MarSurf. Techniki pomiaru chropowatości, falistości i konturów

Transkrypt

1 MarSurf. Techniki pomiaru chropowatości, falistości i konturów Właściwy chropowatościomierz dla wielu branż 15-2 Chropowatościomierze przenośne MarSurf PS1 MarSurf M 300 MarSurf M 300. Przykłady zastosowań MarSurf M 300C Pomoce aplikacyjne MarSurf M Chropowatościomierze stacjonarne z komputerem PC MarSurf XR 20 MarSurf XC 2 MarSurf XC 20 MarSurf XCR 20 MarSurf UD 120 MarSurf Statyw pomiarowy ST 750D MarSurf XP 20 MarSurf. Przegląd danych MarSurf XR 20 z topografią XT 20 MarSurf WS Mechanizmy posuwowe PCV 200 CD 120 PZK GD 25 GD Wyposażenie. Głowice pomiarowe, wzorce 15-30

2 MarSurf. Właściwy chropowatościomierz także dla Waszej branży ZAWSZE PASUJĄCE ROZWIĄZANIE DLA KAŻDEGO ZADANIA MarSurf ma uniwersalne zastosowanie w wielu podstawowych branżach. Głównymi branżami są: Przemysł motoryzacyjny Przemysł elektroniczny Przemysł maszynowy Technika medyczna Przemysł optyczny

3 15-3 Przemysł motoryzacyjny Przemysł elektroniczny Pomiary pierścieni synchronizatorów Pomiary na powierzchni chipów Przemysł motoryzacyjny stanowi awangardę w zakresie pomiarów chropowatości, falistości i konturów. Typowymi zadaniami są tu np. pomiary na wałach korbowych, wałkach rozrządu, części silnika i skrzyni biegów. Szczególnie pomiary geometrii daszków łącznie z chropowatością na pierścieniach synchronizatorów mają zapewnić z jednej strony lekkie i miękkie przełączanie biegów, a z drugiej długą trwałość elementów Zastosowanie sensorów optycznych, jak tu na przykładzie stanowiska MarSurf WS1 pracujacego na zasadzie interferometrii swiatła białego pozwala wykonywać pomiary w krótkim czasie. Pionowa rozdzielczość 0,1 nm gwarantuje najwyższą precyzję pomiarów. Wydajna platforma software'owa MarWin wraz z produktem MarSurf XT 20 oferuje prostą i szybką analizę topografii powierzchni. i zespołów. WebCode 331 WebCode 333 Przemysł maszynowy Technika medyczna Pomiary na bieżniach łożysk tocznych Bieżnie łożysk tocznych muszą obecnie dysponować bardzo dokładnymi promieniami przy jednocześnie minimalnych odchyłkach kształtu. Pomiar chropowatości zapewnia spokojną pracę i trwałość przy możliwie minimalnych szumach. MarSurf spełnia te wymagania dzięki prostej obsłudze oprogramowania i świetnie pracującym mechanizmom posuwowym. WebCode 9773 Pomiary na endoprotezach stawów biodrowych Pomiary na główkach endoprotez stawu biodrowego wymagają najwyższej dokładności. Zarówno kontur główki lub panewki, jak i ich chropowatość mają wpływ na trwałość i pracę stawu biodrowego. WebCode 334

4 MarSurf. Poręczne i precyzyjne pomiary chropowatości "na miejscu" CHROPOWATOŚCIOMIERZE PRZENOŚNE Sukces zawdzięczają chropowatościomierze przenośne firmie Mahr. Już na początku lat osiemdziesiątych Mahr ustawił poprzeczkę przyrządem M4P. Stały rozwój produktów dotrzymuje kroku wymaganiom kontroli produkcyjnej - obecne przyrządy spełniają wysokie wymagania norm międzynarodowych. Chropowatościomierze przenośne firmy Mahr przekonują elastycznością eksploatacji, dokładnymi pomiarami w różnych pozycjach, łatwością pozycjonowania dzięki podporom pryzmowym, poręcznym kształtom i niewielkiej masie. Żądajcie prospektu lub patrz WebCode 2409 na stronie internetowej

5 15-5 MarSurf PS1. Nieograniczona "mobilność" w pomiarach chropowatości Wstęp do pomiarów chropowatości Nieograniczona "mobilność", przyrząd MarSurf PS1 w pełni odpowiada temu sloganowi w wielu aspektach: Eksploatacja niezależna od zasilania sieciowego Ponad 500 pomiarów bez konieczności doładowania Wszystko z jednej ręki, nie większy niż kamera cyfrowa. Małe gabaryty i niewielka masa (400 g) Elastyczność Mierzy się uniwersalnym, sprytnym przyrządem, który już w standardowym zestawie spełnia wymagania klientów. We wszystkich pozycjach pracy Poziomo, pionowo, pozycja "sufitowa" oraz w każdej pozycji wymaganej przez obiekt mierzony. 25 parametrów Zakres możliwości jak w urządzeniach laboratoryjnych. Bezbłędna praca dzięki zintegrowanemu wzorcowi. Automatyczny dobór Cutoff (patent) zapenia prawidłowe wyniki także personelowi bez przygotowania metrologicznego. Prosta obsługa Skrócona instrukcja obsługi w formacie kieszonkowym zapewnia proste użytkowanie przyrządu PS1. Operator jest szybko informowany o najważniejszym i może dobrze wykonywać zadania pomiarowe. MarSurf PS1. Zestaw Przyrząd MarSurf PS1 jest dostarczany w kompletnym zestawie. Torba zapewnia pracę przenośną na hali produkcyjnej. Szybkie i niezawodne pomiary "na miejscu" umożliwiają bieżący monitoring jakości w procesie produkcyjnym i kontroli dostaw. Zawartość zestawu (Set): Przyrząd podstawowy MarSurf PS1 Mechanizm posuwowy 1 głowica standardowa, zgodna z normą Wbudowany akumulator Wzorzec chropowatości, zintegrowany w obudowie Nóżki do ustawiania na wysokość pomiaru Osłona głowicy pomiarowej Wtykowy zasilacz sieciowy Instrukcja obsługi Torba z paskiem na ramię i szlufkami na pasek Kabel USB Świadectwo wzorcowania Mahr Nr zamów WebCode 10778

6 MarSurf PS1. Dane techniczne Jednostki Zasada pomiaru Głowica pomiarowa Parametry chropowatości (25, z granicami tolerancji) Języki oprogramowania Zakresy pomiarowe Rozdzielczość profilu metryczne/calowe profilometryczna indukcyjna, ślizgaczowa, promień wierzchołka ostrza 2 µm, nacisk pomiarowy ca 0,7 mn Ra, Rq, Rz (Ry (JIS) odpowiada Rz), Rz (JIS), Rmax, Rp, Rp (ASME), Rpm (ASME), Rpk, Rk, Rvk, Mr1, Mr2, A1, A2, Vo, Rt, R3z, RPc, Rmr (tp (JIS, ASME) odpowiada Rmr), RSm, R, Ar, Rx 14, w tym 3 azjatyckie 350 µm, 180 µm, 90 µm (przełączanie automatyczne) 32 nm, 16 nm, 8 nm (przełączanie automatyczne) Filtr* filtr profilu zgodny fazowo (Gauß) wg DIN EN ISO 11562, filtry specjalne wg DIN EN ISO , filtr ls wg DIN EN ISO 3274 (wymienny) Cutoff lc* Odcinek odwzorowania Lt* Odcinek odwzor. (wg MOTIF) Skrócony Cutoff* Odcinek pomiarowy ln* 0,25 mm, 0,8 mm, 2,5 mm; automatyka 1,75 mm, 5,6 mm, 17,5 mm; automatyka 1 mm, 2 mm, 4 mm, 8 mm, 12 mm, 16 mm nastawiany 1,25 mm, 4,0 mm, 12,5 mm Liczba odcinków element.* nastawiana: 1 do 5 Funkcja kalibracji Pojemność pamięci Inne Wymiary Masa Akumulatorek Złącza Zasilacz sieciowy *wg ISO/JIS dynamiczna max 15 profili, max wyników blokada/hasło, data/czas zegarowy 140 mm x 50 mm x 70 mm 400 g litowo-jonowy USB, MarConnect (RS232) 100 V do 264, wtórne 9 V (adaptery dla wszystkich krajów świata) MarSurf PS1 / M 300. Wyposażenie Przedłużacz do głowic 80 mm Nr zam np. do miejsc położonych głęboko w otworach. Głowica PHT Nr zam do pomiarów w otworach od Ø 3 mm. Głowica PHT Nr zam do pomiarów w zagłębieniach, np. rowkach o szerokości od 2,5 mm, głębokość do 7,5 mm. Głowica PHTR 100 Nr zam do pomiarów na powierzchniach wypukłych i wklęsłych. Głowica PHTF Nr zam do pomiarów na bokach zębów. Głowica PT 150 Nr zam dwuślizgaczowa, do pomiarów na blachach, i powierzchniach walców wg DIN EN (SEP).

7 15-7 MarSurf M 300. Następny krok do przodu! Wysoka wydajność przy dużej mobilności MarSurf 300, pierwszy chropowatościomierz przenośny z możliwością wyboru bezprzewodowego połączenia (Bluetooth) z mechanizmem posuwowym. Więcej komfortu i możliwości za umiarkowaną cenę, inwestycja, która się opłaca! Bezprzewodowe połączenie Bluetooth Prosta obsługa dzięki barwnemu ekranowi o wysokiej rozdzielczości i popularnemu systemowi wspomagania na zasadzie "bankomatu" Wzorzec chropowatości zintegrowany w mechanizmie posuwu Duży zakres pomiarowy: 350 μm Automatyczna funkcja rozpoznawania rodzaju profilu i zgodnego z normą nastawiania filtra i odcinka odwzorowania Zintegrowana pamięć na ca pomiarów i 30 profili 15 języków oprogramowania (w tym 3 azjatyckie) Większe możliwości MarSurf M 300 Zintegrowana termodrukarka o wysokiej jakości wydruku Wydruki profili R na termodrukarce Wydruk protokołu za naciśnięciem klawisza lub automatycznie Przesył wyników via złącze USB do PC Ocenianie najbardziej rozpowszechnionych parametrów, charakterystyk i list parametrów (np. udziału nośnego) Zintegrowana pamięć wyników i profili Nadzorowanie tolerancji Wydruk profilu R (ISO/ASME/JIS), profilu P (MOTIF), krzywej udziału nośnego, protokołu wyników Nastawianie niesymetrycznych poziomów cięcia do zliczania wierzchołków Wybierane jednostki (μm/μinch) i normy (ISO/JIS/ASME/ MOTIF) Wybierane odcinki elementarne i skrócony Cutoff Blokada nastaw chropowatościomierza Wbudowany akumulatorek z power management Zasilacz sieciowy z wymiennymi adapterami dla całego świata Data i czas zegarowy w protokole dalsze zalety Możliwość rozbudowy do stacjonarnego stanowiska pomiarowego Wymienne głowice typoszeregu PHT Oprogramowanie MarSurf PS1/M 300 Explorer do protokołowania wyników w PC WebCode 13279

8 MarSurf M 300. Przykłady zastosowań Pomiar chropowatości na Flap Tracks (Firma Airbus) Pomiar chropowatości na płatach nośnych (Firma Airbus) Pomiar chropowatości na łopacie śruby okrętowej (Firma Mecklenburger Metallguss) Zakres dostawy MarSurf M 300 Set Nr zamów Zespół oceniający MarSurf M 300 Mechanizm posuwowy MarSurf RD 18 Standardowa głowica pomiarowa PHT Wzorzec (zintegrowany w MarSurf RD 18) Świadectwo wzorcowania Mahr 1 rolka termopapieru Osłona głowicy pomiarowej Pryzma czołowa Nóżki do ustawiania na wysokość pomiaru Wtykowy zasilacz sieciowy z 3 adapterami 2 kable USB (przyłączenie do PC przy pracy z kablem) Wkrętak sześciokątny Instrukcja obsługi Dostawa w poręcznej torbie transportowej. Wyposażenie patrz strona 15-6: Wyposażenie dla PS1

9 15-9 MarSurf M 300 C Mechanizm posuwowy RD 18 C Walcowy mechanizm posuwowy z ręczną nasadką pryzmową i głowicą typoszeregu PHT Kontynuując sprawdzoną koncepcję chropowatościomierzy przenośnych również M 300 C Set jest wyposażony w cylindryczny mechanizm posuwowy RD 18C. W tej konfiguracji przyrządu uzyskuje się dostęp do wszystkich miejsc pomiaru na obiekcie mierzonym. Możliwości MarSurf M 300 C Automatyka zgodnych z normą nastaw chropowatościomierza Zintegrowana termodrukarka o wysokiej jakości wydruku Wydruk profilu R na termodrukarce Wydruk protokołu za naciśnięciem klawisza lub automatycznie Przesył wyników via złącze USB do PC Ocenianie najbardziej rozpowszechnionych parametrów, charakterystyk i list parametrów (np. udziału nośnego) Zintegrowana pamięć wyników i profili Nadzorowanie tolerancji Wydruk profilu R (ISO/ASME/JIS), profilu P (MOTIF), krzywej udziału nośnego, protokołu wyników Nastawianie niesymetrycznych poziomów cięcia do zliczania wierzchołków Wybierane jednostki (μm/μinch) i normy (ISO/JIS/ASME/MOTIF) 15 języków oprogramowania Nastawiane jednostki (µm/µinch) i normy (ISO/JIS/ASME/MOTIF) Wybierane odcinki elementarne i skrócony Cutoff Blokada nastaw chropowatościomierza Wbudowany akumulatorek z power management Zasilacz sieciowy z wymiennymi adapterami dla całego świata Data i czas zegarowy w protokole Zespół mechanizmu posuwowego z głowicą pomiarową Przykład: Pomiar sufitowy Przykład: Pomiar na czole dalsze zalety: Mozliwość rozbudowy do stanowiska stacjonarnego Stosowanie głowic wymiennych typoszeregu PHT Oprogramowanie "MarSurf PS1/M 300 Explorer" do protokołowania wyników w PC MarSurf M 300 C na statywie ST-D WebCode Przykład: Pomiar na ustawionej wysokości

10 MarSurf M 300 C Zakres dostawy Zespół oceniający MarSurf M 300 C Cylindryczny machanizm posuwowy MarSurf RD 18 C Pryzma ręczna z nóżkami przestawianymi na wysokość Standardowa głowica pomiarowa PHT Wzorzec chropowatosci PRN 10 ze świad. wzorcowania Mahr 1 rolka termopapieru Osłona głowicy pomiarowej Uchwyt mechanizmu posuwowego z czopem ø 8 mm Zasilacz sieciowy z 3 adapterami dla całego świata 1 kabel USB (przyłączenie do PC) Wkrętak sześciokątny Instrukcja obsługi Dostawa w poręcznej torbie transportowej. MarSurf M 300 C-Set: Nr zamów Efektywne pomoce aplikacyjne dla produkcji W surowym środowisku produkcyjnym potrzebne są pomiary chropowatości szybkie i proste. Wymagania stawiane przyrządom pomiarowym są tu szczególnie wysokie. Pomoce aplikacyjne firmy Mahr rozwiązują te problemy. Współpracują one z zespołami oceniającymi serii M-300. Stanowisko do kalibracji i odkładania jest zawarte w zakresie dostawy. Opcjonalnie dostępne są wzorce kalibracyjne, na życzenie ze świadectwem wzorcowania. Specjalna konstrukcja umożliwia dokładne i proste pozycjono wanie przyrządu pomiarowego Proste użytkowanie bez specjalnej wiedzy metrologicznej Mechanizm posuwowy jest chroniony przed zakłócającymi oddziaływaniami otoczenia Osłona głowicy pomiarowej, tzn. głowica jest wysuwana tylko podczas pomiaru Material na pomoce zapewnia, że po pomiarze nie pozostają na powierzchni obiektu mierzonego żadne ślady pomiaru MarSurf BF-1 MarSurf TF-1 MarSurf CB-2 MarSurf DR-1 WebCode 10483

11 15-11 MarSurf M 400. Najlepszy wśród "przenośnych" Prosty. szybki. innowacyjny. Z głowicą swobodną i automatycznym zerowaniem. Zapotrzebowanie na wysokiej jakości chropowatościomierze przenośne stale rośnie. W wielu przypadkach pomiary głowicami ślizgaczowymi już nie wystarczają i koniecznością stają się pomiary głowicami swobodnymi. Szczególnie wówczas, gdy wyznaczane są parametry z niefiltrowanego profilu P lub parametry falistości, pomiar musi być wykonany głowicą bez ślizgacza. MarSurf M 400 spełnia takie wymagania oferując dodatkowo zaletę prostoty obsługi nawet przy kompleksowych zadaniach. Zautomatyzowane zerowanie daje użytkownikowi ten komfort, że nie musi on wykonywać żmudnego pozycjonowania ręcznego. Po naciśnięciu przycisku Start wszystko przebiega automatycznie. Pomiary w produckji Profil P Profil W Profil R

12 MarSurf M 400. Najlepszy wśród "przenośnych" Mechanizm posuwowy SD 26 i głowica BFW Cechy Pomiary swobodne precyzyjną głowicą (1) Szybka zmiana ramion pomiarowych dzięki magnetycznemu mocowaniu (2, 3, 4) Ochrona przed uszkodzeniem Ustawianie w kilka sekund dzięki motorycznemu przestawianiu w pionie mechanizmu posuwowego z automatycznym zerowaniem Elastyczność użytkowania dzięki bezprzewodowemu połączeniu Bluetooth Przejrzystość i prostota dzięki barwnemu wyświetlaczowi do wizualizacji wyników i prowadzenia operatora Praca przenośna dzięki zasilaniu sieciowemu i akumulatorowi Międzynarodowy dzięki najczęściej używanym parametrom wg ISO, JIS, ASME, zintegrowane liczne języki oprogramowania Dokumentowanie jakości dzięki zintegrowanej termodrukarce profili i wyników Zormalizowana gęstość punktów pomiarowych pomimo zwiększonej prędkości pomiaru 2 3 Pomiar sufitowy w pryzmie Automatyczne zerowanie głowicy pomiarowej BFW Możliwość rozbudowy od przyrządu przenośnego do małego stanowiska stacjonarnego odbywa się szybko i prosto przez dołączenie kilku pozycji z programu wyposażenia MarSurf. Szybkie ustawianie mechanizmu posuwowego względem obiektu mierzonego dzięki asystentowi regulacji nachylenia. MarSurf M 400 umożliwia wyznaczanie parametrów z profili P, W i R. Stanowisko MarSurf ze statywem ST-G i stolikiem CT 120

13 15-13 MarSurf M 400. Najlepszy wśród "przenośnych" MarSurf M 400 Set. Zakres dostawy Zespół oceniający MarSurf M 400 Mechanizm posuwowy MarSurf SD 26 z głowicą BFW 250 Standardowe ramię pomiarowe ( ) 1 rolka termopapieru do drukarki Zasilacz sieciowy z 3 adapterami 2 kable USB (przyłączenie do PC i pracy mechanizmu posuwowego z kablem) Instrukcja obsługi Dostawa w poręcznej torbie transportowej. MarSurf M 400-Set: Nr zamów Dane techniczne MarSurf M 400 Set Rejestrowane profile Głowice Filtry (wg DIN/JIS) Normy Parametry Cutoff lc (wg ISO/JIS): Odc. odwzorowania Lt (wg ISO/JIS) Odc. odwzor. (MOTIF) Odcinki pomiarowe lm (wg ISO/JIS) Liczba odc. elementarnych (wg ISO/JIS): wybierana: 1 do 5 Skrócony Cutoff (ISO/JIS) wybierany Prędkość pomiaru Rozdzielczość profilu Języki oprogramowania Zapamiętywanie Inne Wymiary (L x B x H) Masa Profile: pierwotny, falistości i chropowatości Indukcyjna, swobodna z wymiennymi ramionami, promień ostrza 2 µm, nacisk pomiarowy ca 0,7 mn (standard) Gauß, Ls DIN/ISO/JIS/ASME/MOTIF DIN/ISO: Ra, Rq, Rz, Rmax, Rp, Rv, Rpk, Rk, Rvk, Mr1, Mr2, A1, A2, Vo, Rt, R3z, RPc, Rmr (3x), HSC, RSm, Rsk, Rdc, Rdq, Rku Pa, Pt, Pmr (3x), Pdc, Wa, Wq, Wt, WSm, Wsk, JIS: Ra, Rz, RzJIS94, Sm, S, ASME: RpA, Rpm MOTIF: R, AR, W, AW, Rx, Wx, Wte, CR, CL, CF, NR, NCRX, NW, CPM 0,08 mm, 0,25 mm, 0,8 mm, 2,5 mm, automatyka 0,56 mm, 1,75 mm, 5,6 mm, 17,5 mm, automatycznie, dowolnie wpisywany 1 mm, 4 mm, 8 mm, 12 mm, 16 mm 1,25 mm, 4,0 mm, 12,5 mm 0,2 mm/s; 0,5 mm/s; 1 mm/s zakres pomiarowy: ±250 µm = 8 nm, ±25 µm = 0,8 nm, (standard długość ramienia) ±500 µm = 16 nm (podwójna długość ramienia) 15, z tego 3 azjatyckie max 30 profili, max wyników blokada/hasło, data/czas, zntegrowana drukarka, funkcja kalibracji dynamicznej 190 mm x 140 mm x 75 mm ca 1,0 kg Mechanizm posuwowy SD 26 Droga pomiarowa 26 mm Prędkość pomiarowa 0,2 mm/s; 0,5 mm/s; 1 mm/s Prędkość pozycjonowania w osi X 5 mm/s Przestawianie w osi Z 7,5 mm, motoryczne Prędkość pozycjonowania w osi Z 2 mm/s Zerowanie głowicy automatycznie na zero lub na wartość zadaną w obrębie zakresu pom. głowicy Regulacja nachylenia ±1,5 (funkcja niwelacji ze wspomaganiem z zespołu oceniającego) Temperat. (składowanie) -15 C do +55 C Temperatura (praca) +5 C do +40 C Wilgotność względna 30% do 85%, bez kondensacji Masa ca 0,9 kg Złącza USB Slave, MarConnect (RS232) Zasilacz sieciowy V, wtórne 9 V Wymiary (L x B x H) 163 mm x 72 mm x 74 mm WebCode 13834

14 MarSurf. Stanowiska pomiarowe stacjonarne z PC WIELOSTRONNE I WYDAJNE - W IZBIE POMIARÓW I LABORATORIUM W pomiarach chropowatości rozróżnia się przyrządy przenośne, stacjonarne stanowiska warsztatowe i komputerowe stanowiska stacjonarne. Właśnie te ostatnie stanowią szczytową technologię w technice pomiarów i oceniania chropowatości. Spełniają wszelkie wymagania nowoczesnych systemów pomiarowych i oceniających opartych na PC. Normy międzynarodowe, wielostronne metody oceniania, obszerna dokumentacja, duża pojemność pamięci, ekport i import danych oraz mozliwość zsieciowania z innymi systemami są obecnie istotnymi wymogami stawianymi systemom opartym na PC. Kompelksowe procedury zapewnienia jakości gwarantują najwyższą jakość i stabilność sprzętu i oprogramowania. Żądajcie prospektu lub patrz WebCode 2564

15 15-15 MarSurf XR 20 Proste pomiary chropowatości i falistości MarSurf XR 20 jest perfekcyjnym wstępem do top-klasy techniki pomiarów chropowatości. Stanowisko oparte na PC oferuje zarówno izbie pomiarów jak i produkcji wszystkie najbardziej rozpowszechnione parametry i profile wg norm międzynarodowych. Wydajne stanowisko MarSurf XR 20 łączy w sobie dziesięciolecia doświadczeń w dziedzinie technik pomiarów chropowatości z przyszłościowymi technologiami, przejrzystą symboliką i komfortowym wspomaganiem obsługującego. Cechy Możliwość aranżowania różnych poziomów użytkownika Elastyczność systemu dzięki różnycm opcjom i definiowania parametrów specyficznych dla użytkownika Różne poziomy użytkownika chronią przed błędami obsługi stanowiska i uniemożliwiają dostęp do stanowiska osobom niepowołanym Wyposażenie Do wyboru ponad 100 parametrów z profili R, P i W wg ISO / JIS, ASME lub MOTIF (ISO 12085) Nadzorowanie tolerancji i statystyka wszystkich parametrów Szybkie opracowywanie programów pomiarowych Quick&Easy metodą teach-in Obszerne protokołowanie Funkcja automatycznego doboru zgodnych z normą filtrów i odcinków ozdwzorowania (patent) Wspomaganie różnych metod kalibracji (statyczne / dynamiczne) z zadawaniem parametru Ra lub Rz Nastawiane interwały konserwacji i kalibracji Tryb symulacyjny do szybkiego uczenia się zasady działania Liczne możliwości konfigurowania stanowiska do indywidualnych przypadków zastosowania Możliwości przyłączania mechanizmów posuwowych Mahr- PZK, GD 25, GD 120 Dostępna opcja dominujacej falistości Możliwość użytkowania oprogramowania jako oprogramowania oceniającego dla przyrządów M i S Transfer danych do QS-STAT (opcja dostawy) WebCode 2997

16 MarSurf XC 2 Wstęp do dokładnych pomiarów konturów Cechy Wyznaczanie prostych i okręgów regresyjnych Wyznaczanie punktów, punktów przecięcia, punktów dowolnych, środków okręgów i promieni, punktów Max i Min Wyznaczanie promieni, odległości, kątów, współrzędnych, odchyłek kształtu linii Porównywanie nominalne/rzeczywiste Nadzorowanie tolerancji Elementy skojarzone, tzn. natychmiastowa zmiana wielkości zależnych od elementów referencyjnych przy ich zmianie Uprawnienia użytkownika chronione hasłem wykluczają niepowołane ingerencje Świetna metoda kalibracji dzięki wieloletnim doświadczeniom, tzn. uwzględniona kalibracja geometrii, siły nacisku pomiarowego, kompensacja ugięcia ramion pomiarowych i wiele innych Stabilność i sztywność ramion pomiarowych Mechanizm posuwowy odznacza się spokojną, miękką pracą, stabilnością i dokładnością Pomiary i analiza geometrii istotnych dla funkcji części produkcyjnych i narzędzi to obecnie elementarne wymogi badań, techniki i przemysłu. Coraz częściej szybkie, proste i korzystne cenowo konturografy 2D uzyskują przewagę nad innymi metodami. Sprawdzony i przyjazny dla użytkownika MarSurf XC 2 jest tego najlepszym przykładem. Z jednej strony spełnia wszystkie wymagania dokładnościowe i możliwości różnych zastosowań, a z drugiej daje zawsze pewne i niezawodne wyniki. Mechanizm posuwowy CD 120 Mechanizm posuwowy CD 120 dysponuje opatentowanym rozwiązaniem mocowania ramion pomiarowych zapewniającym szybką i elastyczną zmianę ramion bez użycia narzędzi. Przy tym dane kalibracyjne każdego ramienia są zapamiętywane oddzielnie. Możliwe jest także kalibrowanie kilku identycznych ramion pomiarowych. Cechy Max zakres pomiarowy w osi X 120 mm (odcinek pomiarowy) i 50 mm w osi Z Automatyczne opuszczanie ramienia do miękkiego styku ostrza z powierzchnią części i podnoszenie po pomiarze z indywidualnie nastawianą prędkością Nacisk pomiarowy nastawiany od 1 mn do 120 mn Duże prędkości pozycjonowania Ochrona antykolizyjna dzięki opatentowanemu mocowaniu ramion pomiarowych Opcjonalnie MarSurf XC 2 może być dostarczony z mechanizmem posuwowym PCV 200. WebCode 2698

17 15-17 MarSurf XC 20 Nowa generacja w pomiarach konturów MarSurf XC 20 to absolutnie szczytowe osiągnięcie w dziedzinie oceniania konturów. To, co przed ok. 30 laty rozpoczęło się wraz ze stanowiskiem pomiarowym Conturograph złożonym z mechanizmu posuwowego i rejestratora x-y rozwinęło się do oferowanego obecnie systemu pomiaru konturów o najwyższej jakości i nowoczesnej technologii. Optymalnie dobrana konfiguracja stanowiska oferuje najwyższe standardy możliwości. Niezawodne oprogramowanie pomiarowo-oceniające steruje i pozycjonuje zarówno mechanizm posuwowy, jak i statyw pomiarowy. Cechy Oprócz funkcji stanowiska MarSurf XC 2 klient otrzymuje wraz z MarSurf XC 20 następujące funkcje dodatkowe: Włączanie wyświetlania wskazówek dot. przebiegu pomiaru Interakcyjne elementy obsługi wspomagają ocenianie (analizę) konturu i cykle automatyczne Pomiar konturu górnego i dolnego (np. w otworze) za pomocą tzw. ramienia dwuostrzowego, dodatkowo te kontury mogą być oceniane względem siebie. Definiowanie wycinków profilu z ocenianiem różnych parametrów w każdym wycinku Pomiary segmentowane z omijaniem przeszkód, jak otwory lub ostro nachylone boki Import plików dxf do porównywania nominalne/rzeczywiste Mechanizm posuwowy PCV 200 z opatentowanym mocowaniem ramion pomiarowych zapewnia odtwarzalne zmienianie ramion pomiarowych bez użycia narzędzi Elastyczność stanowiska pomiarowego dzięki opatentowanym ramionom pomiarowym Ręcznie nastawiane siły nacisku pomiarowego również przyczyniają się do elastyczności pracy Syntetyczne tworzenie profili nominalnych z prostych i łuków okręgów Bezproblemowe porównywanie profili nominalnych i rzeczywistych. Nawet różne tolerancje fragmentów profilu mogą być selekcjonowane do oceniania. Wersje Dzięki kombinacji oprogramowania MarSurf XC 20 z precyzyjnymi systemami mechanizmu posuwowego LD 120, ramion pomiarowych i statywu pomiarowego ST 500 lub ST 750 możliwe jest osiąganie rozdzielczości w zakresie nanometrów kontur i chropowatość mogą być wyznaczane w jednym przejściu pomiarowym. Dodatkowe funkcje, jak eksport danych do QS-STAT lub analiza dominującej falistości są dostarczane jako opcje. WebCode 2736

18 MarSurf XCR 20 Nowa generacja kombinowanych pomiarów chropowatości i konturu Stanowisko MarSurf XCR 20 oferuje idealne możliwości kombinacji analizy konturu i chropowatości. Marsurf XC 20 + MarSurf XR 20 = MarSurf XCR 20 Dzięki temu w jednym systemie ma się wszystko pod jednym dachem. W ten sposób oszczędza się nie tylko miejsce, lecz także czas. Oprogramowania do chropowatosci i konturów mają każde własną powłokę obsługową. MarSurf XCR 20 to szczytowy produkt firmy Mahr w technice pomiarów chropowatości i konturu, który umożliwia realizowanie półautomatycznych cykli pomiarowych. Wersje Stanowisko kombi z jednym statywem i dwoma mechanizmami posuwowymi (PCV 200 oraz MarSurf GD 25) Stanowisko kombi z szybko wymienianymi mechanizmami posuwowymi (GD 120, PCV 200) MarSurf UD 120 umożliwia precyzyjne analizowanie konturów i chropowatości na dokładnych częściach produkcyjnych. WebCode 3152 Cechy Oszczędność miejsca dzięki możliwości adaptacji obydwu mechanizmów posuwowych (do konturów MarSurf PCV 200 i chropowatości GD 25) za pośrednictwem uchwytu kombi na statywie pomiarowym ST 500 lub ST 750 Możliwość analizowania konturów i chropowatości z jednego przejścia pomiarowego Precyzyjne analizowanie konturów i chropowatości dzięki systemowi pomiarowemu MarSurf UD 120 na dokładnych częściach produkcyjnych w razie potrzeby na dużym zakresie pomiarowym w pionie i z bardzo dużą rozdzielczością Możliwość szybkiego przechodzenia z pomiaru chropowatości na kontur i odwrotnie realizowanego przez proste przełączanie platformy oprogramowania oraz zmianę zespołów mechanicznych, jak mechanizmy posuwowe i ramiona pomiarowe

19 15-19 MarSurf UD 120 Dwa w jednym. Kontur i chropowatość w jednym przejściu MarSurf UD 120 jest wysokiej dokładności stanowiskiem do konturów oraz chropowatości najwyższej klasy ze zintegrowanym optycznym układem pomiarowym. Tutaj oceniania i analizy chropowatości i konturu dokonuje się z jednego przejścia pomiarowego tym samym ramieniem pomiarowym. Do rozwiązania obydwu tych zadań pomiarowych za pomocą jednego tylko pomiaru potrzebny jest precyzyjny układ pomiarowy, który realizuje zarówno stosunkowo duży zakres pomiaru w pionie dla konturu (promienie, skosy, powierzchnie krzywokreślne), jak też rozdzielczość rzędu nanometrów dla pomiaru chropowatości. Cechy Magnetyczne mocowanie ramion pomiarowych gwarantuje elastyczność w doborze różnorodnych ramion i zamienność przy jednocześnie dużej niezawodności Gwarantowana przy zmianie ramion dokładność pozycjonowania rzędu µm oraz ochrona antykolizyjna, sztywność i stabilność ramion pomiarowych przy nanometrowej rozdzielczości Niezawodne wyniki dzięki metodzie kalibracji specjalnie opracowanej dla najwyższych dokładności Elastyczność i niezawodność dzięki nastawianemu z oprogramowania naciskowi pomiarowemu, który pozostaje stały w całym zakresie pomiarowym. Zależnie od właściwości materiału obiektu mierzonego i doboru ramienia pomiarowego można wybrać optymalny nacisk pomiarowy. Podwyższona dokładność dzięki morfologicznemu filtrowaniu w serii MarSurf X Zmiana ramion bez ponownej kalibracji. Zapamiętane dane kalibracji każdego ramienia oraz magnetyczne mocowanie ramion gwarantują wysoką odtwarzalność Wersje MarSurf UD 120 ze statywem pomiarowym Wstęp do precyzyjnych pomiarów chropowatości i konturów za pomocą zintegrowanego optycznego układu pomiarowego. MarSurf LD 130 / LD 260 Informacje na temat MarSurf LD 130 / LD 260 znajduje się w broszurze MarSurf LD 130 / LD 260 WebCode 3162

20 Mar S ur f. C h ro p o w a t o ś c i o mi e rz e p r z e n o ś n e i s t a cj o n a r n e MarSurf Statyw pomiarowy ST 750 D. Pomiary konturów w nowym wymiarze Zastosowanie ramienia pomiarowego z podwójnym ostrzem i mechanizmu posuwowego UD 120 lub PCV pozwala mierzyć poszczególne fragmenty konturu w ramach jednego programu pomiarowego. Po zmierzeniu geometrii górnej strony pierścienia sanie statywu pomiarowego z mechanizmem posuwowym przemieszczają się o wartość średnicy obiektu mierzonego w dół. Teraz mierzona jest geometria dolnej strony pierścienia. Dokładne przeliczanie drogi przemieszczenia sań po statywie pomiarowym umożliwia matematyczne powiązanie wielkości odniesienia konturów górnego i dolnego. Pozwala to na wyznaczanie średnic, odległości i konturów w zakresie do 620 mm. S c ideowy: UD 120 na statywie ST 750 D Technika pomiarów konturów firmy Mahr od dziesiątków lat jest z powodzeniem użytkowana przez setki klientów. Dzięki licznym spektakularnym rozwiązaniom specyficznym dla klientów, które obecnie są też opatentowane, technika pomiaru konturów rozwinęła się znacząco w ostatnich latach. Mahr był pierwszym producentem, który zaoferował w konturografach pomiary ramieniem dwuostrzowym połączonym z przełączaniem kierunku nacisku pomiarowego. Pozwala to wykonywać pomiary konturu nie tylko w jednym kierunku nacisku (w dół), lecz także pomiary tzw. sufitowe i w ten sposób rejestrować i analizować profile na przeciwległych tworzących, np. przy pomiarze średnicy otworu. Teraz bazując na wymienionych możliwościach przedstawiamy istotne ich rozszerzenie. W połączeniu ze statywem pomiarowym MarSurf ST 750 D w stanowiskach pomiarowych UD 120 oraz XC 20 CNC można wykorzystywać całą drogę pomiarową 620 mm w osi pionowej. Te zdecydowanie rozszerzone mozliwości pomiaru i analizy wynikają z nastepującej zasady podstawowej cyklu pomiarowego: 1. Pomiar dolnego profilu konturu "nacisk pomiarowy w dół" 2. Przesuw sanek pomiarowych po statywie w górną pozycję 3. Pomiar górnego profilu konturu "nacisk pomiarowy w górę" 4. Ocenianie (odległość, średnica) obydwu profili względem siebie Dane techniczne Droga pozycjonowania: 620 mm (najniższa pozycja ca 110 mm nad powierzchnią płyty granitowej) Przemieszczenie pomiar.: 620 mm Temperatura pracy: 21 C ±1 K 1) Dokładność z UD 120 MPE ±(1,4 + L/100) µm L = długość mierzona w mm 2) z PCV MPE ±(2,5 + L/100) µm L = długość mierzona w mm 3) Masa obiektu mierzonego: do 90 kg ze stolikiem XY CT 200 1) w innych temperaturach pracy należy się liczyć z innymi wartościami dokładności 2) z ramieniem pom. Ident.-Nr ) z ramieniem pom. Ident-.Nr

21 15-21 MarSurf Statyw pomiarowy ST 750 D. Pomiary konturów w nowym wymiarze Zakres dostawy MarSurf XC 20 z ST 750 D MarSurf XC 20 CNC zawiera: układ sterowania MidRange CNC, oprogramowanie MarSurf XC 20 MarWin PC z MarWin i WIN 7 Ultimate 64 bit Monitor TFT 19 Ręczny pulpit sterowniczy MCP 21 advanced Mechanizm posuwowy PCV 200 Zestaw kalibracyjny Kontur (Standard) Stolik krzyżowy XY CT 200* Statyw pomiarowy MarSurf ST 750 D z płytą granitową 700 mm x 550 mm Moduł oś standard ST 750 D Drukarka Kabel USB Uchwyt dla PCV 200/CD 120 Zabezpieczenie PCV Ramię pomiarowe 350 M Ostrze pomiarowe PCV ± 9 mm Ramię pomiarowe CP 175M/10/3,5 * Zakres dostawy MarSurf UD 120 z ST 750 D MarSurf XCR 20 UD 120 zawiera: układ sterowania MidRange LD, oprogramowanie MarSurf XCR 20 MarWin PC z MarWin i WIN 7 Ultimate 64 bit TFT-Monitor 19 Ręczny pulpit sterowniczy MCP 21 advanced Mechanizm posuwowy MarSurf UD 120 z ramienia pomiarowymi LD A Wzorzec kalibracyjny dla MarSurf LD 120 klasa dokładności 1 Stolik krzyżowy XY CT 200 Statyw pomiarowy ST 750 D z płytą granitową 700 mm x 550 mm Moduł oś standard ST 750 D Drukarka Kabel USB Zestaw tłumiący Uchwyt dla UD 120 / LD 120 Zabezpieczenie UD 120 /LD 120 Ramię pomiarowe LDT /90* 1) *nie przedstawiony na ilustracji 1) na życzenie dalsze ramiona i ostrza pomiarowe WebCode 13832

22 MarSurf XP 20 Jedno stanowisko pomiarowe na wszystkie zastosowania Stanowisko pomiarowe może być w zależności od potrzeb zadania pomiarowego modułowo skonfigurowane z automatycznych osi liniowych i obrotowych Elastyczność dzięki systemowi budowy modułowej Jeden język oprogramowania dla wszystkich systemów Wersje Stanowiska ręczne: Stanowisko do pomiaru chropowatości i falistości Stanowisko do pomiaru konturów Kombinowane stanowisko do pomiaru chropowatości, falistości i konturów MarSurf LD 120 z automatycznym zmieniaczem ramion pomiarowych TWE Platforma oprogramowania firmy Mahr MarWin wykorzystuje modułowy system sterowania i analizy odznaczajacy się istotnymi zaletami. Obejmująca wszystkie produkty platforma oprogramowania oferuje użytkownikowi jednolitą bazę, a tym samym niezbędną dla automatycznych procesów niezawodność obsługi i funkcji. Stanowiska automatyczne: Stanowisko do pomiaru chropowatości i falistości Stanowisko do pomiaru konturów Kombinowane stanowisko do pomiaru chropowatości, falistości i konturów Stanowisko MarSurf LD 120 z automatycznym zmieniaczem ramion pomiarowych TWE Stanowisko Asfera patrz ilustracja poniżej Stanowisko MarSurf LD 120 Aspheric 3D WebCode 3202 Mechaniczne i elektroniczne zespoły stanowiska "z katalogu" umożliwiają szybkie i łatwe konfigurowanie. Cechy MarTalk koordynuje złącza między oprogramowaniem i maszyną MarScript oznacza język pomiarowy oraz systemy sterowania Zespoły i oprogramowanie uznanej jakości Mahr oraz prosta powłoka obsługowa zapewniają niezawodność wyników pomiarów Bezpieczeństwo stanowiska i jego obsługi dzięki dotrzymaniu wymogów wszystkich obowiazujących dyrektyw System modułowy, tzn. do standardowych zespołów mogą być w zależności od potrzeb zadania pomiarowego dodatkowe osie i zamocowania obiektów mierzonych Oszczędność czasu dzięki uniknięciu czasów przezbrajania i ustawiania automatycznego stanowiska pomiarowego

23 15-23 MarSurf. Przegląd danych chropowatościomierzy MarSurf PS1 i M-300 Parametry Głowice pomiarowe MarSurf PS1 MarSurf M 300 MarSurf M 300 C Ra, Rq, Rz (Ry (JIS) odpowiada Rz), Rz (JIS), Rmax, Rp, Rp (ASME), Rpm, Rsk (ASME), Rpk, Rk, Rvk, Mr1, Mr2, A1, A2, (24 parametrów, z tolerancjami), Vo, Rt, R3z, RPc, Rmr (tp (JIS, ASME) odpowiada Rmr), RSm, R, Ar, Rx indukcyjna, ślizgaczowa, promień ostrza 2 µm, nacisk pomiarowy ca 0,7 mn Ponad 35 parametrów chropowatości Głowice serii PHT (ślizgaczowe) Ponad 35 parametrów chropowatości PHT Mech. posuwowy RD 18 (standardowy) RD 18 C Odcinki odwzorowania Lt wg ISO/JIS 1,75 mm, 5,6 mm, 17,5 mm wg MOTIF 1 mm, 2 mm, 4 mm, 8 mm, 12 mm, 16 mm Rozdzielczość profilu 8 nm / 16 nm / 32 nm (przełączanie automatyczne) 1,75 / 5,6 / 17,5 mm z mechanizmem posuwowym RD 18 8 nm / 16 nm / 32 nm (przełączanie automatyczne) 1,75 / 5,6 / 17,5 mm (RD 18 C) 1,75 / 5,6 mm (RD 18 C2) 8 nm / 16 nm / 32 nm Języki 14 języków, 3 azjatyckie 15 języków, 3 azjatyckie 15 języków, 3 azjatyckie Wymiary (L x B x H) 140 mm x 50 mm x 70 mm ca 190 mm x 170 mm x 75 mm ca 190 mm x 170 mm x 75 mm Masa 400 g 1,3 kg 1,3 kg Zasilanie pierwotne: 90 V bis 264 V wtórne: 9 V pierwotne: 90 V bis 264 V wtórne: 9 V pierwotne: 90 V bis 264 V wtórne: 9 V MarSurf. Przegląd danych MarSurf M 400 Parametry Głowica pomiarowa MarSurf M 400 chropowatości, falistości i z profilu P głowica swobodna BFW-250 Mechanizm posuwowy SD 26 Odcinki odwzorowania Zakres pomiarowy Rozdzielczość (oś Z) Nacisk pomiarowy (w osi Z) Wymiary (L x B x H) Masa Zasilanie napięciem 0,56 mm, 1,75 mm, 5,6 mm, 17,5 mm, automatyczny, wpisywane dowolne wg MOTIF: 1 mm, 4 mm, 8 mm, 12 mm, 16 mm ±250 µm (z ramieniem podwójnej długości ±500 µm) zakres pomiarowy: ±250 µm =8 nm, ±25 µm = 0,8 nm 0,7 mn M 400: ca 190 x 170 x 75 mm; SD 26: 163 mm x 72 mm x 74 mm 1,9 kg pierwotne: 90 V do 264 V, wtórne: 9 V

24 MarSurf. Przegląd danych XR 20, XC 2 / XC 20 Parametry MarSurf XR 20 MarSurf XC 2 / XC 20 ponad 100 parametrów chropowatości, falistości, z profilu P i Motif promienie, kąty, odległości, współrzędne, dopasowanie prostych regresyjnych, okręgi bestfit, segmenty kołowe. Definiowanie punktów, okręgów i segmentów kołowych i wiele innych. pomiary wielokrotne, kontury podwójne, import DXF (tylko XC 20) Głowice/ramiona MFW 250, głowice serii R ramiona pomiarowe 350 mm i 175 mm kompletne z ostrzami pomiarowymi Mechanizm posuwowy stosowane: PZK, GD 25, GD 120, PGK 20, PRK poprzez PAV 62 Odcinki odwzorowania zależne od mech. posuwu 0,56 / 1,75 / 5,6 / 17,5 / 56; Lt zmienne 0,56 do 120,0 Zakres pomiarowy Rozdzielczość (Z) odniesiona do ukł. pomiarowego Nacisk pomiarowy (oś Z) Wymiary (L x B x H) całego statywu ST 500 Masa stanowiska ze statywem ST 500 MarSurf CD 120 / MarSurf PCV 200 (tylko XC 20) 1 mm do 120 mm, 1 mm do 200 mm (tylko XC 20) ± 25 mm z ramionami 350 mm ± 25 μm = 0,5 nm; ± 250 μm = 5 nm dla ramion 350 mm = 0,5 µm; dla ramion 175 mm = 0,25 mm ca 700 mm x 550 mm x 720 mm ca 160 kg nastawiany1 mn do 120 mn, ca 700 mm x 550 mm x 720 mm ca 140 kg Zasilanie 230 V (możliwe 115 V) 230 V (możliwe 115 V) MarSurf. Przegląd danych UD 120 i XT MarSurf UD 120 MarSurf XT 20 Parametry chropowatości, falistości, z profilu P, patrz MarSurf XR 20 Elementy konturów promienie, odległości, kąty, patrz MarSurf XC 20 Ramiona pomiarowe LD A , ostrze diament 2 µm 60 Mechanizm posuwowy MarSurf UD 120 Odcinki odwzorowania (mm) Rozdzielczość profilu Zakres pomiarowy Nacisk pomiarowy (oś Z) Wymiary (L x B x H) kompletnego statywu pomiarowgo ST 500 0,1 mm do 120 mm 2 nm 10 mm UD 120: 1 mn do 30 mn ca 700 mm x 550 mm x 720 mm Masa stanowiska pomiarowego ca 160 kg (wraz z ST 500) Zasilanie napięciem 230 V (możliwe także 115 V) kodowane barwnie warstwicowe, modele siatkowe, fotosymulacja, widok z góry 2D, profile w dowolnym przekroju, funkcja zoom, odległości, kąty, promienie, punkty ekstremalne, liczne funkcje filtracji, jak Gauß, mediana, poligonowe, interpolacja fragmentów niewłaściwych, eliminowanie kulistości, walcowości, funkcje orientowania wg odcinków, parametry chropowatości 3D, eksport i analiza profili z dowolnych przekrojów w oprogramowaniu do chropowatości MarSurf XR 20 lub oprogramowaniu do konturów MarSurf XC 2/ XC 20. Rejestrowanie danych pomiarowych do wyboru: metodą profilometryczną z posuwem Y lub optycznym sensorem powierzchniowym MarSurf WS1. Informacje na temat MarSurf LD 130 / LD 260 znajduje się w broszurze MarSurf LD 130 / LD 260

25 15-25 MarSurf XR 20 z topografią = XT 20 Rozbudowa do stanowiska pomiarowego topografii W niektórych zastosowaniach pojedynczy profil przekroju powierzchni już nie wystarcza. Powierzchniowe, topograficzne przedstawienie i analiza daje możliwości uzyskania obszerniejszych informacji o profilu. Przy zamawianiu lub rozbudowywaniu stanowisko MarSurf XR 20 daje się korzystnie cenowo i prosto rozszerzyć do stanowiska topografii. W porównaniu ze standardową konfiguracją konieczny jest tylko zespół posuwu w osi Y CT 200 MOT dla stolika krzyżowego XY CT 200 oraz oprogramowanie MarWin XT 20. Dane techniczne CT 200 MOT MarSurf CT 200 MOT z motorycznym przestawianiem w osi Y. Droga przestawiania w osi Y 17,5 mm Rozdzielczość 0,375 µm Zespoły stanowiska Zakres jak opisano na stronach do 15-21, dodatkowo: rozszerzenie do stanowiska topografia Oprogramowanie MarSurf XT 20 Nr zamów Zespół posuwu osi Y CT 200 MOT Nr zamów

26 MarSurf XR 20 z topografią XT 20 Pomiary 3D kształtowych wkładek medycznych MarSurf. Stanowisko WS 1 na białe światło Bezstykowe pomiary struktury powierzchni Przy wkładkach kształtowych, np. soczewek kontaktowych oprócz pojedynczego profilu do oceny chropowatości istotna jest też topografia powierzchni. Dla funkcji wyrobu miarodajne są przy tym kształt i chropowatość powierzchni w całym zakresie topografii. Nowe metody obróbki i nowe materiały dają co raz wyższe jakości powierzchni. Rosną przy tym niepomiernie wymagania odnośnie rozdzielczości i dokładności systemów pomiarowych. Stanowisko MarSurf WS 1 jest optycznym sensorem powierzchniowym fukcjonującym na zasadzie interferometrii światła białego. Ta technologia umożliwia szybkie i precyzyjne rejestrowanie topografii powierzchni na najrózniejszych materiałach. Cechy Wysoka rozdzielczość pionowa 0,1 nm umożliwia rejestrowanie najdrobniejszych Do pracy w izbie pomiarów oraz otoczeniu przyprodukcyjnym Zwarta budowa to oszczędność miejsca Konstrukcja optyki jest dopasowana specjalnie do wymagań przemysłowych metod obróbki Oświetlenie w technologii LED o długiej trwałości Ocenianie za pomocą oprogramowania do topografii MarSurf XT 20 umożliwia obszerne analizy topografii przy prostej obsłudze Możliwość integracji wszelkich zespołów OEM WebCode 10136

27 15-27 MarSurf. Mechanizm posuwowy PCV 200 MarSurf. Mechanizm posuwowy CD 120 Mechanizm posuwowy do konturów Mechanizm posuwowy do konturów Mechanizm posuwowy PCV 200 do konturów umożliwia przemieszczenia pomiarowe do 200 mm. W połączeniu z MarSurf XC 20 pozwala rozwiązywać rozliczne zadania w zakresie pomiarów konturów, jak np. wyznaczanie konturów podwójnych za pomocą dwuostrzowych ramion pomiarowych. Mechanizm posuwowy CD 120 do konturów bazuje na technologi mechanizmu posuwowego PCV 200. Służy do precyzyjnych i prostych pomiarów elementów geometrycznych konturów, jak promienie, odległości, kąty, i wiele inych. MarSurf CD 120 w połączeniu z MarSurf XC 2 daje podstawowe stanowisko do pomiaru konturów. Cechy Antykolizyjna ochrona ramienia pomiarowego przez opatentowane mocowanie ramion pomiarowych Programowany cykl pomiarowy z podnoszeniem i opuszczaniem ramienia pomiarowego i pozycjowaniem Dowolny wybór prędkości pomiarowych od 0,2 mm/s do 4 mm/s Nastawiany nacisk pomiarowy od 1 mn do 120 mn Stałość nacisku pomiarowego w całym zakresie pomiarowym Mechanizm posuwowy współpracuje z dużą liczbą ramion pomiarowych o najróżniejszych konstrukcjach. Cechy Automatyczne opuszczanie i podnoszenie ramienia pomiarowego z nastawianą prędkością Dostępne ramiona pomiarowe do otworów > 2 mm Dowolny wybór prędkości pozycjonowania od 0,2 mm/s do 8 mm/s Nastawiany nacisk pomiarowy od 1 mn do 120 mn Opatentowane mocowanie ramion pomiarowych zapewnia odtwarzalność mocowania przy zmianie ramienia bez użycia narzędzi Stosowanie kompletnych ramion pomiarowych z własnymi, oddzielnie zapisanymi danymi kalibracji zapewnia systemowi szybkie, elastyczne zmianianie różnych ramion do różnych zadań pomiarowych.

28 MarSurf. Mechanizm posuwowy PZK MarSurf. Mech. posuwowy MarSurf GD 25 Mały i poręczny Standardowy mechanizm do pomiarów chropowatości Ten set zawiera mały, poręczny mechanizm posuwowy PZK i zintegrowaną indukcyjną głowicę pomiarową MFW 250. Ramiona pomiarowe dają się szybko wymieniać. Wbudowana płaszczyzna referencyjna umożliwia wykonywanie pomiarów swobodnych i ślizgaczowych. PZK-Set dysponuje także uchwytem ręcznym. Pryzmatyczny spód uchwytu pozwala mierzyć na powierzchniach płaskich i walcowych, co nadaje PZK uniwersalność. Najwyższa dokładność odnośnie prostoliniowości i lekkości pracy uzyskana na odcinku odwzorowania 25,4 mm (1"). Opatentowane, motoryczne przestawianie na wysokość umożliwia pozycjonowanie głowicy w zakresie 4 mm i motoryczne zerowanie ostrza diamentowego. Może współpracować z głowicą swobodną MFW 250 oraz głowicami typoszeregu R.

29 15-29 MarSurf. Mechanizm posuwowy MarSurf GD 120 Precyzyjny mechanizm posuwowy nowej generacji Mechanizm posuwowy MarSurf GD 120 stosowany jest - oprócz dokładnych pomiarów chropowatości - także do pomiarów falistości na długich odcinkach odwzorowania do 120 mm. Przy tym opatentowane, motoryczne zerowanie ramion pomiarowych na odcinku 10 mm oszczędza zarówno prace ustawcze jak i czas. Opcjonalnie za pomocą prostych, adaptacyjnych uchwytów mechanizm posuwowy umożliwia w problematycznych pozycjach pomiaru, jak skaning poprzeczny lub pionowy. Dokładne pozycjonowanie w osi poziomej ma istotne znaczenie przy cyklach automatycznych. MarSurf GD 120 umożliwia precyzyjne pozycjonowanie także w osi X. Ten mechanizm posuwowy oferuje bardzo spokojną pracę (resztkowa wartość Rz < 30 nm/0,1 mm/s), szybkie mocowanie głowic, a także zabezpieczenie uchwytu głowicy przed uderzeniem. Szybka i łatwa wymiana głowic po poluzowaniu zacisku.

30 MarSurf. Wyposażenie Głowica do prawie wszystkich zastosowań 1 Głowica pomiarowa MFW głowica 2 osłona głowicy ze ślizgaczem 3 osłona głowicy bez ślizgacza 4 ramię pomiarowe 5 ramię pomiarowe 6 ramię pomiarowe Głowica pomiarowa MFW nadaje się zarówno do pomiarów swobodnych, jak i ze ślizgaczem. Odznacza się następującymi właściwościami: wysoka liniowość (< 1 %), wysoka rozdzielczość ( /200000x), duży zakres pomiarowy (± 250 µm). Przy zastosowaniu ramion pomiarowych o podwójnej długości zakres pomiarowy rozszerza się do ±500 µm. Prosta zmiana ramion pomiarowych umożliwia wielostronne zastosowania. Mocna, sztywna budowa eliminuje drgania własne i rezonans. 6 Wyposażenie Zależnie od zadania pomiarowego mogą być potrzebne różne elementy wyposażenia, jak stoliki krzyżowe, imadła lub pryzmy. Stolik XY CT 200 Nr zam Powierzchnia mocowania 200 mm x 200 mm (opcjonalnie zwiększana do 400 mm x 400 mm płytą adapterową) Przesuw w X i Y po 25 mm śrubami mikrometrycznymi. Oś C przestawiana ± 2,5 (dokładne pozycjonowanie części) Stolik XY CT 120 Nr zam do mocowania i pozycjonowania obiektów mierzonych. Przestawiany w dwóch współrzędnych po 15 mm. Powierzchnia płyty:120 mm x 120 mm, z 2 łapami mocującymi Blok pryzmowy PP Nr zam z różnymi pryzmami do mocowania części walcowych o średnicy 1 mm do 160 mm, z zaciskiem sprężynowym do mocowania lekkich obiektów Imadło płasko-równoległe PPS Nr zam do mocowania obiektów mierzonych. Imadło płasko-równoległe Nr zam do mocowania małych obiektów mierzonych Zakres mocowania 32 mm Wymiary (L x B x H): ca 130 mm x 32 mm x 40 mm Imadło płasko-równoległe z przegubem Nr zam Imadło płasko-równoległe z podstawką wychylne kątowo ±45 Nr zam

31 15-31 Wzorzec geometryczny PGN Wzorzec nastawczy PEN 10-1 Sinusoidalny profil rowkowy wg DIN EN ISO 5436 Typ C1 Wzorzec głębokości wg DIN EN ISO 5436 Typ A1 Wzorzec z sinusoidalnym profilem rowkowym do dynamicznej kontroli stanowiska do pomiaru chropowatości. Ra, Rz, Rmax. płaska powierzchnia szklana. Dostępne są następujące odmiany: PGN 1 głębokość profilu ca 1,5 µm, odstęp rowków ca 0,10 mm PGN 3 głębokość profilu ca 3 µm, odstęp rowków ca 0,12 mm PGN 10 głębokość profilu 10 µm, odstęp rowków ca 0,20 mm Na życzenie świadectwo wzorcowania DAkkS/DKD lub Mahr. Wzorzec nastawczy do statycznej kalibracji pionowego skoku wszystkich głowic swobodnych, jedno- i dwuślizgaczowych. Głębokość rowków ca 10 µm, średnica 44 mm. 2 rowki kalibracyjne płaska powierzchnia szklana Na życzenie świadectwo wzorcowania DAkkS/DKD lub Mahr. Wzorzec geometryczny PRN 10 Profil chropowatości po toczeniu Wzorzec do konturów KN 100 Wzorzec do kontroli stanowisk do pomiaru konturów Ze świadectwem wzorcowania Mahr. Wzorzec chropowatości z profilem po toczeniu, chromowany, głębokość profilu ca 10 µm, do kontroli chropowatościomierzy. Ra, Rz, Rmax. Wzorzec do konturów KN 100 opracowany w ścisłej współpracy z PTB. Po raz pierwszy można przeprowadzać kontrole potwierdzające i odbiorcze z odniesieniem do konkretnych realnych elementów geometrycznych. Wzorzec spełnia wymagania dyrektywy VDI/VDE WebCode 9633