletowy 0.89 niebieski 0.92 niebiesko-zielony 0.95 mętny żółto-zielony 0.97 żółty do żółtawy 0.99 pomarańczowy 1.00 różowy goździk 1.02 fioletowo-czerwony 1.05 czerwono-fioletowy 1.06 fioletowy 1.07 niebiesko-fioletowy 1.10 zielony 1.11 żółto-zielony 1.12 zielony 1.18 fioletowy 1.19 czerwono-fioletowy 1.21 fioletowo-czerwony 1.24 różowy goździk do łososiowego 1.25 pomarańczowy 1.28 żółtawy 1.32 błękit nieba do zielono-niebieski 1.40 pomarańczowy 1.43 fiolet 1.46 niebiesko-fioletowy 1.50 niebieski 1.54 mętny żółto-zielony
6 5. Przebieg ćwiczenia: 1. Zapoznanie się za stanowiskiem do procesów utleniania termicznego i jego specyfikacją techniczną. 2. Obliczenie grubości tlenku krzemu niezbędnej do procesu trawienia w celu otrzymania membrany o zadanej grubości. Przykład: Oblicz grubość tlenku krzemu oraz czas jego otrzymania (uzyskanego w procesie mokrego utleniania w temperaturze 1150 C) niezbędnego to wytworzenia membrany o grubości 60 µm (w procesie mokrego anizotropowego trawienia w wodnych roztworach KOH) w podłożu krzemowym (100) o grubości 380 µm. Dane: Szybkość trawienia krzemu przez10 M KOH, 80 C - V (100) = 1 m/min, Szybkość trawienia tlenku krzemu przez10 M KOH, 80 C - V SiO2 = 256 nm/godz. Obliczenia: = 320 µm grubość krzemu jaką trzeba wytrawić 320*1= 320 min czas trawienia V SiO2 = 256 nm/godz = 4,2(6) nm/min 320*4,2(6)=1365,(3) nm Trzeba uzyskać grubość tlenku krzemu 1,4 µm. 1,4 2 =0.580*t t=3 h 23 min 3. Przygotowanie podłoży krzemowych do procesu utleniania Płytki są kolejno: myte w TRI, w acetonie, płukane w H 2 O(DI), trawione w H 2 SO 4 :H 2 O 2 =1:1, płukane w H 2 O, HF:H 2 O = 1:15, płukane w H 2 O (DI). 4. Przeprowadzenie procesu mokrego utleniania termicznego 5. Pomiar grubości otrzymanego tlenku krzemu Literatura: 1. Praca zbiorowa: Procesy technologiczne w elektronice półprzewodnikowej, WNT, Warszawa 1980
Elementy technologii mikroelementów i mikrosystemów. USF_3 Technologia_A M.Kujawińska, T.Kozacki, M.Jóżwik 3-1
Elementy technologii mikroelementów i mikrosystemów USF_3 Technologia_A M.Kujawińska, T.Kozacki, M.Jóżwik 3-1 Elementy technologii mikroelementów i mikrosystemów Typowe wymagania klasy czystości: 1000/100
Bardziej szczegółowoMarek Lipiński WPŁYW WŁAŚCIWOŚCI FIZYCZNYCH WARSTW I OBSZARÓW PRZYPOWIERZCHNIOWYCH NA PARAMETRY UŻYTKOWE KRZEMOWEGO OGNIWA SŁONECZNEGO
Marek Lipiński WPŁYW WŁAŚCIWOŚCI FIZYCZNYCH WARSTW I OBSZARÓW PRZYPOWIERZCHNIOWYCH NA PARAMETRY UŻYTKOWE KRZEMOWEGO OGNIWA SŁONECZNEGO Instytut Metalurgii i Inżynierii Materiałowej im. Aleksandra Krupkowskiego
Bardziej szczegółowoIM21 SPEKTROSKOPIA ODBICIOWA ŚWIATŁA BIAŁEGO
IM21 SPEKTROSKOPIA ODBICIOWA ŚWIATŁA BIAŁEGO Cel ćwiczenia: Zapoznanie się z metodą pomiaru grubości cienkich warstw za pomocą interferometrii odbiciowej światła białego, zbadanie zjawiska pęcznienia warstw
Bardziej szczegółowoInżynieria Wytwarzania
KATEDRA PRZYRZĄDÓW PÓŁPRZEWODNIKOWYCH I OPTOELEKTRONICZNYCH Laboratorium Mikrotechnologii Inżynieria Wytwarzania Ćwiczenie 2 Pomiary elipsometryczne warstw dielektrycznych 2010 1. Podstawy teoretyczne
Bardziej szczegółowoSupergel. Supergel. Prolight.com.pl. Opis. Szczegóły
Prolight.com.pl Supergel Supergel Opis Krzywa spektrum dystrybucji energii każdego filtru opisuje długości fal koloru przekazywanych przez poszczególne filtry. Na przykład, SuperGel # 312 przekazuje około
Bardziej szczegółowoWyznaczanie zależności współczynnika załamania światła od długości fali światła
Ćwiczenie O3 Wyznaczanie zależności współczynnika załamania światła od długości fali światła O3.1. Cel ćwiczenia Celem ćwiczenia jest zbadanie zależności współczynnika załamania światła od długości fali
Bardziej szczegółowoWyznaczenie długości fali świetlnej metodą pierścieni Newtona
Politechnika Łódzka FTIMS Kierunek: Informatyka rok akademicki: 2008/2009 sem. 2. Termin: 23 III 2009 Nr. ćwiczenia: 412 Temat ćwiczenia: Wyznaczenie długości fali świetlnej metodą pierścieni Newtona Nr.
Bardziej szczegółowoWykład 17: Optyka falowa cz.2.
Wykład 17: Optyka falowa cz.2. Dr inż. Zbigniew Szklarski Katedra Elektroniki, paw. C-1, pok.321 szkla@agh.edu.pl http://layer.uci.agh.edu.pl/z.szklarski/ 1 Interferencja w cienkich warstwach Załamanie
Bardziej szczegółowoTechnologia planarna
Technologia planarna Wszystkie końcówki elementów wyprowadzone na jedną, płaską powierzchnię płytki półprzewodnikowej Technologia krzemowa a) c) b) d) Wytwarzanie masek (a,b) Wytwarzanie płytek krzemowych
Bardziej szczegółowo4. Atesty dla powłok organicznych
Temat: NOWE WYMAGANIA DLA KLASY 3 Postanowienie QUALICOAT: Postanowienie Nr 8/TC 23.05.17 Data zatwierdzenia: 24 maj 2017 Data wejscia w życie: 1 września 2017 Zmiany Wymagań: Zmiany w rozdziale 4. Atesty
Bardziej szczegółowoWyznaczanie długości fali świetlnej za pomocą spektrometru siatkowego
Politechnika Łódzka FTIMS Kierunek: Informatyka rok akademicki: 2008/2009 sem. 2. grupa II Termin: 19 V 2009 Nr. ćwiczenia: 413 Temat ćwiczenia: Wyznaczanie długości fali świetlnej za pomocą spektrometru
Bardziej szczegółowoDodatki i uszlachetnienia toreb. Średnica 5 mm dostępna w kilku kolorach.
Dodatki i uszlachetnienia toreb USZLACHETNIENIA Laminat matowy Laminat błyszczący Laminat matowy + lakier UV wybiórczo Lakier dyspersyjny Tłoczenie suche Tłoczenie na gorąco HOT-STAMPING Uszlachetnia druk,
Bardziej szczegółowoPiezorezystancyjny czujnik ciśnienia: modelowanie membrany krzemowej podstawowego elementu piezorezystancyjnego czujnika ciśnienia
MIKROSYSTEMY - laboratorium Ćwiczenie 1 Piezorezystancyjny czujnik ciśnienia: modelowanie membrany krzemowej podstawowego elementu piezorezystancyjnego czujnika ciśnienia Zadania i cel ćwiczenia. Celem
Bardziej szczegółowoRZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) (13) B1
RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 174002 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 300055 (22) Data zgłoszenia: 12.08.1993 (5 1) IntCl6: H01L21/76 (54)
Bardziej szczegółowoModelowanie mikrosystemów - laboratorium. Ćwiczenie 1. Modelowanie ugięcia membrany krzemowej modelowanie pracy mikromechanicznego czujnika ciśnienia
Modelowanie mikrosystemów - laboratorium Ćwiczenie 1 Modelowanie ugięcia membrany krzemowej modelowanie pracy mikromechanicznego czujnika ciśnienia Zadania i cel ćwiczenia. Celem ćwiczenia jest dobranie
Bardziej szczegółowoBADANIE INTERFEROMETRU YOUNGA
Celem ćwiczenia jest: BADANIE INTERFEROMETRU YOUNGA 1. poznanie podstawowych właściwości interferometru z podziałem czoła fali w oświetleniu monochromatycznym i świetle białym, 2. demonstracja możliwości
Bardziej szczegółowoModelowanie mikrosystemów - laboratorium. Ćwiczenie 1. Modelowanie ugięcia membrany krzemowej modelowanie pracy mikromechanicznego czujnika ciśnienia
Modelowanie mikrosystemów - laboratorium Ćwiczenie 1 Modelowanie ugięcia membrany krzemowej modelowanie pracy mikromechanicznego czujnika ciśnienia Zadania i cel ćwiczenia. Celem ćwiczenia jest dobranie
Bardziej szczegółowoStruktura CMOS PMOS NMOS. metal I. metal II. warstwy izolacyjne (CVD) kontakt PWELL NWELL. tlenek polowy (utlenianie podłoża) podłoże P
Struktura CMOS NMOS metal II metal I PMOS przelotka (VIA) warstwy izolacyjne (CVD) kontakt tlenek polowy (utlenianie podłoża) PWELL podłoże P NWELL obszary słabo domieszkowanego drenu i źródła Physical
Bardziej szczegółowoInstytut Technologii Materiałów Elektronicznych
WPŁYW TRAWIENIA CHEMICZNEGO NA PARAMETRY ELEKTROOPTYCZNE KRAWĘDZIOWYCH OGNIW FOTOWOLTAICZNYCH Joanna Kalbarczyk, Marian Teodorczyk, Elżbieta Dąbrowska, Konrad Krzyżak, Jerzy Sarnecki kontakt srebrowy kontakt
Bardziej szczegółowoProcesy technologiczne w elektronice
Procesy technologiczne w elektronice Wytwarzanie monokryształów Si i innych. Domieszkowanie; wytwarzanie złącz. Nanoszenie cienkich warstw. Litografia. Wytwarzanie warstw izolatora. Trawienie. Montowanie
Bardziej szczegółowoCzyszczenie powierzchni podłoży jest jednym z
to jedna z największych w Polsce inwestycji w obszarze badań i rozwoju wysokich technologii (high-tech). W jej wyniku powstała sieć laboratoriów wyposażonych w najnowocześniejszą infrastrukturę techniczną,
Bardziej szczegółowoJaki kolor widzisz? Doświadczenie pokazuje zjawisko męczenia się receptorów w oku oraz istnienie barw dopełniających. Zastosowanie/Słowa kluczowe
1 Jaki kolor widzisz? Abstrakt Doświadczenie pokazuje zjawisko męczenia się receptorów w oku oraz istnienie barw Zastosowanie/Słowa kluczowe wzrok, zmysły, barwy, czopki, pręciki, barwy dopełniające, światło
Bardziej szczegółowoWyznaczanie długości fali świetlnej metodą pierścieni Newtona
Politechnika Łódzka FTIMS Kierunek: Informatyka rok akademicki: 2008/2009 sem. 2. grupa II Termin: 26 V 2009 Nr. ćwiczenia: 412 Temat ćwiczenia: Wyznaczanie długości fali świetlnej metodą pierścieni Newtona
Bardziej szczegółowoĆwiczenie: "Zagadnienia optyki"
Ćwiczenie: "Zagadnienia optyki" Opracowane w ramach projektu: "Wirtualne Laboratoria Fizyczne nowoczesną metodą nauczania realizowanego przez Warszawską Wyższą Szkołę Informatyki. Zakres ćwiczenia: 1.
Bardziej szczegółowoANALIZA SPEKTRALNA I POMIARY SPEKTROFOTOMETRYCZNE. Instrukcja wykonawcza
ĆWICZENIE 72A ANALIZA SPEKTRALNA I POMIARY SPEKTROFOTOMETRYCZNE 1. Wykaz przyrządów Spektroskop Lampy spektralne Spektrofotometr SPEKOL Filtry optyczne Suwmiarka Instrukcja wykonawcza 2. Cel ćwiczenia
Bardziej szczegółowoLaboratorium Ochrony przed Korozją. GALWANOTECHNIKA II Ćw. 6: ANODOWE OKSYDOWANIE ALUMINIUM
Akademia Górniczo-Hutnicza im. Stanisława Staszica Wydział Inżynierii Materiałowej i Ceramiki Katedra Fizykochemii i Modelowania Procesów Laboratorium Ochrony przed Korozją GALWANOTECHNIKA II Ćw. 6: ANODOWE
Bardziej szczegółowoTECHNOLOGIA WYKONANIA PRZYRZĄDÓW PÓŁPRZEWOD- NIKOWYCH WYK. 16 SMK Na pdstw.: W. Marciniak, WNT 1987: Przyrządy półprzewodnikowe i układy scalone,
TECHNOLOGIA WYKONANIA PRZYRZĄDÓW PÓŁPRZEWOD- NIKOWYCH WYK. 16 SMK Na pdstw.: W. Marciniak, WNT 1987: Przyrządy półprzewodnikowe i układy scalone, 1. Technologia wykonania złącza p-n W rzeczywistych złączach
Bardziej szczegółowoTECHNOLOGIA STRUKTUR MOEMS
Różne wyniki trawienia krzemu TECHNOLOGIA STRUKTUR MOEMS prof. nzw. Romuald B. Beck Wykład 3 Warszawa, czerwiec 2008 Wytwarzanie belki (belka krzemowa) Magnetic Force Microscope MFM Ostrze do analizy MFM
Bardziej szczegółowoStruktura CMOS Click to edit Master title style
Struktura CMOS Click to edit Master text styles warstwy izolacyjne (CVD) Second Level kontakt tlenek polowy (utlenianie podłoża) NMOS metal II metal I PWELL podłoże P PMOS NWELL przelotka (VIA) obszary
Bardziej szczegółowopobrano z serwisu Fizyka Dla Każdego - http://fizyka.dk - zadania z fizyki, wzory fizyczne, fizyka matura
12. Fale elektromagnetyczne zadania z arkusza I 12.5 12.1 12.6 12.2 12.7 12.8 12.9 12.3 12.10 12.4 12.11 12. Fale elektromagnetyczne - 1 - 12.12 12.20 12.13 12.14 12.21 12.22 12.15 12.23 12.16 12.24 12.17
Bardziej szczegółowoDlaczego niebo jest niebieskie?
Dlaczego niebo jest niebieskie? Obserwując niebo, na pewno zastanawiacie się, jakie przyczyny powstawania różnych kolorów nieba, a zwłaszcza kolor błękitny. Odpowiedź na to pytanie brzmi: przyczyną błękitnego
Bardziej szczegółowo11. Korozja wysokotemperaturowa
11. Korozja wysokotemperaturowa W tym tygodniu podczas zajęć skupimy się na zagadnieniu wysokotemperaturowej korozji gazowej, a dokładniej na kinetyce procesu tworzenia się zgorzeliny (tlenków/siarczków)
Bardziej szczegółowoPolitechnika Wrocławska Wydział Podstawowych Problemów Techniki
Politechnika Wrocławska Wydział Podstawowych Problemów Techniki specjalność FOTONIKA 3,5-letnie studia stacjonarne I stopnia (studia inżynierskie) FIZYKA TECHNICZNA Charakterystyka wykształcenia: - dobre
Bardziej szczegółowoFotowoltaika i sensory w proekologicznym rozwoju Małopolski
Fotowoltaika i sensory w proekologicznym rozwoju Małopolski Photovoltaic and Sensors in Environmental Development of Malopolska Region ZWIĘKSZANIE WYDAJNOŚCI SYSTEMÓW FOTOWOLTAICZNYCH Plan prezentacji
Bardziej szczegółowoTEORIA TRANZYSTORÓW MOS. Charakterystyki statyczne
TEORIA TRANZYSTORÓW MOS Charakterystyki statyczne n Aktywne podłoże, a napięcia polaryzacji złącz tranzystora wzbogacanego nmos Obszar odcięcia > t, = 0 < t Obszar liniowy (omowy) Kanał indukowany napięciem
Bardziej szczegółowoCeny netto (PLN) cena szt. lączna kwota druk 2 strony. lączna kwota 200 80.00 15.00-0.63 221.00 0.33 287.00 400 80.00 - - 0.59 316.00 0.27 424.
nadruk 1 kolor 1 rozmiar 25cm x 30cm (płaska bez wzmocnienia rączki) włoknina polipropylenowa Wigofil 80g/m2 Kolory: biały, szary, beżowy, zielony, niebieski, granatowy, czerwony, brązowy, czarny 200 80.00
Bardziej szczegółowoĆWICZENIE 11 CHEMICZNE BARWIENIE METALI I STOPÓW
ĆWICZENIE 11 CHEMICZNE BARWIENIE METALI I STOPÓW WPROWADZENIE Jednym ze sposobów obróbki powierzchni metali i ich stopów jest barwienie. Proces ten prowadzi się w celach dekoracyjnych, nadania patyny lub
Bardziej szczegółowoKatedra Fizyki Ciała Stałego Uniwersytetu Łódzkiego. Ćwiczenie 10 Badania powierzchni ciała stałego metodą elipsometryczną
Katedra Fizyki Ciała Stałego Uniwersytetu Łódzkiego Ćwiczenie 10 Badania powierzchni ciała stałego metodą elipsometryczną Cel ćwiczenia: Celem ćwiczenia jest pomiar grubości cienkich warstw tlenkowych
Bardziej szczegółowoTemat: Pomiar współczynnika załamania światła w gazie za pomocą interferometru Michelsona
Ćwiczenie Nr 450. Temat: Pomiar współczynnika załamania światła w gazie za pomocą interferometru Michelsona 1.iteratura: a) D. Halliday, R. Resnick, J. Walker, Podstawy fizyki 4, PWN, W-wa b) I. W. Sawieliew
Bardziej szczegółowoFizyka i technologia złącza PN. Adam Drózd 25.04.2006r.
Fizyka i technologia złącza P Adam Drózd 25.04.2006r. O czym będę mówił: Półprzewodnik definicja, model wiązań walencyjnych i model pasmowy, samoistny i niesamoistny, domieszki donorowe i akceptorowe,
Bardziej szczegółowoPrzyrządy Półprzewodnikowe
KATEDRA PRZYRZĄDÓW PÓŁPRZEWODNIKOWYCH I OPTOELEKTRONICZNYCH Laboratorium Mikrotechnologii Przyrządy Półprzewodnikowe Ćwiczenie 1 Sonda czteroostrzowa 2009 1. Podstawy teoretyczne Ćwiczenie 1 Sonda czteroostrzowa
Bardziej szczegółowoSpis treści. Szkło kwarcowe - dane techniczne 3. Rury kwarcowe 5. Pręty kwarcowe 7. Szkło borokrzemowe - dane techniczne 8. Rury borokrzemowe 10
Spis treści Szkło kwarcowe - dane techniczne Rury kwarcowe 5 Pręty kwarcowe 7 Szkło borokrzemowe - dane techniczne 8 Rury borokrzemowe 0 Kapilary borokrzemowe 5 Pręty borokrzemowe 6 Rury kolorowe borokrzemowe
Bardziej szczegółowoLaboratorium Ochrony przed Korozją. Ćw. 9: ANODOWE OKSYDOWANIEALUMINIUM
Akademia Górniczo-Hutnicza im. Stanisława Staszica Wydział Inżynierii Materiałowej i Ceramiki Katedra Fizykochemii i Modelowania Procesów Laboratorium Ochrony przed Korozją Ćw. 9: ANODOWE OKSYDOWANIEALUMINIUM
Bardziej szczegółowoRepeta z wykładu nr 10. Detekcja światła. Kondensator MOS. Plan na dzisiaj. fotopowielacz, część 2 MCP (detektor wielokanałowy) streak camera
Repeta z wykładu nr 10 Detekcja światła Sebastian Maćkowski Instytut Fizyki Uniwersytet Mikołaja Kopernika Adres poczty elektronicznej: mackowski@fizyka.umk.pl Biuro: 365, telefon: 611-3250 fotopowielacz,
Bardziej szczegółowoInterferencyjny pomiar krzywizny soczewki przy pomocy pierścieni Newtona
Interferencyjny pomiar krzywizny soczewki przy pomocy pierścieni Newtona Jakub Orłowski 6 listopada 2012 Streszczenie W doświadczeniu dokonano pomiaru krzywizny soczewki płasko-wypukłej z wykorzystaniem
Bardziej szczegółowoElementy technologii mikroelementów i mikrosystemów. Typowe wymagania klasy czystości: 1000/100 (technologie 3 µm)
Elementy technologii mikroelementów i mikrosystemów Typowe wymagania klasy czystości: 1000/100 (technologie 3 µm) np. pamięci: 64k 1000/100 >1M 100/10 USF_4 Technologia M.Kujawińska, T.Kozacki, M.Józwik
Bardziej szczegółowoWzrost pseudomorficzny. Optyka nanostruktur. Mody wzrostu. Ekscyton. Sebastian Maćkowski
Wzrost pseudomorficzny Optyka nanostruktur Sebastian Maćkowski Instytut Fizyki Uniwersytet Mikołaja Kopernika Adres poczty elektronicznej: mackowski@fizyka.umk.pl Biuro: 365, telefon: 611-3250 naprężenie
Bardziej szczegółowoPowłoki cienkowarstwowe
Powłoki cienkowarstwowe Wstęp Powody zastosowania powłok znaczne straty energii - w układach o dużej ilości elementów optycznych (dalmierze, peryskopy, wzierniki) przykład : peryskop - 12% światła wchodzącego
Bardziej szczegółowoRaport końcowy kamienie milowe (KM) zadania 1.2
Wydział Chemii Uniwersytet Warszawski Raport końcowy kamienie milowe (KM) zadania 1.2 za okres: 01.07.2009-31.03.2012 Zadanie 1.2 Opracowanie technologii nanowłókien SiC dla nowej generacji czujnika wodoru
Bardziej szczegółowoPolitechnika Lubelska Wydział Elektrotechniki i Informatyki Katedra Urządzeń Elektrycznych i Techniki Wysokich Napięć. Dr hab.
Politechnika Lubelska Wydział Elektrotechniki i Informatyki Katedra Urządzeń Elektrycznych i Techniki Wysokich Napięć Dr hab. Paweł Żukowski Materiały magnetyczne Właściwości podstawowych materiałów magnetycznych
Bardziej szczegółowoDyfrakcja. interferencja światła. dr inż. Romuald Kędzierski
Dyfrakcja i interferencja światła. dr inż. Romuald Kędzierski Zasada Huygensa - przypomnienie Każdy punkt ośrodka, do którego dotarło czoło fali można uważać za źródło nowej fali kulistej. Fale te zwane
Bardziej szczegółowoOptyka 2012/13 powtórzenie
strona 1 Imię i nazwisko ucznia Data...... Klasa... Zadanie 1. Słońce w ciągu dnia przemieszcza się na niebie ze wschodu na zachód. W którym kierunku obraca się Ziemia? Zadanie 2. Na rysunku przedstawiono
Bardziej szczegółowoĆwiczenie 12 (44) Wyznaczanie długości fali świetlnej przy pomocy siatki dyfrakcyjnej
Ćwiczenie 12 (44) Wyznaczanie długości fali świetlnej przy pomocy siatki dyfrakcyjnej Wprowadzenie Światło widzialne jest to promieniowanie elektromagnetyczne (zaburzenie poła elektromagnetycznego rozchodzące
Bardziej szczegółowoFarby do tkanin TZ. Technical Data Sheet. Farby drukarskie TZ do tkanin
Farby drukarskie TZ do tkanin ZASTOSOWANIE Specjalne farby drukarskie do sitodruku przeznaczone do drukowania na różnych wyrobach tekstylnych, zarówno naturalnych jak i syntetycznych, które szczególnie
Bardziej szczegółowoCzęści zamienne do opryskiwaczy Hardi. Rozpylacze Zestawy Filtry Karuzele Kalibracja
Części zamienne do opryskiwaczy Hardi Rozpylacze Zestawy Filtry Karuzele Kalibracja Indeks artykułów Str. 20 Opryskiwacze Hardi - Rozpylacze... 21 Rozpylacze płaskostrumieniowe Standard - ISO F-110...
Bardziej szczegółowoI Konferencja. InTechFun
I Konferencja Innowacyjne technologie wielofunkcyjnych materiałów i struktur dla nanoelektroniki, fotoniki, spintroniki i technik sensorowych InTechFun 9 kwietnia 2010 r., Warszawa POIG.01.03.01-00-159/08
Bardziej szczegółowoBARWY W CHEMII Dr Emilia Obijalska Katedra Chemii Organicznej i Stosowanej UŁ
BARWY W CHEMII Dr Emilia bijalska Katedra Chemii rganicznej i Stosowanej UŁ Akademia Ciekawej Chemii Czym jest światło? Wzrok człowieka reaguje na fale elektromagnetyczne w zakresie 380-760nm. Potocznie
Bardziej szczegółowoK A T A L O G P R O D U K T Ó W
K ATALOG PRODUKTÓW SZNUROWADŁA BAWEŁNIANE I INNE SZNUROWADŁA BAWEŁNIANE OKRĄGŁE PŁASKIE WOSKOWANE WOSKOWANE OKRĄGŁE WOSKOWANE PŁASKIE SZNUROWADŁA BAWEŁNOPODOBNE (BAWEŁNO-POLIESTER) SZNUROWADŁA POLIESTROWE
Bardziej szczegółowoĆwiczenie nr 34. Badanie elementów optoelektronicznych
Ćwiczenie nr 34 Badanie elementów optoelektronicznych 1. Cel ćwiczenia Celem ćwiczenia jest zapoznanie się z elementami optoelektronicznymi oraz ich podstawowymi parametrami, a także doświadczalne sprawdzenie
Bardziej szczegółowoCIENKIE WARSTWY prof. dr hab. inż. Krzysztof Patorski
CIENKIE WARSTWY prof. dr hab. inż. Krzysztof Patorski Nakładając na pewne podłoże (np. powierzchnię soczewki) kilka warstw dielektrycznych (przez naparowanie / napylenie) o odpowiednio dobranych współczynnikach
Bardziej szczegółowoINSTYTUT INŻYNIERII MATERIAŁOWEJ PŁ LABORATORIUM TECHNOLOGII POWŁOK OCHRONNYCH ĆWICZENIE 1 POWŁOKI KONWERSYJNE-TECHNOLOGIE NANOSZENIA
INSTYTUT INŻYNIERII MATERIAŁOWEJ PŁ LABORATORIUM TECHNOLOGII POWŁOK OCHRONNYCH ĆWICZENIE 1 POWŁOKI KONWERSYJNE-TECHNOLOGIE NANOSZENIA WSTĘP TEORETYCZNY Powłoki konwersyjne tworzą się na powierzchni metalu
Bardziej szczegółowoProcesy kontrolowane dyfuzją. Witold Kucza
Procesy kontrolowane dyfuzją Witold Kucza 1 Nawęglanie Nawęglanie jest procesem, w którym powierzchnia materiału podlega dyfuzyjnemu nasyceniu węglem. Nawęglanie (z następującym po nim hartowaniem i odpuszczaniem)
Bardziej szczegółowoAleksandra Banaś Dagmara Zemła WPPT/OPTOMETRIA
Aleksandra Banaś Dagmara Zemła WPPT/OPTOMETRIA B V B C ZEWNĘTRZNE POLE ELEKTRYCZNE B C B V B D = 0 METAL IZOLATOR PRZENOSZENIE ŁADUNKÓW ELEKTRYCZNYCH B C B D B V B D PÓŁPRZEWODNIK PODSTAWOWE MECHANIZMY
Bardziej szczegółowoWykład 17: Optyka falowa cz.1.
Wykład 17: Optyka falowa cz.1. Dr inż. Zbigniew Szklarski Katedra Elektroniki, paw. C-1, pok.31 szkla@agh.edu.pl http://layer.uci.agh.edu.pl/z.szklarski/ 1 Zasada Huyghensa Christian Huygens 1678 r. pierwsza
Bardziej szczegółowoUwaga! Na zamówienie dostarczamy także szkło i dodatki BAOLI C.O.E. 90 i 96 ceny i kolory identyczne
Szkło do fusing'u Baoli wrzesień 2015 Uwaga! Na zamówienie dostarczamy także szkło i dodatki BAOLI C.O.E. 90 i 96 ceny i kolory identyczne Baoli szkło, wym. 40x50cm, grubość 2mm cena za m2 cena za arkusz
Bardziej szczegółowoOptyka geometryczna Tadeusz M.Molenda Instytut Fizyki, Uniwersytet Szczeciński. Załamanie światła
Optyka geometryczna Tadeusz M.Molenda Instytut Fizyki, Uniwersytet Szczeciński Załamanie światła Załamania na granicy dwóch ośrodków normalna promień padający ośrodek 1 płaszczyzna padania v 1 v 2 ośrodek
Bardziej szczegółowoPolitechnika Warszawska Instytut Mikroelektroniki i Optoelektroniki Zakład Optoelektroniki
Politechnika Warszawska Instytut Mikroelektroniki i Optoelektroniki Zakład Optoelektroniki LASEROWY POMIAR ODLEGŁOŚCI INTERFEROMETREM MICHELSONA Instrukcja wykonawcza do ćwiczenia laboratoryjnego ćwiczenie
Bardziej szczegółowoSkalowanie układów scalonych
Skalowanie układów scalonych Technologia mikroelektroniczna Charakterystyczne parametry najmniejszy realizowalny rozmiar (ang. feature size), liczba bramek (układów) na jednej płytce, wydzielana moc, maksymalna
Bardziej szczegółowoWłasności optyczne półprzewodników
Własności optyczne półprzewodników Andrzej Wysmołek Wykład przygotowany w oparciu o wykłady prowadzone na Wydziale Fizyki UW przez prof. Mariana Grynberga oraz prof. Romana Stępniewskiego Klasyfikacja
Bardziej szczegółowoMakijaż zasady ogólne
Makijaż Makijaż zasady ogólne -relatywizm barw, -światłocień, -perspektywa barwna, -podział kolorów, -technika monochromatyczna, -zasada kontrastu (kolory dopełniające się). relatywizm barw relatywizm
Bardziej szczegółowoWłaściwości kryształów
Właściwości kryształów Związek pomiędzy właściwościami, strukturą, defektami struktury i wiązaniami chemicznymi Skład i struktura Skład materiału wpływa na wszystko, ale głównie na: właściwości fizyczne
Bardziej szczegółowo( Wersja A ) WYZNACZANIE PROMIENI KRZYWIZNY SOCZEWKI I DŁUGOŚCI FALI ŚWIETLNEJ ZA POMOCĄ PIERŚCIENI NEWTONA.
0.X.203 ĆWICZENIE NR 8 ( Wersja A ) WYZNACZANIE PROMIENI KRZYWIZNY SOCZEWKI I DŁUGOŚCI FALI ŚWIETLNEJ ZA POMOCĄ PIERŚCIENI NEWTONA. I. Zestaw przyrządów:. Mikroskop. 2. Płytki szklane płaskorównoległe.
Bardziej szczegółowoINFORMACJA O PRODUKCIE
GmbH INFORMACJA O PRODUKCIE Uniwersalna żyła giętka z rozszerzonym zakresem temperatury pracy Bezhalogenowy Odporny na temperaturę Info Żyła miedziana giętka, cienkodrutowa Zakres zastosowania Obszary
Bardziej szczegółowoI Konferencja. InTechFun
I Konferencja Innowacyjne technologie wielofunkcyjnych materiałów i struktur dla nanoelektroniki, fotoniki, spintroniki i technik sensorowych InTechFun 9 kwietnia 2010 r., Warszawa POIG.01.03.01-00-159/08
Bardziej szczegółowoInterferencja jest to zjawisko nakładania się fal prowadzące do zwiększania lub zmniejszania amplitudy fali wypadkowej. Interferencja zachodzi dla
Interferencja jest to zjawisko nakładania się fal prowadzące do zwiększania lub zmniejszania amplitudy fali wypadkowej. Interferencja zachodzi dla wszystkich rodzajów fal, we wszystkich ośrodkach, w których
Bardziej szczegółowoStałe : h=6, Js h= 4, eVs 1eV= J nie zależy
T_atom-All 1 Nazwisko i imię klasa Stałe : h=6,626 10 34 Js h= 4,14 10 15 evs 1eV=1.60217657 10-19 J Zaznacz zjawiska świadczące o falowej naturze światła a) zjawisko fotoelektryczne b) interferencja c)
Bardziej szczegółowoPomiar współczynnika pochłaniania światła
Politechnika Łódzka FTIMS Kierunek: Informatyka rok akademicki: 2008/2009 sem. 2. grupa II Termin: 12 V 2009 Nr. ćwiczenia: 431 Temat ćwiczenia: Pomiar współczynnika pochłaniania światła Nr. studenta:
Bardziej szczegółowoTechnologia elementów optycznych
Technologia elementów optycznych dr inż. Michał Józwik pokój 507a jozwik@mchtr.pw.edu.pl Część 1 Treść wykładu Specyfika wymagań i technologii elementów optycznych. Ogólna struktura procesów technologicznych.
Bardziej szczegółowoDługopisy metalowe GWARANTUJEMY NAJWYŻSZĄ JAKOŚĆ GRAWERU
AGENCJA REKLAMOWA 85-7 Bydgoszcz, ul. Leszczyńskiego 12/1 tel. 52 376 49 15, 52 5 e-mail: xb@xb.com.pl Cennik z dnia 28-02-14 Ważny do wydania nowego cennika. Zawsze aktualne cenniki na www.xb.com.pl Długopisy
Bardziej szczegółowoPODSTAWY BARWY, PIGMENTY CERAMICZNE
PODSTAWY BARWY, PIGMENTY CERAMICZNE Barwa Barwą nazywamy rodzaj określonego ilościowo i jakościowo (długość fali, energia) promieniowania świetlnego. Głównym i podstawowym źródłem doznań barwnych jest
Bardziej szczegółowoOP6 WIDZENIE BARWNE I FIZYCZNE POCHODZENIE BARW W PRZYRODZIE
OP6 WIDZENIE BARWNE I FIZYCZNE POCHODZENIE BARW W PRZYRODZIE I. Wymagania do kolokwium: 1. Fizyczne pojęcie barwy. Widmo elektromagnetyczne. Związek między widmem światła i wrażeniem barwnym jakie ono
Bardziej szczegółowoMetody wytwarzania elementów półprzewodnikowych
Metody wytwarzania elementów półprzewodnikowych Ryszard J. Barczyński, 2010 2015 Politechnika Gdańska, Wydział FTiMS, Katedra Fizyki Ciała Stałego Materiały dydaktyczne do użytku wewnętrznego Wytwarzanie
Bardziej szczegółowoDługopisy metalowe GWARANTUJEMY NAJWYŻSZĄ JAKOŚĆ GRAWERU
AGENCJA REKLAMOWA 85-7 Bydgoszcz, ul. Leszczyńskiego 12/1 tel. 52 376 49 15, e-mail: xb@xb.com.pl Cennik z dnia 27-02- Ważny do wydania nowego cennika. Zawsze aktualne cenniki na www.xb.com.pl w zakładce
Bardziej szczegółowoPOLITECHNIKA ŁÓDZKA INSTYTUT FIZYKI LABORATORIUM FIZYKI KRYSZTAŁÓW STAŁYCH. ĆWICZENIE Nr 1. Optyczne badania kryształów
OLITECHNIK ŁÓDZK INSTYTUT FIZYKI LBORTORIUM FIZYKI KRYSZTŁÓW STŁYCH ĆWICZENIE Nr 1 Optyczne badania kryształów Cel ćwiczenia Celem ćwiczenia jest poznanie przyrządów i metod do badań optycznych oraz cech
Bardziej szczegółowoPDF stworzony przez wersję demonstracyjną pdffactory
Promieniowanie elektromagnetyczne (fala elektromagnetyczna) rozchodzące się w przestrzeni zaburzenie pola elektromagnetycznego. Zaburzenie to ma charakter fali poprzecznej, w której składowa elektryczna
Bardziej szczegółowoBadanie elementów składowych monolitycznych układów scalonych II
1 Wydział Elektroniki Mikrosystemów i Fotoniki Politechniki Wrocławskiej STUDIA DZIENNE Ćwiczenie nr 14 LABORATORIUM PRZYRZĄDÓW PÓŁPRZEWODNIKOWYCH Badanie elementów składowych monolitycznych układów scalonych
Bardziej szczegółowoLABORATORIUM FIZYKI PAŃSTWOWEJ WYŻSZEJ SZKOŁY ZAWODOWEJ W NYSIE
LABORATORIUM FIZYKI PAŃSTWOWEJ WYŻSZEJ SZKOŁY ZAWODOWEJ W NYSIE Ćwiczenie nr 6 Temat: Wyznaczenie stałej siatki dyfrakcyjnej i dyfrakcja światła na otworach kwadratowych i okrągłych. 1. Wprowadzenie Fale
Bardziej szczegółowoELEMENTY ELEKTRONICZNE
AKADEMIA GÓRNICZO-HUTNICZA IM. STANISŁAWA STASZICA W KRAKOWIE Wydział Elektrotechniki, Automatyki, Informatyki i Elektroniki Katedra Elektroniki ELEMENTY ELEKTRONICZNE dr inż. Piotr Dziurdzia paw. C-3,
Bardziej szczegółowoRekapitulacja. Detekcja światła. Rekapitulacja. Rekapitulacja
Rekapitulacja Detekcja światła Sebastian Maćkowski Instytut Fizyki Uniwersytet Mikołaja Kopernika Adres poczty elektronicznej: mackowski@fizyka.umk.pl Biuro: 365, telefon: 611-3250 Konsultacje: czwartek
Bardziej szczegółowoProblemy optyki falowej. Teoretyczne podstawy zjawisk dyfrakcji, interferencji i polaryzacji światła.
. Teoretyczne podstawy zjawisk dyfrakcji, interferencji i polaryzacji światła. Rozwiązywanie zadań wykorzystujących poznane prawa I LO im. Stefana Żeromskiego w Lęborku 27 luty 2012 Dyfrakcja światła laserowego
Bardziej szczegółowoSposób i urządzenie do odzysku materiałów krzemowych z ogniw fotowoltaicznych
Sposób i urządzenie do odzysku materiałów krzemowych z ogniw fotowoltaicznych 5 30 Przedmiotem wynalazku jest sposób i urządzenie do kontrolowanego i automatycznego odzysku materiałów krzemowych z ogniw
Bardziej szczegółowoZałącznik nr 1. Projekty struktur falowodowych
Załącznik nr 1 do sprawozdania merytorycznego z realizacji projektu badawczego Szybka nieliniowość fotorefrakcyjna w światłowodach półprzewodnikowych do zastosowań w elementach optoelektroniki zintegrowanej
Bardziej szczegółowoSkalowanie układów scalonych Click to edit Master title style
Skalowanie układów scalonych Charakterystyczne parametry Technologia mikroelektroniczna najmniejszy realizowalny rozmiar (ang. feature size), liczba bramek (układów) na jednej płytce, wydzielana moc, maksymalna
Bardziej szczegółowoWłasności optyczne materii. Jak zachowuje się światło w zetknięciu z materią?
Własności optyczne materii Jak zachowuje się światło w zetknięciu z materią? Właściwości optyczne materiału wynikają ze zjawisk: Absorpcji Załamania Odbicia Rozpraszania Własności elektrycznych Refrakcja
Bardziej szczegółowoStanowisko do badania zjawiska tłumienia światła w ośrodkach materialnych
Stanowisko do badania zjawiska tłumienia światła w ośrodkach materialnych Na rys. 3.1 przedstawiono widok wykorzystywanego w ćwiczeniu stanowiska pomiarowego do badania zjawiska tłumienia światła w ośrodkach
Bardziej szczegółowoE 4. Poradnik doboru kolorów. Informacja techniczna. Sprawdzenie koloru
Sprawdzenie koloru Dobrze wykonana naprawa lakiernicza oznacza czasem konieczność dobarwiania, cieniowania lub polerowania starej powłoki. Stąd godne polecenia jest dokładne porównanie koloru renowacyjnego
Bardziej szczegółowoPaństwowa Wyższa Szkoła Zawodowa
Państwowa Wyższa Szkoła Zawodowa w Legnicy Laboratorium Podstaw Elektroniki i Miernictwa Ćwiczenie nr 2 PRWO OHM. BDNIE DWÓJNIKÓW LINIOWYCH I NIELINIOWYCH . Cel ćwiczenia. - Zapoznanie się z właściwościami
Bardziej szczegółowoFotoelementy. Symbole graficzne półprzewodnikowych elementów optoelektronicznych: a) fotoogniwo b) fotorezystor
Fotoelementy Wstęp W wielu dziedzinach techniki zachodzi potrzeba rejestracji, wykrywania i pomiaru natężenia promieniowania elektromagnetycznego o różnych długościach fal, w tym i promieniowania widzialnego,
Bardziej szczegółowoKationy grupa analityczna I
Kompendium - Grupy analityczne kationów Kationy grupa analityczna I Odczynnik Ag + Hg 2 2+ Pb 2+ roztwór bezbarwny roztwór bezbarwny roztwór bezbarwny HCl rozc. biały osad [1] biały osad [2] biały osad
Bardziej szczegółowoBadanie własności półprzewodnikowych diod świecących
Warszawa, 3 marca 2003 Badanie własności półprzewodnikowych diod świecących Ryszard Kostecki Wydział Fizyki, Uniwersytet Warszawski Streszczenie Praca ta zawiera przedstawienie i analizę wyników przeprowadzonego
Bardziej szczegółowo