Dielektryczne i magnetyczne w a ciwo ci ceramiki multiferroicznej Bi 5 Ti 3 FeO 15

Wielkość: px
Rozpocząć pokaz od strony:

Download "Dielektryczne i magnetyczne w a ciwo ci ceramiki multiferroicznej Bi 5 Ti 3 FeO 15"

Transkrypt

1 MATERIA Y CERAMICZNE /CERAMIC MATERIALS/, 62, 2, (2010), Dielektryczne i magnetyczne w a ciwo ci ceramiki multiferroicznej Bi 5 Ti 3 FeO 15 AGATA LISI SKACZEKAJ 1, EL BIETA JARTYCH 2, MARIUSZ MAZUREK 2, JOLANTA DZIK 1, DIONIZY CZEKAJ 1 1 Uniwersytet l ski, Katedra Materia oznawstwa, Sosnowiec, ul. nie na 2 2 Politechnika Lubelska, Instytut Fizyki, Lublin, ul. Nadbystrzycka 38 agata.lisinskaczekaj@us.edu.pl Streszczenie W niniejszej pracy przedstawiono rezultaty bada po wi conych wytwarzaniu i charakterystyce w a ciwo ci ceramiki multiferroicznej o strukturze Aurivilliusa i sk adzie chemicznym Bi 5 Ti 3 FeO 15 (BTFO). Przy pomocy jednoczesnej analizy termicznej (TG/DTG, DTA) oraz rentgenowskiej analizy strukturalnej dokonano charakterystyki procesu syntezy zwi zku BTFO z mieszaniny prostych tlenków Bi 2 O 3, TiO 2 i Fe 2 O 3. Przeprowadzono badania w a ciwo ci dielektrycznych i magnetycznych wytworzonej ceramiki metod spektroskopii impedancyjnej i spektroskopii Mössbauera. Stwierdzono, e wytworzona ceramika BTFO odznacza si struktur rombow, opisywan grup przestrzenn Cmc21 (36). Badania mössbauerowskie przeprowadzone w temperaturze pokojowej wskaza y na paramagnetyczne w a ciwo ci ceramiki BTFO oraz potwierdzi y wytworzenie jednofazowego materia u ceramicznego. Zastosowanie spektroskopii impedancyjnej pozwoli o na okre lenie cz stotliwo ci zjawisk relaksacyjnych zachodz cych w ceramice BTFO w zakresie temperaturowym od temperatury pokojowej do T = 500 C. S owa kluczowe: multiferroiki, spektroskopia impedancyjna, fazy Aurivilliusa, struktura krystaliczna, spektroskopia Mössbauera DIELECTRIC AND MAGNETIC PROPERTIES OF Bi 5 Ti 3 FeO 15 MULTIFERROIC CERAMICS In the present paper, the results of studies devoted to fabrication and characterization of Bi 5 Ti 3 FeO 15 (BTFO) multiferroic ceramics exhibiting Aurivillius type structure are reported. By means of simultaneous thermal and Xray diffraction analysis, the process of synthesis of BTFO ceramics has been studied. Mixed oxide method followed by free sintering was used for ceramics preparation. Dielectric and magnetic properties has been studied by impedance spectroscopy and Mössbauer spectroscopy, respectively. It has been found that BTFO ceramics exhibited orthorhombic symmetry with Cmc21 (36) space group. Roomtemperature Mössbauer spectra of BTFO revealed its paramagnetic properties as well as con rmed fabrication of a single phase ceramic material. Application of impedance spectroscopy makes it possible to determine frequencies of relaxation phenomena present in BFTO ceramics within the temperature range ΔT = RT 500 C. Keywords: Multiferroics, Impedance spectroscopy, Aurivillius phase, Crystal structure, Mössbauer spectroscopy 1. Wprowadzenie Niezwykle obiecuj cym sposobem na otrzymanie nowoczesnych i wysoko wydajnych materia ów jest wytworzenie w jednym materiale ró norodnych w a ciwo ci zycznych w celu osi gni cia bogatej funkcjonalno ci. Dlatego te materia y multiferroiczne materia y, które odznaczaj si jednocze nie w a ciwo ciami ferromagnetycznymi i ferroelektrycznymi, a cz sto równie w a ciwo ciami ferrospr ystymi lub ferrotoroidalnymi wzbudzaj szerokie zainteresowanie ze wzgl du na zyczn istot zjawiska oraz obiecuj ce zastosowania praktyczne w zakresie obróbki oraz przechowywania informacji [1]. Szczególnie interesuj ce perspektywy zastosowania materia ów multiferroicznych polegaj na wykorzystaniu tych materia ów do budowy przyrz dów magnetoelektrycznych (spintronic), dla których konieczne jest wyst powanie sprz enia polaryzacji i magnetyzacji. Z punktu widzenia zyki, multiferroiki s niezwykle interesuj c klas, zarówno materia ów jak i problemów naukowych. Pierwsze ze wspomnianych problemów dotycz tzw. ogranicze mikroskopowych, które okre laj mo liwo wytworzenia w jednym materiale jednocze nie w a ciwo ci magnetycznych i ferroelektrycznych. Zagadnienie to staje si nietrywialne, gdy zdamy sobie spraw z faktu, e w zwyk ych uk adach te dwa zjawiska nawzajem si wykluczaj [2]. Typowy dla ferroelektryków perowskitowych (BaTiO 3, KNbO 3 ) mechanizm powstawania polaryzacji, polegaj cy na przesuni ciu jonu tytanu z po o enia równowagi w kierunku rogu komórki elementarnej, jest niezgodny z warunkami powstawania spontanicznego momentu magnetycznego [3]. Jednak e, pomimo z ej zgodno ci magnetyzmu i ferroelektryczno ci w obecnej chwili znamy wiele uk adów w których te zjawiska wspó istniej. Przyk adem takich materia ów s zwi zki uk adu Bi 4 Ti 3 O 12 BiFeO 3, które cz w sobie w a ciwo ci ferroelektryczne, pó przewodnikowe i ferromagnetyczne. Stanowi to o ich niezwyk ej przydatno ci do wytwarzania zaawansowanych materia ów elektroceramicznych [4]. Struktur krystaliczn faz Aurivilliusa uk adu Bi 4 Ti 3 O 12 BiFeO 3, opisywanych ogólnym wzorem Bi m+1 Fe m3 Ti 3 O 3m+3 mo na zbudowa wycinaj c z regularnej 126

2 DIELEKTRYCZNE I MAGNETYCZNE W A CIWO CI CERAMIKI MULTIFERROICZNEJ Bi 5 Ti 3 FeO 15 Celem niniejszej pracy by o zbadanie procesu syntezy oraz wytworzenie ceramiki Bi 5 Ti 3 FeO 15 o strukturze Aurivilliusa i liczbie m = 4. Przy pomocy jednoczesnej analizy termicznej (TG/DTG, DTA) oraz rentgenowskiej analizy strukturalnej dokonano charakterystyki procesu syntezy zwi zku BTFO z mieszaniny prostych tlenków Bi 2 O 3, TiO 2 i Fe 2 O 3. Zbadano struktur krystaliczn przy u yciu dyfraktometru rentgenowskiego Philips PW 3710 z wykorzystaniem promieniowania CoK α. Przeprowadzono badania w a ciwo ci dielektrycznych i magnetycznych wytworzonej ceramiki metod spektroskopii impedancyjnej i spektroskopii efektu Mössbauera. 2. Eksperyment Rys. 1. Model struktury Aurivilliusa na przyk adzie Bi 4 Ti 3 O 12. Fig.1. Elementary cell of Aurivillius structure compound exempli ed by Bi 4 Ti 3 O 12. perowskitowej sieci krystalicznej, przy pomocy dwóch p aszczyzn (001), warstwy o grubo ci h = p m i sk adzie chemicznym {(Bi m1 Fe m3 Ti 3 O 3m+1 ) 2 } i przeplataj c je bizmutowotlenowymi warstwami typu uorytu o grubo ci f i sk adzie chemicznym {(Bi 2 O 2 ) 2+ } [5]. S siednie warstwy perowskitopodobne przesuni te s wzgl dem siebie o a 0 2 w kierunku [110], gdzie a 0 parametr sieci krystalicznej regularnej komórki perowskitowej ( Rys. 1). Warto ci f i h zwi zane s z parametrem komórki elementarnej c poprzez wyra enie f+h = c/2, liczba m wskazuje na ilo oktaedrów tlenowych w warstwie perowskitowej i mo e przyjmowa zarówno warto ci ca kowite, jak i u amkowe, p jest redni grubo ci warstwy perowskitowej (Rys. 1). U amkowe warto ci m odpowiadaj mieszanym strukturom warstwowym [6], które zawieraj warstwy perowskitowe o ró nej grubo ci. W celu otrzymania materia u ceramicznego Bi 5 Ti 3 FeO 15 o strukturze Aurivilliusa zastosowano metod spiekania pod ci nieniem. Wysuszone w suszarce w temperaturze T = 150 C proszki tlenków bizmutu Bi 2 O 3, tytanu TiO 2 i elaza Fe 2 O 3 odwa ono z uwzgl dnieniem wspó czynników reakcji chemicznej wg wzoru (1): 5Bi 2 O 3 + 6TiO 2 + Fe 2 O 3 2Bi 5 Ti 3 FeO 15 (1) Mieszanina proszków zosta a poddana mieleniu w m ynie kulowym przez 20h, a nast pnie poddana analizie termograwimetrycznej (TG) i ró nicowej analizie termicznej (DTA) z wykorzystaniem derywatografu STA 409. Syntez stechiometrycznej mieszaniny tlenków przeprowadzono w temperaturze T = 600 C w tyglu korundowym w atmosferze powietrza. Materia po syntezie zosta ponownie zmielony, sprasowany i uformowany w dyski o rednicy d = 10 mm i grubo ci g = 1 mm, pod ci nieniem p = 300 MPa lub p = 600 MPa i poddany procesowi spiekania pod ci nieniem (p = 20 MPa, przez 2 godziny). Temperatury spiekania wynosi y T = 720 C, T = 850 C, T = 900 C i T = 950 C. Struktur krystaliczn i sk ad fazowy otrzymanego materia u ceramicznego Bi 5 Ti 3 FeO 15 badano metod dyfrakcji rentgenowskiej przy u yciu dyfraktometru rentgenowskiego Philips PW 3710 (geometria Θ2Θ; promieniowanie CoKα; zakres k towy k ta ugi cia 2Θ = ; krok przesuwu licznika ΔΘ = 0,01 ; typ skanowania ci g y; czas zliczania impulsów t = 7s). Analiz dyfraktogramów rentgenowskich proszków ceramicznych przeprowadzono z wykorzystaniem powszechnie dost pnego programu komputerowego PowderCell [7] oraz specjalistycznego oprogramowania X Pert HighScore Plus (PANalytical B.V.) b d cego na wyposa eniu dyfraktometru rentgenowskiego X Pert Pro. Oba zastosowane programy wyposa one s w mo liwo dopasowania dyfraktogramu do za o onego modelu struktury przy pomocy metody Rietvelda. Program X Pert HighScore Plus pozwala ponadto na przeprowadzenie analizy fazowej, wykorzystuj c do tego najnowsz dost pn baz danych ICSD i ICDD. Analiz fazow przeprowadzono równie z wykorzystaniem ogólnie dost pnej bazy IUCr/COD/AMCSD przy pomocy programu Match! (Crystal Impact). Pomiary widm mössbauerowskich przeprowadzono na spektrometrze pracuj cym w uk adzie sta ego przyspieszenia w temperaturze pokojowej. U yto ród a 57 Co w matrycy Rh. W celu przeprowadzenia pomiarów próbka ceramiczna zosta a sproszkowana i rozdrobniona w mo dzierzu, a nast pnie proszek ceramiczny umieszczono w folii samoprzylepnej i zmierzono w geometrii transmisyjnej. Przed i po za MATERIA Y CERAMICZNE /CERAMIC MATERIALS/, 62, 2, (2010) 127

3 A. LISI SKACZEKAJ, E. JARTYCH, M. MAZUREK, J. DZIK, D. CZEKAJ ko czeniu pomiarów widm mössbauerowskich badanych próbek przeprowadzono pomiary widm cechowania spektrometru przy u yciu folii αfe o grubo ci oko o 25 μm. W celu przeprowadzenia pomiarów elektrycznych, na wszystkie próbki na o ono elektrody metod wypalania pasty srebrnej w temperaturze T = 700 C. Do badania zale no ci impedancji ( Z ) i k ta przesuni cia fazowego (ϕ) w funkcji cz stotliwo ci (ν) w zakresie od 20 Hz do 1 MHz zastosowano sterowany komputerowo miernik impedancji typu QuadTech1920. Do analizy otrzymanych wyników zastosowano metod porównania zachowania si rzeczywistego obiektu (ceramiki multiferroicznej BFTO) i jego uk adu zast pczego (tzw. elektrycznego modelu równowa nego) w okre lonym obszarze cz stotliwo ci. Do symulacji i dopasowania danych do wiadczalnych do odpowiedzi modelu matematycznego zastosowano program komputerowy (Scribner Associates, Inc.). Aproksymacja impedancji obiektu zycznego modelem równowa nym, umo liwia sprawdzenie poprawno ci zastosowanego modelu. Rys. 2. Termogramy DTA i TG mieszaniny stechiometrycznej tlenków sk adowych ceramiki Bi 5 Ti 3 FeO 15. Rys. 2. DTA and TG curves for stoichiometric mixture of oxides used for fabrication of Bi 5 Ti 3 FeO 15 ceramics. 3. Rezultaty i dyskusja W wyniku przeprowadzonych bada termograwimetrycznych (TG) stechiometrycznej mieszaniny proszków zauwa ono jednostajny proces ubytku masy zachodz cy pocz wszy od temperatury T = 200 C i osi gaj cy w temperaturze T = 900 C warto Δm = 0,76% (Rys. 2). Wyra ne maksimum endotermiczne na krzywej DTA rozpoczynaj ce si w T 1079 C i osi gaj ce maksimum w T 1129 C wiadczy o zachodz cym rozk adzie wytworzonego zwi zku Bi 5 Ti 3 FeO 15. Rentgenowska analiza fazowa proszku ceramicznego Bi 5 Ti 3 FeO 15 syntezowanego w T = 600 C i spiekanego w T = 850 C przeprowadzona zosta a z wykorzystaniem programu komputerowego Match! Wyniki przedstawione zosta y na R ys. 3. Mo na zauwa y, e dyfraktogram eksperymentalny z du dok adno ci (FOM = 0,817) odpowiada dyfraktogramowi materia u wzorcowego o identycznym sk adzie chemicznym i strukturze rombowej A21am (36). Jednocze nie podstawowy wspó czynnik R ys. 3. Wyniki rentgenowskiej analizy fazowej przedstawiaj ce na o enie eksperymentalnych linii dyfrakcyjnych i linii wzorca (karta ICSD ) o tym samym sk adzie chemicznym i strukturze rombowej A21am (36). Fig. 3. Results of Xray phase analysis showing correspondence of experimental diffraction lines and diffraction peaks of the reference sample of the same chemical composition and orthorhombic structure A21am (36). Ry s. 4. Dyfraktogram rentgenowski proszku ceramicznego Bi 5 Ti 3 FeO 15 wraz z dopasowaniem do za o onego modelu struktury. Indeksami Millera opisano 10 pierwszych linii dyfrakcyjnych. Dolny wykres przedstawia ró nic mi dzy dyfraktogramem eksperymentalnym i teoretycznym. Fig. 4. Xray diffraction pattern of Bi 5 Ti 3 FeO 15 ceramics and calculated pattern according to the Rietveld method. Ten rst peaks are labeled with hkl indices. The bottom curve shows the difference plot. 128 MATERIA Y CERAMICZNE /CERAMIC MATERIALS/, 62, 2, (2010)

4 DIELEKTRYCZNE I MAGNETYCZNE W A CIWO CI CERAMIKI MULTIFERROICZNEJ Bi 5 Ti 3 FeO 15 Rys. 5. Widma mössbauerowskie w temperaturze pokojowej ceramiki Bi 5 Ti 3 FeO 15 syntezowanej i spiekanej w ró nych temperaturach. Fig. 5. Room temperature Mössbauer spectra of Bi 5 Ti 3 FeO 15 ceramics synthesized at various temperatures. dyfraktogramu obliczonego z po o e eksperymentalnych linii dyfrakcyjnych wynosi Rp = 5,4%. Przeprowadzona strukturalna analiza rentgenowska pozwoli a na stwierdzenie, e wytworzona ceramika Bi 5 Ti 3 FeO 15 wykazuje struktur rombow, opisywan grup przestrzenn Cmc21 (36). Wykonane obliczenia pozwoli y na okre lenie parametrów komórki elementarnej a = 41,266(1) Å, b = 5,4639(2) Å, c = 5,4365(2) Å, redniego rozmiaru krystalitów <D> = 393 Å, oraz zniekszta ce sieciowych <Δd/d> = 0,246%. Dyfraktogram eksperymentalny proszku ceramicznego BTFO oraz dyfraktogram teoretyczny za o onego modelu struktury zamieszczono na Rys. 4. Indeksami Millera oznaczono 10 pierwszych linii dyfrakcyjnych. Nale y doda, e dopasowanie metod Rietvelda przeprowadzono wybieraj c do opisu pro lu linii dyfrakcyjnych funkcj Pseudo Voight a. Uzyskano nast puj ce parametry jako ci dopasowania: R exp = 4,89%, R p = 12,82% R wp = 16,95%. Dolna cz wykresu przedstawionego na R ys. 4 przedstawia wykres ró nicy mi dzy dyfraktogramem eksperymentalnym a modelem. Jak mo na zauwa y dla ca ego zakresu k tów ugi cia 2Θ ró nica jest mniejsza od Rys. 6. Widmo mössbauerowskie ceramiki Bi 5 Ti 3 FeO 15 spiekanej w T = C Fig. 6. Mössbauer spectrum of Bi 5 Ti 3 FeO 15 ceramics synthesized at T = C. ±40 zlicze, co wiadczy o bardzo dobrej jako ci dopasowania, a tym samym o bardzo dobrej jako ci struktury krystalicznej wytworzonej ceramiki Bi 5 Ti 3 FeO 15. Spektroskopia efektu Mössbauera jest jedn z metod badania oddzia ywa nadsubtelnych, de niowanych jako oddzia ywania momentów elektromagnetycznych j der atomowych z polami pozaj drowymi: elektrycznym i magnetycznym. Po rezonansowej absorpcji promieniowania γ j dro 57 Fe znajduj ce si w absorbencie powraca do stanu podstawowego emituj c przy tym kwanty promieniowania γ lub elektrony konwersji wewn trznej wraz z towarzysz cymi im elektronami Augera i kwantami promieniowania X. Znajomo oddzia ywa nadsubtelnych dostarcza informacji np. o wielko ci wewn trznych pól magnetycznych, a tak e o strukturze elektronowej badanego materia u [8]. Pomiary widm mössbauerowskich proszków ceramicznych Bi 5 Ti 3 FeO 15 syntezowanych i spiekanych w ró nych temperaturach przedstawiono na Ry s. 5. Mo na zauwa y, e widmo ceramiki syntezowanej w T = 720 C stanowi superpozycj trzech sk adowych, a mianowicie sekstetu linii odznaczaj cych si parametrami oddzia ywania nadsubtelnego typowymi dla hematytu i dwoma dubletami. Parametry Tabe la 1. Parametry oddzia ywa nadsubtelnych w ceramice Bi 5 Ti 3 FeO 15 : B hf indukcja nadsubtelnego pola magnetyczne, δ przesuni cie izomeryczne wzgl dem αfe, Δ przesuni cie kwadrupolowe, QS rozszczepienie kwadrupolowe dubletu, A wzgl dny udzia sk adowych Table 1. Hyper ne interaction parameters obtained from the numerical tting of the Mössbauer spectra for Bi 5 Ti 3 FeO 15 ceramics: B hf hyper ne magnetic eld, δ isomer shift relative to αiron, Δ quadrupole shift of the magnetically split spectra, QS quadrupole splitting of the doublet, A area ration of the components. Parametr technologiczny Sk adnik B hf [T] δ [mm/s] Δ [mm/s] QS [mm/s] A [%] Uwagi 720 C sekstet 51, 65(1) 0,35(1) 0,41(1) 0,21(1) 0,09(1) 0,30(1) 0,30(1) hematyt 850 C 0,49(1) 0,31(1) 0,28(1) 0,29(1) C; 600 MPa 0,38(1) 0,17(1) 0,28(1) 0,28(1) C 0,38(1) 0,19(1) 0,28(1) 0,29(1) C, 600 MPa 0,42(1) 0,23(1) 0,29(1) 0,29(1) MATERIA Y CERAMICZNE /CERAMIC MATERIALS/, 62, 2, (2010) 129

5 A. LISI SKACZEKAJ, E. JARTYCH, M. MAZUREK, J. DZIK, D. CZEKAJ oddzia ywa nadsubtelnych przedstawiono w T abeli 1. Pozosta e próbki ceramiczne spiekane w wy szych temperaturach charakteryzuj si obecno ci dwóch dubletów linii. Mo na zauwa y, e dublety te odznaczaj si prawie identycznymi warto ciami rozszczepienia kwadrupolowego, jednak e przesuni cie izomeryczne dubletu 1 jest oko o dwa razy wi ksze ni dubletu 2. Co wi cej dublety konkuruj ze sob, co jest odzwierciedlone warto ci wzgl dnego udzia u sk adowych w widmie ( Tabela 1). W celu obserwacji szczegó ów widma mössbauerowskiego ceramiki BTFO przeprowadzono jego rejestracj w mniejszym zakresie pr dko ci (Rys. 6). Widma dopasowano numerycznie przy za o eniu dwóch po o e 57 Fe w strukturze BTFO, a mianowicie w rodku oktaedru tlenowego (po o enie tetraedryczne, Ry s. 6, linia ci g a) oraz oktaedrycznego (R ys. 6, linia kropkowana) w rogu prostopad o cianu Do badania dynamicznych w a ciwo ci ceramiki Bi 5 Ti 3 FeO 15 w funkcji cz stotliwo ci zastosowano spektroskopi impedancyjn (SI), która polega na pomiarze elektrycznej odpowiedzi materia u pobudzonego ma ym sinusoidalnym sygna em elektromagnetycznym w szerokim pa mie cz stotliwo ci i analizie tej odpowiedzi w celu uzyskania u ytecznej informacji o zykochemicznych w a ciwo ciach badanego materia u [9, 10]. Do prezentacji wyników pomiarów, dokonanych przy pomocy SI, wykorzystywana jest zazwyczaj jedna (lub wi cej) z czterech funkcji, a mianowicie: zespolona impedancja (Z * ), zespolona admitancja (Y * ), zespolona przenikalno elektryczna (ε * ) oraz zespolony modu elektrycznym (M * ) [9, 11]. Podstawowe wielko ci opisuj ce dynamiczne w a ciwo ci mierzonego systemu w funkcji cz stotliwo ci i zwi zki mi dzy nimi przedstawione s przez równania 26 [12]: Impedancja zespolona * ' " j Z = Z jz = RS (2) ωcs Admitancja zespolona ( ) ( ) Y = Y + jy = + jωcp = G ω + jb ω (3) RP Przenikalno elektryczna * ' " ε = ε jε (4) Modu elektryczny 1 * * ' " * M = ε = M + jm = jωc Z (5) * ' " 1 ( ) 0 Stratno dielektryczna ' ' " " Z Y ε M tanδ = = = = (6) " " ' Z Y ε ' M W równaniach 26 indeksy p i s odnosz si od elementów równoleg ego i szeregowego elektrycznego obwodu równowa nego, ω = 2πf, cz sto ko owa, C 0 pojemno kondensatora pró niowego o wymiarach odpowiadaj cych badanej próbce, (Z, Y,, M ) i (Z, Y,, M ) rzeczywista i urojona cz impedancji, admitancji, przenikalno ci elektrycznej i modu u elektrycznego odpowiednio, G konduktancja, B susceptancja i tgδ tangens k ta strat dielektrycznych. Powy sze równania s wzajemnie powi zane i oferuj szerokie mo liwo ci prezentacji gra cznych wyników pomiarów. Pomimo, i ró ni autorzy wykorzystuj ró ne formalizmy matematyczne do prezentacji wyników bada, dla lepszego zrozumienia zachodz cych w materiale zjawisk polaryzacyjnych korzystne jest przedstawienie wyników w kilku alternatywnych, lecz w zasadzie równowa nych, reprezentacjach. W przypadku, gdy czasy relaksacji badanych procesów ró ni si w wyniku ró nicy sk adowych pojemno ciowych, zwykle do prezentacji wyników wykorzystywana jest p aszczyzna zespolonej impedancji (Z * ). Natomiast prezentacja wyników w p aszczy nie modu u elektrycznego (M*) lub przenikalno ci elektrycznej (ε*) wykorzystywana jest do analizy odpowiedzi uk adów dielektrycznych o zbli onych sk adowych pojemno ciowych [13, 14]. Wy kresy przedstawione w p aszczy nie zespolonej impedancji Z Z wykorzystywane s do okre lenia dominuj cej rezystancji badanego materia u. Niestety, s one nieprzydatne w przypadku ma ych rezystancji, poniewa odpowied elektryczna uk adu zdominowana jest przez równoleg y obwód elektryczny RC z du ym R. Natomiast wykresy przedstawione w p aszczy nie modu u elektrycznego (M M ) odzwierciedlaj dominacj równowa nego uk adu równoleg ego RC z ma warto ci C i tym samym s przydatne do okre lania najmniejszych pojemno ci. Dlatego te korzystne jest jednoczesne przedstawienie wyników bada spektroskopowych w p aszczy nie impedancji i modu u elektrycznego. Dla zbli onych przewodno ci, ale ró nych pojemno ci dobr rozdzielczo uzyskuje si na widmie Z = f(z ) natomiast, gdy przewodno ci faz s ró ne a pojemno ci zbli one widmo M =f(m ) pozwala na precyzyjne wyznaczenie sta ych czasowych [15]. a) b) c) Rys. 7. Wynik i testów spójno ci impedancyjnych danych pomiarowych zarejestrowanych dla ceramiki BTFO w: a) temperaturze pokojowej, b) T = 200 C oraz c) T = 500 C. Fig. 7. Results of KK test in the form of the relative differences plot for BTFO ceramics at: a) T = RT, b) T = 200 C and c) T = 500 C. 130 MATERIA Y CERAMICZNE /CERAMIC MATERIALS/, 62, 2, (2010)

6 DIELEKTRYCZNE I MAGNETYCZNE W A CIWO CI CERAMIKI MULTIFERROICZNEJ Bi 5 Ti 3 FeO 15 Dane eksperymentalne otrzymane w wyniku badania ceramiki Bi 5 Ti 3 FeO 15 poddane zosta y analizie zgodno ci z wykorzystaniem równa KramersaKroniga (KK) [16]. Rów nania KK pozwalaj wyznaczy rzeczywist sk adow impedancji (Z ) z zale no ci dyspersyjnej sk adowej urojonej (Z ): " " ' 2 xz ( x) ωz ( ω) Z ( ω) = R + dx (7) 2 2 π x ω 0 gdzie: R = Z ( ) rezystancja dla cz stotliwo ci optycznych. Z drugiej strony, z cz ci rzeczywistej (Z ) impedancji mo na wyznaczy cz urojon (Z ). Z '' ( ω) ' ( ) ( ) ' 2ω Z x Z ω = dx (8) 2 2 π x ω 0 Post puj c wed ug metodyki opisanej w literaturze [np. 12, 16,] i stosuj c oprogramowanie KK Test (Bernard A. Boukamp) [16] przeprowadzono ocen zgodno ci otrzymanych danych impedancyjnych dla ceramiki Bi 5 Ti 3 FeO 15. Przyk adowy wynik testu spójno ci przedstawiono na Rys. 7. Jak pokazano na Rys. 7a i Rys. 7b widm o rezydualne (rozk ad pozosta o ci) przedstawiaj ce zale no cz stotliwo ciow wzgl dnej ró nicy pomi dzy danymi eksperymentalnymi i danymi otrzymanymi w wyniku testu KK ma charakter szumu wokó osi cz stotliwo ci, co wiadczy o poprawno ci danych eksperymentalnych [17]. Natomiast na Rys. 7c mo na zauwa y, e rozk ad pozosta o ci 1 1 ωmax = = (9) τ RC gdzie: τ czas relaksacji. W idealnym przypadku wyst powania du ej ró nicy pomi dzy cz stotliwo ci relaksacji procesów przyelektrodowych (ν el ), procesów na granicach ziaren (ν gb ) oraz procesów wewn trz ziaren (ν B ) widmo impedancyjne Z Z powinno zawiera wyra nie rozdzielone wk ady poszczególnych komponentów (ziaren, granic ziaren i obszarów mi dzyfazowych), dla których spe niona jest zale no [14]: νb >> νgb >> ν (10) el Niestety, w rzeczywistych uk adach tlenkowych takie zachowanie bywa zwykle bardziej skomplikowane z powodu wielu czynników wp ywaj cych na w a ciwo ci ziaren i granic ziaren, w ród których mo na wymieni sk ad chemiczny, zanieczyszczenia, starzenie i warunki technologiczne procesu wytwarzania [12]. Na Rys. 8 mo na zauwa y, e widma impedancyjne ceramiki BTFO tworz fragment pó kola (dla T = RT) lub pó kole o obni onym rodku, co wiadczy o na o eniu si procesów relaksacyjnych. Warto ci rzeczywistej sk adowej impedancji, znajduj ce si w punkcie przeci cia zdeformowanego pó kola z osi Z malej ze wzrostem temperatury. Dodatkowo, dla ma ych cz stotliwo ci i podwy szonej temperatury na widmach impedancyjnych Z Z mo na zauwa y niewielki ogon (Rys. 8b). Pr ezentacja danych impedancyjnych w postaci wykresów Bode go, pozwala na obserwacj zachowania odpowiedzi dielektrycznej, a zw aszcza zale no ci cz stotliwo ciowej k ta przesuni cia fazowego, w ca ym zakresie badanych cz stotliwo ci (Rys. 9). Uk ady rzeczywiste materia ów ceramicznych rzadko kiedy mo emy opisa za pomoc prostego uk adu RC. Transportowi adunku w materiale ceramicznym towarzyszy szereg zjawisk elektrochemicznych (polaryzacja elektrod, dya) b) Rys. 8. Wykres y danych impedancyjnych ceramiki Bi 5 Ti 3 FeO 15 przedstawione w p aszczy nie zespolonej Z Z dla pomiarów przeprowadzonych w: a) T = 25 C i T = 200 C oraz b) T = C, oraz wyniki dopasowania metod najmniejszych kwadratów do odpowiedzi elektrycznego obwodu równowa nego Fig. 8. Plot of Z vs. Z for Bi 5 Ti 3 FeO 15 ceramics measured at: a) T = 25 C, T = 200 C and b) T = C. Combination of the measured impedance data (symbols) and its CNLS t (line) is given. wskazuje na odchylenia od zachowania KK przejawiaj ce si w wyra nie wyra onej pewnej funkcjonalnej zale no ci. Jednak e to odchylenie jest wyj tkowo ma e, mniejsze ni 1%. Warto ci parametru pseudoχ 2 dla oblicze przedstawionych na Rys. 7a, b i c wynosi odpowiednio χ 2 = , χ 2 = 8, i χ 2 = 8,3 10 6, wiadcz c o dobrej spójno ci danych pomiarowych. Do prezentacji wyników bada impedancyjnych ceramiki BTFO zastosowano dwa alternatywne sposoby, a mianowicie prezentacj wyników w p aszczy nie zespolonej Z Z (Rys. 8) o raz w postaci wykresów Bode go (Rys. 9 W materiale ceramicznym o strukturze typu perowskitu, charakteryzuj cym si przewodnictwem jonowym lub mieszanym, wk ad w warto impedancji daj zarówno ziarna, granice ziaren, jak i obszary przyelektrodowe [18]. Dlatego te mo na oczekiwa, e odpowied elektryczna uk adu, przedstawiona w postaci gra cznej na p aszczy nie zespolonej (tzw. wykresy Nyquista), przejawi si w formie nast puj cych po sobie pó koli. Ka de pó kole osi ga maksimum przy cz stotliwo ci relaksacji ( max ) reprezentuj cej zjawisko elektryczne zwi zane z poszczególnymi sk adnikami materia u: wn trzem materia u, wp ywem granic ziaren czy te zjawiskami na granicach mi dzyfazowych (np. materia elektroda). Cz stotliwo relaksacji wyra a si w nast puj cej postaci: MATERIA Y CERAMICZNE /CERAMIC MATERIALS/, 62, 2, (2010) 131

7 A. LISI SKACZEKAJ, E. JARTYCH, M. MAZUREK, J. DZIK, D. CZEKAJ k, natomiast obecno impedancji Warburga W wynika z dyfuzji jonów w materiale próbki. Aproksymacja impedancji obiektu zycznego modelem równowa nym, umo liwia sprawdzenie jego poprawno ci przez porównanie przebiegów charakterystyk w okre lonym obszarze cz stotliwo ci. Jako parametr jako ci dopasowania widma modelu do eksperymentalnego widma impedancyjnego wykorzystano warto ci wa onej sumy kwadratów (W SS ) oraz kwadrat (chikwadrat), które wynosz odpowiednio: W SS = 5, , 2 = 3, (dla T = RT); W SS = 1, , 2 = 1, (dla T = 200 C); W SS = 3, , 2 = 2, (dla T = 300 C); W SS = 2, , 2 = 1, (dla T = 400 C); W SS = 2, , 2 = 1, (dla T = 500 C). Naa) b) Rys. 9. Wykresy Bode go danych impedancyjnych ceramiki Bi 5 Ti 3 FeO 15 przedstawione dla pomiarów przeprowadzonych w: a) T = 25 C i T = 200 C oraz b) T = C. Fig. 9. Combination of the measured impedance data for Bi 5 Ti 3 FeO 15 ceramics (symbols) and its CNLS t (line) at: a) T = 25 C, T = 200 C and b) T = C. a) b) Rys. 10. Elektryc zne obwody równowa ne zastosowane do symulacji widm impedancyjnych ceramiki BTFO zarejestrowane w: a) T = RT i T = 200 C oraz b) T = C. Fig. 10. Schematic representation of the equivalent circuit used in the dispersion analysis for BTFO ceramics at: T = RT and T = 200 C and b) T = C. fuzja termiczna i migracja jonów, niehomogeniczny rozk ad energii aktywacji przewodzenia i wynikaj ce st d ró ne czasy relaksacji, wp yw rozwini cia powierzchni i sko czono ci rozmiarów próbki), które nale y uwzgl dni przy opisaniu uk adu rzeczywistego [19]. Jak wykaza y badania w a ciwo ci dielektrycznych ceramiki BFTO przeprowadzone w niniejszej pracy metod spektroskopii impedancyjnej, przy budowaniu modelu elektrycznego badanego uk adu oprócz równoleg ych po cze rezystorów (R) i kondensatorów (C), odpowiadaj cych za zjawiska zachodz ce na granicy materia elektroda oraz zjawiska relaksacyjne wyst puj ce we wn trzu próbki oraz na granicach ziaren, koniecznym by o uwzgl dnienie dodatkowych elementów, tzw. elementów niedebajowskich, w postaci elementu CPE (element pojemno ciowy o sta ym k cie fazowym) [12] i elementu impedancyjnego Warburga (W) [19]. Dzi ki zastosowaniu elementu Warburga mo na by o opisa (zasymulowa ) odpowied elektryczn multiferroicznej ceramiki BTFO, uwzgl dniaj c jej wysokie przewodnictwo wyst puj ce ju w temperaturze pokojowej [20]. Zastosowane do symulacji elektryczne obwody równowa ne przedstawiono na Rys. 1 Elektryczny obwód zast pczy ceramiki BTFO w zakresie temperatury T = RT 200 C (Rys. 10a), oprócz dwóch równoleg ych obwodów RCPE, zawiera element impedancyjny Warburga po czony równolegle z elementem kondensatorowym o sta ej fazie. Natomiast dla temperatury T = C widma impedancyjne ceramiki BTFO odpowiadaj modelowi opisuj cemu zjawiska zachodz ce w cia ach sta ych wykazuj cych wysoka przewodno jonow [19]. Obwód ten tworz równoleg e po czenie elementu CPE z szeregowo po czon rezystancj i elementem impedancyjnym Warburga (Rys. 10b). Element CPE okre la pojemno warstwy podwójnej na granicy elektroda materia próbki, rezystor R okre la rezystancj transferu adunku przez prób 132 MATERIA Y CERAMICZNE /CERAMIC MATERIALS/, 62, 2, (2010)

8 DIELEKTRYCZNE I MAGNETYCZNE W A CIWO CI CERAMIKI MULTIFERROICZNEJ Bi 5 Ti 3 FeO 15 le y zauwa y, e obie charakterystyki liczbowe (tzn, W SS i 2 ) wiadcz o uzyskaniu dobrej zgodno ci widma modelu elektrycznego i widma impedancji badanej ceramiki multiferroicznej BTFO. 4. Wnioski Ze stechiometrycznej mieszaniny tlenków bizmutu (Bi 2 O 3 ), tytanu (TiO 2 ) i elaza (Fe 2 O 3 ) przy pomocy spiekania pod ci nieniem wytworzono ceramik Bi 5 Ti 3 FeO 15. Ró nicowa analiza termiczna pozwoli a na wyznaczenie warunków spiekania mieszaniny tlenków. Zidenty kowano symetri krystaliczn ceramiki BTFO jako rombow opisywan grup przestrzenn Cmc21 (36). Wyznaczono parametry komórki elementarnej: a = 41,266(1) Å; b = 5,4639(2) Å, c = 5,4365(2) Å, redni rozmiar krystalitów <D> = 393 Å i redni warto zniekszta ce sieciowych Δd/d = 0,246%. Pomiary widm mössbauerowskich ceramiki Bi 5 Ti 3 FeO 15 pozwoli y stwierdzi, e widmo ceramiki syntezowanej w T = 720 C zawiera oprócz dubletów linii charakteryzuj cych faz paramagnetyczn sk adowe typowe dla hematytu (sekstet) podczas, gdy pozosta e próbki ceramiczne spiekane w wy szych temperaturach charakteryzuj si obecno ci dwóch dubletów linii. Badania dynamicznych w a ciwo ci dielektrycznych ceramiki Bi 5 Ti 3 FeO 15 w funkcji cz stotliwo ci przeprowadzone przy pomocy spektroskopii impedancyjnej w zakresie temperatur T = RT 500 C pozwoli o stwierdzi, e wraz ze wzrostem temperatury warto impedancji maleje. Cz stotliwo odpowiadaj ca punktowi przegi cia na krzywej cz stotliwo ci zale no ci fazy przesuwa si w stron wy szych temperatur. Elektryczny obwód równowa ny ceramiki BTFO w temperaturze T 200 C uwzgl dnia wp yw poszczególnych sk adników materia u: jego wn trza, granic ziaren oraz granic mi dzyfazowych. Natomiast obwód równowa ny dla 300 T 500 zdominowany jest przez elementy typowe dla opisu materia u wykazuj cego wysok przewodno jonow. [7] Kraus W., Nolze G., Powder cell a program for the representation and manipulation of crystal structures and calculation of the resulting Xray powder patterns, J. Appl. Cryst., 29, (1996), [8] Jartych E.: Oddzia ywania nadsubtelne w materia ach nanokrystalicznych, Wydawnictwa Uczelniane, Politechnika Lubelska, Lublin, [9] Barsukov E., Ross Macdonald J., (Red)., Impedance spectroscopy, theory, experiment, and applications, John Willey &Sons, Inc., Hoboken, New Jersey, [10] Nitsch K.: Zastosowanie spektroskopii impedancyjnej w badaniach materia ów elektronicznych, O. Wyd. Polit. Wroc awskiej, Wroc aw [11] Bogusz W., Krok F.: Elektrolity sta e. W a ciwo ci elektryczne i sposoby ich pomiaru, WNT Warszawa, [12] Czekaj D., Lisi skaczekaj A., Orkisz T., Orkisz J., Smalarz G.: Impedancje spectroscopic studies of solgel derived barium strontium titanate thin lms, J. Eur. Ceram. Soc., 30, (2010), [13] Abrantes J.C.C., Labrincha J.A., Frade J.R.: An alternative representation of impedance spectra of ceramics, Mater. Res. Bull., 35, (2000), [14] Abrantes J.C.C., Labrincha J.A., Frade J.R.: Representations of impedance spectra of ceramics, Mater. Res. Bull., 35, (2000), [15] Sinclair D.C., West A.R.: Effect of atmosphere on the PTCR properties of BaTiO 3 ceramics, J. Mater. Sci., 29, 23, (1994), [16] Boukamp B.A.: Electrochemical impedance spectroscopy, Solid State Ionics, 169, (2004), [17] Boukamp B.A.: A linear KronigKramers transform test for immitance data validation, J. Electrochem. Soc.,142, (1995), [18] Bauerle J.E.: Study of solid electrolyte polarization by a complex admittance method, J. Phys. Chem. Solids, 30, 12, (1969), [19] Nocu M.: Wprowadzenie do spektroskopii impedancyjnej w badaniach materia ów ceramicznych, Wyd. Nauk. Akapit, Kraków [20] Dygas J.R., Kurek P., Reiter M.W.: Structuredependent impedance of BICUVOX, Electrochemica Acta, 40, (1995), Podzi kowanie Praca naukowa nansowana ze rodków na nauk w latach jako projekt badawczy Nr N N Literatura [1] Fiebig M: J. Phys. D: Revival of the magnetoelectric effect, Applied Physics, 38, 8, (2005), R123. [2] Khomskii D.I.: Multiferroics: Different ways to combine magnetism and ferroelectricity, Journal of Magnetism and Magnetic Materials, 306, (2006), 18. [3] Ederer C., Spaldin N.A.: A new route to magnetic ferroelectrics (News & Views), Nature Materials, 3, (2004), [4] Krzhizhanovskaya M., Filatov S., Gusarov V., Pau er P., Bubnova R., Morozov M., Meyer D.C.: Aurivillius Phases in the Bi 4Ti 3 O 12 /BiFeO 3 System: Thermal Behaviour and Crystal Structure, Z. Anorg. Allg. Chem., 631, (2005), [5] Lomanova N.A., Morozov M.I., Ugolkov V.L., Gusarov V.V.: Properties of Aurivillius Phases in the Bi 4 Ti 3 O 12 BiFeO 3, System Inorganic Materials, 42, 2 (2006), 189. [6] LisinskaCzekaj A., Czekaj D., Surowiak Z., Ilczuk J., Plewa J., Leyderman A.V., Gagarina E.S., Shuvaev A.T., Fesenko E.G.: Synthesis and dielectric properties of A m1 Bi 2 B m O 3m+3 ceramic ferroelectrics with m=1.5, J. Eur. Ceram. Soc., 24, (2004), MATERIA Y CERAMICZNE /CERAMIC MATERIALS/, 62, 2, (2010) 133

7. REZONANS W OBWODACH ELEKTRYCZNYCH

7. REZONANS W OBWODACH ELEKTRYCZNYCH OBWODY SYGNAŁY 7. EZONANS W OBWODAH EEKTYZNYH 7.. ZJAWSKO EZONANS Obwody elektryczne, w których występuje zjawisko rezonansu nazywane są obwodami rezonansowymi lub drgającymi. ozpatrując bezźródłowy obwód

Bardziej szczegółowo

PRAWA ZACHOWANIA. Podstawowe terminy. Cia a tworz ce uk ad mechaniczny oddzia ywuj mi dzy sob i z cia ami nie nale cymi do uk adu za pomoc

PRAWA ZACHOWANIA. Podstawowe terminy. Cia a tworz ce uk ad mechaniczny oddzia ywuj mi dzy sob i z cia ami nie nale cymi do uk adu za pomoc PRAWA ZACHOWANIA Podstawowe terminy Cia a tworz ce uk ad mechaniczny oddzia ywuj mi dzy sob i z cia ami nie nale cymi do uk adu za pomoc a) si wewn trznych - si dzia aj cych na dane cia o ze strony innych

Bardziej szczegółowo

2.Prawo zachowania masy

2.Prawo zachowania masy 2.Prawo zachowania masy Zdefiniujmy najpierw pewne podstawowe pojęcia: Układ - obszar przestrzeni o określonych granicach Ośrodek ciągły - obszar przestrzeni którego rozmiary charakterystyczne są wystarczająco

Bardziej szczegółowo

Harmonogramowanie projektów Zarządzanie czasem

Harmonogramowanie projektów Zarządzanie czasem Harmonogramowanie projektów Zarządzanie czasem Zarządzanie czasem TOMASZ ŁUKASZEWSKI INSTYTUT INFORMATYKI W ZARZĄDZANIU Zarządzanie czasem w projekcie /49 Czas w zarządzaniu projektami 1. Pojęcie zarządzania

Bardziej szczegółowo

LABORATORIUM PRZYRZĄDÓW PÓŁPRZEWODNIKOWYCH

LABORATORIUM PRZYRZĄDÓW PÓŁPRZEWODNIKOWYCH Wydział Elektroniki Mikrosystemów i Fotoniki Politechniki Wrocławskiej STUDA DZENNE e LAORATORUM PRZYRZĄDÓW PÓŁPRZEWODNKOWYH LPP 2 Ćwiczenie nr 10 1. el ćwiczenia Przełączanie tranzystora bipolarnego elem

Bardziej szczegółowo

Badanie silnika asynchronicznego jednofazowego

Badanie silnika asynchronicznego jednofazowego Badanie silnika asynchronicznego jednofazowego Cel ćwiczenia Celem ćwiczenia jest poznanie budowy i zasady funkcjonowania silnika jednofazowego. W ramach ćwiczenia badane są zmiany wartości prądu rozruchowego

Bardziej szczegółowo

UKŁAD ROZRUCHU SILNIKÓW SPALINOWYCH

UKŁAD ROZRUCHU SILNIKÓW SPALINOWYCH UKŁAD ROZRUCHU SILNIKÓW SPALINOWYCH We współczesnych samochodach osobowych są stosowane wyłącznie rozruszniki elektryczne składające się z trzech zasadniczych podzespołów: silnika elektrycznego; mechanizmu

Bardziej szczegółowo

Ć W I C Z E N I E 5. Częstotliwość graniczna

Ć W I C Z E N I E 5. Częstotliwość graniczna 36 Ć W I Z E N I E 5 PASYWNE FILTY ZĘSTOTLIWOŚI. WIADOMOŚI OGÓLNE Filtrem częstotliwości nazywamy układ o strukturze czwórnika (czwórnik to układ mający cztery zaciski jedna z par zacisków pełni rolę wejścia,

Bardziej szczegółowo

SPEKTROSKOPIA LASEROWA

SPEKTROSKOPIA LASEROWA SPEKTROSKOPIA LASEROWA Spektroskopia laserowa dostarcza wiedzy o naturze zjawisk zachodz cych na poziomie atomów i cz steczek oraz oddzia ywaniu promieniowania z materi i nale y do jednej z najwa niejszych

Bardziej szczegółowo

Ćwiczenie: "Ruch harmoniczny i fale"

Ćwiczenie: Ruch harmoniczny i fale Ćwiczenie: "Ruch harmoniczny i fale" Opracowane w ramach projektu: "Wirtualne Laboratoria Fizyczne nowoczesną metodą nauczania realizowanego przez Warszawską Wyższą Szkołę Informatyki. Zakres ćwiczenia:

Bardziej szczegółowo

Pomiar mocy pobieranej przez napędy pamięci zewnętrznych komputera. Piotr Jacoń K-2 I PRACOWNIA FIZYCZNA 25. 01. 2010

Pomiar mocy pobieranej przez napędy pamięci zewnętrznych komputera. Piotr Jacoń K-2 I PRACOWNIA FIZYCZNA 25. 01. 2010 Pomiar mocy pobieranej przez napędy pamięci zewnętrznych komputera. Piotr Jacoń K-2 I PRACOWNIA FIZYCZNA 25. 01. 2010 I. Cel ćwiczenia: Poznanie poprzez samodzielny pomiar, parametrów elektrycznych zasilania

Bardziej szczegółowo

wiat o mo e by rozumiane jako strumie fotonów albo jako fala elektromagnetyczna. Najprostszym przypadkiem fali elektromagnetycznej jest fala p aska

wiat o mo e by rozumiane jako strumie fotonów albo jako fala elektromagnetyczna. Najprostszym przypadkiem fali elektromagnetycznej jest fala p aska G ÓWNE CECHY WIAT A LASEROWEGO wiat o mo e by rozumiane jako strumie fotonów albo jako fala elektromagnetyczna. Najprostszym przypadkiem fali elektromagnetycznej jest fala p aska - cz sto ko owa, - cz

Bardziej szczegółowo

tel/fax 018 443 82 13 lub 018 443 74 19 NIP 7343246017 Regon 120493751

tel/fax 018 443 82 13 lub 018 443 74 19 NIP 7343246017 Regon 120493751 Zespół Placówek Kształcenia Zawodowego 33-300 Nowy Sącz ul. Zamenhoffa 1 tel/fax 018 443 82 13 lub 018 443 74 19 http://zpkz.nowysacz.pl e-mail biuro@ckp-ns.edu.pl NIP 7343246017 Regon 120493751 Wskazówki

Bardziej szczegółowo

Badanie struktury, składu fazowego i chemicznego ceramiki Bi 1-x Nd x FeO 3

Badanie struktury, składu fazowego i chemicznego ceramiki Bi 1-x Nd x FeO 3 MATERIA Y CERAMICZNE /CERAMIC MATERIALS/, 67, 2, (2015), 171-176 www.ptcer.pl/mccm Badanie struktury, składu fazowego i chemicznego ceramiki Bi 1-x Nd x FeO 3 Jolanta Dzik*, Dionizy Czekaj Uniwersytet

Bardziej szczegółowo

Wzmacniacze. Rozdzia Wzmacniacz m.cz

Wzmacniacze. Rozdzia Wzmacniacz m.cz Rozdzia 3. Wzmacniacze 3.1. Wzmacniacz m.cz Rysunek 3.1. Za o enia projektowe Punkt pracy jest tylko jednym z parametrów opisuj cych prac wzmacniacza. W tym rozdziale zajmiemy si zaprojektowaniem wzmacniacza

Bardziej szczegółowo

Metrologia cieplna i przepływowa

Metrologia cieplna i przepływowa Metrologia cieplna i przepływowa Systemy, Maszyny i Urządzenia Energetyczne, I rok mgr Pomiar małych ciśnień Instrukcja do ćwiczenia Katedra Systemów Energetycznych i Urządzeń Ochrony Środowiska AGH Kraków

Bardziej szczegółowo

ANALOGOWE UKŁADY SCALONE

ANALOGOWE UKŁADY SCALONE ANALOGOWE UKŁADY SCALONE Ćwiczenie to ma na celu zapoznanie z przedstawicielami najważniejszych typów analogowych układów scalonych. Będą to: wzmacniacz operacyjny µa 741, obecnie chyba najbardziej rozpowszechniony

Bardziej szczegółowo

Wyznaczanie współczynnika sprężystości sprężyn i ich układów

Wyznaczanie współczynnika sprężystości sprężyn i ich układów Ćwiczenie 63 Wyznaczanie współczynnika sprężystości sprężyn i ich układów 63.1. Zasada ćwiczenia W ćwiczeniu określa się współczynnik sprężystości pojedynczych sprężyn i ich układów, mierząc wydłużenie

Bardziej szczegółowo

Lekcja 173, 174. Temat: Silniki indukcyjne i pierścieniowe.

Lekcja 173, 174. Temat: Silniki indukcyjne i pierścieniowe. Lekcja 173, 174 Temat: Silniki indukcyjne i pierścieniowe. Silnik elektryczny asynchroniczny jest maszyną elektryczną zmieniającą energię elektryczną w energię mechaniczną, w której wirnik obraca się z

Bardziej szczegółowo

Agrofi k zy a Wyk Wy ł k ad V Marek Kasprowicz

Agrofi k zy a Wyk Wy ł k ad V Marek Kasprowicz Agrofizyka Wykład V Marek Kasprowicz Spektroskopia p nauka o powstawaniu i interpretacji widm powstających w wyniku oddziaływań wszelkich rodzajów promieniowania na materię ę rozumianą jako zbiorowisko

Bardziej szczegółowo

TYTUŁ IPS P przyrząd do badania imisji wg nowej metody pomiaru

TYTUŁ IPS P przyrząd do badania imisji wg nowej metody pomiaru KAMIKA Instruments PUBLIKACJE TYTUŁ IPS P przyrząd do badania imisji wg nowej metody pomiaru AUTORZY Dorota Kamińska, Stanisław Kamiński, KAMIKA Instruments DZIEDZINA Ochrona atmosfery, ochrona środowiska

Bardziej szczegółowo

PODSTAWY METROLOGII ĆWICZENIE 4 PRZETWORNIKI AC/CA Międzywydziałowa Szkoła Inżynierii Biomedycznej 2009/2010 SEMESTR 3

PODSTAWY METROLOGII ĆWICZENIE 4 PRZETWORNIKI AC/CA Międzywydziałowa Szkoła Inżynierii Biomedycznej 2009/2010 SEMESTR 3 PODSTAWY METROLOGII ĆWICZENIE 4 PRZETWORNIKI AC/CA Międzywydziałowa Szkoła Inżynierii Biomedycznej 29/2 SEMESTR 3 Rozwiązania zadań nie były w żaden sposób konsultowane z żadnym wiarygodnym źródłem informacji!!!

Bardziej szczegółowo

WYZNACZANIE PRZYSPIESZENIA ZIEMSKIEGO ZA POMOCĄ WAHADŁA REWERSYJNEGO I MATEMATYCZNEGO

WYZNACZANIE PRZYSPIESZENIA ZIEMSKIEGO ZA POMOCĄ WAHADŁA REWERSYJNEGO I MATEMATYCZNEGO Nr ćwiczenia: 101 Prowadzący: Data 21.10.2009 Sprawozdanie z laboratorium Imię i nazwisko: Wydział: Joanna Skotarczyk Informatyki i Zarządzania Semestr: III Grupa: I5.1 Nr lab.: 1 Przygotowanie: Wykonanie:

Bardziej szczegółowo

Automatyka. Etymologicznie automatyka pochodzi od grec.

Automatyka. Etymologicznie automatyka pochodzi od grec. Automatyka Etymologicznie automatyka pochodzi od grec. : samoczynny. Automatyka to: dyscyplina naukowa zajmująca się podstawami teoretycznymi, dział techniki zajmujący się praktyczną realizacją urządzeń

Bardziej szczegółowo

40. Międzynarodowa Olimpiada Fizyczna Meksyk, 12-19 lipca 2009 r. ZADANIE TEORETYCZNE 2 CHŁODZENIE LASEROWE I MELASA OPTYCZNA

40. Międzynarodowa Olimpiada Fizyczna Meksyk, 12-19 lipca 2009 r. ZADANIE TEORETYCZNE 2 CHŁODZENIE LASEROWE I MELASA OPTYCZNA ZADANIE TEORETYCZNE 2 CHŁODZENIE LASEROWE I MELASA OPTYCZNA Celem tego zadania jest podanie prostej teorii, która tłumaczy tak zwane chłodzenie laserowe i zjawisko melasy optycznej. Chodzi tu o chłodzenia

Bardziej szczegółowo

Informacje uzyskiwane dzięki spektrometrii mas

Informacje uzyskiwane dzięki spektrometrii mas Slajd 1 Spektrometria mas i sektroskopia w podczerwieni Slajd 2 Informacje uzyskiwane dzięki spektrometrii mas Masa cząsteczkowa Wzór związku Niektóre informacje dotyczące wzoru strukturalnego związku

Bardziej szczegółowo

jednoeksponencjalny (homogeniczny) wieloeksponencjalny (heterogeniczny) Schemat aparatury do zliczania pojedynczych fotonów skorelowanych czasowo.

jednoeksponencjalny (homogeniczny) wieloeksponencjalny (heterogeniczny) Schemat aparatury do zliczania pojedynczych fotonów skorelowanych czasowo. Pomiar krzywych zaniku fluorescencji metod zliczania pojedynczych fotonów skorelowanych czasowo (metoda TCSPC - time correlated single photon counting) Zanik (homogeniczny) jednoeksponencjalny Zanik (heterogeniczny)

Bardziej szczegółowo

Projekt MES. Wykonali: Lidia Orkowska Mateusz Wróbel Adam Wysocki WBMIZ, MIBM, IMe

Projekt MES. Wykonali: Lidia Orkowska Mateusz Wróbel Adam Wysocki WBMIZ, MIBM, IMe Projekt MES Wykonali: Lidia Orkowska Mateusz Wróbel Adam Wysocki WBMIZ, MIBM, IMe 1. Ugięcie wieszaka pod wpływem przyłożonego obciążenia 1.1. Wstęp Analizie poddane zostało ugięcie wieszaka na ubrania

Bardziej szczegółowo

Politechnika Białostocka

Politechnika Białostocka Politechnika Białostocka Wydział Elektryczny Katedra Elektroenergetyki Instrukcja do zajęć laboratoryjnych Temat ćwiczenia: BADANIE SPADKÓW NAPIĘĆ W INSTALACJACH ELEKTRYCZNYCH Ćwiczenie nr: 1 Laboratorium

Bardziej szczegółowo

Zakłócenia. Podstawy projektowania A.Korcala

Zakłócenia. Podstawy projektowania A.Korcala Zakłócenia Podstawy projektowania A.Korcala Pojęciem zakłóceń moŝna określać wszelkie niepoŝądane przebiegi pochodzenia zewnętrznego, wywołane zarówno przez działalność człowieka, jak i zakłócenia naturalne

Bardziej szczegółowo

(13) B1 PL 161821 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 161821

(13) B1 PL 161821 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 161821 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 161821 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 283615 (22) Data zgłoszenia: 02.02.1990 (51) IntCl5: G05D 7/00 (54)Regulator

Bardziej szczegółowo

OBWODY REZYSTANCYJNE NIELINIOWE

OBWODY REZYSTANCYJNE NIELINIOWE Politechnika Białostocka Wydział Elektryczny atedra Elektrotechniki Teoretycznej i Metrologii nstrukcja do zaj laboratoryjnych OBWODY REZYSTANCYJNE NELNOWE Numer wiczenia E17 Opracowanie: dr in. Jarosław

Bardziej szczegółowo

INSTRUKCJA OBSŁUGI WD2250A. WATOMIERZ 0.3W-2250W firmy MCP

INSTRUKCJA OBSŁUGI WD2250A. WATOMIERZ 0.3W-2250W firmy MCP INSTRUKCJA OBSŁUGI WD2250A WATOMIERZ 0.3W-2250W firmy MCP 1. CHARAKTERYSTYKA TECHNICZNA Zakresy prądowe: 0,1A, 0,5A, 1A, 5A. Zakresy napięciowe: 3V, 15V, 30V, 240V, 450V. Pomiar mocy: nominalnie od 0.3

Bardziej szczegółowo

Temat: Funkcje. Własności ogólne. A n n a R a j f u r a, M a t e m a t y k a s e m e s t r 1, W S Z i M w S o c h a c z e w i e 1

Temat: Funkcje. Własności ogólne. A n n a R a j f u r a, M a t e m a t y k a s e m e s t r 1, W S Z i M w S o c h a c z e w i e 1 Temat: Funkcje. Własności ogólne A n n a R a j f u r a, M a t e m a t y k a s e m e s t r 1, W S Z i M w S o c h a c z e w i e 1 Kody kolorów: pojęcie zwraca uwagę * materiał nieobowiązkowy A n n a R a

Bardziej szczegółowo

Udoskonalona wentylacja komory suszenia

Udoskonalona wentylacja komory suszenia Udoskonalona wentylacja komory suszenia Komora suszenia Kratka wentylacyjna Zalety: Szybkie usuwanie wilgoci z przestrzeni nad próbką Ograniczenie emisji ciepła z komory suszenia do modułu wagowego W znacznym

Bardziej szczegółowo

Dobór nastaw PID regulatorów LB-760A i LB-762

Dobór nastaw PID regulatorów LB-760A i LB-762 1 z 5 Dobór nastaw PID regulatorów LB-760A i LB-762 Strojenie regulatorów LB-760A i LB-762 Nastawy regulatora PID Regulatory PID (rolnicze np.: LB-760A - poczynając od wersji 7.1 programu ładowalnego,

Bardziej szczegółowo

Wydział Elektrotechniki, Elektroniki, Informatyki i Automatyki Katedra Przyrządów Półprzewodnikowych i Optoelektronicznych.

Wydział Elektrotechniki, Elektroniki, Informatyki i Automatyki Katedra Przyrządów Półprzewodnikowych i Optoelektronicznych. Politechnika Łódzka Wydział Elektrotechniki, Elektroniki, Informatyki i Automatyki Katedra Przyrządów Półprzewodnikowych i Optoelektronicznych Niekonwencjonalne źródła energii Laboratorium Ćwiczenie 4

Bardziej szczegółowo

I B. EFEKT FOTOWOLTAICZNY. BATERIA SŁONECZNA

I B. EFEKT FOTOWOLTAICZNY. BATERIA SŁONECZNA 1 OPTOELEKTRONKA B. EFEKT FOTOWOLTACZNY. BATERA SŁONECZNA Cel ćwiczenia: 1.Zbadanie zależności otoprądu zwarcia i otonapięcia zwarcia od natężenia oświetlenia. 2. Wyznaczenie sprawności energetycznej baterii

Bardziej szczegółowo

Techniczne nauki М.М.Zheplinska, A.S.Bessarab Narodowy uniwersytet spożywczych technologii, Кijow STOSOWANIE PARY WODNEJ SKRAPLANIA KAWITACJI

Techniczne nauki М.М.Zheplinska, A.S.Bessarab Narodowy uniwersytet spożywczych technologii, Кijow STOSOWANIE PARY WODNEJ SKRAPLANIA KAWITACJI Techniczne nauki М.М.Zheplinska, A.S.Bessarab Narodowy uniwersytet spożywczych technologii, Кijow STOSOWANIE PARY WODNEJ SKRAPLANIA KAWITACJI SKLAROWANEGO SOKU JABŁKOWEGO Skutecznym sposobem leczenia soku

Bardziej szczegółowo

WYKRYWANIE BŁĘDÓW W UKŁADACH OCHRONY PRZECIWPORAŻENIOWEJ Z WYŁĄCZNIKAMI RÓŻNOCOWO PRĄDOWYMI

WYKRYWANIE BŁĘDÓW W UKŁADACH OCHRONY PRZECIWPORAŻENIOWEJ Z WYŁĄCZNIKAMI RÓŻNOCOWO PRĄDOWYMI Ćwiczenie S 25 WYKRYWANIE BŁĘDÓW W UKŁADACH OCHRONY PRZECIWPORAŻENIOWEJ Z WYŁĄCZNIKAMI RÓŻNOCOWO PRĄDOWYMI 1. Cel ćwiczenia Celem ćwiczenia jest zapoznanie się ze sposobami wykrywania błędów w układach

Bardziej szczegółowo

Koszty jakości. Definiowanie kosztów jakości oraz ich modele strukturalne

Koszty jakości. Definiowanie kosztów jakości oraz ich modele strukturalne 1 Definiowanie kosztów jakości oraz ich modele strukturalne Koszty jakości to termin umowny. Pojęcie to nie występuje w teorii kosztów 1 oraz nie jest precyzyjnie zdefiniowane ani przez teoretyków, ani

Bardziej szczegółowo

Tester pilotów 315/433/868 MHz

Tester pilotów 315/433/868 MHz KOLOROWY WYŚWIETLACZ LCD TFT 160x128 ` Parametry testera Zasilanie Pasmo 315MHz Pasmo 433MHz Pasmo 868 MHz 5-12V/ bateria 1,5V AAA 300-360MHz 400-460MHz 820-880MHz Opis Przyciski FQ/ST DN UP OFF przytrzymanie

Bardziej szczegółowo

Projektowanie bazy danych

Projektowanie bazy danych Projektowanie bazy danych Pierwszą fazą tworzenia projektu bazy danych jest postawienie definicji celu, założeo wstępnych i określenie podstawowych funkcji aplikacji. Każda baza danych jest projektowana

Bardziej szczegółowo

Tester pilotów 315/433/868 MHz 10-50 MHz

Tester pilotów 315/433/868 MHz 10-50 MHz TOUCH PANEL KOLOROWY WYŚWIETLACZ LCD TFT 160x128 ` Parametry testera Zasilanie Pasmo 315MHz Pasmo 433MHz Pasmo 868 MHz Pasmo 10-50MHz 5-12V/ bateria 1,5V AAA 300-360MHz 400-460MHz 820-880MHz Pomiar sygnałów

Bardziej szczegółowo

S T A N D A R D V. 7

S T A N D A R D V. 7 S T A N D A R D V. 7 WYCENA NIERUCHOMOŚCI GRUNTOWYCH POŁOśONYCH NA ZŁOśACH KOPALIN Przy określaniu wartości nieruchomości połoŝonych na złoŝach kopali rzeczoznawca majątkowy stosuje przepisy: - ustawy

Bardziej szczegółowo

WZORU UŻYTKOWEGO EGZEMPLARZ ARCHIWALNY. d2)opis OCHRONNY. (19) PL (n)62894. Centralny Instytut Ochrony Pracy, Warszawa, PL

WZORU UŻYTKOWEGO EGZEMPLARZ ARCHIWALNY. d2)opis OCHRONNY. (19) PL (n)62894. Centralny Instytut Ochrony Pracy, Warszawa, PL RZECZPOSPOLITA POLSKA Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej d2)opis OCHRONNY WZORU UŻYTKOWEGO (21) Numer zgłoszenia: 112772 (22) Data zgłoszenia: 29.11.2001 EGZEMPLARZ ARCHIWALNY (19) PL (n)62894 (13)

Bardziej szczegółowo

2. Przyk ad zadania do cz ci praktycznej egzaminu dla wybranych umiej tno ci z kwalifikacji E.20 Eksploatacja urz dze elektronicznych

2. Przyk ad zadania do cz ci praktycznej egzaminu dla wybranych umiej tno ci z kwalifikacji E.20 Eksploatacja urz dze elektronicznych 3. 2. Przyk ad zadania do cz ci praktycznej egzaminu dla wybranych umiej tno ci z kwalifikacji E.20 Eksploatacja urz dze elektronicznych Zadanie egzaminacyjne Znajd usterk oraz wska sposób jej usuni cia

Bardziej szczegółowo

Opis modułu analitycznego do śledzenia rotacji towaru oraz planowania dostaw dla programu WF-Mag dla Windows.

Opis modułu analitycznego do śledzenia rotacji towaru oraz planowania dostaw dla programu WF-Mag dla Windows. Opis modułu analitycznego do śledzenia rotacji towaru oraz planowania dostaw dla programu WF-Mag dla Windows. Zadaniem modułu jest wspomaganie zarządzania magazynem wg. algorytmu just in time, czyli planowanie

Bardziej szczegółowo

KLUCZ PUNKTOWANIA ODPOWIEDZI

KLUCZ PUNKTOWANIA ODPOWIEDZI Egzamin maturalny maj 009 FIZYKA I ASTRONOMIA POZIOM ROZSZERZONY KLUCZ PUNKTOWANIA ODPOWIEDZI Zadanie 1.1 Narysowanie toru ruchu cia a w rzucie uko nym. Narysowanie wektora si y dzia aj cej na cia o w

Bardziej szczegółowo

Zarządzanie projektami. wykład 1 dr inż. Agata Klaus-Rosińska

Zarządzanie projektami. wykład 1 dr inż. Agata Klaus-Rosińska Zarządzanie projektami wykład 1 dr inż. Agata Klaus-Rosińska 1 DEFINICJA PROJEKTU Zbiór działań podejmowanych dla zrealizowania określonego celu i uzyskania konkretnego, wymiernego rezultatu produkt projektu

Bardziej szczegółowo

Badanie własności prądnic tachometrycznych. Prądnica indukcyjna dwufazowa, prądnica magnetoelektryczna.

Badanie własności prądnic tachometrycznych. Prądnica indukcyjna dwufazowa, prądnica magnetoelektryczna. Badanie własności prądnic tachometrycznych. Prądnica indukcyjna dwufazowa, prądnica magnetoelektryczna. Budowa i zasada działania. Prądnice tachometryczne (PTM) są to specjalne maszyny elektryczne słuŝące

Bardziej szczegółowo

LVI OLIMPIADA FIZYCZNA 2006/2007 Zawody II stopnia

LVI OLIMPIADA FIZYCZNA 2006/2007 Zawody II stopnia LVI OLIMPIADA FIZYCZNA 2006/2007 Zawody II stopnia Zadanie doświadczalne Energia elektronów w półprzewodniku może przybierać wartości należące do dwóch przedziałów: dolnego (tzw. pasmo walencyjne) i górnego

Bardziej szczegółowo

ANALIZA OBWODÓW RZĘDU ZEROWEGO PROSTE I SIECIOWE METODY ANALIZY OBWODÓW

ANALIZA OBWODÓW RZĘDU ZEROWEGO PROSTE I SIECIOWE METODY ANALIZY OBWODÓW ANALIZA OBWODÓW RZĘDU ZEROWEGO PROSTE I SIECIOWE METODY ANALIZY OBWODÓW Rezystancja zastępcza dwójnika bezźródłowego (m.b. i=0 i u=0) Równoważność dotyczy zewnętrznego zachowania się układów, lecz nie

Bardziej szczegółowo

PRAWA AUTORSKIE ZASTRZEŻONE. Kraków, listopad 2010 r

PRAWA AUTORSKIE ZASTRZEŻONE. Kraków, listopad 2010 r Projekt ochrony przeciwhałasowej i ochrony przed drganiami i wibracjami Małopolskiego entrum Biotechnologii Kampusu 0 lecia Odnowienia Uniwersytetu Jagiellońskiego w Krakowie przy ulicy Gronostajowej 7.

Bardziej szczegółowo

HiTiN Sp. z o. o. Przekaźnik kontroli temperatury RTT 4/2 DTR. 40 432 Katowice, ul. Szopienicka 62 C tel/fax.: + 48 (32) 353 41 31. www.hitin.

HiTiN Sp. z o. o. Przekaźnik kontroli temperatury RTT 4/2 DTR. 40 432 Katowice, ul. Szopienicka 62 C tel/fax.: + 48 (32) 353 41 31. www.hitin. HiTiN Sp. z o. o. 40 432 Katowice, ul. Szopienicka 62 C tel/fax.: + 48 (32) 353 41 31 www.hitin.pl Przekaźnik kontroli temperatury RTT 4/2 DTR Katowice, 1999 r. 1 1. Wstęp. Przekaźnik elektroniczny RTT-4/2

Bardziej szczegółowo

Ć W I C Z E N I E N R O-10

Ć W I C Z E N I E N R O-10 INSTYTUT FIZYKI WYDZIAŁ INŻYNIERII PRODUKCJI I TECHNOLOGII MATERIAŁÓW POLITECHNIKA CZĘSTOCHOWSKA PRACOWNIA OPTYKI Ć W I C Z E N I E N R O-10 POMIAR PRĘDKOŚCI ŚWIATŁA I. Zagadnienia do opracowania 1. Metody

Bardziej szczegółowo

System centralnego ogrzewania

System centralnego ogrzewania System centralnego ogrzewania Zadaniem systemu ogrzewania jest zapewnienie odpowiedniej temperatury powietrza wewnątrz pomieszczeń w okresie zimy. Ogrzewanie wodne Ciepło dostarczane jest do budynku (instalacji

Bardziej szczegółowo

Charakterystyka Triset113 Kable z rodziny Triset113 s kablami kategorii RG-6 o podwy szonych parametrach. a miedziana o rednicy 1,13mm

Charakterystyka Triset113 Kable z rodziny Triset113 s kablami kategorii RG-6 o podwy szonych parametrach. a miedziana o rednicy 1,13mm Przewód koncentryczny 75 Om TRISET113 spe nia norm EN50117 i jest zgodny ze standardem klasy A w ca ym pa mie transmisyjnym w przedziale cz stotliwo ci 5-3000 MHz. Przewód Triset jest zgodny z wymaganiami

Bardziej szczegółowo

LABORATORIUM TECHNOLOGII NAPRAW WERYFIKACJA TULEJI CYLINDROWYCH SILNIKA SPALINOWEGO

LABORATORIUM TECHNOLOGII NAPRAW WERYFIKACJA TULEJI CYLINDROWYCH SILNIKA SPALINOWEGO LABORATORIUM TECHNOLOGII NAPRAW WERYFIKACJA TULEJI CYLINDROWYCH SILNIKA SPALINOWEGO 2 1. Cel ćwiczenia : Dokonać pomiaru zuŝycia tulei cylindrowej (cylindra) W wyniku opanowania treści ćwiczenia student

Bardziej szczegółowo

Ć W I C Z E N I E N R C-6

Ć W I C Z E N I E N R C-6 INSTYTUT FIZYKI WYDZIAŁ INŻYNIERII PRODUKCJI I TECHNOLOGII MATERIAŁÓW POLITECHNIKA CZĘSTOCHOWSKA PRACOWNIA MECHANIKI I CIEPŁA Ć W I C Z E N I E N R C-6 WYZNACZANIE SPRAWNOŚCI CIEPLNEJ GRZEJNIKA ELEKTRYCZNEGO

Bardziej szczegółowo

Warszawska Giełda Towarowa S.A.

Warszawska Giełda Towarowa S.A. KONTRAKT FUTURES Poprzez kontrakt futures rozumiemy umowę zawartą pomiędzy dwoma stronami transakcji. Jedna z nich zobowiązuje się do kupna, a przeciwna do sprzedaży, w ściśle określonym terminie w przyszłości

Bardziej szczegółowo

I D I F. 1/r F I F2 I F1. 1/r DS (ON) U DS U F U F0 U F1 U F2 XLIII OLIMPIADA WIEDZY TECHNICZNEJ. Zawody II stopnia

I D I F. 1/r F I F2 I F1. 1/r DS (ON) U DS U F U F0 U F1 U F2 XLIII OLIMPIADA WIEDZY TECHNICZNEJ. Zawody II stopnia XLIII OLIMPIADA WIEDZY TECHNICZNEJ Zawody II stopnia Rozwi zania zada dla grupy elektryczno-elektronicznej Rozwi zanie zadania 1 ad a) Z warunk w pierwszego testu wynika, e dioda p przewodnikowego przyrz

Bardziej szczegółowo

'()(*+,-./01(23/*4*567/8/23/*98:)2(!."/+)012+3$%-4#"4"$5012#-4#"4-6017%*,4.!"#$!"#%&"!!!"#$%&"#'()%*+,-+

'()(*+,-./01(23/*4*567/8/23/*98:)2(!./+)012+3$%-4#4$5012#-4#4-6017%*,4.!#$!#%&!!!#$%&#'()%*+,-+ '()(*+,-./01(23/*4*567/8/23/*98:)2(!."/+)012+3$%-4#"4"$5012#-4#"4-6017%*,4.!"#$!"#%&"!!!"#$%&"#'()%*+,-+ Ucze interpretuje i tworzy teksty o charakterze matematycznym, u ywa j zyka matematycznego do opisu

Bardziej szczegółowo

Politechnika Warszawska Wydział Matematyki i Nauk Informacyjnych ul. Koszykowa 75, 00-662 Warszawa

Politechnika Warszawska Wydział Matematyki i Nauk Informacyjnych ul. Koszykowa 75, 00-662 Warszawa Zamawiający: Wydział Matematyki i Nauk Informacyjnych Politechniki Warszawskiej 00-662 Warszawa, ul. Koszykowa 75 Przedmiot zamówienia: Produkcja Interaktywnej gry matematycznej Nr postępowania: WMiNI-39/44/AM/13

Bardziej szczegółowo

Podstawa prawna: Ustawa z dnia 15 lutego 1992 r. o podatku dochodowym od osób prawnych (t. j. Dz. U. z 2000r. Nr 54, poz. 654 ze zm.

Podstawa prawna: Ustawa z dnia 15 lutego 1992 r. o podatku dochodowym od osób prawnych (t. j. Dz. U. z 2000r. Nr 54, poz. 654 ze zm. Rozliczenie podatników podatku dochodowego od osób prawnych uzyskujących przychody ze źródeł, z których dochód jest wolny od podatku oraz z innych źródeł Podstawa prawna: Ustawa z dnia 15 lutego 1992 r.

Bardziej szczegółowo

KOMISJA WSPÓLNOT EUROPEJSKICH. Wniosek DECYZJA RADY

KOMISJA WSPÓLNOT EUROPEJSKICH. Wniosek DECYZJA RADY KOMISJA WSPÓLNOT EUROPEJSKICH Bruksela, dnia 13.12.2006 KOM(2006) 796 wersja ostateczna Wniosek DECYZJA RADY w sprawie przedłużenia okresu stosowania decyzji 2000/91/WE upoważniającej Królestwo Danii i

Bardziej szczegółowo

PL 219985 B1. POLITECHNIKA LUBELSKA, Lublin, PL 07.07.2014 BUP 14/14

PL 219985 B1. POLITECHNIKA LUBELSKA, Lublin, PL 07.07.2014 BUP 14/14 PL 219985 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 219985 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 402214 (51) Int.Cl. F03D 3/02 (2006.01) B64C 11/20 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej

Bardziej szczegółowo

OZNACZANIE WAPNIA I MAGNEZU W PRÓBCE WINA METODĄ ATOMOWEJ SPEKTROMETRII ABSORPCYJNEJ Z ATOMIZACJA W PŁOMIENIU

OZNACZANIE WAPNIA I MAGNEZU W PRÓBCE WINA METODĄ ATOMOWEJ SPEKTROMETRII ABSORPCYJNEJ Z ATOMIZACJA W PŁOMIENIU OZNACZANIE WAPNIA I MAGNEZU W PRÓBCE WINA METODĄ ATOMOWEJ SPEKTROMETRII ABSORPCYJNEJ Z ATOMIZACJA W PŁOMIENIU Celem ćwiczenia jest zapoznanie z techniką atomowej spektrometrii absorpcyjnej z atomizacją

Bardziej szczegółowo

PROFIBUS - zalecenia odnośnie montażu i okablowania instalcji sieciowych Profibus PNO Polska

PROFIBUS - zalecenia odnośnie montażu i okablowania instalcji sieciowych Profibus PNO Polska PROFIBUS - zalecenia odnośnie montażu i okablowania instalcji sieciowych Profibus PNO Polska Część 1 - kable miedziane w sieci PROFIBUS Informacje ogólne o kablach dla sieci Profibus Bardzo często spotykamy

Bardziej szczegółowo

PL 205289 B1 20.09.2004 BUP 19/04. Sosna Edward,Bielsko-Biała,PL 31.03.2010 WUP 03/10 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 205289

PL 205289 B1 20.09.2004 BUP 19/04. Sosna Edward,Bielsko-Biała,PL 31.03.2010 WUP 03/10 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 205289 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 205289 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 359196 (51) Int.Cl. B62D 63/06 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data zgłoszenia: 17.03.2003

Bardziej szczegółowo

Elementy cyfrowe i układy logiczne

Elementy cyfrowe i układy logiczne Elementy cyfrowe i układy logiczne Wykład Legenda Zezwolenie Dekoder, koder Demultiplekser, multiplekser 2 Operacja zezwolenia Przykład: zamodelować podsystem elektroniczny samochodu do sterowania urządzeniami:

Bardziej szczegółowo

Strategia rozwoju kariery zawodowej - Twój scenariusz (program nagrania).

Strategia rozwoju kariery zawodowej - Twój scenariusz (program nagrania). Strategia rozwoju kariery zawodowej - Twój scenariusz (program nagrania). W momencie gdy jesteś studentem lub świeżym absolwentem to znajdujesz się w dobrym momencie, aby rozpocząć planowanie swojej ścieżki

Bardziej szczegółowo

WYDZIAŁ MECHANICZNY Katedra Technologii Maszyn i Automatyzacji Produkcji. Laboratorium Obróbki ubytkowej materiałów.

WYDZIAŁ MECHANICZNY Katedra Technologii Maszyn i Automatyzacji Produkcji. Laboratorium Obróbki ubytkowej materiałów. WYDZIAŁ MECHANICZNY Katedra Technologii Maszyn i Automatyzacji Produkcji Laboratorium Obróbki ubytkowej materiałów Ćwiczenie nr 1 Temat: Geometria ostrzy narzędzi skrawających Cel ćwiczenia Celem ćwiczenia

Bardziej szczegółowo

ARKUSZ EGZAMINACYJNY ETAP PRAKTYCZNY EGZAMINU POTWIERDZAJ CEGO KWALIFIKACJE ZAWODOWE CZERWIEC 201

ARKUSZ EGZAMINACYJNY ETAP PRAKTYCZNY EGZAMINU POTWIERDZAJ CEGO KWALIFIKACJE ZAWODOWE CZERWIEC 201 Zawód: technik elektronik Symbol cyrowy zawodu: 311[07] Numer zadania: Arkusz zawiera inormacje prawnie chronione do momentu rozpocz cia egzaminu 311[07]-0-1 2 Czas trwania egzaminu: 240 minut ARKUSZ EGZAMINACYJNY

Bardziej szczegółowo

Temat: Czy świetlówki energooszczędne są oszczędne i sprzyjają ochronie środowiska? Imię i nazwisko

Temat: Czy świetlówki energooszczędne są oszczędne i sprzyjają ochronie środowiska? Imię i nazwisko Temat: Czy świetlówki energooszczędne są oszczędne i sprzyjają ochronie środowiska? Karta pracy III.. Imię i nazwisko klasa Celem nauki jest stawianie hipotez, a następnie ich weryfikacja, która w efekcie

Bardziej szczegółowo

(12) OPIS PATENTOWY (19) PL

(12) OPIS PATENTOWY (19) PL RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 172279 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 300123 Urząd Patentowy ( 2 2 ) Data zgłoszenia: 16.08.1993 Rzeczypospolitej Polskiej (51) IntCl6: E04B 5/19

Bardziej szczegółowo

Transport Mechaniczny i Pneumatyczny Materiałów Rozdrobnionych. Ćwiczenie 2 Podstawy obliczeń przenośników taśmowych

Transport Mechaniczny i Pneumatyczny Materiałów Rozdrobnionych. Ćwiczenie 2 Podstawy obliczeń przenośników taśmowych Transport Mechaniczny i Pneumatyczny Materiałów Rozdrobnionych Ćwiczenie 2 Podstawy obliczeń przenośników taśmowych Wydajność przenośnika Wydajnością przenośnika określa się objętość lub masę nosiwa przemieszczanego

Bardziej szczegółowo

PL 215399 B1. POLITECHNIKA POZNAŃSKA, Poznań, PL 03.01.2011 BUP 01/11. RAFAŁ TALAR, Kościan, PL 31.12.2013 WUP 12/13

PL 215399 B1. POLITECHNIKA POZNAŃSKA, Poznań, PL 03.01.2011 BUP 01/11. RAFAŁ TALAR, Kościan, PL 31.12.2013 WUP 12/13 PL 215399 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 215399 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 388446 (51) Int.Cl. B23F 9/08 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data zgłoszenia:

Bardziej szczegółowo

TYTUŁ Pomiar wymiarów i automatyczna analiza kształtów ziaren zbóż

TYTUŁ Pomiar wymiarów i automatyczna analiza kształtów ziaren zbóż KAMIKA Instruments PUBLIKACJE TYTUŁ Pomiar wymiarów i automatyczna analiza kształtów ziaren zbóż AUTORZY Stanisław Kamiński, Dorota Kamińska, KAMIKA Instruments DZIEDZINA Energetyka, Pomiar kształtu nasion

Bardziej szczegółowo

KONKURS PRZEDMIOTOWY Z FIZYKI dla uczniów gimnazjów województwa lubuskiego 23 marca 2012 r. zawody III stopnia (finałowe)

KONKURS PRZEDMIOTOWY Z FIZYKI dla uczniów gimnazjów województwa lubuskiego 23 marca 2012 r. zawody III stopnia (finałowe) Pieczęć KONKURS PRZEDMIOTOWY Z FIZYKI dla uczniów gimnazjów województwa lubuskiego 23 marca 2012 r. zawody III stopnia (finałowe) Witamy Cię na trzecim etapie Konkursu Przedmiotowego z Fizyki i życzymy

Bardziej szczegółowo

Raport Badania Termowizyjnego

Raport Badania Termowizyjnego I n f r a - R e d T h e r m o g r a p h i c I n s p e c t i o n s Stawna 6 71-494 Szczecin / Poland Tel +48 91 885 60 02 Mobile +48 504 265 355 www.gamma-tech.pl e-mail: office@gamma-tech.pl Raport Badania

Bardziej szczegółowo

Spektroskopia UV-VIS zagadnienia

Spektroskopia UV-VIS zagadnienia Spektroskopia absorbcyjna to dziedzina, która obejmuje metody badania materii przy użyciu promieniowania elektromagnetycznego, które może z tą materią oddziaływać. Spektroskopia UV-VS zagadnienia promieniowanie

Bardziej szczegółowo

U Z A S A D N I E N I E

U Z A S A D N I E N I E U Z A S A D N I E N I E Projektowana nowelizacja Kodeksu pracy ma dwa cele. Po pierwsze, zmianę w przepisach Kodeksu pracy, zmierzającą do zapewnienia pracownikom ojcom adopcyjnym dziecka możliwości skorzystania

Bardziej szczegółowo

Excel w logistyce - czyli jak skrócić czas przygotowywania danych i podnieść efektywność analiz logistycznych

Excel w logistyce - czyli jak skrócić czas przygotowywania danych i podnieść efektywność analiz logistycznych Excel w logistyce - czyli jak skrócić czas przygotowywania danych i podnieść efektywność analiz logistycznych Terminy szkolenia 25-26 sierpień 2016r., Gdańsk - Mercure Gdańsk Posejdon**** 20-21 październik

Bardziej szczegółowo

DE-WZP.261.11.2015.JJ.3 Warszawa, 2015-06-15

DE-WZP.261.11.2015.JJ.3 Warszawa, 2015-06-15 DE-WZP.261.11.2015.JJ.3 Warszawa, 2015-06-15 Wykonawcy ubiegający się o udzielenie zamówienia Dotyczy: postępowania prowadzonego w trybie przetargu nieograniczonego na Usługę druku książek, nr postępowania

Bardziej szczegółowo

INSTRUKCJA OBSŁUGI ELEKTRONICZNY MIERNIK REZYSTANCJI UZIEMIENIA DT-5300B

INSTRUKCJA OBSŁUGI ELEKTRONICZNY MIERNIK REZYSTANCJI UZIEMIENIA DT-5300B INSTRUKCJA OBSŁUGI ELEKTRONICZNY MIERNIK REZYSTANCJI UZIEMIENIA DT-5300B Wydanie LS 13/07 Elektroniczny miernik rezystancji uziemienia jest nowoczesnym zamiennikiem konwencjonalnego ręcznego miernika.

Bardziej szczegółowo

Podstawowe definicje

Podstawowe definicje Podstawowe definicje część przewodząca dostępna - część przewodząca urządzenia, której można dotknąć, nie będąca normalnie pod napięciem, i która może się znaleźć pod napięciem, gdy zawiedzie izolacja

Bardziej szczegółowo

Prezentacja dotycząca sytuacji kobiet w regionie Kalabria (Włochy)

Prezentacja dotycząca sytuacji kobiet w regionie Kalabria (Włochy) Prezentacja dotycząca sytuacji kobiet w regionie Kalabria (Włochy) Położone w głębi lądu obszary Kalabrii znacznie się wyludniają. Zjawisko to dotyczy całego regionu. Do lat 50. XX wieku przyrost naturalny

Bardziej szczegółowo

D-01.01.01. wysokościowych

D-01.01.01. wysokościowych D-01.01.01 Odtworzenie nawierzchni i punktów wysokościowych 32 Spis treści 1. WSTĘP... 34 1.1. Przedmiot SST... 34 1.2. Zakres stosowania SST... 34 1.3. Zakres robót objętych SST... 34 1.4. Określenia

Bardziej szczegółowo

Laboratorium z Konwersji Energii. Ogniwo fotowoltaiczne

Laboratorium z Konwersji Energii. Ogniwo fotowoltaiczne Laboratorium z Konwersji Energii Ogniwo fotowoltaiczne 1.0 WSTĘP Energia słoneczna jest energią reakcji termojądrowych zachodzących w olbrzymiej odległości od Ziemi. Zachodzące na Słońcu przemiany helu

Bardziej szczegółowo

Podatek przemysłowy (lokalny podatek od działalności usługowowytwórczej) 2015-12-17 16:02:07

Podatek przemysłowy (lokalny podatek od działalności usługowowytwórczej) 2015-12-17 16:02:07 Podatek przemysłowy (lokalny podatek od działalności usługowowytwórczej) 2015-12-17 16:02:07 2 Podatek przemysłowy (lokalny podatek od działalności usługowo-wytwórczej) Podatek przemysłowy (lokalny podatek

Bardziej szczegółowo

Zakład Certyfikacji 03-042 Warszawa, ul. Kupiecka 4 Sekcja Ceramiki i Szkła ul. Postępu 9 02-676 Warszawa PROGRAM CERTYFIKACJI

Zakład Certyfikacji 03-042 Warszawa, ul. Kupiecka 4 Sekcja Ceramiki i Szkła ul. Postępu 9 02-676 Warszawa PROGRAM CERTYFIKACJI Zakład Certyfikacji 03-042 Warszawa, ul. Kupiecka 4 Sekcja Ceramiki i Szkła ul. Postępu 9 02-676 Warszawa PC-05 PROGRAM Certyfikacja zgodności z Kryteriami Grupowymi certyfikacja dobrowolna Warszawa, PROGRAM

Bardziej szczegółowo

INSTRUKCJA OBSŁUGI MC-2810 CYFROWY SYSTEM GŁOŚNIKOWY 5.1 KANAŁÓW DO KINA DOMOWEGO

INSTRUKCJA OBSŁUGI MC-2810 CYFROWY SYSTEM GŁOŚNIKOWY 5.1 KANAŁÓW DO KINA DOMOWEGO MC-2810 CYFROWY SYSTEM GŁOŚNIKOWY 5.1 KANAŁÓW DO KINA DOMOWEGO GRATULUJEMY UDANEGO ZAKUPU ZESTAWU GŁOŚNIKOWEGO MC-2810 Z AKTYWNYM SUBWOOFEREM I GŁOŚNIKAMI SATELITARNYMI. ZESTAW ZOSTAŁ STARANNIE ZAPROJEKTOWANY

Bardziej szczegółowo

ZAANGA OWANIE PRACOWNIKÓW W PROJEKTY INFORMATYCZNE

ZAANGA OWANIE PRACOWNIKÓW W PROJEKTY INFORMATYCZNE ZAANGA OWANIE PRACOWNIKÓW W PROJEKTY INFORMATYCZNE LESZEK MISZTAL Politechnika Szczeci ska Streszczenie Celem artykułu jest przedstawienie metody rozwi zania problemu dotycz cego zaanga owania pracowników

Bardziej szczegółowo

WYJASNIENIA I MODYFIKACJA SPECYFIKACJI ISTOTNYCH WARUNKÓW ZAMÓWIENIA

WYJASNIENIA I MODYFIKACJA SPECYFIKACJI ISTOTNYCH WARUNKÓW ZAMÓWIENIA Szczecin dnia 28.07.2015r. Akademia Sztuki w Szczecinie Pl. Orła Białego 2 70-562 Szczecin Dotyczy: Przetarg nieograniczony na dostawę urządzeń i sprzętu stanowiącego wyposażenie studia nagrań na potrzeby

Bardziej szczegółowo

Metody wyceny zasobów, źródła informacji o kosztach jednostkowych

Metody wyceny zasobów, źródła informacji o kosztach jednostkowych Metody wyceny zasobów, źródła informacji o kosztach jednostkowych by Antoni Jeżowski, 2013 W celu kalkulacji kosztów realizacji zadania (poszczególnych działań i czynności) konieczne jest przeprowadzenie

Bardziej szczegółowo

FOTOMETRYCZNE PRAWO ODLEGŁOŚCI (O9)

FOTOMETRYCZNE PRAWO ODLEGŁOŚCI (O9) FOTOMETRYCZNE PRAWO ODLEGŁOŚCI (O9) INSTRUKCJA WYKONANIA ĆWICZENIA I. Zestaw przyrządów: Rys.1 Układ pomiarowy II. Wykonanie pomiarów: 1. Na komputerze wejść w zakładkę student a następnie klikać: start

Bardziej szczegółowo

Od redakcji. Symbolem oznaczono zadania wykraczające poza zakres materiału omówionego w podręczniku Fizyka z plusem cz. 2.

Od redakcji. Symbolem oznaczono zadania wykraczające poza zakres materiału omówionego w podręczniku Fizyka z plusem cz. 2. Od redakcji Niniejszy zbiór zadań powstał z myślą o tych wszystkich, dla których rozwiązanie zadania z fizyki nie polega wyłącznie na mechanicznym przekształceniu wzorów i podstawieniu do nich danych.

Bardziej szczegółowo

EGZEMPLARZ ARCHIWALNY WZORU UŻYTKOWEGO. (19) PL (n)62895. (i2,opis OCHRONNY

EGZEMPLARZ ARCHIWALNY WZORU UŻYTKOWEGO. (19) PL (n)62895. (i2,opis OCHRONNY EGZEMPLARZ ARCHIWALNY RZECZPOSPOLITA POLSKA Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (i2,opis OCHRONNY WZORU UŻYTKOWEGO (21) Numer zgłoszenia: 114534 (22) Data zgłoszenia: 23.12.2003 (19) PL (n)62895

Bardziej szczegółowo

Sterownik Silnika Krokowego GS 600

Sterownik Silnika Krokowego GS 600 Sterownik Silnika Krokowego GS 600 Spis Treści 1. Informacje podstawowe... 3 2. Pierwsze uruchomienie... 5 2.1. Podłączenie zasilania... 5 2.2. Podłączenie silnika... 6 2.3. Złącza sterujące... 8 2.4.

Bardziej szczegółowo