Naukowo-badawcze Laboratorium Międzyuczelnianego w Stalowej Woli. Jakub Nowak



Podobne dokumenty
Spektrometr XRF THICK 800A

THICK 800A DO POMIARU GRUBOŚCI POWŁOK. THICK 800A spektrometr XRF do szybkich, nieniszczących pomiarów grubości powłok i ich składu.

Spektrometry Ramana JASCO serii NRS-5000/7000

(Pieczęć Wykonawcy) Załącznik nr 8 do SIWZ Nr postępowania: ZP/259/050/D/11. Opis oferowanej dostawy OFERUJEMY:

Laboratorium nanotechnologii

Przenośne spektrometry Ramana

Laboratorium Badania Materiałów Inżynierskich i Biomedycznych

METODY BADAŃ BIOMATERIAŁÓW

Laboratorium badań materiałowych i technologicznych. dr inż. Tomasz Kurzynowski

Opis przedmiotu zamówienia

RoHS-Vision / X-RoHS + SDD

labmat.prz.edu.pl LABORATORIUM BADAŃ MATERIAŁÓW DLA PRZEMYSŁU LOTNICZEGO Politechnika Rzeszowska ul. W. Pola 2, Rzeszów

Wykaz norm. Lex norma badania nieniszczące

Aparatura do osadzania warstw metodami:

Dyfrakcja rentgenowska cz.2 Mikroskopia Sił Atomowych AFM

MIKROSKOPIA ELEKTRONOWA. Publikacja współfinansowana ze środków Unii Europejskiej w ramach Europejskiego Funduszu Społecznego

Techniki próżniowe (ex situ)

WYBRANE MASYWNE AMORFICZNE I NANOKRYSTALICZNE STOPY NA BAZIE ŻELAZA - WYTWARZANIE, WŁAŚCIWOŚCI I ZASTOSOWANIE

Zaawansowane Metody Badań Strukturalnych. Dyfrakcja rentgenowska cz.2 Mikroskopia Sił Atomowych AFM

ZAPLECZE LABORATORYJNO-TECHNICZNE Wydział Nauk o Ziemi i Gospodarki Przestrzennej UMCS

DEFEKTOSKOP ULTRADŹWIĘKOWY ECHOGRAPH 1090

Spektrometry EDXRF do analizy metali szlachetnych X-PMA i w wersji przenośnej EX-PMA

MatliX + MatliX MS. Urządzenie do wizyjnej kontroli wymiarów oraz kontroli defektów powierzchni

SPM Scanning Probe Microscopy Mikroskopia skanującej sondy STM Scanning Tunneling Microscopy Skaningowa mikroskopia tunelowa AFM Atomic Force

Laboratorium Materiałów Zol-Żelowych i Nanotechnologii Dolnośląskiego Centrum Zaawansowanych Technologii

ĆWICZENIE NR 9. Zakład Budownictwa Ogólnego. Stal - pomiar twardości metali metodą Brinella

Grafen materiał XXI wieku!?

DOTYCZY: Sygn. akt SZ /12/6/6/2012

Mikroskopia skaningowa tunelowa i siłowa

ZAŁĄCZNIKI. do wniosku dotyczącego ROZPORZĄDZENIA PARLAMENTU EUROPEJSKIEGO I RADY

MIT-SCAN-T3. Precyzyjne urządzenie do nieniszczącego pomiaru grubości warstw nawierzchni asfaltowych oraz betonowych wg TP D-StB 12

2. Metody, których podstawą są widma atomowe 32

Podstawy fizyki wykład 2

BADANIA WARSTW FE NANOSZONYCH Z ELEKTROLITU NA BAZIE ACETONU

1 k. AFM: tryb bezkontaktowy

Spektroskopia ramanowska w badaniach powierzchni

RFT-6000 Przystawka FT-Raman do spektrometru FT/IR-6300

Spektrometr ICP-AES 2000

Wykaz urządzeń Lp Nazwa. urządzenia 1. Luksomierz TES 1332A Digital LUX METER. Przeznaczenie/ dane techniczne Zakres /2000/20000/ lux

Zastosowanie deflektometrii do pomiarów kształtu 3D. Katarzyna Goplańska

h λ= mv h - stała Plancka (4.14x10-15 ev s)

Przewaga klasycznego spektrometru Ramana czyli siatkowego, dyspersyjnego nad przystawką ramanowską FT-Raman

SIGMACHECK. Przenośny miernik pomiaru przewodności właściwej prądami wirowymi. TechControl s.c. ul. Gdyńska Racibórz Poland

SPECYFIKACJA TECHNICZNA ZESTAWU DO ANALIZY TERMOGRAWIMETRYCZNEJ TG-FITR-GCMS ZAŁĄCZNIK NR 1 DO ZAPYTANIA OFERTOWEGO

PhoeniX. Urządzenie do wizyjnej kontroli wymiarów oraz kontroli defektów powierzchni

Materiały magnetyczne SMART : budowa, wytwarzanie, badanie właściwości, zastosowanie / Jerzy Kaleta. Wrocław, Spis treści

I. Wstęp teoretyczny. Ćwiczenie: Mikroskopia sił atomowych (AFM) Prowadzący: Michał Sarna 1.

OFERTA BADAŃ MATERIAŁOWYCH Instytutu Mechaniki i Informatyki Stosowanej Uniwersytetu Kazimierza Wielkiego

SZCZEGÓŁOWY OPIS PRZEDMIOTU ZAMÓWIENIA

Centrum Badań i Rozwoju Nowoczesnych Technologii

SZCZEGÓŁOWY OPIS PRZEDMIOTU ZAMÓWIENIA

Przegląd niwelatorów laserowych

Nowoczesne metody metalurgii proszków. Dr inż. Hanna Smoleńska Materiały edukacyjne DO UŻYTKU WEWNĘTRZNEGO Część III

Przegląd rodziny produktów. OL1 Dokładne prowadzenie po torze na pełnej szerokości taśmy CZUJNIKI POMIARU PRZEMIESZCZEŃ

GONIOMETR DSA25 SPECYFIKACJA

Sondy wymienne 456C. Elcometer oferuje szeroki zakres wymiennych sond pomiarowych, różnych typów i różnych zakresów:

LABORATORIUM DYFRAKCJI RENTGENOWSKIEJ (L-3)

Promotor: prof. nadzw. dr hab. Jerzy Ratajski. Jarosław Rochowicz. Wydział Mechaniczny Politechnika Koszalińska

Poza tym zaawansowanym systemem elektromechanicznego zadawania siły, FALCON oferuje najwyższą jakość mechaniczną i optyczną wszystkich komponentów.

Politechnika Lubelska Wydział Elektrotechniki i Informatyki Katedra Urządzeń Elektrycznych i Techniki Wysokich Napięć. Dr hab.

ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 342

LABORATORIUM ANALITYCZNEJ MIKROSKOPII ELEKTRONOWEJ (L - 2)

Rok akademicki: 2015/2016 Kod: MIM IS-n Punkty ECTS: 5. Kierunek: Inżynieria Materiałowa Specjalność: Inżynieria spajania

Ultrasonograficzne mierniki grubości materiału. Seria MTG & PTG

ScrappiX. Urządzenie do wizyjnej kontroli wymiarów oraz kontroli defektów powierzchni

Meraserw-5 s.c Szczecin, ul.gen.j.bema 5, tel.(91) , fax (91) ,

CIENKOŚCIENNE KONSTRUKCJE METALOWE

845_Mailing_PL.qxd :05 Seite 1 Rozmiar rzeczy- wisty

N C S. NIP: VAT UE: PL REGON: Lukas Bank SA

Jonizacja plazmą wzbudzaną indukcyjnie (ICP)

Laboratorium Mikroskopii Elektronowej

Technologie laserowe w przemyśle:

8. PRZYWRÓCENIE USTAWIEŃ FABRYCZNYCH

UCZESTNICY POSTĘPOWANIA

Chemia i Dynamika Związków Koordynacyjnych - badania korelacji między strukturą i właściwościami związków metali przejściowych.

ZAKŁAD BADANIA MATERIAŁÓW

SquezeeX. Urządzenie do wizyjnej kontroli wymiarów oraz kontroli defektów powierzchni

Zaawansowane Metody Badań Strukturalnych. Badania strukturalne materiałów Badania właściwości materiałów

FORMULARZ OFERTY-SPECYFIKACJA

S-MOBILE / S-MOBILE ULS

Rozwiązania firmy Harrer & Kassen do pomiaru gęstości i wilgotności

Nazwa przedmiotu INSTRUMENTARIUM BADAWCZE W INŻYNIERII MATERIAŁOWEJ Instrumentation of research in material engineering

ANALIZA POWIERZCHNI BADANIA POWIERZCHNI

2. Lepkość za pomocą kubków wypływowych PN-EN ISO 2431

Spektroskopia charakterystycznych strat energii elektronów EELS (Electron Energy-Loss Spectroscopy)

Program studiów II stopnia dla studentów kierunku chemia od roku akademickiego 2015/16

AFM. Mikroskopia sił atomowych

NOWOCZESNE TECHNIKI BADAWCZE W INŻYNIERII MATERIAŁOWEJ. Beata Grabowska, pok. 84A, Ip

LCPRO T INTELIGENTNY SYSTEM DO POMIARU WYMIANY GAZOWEJ INTENSYWNOŚCI FOTOSYNTEZY. Możliwość pełnej kontroli mikroklimatu w komorze pomiarowej!

Badanie dylatometryczne żeliwa w zakresie przemian fazowych zachodzących w stanie stałym

Szybkie i precyzyjne termometry na podczerwień

AM350 PRZENOŚNY SKANER POWIERZCHNI LIŚCI. Pomiar powierzchni liści w terenie. Numer katalogowy: N/A OPIS

Najnowszej generacji długościomierz z trzema osiami sterowanymi w trybie CNC

ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 342

FLUORYMETR - MIERNIK STRESU OS30P+ Pomiar fluorescencji chlorofilu. Numer katalogowy: N/A OPIS SZYBKIE WYKRYWANIE STRESU U ROŚLIN

Forum BIZNES- NAUKA Obserwatorium. Kliknij, aby edytować styl wzorca podtytułu. NANO jako droga do innowacji

Potencjał technologiczny i produkcyjny PCO S.A. w zakresie wytwarzania urządzeń termowizyjnych

Analizator mleka z licznikiem komórek somatycznych LACTOSCAN COMBO

Wartość brutto (zł) CZĘŚĆ 5 - ZAKUP POMOCY DYDAKTYCZNYCH NA POTRZEBY KURSU METROLOGII. Jednostka miary. Ilość. szt. 20. kpl.

LABORATORIUM SPEKTRALNEJ ANALIZY CHEMICZNEJ (L-6)

Transkrypt:

1 Naukowo-badawcze Laboratorium Międzyuczelnianego w Stalowej Woli Jakub Nowak Stalowa Wola 13-12-2013

2 Laboratorium zaawansowanych technik laserowych Naukowobadawcze Laboratorium Międzyuczelniane w Stalowej Woli Laboratorium wysokozaawansowanych materiałów i struktur kompozytowych

3 LABORATORIUM ZAAWANSOWANYCH TECHNIK LASEROWYCH zrobotyzowane stanowisko spawania laserowego, laserowe stanowisko do mikronapawania, zestaw do pomiaru parametrów powierzchni, profilometr, poroscop, ferrytoskop, przyrząd do pomiaru głębokości pęknięć, dualscope, zestaw twardościomierzy, defektoskop magnetyczny, zestaw do opracowywania modeli 3D z głowicą skanującą), helowy detektor szczelności.

4 LABORATORIUM WYSOKOZAAWANSOWANYCH MATERIAŁÓW I STRUKTUR KOMPOZYTOWYCH spektrometr FT-raman i FT-IR, mikroskop IR, dyspersyjny spektrometr ramanowski, mikroskop sił atomowych, spektrometr fotoelektronów, mikroskop elektronowy z detektorem EDS, dyfraktometr rentgenowski, tomograf rentgenowski, spektrometry ICP MS i OES, system ablacji laserowej, analizator fluorescencji rentgenowskiej.

5 Nicolet NXR 9650

6 Obszary badań FT-IR i IR: - identyfikacja materiałów i surowców, - badania polimerów i gumy, - analiza pigmentów i farb, - analiza opakowań i laminatów, - badanie powłok, - analiza włókien, - analiza farmaceutyków i kosmetyków.

7 Zalety spektroskopii ramanowskiej: metoda nieniszcząca i bezkontaktowa, szybkość, brak przygotowania próbki, możliwa analiza przez szkło i tworzywo sztuczne, łatwa identyfikacja i duża baza widm, Analiza i identyfikacja Mapy rozmieszczenia związków

8 Alkohol Aldehyd Kwas

9 Komplementarność analizy ramanowskiej i IR: piki słabe w jednej metodzie są silne w drugiej, FT-IR zazwyczaj dostarcza więcej informacji na temat grup funkcyjnych, Raman zazwyczaj dostarcza informacje o strukturze związku.

1 0 Zastosowanie: farmacja, medycyna, analiza żywności, badania polimerów, analiza chemiczna związków. Spektroskopia FT-ramanowska umożliwia: analizę i charakterystykę cząsteczek związków organicznych i nieorganicznych, badania konformacji cząsteczek, polimorfizmu, faz krystalicznych, przejść fazowych, analizę ciał stałych, cieczy i niektórych gazów, pracę z makro i mikro próbkami, analizę jakościową i ilościową.

1 1 Nicolet in10 MX

1 2

1 3 invia

1 4 Lasery: 1064 nm Nd:YAG 100mW 785 nm NIR 300mW 514 nm Nd:YAG 50mW 325 nm He-Cd 25mW

1 5 Obszary badań dyspersyjnego spektrometru ramana - biologia i medycyna, - półprzewodniki i ogniwa, - polimery, kompozyty, pigmenty, - nanotechnologia, - geologia i gemmologia, - farmakologia i kosmetologia.

1 6

1 7

1 8 Naprężenia materiału

1 9

2 0 Innova

2 1 Możliwości pomiarowe AFM: topografia właściwości elektryczne właściwości magnetyczne właściwości cieplne charakterystyka nanomechaniczna Pole: nm 200 mm Rozdzielczość ratelarna: ~1 nm Rozdzielczość wertykalna: sub-nm Tryby pomiarowe AFM: - kontaktowy AFM, - pół-kontaktowy AFM, - bezkontaktowy AFM, - obrazowania fazowego, - mikroskopia prądów tunelowych (STM), - Krzywe siła odległość, Płytka półprzewodnika. Od lewej AFM topografia, po prawej obraz ramanowski. Mat. Bruker

2 2 SPEKTROMETR FOTOELEKTRONÓW K-alfa

Counts / s 2 3 Survey 10 Scans, 2 m 16.1 s, 400µm, CAE 200.0, 1.00 ev O1s Si2s Si2p 1. 6 0 E + 0 5 1. 4 0 E + 0 5 S2s P2p C1s 1. 2 0 E + 0 5 1. 0 0 E + 0 5 8. 0 0 E + 0 4 C Auger 6. 00 E + 04 4. 00 E + 04 2. 00 E + 04 0. 00 E + 00 1300 N Auger 1200 O Auger Cu2p 3/2 1100 1000 900 800 700 600 500 Binding Energy (ev) N1s Ca2p 400 300 Si2s 200 Si2p 100 0 Element/chemical state At% Si2p organic 0.63 Si2p SiO2 2.08 P2p 0.39 S2p thiol 0.28 S2p sulfate 0.11 C1s 81.90 Ca2p <0.1 N1s 14.40 Cu2p 3/2 (Cu + ) 0.12 Cu2p 3/2 (Cu 2+ ) 0.09 Elemental/chemical state quantification

2 4 C1s CO is organically bonded C-O and carbonate

2 5 Koral bambusowy- analiza warstw

2 6 Korozja powierzchni druta Korozja powierzchni wolframu

2 7 Analiza stali XPS Analiza warstw Si-SiO2

2 8 MIKROSKOP ELEKTRONOWY Z DETEKTOREM EDS

2 9 Obrazowanie próbek mikroskopem SEM

3 0 Materiały OXFORD Instr.

3 1

3 2 LayerProbe Warstwy złożone od 2 nm do 2000 nm

3 3 DYFRAKTOMETR RENTGENOWSKI, Empyrean

3 4 Możliwości pomiarowe dyfraktometru: analiza dyfrakcyjna w kapilarach, badania odbiciowe jak i niskokątowe, analiza naprężeń, analiza fazowa materiału, analiza reflektometryczna, analiza warstw epitaksjalnych, analiza tekstury.

3 5 SPEKTROMETR RENTGENOWSKI WDXRF Axios max

3 6 Możliwości pomiarowe spektrometru: analiza w zakresie O-U, dodatkowe kryształy specjalne do analizy B, C i N, oprogramowanie do analizy jakościowej i ilościowej, pakiet oprogramowania i wzorców do analizy szerokiego zakresu materiałów mineralnych pakiet oprogramowania i wzorce do analizy metali zużyciowych w olejach pakiet oprogramowania i wzorce do analizy pierwiastków (min. 15) w stopach Ni, Fe i Co.

3 7 TOMOGRAF RENTGENOWSKI, v tome x m

3 8 Wielkość próbek :600 mm x 300 mm; up to 600 x 500 mm with limited travel range Maksymalna waga próbek :50 kg Rozdzielczość:2 microns (microfocus tube); optional down to < 1 micron (nanofocus tube)

3 9 Możliwości pomiarowe tomomografu: mikrotomografia obiektów metrologia wykrywania wad w odlewach i spoinach analiza materiałów.

4 0

4 1

4 2 System ICP MS

4 3 Zastosowanie: - analiza śladowa pierwiastków

4 4 Laserowa ablacja

4 5 Laserowa ablacja- analiza

4 6 TWARDOŚCIOMIERZ PRZENOŚNY DYNATEST SC Przenośny twardościomierz o dużym nacisku pomiarowym (obciążenie 100 kgf) porównywalny z twardościomierzami stacjonarnymi Pomiar niezakłócony stanem powierzchni próbki/części. Niewrażliwy na odkształcenie lub ugięcie próbki. Zdolny do pomiaru w dowolnym położeniu głowicy. Obciążenie pomiarowe niezależne od operatora. Zalecany szczególnie przy pomiarze twardości żeliw w trudnym warunkach, np. w odlewniach. Do pomiaru rur o średnicy od 15 mm Zgodny z wymogami normy DIN 50157

4 7 HANDY ESATEST Do pomiaru w miejscach trudnodostępnych (linia zęba, otwory, wnęki, powierzchnie nieregularne...) Obciążenie ustawiane w zakresie 1-10 kp z możliwością określenia maksymalnego dla danej aplikacji obciążenia Główne aplikacje: pomiar twardości w strefie wpływu ciepła spoiny po spawaniu pomiar twardości aluminium (w tym cienkich blach) Złożone konstrukcje, takie jak silniki odrzutowe, skrzynie biegów, narzędzia skrawające Zgodny z wymogami normy DIN 50158 Z opcjonalnym oprzyrządowaniem do pomiaru w otworach o minimalnej średnicy 15 i na głębokości do 50 mm

4 8

4 9

5 0

5 1 ZALETY Proste pomiary bez względu na środowisko Wysokiej klasy komponenty z kamerą Kompleksowe pomiary i zadania inspekcyjne Nowe aplikacje, np.: pomiary wnętrz samochodów itp. Pomiary niezależne od zewnętrznych warunków świetlnych Szybkie skanowanie dużych komponentów Zaawansowana technologia przeniesiona z ATOS Triple Scan Wysoka jakość danych pomiarowych Łatwy transport Lekka głowica skanera Potężny, przenośny komputer do przetwarzania danych

5 2 ZALETY Głowica, trójnóg, pola pomiarowe i ręczny stolik obrotowy w jednej walizce Możliwość dostosowania dokładności, rozdzielczości i szybkości Digitalizacja mały i dużych części jedną głowicą pomiarową Kompletna analiza części Pomiary dużych komponentów, nawet kilkunastometrowych Kompletne rozwiązanie wyciągnij ze skrzyni : głowica, laptop, program, akcesoria Kamery stereowizyjne dla wysokiej dokładności Zawiera oprogramowanie pomiarowe i inspekcyjne Kompletne szkolenie i wsparcie techniczne

5 3

WYZNACZANIE ZAWARTOŚCI FERRYTU - FERRITSCOPE FMP30 FERRITSCOPE FMP30 Wykorzystuje zjawisko indukcji magnetycznej, wyposażony jest w wyświetlacz i sondę ręczną. Prąd o niskiej częstotliwości przepływa przez cewkę. Przemienne pole magnetyczne przenika próbkę. Wytworzone pole jest proporcjonalne do zawartości ferrytu. Mierzona jest przenikalność próbki zależna od występowania w niej materiałów magnetycznych takich jak ferryt. Slajd 54

FERRITSCOPE FMP30 - APLIKACJE Slajd 55

POROSOCOPE: ZASTOSOWANIA Wyszukiwanie porów w powłokach wykonanych z emalii Badanie powłok wewnątrz rur z wykorzystaniem systemu przedłużeń i okrągłych elektrod. Slajd 56

DUALSCOPE FMP 150- POMIAR GRUBOŚCI POWŁOK Pomiar grubości powłok metodą indukcji magnetycznej, prądów wirowych oraz metodą Halla z jednoczesnym automatycznym rozpoznaniem rodzaju materiału podłoża Intuicyjne menu Prosta obsługa Dotykowy ekran Edytowalne menu Do 1000 Aplikacji GRUBOŚĆ POWŁOK Slajd 57

DUALSCOPE FMP 150 - ZASTOSOWANIA Grubość powłoki lakierniczej na podłożu stalowym Pomiar grubości powłoki anodowej na elementach aluminiowych GRUBOŚĆ POWŁOK Slajd 58

DUALSCOPE FMP 150 - ZASTOSOWANIA Jednoczesny pomiar grubości farby i cynku na konstrukcjach stalowych GRUBOŚĆ POWŁOK Slajd 59

HOMMEL TESTER T1000- POMIAR CHROPOWATOŚCI I FALISTOŚCI W WERSJI PRZENOŚNEJ LUB STACJONARNEJ ZALETY Zwarta & ergonomiczna koncepcja Obsługa przenośna Prosty & elastyczny pomiar Łatwość obsługi - ergonomiczna klawiatura - pokrętło Parametry chropowatości wg ISO, DIN, JIS, Motif, SEP 1940 Mała stacja pomiarowa ze statywem SH100 Slajd 60

6 1 Dziękuje za uwagę