1.2 Funktory z otwartym kolektorem (O.C)

Podobne dokumenty
Podstaw Elektroniki Cyfrowej Wykonał zespół w składzie (nazwiska i imiona): Dzień tygodnia:

4. Funktory CMOS cz.2

3. Funktory CMOS cz.1

LABORATORIUM. Technika Cyfrowa. Badanie Bramek Logicznych

1. Funktory TTL cz.1

Badanie właściwości multipleksera analogowego

Państwowa Wyższa Szkoła Zawodowa

Państwowa Wyższa Szkoła Zawodowa

ĆWICZENIE LABORATORYJNE. TEMAT: Badanie wzmacniacza różnicowego i określenie parametrów wzmacniacza operacyjnego

LABORATORIUM ELEKTRONIKA. Opracował: mgr inż. Tomasz Miłosławski

Ćwiczenie 7 PARAMETRY MAŁOSYGNAŁOWE TRANZYSTORÓW BIPOLARNYCH

LABORATORIUM TECHNIKA CYFROWA BRAMKI. Rev.1.0

Ćw. 8 Bramki logiczne

Oscyloskop. Dzielnik napięcia. Linia długa

Tranzystory bipolarne. Właściwości dynamiczne wzmacniaczy w układzie wspólnego emitera.

KATEDRA ELEKTRONIKI AGH WYDZIAŁ EAIIE. Dydaktyczny model 4-bitowego przetwornika C/A z siecią rezystorów o wartościach wagowych

Podstawowe układy cyfrowe

Badanie właściwości dynamicznych obiektów I rzędu i korekcja dynamiczna

ĆWICZENIE LABORATORYJNE. TEMAT: Badanie liniowych układów ze wzmacniaczem operacyjnym (2h)

Podstawy Elektroniki dla Informatyki. Tranzystory unipolarne MOS

Uśrednianie napięć zakłóconych

Ćw. 7 Przetworniki A/C i C/A

Instrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego

Ćwiczenie 25 Temat: Interfejs między bramkami logicznymi i kombinacyjne układy logiczne. Układ z bramkami NOR. Cel ćwiczenia

Państwowa Wyższa Szkoła Zawodowa

Przetworniki AC i CA

ELEKTRONIKA. Generatory sygnału prostokątnego

WZMACNIACZ NAPIĘCIOWY RC

Tranzystory bipolarne. Podstawowe układy pracy tranzystorów.

Ćwiczenie 23. Temat: Własności podstawowych bramek logicznych. Cel ćwiczenia

ĆWICZENIE NR 1 TEMAT: Wyznaczanie parametrów i charakterystyk wzmacniacza z tranzystorem unipolarnym

Ćwiczenie - 9. Wzmacniacz operacyjny - zastosowanie nieliniowe

Podstawy Elektroniki dla Informatyki. Generator relaksacyjny

Ćwiczenie 21. Badanie właściwości dynamicznych obiektów II rzędu. Zakres wymaganych wiadomości do kolokwium wstępnego: Program ćwiczenia:

LABORATORIUM ELEKTRONIKI WZMACNIACZ OPERACYJNY

ZAKŁAD SYSTEMÓW ELEKTRONICZNYCH I TELEKOMUNIKACYJNYCH Laboratorium Podstaw Telekomunikacji WPŁYW SZUMÓW NA TRANSMISJĘ CYFROWĄ

ĆWICZENIE LABORATORYJNE. TEMAT: Badanie generatorów sinusoidalnych (2h)

INSTRUKCJA DO ĆWICZENIA BADANIE STANDARDOWEJ BRAMKI NAND TTL (UCY 7400)

Badanie wzmacniacza niskiej częstotliwości

Systemy cyfrowe z podstawami elektroniki i miernictwa Wyższa Szkoła Zarządzania i Bankowości w Krakowie Informatyka II rok studia

Ćwiczenie 26. Temat: Układ z bramkami NAND i bramki AOI..

Podstawy Elektroniki dla Teleinformatyki. Generator relaksacyjny

Badanie diody półprzewodnikowej

BADANIE UKŁADÓW CYFROWYCH. CEL: Celem ćwiczenia jest poznanie właściwości statycznych układów cyfrowych serii TTL. PRZEBIEG ĆWICZENIA

WZMACNIACZ ODWRACAJĄCY.

Laboratorium Przyrządów Półprzewodnikowych Laboratorium 1

TRANZYSTOROWY UKŁAD RÓŻNICOWY (DN 031A)

Bogdan Olech Mirosław Łazoryszczak Dorota Majorkowska-Mech. Elektronika. Laboratorium nr 3. Temat: Diody półprzewodnikowe i elementy reaktancyjne

PRACOWNIA ELEKTRONIKI

Podstawy Elektroniki dla Tele-Informatyki. Tranzystory unipolarne MOS

Bramki logiczne. 2. Cele ćwiczenia Badanie charakterystyk przejściowych inwertera. tranzystorowego, bramki 7400 i bramki

Ćwiczenie 2 Mostek pojemnościowy Ćwiczenie wraz z instrukcją i konspektem opracowali P.Wisniowski, M.Dąbek

Imię i nazwisko (e mail) Grupa:

Elektronika. Wzmacniacz tranzystorowy

Sprzęt i architektura komputerów

PRZEŁĄCZANIE DIOD I TRANZYSTORÓW

Układy i Systemy Elektromedyczne

Podstawowe zastosowania wzmacniaczy operacyjnych

PRACOWNIA ELEKTRONIKI

Tranzystory bipolarne. Właściwości wzmacniaczy w układzie wspólnego kolektora.

Bramki TTL i CMOS 7400, 74S00, 74HC00, 74HCT00, 7403, 74132

Ćwiczenie 31 Temat: Analogowe układy multiplekserów i demultiplekserów. Układ jednostki arytmetyczno-logicznej (ALU).

Badanie działania bramki NAND wykonanej w technologii TTL oraz układów zbudowanych w oparciu o tę bramkę.

Katedra Przyrządów Półprzewodnikowych i Optoelektronicznych Laboratorium Przyrządów Półprzewodnikowych. Ćwiczenie 4

Laboratorium elektroniki. Ćwiczenie E14IS. Elementy logiczne. Wersja 1.0 (29 lutego 2016)

NIEZBĘDNY SPRZĘT LABORATORYJNY

CHARAKTERYSTYKI BRAMEK CYFROWYCH TTL

Wprowadzenie do programu MultiSIM

Wzmacniacze napięciowe z tranzystorami komplementarnymi CMOS

Tranzystory w pracy impulsowej

Podstawy Elektroniki dla Informatyki. Wzmacniacze operacyjne

Elektronika. Wzmacniacz operacyjny

Statyczne badanie wzmacniacza operacyjnego - ćwiczenie 7

POMIARY WYBRANYCH PARAMETRÓW TORU FONICZNEGO W PROCESORACH AUDIO

Państwowa Wyższa Szkoła Zawodowa

Ćwiczenie 21 Temat: Komparatory ze wzmacniaczem operacyjnym. Przerzutnik Schmitta i komparator okienkowy Cel ćwiczenia

Systemy cyfrowe z podstawami elektroniki i miernictwa Wyższa Szkoła Zarządzania i Bankowości w Krakowie Informatyka II rok studia dzienne

Wzmacniacze napięciowe z tranzystorami komplementarnymi CMOS

BADANIE ELEMENTÓW RLC

Wydział Elektrotechniki, Automatyki, Informatyki i Elektroniki Katedra Elektroniki

Przetwarzanie energii elektrycznej w fotowoltaice. Ćwiczenie 12 Metody sterowania falowników

Bierne układy różniczkujące i całkujące typu RC

TRANZYSTORY BIPOLARNE

Ćw. 0: Wprowadzenie do programu MultiSIM

Badanie układów aktywnych część II

Podstaw Elektroniki Cyfrowej Wykonał zespół w składzie (nazwiska i imiona):

Ćwiczenie 14. Temat: Wzmacniacz w układzie wspólnego kolektora. Cel ćwiczenia

Systemy i architektura komputerów

LABORATORIUM ELEKTRONIKI WZMACNIACZ MOCY

I= = E <0 /R <0 = (E/R)

Politechnika Białostocka

Politechnika Białostocka

Zakłócenia równoległe w systemach pomiarowych i metody ich minimalizacji

LABORATORIUM ELEKTRONIKI WZMACNIACZ MOCY

Ćwiczenie 22. Temat: Przerzutnik monostabilny. Cel ćwiczenia

WZMACNIACZ OPERACYJNY

płytka montażowa z tranzystorami i rezystorami, pokazana na rysunku 1. płytka montażowa do badania przerzutnika astabilnego U CC T 2 masa

Instrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego nr 7

Przetwarzanie AC i CA

Podstawy Elektroniki dla Informatyki. Pętla fazowa

Transkrypt:

Wydział EAIiIB Laboratorium Katedra Metrologii i Elektroniki Podstaw Elektroniki Cyfrowej Wykonał zespół w składzie (nazwiska i imiona): Ćw. 4. Funktory TTL cz.2 Data wykonania: Grupa (godz.): Dzień tygodnia: 1.2 Funktory z otwartym kolektorem (O.C) 1.2.1 Własności dynamiczne bramki O.C! Zaobserwować własności dynamiczne bramki z otwartym kolektorem. Dobrać! optymalne R C, wyznaczyć wartość pojemności pasożytniczej C p. I5 zał., I6 wył., I7 wył., połącz G6 z G9. Generator: Standard TTL: Amplitude: ustawić HiLev: +5 V, LoLev: 0 V, f = 500 khz do G5. Oscyloskop: do G5, CH2 do G6 (sonda bierna). Zaobserwować przebiegi dla różnych wartości R C (potencjometr P5). Zaobserwować parami przebiegi na oscyloskopie: -a) wyjście z generatora (G5), CH2 wyjście z bramki O.C. (G6 sonda bierna). Zauważyć zmianę kształtu przebiegu dla CH2 - G6 i dla CH2 G11, a także stałe poziomy przy wartościach granicznych R C dla CH2 dla a) i b). Ustawić P5 tak, aby uzyskać przebieg jak na rys. 1.15d. Wartość U wy max =0,4V sprawdzić przy pomocy kursorów (amplituda). Aby zmierzyć wartość optymalną R C opt WYŁĄCZYĆ ZASILANIE, a multimetr (funkcja pomiaru rezystancji) dołączyć do B+ i B13. Teraz załączyć zasilanie i zwiększyć R C aby uzyskać przebieg jak na rys. 1.15b. Posiłkując się kursorami wyznaczyć czas T. Ponownie WYŁĄCZYĆ ZASILANIE i zmierzyć wartość R C. Przy naroście eksponencjalnym (L H) wartość funkcji 1- e dla t=t wynosi 1-e -1 co stanowi 63% wartości maksymalnej. Wyniki pomiarów umieścić w poniższej tabeli. T R C opt [kω] T [ns] R C [kω] C ' [pf] p C R ' p = C p - C osc [pf] C -t T C osc 16pF 1

1.2.2 Funkcje logiczne dla bramek O.C Bezpośrednie łączenie wyjść bramek określone jest nazwą iloczynu montażowego. Ich zwarte wyjścia będą w stanie L, jeśli choć jeden funktor typu O.C będzie w tym stanie.! Określić jaka funkcja logiczna powstaje przy zwarciu wyjść dwóch 2 - wejściowych bramek NAND O.C. (rys. 1.16). I5, I6 zał. Aby zbadać funkcje logiczne, należy najpierw stworzyć tabelkę wszystkich kombinacji a,b,c,d nie według kodu binarnego, lecz według kodu Gray a, co pozwoli nam na minimalizację liczb przełączeń. Kod Gray a posiada tę własność, że pomiędzy kolejnymi wartościami kodu zmiana występuje tylko na jednym bicie. Stany logiczne na G6 należy określić multimetrem (M1: zakres 20V, do B13, Ө do BM). Wyniki zapisać od razu do tabeli Karnaugha. Zmiany stanów wejść a, b, c, d dokonywać podłączając stany logiczne 1 i 0 do B7, B8, B9, B10. a b c d 0 0 0 0 0 0 0 1 0 0 1 1 0 0 1 0 0 1 1 0 0 1 1 1 0 1 0 1 0 1 0 0 1 1 0 0 1 1 0 1 1 1 1 1 1 1 1 0 1 0 1 0 1 0 1 1 1 0 0 1 1 0 0 0 dc ba 00 01 11 10 00 01 11 10 wyjście F (a,b,c,d) Rys. 1.16 Schemat układu dla określenia funkcji logicznej iloczynu montażowego. 2

Zsyntezować funkcję logiczną F na wyjściu pokrywając : a) zera lub b) jedynki (tak aby uzyskać najprostszą funkcję) i doprowadzić do postaci minimalnej. Jakie funktory zastępuje iloczyn montażowy? Uwaga: Jeśli grupujemy zera w tabeli, to funkcję logiczną zapisujemy w postaci iloczynu sum. W skład sum wchodzą zmienne wejściowe, które w obrębie grupy maja stałą wartość (jeżeli te zmienne w pokrytych wierszach i kolumnach są 1 to ich wartość w formule funkcji należy zanegować ). Otrzymany wzór dwukrotnie negujemy i przekształcamy korzystając z praw de Morgana. Prawa de Morgana: a b a b a b a b 1.3 Funktory z wejściem Schmidta! Zmierzyć statyczne wartości U T-, U T+ oraz podać U HIST = U T+ - U T- (szerokość tzw. strefy histerezy). I8 zał., M1: woltomierz zakres 20V, do B11, Ө do BM. M2: woltomierz zakres 20V, do B12, Ө do BM. Pomiarów dokonać regulując P6 (I8 zał.). U T- [V] U T+ [V] U HIST [V] 3

Wartości tych napięć możemy także zmierzyć oscyloskopem podając na wejście np. przebieg sinusoidalny (rys. 1.18). Rys. 1.18 Przebiegi na wyjściu bramki Schmidta w odpowiedzi na sygnał sinusoidalny.! Zmierzyć napięcie progowe i podać wartości napięć U T-, U T+ na podstawie analizy przebiegów czasowych. Uwaga: 1. Ustawić P6 na środek zakresu (~2,5V), I8 zał. Ustawić przebieg sinusoidalny na generatorze: Amplitude: ustawić HiLev: +5 V, LoLev: 0 V, częstotliwość f = 100 khz. Sprawdzić jego parametry na oscyloskopie - kanał, coupling DC. 2. Podłączyć kabel z generatora na wejście G7 bramki Schmidta i równocześnie na wejście oscyloskopu. Do oscyloskopu (kanał CH2) podłączyć wyjście bramki G8. 3. Zmierzyć za pomocą funkcji cursor poziomy U we, przy których następuje zmiana stanów na wyjściu bramki. Wyniki zanotować i porównać z poprzednimi. U T- [V] U T+ [V] U HIST [V] Bramki z wejściem Schmidta stosowane są standardowo na wejściach kart systemów mikroprocesorowych przede wszystkim dla sygnałów synchronizujących, ponieważ przebiegi na magistrali są często zakłócane z różnych przyczyn. Zakłócany sygnał jest wytwarzany w modelu przez dedykowany układ (rys. 1.20a); zakłócony przebieg jest powtarzalny, co ułatwia obserwację na oscyloskopie (rys. 1.20b).! Zaobserwować reakcje na sygnał z zakłóceniami bramki standardowej i bramki z wejściem Schmidta I7 zał., osc.: kanał do G9 zaobserwować sam przebieg z zakłóceniami. Następnie dołączyć CH2 najpierw do G11, a potem do G10. 4

Odrysowane przebiegi należy nanieść na wspólny wykres (odniesiony do przebiegu na kanale z gniazda G9). Wymagane jest także ustawienie poziomu wyzwolenia (pokrętło Tiger Level ) pomiędzy U A a U B. Porównać wykresy. W których okresach stan bramki standardowej został zakłócony? 5