Specyfikacja istotnych warunków zamówienia publicznego

INSTYTUT FIZYKI POLSKIEJ AKADEMII NAUK PL - 02-668 WARSZAWA, AL. LOTNIKÓW 32/46 Tel. (48-22) 843 66 01 Fax. (48-22) 843 09 26 REGON: P-000326061, NIP: 525-000-92-75 DZPIE/023/2010 Specyfikacja istotnych warunków zamówienia publicznego Przedmiot postępowania: Doposażenie systemu Nano Workstation ZEISS Neon 40 o rentgenowski spektrometr energii EDX (Energy Dispersive X-Ray Spectroscopy) oraz zakup systemu katodoluminescencji CL. Kod CPV: 38.94.700.0-7 38.43.30.00-9 Tryb udzielenia zamówienia: Zamawiający: Postępowanie jest prowadzone w trybie przetargu nieograniczonego zgodnie z Prawem Zamówień Publicznych z dn. 29 stycznia 2004r (Dz. U. Nr 19, poz. 177 z dnia 9 lutego 2004 wraz z późniejszymi zmianami). Instytut Fizyki Polskiej Akademii Nauk 02-668 Warszawa, Al. Lotników 32/46. NIP: 525-000-92-75. Regon: P-000326061 Zakup przedmiotu zamówienia jest współfinansowany ze środków Europejskiego Funduszu Rozwoju Regionalnego Unii Europejskiej w ramach Programu Operacyjnego Innowacyjna Gospodarka lata 2007-2013, Priorytet 2. "Infrastruktura sfery B + R", Działanie 2.2 "Wsparcie tworzenia wspólnej infrastruktury badawczej jednostek naukowych ; nr POIG.02.02.00-00- 020/09 pt.: Krajowe centrum nanostruktur magnetycznych do zastosowań w elektronice spinowej SPINLAB. 1. Opis przedmiotu zamówienia: Przedmiot zamówienia składa się z dwóch zadań: Zadanie 1 Doposażenie systemu Nano Workstation ZEISS Neon 40 o rentgenowski spektrometr energii EDX (Energy Dispersive X-Ray Spectroscopy), Zadanie 2 Zakup systemu katodoluminescencji CL. Przedmiotem zamówienia jest doposażenie systemu Nano Workstation ZEISS Neon 40 o rentgenowski spektrometr energii EDX oraz zakup systemu katodoluminescencji CL z uwzględnieniem instalacji, montażu, uruchomienia aparatury oraz przeszkolenia min 3 pracowników w zakresie jego obsługi i konserwacji. Przedmiot zamówienia musi być kompatybilny z istniejącym systemem Nano Workstation ZEISS Neon 40 wersja Auriga. Układ spektrometru energodyspersyjnego EDX musi umożliwiać jakościową i ilościową analizę pierwiastków oraz zbieranie map rozkładu pierwiastków i profili liniowych. Układ

EDX musi składać się zarówno z detektora promieniowania rentgenowskiego zamontowanego w systemie Nano Workstation ZEISS Neon 40, jak i specjalistycznego oprogramowania zainstalowanego na dostarczonym komputerze klasy PC. System katodoluminescencji musi obejmować zarówno kolekcję sygnału CL za pomocą zwierciadła parabolicznego, detekcję sygnału CL przy użyciu spektrometru optycznego, kamery CCD, dwóch fotopowielaczy, układów przejmujących sterowanie wiązką elektronową, oraz wszystkie elementy zarówno mechaniczne, jak i optyczne służące do wyprowadzenia sygnału z dwóch komór SEM do spektrometru optycznego. Ze względu na pełną funkcjonalność całego doposażenia, system powinien posiadać dodatkową komorę SEM do pomiarów niskotemperaturowych w temperaturze 5K. Układ detekcyjny musi znajdować się na oddzielnym stole nie obciążając dodatkowej komory SEM. W dodatkowej komorze musi znajdować się stolik niskotemperaturowy umożliwiający osiąganie temperatur od 5 K do 300 K. Razem ze stolikiem powinny zostać zakupione wszystkie elementy konieczne do uzyskania, odczytu i kontroli temperatur w zakresie co najmniej od 5 K do 300 K. Układ detekcyjny do katodoluminescencji musi posiadać możliwość pracy również z systemu Nano Workstation ZEISS Neon 40 który jest już wyposażony w układ do kolekcji sygnału CL w temperaturze pokojowej. Spektrometr optyczny powinien zatem posiadać 2 wejścia, z których jedno przeznaczone byłoby do nowej dodatkowej niskotemperaturowej komory SEM, drugie do oryginalnej komory istniejącego skaningowego mikroskopu elektronowego. Ponadto muszą być dostarczone dwa układy przejmujące sterowanie wiązki elektronowej: w nowym mikroskopie i w systemie Nano Workstation ZEISS Neon 40. Aparatura powinna odpowiadać wszystkim wymogom technicznym i jakościowym określonym przez Zamawiającego w specyfikacji technicznej, załącznik 1. Do aparatury winna być załączona dokumentacja techniczna oraz instrukcja obsługi w jez. polskim lub angielskim. Charakterystyka techniczna przedmiotu zamówienia zawarta jest w załączniku nr 1. Parametry oferowanego systemu muszą być pisemnie zagwarantowane przez producenta, ew. europejską firmę będącą własnością producenta a nie tylko przez Dostawcę. Wymaga się aby materiały eksploatacyjne były zgodne z obowiązującymi w Polsce normami. Warunki gwarancji: 12 miesiące od daty protokołu odbioru. Czas przystąpienia do naprawy gwarancyjnej: w ciągu 5 dób od daty pisemnego/fax owego zgłoszenia. Czas przywrócenia pełnej funkcjonalności: w ciągu 14 dób od daty pisemnego/fax owego zgłoszenia. Bezpłatną aktualizacja oprogramowania przez okres co najmniej 12 miesięcy od daty podpisania protokołu odbioru Dostępność części zamiennych: min. 10 lat od daty protokołu odbioru. Wykonawca zagwarantuje jakość dostarczonych produktów zgodnie ze specyfikacją techniczną - odpowiedzialność z tytułu gwarancji jakości obejmuje zarówno wady powstałe z przyczyn tkwiących w przedmiocie zamówienia w chwili dokonania odbioru przez zamawiającego, jak i wszelkie inne wady powstałe z przyczyn, za które wykonawca ponosi odpowiedzialność. Urządzenia muszą być przystosowane i dopuszczone do pracy na terytorium RP, tzn. posiadać wszelkie wymagane certyfikaty (np. CE, jeśli ma zastosowanie) oraz muszą być dostarczone wraz z oprogramowaniem, licencjami, materiałami i akcesoriami (np. przewodami zasilającymi i przyłączeniowymi, kablami pomiarowymi, adapterami itp. elementami) niezbędnymi do uruchomienia i poprawnej pracy (nie dotyczy materiałów eksploatacyjnych).

Okres bezpłatnego serwisu gwarancyjnego ulega automatycznie przedłużeniu o okres naprawy, a po wystąpieniu trzykrotnej awarii tego samego podzespołu lub elementu wykonawca zobowiązany jest do wymiany wadliwej części na nową. Wykonawca w złożonej ofercie zagwarantuje gotowość do świadczenia serwisu pogwarancyjnego. Naprawy gwarancyjne i pogwarancyjne będą wykonywane u Zamawiającego, a jeżeli będzie to niemożliwe, uszkodzone elementy, podzespoły lub urządzenia zostaną dostarczone do właściwego punktu serwisowego przez wykonawcę. Oprócz tego Wykonawca zamontuje i uruchomi aparaturę oraz przeszkoli minimum trzech pracowników Zamawiającego (w laboratorium Zamawiającego) w zakresie obsługi całego systemu w terminie do miesiąca od daty uruchomienia aparatury. Zostanie to potwierdzone obustronnie podpisanym protokołem odbioru aparatury. Dodatkowo Wykonawca zapewni szkolenie aplikacyjne w laboratorium Zamawiającego w uzgodnionym terminie (ok. trzy miesiące od daty protokołu odbioru). Koszty związane ze sprawdzeniem pomieszczenia w którym mikroskop ma pracować oraz przeszkoleniem pracowników w zakresie obsługi całego systemu w tym szkolenie aplikacyjne wliczone są w cenę całkowitą 2. Wymagany termin wykonania zamówienia: Zadanie 1 - Wymaga się aby, ostateczne uruchomienie rentgenowskiego spektrometru EDX w laboratorium Zamawiającego nastąpiło nie później niż 30 września 2010 roku. Zadanie 2 - Wymaga się aby, ostateczne uruchomienie całego systemu katodoluminescencji w laboratorium Zamawiającego nastąpiło nie później niż 30 marca 2011 roku. 3. Warunki udziału w postępowaniu oraz opis sposobu dokonywania oceny spełniania tych warunków: 1 O udzielenie zamówienia mogą ubiegać się wykonawcy, którzy spełniają warunki z Art. 22 ust. 1 Ustawy PZP, dotyczące: 1) posiadania uprawnień do wykonywania określonej działalności lub czynności, jeżeli przepisy prawa nakładają obowiązek ich posiadania; 2) posiadania wiedzy i doświadczenia; 3) dysponowania odpowiednim potencjałem technicznym oraz osobami zdolnymi do wykonania zamówienia; 4) sytuacji ekonomicznej i finansowej, i nie podlegają wykluczeniu z postępowania z trybie Art. 24 ust. 1. 2 O udzielenie zamówienia mogą ubiegać się wykonawcy, którzy wykażą się należytym wykonaniem co najmniej dwóch dostaw rentgenowskich spektrometrów energii EDX oraz systemów katodoluminescencji. 3 O udzielenie zamówienia mogą ubiegać się wykonawcy, którzy ubezpieczeni są od odpowiedzialności cywilnej na kwotę min. 100.000,00 PLN 4 O udzielenie zamówienia mogą ubiegać się wykonawcy, którzy wykażą brak podstaw do wykluczenia w trybie Art. 24 ust. 1 pkt. 2. 5 O udzielenie zamówienia mogą ubiegać się wykonawcy, którzy nie zalegają z opłacaniem podatków. 6 O udzielenie zamówienia mogą ubiegać się wykonawcy, którzy nie zalegają z

opłacaniem składek na ubezpieczenia zdrowotne i społeczne. 7 O udzielenie zamówienia mogą ubiegać się wykonawcy, którzy wykażą brak podstaw do wykluczenia w trybie Art. 24 ust. 1 pkt. 4-8. 8 O udzielenie zamówienia mogą ubiegać się wykonawcy, którzy wykażą brak podstaw do wykluczenia w trybie Art. 24 ust. 1 pkt. 9. 4. Wykaz oświadczeń i dokumentów, jakie maja dostarczyć wykonawcy w celu potwierdzenia spełniania tych warunków: 1 Oświadczenie o spełnianiu warunków udziału w postępowaniu zgodnie z Art. 22 ust. 1 Ustawy PZP. 2 Oświadczenie o braku podstaw do wykluczenia z postępowania zgodnie z Art. 24 ust. 1 Ustawy PZP. 3 Wykaz dostaw, wykonanych w okresie ostatnich trzech lat przed upływem terminu składania ofert, a jeżeli okres prowadzenia działalności jest krótszy w tym okresie, z podaniem ich wartości, przedmiotu, dat wykonania i odbiorców oraz załączeniem dokumentu potwierdzającego, że te usługi zostały wykonane należycie. 4 Opłacona polisa, a w przypadku jej braku inny dokument potwierdzający, że wykonawca jest ubezpieczony od odpowiedzialności cywilnej w zakresie prowadzonej działalności związanej z przedmiotem zamówienia. 5 Aktualny odpis z właściwego rejestru, jeżeli odrębne przepisy wymagają wpisu do rejestru, w celu wykazania braku podstaw do wykluczenia w oparciu o art. 24 ust. 1 pkt. 2 ustawy, wystawiony nie wcześniej niż 6 miesięcy przed upływem terminu składania ofert, a w stosunku do osób fizycznych oświadczenia w zakresie art. 24 ust. 1 pkt. 2 Ustawy. 6 Aktualne zaświadczenie właściwego naczelnika urzędu skarbowego potwierdzające, że wykonawca nie zalega z opłacaniem podatków, lub zaświadczenie, że uzyskał przewidziane prawem zwolnienie, odroczenie lub rozłożenie na raty zaległych płatności lub wstrzymanie w całości wykonania decyzji właściwego organu wystawione nie wcześniej niż 3 miesiące przed upływem terminu składania ofert. 7 Aktualne zaświadczenie właściwego oddziału ZUS lub KRUS potwierdzającego, że wykonawca nie zalega z opłacaniem składek na ubezpieczenia zdrowotne i społeczne, lub potwierdzenia że uzyskał przewidziane prawem zwolnienie, odroczenie lub rozłożenie na raty zaległych płatności lub wstrzymanie w całości wykonania decyzji właściwego organu wystawione nie wcześniej niż 3 miesiące przed upływem terminu składania ofert. 8 Aktualna informacja z Krajowego Rejestru Karnego w zakresie określonym w art. 24 ust. 1 pkt. 4-8 ustawy, wystawiona nie wcześniej niż 6 miesięcy przed upływem terminu składania ofert. 9 Aktualna informacja z Krajowego Rejestru Karnego w zakresie określonym w art. 24 ust. 1 pkt. 9 ustawy, wystawiona nie wcześniej niż 6 miesięcy przed upływem terminu składania ofert. Jeżeli, w przypadku wykonawcy mającego siedzibę na terytorium Rzeczypospolitej Polskiej, osoby, o których mowa w art. 24 ust. 1 pkt. 5-8 ustawy, mają miejsce zamieszkania poza terytorium Rzeczypospolitej Polskiej, wykonawca składa w odniesieniu do nich zaświadczenie właściwego organu sądowego albo administracyjnego miejsca zamieszkania dotyczące niekaralności tych osób w zakresie określonym w art. 24 ust. 1 pkt. 5-8 ustawy,

wystawione nie wcześniej niż 6 miesięcy przed upływem terminu składania ofert, z tym że w przypadku gdy w miejscu zamieszkania tych osób nie wydaje się takich zaświadczeń - zastępuje się je dokumentem zawierającym oświadczenie złożone przed notariuszem, właściwym organem sądowym, administracyjnym albo organem samorządu zawodowego lub gospodarczego miejsca zamieszkania tych osób. Jeżeli wykonawca ma siedzibę lub miejsce zamieszkania poza terytorium Rzeczypospolitej Polskiej, zamiast dokumentów, o których mowa w 4.5 4.9: 1) pkt. 5-7 i 9 - składa dokument lub dokumenty wystawione w kraju, w którym ma siedzibę lub miejsce zamieszkania, potwierdzające odpowiednio, że: a) nie otwarto jego likwidacji ani nie ogłoszono upadłości, b) nie zalega z uiszczaniem podatków, opłat, składek na ubezpieczenie społeczne i zdrowotne albo że uzyskał przewidziane prawem zwolnienie, odroczenie lub rozłożenie na raty zaległych płatności lub wstrzymanie w całości wykonania decyzji właściwego organu, c) nie orzeczono wobec niego zakazu ubiegania się o zamówienie; 2) pkt. 8 - składa zaświadczenie właściwego organu sądowego lub administracyjnego miejsca zamieszkania albo zamieszkania osoby, której dokumenty dotyczą, w zakresie określonym w art. 24 ust. 1 pkt. 4-8 ustawy. Jeżeli w miejscu zamieszkania osoby lub w kraju, w którym wykonawca ma siedzibę lub miejsce zamieszkania, nie wydaje się dokumentów, o których mowa powyżej, zastępuje się je dokumentem zawierającym oświadczenie złożone przed notariuszem, właściwym organem sądowym, administracyjnym albo organem samorządu zawodowego lub gospodarczego odpowiednio miejsca zamieszkania osoby lub kraju, w którym wykonawca ma siedzibę lub miejsce zamieszkania. Wykonawca może polegać na wiedzy i doświadczeniu, potencjale technicznym, osobach zdolnych do wykonania zamówienia lub zdolnościach finansowych innych podmiotów, niezależnie od charakteru prawnego łączących go z nimi stosunków. Wykonawca w takiej sytuacji zobowiązany jest udowodnić zamawiającemu, iż będzie dysponował zasobami niezbędnymi do realizacji zamówienia, w szczególności przedstawiając w tym celu pisemne zobowiązanie tych podmiotów do oddania mu do dyspozycji niezbędnych zasobów na okres korzystania z nich przy wykonywaniu zamówienia. 5. Informacje o sposobie porozumiewania się zamawiającego z wykonawcami, a także wskazanie osób uprawnionych do porozumiewania się z wykonawcami: 1 Zamawiający będzie kontaktował się z wykonawcami drogą faksu lub na piśmie. 2 Osoby przewidziane do kontaktu z wykonawcami: Maciej Zajączkowski - fax: (+48 22) 847 00 82. 6. Wymagania dotyczące wadium: 1 Zamawiający ustala kwotę wadium na sumę: 30.000,00 PLN. 2 Zgodnie z Art. 45 ust. 6 wadium może być wnoszone w jednej lub kilku następujących formach: pieniądzu; poręczeniach bankowych lub poręczeniach spółdzielczej kasy oszczędnościowo-

kredytowej, z tym że poręczenie kasy jest zawsze poręczeniem pieniężnym; gwarancjach bankowych; gwarancjach ubezpieczeniowych; poręczeniach udzielanych przez podmioty, o których mowa w Art. 6b ust. 5 pkt. 2 ustawy z dnia 9 listopada 2000r. o utworzeniu Polskiej Agencji Rozwoju Przedsiębiorczości (Dz. U. Nr 109, poz. 1158, z późn. zm.). 3 Konto bankowe w przypadku wpłaty wadium wykonania umowy w PLN: BPH SA 77 1060 0076 0000 3210 0014 4494. 7. Termin związania ofertą: 1 Zamawiający ustala termin związania ofertą na okres 60 dni od daty terminu składania ofert. 8. Opis sposobu przygotowania oferty: 1 Oferta powinna być sporządzona na formularzu ofertowym w języku polskim z zachowaniem formy pisemnej, trwałą, czytelną techniką. 2 Każdy wykonawca może złożyć tylko jedną ofertę. Wykonawca, który przedłożył więcej niż jedną ofertę, zostanie wyłączony z postępowania. 3 Oferta powinna dotyczyć całości zamówienia zgodnie z wymogami i warunkami specyfikacji. Nie dopuszcza się składania ofert częściowych. 4 Kserokopia dowodu uiszczenia wadium powinna być załączona do oferty; oryginał powinien być w odrębnej kopercie. 5 Wszystkie zapisane strony oferty powinny być ponumerowane, podpisane i zszyte. 6 Oferent powinien zamieścić ofertę w kopercie z adresem i nazwą Zamawiającego oraz Oferenta, a także napisem: "Postępowanie o udzielenie zamówienia publicznego w trybie przetargu nieograniczonego na doposażenie systemu Nano Workstation ZEISS Neon 40 o rentgenowski spektrometr energii EDX (Energy Dispersive X-Ray Spectroscopy) oraz zakup systemu katodoluminescencji CL [DZPIE/023/2010]" 9. Miejsce oraz termin składania i otwarcia ofert: 1 Ofertę należy złożyć w siedzibie Zamawiającego, budynek I pok. Nr. 101 (kancelaria ogólna) w godzinach 9.00 15.00 w dni robocze, do dnia 6 września 2010 r., do godz. 10:00. 2 W przypadku wysłania oferty pocztą (lub pocztą kurierską) za termin złożenia przyjmuje się termin otrzymania oferty, a nie datę stempla pocztowego (nadania). 3 Otwarcie ofert odbędzie się w ostatnim dniu ich składania, w siedzibie Zamawiającego, budynek I sala 203 o godzinie 14:30. 10. Opis sposobu obliczenia ceny: 1 Cena wyrażona w walucie polskiej PLN.

2 Cena powinna uwzględniać: koszt towaru, oprogramowania, koszty instalacji, koszty opakowania, koszty transportu i ubezpieczenie towaru do IF PAN, koszty uruchomienia w IF PAN, koszty szkoleń w IF PAN, podatki, cła, ubezpieczenia. 3 Obliczając cenę, należy podać sumaryczną cenę brutto z rozbiciem na poszczególne zadania: Zadanie 1 (rentgenowski spektrometr energii EDX) + Zadanie 2 (zakup systemu katodoluminescencji CL). 11. Opis kryteriów, którymi zamawiający będzie się kierował przy wyborze oferty w celu zawarcia umowy w sprawie zamówienia publicznego: 1 Cena 90 pkt. 2 Serwis 2 pkt. 3 Parametry techniczne 8 pkt. 4 Przy przeliczaniu punktów za cenę Zamawiający posłuży się wzorem: Cmin 90 C bad gdzie: C min cena najtańszej oferty; C bad cena oferty badanej; 5 Serwis będzie punktowany w następujący sposób: 1. Wykonawca zapewni całościowy wliczony w cenę całkowitą przegląd elementów urządzenia na miesiąc przed upływem terminu ich gwarancji: tak 1 pkt. nie 0 pkt. 2. Zagwarantowanie wliczonej w cenę całkowitą (serwis, katoda i części) jednej wymiany katody LaB6 wraz ze wszystkimi innymi elementami, których wymiana będzie niezbędna dla odtworzenia oryginalnych parametrów mikroskopu, przeprowadzoną nie wcześniej niż po upływie gwarantowanego czasu pracy działa elektronowego: tak 1 pkt nie 0 pkt. 6 Parametry techniczne będą punktowane w następujący sposób: 1. Detektor spektrometru EDX typu SDD, bezazotowy, o rozdzielczość energetycznej lepszej niż 127 ev (specyfikowanej dla linii Mn K α ), przy liczbie zliczeń 100 000 cps, tak 4 pkt nie 0 pkt. 2. Zdolność rozdzielcza mikroskopu (dla katody LaB 6 ): - 1.9 nm lub lepsza przy napięciu przyspieszającym 30 kv dla obrazów w trybie SE (elektronów wtórnych), tak 4 pkt nie 0 pkt. 7 Oferta z najwyższym bilansem punktowym, zostanie uznana za najkorzystniejszą.

12. Informacje o formalnościach, jakie powinny zostać dopełnione po wyborze oferty w celu zawarcia umowy w sprawie zamówienia publicznego: 1 Wykonawca, który wygrał postępowanie o udzielenie zamówienia publicznego, powinien podpisać umowę w ciągu 7 dni od daty zakończenia terminu na wnoszenie odwołań, na warunkach określonych w niniejszej specyfikacji istotnych warunków zamówienia, jednak nie później niż termin związania ofertą. 13. Istotne dla stron postanowienia, które zostaną wprowadzone do treści zawieranej umowy w sprawie zamówienia publicznego: 1 Warunki dostawy: do Instytutu Fizyki PAN. 2 Termin uruchomienia: - Zadanie 1 - rentgenowski spektrometr energii EDX nie później niż do 30 września 2010 r. - Zadanie 2 - systemu katodoluminescencji nie później niż do 30 marca 2011 r. 3 Wartość umowy będzie stała i wyrażona w walucie polskiej (PLN). Warunki płatności: - Zadanie 1 - rentgenowski spektrometr energii EDX - 100% po dostawie, montażu i odbiorze protokolarnym przez wyznaczonych pracowników IF PAN, na podstawie faktury VAT z 21 dniowym terminem płatności. - Zadanie 2 - system katodoluminescencji CL - Część I 40 % wartości systemu katodoluminescencji, przelewem po dostarczeniu dokumentacji technicznej i po przedstawieniu potwierdzenia złożenia (uzgodnionego z zamawiającym) zamówienia u producenta z podanym terminem dostawy, na podstawie faktury z 21 dniowym terminem płatności. - Część II 30 % wartości systemu katodoluminescencji po dostawie i montażu systemu katodoluminescencji w laboratorium Zamawiającego, na podstawie faktury z 21 dniowym terminem płatności. - Część III 30% wartości systemu katodoluminescencji, płatne po odbiorze protokolarnym przez wyznaczonych pracowników IF PAN, na podstawie faktury z 21 dniowym terminem płatności. 4 Wykonawca dostarczy wraz z urządzeniem instrukcję obsługi w języku polskim lub angielskim oraz kartę(y) gwarancyjną(e) z zasadami świadczenia usług przez autoryzowany(e) serwis(y) w okresie gwarancyjnym i pogwarancyjnym. 5 Koszty serwisu, niezbędnych części zamiennych, dojazdu pracownika serwisu oraz transportu niesprawnego sprzętu w okresie gwarancji pokrywa Wykonawca. 6 Wykonawca usunie wszystkie wady ukryte sprzętu w ciągu 2 miesięcy od daty ich ujawnienia w okresie trwania gwarancji (koszty pokrywa Wykonawca). 7 W przypadku wystąpienia zwłoki w dostawie towaru wyszczególnionego w 1 Wykonawca zobowiązany jest do zapłacenia kary umownej w wysokości: od 1-go do 30-go dnia - 0.25% wartości netto umowy za każdy dzień zwłoki; Jeśli zwłoka w realizacji przedmiotu zamówienia przekroczy 30 dni, Zamawiający ma prawo odstąpić od umowy, a Wykonawca jest zobowiązany w takim wypadku zapłacić Zamawiającemu karę w wysokości 10% wartości netto umowy W przypadku wystąpienia opóźnienia płatności Kupujący zobowiązany jest zapłacić na

rzecz Sprzedającego odsetki zgodnie z polskim prawem. 8 Wszelkie spory wynikłe na tle umowy będzie rozstrzygał sąd właściwy dla siedziby Zamawiającego. 14. Pouczenie o środkach ochrony prawnej: Środki ochrony prawnej, przysługujące wszystkim wykonawcom, opisane są w Dziale VI Prawa Zamówień Publicznych z dn. 29 stycznia 2004r (Dz. U. Nr 19, poz. 177 z dnia 9 lutego 2004 wraz z późniejszymi zmianami).

pieczęć adresowa Oferenta data Wymagane parametry techniczne oferowanego wyposażenia Lp Minimalne wymagane parametry niespełnienie spowoduje odrzucenie oferty Parametry mikroskopu oferowanego przez Oferenta Do wypełnienia przez Oferenta I Zadanie 1 Doposażenie systemu Nano Workstation ZEISS Neon 40 o rentgenowski spektrometr energii EDX (Energy Dispersive X-Ray Spectroscopy) Dostawa i instalacja fabrycznie nowego układ spektrometru energodyspersyjnego EDX umożliwiającego jakościową i ilościową analizę pierwiastków oraz zbieranie map rozkładu pierwiastków i profili liniowych o następujących własnościach: w pełni zintegrowany sprzętowo, programowo, konstrukcyjnie i kompatybilny z istniejącym skaningowym mikroskopem elektronowym Nano Workstation ZEISS Neon 40 wersja Auriga oraz z dodatkową nową niskotemperaturową komorą SEM, spektrometr EDX musi być podłączony do istniejącego mikroskopu a w przyszłości musi posiadać możliwość podłączenia do dodatkowej niskotemperaturowej komory SEM, musi posiadać możliwość wykonywania mikroanalizy jakościowej i ilościowej z powierzchni chropowatych, prób polerowanych, cienkich warstw, grubych prób i cząstek, umożliwiający detekcję pierwiastków o liczbie atomowej Z 5, od boru do ameryku, detektor spektrometru EDX typu SDD, bezazotowy, o aktywnej powierzchni aktywnej detektora co najmniej 30 mm 2, detektor typu SDD musi być chłodzony podwójnym stolikiem Peltier, detektor typu SDD nie może wymagać konserwacji i musi być bez wibracyjny, rozdzielczość energetyczna 127 ev (specyfikowanej dla linii Mn K α ), przy liczbie zliczeń 100 000 cps, wymagana możliwość pracy w całym zakresie napięć przyspieszających, liczna zliczeń na wejściu 750 000 cps lub lepsza, liczba zliczeń na wyjściu 270 000 cps lub lepsza, analityczna odległość robocza w przypadku mikroanalizy rentgenowskiej przy kącie detektora EDX 35 stopni powinna wynosić min 5 mm - max 20 mm, musi umożliwiać wykonywanie analizy ilościowej pierwiastków całkowicie bezwzorcowo oraz z wykorzystaniem wzorców analitycznych, musi istnieć możliwość rozszerzonej analizy widm dla zaawansowanych użytkowników oraz musi być dostarczony edytor dla metod ewaluacji zdefiniowanych przez użytkownika,

musi kontrolować wiązką elektronową mikroskopu w celu akwizycji obrazów elektronowych i map rtg minimum z dwóch wybranych sygnałów np. SE i BSE, rozdzielczość obrazów elektronowych musi być co najmniej 4096 x 4096 pikseli, z systemem EDX muszą być dostarczone sterowniki do zewnętrznego sterowania systemem skanowania, obraz musi być przetwarzany cyfrowo, musi posiadać funkcję analizy faz, musi posiadać możliwość otrzymywania ultraszybkich cyfrowych mappingów pierwiastków, ilościowych mappingów pierwiastków oraz map, w których każdy z pikseli zawiera pełną informację jakościową i ilościową, musi posiadać możliwość ilościowej analizy pierwiastków w skanie liniowym, musi umożliwiać połączenie wyników analizy chemicznej z analizą morfologiczną, musi posiadać automatyczną korekcję zniekształceń pochodzących ze skanowania wiązką, musi dysponować możliwością zbierania map rozkładów pierwiastków i profili liniowych od dowolnej ilości pierwiastków jednocześnie, rozdzielczość map rtg musi być formatu co najmniej 1024 x 1024 pikseli, zapewnić poprawną, bezwzorcową analizę oraz mapping w warunkach niskiej próżni, musi umożliwiać wykonywanie analizy jakościowej w sposób automatyczny lub manualny, musi umożliwiać modelowanie tła, musi umożliwiać tworzenie histogramów, musi umożliwiać akwizycję elektronów i kolorowe obrazowanie, musi umożliwiać przeszukiwanie baz danych widm w celu odnalezienia podobnych otrzymanych widm, musi umożliwiać zarządzanie danymi i ich archiwizację, musi umożliwiać zautomatyzowania pracy, musi umożliwiać tworzenie raportów i ich wydruków, musi umożliwiać obsługę wielu użytkowników z osobnymi ustawieniami i strefami danych, musi umożliwiać zdalny dostęp przez firmową sieć (LAN), musi umożliwiać wymianę danych z podłączonym mikroskopem elektronowym. Wraz z systemem EDX muszą być dostarczone dwie flansze pozwalające na podłączenie spektrometr EDX do istniejącego mikroskopu a w przyszłości do dodatkowej niskotemperaturowej komory SEM, Spektrometr EDX posiadać możliwość zbierania widm rentgenowskich i analizy pierwiastków: w punkcie wybranych obiektów, automatycznej wielopunktowej wybranych obiektów, z wybranego obszaru zredukowanego, także z części kadru o kształcie zdefiniowanym przez operatora, z całego kadru, wzdłuż dowolnie poprowadzonej linii, w których każdy z pikseli zawiera pełną informację jakościową i ilościową, rozkładu pierwiastków na wybranym obszarze (X-ray

mapping), pełnego widma rentgenowskiego dla każdego piksela z żądanego obszaru. System EDX musi być wyposażony w jednostkę sterującą mikroanalizator oraz sterujący system komputerowy uruchamiany w systemie Windows XP lub nowszym i obsługującym spektrometr EDX, analizujący i zapamiętujący dane. Wraz z systemem komputerowym musi być dostarczony 19 calowy monitor LCD, microsoft Office oraz oprogramowanie do akwizycji i analizy jakościowej składu próbki w czasie rzeczywistym z najbardziej obszerna bazą danych. Jednostka sterująca mikroanalizator musi: być wyposażona w hybrydowy procesor pulsowy, musi posiadać ekstremalnie niski czas martwy, posiadać oprogramowanie do automatycznej kontroli kalibracji sygnału. Minimalne wymagania komputera PC do obsługi systemu EDX: - processor 2 GHz Intel Core 2 Duo, - pamięć RAM - 2 GB DDR z możliwością, rozbudowy do 4GB, min. 2 wolne sloty, - dysk twardy nie mniej niż 160GB S-ATA - napęd optyczny DVD+/-R/RW, - mysz optyczna z pokrętłem, klawiatura, - karta sieciowa 10/100/1000 Base TX - standartowe porty komputera np. (USB2.0, równoległe). Wraz z układem spektrometru musi być dostarczony stół na którym on będzie ustawiony. Test rozdzielczości będzie podstawą odbioru technicznego. II Zadanie 2 Zakup systemu katodoluminescencji CL System katodoluminescencji wraz z maksymalnym wyposażeniem musi być fabrycznie nowy (rok produkcji 2010), dobrej jakości, kompatybilny z istniejącym mikroskopem SEM i musi posiadać właściwości typowe dla towaru tego rodzaju zwyczajowo przyjęte w obrocie międzynarodowym. Stanowisko do pomiaru katodoluminescencji musi składać się z układu do katodoluminescencji, dodatkowego systemu SEM do pomiarów niskotemperaturowych, stolika niskotemperaturowego oraz modułu Peltier. A. Układ do pomiaru katodoluminescencji Układ do CL musi działać z dodatkową komorą niskotemperaturową SEM opisaną w punkcie B. Układ do CL musi ponadto mieć możliwość pracy z mikroskopem Nano Workstation ZEISS Neon 40 wersja Auriga przy użyciu istniejącego już kolektora sygnału CL (firmy EMSystems) i światłowodu wprowadzonego do jednego z wejść spektrometru.

1. Kolektor sygnału CL wewnątrz dodatkowej niskotemperaturowej komory SEM - musi być kompatybilny z dodatkową komorą SEM opisaną w punkcie B wyposażoną w stolik niskotemperaturowy punkt C - musi zawierać: i) mechanizm do zbierania sygnału CL mający możliwość wycofania o co najmniej 200mm - mechanizm ten musi posiadać możliwość mikro-pozycjonowania w kierunku x,y w wysokiej próżni - mechanizm ten musi posiadać wymienny uchwyt na zwierciadło ii) zwierciadło paraboliczne o efektywności kolekcji sygnału większej niż 85 % - zwierciadło musi posiadać duży współczynnik odbicia w zakresie spektralnym co najmniej od 185nm do 2000nm - zwierciadło musi mieć możliwość precyzyjnego mikropozycjonowania - obecność zwierciadła musi dawać możliwość ustawienia minimalnej odległości pracy (working distance) nie większej niż 13 mm iii) flanszę pozwalającą na zamontowanie mechanizmu zbierania sygnału CL 2. Wyprowadzenie sygnału CL do detektorów - układ powinien zawierać wszystkie konieczne elementy zarówno mechaniczne, jak i optyczne do wyprowadzenia sygnału CL z komory SEM bezpośrednio do spektrometru optycznego. Elementy optyczne nie mogą zniekształcać sygnału CL (brak chromatycznych aberracji optycznych). - możliwość skierowania sygnału CL do co najmniej trzech różnych układów detekcyjnych (switch box) - układ do detekcji sygnału CL musi znajdować się na oddzielnym stole o rozmiarach odpowiadających rozmiarom detektorów (spektrometru optycznego, CCD) oraz posiadającym izolację od niewielkich drgań podłogi. - układ powinien mieć możliwość włożenia elementów optycznych takich jak filtry lub polaryzatory optyczne 3. Detekcja sygnału i) Spektrometr optyczny Spektrometr optyczny musi posiadać: - długość ogniskowa 320 mm lub więcej, -apertura numeryczna w zakresie f/4.1 - f/6.4 (współczynnik apertury) -dwa wejścia oraz dwa wyjścia, - jedno wejście musi posiadać adapter do światłowodu. - szczeliny wejściowe sterowane komputerowo, - lustro obrotowe (swing mirror) do wyjścia bocznego sterowane komputerowo, - mechanizm z 3 siatkami dyfrakcyjnymi umożliwiający pomiary na każdej z nich bez konieczności ich wyjmowania. (triplet grating turret) -3 siatki dyfrakcyjne: a) 2400 l/mm holograficzna optymalizowana na 300-800nm i blazowana na 400nm b) 600 l/mm blazowana na 500nm c) 300 l/mm blazowana na 600nm

- konstrukcja monochromatora musi dawać możliwość wymiany siatek dyfrakcyjnych - adapter optymalizowany na port obrazujący (z fotopowielaczem) - adapter optymalizowany na port z kamerą CCD - rozdzielczość ze szczeliną wyjściową i fotopowielaczem: 0.06 nm lub lepsza - dostępny zakres długości fal co najmniej 300nm 1700nm - dokładność ustawienia długości fali nie większa niż ±0.2 nm - powtarzalność ustawienia długości fali nie gorsza niż ±0.075 nm - wielkość kroku spektralnego 0,002 nm lub lepsza, - światło rozproszone: nie więcej niż 1.5 10-4 (1 nm od linii laserowej w 514 nm) z siatką 1200 linii/mm blazowaną na 435 nm -możliwość obrazowania -oprogramowanie pozwalające na wykonywanie pomiarów CL (widma, mapy monochromatyczne i polichromatyczne) i zapis danych w formacie ASCII ii) Fotopowielacz: - powinien być połączony bezpośrednio ze spektrometrem optycznym, - minimalny zakres widmowy 200 nm - 860 nm, - zasilacz wysokiego napięcia dający minimalny zakres napięć: 200V - 1200V, - osłona chłodzona wodą - przynajmniej16 bitowy interfejs do zbieranie sygnału, - powinien posiadać wszystkie dodatkowe elementy konieczne do mapowania CL zarówno z mikroskopu elektronowego opisanego w punkcie B, jak i mikroskopu Nano Workstation ZEISS Neon 40 wersja Auriga - moduł zliczania fotonów (photon counting mode) iii) Kamera CCD - CCD sensor typu open electrode -aktywne piksele przynajmniej 1024 x 256 - rozmiar piksela: 26 µm x 26µm - chłodzenie termoelektryczne - wewnętrzna przesłona (shutter) sterowana komputerowo - USB 2.0 interfejs - zakres spektralny co najmniej: 330nm 950 nm - efektywność kwantowa dla 350 nm nie mniejsza niż 40% i dla 550 nm nie mniejsza niż 50% (do oferty należy dołączyć krzywe efektywności kwantowej) - szybkości skanowania (scan rates): 1 MHz, 20 MHz - szum odczytu (read noise): nie więcej niż 8 elektronów rms (dla 20 khz) - ciemny prąd nie większy niż 0.010 elektronów / piksel / sek. - nieliniowość mniejsza niż 0.4% dla 20kHz i mniejsza niż 1% dla 1 MHz - drivery konieczne do wykonywanie pomiarów CL (widma, mapy monochromatyczne i polichromatyczne) iv) Układ do mapowania polichromatycznego przy użyciu detektora jedno-kanałowego (single channel detection) musi zawierać: - fotopowielacz: detektor o wysokiej czułości działający w zakresie spektralnym przynajmniej: 200nm -850nm - przedwzmacniacz prądowy o dużej szybkości (high speed) - oddzielny mechanizm pozwalający na kontrolę jasności i kontrastu w mapach polichromatycznych - zasilacz wysokiego napięcia - przynajmniej 16 bitowy interfejs - mechaniczną przesłonę

- moduł zliczania fotonów (photon counting mode) - oprogramowanie pozwalające na wykonywanie map polichromatycznych - musi działać z dodatkową komorą SEM opisaną w punkcie B v) Dwa zewnętrzne kontrolery wiązki elektronowej: a) jeden musi przejmować wiązkę elektronową z dodatkowego mikroskopu SEM opisanego w punkcie B, drugi musi przejmować wiązkę elektronową z mikroskopu Nano Workstation ZEISS Neon 40 wersja Auriga. Obydwa kontrolery muszą zawierać: -analogowe sygnały wychodzące: X,Y (0-10 volts) -rozdzielczość 16 bitową -możliwość mapowania -moduł zliczania fotonów (photon counting mode) -interfejs USB 2.0 -skan liniowy (Linescan) vi) Oprogramowanie i komputer - oprogramowanie umożliwiające całkowitą kontrolę zarówno nad spektrometrem optycznym, detektorem CCD oraz zewnętrznym kontrolerem wiązki elektronowej - możliwość opracowywania danych, - możliwość zapisu danych w formacie acii, umożliwiającym obróbkę w innych dostępnych programach - importowanie i eksportowanie plików - możliwość mapowania polichromatycznego i monochromatycznego - komputer przynajmniej 4GB RAM, 200 GB dysk twardy - monitor LCD minimum 19 cali - interfejs USB 2.0 vii) Wyprowadzenie sygnału z mikroskopu SEM Neon 40 wersja Auriga do spektrometru optycznego - Światłowód wielokanałowy (multichannel) łączący mikroskop Nano Workstation ZEISS Neon 40 wersja Auriga i spektrometr optyczny o długości 9 m dostosowany do światła o długości fali z zakresu 340nm- 900nm. - Przejściówka optyczna z istniejącego światłowodu zamontowanego na mikroskopie Zeiss Neon 40 wersja Auriga (firmy EMS Systems) do światłowodu wchodzącego do spektrometru optycznego nie wykazująca aberracji chromatycznych. B. Dodatkowy komora SEM do pomiarów niskotemperaturowych Wymagane minimalne parametry i wyposażenie: 1. Dodatkowa komora SEM musi być wyposażona w działo elektronowe z katodą LaB 6 oraz musi mieć możliwość pracy z katodą wolframową W. Z dodatkową komorą musi być dostarczona jedna katoda LaB 6 oraz przynajmniej 3 katody wolframowe. Podstawowe cechy kolumny działa elektronowego: - musi być elektromagnetyczne automatyczne lub manualne centrowanie wiązki elektronowej, - przynajmniej trzy wyjustowane soczewki optyczno-elektroniczne,

- przynajmniej dwie przesłony końcowe, - komputerowa kontrola soczewek dająca optymalne zdolności rozdzielcze, prądy próby, optymalną głębie ostrości szczególnie przy niskich powiększeniach, szerokie pole widzenia (Field Mode), 2. Zdolność rozdzielcza mikroskopu (dla katody LaB 6 ) nie może być gorsza niż: - 2 nm przy napięciu przyspieszającym 30 kv dla obrazów w trybie SE (elektronów wtórnych), - 10 nm przy napięciu przyspieszającym 3kV dla obrazów w trybie SE (elektronów wtórnych), - 15 nm przy napięciu przyspieszającym 1kV dla obrazów w trybie SE (elektronów wtórnych), - 4.5 nm przy napięciu przyspieszającym 30kV dla obrazów w trybie BSE w modzie niskiej próżni. Zdolność rozdzielcza mikroskopu (dla katody W) nie może być gorsza niż: - 3 nm przy napięciu przyspieszającym 30 kv dla obrazów w trybie SE (elektronów wtórnych), - 10 nm przy napięciu przyspieszającym 3kV dla obrazów w trybie SE (elektronów wtórnych), - 20 nm przy napięciu przyspieszającym 1kV dla obrazów w trybie SE (elektronów wtórnych), - 4.5 nm przy napięciu przyspieszającym 30kV dla obrazów w trybie BSE w modzie niskiej próżni. Test rozdzielczości będzie podstawą odbioru technicznego. 3. Bezolejowy układ próżniowy (do wysokiej próżni): pompa turbomolekularna (nie mniej niż 210 l/sek ) + bezolejowa pompa do próżni wstępnej typu scroll. Komora działa elektronowego musi być pompowana co najmniej jedną pompą jonową i odcinana zaworem od reszty kolumny. System próżniowy musi być w pełni zautomatyzowany z elektromechanicznymi zaworami. Sonda próżniowa typu Penning (lub lepsza) używana do pomiaru próżni. Sonda typu Pirani (lub lepsza) używana do pomiaru ciśnienia. 4. Napięcie przyśpieszające: regulowane cyfrowo w zakresie nie mniejszym niż 0.2-30 kv. Zmienne krokowo w krokach nie większych niż 10V. 5. Minimalny zakres powiększeń mikroskopu: od 5 razy do 900 000 razy 6. Interfejs pozwalający na zewnętrzną kontrolę systemu skanującego mikroskopu (zarówno przez układ CL, jak i EDX ) (X-ray and external scan input panel kit). 7. Detektory: mikroskop musi być wyposażony w co najmniej następujące detektory: - detektor obrazu elektronów wtórnych SE Everhart-Thornley, zamontowany wewnątrz komory mikroskopu z optycznie sprzężonym fotopowielaczem. Regulacja napięcia kolektora detektora SE co najmniej od 250V do +400V.

- detektor elektronów wstecznie rozproszonych wysokiej czułości 5QBSD, zamocowany na soczewce końcowej. Musi być minimum 6 wejść dla detektorów z możliwością mieszania sygnałów w dowolnym stosunku, Wymienione detektory muszą mieć możliwość pracy w niskiej próżni. 8. Detektory powinny być umieszczone w sposób umożliwiający jednoczesne obrazowanie przy użyciu wiązki elektronowej oraz CL. 9. Regulacja ciągła cyfrowa wartości prądu wiązki na próbce (probe current) w zakresie minimum od 0.5 pa do 5μA, (zwiększanie prądu bez degradacji zdolności rozdzielczej). System ma zawierać cyfrowy miernik prądu próbki (pikoamperomierz) mierzący w zakresach od 0,1 pa do 10μA, minimum 6 zakresów pomiarowych i minimum 5 cyfr znaczących. Regulacja prądu wiązki za pomocą minimum 2 apertur. Test stabilności prądu będzie podstawą odbioru technicznego. 10. Musi istnieć tryb pracy z dzielonym ekranem (Dual-channel) 11. Stolik automatyka na 5 osiach - Minimalne możliwości ruchu stolika: Oś X - 100 mm Oś Y 120 mm Oś Z 50 mm Pochylenie: 0-90 płynnie Rotacja: 360 ciągła - Stolik musi umożliwiać wprowadzenia lustra parabolicznego do zbierania CL. - Stolik ponadto musi mieć możliwość ustawienia się odległości roboczej 13 mm (przy wysokości próbek około 0.5 mm) wymaganej przez układ do CL. Musi być zamontowany alarm w razie dotyku stolika z kolumną działa. Musi być możliwość zapisu i odczytu współrzędnych stolika. 12. Porty: przynajmniej 8 portów, przy czym: - przynajmniej jeden port horyzontalny o średnicy zewnętrznej > 45 mm umożliwiający montaż układu CL - porty do chłodzenia stolika (2 porty w drzwiach-dopływ ciekłego helu, 1 port przepust elektryczny do pomiaru i regulacji temperatury) - porty na detektory SE, BSE - port na EDX. 13. Cyfrowy zapis obrazu: - maksymalna rozdzielczość przynajmniej 3072x2304 pixeli, 16 bitów, - integracja obrazu, - musi istnieć możliwość cyfrowej rejestracji obrazów w co najmniej następujących przyjętych standardach: TIFF, BMP i JPEG, - musi istnieć możliwość uśredniania pikseli przy wszystkich szerokościach skanowania, - uśrednianie ciągłe obrazów, integracja obrazów, integracja linii, od maksymalnie 2 do minimalnie 255 obrazów-linii, - kolory z palety zawierającej min 16 milionów kolorów,

- musi istnieć możliwość podziału obrazu (Split screen), - musi być możliwość obróbki zapisanego obszaru, - na zdjęciu musi istnieć możliwość dodania do zdjęcia paska na którym jest zapisane powiększenie, odległość robocza, EHT, podziałka, data itp. 14. Opcje skanowania: - przynajmniej 14 prędkości skanowania, - TV mode, - system musi posiadać co najmniej następujące tryby skanowania: skan po całym kadrze, skan w oknie o dowolnie zmienianych rozmiarach, skany liniowe wzdłuż osi X (poziomej) i osi Y (pionowej), skan rotacyjny 360 stopni, oraz tryb punktowy (wiązka stacjonarna) w różnych tempach skanowania, 15. Dodatkowa komora musi mieć możliwości pracy w niskiej próżni od max 10 do min 390 Pa. 16. W komorze muszą być zainstalowane co najmniej jedna kamery IR CCD z podświetlaniem (IR-illumination.) do podglądu wnętrza komory próbki. Obraz z kamer wyświetlany na monitorze LCD. 17. Dodatkowa komora SEM musi być chłodzona powietrzem lub wodą po to aby zapewnić lepsza stabilność działa i powtarzalność jego parametrów. 18. Dodatkowa komora SEM musi być ustawiona na poduszkach powietrznych po to aby zapewnić lepsza stabilność komory mikroskopu. 19. Wraz z dodatkową komorą musi być dostarczona jednostka sterująca jej pracą. Jednostka sterująca (komputer) z systemem wyświetlania obrazu na dwóch płaskich kolorowych monitorach LCD minimum 19 z właściwym oprogramowaniem (Windows XP lub wyższy), wyposażona w system nagrywania obrazów i raportów system do analizy, obróbki i prezentacji danych wraz z akcesoriami niezbędnymi do pracy. 20. Oprogramowanie sterujące mikroskopem i wszystkie aplikacje specjalistyczne występujące w oferowanym instrumencie powinny być uruchamiane w systemie operacyjnym MS Windows XP (lub wyższym) i kompatybilne z innymi standardowymi programami środowiska Microsoft Windows. 21. Oprogramowanie do obsługi mikroskopu musi: - zapewniać całkowitą jego obsługę, - zapewniać zasilanie soczewek, - zapewniać zmianę warunków skanowania, wskaźnik pozycji skanu, - zawierać wszystkie parametry potrzebne do obrazowania i możliwość ich zmian, - zapewniać kontrolę próżni w komorze, - zapewniać możliwość nagrywania zdjęć, - zapewniać kontrole i sterowanie stolika w 6 osiach za pomocą podwójnego joystika, - automatyczne i ręczne sterowanie parametrami emitera, - monitorować pozycje wszystkich urządzeń w mikroskopie aby uniknąć kolizji tych urządzeń.

- wyświetlać parametry emitera oraz jego stan, - zawierać korektor dryftu, - zapewniać kontrolę prądu katody, - zapewniać możliwość konfiguracji systemu przez użytkownika, - zawierać makro generator do automatyzacji systemu, - zapewniać automatyczna bądź manualna kontrolę większości funkcji, - zawierać automatyczną funkcją niskich wartości powiększenia (Automatic Low Magnification), - zapewniać automatyczną kontrolę nasycenia wiązki, - zapewniać automatyczną kontrolę odchylenia wiązki na końcu obrazu (wybór przez użytkownika) - preselekcje wielu funkcji przez użytkownika, - wobler soczewek (szybkość i amplituda) - automatyczna kontrola kontrastu, jasności, ustawienia ostrości, astygmatyzmu - automatyczne ustawienie parametrów fotografowania - automatyczne ogniskowanie, - automatyczna korekcja astygmatyzmu - automatyczne ustawianie parametrów fotografowania, cyfrowy zoom, - możliwość rotacji wykonanego zdjęcia, - histogram, - korekcja gamma (Gamma and LUT transforms), - zapamiętywanie warunków roboczych, - zapamiętywanie wszystkich parametrów zdjęcia, - możliwość wyświetlania obrazu live na większej części ekranu. System mikroskopu elektronowego musi zawierać zintegrowany program do interaktywnych pomiarów odległości, pól powierzchni i kątów bezpośrednio na ekranie monitora z automatycznym zapisem rezultatów pomiaru. 22. Musi być dostarczone oprogramowanie pozwalające użytkownikowi na rysowanie prostokąta na wybranym obszarze próbki w niskim powiększeniu, który natychmiast staje się centralnym obszarem mikroskopu. Nowe powiększenie musi być zależne od wielkości prostokąta. Kliknięcie na dowolny punkt na obrazie musi powodować że staje się on centralnym punktem na monitorze. 23. System musi zawierać panel kontrolny składający się z: - zintegrowanej klawiatury, przycisków i systemu pokręteł pozwalających na cyfrową regulacją podstawowych, często używanych parametrów i funkcji takich jak: jasność, kontrast, powiększenie, fokus, rotacja skanu, stygmator, zredukowane okno skanowania, wobbler, - podwójnego joystika którego zadaniem jest kontrola stolikiem w 5 osiach. 24. Wykonawca zainstaluje oprogramowanie do obsługi mikroskopu dostarczy bezterminową licencje na jego użytkowanie, obejmujące wymianę komputera. Dostarczy także komplet instalacyjnych CD. 25. Minimalne wymagania komputera PC do obsługi mikroskopu: - processor 3 GHz Intel Core 2 Duo, - pamięć RAM - 2 GB DDR z możliwością, rozbudowy do 4GB, min. 2 wolne sloty, - dysk twardy nie mniej niż 160GB S-ATA - napęd optyczny DVD+/-R/RW, - mysz optyczna z pokrętłem, klawiatura, - karta sieciowa 10/100/1000 Base TX - standartowe porty komputera np. (USB2.0, równoległe), - system Windows XP lub wyższy

C. Stolik niskotemperaturowy do dodatkowej komory SEM Stolik niskotemperaturowy musi być zainstalowany w dodatkowej komorze SEM opisanej w punkcie B poprzez wyjęcie standartowego stolika mikroskopu. Po zamontowaniu stolika niskotemperaturowego musimy mieć możliwość zbierania sygnału CL i obrazowania. 1. Minimalny zakres osiąganych temperatur: 5K - 300K. 2. Wraz ze stolikiem muszą być dostarczone wszystkie niezbędne elementy koniczne do uzyskiwania niskich temperatur takie jak: transfer helowy, przepusty helowe i elektryczne. 3. Kontrola temperatury: preferowany diodowy sensor temperatury z kontrolerem LakeShore 4. Pompowanie bezolejowe pompa scroll 5. Minimalny zakres ruchów stolika: X, Y, Z 15mm x 15mm x 40mm 6. Musi być dostarczony uniwersalny pojemnik do przechowywania stolika niskotemperaturowego oraz oryginalnego stolika mikroskopowego. Test temperatur i ich stabilność będzie podstawą odbioru technicznego. D: Moduł Peltier Moduł Peltier musi być zainstalowany w mikroskopie Nano Workstation ZEISS Neon 40 wersja Auriga. Po jego zamontowaniu musimy mieć możliwość zbierania sygnału CL i obraowania. 1. Minimalny zakres osiąganych temperatur: od -50 C do +100 C. 2. Dokładność odczytu temperatury nie gorsza niż ±1 C 3. Stabilność temperatury nie gorsza niż ±0.1 C 4. Szybkość zmian temperatury nie mniejsza niż 30 C na minutę 5. Wraz ze stolikiem muszą być dostarczone wszystkie niezbędne elementy koniczne do jego prawidłowego działania takie jak: flansze, przepusty elektryczne i wodne do chłodzenia, pojemnik na wodę, kable, pompa 6. Kontroler temperatury PID musi być w zestawie 7. Moduł Peltier musi być montowany na oryginalnym stoliku Zeissa 8. Moduł musi mieć możliwość przechyłu do co najmniej 55 9. Moduł musi mieć możliwość ruchu w płaszczyźnie XY co najmniej ± 50mm 10. Wysokość modułu powinna wynosić co najwyżej 20mm. Test temperatur i ich stabilność będzie podstawą odbioru technicznego. pieczęć imienna i podpis Oferenta

pieczęć adresowa Oferenta data Oświadczenie Przystępując do postępowania w sprawie udzielenia zamówienia publicznego oświadczam/y, że spełniam/y warunki udziału w niniejszym postępowaniu zawarte w art. 22 ust. 1 Ustawy - Prawo Zamówień Publicznych, który stanowi, że: O udzielenie zamówienia mogą ubiegać się wykonawcy, którzy spełniają warunki, dotyczące: 1) posiadania uprawnień do wykonywania określonej działalności lub czynności, jeżeli przepisy prawa nakładają obowiązek ich posiadania; 2) posiadania wiedzy i doświadczenia; 3) dysponowania odpowiednim potencjałem technicznym oraz osobami zdolnymi do wykonania zamówienia; 4) sytuacji ekonomicznej i finansowej.. podpis i pieczęć imienna Oferenta

pieczęć adresowa Oferenta data Oświadczenie Przystępując do postępowania w sprawie udzielenia zamówienia publicznego oświadczam/y, że nie podlegam/y wykluczeniu zgodnie z Art. 24 ust. 1 Ustawy - Prawo Zamówień Publicznych, który stanowi, że: 1. Z postępowania o udzielenie zamówienia wyklucza się: 1) wykonawców, którzy wyrządzili szkodę, nie wykonując zamówienia lub wykonując je nienależycie, jeżeli szkoda ta została stwierdzona orzeczeniem sądu, które uprawomocniło się w okresie 3 lat przed wszczęciem postępowania; 2) wykonawców, w stosunku do których otwarto likwidację lub których upadłość ogłoszono, z wyjątkiem wykonawców, którzy po ogłoszeniu upadłości zawarli układ zatwierdzony prawomocnym postanowieniem sądu, jeżeli układ nie przewiduje zaspokojenia wierzycieli przez likwidację majątku upadłego; 3) wykonawców, którzy zalegają z uiszczeniem podatków, opłat lub składek na ubezpieczenia społeczne lub zdrowotne, z wyjątkiem przypadków gdy uzyskali oni przewidziane prawem zwolnienie, odroczenie, rozłożenie na raty zaległych płatności lub wstrzymanie w całości wykonania decyzji właściwego organu; 4) osoby fizyczne, które prawomocnie skazano za przestępstwo popełnione w związku z postępowaniem o udzielenie zamówienia, przestępstwo przeciwko prawom osób wykonujących pracę zarobkową, przestępstwo przeciwko środowisku, przestępstwo przekupstwa, przestępstwo przeciwko obrotowi gospodarczemu lub inne przestępstwo popełnione w celu osiągnięcia korzyści majątkowych, a także za przestępstwo skarbowe lub przestępstwo udziału w zorganizowanej grupie albo związku mających na celu popełnienie przestępstwa lub przestępstwa skarbowego; 5) spółki jawne, których wspólnika prawomocnie skazano za przestępstwo popełnione w związku z postępowaniem o udzielenie zamówienia, przestępstwo przeciwko prawom osób wykonujących pracę zarobkową, przestępstwo przeciwko środowisku, przestępstwo przekupstwa, przestępstwo przeciwko obrotowi gospodarczemu lub inne przestępstwo popełnione w celu osiągnięcia korzyści majątkowych, a także za przestępstwo skarbowe lub przestępstwo udziału w zorganizowanej grupie albo związku mających na celu popełnienie przestępstwa lub przestępstwa skarbowego; 6) spółki partnerskie, których partnera lub członka zarządu prawomocnie skazano za przestępstwo popełnione w związku z postępowaniem o udzielenie zamówienia, przestępstwo przeciwko prawom osób wykonujących pracę zarobkową, przestępstwo przeciwko środowisku, przestępstwo przekupstwa, przestępstwo przeciwko obrotowi gospodarczemu lub inne przestępstwo popełnione w celu osiągnięcia korzyści majątkowych, a także za przestępstwo skarbowe lub przestępstwo udziału w zorganizowanej grupie albo związku mających na celu popełnienie przestępstwa lub przestępstwa skarbowego; 7) spółki komandytowe oraz spółki komandytowo-akcyjne, których komplementariusza prawomocnie skazano za przestępstwo popełnione w związku z postępowaniem o udzielenie zamówienia, przestępstwo przeciwko prawom osób wykonujących pracę zarobkową, przestępstwo przeciwko środowisku, przestępstwo przekupstwa, przestępstwo przeciwko obrotowi gospodarczemu lub inne przestępstwo popełnione w celu osiągnięcia korzyści majątkowych, a także za przestępstwo skarbowe lub przestępstwo udziału w zorganizowanej grupie albo związku mających na celu popełnienie przestępstwa lub przestępstwa skarbowego; 8) osoby prawne, których urzędującego członka organu zarządzającego prawomocnie skazano za przestępstwo popełnione w związku z postępowaniem o udzielenie zamówienia, przestępstwo przeciwko prawom osób wykonujących pracę zarobkową, przestępstwo przeciwko środowisku, przestępstwo przekupstwa, przestępstwo przeciwko obrotowi gospodarczemu lub inne