Elementy technologii mikroelementów i mikrosystemów. USF_3 Technologia_A M.Kujawińska, T.Kozacki, M.Jóżwik 3-1

Podobne dokumenty
Elementy technologii mikroelementów i mikrosystemów. Typowe wymagania klasy czystości: 1000/100 (technologie 3 µm)

Technologia elementów optycznych

Technologia planarna

OBRÓBKA PLAZMOWA W MIKROELEKTRONICE I MIKROMECHANICE

Materiały fotoniczne

Czyszczenie powierzchni podłoży jest jednym z

Struktura CMOS PMOS NMOS. metal I. metal II. warstwy izolacyjne (CVD) kontakt PWELL NWELL. tlenek polowy (utlenianie podłoża) podłoże P

Metody wytwarzania elementów półprzewodnikowych

Wytwarzanie niskowymiarowych struktur półprzewodnikowych

MIKROSYSTEMY. Ćwiczenie nr 2a Utlenianie

Struktura CMOS Click to edit Master title style

zasięg koherencji dla warstw nadprzewodzących długość fali de Broglie a w przypadku warstw dielektrycznych.

Struktura CMOS PMOS NMOS. metal I. metal II. przelotka (VIA) warstwy izolacyjne (CVD) kontakt PWELL NWELL. tlenek polowy (utlenianie podłoża)

Procesy technologiczne w elektronice

PVD-COATING PRÓŻNIOWE NAPYLANIE ALUMINIUM NA DETALE Z TWORZYWA SZTUCZNEGO (METALIZACJA PRÓŻNIOWA)

Cienkie warstwy. Podstawy fizyczne Wytwarzanie Właściwości Zastosowania. Co to jest cienka warstwa?

Co to jest kropka kwantowa? Kropki kwantowe - część I otrzymywanie. Co to jest ekscyton? Co to jest ekscyton? e πε. E = n. Sebastian Maćkowski

Co to jest cienka warstwa?

SYLABUS. Chemiczna obróbka metali i półprzewodników

Studnia kwantowa. Optyka nanostruktur. Studnia kwantowa. Gęstość stanów. Sebastian Maćkowski

TECHNOLOGIA STRUKTUR MOEMS

dr Rafał Szukiewicz WROCŁAWSKIE CENTRUM BADAŃ EIT+ WYDZIAŁ FIZYKI I ASTRONOMI UWr

Ekspansja plazmy i wpływ atmosfery reaktywnej na osadzanie cienkich warstw hydroksyapatytu. Marcin Jedyński

Fizyka Cienkich Warstw

Polisilany. R 1, R 2... CH 3, C 2 H 5, C 6 H 5, C 6 H 11 i inne

Aparatura do osadzania warstw metodami:

SŁAWOMIR WIAK (redakcja)

Co to jest cienka warstwa?

Politechnika Koszalińska

Układy cienkowarstwowe cz. II

Piezorezystancyjny czujnik ciśnienia: modelowanie membrany krzemowej podstawowego elementu piezorezystancyjnego czujnika ciśnienia

Fizyka Cienkich Warstw

Wpływ defektów punktowych i liniowych na własności węglika krzemu SiC

III. METODY OTRZYMYWANIA MATERIAŁÓW PÓŁPRZEWODNIKOWYCH Janusz Adamowski

Procesy technologiczne w elektronice

PL B1. INSTYTUT TECHNOLOGII ELEKTRONOWEJ, Warszawa, PL BUP 26/06

Marek Lipiński WPŁYW WŁAŚCIWOŚCI FIZYCZNYCH WARSTW I OBSZARÓW PRZYPOWIERZCHNIOWYCH NA PARAMETRY UŻYTKOWE KRZEMOWEGO OGNIWA SŁONECZNEGO

RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) (13) B1

Inżynieria Wytwarzania

Politechnika Gdańska, Inżynieria Biomedyczna. Przedmiot: BIOMATERIAŁY. Metody pasywacji powierzchni biomateriałów. Dr inż. Agnieszka Ossowska

Technologia ogniw paliwowych w IEn

Osadzanie z fazy gazowej

Modelowanie mikrosystemów - laboratorium. Ćwiczenie 1. Modelowanie ugięcia membrany krzemowej modelowanie pracy mikromechanicznego czujnika ciśnienia

Synteza Nanoproszków Metody Chemiczne II

Plan. Wstęp EBL Litografia Nano-imprinitg Holografia Trawienie Pomiary Zastosowanie Podsumowanie. Szymon Lis Photonics Group. C-2 p.305. Plan.

Technologia w elektronice

Łukowe platerowanie jonowe

Poprawa charakterystyk promieniowania diod laserowych dużej mocy poprzez zastosowanie struktur periodycznych w płaszczyźnie złącza

Czujniki mikromechaniczne

Rozdział 3. Rezystancyjne czujniki gazów na podłożu mikromechanicznym

WYKŁAD 7 Dr hab. inż. Karol Malecha, prof. Uczelni

UMO-2011/01/B/ST7/06234

metody nanoszenia katalizatorów na struktury Metalowe

PL B1. MEDGAL SPÓŁKA Z OGRANICZONĄ ODPOWIEDZIALNOŚCIĄ, Białystok, PL POLITECHNIKA ŁÓDZKA, Łódź, PL

I Konferencja. InTechFun

Kompensatory stalowe. Produkcja. Strona 1 z 76

Fotolitografia. xlab.me..me.berkeley.

Optymalizacja procesu reaktywnego trawienia jonowego heterostruktur AlGaN/GaN do zastosowań w przyrządach elektronicznych

TECHNOLOGIA WYKONANIA PRZYRZĄDÓW PÓŁPRZEWOD- NIKOWYCH WYK. 16 SMK Na pdstw.: W. Marciniak, WNT 1987: Przyrządy półprzewodnikowe i układy scalone,

Modelowanie mikrosystemów - laboratorium. Ćwiczenie 2. Modelowanie pracy mikromechanicznego pojemnościowego czujnika ciśnienia z membraną typu bossed

LABORATORIUM SPEKTRALNEJ ANALIZY CHEMICZNEJ (L-6)

Technologia cienkowarstwowa

Studia Podyplomowe EFEKTYWNE UŻYTKOWANIE ENERGII ELEKTRYCZNEJ Moduł 5: Efektywność energetyczna w urządzeniach elektrotermicznych

Fizyka i technologia złącza PN. Adam Drózd r.

Domieszkowanie półprzewodników

Modelowanie mikrosystemów - laboratorium. Ćwiczenie 1. Modelowanie ugięcia membrany krzemowej modelowanie pracy mikromechanicznego czujnika ciśnienia

Właściwości kryształów

a. Dobierz współczynniki w powyższym schemacie tak, aby stał się równaniem reakcji chemicznej.

PL B1. Mechanizm regulacyjny położenia anody odporny na temperaturę i oddziaływanie próżni

Magazynowanie cieczy

Właściwości materii. Bogdan Walkowiak. Zakład Biofizyki Instytut Inżynierii Materiałowej Politechnika Łódzka. 18 listopada 2014 Biophysics 1

WYKŁAD 6 Dr hab. inż. Karol Malecha, prof. Uczelni

Funkcje błon biologicznych

Technologia elementów optycznych

MODYFIKACJA SPECYFIKACJI ISTOTNYCH WARUNKÓW ZAMÓWIENIA

TYPY REAKCJI CHEMICZNYCH

Szkło kuloodporne: składa się z wielu warstw różnych materiałów, połączonych ze sobą w wysokiej temperaturze. Wzmacnianie szkła

(12) TŁUMACZENIE PATENTU EUROPEJSKIEGO (19) PL (11) PL/EP (96) Data i numer zgłoszenia patentu europejskiego:

Pracownia. Cwiczenie 23

ELEMENTY ELEKTRONICZNE

Powłoki cienkowarstwowe

Metoda otrzymywania monokrystalicznych folii krzemowych z wykorzystaniem krzemu porowatego

Przyrządy Półprzewodnikowe

Badania wybranych nanostruktur SnO 2 w aspekcie zastosowań sensorowych

Technologie mikro- nano-

relacje ilościowe ( masowe,objętościowe i molowe ) dotyczące połączeń 1. pierwiastków w związkach chemicznych 2. związków chemicznych w reakcjach

Różne dziwne przewodniki

Sonochemia. Schemat 1. Strefy reakcji. Rodzaje efektów sonochemicznych. Oscylujący pęcherzyk gazu. Woda w stanie nadkrytycznym?

Opracowała: mgr inż. Ewelina Nowak

1. Wytwarzanie czystych oraz jednorodnie domieszkowanych materiałów pp.

Technologia cienkowarstwowa

Opracowała: mgr inż. Ewelina Nowak

Technologia światłowodów planarnych i warstw optycznych

Ćwiczenie 2. Charakteryzacja niskotemperaturowego czujnika tlenu. (na prawach rękopisu)

Technika próżni / Andrzej Hałas. Wrocław, Spis treści. Od autora 9. Wprowadzenie 11. Wykaz ważniejszych oznaczeń 13

Spektrometr ICP-AES 2000

Mechanizm i technika implantowania plazmowego (PSII)

Diody elektroluminescencyjne na bazie GaN z powierzchniowymi kryształami fotonicznymi

Azotkowe diody laserowe na podłożach GaN o zmiennym zorientowaniu

Transkrypt:

Elementy technologii mikroelementów i mikrosystemów USF_3 Technologia_A M.Kujawińska, T.Kozacki, M.Jóżwik 3-1

Elementy technologii mikroelementów i mikrosystemów Typowe wymagania klasy czystości: 1000/100 (technologie 3 μm) np. pamięci: 64k 1000/100 >1M 100/10 USF_3 Technologia_A M.Kujawińska, T.Kozacki, M.Jóżwik 3-2

Elementy technologii mikroelementów i mikrosystemów - wytwarzanie (nanoszenie) warstw - fotolitografia - trawienie - bonding USF_3 Technologia_A M.Kujawińska, T.Kozacki, M.Jóżwik 3-3

Procesy technologiczne, w wyniku których powstają nowe warstwy Parametry warstw: -skład chemiczny - struktura krystalograficzna - orientacja krystalograficzna - adhezja warstwy do podłoża - grubość warstwy - współczynnik załamania warstwy -stała dielektryczna - rezystywność (lub jej rozkład) - współczynnik rozszerzalności termicznej - naprężenia mechaniczne - jednorodność (lub jej rozkład) - profil (sposób pokrycia uskoków) USF_3 Technologia_A M.Kujawińska, T.Kozacki, M.Jóżwik 3-4

Procesy technologiczne, w wyniku których powstają nowe warstwy Kryteria klasyfikacji procesów technologicznych: - temperatura procesu (procesy nisko-, średnioi wysokotemperaturowe) -ciśnienie - typ reakcji chemicznej (rozkład związków złożonych, utlenianie, azotkowanie, reakcje złożone, ) - fakt konsumowania lub nie atomów podłoża USF_3 Technologia_A M.Kujawińska, T.Kozacki, M.Jóżwik 3-5

Utlenianie termiczne - utlenianie w atmosferze tlenu suchego: Si + O 2 SiO 2 - utlenianie w atmosferze pary wodnej: Si + H 2 O SiO 2 + H 2 Dodatkowe efekty: redyfuzja domieszek, lokalne utlenianie USF_3 Technologia_A M.Kujawińska, T.Kozacki, M.Jóżwik 3-6

Chemiczne osadzanie z fazy lotnej CVD CVD (Chemical Vapour Deposition) procesy, w trakcie których na podłożu następuje wytwarzanie warstw ciała stałego z reagentów, które reagują ze sobą w fazie lotnej Typy reakcji chemicznej: - heterogeniczne, reakcje zachodzące bezpośrednio na powierzchni podłoża lub w jej pobliżu - homogeniczne, reakcje zachodzące w fazie gazowej - niepożądane Specjalnie przystosowane reaktory mogą być wykorzystywane do epitaksji USF_3 Technologia_A M.Kujawińska, T.Kozacki, M.Jóżwik 3-7

APCVD APCVD (Atmospheric Pressure CVD) osadzanie w warunkach ciśnienia atmosferycznego USF_3 Technologia_A M.Kujawińska, T.Kozacki, M.Jóżwik 3-8

LPCVD LPCVD (Low Pressure CVD) osadzanie pod obniżonym ciśnieniem (T do 900ºC, p = 0.25 2 Tr) USF_3 Technologia_A M.Kujawińska, T.Kozacki, M.Jóżwik 3-9

PECVD PECVD (Plasma Enhanced CVD) osadzanie wspomagane plazmą - obniżenie temperatury osadzania -większa liczba parametrów do kontroli Reaktor planarny USF_3 Technologia_A M.Kujawińska, T.Kozacki, M.Jóżwik 3-10

CVD: Podsumowanie USF_3 Technologia_A M.Kujawińska, T.Kozacki, M.Jóżwik 3-11

Fizyczne osadzanie z fazy lotnej - naparowanie próżniowe - rozpylanie jonowe Najnowsze technologie wytwarzania warstw MOCVD (Metaloorganic CVD) MBE (Molecular Beam Epitaxy) - warstwy o ekstremalnie cienkich grubościach (1-100 nm) - struktury o obniżonej wymiarowości (2D studnie kwantowe,1d druty kwantowe, 0D kropki kwantowe) USF_3 Technologia_A M.Kujawińska, T.Kozacki, M.Jóżwik 3-12

Procesy technologiczne odwzorowania kształtów Metody odwzorowywania kształtów Wzór przenoszony na płytkę za pośrednictwem emulsji Wzór przenoszony na płytkę bez pośrednictwa emulsji Metoda substraktywna (litografia + trawienie) Metoda addytywna (litografia + odrywanie) Bezpośrednie trawienie skanującą wiązką jonową USF_3 Technologia_A M.Kujawińska, T.Kozacki, M.Jóżwik 3-13

Techniki litograficzne Fotolitografia Elektronolitografia maska skanująca wiązka elektronów + tańsza od innych - ograniczenia dyfrakcyjne (0.5μm) - wymaga maski + nie wymaga maski -długie czasy naświetlania - rozproszenie elektronów Jonolitografia USF_3 Technologia_A M.Kujawińska, T.Kozacki, M.Jóżwik 3-14

Trawienie Procesy trawienia można podzielić na: - mokre - realizowane w wodnych roztworach kwasów i ługów - suche - realizowane w plazmie aktywnych chemicznie i szlachetnych gazów lub przy zastosowaniu wiązki jonowej USF_3 Technologia_A M.Kujawińska, T.Kozacki, M.Jóżwik 3-15

Trawienie mokre Trawienie mokre w wodnych roztworach kwasów cechuje się dużą izotropią. Wyjątkiem jest proces trawienia monokrystalicznych materiałów np. krzemu w wodnych roztworach ługów. Poszczególne płaszczyzny krystalograficzne mają różne szybkości trawienia (np.: V<100>:V<111>=100:1) i dlatego można uzyskać dużą anizotropię. Trawienie izotropowe Trawienie anizotropowe USF_3 Technologia_A M.Kujawińska, T.Kozacki, M.Jóżwik 3-16

Trawienie mokre Trawienie elektrochemiczne Parametry: -skład kąpieli - temperatura kąpieli - czas trwania Jedna z najbardziej popularnych technik trawienia anizotropowego krzemu jest trawienie wodorotlenkiem potasu (KOH) USF_3 Technologia_A M.Kujawińska, T.Kozacki, M.Jóżwik 3-17

Trawienie suche Technika suchego trawienia została opracowana dla potrzeb mikroelektroniki i umożliwia uzyskiwanie wzorów o większej rozdzielczości niż w przypadku trawienia mokrego (obecnie standardowo wytwarza się tą techniką wzory o szerokości linii nawet mniejszej niż 100nm). Suche trawienie wykonuje się technikami jonowymi i plazmowymi, które wykorzystują zjawiska zachodzące w plazmie lub oddziaływanie wiązki jonów z materiałem trawionym. Główne mechanizmy suchego trawienia to reakcje chemiczne i fizyczne: Mechanizm chemiczny polega na reakcji wolnych rodników z materiałem trawionym, wytworzeniu lotnych produktów tej reakcji i odpompowaniu ich z reaktora Mechanizm fizyczny polega na wybijaniu atomów lub cząsteczek trawionego materiału przez wysokoenergetyczne jony USF_3 Technologia_A M.Kujawińska, T.Kozacki, M.Jóżwik 3-18

Trawienie suche Urządzeniem realizującym trawienie plazmowe jest reaktor planarny, który może pracować w modzie trawienia plazmowego PE (ang. Plasma Etching) albo w modzie reaktywnego trawienia jonowego RIE (ang. Reactive Ion Etching) PE udział jonów w procesie trawienia jest nieznaczny, dominuje chemiczne oddziaływanie rodników z materiałem trawionym duże szybkości wysoka selektywność RIE duże energie jonów > od 50eV mechanizm fizyczny ma duży wpływ na proces trawienia, który jest bardziej anizotropowy i mniej selektywny kompromis pomiędzy szybkością a anizotropią USF_3 Technologia_A M.Kujawińska, T.Kozacki, M.Jóżwik 3-19

Trawienie suche Zastosowanie procesu plazmowego trawienia w technologii mikroelementów ma następujące zalety: wymiary trawionych wzorów mogą być mniejsze niż 1mm i zależą praktycznie tylko od zastosowanej maski, uzyskiwane profile formowanych struktur nie zależą od krystalografii podłoża, profil trawienia można dobierać w zależności od konstrukcji przyrządu, możliwe jest selektywne usunięcie tzw. warstwy poświęcanej (ang. sacrificial layer) celem uwolnienia ruchomej struktury, plazma nie wywiera nacisku na mikrostruktury przestrzenne Zalety te okupione są skomplikowaniem próżniowego urządzenia do trawienia oraz samego procesu trawienia, który zależy od wielu parametrów. Podstawowe z nich to: ciśnienie tła próżniowego w reaktorze oraz konieczność stosowania bezolejowego systemu pompowego, odpornego na działanie chemicznie aktywnych gazów, rodzaj gazu roboczego, który może być również mieszaniną wielu gazów, przepływ gazu roboczego (cm 3 /min), ciśnienie gazu roboczego, temperatura podłoża, rodzaj i wielkość powierzchni trawionego podłoża, materiałścian bocznych i elektrod reaktora, geometria reaktora, elektromagnetyczne parametry wzbudzania wyładowania jarzeniowego USF_3 Technologia_A M.Kujawińska, T.Kozacki, M.Jóżwik 3-20

Przykład procesu technologicznego membrany krzemowej USF_3 Technologia_A M.Kujawińska, T.Kozacki, M.Jóżwik 3-21

Przykład procesu technologicznego czujnika ciśnienia USF_3 Technologia_A M.Kujawińska, T.Kozacki, M.Jóżwik 3-22