Laser półprzewodnikowy

Podobne dokumenty
Laser półprzewodnikowy

Laser półprzewodnikowy

Laser z podwojeniem częstotliwości

!!!DEL są źródłami światła niespójnego.

n n 1 2 = exp( ε ε ) 1 / kt = exp( hν / kt) (23) 2 to wzór (22) przejdzie w następującą równość: ρ (ν) = B B A / B 2 1 hν exp( ) 1 kt (24)

Ćwiczenie nr 71: Dyfrakcja światła na szczelinie pojedynczej i podwójnej

Trzy rodzaje przejść elektronowych między poziomami energetycznymi

Badanie właściwości laserów i wyznaczanie temperatury Debye a nowe ćwiczenia w pracowniach studenckich WFiIS

Ćwiczenie 363. Polaryzacja światła sprawdzanie prawa Malusa. Początkowa wartość kąta 0..

LASERY I ICH ZASTOSOWANIE

WYZNACZANIE STAŁEJ PLANCKA Z POMIARU CHARAKTERYSTYK PRĄDOWO-NAPIĘCIOWYCH DIOD ELEKTROLUMINESCENCYJNYCH. Irena Jankowska-Sumara, Magdalena Krupska

PODSTAWY FIZYKI LASERÓW Wstęp

ĆWICZENIE Nr 4 LABORATORIUM FIZYKI KRYSZTAŁÓW STAŁYCH. Badanie krawędzi absorpcji podstawowej w kryształach półprzewodników POLITECHNIKA ŁÓDZKA

I. PROMIENIOWANIE CIEPLNE

E12. Wyznaczanie parametrów użytkowych fotoogniwa

Ćwiczenie nr 34. Badanie elementów optoelektronicznych

1 Źródła i detektory. I. Badanie charakterystyki spektralnej nietermicznych źródeł promieniowania elektromagnetycznego

UNIWERSYTET SZCZECIŃSKI INSTYTUT FIZYKI ZAKŁAD FIZYKI CIAŁA STAŁEGO. Ćwiczenie laboratoryjne Nr.2. Elektroluminescencja

Rekapitulacja. Detekcja światła. Rekapitulacja. Rekapitulacja

Lasery. Własności światła laserowego Zasada działania Rodzaje laserów

Sprzęganie światłowodu z półprzewodnikowymi źródłami światła (stanowisko nr 5)

Struktura pasmowa ciał stałych

Fotoelementy. Symbole graficzne półprzewodnikowych elementów optoelektronicznych: a) fotoogniwo b) fotorezystor

Optyka. Wykład XII Krzysztof Golec-Biernat. Dyfrakcja. Laser. Uniwersytet Rzeszowski, 17 stycznia 2018

Laboratorium techniki laserowej Ćwiczenie 2. Badanie profilu wiązki laserowej

Ćwiczenie nr 123: Dioda półprzewodnikowa

IA. Fotodioda. Cel ćwiczenia: Pomiar charakterystyk prądowo - napięciowych fotodiody.

Problemy optyki falowej. Teoretyczne podstawy zjawisk dyfrakcji, interferencji i polaryzacji światła.

Rezonatory ze zwierciadłem Bragga

Fizyka elektryczność i magnetyzm

Pomiar drogi koherencji wybranych źródeł światła

BADANIE CHARAKTERYSTYK FOTOELEMENTU

Lasery półprzewodnikowe. przewodnikowe. Bernard Ziętek

WYZNACZANIE DŁUGOŚCI FALI ŚWIETLNEJ ZA POMOCĄ SIATKI DYFRAKCYJNEJ

Wyznaczanie wartości współczynnika załamania

Przerwa energetyczna w germanie

Teoria pasmowa. Anna Pietnoczka

Efekt fotoelektryczny

Przejścia promieniste

Ćwiczenie 1 LABORATORIUM ELEKTRONIKI POLITECHNIKA ŁÓDZKA KATEDRA PRZYRZĄDÓW PÓŁPRZEWODNIKOWYCH I OPTOELEKTRONICZNYCH

Stanowisko do pomiaru fotoprzewodnictwa

E12. Wyznaczanie parametrów użytkowych fotoogniwa

Stanowisko do badania zjawiska tłumienia światła w ośrodkach materialnych

Ćwiczenie 375. Badanie zależności mocy promieniowania cieplnego od temperatury. U [V] I [ma] R [ ] R/R 0 T [K] P [W] ln(t) ln(p)

UMO-2011/01/B/ST7/06234

Ćw. III. Dioda Zenera

Badanie dynamiki rekombinacji ekscytonów w zawiesinach półprzewodnikowych kropek kwantowych PbS

WYZNACZENIE STAŁEJ PLANCKA NA PODSTAWIE CHARAKTERYSTYKI DIODY ELEKTROLUMINESCENCYJNEJ

Fizyka kwantowa. promieniowanie termiczne zjawisko fotoelektryczne. efekt Comptona dualizm korpuskularno-falowy. kwantyzacja światła

Niezwykłe światło. ultrakrótkie impulsy laserowe. Piotr Fita

BADANIA MODELOWE OGNIW SŁONECZNYCH

Skończona studnia potencjału

GŁÓWNE CECHY ŚWIATŁA LASEROWEGO

Ile wynosi całkowite natężenie prądu i całkowita oporność przy połączeniu równoległym?

OPTYKA FALOWA I (FTP2009L) Ćwiczenie 2. Dyfrakcja światła na szczelinach.

Kwantowe własności promieniowania, ciało doskonale czarne, zjawisko fotoelektryczne zewnętrzne.

Katedra Fizyki Ciała Stałego Uniwersytetu Łódzkiego. Ćwiczenie 1 Badanie efektu Faraday a w monokryształach o strukturze granatu

Ćwiczenie E17 BADANIE CHARAKTERYSTYK PRĄDOWO-NAPIĘCIOWYCH MODUŁU OGNIW FOTOWOLTAICZNYCH I SPRAWNOŚCI KONWERSJI ENERGII PADAJĄCEGO PROMIENIOWANIA

BADANIE PROMIENIOWANIA CIAŁA DOSKONALE CZARNEGO

Właściwości światła laserowego

J14. Pomiar zasięgu, rozrzutu zasięgu i zdolności hamującej cząstek alfa w powietrzu PRZYGOTOWANIE

VI. Elementy techniki, lasery

Ćwiczenie nr 2. Pomiar energii promieniowania gamma metodą absorpcji

BADANIE ZEWNĘTRZNEGO ZJAWISKA FOTOELEKTRYCZNEGO

Rys. 1 Interferencja dwóch fal sferycznych w punkcie P.

ZADANIE 111 DOŚWIADCZENIE YOUNGA Z UŻYCIEM MIKROFAL

WYZNACZANIE DŁUGOŚCI FALI ŚWIETLNEJ ZA POMOCĄ SIATKI DYFRAKCYJNEJ

Ćwiczenie nr 5 Doświadczenie Franka-Hertza. Pomiar energii wzbudzenia atomów neonu.

Badanie charakterystyki diody

Lasery. Własności światła laserowego Zasada działania Rodzaje laserów

Własności światła laserowego

Politechnika Warszawska Instytut Mikroelektroniki i Optoelektroniki Zakład Optoelektroniki

E104. Badanie charakterystyk diod i tranzystorów

LASERY I ICH ZASTOSOWANIE W MEDYCYNIE

Repeta z wykładu nr 5. Detekcja światła. Plan na dzisiaj. Złącze p-n. złącze p-n

LASERY I ICH ZASTOSOWANIE

Ćwiczenie ELE. Jacek Grela, Łukasz Marciniak 3 grudnia Rys.1 Schemat wzmacniacza ładunkowego.

WYZNACZANIE DŁUGOŚCI FALI ŚWIETLNEJ ZA POMOCĄ SIATKI DYFRAKCYJNEJ

40. Międzynarodowa Olimpiada Fizyczna Meksyk, lipca 2009 r. DWÓJŁOMNOŚĆ MIKI

Uniwersytet Warszawski Wydział Fizyki. Badanie efektu Faraday a w kryształach CdTe i CdMnTe

Systemy laserowe. dr inż. Adrian Zakrzewski dr inż. Tomasz Baraniecki

Cel ćwiczenia: Wyznaczenie szerokości przerwy energetycznej przez pomiar zależności oporności elektrycznej monokryształu germanu od temperatury.

Lasery. Własności światła laserowego Zasada działania Rodzaje laserów

Ponadto, jeśli fala charakteryzuje się sferycznym czołem falowym, powyższy wzór można zapisać w następujący sposób:

Ćwiczenie 1. Parametry statyczne diod LED

CECHOWANIE TERMOELEMENTU Fe-Mo I WYZNACZANIE PUNKTU INWERSJI

TEORIA PASMOWA CIAŁ STAŁYCH

Ćwiczenie 12 (44) Wyznaczanie długości fali świetlnej przy pomocy siatki dyfrakcyjnej

LABORATORIUM FIZYKI PAŃSTWOWEJ WYŻSZEJ SZKOŁY ZAWODOWEJ W NYSIE

IV. Wyznaczenie parametrów ogniwa słonecznego

Źródła i 1detektory IV. ZJAWISKO FOTOELEKTRYCZNE WEWNĘTRZNE W PÓŁPRZEWODNIKACH.

Nazwisko i imię: Zespół: Data: Ćwiczenie nr 9: Swobodne spadanie

Teoria pasmowa ciał stałych Zastosowanie półprzewodników

GWIEZDNE INTERFEROMETRY MICHELSONA I ANDERSONA

Ćwiczenie 134. Ogniwo słoneczne

Ć W I C Z E N I E N R J-1

Technika laserowa. dr inż. Sebastian Bielski. Wydział Fizyki Technicznej i Matematyki Stosowanej PG

Wytwarzanie niskowymiarowych struktur półprzewodnikowych

Instrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego nr 13

Transkrypt:

Ćwiczenie 86 Laser półprzewodnikowy Cel ćwiczenia Badanie właściwości lasera półprzewodnikowego. W ćwiczeniu wyznacza się: długość fali światła lasera, moc i sprawność lasera, próg akcji laserowej, polaryzację i profil poprzeczny wiązki. Wprowadzenie Laserem nazywamy źródło światła, w którym światło wytwarzane jest w procesie wymuszonej emisji promieniowania. (W zwykłych źródłach światła, od palącego się ogniska do diody świecącej, zachodzi emisja spontaniczna.) Wykorzystanie emisji wymuszonej jest źródłem niezwykłych własności wiązki światła lasera, którą cechuje: (a) równoległość (mały kąt rozbieżności), (b) monochromatyczność (c) duży stopień polaryzacji (d) duża gęstość mocy (e) obok pracy ciągłej, możliwe jest wytwarzania b. krótkich impulsów światła (nawet femtosekundowych) Zjawisko emisji wymuszonej jako podstawa działania laserów Dla zrozumienia działania lasera wykorzystać trzeba elementy kwantowej teorii oddziaływania światła z materią. Od czasu modelu Bohra stało się jasne, że emisja względnie absorpcja fotonów związana jest z przejściami między poziomami energetycznymi układu kwantowego (atomu, cząsteczki czy ciała stałego). Układ kwantowy ma zazwyczaj dużo różnych poziomów energetycznych, ale jak długo rozpatrujemy jego oddziaływanie ze światłem o energii fotonu hν wystarczy rozpatrywać tylko te dwa, dla których zachodzi związek wynikający z prawa zachowania energii: E k E i = h ν. (1) W procesie absorpcji (rys. 1a) padający foton o energii hν znika, a jego energia idzie na przeniesienie elektronu z poziomu niższego o energii E i na wyższy E k. W procesie emisji spontanicznej elektron przechodzi z poziomu wyższego na niższy, a różnica energii jest wypromieniowana w formie fotonu (rys. 1b). Ważnym parametrem emisji spontanicznej jest jego prawdopodobieństwo zajścia w czasie, które ilościowo opisuje parametr zwany średnim czasem życia τ. Wydawać by się mogło, że te dwa procesy wyczerpują wszystkie możliwości. Trzeba było geniuszu Alberta Einsteina, by teoretycznie przewidzieć (praca z 1917 r), że istnieje trzecia możliwość emisja wymuszona. Nazwana jest tak dlatego że, jak pokazuje rys. 1c, padający foton o energii hν wymusza przejście układu kwantowego ze stanu o energii 1

wyższej do niższej. Różnica energii idzie na wytworzenie drugiego fotonu. Obydwa fotony są pod każdym względem identyczne mają tą samą energię, kierunek czy stan polaryzacji. Najważniejszym rezultatem ilościowym analizy Einsteina było dowiedzenie, że prawdopodobieństwa absorpcji oraz emisji wymuszonej są takie same niezależnie od rodzaju rozpatrywanego układu kwantowego. Rys. 1. Trzy elementarne procesy opisujące oddziaływanie fotonu z układem kwantowym: a) absorpcja, b) emisja spontaniczna, c) emisja wymuszona. Przeprowadźmy zatem doświadczenie myślowe: rzucamy grupę fotonów na zespół atomów, z których N i jest w stanie o energii niższej E i, zaś N k w stanie o energii wyższej E k. W stanie równowagi termodynamicznej liczba atomów o energii wyższej jest zawsze mniejsza, N k < N i, co opisuje ilościowo rozkład Boltzmanna: Nk E k Ei = exp. (2) Ni kbt Jeżeli prawdopodobieństwo wystąpienia każdego z procesów są takie same, sumaryczna liczba aktów absorpcji będzie większa od liczby aktów emisji wymuszonej i fotonów będzie coraz mniej padająca wiązka będzie pochłaniana. Jeżeli jednak wytworzymy stan, w którym liczba atomów w stanie o wyższej energii będzie większa od liczby atomów w stanie o niższej energii, N k > N i, to procesy emisji wymuszonej zaczną przeważać nad procesami absorpcji. Uzyskanie stanu, dla którego zachodzi taka inwersja obsadzeń, jest możliwe na koszt energii dostarczonej z zewnątrz. Proces ten zwany jest potocznie pompowaniem. Inwersja obsadzeń jest warunkiem koniecznym, ale niewystarczającym do powstania samorzutnej generacji światła spójnego. Drugim warunkiem jest, by część fotonów wracała z powrotem do ośrodka czynnego, czyli realizacja dodatniego sprzężenia zwrotnego. W przypadku laserów gazowych stosowane są półprzezroczyste zwierciadła zewnętrzne, w laserach półprzewodnikowych wystarcza odbicie części światła od gładkiej powierzchni 2

kryształu półprzewodnika. Ośrodek czynny będący wzmacniaczem światła, razem z układem sprzężenia zwrotnego, tworzą samowzbudny generator fali świetlnej czyli laser. Wielka różnorodność rodzajów laserów wynika z wyboru ośrodka czynnego, którym może być gaz atomowy (np. laser He-Ne, argonowy), gaz cząsteczkowy (laser CO 2 ), ciecz (lasery barwnikowe) czy różne rodzaje ciała stałego. Różne też są sposoby uzyskania inwersji obsadzeń. Zobaczmy, jak ogólne zasady działania lasera realizowane są w przypadku najpowszechniej używanych laserów półprzewodnikowych. Laser półprzewodnikowy Lasery półprzewodnikowe nazywane są też diodami laserowymi, bo ich konstrukcja jest rozwinięciem diody świecącej i wykorzystuje te same rodzaje półprzewodników. Dioda świecąca to w najprostszym przypadku złącze p-n spolaryzowane w kierunku przewodzenia. Swobodne elektrony z obszaru n oraz swobodne dziury z obszaru p płyną naprzeciw siebie i spotykają się w obszarze złącza. Elektron z pasma przewodnictwa przeskakuje do pasma walencyjnego zapełniając dziurę. W efekcie obydwie kwazicząstki znikają, a energia związana z przeskokiem (równanie (1)) wyemitowana jest w postaci fotonu. Proces taki, nazwany rekombinacją promienistą, zachodzi z wystarczającą wydajnością w półprzewodnikach z tzw. prostą przerwą energetyczną. Najczęściej wykorzystywane są związki pierwiastków grupy III i V układu okresowego. Energia wyemitowanego fotonu jest w przybliżeniu równa szerokości przerwy, hν E. Przykładowo, diody z arsenku galu GaAs (E g = 1,4 ev) emitują światło z zakresu bliskiej podczerwieni. Dla uzyskania światła czerwonego wykorzystuje się np. układy potrójny Ga 1 x Al x As, w których podstawienie znaczącej części atomów arsenu przez atomy aluminium (x 0,3) daje potrzebne powiększenie szerokości przerwy. g Rys. 2. Struktura czerwonego lasera półprzewodnikowego. Rzeczywiste wymiary kostki są rzędu ułamka milimetra, szerokość d studni kwantowej 0,1 0,5 µm. Wg.: A. Bar-Lev, Semiconductors and Electronic Devices, Prentice Hall 1984. Akcję laserową uzyskać można dla zwykłego złącza p-n przez zastosowanie wysokiej wartości prądu (co jest możliwe przy zasilaniu impulsowym) i obniżenie temperatury. Aby uzyskać ciągłą emisję laserową w temperaturze pokojowej potrzebne jest skoncentrowanie 3

dziur i elektronów w małej objętości. Uzyskuje się to przez wytworzenie między obszarami typu p i n cienkiego obszaru czynnego (active region na rys. 2) o zmniejszonej wartości E g, zwanego też studnią kwantową. Płynące z obydwu stron elektrony i dziury wpadają do studni i tam już pozostają aż do zajścia procesu emisji wymuszonej. Potrzebne do działania lasera sprzężenie zwrotne uzyskuje się przez odbicie światła od gładkich bocznych ścian kryształka (odbija się ok. 30%). Niska cena czerwonych laserów możliwa jest dlatego, że wykorzystuje się dobrze opanowaną technologię wytwarzania warstw na podłożu GaAs, a gładkie ściany boczne wytwarza się przy okazji łupania monokrystalicznego waferu na indywidualne elementy o rozmiarze rzędu 0,5 mm. Światło wydobywające się z boku kryształka nie jest wcale równoległe. Opuszczając kryształ podlega dyfrakcji na wąskim otworze studni kwantowej, w wyniku tworzy się wiązka rozbieżna. Utworzenie wiązki równoległej jest wynikiem zastosowania soczewki (nie pokazanej na rys. 2). Sama studnia kwantowa działa jak optyczny falowód, czego efektem jest wysoki stopień polaryzacji emitowanego światła. Badanie progu akcji laserowej Właściwością laserów wszystkich rodzajów (nie tylko półprzewodnikowych) jest występowanie progu akcji laserowej. Światło laserowe pojawia się dopiero po przekroczeniu określonej wartości czynnika wymuszającego, potrzebnego do uzyskania inwersji obsadzeń i dodatniego sprzężenia zwrotnego. W naszym laserze tym czynnikiem jest prąd zasilający I, natomiast miarą natężenia uzyskanej wiązki jest prąd fotodiody I f, wykorzystywanej jako detektor światła. Dla wartości I poniżej progu, daje się zmierzyć niewielkie natężenie światła. Laser działa wtedy jak zwykła dioda świecąca (LED), w której zachodzi emisja spontaniczna. Mierzone natężenie jest małe, gdyż kierunek emitowanych fotonów jest przypadkowy i tylko niewielka ich część może wydostać się z lasera. Po przekroczeniu progu obserwuje się szybki wzrost natężenia światła, powstającego w wyniku procesów emisji wymuszonej. Najciekawsza część charakterystyki to obszar poniżej progu i powyżej, do mniej więcej 1/3 maksymalnej wartości I f. Można zmierzyć całą charakterystykę, aż do znamionowego punktu pracy N, ale dalsza część funkcji I f = f(i) wynika z działania elektronicznego ogranicznika prądu, chroniącego diodę laserową przed uszkodzeniem. Rys. 3. Zależność natężenia światła wiązki laserowej od prądu lasera. Rysunek schematyczny, objaśnienia symboli w tekście. 4

Aparatura Wspólny dla wszystkich wariantów wykonania ćwiczenia jest układ zasilania lasera i detekcji światła, pokazany na rys. 4. W obwodzie zasilania lasera mamy: zasilacz 3 V, woltomierz i amperomierz, oraz opornik dekadowy umożliwiający regulację prądu lasera (za wyjątkiem pomiaru C winien być nastawiony na zero). Obwód detekcji światła jest jeszcze prostszy. Jego elementy to: zasilacz 9 V, fotodioda i opornik R f zabezpieczający fotodiodę i miliamperomierz. Rys. 4. Schemat elektryczny zasilania lasera i detekcji generowanego światła. Ława optyczna umożliwia stabilne ustawienie elementów wykorzystywanych w eksperymentach. Są to: laser. Aktualnie mamy do wykorzystania dwa lasery, czerwony i fioletowy. fotodioda z układem przesuwu w poziomie i pionie, oraz możliwością ustawienia ekranika lub szczeliny przed elementem czynnym fotodiody, siatka dyfrakcyjna, ekran do obserwacji obrazu wytwarzanego przez siatkę dyfrakcyjną, polaryzator ze skalą kątową. Używane lasery o mocy wiązki do 5 mw, emitujące światło widzialne, są uważane za bezpieczne, a ochrona oka jest zapewniona przez naturalne reakcje organizmu. Niemniej, nie wolno patrzeć wprost w wiązkę lasera, podobnie jak nie wolno patrzeć wprost na Słońce. 5

Wykonanie ćwiczenia Pomiary A E opisane poniżej można zrealizować, w przypadku zajęć 3-godzinnych, dla jednego z laserów. Alternatywnie wykonać można wybrane pomiary dla dwóch różnych laserów. A. Pomiar długości fali W tym eksperymencie nie wykonuje się żadnych pomiarów elektrycznych. W przestrzeni między laserem i diodą detekcyjną (której nie należy usuwać) ustawiamy siatkę dyfrakcyjną oraz ekran, na którym obserwujemy obraz dyfrakcyjny. Parametrem charakteryzującym siatkę dyfrakcyjną jest odległość między szczelinami d (producenci siatek podają zwykle liczbę szczelin na milimetr, z której można obliczyć wartość d). W zależności od odległości ekranu i stałej siatki obserwujemy tylko plamki pierwszego rzędu n = 1 lub również plamki wyższych rzędów (n > 1). Wygodnie jest założyć na ekran papier i zaznaczać ołówkiem położenia plamek. Następnie mierzy się odległość L siatka ekranu i odległość 2x n dla danej pary plamek dyfrakcyjnych. Rys. 5. Pomiar długości fali światła lasera przy pomocy siatki dyfrakcyjnej. Z równania siatki dyfrakcyjnej d sin θn = nλ otrzymujemy roboczy wzór x d n λ = (3) 2 2 n L + xn Tylko dla pomiaru długości fali wykonujemy rachunek niepewności pomiaru. Uzyskaną wartość λ należy porównać ze specyfikacją producenta (jeśli jest znana). B. Pomiar mocy wiązki i sprawności lasera. Pozostałe eksperymenty B E wykonywane w ćwiczeniu wykorzystują półprzewodnikowy detektor światła w postaci fotodiody krzemowej FSD 100. Jej obszar czynny jest kwadracikiem o wymiarach 3,6 mm 3,6 mm (rys. 6). 6

Przekrój wiązki lasera jest mniejszy od rozmiaru obszaru czynnego detektora, zatem prąd fotodiody I f jest proporcjonalny do liczby fotonów, czyli do całkowitej mocy wiązki. Należy tylko zadbać, by wiązka lasera mieściła się w całości na powierzchni czynnej fotodiody. Światło powinno padać na środek ekranika na powierzchni kapturka zamykającego fotodiodę. Po odkręceniu kapturka należy, przy wykorzystaniu pokręteł przesuwu poziomego i pionowego, doprowadzić do położenia, w którym prąd detektora jest największy. Przeliczenie prądu fotodiody I f na moc wiązki P 2, P 2 I f =, (4) C( λ) wymaga znajomości krzywej czułości C(λ) (rys. 6). Potrzebną wartość C należy odczytać z podanego przez producenta wykresu, wykorzystując wyznaczoną w punkcie A długość fali. Niepewność współrzędnej pionowej, około 10%, ogranicza bezwzględną dokładność pomiaru. (Uzyskanie wyższej dokładności wymaga indywidualnego wzorcowania fotodiody.) Fotodioda krzemowa FDS 100 Rys. 6. Wygląd zewnętrzny i krzywa czułości C(λ) fotodiody (wg FSD-100-SpecSheet.pdf f-my THORLABS). Laser jest urządzeniem, które dostarczoną energię elektryczną przetwarza na energię wytworzonej wiązki światła. Sprawność lasera definiujemy jako stosunek mocy wiązki P 2 (obliczonej poprzednio) do dostarczonej mocy elektrycznej P 1, P P2 η = 2 =. (5) P U I 1 7

C. Zależność natężenia światła od prądu lasera. Próg akcji laserowej Tylko w tym eksperymencie trzeba regulować prąd lasera przy użyciu opornika dekadowego R. Mierzymy prąd fotodiody I f w funkcji prądu zasilania I. Pomiar wykonać należy do wartości I f do około 1/3 wartości maksymalnej (zob. punkty na rys. 3) Eksperyment ten pokaże, że laser zaczyna wyraźnie świecić powyżej progowej wartości prądu zasilania I, co jest pośrednim dowodem występowania zjawisk emisji wymuszonej i inwersji obsadzeń. Wartość prądu progowego odczytać z wykresu zależności I f = f(i). D. Badanie polaryzacji wiązki Zjawisko polaryzacji światła i działanie polaryzatora omawiane jest w podręcznikach. Polaryzatory używane są m. in. w fotografii, gdzie nazywane są filtrami polaryzacyjnymi. Jeżeli na polaryzator pada wiązka światła spolaryzowanego liniowo o natężeniu I 0, to natężenie wiązki przechodzącej I(ϕ) dane jest zależnością 2 I ( ϕ) = I 0 cos ϕ, (6) gdzie ϕ jest kątem między płaszczyzną polaryzacji światła i kierunkiem osi polaryzatora. Wzór ten znany jest jako prawo Malusa. Badanie polaryzacji wiązki wymaga ustawienia polaryzatora ze skalą kątową w dowolnym miejscu wiązki między laserem i detektorem. Mierzymy zależność prądu fotodiody I f od kąta α na skali kątowej polaryzatora w pełnym zakresie kątów od 0 do 360. Obserwowaną zależność (rys. 6) opisuje roboczy wzór 2 f, min f, max f, min I ( α) = I + ( I I ) cos ( α ), (7) f w którym: symbole I f, max oraz I f, min oznaczają maksymalną i minimalną wartość prądu fotodiody, α jest kątem odczytanym ze skali kątowej polaryzatora, stała (zdefiniowana na rys. 7) uwzględnia przesunięcie kątowe wynikające z niezgodności płaszczyzny polaryzacji lasera i położenia zera skali kątowej polaryzatora. Opracowanie wyników pomiaru obejmuje wykonanie wykresu i jego jakościową interpretację Rys. 7. Zależność prądu fotodiody od kąta obrotu polaryzatora 8

E. Pomiar profilu wiązki Potoczna obserwacja pokazuje, że wiązka lasera jest wąska. Profil poprzeczny wiązki możemy zmierzyć przy wykorzystaniu tej samej fotodiody, z tym, że trzeba użyć dodatkowo szczeliny kolimacyjnej (rys. 8a). Zespół szczelina detektor przesuwamy w poprzek wiązki i odczytujemy prąd I f. (Dla używanej w zestawie ćwiczeniowym śruby pełny obrót pokrętła odpowiada przesuwowi 0,75 mm, jedna działka tarczy to 1/6 obrotu, czyli 0,125 mm). Pomiar wykonać dla ustalonej odległości laser dioda. Rezultatem pomiaru jest zależność I f (x). a) b) Rys. 8. Badanie profilu wiązki: a) zależności geometryczne między rozmiarami elementu czynnego fotodiody (Det), kolimatora (Kol) i wiązki lasera, b) definicja szerokości połówkowej. Jak scharakteryzować ilościowo szerokość piku? Powszechnie stosowaną miarą jest szerokość połówkowa FWHM (od ang. Full Width at Half Maximum), oznaczająca szerokość piku w połowie jego wysokości (rys. 7b). Należy ją wyznaczyć graficznie z wykonanego wykresu I f (x). 9