Marcin Miczek. Badania wpływu temperatury na właściwości elektronowe struktur metal/izolator/algan/gan

Wielkość: px
Rozpocząć pokaz od strony:

Download "Marcin Miczek. Badania wpływu temperatury na właściwości elektronowe struktur metal/izolator/algan/gan"

Transkrypt

1 Marcin Miczek Badania wpływu temperatury na właściwości elektronowe struktur metal/izolator/algan/gan grant MNiSW / NCN (39. konkurs) N N , PBU-91/RMF1/ IX III 2013 Zakład Fizyki Powierzchni i Nanostruktur Instytut Fizyki Centrum Naukowo-Dydaktyczne Politechniki Śląskiej Gliwice, 25 maja 2011 roku

2 Plan wystąpienia 1. Motywacja 2. Cel naukowy i metodyka badao 3. Projekty pokrewne i współpraca 4. Wykonawcy i zakres prac 5. Pomiary planowane na zewnątrz 6. Oprogramowanie 7. Obecne laboratorium i plany rozbudowy 8. Podsumowanie: docelowe laboratorium. 2

3 Motywacja: ciekawe materiały Szeroka przerwa energetyczna (3,4 ev), stabilnośd chemiczna i termiczna, dobra przewodnośd cieplna, wysokie pole przebicia, duża prędkośd unoszenia elektronów. Elektronika wysokich mocy, częstotliwości i temperatur, niebieska, ultrafioletowa optoelektronika. przerwa energetyczna (ev) AlN GaN stała sieciowa (A) UV InN długość fali (nm) 3

4 Motywacja: co mamy, co potrafimy Wytworzone struktury AlGaN/GaN pasywowane różnymi wielowarstwami dielektrycznymi, doświadczenie w modelowaniu własności elektronowych takich struktur, doświadczenie w badaniach chemicznych (spektroskopia i mikroskopia elektronów Augera) z zaawansowaną analizą danych pochodzących ze struktur z ultracienkimi warstwami. Adamowicz, Miczek, Hashizume, Klimasek, Bobek, Żywicki: Optica Applicata 37 (2007) 327. Miczek, Mizue, Hashizume, Adamowicz: Journal of Applied Physics 103 (2008) omowy bramka SiO 2 albo SiN x (10-20 nm) Al 2 O 3 (1 nm) AlGaN (25 nm) GaN (3 μm) Al 2 O 3 (szafir) kontakt 4

5 Cel naukowy projektu Opracowanie fizykalnego modelu struktur metal/izolator/algan/gan uwzględniającego: elektronowe stany powierzchniowe, defekty objętościowe, dwuwymiarowy gaz elektronowy (2DEG) na heterozłączu AlGaN/GaN, upływ przez warstwę izolatora, mechanizm pasywacji powierzchni AlGaN. 5

6 Metodyka badao (1/2) Pomiar zależności pojemność-napięcieczęstotliwość w temperaturach od 77 do 573 K oraz prąd-napięcie-temperatura. Porównanie wyników pomiarów z zależnościami teoretycznymi z symulacji numerycznych zjawisk elektronowych w badanych strukturach (COMSOL Multiphysics, MATLAB, własne oprogramowanie w C/C++). Dopasowanie zależności teoretycznych do eksperymentalnych za pomocą procedur klasycznych oraz algorytmów ewolucyjnych wyznaczenie parametrów elektronowych struktur. 6

7 Metodyka badao (2/2) Obrazowanie powierzchni za pomocą mikroskopu sił atomowych (także z przewodzącym ostrzem) porowatość i upływność warstw dielektrycznych. Profile i mapy chemiczne skaningowy mikroskop elektronów Augera z układem trawienia jonowego oraz spektrometr masowy jonów wtórnych skład warstwy pasywacyjnej i obszaru granicy fazowej izolator/algan. 7

8 Projekty pokrewne i współpraca 1. Projekt strukturalny Innowacyjne technologie wielofunkcyjnych materiałów i struktur dla nanoelektroniki, fotoniki, spintroniki i technik sensorowych (InTechFun, UDA-POIG /08, FSB-33/RMF1/2009): sonda Kelvina, komora próżniowa do pomiarów fotoelektrycznych; 2. środki inwestycyjne Instytutu Fizyki: zestaw do wytwarzania i kontroli próżni; 3. współpraca z Research Center for Integrated Quantum Electronics, Uniwersytet Hokkaido, Sapporo, Japonia: próbki, konsultacje naukowe. 8

9 Wykonawcy i zakres prac (1/2) Kierownik: dr inż. Marcin Miczek: pomiary elektryczne i fotoelektryczne, analiza wyników, modelowanie. Wykonawcy: dr hab. inż. Bogusława Adamowicz, prof. Pol. Śl.: analiza wyników, modelowanie, badania składu chemicznego; dr Andrzej Klimasek: badania składu chemicznego; dr inż. Alina Domanowska: analiza wyników (dopasowania wieloparametryczne), modelowanie; dr Jacek Mazur: obrazowanie AFM i interpretacja wyników. 9

10 Wykonawcy i zakres prac (2/2) Doktoranci i dyplomant: mgr inż. Piotr Bidzioski: modelowanie; mgr inż. Maciej Matys: modelowanie; Rafał Ucka: pomiary fotoelektryczne. Personel administracyjny i techniczny: Maria Naróg i Marlena Orlicka: obsługa administracyjna i finansowa projektu; mgr inż. Maciej Setkiewicz: aparatura elektroniczna; Ryszard Muzyka i Tomasz Wardzała: elementy mechaniczne. 10

11 Pomiary planowane na zewnątrz Pomiary upływności mikroskopem sił atomowych z ostrzem przewodzącym (conductive atomic force microscope, C-AFM) na Wydziale Elektroniki Mikrosystemów i Fotoniki Politechniki Wrocławskiej (prof. Teodor Gotszalk). Analiza chemiczna (jakościowa i ilościowa) metodą spektrometrii masowej jonów wtórnych (secondary ion mass spectrometry, SIMS) w Przemysłowym Instytucie Elektroniki w Warszawie. 11

12 Oprogramowanie komputerowe MATLAB: wersja R2010b, licencja sieciowa jednostanowiskowa; producent: The MathWorks, USA; dystrybutor: ONT, Kraków. Pakiet programistyczny RAD Studio XE oraz Embarcadero XE Developer Tools (C++, Delphi, PHP,.NET), licencja akademicka; producent: Embarcadero Technologies, USA; dystrybutor: BSC Polska, Warszawa. Obu zakupów dokonano w listopadzie 2010 roku. 12

13 Obecne laboratorium: komora próżniowa Komora z mikromanipulatorami do kontaktów elektrycznych [OmniVac]. Zestaw wytwarzania i kontroli próżni *Varian+. 13

14 Obecne laboratorium: optyka VIS/UV Lampa deuterowa i halogenowa (200 nm 2,5 μm) *Avantes+. miernik mocy światła *Standa+ (1 μw 3 W, 190 nm 20 μm), filtr szary obrotowy [Newport], filtry dichroiczne (pasmowoprzepustowe), płytka światłodzieląca, światłowód itd. mikroskop stereoskopowy [DeltaOptical]. 14

15 Obecne laboratorium: elektronika Sonda Kelvina (Besocke Kelvin Probe S z siatką o średnicy 3 mm) z układem sterująco-pomiarowym [Besocke], Pikoamperomierz ze źródłem napięciowym Keithley 6487 Analizator impedancji Agilent 4294A (własnośd: prof. S. Kochowski) 15

16 Rozbudowa laboratorium Doposażenie komory próżniowej do pomiarów fotoelektrycznych w układ grzania i chłodzenia ciekłym azotem Maciej Setkiewicz, projekt w toku. Zakup ostrzowej sondy Kelvina Besocke Kelvin Probe T (średnica ostrza 0,5 mm) w toku. Zakup drobnych elementów optycznych (zwierciadła, soczewki, uchwyty itp.). 16

17 Podsumowanie: docelowe laboratorium napięcie częstotli wośd temperatura natężenie światła długośd fali próbka (foto)pojemnośd (foto)prąd fotoluminescencja (PL) kontaktowa różnica potencjałów (CPD) fotonapięcie powierzchniowe (SPV) 17

Charakteryzacja właściwości elektronowych i optycznych struktur AlGaN GaN Dagmara Pundyk

Charakteryzacja właściwości elektronowych i optycznych struktur AlGaN GaN Dagmara Pundyk Charakteryzacja właściwości elektronowych i optycznych struktur AlGaN GaN Dagmara Pundyk Promotor: dr hab. inż. Bogusława Adamowicz, prof. Pol. Śl. Zadania pracy Pomiary transmisji i odbicia optycznego

Bardziej szczegółowo

InTechFun. Innowacyjne technologie wielofunkcyjnych materiałów i struktur. II Spotkanie Realizatorów Projektu Warszawa maja 2009 r.

InTechFun. Innowacyjne technologie wielofunkcyjnych materiałów i struktur. II Spotkanie Realizatorów Projektu Warszawa maja 2009 r. Innowacyjne technologie wielofunkcyjnych materiałów i struktur dla nanoelektroniki, fotoniki, spintroniki i technik sensorowych InTechFun Politechnika Śląska (PŚl-2) ZESPÓŁ REALIZUJĄCY PROJEKT NAZWA: Politechnika

Bardziej szczegółowo

Pomiar kontaktowej różnicy potencjałów na powierzchniach półprzewodników

Pomiar kontaktowej różnicy potencjałów na powierzchniach półprzewodników Pomiar kontaktowej różnicy potencjałów na powierzchniach półprzewodników Promotor: dr hab. inż. Bogusława Adamowicz Opiekun: dr inż. Marcin Miczek Dyplomant: Emilia Sołtys Plan prezentacji Motywacja Cel

Bardziej szczegółowo

Badania wybranych nanostruktur SnO 2 w aspekcie zastosowań sensorowych

Badania wybranych nanostruktur SnO 2 w aspekcie zastosowań sensorowych Badania wybranych nanostruktur SnO 2 w aspekcie zastosowań sensorowych Monika KWOKA, Jacek SZUBER Instytut Elektroniki Politechnika Śląska Gliwice PLAN PREZENTACJI 1. Podsumowanie dotychczasowych prac:

Bardziej szczegółowo

Fotodetektor ultrafioletu na bazie struktur metal/izolator/gan i AlGaN/GaN

Fotodetektor ultrafioletu na bazie struktur metal/izolator/gan i AlGaN/GaN Fotodetektor ultrafioletu na bazie struktur metal/izolator/gan i AlGaN/GaN Z3.7 Z2.6 (model charakteryzacja), Z7 (aparatura), Z4 (demonstrator) model, projekt, charakteryzacja grupa PSl-3 B. Adamowicz

Bardziej szczegółowo

Grafen materiał XXI wieku!?

Grafen materiał XXI wieku!? Grafen materiał XXI wieku!? Badania grafenu w aspekcie jego zastosowań w sensoryce i metrologii Tadeusz Pustelny Plan prezentacji: 1. Wybrane właściwości fizyczne grafenu 2. Grafen materiał 21-go wieku?

Bardziej szczegółowo

Marek Lipiński WPŁYW WŁAŚCIWOŚCI FIZYCZNYCH WARSTW I OBSZARÓW PRZYPOWIERZCHNIOWYCH NA PARAMETRY UŻYTKOWE KRZEMOWEGO OGNIWA SŁONECZNEGO

Marek Lipiński WPŁYW WŁAŚCIWOŚCI FIZYCZNYCH WARSTW I OBSZARÓW PRZYPOWIERZCHNIOWYCH NA PARAMETRY UŻYTKOWE KRZEMOWEGO OGNIWA SŁONECZNEGO Marek Lipiński WPŁYW WŁAŚCIWOŚCI FIZYCZNYCH WARSTW I OBSZARÓW PRZYPOWIERZCHNIOWYCH NA PARAMETRY UŻYTKOWE KRZEMOWEGO OGNIWA SŁONECZNEGO Instytut Metalurgii i Inżynierii Materiałowej im. Aleksandra Krupkowskiego

Bardziej szczegółowo

Politechnika Wrocławska Wydział Podstawowych Problemów Techniki

Politechnika Wrocławska Wydział Podstawowych Problemów Techniki Politechnika Wrocławska Wydział Podstawowych Problemów Techniki specjalność FOTONIKA 3,5-letnie studia stacjonarne I stopnia (studia inżynierskie) FIZYKA TECHNICZNA Charakterystyka wykształcenia: - dobre

Bardziej szczegółowo

WYMAGANIA WSTĘPNE W ZAKRESIE WIEDZY, UMIEJĘTNOŚCI I INNYCH KOMPETENCJI CELE PRZEDMIOTU

WYMAGANIA WSTĘPNE W ZAKRESIE WIEDZY, UMIEJĘTNOŚCI I INNYCH KOMPETENCJI CELE PRZEDMIOTU Zał. nr 4 do ZW /01 WYDZIAŁ PPT KARTA PRZEDMIOTU Nazwa w języku polskim Nanodiagnostyka Nazwa w języku angielskim Nanodiagnostics Kierunek studiów (jeśli dotyczy): Fizyka Techniczna Specjalność (jeśli

Bardziej szczegółowo

Z.R. Żytkiewicz IF PAN I Konferencja. InTechFun

Z.R. Żytkiewicz IF PAN I Konferencja. InTechFun Z.R. Żytkiewicz IF PAN I Konferencja Innowacyjne technologie wielofunkcyjnych materiałów i struktur dla nanoelektroniki, fotoniki, spintroniki i technik sensorowych InTechFun 9 kwietnia 2010 r., Warszawa

Bardziej szczegółowo

Podstawy fizyki wykład 2

Podstawy fizyki wykład 2 D. Halliday, R. Resnick, J.Walker: Podstawy Fizyki, tom 5, PWN, Warszawa 2003. H. D. Young, R. A. Freedman, Sear s & Zemansky s University Physics with Modern Physics, Addison-Wesley Publishing Company,

Bardziej szczegółowo

I Konferencja. InTechFun

I Konferencja. InTechFun I Konferencja Innowacyjne technologie wielofunkcyjnych materiałów i struktur dla nanoelektroniki, fotoniki, spintroniki i technik sensorowych InTechFun 9 kwietnia 2010 r., Warszawa POIG.01.03.01-00-159/08

Bardziej szczegółowo

Źródło typu Thonnemena dostarcza jony: H, D, He, N, O, Ar, Xe, oraz J i Hg.

Źródło typu Thonnemena dostarcza jony: H, D, He, N, O, Ar, Xe, oraz J i Hg. ZFP dysponuje obecnie unowocześnioną aparaturą, której skompletowanie, uruchomienie i utrzymanie w sprawności wymagało wysiłku zarówno merytorycznego jak i organizacyjnego oraz finansowego. Unowocześnienia

Bardziej szczegółowo

InTechFun. Innowacyjne technologie wielofunkcyjnych materiałów i struktur dla nanoelektroniki, fotoniki, spintroniki i technik sensorowych

InTechFun. Innowacyjne technologie wielofunkcyjnych materiałów i struktur dla nanoelektroniki, fotoniki, spintroniki i technik sensorowych Innowacyjne technologie wielofunkcyjnych materiałów i struktur dla nanoelektroniki, fotoniki, spintroniki i technik sensorowych InTechFun Instytut Fizyki Polskiej Akademii Nauk Zbigniew R. Żytkiewicz IF

Bardziej szczegółowo

Leon Murawski, Katedra Fizyki Ciała Stałego Wydział Fizyki Technicznej i Matematyki Stosowanej

Leon Murawski, Katedra Fizyki Ciała Stałego Wydział Fizyki Technicznej i Matematyki Stosowanej Nanomateriałów Leon Murawski, Katedra Fizyki Ciała Stałego Wydział Fizyki Technicznej i Matematyki Stosowanej POLITECHNIKA GDAŃSKA Centrum Zawansowanych Technologii Pomorze ul. Al. Zwycięstwa 27 80-233

Bardziej szczegółowo

Diody elektroluminescencyjne na bazie GaN z powierzchniowymi kryształami fotonicznymi

Diody elektroluminescencyjne na bazie GaN z powierzchniowymi kryształami fotonicznymi Diody elektroluminescencyjne na bazie z powierzchniowymi kryształami fotonicznymi Krystyna Gołaszewska Renata Kruszka Marcin Myśliwiec Marek Ekielski Wojciech Jung Tadeusz Piotrowski Marcin Juchniewicz

Bardziej szczegółowo

Nazwa przedmiotu INSTRUMENTARIUM BADAWCZE W INŻYNIERII MATERIAŁOWEJ Instrumentation of research in material engineering

Nazwa przedmiotu INSTRUMENTARIUM BADAWCZE W INŻYNIERII MATERIAŁOWEJ Instrumentation of research in material engineering Nazwa przedmiotu INSTRUMENTARIUM BADAWCZE W INŻYNIERII MATERIAŁOWEJ Instrumentation of research in material engineering Kierunek: Inżynieria materiałowa Rodzaj przedmiotu: kierunkowy obowiązkowy Rodzaj

Bardziej szczegółowo

I Konferencja. InTechFun

I Konferencja. InTechFun I Konferencja Innowacyjne technologie wielofunkcyjnych materiałów i struktur dla nanoelektroniki, fotoniki, spintroniki i technik sensorowych InTechFun 9 kwietnia 2010 r., Warszawa POIG.01.03.01-00-159/08

Bardziej szczegółowo

Badanie uporządkowania magnetycznego w ultracienkich warstwach kobaltu w pobliżu reorientacji spinowej.

Badanie uporządkowania magnetycznego w ultracienkich warstwach kobaltu w pobliżu reorientacji spinowej. Tel.: +48-85 7457229, Fax: +48-85 7457223 Zakład Fizyki Magnetyków Uniwersytet w Białymstoku Ul.Lipowa 41, 15-424 Białystok E-mail: vstef@uwb.edu.pl http://physics.uwb.edu.pl/zfm Praca magisterska Badanie

Bardziej szczegółowo

Fizyka i inżynieria materiałów Prowadzący: Ryszard Pawlak, Ewa Korzeniewska, Jacek Rymaszewski, Marcin Lebioda, Mariusz Tomczyk, Maria Walczak

Fizyka i inżynieria materiałów Prowadzący: Ryszard Pawlak, Ewa Korzeniewska, Jacek Rymaszewski, Marcin Lebioda, Mariusz Tomczyk, Maria Walczak Fizyka i inżynieria materiałów Prowadzący: Ryszard Pawlak, Ewa Korzeniewska, Jacek Rymaszewski, Marcin Lebioda, Mariusz Tomczyk, Maria Walczak Instytut Systemów Inżynierii Elektrycznej Politechnika Łódzka

Bardziej szczegółowo

I Konferencja. InTechFun

I Konferencja. InTechFun I Konferencja Innowacyjne technologie wielofunkcyjnych materiałów i struktur dla nanoelektroniki, fotoniki, spintroniki i technik sensorowych InTechFun 9 kwietnia 2010 r., Warszawa POIG.01.03.01-00-159/08

Bardziej szczegółowo

Aparatura do osadzania warstw metodami:

Aparatura do osadzania warstw metodami: Aparatura do osadzania warstw metodami: Rozpylania mgnetronowego Magnetron sputtering MS Rozpylania z wykorzystaniem działa jonowego Ion Beam Sputtering - IBS Odparowanie wywołane impulsami światła z lasera

Bardziej szczegółowo

METODY BADAŃ BIOMATERIAŁÓW

METODY BADAŃ BIOMATERIAŁÓW METODY BADAŃ BIOMATERIAŁÓW 1 Cel badań: ograniczenie ryzyka związanego ze stosowaniem biomateriałów w medycynie Rodzaje badań: 1. Badania biofunkcyjności implantów, 2. Badania degradacji implantów w środowisku

Bardziej szczegółowo

Metody i techniki badań II. Instytut Inżynierii Materiałowej Wydział Inżynierii Mechanicznej i Mechatroniki ZUT

Metody i techniki badań II. Instytut Inżynierii Materiałowej Wydział Inżynierii Mechanicznej i Mechatroniki ZUT Metody i techniki badań II Instytut Inżynierii Materiałowej Wydział Inżynierii Mechanicznej i Mechatroniki ZUT Dr inż. Agnieszka Kochmańska pok. 20 Zakład Metaloznawstwa i Odlewnictwa agnieszka.kochmanska@zut.edu.pl

Bardziej szczegółowo

promotor prof. dr hab. inż. Jan Szmidt z Politechniki Warszawskiej

promotor prof. dr hab. inż. Jan Szmidt z Politechniki Warszawskiej Politechnika Warszawska Wydział Elektroniki i Technik Informacyjnych Warszawa, 13 marca 2018 r. D z i e k a n a t Uprzejmie informuję, że na Wydziale Elektroniki i Technik Informacyjnych Politechniki Warszawskiej

Bardziej szczegółowo

Laboratorium nanotechnologii

Laboratorium nanotechnologii Laboratorium nanotechnologii Zakres zagadnień: - Mikroskopia sił atomowych AFM i STM (W. Fizyki) - Skaningowa mikroskopia elektronowa SEM (WIM) - Transmisyjna mikroskopia elektronowa TEM (IF PAN) - Nanostruktury

Bardziej szczegółowo

Laboratoria. badawcze i wzorcujące

Laboratoria. badawcze i wzorcujące Laboratoria badawcze i wzorcujące Laboratorium Badań Urządzeń Telekomunikacyjnych (LBUT) Laboratorium Badań Urządzeń Telekomunikacyjnych (LBUT) działa przy Zakładzie Badań Systemów i Urządzeń (Z-1). LBUT

Bardziej szczegółowo

SPM Scanning Probe Microscopy Mikroskopia skanującej sondy STM Scanning Tunneling Microscopy Skaningowa mikroskopia tunelowa AFM Atomic Force

SPM Scanning Probe Microscopy Mikroskopia skanującej sondy STM Scanning Tunneling Microscopy Skaningowa mikroskopia tunelowa AFM Atomic Force SPM Scanning Probe Microscopy Mikroskopia skanującej sondy STM Scanning Tunneling Microscopy Skaningowa mikroskopia tunelowa AFM Atomic Force Microscopy Mikroskopia siły atomowej MFM Magnetic Force Microscopy

Bardziej szczegółowo

LABORATORIUM SPEKTRALNEJ ANALIZY CHEMICZNEJ (L-6)

LABORATORIUM SPEKTRALNEJ ANALIZY CHEMICZNEJ (L-6) LABORATORIUM SPEKTRALNEJ ANALIZY CHEMICZNEJ (L-6) Posiadane uprawnienia: ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO NR AB 120 wydany przez Polskie Centrum Akredytacji Wydanie nr 5 z 18 lipca 2007 r. Kierownik

Bardziej szczegółowo

dr inż. Piotr Wroczyński kierownik dr inż. Marcin Gnyba zca. kierownika Katedra Optoelektroniki i Systemów Elektronicznych PG

dr inż. Piotr Wroczyński kierownik dr inż. Marcin Gnyba zca. kierownika Katedra Optoelektroniki i Systemów Elektronicznych PG dr inż. Piotr Wroczyński kierownik dr inż. Marcin Gnyba zca. kierownika Katedra Optoelektroniki i Systemów Elektronicznych PG POLITECHNIKA GDAŃSKA Centrum Zawansowanych Technologii Pomorze ul. Al. Zwycięstwa

Bardziej szczegółowo

2. Metody, których podstawą są widma atomowe 32

2. Metody, których podstawą są widma atomowe 32 Spis treści 5 Spis treści Przedmowa do wydania czwartego 11 Przedmowa do wydania trzeciego 13 1. Wiadomości ogólne z metod spektroskopowych 15 1.1. Podstawowe wielkości metod spektroskopowych 15 1.2. Rola

Bardziej szczegółowo

Mikroskopia skaningowa tunelowa i siłowa

Mikroskopia skaningowa tunelowa i siłowa Zakład Fizyki Magnetyków Uniwersytet w Białymstoku Instytut Fizyki Doświadczalnej Lipowa 41, 15-424 Białystok Tel: (85) 7457228 http://physics.uwb.edu.pl/zfmag Mikroskopia skaningowa tunelowa i siłowa

Bardziej szczegółowo

Marcin Sikora. Temat 1: Obserwacja procesów przemagnesowania w tlenkowych nanostrukturach spintronicznych przy użyciu metod synchrotronowych

Marcin Sikora. Temat 1: Obserwacja procesów przemagnesowania w tlenkowych nanostrukturach spintronicznych przy użyciu metod synchrotronowych Prezentacja tematów na prace doktorskie, 28/5/2015 1 Marcin Sikora KFCS WFiIS & ACMiN Temat 1: Obserwacja procesów przemagnesowania w tlenkowych nanostrukturach spintronicznych przy użyciu metod synchrotronowych

Bardziej szczegółowo

EMISJA POLOWA. przechwytywania obrazów wideo FAST Capture i kartą video AVMaster Video v.2.5. FAST Multimedia (wewnątrz komputera);

EMISJA POLOWA. przechwytywania obrazów wideo FAST Capture i kartą video AVMaster Video v.2.5. FAST Multimedia (wewnątrz komputera); EMISJA POLOWA 1. Zagadnienia teoretyczne Elektronowa teoria budowy metali, rodzaje emisji elektronów, emisja polowa, praca wyjścia i metody jej wyznaczania, mikroskop polowy budowa i zasada działania,

Bardziej szczegółowo

WYKŁADY MONOGRAFICZNE DLA STUDENTÓW I SŁUCHACZY STUDIÓW DOKTORANCKICH

WYKŁADY MONOGRAFICZNE DLA STUDENTÓW I SŁUCHACZY STUDIÓW DOKTORANCKICH WYKŁADY MONOGRAFICZNE DLA STUDENTÓW I SŁUCHACZY STUDIÓW DOKTORANCKICH (30 godz. wykł. + 15 godz. semin.) SPEKTROSKOPIA Kryształy Fotoniczne Dr Jarosław W. Kłos Dynamiczne rozpraszanie światła Prof. dr

Bardziej szczegółowo

Fizyka - opis przedmiotu

Fizyka - opis przedmiotu Fizyka - opis przedmiotu Informacje ogólne Nazwa przedmiotu Fizyka Kod przedmiotu 06.1-WM-MiBM-P-09_15gen Wydział Kierunek Wydział Mechaniczny Mechanika i budowa maszyn / Automatyzacja i organizacja procesów

Bardziej szczegółowo

Wieloparametryczna klasyfikacja właściwości użytkowych biopaliw ciekłych optymalizacja głowicy sensora

Wieloparametryczna klasyfikacja właściwości użytkowych biopaliw ciekłych optymalizacja głowicy sensora Wieloparametryczna klasyfikacja właściwości użytkowych biopaliw ciekłych optymalizacja głowicy sensora 1. Michał Borecki, Jan Szmidt, Piotr Doroz, Paweł Pszczółkowski, 2. Mariusz Duk, Andrzej Kociubiński,

Bardziej szczegółowo

SPECYFIKACJA TECHNICZNA ZESTAWU DO ANALIZY TERMOGRAWIMETRYCZNEJ TG-FITR-GCMS ZAŁĄCZNIK NR 1 DO ZAPYTANIA OFERTOWEGO

SPECYFIKACJA TECHNICZNA ZESTAWU DO ANALIZY TERMOGRAWIMETRYCZNEJ TG-FITR-GCMS ZAŁĄCZNIK NR 1 DO ZAPYTANIA OFERTOWEGO SPECYFIKACJA TECHNICZNA ZESTAWU DO ANALIZY TERMOGRAWIMETRYCZNEJ TG-FITR-GCMS ZAŁĄCZNIK NR 1 DO ZAPYTANIA OFERTOWEGO NR 113/TZ/IM/2013 Zestaw ma umożliwiać analizę termiczną próbki w symultanicznym układzie

Bardziej szczegółowo

Elektrochemiczne metody skaningowe i ich zastosowanie w in ynierii korozyjnej

Elektrochemiczne metody skaningowe i ich zastosowanie w in ynierii korozyjnej Elektrochemiczne metody skaningowe i ich zastosowanie w in ynierii korozyjnej 1 2 NR 147 Julian Kubisztal Elektrochemiczne metody skaningowe i ich zastosowanie w in ynierii korozyjnej Wydawnictwo Uniwersytetu

Bardziej szczegółowo

Prezentacja aparatury zakupionej przez IKiFP. Mikroskopy LEEM i PEEM

Prezentacja aparatury zakupionej przez IKiFP. Mikroskopy LEEM i PEEM Prezentacja aparatury zakupionej przez IKiFP Mikroskopy LEEM i PEEM Cechy ogólne mikroskopów do badania powierzchni; czułość Å - nm szeroka gama kontrastów topograficzny strukturalny chemiczny magnetyczny

Bardziej szczegółowo

Wydział Fizyki Technicznej, Instytut Fizyki, ul. Piotrowo 3, Poznań, tel.: RECENZJA PRACY DOKTORSKIEJ mgr. Mateusza Wojtaszka

Wydział Fizyki Technicznej, Instytut Fizyki, ul. Piotrowo 3, Poznań, tel.: RECENZJA PRACY DOKTORSKIEJ mgr. Mateusza Wojtaszka Wydział Fizyki Technicznej, Instytut Fizyki, ul. Piotrowo 3, 60-965 Poznań, tel.: 61 665 3200 Zakład Fizyki Powierzchni i Nanostruktur Kierownik Zakładu prof. dr hab. Ryszard Czajka e-mail: ryszard.czajka@put.poznan.pl

Bardziej szczegółowo

PLAN STUDIÓW STACJONARNYCH studia inżynierskie pierwszego stopnia

PLAN STUDIÓW STACJONARNYCH studia inżynierskie pierwszego stopnia Egzamin po semestrze Kierunek: FIZYKA TECHNICZNA wybór specjalności po semestrze czas trwania: 7 semestrów profil: ogólnoakademicki PLAN STUDIÓW STACJONARNYCH studia inżynierskie pierwszego stopnia 01/015-1

Bardziej szczegółowo

Elektroniczne przyrządy pomiarowe Kod przedmiotu

Elektroniczne przyrządy pomiarowe Kod przedmiotu Elektroniczne przyrządy pomiarowe - opis przedmiotu Informacje ogólne Nazwa przedmiotu Elektroniczne przyrządy pomiarowe Kod przedmiotu 06.5-WE-EP-EPP Wydział Kierunek Wydział Informatyki, Elektrotechniki

Bardziej szczegółowo

NOWOCZESNE TECHNIKI BADAWCZE W INŻYNIERII MATERIAŁOWEJ. Beata Grabowska, pok. 84A, Ip

NOWOCZESNE TECHNIKI BADAWCZE W INŻYNIERII MATERIAŁOWEJ. Beata Grabowska, pok. 84A, Ip NOWOCZESNE TECHNIKI BADAWCZE W INŻYNIERII MATERIAŁOWEJ Beata Grabowska, pok. 84A, Ip http://home.agh.edu.pl/~graboska/ Mikroskopia Słowo mikroskop wywodzi się z języka greckiego: μικρός - mikros "mały

Bardziej szczegółowo

Załącznik 1. Nazwa kierunku studiów: FIZYKA Techniczna Poziom kształcenia: II stopień (magisterski) Profil kształcenia: ogólnoakademicki Symbol

Załącznik 1. Nazwa kierunku studiów: FIZYKA Techniczna Poziom kształcenia: II stopień (magisterski) Profil kształcenia: ogólnoakademicki Symbol Efekty kształcenia dla kierunku studiów FIZYKA TECHNICZNA - studia II stopnia, profil ogólnoakademicki - i ich odniesienia do efektów kształcenia w obszarze nauk ścisłych Objaśnienia oznaczeń w symbolach

Bardziej szczegółowo

BADANIE WYMUSZONEJ AKTYWNOŚCI OPTYCZNEJ. Instrukcja wykonawcza

BADANIE WYMUSZONEJ AKTYWNOŚCI OPTYCZNEJ. Instrukcja wykonawcza ĆWICZENIE 89 BADANIE WYMUSZONEJ AKTYWNOŚCI OPTYCZNEJ Instrukcja wykonawcza 1. Wykaz przyrządów Polarymetr Lampa sodowa Solenoid Źródło napięcia stałego o wydajności prądowej min. 5A Amperomierz prądu stałego

Bardziej szczegółowo

Fotowoltaika i sensory w proekologicznym rozwoju Małopolski

Fotowoltaika i sensory w proekologicznym rozwoju Małopolski Fotowoltaika i sensory w proekologicznym rozwoju Małopolski Photovoltaic and Sensors in Environmental Development of Malopolska Region ZWIĘKSZANIE WYDAJNOŚCI SYSTEMÓW FOTOWOLTAICZNYCH Plan prezentacji

Bardziej szczegółowo

IM21 SPEKTROSKOPIA ODBICIOWA ŚWIATŁA BIAŁEGO

IM21 SPEKTROSKOPIA ODBICIOWA ŚWIATŁA BIAŁEGO IM21 SPEKTROSKOPIA ODBICIOWA ŚWIATŁA BIAŁEGO Cel ćwiczenia: Zapoznanie się z metodą pomiaru grubości cienkich warstw za pomocą interferometrii odbiciowej światła białego, zbadanie zjawiska pęcznienia warstw

Bardziej szczegółowo

I Konferencja. InTechFun

I Konferencja. InTechFun I Konferencja Innowacyjne technologie wielofunkcyjnych materiałów i struktur dla nanoelektroniki, fotoniki, spintroniki i technik sensorowych InTechFun 9 kwietnia 2010 r., Warszawa POIG.01.03.01-00-159/08

Bardziej szczegółowo

LABORATORIUM ANALITYCZNEJ MIKROSKOPII ELEKTRONOWEJ (L - 2)

LABORATORIUM ANALITYCZNEJ MIKROSKOPII ELEKTRONOWEJ (L - 2) LABORATORIUM ANALITYCZNEJ MIKROSKOPII ELEKTRONOWEJ (L - 2) Posiadane uprawnienia: ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO NR AB 120 wydany przez Polskie Centrum Akredytacji Wydanie nr 5 z 18 lipca 2007

Bardziej szczegółowo

BADANIA WARSTW FE NANOSZONYCH Z ELEKTROLITU NA BAZIE ACETONU

BADANIA WARSTW FE NANOSZONYCH Z ELEKTROLITU NA BAZIE ACETONU BADANIA WARSTW FE NANOSZONYCH Z ELEKTROLITU NA BAZIE ACETONU W. OLSZEWSKI 1, K. SZYMAŃSKI 1, D. SATUŁA 1, M. BIERNACKA 1, E. K. TALIK 2 1 Wydział Fizyki, Uniwersytet w Białymstoku, Lipowa 41, 15-424 Białystok,

Bardziej szczegółowo

ANALIZA POWIERZCHNI BADANIA POWIERZCHNI

ANALIZA POWIERZCHNI BADANIA POWIERZCHNI Analiza ciała stałego ANALIZA POWIERZCHNI ANALIZA CAŁEJ OBJTOCI CIAŁO STAŁE ANALIZA POWIERZCHNI METODY NISZCZCE METODY NIENISZCZCE Metody niszczce: - przeprowadzenie do roztworu (rozpuszczanie, roztwarzanie

Bardziej szczegółowo

UMO-2011/01/B/ST7/06234

UMO-2011/01/B/ST7/06234 Załącznik nr 4 do sprawozdania merytorycznego z realizacji projektu badawczego Szybka nieliniowość fotorefrakcyjna w światłowodach półprzewodnikowych do zastosowań w elementach optoelektroniki zintegrowanej

Bardziej szczegółowo

UMO-2011/01/B/ST7/06234

UMO-2011/01/B/ST7/06234 Załącznik nr 7 do sprawozdania merytorycznego z realizacji projektu badawczego Szybka nieliniowość fotorefrakcyjna w światłowodach półprzewodnikowych do zastosowań w elementach optoelektroniki zintegrowanej

Bardziej szczegółowo

Innowacyjne technologie wielofunkcyjnych materiałów i struktur

Innowacyjne technologie wielofunkcyjnych materiałów i struktur Innowacyjne technologie wielofunkcyjnych materiałów i struktur dla nanoelektroniki, fotoniki, spintroniki i technik sensorowych InTechFun 1 Instytut Technologii Elektronowej ZESPÓŁ REALIZUJĄCY PROJEKT

Bardziej szczegółowo

V Konferencja Kwantowe Nanostruktury Półprzewodnikowe do Zastosowań w Biologii i Medycynie PROGRAM

V Konferencja Kwantowe Nanostruktury Półprzewodnikowe do Zastosowań w Biologii i Medycynie PROGRAM V Konferencja Kwantowe Nanostruktury Półprzewodnikowe do Zastosowań w Biologii i Medycynie PROGRAM Kwantowe Nanostruktury Półprzewodnikowe do Zastosowań w Biologii i Medycynie Rozwój i Komercjalizacja

Bardziej szczegółowo

Technika wysokich napięć : podstawy teoretyczne i laboratorium / Barbara Florkowska, Jakub Furgał. Kraków, Spis treści.

Technika wysokich napięć : podstawy teoretyczne i laboratorium / Barbara Florkowska, Jakub Furgał. Kraków, Spis treści. Technika wysokich napięć : podstawy teoretyczne i laboratorium / Barbara Florkowska, Jakub Furgał. Kraków, 2017 Spis treści Wstęp 13 ROZDZIAŁ 1 Laboratorium Wysokich Napięć. Organizacja i zasady bezpiecznej

Bardziej szczegółowo

efekty kształcenia dla kierunku Elektronika studia stacjonarne drugiego stopnia, profil ogólnoakademicki

efekty kształcenia dla kierunku Elektronika studia stacjonarne drugiego stopnia, profil ogólnoakademicki Opis efektów dla kierunku Elektronika Studia stacjonarne drugiego stopnia, profil ogólnoakademicki Objaśnienie oznaczeń: K kierunkowe efekty W kategoria wiedzy U kategoria umiejętności K (po podkreślniku)

Bardziej szczegółowo

HARMONOGRAM SKŁADANIA WNIOSKÓW DO PROCEDUR ZBIORCZYCH W ROKU 2014 NA NASTĘPUJĄCE GRUPY TOWAROWE (stan na dzień r.)

HARMONOGRAM SKŁADANIA WNIOSKÓW DO PROCEDUR ZBIORCZYCH W ROKU 2014 NA NASTĘPUJĄCE GRUPY TOWAROWE (stan na dzień r.) y: HARMONOGRAM SKŁADANIA WNIOSKÓW DO PROCEDUR ZBIORCZYCH W ROKU 2014 NA NASTĘPUJĄCE GRUPY TOWAROWE (stan na dzień 30.04.2014r.) M - mała a o zbilansowanej wartości < niż równowartość kwoty 207.000 EURO

Bardziej szczegółowo

Podstawowe informacje o przedmiocie (niezależne od cyklu)

Podstawowe informacje o przedmiocie (niezależne od cyklu) UNIWERSYTET MARII CURIE-SKŁODOWSKIEJ W LUBLINIE Projekt Zintegrowany UMCS Centrum Kształcenia i Obsługi Studiów, Biuro ds. Kształcenia Ustawicznego telefon: +48 81 537 54 61 Podstawowe informacje o przedmiocie

Bardziej szczegółowo

Próżnia w badaniach materiałów

Próżnia w badaniach materiałów Próżnia w badaniach materiałów Pomiary ciśnień parcjalnych Konstanty Marszałek Kraków 2011 Analiza składu masowego gazów znajduje coraz większe zastosowanie ze względu na liczne zastosowania zarówno w

Bardziej szczegółowo

Pracownia Optyki Nieliniowej

Pracownia Optyki Nieliniowej Skład osobowy: www.if.pw.edu.pl/~nlo Kierownik pracowni: Prof. dr hab. inż. Mirosław Karpierz Kierownik laboratorium Dr inż. Urszula Laudyn Dr inż. Michał Kwaśny Dr inż. Filip Sala Dr inż. Paweł Jung Doktoranci:

Bardziej szczegółowo

Załącznik nr 1. Projekty struktur falowodowych

Załącznik nr 1. Projekty struktur falowodowych Załącznik nr 1 do sprawozdania merytorycznego z realizacji projektu badawczego Szybka nieliniowość fotorefrakcyjna w światłowodach półprzewodnikowych do zastosowań w elementach optoelektroniki zintegrowanej

Bardziej szczegółowo

Nowości w kształceniu studentów PWr na kierunkach Fizyka i Fizyka techniczna

Nowości w kształceniu studentów PWr na kierunkach Fizyka i Fizyka techniczna Nowości w kształceniu studentów PWr na kierunkach Fizyka i Fizyka techniczna Autor: dr hab. inż. Włodzimierz Salejda, prof. nadzw., Współpraca: prof. dr hab. inż. Jan Misiewicz, prof. zw., prof. dr hab.

Bardziej szczegółowo

Uruchomienie nowego programu kształcenia dualnego na studiach II stopnia na kierunku Inżynieria Materiałowa (DUOInMat) POWR

Uruchomienie nowego programu kształcenia dualnego na studiach II stopnia na kierunku Inżynieria Materiałowa (DUOInMat) POWR Z1-PU7 WYDANIE N3 Strona: 1 z 5 (pieczęć jednostki organizacyjnej) KARTA PRZEDMIOTU 1) Nazwa przedmiotu: METODY BADAŃ MATERIAŁÓW I WYROBÓW STOSOWANE W PRAKTYCE PRZEMYSŁOWEJ 3) Karta przedmiotu ważna od

Bardziej szczegółowo

EFEKT FOTOELEKTRYCZNY ZEWNĘTRZNY

EFEKT FOTOELEKTRYCZNY ZEWNĘTRZNY ĆWICZENIE 91 EFEKT FOTOELEKTRYCZNY ZEWNĘTRZNY Instrukcja wykonawcza 1. Wykaz przyrządów 1. Monochromator 5. Zasilacz stabilizowany oświetlacza. Oświetlacz 6. Zasilacz fotokomórki 3. Woltomierz napięcia

Bardziej szczegółowo

Skaningowy Mikroskop Elektronowy. Rembisz Grażyna Drab Bartosz

Skaningowy Mikroskop Elektronowy. Rembisz Grażyna Drab Bartosz Skaningowy Mikroskop Elektronowy Rembisz Grażyna Drab Bartosz PLAN PREZENTACJI: 1. Zarys historyczny 2. Zasada działania SEM 3. Zjawiska fizyczne wykorzystywane w SEM 4. Budowa SEM 5. Przygotowanie próbek

Bardziej szczegółowo

Repeta z wykładu nr 10. Detekcja światła. Kondensator MOS. Plan na dzisiaj. fotopowielacz, część 2 MCP (detektor wielokanałowy) streak camera

Repeta z wykładu nr 10. Detekcja światła. Kondensator MOS. Plan na dzisiaj. fotopowielacz, część 2 MCP (detektor wielokanałowy) streak camera Repeta z wykładu nr 10 Detekcja światła Sebastian Maćkowski Instytut Fizyki Uniwersytet Mikołaja Kopernika Adres poczty elektronicznej: mackowski@fizyka.umk.pl Biuro: 365, telefon: 611-3250 fotopowielacz,

Bardziej szczegółowo

Analiza aktywacyjna składu chemicznego na przykładzie zawartości Mn w stali.

Analiza aktywacyjna składu chemicznego na przykładzie zawartości Mn w stali. Analiza aktywacyjna składu chemicznego na przykładzie zawartości Mn w stali. Projekt ćwiczenia w Laboratorium Fizyki i Techniki Jądrowej na Wydziale Fizyki Politechniki Warszawskiej. dr Julian Srebrny

Bardziej szczegółowo

SYLABUS/KARTA PRZEDMIOTU

SYLABUS/KARTA PRZEDMIOTU PAŃSTWOWA WYŻSZA SZKOŁA ZAWODOWA W GŁOGOWIE SYLABUS/KARTA PRZEDMIOTU 1. NAZWA PRZEDMIOTU Fizyka. NAZWA JEDNOSTKI PROWADZĄCEJ PRZEDMIOT Instytut Politechniczny. STUDIA kierunek stopień tryb język status

Bardziej szczegółowo

Rozwiązania firmy Harrer & Kassen do pomiaru gęstości i wilgotności

Rozwiązania firmy Harrer & Kassen do pomiaru gęstości i wilgotności Rozwiązania firmy Harrer & Kassen do pomiaru gęstości i wilgotności Firma Biosens specjalizuje się w spektroskopii. Od czterech lat dostarcza spektrofotometry do pomiaru barwy (zarówno w laboratorium jak

Bardziej szczegółowo

INŻYNIERIA MATERIAŁOWA

INŻYNIERIA MATERIAŁOWA Wydział Chemiczny Politechniki Gdańskiej.0.004 PLAN STUDIÓW Rodzaj studiów: studia dzienne inżynierskie/ magisterskie - czas trwania: inż. 3, 5 lat/ 7 semestrów; mgr 5 lat/0 semestrów Kierunek studiów:

Bardziej szczegółowo

Masowo-spektrometryczne badania reakcji jonowo-molekularnych w mieszaninach amoniaku i argonu

Masowo-spektrometryczne badania reakcji jonowo-molekularnych w mieszaninach amoniaku i argonu ANNALES UNIVERSITATIS MARIAE CURIE-SKLODOWSKA LUBLIN POLONIA VOL. XLVI/XLVII, 48 SECTIO AAA 1991/1992 Instytut Fizyki UMCS L. WÓJCIK, K. BEDERSKI Masowo-spektrometryczne badania reakcji jonowo-molekularnych

Bardziej szczegółowo

Gdańsk, 16 grudnia 2010

Gdańsk, 16 grudnia 2010 POLITECHNIKA GDAŃSKA Centrum Zawansowanych Technologii Pomorze ul. Al. Zwycięstwa 27 80-233 Gdańsk prof. dr hab. inż. Andrzej Zieliński tel. 58 348 63 57 fax. 58 347 14 15 Przewodniczący Rady Koordynator

Bardziej szczegółowo

Uniwersytet Warszawski Wydział Fizyki. Badanie efektu Faraday a w kryształach CdTe i CdMnTe

Uniwersytet Warszawski Wydział Fizyki. Badanie efektu Faraday a w kryształach CdTe i CdMnTe Uniwersytet Warszawski Wydział Fizyki Marcin Polkowski 251328 Badanie efektu Faraday a w kryształach CdTe i CdMnTe Pracownia Fizyczna dla Zaawansowanych ćwiczenie F8 w zakresie Fizyki Ciała Stałego Streszczenie

Bardziej szczegółowo

Modelowanie zjawisk elektryczno-cieplnych w ultrafioletowej diodzie elektroluminescencyjnej

Modelowanie zjawisk elektryczno-cieplnych w ultrafioletowej diodzie elektroluminescencyjnej Modelowanie zjawisk elektryczno-cieplnych w ultrafioletowej diodzie elektroluminescencyjnej Robert P. Sarzała 1, Michał Wasiak 1, Maciej Kuc 1, Adam K. Sokół 1, Renata Kruszka 2, Krystyna Gołaszewska 2

Bardziej szczegółowo

Temat jest proponowany dla studenta (imię i nazwisko): Opinia Komisji TAK / NIE. Lp Temat pracy dyplomowej Opis Opiekun

Temat jest proponowany dla studenta (imię i nazwisko): Opinia Komisji TAK / NIE. Lp Temat pracy dyplomowej Opis Opiekun Propozycje tematów prac dyplomowych na rok akademicki 204/205 do zatwierdzenia na Radzie Wydziału 05.03.205 Fizyka Techniczna - Optyka Okularowa - I stopień inż. Zbadanie charakterystyk czasowo-spektralnych

Bardziej szczegółowo

Właściwości optyczne. Oddziaływanie światła z materiałem. Widmo światła widzialnego MATERIAŁ

Właściwości optyczne. Oddziaływanie światła z materiałem. Widmo światła widzialnego MATERIAŁ Właściwości optyczne Oddziaływanie światła z materiałem hν MATERIAŁ Transmisja Odbicie Adsorpcja Załamanie Efekt fotoelektryczny Tradycyjnie właściwości optyczne wiążą się z zachowaniem się materiałów

Bardziej szczegółowo

Wykład XIV: Właściwości optyczne. JERZY LIS Wydział Inżynierii Materiałowej i Ceramiki Katedra Technologii Ceramiki i Materiałów Ogniotrwałych

Wykład XIV: Właściwości optyczne. JERZY LIS Wydział Inżynierii Materiałowej i Ceramiki Katedra Technologii Ceramiki i Materiałów Ogniotrwałych Wykład XIV: Właściwości optyczne JERZY LIS Wydział Inżynierii Materiałowej i Ceramiki Katedra Technologii Ceramiki i Materiałów Ogniotrwałych Treść wykładu: Treść wykładu: 1. Wiadomości wstępne: a) Załamanie

Bardziej szczegółowo

Wydział Matematyki, Fizyki i Informatyki UMCS. Instytut Matematyki UMCS

Wydział Matematyki, Fizyki i Informatyki UMCS. Instytut Matematyki UMCS Wydział Matematyki, Fizyki i Informatyki UMCS Dziekan Wydziału B 3 Prodziekan Wydziału B 2 Dziekanat B 7a (Kierownik Dziekanatu), B 6, B 6a, B 7 Sala konferencyjna i posiedzeń Rady Wydziału D 217 Biblioteka

Bardziej szczegółowo

DZIEŃ POWSZEDNI PRACOWNIKÓW WYKONUJĄCYCH TESTY SPECJALISTYCZNE APARATÓW RENTGENOWSKICH

DZIEŃ POWSZEDNI PRACOWNIKÓW WYKONUJĄCYCH TESTY SPECJALISTYCZNE APARATÓW RENTGENOWSKICH Anna Cepiga, Katarzyna Szymańska, Izabela Milcewicz- Mika, Maciej Schramm, Maciej Budzanowski Laboratorium Dozymetrii Indywidualnej i Środowiskowej, Instytut Fizyki Jądrowej PAN DZIEŃ POWSZEDNI PRACOWNIKÓW

Bardziej szczegółowo

Toruń, dr hab. Jacek Zakrzewski Instytut Fizyki Uniwersytet Mikołaja Kopernika ul. Grudziądzka 5/ Toruń

Toruń, dr hab. Jacek Zakrzewski Instytut Fizyki Uniwersytet Mikołaja Kopernika ul. Grudziądzka 5/ Toruń dr hab. Jacek Zakrzewski Instytut Fizyki Uniwersytet Mikołaja Kopernika ul. Grudziądzka 5/7 87-100 Toruń Toruń, 20.04.2015 Recenzja pracy doktorskiej pani magister inżynier Justyny Juszczyk pt.: Opracowanie

Bardziej szczegółowo

Rekapitulacja. Detekcja światła. Rekapitulacja. Rekapitulacja

Rekapitulacja. Detekcja światła. Rekapitulacja. Rekapitulacja Rekapitulacja Detekcja światła Sebastian Maćkowski Instytut Fizyki Uniwersytet Mikołaja Kopernika Adres poczty elektronicznej: mackowski@fizyka.umk.pl Biuro: 365, telefon: 611-3250 Konsultacje: czwartek

Bardziej szczegółowo

Co to jest kropka kwantowa? Kropki kwantowe - część I otrzymywanie. Co to jest ekscyton? Co to jest ekscyton? e πε. E = n. Sebastian Maćkowski

Co to jest kropka kwantowa? Kropki kwantowe - część I otrzymywanie. Co to jest ekscyton? Co to jest ekscyton? e πε. E = n. Sebastian Maćkowski Co to jest kropka kwantowa? Kropki kwantowe - część I otrzymywanie Sebastian Maćkowski Instytut Fizyki Uniwersytet Mikołaja Kopernika Co to jest ekscyton? Co to jest ekscyton? h 2 2 2 e πε m* 4 0ε s Φ

Bardziej szczegółowo

Podstawy fizyki IV - Optyka, Fizyka wspólczesna - opis przedmiotu

Podstawy fizyki IV - Optyka, Fizyka wspólczesna - opis przedmiotu Podstawy fizyki IV - Optyka, Fizyka wspólczesna - opis przedmiotu Informacje ogólne Nazwa przedmiotu Podstawy fizyki IV - Optyka, Fizyka wspólczesna Kod przedmiotu 13.2-WF-FizP-PF4OF-Ć-S14_genGZGG4 Wydział

Bardziej szczegółowo

forma studiów: studia stacjonarne Liczba godzin/tydzień: 1W, 1S, 1ĆW PRZEWODNIK PO PRZEDMIOCIE

forma studiów: studia stacjonarne Liczba godzin/tydzień: 1W, 1S, 1ĆW PRZEWODNIK PO PRZEDMIOCIE Nazwa przedmiotu Kierunek: Inżynieria materiałowa Rodzaj przedmiotu: Kierunkowy obowiązkowy Rodzaj zajęć: Wyk. Sem. Ćw. METODY BADANIA MATERIAŁÓW Methods of Materials Investigation Kod przedmiotu: IM.PK.C3.58

Bardziej szczegółowo

LABORATORIUM WSPÓŁCZESNYCH TECHNIK EKSPERYMENTALNYCH w FIZYCE

LABORATORIUM WSPÓŁCZESNYCH TECHNIK EKSPERYMENTALNYCH w FIZYCE LABORATORIUM WSPÓŁCZESNYCH TECHNIK EKSPERYMENTALNYCH w FIZYCE LABORATORIUM WSPÓŁCZESNYCH TECHNIK EKSPERYMENTALNYCH w FIZY- CE stanowi istotny element edukacji przyszłego inżyniera fizyki technicznej. Metody

Bardziej szczegółowo

I. Wstęp teoretyczny. Ćwiczenie: Mikroskopia sił atomowych (AFM) Prowadzący: Michał Sarna (sarna@novel.ftj.agh.edu.pl) 1.

I. Wstęp teoretyczny. Ćwiczenie: Mikroskopia sił atomowych (AFM) Prowadzący: Michał Sarna (sarna@novel.ftj.agh.edu.pl) 1. Ćwiczenie: Mikroskopia sił atomowych (AFM) Prowadzący: Michał Sarna (sarna@novel.ftj.agh.edu.pl) I. Wstęp teoretyczny 1. Wprowadzenie Mikroskop sił atomowych AFM (ang. Atomic Force Microscope) jest jednym

Bardziej szczegółowo

MIĘDZYUCZELNIANE CENTRUM. Projekt realizowany przez Uniwersytet im. Adama Mickiewicza w Poznaniu

MIĘDZYUCZELNIANE CENTRUM. Projekt realizowany przez Uniwersytet im. Adama Mickiewicza w Poznaniu MIĘDZYUCZELNIANE CENTRUM NANOBIOMEDYCZNE Projekt realizowany przez Uniwersytet im. Adama Mickiewicza w Poznaniu Międzyuczelniane Centrum NanoBioMedyczne to projekt kluczowy w ramach Działania 13.1 Infrastruktura

Bardziej szczegółowo

Własności optyczne półprzewodników

Własności optyczne półprzewodników Własności optyczne półprzewodników Andrzej Wysmołek Wykład przygotowany w oparciu o wykłady prowadzone na Wydziale Fizyki UW przez prof. Mariana Grynberga oraz prof. Romana Stępniewskiego Klasyfikacja

Bardziej szczegółowo

Opis przedmiotu zamówienia

Opis przedmiotu zamówienia ZP/UR/169/2012 Zał. nr 1a do siwz Opis przedmiotu zamówienia A. Spektrometr ramanowski z mikroskopem optycznym: 1) Spektrometr ramanowski posiadający podwójny tor detekcyjny, wyposażony w chłodzony termoelektrycznie

Bardziej szczegółowo

Wysokowydajne falowodowe źródło skorelowanych par fotonów

Wysokowydajne falowodowe źródło skorelowanych par fotonów Wysokowydajne falowodowe źródło skorelowanych par fotonów Michał Karpioski * Konrad Banaszek, Czesław Radzewicz * * Instytut Fizyki Doświadczalnej, Instytut Fizyki Teoretycznej Wydział Fizyki Uniwersytet

Bardziej szczegółowo

Promieniowanie cieplne ciał.

Promieniowanie cieplne ciał. Wypromieniowanie fal elektromagnetycznych przez ciała Promieniowanie cieplne (termiczne) Luminescencja Chemiluminescencja Elektroluminescencja Katodoluminescencja Fotoluminescencja Emitowanie fal elektromagnetycznych

Bardziej szczegółowo

ZAPLECZE LABORATORYJNO-TECHNICZNE Wydział Nauk o Ziemi i Gospodarki Przestrzennej UMCS

ZAPLECZE LABORATORYJNO-TECHNICZNE Wydział Nauk o Ziemi i Gospodarki Przestrzennej UMCS Laboratorium TL i OSL (od V 2012) Pracownia Palinologiczna Pracownia Mikromorfologiczna Pracownia Mikropaleontologiczna Pracownia Monitoringu Meteorologicznego Pracownia Hydrochemii i Hydrometrii Pracownia

Bardziej szczegółowo

Spektrometr XRF THICK 800A

Spektrometr XRF THICK 800A Spektrometr XRF THICK 800A DO POMIARU GRUBOŚCI POWŁOK GALWANIZNYCH THICK 800A spektrometr XRF do szybkich, nieniszczących pomiarów grubości powłok i ich składu. Zaprojektowany do pomiaru grubości warstw

Bardziej szczegółowo

Nabór na bezpłatne usługi badawcze - projekt Baltic TRAM

Nabór na bezpłatne usługi badawcze - projekt Baltic TRAM Nabór na bezpłatne usługi badawcze - projekt Baltic TRAM Piotr Piwowarczyk, Jakub Chajdecki Fundacja Inicjatyw Innowacyjnych Centrum Badań dla Przemysłu Polska Dzień otwarty Klastra LifeScience Kraków,

Bardziej szczegółowo

Instytut Technologii Informatycznych w Inżynierii Lądowej (L-5) powstał w roku 2006 z połączenia Instytutu Metod Komputerowych w Inżynierii Lądowej

Instytut Technologii Informatycznych w Inżynierii Lądowej (L-5) powstał w roku 2006 z połączenia Instytutu Metod Komputerowych w Inżynierii Lądowej Instytut Technologii Informatycznych w Inżynierii Lądowej (L-5) powstał w roku 2006 z połączenia Instytutu Metod Komputerowych w Inżynierii Lądowej (Z. Waszczyszyn, B. Olszowski, Cz. Cichoń, M. Radwańska,

Bardziej szczegółowo

Metrologia wymiarowa dużych odległości oraz dla potrzeb mikro- i nanotechnologii

Metrologia wymiarowa dużych odległości oraz dla potrzeb mikro- i nanotechnologii Metrologia wymiarowa dużych odległości oraz dla potrzeb mikro- i nanotechnologii Grażyna Rudnicka Mariusz Wiśniewski, Dariusz Czułek, Robert Szumski, Piotr Sosinowski Główny Urząd Miar Mapy drogowe EURAMET

Bardziej szczegółowo

THICK 800A DO POMIARU GRUBOŚCI POWŁOK. THICK 800A spektrometr XRF do szybkich, nieniszczących pomiarów grubości powłok i ich składu.

THICK 800A DO POMIARU GRUBOŚCI POWŁOK. THICK 800A spektrometr XRF do szybkich, nieniszczących pomiarów grubości powłok i ich składu. THICK 800A DO POMIARU GRUBOŚCI POWŁOK THICK 800A spektrometr XRF do szybkich, nieniszczących pomiarów grubości powłok i ich składu. Zoptymalizowany do pomiaru grubości warstw Detektor Si-PIN o rozdzielczości

Bardziej szczegółowo

Załącznik 1. Nazwa kierunku studiów: FIZYKA Poziom kształcenia: II stopień (magisterski) Profil kształcenia: ogólnoakademicki Symbol

Załącznik 1. Nazwa kierunku studiów: FIZYKA Poziom kształcenia: II stopień (magisterski) Profil kształcenia: ogólnoakademicki Symbol Efekty kształcenia dla kierunku studiów FIZYKA TECHNICZNA - studia II stopnia, profil ogólnoakademicki - i ich odniesienia do efektów kształcenia w obszarze nauk ścisłych Kierunek studiów fizyka techniczna

Bardziej szczegółowo