Innowacyjne technologie wielofunkcyjnych materiałów i struktur dla nanoelektroniki, fotoniki, spintroniki i technik sensorowych.

Wielkość: px
Rozpocząć pokaz od strony:

Download "Innowacyjne technologie wielofunkcyjnych materiałów i struktur dla nanoelektroniki, fotoniki, spintroniki i technik sensorowych."

Transkrypt

1 Innowacyjne technologie wielofunkcyjnych materiałów i struktur dla nanoelektroniki, fotoniki, spintroniki i technik sensorowych InTechFun Numer Projektu WND-POIG /08-00 Instytut Technologii Elektronowej

2 PLAN SPOTKANIA Motywacja Cel, zakres prac B+R, planowane wyniki projektu Sprawozdanie z prac PZ0 i PZ6 Prezentacja zespołów realizujących projekt (rola w Projekcie, doświadczenie w dziedzinie Projektu, infrastruktura) Spotkanie Rady Projektu Spotkanie Komitetu Wykonawczego Projektu

3 PRACE B+R (1) Cel opracowanie innowacyjnych rozwiązań technologicznych w dziedzinie przyrządów półprzewodnikowych wytwarzanych w oparciu o półprzewodniki szerokoprzerwowe; moduły technologiczne, integracja w pełny cykl wytwarzania struktur przyrządowych, modelowe przyrządy elektroniczne, optoelektroniczne i sensory. Wyniki stworzenie nowej infrastruktury B+R, podstaw dla rozwoju infrastruktury produkcyjnej w niewielkiej skali, zainicjowanie wytwarzania i wprowadzenie polskich produktów na światowy rynek technologii społeczeństwa informacyjnego.

4 PRACE B+R (2) Technologia materiałów i struktur domieszkowanie ZnO na typ p i wytwarzanie złącz p-n; wzrost epitaksjalny struktur GaN/AlGaN na podłożach Si; wytwarzanie kryształów fotonicznych z GaN i ZnO; wytwarzanie złącz metal/półprzewodnik o zadanych, specyficznych własnościach elektrycznych i optycznych (kontakty omowe, bariery Schottky ego, przezroczyste kontakty) odpornych na działanie wysokich temperatur; wytwarzanie złącz półprzewodnik/dielektryk o zadanych specyficznych własnościach elektrycznych (dielektryk podbramkowy, pasywacja powierzchni). Modelowanie materiałów i struktur nowe konstrukcje Integracja modułów technologicznych, przyrządy demonstracyjne Tranzystory HEMT z AlGaN/GaN na podłożu Si; Tranzystory MOSFET z SiC; Diody elektroluminescencyjne 385 nm z ZnO; Diody elektroluminescencyjne UV z AlGaN/GaN z wbudowanym kryształem fotonicznym. Optoelektroniczne sensory gazow na bazie ZnO.

5 REALIZACJA PRAC PZ0 I PZ6 Portal internetowy Plan jakości projektu Promocja projektu (wykonanie tablicy informacyjnej wewnętrznej, oznakowanie dokumentów i laboratorium) III spotkanie realizatorów projektu

6 Innowacyjne technologie wielofunkcyjnych materiałów i struktur dla nanoelektroniki, fotoniki, spintroniki i technik sensorowych InTechFun Numer Projektu WND-POIG /08-00 Z3 - ITE Instytut Technologii Elektronowej

7 ZESPÓŁ REALIZUJĄCY PROJEKT prof. dr hab. inż. Anna Piotrowska elektronik ciała stałego dr inż. Eliana Kamińska: elektronik ciała stałego dr hab. Adam Barcz: fizyk dr inż. Marek Guziewicz: fizyk dr inż. Tadeusz T. Piotrowski: elektronik ciała stałego mgr Michał Borysiewicz: fizyk mgr Krystyna Gołaszewska: fizyk mgr inż. Marek Ekielski: chemik mgr inż. Katarzyna Korwin-Mikke: chemik mgr inż. Renata Kruszka: chemik mgr inż. Zuzanna Sidor: fizyk Iwona Pasternak: fizyk, student UKSW dr Adrian Kuchuk: fizyk dr Zbigniew Adamus: fizyk Piotr Kaźmierczak: student fizyki UW Andrzej Taube: student elektroniki PW Anna Ostafin: Zbigniew Szopniewski: Andrzej Trojan: mgr Patrycja Mihalovits: mgr Tomasz Pasternak: chemik technolog chemik zarządzanie i administracja zarządzanie i finanse

8 ZADANIA B+R 1. Lista zadań współrealizowanych przez zespół PZ1 NOWE MATERIAŁY, lider E. Kamińska, ITE; Z1.1 Przezroczyste tlenki półprzewodnikowe, lider ITE; Z1.2 Azotki grupy III na podłożach Si, lider IF PAN Z1.3 Charakteryzacja materiałów, lider PŚl; Współdziałanie z zadaniami PZ2 i PZ3 PZ2 NOWE MODUŁY TECHNOLOGICZNE, lider A. Piotrowska, ITE; Z2.1 Technologia wytwarzania cienkich warstw dielektrycznych i metalicznych techniką PVD-MS, lider ITE; Z2.2 Technologia wytwarzania struktur AlGaN/GaN na podłożach Si metodą MBE, lider IF PAN; Z2.3 Metalizacje z DMS i DMOs, lider IF PAN: Z2.4 Technologia wytwarzania cienkich warstw dielektrycznych techniką ALD, lider ITE Z2.5 Technologia kształtowania wzorów w skali submikrometrowej technikami głębokiego nadfioletu (DUV-OL) i trawienia suchego plazmą o dużej gęstości (ICP), lider ITE; Z2.6 Technologia kształtowania wzorów w skali submikrometrowej technikami NIL, lider ITE Z2.7 Charakteryzacja struktur, lider PŚl; Współdziałanie z zadaniami PZ1, PZ3 i PZ4 PZ3 MODELOWANIE MATERIAŁÓW I STRUKTUR, lider PŁ; PZ4 DEMONSTRATORY I WERYFIKACJA, lider PW-IRE; PZ5 APLIKACJE, lider WAT;

9 ZADANIA B+R 2. Dotychczasowe doświadczenie w dziedzinie projektu PROJEKTY UNII EUROPEJSKIEJ AGETHA AMORE CELDIS CEPHONA DENIS NANOPHOS HYPHEN MORGaN Amber/Green Emitters Targeting High Temperature Applications (Źródła promieniowania bursztynowego/zielonego spełniające wymagania zastosowań wysokotemperaturowych) - IST Advanced Matgnetic Oxides for Responsive Engineering (Tlenki magnetyczne nowej generacji dla inżynierii materiałowej) - G5RD-CT Centre of Physics and Technology of Low-Dimensional Structures (Fizyka i wykonanie struktur niskowymiarowych dla technologii przyszłych pokoleń) - ICA1-CT Physics and Technology of Photonic Nanostructures (Fizyka i technologia nanostruktur fotonicznych (Centrum doskonałości)) - G5MA-CT Development of Low Disclocation Density GaN Substrates (Wytwarzanie i optymalizacja kontaktu omowego typu p do GaN) - G5RD-CT Nanostructured Photonic Sensors (Czujniki fotonowe wykorzystujące nanostruktury) - IST Hybrid Substrates for Competitive High Frequency Electronics (Hybrydowe podłoża dla konkurencyjnej elektroniki wysokiej częstotliwości) Materials for Robust Gallium Nitride (Nowe materiały dla przyrządów elektronicznych i sensorów z azotku galu przeznaczonych do pracy w skrajnie trudnych warunkach) - NMP3-LA

10 PROJEKTY KRAJOWE Tworzenie stabilnych termicznie kontaktów omowych do przyrządów półprzewodnikowych dużej mocy/wysokiej temperatury - 7 T11B Tranzystory polowe AlGaN/GaN nowej generacji dla elektroniki dużej mocy i wysokiej częstotliwości - 3 T11B Charakteryzacja materiałów i struktur na bazie SiC - SIMS, DLTS, I(C)-V /B/T02/2008/34 Inżynieria międzypowierzchni SiC/metal i SiC/izolator: procesy wytwarzania, charakteryzacja i zastosowanie w technologii tranzystora MOSFET - 3 T11B Opracowanie technologii nanostruktur fotonicznych wraz z układami sprzęgającymi optyki zintegrowanej dla zastosowań w technice sensorowej - N /1887 Opracowanie technologii wytwarzania warstw z półprzewodnikowych tlenków metali dla dozymetrii promieniowania gamma i beta w medycynie /B/T02/2008/35

11 PATENTY W DZIEDZINIE PROJEKTU 1. E. Kamińska, A. Piotrowska, Sposób wytwarzania kontaktów omowych, patent PL B1 2. E. Kamińska, A. Piotrowska, Sposób wytwarzania przezroczystej warstwy przewodzącej typu p w przyrządach półprzewodnikowych, patent P E. Kamińska, A. Piotrowska, Sposób pasywacji powierzchni tranzystorów polowych, zgłoszenie do UP RP P383756, 4. E. Kamińska, A. Piotrowska, J. Kossut, Sposób wytwarzania półprzewodnikowej warstwy tlenku cynku, zgłoszenie do UP RP P E. Kamińska, A. Piotrowska, I. Pasternak, Sposób otrzymywania półprzewodnikowych warstw tlenku cynku typu p, zgłoszenie do UP RP Nr: P

12 INFRASTRUKTURA obróbka chemiczna obróbka termiczna litografia wytwarzanie cienkich warstw kontrola in-situ kontrola ex-situ

13 WYTWARZANIE CIENKICH WARSTW Balzers UTS 350 UHV, działo elektronowe, grzanie oporowe Leybold L-560 (RF) działo elektronowe, 2 magnetrony, BIAS Leybold Z-400 (DC/RF) 3 magnetrony Leybold Z-550 (DC), 2 magnetrony Reaktor do osadzania warstw atomowych ALD Gamma 1000CTM (DC/RF/pDC) UHV 4 magnetrony, BIAS

14 LITOGRAFIA Urządzenie do centrowania i naświetlania Karl Süss MJB 3 UV250/300/400 Urządzenie do dwustronnego centrowania i naświetlania Karl Süss MJB 21 UV400 Urządzenie do nakładania i wygrzewania emulsji światłoczułej Hotplate/Spinner Brewer 100 CB Urządzenie do nanostemplowania Laserowa litografia

15 KONTROLA in-situ Balzers UTS 350: Spektrometr masowy Kwarcowy miernik grubości Gamma 1000CTM Elipsometr spektralny Sonda Langmuira Spektrometr masowy Leybold L-560 Spektrometr masowy Kwarcowy miernik grubości

16 KONTROLA ex-situ Profilometr TENCOR -step 200 Urządzenie do pomiaru naprężeń cienkich warstw TENCOR FLX 2320 Układ do kontroli optycznej z mikroskopem OLYMPUS BX 51 i kamerą cyfrową DP 11 Urządzenie do badania parametrów sprężystości metodą spektroskopii rezonansu ultradźwiękowego Elipsometr spektralny System mikroskopu ze skanującą sondą Innova

17 OBRÓBKA CHEMICZNA Trawienie mokre Trawienie suche RIE-ICP Plazma: BCl 3, Cl 2, CF 4, CH 3, Ar, H 2, O 2 Plasma Lab System 100 Oxford Oczyszczalnik ozonowy; PSD-UV3 Trawienie suche, plazma O 2 Plasma Preen II 862 Spacemaker II Sensor

18 OBRÓBKA TERMICZNA wygrzewanie impulsowe (RTA) w atmosferze O 2, H 2, Ar, N 2 i N 2 O; T C konwencjonalne wygrzewanie w atmosferze Ar, H 2, O 2 lub N 2 T C Piec do wygrzewania impulsowego Mattson 100 Piec do wygrzewania impulsowego AST SHS 100 Piec oporowy

InTechFun. Innowacyjne technologie wielofunkcyjnych materiałów i struktur. II Spotkanie Realizatorów Projektu Warszawa maja 2009 r.

InTechFun. Innowacyjne technologie wielofunkcyjnych materiałów i struktur. II Spotkanie Realizatorów Projektu Warszawa maja 2009 r. Innowacyjne technologie wielofunkcyjnych materiałów i struktur dla nanoelektroniki, fotoniki, spintroniki i technik sensorowych InTechFun Politechnika Śląska (PŚl-2) ZESPÓŁ REALIZUJĄCY PROJEKT NAZWA: Politechnika

Bardziej szczegółowo

Zadanie 23 Opracowanie metalizacji struktur pólprzewodnikowych na bazie GaN i ZnO przeznaczonych do wymagających warunków eksploatacyjnych.

Zadanie 23 Opracowanie metalizacji struktur pólprzewodnikowych na bazie GaN i ZnO przeznaczonych do wymagających warunków eksploatacyjnych. do Zastosowań w Biologii i Medycynie Zadanie 23 Opracowanie metalizacji struktur pólprzewodnikowych na bazie GaN i ZnO przeznaczonych do wymagających warunków eksploatacyjnych. Zadanie 24 Opracowanie technologii

Bardziej szczegółowo

Diody elektroluminescencyjne na bazie GaN z powierzchniowymi kryształami fotonicznymi

Diody elektroluminescencyjne na bazie GaN z powierzchniowymi kryształami fotonicznymi Diody elektroluminescencyjne na bazie z powierzchniowymi kryształami fotonicznymi Krystyna Gołaszewska Renata Kruszka Marcin Myśliwiec Marek Ekielski Wojciech Jung Tadeusz Piotrowski Marcin Juchniewicz

Bardziej szczegółowo

V Konferencja Kwantowe Nanostruktury Półprzewodnikowe do Zastosowań w Biologii i Medycynie PROGRAM

V Konferencja Kwantowe Nanostruktury Półprzewodnikowe do Zastosowań w Biologii i Medycynie PROGRAM V Konferencja Kwantowe Nanostruktury Półprzewodnikowe do Zastosowań w Biologii i Medycynie PROGRAM Kwantowe Nanostruktury Półprzewodnikowe do Zastosowań w Biologii i Medycynie Rozwój i Komercjalizacja

Bardziej szczegółowo

I Konferencja. InTechFun

I Konferencja. InTechFun I Konferencja Innowacyjne technologie wielofunkcyjnych materiałów i struktur dla nanoelektroniki, fotoniki, spintroniki i technik sensorowych InTechFun 9 kwietnia 2010 r., Warszawa POIG.01.03.01-00-159/08

Bardziej szczegółowo

InTechFun. Innowacyjne technologie wielofunkcyjnych materiałów i struktur dla nanoelektroniki, fotoniki, spintroniki i technik sensorowych

InTechFun. Innowacyjne technologie wielofunkcyjnych materiałów i struktur dla nanoelektroniki, fotoniki, spintroniki i technik sensorowych Innowacyjne technologie wielofunkcyjnych materiałów i struktur dla nanoelektroniki, fotoniki, spintroniki i technik sensorowych InTechFun Instytut Fizyki Polskiej Akademii Nauk Zbigniew R. Żytkiewicz IF

Bardziej szczegółowo

Z.R. Żytkiewicz IF PAN I Konferencja. InTechFun

Z.R. Żytkiewicz IF PAN I Konferencja. InTechFun Z.R. Żytkiewicz IF PAN I Konferencja Innowacyjne technologie wielofunkcyjnych materiałów i struktur dla nanoelektroniki, fotoniki, spintroniki i technik sensorowych InTechFun 9 kwietnia 2010 r., Warszawa

Bardziej szczegółowo

Badania wybranych nanostruktur SnO 2 w aspekcie zastosowań sensorowych

Badania wybranych nanostruktur SnO 2 w aspekcie zastosowań sensorowych Badania wybranych nanostruktur SnO 2 w aspekcie zastosowań sensorowych Monika KWOKA, Jacek SZUBER Instytut Elektroniki Politechnika Śląska Gliwice PLAN PREZENTACJI 1. Podsumowanie dotychczasowych prac:

Bardziej szczegółowo

II PANEL EKSPERTÓW PROGRAM. Nowoczesne materiały i innowacyjne metody dla przetwarzania i monitorowania energii (MIME) 19 stycznia 2012 r.

II PANEL EKSPERTÓW PROGRAM. Nowoczesne materiały i innowacyjne metody dla przetwarzania i monitorowania energii (MIME) 19 stycznia 2012 r. II PANEL EKSPERTÓW PROGRAM Nowoczesne materiały i innowacyjne metody dla przetwarzania i monitorowania energii (MIME) 19 stycznia 2012 r. Centrum Konferencyjne Mrówka Warszawa - Powsin Projekt współfinansowany

Bardziej szczegółowo

promotor prof. dr hab. inż. Jan Szmidt z Politechniki Warszawskiej

promotor prof. dr hab. inż. Jan Szmidt z Politechniki Warszawskiej Politechnika Warszawska Wydział Elektroniki i Technik Informacyjnych Warszawa, 13 marca 2018 r. D z i e k a n a t Uprzejmie informuję, że na Wydziale Elektroniki i Technik Informacyjnych Politechniki Warszawskiej

Bardziej szczegółowo

I Konferencja. InTechFun

I Konferencja. InTechFun I Konferencja Innowacyjne technologie wielofunkcyjnych materiałów i struktur dla nanoelektroniki, fotoniki, spintroniki i technik sensorowych InTechFun 9 kwietnia 2010 r., Warszawa POIG.01.03.01-00-159/08

Bardziej szczegółowo

I Konferencja. InTechFun

I Konferencja. InTechFun I Konferencja Innowacyjne technologie wielofunkcyjnych materiałów i struktur dla nanoelektroniki, fotoniki, spintroniki i technik sensorowych InTechFun 9 kwietnia 2010 r., Warszawa POIG.01.03.01-00-159/08

Bardziej szczegółowo

PANEL EKSPERTÓW PROGRAM. Nowoczesne materiały i innowacyjne metody dla przetwarzania i monitorowania energii (MIME) 19 stycznia 2011 r.

PANEL EKSPERTÓW PROGRAM. Nowoczesne materiały i innowacyjne metody dla przetwarzania i monitorowania energii (MIME) 19 stycznia 2011 r. PANEL EKSPERTÓW PROGRAM Nowoczesne materiały i innowacyjne metody dla przetwarzania i monitorowania energii (MIME) 19 stycznia 2011 r. Dom Pracy Twórczej im. B. Prusa Obory k. Warszawy Projekt współfinansowany

Bardziej szczegółowo

InTechFun. Innowacyjne technologie wielofunkcyjnych materiałów i struktur dla nanoelektroniki, fotoniki, spintroniki i technik sensorowych

InTechFun. Innowacyjne technologie wielofunkcyjnych materiałów i struktur dla nanoelektroniki, fotoniki, spintroniki i technik sensorowych Innowacyjne technologie wielofunkcyjnych materiałów i struktur dla nanoelektroniki, fotoniki, spintroniki i technik sensorowych InTechFun Politechnika Śląska Politechnika Śląska w Projekcie InTechFun:

Bardziej szczegółowo

I Konferencja. InTechFun

I Konferencja. InTechFun I Konferencja Innowacyjne technologie wielofunkcyjnych materiałów i struktur dla nanoelektroniki, fotoniki, spintroniki i technik sensorowych InTechFun 9 kwietnia 2010 r., Warszawa POIG.01.03.01-00-159/08

Bardziej szczegółowo

Centrum Zaawansowanych Materiałów i Technologii CEZAMAT

Centrum Zaawansowanych Materiałów i Technologii CEZAMAT Centrum Zaawansowanych Materiałów i Technologii CEZAMAT Beneficjentem jest Politechnika Warszawska w imieniu Konsorcjum, którego członkami są: PW, UW, WAT, IChF PAN, IF PAN, IPPT PAN, IWC PAN, ITME Biuro

Bardziej szczegółowo

Modelowanie zjawisk elektryczno-cieplnych w ultrafioletowej diodzie elektroluminescencyjnej

Modelowanie zjawisk elektryczno-cieplnych w ultrafioletowej diodzie elektroluminescencyjnej Modelowanie zjawisk elektryczno-cieplnych w ultrafioletowej diodzie elektroluminescencyjnej Robert P. Sarzała 1, Michał Wasiak 1, Maciej Kuc 1, Adam K. Sokół 1, Renata Kruszka 2, Krystyna Gołaszewska 2

Bardziej szczegółowo

Fizyka i inżynieria materiałów Prowadzący: Ryszard Pawlak, Ewa Korzeniewska, Jacek Rymaszewski, Marcin Lebioda, Mariusz Tomczyk, Maria Walczak

Fizyka i inżynieria materiałów Prowadzący: Ryszard Pawlak, Ewa Korzeniewska, Jacek Rymaszewski, Marcin Lebioda, Mariusz Tomczyk, Maria Walczak Fizyka i inżynieria materiałów Prowadzący: Ryszard Pawlak, Ewa Korzeniewska, Jacek Rymaszewski, Marcin Lebioda, Mariusz Tomczyk, Maria Walczak Instytut Systemów Inżynierii Elektrycznej Politechnika Łódzka

Bardziej szczegółowo

III PANEL EKSPERTÓW PROGRAM. Nowoczesne materiały i innowacyjne metody dla przetwarzania i monitorowania energii (MIME) 10 stycznia 2013 r.

III PANEL EKSPERTÓW PROGRAM. Nowoczesne materiały i innowacyjne metody dla przetwarzania i monitorowania energii (MIME) 10 stycznia 2013 r. III PANEL EKSPERTÓW PROGRAM Nowoczesne materiały i innowacyjne metody dla przetwarzania i monitorowania energii (MIME) 10 stycznia 2013 r. Centrum Konferencyjne Mrówka Warszawa - Powsin Projekt współfinansowany

Bardziej szczegółowo

Politechnika Wrocławska Wydział Podstawowych Problemów Techniki

Politechnika Wrocławska Wydział Podstawowych Problemów Techniki Politechnika Wrocławska Wydział Podstawowych Problemów Techniki specjalność FOTONIKA 3,5-letnie studia stacjonarne I stopnia (studia inżynierskie) FIZYKA TECHNICZNA Charakterystyka wykształcenia: - dobre

Bardziej szczegółowo

InTechFun. Innowacyjne technologie wielofunkcyjnych materiałów i struktur dla nanoelektroniki, fotoniki, spintronikii technik sensorowych

InTechFun. Innowacyjne technologie wielofunkcyjnych materiałów i struktur dla nanoelektroniki, fotoniki, spintronikii technik sensorowych Innowacyjne technologie wielofunkcyjnych materiałów i struktur dla nanoelektroniki, fotoniki, spintronikii technik sensorowych InTechFun Politechnika Warszawska ZESPÓŁ REALIZUJĄCY PROJEKT prof. dr hab.

Bardziej szczegółowo

I Konferencja. InTechFun

I Konferencja. InTechFun I Konferencja Innowacyjne technologie wielofunkcyjnych materiałów i struktur dla nanoelektroniki, fotoniki, spintroniki i technik sensorowych InTechFun 9 kwietnia 2010 r., Warszawa POIG.01.03.01-00-159/08

Bardziej szczegółowo

Leon Murawski, Katedra Fizyki Ciała Stałego Wydział Fizyki Technicznej i Matematyki Stosowanej

Leon Murawski, Katedra Fizyki Ciała Stałego Wydział Fizyki Technicznej i Matematyki Stosowanej Nanomateriałów Leon Murawski, Katedra Fizyki Ciała Stałego Wydział Fizyki Technicznej i Matematyki Stosowanej POLITECHNIKA GDAŃSKA Centrum Zawansowanych Technologii Pomorze ul. Al. Zwycięstwa 27 80-233

Bardziej szczegółowo

Centrum Materiałów Zaawansowanych i Nanotechnologii

Centrum Materiałów Zaawansowanych i Nanotechnologii Centrum Materiałów Zaawansowanych i Nanotechnologii sprawozdanie za okres I 2010 XII 2011 Prof. dr hab. Jan Misiewicz www.cmzin.pwr.wroc.pl Centrum Materiałów Zaawansowanych i Nanotechnologii (CMZiN) Jest

Bardziej szczegółowo

Czyszczenie powierzchni podłoży jest jednym z

Czyszczenie powierzchni podłoży jest jednym z to jedna z największych w Polsce inwestycji w obszarze badań i rozwoju wysokich technologii (high-tech). W jej wyniku powstała sieć laboratoriów wyposażonych w najnowocześniejszą infrastrukturę techniczną,

Bardziej szczegółowo

IV PANEL EKSPERTÓW PROGRAM. Nowoczesne materiały i innowacyjne metody dla przetwarzania i monitorowania energii (MIME) kwietnia 2014 r.

IV PANEL EKSPERTÓW PROGRAM. Nowoczesne materiały i innowacyjne metody dla przetwarzania i monitorowania energii (MIME) kwietnia 2014 r. IV PANEL EKSPERTÓW PROGRAM Nowoczesne materiały i innowacyjne metody dla przetwarzania i monitorowania energii (MIME) 15-16 kwietnia 2014 r. Instytut Fizyki Polskiej Akademii Nauk Warszawa 15 kwietnia

Bardziej szczegółowo

Wieloparametryczna klasyfikacja właściwości użytkowych biopaliw ciekłych optymalizacja głowicy sensora

Wieloparametryczna klasyfikacja właściwości użytkowych biopaliw ciekłych optymalizacja głowicy sensora Wieloparametryczna klasyfikacja właściwości użytkowych biopaliw ciekłych optymalizacja głowicy sensora 1. Michał Borecki, Jan Szmidt, Piotr Doroz, Paweł Pszczółkowski, 2. Mariusz Duk, Andrzej Kociubiński,

Bardziej szczegółowo

PL B1. INSTYTUT TECHNOLOGII ELEKTRONOWEJ, Warszawa, PL INSTYTUT FIZYKI POLSKIEJ AKADEMII NAUK, Warszawa, PL

PL B1. INSTYTUT TECHNOLOGII ELEKTRONOWEJ, Warszawa, PL INSTYTUT FIZYKI POLSKIEJ AKADEMII NAUK, Warszawa, PL PL 221135 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 221135 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 399454 (22) Data zgłoszenia: 06.06.2012 (51) Int.Cl.

Bardziej szczegółowo

Specyfikacja istotnych warunków zamówienia publicznego

Specyfikacja istotnych warunków zamówienia publicznego INSTYTUT FIZYKI POLSKIEJ AKADEMII NAUK PL - 02-668 WARSZAWA, AL. LOTNIKÓW 32/46 Tel. (48-22) 843 66 01 Fax. (48-22) 843 09 26 REGON: P-000326061, NIP: 525-000-92-75 DZPIE/004/2010 Specyfikacja istotnych

Bardziej szczegółowo

Grafen materiał XXI wieku!?

Grafen materiał XXI wieku!? Grafen materiał XXI wieku!? Badania grafenu w aspekcie jego zastosowań w sensoryce i metrologii Tadeusz Pustelny Plan prezentacji: 1. Wybrane właściwości fizyczne grafenu 2. Grafen materiał 21-go wieku?

Bardziej szczegółowo

Badanie przenikalności elektrycznej i tangensa kąta stratności metodami mikrofalowymi

Badanie przenikalności elektrycznej i tangensa kąta stratności metodami mikrofalowymi Przyrządy unipolarne i struktury tranzystorowe na potrzeby elektroniki wysokotemperaturowej Kierownik projektu: prof. dr hab. inż. Jan Szmidt Instytut Mikroelektroniki i Optoelektroniki, Politechnika Warszawska

Bardziej szczegółowo

Innowacyjne technologie wielofunkcyjnych materiałów i struktur

Innowacyjne technologie wielofunkcyjnych materiałów i struktur Innowacyjne technologie wielofunkcyjnych materiałów i struktur dla nanoelektroniki, fotoniki, spintroniki i technik sensorowych InTechFun 1 Instytut Technologii Elektronowej ZESPÓŁ REALIZUJĄCY PROJEKT

Bardziej szczegółowo

SESJA PLAKATOWA I wtorek 23.06.2009, godz. 17:30 19:30

SESJA PLAKATOWA I wtorek 23.06.2009, godz. 17:30 19:30 SESJA PLAKATOWA I wtorek 23.06.2009, godz. 17:30 19:30 Nr plakatu P1 Bartnik P2 ukasz Bober P3 Lech Borowicz P4 Micha³ Byrczek P5 Joanna Cabaj P6 Piotr Caban P7 Piotr Caban P8 Jerzy Ciosek P9 Cezary Czosnek

Bardziej szczegółowo

KARTA PRZEDMIOTU. wiedza umiejętności kometencje społeczne. definiuje i rozwiązuje standardowe problemy fizyki eksperymentalnej.

KARTA PRZEDMIOTU. wiedza umiejętności kometencje społeczne. definiuje i rozwiązuje standardowe problemy fizyki eksperymentalnej. 1 2 3 4 6 7 8 8.0 Kod przedmiotu Nazwa przedmiotu Jednostka Punkty ECTS Język wykładowy Poziom przedmiotu Symbole efektów kształcenia Efekty kształcenia i opis ECTS Symbole efektów dla obszaru kształcenia

Bardziej szczegółowo

Centrum Materiałów Zaawansowanych i Nanotechnologii

Centrum Materiałów Zaawansowanych i Nanotechnologii Centrum Materiałów Zaawansowanych i Nanotechnologii sprawozdanie za okres X 2008 XII 2009 Prof. dr hab. Jan Misiewicz www.cmzin.pwr.wroc.pl Centrum Materiałów Zaawansowanych i Nanotechnologii (CMZiN) Jest

Bardziej szczegółowo

III Pracownia Półprzewodnikowa

III Pracownia Półprzewodnikowa Pomiary czasowo-rozdzielcze nanostruktur azotkowych. Ćwiczenie będzie polegało na zmierzeniu czasowo-rozdzielonej fotoluminescencji przy użyciu kamery smugowej, a następnie na analizie otrzymanych danych.

Bardziej szczegółowo

Krytyczne parametry konstrukcyjno-technologiczne i ich wpływ na parametry elektryczne tranzystorów mocy MOSFET SiC

Krytyczne parametry konstrukcyjno-technologiczne i ich wpływ na parametry elektryczne tranzystorów mocy MOSFET SiC Krytyczne parametry konstrukcyjno-technologiczne i ich wpływ na parametry elektryczne tranzystorów mocy MOSFET SiC Mariusz Sochacki 1, Norbert Kwietniewski 1, Andrzej Taube 1,2, Krystian Król 1, Jan Szmidt

Bardziej szczegółowo

I Konferencja. InTechFun

I Konferencja. InTechFun I Konferencja Innowacyjne technologie wielofunkcyjnych materiałów i struktur dla nanoelektroniki, fotoniki, spintroniki i technik sensorowych InTechFun 9 kwietnia 2010 r., Warszawa POIG.01.03.01-00-159/08

Bardziej szczegółowo

MIKROSYSTEMY. Ćwiczenie nr 2a Utlenianie

MIKROSYSTEMY. Ćwiczenie nr 2a Utlenianie MIKROSYSTEMY Ćwiczenie nr 2a Utlenianie 1. Cel ćwiczeń: Celem zajęć jest wykonanie kompletnego procesu mokrego utleniania termicznego krzemu. W skład ćwiczenia wchodzą: obliczenie czasu trwania procesu

Bardziej szczegółowo

Marcin Miczek. Badania wpływu temperatury na właściwości elektronowe struktur metal/izolator/algan/gan

Marcin Miczek. Badania wpływu temperatury na właściwości elektronowe struktur metal/izolator/algan/gan Marcin Miczek Badania wpływu temperatury na właściwości elektronowe struktur metal/izolator/algan/gan grant MNiSW / NCN (39. konkurs) N N515 606339, PBU-91/RMF1/2010 21 IX 2010 20 III 2013 Zakład Fizyki

Bardziej szczegółowo

AUTOREFERAT 1. Działalność naukowa i w zakresie rozwoju kadry, w tym tworzenia szkoły naukowej.

AUTOREFERAT 1. Działalność naukowa i w zakresie rozwoju kadry, w tym tworzenia szkoły naukowej. Prof.dr hab.inż Jan Szmidt Wydział Elektroniki i Technik Informacyjnych Instytut Mikroelektroniki i Optoelektroniki Warszawa, 10.02.2012r. AUTOREFERAT 1. Działalność naukowa i w zakresie rozwoju kadry,

Bardziej szczegółowo

W książce tej przedstawiono:

W książce tej przedstawiono: Elektronika jest jednym z ważniejszych i zarazem najtrudniejszych przedmiotów wykładanych na studiach technicznych. Co istotne, dogłębne zrozumienie jej prawideł, jak również opanowanie pewnej wiedzy praktycznej,

Bardziej szczegółowo

Marek Lipiński WPŁYW WŁAŚCIWOŚCI FIZYCZNYCH WARSTW I OBSZARÓW PRZYPOWIERZCHNIOWYCH NA PARAMETRY UŻYTKOWE KRZEMOWEGO OGNIWA SŁONECZNEGO

Marek Lipiński WPŁYW WŁAŚCIWOŚCI FIZYCZNYCH WARSTW I OBSZARÓW PRZYPOWIERZCHNIOWYCH NA PARAMETRY UŻYTKOWE KRZEMOWEGO OGNIWA SŁONECZNEGO Marek Lipiński WPŁYW WŁAŚCIWOŚCI FIZYCZNYCH WARSTW I OBSZARÓW PRZYPOWIERZCHNIOWYCH NA PARAMETRY UŻYTKOWE KRZEMOWEGO OGNIWA SŁONECZNEGO Instytut Metalurgii i Inżynierii Materiałowej im. Aleksandra Krupkowskiego

Bardziej szczegółowo

Magister: Uniwersytet Śląski w Katowicach, Wydział Matematyczno Fizyczno - Chemiczny, s pecjalność: kierunek fizyka, 1977

Magister: Uniwersytet Śląski w Katowicach, Wydział Matematyczno Fizyczno - Chemiczny, s pecjalność: kierunek fizyka, 1977 Adres do korespondencji: Instytut Metalurgii i Inżynierii Materiałowej PAN, Laboratorium Fotowoltaiczne, 43340 Kozy, ul. Krakowska 22 Tel.: (033) 817424, fax: (033) 4867180 email:m.lipinski@imim.pl marlipin@wp.pl

Bardziej szczegółowo

Wykład 12 V = 4 km/s E 0 =.08 e V e = = 1 Å

Wykład 12 V = 4 km/s E 0 =.08 e V e  = = 1 Å Wykład 12 Fale materii: elektrony, neutrony, lekkie atomy Neutrony generowane w reaktorze są spowalniane w wyniku zderzeń z moderatorem (grafitem) do V = 4 km/s, co odpowiada energii E=0.08 ev a energia

Bardziej szczegółowo

Aktualny stan i możliwości badawcze krajowych ośrodków naukowych i firm produkcyjnych w dziedzinie optoelektroniki i fotoniki

Aktualny stan i możliwości badawcze krajowych ośrodków naukowych i firm produkcyjnych w dziedzinie optoelektroniki i fotoniki Polskie Stowarzyszenie Fotoniczne - Photonics Society of Poland (PSP) Sekcja Optoelektroniki Komitetu Elektroniki i Telekomunikacji (SOKEiT) PAN Polski Komitet Optoelektroniki (PKOpto) SEP Aktualny stan

Bardziej szczegółowo

Forum BIZNES- NAUKA Obserwatorium. Kliknij, aby edytować styl wzorca podtytułu. NANO jako droga do innowacji

Forum BIZNES- NAUKA Obserwatorium. Kliknij, aby edytować styl wzorca podtytułu. NANO jako droga do innowacji Forum BIZNES- NAUKA Obserwatorium Kliknij, aby edytować styl wzorca podtytułu NANO jako droga do innowacji Uniwersytet Śląski w Katowicach Oferta dla partnerów biznesowych Potencjał badawczy Założony w

Bardziej szczegółowo

Laboratorium nanotechnologii

Laboratorium nanotechnologii Laboratorium nanotechnologii Zakres zagadnień: - Mikroskopia sił atomowych AFM i STM (W. Fizyki) - Skaningowa mikroskopia elektronowa SEM (WIM) - Transmisyjna mikroskopia elektronowa TEM (IF PAN) - Nanostruktury

Bardziej szczegółowo

Mikrosystemy Wprowadzenie. Prezentacja jest współfinansowana przez Unię Europejską w ramach Europejskiego Funduszu Społecznego w projekcie pt.

Mikrosystemy Wprowadzenie. Prezentacja jest współfinansowana przez Unię Europejską w ramach Europejskiego Funduszu Społecznego w projekcie pt. Mikrosystemy Wprowadzenie Prezentacja jest współfinansowana przez Unię Europejską w ramach Europejskiego Funduszu Społecznego w projekcie pt. Innowacyjna dydaktyka bez ograniczeń - zintegrowany rozwój

Bardziej szczegółowo

III Pracownia Półprzewodnikowa

III Pracownia Półprzewodnikowa Pomiary czasowo-rozdzielcze nanostruktur azotkowych. Ćwiczenie będzie polegało na zmierzeniu czasowo-rozdzielonej fotoluminescencji przy użyciu kamery smugowej, a następnie na analizie otrzymanych danych.

Bardziej szczegółowo

Jak TO działa? Co to są półprzewodniki? TRENDY: Prawo Moore a. Google: Jacek Szczytko Login: student Hasło: *******

Jak TO działa?   Co to są półprzewodniki? TRENDY: Prawo Moore a. Google: Jacek Szczytko Login: student Hasło: ******* Co to są półprzewodniki? Jak TO działa? http://www.fuw.edu.pl/~szczytko/ Google: Jacek Szczytko Login: student Hasło: ******* Jacek.Szczytko@fuw.edu.pl Wydział Fizyki UW 2 TRENDY: Prawo Moore a TRENDY:

Bardziej szczegółowo

Procesy technologiczne w elektronice

Procesy technologiczne w elektronice Procesy technologiczne w elektronice Wytwarzanie monokryształów Si i innych. Domieszkowanie; wytwarzanie złącz. Nanoszenie cienkich warstw. Litografia. Wytwarzanie warstw izolatora. Trawienie. Montowanie

Bardziej szczegółowo

RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) (13) B1

RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) (13) B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 174002 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 300055 (22) Data zgłoszenia: 12.08.1993 (5 1) IntCl6: H01L21/76 (54)

Bardziej szczegółowo

KRAJOWY REJESTR SĄDOWY. Stan na dzień godz. 17:45:01 Numer KRS:

KRAJOWY REJESTR SĄDOWY. Stan na dzień godz. 17:45:01 Numer KRS: Strona 1 z 9 CENTRALNA INFORMACJA KRAJOWEGO REJESTRU SĄDOWEGO KRAJOWY REJESTR SĄDOWY Stan na dzień 21.08.2017 godz. 17:45:01 Numer KRS: 0000125439 Informacja odpowiadająca odpisowi aktualnemu Z REJESTRU

Bardziej szczegółowo

Wydział Elektroniki Mikrosystemów i Fotoniki Janiszewskiego 11/17, Wrocław

Wydział Elektroniki Mikrosystemów i Fotoniki Janiszewskiego 11/17, Wrocław Wydział Elektroniki Mikrosystemów i Fotoniki Janiszewskiego 11/17, 50-372 Wrocław Laboratorium Nanotechnologii i Struktur Półprzewodnikowych Nasza lokalizacja: Campus ul. Długa 65 53-633 Wrocław, Polska

Bardziej szczegółowo

Aparatura do osadzania warstw metodami:

Aparatura do osadzania warstw metodami: Aparatura do osadzania warstw metodami: Rozpylania mgnetronowego Magnetron sputtering MS Rozpylania z wykorzystaniem działa jonowego Ion Beam Sputtering - IBS Odparowanie wywołane impulsami światła z lasera

Bardziej szczegółowo

dr inż. Piotr Wroczyński kierownik dr inż. Marcin Gnyba zca. kierownika Katedra Optoelektroniki i Systemów Elektronicznych PG

dr inż. Piotr Wroczyński kierownik dr inż. Marcin Gnyba zca. kierownika Katedra Optoelektroniki i Systemów Elektronicznych PG dr inż. Piotr Wroczyński kierownik dr inż. Marcin Gnyba zca. kierownika Katedra Optoelektroniki i Systemów Elektronicznych PG POLITECHNIKA GDAŃSKA Centrum Zawansowanych Technologii Pomorze ul. Al. Zwycięstwa

Bardziej szczegółowo

CEZAMAT nowe miejsce współpracy nauki i biznesu na mapie polskiej infrastruktury laboratoryjnej. Piotr Wiśniewski

CEZAMAT nowe miejsce współpracy nauki i biznesu na mapie polskiej infrastruktury laboratoryjnej. Piotr Wiśniewski CEZAMAT nowe miejsce współpracy nauki i biznesu na mapie polskiej infrastruktury laboratoryjnej Piotr Wiśniewski Plan prezentacji O Centrum Misja i wizja Cele Laboratorium Centralne CEZAMAT Podsumowanie

Bardziej szczegółowo

Zaawansowana Pracownia IN

Zaawansowana Pracownia IN Pomiary czasowo-rozdzielcze nanostruktur azotkowych. Ćwiczenie będzie polegało na zmierzeniu czasowo-rozdzielonej fotoluminescencji przy użyciu kamery smugowej, a następnie na analizie otrzymanych danych.

Bardziej szczegółowo

MAKROKIERUNEK NANOTECHNOLOGIE i NANOMATERIAŁY

MAKROKIERUNEK NANOTECHNOLOGIE i NANOMATERIAŁY POLITECHNIKA KRAKOWSKA im. Tadeusza Kościuszki WYDZIAŁ INŻYNIERII I TECHNOLOGII CHEMICZNEJ WYDZIAŁ FIZYKI, MATEMATYKI I INFORMATYKI STOSOWANEJ MAKROKIERUNEK NANOTECHNOLOGIE i NANOMATERIAŁY Kierunek i specjalności

Bardziej szczegółowo

Elementy technologii mikroelementów i mikrosystemów. USF_3 Technologia_A M.Kujawińska, T.Kozacki, M.Jóżwik 3-1

Elementy technologii mikroelementów i mikrosystemów. USF_3 Technologia_A M.Kujawińska, T.Kozacki, M.Jóżwik 3-1 Elementy technologii mikroelementów i mikrosystemów USF_3 Technologia_A M.Kujawińska, T.Kozacki, M.Jóżwik 3-1 Elementy technologii mikroelementów i mikrosystemów Typowe wymagania klasy czystości: 1000/100

Bardziej szczegółowo

ZAKŁAD TECHNOLOGII STRUKTUR PÓŁPRZEWODNIKOWYCH DLA FOTONIKI

ZAKŁAD TECHNOLOGII STRUKTUR PÓŁPRZEWODNIKOWYCH DLA FOTONIKI ZAKŁAD TECHNOLOGII STRUKTUR PÓŁPRZEWODNIKOWYCH DLA FOTONIKI Kierownik: prof. dr hab. inż. Anna PIOTROWSKA e-mail: ania@ite.waw.pl, tel. (0-prefiks-22) 548 79 40 Zespół: mgr Michał Borysiewicz, e-mail:

Bardziej szczegółowo

Układy scalone. wstęp układy hybrydowe

Układy scalone. wstęp układy hybrydowe Układy scalone wstęp układy hybrydowe Ryszard J. Barczyński, 2012 Politechnika Gdańska, Wydział FTiMS, Katedra Fizyki Ciała Stałego Materiały dydaktyczne do użytku wewnętrznego Publikacja współfinansowana

Bardziej szczegółowo

Skalowanie układów scalonych

Skalowanie układów scalonych Skalowanie układów scalonych Technologia mikroelektroniczna Charakterystyczne parametry najmniejszy realizowalny rozmiar (ang. feature size), liczba bramek (układów) na jednej płytce, wydzielana moc, maksymalna

Bardziej szczegółowo

TECHNOLOGIA WYKONANIA PRZYRZĄDÓW PÓŁPRZEWOD- NIKOWYCH WYK. 16 SMK Na pdstw.: W. Marciniak, WNT 1987: Przyrządy półprzewodnikowe i układy scalone,

TECHNOLOGIA WYKONANIA PRZYRZĄDÓW PÓŁPRZEWOD- NIKOWYCH WYK. 16 SMK Na pdstw.: W. Marciniak, WNT 1987: Przyrządy półprzewodnikowe i układy scalone, TECHNOLOGIA WYKONANIA PRZYRZĄDÓW PÓŁPRZEWOD- NIKOWYCH WYK. 16 SMK Na pdstw.: W. Marciniak, WNT 1987: Przyrządy półprzewodnikowe i układy scalone, 1. Technologia wykonania złącza p-n W rzeczywistych złączach

Bardziej szczegółowo

Wykład Ćwiczenia Laboratorium Projekt Seminarium Liczba godzin zajęć zorganizowanych w Uczelni ,2 1,5

Wykład Ćwiczenia Laboratorium Projekt Seminarium Liczba godzin zajęć zorganizowanych w Uczelni ,2 1,5 Zał. nr 4 do ZW WYDZIAŁ PODSTAWOWYCH PROBLEMÓW TECHNIKI KARTA PRZEDMIOTU Nazwa w języku polskim: Optoelektronika Nazwa w języku angielskim: Optoelectronics Kierunek studiów (jeśli dotyczy): Fizyka Techniczna

Bardziej szczegółowo

Technologia kontaktów omowych i montażu dla przyrządów z węglika krzemu

Technologia kontaktów omowych i montażu dla przyrządów z węglika krzemu Wprowadzenie Technologia kontaktów omowych i montażu dla przyrządów z węglika krzemu Ryszard Kisiel, Zbigniew Szczepański, Ryszard Biaduń, Norbert Kwietniewski Instytut Mikroelektronikii Optoelektroniki,Politechnika

Bardziej szczegółowo

Fizyka i technologia złącza PN. Adam Drózd 25.04.2006r.

Fizyka i technologia złącza PN. Adam Drózd 25.04.2006r. Fizyka i technologia złącza P Adam Drózd 25.04.2006r. O czym będę mówił: Półprzewodnik definicja, model wiązań walencyjnych i model pasmowy, samoistny i niesamoistny, domieszki donorowe i akceptorowe,

Bardziej szczegółowo

Projekt NCN DEC-2013/09/D/ST8/ Kierownik: dr inż. Marcin Kochanowicz

Projekt NCN DEC-2013/09/D/ST8/ Kierownik: dr inż. Marcin Kochanowicz Realizowane cele Projekt pt. Badanie mechanizmów wpływających na różnice we właściwościach luminescencyjnych szkieł i wytworzonych z nich światłowodów domieszkowanych lantanowcami dotyczy badań związanych

Bardziej szczegółowo

PLAN STUDIÓW STACJONARNYCH studia inżynierskie pierwszego stopnia

PLAN STUDIÓW STACJONARNYCH studia inżynierskie pierwszego stopnia Egzamin po semestrze Kierunek: FIZYKA TECHNICZNA wybór specjalności po semestrze czas trwania: 7 semestrów profil: ogólnoakademicki PLAN STUDIÓW STACJONARNYCH studia inżynierskie pierwszego stopnia 01/015-1

Bardziej szczegółowo

III Pracownia Półprzewodnikowa

III Pracownia Półprzewodnikowa Pomiary czasowo-rozdzielcze nanostruktur azotkowych. Ćwiczenie będzie polegało na zmierzeniu czasowo-rozdzielonej fotoluminescencji przy użyciu kamery smugowej, a następnie na analizie otrzymanych danych.

Bardziej szczegółowo

Laboratorium Pomiarów Dozymetrycznych Monitoring ośrodka i rozwój dozymetrii

Laboratorium Pomiarów Dozymetrycznych Monitoring ośrodka i rozwój dozymetrii Laboratorium Pomiarów Dozymetrycznych Monitoring ośrodka i rozwój dozymetrii Jakub Ośko Działalność LPD Ochrona radiologiczna ośrodka jądrowego Świerk (wymaganie Prawa atomowego) Prace naukowe, badawcze,

Bardziej szczegółowo

Skalowanie układów scalonych Click to edit Master title style

Skalowanie układów scalonych Click to edit Master title style Skalowanie układów scalonych Charakterystyczne parametry Technologia mikroelektroniczna najmniejszy realizowalny rozmiar (ang. feature size), liczba bramek (układów) na jednej płytce, wydzielana moc, maksymalna

Bardziej szczegółowo

9. Struktury półprzewodnikowe

9. Struktury półprzewodnikowe 9. Struktury półprzewodnikowe Tranzystor pnp, npn Złącze metal-półprzewodnik, diody Schottky ego Heterozłącze Struktura MOS Tranzystory HFET, HEMT, JFET Technologia planarna, ograniczenia Tranzystor pnp

Bardziej szczegółowo

GRAFEN. Prof. dr hab. A. Jeleński. Instytut Technologii MateriałówElektronicznych Ul.Wólczyńska 133 01-919 Warszawa www.itme.edu.

GRAFEN. Prof. dr hab. A. Jeleński. Instytut Technologii MateriałówElektronicznych Ul.Wólczyńska 133 01-919 Warszawa www.itme.edu. GRAFEN Prof. dr hab. A. Jeleński Instytut Technologii MateriałówElektronicznych Ul.Wólczyńska 133 01-919 Warszawa www.itme.edu.pl SPIS TREŚCI Czy potrzeba nowych materiałów? Co to jest grafen? Wytwarzanie

Bardziej szczegółowo

Co to jest kropka kwantowa? Kropki kwantowe - część I otrzymywanie. Co to jest ekscyton? Co to jest ekscyton? e πε. E = n. Sebastian Maćkowski

Co to jest kropka kwantowa? Kropki kwantowe - część I otrzymywanie. Co to jest ekscyton? Co to jest ekscyton? e πε. E = n. Sebastian Maćkowski Co to jest kropka kwantowa? Kropki kwantowe - część I otrzymywanie Sebastian Maćkowski Instytut Fizyki Uniwersytet Mikołaja Kopernika Co to jest ekscyton? Co to jest ekscyton? h 2 2 2 e πε m* 4 0ε s Φ

Bardziej szczegółowo

2.2.P.05: Inżynieria powierzchni materiałów funkcjonalnych

2.2.P.05: Inżynieria powierzchni materiałów funkcjonalnych 2nd Workshop on Foresight of surface properties formation leading technologies of engineering materials and biomaterials in Białka Tatrzańska, Poland 29th-30th November 2009 2 Panel nt. Produkt oraz materiał

Bardziej szczegółowo

Raport końcowy kamienie milowe (KM) zadania 1.2

Raport końcowy kamienie milowe (KM) zadania 1.2 Wydział Chemii Uniwersytet Warszawski Raport końcowy kamienie milowe (KM) zadania 1.2 za okres: 01.07.2009-31.03.2012 Zadanie 1.2 Opracowanie technologii nanowłókien SiC dla nowej generacji czujnika wodoru

Bardziej szczegółowo

OPTOELEKTRONIKA. Katedra Metrologii i Optoelektroniki. Dołącz do najlepszych!

OPTOELEKTRONIKA. Katedra Metrologii i Optoelektroniki. Dołącz do najlepszych! OPTOELEKTRONIKA Katedra Metrologii i Optoelektroniki Dołącz do najlepszych! Oferta dydaktyczna Wykładane przedmioty Elementy i układy optoelektroniczne Optyczne techniki pomiarowe Optyczna transmisja i

Bardziej szczegółowo

Kierownik: prof. dr hab. Jacek Ulański

Kierownik: prof. dr hab. Jacek Ulański Katedra Fizyki Molekularnej Politechnika Łódzka Kierownik: prof. dr hab. Jacek Ulański Specjalności Kierunek: Specjalność: Chemia Chemia i Fizyka Polimerów Kierunek: Specjalność: Nanotechnologia Nanomateriały

Bardziej szczegółowo

Dofinansowanie prac badawczo-rozwojowych w ramach aktualnych programów wsparcia dla przedsiębiorców 04.09.2015

Dofinansowanie prac badawczo-rozwojowych w ramach aktualnych programów wsparcia dla przedsiębiorców 04.09.2015 Dofinansowanie prac badawczo-rozwojowych w ramach aktualnych programów wsparcia dla przedsiębiorców 04.09.2015 O ADM Consulting Group S.A. Dotacje UE Opracowywanie dokumentacji aplikacyjnych Pomoc w doborze

Bardziej szczegółowo

ZAKŁAD MIKRO- I NANOTECHNOLOGII PÓŁPRZEWODNIKÓW SZEROKOPRZERWOWYCH

ZAKŁAD MIKRO- I NANOTECHNOLOGII PÓŁPRZEWODNIKÓW SZEROKOPRZERWOWYCH ZAKŁAD MIKRO- I NANOTECHNOLOGII PÓŁPRZEWODNIKÓW SZEROKOPRZERWOWYCH Kierownik: prof. dr hab. inż. Anna PIOTROWSKA e-mail: ania@ite.waw.pl, tel. (0-22) 548 79 40 Zespół: dr Zbigniew Adamus, e-mail: adamus@ite.waw.pl,

Bardziej szczegółowo

43 edycja SIM Paulina Koszla

43 edycja SIM Paulina Koszla 43 edycja SIM 2015 Paulina Koszla Plan prezentacji O konferencji Zaprezentowane artykuły Inne artykuły Do udziału w konferencji zaprasza się młodych doktorów, asystentów i doktorantów z kierunków: Inżynieria

Bardziej szczegółowo

Rozszczepienie poziomów atomowych

Rozszczepienie poziomów atomowych Rozszczepienie poziomów atomowych Poziomy energetyczne w pojedynczym atomie Gdy zbliżamy atomy chmury elektronowe nachodzą na siebie (inaczej: funkcje falowe elektronów zaczynają się przekrywać) Na skutek

Bardziej szczegółowo

ZAKŁAD MIKRO- I NANOTECHNOLOGII PÓŁPRZEWODNIKÓW SZEROKOPRZERWOWYCH

ZAKŁAD MIKRO- I NANOTECHNOLOGII PÓŁPRZEWODNIKÓW SZEROKOPRZERWOWYCH ZAKŁAD MIKRO- I NANOTECHNOLOGII PÓŁPRZEWODNIKÓW SZEROKOPRZERWOWYCH Kierownik: Zespół: prof. dr hab. inż. Anna PIOTROWSKA e-mail: ania@ite.waw.pl, tel. (22) 548 79 40 dr hab. Adam Barcz, prof. nadzw. w

Bardziej szczegółowo

- dzienne studia magisterskie

- dzienne studia magisterskie 198 PLAN STUDIÓW 3.4 INŻYNIERIA MATERIAŁOWA 3.4 MATERIALS ENGINEERING - MSc Studies - dzienne studia magisterskie WYDZIAŁ: PPT Faculty of Fundamental Problems of Technology KIERUNEK: INŻYNIERIA MATERIAŁOWA

Bardziej szczegółowo

Zał. nr 4 do ZW 33/2012 aktualizacja WYDZIAŁ PODSTAWOWYCH PROBLEMÓW TECHNIKI KARTA PRZEDMIOTU Nazwa w języku polskim FIZYKA CIENKICH WARSTW

Zał. nr 4 do ZW 33/2012 aktualizacja WYDZIAŁ PODSTAWOWYCH PROBLEMÓW TECHNIKI KARTA PRZEDMIOTU Nazwa w języku polskim FIZYKA CIENKICH WARSTW Zał. nr 4 do ZW 33/0 aktualizacja 04.06.03 WYDZIAŁ PODSTAWOWYCH PROBLEMÓW TECHNIKI KARTA PRZEDMIOTU Nazwa w języku polskim FIZYKA CIENKICH WARSTW Nazwa w języku angielskim PHYSICS OF THIN FILMS. Kierunek

Bardziej szczegółowo

Urządzenia półprzewodnikowe

Urządzenia półprzewodnikowe Urządzenia półprzewodnikowe Diody: - prostownicza - Zenera - pojemnościowa - Schottky'ego - tunelowa - elektroluminescencyjna - LED - fotodioda półprzewodnikowa Tranzystory - tranzystor bipolarny - tranzystor

Bardziej szczegółowo

Określanie schematów pasmowych struktur MOS na podłożu SiC(4H)

Określanie schematów pasmowych struktur MOS na podłożu SiC(4H) Krzysztof PISKORSKI 1, Henryk M. PRZEWŁOCKI 1, Mietek BAKOWSKI 2 Instytut Technologii Elektronowej, Zakład Charakteryzacji Struktur Nanoelektronicznych (1), ACREO Szwecja (2) Określanie schematów pasmowych

Bardziej szczegółowo

Ciała stałe. Literatura: Halliday, Resnick, Walker, t. 5, rozdz. 42 Orear, t. 2, rozdz. 28 Young, Friedman, rozdz

Ciała stałe. Literatura: Halliday, Resnick, Walker, t. 5, rozdz. 42 Orear, t. 2, rozdz. 28 Young, Friedman, rozdz Ciała stałe Podstawowe własności ciał stałych Struktura ciał stałych Przewodnictwo elektryczne teoria Drudego Poziomy energetyczne w krysztale: struktura pasmowa Metale: poziom Fermiego, potencjał kontaktowy

Bardziej szczegółowo

1. DYREKTORZY O INSTYTUCIE

1. DYREKTORZY O INSTYTUCIE SPIS TREŚCI 1. Dyrektorzy o Instytucie 2. Informacje ogólne 3. Aktywność badawcza 3.1. Nowe materiały i technologie 3.1.1. Technologie krzemowe, mikrosystemy i nanostruktury 3.1.2. Projektowanie układów

Bardziej szczegółowo

ROK AKADEMICKI 2012/2013 studia stacjonarne BLOKI OBIERALNE KATEDRA PRZYRZĄDÓW PÓŁPRZEWODNIKOWYCH I OPTOELEKTRONICZNYCH

ROK AKADEMICKI 2012/2013 studia stacjonarne BLOKI OBIERALNE KATEDRA PRZYRZĄDÓW PÓŁPRZEWODNIKOWYCH I OPTOELEKTRONICZNYCH ROK AKADEMICKI 2012/2013 studia stacjonarne BLOKI OBIERALNE KATEDRA PRZYRZĄDÓW PÓŁPRZEWODNIKOWYCH I OPTOELEKTRONICZNYCH PROPONOWANE BLOKI Systemy i sieci światłowodowe Elektronika motoryzacyjna Mikro-

Bardziej szczegółowo

Materiałoznawstwo elektryczne Electric Materials Science

Materiałoznawstwo elektryczne Electric Materials Science Załącznik nr 7 do Zarządzenia Rektora nr 10/12 z dnia 21 lutego 2012r. KARTA MODUŁU / KARTA PRZEDMIOTU Kod modułu Nazwa modułu Nazwa modułu w języku angielskim Obowiązuje od roku akademickiego 2012/2013

Bardziej szczegółowo

- 1 WYMAGANIA WSTĘPNE W ZAKRESIE WIEDZY, UMIEJĘTNOŚCI I INNYCH KOMPETENCJI

- 1 WYMAGANIA WSTĘPNE W ZAKRESIE WIEDZY, UMIEJĘTNOŚCI I INNYCH KOMPETENCJI Zał. nr 4 do ZW 33/01 WYDZIAŁ ELEKTRONIKI KARTA PRZEDMIOTU Nazwa w języku polskim Fizyka 3.3 Nazwa w języku angielskim Physics 3.3 Kierunek studiów: Automatyka i Robotyka Specjalność (jeśli dotyczy): Stopień

Bardziej szczegółowo

Potencjał technologiczny i produkcyjny PCO S.A. w zakresie wytwarzania urządzeń termowizyjnych

Potencjał technologiczny i produkcyjny PCO S.A. w zakresie wytwarzania urządzeń termowizyjnych Seminarium Termowizja: Projekty badawcze i wdrożenia przemysłowe XXII MSPO Kielce, 02.09.2014 r. Potencjał technologiczny i produkcyjny PCO S.A. w zakresie wytwarzania urządzeń termowizyjnych Jerzy Wiśnioch,

Bardziej szczegółowo

Elementy optoelektroniczne. Przygotował: Witold Skowroński

Elementy optoelektroniczne. Przygotował: Witold Skowroński Elementy optoelektroniczne Przygotował: Witold Skowroński Plan prezentacji Wstęp Diody świecące LED, Wyświetlacze LED Fotodiody Fotorezystory Fototranzystory Transoptory Dioda LED Dioda LED z elektrycznego

Bardziej szczegółowo

Optymalizacja procesu reaktywnego trawienia jonowego heterostruktur AlGaN/GaN do zastosowań w przyrządach elektronicznych

Optymalizacja procesu reaktywnego trawienia jonowego heterostruktur AlGaN/GaN do zastosowań w przyrządach elektronicznych Politechnika Wrocławska Wydział Elektroniki Mikrosystemów i Fotoniki Autoreferat rozprawy doktorskiej Optymalizacja procesu reaktywnego trawienia jonowego heterostruktur AlGaN/GaN do zastosowań w przyrządach

Bardziej szczegółowo

Elementy przełącznikowe

Elementy przełącznikowe Elementy przełącznikowe Dwie główne grupy: - niesterowane (diody p-n lub Schottky ego), - sterowane (tranzystory lub tyrystory) Idealnie: stan ON zwarcie, stan OFF rozwarcie, przełączanie bez opóźnienia

Bardziej szczegółowo

WYMAGANIA WSTĘPNE W ZAKRESIE WIEDZY, UMIEJĘTNOŚCI I INNYCH KOMPETENCJI CELE PRZEDMIOTU

WYMAGANIA WSTĘPNE W ZAKRESIE WIEDZY, UMIEJĘTNOŚCI I INNYCH KOMPETENCJI CELE PRZEDMIOTU Zał. nr 4 do ZW /01 WYDZIAŁ PPT KARTA PRZEDMIOTU Nazwa w języku polskim Nanodiagnostyka Nazwa w języku angielskim Nanodiagnostics Kierunek studiów (jeśli dotyczy): Fizyka Techniczna Specjalność (jeśli

Bardziej szczegółowo

Termiczny model tranzystora HEMT na podłożu GaN/SiC

Termiczny model tranzystora HEMT na podłożu GaN/SiC Termiczny model tranzystora HEMT na podłożu GaN/SiC Paweł Kopyt, Daniel Gryglewski, Wojciech Wojtasiak, Wojciech Gwarek Instytut Radioelektroniki, Politechnika Warszawska ul. Nowowiejska 5/9, 00-665 Warszawa

Bardziej szczegółowo