MIKROSYSTEMY. Ćwiczenie nr 2a Utlenianie

Wielkość: px
Rozpocząć pokaz od strony:

Download "MIKROSYSTEMY. Ćwiczenie nr 2a Utlenianie"

Transkrypt

1 MIKROSYSTEMY Ćwiczenie nr 2a Utlenianie 1. Cel ćwiczeń: Celem zajęć jest wykonanie kompletnego procesu mokrego utleniania termicznego krzemu. W skład ćwiczenia wchodzą: obliczenie czasu trwania procesu utleniania dla zadanych parametrów w celu u zyskania tlenku krzemu o odpowiedniej grubości, przygotowanie (procedura mycia) podłoży krzemowych do utleniania, włożenie podłoży krzemowych do pieca, po procesie utleniania pomiar grubości tlenku. 2. Wprowadzenie: Utlenianie krzemu jest procesem wysokotemperaturowym ( C) mający na celu wytworzenie na krzemie warstwy tlenku krzemu (SiO 2 ), która jest głównym materiałem dielektrycznym używanym w technologii krzemowej. Najważniejsze funkcje warstw SiO 2 to: - pasywacja powierzchni półprzewodnika, - maskowanie w procesach trawienia, dyfuzji, - izolowanie elektryczne w obrębie układu, - zabezpieczenie półprzewodnika przez czynnikami zewnętrznymi. W zależności od warunków w jakich prowadzimy proces można utleniać krzem w atmosferze czystego tlenu lub parze wodnej: - suchy tlen - Si + O 2 SiO 2 - para wodna - Si + 2H 2 O SiO 2 + 2H 2 Cechy utleniania suchego: - warstwa tlenku rośnie bardzo powoli, - warstwa cechuje się jednorodnością, - małe zdefektowanie. Wytwarzane są tą metodą warstwy cienkie (~100 Å) potrzebne w układach MOS. Cechy utleniania mokrego: - warstwa ma duży ładunek powierzchniowy, - warstwa tlenku rośnie szybko, - duże zdefektowanie. Wytwarzane są tą metodą warstwy grube (~ 1μm). Najważniejsze parametry procesu utleniania to: - temperatura utleniania, - czas trwania procesu, - skład chemiczny gazu utleniającego, - ciśnienie tlenu w reaktorze, - orientacja krystalograficzna podłoża krzemowego

2 Podczas otrzymywania warstw SiO 2 w procesie utleniania termicznego wiązany jest krzem. Powstały tlenek zużywa warstwę krzemu o grubości równej 44% grubości otrzymanego tlenku. 2a Obliczenia: Rys. 1 Zużywanie podłoża w wyniku utleniania termicznego krzemu rysunek: A. Javey, Berkeley Univ., EECS143 Szybkość narastania warstwy jest zależna od temperatury, czasu wygrzewania i rodzaju procesu (mokre lub suche utlenianie). Wyprowadzenie podanych wzorów można znaleźć w [1]. W przypadku mokrgo utlaniania szybkość narastania warstwy jest zależna: - dla długiego czasu utleniania grubość tlenku x 0 zależy od czasu wg funkcji parabolicznej: t - czas wygrzewania [h]; Parametr B podano w tabeli 1. x dla krótkiego czasu utleniania grubość tlenku zależy od czasu wg funkcji liniowej Bt Parametr B podano w tabeli 1. x 0 B A t x 2 i Axi, x i - początkowa grubość tlenku krzemu przed procesem utleniania B

3 Tabela 1 Parametry dla procesu utleniania w parze wodnej w warunkach: O 2 = 30 l/h, H 2 = 50 l/h, N 2 =<5l/h A [μm] B [μ 2 m/h] 850 C C C C C C C W przypadku nasteawienia innej temperatury pieca należy korzystać z wykresu poniżej.

4 2b Pomiar grubości tlenku krzemu: Najdokładniejsze I najbardziej rozpowczechniowe są optyczne metody pomiaru grubości tlenku krzemu. Są nimi: - metoda barw interferencyjnych - metoda prążków interferencyjnych jednakowej grubości - metoda elipsometrii Na zajęciach wykorzystamy metodę barw intrferencyjnych, gdzie warstwa dielektryczna daje wrażenie barwne, jeśli wskutek interferncji zachodzi wzmocnienie światła o wybranej długośći fali. Dla pionowego padania światła wzmocnienie to wystąpi dla długości światła określonej zależnośćią: 2dn N λ długość fali światła d grubość warstwy dielektrycznej n współczynnik załamania warstwy dielektrycznej N rząd interferencji KOLORY INTERFERENCYJNE TLENKÓW SIO 2. d[μm] kolor 0.05 żółto-brązowy, orzechowy 0.07 brązowy 0.10 ciemny fiolet do czerwony fiolet 0.12 jaskrawo-niebieski 0.15 jasno-niebieski do metaliczno-niebieski 0.17 metaliczny do bardzo jasno-żółtozielony 0.20 jasno-żółty lub żółty, nieznacznie metaliczny 0.25 złoty z nieznacznym żółtym oranżem 0.27 czerwono-fioletowy 0.30 niebieski do fioletowo-niebieski 0.31 niebieski niebieski do niebiesko-zielony 0.34 jasno-zielony 0.35 zielony do żółto-zielony 0.36 żółto-zielony 0.37 zielono-żółty 0.39 żółty 0.41 jasno-pomarańczowy 0.42 różowy goździk 0.44 fioletowo-czerwony 0.46 czerwono-fioletowy

5 0.47 fioletowy 0.48 niebiesko-fioletowy 0.49 niebieski 0.50 niebiesko-zielony 0.52 zielony 0.54 żółto-zielony 0.56 zielono-żółty 0.57 żółty do prawie żółty, czasami jasno-krzemowo-szary lub metaliczny 0.58 jasno-pomarańczowy lub żółty do różowego 0.60 różowy goździk 0.63 fioletowo-czerwony 0.68 pomiędzy fioletem a niebiesko-zielonym, niebieskawy 0.72 niebiesko-zielony do zielonego 0.77 żółtawy 0.80 pomarańczowy 0.82 łososiowy 0.85 mętny, jasny czerwono-fioletowy 0.86 fioletowy 0.87 niebiesko-fioletowy 0.89 niebieski 0.92 niebiesko-zielony 0.95 mętny żółto-zielony 0.97 żółty do żółtawy 0.99 pomarańczowy 1.00 różowy goździk 1.02 fioletowo-czerwony 1.05 czerwono-fioletowy 1.06 fioletowy 1.07 niebiesko-fioletowy 1.10 zielony 1.11 żółto-zielony 1.12 zielony 1.18 fioletowy 1.19 czerwono-fioletowy 1.21 fioletowo-czerwony 1.24 różowy goździk do łososiowego 1.25 pomarańczowy 1.28 żółtawy 1.32 błękit nieba do zielono-niebieski 1.40 pomarańczowy 1.43 fiolet 1.46 niebiesko-fioletowy 1.50 niebieski 1.54 mętny żółto-zielony

6 5. Przebieg ćwiczenia: 1. Zapoznanie się za stanowiskiem do procesów utleniania termicznego i jego specyfikacją techniczną. 2. Obliczenie grubości tlenku krzemu niezbędnej do procesu trawienia w celu otrzymania membrany o zadanej grubości. Przykład: Oblicz grubość tlenku krzemu oraz czas jego otrzymania (uzyskanego w procesie mokrego utleniania w temperaturze 1150 C) niezbędnego to wytworzenia membrany o grubości 60 µm (w procesie mokrego anizotropowego trawienia w wodnych roztworach KOH) w podłożu krzemowym (100) o grubości 380 µm. Dane: Szybkość trawienia krzemu przez10 M KOH, 80 C - V (100) = 1 m/min, Szybkość trawienia tlenku krzemu przez10 M KOH, 80 C - V SiO2 = 256 nm/godz. Obliczenia: = 320 µm grubość krzemu jaką trzeba wytrawić 320*1= 320 min czas trawienia V SiO2 = 256 nm/godz = 4,2(6) nm/min 320*4,2(6)=1365,(3) nm Trzeba uzyskać grubość tlenku krzemu 1,4 µm. 1,4 2 =0.580*t t=3 h 23 min 3. Przygotowanie podłoży krzemowych do procesu utleniania Płytki są kolejno: myte w TRI, w acetonie, płukane w H 2 O(DI), trawione w H 2 SO 4 :H 2 O 2 =1:1, płukane w H 2 O, HF:H 2 O = 1:15, płukane w H 2 O (DI). 4. Przeprowadzenie procesu mokrego utleniania termicznego 5. Pomiar grubości otrzymanego tlenku krzemu Literatura: 1. Praca zbiorowa: Procesy technologiczne w elektronice półprzewodnikowej, WNT, Warszawa 1980

Elementy technologii mikroelementów i mikrosystemów. USF_3 Technologia_A M.Kujawińska, T.Kozacki, M.Jóżwik 3-1

Elementy technologii mikroelementów i mikrosystemów. USF_3 Technologia_A M.Kujawińska, T.Kozacki, M.Jóżwik 3-1 Elementy technologii mikroelementów i mikrosystemów USF_3 Technologia_A M.Kujawińska, T.Kozacki, M.Jóżwik 3-1 Elementy technologii mikroelementów i mikrosystemów Typowe wymagania klasy czystości: 1000/100

Bardziej szczegółowo

Marek Lipiński WPŁYW WŁAŚCIWOŚCI FIZYCZNYCH WARSTW I OBSZARÓW PRZYPOWIERZCHNIOWYCH NA PARAMETRY UŻYTKOWE KRZEMOWEGO OGNIWA SŁONECZNEGO

Marek Lipiński WPŁYW WŁAŚCIWOŚCI FIZYCZNYCH WARSTW I OBSZARÓW PRZYPOWIERZCHNIOWYCH NA PARAMETRY UŻYTKOWE KRZEMOWEGO OGNIWA SŁONECZNEGO Marek Lipiński WPŁYW WŁAŚCIWOŚCI FIZYCZNYCH WARSTW I OBSZARÓW PRZYPOWIERZCHNIOWYCH NA PARAMETRY UŻYTKOWE KRZEMOWEGO OGNIWA SŁONECZNEGO Instytut Metalurgii i Inżynierii Materiałowej im. Aleksandra Krupkowskiego

Bardziej szczegółowo

IM21 SPEKTROSKOPIA ODBICIOWA ŚWIATŁA BIAŁEGO

IM21 SPEKTROSKOPIA ODBICIOWA ŚWIATŁA BIAŁEGO IM21 SPEKTROSKOPIA ODBICIOWA ŚWIATŁA BIAŁEGO Cel ćwiczenia: Zapoznanie się z metodą pomiaru grubości cienkich warstw za pomocą interferometrii odbiciowej światła białego, zbadanie zjawiska pęcznienia warstw

Bardziej szczegółowo

Inżynieria Wytwarzania

Inżynieria Wytwarzania KATEDRA PRZYRZĄDÓW PÓŁPRZEWODNIKOWYCH I OPTOELEKTRONICZNYCH Laboratorium Mikrotechnologii Inżynieria Wytwarzania Ćwiczenie 2 Pomiary elipsometryczne warstw dielektrycznych 2010 1. Podstawy teoretyczne

Bardziej szczegółowo

Supergel. Supergel. Prolight.com.pl. Opis. Szczegóły

Supergel. Supergel. Prolight.com.pl. Opis. Szczegóły Prolight.com.pl Supergel Supergel Opis Krzywa spektrum dystrybucji energii każdego filtru opisuje długości fal koloru przekazywanych przez poszczególne filtry. Na przykład, SuperGel # 312 przekazuje około

Bardziej szczegółowo

Wyznaczanie zależności współczynnika załamania światła od długości fali światła

Wyznaczanie zależności współczynnika załamania światła od długości fali światła Ćwiczenie O3 Wyznaczanie zależności współczynnika załamania światła od długości fali światła O3.1. Cel ćwiczenia Celem ćwiczenia jest zbadanie zależności współczynnika załamania światła od długości fali

Bardziej szczegółowo

Wyznaczenie długości fali świetlnej metodą pierścieni Newtona

Wyznaczenie długości fali świetlnej metodą pierścieni Newtona Politechnika Łódzka FTIMS Kierunek: Informatyka rok akademicki: 2008/2009 sem. 2. Termin: 23 III 2009 Nr. ćwiczenia: 412 Temat ćwiczenia: Wyznaczenie długości fali świetlnej metodą pierścieni Newtona Nr.

Bardziej szczegółowo

Wykład 17: Optyka falowa cz.2.

Wykład 17: Optyka falowa cz.2. Wykład 17: Optyka falowa cz.2. Dr inż. Zbigniew Szklarski Katedra Elektroniki, paw. C-1, pok.321 szkla@agh.edu.pl http://layer.uci.agh.edu.pl/z.szklarski/ 1 Interferencja w cienkich warstwach Załamanie

Bardziej szczegółowo

Technologia planarna

Technologia planarna Technologia planarna Wszystkie końcówki elementów wyprowadzone na jedną, płaską powierzchnię płytki półprzewodnikowej Technologia krzemowa a) c) b) d) Wytwarzanie masek (a,b) Wytwarzanie płytek krzemowych

Bardziej szczegółowo

4. Atesty dla powłok organicznych

4. Atesty dla powłok organicznych Temat: NOWE WYMAGANIA DLA KLASY 3 Postanowienie QUALICOAT: Postanowienie Nr 8/TC 23.05.17 Data zatwierdzenia: 24 maj 2017 Data wejscia w życie: 1 września 2017 Zmiany Wymagań: Zmiany w rozdziale 4. Atesty

Bardziej szczegółowo

Wyznaczanie długości fali świetlnej za pomocą spektrometru siatkowego

Wyznaczanie długości fali świetlnej za pomocą spektrometru siatkowego Politechnika Łódzka FTIMS Kierunek: Informatyka rok akademicki: 2008/2009 sem. 2. grupa II Termin: 19 V 2009 Nr. ćwiczenia: 413 Temat ćwiczenia: Wyznaczanie długości fali świetlnej za pomocą spektrometru

Bardziej szczegółowo

Dodatki i uszlachetnienia toreb. Średnica 5 mm dostępna w kilku kolorach.

Dodatki i uszlachetnienia toreb. Średnica 5 mm dostępna w kilku kolorach. Dodatki i uszlachetnienia toreb USZLACHETNIENIA Laminat matowy Laminat błyszczący Laminat matowy + lakier UV wybiórczo Lakier dyspersyjny Tłoczenie suche Tłoczenie na gorąco HOT-STAMPING Uszlachetnia druk,

Bardziej szczegółowo

Piezorezystancyjny czujnik ciśnienia: modelowanie membrany krzemowej podstawowego elementu piezorezystancyjnego czujnika ciśnienia

Piezorezystancyjny czujnik ciśnienia: modelowanie membrany krzemowej podstawowego elementu piezorezystancyjnego czujnika ciśnienia MIKROSYSTEMY - laboratorium Ćwiczenie 1 Piezorezystancyjny czujnik ciśnienia: modelowanie membrany krzemowej podstawowego elementu piezorezystancyjnego czujnika ciśnienia Zadania i cel ćwiczenia. Celem

Bardziej szczegółowo

RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) (13) B1

RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) (13) B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 174002 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 300055 (22) Data zgłoszenia: 12.08.1993 (5 1) IntCl6: H01L21/76 (54)

Bardziej szczegółowo

Modelowanie mikrosystemów - laboratorium. Ćwiczenie 1. Modelowanie ugięcia membrany krzemowej modelowanie pracy mikromechanicznego czujnika ciśnienia

Modelowanie mikrosystemów - laboratorium. Ćwiczenie 1. Modelowanie ugięcia membrany krzemowej modelowanie pracy mikromechanicznego czujnika ciśnienia Modelowanie mikrosystemów - laboratorium Ćwiczenie 1 Modelowanie ugięcia membrany krzemowej modelowanie pracy mikromechanicznego czujnika ciśnienia Zadania i cel ćwiczenia. Celem ćwiczenia jest dobranie

Bardziej szczegółowo

BADANIE INTERFEROMETRU YOUNGA

BADANIE INTERFEROMETRU YOUNGA Celem ćwiczenia jest: BADANIE INTERFEROMETRU YOUNGA 1. poznanie podstawowych właściwości interferometru z podziałem czoła fali w oświetleniu monochromatycznym i świetle białym, 2. demonstracja możliwości

Bardziej szczegółowo

Modelowanie mikrosystemów - laboratorium. Ćwiczenie 1. Modelowanie ugięcia membrany krzemowej modelowanie pracy mikromechanicznego czujnika ciśnienia

Modelowanie mikrosystemów - laboratorium. Ćwiczenie 1. Modelowanie ugięcia membrany krzemowej modelowanie pracy mikromechanicznego czujnika ciśnienia Modelowanie mikrosystemów - laboratorium Ćwiczenie 1 Modelowanie ugięcia membrany krzemowej modelowanie pracy mikromechanicznego czujnika ciśnienia Zadania i cel ćwiczenia. Celem ćwiczenia jest dobranie

Bardziej szczegółowo

Struktura CMOS PMOS NMOS. metal I. metal II. warstwy izolacyjne (CVD) kontakt PWELL NWELL. tlenek polowy (utlenianie podłoża) podłoże P

Struktura CMOS PMOS NMOS. metal I. metal II. warstwy izolacyjne (CVD) kontakt PWELL NWELL. tlenek polowy (utlenianie podłoża) podłoże P Struktura CMOS NMOS metal II metal I PMOS przelotka (VIA) warstwy izolacyjne (CVD) kontakt tlenek polowy (utlenianie podłoża) PWELL podłoże P NWELL obszary słabo domieszkowanego drenu i źródła Physical

Bardziej szczegółowo

Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych

Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych WPŁYW TRAWIENIA CHEMICZNEGO NA PARAMETRY ELEKTROOPTYCZNE KRAWĘDZIOWYCH OGNIW FOTOWOLTAICZNYCH Joanna Kalbarczyk, Marian Teodorczyk, Elżbieta Dąbrowska, Konrad Krzyżak, Jerzy Sarnecki kontakt srebrowy kontakt

Bardziej szczegółowo

Procesy technologiczne w elektronice

Procesy technologiczne w elektronice Procesy technologiczne w elektronice Wytwarzanie monokryształów Si i innych. Domieszkowanie; wytwarzanie złącz. Nanoszenie cienkich warstw. Litografia. Wytwarzanie warstw izolatora. Trawienie. Montowanie

Bardziej szczegółowo

Czyszczenie powierzchni podłoży jest jednym z

Czyszczenie powierzchni podłoży jest jednym z to jedna z największych w Polsce inwestycji w obszarze badań i rozwoju wysokich technologii (high-tech). W jej wyniku powstała sieć laboratoriów wyposażonych w najnowocześniejszą infrastrukturę techniczną,

Bardziej szczegółowo

Jaki kolor widzisz? Doświadczenie pokazuje zjawisko męczenia się receptorów w oku oraz istnienie barw dopełniających. Zastosowanie/Słowa kluczowe

Jaki kolor widzisz? Doświadczenie pokazuje zjawisko męczenia się receptorów w oku oraz istnienie barw dopełniających. Zastosowanie/Słowa kluczowe 1 Jaki kolor widzisz? Abstrakt Doświadczenie pokazuje zjawisko męczenia się receptorów w oku oraz istnienie barw Zastosowanie/Słowa kluczowe wzrok, zmysły, barwy, czopki, pręciki, barwy dopełniające, światło

Bardziej szczegółowo

Wyznaczanie długości fali świetlnej metodą pierścieni Newtona

Wyznaczanie długości fali świetlnej metodą pierścieni Newtona Politechnika Łódzka FTIMS Kierunek: Informatyka rok akademicki: 2008/2009 sem. 2. grupa II Termin: 26 V 2009 Nr. ćwiczenia: 412 Temat ćwiczenia: Wyznaczanie długości fali świetlnej metodą pierścieni Newtona

Bardziej szczegółowo

Ćwiczenie: "Zagadnienia optyki"

Ćwiczenie: Zagadnienia optyki Ćwiczenie: "Zagadnienia optyki" Opracowane w ramach projektu: "Wirtualne Laboratoria Fizyczne nowoczesną metodą nauczania realizowanego przez Warszawską Wyższą Szkołę Informatyki. Zakres ćwiczenia: 1.

Bardziej szczegółowo

ANALIZA SPEKTRALNA I POMIARY SPEKTROFOTOMETRYCZNE. Instrukcja wykonawcza

ANALIZA SPEKTRALNA I POMIARY SPEKTROFOTOMETRYCZNE. Instrukcja wykonawcza ĆWICZENIE 72A ANALIZA SPEKTRALNA I POMIARY SPEKTROFOTOMETRYCZNE 1. Wykaz przyrządów Spektroskop Lampy spektralne Spektrofotometr SPEKOL Filtry optyczne Suwmiarka Instrukcja wykonawcza 2. Cel ćwiczenia

Bardziej szczegółowo

Laboratorium Ochrony przed Korozją. GALWANOTECHNIKA II Ćw. 6: ANODOWE OKSYDOWANIE ALUMINIUM

Laboratorium Ochrony przed Korozją. GALWANOTECHNIKA II Ćw. 6: ANODOWE OKSYDOWANIE ALUMINIUM Akademia Górniczo-Hutnicza im. Stanisława Staszica Wydział Inżynierii Materiałowej i Ceramiki Katedra Fizykochemii i Modelowania Procesów Laboratorium Ochrony przed Korozją GALWANOTECHNIKA II Ćw. 6: ANODOWE

Bardziej szczegółowo

TECHNOLOGIA WYKONANIA PRZYRZĄDÓW PÓŁPRZEWOD- NIKOWYCH WYK. 16 SMK Na pdstw.: W. Marciniak, WNT 1987: Przyrządy półprzewodnikowe i układy scalone,

TECHNOLOGIA WYKONANIA PRZYRZĄDÓW PÓŁPRZEWOD- NIKOWYCH WYK. 16 SMK Na pdstw.: W. Marciniak, WNT 1987: Przyrządy półprzewodnikowe i układy scalone, TECHNOLOGIA WYKONANIA PRZYRZĄDÓW PÓŁPRZEWOD- NIKOWYCH WYK. 16 SMK Na pdstw.: W. Marciniak, WNT 1987: Przyrządy półprzewodnikowe i układy scalone, 1. Technologia wykonania złącza p-n W rzeczywistych złączach

Bardziej szczegółowo

TECHNOLOGIA STRUKTUR MOEMS

TECHNOLOGIA STRUKTUR MOEMS Różne wyniki trawienia krzemu TECHNOLOGIA STRUKTUR MOEMS prof. nzw. Romuald B. Beck Wykład 3 Warszawa, czerwiec 2008 Wytwarzanie belki (belka krzemowa) Magnetic Force Microscope MFM Ostrze do analizy MFM

Bardziej szczegółowo

Struktura CMOS Click to edit Master title style

Struktura CMOS Click to edit Master title style Struktura CMOS Click to edit Master text styles warstwy izolacyjne (CVD) Second Level kontakt tlenek polowy (utlenianie podłoża) NMOS metal II metal I PWELL podłoże P PMOS NWELL przelotka (VIA) obszary

Bardziej szczegółowo

pobrano z serwisu Fizyka Dla Każdego - http://fizyka.dk - zadania z fizyki, wzory fizyczne, fizyka matura

pobrano z serwisu Fizyka Dla Każdego - http://fizyka.dk - zadania z fizyki, wzory fizyczne, fizyka matura 12. Fale elektromagnetyczne zadania z arkusza I 12.5 12.1 12.6 12.2 12.7 12.8 12.9 12.3 12.10 12.4 12.11 12. Fale elektromagnetyczne - 1 - 12.12 12.20 12.13 12.14 12.21 12.22 12.15 12.23 12.16 12.24 12.17

Bardziej szczegółowo

Dlaczego niebo jest niebieskie?

Dlaczego niebo jest niebieskie? Dlaczego niebo jest niebieskie? Obserwując niebo, na pewno zastanawiacie się, jakie przyczyny powstawania różnych kolorów nieba, a zwłaszcza kolor błękitny. Odpowiedź na to pytanie brzmi: przyczyną błękitnego

Bardziej szczegółowo

11. Korozja wysokotemperaturowa

11. Korozja wysokotemperaturowa 11. Korozja wysokotemperaturowa W tym tygodniu podczas zajęć skupimy się na zagadnieniu wysokotemperaturowej korozji gazowej, a dokładniej na kinetyce procesu tworzenia się zgorzeliny (tlenków/siarczków)

Bardziej szczegółowo

Politechnika Wrocławska Wydział Podstawowych Problemów Techniki

Politechnika Wrocławska Wydział Podstawowych Problemów Techniki Politechnika Wrocławska Wydział Podstawowych Problemów Techniki specjalność FOTONIKA 3,5-letnie studia stacjonarne I stopnia (studia inżynierskie) FIZYKA TECHNICZNA Charakterystyka wykształcenia: - dobre

Bardziej szczegółowo

Fotowoltaika i sensory w proekologicznym rozwoju Małopolski

Fotowoltaika i sensory w proekologicznym rozwoju Małopolski Fotowoltaika i sensory w proekologicznym rozwoju Małopolski Photovoltaic and Sensors in Environmental Development of Malopolska Region ZWIĘKSZANIE WYDAJNOŚCI SYSTEMÓW FOTOWOLTAICZNYCH Plan prezentacji

Bardziej szczegółowo

TEORIA TRANZYSTORÓW MOS. Charakterystyki statyczne

TEORIA TRANZYSTORÓW MOS. Charakterystyki statyczne TEORIA TRANZYSTORÓW MOS Charakterystyki statyczne n Aktywne podłoże, a napięcia polaryzacji złącz tranzystora wzbogacanego nmos Obszar odcięcia > t, = 0 < t Obszar liniowy (omowy) Kanał indukowany napięciem

Bardziej szczegółowo

Ceny netto (PLN) cena szt. lączna kwota druk 2 strony. lączna kwota 200 80.00 15.00-0.63 221.00 0.33 287.00 400 80.00 - - 0.59 316.00 0.27 424.

Ceny netto (PLN) cena szt. lączna kwota druk 2 strony. lączna kwota 200 80.00 15.00-0.63 221.00 0.33 287.00 400 80.00 - - 0.59 316.00 0.27 424. nadruk 1 kolor 1 rozmiar 25cm x 30cm (płaska bez wzmocnienia rączki) włoknina polipropylenowa Wigofil 80g/m2 Kolory: biały, szary, beżowy, zielony, niebieski, granatowy, czerwony, brązowy, czarny 200 80.00

Bardziej szczegółowo

ĆWICZENIE 11 CHEMICZNE BARWIENIE METALI I STOPÓW

ĆWICZENIE 11 CHEMICZNE BARWIENIE METALI I STOPÓW ĆWICZENIE 11 CHEMICZNE BARWIENIE METALI I STOPÓW WPROWADZENIE Jednym ze sposobów obróbki powierzchni metali i ich stopów jest barwienie. Proces ten prowadzi się w celach dekoracyjnych, nadania patyny lub

Bardziej szczegółowo

Katedra Fizyki Ciała Stałego Uniwersytetu Łódzkiego. Ćwiczenie 10 Badania powierzchni ciała stałego metodą elipsometryczną

Katedra Fizyki Ciała Stałego Uniwersytetu Łódzkiego. Ćwiczenie 10 Badania powierzchni ciała stałego metodą elipsometryczną Katedra Fizyki Ciała Stałego Uniwersytetu Łódzkiego Ćwiczenie 10 Badania powierzchni ciała stałego metodą elipsometryczną Cel ćwiczenia: Celem ćwiczenia jest pomiar grubości cienkich warstw tlenkowych

Bardziej szczegółowo

Temat: Pomiar współczynnika załamania światła w gazie za pomocą interferometru Michelsona

Temat: Pomiar współczynnika załamania światła w gazie za pomocą interferometru Michelsona Ćwiczenie Nr 450. Temat: Pomiar współczynnika załamania światła w gazie za pomocą interferometru Michelsona 1.iteratura: a) D. Halliday, R. Resnick, J. Walker, Podstawy fizyki 4, PWN, W-wa b) I. W. Sawieliew

Bardziej szczegółowo

Fizyka i technologia złącza PN. Adam Drózd 25.04.2006r.

Fizyka i technologia złącza PN. Adam Drózd 25.04.2006r. Fizyka i technologia złącza P Adam Drózd 25.04.2006r. O czym będę mówił: Półprzewodnik definicja, model wiązań walencyjnych i model pasmowy, samoistny i niesamoistny, domieszki donorowe i akceptorowe,

Bardziej szczegółowo

Przyrządy Półprzewodnikowe

Przyrządy Półprzewodnikowe KATEDRA PRZYRZĄDÓW PÓŁPRZEWODNIKOWYCH I OPTOELEKTRONICZNYCH Laboratorium Mikrotechnologii Przyrządy Półprzewodnikowe Ćwiczenie 1 Sonda czteroostrzowa 2009 1. Podstawy teoretyczne Ćwiczenie 1 Sonda czteroostrzowa

Bardziej szczegółowo

Spis treści. Szkło kwarcowe - dane techniczne 3. Rury kwarcowe 5. Pręty kwarcowe 7. Szkło borokrzemowe - dane techniczne 8. Rury borokrzemowe 10

Spis treści. Szkło kwarcowe - dane techniczne 3. Rury kwarcowe 5. Pręty kwarcowe 7. Szkło borokrzemowe - dane techniczne 8. Rury borokrzemowe 10 Spis treści Szkło kwarcowe - dane techniczne Rury kwarcowe 5 Pręty kwarcowe 7 Szkło borokrzemowe - dane techniczne 8 Rury borokrzemowe 0 Kapilary borokrzemowe 5 Pręty borokrzemowe 6 Rury kolorowe borokrzemowe

Bardziej szczegółowo

Laboratorium Ochrony przed Korozją. Ćw. 9: ANODOWE OKSYDOWANIEALUMINIUM

Laboratorium Ochrony przed Korozją. Ćw. 9: ANODOWE OKSYDOWANIEALUMINIUM Akademia Górniczo-Hutnicza im. Stanisława Staszica Wydział Inżynierii Materiałowej i Ceramiki Katedra Fizykochemii i Modelowania Procesów Laboratorium Ochrony przed Korozją Ćw. 9: ANODOWE OKSYDOWANIEALUMINIUM

Bardziej szczegółowo

Repeta z wykładu nr 10. Detekcja światła. Kondensator MOS. Plan na dzisiaj. fotopowielacz, część 2 MCP (detektor wielokanałowy) streak camera

Repeta z wykładu nr 10. Detekcja światła. Kondensator MOS. Plan na dzisiaj. fotopowielacz, część 2 MCP (detektor wielokanałowy) streak camera Repeta z wykładu nr 10 Detekcja światła Sebastian Maćkowski Instytut Fizyki Uniwersytet Mikołaja Kopernika Adres poczty elektronicznej: mackowski@fizyka.umk.pl Biuro: 365, telefon: 611-3250 fotopowielacz,

Bardziej szczegółowo

Interferencyjny pomiar krzywizny soczewki przy pomocy pierścieni Newtona

Interferencyjny pomiar krzywizny soczewki przy pomocy pierścieni Newtona Interferencyjny pomiar krzywizny soczewki przy pomocy pierścieni Newtona Jakub Orłowski 6 listopada 2012 Streszczenie W doświadczeniu dokonano pomiaru krzywizny soczewki płasko-wypukłej z wykorzystaniem

Bardziej szczegółowo

Elementy technologii mikroelementów i mikrosystemów. Typowe wymagania klasy czystości: 1000/100 (technologie 3 µm)

Elementy technologii mikroelementów i mikrosystemów. Typowe wymagania klasy czystości: 1000/100 (technologie 3 µm) Elementy technologii mikroelementów i mikrosystemów Typowe wymagania klasy czystości: 1000/100 (technologie 3 µm) np. pamięci: 64k 1000/100 >1M 100/10 USF_4 Technologia M.Kujawińska, T.Kozacki, M.Józwik

Bardziej szczegółowo

Wzrost pseudomorficzny. Optyka nanostruktur. Mody wzrostu. Ekscyton. Sebastian Maćkowski

Wzrost pseudomorficzny. Optyka nanostruktur. Mody wzrostu. Ekscyton. Sebastian Maćkowski Wzrost pseudomorficzny Optyka nanostruktur Sebastian Maćkowski Instytut Fizyki Uniwersytet Mikołaja Kopernika Adres poczty elektronicznej: mackowski@fizyka.umk.pl Biuro: 365, telefon: 611-3250 naprężenie

Bardziej szczegółowo

Powłoki cienkowarstwowe

Powłoki cienkowarstwowe Powłoki cienkowarstwowe Wstęp Powody zastosowania powłok znaczne straty energii - w układach o dużej ilości elementów optycznych (dalmierze, peryskopy, wzierniki) przykład : peryskop - 12% światła wchodzącego

Bardziej szczegółowo

Raport końcowy kamienie milowe (KM) zadania 1.2

Raport końcowy kamienie milowe (KM) zadania 1.2 Wydział Chemii Uniwersytet Warszawski Raport końcowy kamienie milowe (KM) zadania 1.2 za okres: 01.07.2009-31.03.2012 Zadanie 1.2 Opracowanie technologii nanowłókien SiC dla nowej generacji czujnika wodoru

Bardziej szczegółowo

Politechnika Lubelska Wydział Elektrotechniki i Informatyki Katedra Urządzeń Elektrycznych i Techniki Wysokich Napięć. Dr hab.

Politechnika Lubelska Wydział Elektrotechniki i Informatyki Katedra Urządzeń Elektrycznych i Techniki Wysokich Napięć. Dr hab. Politechnika Lubelska Wydział Elektrotechniki i Informatyki Katedra Urządzeń Elektrycznych i Techniki Wysokich Napięć Dr hab. Paweł Żukowski Materiały magnetyczne Właściwości podstawowych materiałów magnetycznych

Bardziej szczegółowo

Dyfrakcja. interferencja światła. dr inż. Romuald Kędzierski

Dyfrakcja. interferencja światła. dr inż. Romuald Kędzierski Dyfrakcja i interferencja światła. dr inż. Romuald Kędzierski Zasada Huygensa - przypomnienie Każdy punkt ośrodka, do którego dotarło czoło fali można uważać za źródło nowej fali kulistej. Fale te zwane

Bardziej szczegółowo

Optyka 2012/13 powtórzenie

Optyka 2012/13 powtórzenie strona 1 Imię i nazwisko ucznia Data...... Klasa... Zadanie 1. Słońce w ciągu dnia przemieszcza się na niebie ze wschodu na zachód. W którym kierunku obraca się Ziemia? Zadanie 2. Na rysunku przedstawiono

Bardziej szczegółowo

Ćwiczenie 12 (44) Wyznaczanie długości fali świetlnej przy pomocy siatki dyfrakcyjnej

Ćwiczenie 12 (44) Wyznaczanie długości fali świetlnej przy pomocy siatki dyfrakcyjnej Ćwiczenie 12 (44) Wyznaczanie długości fali świetlnej przy pomocy siatki dyfrakcyjnej Wprowadzenie Światło widzialne jest to promieniowanie elektromagnetyczne (zaburzenie poła elektromagnetycznego rozchodzące

Bardziej szczegółowo

Farby do tkanin TZ. Technical Data Sheet. Farby drukarskie TZ do tkanin

Farby do tkanin TZ. Technical Data Sheet. Farby drukarskie TZ do tkanin Farby drukarskie TZ do tkanin ZASTOSOWANIE Specjalne farby drukarskie do sitodruku przeznaczone do drukowania na różnych wyrobach tekstylnych, zarówno naturalnych jak i syntetycznych, które szczególnie

Bardziej szczegółowo

Części zamienne do opryskiwaczy Hardi. Rozpylacze Zestawy Filtry Karuzele Kalibracja

Części zamienne do opryskiwaczy Hardi. Rozpylacze Zestawy Filtry Karuzele Kalibracja Części zamienne do opryskiwaczy Hardi Rozpylacze Zestawy Filtry Karuzele Kalibracja Indeks artykułów Str. 20 Opryskiwacze Hardi - Rozpylacze... 21 Rozpylacze płaskostrumieniowe Standard - ISO F-110...

Bardziej szczegółowo

I Konferencja. InTechFun

I Konferencja. InTechFun I Konferencja Innowacyjne technologie wielofunkcyjnych materiałów i struktur dla nanoelektroniki, fotoniki, spintroniki i technik sensorowych InTechFun 9 kwietnia 2010 r., Warszawa POIG.01.03.01-00-159/08

Bardziej szczegółowo

BARWY W CHEMII Dr Emilia Obijalska Katedra Chemii Organicznej i Stosowanej UŁ

BARWY W CHEMII Dr Emilia Obijalska Katedra Chemii Organicznej i Stosowanej UŁ BARWY W CHEMII Dr Emilia bijalska Katedra Chemii rganicznej i Stosowanej UŁ Akademia Ciekawej Chemii Czym jest światło? Wzrok człowieka reaguje na fale elektromagnetyczne w zakresie 380-760nm. Potocznie

Bardziej szczegółowo

K A T A L O G P R O D U K T Ó W

K A T A L O G P R O D U K T Ó W K ATALOG PRODUKTÓW SZNUROWADŁA BAWEŁNIANE I INNE SZNUROWADŁA BAWEŁNIANE OKRĄGŁE PŁASKIE WOSKOWANE WOSKOWANE OKRĄGŁE WOSKOWANE PŁASKIE SZNUROWADŁA BAWEŁNOPODOBNE (BAWEŁNO-POLIESTER) SZNUROWADŁA POLIESTROWE

Bardziej szczegółowo

Ćwiczenie nr 34. Badanie elementów optoelektronicznych

Ćwiczenie nr 34. Badanie elementów optoelektronicznych Ćwiczenie nr 34 Badanie elementów optoelektronicznych 1. Cel ćwiczenia Celem ćwiczenia jest zapoznanie się z elementami optoelektronicznymi oraz ich podstawowymi parametrami, a także doświadczalne sprawdzenie

Bardziej szczegółowo

CIENKIE WARSTWY prof. dr hab. inż. Krzysztof Patorski

CIENKIE WARSTWY prof. dr hab. inż. Krzysztof Patorski CIENKIE WARSTWY prof. dr hab. inż. Krzysztof Patorski Nakładając na pewne podłoże (np. powierzchnię soczewki) kilka warstw dielektrycznych (przez naparowanie / napylenie) o odpowiednio dobranych współczynnikach

Bardziej szczegółowo

INSTYTUT INŻYNIERII MATERIAŁOWEJ PŁ LABORATORIUM TECHNOLOGII POWŁOK OCHRONNYCH ĆWICZENIE 1 POWŁOKI KONWERSYJNE-TECHNOLOGIE NANOSZENIA

INSTYTUT INŻYNIERII MATERIAŁOWEJ PŁ LABORATORIUM TECHNOLOGII POWŁOK OCHRONNYCH ĆWICZENIE 1 POWŁOKI KONWERSYJNE-TECHNOLOGIE NANOSZENIA INSTYTUT INŻYNIERII MATERIAŁOWEJ PŁ LABORATORIUM TECHNOLOGII POWŁOK OCHRONNYCH ĆWICZENIE 1 POWŁOKI KONWERSYJNE-TECHNOLOGIE NANOSZENIA WSTĘP TEORETYCZNY Powłoki konwersyjne tworzą się na powierzchni metalu

Bardziej szczegółowo

Procesy kontrolowane dyfuzją. Witold Kucza

Procesy kontrolowane dyfuzją. Witold Kucza Procesy kontrolowane dyfuzją Witold Kucza 1 Nawęglanie Nawęglanie jest procesem, w którym powierzchnia materiału podlega dyfuzyjnemu nasyceniu węglem. Nawęglanie (z następującym po nim hartowaniem i odpuszczaniem)

Bardziej szczegółowo

Aleksandra Banaś Dagmara Zemła WPPT/OPTOMETRIA

Aleksandra Banaś Dagmara Zemła WPPT/OPTOMETRIA Aleksandra Banaś Dagmara Zemła WPPT/OPTOMETRIA B V B C ZEWNĘTRZNE POLE ELEKTRYCZNE B C B V B D = 0 METAL IZOLATOR PRZENOSZENIE ŁADUNKÓW ELEKTRYCZNYCH B C B D B V B D PÓŁPRZEWODNIK PODSTAWOWE MECHANIZMY

Bardziej szczegółowo

Wykład 17: Optyka falowa cz.1.

Wykład 17: Optyka falowa cz.1. Wykład 17: Optyka falowa cz.1. Dr inż. Zbigniew Szklarski Katedra Elektroniki, paw. C-1, pok.31 szkla@agh.edu.pl http://layer.uci.agh.edu.pl/z.szklarski/ 1 Zasada Huyghensa Christian Huygens 1678 r. pierwsza

Bardziej szczegółowo

Uwaga! Na zamówienie dostarczamy także szkło i dodatki BAOLI C.O.E. 90 i 96 ceny i kolory identyczne

Uwaga! Na zamówienie dostarczamy także szkło i dodatki BAOLI C.O.E. 90 i 96 ceny i kolory identyczne Szkło do fusing'u Baoli wrzesień 2015 Uwaga! Na zamówienie dostarczamy także szkło i dodatki BAOLI C.O.E. 90 i 96 ceny i kolory identyczne Baoli szkło, wym. 40x50cm, grubość 2mm cena za m2 cena za arkusz

Bardziej szczegółowo

Optyka geometryczna Tadeusz M.Molenda Instytut Fizyki, Uniwersytet Szczeciński. Załamanie światła

Optyka geometryczna Tadeusz M.Molenda Instytut Fizyki, Uniwersytet Szczeciński. Załamanie światła Optyka geometryczna Tadeusz M.Molenda Instytut Fizyki, Uniwersytet Szczeciński Załamanie światła Załamania na granicy dwóch ośrodków normalna promień padający ośrodek 1 płaszczyzna padania v 1 v 2 ośrodek

Bardziej szczegółowo

Politechnika Warszawska Instytut Mikroelektroniki i Optoelektroniki Zakład Optoelektroniki

Politechnika Warszawska Instytut Mikroelektroniki i Optoelektroniki Zakład Optoelektroniki Politechnika Warszawska Instytut Mikroelektroniki i Optoelektroniki Zakład Optoelektroniki LASEROWY POMIAR ODLEGŁOŚCI INTERFEROMETREM MICHELSONA Instrukcja wykonawcza do ćwiczenia laboratoryjnego ćwiczenie

Bardziej szczegółowo

Skalowanie układów scalonych

Skalowanie układów scalonych Skalowanie układów scalonych Technologia mikroelektroniczna Charakterystyczne parametry najmniejszy realizowalny rozmiar (ang. feature size), liczba bramek (układów) na jednej płytce, wydzielana moc, maksymalna

Bardziej szczegółowo

Własności optyczne półprzewodników

Własności optyczne półprzewodników Własności optyczne półprzewodników Andrzej Wysmołek Wykład przygotowany w oparciu o wykłady prowadzone na Wydziale Fizyki UW przez prof. Mariana Grynberga oraz prof. Romana Stępniewskiego Klasyfikacja

Bardziej szczegółowo

Makijaż zasady ogólne

Makijaż zasady ogólne Makijaż Makijaż zasady ogólne -relatywizm barw, -światłocień, -perspektywa barwna, -podział kolorów, -technika monochromatyczna, -zasada kontrastu (kolory dopełniające się). relatywizm barw relatywizm

Bardziej szczegółowo

Właściwości kryształów

Właściwości kryształów Właściwości kryształów Związek pomiędzy właściwościami, strukturą, defektami struktury i wiązaniami chemicznymi Skład i struktura Skład materiału wpływa na wszystko, ale głównie na: właściwości fizyczne

Bardziej szczegółowo

( Wersja A ) WYZNACZANIE PROMIENI KRZYWIZNY SOCZEWKI I DŁUGOŚCI FALI ŚWIETLNEJ ZA POMOCĄ PIERŚCIENI NEWTONA.

( Wersja A ) WYZNACZANIE PROMIENI KRZYWIZNY SOCZEWKI I DŁUGOŚCI FALI ŚWIETLNEJ ZA POMOCĄ PIERŚCIENI NEWTONA. 0.X.203 ĆWICZENIE NR 8 ( Wersja A ) WYZNACZANIE PROMIENI KRZYWIZNY SOCZEWKI I DŁUGOŚCI FALI ŚWIETLNEJ ZA POMOCĄ PIERŚCIENI NEWTONA. I. Zestaw przyrządów:. Mikroskop. 2. Płytki szklane płaskorównoległe.

Bardziej szczegółowo

INFORMACJA O PRODUKCIE

INFORMACJA O PRODUKCIE GmbH INFORMACJA O PRODUKCIE Uniwersalna żyła giętka z rozszerzonym zakresem temperatury pracy Bezhalogenowy Odporny na temperaturę Info Żyła miedziana giętka, cienkodrutowa Zakres zastosowania Obszary

Bardziej szczegółowo

I Konferencja. InTechFun

I Konferencja. InTechFun I Konferencja Innowacyjne technologie wielofunkcyjnych materiałów i struktur dla nanoelektroniki, fotoniki, spintroniki i technik sensorowych InTechFun 9 kwietnia 2010 r., Warszawa POIG.01.03.01-00-159/08

Bardziej szczegółowo

Interferencja jest to zjawisko nakładania się fal prowadzące do zwiększania lub zmniejszania amplitudy fali wypadkowej. Interferencja zachodzi dla

Interferencja jest to zjawisko nakładania się fal prowadzące do zwiększania lub zmniejszania amplitudy fali wypadkowej. Interferencja zachodzi dla Interferencja jest to zjawisko nakładania się fal prowadzące do zwiększania lub zmniejszania amplitudy fali wypadkowej. Interferencja zachodzi dla wszystkich rodzajów fal, we wszystkich ośrodkach, w których

Bardziej szczegółowo

Stałe : h=6, Js h= 4, eVs 1eV= J nie zależy

Stałe : h=6, Js h= 4, eVs 1eV= J nie zależy T_atom-All 1 Nazwisko i imię klasa Stałe : h=6,626 10 34 Js h= 4,14 10 15 evs 1eV=1.60217657 10-19 J Zaznacz zjawiska świadczące o falowej naturze światła a) zjawisko fotoelektryczne b) interferencja c)

Bardziej szczegółowo

Pomiar współczynnika pochłaniania światła

Pomiar współczynnika pochłaniania światła Politechnika Łódzka FTIMS Kierunek: Informatyka rok akademicki: 2008/2009 sem. 2. grupa II Termin: 12 V 2009 Nr. ćwiczenia: 431 Temat ćwiczenia: Pomiar współczynnika pochłaniania światła Nr. studenta:

Bardziej szczegółowo

Technologia elementów optycznych

Technologia elementów optycznych Technologia elementów optycznych dr inż. Michał Józwik pokój 507a jozwik@mchtr.pw.edu.pl Część 1 Treść wykładu Specyfika wymagań i technologii elementów optycznych. Ogólna struktura procesów technologicznych.

Bardziej szczegółowo

Długopisy metalowe GWARANTUJEMY NAJWYŻSZĄ JAKOŚĆ GRAWERU

Długopisy metalowe GWARANTUJEMY NAJWYŻSZĄ JAKOŚĆ GRAWERU AGENCJA REKLAMOWA 85-7 Bydgoszcz, ul. Leszczyńskiego 12/1 tel. 52 376 49 15, 52 5 e-mail: xb@xb.com.pl Cennik z dnia 28-02-14 Ważny do wydania nowego cennika. Zawsze aktualne cenniki na www.xb.com.pl Długopisy

Bardziej szczegółowo

PODSTAWY BARWY, PIGMENTY CERAMICZNE

PODSTAWY BARWY, PIGMENTY CERAMICZNE PODSTAWY BARWY, PIGMENTY CERAMICZNE Barwa Barwą nazywamy rodzaj określonego ilościowo i jakościowo (długość fali, energia) promieniowania świetlnego. Głównym i podstawowym źródłem doznań barwnych jest

Bardziej szczegółowo

OP6 WIDZENIE BARWNE I FIZYCZNE POCHODZENIE BARW W PRZYRODZIE

OP6 WIDZENIE BARWNE I FIZYCZNE POCHODZENIE BARW W PRZYRODZIE OP6 WIDZENIE BARWNE I FIZYCZNE POCHODZENIE BARW W PRZYRODZIE I. Wymagania do kolokwium: 1. Fizyczne pojęcie barwy. Widmo elektromagnetyczne. Związek między widmem światła i wrażeniem barwnym jakie ono

Bardziej szczegółowo

Metody wytwarzania elementów półprzewodnikowych

Metody wytwarzania elementów półprzewodnikowych Metody wytwarzania elementów półprzewodnikowych Ryszard J. Barczyński, 2010 2015 Politechnika Gdańska, Wydział FTiMS, Katedra Fizyki Ciała Stałego Materiały dydaktyczne do użytku wewnętrznego Wytwarzanie

Bardziej szczegółowo

Długopisy metalowe GWARANTUJEMY NAJWYŻSZĄ JAKOŚĆ GRAWERU

Długopisy metalowe GWARANTUJEMY NAJWYŻSZĄ JAKOŚĆ GRAWERU AGENCJA REKLAMOWA 85-7 Bydgoszcz, ul. Leszczyńskiego 12/1 tel. 52 376 49 15, e-mail: xb@xb.com.pl Cennik z dnia 27-02- Ważny do wydania nowego cennika. Zawsze aktualne cenniki na www.xb.com.pl w zakładce

Bardziej szczegółowo

POLITECHNIKA ŁÓDZKA INSTYTUT FIZYKI LABORATORIUM FIZYKI KRYSZTAŁÓW STAŁYCH. ĆWICZENIE Nr 1. Optyczne badania kryształów

POLITECHNIKA ŁÓDZKA INSTYTUT FIZYKI LABORATORIUM FIZYKI KRYSZTAŁÓW STAŁYCH. ĆWICZENIE Nr 1. Optyczne badania kryształów OLITECHNIK ŁÓDZK INSTYTUT FIZYKI LBORTORIUM FIZYKI KRYSZTŁÓW STŁYCH ĆWICZENIE Nr 1 Optyczne badania kryształów Cel ćwiczenia Celem ćwiczenia jest poznanie przyrządów i metod do badań optycznych oraz cech

Bardziej szczegółowo

PDF stworzony przez wersję demonstracyjną pdffactory

PDF stworzony przez wersję demonstracyjną pdffactory Promieniowanie elektromagnetyczne (fala elektromagnetyczna) rozchodzące się w przestrzeni zaburzenie pola elektromagnetycznego. Zaburzenie to ma charakter fali poprzecznej, w której składowa elektryczna

Bardziej szczegółowo

Badanie elementów składowych monolitycznych układów scalonych II

Badanie elementów składowych monolitycznych układów scalonych II 1 Wydział Elektroniki Mikrosystemów i Fotoniki Politechniki Wrocławskiej STUDIA DZIENNE Ćwiczenie nr 14 LABORATORIUM PRZYRZĄDÓW PÓŁPRZEWODNIKOWYCH Badanie elementów składowych monolitycznych układów scalonych

Bardziej szczegółowo

LABORATORIUM FIZYKI PAŃSTWOWEJ WYŻSZEJ SZKOŁY ZAWODOWEJ W NYSIE

LABORATORIUM FIZYKI PAŃSTWOWEJ WYŻSZEJ SZKOŁY ZAWODOWEJ W NYSIE LABORATORIUM FIZYKI PAŃSTWOWEJ WYŻSZEJ SZKOŁY ZAWODOWEJ W NYSIE Ćwiczenie nr 6 Temat: Wyznaczenie stałej siatki dyfrakcyjnej i dyfrakcja światła na otworach kwadratowych i okrągłych. 1. Wprowadzenie Fale

Bardziej szczegółowo

ELEMENTY ELEKTRONICZNE

ELEMENTY ELEKTRONICZNE AKADEMIA GÓRNICZO-HUTNICZA IM. STANISŁAWA STASZICA W KRAKOWIE Wydział Elektrotechniki, Automatyki, Informatyki i Elektroniki Katedra Elektroniki ELEMENTY ELEKTRONICZNE dr inż. Piotr Dziurdzia paw. C-3,

Bardziej szczegółowo

Rekapitulacja. Detekcja światła. Rekapitulacja. Rekapitulacja

Rekapitulacja. Detekcja światła. Rekapitulacja. Rekapitulacja Rekapitulacja Detekcja światła Sebastian Maćkowski Instytut Fizyki Uniwersytet Mikołaja Kopernika Adres poczty elektronicznej: mackowski@fizyka.umk.pl Biuro: 365, telefon: 611-3250 Konsultacje: czwartek

Bardziej szczegółowo

Problemy optyki falowej. Teoretyczne podstawy zjawisk dyfrakcji, interferencji i polaryzacji światła.

Problemy optyki falowej. Teoretyczne podstawy zjawisk dyfrakcji, interferencji i polaryzacji światła. . Teoretyczne podstawy zjawisk dyfrakcji, interferencji i polaryzacji światła. Rozwiązywanie zadań wykorzystujących poznane prawa I LO im. Stefana Żeromskiego w Lęborku 27 luty 2012 Dyfrakcja światła laserowego

Bardziej szczegółowo

Sposób i urządzenie do odzysku materiałów krzemowych z ogniw fotowoltaicznych

Sposób i urządzenie do odzysku materiałów krzemowych z ogniw fotowoltaicznych Sposób i urządzenie do odzysku materiałów krzemowych z ogniw fotowoltaicznych 5 30 Przedmiotem wynalazku jest sposób i urządzenie do kontrolowanego i automatycznego odzysku materiałów krzemowych z ogniw

Bardziej szczegółowo

Załącznik nr 1. Projekty struktur falowodowych

Załącznik nr 1. Projekty struktur falowodowych Załącznik nr 1 do sprawozdania merytorycznego z realizacji projektu badawczego Szybka nieliniowość fotorefrakcyjna w światłowodach półprzewodnikowych do zastosowań w elementach optoelektroniki zintegrowanej

Bardziej szczegółowo

Skalowanie układów scalonych Click to edit Master title style

Skalowanie układów scalonych Click to edit Master title style Skalowanie układów scalonych Charakterystyczne parametry Technologia mikroelektroniczna najmniejszy realizowalny rozmiar (ang. feature size), liczba bramek (układów) na jednej płytce, wydzielana moc, maksymalna

Bardziej szczegółowo

Własności optyczne materii. Jak zachowuje się światło w zetknięciu z materią?

Własności optyczne materii. Jak zachowuje się światło w zetknięciu z materią? Własności optyczne materii Jak zachowuje się światło w zetknięciu z materią? Właściwości optyczne materiału wynikają ze zjawisk: Absorpcji Załamania Odbicia Rozpraszania Własności elektrycznych Refrakcja

Bardziej szczegółowo

Stanowisko do badania zjawiska tłumienia światła w ośrodkach materialnych

Stanowisko do badania zjawiska tłumienia światła w ośrodkach materialnych Stanowisko do badania zjawiska tłumienia światła w ośrodkach materialnych Na rys. 3.1 przedstawiono widok wykorzystywanego w ćwiczeniu stanowiska pomiarowego do badania zjawiska tłumienia światła w ośrodkach

Bardziej szczegółowo

E 4. Poradnik doboru kolorów. Informacja techniczna. Sprawdzenie koloru

E 4. Poradnik doboru kolorów. Informacja techniczna. Sprawdzenie koloru Sprawdzenie koloru Dobrze wykonana naprawa lakiernicza oznacza czasem konieczność dobarwiania, cieniowania lub polerowania starej powłoki. Stąd godne polecenia jest dokładne porównanie koloru renowacyjnego

Bardziej szczegółowo

Państwowa Wyższa Szkoła Zawodowa

Państwowa Wyższa Szkoła Zawodowa Państwowa Wyższa Szkoła Zawodowa w Legnicy Laboratorium Podstaw Elektroniki i Miernictwa Ćwiczenie nr 2 PRWO OHM. BDNIE DWÓJNIKÓW LINIOWYCH I NIELINIOWYCH . Cel ćwiczenia. - Zapoznanie się z właściwościami

Bardziej szczegółowo

Fotoelementy. Symbole graficzne półprzewodnikowych elementów optoelektronicznych: a) fotoogniwo b) fotorezystor

Fotoelementy. Symbole graficzne półprzewodnikowych elementów optoelektronicznych: a) fotoogniwo b) fotorezystor Fotoelementy Wstęp W wielu dziedzinach techniki zachodzi potrzeba rejestracji, wykrywania i pomiaru natężenia promieniowania elektromagnetycznego o różnych długościach fal, w tym i promieniowania widzialnego,

Bardziej szczegółowo

Kationy grupa analityczna I

Kationy grupa analityczna I Kompendium - Grupy analityczne kationów Kationy grupa analityczna I Odczynnik Ag + Hg 2 2+ Pb 2+ roztwór bezbarwny roztwór bezbarwny roztwór bezbarwny HCl rozc. biały osad [1] biały osad [2] biały osad

Bardziej szczegółowo

Badanie własności półprzewodnikowych diod świecących

Badanie własności półprzewodnikowych diod świecących Warszawa, 3 marca 2003 Badanie własności półprzewodnikowych diod świecących Ryszard Kostecki Wydział Fizyki, Uniwersytet Warszawski Streszczenie Praca ta zawiera przedstawienie i analizę wyników przeprowadzonego

Bardziej szczegółowo