Naukowo-badawcze Laboratorium Międzyuczelnianego w Stalowej Woli. Jakub Nowak
|
|
- Kamila Górska
- 9 lat temu
- Przeglądów:
Transkrypt
1 1 Naukowo-badawcze Laboratorium Międzyuczelnianego w Stalowej Woli Jakub Nowak Stalowa Wola
2 2 Laboratorium zaawansowanych technik laserowych Naukowobadawcze Laboratorium Międzyuczelniane w Stalowej Woli Laboratorium wysokozaawansowanych materiałów i struktur kompozytowych
3 3 LABORATORIUM ZAAWANSOWANYCH TECHNIK LASEROWYCH zrobotyzowane stanowisko spawania laserowego, laserowe stanowisko do mikronapawania, zestaw do pomiaru parametrów powierzchni, profilometr, poroscop, ferrytoskop, przyrząd do pomiaru głębokości pęknięć, dualscope, zestaw twardościomierzy, defektoskop magnetyczny, zestaw do opracowywania modeli 3D z głowicą skanującą), helowy detektor szczelności.
4 4 LABORATORIUM WYSOKOZAAWANSOWANYCH MATERIAŁÓW I STRUKTUR KOMPOZYTOWYCH spektrometr FT-raman i FT-IR, mikroskop IR, dyspersyjny spektrometr ramanowski, mikroskop sił atomowych, spektrometr fotoelektronów, mikroskop elektronowy z detektorem EDS, dyfraktometr rentgenowski, tomograf rentgenowski, spektrometry ICP MS i OES, system ablacji laserowej, analizator fluorescencji rentgenowskiej.
5 5 Nicolet NXR 9650
6 6 Obszary badań FT-IR i IR: - identyfikacja materiałów i surowców, - badania polimerów i gumy, - analiza pigmentów i farb, - analiza opakowań i laminatów, - badanie powłok, - analiza włókien, - analiza farmaceutyków i kosmetyków.
7 7 Zalety spektroskopii ramanowskiej: metoda nieniszcząca i bezkontaktowa, szybkość, brak przygotowania próbki, możliwa analiza przez szkło i tworzywo sztuczne, łatwa identyfikacja i duża baza widm, Analiza i identyfikacja Mapy rozmieszczenia związków
8 8 Alkohol Aldehyd Kwas
9 9 Komplementarność analizy ramanowskiej i IR: piki słabe w jednej metodzie są silne w drugiej, FT-IR zazwyczaj dostarcza więcej informacji na temat grup funkcyjnych, Raman zazwyczaj dostarcza informacje o strukturze związku.
10 1 0 Zastosowanie: farmacja, medycyna, analiza żywności, badania polimerów, analiza chemiczna związków. Spektroskopia FT-ramanowska umożliwia: analizę i charakterystykę cząsteczek związków organicznych i nieorganicznych, badania konformacji cząsteczek, polimorfizmu, faz krystalicznych, przejść fazowych, analizę ciał stałych, cieczy i niektórych gazów, pracę z makro i mikro próbkami, analizę jakościową i ilościową.
11 1 1 Nicolet in10 MX
12 1 2
13 1 3 invia
14 1 4 Lasery: 1064 nm Nd:YAG 100mW 785 nm NIR 300mW 514 nm Nd:YAG 50mW 325 nm He-Cd 25mW
15 1 5 Obszary badań dyspersyjnego spektrometru ramana - biologia i medycyna, - półprzewodniki i ogniwa, - polimery, kompozyty, pigmenty, - nanotechnologia, - geologia i gemmologia, - farmakologia i kosmetologia.
16 1 6
17 1 7
18 1 8 Naprężenia materiału
19 1 9
20 2 0 Innova
21 2 1 Możliwości pomiarowe AFM: topografia właściwości elektryczne właściwości magnetyczne właściwości cieplne charakterystyka nanomechaniczna Pole: nm 200 mm Rozdzielczość ratelarna: ~1 nm Rozdzielczość wertykalna: sub-nm Tryby pomiarowe AFM: - kontaktowy AFM, - pół-kontaktowy AFM, - bezkontaktowy AFM, - obrazowania fazowego, - mikroskopia prądów tunelowych (STM), - Krzywe siła odległość, Płytka półprzewodnika. Od lewej AFM topografia, po prawej obraz ramanowski. Mat. Bruker
22 2 2 SPEKTROMETR FOTOELEKTRONÓW K-alfa
23 Counts / s 2 3 Survey 10 Scans, 2 m 16.1 s, 400µm, CAE 200.0, 1.00 ev O1s Si2s Si2p E E S2s P2p C1s E E E C Auger E E E E N Auger 1200 O Auger Cu2p 3/ Binding Energy (ev) N1s Ca2p Si2s 200 Si2p Element/chemical state At% Si2p organic 0.63 Si2p SiO P2p 0.39 S2p thiol 0.28 S2p sulfate 0.11 C1s Ca2p <0.1 N1s Cu2p 3/2 (Cu + ) 0.12 Cu2p 3/2 (Cu 2+ ) 0.09 Elemental/chemical state quantification
24 2 4 C1s CO is organically bonded C-O and carbonate
25 2 5 Koral bambusowy- analiza warstw
26 2 6 Korozja powierzchni druta Korozja powierzchni wolframu
27 2 7 Analiza stali XPS Analiza warstw Si-SiO2
28 2 8 MIKROSKOP ELEKTRONOWY Z DETEKTOREM EDS
29 2 9 Obrazowanie próbek mikroskopem SEM
30 3 0 Materiały OXFORD Instr.
31 3 1
32 3 2 LayerProbe Warstwy złożone od 2 nm do 2000 nm
33 3 3 DYFRAKTOMETR RENTGENOWSKI, Empyrean
34 3 4 Możliwości pomiarowe dyfraktometru: analiza dyfrakcyjna w kapilarach, badania odbiciowe jak i niskokątowe, analiza naprężeń, analiza fazowa materiału, analiza reflektometryczna, analiza warstw epitaksjalnych, analiza tekstury.
35 3 5 SPEKTROMETR RENTGENOWSKI WDXRF Axios max
36 3 6 Możliwości pomiarowe spektrometru: analiza w zakresie O-U, dodatkowe kryształy specjalne do analizy B, C i N, oprogramowanie do analizy jakościowej i ilościowej, pakiet oprogramowania i wzorców do analizy szerokiego zakresu materiałów mineralnych pakiet oprogramowania i wzorce do analizy metali zużyciowych w olejach pakiet oprogramowania i wzorce do analizy pierwiastków (min. 15) w stopach Ni, Fe i Co.
37 3 7 TOMOGRAF RENTGENOWSKI, v tome x m
38 3 8 Wielkość próbek :600 mm x 300 mm; up to 600 x 500 mm with limited travel range Maksymalna waga próbek :50 kg Rozdzielczość:2 microns (microfocus tube); optional down to < 1 micron (nanofocus tube)
39 3 9 Możliwości pomiarowe tomomografu: mikrotomografia obiektów metrologia wykrywania wad w odlewach i spoinach analiza materiałów.
40 4 0
41 4 1
42 4 2 System ICP MS
43 4 3 Zastosowanie: - analiza śladowa pierwiastków
44 4 4 Laserowa ablacja
45 4 5 Laserowa ablacja- analiza
46 4 6 TWARDOŚCIOMIERZ PRZENOŚNY DYNATEST SC Przenośny twardościomierz o dużym nacisku pomiarowym (obciążenie 100 kgf) porównywalny z twardościomierzami stacjonarnymi Pomiar niezakłócony stanem powierzchni próbki/części. Niewrażliwy na odkształcenie lub ugięcie próbki. Zdolny do pomiaru w dowolnym położeniu głowicy. Obciążenie pomiarowe niezależne od operatora. Zalecany szczególnie przy pomiarze twardości żeliw w trudnym warunkach, np. w odlewniach. Do pomiaru rur o średnicy od 15 mm Zgodny z wymogami normy DIN 50157
47 4 7 HANDY ESATEST Do pomiaru w miejscach trudnodostępnych (linia zęba, otwory, wnęki, powierzchnie nieregularne...) Obciążenie ustawiane w zakresie 1-10 kp z możliwością określenia maksymalnego dla danej aplikacji obciążenia Główne aplikacje: pomiar twardości w strefie wpływu ciepła spoiny po spawaniu pomiar twardości aluminium (w tym cienkich blach) Złożone konstrukcje, takie jak silniki odrzutowe, skrzynie biegów, narzędzia skrawające Zgodny z wymogami normy DIN Z opcjonalnym oprzyrządowaniem do pomiaru w otworach o minimalnej średnicy 15 i na głębokości do 50 mm
48 4 8
49 4 9
50 5 0
51 5 1 ZALETY Proste pomiary bez względu na środowisko Wysokiej klasy komponenty z kamerą Kompleksowe pomiary i zadania inspekcyjne Nowe aplikacje, np.: pomiary wnętrz samochodów itp. Pomiary niezależne od zewnętrznych warunków świetlnych Szybkie skanowanie dużych komponentów Zaawansowana technologia przeniesiona z ATOS Triple Scan Wysoka jakość danych pomiarowych Łatwy transport Lekka głowica skanera Potężny, przenośny komputer do przetwarzania danych
52 5 2 ZALETY Głowica, trójnóg, pola pomiarowe i ręczny stolik obrotowy w jednej walizce Możliwość dostosowania dokładności, rozdzielczości i szybkości Digitalizacja mały i dużych części jedną głowicą pomiarową Kompletna analiza części Pomiary dużych komponentów, nawet kilkunastometrowych Kompletne rozwiązanie wyciągnij ze skrzyni : głowica, laptop, program, akcesoria Kamery stereowizyjne dla wysokiej dokładności Zawiera oprogramowanie pomiarowe i inspekcyjne Kompletne szkolenie i wsparcie techniczne
53 5 3
54 WYZNACZANIE ZAWARTOŚCI FERRYTU - FERRITSCOPE FMP30 FERRITSCOPE FMP30 Wykorzystuje zjawisko indukcji magnetycznej, wyposażony jest w wyświetlacz i sondę ręczną. Prąd o niskiej częstotliwości przepływa przez cewkę. Przemienne pole magnetyczne przenika próbkę. Wytworzone pole jest proporcjonalne do zawartości ferrytu. Mierzona jest przenikalność próbki zależna od występowania w niej materiałów magnetycznych takich jak ferryt. Slajd 54
55 FERRITSCOPE FMP30 - APLIKACJE Slajd 55
56 POROSOCOPE: ZASTOSOWANIA Wyszukiwanie porów w powłokach wykonanych z emalii Badanie powłok wewnątrz rur z wykorzystaniem systemu przedłużeń i okrągłych elektrod. Slajd 56
57 DUALSCOPE FMP 150- POMIAR GRUBOŚCI POWŁOK Pomiar grubości powłok metodą indukcji magnetycznej, prądów wirowych oraz metodą Halla z jednoczesnym automatycznym rozpoznaniem rodzaju materiału podłoża Intuicyjne menu Prosta obsługa Dotykowy ekran Edytowalne menu Do 1000 Aplikacji GRUBOŚĆ POWŁOK Slajd 57
58 DUALSCOPE FMP ZASTOSOWANIA Grubość powłoki lakierniczej na podłożu stalowym Pomiar grubości powłoki anodowej na elementach aluminiowych GRUBOŚĆ POWŁOK Slajd 58
59 DUALSCOPE FMP ZASTOSOWANIA Jednoczesny pomiar grubości farby i cynku na konstrukcjach stalowych GRUBOŚĆ POWŁOK Slajd 59
60 HOMMEL TESTER T1000- POMIAR CHROPOWATOŚCI I FALISTOŚCI W WERSJI PRZENOŚNEJ LUB STACJONARNEJ ZALETY Zwarta & ergonomiczna koncepcja Obsługa przenośna Prosty & elastyczny pomiar Łatwość obsługi - ergonomiczna klawiatura - pokrętło Parametry chropowatości wg ISO, DIN, JIS, Motif, SEP 1940 Mała stacja pomiarowa ze statywem SH100 Slajd 60
61 6 1 Dziękuje za uwagę
Spektrometr XRF THICK 800A
Spektrometr XRF THICK 800A DO POMIARU GRUBOŚCI POWŁOK GALWANIZNYCH THICK 800A spektrometr XRF do szybkich, nieniszczących pomiarów grubości powłok i ich składu. Zaprojektowany do pomiaru grubości warstw
THICK 800A DO POMIARU GRUBOŚCI POWŁOK. THICK 800A spektrometr XRF do szybkich, nieniszczących pomiarów grubości powłok i ich składu.
THICK 800A DO POMIARU GRUBOŚCI POWŁOK THICK 800A spektrometr XRF do szybkich, nieniszczących pomiarów grubości powłok i ich składu. Zoptymalizowany do pomiaru grubości warstw Detektor Si-PIN o rozdzielczości
Spektrometry Ramana JASCO serii NRS-5000/7000
Spektrometry Ramana JASCO serii NRS-5000/7000 Najnowsza seria badawczych, siatkowych spektrometrów Ramana japońskiej firmy Jasco zapewnia wysokiej jakości widma. Zastosowanie najnowszych rozwiązań w tej
(Pieczęć Wykonawcy) Załącznik nr 8 do SIWZ Nr postępowania: ZP/259/050/D/11. Opis oferowanej dostawy OFERUJEMY:
. (Pieczęć Wykonawcy) Załącznik nr 8 do SIWZ Nr postępowania: ZP/259/050/D/11 Opis oferowanej dostawy OFERUJEMY: 1) Mikroskop AFM według pkt 1 a) załącznika nr 7 do SIWZ, model / producent..... Detekcja
Laboratorium nanotechnologii
Laboratorium nanotechnologii Zakres zagadnień: - Mikroskopia sił atomowych AFM i STM (W. Fizyki) - Skaningowa mikroskopia elektronowa SEM (WIM) - Transmisyjna mikroskopia elektronowa TEM (IF PAN) - Nanostruktury
Przenośne spektrometry Ramana
Przenośne spektrometry Ramana Spektroskopia Ramana Spektroskopia Ramana jest nieniszczącą metodą, służącą do identyfikacji substancji chemicznych m.in. narkotyków, substancji wybuchowych, leków, minerałów,
Laboratorium Badania Materiałów Inżynierskich i Biomedycznych
Wydział Mechaniczny Technologiczny Politechnika Śląska Laboratorium Badania Materiałów Inżynierskich i Biomedycznych Instytut Materiałów Inżynierskich i Biomedycznych 1 Projekt MERFLENG... W 2012 roku
METODY BADAŃ BIOMATERIAŁÓW
METODY BADAŃ BIOMATERIAŁÓW 1 Cel badań: ograniczenie ryzyka związanego ze stosowaniem biomateriałów w medycynie Rodzaje badań: 1. Badania biofunkcyjności implantów, 2. Badania degradacji implantów w środowisku
Laboratorium badań materiałowych i technologicznych. dr inż. Tomasz Kurzynowski
Laboratorium badań materiałowych i technologicznych dr inż. Tomasz Kurzynowski Agenda Oferta badawcza Wyposażenie laboratorium Przykłady realizowanych badań Opracowanie i rozwój nowych materiałów Zastosowanie
Opis przedmiotu zamówienia
ZP/UR/169/2012 Zał. nr 1a do siwz Opis przedmiotu zamówienia A. Spektrometr ramanowski z mikroskopem optycznym: 1) Spektrometr ramanowski posiadający podwójny tor detekcyjny, wyposażony w chłodzony termoelektrycznie
RoHS-Vision / X-RoHS + SDD
Spektrometr EDXRF do analiz RoHS i w wersji full analysis RoHS-Vision / X-RoHS + SDD Szybka i prosta analiza substancji niebezpiecznych zgodnie z regulacjami prawnymi dotyczącymi ochrony środowiska RoHS
labmat.prz.edu.pl LABORATORIUM BADAŃ MATERIAŁÓW DLA PRZEMYSŁU LOTNICZEGO Politechnika Rzeszowska ul. W. Pola 2, 35-959 Rzeszów
labmat.prz.edu.pl LABORATORIUM BADAŃ MATERIAŁÓW DLA PRZEMYSŁU LOTNICZEGO Politechnika Rzeszowska ul. W. Pola 2, 35-959 Rzeszów Tel.: (17) 854 47 91 Fax: (17) 854 48 32 E-mail: jansien@prz.edu.pl Projekt
Wykaz norm. Lex norma badania nieniszczące
Lex norma badania nieniszczące - Lex norma badania nieniszczące L.p. Numer normy Tytuł Status 1. 2. 3. 4. 5. 6. 7. 8. 9. 10. 11. 12. 13. 14. 15. 16. PN-B-06264:1978 Wersja PN-B-19320:1999 Wersja PN-C-82055-4:1999
Aparatura do osadzania warstw metodami:
Aparatura do osadzania warstw metodami: Rozpylania mgnetronowego Magnetron sputtering MS Rozpylania z wykorzystaniem działa jonowego Ion Beam Sputtering - IBS Odparowanie wywołane impulsami światła z lasera
Dyfrakcja rentgenowska cz.2 Mikroskopia Sił Atomowych AFM
Zaawansowane Metody Badań Strukturalnych Dyfrakcja rentgenowska cz.2 Mikroskopia Sił Atomowych AFM Fazowa analiza ilościowa Obliczenia strukturalne prawo Vegarda Pomiary cienkich warstw Budowa mikroskopu
MIKROSKOPIA ELEKTRONOWA. Publikacja współfinansowana ze środków Unii Europejskiej w ramach Europejskiego Funduszu Społecznego
MIKROSKOPIA ELEKTRONOWA Publikacja współfinansowana ze środków Unii Europejskiej w ramach Europejskiego Funduszu Społecznego Tło historyczne Pod koniec XIX wieku stosowanie mikroskopów świetlnych w naukach
Techniki próżniowe (ex situ)
Techniki próżniowe (ex situ) Oddziaływanie promieniowania X z materią rearrangement X-ray photon X-ray emission b) rearrangement a) photoemission photoelectron Auger electron c) Auger/X-ray emission a)
WYBRANE MASYWNE AMORFICZNE I NANOKRYSTALICZNE STOPY NA BAZIE ŻELAZA - WYTWARZANIE, WŁAŚCIWOŚCI I ZASTOSOWANIE
WYBRANE MASYWNE AMORFICZNE I NANOKRYSTALICZNE STOPY NA BAZIE ŻELAZA - WYTWARZANIE, WŁAŚCIWOŚCI I ZASTOSOWANIE mgr inż. Marzena Tkaczyk Promotorzy: dr hab. inż. Jerzy Kaleta, prof. nadzw. PWr dr hab. Wanda
Zaawansowane Metody Badań Strukturalnych. Dyfrakcja rentgenowska cz.2 Mikroskopia Sił Atomowych AFM
Zaawansowane Metody Badań Strukturalnych Dyfrakcja rentgenowska cz.2 Mikroskopia Sił Atomowych AFM Rentgenowska fazowa analiza ilościowa Parametry komórki elementarnej Wielkości krystalitów Budowa mikroskopu
ZAPLECZE LABORATORYJNO-TECHNICZNE Wydział Nauk o Ziemi i Gospodarki Przestrzennej UMCS
Laboratorium TL i OSL (od V 2012) Pracownia Palinologiczna Pracownia Mikromorfologiczna Pracownia Mikropaleontologiczna Pracownia Monitoringu Meteorologicznego Pracownia Hydrochemii i Hydrometrii Pracownia
DEFEKTOSKOP ULTRADŹWIĘKOWY ECHOGRAPH 1090
DEFEKTOSKOP ULTRADŹWIĘKOWY ECHOGRAPH 1090 ECHOGRAPH 1090 Zawsze najlepszy wybór Kompaktowy, wytrzymały przenośny i szybki Nowy ECHOGRAPH 1090 jest idealnym urządzeniem do wykonywania manualnie badania
Spektrometry EDXRF do analizy metali szlachetnych X-PMA i w wersji przenośnej EX-PMA
Spektrometry EDXRF do analizy metali szlachetnych X-PMA i w wersji przenośnej EX-PMA Xenemetrix jest Izraelską wiodącą firmą z ponad 40 letnim doświadczeniem w projektowaniu, produkcji i dystrybucji spektrometrów
MatliX + MatliX MS. Urządzenie do wizyjnej kontroli wymiarów oraz kontroli defektów powierzchni
MatliX + MatliX MS Urządzenie do wizyjnej kontroli wymiarów oraz kontroli defektów powierzchni Matlix jest prostym urządzeniem do wizyjnej kontroli wymiarów i powierzchni komponentów o okrągłych oraz innych
SPM Scanning Probe Microscopy Mikroskopia skanującej sondy STM Scanning Tunneling Microscopy Skaningowa mikroskopia tunelowa AFM Atomic Force
SPM Scanning Probe Microscopy Mikroskopia skanującej sondy STM Scanning Tunneling Microscopy Skaningowa mikroskopia tunelowa AFM Atomic Force Microscopy Mikroskopia siły atomowej MFM Magnetic Force Microscopy
Laboratorium Materiałów Zol-Żelowych i Nanotechnologii Dolnośląskiego Centrum Zaawansowanych Technologii
Laboratorium Materiałów Zol-Żelowych i Nanotechnologii Dolnośląskiego Centrum Zaawansowanych Technologii Wydział Mechaniczny, Instytut Materiałoznawstwa i Mechaniki Technicznej Politechnika Wrocławska,
ĆWICZENIE NR 9. Zakład Budownictwa Ogólnego. Stal - pomiar twardości metali metodą Brinella
Zakład Budownictwa Ogólnego ĆWICZENIE NR 9 Stal - pomiar twardości metali metodą Brinella Instrukcja z laboratorium: Budownictwo ogólne i materiałoznawstwo Instrukcja do ćwiczenia nr 9 Strona 9.1. Pomiar
Grafen materiał XXI wieku!?
Grafen materiał XXI wieku!? Badania grafenu w aspekcie jego zastosowań w sensoryce i metrologii Tadeusz Pustelny Plan prezentacji: 1. Wybrane właściwości fizyczne grafenu 2. Grafen materiał 21-go wieku?
DOTYCZY: Sygn. akt SZ /12/6/6/2012
Warszawa dn. 2012-07-26 SZ-222-20/12/6/6/2012/ Szanowni Państwo, DOTYCZY: Sygn. akt SZ-222-20/12/6/6/2012 Przetargu nieograniczonego, którego przedmiotem jest " sprzedaż, szkolenie, dostawę, montaż i uruchomienie
Mikroskopia skaningowa tunelowa i siłowa
Zakład Fizyki Magnetyków Uniwersytet w Białymstoku Instytut Fizyki Doświadczalnej Lipowa 41, 15-424 Białystok Tel: (85) 7457228 http://physics.uwb.edu.pl/zfmag Mikroskopia skaningowa tunelowa i siłowa
ZAŁĄCZNIKI. do wniosku dotyczącego ROZPORZĄDZENIA PARLAMENTU EUROPEJSKIEGO I RADY
KOMISJA EUROPEJSKA Strasburg, dnia 12.6.2018 COM(2018) 474 final ANNEXES 1 to 2 ZAŁĄCZNIKI do wniosku dotyczącego ROZPORZĄDZENIA PARLAMENTU EUROPEJSKIEGO I RADY ustanawiającego, w ramach Funduszu Zintegrowanego
MIT-SCAN-T3. Precyzyjne urządzenie do nieniszczącego pomiaru grubości warstw nawierzchni asfaltowych oraz betonowych wg TP D-StB 12
MIT-SCAN-T3 Precyzyjne urządzenie do nieniszczącego pomiaru grubości warstw nawierzchni asfaltowych oraz betonowych wg TP D-StB 12 THE SMART PRECISION MIT-SCAN-T3 Precyzyjne urządzenie do nieniszczącego
2. Metody, których podstawą są widma atomowe 32
Spis treści 5 Spis treści Przedmowa do wydania czwartego 11 Przedmowa do wydania trzeciego 13 1. Wiadomości ogólne z metod spektroskopowych 15 1.1. Podstawowe wielkości metod spektroskopowych 15 1.2. Rola
Podstawy fizyki wykład 2
D. Halliday, R. Resnick, J.Walker: Podstawy Fizyki, tom 5, PWN, Warszawa 2003. H. D. Young, R. A. Freedman, Sear s & Zemansky s University Physics with Modern Physics, Addison-Wesley Publishing Company,
BADANIA WARSTW FE NANOSZONYCH Z ELEKTROLITU NA BAZIE ACETONU
BADANIA WARSTW FE NANOSZONYCH Z ELEKTROLITU NA BAZIE ACETONU W. OLSZEWSKI 1, K. SZYMAŃSKI 1, D. SATUŁA 1, M. BIERNACKA 1, E. K. TALIK 2 1 Wydział Fizyki, Uniwersytet w Białymstoku, Lipowa 41, 15-424 Białystok,
1 k. AFM: tryb bezkontaktowy
AFM: tryb bezkontaktowy Ramię igły wprowadzane w drgania o małej amplitudzie (rzędu 10 nm) Pomiar zmian amplitudy drgań pod wpływem sił (na ogół przyciągających) Zbliżanie igły do próbki aż do osiągnięcia
Spektroskopia ramanowska w badaniach powierzchni
Spektroskopia ramanowska w badaniach powierzchni z Efekt Ramana (1922, CV Raman) I, ν próbka y Chandra Shekhara Venketa Raman x I 0, ν 0 Monochromatyczne promieniowanie o częstości ν 0 ulega rozproszeniu
RFT-6000 Przystawka FT-Raman do spektrometru FT/IR-6300
RFT-6000 Przystawka FT-Raman do spektrometru FT/IR-6300 Model RFT-6000 został zaprojektowany w celu wykonywania szybkich, nieinwazyjnych analiz FT-Raman właściwie wszystkich możliwych próbek we współpracy
Spektrometr ICP-AES 2000
Spektrometr ICP-AES 2000 ICP-2000 to spektrometr optyczny (ICP-OES) ze wzbudzeniem w indukcyjnie sprzężonej plazmie (ICP). Wykorztystuje zjawisko emisji atomowej (ICP-AES). Umożliwia wykrywanie ok. 70
Wykaz urządzeń Lp Nazwa. urządzenia 1. Luksomierz TES 1332A Digital LUX METER. Przeznaczenie/ dane techniczne Zakres 0.. 200/2000/20000/ 200000 lux
Wykaz urządzeń Lp Nazwa urządzenia 1 Luksomierz TES 1332A Digital LUX METER Przeznaczenie/ dane techniczne Zakres 0 200/2000/20000/ 200000 lux 2 Komora klimatyczna Komora jest przeznaczona do badania oporu
Zastosowanie deflektometrii do pomiarów kształtu 3D. Katarzyna Goplańska
Zastosowanie deflektometrii do pomiarów kształtu 3D Plan prezentacji Metody pomiaru kształtu Deflektometria Zasada działania Stereo-deflektometria Kalibracja Zalety Zastosowania Przykład Podsumowanie Metody
h λ= mv h - stała Plancka (4.14x10-15 ev s)
Twórcy podstaw optyki elektronowej: De Broglie LV. 1924 hipoteza: każde ciało poruszające się ma przyporządkowaną falę a jej długość jest ilorazem stałej Plancka i pędu. Elektrony powinny więc mieć naturę
Przewaga klasycznego spektrometru Ramana czyli siatkowego, dyspersyjnego nad przystawką ramanowską FT-Raman
Porównanie Przewaga klasycznego spektrometru Ramana czyli siatkowego, dyspersyjnego nad przystawką ramanowską FT-Raman Spektroskopia FT-Raman Spektroskopia FT-Raman jest dostępna od 1987 roku. Systemy
SIGMACHECK. Przenośny miernik pomiaru przewodności właściwej prądami wirowymi. TechControl s.c. ul. Gdyńska Racibórz Poland
Przenośny miernik pomiaru przewodności właściwej prądami wirowymi SIGMACHECK Miernik przewodności właściwej Sigmacheck został zaprojektowany w sposób aby zapewnić najdokładniejszy pomiar, oferując użytkownikowi
SPECYFIKACJA TECHNICZNA ZESTAWU DO ANALIZY TERMOGRAWIMETRYCZNEJ TG-FITR-GCMS ZAŁĄCZNIK NR 1 DO ZAPYTANIA OFERTOWEGO
SPECYFIKACJA TECHNICZNA ZESTAWU DO ANALIZY TERMOGRAWIMETRYCZNEJ TG-FITR-GCMS ZAŁĄCZNIK NR 1 DO ZAPYTANIA OFERTOWEGO NR 113/TZ/IM/2013 Zestaw ma umożliwiać analizę termiczną próbki w symultanicznym układzie
PhoeniX. Urządzenie do wizyjnej kontroli wymiarów oraz kontroli defektów powierzchni
PhoeniX Urządzenie do wizyjnej kontroli wymiarów oraz kontroli defektów powierzchni Phoenix jest najnowszą odmianą naszego urządzenia do wizyjnej kontroli wymiarów, powierzchni przedmiotów okrągłych oraz
Materiały magnetyczne SMART : budowa, wytwarzanie, badanie właściwości, zastosowanie / Jerzy Kaleta. Wrocław, Spis treści
Materiały magnetyczne SMART : budowa, wytwarzanie, badanie właściwości, zastosowanie / Jerzy Kaleta. Wrocław, 2013 Spis treści Rozdział 1. Wprowadzenie 11 Rozdział 2. Kompozyty z udziałem cieczy magnetoreologicznych
I. Wstęp teoretyczny. Ćwiczenie: Mikroskopia sił atomowych (AFM) Prowadzący: Michał Sarna (sarna@novel.ftj.agh.edu.pl) 1.
Ćwiczenie: Mikroskopia sił atomowych (AFM) Prowadzący: Michał Sarna (sarna@novel.ftj.agh.edu.pl) I. Wstęp teoretyczny 1. Wprowadzenie Mikroskop sił atomowych AFM (ang. Atomic Force Microscope) jest jednym
OFERTA BADAŃ MATERIAŁOWYCH Instytutu Mechaniki i Informatyki Stosowanej Uniwersytetu Kazimierza Wielkiego
OFERTA BADAŃ MATERIAŁOWYCH Instytutu Mechaniki i Informatyki Stosowanej Uniwersytetu Kazimierza Wielkiego Mariusz Kaczmarek J. Kubik, M. Cieszko, R. Drelich, M. Pakuła, M. Macko, K. Tyszczuk, J. Łukowski,
SZCZEGÓŁOWY OPIS PRZEDMIOTU ZAMÓWIENIA
Załącznik nr 1 do SIWZ Znak sprawy: KA-2/124/2010 SZCZEGÓŁOWY OPIS PRZEDMIOTU ZAMÓWIENIA Zadanie nr 1 Dostawa mikroskopu i spektrometru FT-IR Przedmiotem zamówienia jest dostawa mikroskopu i spektrometru
Centrum Badań i Rozwoju Nowoczesnych Technologii
Centrum Badań i Rozwoju Nowoczesnych Technologii GMINA NEKLA GMINA WRZEŚNIA POZNAŃ GMINA KOŁACZKOWO KONIN współpraca na linii nauka - przemysł GMINA MIŁOSŁAW GMINA PYZDRY Września, 24 marca 2017 rok Zmiany
SZCZEGÓŁOWY OPIS PRZEDMIOTU ZAMÓWIENIA
Załącznik nr 1 do SIWZ Znak sprawy: Zarządzenie nr 17/2017 Myślenice, dnia 006.2017 r. Zmiana Załącznika nr 1 do SIWZ SZCZEGÓŁOWY OPIS PRZEDMIOTU ZAMÓWIENIA Zgodnie z art. 38 ust. 4 Prawa zamówień publicznych
Przegląd niwelatorów laserowych
Przegląd niwelatorów laserowych NOWE PR 3-HVSG PR 2-HS A12 PR 30-HVS PR 30-HVSG Niwelator laserowy Niwelator laserowy Niwelator laserowy Niwelator laserowy Wenątrz Na zewnątrz Na zewnątrz Wenątrz / Na
Nowoczesne metody metalurgii proszków. Dr inż. Hanna Smoleńska Materiały edukacyjne DO UŻYTKU WEWNĘTRZNEGO Część III
Nowoczesne metody metalurgii proszków Dr inż. Hanna Smoleńska Materiały edukacyjne DO UŻYTKU WEWNĘTRZNEGO Część III Metal injection moulding (MIM)- formowanie wtryskowe Metoda ta pozwala na wytwarzanie
Przegląd rodziny produktów. OL1 Dokładne prowadzenie po torze na pełnej szerokości taśmy CZUJNIKI POMIARU PRZEMIESZCZEŃ
Przegląd rodziny produktów OL1 Dokładne prowadzenie po torze na pełnej szerokości taśmy Zalety A PROWADZENIE PO TORZE NA PEŁNEJ CI B TAŚMY C D Precyzyjne wykrywanie w zakresie mikrometrów E F Z uwagi na
GONIOMETR DSA25 SPECYFIKACJA
GONIOMETR DSA25 SPECYFIKACJA Goniometr DSA 25 Kruss - analizator kształtu kropli i napięcia powierzchniowego (metoda kropli zawieszonej - Pendant Drop). Służy do analizy procesów: zwilżania i adhezji (na
Sondy wymienne 456C. Elcometer oferuje szeroki zakres wymiennych sond pomiarowych, różnych typów i różnych zakresów:
Sondy wymienne 456C Elcometer oferuje szeroki zakres wymiennych sond pomiarowych, różnych typów i różnych zakresów: SONDY PROSTE: Pomiar na powierzchniach płaskich i krzywiznach SONDY KĄTOWE: Pomiar w
LABORATORIUM DYFRAKCJI RENTGENOWSKIEJ (L-3)
LABORATORIUM DYFRAKCJI RENTGENOWSKIEJ (L-3) Posiadane uprawnienia: ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO NR AB 120 wydany przez Polskie Centrum Akredytacji Wydanie nr 5 z 18 lipca 2007 r. Kierownik
Promotor: prof. nadzw. dr hab. Jerzy Ratajski. Jarosław Rochowicz. Wydział Mechaniczny Politechnika Koszalińska
Promotor: prof. nadzw. dr hab. Jerzy Ratajski Jarosław Rochowicz Wydział Mechaniczny Politechnika Koszalińska Praca magisterska Wpływ napięcia podłoża na właściwości mechaniczne powłok CrCN nanoszonych
Poza tym zaawansowanym systemem elektromechanicznego zadawania siły, FALCON oferuje najwyższą jakość mechaniczną i optyczną wszystkich komponentów.
FALCON 500 Seria twardościomierzy micro Vickersa, Vickersa oraz Brinella FALCON 500 to najnowsze osiągniecie firmy INNOVATEST. Jest to zupełnie nowa generacja twardościomierzy eliminująca błąd użytkownika
Politechnika Lubelska Wydział Elektrotechniki i Informatyki Katedra Urządzeń Elektrycznych i Techniki Wysokich Napięć. Dr hab.
Politechnika Lubelska Wydział Elektrotechniki i Informatyki Katedra Urządzeń Elektrycznych i Techniki Wysokich Napięć Dr hab. Paweł Żukowski Materiały magnetyczne Właściwości podstawowych materiałów magnetycznych
ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 342
ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 342 wydany przez POLSKIE CENTRUM AKREDYTACJI 01-382 Warszawa ul. Szczotkarska 42 Wydanie nr 13, Data wydania: 22 kwietnia 2015 r. Nazwa i adres INSTYTUT
LABORATORIUM ANALITYCZNEJ MIKROSKOPII ELEKTRONOWEJ (L - 2)
LABORATORIUM ANALITYCZNEJ MIKROSKOPII ELEKTRONOWEJ (L - 2) Posiadane uprawnienia: ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO NR AB 120 wydany przez Polskie Centrum Akredytacji Wydanie nr 5 z 18 lipca 2007
Rok akademicki: 2015/2016 Kod: MIM-2-205-IS-n Punkty ECTS: 5. Kierunek: Inżynieria Materiałowa Specjalność: Inżynieria spajania
Nazwa modułu: Nieniszczące metody badań połączeń spajanych Rok akademicki: 2015/2016 Kod: MIM-2-205-IS-n Punkty ECTS: 5 Wydział: Inżynierii Metali i Informatyki Przemysłowej Kierunek: Inżynieria Materiałowa
Ultrasonograficzne mierniki grubości materiału. Seria MTG & PTG
Ultrasonograficzne mierniki grubości materiału. Seria MTG & PTG Ergonomiczne, solidne i dokładne mierniki pozwalają na wykonywanie pomiarów grubości materiałów a różne możliwości różnych modeli pozwalają
ScrappiX. Urządzenie do wizyjnej kontroli wymiarów oraz kontroli defektów powierzchni
ScrappiX Urządzenie do wizyjnej kontroli wymiarów oraz kontroli defektów powierzchni Scrappix jest innowacyjnym urządzeniem do kontroli wizyjnej, kontroli wymiarów oraz powierzchni przedmiotów okrągłych
Meraserw-5 s.c Szczecin, ul.gen.j.bema 5, tel.(91) , fax (91) ,
Meraserw-5 s.c. 70-312 Szczecin, ul.gen.j.bema 5, tel.(91)484-21-55, fax (91)484-09-86, e-mail: handel@meraserw5.pl, www.meraserw.szczecin.pl Poniżej ceny fabryczne Metrison Na stronie www.meraserw5.pl
CIENKOŚCIENNE KONSTRUKCJE METALOWE
CIENKOŚCIENNE KONSTRUKCJE METALOWE Wykład 2: Materiały, kształtowniki gięte, blachy profilowane MATERIAŁY Stal konstrukcyjna na elementy cienkościenne powinna spełniać podstawowe wymagania stawiane stalom:
845_Mailing_PL.qxd :05 Seite 1 Rozmiar rzeczy- wisty
845_Mailing_PL.qxd 29.03.2006 11:05 Seite 1 Rozmiar rzeczywisty 845_Mailing_PL.qxd 29.03.2006 11:05 Seite 2 Przygotuj się na przyszłość NOWOŚĆ w bezdotykowym pomiarze temperatury - Mała plamka pomiarowa
N C S. NIP: VAT UE: PL REGON: Lukas Bank SA
Farby Lakiery Mierniki Antykorozja www.lakiery.info FeSa2 ½ PN-EN ISO 12944 P.H.U. AKO N C S P.H.U AKO mgr inż. Ardalion Michalak 81-310 Gdynia, ul. Śląska 58 tel+48 60 723-28-24 fax/tel +48 58 698-7-585
Jonizacja plazmą wzbudzaną indukcyjnie (ICP)
Jonizacja plazmą wzbudzaną indukcyjnie (ICP) Inductively Coupled Plasma Ionization Opracowane z wykorzystaniem materiałów dr Katarzyny Pawlak z Wydziału Chemicznego PW Schemat spektrometru ICP MS Rozpylacz
Laboratorium Mikroskopii Elektronowej
Laboratorium Mikroskopii Elektronowej Laboratorium ma na wyposażeniu następujące narzędzia analityczne: spektroskop fotoelektronów XPS ESCALAB 250Xi firmy ThermoScience; umożliwiający pomiary w trybach
Technologie laserowe w przemyśle:
Technologie laserowe w przemyśle: od laserów rubinowych do laserów włóknowych Bernard Rzany 1 Treść wykładu Pierwsze lasery i ich zastosowania Podstawy fizyki laserowej Kamienie milowe w rozwoju technologii
8. PRZYWRÓCENIE USTAWIEŃ FABRYCZNYCH
8. PRZYWRÓCENIE USTAWIEŃ FABRYCZNYCH 8.1 Kiedy przywrócić? Zaleca się, aby przywrócić ustawienia fabryczne w jednym z następujących przypadków: A. Miernik nie dokonuje pomiaru. B. Dokładność pomiaru ulega
UCZESTNICY POSTĘPOWANIA
ATI 55, 57/II/LJ/2007 Bielsko-Biała 22.02.2007r. UCZESTNICY POSTĘPOWANIA Dotyczy: Postępowania prowadzonego w trybie przetargu nieograniczonego powyŝej 60 000 euro na: Dostawa spektrofotometru z oprzyrządowaniem
Chemia i Dynamika Związków Koordynacyjnych - badania korelacji między strukturą i właściwościami związków metali przejściowych.
Badania naukowe na Wydziale Chemii Uniwersytetu Wrocławskiego Chemia Strukturalna - badania struktury elektronowej i molekularnej związków koordynacyjnych, metaloorganicznych i organicznych. Chemia i Dynamika
ZAKŁAD BADANIA MATERIAŁÓW
ZAKŁAD BADANIA MATERIAŁÓW ZAKŁAD BADANIA MATERIAŁÓW Badania materiałowe Badania mechaniczne materiałów metalicznych: - statyczne próby wytrzymałościowe (rozciągania, ściskania, zginania), - nisko i wysokocyklowe
SquezeeX. Urządzenie do wizyjnej kontroli wymiarów oraz kontroli defektów powierzchni
SquezeeX Urządzenie do wizyjnej kontroli wymiarów oraz kontroli defektów powierzchni SQUEZEEX jest urządzeniem do kontroli wizyjnej, kontroli wymiarów oraz powierzchni oringów oraz ogólnie rzecz biorąc
Zaawansowane Metody Badań Strukturalnych. Badania strukturalne materiałów Badania właściwości materiałów
Zaawansowane Metody Badań Strukturalnych Badania strukturalne materiałów Badania właściwości materiałów Zaawansowane Metody Badań Strukturalnych 1. Struktura próbki a metoda badań strukturalnych 2. Podział
FORMULARZ OFERTY-SPECYFIKACJA
FORMULARZ OFERTY-SPECYFIKACJA załącznik nr 1a do SIWZ nr postępowania: BZP.2410.5.2018.BD Postępowanie przetargowe pn.: Dostawa, instalacja i uruchomienie fabrycznie nowego elektronowego mikroskopu skaningowego
S-MOBILE / S-MOBILE ULS
S-MOBILE / S-MOBILE ULS Przenośny spektrometr EDXRF Przenośny spektrometr XRF o parametrach stacjonarnego Detektor SDD o rozdzielczości 125 ev Analizy jakościowe i ilościowe od sub-ppm do 100% Szybkie
Rozwiązania firmy Harrer & Kassen do pomiaru gęstości i wilgotności
Rozwiązania firmy Harrer & Kassen do pomiaru gęstości i wilgotności Firma Biosens specjalizuje się w spektroskopii. Od czterech lat dostarcza spektrofotometry do pomiaru barwy (zarówno w laboratorium jak
Nazwa przedmiotu INSTRUMENTARIUM BADAWCZE W INŻYNIERII MATERIAŁOWEJ Instrumentation of research in material engineering
Nazwa przedmiotu INSTRUMENTARIUM BADAWCZE W INŻYNIERII MATERIAŁOWEJ Instrumentation of research in material engineering Kierunek: Inżynieria materiałowa Rodzaj przedmiotu: kierunkowy obowiązkowy Rodzaj
ANALIZA POWIERZCHNI BADANIA POWIERZCHNI
Analiza ciała stałego ANALIZA POWIERZCHNI ANALIZA CAŁEJ OBJTOCI CIAŁO STAŁE ANALIZA POWIERZCHNI METODY NISZCZCE METODY NIENISZCZCE Metody niszczce: - przeprowadzenie do roztworu (rozpuszczanie, roztwarzanie
2. Lepkość za pomocą kubków wypływowych PN-EN ISO 2431
Powłokowe zabezpieczenia powierzchni metalowych Badania Laboratoryjne l.p. Oznaczana własność farb i powłok oraz stanu powierzchni Norma Badania farb 1. Gęstość PN-EN ISO 2811 2. Lepkość za pomocą kubków
Spektroskopia charakterystycznych strat energii elektronów EELS (Electron Energy-Loss Spectroscopy)
Spektroskopia charakterystycznych strat energii elektronów EELS (Electron Energy-Loss Spectroscopy) Oddziaływanie elektronów ze stałą, krystaliczną próbką wstecznie rozproszone elektrony elektrony pierwotne
Program studiów II stopnia dla studentów kierunku chemia od roku akademickiego 2015/16
Program studiów II stopnia dla studentów kierunku chemia od roku akademickiego 2015/16 Semestr 1M Przedmioty minimum programowego na Wydziale Chemii UW L.p. Przedmiot Suma godzin Wykłady Ćwiczenia Prosem.
AFM. Mikroskopia sił atomowych
AFM Mikroskopia sił atomowych Siły van der Waalsa F(r) V ( r) = c 1 r 1 12 c 2 r 1 6 Siły van der Waalsa Mod kontaktowy Tryby pracy AFM związane z zależnością oddziaływania próbka ostrze od odległości
NOWOCZESNE TECHNIKI BADAWCZE W INŻYNIERII MATERIAŁOWEJ. Beata Grabowska, pok. 84A, Ip
NOWOCZESNE TECHNIKI BADAWCZE W INŻYNIERII MATERIAŁOWEJ Beata Grabowska, pok. 84A, Ip http://home.agh.edu.pl/~graboska/ Mikroskopia Słowo mikroskop wywodzi się z języka greckiego: μικρός - mikros "mały
LCPRO T INTELIGENTNY SYSTEM DO POMIARU WYMIANY GAZOWEJ INTENSYWNOŚCI FOTOSYNTEZY. Możliwość pełnej kontroli mikroklimatu w komorze pomiarowej!
LCPRO T INTELIGENTNY SYSTEM DO POMIARU WYMIANY GAZOWEJ INTENSYWNOŚCI FOTOSYNTEZY Możliwość pełnej kontroli mikroklimatu w komorze pomiarowej! Numer katalogowy: LCpro T OPIS Ekran dotykowy wbudowany odbiornik
Badanie dylatometryczne żeliwa w zakresie przemian fazowych zachodzących w stanie stałym
PROJEKT NR: POIG.1.3.1--1/ Badania i rozwój nowoczesnej technologii tworzyw odlewniczych odpornych na zmęczenie cieplne Badanie dylatometryczne żeliwa w zakresie przemian fazowych zachodzących w stanie
Szybkie i precyzyjne termometry na podczerwień
Szybkie i precyzyjne termometry na podczerwień Bezdotykowe pomiary temperatury pirometrami Testo Firma Testo to od wielu lat lider w sektorze technologii pomiarowej na całym świecie. By utrzymać dominującą
AM350 PRZENOŚNY SKANER POWIERZCHNI LIŚCI. Pomiar powierzchni liści w terenie. Numer katalogowy: N/A OPIS
AM350 PRZENOŚNY SKANER POWIERZCHNI LIŚCI Pomiar powierzchni liści w terenie Numer katalogowy: N/A OPIS NIENISZCZĄCE POMIARY CAŁKOWITEJ I CHOREJ POWIERZCHNI LIŚCI Obraz wyświetlany w czasie rzeczywistym
Najnowszej generacji długościomierz z trzema osiami sterowanymi w trybie CNC
Renens, Lipiec 2009 Trimos S.A. Av.de Longe m alle 5 C H- 1020 Renens T. +41 21 633 01 12 F. +41 21 633 01 02 Najnowszej generacji długościomierz z trzema osiami sterowanymi w trybie CNC Najwyższa dokładność
ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 342
ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 342 wydany przez POLSKIE CENTRUM AKREDYTACJI 01-382 Warszawa ul. Szczotkarska 42 Wydanie nr 8, Data wydania: 17 września 2009 r. Nazwa i adres organizacji
FLUORYMETR - MIERNIK STRESU OS30P+ Pomiar fluorescencji chlorofilu. Numer katalogowy: N/A OPIS SZYBKIE WYKRYWANIE STRESU U ROŚLIN
FLUORYMETR - MIERNIK STRESU OS30P+ Pomiar fluorescencji chlorofilu Numer katalogowy: N/A OPIS SZYBKIE WYKRYWANIE STRESU U ROŚLIN Zaawansowany, ręczny miernik do szybkich analiz Fv/Fm oraz OJIP. Niewielki
Forum BIZNES- NAUKA Obserwatorium. Kliknij, aby edytować styl wzorca podtytułu. NANO jako droga do innowacji
Forum BIZNES- NAUKA Obserwatorium Kliknij, aby edytować styl wzorca podtytułu NANO jako droga do innowacji Uniwersytet Śląski w Katowicach Oferta dla partnerów biznesowych Potencjał badawczy Założony w
Potencjał technologiczny i produkcyjny PCO S.A. w zakresie wytwarzania urządzeń termowizyjnych
Seminarium Termowizja: Projekty badawcze i wdrożenia przemysłowe XXII MSPO Kielce, 02.09.2014 r. Potencjał technologiczny i produkcyjny PCO S.A. w zakresie wytwarzania urządzeń termowizyjnych Jerzy Wiśnioch,
Analizator mleka z licznikiem komórek somatycznych LACTOSCAN COMBO
Analizator mleka z licznikiem komórek somatycznych LACTOSCAN COMBO LACTOSCAN COMBO to połączenie dwóch osobnych urządzeń licznika komórek somatycznych SCC oraz ultradźwiękowego analizatora mleka w jednym
Wartość brutto (zł) CZĘŚĆ 5 - ZAKUP POMOCY DYDAKTYCZNYCH NA POTRZEBY KURSU METROLOGII. Jednostka miary. Ilość. szt. 20. kpl.
OR.272.1.2019.KSZCH. Załącznik Nr 2d do SIWZ FORMULARZ CENOWY (pieczęć Wykonawcy) DLA CZĘŚCI 5 Formularz cenowy do Części 5 zamówienia "Zakup i dostawa sprzętów i pomocy dydaktycznych wraz z wyposażeniem
LABORATORIUM SPEKTRALNEJ ANALIZY CHEMICZNEJ (L-6)
LABORATORIUM SPEKTRALNEJ ANALIZY CHEMICZNEJ (L-6) Posiadane uprawnienia: ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO NR AB 120 wydany przez Polskie Centrum Akredytacji Wydanie nr 5 z 18 lipca 2007 r. Kierownik