- 1 - wersja z dnia, Kierunek Informatyka, studia stacjonarne, pierwszy stopień, sem. 6. Podstawy inŝynierii barwy. Laboratorium.

Podobne dokumenty
- 1 - wersja z dnia, Kierunek Informatyka, studia stacjonarne, pierwszy stopień, sem. 6. Podstawy inŝynierii barwy. Laboratorium.

Rys 1. Układ do wyznaczania charakterystyko kątowej

TEMAT: POMIAR LUMINANCJI MATERIAŁÓW O RÓśNYCH WŁAŚCIWOŚCIACH FOTOMETRYCZNYCH

OCENA PRACY WZROKOWEJ NA STANOWISKACH KOMPUTEROWYCH W RÓśNYCH WARUNKACH OŚWIETLENIOWYCH

Grupa: Elektrotechnika, Studia stacjonarne, II stopień, sem. 1. wersja z dn Laboratorium Techniki Świetlnej

WARUNKI TECHNICZNE 2. DEFINICJE

Oświetlenie oraz pole elektryczne i magnetyczne na stanowisku do pracy z komputerem.

Ćwiczenie nr 6 Temat: BADANIE ŚWIATEŁ DO JAZDY DZIENNEJ

WYZNACZANIE BRYŁY FOTOMETRYCZNEJ LAMP I OPRAW OŚWIETLENIOWYCH

Ćwiczenie nr 1. Temat: BADANIE OSTROŚCI WIDZENIA W RÓŻNYCH WARUNKACH OŚWIETLENIOWYCH

Temat: WYZNACZANIE OBROTOWO-SYMETRYCZNEJ BRYŁY FOTOMETRYCZNEJ

MINIMALNE WYMAGANIA BEZPIECZEŃSTWA I HIGIENY PRACY ORAZ ERGONOMII, JAKIE POWINNY SPEŁNIĆ STANOWISKA PRACY WYPOSAŻONE W MONITORY EKRANOWE

Instrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego nr 5

Wykonał: Grzegorz Bączek

STUDIA STACJONARNE II STOPNIA wersja z dnia

WSTAWIANIE GRAFIKI DO DOKUMENTU TEKSTOWEGO

EFEKT FOTOWOLTAICZNY OGNIWO SŁONECZNE

LABORATORIUM MECHANIKI PŁYNÓW. Ćwiczenie N 2 RÓWNOWAGA WZGLĘDNA W NACZYNIU WIRUJĄCYM WOKÓŁ OSI PIONOWEJ

Organizacja stanowiska pracy z komputerem:

PL-68 INSTRUKCJA OBSŁUGI

POMIAR ODLEGŁOŚCI OGNISKOWYCH SOCZEWEK. Instrukcja wykonawcza

W polskim prawodawstwie i obowiązujących normach nie istnieją jasno sprecyzowane wymagania dotyczące pomiarów źródeł oświetlenia typu LED.

Ćwiczenie nr 71: Dyfrakcja światła na szczelinie pojedynczej i podwójnej

Badania oświetlenia na przejściu dla pieszych na ulicy Walerego Sławka w Warszawie

Technika świetlna. Przegląd rozwiązań i wymagań dla tablic rejestracyjnych. Dokumentacja zdjęciowa

Ćwiczenie 2 WSPÓŁPRACA JEDNAKOWYCH OGNIW FOTOWOLTAICZNYCH W RÓŻNYCH KONFIGURACJACH POŁĄCZEŃ. Opis stanowiska pomiarowego. Przebieg ćwiczenia

SPOSÓB POMIARU PODSTAWOWYCH PARAMETRÓW OŚWIETLENIA

Bezpieczne przejście Bogdan Mężyk

Instrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego nr 11

WYZNACZANIE WSPÓŁCZYNNIKA ZAŁAMANIA SZKŁA ZA POMOCĄ SPEKTROMETRU CZĘŚĆ (A-zestaw 1) Instrukcja wykonawcza

WYZNACZANIE WSPÓŁCZYNNIKA ZAŁAMANIA SZKŁA ZA POMOCĄ SPEKTROMETRU.

1. Opis okna podstawowego programu TPrezenter.

ĆWICZENIE 41 POMIARY PRZY UŻYCIU GONIOMETRU KOŁOWEGO. Wprowadzenie teoretyczne

BADANIE INTERFEROMETRU YOUNGA

Systemy Ochrony Powietrza Ćwiczenia Laboratoryjne

Definicje podstawowych pojęć występujących w normie PN-EN : 2004

III Międzynarodowa Konferencja PROBLEMY EKSPLOATACJI I ZARZĄDZANIA ZRÓWNOWAŻONYM TRANSPORTEM 4 6 lipca 2011 r.

BADANIE OSTROŚCI WIDZENIA W RÓśNYCH WARUNKACH OŚWIETLENIOWYCH

DOKŁADNOŚĆ POMIARU DŁUGOŚCI

Ustawienia materiałów i tekstur w programie KD Max. MTPARTNER S.C.

OCENA PRZYDATNOŚCI FARBY PRZEWIDZIANEJ DO POMALOWANIA WNĘTRZA KULI ULBRICHTA

POMIAR SZCZEGÓŁÓW TERENOWYCH METODĄ BIEGUNOWĄ

Temat ćwiczenia. Pomiary oświetlenia

EMC-500. Miernik prędkości wylotowej pocisku. Emserwis Marceli Kotkowski. Instrukcja obsługi. ul. Ostrobramska 134/ Warszawa

Temat ćwiczenia. Wyznaczanie mocy akustycznej

Instrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego nr 13

5(m) PWSZ -Leszno LABORATORIUM POMIARY I BADANIA WIBROAKUSTYCZNE WYZNACZANIE POZIOMU MOCY AKUSTYCZNEJ MASZYN I URZĄDZEŃ 1. CEL I ZAKRES ĆWICZENIA

BADANIE INTERFERENCJI MIKROFAL PRZY UŻYCIU INTERFEROMETRU MICHELSONA

Ćwiczenie 42 WYZNACZANIE OGNISKOWEJ SOCZEWKI CIENKIEJ. Wprowadzenie teoretyczne.

Badanie rozkładu pola elektrycznego

Wyznaczanie współczynnika załamania światła

Grupa: Elektrotechnika, sem 3, wersja z dn Technika Świetlna Laboratorium

Grafika 3D program POV-Ray - 1 -

Rys. 2. ZaleŜność ostrości widzenia od luminancji tła i kontrastu. ostrość widzenia [min kąt -1 ] k=5% k=10% k=20% k=40% k=60% k=80% k=100% 2,8 2,4

WYZNACZANIE DŁUGOŚCI FALI ŚWIETLNEJ ZA POMOCĄ SIATKI DYFRAKCYJNEJ

Ćwiczenie nr 41: Busola stycznych

Wyznaczanie momentu magnetycznego obwodu w polu magnetycznym

OCENA OŚWIETLENIA STANOWISKA PRACY.

Instrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego nr 13

Rozdział 22 Pole elektryczne

PROFIL PRĘDKOŚCI W RURZE PROSTOLINIOWEJ

Ćw. 4. BADANIE I OCENA WPŁYWU ODDZIAŁYWANIA WYBRANYCH CZYNNIKÓW NA ROZKŁAD CIŚNIEŃ W ŁOśYSKU HYDRODYNAMICZNYMM

Pomiar kątów poziomych

Ćw. nr 31. Wahadło fizyczne o regulowanej płaszczyźnie drgań - w.2

ZADANIE 111 DOŚWIADCZENIE YOUNGA Z UŻYCIEM MIKROFAL

Badanie parametrów fotometrycznych opraw parkowych z lampami sodowymi

PRZYRZĄDY DO POMIARU USTAWIENIA I ŚWIATŁOŚCI ŚWIATEŁPOJAZDU. Piotr Domański Piotr Papierz

STUDIA STACJONARNE II STOPNIA, sem. 1 wersja z dn KIERUNEK ELEKTROTECHNIKA Laboratorium TECHNIKI ŚWIETLNEJ

Wpisany przez Natalia Głowacka czwartek, 09 września :06 - Poprawiony czwartek, 23 września :10

WYZNACZANIE DŁUGOŚCI FALI ŚWIETLNEJ ZA POMOCĄ SIATKI DYFRAKCYJNEJ

Badanie rozkładu pola magnetycznego przewodników z prądem

Pomiar drogi koherencji wybranych źródeł światła

Oświetlenie LED nie wszystko jasne

FUNKCJE. Kurs ZDAJ MATURĘ Z MATEMATYKI MODUŁ 5 Teoria funkcje cz.1. Definicja funkcji i wiadomości podstawowe

BADANIE PROSTEGO ZJAWISKA PIEZOELEKTRYCZNEGO POMIAR NAPRĘśEŃ BADANIE ODWROTNEGO ZJAWISKA PIEZOELEKTRYCZNEGO METODĄ STATYCZNĄ. POMIAR MAŁYCH DEFORMACJI

WYZNACZANIE SUCHEJ MASY KRWINEK CZERWONYCH PRZY UśYCIU MIKROSKOPU POLARYZACYJNO-INTERFERENCYJNEGO

13. WYZNACZANIE CHARAKTERYSTYK ORAZ PRZEŁOŻENIA UKŁADU KIEROWNICZEGO

Badanie rozkładu pola elektrycznego

Nazwisko i imię: Zespół: Data: Ćwiczenie nr 1: Wahadło fizyczne. opis ruchu drgającego a w szczególności drgań wahadła fizycznego

Temat ćwiczenia. Pomiar hałasu zewnętrznego emitowanego przez pojazdy samochodowe

szkło klejone laminowane szkło klejone z użyciem folii na całej powierzchni.

INSTRUKCJA NR 05 POMIARY NATĘŻENIA OŚWIETLENIA ELEKTRYCZNEGO POMIESZCZEŃ I STANOWISK PRACY

Plan wykładu. Pojęcie ergonomii Zagrożenia długotrwałej pracy z komputerem Ergonomiczne stanowisko komputerowe Ćwiczenia i przerwy

URZĄDZENIE DO DEMONSTRACJI POWSTAWANIA KRZYWYCH LISSAJOUS

Państwowa Wyższa Szkoła Zawodowa w Kaliszu

INSTRUKCJA DO ĆWICZEŃ LABORATORYJNYCH

Zasady oświetlania przejść dla pieszych

Laboratorium optycznego przetwarzania informacji i holografii. Ćwiczenie 3. Częstotliwości przestrzenne struktur okresowych

Fotometria i kolorymetria

OPERATOR SPRZĘTU KOMPUTEROWEGO

Ćwiczenie nr 53: Soczewki

WYZNACZANIE KĄTA BREWSTERA 72

Temat ćwiczenia. Pomiary otworów na przykładzie tulei cylindrowej

Sygnalizatory uliczne

GEODEZJA WYKŁAD Pomiary kątów

O Sposobie Sprawdzania Urządzeń do Pomiaru Geometrii Kół

REFERAT. Ocena stanu oświetlenia miasta. Chorzów, 16 wrzesień Wprowadzenie

INSTRUKCJA DO ĆWICZEŃ LABORATORYJNYCH

Efekt Halla. Cel ćwiczenia. Wstęp. Celem ćwiczenia jest zbadanie efektu Halla. Siła Loretza

Światłomierz Polaris Dual 5. Pomiar światła ciągłego

Transkrypt:

Kierunek Informatyka, studia stacjonarne, pierwszy stopień, sem. 6. Podstawy inŝynierii barwy. aboratorium. Ćwiczenie nr 1. wersja z dnia, 17.05.2010 Temat: BADANIE WŁAŚCIWOŚCI FOTOMETRYCZNYCH MONITORÓW. 1. Wstęp. Ćwiczenie opracowano na podstawie następujących norm wyszczególnionych w spisie literatury [1, 2, 3, 4, 5, 6, 7]. W wymienionych normach opisano szereg wymagań stawianych monitorom. Spełnienie tych wymagań ma zapewnić odpowiedni komfort pracy. W niniejszym ćwiczeniu zostaną sprawdzone wymagania związane z luminancją ekranu (kontrast, równomierność) oraz właściwościami odbiciowymi powierzchni ekranów. Jakość wyświetlanego obrazu w monitorach ekranowych z wyświetlaczami ciekłokrystalicznymi CD zmienia się znacznie wraz z kątem obserwacji. Z tego względu monitory CD dzieli się na cztery klasy opisujące dopuszczalne kierunki obserwacji Class(Viewing) (Tab. 1, Rys. 1) [2]. Tabela 1. Opis klas kierunków obserwacji Class(Viewing) [2]. Class (Viewing) I II III IV Opis UmoŜliwia kilku uŝytkownikom obserwację całej powierzchni ekranu monitora z kaŝdego kierunku w obrębie stoŝka ograniczonego kątem 80 0 bez pogorszenia wydajności wzrokowej. Dopuszczalne są ruchy głową. Klasa nie jest przeznaczona dla zadań wymagających wąskich kątów obserwacji w celu np. zapewnienia prywatności lub niskiego poboru mocy. UmoŜliwia jednemu uŝytkownikowi obserwację całej powierzchni ekranu monitora z kaŝdego miejsca na wprost ekranu. Dopuszczalne są ruchy głową. Klasa nie jest zalecana dla zadań wymagających wąskich kątów obserwacji w celu np. zapewnienia prywatności lub niskiego poboru mocy. UmoŜliwia jednemu uŝytkownikowi obserwację całej powierzchni ekranu monitora z jednego określonego miejsca na wprost ekranu. Ruchy głową nie są dozwolone. Klasa jest zalecana dla zadań wymagających wąskich kątów obserwacji w celu np. zapewnienia prywatności lub niskiego poboru mocy. UmoŜliwia jednemu uŝytkownikowi obserwację centralnej części ekranu monitora z jednego określonego miejsca na wprost ekranu. Ruchy głową nie są dozwolone. Klasa jest przeznaczona dla zadań wymagających wąskich kątów obserwacji w celu np. zapewnienia prywatności lub niskiego poboru mocy. - 1 -

Rys. 1. Ilustracja klas kierunków obserwacji Class(Viewing). Strzałki oznaczają moŝliwe kierunki ruchu głową [2]. Monitory CD mogą posiadać powierzchnię ekranu charakteryzującą się róŝnymi właściwościami odbiciowymi. Powierzchnia ekranu moŝe być matowa, gładka (tzw. glare ), moŝe równieŝ mieć nałoŝone warstwy zmniejszające wartość współczynnika odbicia. Oświetlenie zewnętrzne stanowiska pracy z monitorem moŝe powodować szereg niekorzystnych zjawisk takich jak: - zmniejszenie kontrastu luminancji wyświetlanego obraz, - olśnienie, - obrazy obiektów odbijające się na powierzchni ekranu zmniejszają czytelność wyświetlanych obrazów. Odbicie ambertowskie (rozproszone) występujące w przypadku matowych powierzchni monitorów zwiększa jaskrawość szczególnie ciemnych fragmentów wyświetlanych obrazów. Odbicie kierunkowe (ekrany glare ) oprócz zmniejszenia kontrastu powoduje często konieczność zmiany odległości punktu obserwacji (akomodacja) ze względu na przenoszenie punktu obserwacji z powierzchni ekranu na powierzchnię obiektu, którego obraz odbija się na ekranie. Odbicie ambertowskie (rozproszone) jest przez większość obserwatorów oceniane jako niej uciąŝliwe. Monitory CD dzieli się na trzy klasy jakości ochrony przez niepoŝądanymi odbiciami Class(Reflection) (Tab. 2, Rys. 2) [2]. - 2 -

Tabela 2. Wartości luminancji odniesieniowych (REF) słuŝących do wyznaczania klas ochrony przed niepoŝądanymi odbiciami Class(Reflection) [2]. Class (Reflection) Wartość luminancji odniesieniowych (REF) [cd/m 2 ] Przeznaczenie I Zarówno REF EXT-I = 200 oraz REF SM-I = 2000 Do wszystkich biur II Albo REF EXT-II = 200 albo REF SM-II = 2000 Do większości lecz nie do wszystkich biur III Albo REF EXT-III = 125 albo REF SM-III = 200 Wymagają specjalnie dostosowanych warunków oświetlenia EXT źródło o duŝych rozmiarach do sprawdzenia odbicia kierunkowego SM źródło o małych rozmiarach do sprawdzenia odbicia kierunkowego odbicie rozproszone odbicie kierunkowe (ekran typu glare ) Rys. 2. Ilustracja zjawiska niepoŝądanego odbicia w ekranie monitora. NiepoŜądany obraz twarzy obserwatora (2) odbija się na ekranie monitora (1) [2]. Rys. 3. Rysunek układu pomiarowego uwzględniający połoŝenie miernika luminancji (2) oraz dwóch źródeł oświetlenia zewnętrznego (rozproszonego DIFF) (1 i 3) i źródła do sprawdzenia odbicia kierunkowego EXT i SM (5), płaszczyznę umieszczenia powierzchni ekranu oraz wzorca współczynnika odbicia dstd oznaczono jako (4) [2]. - 3 -

Opis przyjętych oznaczeń: Wyświetlany obraz: (High State) na ekranie wyświetlany jest jednolity obraz: R=G=B=100%. S (ow State) na ekranie wyświetlany jest jednolity obraz: R=G=B=0%. Punkty pomiarowe: C (Central ocation) punkt na środku ekranu. H (High uminance) punkt o największej wartości luminancji. (ow uminance) punkt o najmniejszej wartości luminancji. Kierunki i kąty: θ - kąt obserwacji. θ range dopuszczalny zakres kątów obserwacji. θ lm kąt połoŝenia miernika luminancji w stosunku do normalnej do powierzchni ekranu. θ sg kąt połoŝenia źródła światła o luminancji g do oceny składowej kierunkowej odbicia powierzchni ekranu. θ dg kąt połoŝenia źródła światła o luminancji g do oceny składowej rozproszonej odbicia powierzchni ekranu. φ kąt azymutowy. CR (kontrast luminancji) stosunek maksymalnej wartości luminancji H do minimalnej wartości luminancji. dstd wzorzec współczynnika odbicia (ambertowski - odbicie rozproszone) EXT źródło o duŝych rozmiarach do sprawdzenia odbicia kierunkowego SM źródło o małych rozmiarach do sprawdzenia odbicia kierunkowego - 4 -

2. Rozkład luminancji. 2A. Pomiar rozkładu luminancji w funkcji kąta obserwacji. Pozycja monitora Zastosowane przyrządy pomiarowe Wyświetlany obraz Pole pomiarowe Oświetlenie Opis pomiarów pionowa, na obrotowej podstawie z podziałką kątową luksomierz -100 z przystawką do pomiaru luminancji ustawiony na stojaku na wprost monitora C ciemnia powierzchnię ekranu ustawić w osi obrotowej podstawy zmieniać kąty obserwacji θ lm od 0 do 80 0 co 10 0 pomiary wykonać dla czterech kierunków: lewo-prawo, góra-dół Tabela 3. Pomiar rozkładu luminancji w funkcji kąta obserwacji. Kąt obserwacji θ [1 0 ] 0 10 20 30 40 50 60 70 80 kierunek w lewo (θ) [cd/m 2 ] kierunek w prawo (θ) [cd/m 2 ] kierunek w górę (θ) [cd/m 2 ] kierunek w dół (θ) [cd/m 2 ] Kryterium oceny: Kontrast luminancji CR nie powinien przekraczać wartości 1,4 (reality information). Kontrast luminancji CR nie moŝe przekraczać wartości 1,7 (artificial information). Zadania do wykonania: Narysować wykresy θ/ = f(θ) Na wykresie zaznaczyć dwie poziome linie przecinające pionową oś wykresu w miejscu współrzędnych o wartościach 1/1,4 oraz 1/1,7 Wyznaczyć dopuszczalny zakres kątów obserwacji (θrange) w zakresie których spełnione jest kryterium kontrastu luminancji CR. Reality information: - w płaszczyźnie poziomej: θrange =... - w płaszczyźnie pionowej: θrange =... Artificial information: - w płaszczyźnie poziomej: θrange =... - w płaszczyźnie pionowej: θrange =... - 5 -

2B. Pomiar rozkładu luminancji na powierzchni monitora. Pozycja monitora Zastosowane przyrządy pomiarowe Wyświetlany obraz Oświetlenie Pole pomiarowe Opis pomiarów pozioma luksomierz -100 z przystawką do pomiaru luminancji ustawiony na stojaku z osią optyczną skierowaną pionowo w dół i S ciemnia dziewięć pól pomiarowych miernik ustawiać kolejno nad punktami pomiarowymi kąt połoŝenia miernika θlm = 0 0 (prostopadle do pow. ekranu) Tabela 4. Pomiar luminancji w dziewięciu punktach przy dwóch stanach ekranu. Numer punktu pomiarowego / luminancja [cd/m 2 ]. 1 2 3 S S S 4 7 5 6 S S S 8 9 S S S Zadania do wykonania: Wyznaczyć średnią wartość luminancji: - dla stanu, śr. =... - dla stanu S, śr. =... Wyznaczyć równomierność luminancji - dla stanu, U=min/śr. =... - dla stanu S, U=min/śr. =... Przyjąć następujące oznaczenie trzech punktów pomiarowych i odpowiednio oznaczyć zmierzone wartości luminancji: C punkt centralny monitora (nr 5): dark,(c-0) =... dark,s(c-0) =... H punkt o największej wartości luminancji dark,(h-0) =... dark,s(h-0) =... punkt o najmniejszej wartości luminancji dark,(-0) =... dark,s(-0) =... - 6 -

2C. Pomiar luminancji dla róŝnych kierunków obserwacji. Pozycja monitora Zastosowane przyrządy pomiarowe Wyświetlany obraz Oświetlenie Pole pomiarowe Opis pomiarów pozioma, monitor ustawiony na obrotowej podstawie miernik luminancji MT 1009, pole pomiarowe 3 0, miernik ustawiony na statywie skierowany w dół pod kątem 40 0 w stosunku do normalnej do powierzchni ekranu i S ciemnia C - cztery charakterystyczne, prostopadłe kierunki: 1 od dołu ekranu, 2 z prawej strony, 3 od góry, 4 z lewej strony. środek powierzchni ekranu ustawić w osi obrotowej podstawy obracać podstawę co 90 0, kąt połoŝenia miernika θlm = 40 0 Tabela 5. Pomiar luminancji dla róŝnych kierunków obserwacji. Kąt połoŝenia miernika θlm = 40 0 C-n = C-1 C-2 C-3 C-4 dark,(c-n) [cd/m 2 ] dark,s(c-n) [cd/m 2 ] 2D. Pomiar luminancji przy oświetleniu zewnętrznym. Pozycja monitora Zastosowane przyrządy pomiarowe Wyświetlany obraz Oświetlenie Pole pomiarowe Opis pomiarów Wzorzec wsp. odbicia dstd ρ dstd = 0,... pozioma, monitor ustawiony na obrotowej podstawie miernik luminancji MT 1009, pole pomiarowe 3 0, miernik ustawiony na statywie skierowany w dół pod kątem 40 0 w stosunku do normalnej do powierzchni ekranu i S dwa źródła światła ustawione po bokach ekranu zapewniające światło rozproszone (DIFF) C - cztery charakterystyczne, prostopadłe kierunki: 1 od dołu ekranu, 2 z prawej strony, 3 od góry, 4 z lewej strony. środek powierzchni ekranu ustawić w osi obrotowej podstawy obracać podstawę co 90 0, kąt połoŝenia miernika θlm = 40 0 UWAGA: po ustawieniu źródeł oświetlenia zewnętrznego w danym połoŝeniu nie naleŝy ich przesuwać w trakcie trwania całej serii pomiarów na powierzchni monitora połoŝyć czarną tkaninę, na niej połoŝyć wzorzec współczynnika odbicia, wykonać pomiar luminancji dla jednego kierunku Tabela 6. Pomiar luminancji dla róŝnych kierunków obserwacji. Kąt połoŝenia miernika θlm = 40 0 C-n = C-1 C-2 C-3 C-4 DIFF,(C-n) [cd/m 2 ] DIFF,S(C-n) [cd/m 2 ] DIFF,dSTD(C-1) [cd/m 2 ] wzorzec wsp. odbicia ----- ----- ----- - 7 -

2E. Obliczenia (dla punktów 2B, 2C i 2D): = DIFF, OFF(C n) DIFF,S OFF(C n) = DIFF,(C n) DIFF,S(C n) dark,(c n) dark,s(c n) Tabela 7. Wyniki obliczeń. uminancja ekranu przy świetle rozproszonym. C-n = C-1 C-2 C-3 C-4 DIFF,-OFF(C-n) [cd/m 2 ] DIFF,S-OFF(C-n) [cd/m 2 ] DIFF, OFF(C n) R DIFF, OFF(C n) = qdstd DIFF,dSTD(C 1) DIFF,S OFF(C n) R DIFF,S OFF(C n) = qdstd DIFF,dSTD(C 1) gdzie: n=1,2,3,4. q dstd ρ = dstd π Tabela 8. Wyniki obliczeń. Wartość reflektometryczna ekranu dla oświetlenia rozproszonego. C-n = C-1 C-2 C-3 C-4 RDIFF,-OFF(C-n) RDIFF,S-OFF(C-n) Es,(C n) = dark,(c n) + DIFF, OFF(C n) Es,S(C n) = dark,s(c n) + DIFF,S OFF(C n) R R dark,(h 0) Es,(H n) = dark,(c n) + R DIFF, OFF(C n) dark,(c 0) dark,s(h 0) Es,S(H n) = dark,s(c n) + R DIFF,S OFF(C n) dark,s(c 0) dark,( 0) Es,( n) = dark,(c n) + R DIFF, OFF(C n) dark,(c 0) dark,s( 0) Es,S( n) = dark,s(c n) + R DIFF,S OFF(C n) dark,s(c 0) gdzie: n=1,2,3,4. Es - odniesieniowa wartość natęŝenia oświetlenia na powierzchni monitora (przy pionowej pozycji pracy monitora Es=250lx) Tabela 9. Wyniki obliczeń. uminancja ekranu odniesiona do projektowanej wartości nat. ośw. Es. E E n = 1 2 3 4 Es,(C-n) [cd/m 2 ] Es,S(C-n) [cd/m 2 ] Es,(H-n) [cd/m 2 ] Es,S(H-n) [cd/m 2 ] Es,(-n) [cd/m 2 ] Es,S(-n) [cd/m 2 ] s s E E E s E s s s - 8 -

Kryterium oceny kontrastu: Dla zapewnienia właściwych warunków widzenia (rozpoznawania wyświetlanych na ekranie informacji) kontrast luminancji znaku względem tła ekranu przy uwzględnieniu wpływu oświetlenia zewnętrznego powinien spełniać następujące kryterium. Es,(n) Es,S(n) 0.55 Es,S(n) 1+ 10 gdzie: n=c-1...c-4, H-1...H-4, -1...-4 Zadania do wykonania: Podstawić odpowiednie wartości do podanego wzoru i sprawdzić warunek dla wszystkich punktów i kierunków. Kryterium oceny równomierności luminancji: Dla zapewnienia właściwych warunków widzenia (rozpoznawania wyświetlanych na ekranie informacji) równomierność luminancji oceniana poprzez wartość kontrastu luminancji (CR - kontrast luminancji - stosunek maksymalnej wartości luminancji H do minimalnej wartości luminancji ) dla wartości luminancji podanych w Tabeli 10 nie moŝe przekraczać wartości 1,7 (dla kombinacji wszystkich podanych w tabeli wartości). CR = H < 1,7 Tabela 10. Wyniki obliczeń. uminancja ekranu odniesiona do projektowanej wartości natęŝenia oświetlenia Es. n = 1 2 3 4 Es,(C-n) [cd/m 2 ] Es,(H-n) [cd/m 2 ] Es,(-n) [cd/m 2 ] Zadania do wykonania: Sprawdzić czy badany monitor spełnia podane wyŝej wymaganie odnośnie równomierności luminancji. - 9 -

3. Wyznaczanie klasy jakości ochrony przez niepoŝądanymi odbiciami Class(Reflection). 3A. Pomiar luminancji przy oświetleniu zewnętrznym. Pozycja monitora Zastosowane przyrządy pomiarowe Wyświetlany obraz Oświetlenie Pole pomiarowe Opis pomiarów Wzorzec wsp. odbicia dstd ρ dstd =... pozioma, monitor ustawiony na obrotowej podstawie miernik luminancji MT 1009, pole pomiarowe 3 0, miernik ustawiony na statywie skierowany w dół pod kątem 15 0 w stosunku do normalnej do powierzchni ekranu i S dwa źródła światła ustawione po bokach ekranu zapewniające światło rozproszone (DIFF) C - cztery charakterystyczne, prostopadłe kierunki: 1 od dołu ekranu, 2 z prawej strony, 3 od góry, 4 z lewej strony. układ źródeł światła i wzorca taki sam jak w punkcie 2D, zmienia się jedynie kąt połoŝenia miernika θlm = 15 0, środek powierzchni ekranu ustawić w osi obrotowej podstawy obracać podstawę co 90 0 UWAGA: po ustawieniu źródeł oświetlenia zewnętrznego w danym połoŝeniu nie naleŝy ich przesuwać w trakcie trwania całej serii pomiarów na powierzchni monitora połoŝyć czarną tkaninę, na niej połoŝyć wzorzec współczynnika odbicia, wykonać pomiar luminancji dla jednego kierunku Tabela 11. Pomiar luminancji dla róŝnych kierunków obserwacji. Kąt połoŝenia miernika θlm = 15 0 C-nS = C-1S C-2S C-3S C-4S DIFF,(C-nS) [cd/m 2 ] DIFF,S(C-nS) [cd/m 2 ] DIFF,dSTD(C-1S) [cd/m 2 ] wzorzec wsp. odbicia ----- ----- ----- 3B. Pomiar luminancji dla róŝnych kierunków obserwacji. Pozycja monitora Zastosowane przyrządy pomiarowe Wyświetlany obraz Oświetlenie Pole pomiarowe Opis pomiarów pozioma, monitor ustawiony na obrotowej podstawie miernik luminancji MT 1009, pole pomiarowe 3 0, miernik ustawiony na statywie skierowany w dół pod kątem 15 0 w stosunku do normalnej do powierzchni ekranu i S ciemnia C - cztery charakterystyczne, prostopadłe kierunki: 1 od dołu ekranu, 2 z prawej strony, 3 od góry, 4 z lewej strony. środek powierzchni ekranu ustawić w osi obrotowej podstawy obracać podstawę co 90 0, kąt połoŝenia miernika θ lm = 15 0 Tabela 12. Pomiar luminancji dla róŝnych kierunków obserwacji. Kąt połoŝenia miernika θ lm = 15 0 C-nS = C-1S C-2S C-3S C-4S dark,(c-ns) [cd/m 2 ] dark,s(c-ns) [cd/m 2 ] - 10 -

3C. Pomiar luminancji przy oświetleniu źródłem do oceny odbicia kierunkowego. Pozycja monitora Zastosowane przyrządy pomiarowe Wyświetlany obraz Oświetlenie Pole pomiarowe Opis pomiarów Wzorzec współczynnika odbicia dstd ρ dstd =... pozioma, monitor ustawiony na obrotowej podstawie miernik luminancji MT 1009, pole pomiarowe 1 0 lub 20, miernik ustawiony na statywie skierowany w dół pod kątem 15 0 w stosunku do normalnej do powierzchni ekranu i S jedno źródło światła ustawione na przeciwko miernika luminancji, wykonuje się dwa pomiary dla dwóch źródeł o róŝnych rozmiarach: EXT - źródło o duŝych rozmiarach, SM - o małych rozmiarach C - cztery charakterystyczne, prostopadłe kierunki: 1 od dołu ekranu, 2 z prawej strony, 3 od góry, 4 z lewej strony. źródło EXT ustawia się na przeciwko miernika luminancji, pole pomiarowe miernika kieruje się na obraz źródła widoczny na powierzchni ekranu, źródło o małych rozmiarach SM tworzy się stawiając przesłonę z otworem przed źródłem EXT UWAGA: po ustawieniu źródeł EXT i SM w danym połoŝeniu nie naleŝy ich przesuwać w trakcie trwania całej serii pomiarów kąt połoŝenia miernika θ lm = 15 0, środek powierzchni ekranu ustawić w osi obrotowej podstawy obracać podstawę co 90 0 na powierzchni monitora połoŝyć czarną tkaninę, na niej połoŝyć wzorzec współczynnika odbicia, wykonać pomiar luminancji dla jednego kierunku ( a ) ( b ) Rys. 4. Rysunek układu pomiarowego ze źródłami do sprawdzenia odbicia kierunkowego. (a) źródło o duŝych rozmiarach EXT (2), przysłona do tworzenia źródła o małych rozmiarach SM (1), miernik luminancji (3). (b) źródło do sprawdzenia odbicia kierunkowego EXT i SM (1), miernik luminancji (2) i płaszczyzna umieszczenia powierzchni ekranu oraz wzorca współczynnika odbicia dstd (3) [2]. Tabela 13. Pomiar luminancji dla róŝnych kierunków obserwacji. Kąt połoŝenia miernika θlm = 15 0 C-nS = C-1S C-2S C-3S C-4S Źródło S-EXT,(C-nS) [cd/m 2 ] EXT S-EXT,S(C-nS) [cd/m 2 ] EXT S-EXT,dSTD(C-1S) [cd/m 2 ] ----- ----- ----- EXT S-SM,(C-nS) [cd/m 2 ] S-SM,S(C-nS) [cd/m 2 ] SM SM S-SM,dSTD(C-1S) [cd/m 2 ] ----- ----- ----- SM - 11 -

3D. Pomiar luminancji źródeł światła. Pozycja monitora Zastosowane przyrządy pomiarowe Wyświetlany obraz Oświetlenie Pole pomiarowe Opis pomiarów pozioma miernik luminancji MT 1009, pole pomiarowe 1 0 lub 20, miernik ustawiony na statywie skierowany w dół pod kątem 15 0 w stosunku do normalnej do powierzchni ekranu nie dotyczy EXT - źródło o duŝych rozmiarach, SM - źródło o małych rozmiarach nie dotyczy źródło EXT ustawić się na przeciwko miernika luminancji (połoŝenie identyczne jak w punkcie 3C), na powierzchni monitora połoŝyć lustro pole pomiarowe miernika skierować na obraz źródła widoczny na powierzchni lustra, źródło o małych rozmiarach SM tworzy się stawiając przesłonę z otworem przed źródłem EXT Tabela 14. Pomiar luminancji źródeł światła. - g Źródło S-EXT,g [cd/m 2 ] EXT S-SM,g [cd/m 2 ] SM 3E. Obliczenia (dla punktów 3A, 3B, 3C i 3D): S EXT, OFF(C S EXT,S OFF(C S SM, OFF(C S SM,S OFF(C = = = = S EXT,(C S EXT,S(C S SM,(C S SM,S(C dark,(c dark,s(c dark,(c dark,s(c Tabela 15. Wyniki obliczeń. uminancja ekranu przy świetle kierunkowym. C-nS = C-1S C-2S C-3S C-4S S-EXT,-OFF(C-nS) [cd/m 2 ] S-EXT,S-OFF(C-nS) [cd/m 2 ] S-SM,-OFF(C-nS) [cd/m 2 ] S-SM,S-OFF(C-nS) [cd/m 2 ] - 12 -

DIFF, OFF(C ns) DIFF,S OFF(C = = DIFF,(C DIFF,S(C ns) dark,(c dark,s(c Tabela 16. Wyniki obliczeń. uminancja ekranu przy świetle rozproszonym. C-nS = C-1S C-2S C-3S C-4S DIFF,-OFF(C-nS) [cd/m 2 ] DIFF,S-OFF(C-nS) [cd/m 2 ] R R DIFF, OFF(C = DIFF,S OFF(C = q q dstd dstd DIFF, OFF(C DIFF,dSTD(C 1S) DIFF,S OFF(C DIFF,dSTD(C 1S) gdzie: q dstd ρ = dstd π Tabela 17. Wyniki obliczeń. Wartość reflektometryczna ekranu dla oświetlenia rozproszonego. C-nS = C-1S C-2S C-3S C-4S RDIFF,-OFF(C-nS) RDIFF,S-OFF(C-nS) R DIFF, OFF(C S EXT, OFF(C S EXT,dSTD(C 1S) q R dstd S EXT, OFF(C = S EXT,g R DIFF,S OFF(C S EXT,S OFF(C S EXT,dSTD(C 1S) q R dstd S EXT,S OFF(C = S EXT,g R DIFF, OFF(C S SM, OFF(C S SM,dSTD(C 1S) q R dstd S SM, OFF(C = S SM,g R DIFF,S OFF(C S SM,S OFF(C S SM,dSTD(C 1S) q R dstd S SM,S OFF(C = S SM,g Tabela 18. Wyniki obliczeń. Wartość reflektometryczna ekranu dla oświetlenia kierunkowego. C-nS = C-1S C-2S C-3S C-4S RS-EXT,-OFF(C-nS) RS-EXT,S-OFF(C-nS) RS-SM,-OFF(C-nS) RS-SM,S-OFF(C-nS) - 13 -

Es,(C = dark,(c + ES R DIFF, OFF(C Es,S(C = dark,s(c + ES R DIFF,S OFF(C gdzie: ES - odniesieniowa wartość natęŝenia oświetlenia na powierzchni monitora (przy pionowej pozycji pracy monitora Es=250lx) Tabela 19. Wyniki obliczeń. uminancja ekranu przeliczona z uwzględnieniem odniesieniowych wartości natęŝenia oświetlenia Es. Es,(C-nS) [cd/m 2 ] Es,S(C-nS) [cd/m 2 ] C-nS = C-1S C-2S C-3S C-4S REFEXT I,(C = Es,(C + REFEXT I RS EXT, OFF(C REFEXT I,S(C = Es,S(C + REFEXT I RS EXT,S OFF(C REFSM I,(C = Es,(C + REFSM I RS SM, OFF(C REFSM I,S(C = Es,S(C + REFSM I RS SM,S OFF(C REFEXT III,(C = Es,(C + REFEXT III RS EXT, OFF(C REFEXT III,S(C = Es,S(C + REFEXT III RS EXT,S OFF(C REFSM III,(C = Es,(C + REFSM III RS SM, OFF(C REFSM III,S(C = Es,S(C + REFSM III RS SM,S OFF(C gdzie: REFEXT, REFSM - odniesieniowe wartości luminancji dla oceny klas ochrony przed niepoŝądanymi odbiciami (patrz Tabela 2) Tabela 20. Wyniki obliczeń. uminancja ekranu przeliczona z uwzględnieniem odniesieniowych wartości natęŝenia oświetlenia Es oraz do odniesieniowych wartości luminancji źródeł światła dla oceny klasy ochrony przed niepoŝądanymi odbiciami. C-nS = C-1S C-2S C-3S C-4S REFEXT-I,(C-nS) [cd/m 2 ] REFEXT-I,S(C-nS) [cd/m 2 ] REFSM-I,(C-nS) [cd/m 2 ] REFSM-I,S(C-nS) [cd/m 2 ] REFEXT-III,(C-nS) [cd/m 2 ] REFEXT-III,S(C-nS) [cd/m 2 ] REFSM-III,(C-nS) [cd/m 2 ] REFSM-III,S(C-nS) [cd/m 2 ] - 14 -

Kryterium oceny: Wyznaczanie klasy jakości ochrony przez niepoŝądanymi odbiciami Class(Reflection). Tabela 21. Wymaganie odnoszące się do zapewnienia właściwego kontrastu przy występowaniu odbić na ekranie. Class(Reflection) I Zarówno oraz REFSM I,(C REFSM I,S(C REFEXT I,(C REFEXT I,S(C Opis 1 + 10 1 + 10 0.55 REFSM I,S(C 0.55 REFEXT I,S(C II Albo albo REFSM I,(C REFSM I,S(C REFEXT I,(C REFEXT I,S(C 1 + 10 1 + 10 0.55 REFSM I,S(C 0.55 REFEXT I,S(C III Albo albo REFSM III,(C REFSM III,S(C REFEXT III,(C ns) REFEXT III,S(C 1 + 10 1 + 10 0.55 REFSM III,S(C 0.55 REFEXT III,S(C Tabela 22. Wymaganie odnoszące się do zapewnienia właściwego kontrastu przy występowaniu niepoŝądanych odbić na ekranie (wyraźne obrazy nakładające się na wyświetlaną informację). Wymagania dotyczą polaryzacji dodatniej (czarne znaki na jasnym tle). Class(Reflection) I Opis REFSM I,(C Zarówno 1, 25 Es,(C REFEXT I,(C oraz 1, 25 Es,(C II III REFSM I,(C Albo 1, 25 Es,(C REFSM III,(C Albo 1, 25 Es,(C REFEXT I,(C albo 1, 25 Es,(C REFEXT III,(C albo 1, 25 Es,(C Zadania do wykonania: Na podstawie podanych wyŝej kryteriów sprawdzić do jakiej klasy moŝna przypisać badany monitor. - 15 -

iteratura. [1] PN-EN ISO 13406-1: Wymagania ergonomiczne dotyczące pracy biurowej z zastosowaniem monitorów ekranowych z płaskim ekranem. Część 1: Wprowadzenie. [2] PN-EN ISO 13406-2: Wymagania ergonomiczne dotyczące pracy biurowej z zastosowaniem monitorów ekranowych z płaskim ekranem. Część 2: Wymagania ergonomiczne dotyczące monitorów z płaskim ekranem. [3] PN-EN ISO 9241-300:2009: Ergonomia interakcji człowieka i systemu -- Część 300: Wprowadzenie do wymagań dotyczących monitorów ekranowych elektronicznych. [4] PN-EN ISO 9241-302:2009: Ergonomia interakcji człowieka i systemu -- Część 302: Terminologia dotycząca monitorów ekranowych elektronicznych. [5] PN-EN ISO 9241-303:2009: Ergonomia interakcji człowieka i systemu -- Część 303: Wymagania dotyczące monitorów ekranowych elektronicznych. [6] PN-EN ISO 9241-304:2009: Ergonomia interakcji człowieka i systemu -- Część 304: Metody badań z zastosowaniem wykonania zadań przez uŝytkownika. [7] PN-EN ISO 9241-305:2009: Ergonomia interakcji człowieka i systemu -- Część 305: Metody laboratoryjnych badań optycznych monitorów ekranowych elektronicznych. [8] PN-EN ISO 9241-307:2009: Ergonomia interakcji człowieka i systemu -- Część 307: Analiza i metody badania spełnienia wymagań dotyczących monitorów ekranowych elektronicznych. - 16 -