PL B1. Lubuskie Zakłady Aparatów Elektrycznych LUMEL S.A.,Zielona Góra,PL BUP 16/04. Andrzej Au,Racula,PL

Podobne dokumenty
(13) B1 PL B1 (19) PL (11)

(13) B1 PL B1 F21P 1/00 F21V 19/02. (21) Numer zgłoszenia: ( 5 4 ) Lampa halogenowa ze zmienną ogniskową

(13)B1 PL B1. (54) Sposób oraz urządzenie do pomiaru odchyłek okrągłości BUP 21/ WUP 04/99

POLITECHNIKA WROCŁAWSKA,

PL B1. POLITECHNIKA ŚWIĘTOKRZYSKA, Kielce, PL BUP 07/19. PAWEŁ ZMARZŁY, Brzeziny, PL WUP 08/19. rzecz. pat.

PL B1. ZELMER S.A.,Rzeszów,PL BUP 17/02

PL B1. BRZEŻAWSKI PATRYK, Bolestraszyce, PL BRZEŻAWSKI TADEUSZ, Bolestraszyce, PL BUP 24/12

(12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11)

PL B1. SZCZĘŚNIAK ZBIGNIEW BUDOWA POJAZDÓW SPECJALNYCH, Jaworze Dolne, PL BUP 24/ WUP 09/11

PL B1. AKADEMIA GÓRNICZO-HUTNICZA IM. STANISŁAWA STASZICA, Kraków, PL BUP 10/05

Fig. 2 PL B1 (13) B1 G02B 23/02 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) (21) Numer zgłoszenia:

(12) OPIS PATENTOWY (19)PL (11) (13) B1 PL (51) IntCl7 G 01B 9/10

PL B1. PĘKACKI PAWEŁ, Skarżysko-Kamienna, PL BUP 02/06. PAWEŁ PĘKACKI, Skarżysko-Kamienna, PL

(13) B1 (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) PL B1. (54) Mechanizm przekładni w maszynie do ćwiczeń z obciążeniem narządów ruchu

PL B1. POLITECHNIKA WARSZAWSKA, Warszawa, PL INSTYTUT TECHNOLOGII EKSPLOATACJI. PAŃSTWOWY INSTYTUT BADAWCZY, Radom, PL

PL B1. Głowica pomiarowa do badania charakterystyk tribologicznych i szczelności ślizgowych uszczelnień czołowych

(13) B1 (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) PL B1. 1. Zespół do kontroli ustawienia świateł

PL B1. LIW-LEWANT Fabryka Wyrobów z Tworzyw Sztucznych Sp. z o.o. Zakład Pracy Chronionej,Bielawa,PL BUP 06/

PL B1. AKADEMIA GÓRNICZO-HUTNICZA IM. STANISŁAWA STASZICA, Kraków, PL BUP 15/06

(12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) (13) B1

PL B1. Akademia Górniczo-Hutnicza im. Stanisława Staszica,Kraków,PL BUP 17/05. Józef Salwiński,Kraków,PL Piotr Trzaskoś,Dębowiec,PL

PL B1. Uszczelnienie nadbandażowe stopnia przepływowej maszyny wirnikowej, zwłaszcza z bandażem płaskim. POLITECHNIKA GDAŃSKA, Gdańsk, PL

(12) OPIS PATENTOWY (19)PL (11)186259

PL B1. POLITECHNIKA WROCŁAWSKA, Wrocław, PL BUP 03/07. CZESŁAW KOZIARSKI, Wrocław, PL WUP 08/11

(12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) (13) B1

PL B1. INSTYTUT TELE- I RADIOTECHNICZNY, Warszawa, PL BUP 14/11. PIOTR GAWRYŚ, Warszawa, PL WUP 11/12

PL B1. Sposób prostopadłego ustawienia osi wrzeciona do kierunku ruchu posuwowego podczas frezowania. POLITECHNIKA POZNAŃSKA, Poznań, PL

PL B1. POLITECHNIKA LUBELSKA, Lublin, PL BUP 26/14. TOMASZ KLEPKA, Lublin, PL WUP 12/16. rzecz. pat.

PL B1. R&D PROJECT SPÓŁKA Z OGRANICZONĄ ODPOWIEDZIALNOŚCIĄ, Łódź, PL BUP 26/12

PL B1. POLITECHNIKA LUBELSKA, Lublin, PL BUP 15/17

PL B1. Stół obrotowy zwłaszcza do pozycjonowania próbki w pomiarach akustycznych w komorze pogłosowej

PL B1. POLITECHNIKA GDAŃSKA, Gdańsk, PL GASSTECH PRZEDSIĘBIORSTWO PRODUKCYJNE SPÓŁKA Z OGRANICZONĄ ODPOWIEDZIALNOŚCIĄ, Suwałki, PL

PL B1. INSTYTUT ODLEWNICTWA, Kraków, PL BUP 18/16

PL B1. Uchwyt do mocowania próbek do dwuosiowego rozciągania na maszynach jednoosiowych. POLITECHNIKA LUBELSKA, Lublin, PL

PL B1. Mechanizm napędowo-blokujący ze wspomaganiem do stelaża krzyżakowego dla mebli, zwłaszcza o dużej masie materaca

PL B1. INSTYTUT NAPĘDÓW I MASZYN ELEKTRYCZNYCH KOMEL, Katowice, PL BUP 02/16

PL B1. AKADEMIA GÓRNICZO-HUTNICZA IM. STANISŁAWA STASZICA W KRAKOWIE, Kraków, PL BUP 14/18

PL B1. System kontroli wychyleń od pionu lub poziomu inżynierskich obiektów budowlanych lub konstrukcyjnych

PL B1. NOWAK ANDRZEJ, Terebiń, PL BUP 17/16. ANDRZEJ NOWAK, Terebiń, PL WUP 12/17. rzecz. pat.

PL B1. POLITECHNIKA CZĘSTOCHOWSKA, Częstochowa, PL BUP 06/11

PL B1. Układ do justowania osi manipulatora, zwłaszcza do pomiarów akustycznych w komorze bezechowej

PL B1. Układ do optycznej detekcji palet transportowych oraz urządzenie do optycznej detekcji palet transportowych

PL B1. INSTYTUT TECHNIKI BUDOWLANEJ, Warszawa, PL BUP 05/ WUP 11/16. WOJCIECH KUJAWSKI, Poznań, PL

PL B1. AKADEMIA GÓRNICZO-HUTNICZA IM. STANISŁAWA STASZICA W KRAKOWIE, Kraków, PL BUP 12/17

PL B1. APATOR SPÓŁKA AKCYJNA, Toruń, PL BUP 21/11

RZECZPOSPOLITA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11)

PL B1. SPÓLNOTA-DRZEWNA SPÓŁDZIELNIA PRACY, Białka k/makowa Podhalańskiego, PL BUP 21/06

(13) B1 (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) PL B1 A47L 9/24. (54)Teleskopowa rura ssąca do odkurzacza

PL B1. UNIWERSYTET ŁÓDZKI, Łódź, PL BUP 03/05. STANISŁAW BEDNAREK, Łódź, PL WUP 09/10

PL B1. Urządzenie ręczne z elektrycznie napędzanym narzędziem i elektropneumatycznym mechanizmem uderzeniowym

WZORU UŻYTKOWEGO PL Y1. PRZEDSIĘBIORSTWO PRODUKCYJNO- USŁUGOWO-HANDLOWE DREWART-ENERGY SPÓŁKA Z OGRANICZONĄ ODPOWIEDZIALNOŚCIĄ, Kanie, PL

(12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) (13) B1

PL B BUP 05/06. Wąsik Ryszard,Skoczów,PL Wąsik Jakub,Katowice,PL Wąsik Wojciech,Bielsko-Biała,PL

(86) Data i numer zgłoszenia międzynarodowego: , PCT/JP14/060659

(12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11)

PL B1. PRZEDSIĘBIORSTWO CONCEPT STAL B&S LEJMAN SPÓŁKA JAWNA, Chełm, PL BUP 26/15. STANISŁAW LEJMAN, Chełm, PL

PL B1. Sposób badania oświetlenia wnętrz budynków oraz urządzenie do badania oświetlenia wnętrz budynków. Kowalewicz Wiesław,Białystok,PL

PL B1. AKADEMIA GÓRNICZO-HUTNICZA IM. STANISŁAWA STASZICA W KRAKOWIE, Kraków, PL BUP 08/ WUP 09/17

WZORU UŻYTKOWEGO PL Y1. BLACHPROFIL 2 SPÓŁKA JAWNA IWONA ŁACH-KUDZIA MARIUSZ ŁACH, Kraków, PL BUP 06/

PL B1. AKADEMIA GÓRNICZO-HUTNICZA IM. STANISŁAWA STASZICA W KRAKOWIE, Kraków, PL BUP 04/15

PL B1. WIJAS PAWEŁ, Kielce, PL BUP 26/06. PAWEŁ WIJAS, Kielce, PL WUP 09/12. rzecz. pat. Wit Flis RZECZPOSPOLITA POLSKA

PL B1. MAGNETO SPÓŁKA Z OGRANICZONĄ ODPOWIEDZIALNOŚCIĄ, Częstochowa, PL BUP 10/12

PL B1 POLITECHNIKA WARSZAWSKA, WARSZAWA, PL

PL B1. POLITECHNIKA LUBELSKA, Lublin, PL BUP 04/18

(54) Przyrząd do pomiaru liniowych odchyleń punktów od kolimacyjnych płaszczyzn

PL B1. RAK PIOTR, Wąchock, PL BUP 10/11. PIOTR RAK, Wąchock, PL WUP 10/14. rzecz. pat. Grażyna Basa RZECZPOSPOLITA POLSKA

PL B1. Sposób pobierania próbek materiałów sypkich i urządzenie do pobierania próbek materiałów sypkich

PL B1. POLITECHNIKA RZESZOWSKA IM. IGNACEGO ŁUKASIEWICZA, Rzeszów, PL BUP 11/15

PL B1. METALPLAST-CZĘSTOCHOWA SPÓŁKA AKCYJNA, Częstochowa, PL BUP 26/10

WZORU UŻYTKOWEGO PL Y1 B62K 5/04 ( ) Gębski Paweł, Warszawa, PL BUP 17/08. Paweł Gębski, Warszawa, PL

(13) B1 (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) PL B1 B23K 7/10 RZECZPOSPOLITA POLSKA. Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej

PL B1. KOYNOV KRYSTIAN INDYWIDUALNA PRAKTYKA STOMATOLOGICZNA MEDENTA, Wrocław, PL BUP 25/07. KRYSTIAN KOYNOV, Wrocław, PL

PL B1. ZELMER SA,Rzeszów,PL BUP 11/02

PL B1. DOROS TEODORA D. A. GLASS, Rzeszów, PL BUP 26/07. WIESŁAW DOROS, Rzeszów, PL ANGIE DOROS-ABRAMCZYK, Warszawa, PL

PL B1. UNIWERSYTET PRZYRODNICZY WE WROCŁAWIU, Wrocław, PL BUP 14/05. KAZIMIERZ ĆMIELEWSKI, Wrocław, PL

PL B1. SZKODA ZBIGNIEW, Tomaszowice, PL BUP 03/16

PL B1. POLITECHNIKA LUBELSKA, Lublin, PL BUP 24/18. PRZEMYSŁAW FILIPEK, Lublin, PL WUP 06/19. rzecz. pat.

(12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11)

(86) Data i numer zgłoszenia międzynarodowego: , PCT/FI04/ (87) Data i numer publikacji zgłoszenia międzynarodowego:

PL B1. KRAWIEC BOGUSŁAW, Łódź, PL BUP 20/07. BOGUSŁAW KRAWIEC, Łódź, PL WUP 05/11. rzecz. pat. Bożydar Piotrowski

(13) B1 (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) PL B1. Fig. 2 RZECZPOSPOLITA POLSKA. (21) Numer zgłoszenia:

PL B1. Sposób optycznej detekcji wad powierzchni obiektów cylindrycznych, zwłaszcza wałków łożysk. POLITECHNIKA WROCŁAWSKA, Wrocław, PL

(12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) (13) B1

(12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) (13) B1

WZORU UŻYTKOWEGO PL Y1. INSTYTUT POJAZDÓW SZYNOWYCH TABOR, Poznań, PL BUP 13/08

PL B1. Urządzenie do badania nieciągłości struktury detali ferromagnetycznych na małej przestrzeni badawczej. POLITECHNIKA LUBELSKA, Lublin, PL

PL B1. MAŁKOWSKI ZENON, Wiry, PL BUP 13/15. ZENON MAŁKOWSKI, Wiry, PL WUP 10/16. rzecz. pat. Antoni Cieszkowski

PL B1. LISICKI JANUSZ ZAKŁAD PRODUKCYJNO HANDLOWO USŁUGOWY EXPORT IMPORT, Pukinin, PL BUP 17/16. JANUSZ LISICKI, Pukinin, PL

PL B1. PRZEMYSŁOWY INSTYTUT AUTOMATYKI I POMIARÓW PIAP, Warszawa, PL BUP 12/10

RZECZPOSPOLITAPOLSKA(12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11)

Fig. 1 (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) PL B1 (13) B1 G 01S 3/72 E21F 11/00 RZECZPOSPOLITA POLSKA. (21) Numer zgłoszenia:

PL B1. Kompensator optyczny odpracowujący nastawy do strzelania w celownikach lunetowych. Wojskowa Akademia Techniczna, Warszawa,PL

WZORU UŻYTKOWEGO PL Y1. CHAJA STANISŁAW, Kielce, PL MALINOWSKI MIROSŁAW, Kielce, PL SUCHAŃSKI JERZY, Kielce, PL

(13) B1 (12) OPIS PATENTOW Y (19)PL (11) PL B1 B03C 1/025 B03C 1/18

(12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11)

PL B1. POLITECHNIKA GDAŃSKA, Gdańsk, PL BUP 07/07. ROMAN WASIELEWSKI, Tczew, PL KAZIMIERZ ORŁOWSKI, Tczew, PL

PL B1. UNIWERSYTET PRZYRODNICZY W LUBLINIE, Lublin, PL BUP 02/ WUP 02/12. ZBIGNIEW OSZCZAK, Lublin, PL

(13) B1 (11) (12)OPIS PATENTOWY (19) PL PL B1. Fig. 2

PL B1. Stanowisko do badania nośności dynamicznej łożysk ślizgowych wzdłużnych, smarowanych cieczą magnetyczną

(96) Data i numer zgłoszenia patentu europejskiego:

Transkrypt:

RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 200563 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 358608 (51) Int.Cl. G01R 5/14 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data zgłoszenia: 06.02.2003 (54) Sposób i urządzenie do regulacji luzu osiowego mechanizmu miernika elektromagnetycznego (43) Zgłoszenie ogłoszono: 09.08.2004 BUP 16/04 (73) Uprawniony z patentu: Lubuskie Zakłady Aparatów Elektrycznych LUMEL S.A.,Zielona Góra,PL (45) O udzieleniu patentu ogłoszono: 30.01.2009 WUP 01/09 (72) Twórca(y) wynalazku: Andrzej Au,Racula,PL PL 200563 B1 (57) 1. Sposób regulacji luzu osiowego mechanizmu miernika elektromagnetycznego, w którym ustawia się pionowo organ ruchomy, podnosi się go do zetknięcia jego osi z kamieniem łożyskowym, po czym opuszcza się go i obserwując przemieszczenie wybranego elementu organu ruchomego reguluje się luz śrubą łożyskową, znamienny tym, że mechanizm miernika ustawia się wskazówką pod rdzeniem ruchomym i organ ruchomy poddaje działaniu pola magnetycznego powodującego jego podniesienie, układ optyczny służący do obserwacji wybranego fragmentu organu ustawia się tak, by obraz tego fragmentu znalazł się w wyznaczonym miejscu współpracującej z monitorem matrycy kamery, na którą przekazuje się jednocześnie obraz wzorcowej siatki pomiarowej, po czym usuwa się pole magnetyczne powodując opadnięcie organu o wartość obserwowanego na monitorze luzu, który reguluje się śrubą łożyskową. 4. Urządzenie do regulacji luzu osiowego mechanizmu miernika elektromagnetycznego zawierające uchwyt mocujący mechanizm oraz przyrząd optyczny do obserwacji luzu, znamienne tym, że zawiera usytuowany nad uchwytem (1) mocującym mechanizm (3) miernika wspornik (7) z ruchomym magnetycznym chwytakiem (8) oraz źródło (13) promieniowania podczerwonego przenoszącego obraz wybranego fragmentu ruchomego organu (2) przez ruchomą płasko-równoległą płytkę (15) i obiektyw (16) na światłodzielące zwierciadło (19), na które jednocześnie z pomiarowego wzorca (20) poprzez obiektyw (21) podawany jest obraz wzorcowej siatki pomiarowej, a ze zwierciadła (19) oba obrazy przekazywane są na matrycę (22) kamery współpracującej z monitorem (23).

2 PL 200 563 B1 Opis wynalazku Wynalazek dotyczy sposobu i urządzenia do regulacji luzu osiowego mechanizmu miernika elektromagnetycznego wykorzystywanego w procesie montażu miernika elektromagnetycznego. Z książki Własow M. F., Pigin S. M., Czerwiakow W. I. Montaż i regulacja elektrycznych przyrządów pomiarowych, wyd. WNT, Warszawa, 1966, s.135-137 znany jest sposób regulacji luzu osiowego w miernikach, który polega na odpowiednim przemieszczaniu śruby łożyskowej. W tym celu unieruchamia się mechanizm miernika tak, aby oś organu ruchomego znajdowała się w pozycji pionowej. Następnie podnosi się lekko organ ruchomy do oporu obserwując przemieszczenie organu ruchomego i w przypadku zbyt dużego przemieszczenia tego organu, świadczącego o zbyt dużym luzie osiowym, wkręca się wkrętakiem śrubę łożyskową wraz z kamieniem łożyskowym regulując wartość luzu. Ponieważ luz osiowy w miernikach elektromagnetycznych powinien mieć wartość kilkudziesięciu mikrometrów, pomimo stosowania lupy jego regulacja wymaga od montera wyjątkowo dużej wprawy. W zmontowanym mierniku można w przybliżeniu oszacować wartość luzu na podstawie przemieszczenia końca wskazówki przy przechylaniu organu ruchomego. Wymaga to jednak znajomości geometrii kamienia łożyskowego i osi organu ruchomego. Wartość luzu w ten sposób regulowanego jest określona z niedostateczną dokładnością i najczęściej oceniana subiektywnie. Najczęściej używanym przyrządem ułatwiającym określenie wartości luzu jest lupa, która jednak nie umożliwia obiektywnego szacowania wartości luzu osiowego. Celem wynalazku jest opracowanie sposobu i urządzenia umożliwiającego łatwe i obiektywne określenie i regulację wartości luzu osiowego w mechanizmie miernika elektromagnetycznego. W sposobie regulacji luzu osiowego mechanizmu miernika elektromagnetycznego według wynalazku mechanizm miernika ustawia się pionowo, ze wskazówką pod rdzeniem ruchomym. Organ ruchomy miernika poddaje się działaniu pola magnetycznego powodującego podniesienie organu do zetknięcia się jego osi z kamieniem łożyskowym. Układ optyczny służący do obserwacji wybranego fragmentu organu ruchomego ustawia się tak, by obraz tego fragmentu znalazł się w wyznaczonym miejscu współpracującej z monitorem matrycy kamery. Na matrycę kamery przekazuje się jednocześnie z wzorca pomiarowego obraz wzorcowej siatki pomiarowej. Po nałożeniu się obrazów usuwa się pole magnetyczne powodując opadnięcie organu o wartość obserwowanego na monitorze luzu. Luz ten reguluje się śrubą łożyskową do wymaganej wartości. Do obserwacji wybranego fragmentu organu ruchomego korzystnie stosuje się promieniowanie podczerwone, którego natężenie dla obserwacji wybranego fragmentu organu ruchomego zmniejsza się. Urządzenie do regulacji luzu osiowego mechanizmu miernika elektromagnetycznego według wynalazku zawiera usytuowany nad uchwytem mocującym mechanizm miernika wspornik z ruchomym chwytakiem magnetycznym. Obok mocowanego w uchwycie mechanizmu miernika usytuowane jest źródło promieniowania podczerwonego przenoszącego obraz wybranego fragmentu organu ruchomego przez ruchomą płasko-równoległą płytkę i obiektyw na zwierciadło światłodzielące. Urządzenie zawiera również płytkę wzorcową z siatką wzorcową, której obraz podawany jest poprzez obiektyw wzorca na zwierciadło światłodzielące. Ze zwierciadła oba obrazy przekazywane są na matrycę kamery współpracującej z monitorem. Przy źródle promieniowania podczerwonego urządzenie korzystnie zawiera ruchomy filtr szary redukujący intensywność promieniowania. Korzystne jest również wyposażenie urządzenia w dwustanowy obiektyw kamery. Zaletą sposobu i urządzenia według wynalazku jest możliwość poprawnego i obiektywnego ustawienia wartości luzu osiowego i uzyskanie stabilności i powtarzalności parametrów montowanych mierników. Obsługa urządzenia nie wymaga od operatora dużej wprawy i zapewnia obiektywność pomiaru wartości luzu. Sposób regulacji luzu osiowego mechanizmu miernika elektromagnetycznego wyjaśniony jest wraz z przykładem wykonania urządzenia przedstawionym na rysunku, na którym fig. 1 pokazuje schematycznie układ optyczny urządzenia ze wspornikiem chwytaka częściowo odsłoniętym dla pokazania zamocowanego mechanizmu miernika, natomiast fig. 2 przedstawia w przekroju osiowym fragment urządzenia z uchwytem mocującym mechanizm miernika oraz chwytakiem magnetycznym. Urządzenie do regulacji luzu osiowego miernika elektromagnetycznego zawiera mocujący uchwyt 1, w którym umieszcza się zawierający ruchomy organ 2 mechanizm 3 regulowanego mierni-

PL 200 563 B1 3 ka. Organ 2, z osią 4 obrotowo ułożyskowaną, sytuuje się w położeniu pionowym ze wskazówką 5 umieszczoną pod ruchomym rdzeniem 6. Nad mocującym uchwytem 1 znajduje się umieszczony we wsporniku 7 ruchomy magnetyczny chwytak 8 zakończony z dołu magnesem 9, a z góry radełkowanym pokrętłem 10 i wyposażony w oporowy kołek 11. Podniesienie i obrót chwytaka 8 umożliwia jego oparcie o występ 12 wspornika 7, tym samym podniesienie magnesu 9 i zmniejszenie wpływu pola magnetycznego na oś 4 ruchomego organu 2. Obok mocującego uchwytu 1 usytuowane jest źródło 13 emitujące promieniowanie podczerwone na ruchomy organ 2 poprzez ruchomy szary filtr 14 promieniowania podczerwonego. Z drugiej strony mocującego uchwytu 1 w osi źródła 13 zamocowana jest obrotowo płasko- -równoległa płytka 15, z której obraz wybranego fragmentu ruchomego organu 2 przechodzi poprzez obiektyw 16 na pryzmat 17 kierujący obraz poprzez dwustanowy obiektyw 18 kamery na ustawione pod kątem 45 światłodzielące zwierciadło 19. Obok zwierciadła 19 umieszczony jest w torze usytuowanym pod kątem 90 do osi obiektywu 18 kamery pomiarowy wzorzec 20 wyposażony we wzorcową siatkę. Obraz siatki, powstały w wyniku oświetlenia pomiarowego wzorca 20, poprzez obiektyw 21 podawany jest na światłodzielące zwierciadło 19, skąd wraz z obrazem wybranego fragmentu ruchomego organu 2 przekazywany jest na matrycę 22 kamery współpracującej z monitorem 23. Przed pomiarowym wzorcem 20, w celu uzyskania wyraźnego obrazu siatki wzorcowej umieszczony jest matowy kołpak 24 rozpraszający strumień światła pochodzący z nie pokazanej na rysunku żarówki. W przykładowym sposobie regulacji luzu osiowego mechanizmu miernika elektromagnetycznego mocuje się mechanizm 3 miernika w uchwycie 1 urządzenia tak, aby ruchomy organ 2 ustawiony został pionowo, ze wskazówką 5 usytuowaną pod ruchomym rdzeniem 6. Opuszcza się magnetyczny chwytak 8 do oparcia oporowego kołka 11 o wspornik 7 powodując, pod wpływem działania pola magnetycznego wytworzonego przez magnes 9, podniesienie ruchomego organu 2 do zetknięcia jego osi 4 z kamieniem łożyskowym w oprawie 25. W polu wiązki promieniowania podczerwonego umieszcza się szary filtr 14 zmniejszający natężenie promieniowania i ustawia się płasko-równoległą płytkę 15 tak, aby obraz wybranego fragmentu ruchomego organu 2, powstały pod wpływem działania promieniowania podczerwonego ze źródła 13, znalazł się w wyznaczonym miejscu współpracującej z monitorem matrycy 22 kamery. Miejsce to ustalone jest przez przekazywany z pomiarowego wzorca 20 obraz wzorcowej siatki pomiarowej. Po usunięciu szarego filtru 14 z toru promieniowania podczerwonego, za pomocą dwustanowego obiektywu 18 kamery ustawia się odpowiednio powiększony obraz wybranego fragmentu ruchomego organu 2, po czym przez podniesienie chwytaka 8 z magnesem 9 zmniejsza się wpływ pola magnetycznego powodując opadnięcie organu do oparcia osi 4 o kamień w łożyskowej śrubie 26. Obserwując na monitorze obraz przemieszczanego na tle wzorcowej siatki pomiarowej wybranego fragmentu ruchomego organu, reguluje się luz osiowy łożyskową śrubą 26 za pomocą wkrętaka 27. Zastrzeżenia patentowe 1. Sposób regulacji luzu osiowego mechanizmu miernika elektromagnetycznego, w którym ustawia się pionowo organ ruchomy, podnosi się go do zetknięcia jego osi z kamieniem łożyskowym, po czym opuszcza się go i obserwując przemieszczenie wybranego elementu organu ruchomego reguluje się luz śrubą łożyskową, znamienny tym, że mechanizm miernika ustawia się wskazówką pod rdzeniem ruchomym i organ ruchomy poddaje działaniu pola magnetycznego powodującego jego podniesienie, układ optyczny służący do obserwacji wybranego fragmentu organu ustawia się tak, by obraz tego fragmentu znalazł się w wyznaczonym miejscu współpracującej z monitorem matrycy kamery, na którą przekazuje się jednocześnie obraz wzorcowej siatki pomiarowej, po czym usuwa się pole magnetyczne powodując opadnięcie organu o wartość obserwowanego na monitorze luzu, który reguluje się śrubą łożyskową. 2. Sposób regulacji luzu osiowego według zastrz. 1, znamienny tym, że do obserwacji wybranego fragmentu organu ruchomego stosuje się promieniowanie podczerwone. 3. Sposób regulacji luzu osiowego według zastrz. 1, znamienny tym, że dla obserwacji wybranego fragmentu organu ruchomego zmniejsza się natężenie promieniowania podczerwonego 4. Urządzenie do regulacji luzu osiowego mechanizmu miernika elektromagnetycznego zawierające uchwyt mocujący mechanizm oraz przyrząd optyczny do obserwacji luzu, znamienne tym, że

4 PL 200 563 B1 zawiera usytuowany nad uchwytem (1) mocującym mechanizm (3) miernika wspornik (7) z ruchomym magnetycznym chwytakiem (8) oraz źródło (13) promieniowania podczerwonego przenoszącego obraz wybranego fragmentu ruchomego organu (2) przez ruchomą płasko-równoległą płytkę (15) i obiektyw (16) na światłodzielące zwierciadło (19), na które jednocześnie z pomiarowego wzorca (20) poprzez obiektyw (21) podawany jest obraz wzorcowej siatki pomiarowej, a ze zwierciadła (19) oba obrazy przekazywane są na matrycę (22) kamery współpracującej z monitorem (23). 5. Urządzenie do regulacji luzu według zastrz. 3, znamienne tym, że w torze promieniowania podczerwonego zawiera ruchomy szary filtr (14). 6. Urządzenie do regulacji luzu według zastrz. 3, znamienne tym, że obiektyw (18) kamery jest obiektywem dwustanowym. Rysunki

PL 200 563 B1 5

6 PL 200 563 B1 Departament Wydawnictw UP RP Cena 2,00 zł.