Miernictwo Elektroniczne
|
|
- Jadwiga Lewandowska
- 7 lat temu
- Przeglądów:
Transkrypt
1 Elektroniki Elektroniki Elektroniki Elektroniki Elektroniki Katedr Miernictwo Elektroniczne Charakterystyka przedmiotu wykładowca wykład 15 godzin ( ) 5.04 wykład się nie odbędzie laboratorium dr hab. inż. Łukasz Śliwczyński Katedra Elektroniki C3 515 dr hab. inż. Łukasz Śliwczyński proszę starostę o mail kontaktowy tutuł Miernictwo elektroniczne tel. (617) 7-40 C3 515, konsultacje: zostaną ustalone niebawem 15 godzin ( ); laboratorium wprowadzające , gr termin odróbczy: do ustalenia z prowadzącym laboratorium (Witold Skowroński, Łukasz Buczek, Łukasz Śliwczyński) strona internetowa: 1
2 Elektroniki Elektroniki Elektroniki Elektroniki Elektroniki Katedr Zasady uzyskania zaliczenia aby otrzymać pozytywną ocenę z przedmiotu należy zaliczyć laboratorium oraz zdać test z wykładu (ok. 0 min) (propozycja lub 07.06) ocena końcowa jest obliczana jako średnia ważona: OK = 0.7*O Lab + 0.3*O Test (OK > 50% aby otrzymać zaliczenie) Zaliczenie laboratorium otrzymuje się na podstawie zaliczenia wszystkich ćwiczeń laboratoryjnych. Brak przygotowania do zajęć będzie skutkować niedopuszczeniem do odrabiania ćwiczenia. Ocena z laboratorium jest obliczana jako średnia ważona: O Lab = 0.7*O Opracowanie + 0.3*O Przygotowanie Aktywność na zajęciach może być wykorzystana przez prowadzącego do podniesienia oceny z laboratorium. Czego chcemy się nauczyć? teoretyczna jednostki miar systemy jednostek skale pomiarowe analiza niepewności BIPM Bureau international des poids et mesures NMI National Metrology Institution GUM Główny Urzad Miar metrologia prawna jednolitość i legalność narzędzi pomiarowych przepisy prawne (ustawy) normy warunki techniczne pomiar porównanie wzorzec ISO International Organization for Standarization IEC International Electrotechnical Commission PKN Polski Komitet Normalizacyjny stosowana budowa i wykorzystanie przyrządów pomiarowych pomiary wielkości w różnych obszarach działalności ludzkiej miernictwo elektroniczne - pomiary wielkości elektrycznych - pomiary wielkości nieelektrycznych metodami elektronicznymi - elektroniczne przyrządy pomiarowe
3 Elektroniki Elektroniki Elektroniki Elektroniki Elektroniki Katedr Program wykładu 1) wprowadzenie (ten wykład): pomiar, jednostki, wzorce ) sygnały i ich parametry; pomiary podstawowych wielkości 3) pomiar wielkości nieelektrycznych: siła, masa, ciśnienie 4) błędy i niepewność pomiaru początek laboratorium 5) pomiary i przyrządy cyfrowe 6) oscyloskop i pomiary oscyloskopowe 7) pomiar impedancji: metody pośrednie (techniczne) i mostkowe Do czego jest potrzebny pomiar? pomiar: proces ustalenia na podstawie eksperymentu wartości wielkości, która może w rozsądny sposób przypisana do procesu, zjawiska lub przedmiotu International vocabulary of metrology Basic and general concepts and associated terms (VIM) analiza: - weryfikacja teorii - konstruowanie modeli empirycznych - określenie parametrów urządzeń, elementów uwagi: monitorowanie: - określenie wartości wielkości, np.: temperatury, napięcia, mocy... - konstruowanie/ uruchamianie aparatury sterowanie: - określenie wartości wielkości, w celu użycia jej w układzie sterowania (w pętli zamkniętej lub otwartej) - pomiar porównanie z wzorcem i określenie wzajemnych relacji - porównanie bezpośrednie lub pośrednie - zakładamy, że porównanie jest powtarzalne i odtwarzalne - wykorzystujemy odpowiedni sprzęt i procedury pomiarowe - wiemy, jak ich używać - zapewnione są odpowiednie warunki pomiaru - mamy świadomość, że pomimo starań każdy pomiar jest obarczony niepewnością - wiemy, jak interpretować wynik pomiaru 3
4 Wynik pomiaru Q = Q [Q] Q wartość wielkości (ang. quantity value) Q - wartość liczbowa (ang. numerical value) [Q] jednostka wielkości (ang. unit) Międzynarodowy układ jednostek miar SI (1960) jednostki podstawowe wielkość długość masa czas natężenie prądu temperatura ilość substancji światłość jednostki pochodne symbol l, h, r, x m t I, i T n I v jednostka metr kilogram sekunda amper kelwin mol kandela α χ γ Q ka B C np.: N kg m s Jednostki pochodne symbol AGH Katedra Elektronik i AGH Katedra Elektroniki AGH Katedra Elektroniki Elektroniki Elektroniki Elektroniki Elektroniki Elektroniki Katedr m kg s A K mol cd źródło: 4
5 Elektroniki Elektroniki Elektroniki Elektroniki Elektroniki Katedr Wzorce jednostek miar (etalony) realizacja definicji wielkości, posiadająca określoną wartość wraz z określoną niepewnością (VIM) metrologia naukowa precyzja dokładność metrologia prawna czas: wzorzec międzynarodowy BIPM narodowy wzorzec pierwotny NMI (np. GUM) wzorce wtórne NMI wzorce robocze NMI wzorzec pierwotny (ang. primary measurement standard) wzorzec ustalony bez odwoływania się do innych wzorców tej samej kategorii wzorzec wtórny (ang. secondary measurement standard) wzorzec ustalony przez kalibrację względem wzorca pierwotnego wzorzec roboczy (ang. working measurement standard) wzorzec ustalony przez kalibrację względem wzorca pierwotnego, używany do kalibracji aparatury Jednostki definicje, realizacja, niepewność 1 sekunda [s] jest to czas trwania okresów promieniowania odpowiadających przejściu pomiędzy dwoma stanami nadsubtelnymi poziomu podstawowego atomu cezu Cs 133 wzorzec cezowy 5071A (Symmetricom, dawniej HP) niepewność 5x x10-1 zegary cezowe w PTB Physikalish-Technische Bundesanstalt Brunszwik, Niemcy niepewność 1.x x10-9 s/doba 1 s/.7x10 6 lat fontanna cezowa 1x
6 Elektroniki Elektroniki Elektroniki Elektroniki Elektroniki Katedr Jednostki definicje, realizacja, niepewność natężenie prądu elektrycznego: 1 amper [A] jest to natężenie prądu, który płynąc w dwóch równoległych przewodach... odległych o 1 metr powoduje ich przyciąganie się siłą 10-7 N na każdy metr długości (techniczna realizacja niemożliwa...) waga prądowa Rayleigha I W F 1 niepewność 6ppm 6x10-6 realizacja oparta o prawo Ohma 1ppm 1x10-6 E W I W R W I U W R W m F F K I 1 W ; I W F F 1 F m g m g Jednostki definicje, realizacja, niepewność różnica potencjałów (napięcie): 1 wolt [V] jest to różnica potencjałów pomiędzy dwoma punktami przewodnika, gdy płynący przez niego prąd o natężeniu 1 A wydziela w nim moc równą 1 W. (1948) wykorzystanie (odwrotnego) efektu Josephsona (lata 90 XX w) promieniowanie mikrofalowe f m T=4.K I j matryca ~ złącz Josephsona U j napięcia z zakresu V, niepewność ~10-10 h n fm U j n fm e K K GHz/V j f GHz U 0V... m j I j K f m K j U j 6
7 Elektroniki Elektroniki Elektroniki Elektroniki Elektroniki Katedr Jednostki definicje, realizacja, niepewność rezystancja: 1 om [] jest to rezystancja pomiędzy dwoma punktami przewodnika przez który płynie prąd 1A, wywołując spadek napięcia równy 1V realizacja wykorzystująca kwantowy efekt Halla I B niepewność ~10-9 rezystory wzorcowe 4-ro zaciskowe (Kelvina) zaciski napięciowe U X U H R W T~1K AlGaAs/GaAs heterozłącze zaciski prądowe gaz elektronowy -D UH RK R I n h RK e stała von Klitzinga R H [] źródło: LNE-SYRTE R H=R K/ T=1.3K; I=10A R X~ B [T] zakres wartości: 1 0M niepewność ~1 0 ppm stabilność 10 ppm/rok Jednostki definicje, realizacja, niepewność pojemność elektryczna: 1 farad [F] jest to pojemność kondensatora na którego okładkach powstaje napięcie 1V po naładowaniu go ładunkiem 1C. kondensator liczalny Thompsona-Lamparda C 1 C 0 C1 C C 0 ln pf/m niepewność ~0.0 ppm robocze wzorce pojemności <10pF - dielektryk powietrzny <1F - mika >1F - siarczek polipropylenu niepewność 0.0 % źródło: IET-LABS źródło: PTB R X [] 7
8 Elektroniki Elektroniki Elektroniki Elektroniki Elektroniki Katedr Czym się różni wzorzec pojemności od kondensatora? Primary Standard Capacitor, typ 1404, IET _LAB INC. Jednostki spoza układu SI jednostki do wyrażania stosunków neper [Np] q1 P1 L ln Np log B q P L db bel [B], decybel [db] P1 L 10 log db P L L e Np LNp 10 loge 4. LNp 10 log 34 logarytmiczne jednostki mocy - dbm P -10 P dbm 10 log 1 mw 0.1 X1 0 log X inne jednostki logarytmiczne (używane w akustyce) dbv napięcie względem 1 V dbu napięcie względem V db w przypadku mocy dla innych wielkości np. I, U, R itp. L db 10 ln10 LNp ln10 LdB 0. 3 LdB dbm mw 8
9 Elektroniki Elektroniki Elektroniki Kate- Uwagi o dbm-ach impedancja źródła/obciążenia S R S P N R L zamiana na napięcie/prąd P dbm 10 dbm PM Usk 1[mW] RL 10 RL[kΩ] 10 R L = 50 : 0 dbm U sk = 3,6 mv R L = 600 : 0 dbm U sk = 774,6 mv dodawanie dbm-ów UWAGA! jeśli R S R L P M P N ; P M =P N + K 4RS RL korekcja: K 10 log [db] R S RL R S = 50 ; R L = db R S = 600 ; R L = db PdBm 10 wynik będzie w ogólności zależał od rodzaju sygnałów i ich relacji fazowych Dokładność, precyzja dra Elektroniki Katedr dokładny precyzyjny precyzyjny i dokładny dokładność (ang. measurement accuracy) stopień zgodności pomiędzy wartością mierzoną a wartością prawdziwą precyzja (ang. measurement precission) stopień zgodności pomiędzy wynikami uzyskanymi przy wielokrotnym pomiarze tej samej wielkości prawdziwość (ang. measurement trueness) stopień zgodności pomiędzy średnią z wyników wielu pomiarów tej samej wielkości oraz wartością prawdziwą 9
10 Elektroniki Elektroniki Elektroniki Elektroniki Elektroniki Katedr Wartość wielkości, wynik pomiaru Q = Q [Q]??? Q Q wartość wielkości (ang. quantity value) Q - wartość liczbowa (ang. numerical value) [Q] jednostka wielkości (ang. unit)??? Q niepewność pomiaru (ang. uncertainty): przedział wokół wartości zmierzonej, w którym ze znaczącym prawdopodobieństwem (np.95%) znajduje się wartość prawdziwa mierzonej wielkości U x U x p Pr = 0.95 przedział ufności Zapis wyników pomiarów przedrostki SI Im??? Q Pr{x p (-U+x,x+U)} = 0.95 Pr{x p (-U+x,x+U)} = 0.05 wynik pomiaru zapisujemy: x U wartość nazwa symbol wartość nazwa symbol 10 1 deka da 10-1 decy d 10 hekto h 10 - centy c 10 3 kilo k 10-3 mili m 10 6 mega M 10-6 mikro 10 9 giga G 10-9 nano n 10 1 tera T 10-1 piko p peta P femto f exa E atto a 10 1 zeta Z 10-1 zepto z 10 4 jota Y 10-4 jokto y notacja wykładnicza (naukowa) x = M10 E ; M[1,10); EC np.: czy 10 k = ??? 1% U = cyfry znaczące Zapis R = 10 k sugeruje 9 k < R < 11 k, czyli niepewność 10%. Re 10
11 Elektroniki Elektroniki Elektroniki Elektroniki Elektroniki Katedr Metody pomiarowe (VIM), wynik pomiaru bezpośrednia (ang. direct) wartość wielkości mierzonej uzyskujemy bez konieczności dokonywania obliczeń, np.: pomiar napięcia woltomierzem; pośrednia (ang. indirect) wartość wielkości uzyskujemy mierząc bezpośrednio inne wielkości, od których w znany sposób zależy wielkość poszukiwana i wykonując odpowiednie obliczenia, np.: pomiar rezystancji metodą techniczną lub wyznaczanie obwodu koła na podstawie pomiaru jego średnicy; A = d... x ddd rrrr... rrrr... +rrrr... zzzzzz... Podsumowanie Postępowanie uproszczone: dodawanie/odejmowanie: zachowujemy w wyniku tyle cyfr po przecinku dziesiętnym, ile ma najmniej dokładny składnik mnożenie/dzielenie zachowujemy tyle cyfr znaczących, ile jest w najmniej dokładnym czynniku potęgowanie/pierwiastkowanie zachowujemy tyle cyfr znaczących, ile jest w liczbie poddawanej operacji Zagadnienie to będzie omówione dokładniej podczas wykładu traktującego o wyznaczaniu niepewności pomiarów - pomiar porównanie z wzorcem i określenie wzajemnych relacji - porównanie bezpośrednie lub pośrednie - zakładamy, że porównanie jest powtarzalne i odtwarzalne - wykorzystujemy odpowiedni sprzęt i procedury pomiarowe - wiemy, jak ich używać - zapewnione są odpowiednie warunki pomiaru - mamy świadomość, że pomimo starań każdy pomiar jest obarczony niepewnością - wiemy, jak interpretować wynik pomiaru błędy grube uszkodzone przyrządy (kable) pomiary multimetrem źle nastawionym ampery, omy itp... multimetry bateryjne 11
12 Elektroniki Elektroniki Elektroniki Elektroniki Elektroniki Katedr Literatura/materiały źródłowe Literatura w języku polskim S. Tumański: Technika Pomiarowa, WNT, 013 A. Zięba: Analiza danych w naukach ścisłych i technice, PWN, 013 J. Dusza, G. Gortat, A. Leśniewski: Podstawy miernictwa, Oficyna Wydawnicza Politechniki Warszawskiej, 007 A. Kamieniecki: Współczesny oscyloskop, btc, 009 A. Zatorski, R. Sroka: Podstawy Metrologii Elektrycznej, Wydawnictwa AGH, 011 J. Arendarski: Niepweność pomiarów, Oficyna Wydawnicza Politechniki Warszawskiej, 003 Literatura w języku angielskim S. Tumański: Principles of Electrical Measurements, Taylor & Francis, 005 R.A. Witte (Agilent Technologies): Electronic Test Instruments: Analog and Digital Measurements, Prentice Hall, 00 SI Units Brochure: The NIST Reference on Constants, Units and Uncertainty International Vocabulary of Metrology (VIM): R.A. Witte (Agilent Technologies): Spectrum & Network Measurements, Prentice Hall, 1993 A.K. Ghosh: Introduction to Measurements and Instrumentation, PHI Learning, 01 R.B.Northrop: Introduction to Instrumentation and Measurements, Taylor & Francis, 005 1
Miernictwo Elektroniczne
Elektroniki Elektroniki Elektroniki Elektroniki Elektroniki Katedr Miernictwo Elektroniczne Charakterystyka przedmiotu wykładowca dr hab. inż. Łukasz Śliwczyński e-mail: sliwczyn@agh.edu.pl tel. (617)
Bardziej szczegółowoMiernictwo Elektroniczne. Katedra Elektroniki C3 515
Miernictwo Elektroniczne dr hab. inż. Łukasz Śliwczyński Katedra Elektroniki sliwczyn@agh.edu.pl C3 515 Charakterystyka przedmiotu wykładowca dr hab. inż. Łukasz Śliwczyński e-mail: sliwczyn@agh.edu.pl
Bardziej szczegółowoMiernictwo Elektroniczne. Katedra Elektroniki C3 515
Miernictwo Elektroniczne dr hab. inż. Łukasz Śliwczyński Katedra Elektroniki sliwczyn@agh.edu.pl C3 515 Charakterystyka przedmiotu wykładowca dr hab. inż. Łukasz Śliwczyński wykład e-mail: sliwczyn@agh.edu.pl
Bardziej szczegółowoWłasność ciała lub cecha zjawiska fizycznego, którą można zmierzyć, np. napięcie elektryczne, siła, masa, czas, długość itp.
Opracował: mgr inż. Marcin Wieczorek www.marwie.net.pl 1.. Własność ciała lub cecha zjawiska fizycznego, którą można zmierzyć, np. napięcie elektryczne, siła, masa, czas, długość itp. 2. Układ wielkości.
Bardziej szczegółowoZbiór wielkości fizycznych obejmujący wszystkie lub tylko niektóre dziedziny fizyki.
Opracował: mgr inż. Marcin Wieczorek www.marwie.net.pl 1.. Własność ciała lub cecha zjawiska fizycznego, którą można zmierzyć, np. napięcie elektryczne, siła, masa, czas, długość itp. 2. Układ wielkości.
Bardziej szczegółowoMiernictwo elektroniczne
Miernictwo elektroniczne Policz to, co można policzyć, zmierz to co można zmierzyć, a to co jest niemierzalne, uczyń mierzalnym Galileo Galilei Dr inż. Zbigniew Świerczyński p. 112A bud. E-1 Wstęp Pomiar
Bardziej szczegółowoRedefinicja jednostek układu SI
CENTRUM NAUK BIOLOGICZNO-CHEMICZNYCH / WYDZIAŁ CHEMII UNIWERSYTETU WARSZAWSKIEGO Redefinicja jednostek układu SI Ewa Bulska MIERZALNE WYZWANIA ŚWIATA MIERZALNE WYZWANIA ŚWIATA MIERZALNE WYZWANIA ŚWIATA
Bardziej szczegółowoFizyka (Biotechnologia)
Fizyka (Biotechnologia) Wykład I Marek Kasprowicz dr Marek Jan Kasprowicz pokój 309 marek.kasprowicz@ur.krakow.pl www.ar.krakow.pl/~mkasprowicz Marek Jan Kasprowicz Fizyka 013 r. Literatura D. Halliday,
Bardziej szczegółowoPODSTAWOWA TERMINOLOGIA METROLOGICZNA W PRAKTYCE LABORATORYJNEJ
Klub Polskich Laboratoriów Badawczych POLLAB PODSTAWOWA TERMINOLOGIA METROLOGICZNA W PRAKTYCE LABORATORYJNEJ Andrzej Hantz Centrum Metrologii im. Zdzisława Rauszera RADWAG Wagi Elektroniczne Metrologia
Bardziej szczegółowoI. Przedmiot i metodologia fizyki
I. Przedmiot i metodologia fizyki Rodowód fizyki współczesnej Świat zjawisk fizycznych: wielkości fizyczne, rzędy wielkości, uniwersalność praw Oddziaływania fundamentalne i poszukiwanie Teorii Ostatecznej
Bardziej szczegółowoP. R. Bevington and D. K. Robinson, Data reduction and error analysis for the physical sciences. McGraw-Hill, Inc., 1992. ISBN 0-07- 911243-9.
Literatura: P. R. Bevington and D. K. Robinson, Data reduction and error analysis for the physical sciences. McGraw-Hill, Inc., 1992. ISBN 0-07- 911243-9. A. Zięba, 2001, Natura rachunku niepewności a
Bardziej szczegółowoPRZEWODNIK PO PRZEDMIOCIE
PRZEWODNIK PO PRZEDMIOCIE Nazwa przedmiotu Kierunek Forma studiów Poziom kwalifikacji PODSTAWY METROLOGII Bezpieczeństwo i Higiena Pracy Stacjonarne I stopnia Rok 2 Semestr Jednostka prowadząca Osoba sporządzająca
Bardziej szczegółowoPrzydatne informacje. konsultacje: środa 14.00-16.00 czwartek 9.00-10.00 2/35
1/35 Przydatne informacje dr inż. Adam Idźkowski Politechnika Białostocka, Wydział Elektryczny, Katedra Elektrotechniki Teoretycznej i Metrologii ul. Wiejska 45D, 15-351 Białystok WE-260, WE-208 e-mail:
Bardziej szczegółowoFizyka. w. 02. Paweł Misiak. IŚ+IB+IiGW UPWr 2014/2015
Fizyka w. 02 Paweł Misiak IŚ+IB+IiGW UPWr 2014/2015 Wektory ujęcie analityczne Definicja Wektor = uporządkowana trójka liczb (współrzędnych kartezjańskich) a = a x a y a z długość wektora: a = a 2 x +
Bardziej szczegółowoProgram wykładu. Program wykładu c.d. Wykład 30 godzinny (2h tygodniowo) Laboratorium 45 godzinne (3h tygodniowo) 5ECTS
Wykład 30 godzinny (h tygodniowo) Laboratorium 45 godzinne (3h tygodniowo) 5ECTS Zasady zaliczania przedmiotu (w USOSWeb): 1. Laboratorium (poda prowadzący zajęcia);. Wykład: egzamin pisemny (z opcją ustną):
Bardziej szczegółowoPodstawy Pomiarów PPOM.A Literatura 2 Literatura podstawowa... 3 Literatura uzupełniająca... 4
Podstawy Pomiarów PPOM.A 2014 Literatura 2 Literatura podstawowa..................................................................... 3 Literatura uzupełniająca...................................................................
Bardziej szczegółowoSystemy pomiarowe Measurement systems. Energetyka I stopień (I stopień / II stopień) Ogólnoakademicki (ogólnoakademicki / praktyczny)
Załącznik nr 7 do Zarządzenia Rektora nr 10/12 z dnia 21 lutego 2012r. KARTA MODUŁU / KARTA PRZEDMIOTU Kod modułu Nazwa modułu Nazwa modułu w języku angielskim Systemy pomiarowe Measurement systems Obowiązuje
Bardziej szczegółowoWprowadzenie do rachunku niepewności pomiarowej. Jacek Pawlyta
Wprowadzenie do rachunku niepewności pomiarowej Jacek Pawlyta Fizyka Teorie Obserwacje Doświadczenia Fizyka Teorie Przykłady Obserwacje Przykłady Doświadczenia Przykłady Fizyka Potwierdzanie bądź obalanie
Bardziej szczegółowostacjonarne (stacjonarne / niestacjonarne) kierunkowy (podstawowy / kierunkowy / inny HES)
Załącznik nr 7 do Zarządzenia Rektora nr 10/12 z dnia 21 lutego 2012r. KARTA MODUŁU / KARTA PRZEDMIOTU Kod modułu Nazwa modułu Nazwa modułu w języku angielskim Obowiązuje od roku akademickiego 2012/2013
Bardziej szczegółowoPodstawy opracowania wyników pomiarów z elementami analizy niepewności pomiarowych. Wykład tutora na bazie wykładu prof. Marka Stankiewicza
Podstawy opracowania wyników pomiarów z elementami analizy niepewności pomiarowych Wykład tutora na bazie wykładu prof. Marka tankiewicza Po co zajęcia w I Pracowni Fizycznej? 1. Obserwacja zjawisk i efektów
Bardziej szczegółowoStacjonarne Wszystkie Katedra Fizyki dr Medard Makrenek. Inny / Techniczny Obowiązkowy Polski Semestr szósty. Semestr letni Statystyka, Fizyka I Nie
KARTA MODUŁU / KARTA PRZEDMIOTU Kod modułu Nazwa modułu Nazwa modułu w języku angielskim Obowiązuje od roku akademickiego 2012/2013 Z-ZIP-256z Podstawy miernictwa elektrycznego Fundamentals of Electrical
Bardziej szczegółowoMiernictwo przemysłowe
Miernictwo przemysłowe Józef Warechowski Olsztyn, 2014 Charakterystyka pomiarów w produkcji żywności Podstawa formalna do prowadzenia ciągłego nadzoru nad AKP: PN-EN ISO 9001 punkt 7.6 1 1 a) Bezpośrednie,
Bardziej szczegółowoKONSPEKT LEKCJI FIZYKI DLA KLASY I GIMNAZJUM
Anna Kierzkowska nauczyciel fizyki i chemii w Gimnazjum Nr 2 w Starachowicach KONSPEKT LEKCJI FIZYKI DLA KLASY I GIMNAZJUM Temat lekcji: Pomiary wielkości fizycznych. Międzynarodowy Układ Jednostek Miar
Bardziej szczegółowoUkład SI. Nazwa Symbol Uwagi. Odległość jaką pokonujeświatło w próżni w czasie 1/ s
Układ SI Wielkość Nazwa Symbol Uwagi Długość metr m Masa kilogram kg Czas sekunda s Odległość jaką pokonujeświatło w próżni w czasie 1/299 792 458 s Masa walca wykonanego ze stopu platyny z irydem przechowywanym
Bardziej szczegółowoLaboratorium miernictwa elektronicznego - Narzędzia pomiarowe 1 NARZĘDZIA POMIAROWE
Laboratorium miernictwa elektronicznego - Narzędzia pomiarowe 1 NARZĘDZIA POMIAROWE CEL ĆWICZENIA Poznanie źródeł informacji o parametrach i warunkach eksploatacji narzędzi pomiarowych, zapoznanie ze sposobami
Bardziej szczegółowoĆwiczenie 14. Sprawdzanie przyrządów analogowych i cyfrowych. Program ćwiczenia:
Ćwiczenie 14 Sprawdzanie przyrządów analogowych i cyfrowych Program ćwiczenia: 1. Sprawdzenie błędów podstawowych woltomierza analogowego 2. Sprawdzenie błędów podstawowych amperomierza analogowego 3.
Bardziej szczegółowo2. Narysuj schemat zastępczy rzeczywistego źródła napięcia i oznacz jego elementy.
Ćwiczenie 2. 1. Czym się różni rzeczywiste źródło napięcia od źródła idealnego? Źródło rzeczywiste nie posiada rezystancji wewnętrznej ( wew = 0 Ω). Źródło idealne posiada pewną rezystancję własną ( wew
Bardziej szczegółowoĆw. 2: Analiza błędów i niepewności pomiarowych
Wydział: EAIiE Kierunek: Imię i nazwisko (e mail): Rok:. (200/20) Grupa: Zespół: Data wykonania: Zaliczenie: Podpis prowadzącego: Uwagi: LABORATORIUM METROLOGII Ćw. 2: Analiza błędów i niepewności pomiarowych
Bardziej szczegółowoĆWICZENIE nr 5. Pomiary rezystancji, pojemności, indukcyjności, impedancji
Politechnika Łódzka Katedra Przyrządów Półprzewodnikowych i Optoelektronicznych WWW.DSOD.PL LABORATORIUM METROLOGII ELEKTRONICZNEJ ĆWICZENIE nr 5 Pomiary rezystancji, pojemności, indukcyjności, impedancji
Bardziej szczegółowoPodstawy opracowania wyników pomiarów z elementami analizy niepewności pomiarowych. Wykład tutora na bazie wykładu prof. Marka Stankiewicza
Podstawy opracowania wyników pomiarów z elementami analizy niepewności pomiarowych Wykład tutora na bazie wykładu prof. Marka Stankiewicza Po co zajęcia w I Pracowni Fizycznej? 1. Obserwacja zjawisk i
Bardziej szczegółowoLaboratorium Podstaw Pomiarów
Laboratorium Podstaw Pomiarów Dokumentowanie wyników pomiarów protokół pomiarowy Instrukcja Opracował: dr hab. inż. Grzegorz Pankanin, prof. PW Instytut Systemów Elektronicznych Wydział Elektroniki i Technik
Bardziej szczegółowoPomiary fizyczne. Wykład II. Wstęp do Fizyki I (B+C) Rodzaje pomiarów. Układ jednostek SI Błedy pomiarowe Modele w fizyce
Pomiary fizyczne Wykład II: Rodzaje pomiarów Wstęp do Fizyki I (B+C) Wykład II Układ jednostek SI Błedy pomiarowe Modele w fizyce Rodzaje pomiarów Zliczanie Przykłady: liczba grzybów w barszczu liczba
Bardziej szczegółowoStrategia realizacji spójności pomiarów chemicznych w laboratorium analitycznym
Slide 1 Uniwersytet Warszawski Wydział Chemii Centrum Nauk Biologiczno- Chemicznych Strategia realizacji spójności pomiarów chemicznych w laboratorium analitycznym Ewa Bulska ebulska@chem.uw.edu.pl Slide
Bardziej szczegółowoNiepewność pomiaru. Wynik pomiaru X jest znany z możliwa do określenia niepewnością. jest bledem bezwzględnym pomiaru
iepewność pomiaru dokładność pomiaru Wynik pomiaru X jest znany z możliwa do określenia niepewnością X p X X X X X jest bledem bezwzględnym pomiaru [ X, X X ] p Przedział p p nazywany jest przedziałem
Bardziej szczegółowoPRZEWODNIK PO PRZEDMIOCIE
Nazwa przedmiotu: Kierunek: Mechanika i Budowa Maszyn Rodzaj przedmiotu: obowiązkowy na kierunku: Mechanika i Budowa Maszyn Rodzaj zajęć: wykład, laboratorium I KARTA PRZEDMIOTU CEL PRZEDMIOTU PRZEWODNIK
Bardziej szczegółowoZajęcia 1 Nauczyciel: mgr inŝ. Jadwiga Balicka
1 Zajęcia 1 Nauczyciel: mgr inŝ. Jadwiga Balicka I. Obwody elektryczne prądu stałego 1. Pojęcie terminów: wielkość, wartość, jednostka wielkości Wielkością fizyczną nazywamy cechę zjawiska fizycznego.
Bardziej szczegółowoWydanie 3 Warszawa, 20.06.2007 r.
. POLSKIE CENTRUM AKREDYTACJI POLITYKA POLSKIEGO CENTRUM AKREDYTACJI DOTYCZĄCA ZAPEWNIENIA SPÓJNOŚCI POMIAROWEJ Wydanie 3 Warszawa, 20.06.2007 r. 1. Wstęp Niniejsza Polityka jest zgodna z dokumentem ILAC-P10:2002
Bardziej szczegółowoĆwiczenie 8 Temat: Pomiar i regulacja natężenia prądu stałego jednym i dwoma rezystorem nastawnym Cel ćwiczenia
Ćwiczenie 8 Temat: Pomiar i regulacja natężenia prądu stałego jednym i dwoma rezystorem nastawnym Cel ćwiczenia Właściwy dobór rezystorów nastawnych do regulacji natężenia w obwodach prądu stałego. Zapoznanie
Bardziej szczegółowoOcena i wykorzystanie informacji podanych w świadectwach wzorcowania i świadectwach materiałów odniesienia
Ocena i wykorzystanie informacji podanych w świadectwach wzorcowania i świadectwach materiałów odniesienia XIX Sympozjum Klubu POLLAB Kudowa Zdrój 2013 Jolanta Wasilewska, Robert Rzepakowski 1 Zawartość
Bardziej szczegółowoTemat: Zastosowanie multimetrów cyfrowych do pomiaru podstawowych wielkości elektrycznych
INSTYTUT SYSTEMÓW INŻYNIERII ELEKTRYCZNEJ POLITECHNIKI ŁÓDZKIEJ WYDZIAŁ: KIERUNEK: ROK AKADEMICKI: SEMESTR: NR. GRUPY LAB: SPRAWOZDANIE Z ĆWICZEŃ W LABORATORIUM METROLOGII ELEKTRYCZNEJ I ELEKTRONICZNEJ
Bardziej szczegółowoR X 1 R X 1 δr X 1 R X 2 R X 2 δr X 2 R X 3 R X 3 δr X 3 R X 4 R X 4 δr X 4 R X 5 R X 5 δr X 5
Tab. 2. Wyniki bezpośrednich pomiarów rezystancji Wyniki pomiarów i wartości błędów bezpośrednich pomiarów rezystancji t 0 = o C Typ omomierza R X 1 R X 1 δr X 1 R X 2 R X 2 δr X 2 R X 3 R X 3 δr X 3 R
Bardziej szczegółowoWykład 1. Wprowadzenie do metrologii. Podstawowe pojęcia.
MIERNICTWO WIELKOŚCI ELEKTRYCZNYCH I NIEELEKTRYCZNYCH Wykład 1. Wprowadzenie do metrologii. Podstawowe pojęcia. Introduction to Metrology. Basic Concepts. Wybrane źródła: Chwaleba A., Poniński M., Siedlecki
Bardziej szczegółowo3. Podstawowe wiadomości z fizyki. Dr inż. Janusz Dębiński. Mechanika ogólna. Wykład 3. Podstawowe wiadomości z fizyki. Kalisz
Dr inż. Janusz Dębiński Mechanika ogólna Wykład 3 Podstawowe wiadomości z fizyki Kalisz Dr inż. Janusz Dębiński 1 Jednostki i układy jednostek Jednostką miary wielkości fizycznej nazywamy wybraną w sposób
Bardziej szczegółowoPRZEWODNIK PO PRZEDMIOCIE
Nazwa przedmiotu: Kierunek: Energetyka Rodzaj przedmiotu: kierunkowy ogólny Rodzaj zajęć: wykład, laboratorium I KARTA PRZEDMIOTU CEL PRZEDMIOTU PRZEWODNIK PO PRZEDMIOCIE C1. Uzyskanie podstawowej wiedzy
Bardziej szczegółowoLaboratorium Elektroniczna aparatura Medyczna
EAM - laboratorium Laboratorium Elektroniczna aparatura Medyczna Ćwiczenie REOMETR IMPEDANCYJY Opracował: dr inŝ. Piotr Tulik Zakład InŜynierii Biomedycznej Instytut Metrologii i InŜynierii Biomedycznej
Bardziej szczegółowoElektrotechnika I stopień (I stopień / II stopień) Ogólno akademicki (ogólno akademicki / praktyczny) stacjonarne (stacjonarne / niestacjonarne)
Załącznik nr 7 do Zarządzenia Rektora nr 10/12 z dnia 21 lutego 2012r. KARTA MODUŁU / KARTA PRZEDMIOTU Kod Nazwa Metrologia 1 Nazwa w języku angielskim Metrolgy 1 Obowiązuje od roku akademickiego 2012/2013
Bardziej szczegółowoĆw. 1: Wprowadzenie do obsługi przyrządów pomiarowych
Wydział: EAIiE Kierunek: Imię i nazwisko (e mail): Rok: 2018/2019 Grupa: Zespół: Data wykonania: Zaliczenie: Podpis prowadzącego: Uwagi: LABORATORIUM METROLOGII Ćw. 1: Wprowadzenie do obsługi przyrządów
Bardziej szczegółowoKARTA MODUŁU KSZTAŁCENIA
KARTA MODUŁU KSZTAŁCENIA I. 1 Nazwa modułu kształcenia I. Informacje ogólne Miernictwo elektroniczne 2 Nazwa jednostki prowadzącej moduł (należy wskazać nazwę zgodnie ze Statutem PSW Instytut, Zakład)
Bardziej szczegółowoMetrologia. Wzornictwo Przemysłowe I stopień (I stopień / II stopień) ogólnoakademicki (ogólno akademicki / praktyczny)
KARTA MODUŁU / KARTA PRZEDMIOTU Kod modułu Nazwa modułu Metrologia Nazwa modułu w języku angielskim Metrology Obowiązuje od roku akademickiego 014/015 A. USYTUOWANIE MODUŁU W SYSTEMIE STUDIÓW Kierunek
Bardziej szczegółowoElektrotechnika I stopień (I stopień / II stopień) Ogólno akademicki (ogólno akademicki / praktyczny) kierunkowy (podstawowy / kierunkowy / inny HES)
Załącznik nr 7 do Zarządzenia Rektora nr 10/12 z dnia 21 lutego 2012r. KARTA MODUŁU / KARTA PRZEDMIOTU Kod modułu Nazwa modułu Metrologia 1 Nazwa modułu w języku angielskim Metrolgy 1 Obowiązuje od roku
Bardziej szczegółowoPODSTAWY ELEKTRONIKI I MIERNICTWA
PODSTAWY ELEKTRONIKI I MIERNICTWA Konsultacje: - czwartki 15.05-15.35 WEL, pok. 56/100 tel. 839-082 jjakubowski@wat.edu.pl 4.1. Pojęcia podstawowe M E T R O L O G I A OGÓLNA TEOTERYCZNA PRAWNA STOSOWANA
Bardziej szczegółowoFizyka dla inżynierów I, II. Semestr zimowy 15 h wykładu Semestr letni - 15 h wykładu + laboratoria
Fizyka dla inżynierów I, II Semestr zimowy 15 h wykładu Semestr letni - 15 h wykładu + laboratoria Wymagania wstępne w zakresie przedmiotu: - Ma wiedzę z zakresu fizyki oraz chemii na poziomie programu
Bardziej szczegółowoPrzyrządy Pomiarowe ( Miernictwo )
Przyrządy Pomiarowe ( Miernictwo ) Materiały dla klasy II-giej Technikum Zaocznego o specjalności elektronika Opracowanie : Ludwik Musiał Literatura : S.Lebson, J.Kaniewski Pomiary elektryczne J.Rydzewski
Bardziej szczegółowoWykład 9. Terminologia i jej znaczenie. Cenzurowanie wyników pomiarów.
Wykład 9. Terminologia i jej znaczenie. Cenzurowanie wyników pomiarów.. KEITHLEY. Practical Solutions for Accurate. Test & Measurement. Training materials, www.keithley.com;. Janusz Piotrowski: Procedury
Bardziej szczegółowoLABORATORIUM PODZESPOŁÓW ELEKTRONICZNYCH. Ćwiczenie nr 2. Pomiar pojemności i indukcyjności. Szeregowy i równoległy obwód rezonansowy
LABORATORIUM PODZESPOŁÓW ELEKTRONICZNYCH Ćwiczenie nr 2 Pomiar pojemności i indukcyjności. Szeregowy i równoległy obwód rezonansowy Wykonując pomiary PRZESTRZEGAJ przepisów BHP związanych z obsługą urządzeń
Bardziej szczegółowoLegalne jednostki miar wykorzystywane w ochronie atmosfery i pokrewnych specjalnościach naukowych
Legalne miar wykorzystywane w ochronie atmosfery i pokrewnych specjalnościach naukowych Legalne miar: 1). naleŝące do układu SI : podstawowe, uzupełniające pochodne 2). legalne, ale spoza układu SI Ad.
Bardziej szczegółowoKarta (sylabus) modułu/przedmiotu ELEKTROTECHNIKA (Nazwa kierunku studiów)
Przedmiot: Metrologia elektryczna Karta (sylabus) modułu/przedmiotu ELEKTROTECHNIKA (Nazwa kierunku studiów) Kod przedmiotu: E19 D Typ przedmiotu/modułu: obowiązkowy X obieralny Rok: drugi Semestr: czwarty
Bardziej szczegółowoREDEFINICJA SI W ROLACH GŁÓWNYCH: STAŁE PODSTAWOWE
KONFERENCJA POMIARY INNOWACJE AKREDYTACJE RZESZÓW, 1 WRZEŚNIA 2018 BIURO STRATEGII WYDZIAŁ STRATEGII I ROZWOJU dokładnie REDEFINICJA W ROLACH GŁÓWNYCH: STAŁE PODSTAWOWE Aleksandra Gadomska 1919-2019 METROLOGIA
Bardziej szczegółowoKonsultacje: Poniedziałek, godz , ul. Sosnkowskiego 31, p.302 Czwartek, godz , ul. Ozimska 75, p.
a.zurawska@po.opole.pl Konsultacje: Poniedziałek, godz. 13.45-14.45, ul. Sosnkowskiego 31, p.302 Czwartek, godz. 10.00-11.00, ul. Ozimska 75, p.205 Wymagania wstępne w zakresie przedmiotu: - Ma wiedzę
Bardziej szczegółowoŚwiatło jako narzędzie albo obiekt pomiarowy
Światło jako narzędzie albo obiekt pomiarowy Spektroskopowy pomiar czystości monokryształu krzemu oraz interferometryczny pomiar przemieszczenia cewki w prądowej wadze wata jako przykłady wykorzystania
Bardziej szczegółowoInstytut Politechniczny Zakład Elektrotechniki i Elektroniki
Instytut Politechniczny Kod przedmiotu: PLPILA02-IPELE-I-IIIkC5-2013-S Pozycja planu: C5 1. INFORMACJE O PRZEDMIOCIE A. Podstawowe dane 1 Nazwa przedmiotu Metrologia I 2 Kierunek studiów Elektrotechnika
Bardziej szczegółowoElektroniczne przyrządy pomiarowe Kod przedmiotu
Elektroniczne przyrządy pomiarowe - opis przedmiotu Informacje ogólne Nazwa przedmiotu Elektroniczne przyrządy pomiarowe Kod przedmiotu 06.5-WE-EP-EPP Wydział Kierunek Wydział Informatyki, Elektrotechniki
Bardziej szczegółowoNiepewność rozszerzona Procedury szacowania niepewności pomiaru. Tadeusz M.Molenda Instytut Fizyki, Uniwersytet Szczeciński
Niepewność rozszerzona Procedury szacowania niepewności pomiaru Tadeusz M.Molenda Instytut Fizyki, Uniwersytet Szczeciński Międzynarodowa Konwencja Oceny Niepewności Pomiaru (Guide to Expression of Uncertainty
Bardziej szczegółowoScenariusz lekcji fizyki w klasie drugiej gimnazjum
Scenariusz lekcji fizyki w klasie drugiej gimnazjum Temat: Opór elektryczny, prawo Ohma. Czas trwania: 1 godzina lekcyjna Realizowane treści podstawy programowej Przedmiot fizyka matematyka Realizowana
Bardziej szczegółowoImię i nazwisko (e mail): Rok: 2018/2019 Grupa: Ćw. 5: Pomiar parametrów sygnałów napięciowych Zaliczenie: Podpis prowadzącego: Uwagi:
Wydział: EAIiIB Imię i nazwisko (e mail): Rok: 2018/2019 Grupa: Zespół: Data wykonania: LABORATORIUM METROLOGII Ćw. 5: Pomiar parametrów sygnałów napięciowych Zaliczenie: Podpis prowadzącego: Uwagi: Wstęp
Bardziej szczegółowoZASADY DOKUMENTACJI procesu pomiarowego
Laboratorium Podstaw Miernictwa Laboratorium Podstaw Elektrotechniki i Pomiarów ZASADY DOKUMENTACJI procesu pomiarowego Przykład PROTOKÓŁU POMIAROWEGO Opracowali : dr inż. Jacek Dusza mgr inż. Sławomir
Bardziej szczegółowoMetrologia. Inżynieria Bezpieczeństwa I stopień (I stopień / II stopień) ogólnoakademicki (ogólnoakademicki / praktyczny)
KARTA MODUŁU / KARTA PRZEDMIOTU Kod modułu Nazwa modułu Nazwa modułu w języku angielskim Metrology Obowiązuje od roku akademickiego 2013/2014 Metrologia A. USYTUOWANIE MODUŁU W SYSTEMIE STUDIÓW Kierunek
Bardziej szczegółowoWYKORZYSTANIE MULTIMETRÓW CYFROWYCH DO POMIARU SKŁADOWYCH IMPEDANCJI
1 WYKORZYSTAIE MULTIMETRÓW CYFROWYCH DO POMIARU 1. CEL ĆWICZEIA: SKŁADOWYCH IMPEDACJI Celem ćwiczenia jest zapoznanie się z możliwościami pomiaru składowych impedancji multimetrem cyfrowym. 2. POMIARY
Bardziej szczegółowoMetodę poprawnie mierzonego prądu powinno się stosować do pomiaru dużych rezystancji, tzn. wielokrotnie większych od rezystancji amperomierza: (4)
OBWODY JEDNOFAZOWE POMIAR PRĄDÓW, NAPIĘĆ. Obwody prądu stałego.. Pomiary w obwodach nierozgałęzionych wyznaczanie rezystancji metodą techniczną. Metoda techniczna pomiaru rezystancji polega na określeniu
Bardziej szczegółowoWstęp. Doświadczenia. 1 Pomiar oporności z użyciem omomierza multimetru
Wstęp Celem ćwiczenia jest zaznajomienie się z podstawowymi przyrządami takimi jak: multimetr, oscyloskop, zasilacz i generator. Poznane zostaną również podstawowe prawa fizyczne a także metody opracowywania
Bardziej szczegółowoE1. OBWODY PRĄDU STAŁEGO WYZNACZANIE OPORU PRZEWODNIKÓW I SIŁY ELEKTROMOTORYCZNEJ ŹRÓDŁA
E1. OBWODY PRĄDU STŁEGO WYZNCZNIE OPORU PRZEWODNIKÓW I SIŁY ELEKTROMOTORYCZNEJ ŹRÓDŁ tekst opracowała: Bożena Janowska-Dmoch Prądem elektrycznym nazywamy uporządkowany ruch ładunków elektrycznych wywołany
Bardziej szczegółowoWprowadzenie do chemii
Wprowadzenie do chemii Seminaria 2014.15 Cel seminariów Wykorzystanie elementów matematyki w chemii i analityce Zapoznanie się z: Podstawowymi definicjami Teorią pomiaru (metrologia) Układami jednostek
Bardziej szczegółowoZajęcia wprowadzające W-1 termin I temat: Sposób zapisu wyników pomiarów
wielkość mierzona wartość wielkości jednostka miary pomiar wzorce miary wynik pomiaru niedokładność pomiaru Zajęcia wprowadzające W-1 termin I temat: Sposób zapisu wyników pomiarów 1. Pojęcia podstawowe
Bardziej szczegółowoLekcja 1. Temat: Lekcja organizacyjna. Zapoznanie z programem nauczania i kryteriami oceniania.
Lekcja 1 Temat: Lekcja organizacyjna. Zapoznanie z programem nauczania i kryteriami oceniania. 1. Program nauczania przedmiotu Podstawy elektrotechniki i elektroniki w klasie I. Działy programowe i zagadnienia
Bardziej szczegółowoMetrologia: definicje i pojęcia podstawowe. dr inż. Paweł Zalewski Akademia Morska w Szczecinie
Metrologia: definicje i pojęcia podstawowe dr inż. Paweł Zalewski Akademia Morska w Szczecinie Pojęcia podstawowe: Metrologia jest nauką zajmująca się sposobami dokonywania pomiarów oraz zasadami interpretacji
Bardziej szczegółowoJAK WYZNACZA SIĘ PARAMETRY WALIDACYJNE
JAK WYZNACZA SIĘ PARAMETRY WALIDACYJNE 1 Dokładność i poprawność Dr hab. inż. Piotr KONIECZKA Katedra Chemii Analitycznej Wydział Chemiczny Politechnika Gdańska ul. G. Narutowicza 11/12 80-233 GDAŃSK e-mail:
Bardziej szczegółowoUKŁADY PROSTOWNICZE 0.47 / 5W 0.47 / 5W D2 C / 5W
UKŁADY PROSTOWNICZE. Cel ćwiczenia. Celem ćwiczenia jest zapoznanie się z budową i właściwościami podstawowych układów prostowniczych: prostownika jednopołówkowego, dwupołówkowego z dzielonym uzwojeniem
Bardziej szczegółowoStatystyczne Metody Opracowania Wyników Pomiarów
Statystyczne Metody Opracowania Wyników Pomiarów dla studentów ZMIN Teresa Jaworska-Gołąb 2017/18 Co czytać [1] I Pracownia fizyczna, Andrzej Magiera red., Oficyna Wydawnicza IMPULS, Kraków 2006; http://www.1pf.if.uj.edu.pl/materialy/zalecana-literatura
Bardziej szczegółowoPomiar rezystancji metodą techniczną
Pomiar rezystancji metodą techniczną Cel ćwiczenia. Poznanie metod pomiarów rezystancji liniowych, optymalizowania warunków pomiaru oraz zasad obliczania błędów pomiarowych. Zagadnienia teoretyczne. Definicja
Bardziej szczegółowoLABORATORIUM Z FIZYKI
LABORATORIUM Z FIZYKI LABORATORIUM Z FIZYKI I PRACOWNIA FIZYCZNA C w Gliwicach Gliwice, ul. Konarskiego 22, pokoje 52-54 Regulamin pracowni i organizacja zajęć Sprawozdanie (strona tytułowa, karta pomiarowa)
Bardziej szczegółowoLABORATORIUM INŻYNIERII MATERIAŁOWEJ
Politechnika Lubelska Wydział Elektrotechniki i Informatyki Katedra Urządzeń Elektrycznych i TWN 20-618 Lublin, ul. Nadbystrzycka 38A www.kueitwn.pollub.pl LABORATORIUM INŻYNIERII MATERIAŁOWEJ Protokół
Bardziej szczegółowoDr inż. Michał Marzantowicz,Wydział Fizyki P.W. p. 329, Mechatronika.
Sprawy organizacyjne Dr inż. Michał Marzantowicz,Wydział Fizyki P.W. marzan@mech.pw.edu.pl p. 329, Mechatronika http://adam.mech.pw.edu.pl/~marzan/ http://www.if.pw.edu.pl/~wrobel Suma punktów: 38 2 sprawdziany
Bardziej szczegółowoMetrologia to stymulujący komponent rozwoju infrastruktury Państwa
XXIII Forum Teleinformatyki 2017 28-29.09.2017 Metrologia to stymulujący komponent rozwoju infrastruktury Państwa dr inż. Włodzimierz Lewandowski - Prezes GUM 1 Narodowa instytucja metrologiczna (NMI)
Bardziej szczegółowoZmierzyłem i co dalej? O opracowaniu pomiarów i analizie niepewności słów kilka
Zmierzyłem i co dalej? O opracowaniu pomiarów i analizie niepewności słów kilka Jakub S. Prauzner-Bechcicki Grupa: Chemia A Kraków, dn. 7 marca 2018 r. Plan wykładu Rozważania wstępne Prezentacja wyników
Bardziej szczegółowoFizyka i wielkości fizyczne
Fizyka i wielkości fizyczne Fizyka: - Stosuje opis matematyczny zjawisk - Formułuje prawa fizyczne na podstawie doświadczeń - Opiera się na prawach podstawowych (aksjomatach) Wielkością fizyczną jest każda
Bardziej szczegółowoPomiary małych rezystancji
Politechnika Rzeszowska Katedra Metrologii i Systemów Diagnostycznych Laboratorium Miernictwa Elektronicznego Pomiary małych rezystancji Grupa Nr ćwicz. 2 1... kierownik 2... 3... 4... Data Ocena I. C
Bardziej szczegółowoKlub Polskich Laboratoriów Badawczych POLLAB. Wzorcowania wewnętrzne wyposażenia pomiarowego w praktyce
Klub Polskich Laboratoriów Badawczych POLLAB Wzorcowania wewnętrzne wyposażenia pomiarowego w praktyce Użytkownicy przyrządów pomiarowych w organizacjach zobowiązani są do zachowania spójności pomiarowej.
Bardziej szczegółowoPOLSKIE CENTRUM AKREDYTACJI POLITYKA DOTYCZĄCA ZAPEWNIENIA SPÓJNOŚCI POMIAROWEJ. Wydanie 4 Warszawa, 17.11.2011 r.
. POLSKIE CENTRUM AKREDYTACJI POLITYKA DOTYCZĄCA ZAPEWNIENIA SPÓJNOŚCI POMIAROWEJ Wydanie 4 Warszawa, 17.11.2011 r. Spis treści 1 Wprowadzenie...3 2 Zakres stosowania...3 3 Cechy spójności pomiarowej...3
Bardziej szczegółowoLaboratorium metrologii
Wydział Inżynierii Mechanicznej i Mechatroniki Instytut Technologii Mechanicznej Laboratorium metrologii Instrukcja do ćwiczeń laboratoryjnych Temat ćwiczenia: Pomiary wymiarów zewnętrznych Opracował:
Bardziej szczegółowoZ-ID-604 Metrologia. Podstawowy Obowiązkowy Polski Semestr VI
KARTA MODUŁU / KARTA PRZEDMIOTU Z-ID-604 Metrologia Kod modułu Nazwa modułu Nazwa modułu w języku angielskim Metrology Obowiązuje od roku akademickiego 2015/2016 A. USYTUOWANIE MODUŁU W SYSTEMIE STUDIÓW
Bardziej szczegółowoPodstawy elektroniki i metrologii
Politechnika Gdańska WYDZIAŁ ELEKTRONIKI TELEKOMUNIKACJI I INFORMATYKI Katedra Metrologii i Optoelektroniki Podstawy elektroniki i metrologii Studia I stopnia kier. Informatyka semestr 2 Ilustracje do
Bardziej szczegółowoPomiary podstawowych wielkości elektrycznych: prawa Ohma i Kirchhoffa. Katedra Architektury Komputerów i Telekomunikacji
Bogdan Olech Mirosław Łazoryszczak Dorota Majorkowska-Mech Elektronika Laboratorium nr 1 Temat: Pomiary podstawowych wielkości elektrycznych: prawa Ohma i Kirchhoffa Katedra Architektury Komputerów i Telekomunikacji
Bardziej szczegółowoStatystyczne Metody Opracowania Wyników Pomiarów
Statystyczne Metody Opracowania Wyników Pomiarów dla studentów Ochrony Środowiska Teresa Jaworska-Gołąb 2017/18 Co czytać [1] H. Szydłowski, Pracownia fizyczna, PWN, Warszawa 1999. [2] A. Zięba, Analiza
Bardziej szczegółowoZ-ZIP-0101 Metrologia. Zarządzanie i Inżynieria Produkcji I stopień Ogólnoakademicki. Kierunkowy Obowiązkowy Polski Semestr czwarty
KARTA MODUŁU / KARTA PRZEDMIOTU Z-ZIP-0101 Metrologia Kod modułu Nazwa modułu Nazwa modułu w języku angielskim Metrology Obowiązuje od roku akademickiego 01/013 A. USYTUOWANIE MODUŁU W SYSTEMIE STUDIÓW
Bardziej szczegółowoTadeusz M.Molenda Instytut Fizyki US Metrologia. T.M.Molenda, Metrologia. W1
Tadeusz M.Molenda Instytut Fizyki US Metrologia Za Wikipedią: https://pl.wikipedia.org/wiki/metrologia Metrologia nauka dotycząca sposobów dokonywania pomiarów oraz zasad interpretacji uzyskanych wyników.
Bardziej szczegółowoĆw. 1: Wprowadzenie do obsługi przyrządów pomiarowych
Wydział: EAIiE Kierunek: Imię i nazwisko (e mail): Rok:. (2010/2011) Grupa: Zespół: Data wykonania: Zaliczenie: Podpis prowadzącego: Uwagi: LABORATORIUM METROLOGII Ćw. 1: Wprowadzenie do obsługi przyrządów
Bardziej szczegółowoMetrologia. Zarządzanie i Inżynieria Produkcji I stopień Ogólnoakademicki
KARTA MODUŁU / KARTA PRZEDMIOTU Kod modułu Nazwa modułu Nazwa modułu w języku angielskim Metrology Obowiązuje od roku akademickiego 2013/2014 Metrologia A. USYTUOWANIE MODUŁU W SYSTEMIE STUDIÓW Kierunek
Bardziej szczegółowoPOLITECHNIKA ŁÓDZKA INSTYTUT FIZYKI. Temperaturowa zależność statycznych i dynamicznych charakterystyk złącza p-n
POLITECHNIKA ŁÓDZKA INSTYTUT FIZYKI LABORATORIUM FIZYKI FAZY SKONDENSOWANEJ Ćwiczenie 9 Temperaturowa zależność statycznych i dynamicznych charakterystyk złącza p-n Cel ćwiczenia Celem ćwiczenia jest poznanie
Bardziej szczegółowoStatystyczne Metody Opracowania Wyników Pomiarów
Statystyczne Metody Opracowania Wyników Pomiarów dla studentów ZMIN Teresa Jaworska-Gołąb 2018/19 Co czytać [1] I Pracownia fizyczna, Andrzej Magiera red., Oficyna Wydawnicza IMPULS, Kraków 2006; http://www.1pf.if.uj.edu.pl/materialy/zalecana-literatura
Bardziej szczegółowo