Program wykładu. Program wykładu c.d. Wykład 30 godzinny (2h tygodniowo) Laboratorium 45 godzinne (3h tygodniowo) 5ECTS

Save this PDF as:
 WORD  PNG  TXT  JPG

Wielkość: px
Rozpocząć pokaz od strony:

Download "Program wykładu. Program wykładu c.d. Wykład 30 godzinny (2h tygodniowo) Laboratorium 45 godzinne (3h tygodniowo) 5ECTS"

Transkrypt

1 Wykład 30 godzinny (h tygodniowo) Laboratorium 45 godzinne (3h tygodniowo) 5ECTS Zasady zaliczania przedmiotu (w USOSWeb): 1. Laboratorium (poda prowadzący zajęcia);. Wykład: egzamin pisemny (z opcją ustną): 5 tematów (teoretyczne + praktyczne zadanie) od 1 do 5pkt. Razem do zdobycia 15 pkt. Zaliczenie od 8,5 pkt. Korzystanie z własnych notatek i innych materiałów. Potrzebny kalkulator. Wymagana samodzielna praca. Program wykładu 1. Podstawowe pojęcia metrologii.. Obliczanie niepewności pomiaru. 3. Wzorce jednostek elektrycznych. Trasabilność czyli spójność pomiarów. 4. Metody pomiarowe. 5. Przyrządy analogowe (elektromechaniczne). 6. Układy mostkowe, kompensacyjne i komparacyjne. Program wykładu c.d. 7. Przetwarzanie sygnałów pomiarowych. 8. Przyrządy cyfrowe. 9. Struktura toru pomiarowego. 10. Interfejsy, magistrale, złącza. 11. Akwizycja sygnałów pomiarowych. 1

2 Wybrane źródła: ChwalebaA., Poniński M., Siedlecki A.: Metrologia elektryczna. WNT, W-wa 003. CzajewskiJ.: Podstawy metrologii elektrycznej. OW Politechniki Warszawskiej, W-wa 003. Lesiak P., Świsulski D.: Komputerowa technika pomiarowa. Wyd. Politechniki Śląskiej, Gliwice 00. Skubis T.: Podstawy metrologicznej interpretacji wyników pomiarów. Wyd. Politechniki Śląskiej, Gliwice 004. Współczesna metrologia (red. J. Barzykowski). WNT, W-wa 004. Tumański S.: Technika pomiarowa. WNT, W-wa 007. Zasoby internetowe (np. witryny producentów sprzętu pomiarowego, itp.) Wykład 1. Podstawowe pojęcia metrologii Basic Concepts of Metrology Metrologia nauka o miarach Metron [gr.] miara + logos [gr.] słowo, nauka inaczej: opisy różnych systemów miar i wag oraz sposoby określania ich wzorców (def. ze Słownika Wyrazów Obcych z 1954r); dzisiaj: wiedza o pomiarach; miernictwo: technika mierzenia

3 Metrologia ogólna Wspólne problemy wszystkich zagadnień metrologicznych, niezależnie od rodzaju wielkości mierzonej (np. ogólne zagadnienia teoretyczne i praktyczne dotyczące jednostek miar, błędów pomiaru, właściwości metrologicznych narzędzi pomiarowych). Metrologia stosowana Odnosi się do określonego rodzaju wielkości mierzonej, np. metrologia czasu, temperatury, itp. lub obejmująca pomiary w określonych dziedzinach nauki i techniki (np. m. przemysłowa, włókiennicza, medyczna, sportowa ) Metrologia teoretyczna Teoretyczne zagadnienia pomiarów, np. ogólna teoria pomiarów, teoria wielkości, jednostek miar, błędów pomiaru, przetwarzanie oraz przekazywanie informacji pomiarowej. Metrologia prawna Formułowanie urzędowo obowiązujących wymagań technicznych i prawnych mających na celu zapewnienie jednolitości jednostek miar, bezpieczeństwa i należytej dokładności pomiarów. Jak mierzymy odległość/długość? - stosujemy, np. taśmę mierniczą i odczytujemy wynik, - zaznaczamy i odczytujemy ilość działek na skali przyrządu 3

4 Co to jest pomiar? What is the measurement? Def. 1. Pomiar to proces poznawczy polegający na porównaniu, z odpowiednią dokładnością, wartości wielkości mierzonej z pewną jej wartością przyjętą za jednostkę miary Def.. Metrologia klasyczna określa pomiar jako operację (zbiór czynności) wyznaczania wartości wielkości mierzonej. DOKŁADNOŚĆ POMIARU Księga Kapłańska 19, 35-36: Nie czyńcie nieprawdy w sądzie ani co się tyczy miary, ani wagi, ani objętości. Będziecie mieli wagi rzetelne, odważniki rzetelne, efę rzetelną, hin rzetelny. Efa naczynie 40l, hin- ok. 7l? Metrologia współczesna mówi o pomiarach: 1. wartości wielkości (def. klasyczna),. rozkładów (czasowych lub przestrzennych) wielkości (np. rejestracja czasowej zmienności wielkości, pomiar rozkładu natężenia pola elektrycznego), 3. funkcjonałów i transformat określonych na wielkościach lub rozkładach wielkości (np. pomiar parametrów rozkładu czasowego wielkości okresowo zmiennej, takich jak: wartość skuteczna lub szczytowa, pomiar rozkładu widmowego, rozkładu gęstości prawdopodobieństwa, funkcji korelacji, itp.) 4

5 4. charakterystyk zależności między wielkościami, rozkładami wielkości, funkcjonałami i transformatami wielkości (np. pomiar charakterystyki statycznej napięcie-prąd dwójnika elektrycznego, charakterystyki częstotliwościowej członu dynamicznego) 5. parametrów reprezentacji rozkładów, transformat i zależności między nimi (np. pomiar parametrów immitancji i transmitancji) Przykład Z(jω) R0 C Z( jω) = Z e jϕ 1 R0 Z( jω) = R( ω) + jx( ω) = = = 1 + jωc 1+ jωrc 0 R R0 = 1+ ( ωrc) ωr 0C + j 1+ ( ωrc) Szukane dla ω: R, X. Model matematyczny tego, co jest mierzone (wartości wielkości, rozkłady wielkości, funkcje reprezentujące zależności, parametry, itp.) nazywa się terminem (z ang. measurand). mezurand estymata mezurandu - liczba (tak jest najczęściej), wektor lub ciąg liczb, funkcj jednej lub wielu zmiennych skalarnej lub wektorowej. 5

6 Mezurand Dający się zmierzyć parametr pewnego abstrakcyjnego mentalnego modelu Pomiar jest zawsze operacją niedokładną!!! Wynik pomiaru (estymata) różni się zwykle od wartości prawdziwej mezurandu. Równość estymaty i wartości prawdziwej jest zdarzeniem wyjątkowym, a fakt jego zajścia pozostaje nieznany (nigdy nie znamy wartości prawdziwej mezurandu). Niedokładność wyniku pomiaru można zawsze oszacować. prawdziwy błąd pomiaru (the true error) y ˆ = y& przedział niepewności błędu pomiaru. [ ] = [, ] 6

7 Wynik pomiaru (jeśli jest liczbą) interpretujemy jako przedział w przestrzeni liczb rzeczywistych, wewnątrz którego znajduje się wartość prawdziwa. Może to być przedział symetryczny lub niesymetryczny wokół estymaty ŷ ] = [, + [ ] [ y ˆ, [ + ˆ] y Wartości ± y, ˆ nazywają się błędami granicznymi (limiting errors). Przedział [ ] nazywamy przedziałem niepewności wyniku pomiaru (the interval of uncertainty) Zapis wyniku pomiaru ŷ±δŷ lub ŷ±(δŷ / ŷ) 100% Przykłady: (3 ±) kg, (0,879 ±0,015) A (158,0 ±0,5) m (17,5 ±0,1) mv (548,386 ± 0,05) Ω (8,5 ±3,0) ⁰C Przykłady: (3 ±9%) kg, (0,879 ±1,7%) A (158,0 ±0,4%) m (17,5 ±0,7%) mv (548,386 ± 0,01%) Ω (8,5 ±36%) ⁰C 7

8 Zakładamy, że pomiar powtarzamy wielokrotnie. Dla każdego hipotetycznego pomiaru otrzymamy na ogół inną wartość ŷ i ŷ ] = [, + [ ] α - prawdopodobieństwo niepowodzenia (wartość prawdziwa jest poza przedziałem niepewności) Pr { y& [, + ] } 1 α Przedział niepewności może mieć (ale nie musi) określony poziom ufności. Jeżeli przy przedziale niepewności nie podaje się wartości poziomu ufności, to na ogół przyjmuje się, że jest on określony w sensie zależności y& [ ] Miarą niedokładności pomiaru jest najmniejszy, możliwy do określenia, przedział niepewności wyniku pomiaru. WAŻNE!!! Wiedza niepewna + Wiedza o niepewności = Wiedza użyteczna 8

9 Skala pomiarowa Zbiór uporządkowanych liczb, którym odpowiadają wartości mierzonej cechy obiektu Interwał skali = jednostka miary Wzorzec wartość danej wielkości Własność addytywności skali pomiarowej Przykłady (tak): linijka, waga Przykłady (nie): temperatura ⁰C, twardość wg Mohsa Podstawowe jednostki miary długość 1m, masa 1kg, czas 1s, natężenie prądu 1A, temperatura 1K, światłość 1kandela, ilość materii 1mol Wzorce jednostek miar: wzorzec międzynarodowy (najważniejszy), wzorzec krajowy, wzorzec w laboratorium akredytowanym. Określanie jednostek pochodnych: na podstawie zależności matematycznych, na podstawie praw fizycznych, np. złącze Josephsona. 1 Ω = 1V 1A Określanie jednostek innych wielkości: np. rezystancji 1Ω 3 = 1m kg s A Norma ISO 31 (Quantities and units) PN-EN (Wielkości i jednostki) Legalne jednostki miar -Rozporządzenie Rady Ministrów z dn r (Dz.U r) Spójność pomiarowa = trasabilność Jednostki, wielkości, metody i przyrządy pomiarowe są ze sobą powiązane(ang. traceability) 9

Wykład 1. Wprowadzenie do metrologii. Podstawowe pojęcia.

Wykład 1. Wprowadzenie do metrologii. Podstawowe pojęcia. MIERNICTWO WIELKOŚCI ELEKTRYCZNYCH I NIEELEKTRYCZNYCH Wykład 1. Wprowadzenie do metrologii. Podstawowe pojęcia. Introduction to Metrology. Basic Concepts. Wybrane źródła: Chwaleba A., Poniński M., Siedlecki

Bardziej szczegółowo

Elektrotechnika I stopień (I stopień / II stopień) Ogólno akademicki (ogólno akademicki / praktyczny) kierunkowy (podstawowy / kierunkowy / inny HES)

Elektrotechnika I stopień (I stopień / II stopień) Ogólno akademicki (ogólno akademicki / praktyczny) kierunkowy (podstawowy / kierunkowy / inny HES) Załącznik nr 7 do Zarządzenia Rektora nr 10/12 z dnia 21 lutego 2012r. KARTA MODUŁU / KARTA PRZEDMIOTU Kod modułu Nazwa modułu Metrologia 1 Nazwa modułu w języku angielskim Metrolgy 1 Obowiązuje od roku

Bardziej szczegółowo

PRZEWODNIK PO PRZEDMIOCIE

PRZEWODNIK PO PRZEDMIOCIE Nazwa przedmiotu: Kierunek: Energetyka Rodzaj przedmiotu: kierunkowy ogólny Rodzaj zajęć: wykład, laboratorium I KARTA PRZEDMIOTU CEL PRZEDMIOTU PRZEWODNIK PO PRZEDMIOCIE C1. Uzyskanie podstawowej wiedzy

Bardziej szczegółowo

P. R. Bevington and D. K. Robinson, Data reduction and error analysis for the physical sciences. McGraw-Hill, Inc., 1992. ISBN 0-07- 911243-9.

P. R. Bevington and D. K. Robinson, Data reduction and error analysis for the physical sciences. McGraw-Hill, Inc., 1992. ISBN 0-07- 911243-9. Literatura: P. R. Bevington and D. K. Robinson, Data reduction and error analysis for the physical sciences. McGraw-Hill, Inc., 1992. ISBN 0-07- 911243-9. A. Zięba, 2001, Natura rachunku niepewności a

Bardziej szczegółowo

Spis treści Wstęp Rozdział 1. Metrologia przedmiot i zadania

Spis treści Wstęp Rozdział 1. Metrologia przedmiot i zadania Spis treści Wstęp Rozdział 1. Metrologia przedmiot i zadania 1.1. Przedmiot metrologii 1.2. Rola i zadania metrologii współczesnej w procesach produkcyjnych 1.3. Główny Urząd Miar i inne instytucje ważne

Bardziej szczegółowo

Karta (sylabus) modułu/przedmiotu ELEKTROTECHNIKA (Nazwa kierunku studiów)

Karta (sylabus) modułu/przedmiotu ELEKTROTECHNIKA (Nazwa kierunku studiów) Przedmiot: Metrologia elektryczna Karta (sylabus) modułu/przedmiotu ELEKTROTECHNIKA (Nazwa kierunku studiów) Kod przedmiotu: E19 D Typ przedmiotu/modułu: obowiązkowy X obieralny Rok: drugi Semestr: czwarty

Bardziej szczegółowo

PODSTAWOWA TERMINOLOGIA METROLOGICZNA W PRAKTYCE LABORATORYJNEJ

PODSTAWOWA TERMINOLOGIA METROLOGICZNA W PRAKTYCE LABORATORYJNEJ Klub Polskich Laboratoriów Badawczych POLLAB PODSTAWOWA TERMINOLOGIA METROLOGICZNA W PRAKTYCE LABORATORYJNEJ Andrzej Hantz Centrum Metrologii im. Zdzisława Rauszera RADWAG Wagi Elektroniczne Metrologia

Bardziej szczegółowo

Stacjonarne Wszystkie Katedra Fizyki dr Medard Makrenek. Inny / Techniczny Obowiązkowy Polski Semestr szósty. Semestr letni Statystyka, Fizyka I Nie

Stacjonarne Wszystkie Katedra Fizyki dr Medard Makrenek. Inny / Techniczny Obowiązkowy Polski Semestr szósty. Semestr letni Statystyka, Fizyka I Nie KARTA MODUŁU / KARTA PRZEDMIOTU Kod modułu Nazwa modułu Nazwa modułu w języku angielskim Obowiązuje od roku akademickiego 2012/2013 Z-ZIP-256z Podstawy miernictwa elektrycznego Fundamentals of Electrical

Bardziej szczegółowo

Miernictwo elektroniczne

Miernictwo elektroniczne Miernictwo elektroniczne Policz to, co można policzyć, zmierz to co można zmierzyć, a to co jest niemierzalne, uczyń mierzalnym Galileo Galilei Dr inż. Zbigniew Świerczyński p. 112A bud. E-1 Wstęp Pomiar

Bardziej szczegółowo

Instytut Politechniczny Zakład Elektrotechniki i Elektroniki

Instytut Politechniczny Zakład Elektrotechniki i Elektroniki Instytut Politechniczny Kod przedmiotu: PLPILA02-IPELE-I-IIIkC5-2013-S Pozycja planu: C5 1. INFORMACJE O PRZEDMIOCIE A. Podstawowe dane 1 Nazwa przedmiotu Metrologia I 2 Kierunek studiów Elektrotechnika

Bardziej szczegółowo

SYLABUS. Nazwa jednostki prowadzącej Wydział Matematyczno Przyrodniczy Centrum Mikroelektroniki i Nanotechnologii

SYLABUS. Nazwa jednostki prowadzącej Wydział Matematyczno Przyrodniczy Centrum Mikroelektroniki i Nanotechnologii SYLABUS Nazwa Wprowadzenie do metrologii Nazwa jednostki prowadzącej Wydział Matematyczno Przyrodniczy przedmiot Centrum Mikroelektroniki i Nanotechnologii Kod Studia Kierunek studiów Poziom kształcenia

Bardziej szczegółowo

Niepewności pomiarów

Niepewności pomiarów Niepewności pomiarów Międzynarodowa Organizacja Normalizacyjna (ISO) w roku 1995 opublikowała normy dotyczące terminologii i sposobu określania niepewności pomiarów [1]. W roku 1999 normy zostały opublikowane

Bardziej szczegółowo

Podstawy Pomiarów PPOM.A Literatura 2 Literatura podstawowa... 3 Literatura uzupełniająca... 4

Podstawy Pomiarów PPOM.A Literatura 2 Literatura podstawowa... 3 Literatura uzupełniająca... 4 Podstawy Pomiarów PPOM.A 2014 Literatura 2 Literatura podstawowa..................................................................... 3 Literatura uzupełniająca...................................................................

Bardziej szczegółowo

LABORATORIUM Z FIZYKI

LABORATORIUM Z FIZYKI LABORATORIUM Z FIZYKI LABORATORIUM Z FIZYKI I PRACOWNIA FIZYCZNA C w Gliwicach Gliwice, ul. Konarskiego 22, pokoje 52-54 Regulamin pracowni i organizacja zajęć Sprawozdanie (strona tytułowa, karta pomiarowa)

Bardziej szczegółowo

Zakres wymaganych wiadomości do testów z przedmiotu Metrologia. Wprowadzenie do obsługi multimetrów analogowych i cyfrowych

Zakres wymaganych wiadomości do testów z przedmiotu Metrologia. Wprowadzenie do obsługi multimetrów analogowych i cyfrowych Zakres wymaganych wiadomości do testów z przedmiotu Metrologia Ćwiczenie 1 Wprowadzenie do obsługi multimetrów analogowych i cyfrowych budowa i zasada działania przyrządów analogowych magnetoelektrycznych

Bardziej szczegółowo

KARTA MODUŁU KSZTAŁCENIA

KARTA MODUŁU KSZTAŁCENIA KARTA MODUŁU KSZTAŁCENIA I. 1 Nazwa modułu kształcenia I. Informacje ogólne Miernictwo elektroniczne 2 Nazwa jednostki prowadzącej moduł (należy wskazać nazwę zgodnie ze Statutem PSW Instytut, Zakład)

Bardziej szczegółowo

Modelowanie przetworników pomiarowych Kod przedmiotu

Modelowanie przetworników pomiarowych Kod przedmiotu Modelowanie przetworników pomiarowych - opis przedmiotu Informacje ogólne Nazwa przedmiotu Modelowanie przetworników pomiarowych Kod przedmiotu 06.0-WE-ED-MPP Wydział Kierunek Wydział Informatyki, Elektrotechniki

Bardziej szczegółowo

Ćw. 8: OCENA DOKŁADNOŚCI PRZYRZĄDÓW POMIAROWYCH

Ćw. 8: OCENA DOKŁADNOŚCI PRZYRZĄDÓW POMIAROWYCH Ćw. 8: OCENA DOKŁADNOŚCI PRZYRZĄDÓW POMIAROWYCH I. Cel ćwiczenia Celem ćwiczenia jest poznanie zasad sprawdzania dokładności wskazań użytkowych przyrządów pomiarowych analogowych i cyfrowych oraz praktyczne

Bardziej szczegółowo

Laboratorium miernictwa elektronicznego - Narzędzia pomiarowe 1 NARZĘDZIA POMIAROWE

Laboratorium miernictwa elektronicznego - Narzędzia pomiarowe 1 NARZĘDZIA POMIAROWE Laboratorium miernictwa elektronicznego - Narzędzia pomiarowe 1 NARZĘDZIA POMIAROWE CEL ĆWICZENIA Poznanie źródeł informacji o parametrach i warunkach eksploatacji narzędzi pomiarowych, zapoznanie ze sposobami

Bardziej szczegółowo

Laboratorium Metrologii

Laboratorium Metrologii Laboratorium Metrologii Ćwiczenie nr 1 Metody określania niepewności pomiaru. I. Zagadnienia do przygotowania na kartkówkę: 1. Podstawowe założenia teorii niepewności. Wyjaśnić znaczenie pojęć randomizacja

Bardziej szczegółowo

Katedra Metrologii i Systemów Diagnostycznych Laboratorium Metrologii II. 2013/14. Grupa: Nr. Ćwicz.

Katedra Metrologii i Systemów Diagnostycznych Laboratorium Metrologii II. 2013/14. Grupa: Nr. Ćwicz. Politechnika Rzeszowska Katedra Metrologii i Systemów Diagnostycznych Laboratorium Metrologii II WYZNACZANIE WŁAŚCIWOŚCI STATYCZNYCH I DYNAMICZNYCH PRZETWORNIKÓW Grupa: Nr. Ćwicz. 9 1... kierownik 2...

Bardziej szczegółowo

KARTA INFORMACYJNA PRZEDMIOTU

KARTA INFORMACYJNA PRZEDMIOTU Uniwersytet Rzeszowski WYDZIAŁ KIERUNEK Matematyczno-Przyrodniczy Fizyka techniczna SPECJALNOŚĆ RODZAJ STUDIÓW stacjonarne, studia pierwszego stopnia KARTA INFORMACYJNA PRZEDMIOTU NAZWA PRZEDMIOTU WG PLANU

Bardziej szczegółowo

Data wydruku: Dla rocznika: 2015/2016. Opis przedmiotu

Data wydruku: Dla rocznika: 2015/2016. Opis przedmiotu Sylabus przedmiotu: Specjalność: Metrologia Wszystkie specjalności Data wydruku: 22.01.2016 Dla rocznika: 2015/2016 Kierunek: Wydział: Zarządzanie i inżynieria produkcji Inżynieryjno-Ekonomiczny Dane podstawowe

Bardziej szczegółowo

Ćwiczenie 2. Analiza błędów i niepewności pomiarowych. Program ćwiczenia:

Ćwiczenie 2. Analiza błędów i niepewności pomiarowych. Program ćwiczenia: Ćwiczenie Analiza błędów i niepewności pomiarowych Proam ćwiczenia: 1. Wyznaczenie niepewności typ w bezpośrednim pomiarze napięcia stałego. Wyznaczenie niepewności typ w pośrednim pomiarze rezystancji

Bardziej szczegółowo

Pomiary małych rezystancji

Pomiary małych rezystancji Politechnika Rzeszowska Katedra Metrologii i Systemów Diagnostycznych Laboratorium Miernictwa Elektronicznego Pomiary małych rezystancji Grupa Nr ćwicz. 2 1... kierownik 2... 3... 4... Data Ocena I. C

Bardziej szczegółowo

Systemy pomiarowe Measurement systems. Energetyka I stopień (I stopień / II stopień) Ogólnoakademicki (ogólnoakademicki / praktyczny)

Systemy pomiarowe Measurement systems. Energetyka I stopień (I stopień / II stopień) Ogólnoakademicki (ogólnoakademicki / praktyczny) Załącznik nr 7 do Zarządzenia Rektora nr 10/12 z dnia 21 lutego 2012r. KARTA MODUŁU / KARTA PRZEDMIOTU Kod modułu Nazwa modułu Nazwa modułu w języku angielskim Systemy pomiarowe Measurement systems Obowiązuje

Bardziej szczegółowo

Ćw. 1&2: Wprowadzenie do obsługi przyrządów pomiarowych oraz analiza błędów i niepewności pomiarowych

Ćw. 1&2: Wprowadzenie do obsługi przyrządów pomiarowych oraz analiza błędów i niepewności pomiarowych Wydział: EAIiE Kierunek: Imię i nazwisko (e mail): Rok:. (2011/2012) Grupa: Zespół: Data wykonania: Zaliczenie: Podpis prowadzącego: Uwagi: LABORATORIUM METROLOGII Ćw. 1&2: Wprowadzenie do obsługi przyrządów

Bardziej szczegółowo

Sensoryka i pomiary przemysłowe Kod przedmiotu

Sensoryka i pomiary przemysłowe Kod przedmiotu Sensoryka i pomiary przemysłowe - opis przedmiotu Informacje ogólne Nazwa przedmiotu Sensoryka i pomiary przemysłowe Kod przedmiotu 06.0-WE-AiRD-SiPP Wydział Kierunek Wydział Informatyki, Elektrotechniki

Bardziej szczegółowo

Projektowanie systemów pomiarowych. 01 Wykład wstępny

Projektowanie systemów pomiarowych. 01 Wykład wstępny Projektowanie systemów pomiarowych 01 Wykład wstępny 1 1. Zaliczenie - Kolokwium zaliczające (zerówka, pierwszy termin, poprawka) - Zaliczenie projektu zespołowego 2 2. Literatura - Chaleba A., Poniński

Bardziej szczegółowo

WYZNACZANIE NIEPEWNOŚCI POMIARU METODAMI SYMULACYJNYMI

WYZNACZANIE NIEPEWNOŚCI POMIARU METODAMI SYMULACYJNYMI WYZNACZANIE NIEPEWNOŚCI POMIARU METODAMI SYMULACYJNYMI Stefan WÓJTOWICZ, Katarzyna BIERNAT ZAKŁAD METROLOGII I BADAŃ NIENISZCZĄCYCH INSTYTUT ELEKTROTECHNIKI ul. Pożaryskiego 8, 04-703 Warszawa tel. (0)

Bardziej szczegółowo

Laboratorium z Metrologii

Laboratorium z Metrologii Zachodniopomorski niwersytet Technologiczny w Szczecinie Wydział Elektryczny Katedra Sterowania i Pomiarów Zakład Metrologii Laboratorium z Metrologii Opracował: dr inż. A.Wollek 1 Prowadzący dr inż. Andrzej

Bardziej szczegółowo

stacjonarne (stacjonarne / niestacjonarne) kierunkowy (podstawowy / kierunkowy / inny HES)

stacjonarne (stacjonarne / niestacjonarne) kierunkowy (podstawowy / kierunkowy / inny HES) Załącznik nr 7 do Zarządzenia Rektora nr 10/12 z dnia 21 lutego 2012r. KARTA MODUŁU / KARTA PRZEDMIOTU Kod modułu Nazwa modułu Nazwa modułu w języku angielskim Obowiązuje od roku akademickiego 2012/2013

Bardziej szczegółowo

Rozkład normalny, niepewność standardowa typu A

Rozkład normalny, niepewność standardowa typu A Podstawy Metrologii i Technik Eksperymentu Laboratorium Rozkład normalny, niepewność standardowa typu A Instrukcja do ćwiczenia nr 1 Zakład Miernictwa i Ochrony Atmosfery Wrocław, listopad 2010 r. Podstawy

Bardziej szczegółowo

SPÓJNOŚĆ POMIAROWA JAKO NARZĘDZIE ZAPEWNIENIA JAKOŚCI. mgr inż. Piotr Lewandowski

SPÓJNOŚĆ POMIAROWA JAKO NARZĘDZIE ZAPEWNIENIA JAKOŚCI. mgr inż. Piotr Lewandowski SPÓJNOŚĆ POMIAROWA JAKO NARZĘDZIE ZAPEWNIENIA JAKOŚCI mgr inż. Piotr Lewandowski Polskie Centrum Akredytacji Polskie Centrum Akredytacji (PCA) jako jednostka nadzorująca m.in. pracę laboratoriów wzorcujących

Bardziej szczegółowo

Wykład 9. Terminologia i jej znaczenie. Cenzurowanie wyników pomiarów.

Wykład 9. Terminologia i jej znaczenie. Cenzurowanie wyników pomiarów. Wykład 9. Terminologia i jej znaczenie. Cenzurowanie wyników pomiarów.. KEITHLEY. Practical Solutions for Accurate. Test & Measurement. Training materials, www.keithley.com;. Janusz Piotrowski: Procedury

Bardziej szczegółowo

Sprawdzenie narzędzi pomiarowych i wyznaczenie niepewności rozszerzonej typu A w pomiarach pośrednich

Sprawdzenie narzędzi pomiarowych i wyznaczenie niepewności rozszerzonej typu A w pomiarach pośrednich Podstawy Metrologii i Technik Eksperymentu Laboratorium Sprawdzenie narzędzi pomiarowych i wyznaczenie niepewności rozszerzonej typu A w pomiarach pośrednich Instrukcja do ćwiczenia nr 4 Zakład Miernictwa

Bardziej szczegółowo

Wydanie 3 Warszawa, 20.06.2007 r.

Wydanie 3 Warszawa, 20.06.2007 r. . POLSKIE CENTRUM AKREDYTACJI POLITYKA POLSKIEGO CENTRUM AKREDYTACJI DOTYCZĄCA ZAPEWNIENIA SPÓJNOŚCI POMIAROWEJ Wydanie 3 Warszawa, 20.06.2007 r. 1. Wstęp Niniejsza Polityka jest zgodna z dokumentem ILAC-P10:2002

Bardziej szczegółowo

Laboratorium Metrologii I Nr ćwicz. Ocena dokładności przyrządów pomiarowych 3

Laboratorium Metrologii I Nr ćwicz. Ocena dokładności przyrządów pomiarowych 3 Laboratorium Metrologii Elektrycznej i Elektronicznej Politechnika Rzeszowska Zakład Metrologii i Systemów Pomiarowych Laboratorium Metrologii I Grupa Nr ćwicz. Ocena dokładności przyrządów pomiarowych

Bardziej szczegółowo

LABORATORIUM METROLOGII. Analiza błędów i niepewności wyników pomiarowych. dr inż. Piotr Burnos

LABORATORIUM METROLOGII. Analiza błędów i niepewności wyników pomiarowych. dr inż. Piotr Burnos AKADEMIA GÓRICZO - HTICZA IM. STAISŁAWA STASZICA w KRAKOWIE WYDZIAŁ ELEKTROTECHIKI, ATOMATYKI, IFORMATYKI i ELEKTROIKI KATEDRA METROLOGII LABORATORIM METROLOGII Analiza błędów i niepewności wyników pomiarowych

Bardziej szczegółowo

Miernictwo - W10 - dr Adam Polak Notatki: Marcin Chwedziak. Miernictwo I. dr Adam Polak WYKŁAD 10

Miernictwo - W10 - dr Adam Polak Notatki: Marcin Chwedziak. Miernictwo I. dr Adam Polak WYKŁAD 10 Miernictwo I dr Adam Polak WYKŁAD 10 Pomiary wielkości elektrycznych stałych w czasie Pomiary prądu stałego: Technika pomiaru prądu: Zakresy od pa do setek A Czynniki wpływające na wynik pomiaru (jest

Bardziej szczegółowo

Lekcja 1. Temat: Organizacja i bezpieczeństwo pracy w pracowni elektronicznej.

Lekcja 1. Temat: Organizacja i bezpieczeństwo pracy w pracowni elektronicznej. Lekcja 1 Temat: Organizacja i bezpieczeństwo pracy w pracowni elektronicznej. 1. Zasady bezpieczeństwa na lekcji. 2. Zapoznanie z programem nauczania. 3. Omówienie kryteriów oceniania. 4. Prowadzenie zeszytu.

Bardziej szczegółowo

Wymiar: Forma: Semestr: 30 h wykład VII 30 h laboratoria VII

Wymiar: Forma: Semestr: 30 h wykład VII 30 h laboratoria VII Pomiary przemysłowe Wymiar: Forma: Semestr: 30 h wykład VII 30 h laboratoria VII Efekty kształcenia: Ma uporządkowaną i pogłębioną wiedzę z zakresu metod pomiarów wielkości fizycznych w przemyśle. Zna

Bardziej szczegółowo

Określanie niepewności pomiaru

Określanie niepewności pomiaru Określanie niepewności pomiaru (Materiały do ćwiczeń laboratoryjnych z przedmiotu Materiałoznawstwo na wydziale Górnictwa i Geoinżynierii) 1. Wprowadzenie Pomiar jest to zbiór czynności mających na celu

Bardziej szczegółowo

Analiza niepewności pomiarów

Analiza niepewności pomiarów Teoria pomiarów Analiza niepewności pomiarów Zagadnienia statystyki matematycznej Dr hab. inż. Paweł Majda www.pmajda.zut.edu.pl Podstawy statystyki matematycznej Histogram oraz wielobok liczebności zmiennej

Bardziej szczegółowo

Dokładność pomiaru: Ogólne informacje o błędach pomiaru

Dokładność pomiaru: Ogólne informacje o błędach pomiaru Dokładność pomiaru: Rozumny człowiek nie dąży do osiągnięcia w określonej dziedzinie większej dokładności niż ta, którą dopuszcza istota przedmiotu jego badań. (Arystoteles) Nie można wykonać bezbłędnego

Bardziej szczegółowo

Spis treści. Przedmowa... XI. Rozdział 1. Pomiar: jednostki miar... 1. Rozdział 2. Pomiar: liczby i obliczenia liczbowe... 16

Spis treści. Przedmowa... XI. Rozdział 1. Pomiar: jednostki miar... 1. Rozdział 2. Pomiar: liczby i obliczenia liczbowe... 16 Spis treści Przedmowa.......................... XI Rozdział 1. Pomiar: jednostki miar................. 1 1.1. Wielkości fizyczne i pozafizyczne.................. 1 1.2. Spójne układy miar. Układ SI i jego

Bardziej szczegółowo

Wstęp do teorii niepewności pomiaru. Danuta J. Michczyńska Adam Michczyński

Wstęp do teorii niepewności pomiaru. Danuta J. Michczyńska Adam Michczyński Wstęp do teorii niepewności pomiaru Danuta J. Michczyńska Adam Michczyński Podstawowe informacje: Strona Politechniki Śląskiej: www.polsl.pl Instytut Fizyki / strona własna Instytutu / Dydaktyka / I Pracownia

Bardziej szczegółowo

Fizyka (Biotechnologia)

Fizyka (Biotechnologia) Fizyka (Biotechnologia) Wykład I Marek Kasprowicz dr Marek Jan Kasprowicz pokój 309 marek.kasprowicz@ur.krakow.pl www.ar.krakow.pl/~mkasprowicz Marek Jan Kasprowicz Fizyka 013 r. Literatura D. Halliday,

Bardziej szczegółowo

Uśrednianie napięć zakłóconych

Uśrednianie napięć zakłóconych Politechnika Rzeszowska Katedra Metrologii i Systemów Diagnostycznych Laboratorium Miernictwa Elektronicznego Uśrednianie napięć zakłóconych Grupa Nr ćwicz. 5 1... kierownik 2... 3... 4... Data Ocena I.

Bardziej szczegółowo

PODSTAWY ELEKTRONIKI I MIERNICTWA

PODSTAWY ELEKTRONIKI I MIERNICTWA PODSTAWY ELEKTRONIKI I MIERNICTWA Konsultacje: - czwartki 15.05-15.35 WEL, pok. 56/100 tel. 839-082 jjakubowski@wat.edu.pl 4.1. Pojęcia podstawowe M E T R O L O G I A OGÓLNA TEOTERYCZNA PRAWNA STOSOWANA

Bardziej szczegółowo

Tranzystor bipolarny LABORATORIUM 5 i 6

Tranzystor bipolarny LABORATORIUM 5 i 6 Tranzystor bipolarny LABORATORIUM 5 i 6 Marcin Polkowski (251328) 10 maja 2007 r. Spis treści I Laboratorium 5 2 1 Wprowadzenie 2 2 Pomiary rodziny charakterystyk 3 II Laboratorium 6 7 3 Wprowadzenie 7

Bardziej szczegółowo

Komputerowe systemy pomiarowe. Dr Zbigniew Kozioł - wykład Mgr Mariusz Woźny - laboratorium

Komputerowe systemy pomiarowe. Dr Zbigniew Kozioł - wykład Mgr Mariusz Woźny - laboratorium Komputerowe systemy pomiarowe Dr Zbigniew Kozioł - wykład Mgr Mariusz Woźny - laboratorium 1 - Cel zajęć - Orientacyjny plan wykładu - Zasady zaliczania przedmiotu - Literatura Klasyfikacja systemów pomiarowych

Bardziej szczegółowo

Projektowanie systemów pomiarowych. 02 Dokładność pomiarów

Projektowanie systemów pomiarowych. 02 Dokładność pomiarów Projektowanie systemów pomiarowych 02 Dokładność pomiarów 1 www.technidyneblog.com 2 Jak dokładnie wykonaliśmy pomiar? Czy duża / wysoka dokładność jest zawsze konieczna? www.sparkfun.com 3 Błąd pomiaru.

Bardziej szczegółowo

Karta (sylabus) modułu/przedmiotu Mechatronika Studia pierwszego stopnia. Podstawy automatyki Rodzaj przedmiotu: obowiązkowy Kod przedmiotu:

Karta (sylabus) modułu/przedmiotu Mechatronika Studia pierwszego stopnia. Podstawy automatyki Rodzaj przedmiotu: obowiązkowy Kod przedmiotu: Karta (sylabus) modułu/przedmiotu Mechatronika Studia pierwszego stopnia Przedmiot: Podstawy automatyki Rodzaj przedmiotu: obowiązkowy Kod przedmiotu: MT 1 N 0 4 4-0_1 Rok: II Semestr: 4 Forma studiów:

Bardziej szczegółowo

Pytania podstawowe dla studentów studiów I-go stopnia kierunku Elektrotechnika VI Komisji egzaminów dyplomowych

Pytania podstawowe dla studentów studiów I-go stopnia kierunku Elektrotechnika VI Komisji egzaminów dyplomowych Pytania podstawowe dla studentów studiów I-go stopnia kierunku Elektrotechnika VI Komisji egzaminów dyplomowych 0 Podstawy metrologii 1. Model matematyczny pomiaru. 2. Wzorce jednostek miar. 3. Błąd pomiaru.

Bardziej szczegółowo

Centrum Naukowo-Badawcze Ochrony Przeciwpożarowej im. Józefa Tuliszkowskiego Państwowy Instytut Badawczy ul. Nadwiślańska 213, Józefów

Centrum Naukowo-Badawcze Ochrony Przeciwpożarowej im. Józefa Tuliszkowskiego Państwowy Instytut Badawczy ul. Nadwiślańska 213, Józefów Centrum Naukowo-Badawcze Ochrony Przeciwpożarowej im. Józefa Tuliszkowskiego Państwowy Instytut Badawczy ul. Nadwiślańska 213, 05-420 Józefów WYMAGANIA CNBOP-PIB DOTYCZĄCE ZAPEWNIENIA SPÓJNOŚCI POMIAROWEJ

Bardziej szczegółowo

Komputerowe systemy pomiarowe. Podstawowe elementy sprzętowe elektronicznych układów pomiarowych

Komputerowe systemy pomiarowe. Podstawowe elementy sprzętowe elektronicznych układów pomiarowych Komputerowe systemy pomiarowe Dr Zbigniew Kozioł - wykład Mgr Mariusz Woźny laboratorium Wykład III Podstawowe elementy sprzętowe elektronicznych układów pomiarowych 1 - Linearyzatory, wzmacniacze, wzmacniacze

Bardziej szczegółowo

Statystyka i eksploracja danych

Statystyka i eksploracja danych Wykład II: i charakterystyki ich rozkładów 24 lutego 2014 Wartość oczekiwana Dystrybuanty Słowniczek teorii prawdopodobieństwa, cz. II Wartość oczekiwana Dystrybuanty Słowniczek teorii prawdopodobieństwa,

Bardziej szczegółowo

www.wseiz.pl/index.php?menu=4&div=3/ część III,IV i V

www.wseiz.pl/index.php?menu=4&div=3/ część III,IV i V W Y D Z I A Ł Z A R Z Ą D Z A N I A www.wseiz.pl/index.php?menu=4&div=3/ część III,IV i V I. Międzynarodowy Układ Jednostek Miar SI 1. Istota i znaczenie metrologii 2. Układ jednostek SI proweniencja;

Bardziej szczegółowo

Niepewność pomiaru masy w praktyce

Niepewność pomiaru masy w praktyce Niepewność pomiaru masy w praktyce RADWAG Wagi Elektroniczne Z wszystkimi pomiarami nierozłącznie jest związana Niepewność jest nierozerwalnie związana z wynimiarów niepewność ich wyników. Podając wyniki

Bardziej szczegółowo

Kierunek i poziom studiów: Technologia chemiczna, pierwszy Sylabus modułu: Automatyka i pomiar wielkości fizykochemicznych (0310-TCH-S1-021)

Kierunek i poziom studiów: Technologia chemiczna, pierwszy Sylabus modułu: Automatyka i pomiar wielkości fizykochemicznych (0310-TCH-S1-021) Uniwersytet Śląski w Katowicach str. 1 Kierunek i poziom studiów: Technologia chemiczna, pierwszy Sylabus modułu: Automatyka i pomiar wielkości fizykochemicznych (0310-TCH-S1-021) Nazwa wariantu modułu

Bardziej szczegółowo

Metrologia: definicje i pojęcia podstawowe. dr inż. Paweł Zalewski Akademia Morska w Szczecinie

Metrologia: definicje i pojęcia podstawowe. dr inż. Paweł Zalewski Akademia Morska w Szczecinie Metrologia: definicje i pojęcia podstawowe dr inż. Paweł Zalewski Akademia Morska w Szczecinie Pojęcia podstawowe: Metrologia jest nauką zajmująca się sposobami dokonywania pomiarów oraz zasadami interpretacji

Bardziej szczegółowo

Świadectwa wzorcowania zawartość i interpretacja. Anna Warzec

Świadectwa wzorcowania zawartość i interpretacja. Anna Warzec Świadectwa wzorcowania zawartość i interpretacja Anna Warzec WSTĘP Plan wystąpienia ŚWIADECTWO WZORCOWANIA Spójność pomiarowa Wyniki wzorcowania Zgodność z wymaganiami POTWIERDZANIE ZGODNOŚCI WZORCOWANEGO

Bardziej szczegółowo

Elektroniczne przyrządy pomiarowe Kod przedmiotu

Elektroniczne przyrządy pomiarowe Kod przedmiotu Elektroniczne przyrządy pomiarowe - opis przedmiotu Informacje ogólne Nazwa przedmiotu Elektroniczne przyrządy pomiarowe Kod przedmiotu 06.5-WE-EP-EPP Wydział Kierunek Wydział Informatyki, Elektrotechniki

Bardziej szczegółowo

Ćwiczenie 14. Sprawdzanie przyrządów analogowych i cyfrowych. Program ćwiczenia:

Ćwiczenie 14. Sprawdzanie przyrządów analogowych i cyfrowych. Program ćwiczenia: Ćwiczenie 14 Sprawdzanie przyrządów analogowych i cyfrowych Program ćwiczenia: 1 Sprawdzenie błędów podstawowych woltomierza analogowego 2 Sprawdzenie błędów podstawowych amperomierza analogowego 3 Sprawdzenie

Bardziej szczegółowo

Wprowadzenie do rachunku niepewności pomiarowej. Jacek Pawlyta

Wprowadzenie do rachunku niepewności pomiarowej. Jacek Pawlyta Wprowadzenie do rachunku niepewności pomiarowej Jacek Pawlyta Fizyka Teorie Obserwacje Doświadczenia Fizyka Teorie Przykłady Obserwacje Przykłady Doświadczenia Przykłady Fizyka Potwierdzanie bądź obalanie

Bardziej szczegółowo

Pracownia Automatyki i Elektrotechniki Katedry Tworzyw Drzewnych Ćwiczenie 1. Połączenia szeregowe oraz równoległe elementów RC

Pracownia Automatyki i Elektrotechniki Katedry Tworzyw Drzewnych Ćwiczenie 1. Połączenia szeregowe oraz równoległe elementów RC Pracownia Automatyki i Elektrotechniki Katedry Tworzyw Drzewnych Ćwiczenie ĆWICZENIE Połączenia szeregowe oraz równoległe elementów C. CEL ĆWICZENIA Celem ćwiczenia jest praktyczno-analityczna ocena wartości

Bardziej szczegółowo

Obliczanie niepewności rozszerzonej metodą analityczną opartą na splocie rozkładów wielkości wejściowych

Obliczanie niepewności rozszerzonej metodą analityczną opartą na splocie rozkładów wielkości wejściowych Obliczanie niepewności rozszerzonej metodą analityczną opartą na splocie rozkładów wejściowych Paweł Fotowicz * Przedstawiono ścisłą metodę obliczania niepewności rozszerzonej, polegającą na wyznaczeniu

Bardziej szczegółowo

Politechnika Gdańska WYDZIAŁ ELEKTRONIKI TELEKOMUNIKACJI I INFORMATYKI. Katedra Metrologii i Optoelektroniki. Metrologia. Ilustracje do wykładu

Politechnika Gdańska WYDZIAŁ ELEKTRONIKI TELEKOMUNIKACJI I INFORMATYKI. Katedra Metrologii i Optoelektroniki. Metrologia. Ilustracje do wykładu Politechnika Gdańska WYDZIAŁ ELEKTRONIKI TELEKOMUNIKACJI I INFORMATYKI Katedra Metrologii i Optoelektroniki Metrologia Studia I stopnia, kier Elektronika i Telekomunikacja, sem. 2 Ilustracje do wykładu

Bardziej szczegółowo

Studia Doktoranckie na Wydziale Towaroznawstwa UEP Sylabus przedmiotu

Studia Doktoranckie na Wydziale Towaroznawstwa UEP Sylabus przedmiotu Studia Doktoranckie na Wydziale Towaroznawstwa UEP Sylabus przedmiotu Nazwa przedmiotu: Nadzór nad rynkiem w UE, system akredytacji Blok zajęciowy fakultatywny Forma zajęć wykład Wymiar godzinowy 10 h

Bardziej szczegółowo

Teoria błędów. Wszystkie wartości wielkości fizycznych obarczone są pewnym błędem.

Teoria błędów. Wszystkie wartości wielkości fizycznych obarczone są pewnym błędem. Teoria błędów Wskutek niedoskonałości przyrządów, jak również niedoskonałości organów zmysłów wszystkie pomiary są dokonywane z określonym stopniem dokładności. Nie otrzymujemy prawidłowych wartości mierzonej

Bardziej szczegółowo

Miernictwo przemysłowe

Miernictwo przemysłowe Miernictwo przemysłowe Józef Warechowski Olsztyn, 2014 Charakterystyka pomiarów w produkcji żywności Podstawa formalna do prowadzenia ciągłego nadzoru nad AKP: PN-EN ISO 9001 punkt 7.6 1 1 a) Bezpośrednie,

Bardziej szczegółowo

Laboratorium metrologii

Laboratorium metrologii Wydział Inżynierii Mechanicznej i Mechatroniki Instytut Technologii Mechanicznej Laboratorium metrologii Instrukcja do ćwiczeń laboratoryjnych Temat ćwiczenia: Pomiary wymiarów zewnętrznych Opracował:

Bardziej szczegółowo

Pomiar rezystancji metodą techniczną

Pomiar rezystancji metodą techniczną Pomiar rezystancji metodą techniczną Cel ćwiczenia. Poznanie metod pomiarów rezystancji liniowych, optymalizowania warunków pomiaru oraz zasad obliczania błędów pomiarowych. Zagadnienia teoretyczne. Definicja

Bardziej szczegółowo

Ocena i wykorzystanie informacji podanych w świadectwach wzorcowania i świadectwach materiałów odniesienia

Ocena i wykorzystanie informacji podanych w świadectwach wzorcowania i świadectwach materiałów odniesienia Ocena i wykorzystanie informacji podanych w świadectwach wzorcowania i świadectwach materiałów odniesienia XIX Sympozjum Klubu POLLAB Kudowa Zdrój 2013 Jolanta Wasilewska, Robert Rzepakowski 1 Zawartość

Bardziej szczegółowo

LABORATORIUM POMIARY W AKUSTYCE. ĆWICZENIE NR 4 Pomiar współczynników pochłaniania i odbicia dźwięku oraz impedancji akustycznej metodą fali stojącej

LABORATORIUM POMIARY W AKUSTYCE. ĆWICZENIE NR 4 Pomiar współczynników pochłaniania i odbicia dźwięku oraz impedancji akustycznej metodą fali stojącej LABORATORIUM POMIARY W AKUSTYCE ĆWICZENIE NR 4 Pomiar współczynników pochłaniania i odbicia dźwięku oraz impedancji akustycznej metodą fali stojącej 1. Cel ćwiczenia Celem ćwiczenia jest poznanie metody

Bardziej szczegółowo

Podstawy opracowania wyników pomiarów z elementami analizy niepewności pomiarowych. Wykład tutora na bazie wykładu prof. Marka Stankiewicza

Podstawy opracowania wyników pomiarów z elementami analizy niepewności pomiarowych. Wykład tutora na bazie wykładu prof. Marka Stankiewicza Podstawy opracowania wyników pomiarów z elementami analizy niepewności pomiarowych Wykład tutora na bazie wykładu prof. Marka tankiewicza Po co zajęcia w I Pracowni Fizycznej? 1. Obserwacja zjawisk i efektów

Bardziej szczegółowo

Komputerowa Analiza Danych Doświadczalnych

Komputerowa Analiza Danych Doświadczalnych Komputerowa Analiza Danych Doświadczalnych dr inż. Adam Kisiel kisiel@if.pw.edu.pl pokój 117b (12b) 1 Materiały do wykładu Transparencje do wykładów: http://www.if.pw.edu.pl/~kisiel/kadd/kadd.html Literatura

Bardziej szczegółowo

Odtwarzanie i przekazywanie jednostek dozymetrycznych

Odtwarzanie i przekazywanie jednostek dozymetrycznych Opracował Adrian BoŜydar Knyziak Politechnika Warszawska Wydział Mechatroniki Odtwarzanie i przekazywanie jednostek dozymetrycznych Opracowanie zaliczeniowe z przedmiotu "Metody i Technologie Jądrowe"

Bardziej szczegółowo

POLITECHNIKA ŚLĄSKA INSTYTUT AUTOMATYKI ZAKŁAD SYSTEMÓW POMIAROWYCH

POLITECHNIKA ŚLĄSKA INSTYTUT AUTOMATYKI ZAKŁAD SYSTEMÓW POMIAROWYCH POLITECHNIKA ŚLĄSKA INSTYTUT AUTOMATYKI ZAKŁAD SYSTEMÓW POMIAROWYCH Gliwice, wrzesień 2007 Cyfrowe pomiary częstotliwości oraz parametrów RLC Cel ćwiczenia Celem ćwiczenia jest zapoznanie się z budową,

Bardziej szczegółowo

Wstęp do ćwiczeń na pracowni elektronicznej

Wstęp do ćwiczeń na pracowni elektronicznej Wstęp do ćwiczeń na pracowni elektronicznej Katarzyna Grzelak listopad 2011 K.Grzelak (IFD UW) listopad 2011 1 / 25 Zajęcia na pracowni elektronicznej Na kolejnych zajęciach spotykamy się na pracowni elektronicznej

Bardziej szczegółowo

PRZEWODNIK PO PRZEDMIOCIE

PRZEWODNIK PO PRZEDMIOCIE Nazwa przedmiotu: PODSTAWY ELEKTROTECHNIKI, ELEKTRONIKI I TECHNIK POMIAROWYCH Foundations of electrotechnics, electronics and measurement techniques Kierunek: Informatyka Rodzaj przedmiotu: obowiązkowy

Bardziej szczegółowo

Temat ćwiczenia: Wyznaczanie charakterystyk częstotliwościowych podstawowych członów dynamicznych realizowanych za pomocą wzmacniacza operacyjnego

Temat ćwiczenia: Wyznaczanie charakterystyk częstotliwościowych podstawowych członów dynamicznych realizowanych za pomocą wzmacniacza operacyjnego Automatyka i pomiar wielkości fizykochemicznych ĆWICZENIE NR 3 Temat ćwiczenia: Wyznaczanie charakterystyk częstotliwościowych podstawowych członów dynamicznych realizowanych za pomocą wzmacniacza operacyjnego

Bardziej szczegółowo

Karta (sylabus) modułu/przedmiotu Inżynieria Materiałowa Studia I stopnia. Podstawy elektrotechniki i elektroniki Rodzaj przedmiotu: Język polski

Karta (sylabus) modułu/przedmiotu Inżynieria Materiałowa Studia I stopnia. Podstawy elektrotechniki i elektroniki Rodzaj przedmiotu: Język polski Karta (sylabus) modułu/przedmiotu Inżynieria Materiałowa Studia I stopnia Przedmiot: Podstawy elektrotechniki i elektroniki Rodzaj przedmiotu: obowiązkowy Kod przedmiotu: IM S 0 4-0_0 Rok: II Semestr:

Bardziej szczegółowo

Charakterystyka mierników do badania oświetlenia Obiektywne badania warunków oświetlenia opierają się na wynikach pomiarów parametrów świetlnych. Podobnie jak każdy pomiar, również te pomiary, obarczone

Bardziej szczegółowo

KARTA MODUŁU / KARTA PRZEDMIOTU

KARTA MODUŁU / KARTA PRZEDMIOTU KARTA MODUŁU / KARTA PRZEDMIOTU Kod modułu Nazwa modułu Nazwa modułu w języku angielskim Obowiązuje od roku akademickiego 2012/2013 Pomiary elektryczne wielkości nieelektrycznych Electrical measurements

Bardziej szczegółowo

Przyrządy i przetworniki pomiarowe

Przyrządy i przetworniki pomiarowe Przyrządy i przetworniki pomiarowe Są to narzędzia pomiarowe: Przyrządy -służące do wykonywania pomiaru i służące do zamiany wielkości mierzonej na sygnał pomiarowy Znajomość zasady działania przyrządów

Bardziej szczegółowo

KONSPEKT LEKCJI FIZYKI DLA KLASY I GIMNAZJUM

KONSPEKT LEKCJI FIZYKI DLA KLASY I GIMNAZJUM Anna Kierzkowska nauczyciel fizyki i chemii w Gimnazjum Nr 2 w Starachowicach KONSPEKT LEKCJI FIZYKI DLA KLASY I GIMNAZJUM Temat lekcji: Pomiary wielkości fizycznych. Międzynarodowy Układ Jednostek Miar

Bardziej szczegółowo

Ćwiczenie 1 Metody pomiarowe i opracowywanie danych doświadczalnych.

Ćwiczenie 1 Metody pomiarowe i opracowywanie danych doświadczalnych. Ćwiczenie 1 Metody pomiarowe i opracowywanie danych doświadczalnych. Ćwiczenie ma następujące części: 1 Pomiar rezystancji i sprawdzanie prawa Ohma, metoda najmniejszych kwadratów. 2 Pomiar średnicy pręta.

Bardziej szczegółowo

POMIARY TEMPERATURY I

POMIARY TEMPERATURY I Cel ćwiczenia Ćwiczenie 5 POMIARY TEMPERATURY I Celem ćwiczenia jest poznanie budowy i zasady działania rezystancyjnych czujników temperatury, układów połączeń czujnika z elektrycznymi układami przetwarzającymi

Bardziej szczegółowo

FIZYKA LABORATORIUM prawo Ohma

FIZYKA LABORATORIUM prawo Ohma FIZYKA LABORATORIUM prawo Ohma dr hab. inż. Michał K. Urbański, Wydział Fizyki Politechniki Warszawskiej, pok 18 Gmach Fizyki, murba@if.pw.edu.pl www.if.pw.edu.pl/ murba strona Wydziału Fizyki www.fizyka.pw.edu.pl

Bardziej szczegółowo

PL B1. Sposób wyznaczania błędów napięciowego i kątowego indukcyjnych przekładników napięciowych dla przebiegów odkształconych

PL B1. Sposób wyznaczania błędów napięciowego i kątowego indukcyjnych przekładników napięciowych dla przebiegów odkształconych PL 216925 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 216925 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 389198 (51) Int.Cl. G01R 35/02 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data zgłoszenia:

Bardziej szczegółowo

Komputerowa Analiza Danych Doświadczalnych

Komputerowa Analiza Danych Doświadczalnych Komputerowa Analiza Danych Doświadczalnych Prowadząca: dr inż. Hanna Zbroszczyk e-mail: gos@if.pw.edu.pl tel: +48 22 234 58 51 konsultacje: poniedziałek, 10-11; środa: 11-12 www: http://www.if.pw.edu.pl/~gos/students/kadd

Bardziej szczegółowo

2.1. Bezpośredni pomiar napięcia źródła woltomierzem i pomiar rezystancji omomierzem.

2.1. Bezpośredni pomiar napięcia źródła woltomierzem i pomiar rezystancji omomierzem. YDZIAŁ PPT LABOATOIM Z LKTOTCHNIKI I LKTONIKI Cel ćwiczenia: Zapoznanie z podstawowymi zasadami pomiarów napięć i prądów stałych, podstawowymi pararami typowych woltomierzy i amperomierzy prądu stałego

Bardziej szczegółowo

Interpretacja wyników wzorcowania zawartych w świadectwach wzorcowania wyposażenia pomiarowego

Interpretacja wyników wzorcowania zawartych w świadectwach wzorcowania wyposażenia pomiarowego mgr inż. ALEKSANDRA PUCHAŁA mgr inż. MICHAŁ CZARNECKI Instytut Technik Innowacyjnych EMAG Interpretacja wyników wzorcowania zawartych w świadectwach wzorcowania wyposażenia pomiarowego W celu uzyskania

Bardziej szczegółowo

Ćwiczenie 3 Temat: Oznaczenia mierników, sposób podłączania i obliczanie błędów Cel ćwiczenia

Ćwiczenie 3 Temat: Oznaczenia mierników, sposób podłączania i obliczanie błędów Cel ćwiczenia Ćwiczenie 3 Temat: Oznaczenia mierników, sposób podłączania i obliczanie błędów Cel ćwiczenia Zaznajomienie się z oznaczeniami umieszczonymi na przyrządach i obliczaniem błędów pomiarowych. Obsługa przyrządów

Bardziej szczegółowo

Niepewność rozszerzona Procedury szacowania niepewności pomiaru. Tadeusz M.Molenda Instytut Fizyki, Uniwersytet Szczeciński

Niepewność rozszerzona Procedury szacowania niepewności pomiaru. Tadeusz M.Molenda Instytut Fizyki, Uniwersytet Szczeciński Niepewność rozszerzona Procedury szacowania niepewności pomiaru Tadeusz M.Molenda Instytut Fizyki, Uniwersytet Szczeciński Międzynarodowa Konwencja Oceny Niepewności Pomiaru (Guide to Expression of Uncertainty

Bardziej szczegółowo

STEROWANIE JAKOŚCIĄ W LABORATORIUM WZORCUJĄCYM INSTYTUTU TECHNIKI BUDOWLANEJ

STEROWANIE JAKOŚCIĄ W LABORATORIUM WZORCUJĄCYM INSTYTUTU TECHNIKI BUDOWLANEJ Bogumiła Zwierchanowska* STEROWANIE JAKOŚCIĄ W LABORATORIUM WZORCUJĄCYM INSTYTUTU TECHNIKI BUDOWLANEJ W artykule opisane zostały działania Laboratorium Wzorcującego ITB, akredytowanego przez Polskie Centrum

Bardziej szczegółowo

KARTA MODUŁU / KARTA PRZEDMIOTU

KARTA MODUŁU / KARTA PRZEDMIOTU KARTA MODUŁU / KARTA PRZEDMIOTU Kod modułu Nazwa modułu Nazwa modułu w języku angielskim Obowiązuje od roku akademickiego 2012/2013 Miernictwo energetyczne Energetic measurements A. USYTUOWANIE MODUŁU

Bardziej szczegółowo

PRZYRZĄDY POMIAROWE. Publikacja współfinansowana ze środków Unii Europejskiej w ramach Europejskiego Funduszu Społecznego

PRZYRZĄDY POMIAROWE. Publikacja współfinansowana ze środków Unii Europejskiej w ramach Europejskiego Funduszu Społecznego PRZYRZĄDY POMIAROWE Publikacja współfinansowana ze środków Unii Europejskiej w ramach Europejskiego Funduszu Społecznego Przyrządy pomiarowe Ogólny podział: mierniki, rejestratory, detektory, charakterografy.

Bardziej szczegółowo