Marcin Miczek. Badania wpływu temperatury na właściwości elektronowe struktur metal/izolator/algan/gan
|
|
- Amelia Monika Muszyńska
- 6 lat temu
- Przeglądów:
Transkrypt
1 Marcin Miczek Badania wpływu temperatury na właściwości elektronowe struktur metal/izolator/algan/gan grant MNiSW / NCN (39. konkurs) N N , PBU-91/RMF1/ IX III 2013 Zakład Fizyki Powierzchni i Nanostruktur Instytut Fizyki Centrum Naukowo-Dydaktyczne Politechniki Śląskiej Gliwice, 25 maja 2011 roku
2 Plan wystąpienia 1. Motywacja 2. Cel naukowy i metodyka badao 3. Projekty pokrewne i współpraca 4. Wykonawcy i zakres prac 5. Pomiary planowane na zewnątrz 6. Oprogramowanie 7. Obecne laboratorium i plany rozbudowy 8. Podsumowanie: docelowe laboratorium. 2
3 Motywacja: ciekawe materiały Szeroka przerwa energetyczna (3,4 ev), stabilnośd chemiczna i termiczna, dobra przewodnośd cieplna, wysokie pole przebicia, duża prędkośd unoszenia elektronów. Elektronika wysokich mocy, częstotliwości i temperatur, niebieska, ultrafioletowa optoelektronika. przerwa energetyczna (ev) AlN GaN stała sieciowa (A) UV InN długość fali (nm) 3
4 Motywacja: co mamy, co potrafimy Wytworzone struktury AlGaN/GaN pasywowane różnymi wielowarstwami dielektrycznymi, doświadczenie w modelowaniu własności elektronowych takich struktur, doświadczenie w badaniach chemicznych (spektroskopia i mikroskopia elektronów Augera) z zaawansowaną analizą danych pochodzących ze struktur z ultracienkimi warstwami. Adamowicz, Miczek, Hashizume, Klimasek, Bobek, Żywicki: Optica Applicata 37 (2007) 327. Miczek, Mizue, Hashizume, Adamowicz: Journal of Applied Physics 103 (2008) omowy bramka SiO 2 albo SiN x (10-20 nm) Al 2 O 3 (1 nm) AlGaN (25 nm) GaN (3 μm) Al 2 O 3 (szafir) kontakt 4
5 Cel naukowy projektu Opracowanie fizykalnego modelu struktur metal/izolator/algan/gan uwzględniającego: elektronowe stany powierzchniowe, defekty objętościowe, dwuwymiarowy gaz elektronowy (2DEG) na heterozłączu AlGaN/GaN, upływ przez warstwę izolatora, mechanizm pasywacji powierzchni AlGaN. 5
6 Metodyka badao (1/2) Pomiar zależności pojemność-napięcieczęstotliwość w temperaturach od 77 do 573 K oraz prąd-napięcie-temperatura. Porównanie wyników pomiarów z zależnościami teoretycznymi z symulacji numerycznych zjawisk elektronowych w badanych strukturach (COMSOL Multiphysics, MATLAB, własne oprogramowanie w C/C++). Dopasowanie zależności teoretycznych do eksperymentalnych za pomocą procedur klasycznych oraz algorytmów ewolucyjnych wyznaczenie parametrów elektronowych struktur. 6
7 Metodyka badao (2/2) Obrazowanie powierzchni za pomocą mikroskopu sił atomowych (także z przewodzącym ostrzem) porowatość i upływność warstw dielektrycznych. Profile i mapy chemiczne skaningowy mikroskop elektronów Augera z układem trawienia jonowego oraz spektrometr masowy jonów wtórnych skład warstwy pasywacyjnej i obszaru granicy fazowej izolator/algan. 7
8 Projekty pokrewne i współpraca 1. Projekt strukturalny Innowacyjne technologie wielofunkcyjnych materiałów i struktur dla nanoelektroniki, fotoniki, spintroniki i technik sensorowych (InTechFun, UDA-POIG /08, FSB-33/RMF1/2009): sonda Kelvina, komora próżniowa do pomiarów fotoelektrycznych; 2. środki inwestycyjne Instytutu Fizyki: zestaw do wytwarzania i kontroli próżni; 3. współpraca z Research Center for Integrated Quantum Electronics, Uniwersytet Hokkaido, Sapporo, Japonia: próbki, konsultacje naukowe. 8
9 Wykonawcy i zakres prac (1/2) Kierownik: dr inż. Marcin Miczek: pomiary elektryczne i fotoelektryczne, analiza wyników, modelowanie. Wykonawcy: dr hab. inż. Bogusława Adamowicz, prof. Pol. Śl.: analiza wyników, modelowanie, badania składu chemicznego; dr Andrzej Klimasek: badania składu chemicznego; dr inż. Alina Domanowska: analiza wyników (dopasowania wieloparametryczne), modelowanie; dr Jacek Mazur: obrazowanie AFM i interpretacja wyników. 9
10 Wykonawcy i zakres prac (2/2) Doktoranci i dyplomant: mgr inż. Piotr Bidzioski: modelowanie; mgr inż. Maciej Matys: modelowanie; Rafał Ucka: pomiary fotoelektryczne. Personel administracyjny i techniczny: Maria Naróg i Marlena Orlicka: obsługa administracyjna i finansowa projektu; mgr inż. Maciej Setkiewicz: aparatura elektroniczna; Ryszard Muzyka i Tomasz Wardzała: elementy mechaniczne. 10
11 Pomiary planowane na zewnątrz Pomiary upływności mikroskopem sił atomowych z ostrzem przewodzącym (conductive atomic force microscope, C-AFM) na Wydziale Elektroniki Mikrosystemów i Fotoniki Politechniki Wrocławskiej (prof. Teodor Gotszalk). Analiza chemiczna (jakościowa i ilościowa) metodą spektrometrii masowej jonów wtórnych (secondary ion mass spectrometry, SIMS) w Przemysłowym Instytucie Elektroniki w Warszawie. 11
12 Oprogramowanie komputerowe MATLAB: wersja R2010b, licencja sieciowa jednostanowiskowa; producent: The MathWorks, USA; dystrybutor: ONT, Kraków. Pakiet programistyczny RAD Studio XE oraz Embarcadero XE Developer Tools (C++, Delphi, PHP,.NET), licencja akademicka; producent: Embarcadero Technologies, USA; dystrybutor: BSC Polska, Warszawa. Obu zakupów dokonano w listopadzie 2010 roku. 12
13 Obecne laboratorium: komora próżniowa Komora z mikromanipulatorami do kontaktów elektrycznych [OmniVac]. Zestaw wytwarzania i kontroli próżni *Varian+. 13
14 Obecne laboratorium: optyka VIS/UV Lampa deuterowa i halogenowa (200 nm 2,5 μm) *Avantes+. miernik mocy światła *Standa+ (1 μw 3 W, 190 nm 20 μm), filtr szary obrotowy [Newport], filtry dichroiczne (pasmowoprzepustowe), płytka światłodzieląca, światłowód itd. mikroskop stereoskopowy [DeltaOptical]. 14
15 Obecne laboratorium: elektronika Sonda Kelvina (Besocke Kelvin Probe S z siatką o średnicy 3 mm) z układem sterująco-pomiarowym [Besocke], Pikoamperomierz ze źródłem napięciowym Keithley 6487 Analizator impedancji Agilent 4294A (własnośd: prof. S. Kochowski) 15
16 Rozbudowa laboratorium Doposażenie komory próżniowej do pomiarów fotoelektrycznych w układ grzania i chłodzenia ciekłym azotem Maciej Setkiewicz, projekt w toku. Zakup ostrzowej sondy Kelvina Besocke Kelvin Probe T (średnica ostrza 0,5 mm) w toku. Zakup drobnych elementów optycznych (zwierciadła, soczewki, uchwyty itp.). 16
17 Podsumowanie: docelowe laboratorium napięcie częstotli wośd temperatura natężenie światła długośd fali próbka (foto)pojemnośd (foto)prąd fotoluminescencja (PL) kontaktowa różnica potencjałów (CPD) fotonapięcie powierzchniowe (SPV) 17
Charakteryzacja właściwości elektronowych i optycznych struktur AlGaN GaN Dagmara Pundyk
Charakteryzacja właściwości elektronowych i optycznych struktur AlGaN GaN Dagmara Pundyk Promotor: dr hab. inż. Bogusława Adamowicz, prof. Pol. Śl. Zadania pracy Pomiary transmisji i odbicia optycznego
Bardziej szczegółowoInTechFun. Innowacyjne technologie wielofunkcyjnych materiałów i struktur. II Spotkanie Realizatorów Projektu Warszawa maja 2009 r.
Innowacyjne technologie wielofunkcyjnych materiałów i struktur dla nanoelektroniki, fotoniki, spintroniki i technik sensorowych InTechFun Politechnika Śląska (PŚl-2) ZESPÓŁ REALIZUJĄCY PROJEKT NAZWA: Politechnika
Bardziej szczegółowoPomiar kontaktowej różnicy potencjałów na powierzchniach półprzewodników
Pomiar kontaktowej różnicy potencjałów na powierzchniach półprzewodników Promotor: dr hab. inż. Bogusława Adamowicz Opiekun: dr inż. Marcin Miczek Dyplomant: Emilia Sołtys Plan prezentacji Motywacja Cel
Bardziej szczegółowoBadania wybranych nanostruktur SnO 2 w aspekcie zastosowań sensorowych
Badania wybranych nanostruktur SnO 2 w aspekcie zastosowań sensorowych Monika KWOKA, Jacek SZUBER Instytut Elektroniki Politechnika Śląska Gliwice PLAN PREZENTACJI 1. Podsumowanie dotychczasowych prac:
Bardziej szczegółowoFotodetektor ultrafioletu na bazie struktur metal/izolator/gan i AlGaN/GaN
Fotodetektor ultrafioletu na bazie struktur metal/izolator/gan i AlGaN/GaN Z3.7 Z2.6 (model charakteryzacja), Z7 (aparatura), Z4 (demonstrator) model, projekt, charakteryzacja grupa PSl-3 B. Adamowicz
Bardziej szczegółowoGrafen materiał XXI wieku!?
Grafen materiał XXI wieku!? Badania grafenu w aspekcie jego zastosowań w sensoryce i metrologii Tadeusz Pustelny Plan prezentacji: 1. Wybrane właściwości fizyczne grafenu 2. Grafen materiał 21-go wieku?
Bardziej szczegółowoMarek Lipiński WPŁYW WŁAŚCIWOŚCI FIZYCZNYCH WARSTW I OBSZARÓW PRZYPOWIERZCHNIOWYCH NA PARAMETRY UŻYTKOWE KRZEMOWEGO OGNIWA SŁONECZNEGO
Marek Lipiński WPŁYW WŁAŚCIWOŚCI FIZYCZNYCH WARSTW I OBSZARÓW PRZYPOWIERZCHNIOWYCH NA PARAMETRY UŻYTKOWE KRZEMOWEGO OGNIWA SŁONECZNEGO Instytut Metalurgii i Inżynierii Materiałowej im. Aleksandra Krupkowskiego
Bardziej szczegółowoPolitechnika Wrocławska Wydział Podstawowych Problemów Techniki
Politechnika Wrocławska Wydział Podstawowych Problemów Techniki specjalność FOTONIKA 3,5-letnie studia stacjonarne I stopnia (studia inżynierskie) FIZYKA TECHNICZNA Charakterystyka wykształcenia: - dobre
Bardziej szczegółowoWYMAGANIA WSTĘPNE W ZAKRESIE WIEDZY, UMIEJĘTNOŚCI I INNYCH KOMPETENCJI CELE PRZEDMIOTU
Zał. nr 4 do ZW /01 WYDZIAŁ PPT KARTA PRZEDMIOTU Nazwa w języku polskim Nanodiagnostyka Nazwa w języku angielskim Nanodiagnostics Kierunek studiów (jeśli dotyczy): Fizyka Techniczna Specjalność (jeśli
Bardziej szczegółowoZ.R. Żytkiewicz IF PAN I Konferencja. InTechFun
Z.R. Żytkiewicz IF PAN I Konferencja Innowacyjne technologie wielofunkcyjnych materiałów i struktur dla nanoelektroniki, fotoniki, spintroniki i technik sensorowych InTechFun 9 kwietnia 2010 r., Warszawa
Bardziej szczegółowoPodstawy fizyki wykład 2
D. Halliday, R. Resnick, J.Walker: Podstawy Fizyki, tom 5, PWN, Warszawa 2003. H. D. Young, R. A. Freedman, Sear s & Zemansky s University Physics with Modern Physics, Addison-Wesley Publishing Company,
Bardziej szczegółowoI Konferencja. InTechFun
I Konferencja Innowacyjne technologie wielofunkcyjnych materiałów i struktur dla nanoelektroniki, fotoniki, spintroniki i technik sensorowych InTechFun 9 kwietnia 2010 r., Warszawa POIG.01.03.01-00-159/08
Bardziej szczegółowoŹródło typu Thonnemena dostarcza jony: H, D, He, N, O, Ar, Xe, oraz J i Hg.
ZFP dysponuje obecnie unowocześnioną aparaturą, której skompletowanie, uruchomienie i utrzymanie w sprawności wymagało wysiłku zarówno merytorycznego jak i organizacyjnego oraz finansowego. Unowocześnienia
Bardziej szczegółowoInTechFun. Innowacyjne technologie wielofunkcyjnych materiałów i struktur dla nanoelektroniki, fotoniki, spintroniki i technik sensorowych
Innowacyjne technologie wielofunkcyjnych materiałów i struktur dla nanoelektroniki, fotoniki, spintroniki i technik sensorowych InTechFun Instytut Fizyki Polskiej Akademii Nauk Zbigniew R. Żytkiewicz IF
Bardziej szczegółowoLeon Murawski, Katedra Fizyki Ciała Stałego Wydział Fizyki Technicznej i Matematyki Stosowanej
Nanomateriałów Leon Murawski, Katedra Fizyki Ciała Stałego Wydział Fizyki Technicznej i Matematyki Stosowanej POLITECHNIKA GDAŃSKA Centrum Zawansowanych Technologii Pomorze ul. Al. Zwycięstwa 27 80-233
Bardziej szczegółowoDiody elektroluminescencyjne na bazie GaN z powierzchniowymi kryształami fotonicznymi
Diody elektroluminescencyjne na bazie z powierzchniowymi kryształami fotonicznymi Krystyna Gołaszewska Renata Kruszka Marcin Myśliwiec Marek Ekielski Wojciech Jung Tadeusz Piotrowski Marcin Juchniewicz
Bardziej szczegółowoNazwa przedmiotu INSTRUMENTARIUM BADAWCZE W INŻYNIERII MATERIAŁOWEJ Instrumentation of research in material engineering
Nazwa przedmiotu INSTRUMENTARIUM BADAWCZE W INŻYNIERII MATERIAŁOWEJ Instrumentation of research in material engineering Kierunek: Inżynieria materiałowa Rodzaj przedmiotu: kierunkowy obowiązkowy Rodzaj
Bardziej szczegółowoI Konferencja. InTechFun
I Konferencja Innowacyjne technologie wielofunkcyjnych materiałów i struktur dla nanoelektroniki, fotoniki, spintroniki i technik sensorowych InTechFun 9 kwietnia 2010 r., Warszawa POIG.01.03.01-00-159/08
Bardziej szczegółowoBadanie uporządkowania magnetycznego w ultracienkich warstwach kobaltu w pobliżu reorientacji spinowej.
Tel.: +48-85 7457229, Fax: +48-85 7457223 Zakład Fizyki Magnetyków Uniwersytet w Białymstoku Ul.Lipowa 41, 15-424 Białystok E-mail: vstef@uwb.edu.pl http://physics.uwb.edu.pl/zfm Praca magisterska Badanie
Bardziej szczegółowoFizyka i inżynieria materiałów Prowadzący: Ryszard Pawlak, Ewa Korzeniewska, Jacek Rymaszewski, Marcin Lebioda, Mariusz Tomczyk, Maria Walczak
Fizyka i inżynieria materiałów Prowadzący: Ryszard Pawlak, Ewa Korzeniewska, Jacek Rymaszewski, Marcin Lebioda, Mariusz Tomczyk, Maria Walczak Instytut Systemów Inżynierii Elektrycznej Politechnika Łódzka
Bardziej szczegółowoI Konferencja. InTechFun
I Konferencja Innowacyjne technologie wielofunkcyjnych materiałów i struktur dla nanoelektroniki, fotoniki, spintroniki i technik sensorowych InTechFun 9 kwietnia 2010 r., Warszawa POIG.01.03.01-00-159/08
Bardziej szczegółowoAparatura do osadzania warstw metodami:
Aparatura do osadzania warstw metodami: Rozpylania mgnetronowego Magnetron sputtering MS Rozpylania z wykorzystaniem działa jonowego Ion Beam Sputtering - IBS Odparowanie wywołane impulsami światła z lasera
Bardziej szczegółowoMETODY BADAŃ BIOMATERIAŁÓW
METODY BADAŃ BIOMATERIAŁÓW 1 Cel badań: ograniczenie ryzyka związanego ze stosowaniem biomateriałów w medycynie Rodzaje badań: 1. Badania biofunkcyjności implantów, 2. Badania degradacji implantów w środowisku
Bardziej szczegółowoMetody i techniki badań II. Instytut Inżynierii Materiałowej Wydział Inżynierii Mechanicznej i Mechatroniki ZUT
Metody i techniki badań II Instytut Inżynierii Materiałowej Wydział Inżynierii Mechanicznej i Mechatroniki ZUT Dr inż. Agnieszka Kochmańska pok. 20 Zakład Metaloznawstwa i Odlewnictwa agnieszka.kochmanska@zut.edu.pl
Bardziej szczegółowopromotor prof. dr hab. inż. Jan Szmidt z Politechniki Warszawskiej
Politechnika Warszawska Wydział Elektroniki i Technik Informacyjnych Warszawa, 13 marca 2018 r. D z i e k a n a t Uprzejmie informuję, że na Wydziale Elektroniki i Technik Informacyjnych Politechniki Warszawskiej
Bardziej szczegółowoLaboratorium nanotechnologii
Laboratorium nanotechnologii Zakres zagadnień: - Mikroskopia sił atomowych AFM i STM (W. Fizyki) - Skaningowa mikroskopia elektronowa SEM (WIM) - Transmisyjna mikroskopia elektronowa TEM (IF PAN) - Nanostruktury
Bardziej szczegółowoLaboratoria. badawcze i wzorcujące
Laboratoria badawcze i wzorcujące Laboratorium Badań Urządzeń Telekomunikacyjnych (LBUT) Laboratorium Badań Urządzeń Telekomunikacyjnych (LBUT) działa przy Zakładzie Badań Systemów i Urządzeń (Z-1). LBUT
Bardziej szczegółowoSPM Scanning Probe Microscopy Mikroskopia skanującej sondy STM Scanning Tunneling Microscopy Skaningowa mikroskopia tunelowa AFM Atomic Force
SPM Scanning Probe Microscopy Mikroskopia skanującej sondy STM Scanning Tunneling Microscopy Skaningowa mikroskopia tunelowa AFM Atomic Force Microscopy Mikroskopia siły atomowej MFM Magnetic Force Microscopy
Bardziej szczegółowoLABORATORIUM SPEKTRALNEJ ANALIZY CHEMICZNEJ (L-6)
LABORATORIUM SPEKTRALNEJ ANALIZY CHEMICZNEJ (L-6) Posiadane uprawnienia: ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO NR AB 120 wydany przez Polskie Centrum Akredytacji Wydanie nr 5 z 18 lipca 2007 r. Kierownik
Bardziej szczegółowodr inż. Piotr Wroczyński kierownik dr inż. Marcin Gnyba zca. kierownika Katedra Optoelektroniki i Systemów Elektronicznych PG
dr inż. Piotr Wroczyński kierownik dr inż. Marcin Gnyba zca. kierownika Katedra Optoelektroniki i Systemów Elektronicznych PG POLITECHNIKA GDAŃSKA Centrum Zawansowanych Technologii Pomorze ul. Al. Zwycięstwa
Bardziej szczegółowo2. Metody, których podstawą są widma atomowe 32
Spis treści 5 Spis treści Przedmowa do wydania czwartego 11 Przedmowa do wydania trzeciego 13 1. Wiadomości ogólne z metod spektroskopowych 15 1.1. Podstawowe wielkości metod spektroskopowych 15 1.2. Rola
Bardziej szczegółowoMikroskopia skaningowa tunelowa i siłowa
Zakład Fizyki Magnetyków Uniwersytet w Białymstoku Instytut Fizyki Doświadczalnej Lipowa 41, 15-424 Białystok Tel: (85) 7457228 http://physics.uwb.edu.pl/zfmag Mikroskopia skaningowa tunelowa i siłowa
Bardziej szczegółowoMarcin Sikora. Temat 1: Obserwacja procesów przemagnesowania w tlenkowych nanostrukturach spintronicznych przy użyciu metod synchrotronowych
Prezentacja tematów na prace doktorskie, 28/5/2015 1 Marcin Sikora KFCS WFiIS & ACMiN Temat 1: Obserwacja procesów przemagnesowania w tlenkowych nanostrukturach spintronicznych przy użyciu metod synchrotronowych
Bardziej szczegółowoEMISJA POLOWA. przechwytywania obrazów wideo FAST Capture i kartą video AVMaster Video v.2.5. FAST Multimedia (wewnątrz komputera);
EMISJA POLOWA 1. Zagadnienia teoretyczne Elektronowa teoria budowy metali, rodzaje emisji elektronów, emisja polowa, praca wyjścia i metody jej wyznaczania, mikroskop polowy budowa i zasada działania,
Bardziej szczegółowoWYKŁADY MONOGRAFICZNE DLA STUDENTÓW I SŁUCHACZY STUDIÓW DOKTORANCKICH
WYKŁADY MONOGRAFICZNE DLA STUDENTÓW I SŁUCHACZY STUDIÓW DOKTORANCKICH (30 godz. wykł. + 15 godz. semin.) SPEKTROSKOPIA Kryształy Fotoniczne Dr Jarosław W. Kłos Dynamiczne rozpraszanie światła Prof. dr
Bardziej szczegółowoFizyka - opis przedmiotu
Fizyka - opis przedmiotu Informacje ogólne Nazwa przedmiotu Fizyka Kod przedmiotu 06.1-WM-MiBM-P-09_15gen Wydział Kierunek Wydział Mechaniczny Mechanika i budowa maszyn / Automatyzacja i organizacja procesów
Bardziej szczegółowoWieloparametryczna klasyfikacja właściwości użytkowych biopaliw ciekłych optymalizacja głowicy sensora
Wieloparametryczna klasyfikacja właściwości użytkowych biopaliw ciekłych optymalizacja głowicy sensora 1. Michał Borecki, Jan Szmidt, Piotr Doroz, Paweł Pszczółkowski, 2. Mariusz Duk, Andrzej Kociubiński,
Bardziej szczegółowoSPECYFIKACJA TECHNICZNA ZESTAWU DO ANALIZY TERMOGRAWIMETRYCZNEJ TG-FITR-GCMS ZAŁĄCZNIK NR 1 DO ZAPYTANIA OFERTOWEGO
SPECYFIKACJA TECHNICZNA ZESTAWU DO ANALIZY TERMOGRAWIMETRYCZNEJ TG-FITR-GCMS ZAŁĄCZNIK NR 1 DO ZAPYTANIA OFERTOWEGO NR 113/TZ/IM/2013 Zestaw ma umożliwiać analizę termiczną próbki w symultanicznym układzie
Bardziej szczegółowoElektrochemiczne metody skaningowe i ich zastosowanie w in ynierii korozyjnej
Elektrochemiczne metody skaningowe i ich zastosowanie w in ynierii korozyjnej 1 2 NR 147 Julian Kubisztal Elektrochemiczne metody skaningowe i ich zastosowanie w in ynierii korozyjnej Wydawnictwo Uniwersytetu
Bardziej szczegółowoPrezentacja aparatury zakupionej przez IKiFP. Mikroskopy LEEM i PEEM
Prezentacja aparatury zakupionej przez IKiFP Mikroskopy LEEM i PEEM Cechy ogólne mikroskopów do badania powierzchni; czułość Å - nm szeroka gama kontrastów topograficzny strukturalny chemiczny magnetyczny
Bardziej szczegółowoWydział Fizyki Technicznej, Instytut Fizyki, ul. Piotrowo 3, Poznań, tel.: RECENZJA PRACY DOKTORSKIEJ mgr. Mateusza Wojtaszka
Wydział Fizyki Technicznej, Instytut Fizyki, ul. Piotrowo 3, 60-965 Poznań, tel.: 61 665 3200 Zakład Fizyki Powierzchni i Nanostruktur Kierownik Zakładu prof. dr hab. Ryszard Czajka e-mail: ryszard.czajka@put.poznan.pl
Bardziej szczegółowoPLAN STUDIÓW STACJONARNYCH studia inżynierskie pierwszego stopnia
Egzamin po semestrze Kierunek: FIZYKA TECHNICZNA wybór specjalności po semestrze czas trwania: 7 semestrów profil: ogólnoakademicki PLAN STUDIÓW STACJONARNYCH studia inżynierskie pierwszego stopnia 01/015-1
Bardziej szczegółowoElektroniczne przyrządy pomiarowe Kod przedmiotu
Elektroniczne przyrządy pomiarowe - opis przedmiotu Informacje ogólne Nazwa przedmiotu Elektroniczne przyrządy pomiarowe Kod przedmiotu 06.5-WE-EP-EPP Wydział Kierunek Wydział Informatyki, Elektrotechniki
Bardziej szczegółowoNOWOCZESNE TECHNIKI BADAWCZE W INŻYNIERII MATERIAŁOWEJ. Beata Grabowska, pok. 84A, Ip
NOWOCZESNE TECHNIKI BADAWCZE W INŻYNIERII MATERIAŁOWEJ Beata Grabowska, pok. 84A, Ip http://home.agh.edu.pl/~graboska/ Mikroskopia Słowo mikroskop wywodzi się z języka greckiego: μικρός - mikros "mały
Bardziej szczegółowoZałącznik 1. Nazwa kierunku studiów: FIZYKA Techniczna Poziom kształcenia: II stopień (magisterski) Profil kształcenia: ogólnoakademicki Symbol
Efekty kształcenia dla kierunku studiów FIZYKA TECHNICZNA - studia II stopnia, profil ogólnoakademicki - i ich odniesienia do efektów kształcenia w obszarze nauk ścisłych Objaśnienia oznaczeń w symbolach
Bardziej szczegółowoBADANIE WYMUSZONEJ AKTYWNOŚCI OPTYCZNEJ. Instrukcja wykonawcza
ĆWICZENIE 89 BADANIE WYMUSZONEJ AKTYWNOŚCI OPTYCZNEJ Instrukcja wykonawcza 1. Wykaz przyrządów Polarymetr Lampa sodowa Solenoid Źródło napięcia stałego o wydajności prądowej min. 5A Amperomierz prądu stałego
Bardziej szczegółowoFotowoltaika i sensory w proekologicznym rozwoju Małopolski
Fotowoltaika i sensory w proekologicznym rozwoju Małopolski Photovoltaic and Sensors in Environmental Development of Malopolska Region ZWIĘKSZANIE WYDAJNOŚCI SYSTEMÓW FOTOWOLTAICZNYCH Plan prezentacji
Bardziej szczegółowoIM21 SPEKTROSKOPIA ODBICIOWA ŚWIATŁA BIAŁEGO
IM21 SPEKTROSKOPIA ODBICIOWA ŚWIATŁA BIAŁEGO Cel ćwiczenia: Zapoznanie się z metodą pomiaru grubości cienkich warstw za pomocą interferometrii odbiciowej światła białego, zbadanie zjawiska pęcznienia warstw
Bardziej szczegółowoI Konferencja. InTechFun
I Konferencja Innowacyjne technologie wielofunkcyjnych materiałów i struktur dla nanoelektroniki, fotoniki, spintroniki i technik sensorowych InTechFun 9 kwietnia 2010 r., Warszawa POIG.01.03.01-00-159/08
Bardziej szczegółowoLABORATORIUM ANALITYCZNEJ MIKROSKOPII ELEKTRONOWEJ (L - 2)
LABORATORIUM ANALITYCZNEJ MIKROSKOPII ELEKTRONOWEJ (L - 2) Posiadane uprawnienia: ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO NR AB 120 wydany przez Polskie Centrum Akredytacji Wydanie nr 5 z 18 lipca 2007
Bardziej szczegółowoBADANIA WARSTW FE NANOSZONYCH Z ELEKTROLITU NA BAZIE ACETONU
BADANIA WARSTW FE NANOSZONYCH Z ELEKTROLITU NA BAZIE ACETONU W. OLSZEWSKI 1, K. SZYMAŃSKI 1, D. SATUŁA 1, M. BIERNACKA 1, E. K. TALIK 2 1 Wydział Fizyki, Uniwersytet w Białymstoku, Lipowa 41, 15-424 Białystok,
Bardziej szczegółowoANALIZA POWIERZCHNI BADANIA POWIERZCHNI
Analiza ciała stałego ANALIZA POWIERZCHNI ANALIZA CAŁEJ OBJTOCI CIAŁO STAŁE ANALIZA POWIERZCHNI METODY NISZCZCE METODY NIENISZCZCE Metody niszczce: - przeprowadzenie do roztworu (rozpuszczanie, roztwarzanie
Bardziej szczegółowoUMO-2011/01/B/ST7/06234
Załącznik nr 4 do sprawozdania merytorycznego z realizacji projektu badawczego Szybka nieliniowość fotorefrakcyjna w światłowodach półprzewodnikowych do zastosowań w elementach optoelektroniki zintegrowanej
Bardziej szczegółowoUMO-2011/01/B/ST7/06234
Załącznik nr 7 do sprawozdania merytorycznego z realizacji projektu badawczego Szybka nieliniowość fotorefrakcyjna w światłowodach półprzewodnikowych do zastosowań w elementach optoelektroniki zintegrowanej
Bardziej szczegółowoInnowacyjne technologie wielofunkcyjnych materiałów i struktur
Innowacyjne technologie wielofunkcyjnych materiałów i struktur dla nanoelektroniki, fotoniki, spintroniki i technik sensorowych InTechFun 1 Instytut Technologii Elektronowej ZESPÓŁ REALIZUJĄCY PROJEKT
Bardziej szczegółowoV Konferencja Kwantowe Nanostruktury Półprzewodnikowe do Zastosowań w Biologii i Medycynie PROGRAM
V Konferencja Kwantowe Nanostruktury Półprzewodnikowe do Zastosowań w Biologii i Medycynie PROGRAM Kwantowe Nanostruktury Półprzewodnikowe do Zastosowań w Biologii i Medycynie Rozwój i Komercjalizacja
Bardziej szczegółowoTechnika wysokich napięć : podstawy teoretyczne i laboratorium / Barbara Florkowska, Jakub Furgał. Kraków, Spis treści.
Technika wysokich napięć : podstawy teoretyczne i laboratorium / Barbara Florkowska, Jakub Furgał. Kraków, 2017 Spis treści Wstęp 13 ROZDZIAŁ 1 Laboratorium Wysokich Napięć. Organizacja i zasady bezpiecznej
Bardziej szczegółowoefekty kształcenia dla kierunku Elektronika studia stacjonarne drugiego stopnia, profil ogólnoakademicki
Opis efektów dla kierunku Elektronika Studia stacjonarne drugiego stopnia, profil ogólnoakademicki Objaśnienie oznaczeń: K kierunkowe efekty W kategoria wiedzy U kategoria umiejętności K (po podkreślniku)
Bardziej szczegółowoHARMONOGRAM SKŁADANIA WNIOSKÓW DO PROCEDUR ZBIORCZYCH W ROKU 2014 NA NASTĘPUJĄCE GRUPY TOWAROWE (stan na dzień r.)
y: HARMONOGRAM SKŁADANIA WNIOSKÓW DO PROCEDUR ZBIORCZYCH W ROKU 2014 NA NASTĘPUJĄCE GRUPY TOWAROWE (stan na dzień 30.04.2014r.) M - mała a o zbilansowanej wartości < niż równowartość kwoty 207.000 EURO
Bardziej szczegółowoPodstawowe informacje o przedmiocie (niezależne od cyklu)
UNIWERSYTET MARII CURIE-SKŁODOWSKIEJ W LUBLINIE Projekt Zintegrowany UMCS Centrum Kształcenia i Obsługi Studiów, Biuro ds. Kształcenia Ustawicznego telefon: +48 81 537 54 61 Podstawowe informacje o przedmiocie
Bardziej szczegółowoPróżnia w badaniach materiałów
Próżnia w badaniach materiałów Pomiary ciśnień parcjalnych Konstanty Marszałek Kraków 2011 Analiza składu masowego gazów znajduje coraz większe zastosowanie ze względu na liczne zastosowania zarówno w
Bardziej szczegółowoPracownia Optyki Nieliniowej
Skład osobowy: www.if.pw.edu.pl/~nlo Kierownik pracowni: Prof. dr hab. inż. Mirosław Karpierz Kierownik laboratorium Dr inż. Urszula Laudyn Dr inż. Michał Kwaśny Dr inż. Filip Sala Dr inż. Paweł Jung Doktoranci:
Bardziej szczegółowoZałącznik nr 1. Projekty struktur falowodowych
Załącznik nr 1 do sprawozdania merytorycznego z realizacji projektu badawczego Szybka nieliniowość fotorefrakcyjna w światłowodach półprzewodnikowych do zastosowań w elementach optoelektroniki zintegrowanej
Bardziej szczegółowoNowości w kształceniu studentów PWr na kierunkach Fizyka i Fizyka techniczna
Nowości w kształceniu studentów PWr na kierunkach Fizyka i Fizyka techniczna Autor: dr hab. inż. Włodzimierz Salejda, prof. nadzw., Współpraca: prof. dr hab. inż. Jan Misiewicz, prof. zw., prof. dr hab.
Bardziej szczegółowoUruchomienie nowego programu kształcenia dualnego na studiach II stopnia na kierunku Inżynieria Materiałowa (DUOInMat) POWR
Z1-PU7 WYDANIE N3 Strona: 1 z 5 (pieczęć jednostki organizacyjnej) KARTA PRZEDMIOTU 1) Nazwa przedmiotu: METODY BADAŃ MATERIAŁÓW I WYROBÓW STOSOWANE W PRAKTYCE PRZEMYSŁOWEJ 3) Karta przedmiotu ważna od
Bardziej szczegółowoEFEKT FOTOELEKTRYCZNY ZEWNĘTRZNY
ĆWICZENIE 91 EFEKT FOTOELEKTRYCZNY ZEWNĘTRZNY Instrukcja wykonawcza 1. Wykaz przyrządów 1. Monochromator 5. Zasilacz stabilizowany oświetlacza. Oświetlacz 6. Zasilacz fotokomórki 3. Woltomierz napięcia
Bardziej szczegółowoSkaningowy Mikroskop Elektronowy. Rembisz Grażyna Drab Bartosz
Skaningowy Mikroskop Elektronowy Rembisz Grażyna Drab Bartosz PLAN PREZENTACJI: 1. Zarys historyczny 2. Zasada działania SEM 3. Zjawiska fizyczne wykorzystywane w SEM 4. Budowa SEM 5. Przygotowanie próbek
Bardziej szczegółowoRepeta z wykładu nr 10. Detekcja światła. Kondensator MOS. Plan na dzisiaj. fotopowielacz, część 2 MCP (detektor wielokanałowy) streak camera
Repeta z wykładu nr 10 Detekcja światła Sebastian Maćkowski Instytut Fizyki Uniwersytet Mikołaja Kopernika Adres poczty elektronicznej: mackowski@fizyka.umk.pl Biuro: 365, telefon: 611-3250 fotopowielacz,
Bardziej szczegółowoAnaliza aktywacyjna składu chemicznego na przykładzie zawartości Mn w stali.
Analiza aktywacyjna składu chemicznego na przykładzie zawartości Mn w stali. Projekt ćwiczenia w Laboratorium Fizyki i Techniki Jądrowej na Wydziale Fizyki Politechniki Warszawskiej. dr Julian Srebrny
Bardziej szczegółowoSYLABUS/KARTA PRZEDMIOTU
PAŃSTWOWA WYŻSZA SZKOŁA ZAWODOWA W GŁOGOWIE SYLABUS/KARTA PRZEDMIOTU 1. NAZWA PRZEDMIOTU Fizyka. NAZWA JEDNOSTKI PROWADZĄCEJ PRZEDMIOT Instytut Politechniczny. STUDIA kierunek stopień tryb język status
Bardziej szczegółowoRozwiązania firmy Harrer & Kassen do pomiaru gęstości i wilgotności
Rozwiązania firmy Harrer & Kassen do pomiaru gęstości i wilgotności Firma Biosens specjalizuje się w spektroskopii. Od czterech lat dostarcza spektrofotometry do pomiaru barwy (zarówno w laboratorium jak
Bardziej szczegółowoINŻYNIERIA MATERIAŁOWA
Wydział Chemiczny Politechniki Gdańskiej.0.004 PLAN STUDIÓW Rodzaj studiów: studia dzienne inżynierskie/ magisterskie - czas trwania: inż. 3, 5 lat/ 7 semestrów; mgr 5 lat/0 semestrów Kierunek studiów:
Bardziej szczegółowoMasowo-spektrometryczne badania reakcji jonowo-molekularnych w mieszaninach amoniaku i argonu
ANNALES UNIVERSITATIS MARIAE CURIE-SKLODOWSKA LUBLIN POLONIA VOL. XLVI/XLVII, 48 SECTIO AAA 1991/1992 Instytut Fizyki UMCS L. WÓJCIK, K. BEDERSKI Masowo-spektrometryczne badania reakcji jonowo-molekularnych
Bardziej szczegółowoGdańsk, 16 grudnia 2010
POLITECHNIKA GDAŃSKA Centrum Zawansowanych Technologii Pomorze ul. Al. Zwycięstwa 27 80-233 Gdańsk prof. dr hab. inż. Andrzej Zieliński tel. 58 348 63 57 fax. 58 347 14 15 Przewodniczący Rady Koordynator
Bardziej szczegółowoUniwersytet Warszawski Wydział Fizyki. Badanie efektu Faraday a w kryształach CdTe i CdMnTe
Uniwersytet Warszawski Wydział Fizyki Marcin Polkowski 251328 Badanie efektu Faraday a w kryształach CdTe i CdMnTe Pracownia Fizyczna dla Zaawansowanych ćwiczenie F8 w zakresie Fizyki Ciała Stałego Streszczenie
Bardziej szczegółowoModelowanie zjawisk elektryczno-cieplnych w ultrafioletowej diodzie elektroluminescencyjnej
Modelowanie zjawisk elektryczno-cieplnych w ultrafioletowej diodzie elektroluminescencyjnej Robert P. Sarzała 1, Michał Wasiak 1, Maciej Kuc 1, Adam K. Sokół 1, Renata Kruszka 2, Krystyna Gołaszewska 2
Bardziej szczegółowoTemat jest proponowany dla studenta (imię i nazwisko): Opinia Komisji TAK / NIE. Lp Temat pracy dyplomowej Opis Opiekun
Propozycje tematów prac dyplomowych na rok akademicki 204/205 do zatwierdzenia na Radzie Wydziału 05.03.205 Fizyka Techniczna - Optyka Okularowa - I stopień inż. Zbadanie charakterystyk czasowo-spektralnych
Bardziej szczegółowoWłaściwości optyczne. Oddziaływanie światła z materiałem. Widmo światła widzialnego MATERIAŁ
Właściwości optyczne Oddziaływanie światła z materiałem hν MATERIAŁ Transmisja Odbicie Adsorpcja Załamanie Efekt fotoelektryczny Tradycyjnie właściwości optyczne wiążą się z zachowaniem się materiałów
Bardziej szczegółowoWykład XIV: Właściwości optyczne. JERZY LIS Wydział Inżynierii Materiałowej i Ceramiki Katedra Technologii Ceramiki i Materiałów Ogniotrwałych
Wykład XIV: Właściwości optyczne JERZY LIS Wydział Inżynierii Materiałowej i Ceramiki Katedra Technologii Ceramiki i Materiałów Ogniotrwałych Treść wykładu: Treść wykładu: 1. Wiadomości wstępne: a) Załamanie
Bardziej szczegółowoWydział Matematyki, Fizyki i Informatyki UMCS. Instytut Matematyki UMCS
Wydział Matematyki, Fizyki i Informatyki UMCS Dziekan Wydziału B 3 Prodziekan Wydziału B 2 Dziekanat B 7a (Kierownik Dziekanatu), B 6, B 6a, B 7 Sala konferencyjna i posiedzeń Rady Wydziału D 217 Biblioteka
Bardziej szczegółowoDZIEŃ POWSZEDNI PRACOWNIKÓW WYKONUJĄCYCH TESTY SPECJALISTYCZNE APARATÓW RENTGENOWSKICH
Anna Cepiga, Katarzyna Szymańska, Izabela Milcewicz- Mika, Maciej Schramm, Maciej Budzanowski Laboratorium Dozymetrii Indywidualnej i Środowiskowej, Instytut Fizyki Jądrowej PAN DZIEŃ POWSZEDNI PRACOWNIKÓW
Bardziej szczegółowoToruń, dr hab. Jacek Zakrzewski Instytut Fizyki Uniwersytet Mikołaja Kopernika ul. Grudziądzka 5/ Toruń
dr hab. Jacek Zakrzewski Instytut Fizyki Uniwersytet Mikołaja Kopernika ul. Grudziądzka 5/7 87-100 Toruń Toruń, 20.04.2015 Recenzja pracy doktorskiej pani magister inżynier Justyny Juszczyk pt.: Opracowanie
Bardziej szczegółowoRekapitulacja. Detekcja światła. Rekapitulacja. Rekapitulacja
Rekapitulacja Detekcja światła Sebastian Maćkowski Instytut Fizyki Uniwersytet Mikołaja Kopernika Adres poczty elektronicznej: mackowski@fizyka.umk.pl Biuro: 365, telefon: 611-3250 Konsultacje: czwartek
Bardziej szczegółowoCo to jest kropka kwantowa? Kropki kwantowe - część I otrzymywanie. Co to jest ekscyton? Co to jest ekscyton? e πε. E = n. Sebastian Maćkowski
Co to jest kropka kwantowa? Kropki kwantowe - część I otrzymywanie Sebastian Maćkowski Instytut Fizyki Uniwersytet Mikołaja Kopernika Co to jest ekscyton? Co to jest ekscyton? h 2 2 2 e πε m* 4 0ε s Φ
Bardziej szczegółowoPodstawy fizyki IV - Optyka, Fizyka wspólczesna - opis przedmiotu
Podstawy fizyki IV - Optyka, Fizyka wspólczesna - opis przedmiotu Informacje ogólne Nazwa przedmiotu Podstawy fizyki IV - Optyka, Fizyka wspólczesna Kod przedmiotu 13.2-WF-FizP-PF4OF-Ć-S14_genGZGG4 Wydział
Bardziej szczegółowoforma studiów: studia stacjonarne Liczba godzin/tydzień: 1W, 1S, 1ĆW PRZEWODNIK PO PRZEDMIOCIE
Nazwa przedmiotu Kierunek: Inżynieria materiałowa Rodzaj przedmiotu: Kierunkowy obowiązkowy Rodzaj zajęć: Wyk. Sem. Ćw. METODY BADANIA MATERIAŁÓW Methods of Materials Investigation Kod przedmiotu: IM.PK.C3.58
Bardziej szczegółowoLABORATORIUM WSPÓŁCZESNYCH TECHNIK EKSPERYMENTALNYCH w FIZYCE
LABORATORIUM WSPÓŁCZESNYCH TECHNIK EKSPERYMENTALNYCH w FIZYCE LABORATORIUM WSPÓŁCZESNYCH TECHNIK EKSPERYMENTALNYCH w FIZY- CE stanowi istotny element edukacji przyszłego inżyniera fizyki technicznej. Metody
Bardziej szczegółowoI. Wstęp teoretyczny. Ćwiczenie: Mikroskopia sił atomowych (AFM) Prowadzący: Michał Sarna (sarna@novel.ftj.agh.edu.pl) 1.
Ćwiczenie: Mikroskopia sił atomowych (AFM) Prowadzący: Michał Sarna (sarna@novel.ftj.agh.edu.pl) I. Wstęp teoretyczny 1. Wprowadzenie Mikroskop sił atomowych AFM (ang. Atomic Force Microscope) jest jednym
Bardziej szczegółowoMIĘDZYUCZELNIANE CENTRUM. Projekt realizowany przez Uniwersytet im. Adama Mickiewicza w Poznaniu
MIĘDZYUCZELNIANE CENTRUM NANOBIOMEDYCZNE Projekt realizowany przez Uniwersytet im. Adama Mickiewicza w Poznaniu Międzyuczelniane Centrum NanoBioMedyczne to projekt kluczowy w ramach Działania 13.1 Infrastruktura
Bardziej szczegółowoWłasności optyczne półprzewodników
Własności optyczne półprzewodników Andrzej Wysmołek Wykład przygotowany w oparciu o wykłady prowadzone na Wydziale Fizyki UW przez prof. Mariana Grynberga oraz prof. Romana Stępniewskiego Klasyfikacja
Bardziej szczegółowoOpis przedmiotu zamówienia
ZP/UR/169/2012 Zał. nr 1a do siwz Opis przedmiotu zamówienia A. Spektrometr ramanowski z mikroskopem optycznym: 1) Spektrometr ramanowski posiadający podwójny tor detekcyjny, wyposażony w chłodzony termoelektrycznie
Bardziej szczegółowoWysokowydajne falowodowe źródło skorelowanych par fotonów
Wysokowydajne falowodowe źródło skorelowanych par fotonów Michał Karpioski * Konrad Banaszek, Czesław Radzewicz * * Instytut Fizyki Doświadczalnej, Instytut Fizyki Teoretycznej Wydział Fizyki Uniwersytet
Bardziej szczegółowoPromieniowanie cieplne ciał.
Wypromieniowanie fal elektromagnetycznych przez ciała Promieniowanie cieplne (termiczne) Luminescencja Chemiluminescencja Elektroluminescencja Katodoluminescencja Fotoluminescencja Emitowanie fal elektromagnetycznych
Bardziej szczegółowoZAPLECZE LABORATORYJNO-TECHNICZNE Wydział Nauk o Ziemi i Gospodarki Przestrzennej UMCS
Laboratorium TL i OSL (od V 2012) Pracownia Palinologiczna Pracownia Mikromorfologiczna Pracownia Mikropaleontologiczna Pracownia Monitoringu Meteorologicznego Pracownia Hydrochemii i Hydrometrii Pracownia
Bardziej szczegółowoSpektrometr XRF THICK 800A
Spektrometr XRF THICK 800A DO POMIARU GRUBOŚCI POWŁOK GALWANIZNYCH THICK 800A spektrometr XRF do szybkich, nieniszczących pomiarów grubości powłok i ich składu. Zaprojektowany do pomiaru grubości warstw
Bardziej szczegółowoNabór na bezpłatne usługi badawcze - projekt Baltic TRAM
Nabór na bezpłatne usługi badawcze - projekt Baltic TRAM Piotr Piwowarczyk, Jakub Chajdecki Fundacja Inicjatyw Innowacyjnych Centrum Badań dla Przemysłu Polska Dzień otwarty Klastra LifeScience Kraków,
Bardziej szczegółowoInstytut Technologii Informatycznych w Inżynierii Lądowej (L-5) powstał w roku 2006 z połączenia Instytutu Metod Komputerowych w Inżynierii Lądowej
Instytut Technologii Informatycznych w Inżynierii Lądowej (L-5) powstał w roku 2006 z połączenia Instytutu Metod Komputerowych w Inżynierii Lądowej (Z. Waszczyszyn, B. Olszowski, Cz. Cichoń, M. Radwańska,
Bardziej szczegółowoMetrologia wymiarowa dużych odległości oraz dla potrzeb mikro- i nanotechnologii
Metrologia wymiarowa dużych odległości oraz dla potrzeb mikro- i nanotechnologii Grażyna Rudnicka Mariusz Wiśniewski, Dariusz Czułek, Robert Szumski, Piotr Sosinowski Główny Urząd Miar Mapy drogowe EURAMET
Bardziej szczegółowoTHICK 800A DO POMIARU GRUBOŚCI POWŁOK. THICK 800A spektrometr XRF do szybkich, nieniszczących pomiarów grubości powłok i ich składu.
THICK 800A DO POMIARU GRUBOŚCI POWŁOK THICK 800A spektrometr XRF do szybkich, nieniszczących pomiarów grubości powłok i ich składu. Zoptymalizowany do pomiaru grubości warstw Detektor Si-PIN o rozdzielczości
Bardziej szczegółowoZałącznik 1. Nazwa kierunku studiów: FIZYKA Poziom kształcenia: II stopień (magisterski) Profil kształcenia: ogólnoakademicki Symbol
Efekty kształcenia dla kierunku studiów FIZYKA TECHNICZNA - studia II stopnia, profil ogólnoakademicki - i ich odniesienia do efektów kształcenia w obszarze nauk ścisłych Kierunek studiów fizyka techniczna
Bardziej szczegółowo