Eugeniusz RATAJCZYK 1) Arkadiusz ADAMCZYK 2) Porównanie dokładności skanerów laserowych z użyciem współrzędnościowego ramienia pomiarowego

Wielkość: px
Rozpocząć pokaz od strony:

Download "Eugeniusz RATAJCZYK 1) Arkadiusz ADAMCZYK 2) Porównanie dokładności skanerów laserowych z użyciem współrzędnościowego ramienia pomiarowego"

Transkrypt

1 1 Eugeniusz RATAJCZYK 1) Arkadiusz ADAMCZYK 2) Porównanie dokładności skanerów laserowych z użyciem współrzędnościowego ramienia pomiarowego W pomiarach współrzędnościowych [1,2] coraz częściej stosuje się, zamiast głowic (sond) pracujących stykowo, sknery laserowe, które powalają wyznaczyć z dużej liczby punktów wymiary przedmiotu i jako pomiary skaningowe, charakteryzują się stosunkowo dużą wydajnością i kompleksowością pomiaru. Jak jest ich dokładność pomiaru? na to pytanie podjęli się odpowiedzieć autorzy w odniesieniu do dwóch typów skanerów MMDx100 i MMCx160 firmy NIKON METROLOGY [16]. Przy czym, by wyniki miały użyteczny charakter badania przeprowadzono na przykładzie typowego elementu motoryzacyjnego, jakim był korpus reduktora dwustopniowego gazu silnika samochodowego wykonanego ze stopu aluminiowego, stosując w pomiarach współrzędnościowych ramię pomiarowe MCAx firmy NIKON METROLOGY [16]. Charakterystyka współrzędnościowego ramienia pomiarowego W badaniach zastosowano siedmioosiowe współrzędnościowe ramię pomiarowe MCAx firmy NIKON METROLOGY, którego widok przedstawiono na rys Rys.1. Widok współrzędnościowego ramienia pomiarowego MCAx 1) prof. Eugeniusz Ratajczyk Wyższa Szkoła Ekologii i Zarządzania w Warszawie 2) Mgr inż. Arkadiusz Adamczyk Firma Smart Solutions w Warszawie

2 2 Ramię pomiarowe prezentowane na rys.1 zbudowane jest z następujących zespołów i elementów [3,5,6,7,8,9]: - podstawa 1 (zwana stopką) umożliwiająca mocowanie ramienia do powierzchni stołu lub statywu poprzez łączenie magnetyczne lub śrubowe lub podciśnieniowe, - korpus 2 zapewniający łączność bezprzewodową (Wi-Fi) oraz zasilanie bateryjne (Li-Ion), -przeciwwaga Zero-G 3 kompensująca masę ramienia i tym samym zwiększająca komfort pracy operatora przy wykonywaniu przemieszczeń kątowych ramienia, -tuby 4 ramienia wykonane z włókien węglowych zapewniające stosunkowo małą podatność na wpływy temperatury i odznaczające się wysoką sztywnością i małą masą, - jeden z obrotowych przegubów 5 zapewniający płynny obrót ramienia w dwóch płaszczyznach, - obrotowy uchwyt 6 ułatwiający przemieszczanie ramieniem oraz izolujący ramię od ciepła ręki operatora, - głowica 7 może być wyposażona w laserową głowicę skanującą i głowicę stykową tworząc zintegrowany układ lub tylko w głowicę do pomiarów stykowych, - mierzony przedmiot 8, w tym przypadku z widoczną linią pomiarową pochodzącą od skanera laserowego. W badaniach zastosowano ramię pomiarowe MCAx o zakresie pomiarowym wynoszącym 2,5m. Błąd maksymalny - powtarzalności punktu tj. wg testu pojedynczego punktu (single point articulation performance-test B) jak i błąd przestrzenny wg testu przestrzennego (volumetric performance-test C) zgodnie z normą ASME [3,4] wynoszą dla zastosowanego ramienia odpowiednio wg testu B ±0,021mm i wg testu C ±0,017mm. Charakterystyka zastosowanych skanerów laserowych Firma Nikon Metrology oferuje dwa rodzaje skanerów laserowych o symbolach MMDx i MMCx. Przy czym Model MMDx wykonywany jest w trzech odmianach różniących się zakresem pomiarowym i dokładnością, a model MMCx w dwóch odmianach. Do badań wybrano skaner z pierwszej grupy o symbolu MDx100 i z drugiej grupy MMCx160. Ich główne parametry zamieszczono w tabeli 1, a zdjęcie skanera zintegrowanego z głowicą stykową pokazano na rys.2. Tabela 2. Główne parametry skanerów MMDx100 oraz MMCx160. Nazwa parametru Typ skanera MMDx100 MMCx160 Szerokość wiązki 100 mm 160 mm Początek zakresu pomiarowego 100 mm 110 mm Zakres pomiarowy: 100 mm 150 mm Błąd pomiaru przestrzennego (1σ) 10 µm 34 µm Liczba punktów na linię Maksymalna prędkość skanowania (linii na sekundę) Maksymalna liczba punktów na sekundę

3 3 Masa skanera 400 g 400 g Rys.2. Widok zintegrowanego skanera laserowego Skaner laserowy działa na zasadzie triangulacji, co oznacza, że głowica generuje linię świetlną, która po uformowaniu przez układ optyczny jest widoczna na mierzonym obiekcie. Obraz tej linii jest odtwarzany przez układ optyczny na fotodetektorze. Na rys.3 pokazany jest schemat działania. Przy maksymalnej liczbie punktów skanowania na linię wynoszących 1000 lub 800 przy prędkości skanowania 30 linii na sekundę uzyskuje się lub punktów na sekundę [13]. Rys.3. Schemat działania skanera laserowego Skanery serii MMDx i MMCx dostosowują moc lasera do rodzaju powierzchni badanego przedmiotu uwzględniając kolor i refleksyjność. Skanery serii MMDx filtrują wszystkie refleksy światła laserowego z każdego kierunku. Mogą więc skanować części wypukłe, które często są generatorem różnych refleksów zbieranych przez skaner. Wymienione skanery współdziałają z oprogramowaniem Focus, który po zebraniu punktów i ich obróbce np. przez tworzenie siatki trójkątów doprowadza do utworzenia modelu CAD.

4 4 Krótka charakterystyka oprogramowania FOCUS INSPECTION Focus Inspection jest to program opracowany przez firmę Nikon Metrology (dawniej Metris) i jest przeznaczony do zbierania oraz obróbki danych pomiarowych. Domyślnie powstał jako program dedykowany do kontroli danych pochodzących z innych programów, obecnie jednak pozwala również na wykonanie pomiarów i współpracę z całą gamą urządzeń pomiarowych wielu producentów. Wygląd okna programu Focus Inspection przedstawiony został na rys.4. Rys.4. Wygląd okna głównego programu Focus Inpection 9.2. Interfejs Inspection zawiera przyciski i grupy przycisków, które pozwalają na analizę danych. Najważniejsze z nich to: A Pasek narzędzi ogólnych i narzędzia widoku B Zakładki widoku programu: nominały, zmierzone, dopasowanie, porównanie i raport. C Pasek narzędzi roboczych zawiera funkcje obróbki i analizy danych w programie. D Okno drzewa elementów: Nominalne, Zmierzone i Raporty E Ekran widoku elementów. W grudniu 2011 roku Nikon Metrology wprowadził na rynek program Focus 10 (Focus Inspection 10), w którym zostały zaimplementowane funkcje programu Focus Handheld, umożliwiając tym samym zarówno przeprowadzanie pomiaru jak i obróbkę danych w jednym oprogramowaniu. W niniejszej pracy badawczej został zastosowany Program Focus w wersji 10.3 zarówno do zbierania jak i późniejszej obróbki skanów. Okno programu zostało przedstawione na rys.5.

5 5 Rys.5. Widok okna głównego programu FOCUS INSPECTION 10.3 Program ten podzielony jest na następujące zakładki: Nominal (Nominał) w tej zakładce znajdują się funkcje związane z wczytywaniem i obróbką elementu odniesienia np. modelu CAD. Scan (Skanowanie) zakładka odpowiadająca za kalibrację głowicy, ustawianie parametrów skanowania oraz skanowanie elementu mierzonego. Zawartość tej zakładki jest zróżnicowana w zależności od urządzenia z jakim połączony jest program np. maszyna współrzędnościowa wyposażona w skaner scan, ramię pomiarowe handheld measurement. Measured (Zmierzone) zakładka, w której umieszczone zostały wszystkie funkcje obróbki zebranych punktów pomiarowych. Znajdują się tutaj opcje filtracji i edycji skanów, tworzenie siatki trójkątów z chmur punktów, możliwość wykrywania elementów geometrycznych oraz tworzenie i edycja przekrojów. Compare (Porównanie) jest to zakładka, która umożliwia porównanie otrzymanych skanów z elementem odniesienia. Może to być zarówno porównanie wymiarowe jak i za pomocą kolorowej mapy punktów. Report (Raport) zakładka zawierająca funkcje związane z wyciąganiem wymiarów oraz generowania raportów pomiarowych: graficznych, tabelarycznych lub mieszanych. Zakładki te ustawione są w taki sposób aby odzwierciedlać kolejność postępowania podczas pomiaru (workflow), tak więc po kolei odbywa się: wczytanie modelu (o ile istnieje), skanowanie elementu, obróbka i triangularyzacja zmierzonych punktów, porównanie do modelu, wyciągnięcie wymiarów i na koniec wygenerowanie raportu. Podany proces nie

6 6 uwzględnia jednak kalibracji, która powinna być wykonana przed pomiarami dla każdego nowego miejsca i warunków pracy. Kalibracja skanera Kalibracja zespołu skaner-ramię wykonywana jest w celu minimalizacji błędów pomiarowych i przeprowadzana jest po odłączeniu skanera od ramienia, po przemieszczeniu ramienia ze skanerem do nowego miejsca pracy o innych warunkach lub w przypadku znacznej zmiany warunków otoczenia (temperatury, wilgotności, zapylenia). Do kalibracji użyto specjalnie przygotowaną dokładnie wykonaną, płytę kalibracyjną dołączaną w zestawie do każdego skanera. Długość boku oraz odchyłka płaskości powierzchni są znane i zapisane w certyfikacie. Na płycie kalibracyjnej wyróżnia trzy powierzchnie pomiarowe: powierzchnie górną w kolorze białym oraz przeciwległe boki w kolorze czarnym, które to boki nie biorą udziału w procesie kalibracji. Kalibracja skanera składa się z dziewięciu kroków. W każdym z nich mierzy się określoną powierzchnię pomiarową w wyświetlany na ekranie sposób. Każdy krok kalibracji jest opisany oraz zilustrowany na ekranie. Kolejne kroki kalibracji ilustrowane na ekranie (ze względu na utrzymanie rozsądnej objętości artykułu autorzy zamieszczają tylko jedną z dziewięciu ilustracji- rys.6) są następujące: Krok pierwszy. Pomiar bocznej powierzchni pomiarowej z prostopadle ustawioną wiązką, bez poruszania skanerem Krok drugi. Powtórzenie kroku pierwszego dla drugiej bocznej powierzchni pomiarowej. Krok trzeci. Zeskanowanie górnej powierzchni pomiarowej równolegle do bocznych powierzchni pomiarowych. Wiązka padająca prostopadle. Krok czwarty. Zeskanowanie górnej powierzchni pomiarowej prostopadle do bocznych powierzchni pomiarowych. Wiązka padająca prostopadle. Krok piąty. Pomiar środka powierzchni górnej pod kątem. Skaner za punktem pionu. Pomiar odbywa się przybliżając i oddalając skaner od elementu Krok szósty. Pomiar środka powierzchni górnej pod kątem. Skaner przed punktem pionu. Pomiar odbywa się przybliżając i oddalając skaner od elementu. Krok siódmy. Pomiar środka powierzchni górnej pod kątem. Skaner odchylony w lewo od pionu. Pomiar odbywa się przybliżając i oddalając skaner od elementu. Krok ósmy. Pomiar środka powierzchni górnej pod kątem. Skaner odchylony w prawo od pionu. Pomiar odbywa się przybliżając i oddalając skaner od elementu. Krok dziewiąty (rys.6). Pomiar środka powierzchni górnej z prostopadle padającą wiązką. Szybkie przybliżanie i oddalanie od powierzchni.

7 7 Rys.6. Ilustracja pomiaru w ramach kroku dziewiątego pomiar środka powierzchni górnej płyty kalibracyjnej za pomocą prostopadle padającej wiązki ze skanera Po wykonaniu wszystkich dziewięciu kroków na ekranie pojawią się wyniki w formie odchylenia standardowego. Operator może zaakceptować wyniki lub w przypadku gdy będą one niezadowalające, kliknąć Powtórz (Retry) w celu ponownego wykonania kalibracji. Uzyskane wyniki kalibracji skanerów MMDx100 oraz MMCx160 są następujące: Skaner MMDx100 Condition number 16 Deviation (sigma) 0,016mm Skaner MMCx160 Condition number 14 Deviation (sigma) 0,047mm Podane wartość odchyłek (1σ) wyliczane są jako dwukrotność największej odchyłki wyznaczonej podczas kalibracji płaszczyzn od płaszczyzny najlepszego dopasowania i stanowią wynikową wartość odchyłek dla całego zestawu ramię+skaner. Przebieg i wyniki pomiarów elementu aluminiowego Jak już zaznaczono wcześniej badaniu poddano element, którego widok w postaci modelu CAD przedstawia rys.7. Rys.7. Widok modelu CAD badanego elementu w programie Focus Przedmiotem badań było wyznaczenie wybranych wymiarów (cech) przedmiotu pokazanego na rys.7, a mianowicie dwunastu małych otworów oznaczonych symbolami od d1

8 8 do d12 (rys.8a), dwanaście wymiarów będących odległościami między małymi otworami oznaczonymi symbolami od dim2-1 do dim2-12 (rys.8b) i trzech wymiarów w postaci odległości wgłębień mierzonych od powierzchni czołowej elementu oznaczonych symbolami dim1, dim2 i dim3 (rys.9). a) b) Rys.8. Mierzone wymiary: a) średnice małych otworów, b) odległości między osiami małych otworów Rys.9. Wymiary określające odległości z między powierzchnią czołową przedmiotu a wgłębieniami oznaczonym jako dim1, dim2 i dim3. Wartości nominalne poszczególnych grup wymiarowych wynoszą: średnic małych otworów d1 d12 4,4mm, odległości między nimi dim2_1 dim2_12 36,5mm oraz wymiary wgłębień dim1 28,7mm, dim2 i dim3 24,2mm. Przetworzone wyniki pomiarów obejmujące wartości średnie z dziesięciu zmierzonych wartości każdego wymiaru oraz wartości odchyleń standardowych i rozstępu przedstawiono w tabl.1 [10,11].

9 9 Tablica 1. Wartości głównych parametrów zmierzonych cech (wymiarów) Wartośd średnia Odch. standardowe Rozstęp Cecha (wymiar) MMDx100 MMCx160 MMDx100 MMCx160 MMDx100 MMCx160 d d d d d d d d d d d d dim dim dim dim2_ dim2_ dim2_ dim2_ dim2_ dim2_ dim2_ dim2_ dim2_ dim2_ dim2_ dim2_ Wartości parametrów zamieszczonych w tabl.1. pozwoliły na przeprowadzenie analizy porównawczej dokładności obu skanerów, a także dokładności wykonania badanego elementu poprzez porównanie uzyskanych z pomiaru danych względem wymiarów nominalnych. W pierwszej kolejności zbadana została różnica średnich wartości kolejnych grup, wymiarowych (cech) mająca na celu zobrazowanie rozbieżności między wynikami poszczególnych badanych parametrów. Na rys.10 przedstawiono w postaci wykresu różnice między wartościami średnimi wyznaczenia poszczególnych wymiarów otrzymanych z obu skanerów. Jak widać na przedstawionym wykresie różnica wskazań była zmienna w zależności od badanej cechy. Maksymalna wartość bezwzględna różnicy wyniosła 0,0777 mm dla średnicy otworu d12, natomiast minimalna 0,003 mm dla wymiaru dim2_5. Średnia z różnic wyniosła 0,0044 mm, a średnia z wartości bezwzględnej różnic 0,015 mm. Z przedstawionego wykresu można zauważyć, że największe różnice wynikły na pomiarze

10 d1 d2 d3 d4 d5 d6 d7 d8 d9 d10 d11 d12 dim1 dim2 dim3 dim2_1 dim2_2 dim2_3 dim2_4 dim2_5 dim2_6 dim2_7 dim2_8 dim2_9 dim2_10 dim2_11 dim2_12 Odchylenie standardowe [mm] d1 d2 d3 d4 d5 d6 d7 d8 d9 d10 d11 d12 dim1 dim2 dim3 dim2_1 dim2_2 dim2_3 dim2_4 dim2_5 dim2_6 dim2_7 dim2_8 dim2_9 dim2_10 dim2_11 dim2_12 Różnica wskazao [mm] 10 średnic charakterystyki d1-d12, gdzie maksymalny rozrzut średnich wyników wyniósł 0,144 mm. Dla wszystkich pomiarów głębokości (dim1 - dim3) różnica utrzymywała się na poziomie 0,03 mm. Najmniejsze zmiany wskazania zaobserwowano dla wymiarów liniowych, gdzie różnice nie przekroczyły 0,015 mm (średnio wynosiły 0,004 mm). 0,14 0,12 0,1 0,08 0,06 0,04 0,02 0 Rys.10. Wykres różnic średnich wartości poszczególnych wymiarów między wynikami pomiaru obu skanerów (MMDx100 i MMCx160) Ważną częścią analizy było porównanie wartości odchyleń średnio kwadratowych poszczególnych wymiarów (cech) otrzymanych ze skanera MMDx100 i MMCx160. Różnice między wartościami otrzymanymi dla obu skanerów przedstawia wykres na rys.11. 0,07 0,06 0,05 0,04 0,03 0,02 0,01 0 MMDx100 MMCx160 Rys.11. Porównanie wartości odchyleń standardowych dla obu badanych skanerów Wartość odchylenia średnio kwadratowego jest najmniejsza dla skanera MMDx100, bowiem wynosi 0,004mm dla wymiaru dim2_6, a największa, bo wynosząca 0,042mm dla

11 11 wymiaru d12. W przypadku skanera MMCx160 wartości te są następujące: minimalna wartość wynosi 0,009mm dla wymiaru dim2_4, a maksymalna 0,057mm dla wymiaru d6. Istotne w przeprowadzanej analizie jest odpowiedź na pytanie jak dokładnie można mierzyć poszczególnymi skanerami i jak mają się wartości błędów charakteryzujące dokładność do wartości dopuszczalnych podawanych przez producenta. Otóż średnia wartość odchylenia średnio kwadratowego dla skanera MMDx100 wyniosła 0,020mm przy wartości błędu dopuszczalnego w postaci testu przestrzennego wynoszącego 0,010mm. Natomiast średnia wartość odchylenia średnio kwadratowego dla skanera MMCx160 wyniosła 0,029mm i mieściła się w wartości błędu dopuszczalnego wynoszącego 0,034mm. Do pełnej analizy wyników zastosowano testy statystyczne poprzedzone sprawdzeniem normalności rozkładu i przeprowadzeniem analizy wariancji poszczególnych serii pomiarowych [10]. W wyniku zastosowanego testu (Kołmogorowa-Smirnowa) dla wszystkich 27 badanych cech (wymiarów), otrzymano wynik stwierdzający, że P-value jest większe lub równe 0,05. Wartości takie oznaczały, że nie można odrzucić hipotezy, że otrzymane wyniki pochodzą z rozkładu normalnego z 95% poziomem ufności. Kolejnym krokiem było sprawdzenie równości wariancji (variance check) dla każdej badanej charakterystyki ilustrując je odpowiednimi wykresami. Zachowanie rozsądnego wymiaru objętości tego artykułu nie pozwala na prezentację całej analizy statystycznej autorzy ograniczą się do przedstawienia wniosków końcowych z tej analizy w postaci Podsumowania. Podsumowanie 1. W wyniku przeprowadzonej analizy statystycznej otrzymano statystyczną równość wariancji prawie wszystkich odchyleń standardowych otrzymanych wyników. Oznacza to, że dla większości badanych cech nie istnieją statystyczne różnice między odchyleniami standardowymi pomiarów dokonanych dwoma różnymi skanerami na poziomie ufności 95%. Nie oznacza to jednak, że skanery te od siebie się nie różnią. Badania wykazały, że odchylenie standardowe pomiarów skanerem MMDx100 wyniosło maksymalnie 0,042 mm, a skanerem MMCx160 0,057 mm. Wartości średnie odchyleń średnio kwadratowych wyniosły odpowiednio 0,020 mm i 0,029 mm. Dane te nie dziwią gdy porówna się je z wynikami kalibracji, gdzie odchyłka pomiaru skanera MMDx100 wyniosła 0,016 mm (1σ), a skanera MMCx160 0,047 mm (prawie trzy razy większa). Dodatkowo z porównania globalnych odchyłek całego skanu można zauważyć, że wyniki otrzymane ze skanera MMCx160, pomimo zbliżonych parametrów geometrycznych, są bardziej zaszumione, niż wyniki otrzymane przy użyciu skanera MMDx100, w tych samych warunkach pomiarowych. 2. W wyniku porównania średnich wyników poszczególnych cech (wymiarów) otrzymano maksymalną różnicę wynoszącą 0,078 mm dla jednej ze średnic. Kolejną rzeczą jaką można wywnioskować z przeprowadzonych badań jest zróżnicowanie powtarzalności wyników ze względu na rodzaj mierzonych cech. Mierząc odległości i wymiary zewnętrzne otrzymywano bardziej powtarzalne wyniki niż w przypadku pomiaru małych średnic. Dla wymiarów długościowych odpowiednio 0,025mm dla skanera MMDx100 i 0,053 mm dla skanera MMCx160 i dla średnic dla MMDx100 0,037 mm, a dla MMCx160 0,057 mm. Może to wynikać z dopasowania okręgów na podstawie różnych danych pomiarowych pochodzących z dwóch przejazdów pod kątem. W zależności od powtarzalności ruchów

12 12 operatora, liczba danych, w szczególności z pomiaru otworów, mogła być zmienna co mogło wpływać na dopasowanie poszczególnych cech. 3. Różnice w wartościach wyników badań prowadzonych różnymi skanerami wynikały nie tylko z dokładności, ale również z zakresu pomiarowego skanerów. Skaner MMCx160 cechujący się większym zakresem pomiarowym pozwalał na szybsze oraz wygodniejsze wykonanie skanowania. Problem stanowiły jednak otwory, które zdecydowanie łatwiej zbierane były skanerem MMDx100. Prawdopodobnie był to wynik różnej liczby punktów zbieranych na sekundę przez skanery, bowiem liczba punktów skanera MMDx100 wynosiła pkt/s, a MMCx pkt/s. Niezależnie jednak od tego, który skaner był używany pomiary zajmowały mniej czasu oraz były mniej złożone niż standardowy pomiar ramieniem pomiarowym wyposażonym w sondę stykową. 4. Badania zostały wykonane dla pojedynczego elementu, na którym można było wyróżnić trzy rodzaje badanych cech. Pozwoliło to wykonać analizę statystyczną i porównać dokładności badanych skanerów. Wykonane badania mogłyby zostać rozszerzone o dodatkowe elementy, dzięki którym można by było otrzymać pełniejszą wiedzę na temat dokładności skanerów. Jedną z cech elementów mających wpływ na pomiar jest struktura powierzchni i materiał mierzonego elementu. Dalsze badania mogłyby skupić się na dokonaniu porównania dokładności dla elementów matowych i błyszczących, o różnym stopniu pochłaniania światła lub jego przepuszczaniu (elementy częściowo transparentne). Literatura 1.Ratajczyk E.: Współrzędnościowa Technika Pomiarowa. Oficyna Wydawnicza Politechniki Warszawskiej, Warszawa, Jakubiec W., Malinowski J.: Metrologia wielkości geometrycznych. WNT, Warszawa, Ratajczyk E.: Ramiona pomiarowe. Mechanik nr 12/2008, s ; nr 1/2009, s.38-46; nr 2/2009 s Ratajczyk E., Zawacki M.: Accuracy tests of measuring arms is it possible to compare ASME and ISO standard requirements. VIII th International Scientific Conference Coordinate Measuring Technique. Bielsko-Biała, April 2008.Proc. (ISBN ), pp Ratajczyk E.: Współrzędnościowe ramiona pomiarowe w zastosowaniach przemysłowych. Pomiary Automtyka Robotyka (PAR) nr 3/2012, s Ratajczyk E.: Współrzędnościowe ramiona pomiarowe rodzaje, parametry, zastosowania, testy dokładności. Mechanik nr 8-9/2014, s Sładek J, Ostrowska K., Sokoal G., Kmita A.: Wzorcowanie współrzędnościowych Ramion Pomiarowych (WRP). Acta Mechanica et Automatica. Vol.1, No.2, Sładek J., Ostrowska K., Gaska A.: Wirtualne współrzędnościowe ramię pomiarowe (WWRP). Pomiary Automatyka Kontrola, 01/ Ratajczyk E.: Modyfikacja i nowe rodzaje współrzędnościowych ramiona pomiarowych. Mechanik nr 8-9/2014, s ; nr 10/2014, s Dobosz M.: Wspomagana komputerowo statystyczna analiza wyników badao. Akademicka Oficyna. Wydawnicza EXIT. Warszawa 2001.

13 13 11.Humienny Z., Blunt L.,Jakubiec W., Osanna P.H., Tamre M, Weckenmann A.: Specyfikacje Geometrii Wyrobów (GPS). Podręcznik Europejski. WNT, Bubnowicz S., Łukianowicz Cz.: Assessment of measurement uncertainty of some geometrical quantities in coordinate measurements. PAK No , pp VDI/VDE Blatt 9: Acceptance and reverification tests for articulated arm coordinate measuring machines. Düsseldorf, ISO :2014: Geometrical Product Specifications (GPS).Acceptance and reverification tests for coordinat measuring systems (CMS). Part 8: CMMs with opical distance sensor. 15.ISO/DIS :2014: Acceptance and reverification tests for coordinat measuring systems (CMS). Part 12: Articulated arm coordinate measurement machines (CMM). 16.Nikonmetrology: Smart-Solutions: Porównanie dokładności skanerów laserowych z użyciem współrzędnościowego ramienia pomiarowego Streszczenie Przedstawiono wyniki badań eksperymentalnych pomiaru wybranego elementu motoryzacyjnego za pomocą dwóch skanerów o symbolach MMDx100 i MDCx160 firmy Nikon Metrology z zastosowaniem tej samej firmy współrzędnościowego ramienia pomiarowego o symbolu MCAx. Badania miały na celu określenie dokładności pomiaru różnych rodzajów wymiarów takich jak średnice otworów, odległości ich rozmieszczenia i wymiary liniowe jako odległości między powierzchnią czołową przedmiotu a powierzchniami wgłębień. Przeprowadzona analiza statystyczna wyników pozwoliła ustalić dokładność pomiaru wymienionymi skanerami, różnic w dokładnościach pomiaru różnych rodzajów wymiarów i porównać osiągnięte dokładności z wartościami dopuszczalnymi podawanymi przez producenta badanych urządzeń. Słowa kluczowe Skaner laserowy, współrzędnościowe ramię pomiarowe, oprogramowanie FOCUS INSPECTION, kalibracja skanera, analiza statystyczna. Comparison of accuracy of laser scanners using a coordinate measuring arm Abstract Experimental results of measurements of selected automotive part using two scanners manufactured by Nikon Metrology with symbols MMDx100 and MDCx160 mounted on Nikon MCAx coordinate measuring arm were presented. Research was aimed to determine the measurement accuracy for different types of dimensions like holes diameter, distances of their distribution and linear dimensions determined as the distance between the front surface of the part and the surfaces of the cavities. The performed statistical analysis of results enabled to determine accuracy of measurements done using these scanners, to compute differences in measurement accuracy for different dimensions and to compare achieved accuracy with permissible values given by the manufacturer of these devices. Key words Laser scanner, coordinate measuring arm, FOCUS INSPECTION software, scanner calibration, statistical analysis.

Laboratorium metrologii

Laboratorium metrologii Wydział Inżynierii Mechanicznej i Mechatroniki Instytut Technologii Mechanicznej Laboratorium metrologii Instrukcja do ćwiczeń laboratoryjnych Temat ćwiczenia: Pomiary wymiarów zewnętrznych Opracował:

Bardziej szczegółowo

WPŁYW METODY DOPASOWANIA NA WYNIKI POMIARÓW PIÓRA ŁOPATKI INFLUENCE OF BEST-FIT METHOD ON RESULTS OF COORDINATE MEASUREMENTS OF TURBINE BLADE

WPŁYW METODY DOPASOWANIA NA WYNIKI POMIARÓW PIÓRA ŁOPATKI INFLUENCE OF BEST-FIT METHOD ON RESULTS OF COORDINATE MEASUREMENTS OF TURBINE BLADE Dr hab. inż. Andrzej Kawalec, e-mail: ak@prz.edu.pl Dr inż. Marek Magdziak, e-mail: marekm@prz.edu.pl Politechnika Rzeszowska Wydział Budowy Maszyn i Lotnictwa Katedra Technik Wytwarzania i Automatyzacji

Bardziej szczegółowo

WYBÓR PUNKTÓW POMIAROWYCH

WYBÓR PUNKTÓW POMIAROWYCH Scientific Bulletin of Che lm Section of Technical Sciences No. 1/2008 WYBÓR PUNKTÓW POMIAROWYCH WE WSPÓŁRZĘDNOŚCIOWEJ TECHNICE POMIAROWEJ MAREK MAGDZIAK Katedra Technik Wytwarzania i Automatyzacji, Politechnika

Bardziej szczegółowo

Temat: Zaprojektowanie procesu kontroli jakości wymiarów geometrycznych na przykładzie obudowy.

Temat: Zaprojektowanie procesu kontroli jakości wymiarów geometrycznych na przykładzie obudowy. Raport z przeprowadzonych pomiarów. Temat: Zaprojektowanie procesu kontroli jakości wymiarów geometrycznych na przykładzie obudowy. Spis treści 1.Cel pomiaru... 3 2. Skanowanie 3D- pozyskanie geometrii

Bardziej szczegółowo

OCENA ODWZOROWANIA KSZTAŁTU ZA POMOCĄ WSPÓŁRZĘDNOŚCIOWEGO RAMIENIA POMIAROWEGO WYPOSAŻONEGO W GŁOWICĘ OPTYCZNĄ

OCENA ODWZOROWANIA KSZTAŁTU ZA POMOCĄ WSPÓŁRZĘDNOŚCIOWEGO RAMIENIA POMIAROWEGO WYPOSAŻONEGO W GŁOWICĘ OPTYCZNĄ Adam Gąska, Magdalena Olszewska 1) OCENA ODWZOROWANIA KSZTAŁTU ZA POMOCĄ WSPÓŁRZĘDNOŚCIOWEGO RAMIENIA POMIAROWEGO WYPOSAŻONEGO W GŁOWICĘ OPTYCZNĄ Streszczenie: Realizacja pomiarów może być dokonywana z

Bardziej szczegółowo

K-Series Optyczna WMP. Mobilne oraz innowacyjne rozwiązania metrologiczne. www.smart-solutions.pl WWW.METRIS.COM

K-Series Optyczna WMP. Mobilne oraz innowacyjne rozwiązania metrologiczne. www.smart-solutions.pl WWW.METRIS.COM K-Series Optyczna WMP Mobilne oraz innowacyjne rozwiązania metrologiczne Spis treści Optyczna WMP Przegląd Cechy i Zalety Technologia Optycznej WMP K-Series hardware Zastosowania K-Scan - skaning ręczny

Bardziej szczegółowo

Trackery Leica Absolute

Trackery Leica Absolute BROSZURA PRODUKTU Trackery Leica Absolute Rozwiązania pomiarowe Leica Leica Absolute Tracker AT402 z sondą B-Probe Ultra przenośny system pomiarowy klasy podstawowej Leica B-Probe to ręczne i zasilane

Bardziej szczegółowo

Metrologia II Metrology II. Automatyka i Robotyka I stopień (I stopień / II stopień) akademicki (ogólno akademicki / praktyczny)

Metrologia II Metrology II. Automatyka i Robotyka I stopień (I stopień / II stopień) akademicki (ogólno akademicki / praktyczny) KARTA MODUŁU / KARTA PRZEDMIOTU Kod modułu Nazwa modułu Nazwa modułu w języku angielskim Obowiązuje od roku akademickiego 2013/2014 Metrologia II Metrology II A. USYTUOWANIE MODUŁU W SYSTEMIE STUDIÓW Kierunek

Bardziej szczegółowo

Utworzenie dokumentacji bryłowej na podstawie skanów 3D wykonanych skanerem scan3d SMARTTECH

Utworzenie dokumentacji bryłowej na podstawie skanów 3D wykonanych skanerem scan3d SMARTTECH AUTORZY: Hubert Kubik, Marcin Lewandowski SMARTTECH Łomianki ul. Racławicka 30 www.skaner3d.pl biuro@smarttech3d.com Utworzenie dokumentacji bryłowej na podstawie skanów 3D wykonanych skanerem scan3d SMARTTECH

Bardziej szczegółowo

Dokładność metrologiczna bezdotykowego skanera 3D wg Normy VDI/VDE 2634 przykłady pomiarów, certyfikowanym, polskim skanerem 3D firmy SMARTTECH

Dokładność metrologiczna bezdotykowego skanera 3D wg Normy VDI/VDE 2634 przykłady pomiarów, certyfikowanym, polskim skanerem 3D firmy SMARTTECH AUTORZY: Krzysztof Gębarski, Dariusz Jasiński SMARTTECH Łomianki ul. Racławicka 30 www.skaner3d.pl biuro@smarttech3d.com Dokładność metrologiczna bezdotykowego skanera 3D wg Normy VDI/VDE 2634 przykłady

Bardziej szczegółowo

Temat: Skanowanie 3D obrazu w celu pomiaru odkształceń deski podobrazia

Temat: Skanowanie 3D obrazu w celu pomiaru odkształceń deski podobrazia Raport z przeprowadzonych badań Temat: Skanowanie 3D obrazu w celu pomiaru odkształceń deski podobrazia Spis treści Spis treści... 2 1.Cel badań... 3 2. Skanowanie 3D pozyskanie geometrii... 3 3. Praca

Bardziej szczegółowo

Sterowanie jakością badań i analiza statystyczna w laboratorium

Sterowanie jakością badań i analiza statystyczna w laboratorium Sterowanie jakością badań i analiza statystyczna w laboratorium CS-17 SJ CS-17 SJ to program wspomagający sterowanie jakością badań i walidację metod badawczych. Może działać niezależnie od innych składników

Bardziej szczegółowo

Metrologia II. Mechanika i Budowa Maszyn I stopień (I stopień / II stopień) ogólnoakademicki (ogólno akademicki / praktyczny)

Metrologia II. Mechanika i Budowa Maszyn I stopień (I stopień / II stopień) ogólnoakademicki (ogólno akademicki / praktyczny) KARTA MODUŁU / KARTA PRZEDMIOTU Kod modułu Nazwa modułu Metrologia II Nazwa modułu w języku angielskim Metrology II Obowiązuje od roku akademickiego 2013/2014 A. USYTUOWANIE MODUŁU W SYSTEMIE STUDIÓW Kierunek

Bardziej szczegółowo

Z a p r o s z e n i e n a W a r s z t a t y

Z a p r o s z e n i e n a W a r s z t a t y Carl Zeiss Sp. z o.o. Metrologia Przemysłowa Z a p r o s z e n i e n a W a r s z t a t y 09-1 3. 0 5. 2 0 1 6 - M i k o ł ó w 16-2 0. 0 5. 2 0 1 6 - W a r s z a w a Temat: AUKOM Level 1 Zapraszamy wszystkich

Bardziej szczegółowo

Metrologia II Metrology II

Metrologia II Metrology II Załącznik nr 7 do Zarządzenia Rektora nr 10/12 z dnia 21 lutego 2012r. KARTA MODUŁU / KARTA PRZEDMIOTU Kod modułu Nazwa modułu Nazwa modułu w języku angielskim Obowiązuje od roku akademickiego 2013/2014

Bardziej szczegółowo

Metrologia II Metrology II. TRANSPORT I stopień (I stopień / II stopień) akademicki (ogólno akademicki / praktyczny)

Metrologia II Metrology II. TRANSPORT I stopień (I stopień / II stopień) akademicki (ogólno akademicki / praktyczny) KARTA MODUŁU / KARTA PRZEDMIOTU Kod modułu Nazwa modułu Nazwa modułu w języku angielskim Obowiązuje od roku akademickiego 2013/2014 Metrologia II Metrology II A. USYTUOWANIE MODUŁU W SYSTEMIE STUDIÓW Kierunek

Bardziej szczegółowo

Zastosowanie deflektometrii do pomiarów kształtu 3D. Katarzyna Goplańska

Zastosowanie deflektometrii do pomiarów kształtu 3D. Katarzyna Goplańska Zastosowanie deflektometrii do pomiarów kształtu 3D Plan prezentacji Metody pomiaru kształtu Deflektometria Zasada działania Stereo-deflektometria Kalibracja Zalety Zastosowania Przykład Podsumowanie Metody

Bardziej szczegółowo

Metrologia II Metrology II. Transport I stopień (I stopień / II stopień) Ogólnoakademicki (ogólno akademicki / praktyczny)

Metrologia II Metrology II. Transport I stopień (I stopień / II stopień) Ogólnoakademicki (ogólno akademicki / praktyczny) KARTA MODUŁU / KARTA PRZEDMIOTU Kod modułu Nazwa modułu Nazwa modułu w języku angielskim Obowiązuje od roku akademickiego 2013/2014 Metrologia II Metrology II A. USYTUOWANIE MODUŁU W SYSTEMIE STUDIÓW Kierunek

Bardziej szczegółowo

Projekt rejestratora obiektów trójwymiarowych na bazie frezarki CNC. The project of the scanner for three-dimensional objects based on the CNC

Projekt rejestratora obiektów trójwymiarowych na bazie frezarki CNC. The project of the scanner for three-dimensional objects based on the CNC Dr inż. Henryk Bąkowski, e-mail: henryk.bakowski@polsl.pl Politechnika Śląska, Wydział Transportu Mateusz Kuś, e-mail: kus.mate@gmail.com Jakub Siuta, e-mail: siuta.jakub@gmail.com Andrzej Kubik, e-mail:

Bardziej szczegółowo

Sprawdzenie narzędzi pomiarowych i wyznaczenie niepewności rozszerzonej typu A w pomiarach pośrednich

Sprawdzenie narzędzi pomiarowych i wyznaczenie niepewności rozszerzonej typu A w pomiarach pośrednich Podstawy Metrologii i Technik Eksperymentu Laboratorium Sprawdzenie narzędzi pomiarowych i wyznaczenie niepewności rozszerzonej typu A w pomiarach pośrednich Instrukcja do ćwiczenia nr 4 Zakład Miernictwa

Bardziej szczegółowo

Wymagania techniczne - Laser Tracker wersja przenośna

Wymagania techniczne - Laser Tracker wersja przenośna Wymagania techniczne - Laser Tracker wersja przenośna 1. Wymagania minimalne Laser Trackera Zakres pomiarowy co najmniej 40m Zakres pracy w temperaturach -10 45 Zasięg poziomy >±300 Zasięg pionowy> +75,>

Bardziej szczegółowo

Laboratorium techniki laserowej Ćwiczenie 2. Badanie profilu wiązki laserowej

Laboratorium techniki laserowej Ćwiczenie 2. Badanie profilu wiązki laserowej Laboratorium techniki laserowej Ćwiczenie 2. Badanie profilu wiązki laserowej 1. Katedra Optoelektroniki i Systemów Elektronicznych, WETI, Politechnika Gdaoska Gdańsk 2006 1. Wstęp Pomiar profilu wiązki

Bardziej szczegółowo

Zbigniew Figiel, Piotr Dzikowicz. Skanowanie 3D przy projektowaniu i realizacji inwestycji w Koksownictwie KOKSOPROJEKT

Zbigniew Figiel, Piotr Dzikowicz. Skanowanie 3D przy projektowaniu i realizacji inwestycji w Koksownictwie KOKSOPROJEKT 1 Zbigniew Figiel, Piotr Dzikowicz Skanowanie 3D przy projektowaniu i realizacji inwestycji w Koksownictwie 2 Plan prezentacji 1. Skanowanie laserowe 3D informacje ogólne; 2. Proces skanowania; 3. Proces

Bardziej szczegółowo

Metody badań kamienia naturalnego: Oznaczanie wytrzymałości na zginanie pod działaniem siły skupionej

Metody badań kamienia naturalnego: Oznaczanie wytrzymałości na zginanie pod działaniem siły skupionej Metody badań kamienia naturalnego: Oznaczanie wytrzymałości na zginanie pod działaniem siły skupionej 1. Zasady metody Zasada metody polega na stopniowym obciążaniu środka próbki do badania, ustawionej

Bardziej szczegółowo

NAPRĘŻENIA ŚCISKAJĄCE PRZY 10% ODKSZTAŁCENIU WZGLĘDNYM PRÓBEK NORMOWYCH POBRANYCH Z PŁYT EPS O RÓŻNEJ GRUBOŚCI

NAPRĘŻENIA ŚCISKAJĄCE PRZY 10% ODKSZTAŁCENIU WZGLĘDNYM PRÓBEK NORMOWYCH POBRANYCH Z PŁYT EPS O RÓŻNEJ GRUBOŚCI PRACE INSTYTUTU TECHNIKI BUDOWLANEJ - KWARTALNIK 1 (145) 2008 BUILDING RESEARCH INSTITUTE - QUARTERLY No 1 (145) 2008 Zbigniew Owczarek* NAPRĘŻENIA ŚCISKAJĄCE PRZY 10% ODKSZTAŁCENIU WZGLĘDNYM PRÓBEK NORMOWYCH

Bardziej szczegółowo

ANALIZA OCENY WSKAŹNIKA SZORSTKOŚCI NAWIERZCHNI DROGOWEJ WAHADŁEM ANGIELSKIM NA DRODZE KRAJOWEJ DK-43 W OKRESIE UJEMNEJ I DODATNIEJ TEMPERATURY

ANALIZA OCENY WSKAŹNIKA SZORSTKOŚCI NAWIERZCHNI DROGOWEJ WAHADŁEM ANGIELSKIM NA DRODZE KRAJOWEJ DK-43 W OKRESIE UJEMNEJ I DODATNIEJ TEMPERATURY Budownictwo 20 Mariusz Kosiń, Alina Pietrzak ANALIZA OCENY WSKAŹNIKA SZORSTKOŚCI NAWIERZCHNI DROGOWEJ WAHADŁEM ANGIELSKIM NA DRODZE KRAJOWEJ DK-43 W OKRESIE UJEMNEJ I DODATNIEJ TEMPERATURY Wprowadzenie

Bardziej szczegółowo

MICRON3D skaner do zastosowań specjalnych. MICRON3D scanner for special applications

MICRON3D skaner do zastosowań specjalnych. MICRON3D scanner for special applications Mgr inż. Dariusz Jasiński dj@smarttech3d.com SMARTTECH Sp. z o.o. MICRON3D skaner do zastosowań specjalnych W niniejszym artykule zaprezentowany został nowy skaner 3D firmy Smarttech, w którym do pomiaru

Bardziej szczegółowo

6 Współrzędnościowa. technika pomiarowa. Cel ćwiczenia: Zbigniew Humienny

6 Współrzędnościowa. technika pomiarowa. Cel ćwiczenia: Zbigniew Humienny LEŚNIEWICZ A.(RED) LABORATORIUM METROLOGII I ZAMIENNOŚCI 6 Współrzędnościowa technika pomiarowa Zbigniew Humienny Cel ćwiczenia: o o zapoznanie się z głównymi zespołami współrzędnościowych maszyn pomiarowych

Bardziej szczegółowo

Ćwiczenie 3. I. Wymiarowanie

Ćwiczenie 3. I. Wymiarowanie Ćwiczenie 3 I. Wymiarowanie AutoCAD oferuje duże możliwości wymiarowania rysunków, poniżej zostaną przedstawione podstawowe sposoby wymiarowania rysunku za pomocą różnych narzędzi. 1. WYMIAROWANIE LINIOWE

Bardziej szczegółowo

Ćw. nr 31. Wahadło fizyczne o regulowanej płaszczyźnie drgań - w.2

Ćw. nr 31. Wahadło fizyczne o regulowanej płaszczyźnie drgań - w.2 1 z 6 Zespół Dydaktyki Fizyki ITiE Politechniki Koszalińskiej Ćw. nr 3 Wahadło fizyczne o regulowanej płaszczyźnie drgań - w.2 Cel ćwiczenia Pomiar okresu wahań wahadła z wykorzystaniem bramki optycznej

Bardziej szczegółowo

PL B1. POLITECHNIKA WARSZAWSKA, Warszawa, PL INSTYTUT TECHNOLOGII EKSPLOATACJI. PAŃSTWOWY INSTYTUT BADAWCZY, Radom, PL

PL B1. POLITECHNIKA WARSZAWSKA, Warszawa, PL INSTYTUT TECHNOLOGII EKSPLOATACJI. PAŃSTWOWY INSTYTUT BADAWCZY, Radom, PL RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 207917 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 380341 (22) Data zgłoszenia: 31.07.2006 (51) Int.Cl. G01B 21/04 (2006.01)

Bardziej szczegółowo

Ultrasonograficzne mierniki grubości materiału. Seria MTG & PTG

Ultrasonograficzne mierniki grubości materiału. Seria MTG & PTG Ultrasonograficzne mierniki grubości materiału. Seria MTG & PTG Ergonomiczne, solidne i dokładne mierniki pozwalają na wykonywanie pomiarów grubości materiałów a różne możliwości różnych modeli pozwalają

Bardziej szczegółowo

Współrzędnościowa Technika Pomiarowa Nazwa modułu w języku angielskim Coordinate Metrology Obowiązuje od roku akademickiego 2014/2015

Współrzędnościowa Technika Pomiarowa Nazwa modułu w języku angielskim Coordinate Metrology Obowiązuje od roku akademickiego 2014/2015 KARTA MODUŁU / KARTA PRZEDMIOTU Kod Nazwa Współrzędnościowa Technika Pomiarowa Nazwa w języku angielskim Coordinate Metrology Obowiązuje od roku akademickiego 2014/2015 A. USYTUOWANIE MODUŁU W SYSTEMIE

Bardziej szczegółowo

Pirometr LaserSight Pirometr umożliwia bezkontaktowy pomiar temperatury obiektów o wymiarach większych niż 1mm w zakresie: C.

Pirometr LaserSight Pirometr umożliwia bezkontaktowy pomiar temperatury obiektów o wymiarach większych niż 1mm w zakresie: C. Pirometr przenośny Optyka podwójna 75:1 i close focus Zakres: -35...900 C Emisyjność: 0.100...1.000 Alarmy akustyczne i wizualne Optyka o zmiennej ogniskowej Interfejs USB i oprogramowanie Wejście na termoparę

Bardziej szczegółowo

ScrappiX. Urządzenie do wizyjnej kontroli wymiarów oraz kontroli defektów powierzchni

ScrappiX. Urządzenie do wizyjnej kontroli wymiarów oraz kontroli defektów powierzchni ScrappiX Urządzenie do wizyjnej kontroli wymiarów oraz kontroli defektów powierzchni Scrappix jest innowacyjnym urządzeniem do kontroli wizyjnej, kontroli wymiarów oraz powierzchni przedmiotów okrągłych

Bardziej szczegółowo

TOLERANCJE WYMIAROWE SAPA

TOLERANCJE WYMIAROWE SAPA TOLERANCJE WYMIAROWE SAPA Tolerancje wymiarowe SAPA zapewniają powtarzalność wymiarów w normalnych warunkach produkcyjnych. Obowiązują one dla wymiarów, dla których nie poczyniono innych ustaleń w trakcie

Bardziej szczegółowo

WYZNACZANIE NIEPEWNOŚCI POMIARU METODAMI SYMULACYJNYMI

WYZNACZANIE NIEPEWNOŚCI POMIARU METODAMI SYMULACYJNYMI WYZNACZANIE NIEPEWNOŚCI POMIARU METODAMI SYMULACYJNYMI Stefan WÓJTOWICZ, Katarzyna BIERNAT ZAKŁAD METROLOGII I BADAŃ NIENISZCZĄCYCH INSTYTUT ELEKTROTECHNIKI ul. Pożaryskiego 8, 04-703 Warszawa tel. (0)

Bardziej szczegółowo

Ultrasonograficzne mierniki grubości materiału. Seria MTG & PTG

Ultrasonograficzne mierniki grubości materiału. Seria MTG & PTG Ultrasonograficzne mierniki grubości materiału. Seria MTG & PTG Ergonomiczne, solidne i dokładne mierniki pozwalają na wykonywanie pomiarów grubości materiałów a różne możliwości różnych modeli pozwalają

Bardziej szczegółowo

SKANER LASEROWY HP-L-8.9

SKANER LASEROWY HP-L-8.9 broszura o produkcie SKANER LASEROWY HP-L-8.9 Ekonomiczny skaner laserowy dla ramienia pomiarowego ROMER Absolute Arm 2 HP-L-8.9 SKANER LASEROWY NAJWAŻNIEJSZE DANE Skaner laserowy dla wszystkich HP-L-8.9

Bardziej szczegółowo

Precyzyjna, mobilna metrologia

Precyzyjna, mobilna metrologia Precyzyjna, mobilna metrologia ModelMaker MMDx/MMCx Skanery ręczne MCAx Ramiona pomiarowe NIKON METROLOGY I VISION BEYOND PRECISION DOKŁADNOŚĆ, UŻYTECZNOŚĆ ORAZ MOBILNOŚĆ Manualne współrzędnościowe ramię

Bardziej szczegółowo

Automatyka i pomiary wielkości fizykochemicznych. Instrukcja do ćwiczenia III. Pomiar natężenia przepływu za pomocą sondy poboru ciśnienia

Automatyka i pomiary wielkości fizykochemicznych. Instrukcja do ćwiczenia III. Pomiar natężenia przepływu za pomocą sondy poboru ciśnienia Automatyka i pomiary wielkości fizykochemicznych Instrukcja do ćwiczenia III Pomiar natężenia przepływu za pomocą sondy poboru ciśnienia Sonda poboru ciśnienia Sonda poboru ciśnienia (Rys. ) jest to urządzenie

Bardziej szczegółowo

NIEPEWNOŚĆ POMIARÓW POZIOMU MOCY AKUSTYCZNEJ WEDŁUG ZNOWELIZOWANEJ SERII NORM PN-EN ISO 3740

NIEPEWNOŚĆ POMIARÓW POZIOMU MOCY AKUSTYCZNEJ WEDŁUG ZNOWELIZOWANEJ SERII NORM PN-EN ISO 3740 PRACE INSTYTUTU TECHNIKI BUDOWLANEJ - KWARTALNIK BUILDING RESEARCH INSTITUTE - QUARTERLY 2 (162) 2012 ARTYKUŁY - REPORTS Anna Iżewska* NIEPEWNOŚĆ POMIARÓW POZIOMU MOCY AKUSTYCZNEJ WEDŁUG ZNOWELIZOWANEJ

Bardziej szczegółowo

POMIARY KĄTÓW I STOŻKÓW

POMIARY KĄTÓW I STOŻKÓW WYDZIAŁ MECHANICZNY Katedra Technologii Maszyn i Automatyzacji Produkcji Ćwiczenie nr 4 TEMAT: POMIARY KĄTÓW I STOŻKÓW ZADANIA DO WYKONANIA:. zmierzyć trzy wskazane kąty zadanego przedmiotu kątomierzem

Bardziej szczegółowo

Mechanika i Budowa Maszyn II stopień (I stopień / II stopień) akademicki (ogólno akademicki / praktyczny)

Mechanika i Budowa Maszyn II stopień (I stopień / II stopień) akademicki (ogólno akademicki / praktyczny) KARTA MODUŁU / KARTA PRZEDMIOTU Kod modułu Nazwa modułu Nazwa modułu w języku angielskim Obowiązuje od roku akademickiego 2013/2014 A. USYTUOWANIE MODUŁU W SYSTEMIE STUDIÓW Komputerowe Pomiary Wielkości

Bardziej szczegółowo

Mechanika i Budowa Maszyn II stopień (I stopień / II stopień) akademicki (ogólno akademicki / praktyczny)

Mechanika i Budowa Maszyn II stopień (I stopień / II stopień) akademicki (ogólno akademicki / praktyczny) KARTA MODUŁU / KARTA PRZEDMIOTU Kod modułu Nazwa modułu Nazwa modułu w języku angielskim Obowiązuje od roku akademickiego 2014/2015 A. USYTUOWANIE MODUŁU W SYSTEMIE STUDIÓW Komputerowe Pomiary Wielkości

Bardziej szczegółowo

POLITECHNIKA OPOLSKA WYDZIAŁ MECHANICZNY Katedra Technologii Maszyn i Automatyzacji Produkcji POMIARY KĄTÓW I STOŻKÓW

POLITECHNIKA OPOLSKA WYDZIAŁ MECHANICZNY Katedra Technologii Maszyn i Automatyzacji Produkcji POMIARY KĄTÓW I STOŻKÓW POLITECHNIKA OPOLSKA WYDZIAŁ MECHANICZNY Katedra Technologii Maszyn i Automatyzacji Produkcji TEMAT: Ćwiczenie nr 4 POMIARY KĄTÓW I STOŻKÓW ZADANIA DO WYKONANIA:. zmierzyć 3 wskazane kąty zadanego przedmiotu

Bardziej szczegółowo

www.wseiz.pl/index.php?menu=4&div=3/ część III,IV i V

www.wseiz.pl/index.php?menu=4&div=3/ część III,IV i V W Y D Z I A Ł Z A R Z Ą D Z A N I A www.wseiz.pl/index.php?menu=4&div=3/ część III,IV i V I. Międzynarodowy Układ Jednostek Miar SI 1. Istota i znaczenie metrologii 2. Układ jednostek SI proweniencja;

Bardziej szczegółowo

Nazwisko i imię: Zespół: Data: Ćwiczenie nr 11: Moduł Younga

Nazwisko i imię: Zespół: Data: Ćwiczenie nr 11: Moduł Younga Nazwisko i imię: Zespół: Data: Ćwiczenie nr 11: Moduł Younga Cel ćwiczenia: Wyznaczenie modułu Younga i porównanie otrzymanych wartości dla różnych materiałów. Literatura [1] Wolny J., Podstawy fizyki,

Bardziej szczegółowo

BADANIE POWTARZALNOŚCI PRZYRZĄDU POMIAROWEGO

BADANIE POWTARZALNOŚCI PRZYRZĄDU POMIAROWEGO Zakład Metrologii i Systemów Pomiarowych P o l i t e c h n i k a P o z n ańska ul. Jana Pawła II 24 60-965 POZNAŃ (budynek Centrum Mechatroniki, Biomechaniki i Nanoinżynierii) www.zmisp.mt.put.poznan.pl

Bardziej szczegółowo

Z-ID-604 Metrologia. Podstawowy Obowiązkowy Polski Semestr VI

Z-ID-604 Metrologia. Podstawowy Obowiązkowy Polski Semestr VI KARTA MODUŁU / KARTA PRZEDMIOTU Z-ID-604 Metrologia Kod modułu Nazwa modułu Nazwa modułu w języku angielskim Metrology Obowiązuje od roku akademickiego 2015/2016 A. USYTUOWANIE MODUŁU W SYSTEMIE STUDIÓW

Bardziej szczegółowo

MECHANIK NR 3/2015 23

MECHANIK NR 3/2015 23 MECHANIK NR 3/2015 23 Jan CIECIELĄG 1 Robert PLUTA 2 pomiary, błąd pomiarów, odchyłki pomiarów, analiza pomiarów, urządzenia pomiarowe measurements, measurement errors, measurement deviations, analysis

Bardziej szczegółowo

Ultrasonograficzne mierniki grubości materiału. Seria MTG & PTG

Ultrasonograficzne mierniki grubości materiału. Seria MTG & PTG Ultrasonograficzne mierniki grubości materiału. Seria MTG & PTG Ergonomiczne, solidne i dokładne mierniki pozwalają na wykonywanie pomiarów grubości materiałów a różne możliwości różnych modeli pozwalają

Bardziej szczegółowo

PhoeniX. Urządzenie do wizyjnej kontroli wymiarów oraz kontroli defektów powierzchni

PhoeniX. Urządzenie do wizyjnej kontroli wymiarów oraz kontroli defektów powierzchni PhoeniX Urządzenie do wizyjnej kontroli wymiarów oraz kontroli defektów powierzchni Phoenix jest najnowszą odmianą naszego urządzenia do wizyjnej kontroli wymiarów, powierzchni przedmiotów okrągłych oraz

Bardziej szczegółowo

BŁĘDY W POMIARACH BEZPOŚREDNICH

BŁĘDY W POMIARACH BEZPOŚREDNICH Podstawy Metrologii i Technik Eksperymentu Laboratorium BŁĘDY W POMIARACH BEZPOŚREDNICH Instrukcja do ćwiczenia nr 2 Zakład Miernictwa i Ochrony Atmosfery Wrocław, listopad 2010 r. Podstawy Metrologii

Bardziej szczegółowo

Badanie głowic laserowych w warunkach laboratoryjnych celem określania ich przydatności do systemu PNDS

Badanie głowic laserowych w warunkach laboratoryjnych celem określania ich przydatności do systemu PNDS dr hab. inż. st. of. pokł. Lucjan Gucma dr inż. st. of. pokł. Maciej Gucma mgr Robert Terczyński inż. Bartosz Muczyński Badanie głowic laserowych w warunkach laboratoryjnych celem określania ich przydatności

Bardziej szczegółowo

Nowa generacja. Automatyzacja nie może być już prostsza

Nowa generacja. Automatyzacja nie może być już prostsza Nowa generacja Automatyzacja nie może być już prostsza Połączenie automatyzacji i Rexcan CS Automatyczny proces skanowania & Aktywna synchronizacja Nie potrzeba żadnych znaczników czy ręcznego dopasowania

Bardziej szczegółowo

Mechanika i budowa maszyn Studia drugiego stopnia. [Współrzędnościowa technika pomiarowa] Rodzaj przedmiotu: [Język polski/j

Mechanika i budowa maszyn Studia drugiego stopnia. [Współrzędnościowa technika pomiarowa] Rodzaj przedmiotu: [Język polski/j Mechanika i budowa maszyn Studia drugiego stopnia Przedmiot: [Współrzędnościowa technika pomiarowa] Rodzaj przedmiotu: [obowiązkowy] Kod przedmiotu: MBM 2 S 3 2 25-0_1 Rok: I Semestr: 2 Forma studiów:

Bardziej szczegółowo

Ultrasonograficzne mierniki grubości materiału. Seria MTG & PTG

Ultrasonograficzne mierniki grubości materiału. Seria MTG & PTG Ultrasonograficzne mierniki grubości materiału. Seria MTG & PTG Ergonomiczne, solidne i dokładne mierniki pozwalają na wykonywanie pomiarów grubości materiałów a różne możliwości różnych modeli pozwalają

Bardziej szczegółowo

1 Obsługa aplikacji sonary

1 Obsługa aplikacji sonary Instrukcja laboratoryjna do ćwiczenia: Badanie własności sonarów ultradźwiękowych Celem niniejszego ćwiczenia jest zapoznanie osób je wykonujących z podstawowymi cechami i możliwościami interpretacji pomiarów

Bardziej szczegółowo

Tolerancje kształtu i położenia

Tolerancje kształtu i położenia Strona z 7 Strona główna PM Tolerancje kształtu i położenia Strony związane: Podstawy Konstrukcji Maszyn, Tolerancje gwintów, Tolerancje i pasowania Pola tolerancji wałków i otworów, Układy pasowań normalnych,

Bardziej szczegółowo

Problem testowania/wzorcowania instrumentów geodezyjnych

Problem testowania/wzorcowania instrumentów geodezyjnych Problem testowania/wzorcowania instrumentów geodezyjnych Realizacja Osnów Geodezyjnych a Problemy Geodynamiki Grybów, 25-27 września 2014 Ryszard Szpunar, Dominik Próchniewicz, Janusz Walo Politechnika

Bardziej szczegółowo

Obróbka po realnej powierzchni o Bez siatki trójkątów o Lepsza jakość po obróbce wykańczającej o Tylko jedna tolerancja jakości powierzchni

Obróbka po realnej powierzchni o Bez siatki trójkątów o Lepsza jakość po obróbce wykańczającej o Tylko jedna tolerancja jakości powierzchni TEBIS Wszechstronny o Duża elastyczność programowania o Wysoka interaktywność Delikatne ścieżki o Nie potrzebny dodatkowy moduł HSC o Mniejsze zużycie narzędzi o Mniejsze zużycie obrabiarki Zarządzanie

Bardziej szczegółowo

BADANIE POWTARZALNOŚCI PRZYRZĄDU POMIAROWEGO

BADANIE POWTARZALNOŚCI PRZYRZĄDU POMIAROWEGO Zakład Metrologii i Systemów Pomiarowych P o l i t e c h n i k a P o z n ańska ul Jana Pawła II 24 60-965 POZNAŃ budynek Centrum Mechatroniki, iomechaniki i Nanoinżynierii) wwwzmispmtputpoznanpl tel +48

Bardziej szczegółowo

POMIARY POŚREDNIE. Zakład Metrologii i Systemów Pomiarowych P o l i t e c h n i k a P o z n ańska

POMIARY POŚREDNIE. Zakład Metrologii i Systemów Pomiarowych P o l i t e c h n i k a P o z n ańska Zakład Metrologii i Systemów Pomiarowych P o l i t e c h n i k a P o z n ańska ul. Jana Pawła II 2 60-965 POZNAŃ (budynek Centrum Mechatroniki, Biomechaniki i Nanoinżynierii) www.zmisp.mt.put.poznan.pl

Bardziej szczegółowo

SPRAWDZANIE NARZĘDZI POMIAROWYCH

SPRAWDZANIE NARZĘDZI POMIAROWYCH Zakład Metrologii i Systemów Pomiarowych P o l i t e c h n i k a P o z n ańska ul. Jana Pawła II 4 60-965 POZNAŃ (budynek Centrum Mechatroniki, Biomechaniki i Nanoinżynierii) www.zmisp.mt.put.poznan.pl

Bardziej szczegółowo

Raport z przeprowadzonych badań. Temat: Zaprojektowanie sposobu pomiaru wywroczyny oraz kontroli procesu gojenia.

Raport z przeprowadzonych badań. Temat: Zaprojektowanie sposobu pomiaru wywroczyny oraz kontroli procesu gojenia. Raport z przeprowadzonych badań Temat: Zaprojektowanie sposobu pomiaru wywroczyny oraz kontroli procesu gojenia. 1 Spis treści 1.Cel badań...3 2. Skanowanie...3 3. Wymiarowanie rany...4 4. Wyznaczanie

Bardziej szczegółowo

LABORATORIUM 3. Jeśli p α, to hipotezę zerową odrzucamy Jeśli p > α, to nie mamy podstaw do odrzucenia hipotezy zerowej

LABORATORIUM 3. Jeśli p α, to hipotezę zerową odrzucamy Jeśli p > α, to nie mamy podstaw do odrzucenia hipotezy zerowej LABORATORIUM 3 Przygotowanie pliku (nazwy zmiennych, export plików.xlsx, selekcja przypadków); Graficzna prezentacja danych: Histogramy (skategoryzowane) i 3-wymiarowe; Wykresy ramka wąsy; Wykresy powierzchniowe;

Bardziej szczegółowo

PORÓWNANIE RÓŻNYCH URZĄDZEŃ METROLOGICZNYCH WYKORZYSTYWANYCH W ZASTOSOWANIACH BIOMEDYCZNYCH

PORÓWNANIE RÓŻNYCH URZĄDZEŃ METROLOGICZNYCH WYKORZYSTYWANYCH W ZASTOSOWANIACH BIOMEDYCZNYCH Magdalena Olszewska, Adam Gąska 1) PORÓWNANIE RÓŻNYCH URZĄDZEŃ METROLOGICZNYCH WYKORZYSTYWANYCH W ZASTOSOWANIACH BIOMEDYCZNYCH Streszczenie: Postęp w zaawansowanych technikach pomiarowych umożliwia tworzenie

Bardziej szczegółowo

ĆWICZENIA LABORATORYJNE Z KONSTRUKCJI METALOWCH. Ć w i c z e n i e H. Interferometria plamkowa w zastosowaniu do pomiaru przemieszczeń

ĆWICZENIA LABORATORYJNE Z KONSTRUKCJI METALOWCH. Ć w i c z e n i e H. Interferometria plamkowa w zastosowaniu do pomiaru przemieszczeń Akademia Górniczo Hutnicza Wydział Inżynierii Mechanicznej i Robotyki Katedra Wytrzymałości, Zmęczenia Materiałów i Konstrukcji Nazwisko i Imię: Nazwisko i Imię: Wydział Górnictwa i Geoinżynierii Grupa

Bardziej szczegółowo

Pytania i odpowiedzi do postępowania ofertowego nr 1/CB/2019

Pytania i odpowiedzi do postępowania ofertowego nr 1/CB/2019 Pytania i odpowiedzi do postępowania ofertowego nr 1/CB/2019 1. Pytanie z dnia 27.03.2019: Czy Zamawiający oczekuje mikroskopu z głowica trino (dwa okulary + trzeci tor optyczny do montażu kamery)? Odpowiedź:

Bardziej szczegółowo

ANALIZA SYSTEMU POMIAROWEGO (MSA)

ANALIZA SYSTEMU POMIAROWEGO (MSA) StatSoft Polska, tel. 1 484300, 601 414151, info@statsoft.pl, www.statsoft.pl ANALIZA SYSTEMU POMIAROWEGO (MSA) dr inż. Tomasz Greber, Politechnika Wrocławska, Instytut Organizacji i Zarządzania Wprowadzenie

Bardziej szczegółowo

SquezeeX. Urządzenie do wizyjnej kontroli wymiarów oraz kontroli defektów powierzchni

SquezeeX. Urządzenie do wizyjnej kontroli wymiarów oraz kontroli defektów powierzchni SquezeeX Urządzenie do wizyjnej kontroli wymiarów oraz kontroli defektów powierzchni SQUEZEEX jest urządzeniem do kontroli wizyjnej, kontroli wymiarów oraz powierzchni oringów oraz ogólnie rzecz biorąc

Bardziej szczegółowo

Statystyka. Wykład 4. Magdalena Alama-Bućko. 19 marca Magdalena Alama-Bućko Statystyka 19 marca / 33

Statystyka. Wykład 4. Magdalena Alama-Bućko. 19 marca Magdalena Alama-Bućko Statystyka 19 marca / 33 Statystyka Wykład 4 Magdalena Alama-Bućko 19 marca 2018 Magdalena Alama-Bućko Statystyka 19 marca 2018 1 / 33 Analiza struktury zbiorowości miary położenia ( miary średnie) miary zmienności (rozproszenia,

Bardziej szczegółowo

POMIARY POŚREDNIE POZNAŃ III.2017

POMIARY POŚREDNIE POZNAŃ III.2017 Zakład Metrologii i Systemów Pomiarowych P o l i t e c h n i k a P o z n ańska ul. Jana Pawła II 24 60-965 POZNAŃ (budynek Centrum Mechatroniki, Biomechaniki i Nanoinżynierii) www.zmisp.mt.put.poznan.pl

Bardziej szczegółowo

22. SPRAWDZANIE GEOMETRII SAMOCHODU

22. SPRAWDZANIE GEOMETRII SAMOCHODU 22. SPRAWDZANIE GEOMETRII SAMOCHODU 22.0. Uwagi dotyczące bezpieczeństwa podczas wykonywania ćwiczenia Podczas wykonywania ćwiczenia obowiązuje ogólna instrukcja BHP. Wykonujący ćwiczenie dodatkowo powinni

Bardziej szczegółowo

WYTWARZANIE MECHANIZMÓW METODĄ FDM

WYTWARZANIE MECHANIZMÓW METODĄ FDM Mgr inż. Bartosz BLICHARZ Mgr inż. Maciej CADER Przemysłowy Instytut Automatyki i Pomiarów PIAP Piotr HERMANOWICZ Politechnika Warszawska DOI: 10.17814/mechanik.2015.7.211 WYTWARZANIE MECHANIZMÓW METODĄ

Bardziej szczegółowo

POMIARY METODAMI POŚREDNIMI NA MIKROSKOPIE WAR- SZTATOWYM. OBLICZANIE NIEPEWNOŚCI TYCH POMIARÓW

POMIARY METODAMI POŚREDNIMI NA MIKROSKOPIE WAR- SZTATOWYM. OBLICZANIE NIEPEWNOŚCI TYCH POMIARÓW Józef Zawada Instrukcja do ćwiczenia nr P12 Temat ćwiczenia: POMIARY METODAMI POŚREDNIMI NA MIKROSKOPIE WAR- SZTATOWYM. OBLICZANIE NIEPEWNOŚCI TYCH POMIARÓW Cel ćwiczenia Celem niniejszego ćwiczenia jest

Bardziej szczegółowo

PRZEGLĄD KONSTRUKCJI JEDNOFAZOWYCH SILNIKÓW SYNCHRONICZNYCH Z MAGNESAMI TRWAŁYMI O ROZRUCHU BEZPOŚREDNIM

PRZEGLĄD KONSTRUKCJI JEDNOFAZOWYCH SILNIKÓW SYNCHRONICZNYCH Z MAGNESAMI TRWAŁYMI O ROZRUCHU BEZPOŚREDNIM 51 Maciej Gwoździewicz, Jan Zawilak Politechnika Wrocławska, Wrocław PRZEGLĄD KONSTRUKCJI JEDNOFAZOWYCH SILNIKÓW SYNCHRONICZNYCH Z MAGNESAMI TRWAŁYMI O ROZRUCHU BEZPOŚREDNIM REVIEW OF SINGLE-PHASE LINE

Bardziej szczegółowo

Ultrasonograficzne mierniki grubości materiału. Seria MTG & PTG

Ultrasonograficzne mierniki grubości materiału. Seria MTG & PTG Ultrasonograficzne mierniki grubości materiału. Seria MTG & PTG Ergonomiczne, solidne i dokładne mierniki pozwalają na wykonywanie pomiarów grubości materiałów a różne możliwości różnych modeli pozwalają

Bardziej szczegółowo

Czujniki podczerwieni do bezkontaktowego pomiaru temperatury. Czujniki stacjonarne.

Czujniki podczerwieni do bezkontaktowego pomiaru temperatury. Czujniki stacjonarne. Czujniki podczerwieni do bezkontaktowego pomiaru temperatury Niemiecka firma Micro-Epsilon, której WObit jest wyłącznym przedstawicielem w Polsce, uzupełniła swoją ofertę sensorów o czujniki podczerwieni

Bardziej szczegółowo

WZORCOWANIE SYSTEMÓW OPTYCZNYCH ZGODNIE Z NORMAMI ISO I ZALECENIAMI VDI/VDE

WZORCOWANIE SYSTEMÓW OPTYCZNYCH ZGODNIE Z NORMAMI ISO I ZALECENIAMI VDI/VDE KSENIA OSTROWSKA, DANUTA SZEWCZYK, JERZY SŁADEK * WZORCOWANIE SYSTEMÓW OPTYCZNYCH ZGODNIE Z NORMAMI ISO I ZALECENIAMI VDI/VDE CALIBRATION OF OPTICAL SYSTEMS ACCORDING TO ISO STANDARDS AND VDI/VDE RECOMMENDATIONS

Bardziej szczegółowo

Wstęp Pierwsze kroki Pierwszy rysunek Podstawowe obiekty Współrzędne punktów Oglądanie rysunku...

Wstęp Pierwsze kroki Pierwszy rysunek Podstawowe obiekty Współrzędne punktów Oglądanie rysunku... Wstęp... 5 Pierwsze kroki... 7 Pierwszy rysunek... 15 Podstawowe obiekty... 23 Współrzędne punktów... 49 Oglądanie rysunku... 69 Punkty charakterystyczne... 83 System pomocy... 95 Modyfikacje obiektów...

Bardziej szczegółowo

WARUNKI TECHNICZNE 2. DEFINICJE

WARUNKI TECHNICZNE 2. DEFINICJE WARUNKI TECHNICZNE 1. ZAKRES WARUNKÓW TECHNICZNYCH W niniejszych WT określono wymiary i minimalne wymagania dotyczące jakości (w odniesieniu do wad optycznych i widocznych) szkła float stosowanego w budownictwie,

Bardziej szczegółowo

Prof. Eugeniusz RATAJCZYK. Makrogemetria Pomiary odchyłek kształtu i połoŝenia

Prof. Eugeniusz RATAJCZYK. Makrogemetria Pomiary odchyłek kształtu i połoŝenia Prof. Eugeniusz RATAJCZYK Makrogemetria Pomiary odchyłek kształtu i połoŝenia Rodzaje odchyłek - symbole Odchyłki kształtu okrągłości prostoliniowości walcowości płaskości przekroju wzdłuŝnego Odchyłki

Bardziej szczegółowo

Funkcjonalność urządzeń pomiarowych w PyroSim. Jakich danych nam dostarczają?

Funkcjonalność urządzeń pomiarowych w PyroSim. Jakich danych nam dostarczają? Funkcjonalność urządzeń pomiarowych w PyroSim. Jakich danych nam dostarczają? Wstęp Program PyroSim zawiera obszerną bazę urządzeń pomiarowych. Odczytywane z nich dane stanowią bogate źródło informacji

Bardziej szczegółowo

Program SigmaViewer.exe

Program SigmaViewer.exe e-mail sigma@projektsigma.pl www.projektsigma.pl Sigma Projekt 03-977 Warszawa, ul. Marokańska 21C rok założenia 2002 Program SigmaViewer.exe Wersja 2.0 Warszawa, listopad 2010 Program SigmaViewer.exe...

Bardziej szczegółowo

Z-ZIP-0101 Metrologia. Zarządzanie i Inżynieria Produkcji I stopień Ogólnoakademicki. Kierunkowy Obowiązkowy Polski Semestr czwarty

Z-ZIP-0101 Metrologia. Zarządzanie i Inżynieria Produkcji I stopień Ogólnoakademicki. Kierunkowy Obowiązkowy Polski Semestr czwarty KARTA MODUŁU / KARTA PRZEDMIOTU Z-ZIP-0101 Metrologia Kod modułu Nazwa modułu Nazwa modułu w języku angielskim Metrology Obowiązuje od roku akademickiego 01/013 A. USYTUOWANIE MODUŁU W SYSTEMIE STUDIÓW

Bardziej szczegółowo

SPRAWOZDANIE Z BADAŃ

SPRAWOZDANIE Z BADAŃ POLITECHNIKA ŁÓDZKA ul. Żeromskiego 116 90-924 Łódź KATEDRA BUDOWNICTWA BETONOWEGO NIP: 727 002 18 95 REGON: 000001583 LABORATORIUM BADAWCZE MATERIAŁÓW I KONSTRUKCJI BUDOWLANYCH Al. Politechniki 6 90-924

Bardziej szczegółowo

Oprogramowanie FormControl

Oprogramowanie FormControl Pomiar przez kliknięcie myszą. Właśnie tak prosta jest inspekcja detalu w centrum obróbczym z pomocą oprogramowania pomiarowego FormControl. Nie ma znaczenia, czy obrabiany detal ma swobodny kształt powierzchni

Bardziej szczegółowo

Laboratorium techniki światłowodowej. Ćwiczenie 3. Światłowodowy, odbiciowy sensor przesunięcia

Laboratorium techniki światłowodowej. Ćwiczenie 3. Światłowodowy, odbiciowy sensor przesunięcia Laboratorium techniki światłowodowej Ćwiczenie 3. Światłowodowy, odbiciowy sensor przesunięcia Katedra Optoelektroniki i Systemów Elektronicznych, WETI, Politechnika Gdaoska Gdańsk 2006 1. Wprowadzenie

Bardziej szczegółowo

Projekt nr POIG /09. Tytuł: Rozbudowa przedsiębiorstwa w oparciu o innowacyjne technologie produkcji konstrukcji przemysłowych

Projekt nr POIG /09. Tytuł: Rozbudowa przedsiębiorstwa w oparciu o innowacyjne technologie produkcji konstrukcji przemysłowych Projekt nr POIG.04.04.00-24-013/09 Tytuł: Rozbudowa przedsiębiorstwa w oparciu o innowacyjne technologie produkcji konstrukcji przemysłowych Projekt współfinansowany przez Unię Europejską z Europejskiego

Bardziej szczegółowo

Przemysław Kowalski Instytut Informatyki Teoretycznej i Stosowanej PAN

Przemysław Kowalski Instytut Informatyki Teoretycznej i Stosowanej PAN Opracowanie systemowych rozwiązań wspomagających zabezpieczenie miejsca zdarzenia i proces wykrywczy na podstawie materiału dowodowego utrwalonego za pomocą technik skaningu laserowego oraz satelitarnych

Bardziej szczegółowo

2.2 Opis części programowej

2.2 Opis części programowej 2.2 Opis części programowej Rysunek 1: Panel frontowy aplikacji. System pomiarowy został w całości zintegrowany w środowisku LabVIEW. Aplikacja uruchamiana na komputerze zarządza przebiegiem pomiarów poprzez

Bardziej szczegółowo

Ćwiczenie 5 POMIARY TWARDOŚCI. 1. Cel ćwiczenia. 2. Wprowadzenie

Ćwiczenie 5 POMIARY TWARDOŚCI. 1. Cel ćwiczenia. 2. Wprowadzenie Ćwiczenie 5 POMIARY TWARDOŚCI 1. Cel ćwiczenia Celem ćwiczenia jest zaznajomienie studentów ze metodami pomiarów twardości metali, zakresem ich stosowania, zasadami i warunkami wykonywania pomiarów oraz

Bardziej szczegółowo

LABORATORIUM METROLOGII

LABORATORIUM METROLOGII AKADEMIA MORSKA W SZCZECINIE Centrum Inżynierii Ruchu Morskiego LABORATORIUM METROLOGII Ćwiczenie 2 Metoda pomiarów bezpośrednich na przykładzie pomiarów dalmierzem laserowym Leica DISTO TM pro 4 Szczecin,

Bardziej szczegółowo

Analiza porównawcza dwóch metod wyznaczania wskaźnika wytrzymałości na przebicie kulką dla dzianin

Analiza porównawcza dwóch metod wyznaczania wskaźnika wytrzymałości na przebicie kulką dla dzianin Analiza porównawcza dwóch metod wyznaczania wskaźnika wytrzymałości na przebicie kulką dla dzianin B. Wilbik-Hałgas, E. Ledwoń Instytut Technologii Bezpieczeństwa MORATEX Wprowadzenie Wytrzymałość na działanie

Bardziej szczegółowo

POLITECHNIKA OPOLSKA

POLITECHNIKA OPOLSKA POLITECHNIKA OPOLSKA WYDZIAŁ MECHANICZNY Katedra Technologii Maszyn i Automatyzacji Produkcji Laboratorium Podstaw Inżynierii Jakości Ćwiczenie nr 1 Temat: Kontrola odbiorcza partii wyrobów z selekcją

Bardziej szczegółowo

Metrologia. Zarządzanie i Inżynieria Produkcji I stopień Ogólnoakademicki

Metrologia. Zarządzanie i Inżynieria Produkcji I stopień Ogólnoakademicki KARTA MODUŁU / KARTA PRZEDMIOTU Kod modułu Nazwa modułu Nazwa modułu w języku angielskim Metrology Obowiązuje od roku akademickiego 2013/2014 Metrologia A. USYTUOWANIE MODUŁU W SYSTEMIE STUDIÓW Kierunek

Bardziej szczegółowo