- 1 - wersja z dnia, Kierunek Informatyka, studia stacjonarne, pierwszy stopień, sem. 6. Podstawy inŝynierii barwy. Laboratorium.
|
|
- Amalia Grzybowska
- 5 lat temu
- Przeglądów:
Transkrypt
1 Kierunek Informatyka, studia stacjonarne, pierwszy stopień, sem. 6. Podstawy inŝynierii barwy. aboratorium. Ćwiczenie nr 1. wersja z dnia, Temat: BADANIE WŁAŚCIWOŚCI FOTOMETYCZNYCH MONITOÓW. 1. Wstęp. Ćwiczenie opracowano na podstawie następujących norm wyszczególnionych w spisie literatury [1, 2, 3, 4, 5, 6, 7]. W wymienionych normach opisano szereg wymagań stawianych monitorom. Spełnienie tych wymagań ma zapewnić odpowiedni komfort pracy. W niniejszym ćwiczeniu zostaną sprawdzone wymagania związane z luminancją ekranu (kontrast, równomierność) oraz właściwościami odbiciowymi powierzchni ekranów. Jakość wyświetlanego obrazu w monitorach ekranowych z wyświetlaczami ciekłokrystalicznymi CD zmienia się znacznie wraz z kątem obserwacji. Z tego względu monitory CD dzieli się na cztery klasy opisujące dopuszczalne kierunki obserwacji Class(Viewing) (Tab. 1, ys. 1) [2]. Tabela 1. Opis klas kierunków obserwacji Class(Viewing) [2]. Class (Viewing) I II III IV Opis UmoŜliwia kilku uŝytkownikom obserwację całej powierzchni ekranu monitora z kaŝdego kierunku w obrębie stoŝka ograniczonego kątem 80 0 bez pogorszenia wydajności wzrokowej. Dopuszczalne są ruchy głową. Klasa nie jest przeznaczona dla zadań wymagających wąskich kątów obserwacji w celu np. zapewnienia prywatności lub niskiego poboru mocy. UmoŜliwia jednemu uŝytkownikowi obserwację całej powierzchni ekranu monitora z kaŝdego miejsca na wprost ekranu. Dopuszczalne są ruchy głową. Klasa nie jest zalecana dla zadań wymagających wąskich kątów obserwacji w celu np. zapewnienia prywatności lub niskiego poboru mocy. UmoŜliwia jednemu uŝytkownikowi obserwację całej powierzchni ekranu monitora z jednego określonego miejsca na wprost ekranu. uchy głową nie są dozwolone. Klasa jest zalecana dla zadań wymagających wąskich kątów obserwacji w celu np. zapewnienia prywatności lub niskiego poboru mocy. UmoŜliwia jednemu uŝytkownikowi obserwację centralnej części ekranu monitora z jednego określonego miejsca na wprost ekranu. uchy głową nie są dozwolone. Klasa jest przeznaczona dla zadań wymagających wąskich kątów obserwacji w celu np. zapewnienia prywatności lub niskiego poboru mocy
2 ys. 1. Ilustracja klas kierunków obserwacji Class(Viewing). Strzałki oznaczają moŝliwe kierunki ruchu głową [2]. Monitory CD mogą posiadać powierzchnię ekranu charakteryzującą się róŝnymi właściwościami odbiciowymi. Powierzchnia ekranu moŝe być matowa, gładka (tzw. glare ), moŝe równieŝ mieć nałoŝone warstwy zmniejszające wartość współczynnika odbicia. Oświetlenie zewnętrzne stanowiska pracy z monitorem moŝe powodować szereg niekorzystnych zjawisk takich jak: - zmniejszenie kontrastu luminancji wyświetlanego obraz, - olśnienie, - obrazy obiektów odbijające się na powierzchni ekranu zmniejszają czytelność wyświetlanych obrazów. Odbicie ambertowskie (rozproszone) występujące w przypadku matowych powierzchni monitorów zwiększa jaskrawość szczególnie ciemnych fragmentów wyświetlanych obrazów. Odbicie kierunkowe (ekrany glare ) oprócz zmniejszenia kontrastu powoduje często konieczność zmiany odległości punktu obserwacji (akomodacja) ze względu na przenoszenie punktu obserwacji z powierzchni ekranu na powierzchnię obiektu, którego obraz odbija się na ekranie. Odbicie ambertowskie (rozproszone) jest przez większość obserwatorów oceniane jako niej uciąŝliwe. Monitory CD dzieli się na trzy klasy jakości ochrony przez niepoŝądanymi odbiciami Class(eflection) (Tab. 2, ys. 2) [2]
3 Tabela 2. Wartości luminancji odniesieniowych (EF) słuŝących do wyznaczania klas ochrony przed niepoŝądanymi odbiciami Class(eflection) [2]. Class (eflection) Wartość luminancji odniesieniowych (EF) [cd/m 2 ] Przeznaczenie I Zarówno EF EXT-I = 200 oraz EF SM-I = 2000 Do wszystkich biur II Albo EF EXT-II = 200 albo EF SM-II = 2000 Do większości lecz nie do wszystkich biur III Albo EF EXT-III = 125 albo EF SM-III = 200 Wymagają specjalnie dostosowanych warunków oświetlenia EXT źródło o duŝych rozmiarach do sprawdzenia odbicia kierunkowego SM źródło o małych rozmiarach do sprawdzenia odbicia kierunkowego odbicie rozproszone odbicie kierunkowe (ekran typu glare ) ys. 2. Ilustracja zjawiska niepoŝądanego odbicia w ekranie monitora. NiepoŜądany obraz twarzy obserwatora (2) odbija się na ekranie monitora (1) [2]. ys. 3. ysunek układu pomiarowego uwzględniający połoŝenie miernika luminancji (2) oraz dwóch źródeł oświetlenia zewnętrznego (rozproszonego DIFF) (1 i 3) i źródła do sprawdzenia odbicia kierunkowego EXT i SM (5), płaszczyznę umieszczenia powierzchni ekranu oraz wzorca współczynnika odbicia oznaczono jako (4) [2]
4 Opis przyjętych oznaczeń: Wyświetlany obraz: (High State) na ekranie wyświetlany jest jednolity obraz: =G=B=100%. (ow State) na ekranie wyświetlany jest jednolity obraz: =G=B=0%. Punkty pomiarowe: C (Central ocation) punkt na środku ekranu. H (High uminance) punkt o największej wartości luminancji. (ow uminance) punkt o najmniejszej wartości luminancji. Kierunki i kąty: θ - kąt obserwacji. θ range dopuszczalny zakres kątów obserwacji. θ lm kąt połoŝenia miernika luminancji w stosunku do normalnej do powierzchni ekranu. θ sg kąt połoŝenia źródła światła o luminancji g do oceny składowej kierunkowej odbicia powierzchni ekranu. θ dg kąt połoŝenia źródła światła o luminancji g do oceny składowej rozproszonej odbicia powierzchni ekranu. φ kąt azymutowy. C (kontrast luminancji) stosunek maksymalnej wartości luminancji H do minimalnej wartości luminancji. wzorzec współczynnika odbicia (ambertowski - odbicie rozproszone) EXT źródło o duŝych rozmiarach do sprawdzenia odbicia kierunkowego SM źródło o małych rozmiarach do sprawdzenia odbicia kierunkowego θ/θ=0 1/1.4 1/ rozkład luminancji kryterium oceny 1/C θ range1 θ range2 kąt θ ys. 4. Zmiana luminancji ekranu w funkcji kąta obserwacji. Dwie poziome linie przedstawiają graniczne wartości kontrastu i wyznaczają dopuszczalne wartości kątów obserwacji dla wyświetlania tzw. reality i artificial information
5 2. ozkład luminancji. 2A. Pomiar rozkładu luminancji w funkcji kąta obserwacji. Pozycja monitora Zastosowane przyrządy pomiarowe Wyświetlany obraz Pole pomiarowe Oświetlenie Opis pomiarów pionowa, na obrotowej podstawie z podziałką kątową luksomierz -100 z przystawką do pomiaru luminancji ustawiony na stojaku na wprost monitora C ciemnia powierzchnię ekranu ustawić w osi obrotowej podstawy zmieniać kąty obserwacji θ lm od 0 do 80 0 co 10 0 pomiary wykonać dla czterech kierunków: lewo-prawo, góra-dół Tabela 3. Pomiar rozkładu luminancji w funkcji kąta obserwacji. Kąt obserwacji θ [1 0 ] kierunek w lewo (θ) [cd/m 2 ] kierunek w prawo (θ) [cd/m 2 ] kierunek w górę (θ) [cd/m 2 ] kierunek w dół (θ) [cd/m 2 ] Kryterium oceny: Kontrast luminancji C nie powinien przekraczać wartości 1,4 (reality information). Kontrast luminancji C nie moŝe przekraczać wartości 1,7 (artificial information). Zadania do wykonania: Narysować wykresy θ/ = f(θ) (przykładowy wykres z oznaczeniami na rys. 4) Na wykresie zaznaczyć dwie poziome linie przecinające pionową oś wykresu w miejscu współrzędnych o wartościach 1/1,4 oraz 1/1,7 Wyznaczyć dopuszczalny zakres kątów obserwacji (θrange) w zakresie których spełnione jest kryterium kontrastu luminancji C. eality information: - w płaszczyźnie poziomej: θrange =... - w płaszczyźnie pionowej: θrange =... Artificial information: - w płaszczyźnie poziomej: θrange =... - w płaszczyźnie pionowej: θrange =
6 2B. Pomiar rozkładu luminancji na powierzchni monitora. Pozycja monitora Zastosowane przyrządy pomiarowe Wyświetlany obraz Oświetlenie Pole pomiarowe Opis pomiarów pozioma luksomierz -100 z przystawką do pomiaru luminancji ustawiony na stojaku z osią optyczną skierowaną pionowo w dół i ciemnia dziewięć pól pomiarowych miernik ustawiać kolejno nad punktami pomiarowymi kąt połoŝenia miernika θlm = 0 0 (prostopadle do pow. ekranu) Tabela 4. Pomiar luminancji w dziewięciu punktach przy dwóch stanach ekranu. Numer punktu pomiarowego / luminancja [cd/m 2 ] Zadania do wykonania: Wyznaczyć średnią wartość luminancji: - dla stanu, śr. =... - dla stanu, śr. =... Wyznaczyć równomierność luminancji - dla stanu, U=min. / śr. =... - dla stanu, U=min. / śr. =... Wyznaczyć zakres tonalny monitora (tzw. kontrast statyczny np. 500:1): śr. / śr. : śr. / śr. = : 1 Przyjąć następujące oznaczenie trzech punktów pomiarowych i odpowiednio oznaczyć zmierzone wartości luminancji: C punkt centralny monitora (nr 5): dark,(c-0) =... dark,(c-0) =... H punkt o największej wartości luminancji dark,(h-0) =... dark,(h-0) =... punkt o najmniejszej wartości luminancji dark,(-0) =... dark,(-0) =
7 2C. Pomiar luminancji dla róŝnych kierunków obserwacji (w ciemni i przy oświetleniu zewnętrznym, rozproszonym). Pozycja monitora pozioma, monitor ustawiony na obrotowej podstawie Zastosowane przyrządy pomiarowe miernik luminancji MT 1009, pole pomiarowe 3 0, miernik ustawiony na statywie skierowany w dół pod kątem 40 0 w stosunku do normalnej do powierzchni ekranu Wyświetlany obraz i Oświetlenie a). ciemnia (tabela 5) Pole pomiarowe Opis pomiarów b). dwa źródła światła (DIFF) ustawione po bokach ekranu zapewniające światło rozproszone (tabela 6) C - cztery charakterystyczne, prostopadłe kierunki: 1 od dołu ekranu, 2 z prawej strony, 3 od góry, 4 z lewej strony. środek powierzchni ekranu ustawić w osi obrotowej podstawy obracać podstawę co 90 0, kąt połoŝenia miernika θlm = 40 0 po ustawieniu monitora w danym połoŝeniu (C-1 C-4) wykonać dwa pomiary: 1. w ciemni (wynik zapisać w tabeli 5) 2. z włączonymi źródłami światła rozproszonego (wynik zapisać w tabeli 6) Wzorzec wsp. odbicia ρ = 0,... UWAGA: po ustawieniu źródeł oświetlenia zewnętrznego w danym połoŝeniu nie naleŝy ich przesuwać w trakcie trwania całej serii pomiarów na powierzchni monitora połoŝyć czarną tkaninę, na niej połoŝyć wzorzec współczynnika odbicia, wykonać pomiar luminancji dla jednego kierunku przy włączonych źródłach światła rozproszonego Tabela 5. Pomiar luminancji dla róŝnych kierunków obserwacji (w ciemni). Kąt połoŝenia miernika θlm = 40 0 C-n = C-1 C-2 C-3 C-4 dark,(c-n) [cd/m 2 ] dark,(c-n) [cd/m 2 ] Tabela 6. Pomiar luminancji dla róŝnych kierunków obserwacji (z dwoma źródłami światła rozproszonego DIFF). Kąt połoŝenia miernika θlm = 40 0 C-n = C-1 C-2 C-3 C-4 DIFF,(C-n) [cd/m 2 ] DIFF,(C-n) [cd/m 2 ] DIFF,(C-1) [cd/m 2 ] wzorzec wsp. odbicia
8 2D. Obliczenia (dla punktów 2B i 2C): DIFF, OFF(C n) DIFF, OFF(C n) = = DIFF,(C n) DIFF,(C n) dark,(c n) dark,(c n) Tabela 7. Wyniki obliczeń. uminancja ekranu przy świetle rozproszonym. C-n = C-1 C-2 C-3 C-4 DIFF,-OFF(C-n) [cd/m 2 ] DIFF,-OFF(C-n) [cd/m 2 ] DIFF, OFF(C n) DIFF, OFF(C n) = q DIFF,(C 1) DIFF, OFF(C n) DIFF, OFF(C n) = q DIFF,(C 1) gdzie: n=1,2,3,4. q ρ = π Tabela 8. Wyniki obliczeń. Wartość reflektometryczna ekranu dla oświetlenia rozproszonego. C-n = C-1 C-2 C-3 C-4 DIFF,-OFF(C-n) DIFF,-OFF(C-n) Es,(C n) = dark,(c n) + DIFF, OFF(C n) Es,(C n) = dark,(c n) + DIFF, OFF(C n) E E dark,(h 0) Es,(H n) = dark,(c n) + DIFF, OFF(C n) dark,(c 0) dark,(h 0) Es,(H n) = dark,(c n) + DIFF, OFF(C n) dark,(c 0) dark,( 0) Es,( n) = dark,(c n) + DIFF, OFF(C n) dark,(c 0) dark,( 0) Es,( n) = dark,(c n) + DIFF, OFF(C n) dark,(c 0) gdzie: n=1,2,3,4. Es - odniesieniowa wartość natęŝenia oświetlenia na powierzchni monitora (przy pionowej pozycji pracy monitora Es=250lx) Tabela 9. Wyniki obliczeń. uminancja ekranu odniesiona do projektowanej wartości nat. ośw. Es. n = Es,(C-n) [cd/m 2 ] Es,(C-n) [cd/m 2 ] Es,(H-n) [cd/m 2 ] Es,(H-n) [cd/m 2 ] Es,(-n) [cd/m 2 ] Es,(-n) [cd/m 2 ] s s E E E s E s s s
9 Kryterium oceny kontrastu: Dla zapewnienia właściwych warunków widzenia (rozpoznawania wyświetlanych na ekranie informacji) kontrast luminancji znaku względem tła ekranu przy uwzględnieniu wpływu oświetlenia zewnętrznego powinien spełniać następujące kryterium. Es,(n) Es,(n) 0.55 Es,(n) gdzie: n=c-1...c-4, H-1...H-4, Zadania do wykonania: Podstawić odpowiednie wartości do podanego wzoru i sprawdzić warunek dla wszystkich punktów i kierunków. Kryterium oceny równomierności luminancji: Dla zapewnienia właściwych warunków widzenia (rozpoznawania wyświetlanych na ekranie informacji) równomierność luminancji oceniana poprzez wartość kontrastu luminancji (gdzie kontrast luminancji C to stosunek maksymalnej wartości luminancji H do minimalnej wartości luminancji ) dla wartości luminancji podanych w Tabeli 10 nie moŝe przekraczać wartości 1,7. C = H,(n),(n) < 1,7 gdzie: n= Tabela 10. Wyniki obliczeń. uminancja ekranu odniesiona do projektowanej wartości natęŝenia oświetlenia Es. n = Es,(C-n) [cd/m 2 ] Es,(H-n) [cd/m 2 ] Es,(-n) [cd/m 2 ] Zadania do wykonania: Sprawdzić czy badany monitor spełnia podane wyŝej wymaganie odnośnie równomierności luminancji
10 3. Wyznaczanie klasy jakości ochrony przez niepoŝądanymi odbiciami Class(eflection). 3A. Pomiar luminancji dla róŝnych kierunków obserwacji (w ciemni i przy oświetleniu zewnętrznym, rozproszonym) Pozycja monitora pozioma, monitor ustawiony na obrotowej podstawie Zastosowane przyrządy pomiarowe miernik luminancji MT 1009, pole pomiarowe 3 0, miernik ustawiony na statywie skierowany w dół pod kątem 15 0 w stosunku do normalnej do powierzchni ekranu Wyświetlany obraz i Oświetlenie a). ciemnia (tabela 11) Pole pomiarowe Opis pomiarów b). dwa źródła światła (DIFF) ustawione po bokach ekranu zapewniające światło rozproszone (tabela 12) C - cztery charakterystyczne, prostopadłe kierunki: 1 od dołu ekranu, 2 z prawej strony, 3 od góry, 4 z lewej strony. układ źródeł światła i wzorca taki sam jak w punkcie 2C, zmienia się jedynie kąt połoŝenia miernika θlm = 15 0, środek powierzchni ekranu ustawić w osi obrotowej podstawy obracać podstawę co 90 0 po ustawieniu monitora w danym połoŝeniu (C-1S C-4S) wykonać dwa pomiary: 1. w ciemni (wynik zapisać w tabeli 11) 2. z włączonymi źródłami światła rozproszonego (wynik zapisać w tabeli 12) Wzorzec wsp. odbicia ρ = 0,... UWAGA: po ustawieniu źródeł oświetlenia zewnętrznego w danym połoŝeniu nie naleŝy ich przesuwać w trakcie trwania całej serii pomiarów na powierzchni monitora połoŝyć czarną tkaninę, na niej połoŝyć wzorzec współczynnika odbicia, wykonać pomiar luminancji dla jednego kierunku Tabela 11. Pomiar luminancji dla róŝnych kierunków obserwacji (w ciemni). Kąt połoŝenia miernika θ lm = 15 0 C-nS = C-1S C-2S C-3S C-4S dark,(c-ns) [cd/m 2 ] dark,(c-ns) [cd/m 2 ] Tabela 12. Pomiar luminancji dla róŝnych kierunków obserwacji (z dwoma źródłami światła rozproszonego DIFF). Kąt połoŝenia miernika θlm = 15 0 C-nS = C-1S C-2S C-3S C-4S DIFF,(C-nS) [cd/m 2 ] DIFF,(C-nS) [cd/m 2 ] DIFF,(C-1S) [cd/m 2 ] wzorzec wsp. odbicia
11 3B. Pomiar luminancji przy oświetleniu źródłem do oceny odbicia kierunkowego. Pozycja monitora Zastosowane przyrządy pomiarowe Wyświetlany obraz Oświetlenie Pole pomiarowe Opis pomiarów Wzorzec wsp. odbicia ρ = 0,... pozioma, monitor ustawiony na obrotowej podstawie miernik luminancji MT 1009, pole pomiarowe 1 0 lub 20, miernik ustawiony na statywie skierowany w dół pod kątem 15 0 w stosunku do normalnej do powierzchni ekranu i jedno źródło światła ustawione na przeciwko miernika luminancji, wykonuje się dwa pomiary dla dwóch źródeł o róŝnych rozmiarach: EXT - źródło o duŝych rozmiarach, SM - o małych rozmiarach C - cztery charakterystyczne, prostopadłe kierunki: 1 od dołu ekranu, 2 z prawej strony, 3 od góry, 4 z lewej strony. źródło EXT ustawia się na przeciwko miernika luminancji, pole pomiarowe miernika kieruje się na obraz źródła widoczny na powierzchni ekranu UWAGA: po ustawieniu źródeł EXT i SM w danym połoŝeniu nie naleŝy ich przesuwać w trakcie trwania całej serii pomiarów kąt połoŝenia miernika θ lm = 15 0, środek powierzchni ekranu ustawić w osi obrotowej podstawy obracać podstawę co 90 0 na powierzchni monitora połoŝyć czarną tkaninę, na niej połoŝyć wzorzec współczynnika odbicia, wykonać pomiar luminancji dla jednego kierunku ( a ) ( b ) ys. 4. ysunek układu pomiarowego ze źródłami do sprawdzenia odbicia kierunkowego. (a) źródło o duŝych rozmiarach EXT (2), przysłona do tworzenia źródła o małych rozmiarach SM (1), miernik luminancji (3). (b) źródło do sprawdzenia odbicia kierunkowego EXT i SM (1), miernik luminancji (2) i płaszczyzna umieszczenia powierzchni ekranu oraz wzorca współczynnika odbicia (3) [2]. Tabela 13. Pomiar luminancji dla róŝnych kierunków obserwacji. Kąt połoŝenia miernika θlm = 15 0 C-nS = C-1S C-2S C-3S C-4S Źródło -EXT,(C-nS) [cd/m 2 ] EXT -EXT,(C-nS) [cd/m 2 ] EXT -EXT,(C-1S) [cd/m 2 ] EXT -SM,(C-nS) [cd/m 2 ] -SM,(C-nS) [cd/m 2 ] SM SM -SM,(C-1S) [cd/m 2 ] SM
12 3C. Pomiar luminancji źródeł światła g. Pozycja monitora Zastosowane przyrządy pomiarowe Wyświetlany obraz Oświetlenie Pole pomiarowe Opis pomiarów pozioma miernik luminancji MT 1009, pole pomiarowe 1 0 lub 20, miernik ustawiony na statywie skierowany w dół pod kątem 15 0 w stosunku do normalnej do powierzchni ekranu nie dotyczy EXT - źródło o duŝych rozmiarach, SM - źródło o małych rozmiarach nie dotyczy źródło EXT oraz SM ustawić się na przeciwko miernika luminancji (połoŝenie identyczne jak w punkcie 3C), Tabela 14. Pomiar luminancji źródeł światła. -EXT,g [cd/m 2 ] na powierzchni monitora połoŝyć lustro, pole pomiarowe miernika skierować na obraz źródła widoczny na powierzchni lustra, zmierzyć luminancję obrazu źródła odbijającego się w lustrze o do obliczenia luminancji powierzchni źródła g, przyjąć wartość współczynnika odbicia lustra ρ = o g = o / ρ Źródło EXT -SM,g [cd/m 2 ] SM 3E. Obliczenia (dla punktów 3A, 3B i 3C): S EXT, OFF(C S EXT, OFF(C S SM, OFF(C S SM, OFF(C = = = = S EXT,(C S EXT,(C S SM,(C S SM,(C dark,(c dark,(c dark,(c dark,(c Tabela 15. Wyniki obliczeń. uminancja ekranu przy świetle kierunkowym. C-nS = C-1S C-2S C-3S C-4S -EXT,-OFF(C-nS) [cd/m 2 ] -EXT,-OFF(C-nS) [cd/m 2 ] -SM,-OFF(C-nS) [cd/m 2 ] -SM,-OFF(C-nS) [cd/m 2 ]
13 DIFF, OFF(C DIFF, OFF(C = = DIFF,(C DIFF,(C ns) dark,(c dark,(c Tabela 16. Wyniki obliczeń. uminancja ekranu przy świetle rozproszonym. C-nS = C-1S C-2S C-3S C-4S DIFF,-OFF(C-nS) [cd/m 2 ] DIFF,-OFF(C-nS) [cd/m 2 ] DIFF, OFF(C = DIFF, OFF(C = q q DIFF, OFF(C DIFF,(C 1S) DIFF, OFF(C DIFF,(C 1S) gdzie: ρ q = π Tabela 17. Wyniki obliczeń. Wartość reflektometryczna ekranu dla oświetlenia rozproszonego. C-nS = C-1S C-2S C-3S C-4S DIFF,-OFF(C-nS) DIFF,-OFF(C-nS) DIFF, OFF(C EXT, OFF(C EXT,(C 1S) q S EXT, OFF(C = EXT,g DIFF, OFF(C EXT, OFF(C EXT,(C 1S) q S EXT, OFF(C = EXT,g DIFF, OFF(C SM, OFF(C SM,(C 1S) q S SM, OFF(C = SM,g DIFF, OFF(C SM, OFF(C SM,(C 1S) q S SM, OFF(C ns) = SM,g Tabela 18. Wyniki obliczeń. Wartość reflektometryczna ekranu dla oświetlenia kierunkowego. C-nS = C-1S C-2S C-3S C-4S S-EXT,-OFF(C-nS) S-EXT,-OFF(C-nS) S-SM,-OFF(C-nS) S-SM,-OFF(C-nS)
14 Es,(C Es,(C = = dark,(c dark,(c + E + E S S DIFF, OFF(C DIFF, OFF(C gdzie: ES - odniesieniowa wartość natęŝenia oświetlenia na powierzchni monitora (przy pionowej pozycji pracy monitora Es=250lx) Tabela 19. Wyniki obliczeń. uminancja ekranu przeliczona z uwzględnieniem odniesieniowych wartości natęŝenia oświetlenia Es. Es,(C-nS) [cd/m 2 ] Es,(C-nS) [cd/m 2 ] C-nS = C-1S C-2S C-3S C-4S EFEXT I,(C = Es,(C + EFEXT I EFEXT I,(C = Es,(C + EFEXT I EFSM I,(C ns) = Es,(C + EFSM I EFSM I,(C = Es,(C + EFSM I EFEXT III,(C = Es,(C + EFEXT III EFEXT III,(C = Es,(C + EFEXT III EFSM III,(C = Es,(C + EFSM III EFSM III,(C = Es,(C + EFSM III S EXT, OFF(C S EXT, OFF(C S SM, OFF(C S SM, OFF(C ns) S EXT, OFF(C S EXT, OFF(C S SM, OFF(C S SM, OFF(C ns) gdzie: EFEXT, EFSM - odniesieniowe wartości luminancji dla oceny klas ochrony przed niepoŝądanymi odbiciami (patrz Tabela 2) Tabela 20. Wyniki obliczeń. uminancja ekranu przeliczona z uwzględnieniem odniesieniowych wartości natęŝenia oświetlenia Es oraz do odniesieniowych wartości luminancji źródeł światła dla oceny klasy ochrony przed niepoŝądanymi odbiciami. C-nS = C-1S C-2S C-3S C-4S EFEXT-I,(C-nS) [cd/m 2 ] EFEXT-I,(C-nS) [cd/m 2 ] EFSM-I,(C-nS) [cd/m 2 ] EFSM-I,(C-nS) [cd/m 2 ] EFEXT-III,(C-nS) [cd/m 2 ] EFEXT-III,(C-nS) [cd/m 2 ] EFSM-III,(C-nS) [cd/m 2 ] EFSM-III,(C-nS) [cd/m 2 ]
15 Kryterium oceny: Wyznaczanie klasy jakości ochrony przez niepoŝądanymi odbiciami Class(eflection). Tabela 21. Wymaganie odnoszące się do zapewnienia właściwego kontrastu przy występowaniu odbić na ekranie. Class(eflection) I Zarówno oraz EFSM I,(C EFSM I,(C EFEXT I,(C EFEXT I,(C Opis EFSM I,(C 0.55 EFEXT I,(C II Albo albo EFSM I,(C EFSM I,(C EFEXT I,(C EFEXT I,(C EFSM I,(C 0.55 EFEXT I,(C III Albo albo EFSM III,(C EFSM III,(C EFEXT III,(C EFEXT III,(C EFSM III,(C ns) 0.55 EFEXT III,(C Tabela 22. Wymaganie odnoszące się do zapewnienia właściwego kontrastu przy występowaniu niepoŝądanych odbić na ekranie (wyraźne obrazy nakładające się na wyświetlaną informację). Wymagania dotyczą polaryzacji dodatniej (czarne znaki na jasnym tle). Class(eflection) I Opis EFSM I,(C Zarówno 1, 25 Es,(C EFEXT I,(C oraz 1, 25 Es,(C II III EFSM I,(C Albo 1, 25 Es,(C EFSM III,(C Albo 1, 25 Es,(C EFEXT I,(C albo 1, 25 Es,(C EFEXT III,(C albo 1, 25 Es,(C Zadania do wykonania: Na podstawie podanych wyŝej kryteriów sprawdzić do jakiej klasy moŝna przypisać badany monitor
16 iteratura. [1] PN-EN ISO : Wymagania ergonomiczne dotyczące pracy biurowej z zastosowaniem monitorów ekranowych z płaskim ekranem. Część 1: Wprowadzenie. [2] PN-EN ISO : Wymagania ergonomiczne dotyczące pracy biurowej z zastosowaniem monitorów ekranowych z płaskim ekranem. Część 2: Wymagania ergonomiczne dotyczące monitorów z płaskim ekranem. [3] PN-EN ISO :2009: Ergonomia interakcji człowieka i systemu -- Część 300: Wprowadzenie do wymagań dotyczących monitorów ekranowych elektronicznych. [4] PN-EN ISO :2009: Ergonomia interakcji człowieka i systemu -- Część 302: Terminologia dotycząca monitorów ekranowych elektronicznych. [5] PN-EN ISO :2009: Ergonomia interakcji człowieka i systemu -- Część 303: Wymagania dotyczące monitorów ekranowych elektronicznych. [6] PN-EN ISO :2009: Ergonomia interakcji człowieka i systemu -- Część 304: Metody badań z zastosowaniem wykonania zadań przez uŝytkownika. [7] PN-EN ISO :2009: Ergonomia interakcji człowieka i systemu -- Część 305: Metody laboratoryjnych badań optycznych monitorów ekranowych elektronicznych. [8] PN-EN ISO :2009: Ergonomia interakcji człowieka i systemu -- Część 307: Analiza i metody badania spełnienia wymagań dotyczących monitorów ekranowych elektronicznych
- 1 - wersja z dnia, Kierunek Informatyka, studia stacjonarne, pierwszy stopień, sem. 6. Podstawy inŝynierii barwy. Laboratorium.
Kierunek Informatyka, studia stacjonarne, pierwszy stopień, sem. 6. Podstawy inŝynierii barwy. aboratorium. Ćwiczenie nr 1. wersja z dnia, 17.05.2010 Temat: BADANIE WŁAŚCIWOŚCI FOTOMETRYCZNYCH MONITORÓW.
Bardziej szczegółowoRys 1. Układ do wyznaczania charakterystyko kątowej
Kierunek Informatyka, studia stacjonarne, pierwszy stopień, sem. 6. Podstawy inŝynierii barwy. Laboratorium. Ćwiczenie nr. wersja z dnia, 17.05.010 Temat: ADANIE WŁAŚCIWOŚCI KOLOYMETYCZNYCH MONITOÓW. 1.
Bardziej szczegółowoTEMAT: POMIAR LUMINANCJI MATERIAŁÓW O RÓśNYCH WŁAŚCIWOŚCIACH FOTOMETRYCZNYCH
Grupa: Elektrotechnika, Studia stacjonarne, II stopień, sem. 1. wersja z dn. 18.03.2011 aboratorium Techniki Świetlnej Ćwiczenie nr 2. TEMAT: POMIAR UMIACJI MATERIAŁÓW O RÓśYCH WŁAŚCIWOŚCIACH FOTOMETRYCZYCH
Bardziej szczegółowoOCENA PRACY WZROKOWEJ NA STANOWISKACH KOMPUTEROWYCH W RÓśNYCH WARUNKACH OŚWIETLENIOWYCH
STUDIA NIESTACJONARNE II STOPNIA wersja z dnia 3.12.2009 KIERUNEK ELEKTROTECHNIKA SEM 3. Laboratorium PODSTAW TECHNIKI ŚWIETLNEJ TEMAT: OCENA PRACY WZROKOWEJ NA STANOWISKACH KOMPUTEROWYCH W RÓśNYCH WARUNKACH
Bardziej szczegółowoGrupa: Elektrotechnika, Studia stacjonarne, II stopień, sem. 1. wersja z dn Laboratorium Techniki Świetlnej
Grupa: Elektrotechnika, Studia stacjonarne, II stopień, sem. 1. wersja z dn. 29.03.2016 aboratorium Techniki Świetlnej Ćwiczenie nr 5. TEMAT: POMIAR UMIACJI MATERIAŁÓW O RÓŻYCH WŁASOŚCIACH FOTOMETRYCZYCH
Bardziej szczegółowoOświetlenie oraz pole elektryczne i magnetyczne na stanowisku do pracy z komputerem.
Oświetlenie oraz pole elektryczne i magnetyczne na stanowisku do pracy z komputerem. I. Oświetlenie. 1. Przedmiot. Pomiar parametrów technicznych pracy wzrokowej na stanowiskach wyposażonych w monitory
Bardziej szczegółowoWARUNKI TECHNICZNE 2. DEFINICJE
WARUNKI TECHNICZNE 1. ZAKRES WARUNKÓW TECHNICZNYCH W niniejszych WT określono wymiary i minimalne wymagania dotyczące jakości (w odniesieniu do wad optycznych i widocznych) szkła float stosowanego w budownictwie,
Bardziej szczegółowoĆwiczenie nr 6 Temat: BADANIE ŚWIATEŁ DO JAZDY DZIENNEJ
60-965 Poznań Grupa: Elektrotechnika, sem 3., Podstawy Techniki Świetlnej Laboratorium wersja z dn. 03.11.2015 Ćwiczenie nr 6 Temat: BADANIE ŚWIATEŁ DO JAZDY DZIENNEJ Opracowanie wykonano na podstawie
Bardziej szczegółowoWYZNACZANIE BRYŁY FOTOMETRYCZNEJ LAMP I OPRAW OŚWIETLENIOWYCH
6-965 Poznań tel. (-61) 6652688 fax (-61) 6652389 STUDIA NIESTACJONARNE II STOPNIA wersja z dnia 2.11.212 KIERUNEK ELEKTROTECHNIKA SEM 3. Laboratorium TECHNIKI ŚWIETLNEJ TEMAT: WYZNACZANIE BRYŁY FOTOMETRYCZNEJ
Bardziej szczegółowoInstrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego nr 5
Instrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego nr 5 Temat: Charakterystyki statyczne tranzystorów bipolarnych Cel ćwiczenia. Celem ćwiczenia jest poznanie charakterystyk prądowonapięciowych i wybranych parametrów
Bardziej szczegółowoĆwiczenie nr 1. Temat: BADANIE OSTROŚCI WIDZENIA W RÓŻNYCH WARUNKACH OŚWIETLENIOWYCH
Grupa: Elektrotechnika, sem 3., wersja z dn. 03.10.2011 Podstawy Techniki Świetlnej Laboratorium Ćwiczenie nr 1. Temat: BADANIE OSTROŚCI WIDZENIA W RÓŻNYCH WARUNKACH OŚWIETLENIOWYCH Opracowanie wykonano
Bardziej szczegółowoLABORATORIUM MECHANIKI PŁYNÓW. Ćwiczenie N 2 RÓWNOWAGA WZGLĘDNA W NACZYNIU WIRUJĄCYM WOKÓŁ OSI PIONOWEJ
LABORATORIUM MECHANIKI PŁYNÓW Ćwiczenie N RÓWNOWAGA WZGLĘDNA W NACZYNIU WIRUJĄCYM WOKÓŁ OSI PIONOWEJ . Cel ćwiczenia Pomiar współrzędnych powierzchni swobodnej w naczyniu cylindrycznym wirującym wokół
Bardziej szczegółowoEFEKT FOTOWOLTAICZNY OGNIWO SŁONECZNE
ĆWICZENIE 104 EFEKT FOTOWOLTAICZNY OGNIWO SŁONECZNE Instrukcja wykonawcza 1. Wykaz przyrządów 1. Panel z ogniwami 5. Zasilacz stabilizowany oświetlacza 2. Oświetlacz 3. Woltomierz napięcia stałego 4. Miliamperomierz
Bardziej szczegółowoMINIMALNE WYMAGANIA BEZPIECZEŃSTWA I HIGIENY PRACY ORAZ ERGONOMII, JAKIE POWINNY SPEŁNIĆ STANOWISKA PRACY WYPOSAŻONE W MONITORY EKRANOWE
URZĄDZENIA TECHNIKI KOMPUTEROWEJ WWW.EDUNET.TYCHY.PL MINIMALNE WYMAGANIA BEZPIECZEŃSTWA I HIGIENY PRACY ORAZ ERGONOMII, JAKIE POWINNY SPEŁNIĆ STANOWISKA PRACY WYPOSAŻONE W MONITORY EKRANOWE DZ.U. 1998
Bardziej szczegółowoInstrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego nr 11
Instrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego nr 11 Temat: Charakterystyki i parametry tyrystora Cel ćwiczenia. Celem ćwiczenia jest poznanie właściwości elektrycznych tyrystora. I. Wymagane wiadomości. 1. Podział
Bardziej szczegółowoSTUDIA STACJONARNE II STOPNIA wersja z dnia
KIERUNEK ELEKTROTECHNIKA SEM 1. Laboratorium TECHNIKI ŚWIETLNEJ 60-965 Poznań STUDIA STACJONARNE II STOPNIA wersja z dnia 20.03.2011 Ćwiczenie nr 4 TEMAT: OCENA JAKOŚCI OŚWIETLENIA MIEJSC PRACY WE WNĘTRZACH
Bardziej szczegółowo1. Opis okna podstawowego programu TPrezenter.
OPIS PROGRAMU TPREZENTER. Program TPrezenter przeznaczony jest do pełnej graficznej prezentacji danych bieżących lub archiwalnych dla systemów serii AL154. Umożliwia wygodną i dokładną analizę na monitorze
Bardziej szczegółowoTemat: WYZNACZANIE OBROTOWO-SYMETRYCZNEJ BRYŁY FOTOMETRYCZNEJ
STUDIA NIESTACJONARNE I STOPNIA, wersja z dn. 15.10.018 KIERUNEK ELEKTROTECHNIKA, SEM.5 Podstawy Techniki Świetlnej Laboratorium Ćwiczenie nr 4 Temat: WYZNACZANIE OBROTOWO-SYMETRYCZNEJ BRYŁY FOTOMETRYCZNEJ
Bardziej szczegółowoWYZNACZANIE WSPÓŁCZYNNIKA ZAŁAMANIA SZKŁA ZA POMOCĄ SPEKTROMETRU CZĘŚĆ (A-zestaw 1) Instrukcja wykonawcza
ĆWICZENIE 76A WYZNACZANIE WSPÓŁCZYNNIKA ZAŁAMANIA SZKŁA ZA POMOCĄ SPEKTROMETRU CZĘŚĆ (A-zestaw ) Instrukcja wykonawcza. Wykaz przyrządów Spektrometr (goniometr) Lampy spektralne Pryzmaty. Cel ćwiczenia
Bardziej szczegółowoOrganizacja stanowiska pracy z komputerem:
Organizacja stanowiska pracy z komputerem: Materiały szkoleniowe Podstawa prawna: Rozporządzenie Ministra Pracy i Polityki Socjalnej z dnia 1 grudnia 1998 r. w sprawie bezpieczeństwa i higieny pracy na
Bardziej szczegółowoWYZNACZANIE WSPÓŁCZYNNIKA ZAŁAMANIA SZKŁA ZA POMOCĄ SPEKTROMETRU.
0.X.00 ĆWICZENIE NR 76 A (zestaw ) WYZNACZANIE WSPÓŁCZYNNIKA ZAŁAMANIA SZKŁA ZA POMOCĄ SPEKTROMETRU. I. Zestaw przyrządów:. Spektrometr (goniometr), Lampy spektralne 3. Pryzmaty II. Cel ćwiczenia: Zapoznanie
Bardziej szczegółowoWykonał: Grzegorz Bączek
Praca dyplomowa magisterska Kierujący pracą: dr inż. Piotr Tomczuk Konsultant: dr inż. Marek Buda Wykonał: Grzegorz Bączek Zakres pracy: 1. Wstęp. 2. Charakterystyka rodzajów sygnalizatorów stosowanych
Bardziej szczegółowoWSTAWIANIE GRAFIKI DO DOKUMENTU TEKSTOWEGO
WSTAWIANIE GRAFIKI DO DOKUMENTU TEKSTOWEGO Niezwykle uŝyteczną cechą programu Word jest łatwość, z jaką przy jego pomocy moŝna tekst wzbogacać róŝnymi obiektami graficznymi, np. zdjęciami, rysunkami czy
Bardziej szczegółowoPL-68 INSTRUKCJA OBSŁUGI
SONOPAN Sp. z o.o. 15-950 Białystok, ul. Ciołkowskiego 2/2 tel., fax (85) 742 36 62 http://www.sonopan.com.pl Przystawka do pomiaru luminancji za pomocą luksomierza PL-68 INSTRUKCJA OBSŁUGI SPIS TREŚCI:
Bardziej szczegółowoPROFIL PRĘDKOŚCI W RURZE PROSTOLINIOWEJ
LABORATORIUM MECHANIKI PŁYNÓW Ćwiczenie N 7 PROFIL PRĘDKOŚCI W RURZE PROSTOLINIOWEJ . Cel ćwiczenia Doświadczalne i teoretyczne wyznaczenie profilu prędkości w rurze prostoosiowej 2. Podstawy teoretyczne:
Bardziej szczegółowoInstrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego nr 13
Instrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego nr 13 Temat: Charakterystyki i parametry dyskretnych półprzewodnikowych przyrządów optoelektronicznych Cel ćwiczenia. Celem ćwiczenia jest poznanie budowy, zasady
Bardziej szczegółowoĆwiczenie nr 71: Dyfrakcja światła na szczelinie pojedynczej i podwójnej
Wydział Imię i nazwisko 1. 2. Rok Grupa Zespół PRACOWNIA Temat: Nr ćwiczenia FIZYCZNA WFiIS AGH Data wykonania Data oddania Zwrot do popr. Data oddania Data zaliczenia OCENA Ćwiczenie nr 71: Dyfrakcja
Bardziej szczegółowoTemat ćwiczenia. Wyznaczanie mocy akustycznej
POLITECHNIKA ŚLĄSKA W YDZIAŁ TRANSPORTU Temat ćwiczenia Wyznaczanie mocy akustycznej Cel ćwiczenia Pomiary poziomu natęŝenia dźwięku źródła hałasu. Wyznaczanie mocy akustycznej źródła hałasu. Wyznaczanie
Bardziej szczegółowoĆwiczenie 2 WSPÓŁPRACA JEDNAKOWYCH OGNIW FOTOWOLTAICZNYCH W RÓŻNYCH KONFIGURACJACH POŁĄCZEŃ. Opis stanowiska pomiarowego. Przebieg ćwiczenia
Ćwiczenie WSPÓŁPRACA JEDNAKOWYCH OGNIW FOTOWOLTAICZNYCH W RÓŻNYCH KONFIGURACJACH POŁĄCZEŃ Opis stanowiska pomiarowego Stanowisko do analizy współpracy jednakowych ogniw fotowoltaicznych w różnych konfiguracjach
Bardziej szczegółowoBezpieczne przejście Bogdan Mężyk
Bezpieczne przejście Bogdan Mężyk Wypadki na drogach dane KG Policji Ogólna ilość wypadków w latach 2012-2014 maleje Liczba ilość wypadków z udziałem pieszych w latach 2012-2014 rośnie Wypadki na drogach
Bardziej szczegółowo5(m) PWSZ -Leszno LABORATORIUM POMIARY I BADANIA WIBROAKUSTYCZNE WYZNACZANIE POZIOMU MOCY AKUSTYCZNEJ MASZYN I URZĄDZEŃ 1. CEL I ZAKRES ĆWICZENIA
PWSZ -Leszno LABORATORIUM POMIARY I BADANIA WIBROAKUSTYCZNE WYZNACZANIE POZIOMU MOCY AKUSTYCZNEJ MASZYN I URZĄDZEŃ Instrukcja Wykonania ćwiczenia 5(m) 1. CEL I ZAKRES ĆWICZENIA Poziom mocy akustycznej
Bardziej szczegółowoInstrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego nr 13
Instrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego nr 13 Temat: Charakterystyki i parametry dyskretnych półprzewodnikowych przyrządów optoelektronicznych Cel ćwiczenia. Celem ćwiczenia jest poznanie budowy, zasady
Bardziej szczegółowoUstawienia materiałów i tekstur w programie KD Max. MTPARTNER S.C.
Ustawienia materiałów i tekstur w programie KD Max. 1. Dwa tryby własności materiału Materiał możemy ustawić w dwóch trybach: czysty kolor tekstura 2 2. Podstawowe parametry materiału 2.1 Większość właściwości
Bardziej szczegółowoBADANIE INTERFERENCJI MIKROFAL PRZY UŻYCIU INTERFEROMETRU MICHELSONA
ZDNIE 11 BDNIE INTERFERENCJI MIKROFL PRZY UŻYCIU INTERFEROMETRU MICHELSON 1. UKŁD DOŚWIDCZLNY nadajnik mikrofal odbiornik mikrofal 2 reflektory płytka półprzepuszczalna prowadnice do ustawienia reflektorów
Bardziej szczegółowoBADANIE PROSTEGO ZJAWISKA PIEZOELEKTRYCZNEGO POMIAR NAPRĘśEŃ BADANIE ODWROTNEGO ZJAWISKA PIEZOELEKTRYCZNEGO METODĄ STATYCZNĄ. POMIAR MAŁYCH DEFORMACJI
BADANIE PROSTEGO ZJAWISKA PIEZOELEKTRYCZNEGO POMIAR NAPRĘśEŃ BADANIE ODWROTNEGO ZJAWISKA PIEZOELEKTRYCZNEGO METODĄ STATYCZNĄ. POMIAR MAŁYCH DEFORMACJI Zagadnienia: - Pojęcie zjawiska piezoelektrycznego
Bardziej szczegółowoTechnika świetlna. Przegląd rozwiązań i wymagań dla tablic rejestracyjnych. Dokumentacja zdjęciowa
Technika świetlna Przegląd rozwiązań i wymagań dla tablic rejestracyjnych. Dokumentacja zdjęciowa Wykonał: Borek Łukasz Tablica rejestracyjna tablica zawierająca unikatowy numer (kombinację liter i cyfr),
Bardziej szczegółowoBadania oświetlenia na przejściu dla pieszych na ulicy Walerego Sławka w Warszawie
Badania oświetlenia na przejściu dla pieszych na ulicy Walerego Sławka w Warszawie Wyniki opracował: Dr inż. Piotr Tomczuk Wydział Transportu Politechniki Warszawskiej Zakład Systemów Informatycznych i
Bardziej szczegółowoBADANIE INTERFEROMETRU YOUNGA
Celem ćwiczenia jest: BADANIE INTERFEROMETRU YOUNGA 1. poznanie podstawowych właściwości interferometru z podziałem czoła fali w oświetleniu monochromatycznym i świetle białym, 2. demonstracja możliwości
Bardziej szczegółowoSPOSÓB POMIARU PODSTAWOWYCH PARAMETRÓW OŚWIETLENIA
SPOSÓB POMIARU PODSTAWOWYCH PARAMETRÓW OŚWIETLENIA Z punktu widzenia oceny oświetlenia we wnętrzu bądź na stanowisku pracy, istotny jest pomiar natężenia oświetlenia, określenie równomierności oświetlenia
Bardziej szczegółowoIII Międzynarodowa Konferencja PROBLEMY EKSPLOATACJI I ZARZĄDZANIA ZRÓWNOWAŻONYM TRANSPORTEM 4 6 lipca 2011 r.
III Międzynarodowa Konferencja PROBLEMY EKSPLOATACJI I ZARZĄDZANIA ZRÓWNOWAŻONYM TRANSPORTEM 4 6 lipca 2011 r. Wymagania formalne dotyczące oświetlenia przejść dla pieszych dr inż. Piotr Tomczuk Wydział
Bardziej szczegółowoĆwiczenie nr 41: Busola stycznych
Wydział PRACOWNA FZYCZNA WFiS AGH mię i nazwisko 1.. Temat: Rok Grupa Zespół Nr ćwiczenia Data wykonania Data oddania Zwrot do popr. Data oddania Data zaliczenia OCENA Ćwiczenie nr 41: usola stycznych
Bardziej szczegółowoUniwersytet Pedagogiczny im. Komisji Edukacji Narodowej w Krakowie
Uniwersytet Pedagogiczny im. Komisji Edukacji Narodowej w Krakowie Laboratorium elektroniki Ćwiczenie nr 4 Temat: PRZYRZĄDY PÓŁPRZEWODNIKOWE TRANZYSTOR BIPOLARNY Rok studiów Grupa Imię i nazwisko Data
Bardziej szczegółowoSystemy Ochrony Powietrza Ćwiczenia Laboratoryjne
POLITECHNIKA POZNAŃSKA INSTYTUT INŻYNIERII ŚRODOWISKA PROWADZĄCY: mgr inż. Łukasz Amanowicz Systemy Ochrony Powietrza Ćwiczenia Laboratoryjne 3 TEMAT ĆWICZENIA: Badanie składu pyłu za pomocą mikroskopu
Bardziej szczegółowoDefinicje podstawowych pojęć występujących w normie PN-EN : 2004
Definicje podstawowych pojęć występujących w normie PN-EN 12464-1: 2004 DEFINICJA OŚWIETLENIA Stosowanie światła w celu uwidocznienia miejsc, obiektów lub ich otoczenia. PODSTAWOWE WIELKOŚCI ŚWIETLNE I
Bardziej szczegółowoW polskim prawodawstwie i obowiązujących normach nie istnieją jasno sprecyzowane wymagania dotyczące pomiarów źródeł oświetlenia typu LED.
Pomiary natężenia oświetlenia LED za pomocą luksomierzy serii Sonel LXP W polskim prawodawstwie i obowiązujących normach nie istnieją jasno sprecyzowane wymagania dotyczące pomiarów źródeł oświetlenia
Bardziej szczegółowoEMC-500. Miernik prędkości wylotowej pocisku. Emserwis Marceli Kotkowski. Instrukcja obsługi. ul. Ostrobramska 134/ Warszawa
Emserwis Marceli Kotkowski ul. Ostrobramska 134/45 04-026 Warszawa marceli.kotkowski@rimco.pl Miernik prędkości wylotowej pocisku EMC-500 Instrukcja obsługi 1 Miernik prędkości wylotowej pocisku EMC-500
Bardziej szczegółowoĆWICZENIE 41 POMIARY PRZY UŻYCIU GONIOMETRU KOŁOWEGO. Wprowadzenie teoretyczne
ĆWICZENIE 4 POMIARY PRZY UŻYCIU GONIOMETRU KOŁOWEGO Wprowadzenie teoretyczne Rys. Promień przechodzący przez pryzmat ulega dwukrotnemu załamaniu na jego powierzchniach bocznych i odchyleniu o kąt δ. Jeżeli
Bardziej szczegółowoBADANIE OSTROŚCI WIDZENIA W RÓśNYCH WARUNKACH OŚWIETLENIOWYCH
ul.piotrowo a tel. (0-6) 665688 fax (0-6) 66589 STUDIA NISTACJONARN II STOPNIA wersja z dnia 0..0 KIRUNK LKTROTCHNIKA SM. Laboratorium: TCHNIKI ŚWITLNJ TMAT: BADANI OSTROŚCI WIDZNIA W RÓśNYCH WARUNKACH
Bardziej szczegółowoĆwiczenie 42 WYZNACZANIE OGNISKOWEJ SOCZEWKI CIENKIEJ. Wprowadzenie teoretyczne.
Ćwiczenie 4 WYZNACZANIE OGNISKOWEJ SOCZEWKI CIENKIEJ Wprowadzenie teoretyczne. Soczewka jest obiektem izycznym wykonanym z materiału przezroczystego o zadanym kształcie i symetrii obrotowej. Interesować
Bardziej szczegółowoPOMIAR ODLEGŁOŚCI OGNISKOWYCH SOCZEWEK. Instrukcja wykonawcza
ĆWICZENIE 77 POMIAR ODLEGŁOŚCI OGNISKOWYCH SOCZEWEK Instrukcja wykonawcza 1. Wykaz przyrządów Ława optyczna z podziałką, oświetlacz z zasilaczem i płytka z wyciętym wzorkiem, ekran Komplet soczewek z oprawkami
Bardziej szczegółowoFUNKCJE. Kurs ZDAJ MATURĘ Z MATEMATYKI MODUŁ 5 Teoria funkcje cz.1. Definicja funkcji i wiadomości podstawowe
1 FUNKCJE Definicja funkcji i wiadomości podstawowe Jeżeli mamy dwa zbiory: zbiór X i zbiór Y, i jeżeli każdemu elementowi ze zbioru X przyporządkujemy dokładnie jeden element ze zbioru Y, to takie przyporządkowanie
Bardziej szczegółowoWpisany przez Natalia Głowacka czwartek, 09 września :06 - Poprawiony czwartek, 23 września :10
Instrukcja BHP przy obsłudze komputera i drukarki Obsługujący komputer i drukarkę powinien: - posiadać przeszkolenie stanowiska z zakresu bhp - być przeszkolony w zakresie bhp szkoleniem wstępnym-ogólnym
Bardziej szczegółowoPOMIAR SZCZEGÓŁÓW TERENOWYCH METODĄ BIEGUNOWĄ
POMIAR SZCZEGÓŁÓW TERENOWYCH METODĄ BIEGUNOWĄ Jedną z najbardziej znanych i powszechnie stosowanych metod zdjęcia szczegółów jest metoda biegunowa. Polega ona na pomiarze w terenie, z obranego stanowiska
Bardziej szczegółowoInstrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego nr 10
Instrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego nr 10 Temat: Charakterystyki i parametry tranzystorów MIS Cel ćwiczenia. Celem ćwiczenia jest poznanie charakterystyk statycznych i parametrów tranzystorów MOS oraz
Bardziej szczegółowoWyznaczanie momentu magnetycznego obwodu w polu magnetycznym
Ćwiczenie E6 Wyznaczanie momentu magnetycznego obwodu w polu magnetycznym E6.1. Cel ćwiczenia Na zamkniętą pętlę przewodnika z prądem, umieszczoną w jednorodnym polu magnetycznym, działa skręcający moment
Bardziej szczegółowoBadanie rozkładu pola elektrycznego
Ćwiczenie 8 Badanie rozkładu pola elektrycznego 8.1. Zasada ćwiczenia W wannie elektrolitycznej umieszcza się dwie metalowe elektrody, połączone ze źródłem zmiennego napięcia. Kształt przekrojów powierzchni
Bardziej szczegółowoWYZNACZANIE DŁUGOŚCI FALI ŚWIETLNEJ ZA POMOCĄ SIATKI DYFRAKCYJNEJ
ĆWICZENIE 8 WYZNACZANIE DŁUGOŚCI FALI ŚWIETLNEJ ZA POMOCĄ SIATKI DYFRAKCYJNEJ. Wykaz przyrządów Transmisyjne siatki dyfrakcyjne (S) : typ A -0 linii na milimetr oraz typ B ; Laser lub inne źródło światła
Bardziej szczegółowoBadanie współczynników lepkości cieczy przy pomocy wiskozymetru rotacyjnego Rheotest 2.1
Badanie współczynników lepkości cieczy przy pomocy wiskozymetru rotacyjnego Rheotest 2.1 Joanna Janik-Kokoszka Zagadnienia kontrolne 1. Definicja współczynnika lepkości. 2. Zależność współczynnika lepkości
Bardziej szczegółowoPRZYRZĄDY DO POMIARU USTAWIENIA I ŚWIATŁOŚCI ŚWIATEŁPOJAZDU. Piotr Domański Piotr Papierz
PRZYRZĄDY DO POMIARU USTAWIENIA I ŚWIATŁOŚCI ŚWIATEŁPOJAZDU Piotr Domański Piotr Papierz Przyrząd optyczny KS-20B Jest starą konstrukcją, wycofana ze sprzedaży. Służy do ustawienia wysokości strumienia
Bardziej szczegółowoZADANIE 111 DOŚWIADCZENIE YOUNGA Z UŻYCIEM MIKROFAL
ZADANIE 111 DOŚWIADCZENIE YOUNGA Z UŻYCIEM MIKROFAL X L Rys. 1 Schemat układu doświadczalnego. Fala elektromagnetyczna (światło, mikrofale) po przejściu przez dwie blisko położone (odległe o d) szczeliny
Bardziej szczegółowoŚwiatłomierz Polaris Dual 5. Pomiar światła ciągłego
Światłomierz Polaris Dual 5. Pomiar światła ciągłego Zdjęcie zostało wykonane przy oświetleniu naturalnym tuż przed zmierzchem. W tej sytuacji oświetleniowej jedynym źródłem światła jest kopuła niebieska
Bardziej szczegółowoDOKŁADNOŚĆ POMIARU DŁUGOŚCI
1a DOKŁADNOŚĆ POMIARU DŁUGOŚCI 1. ZAGADNIENIA TEORETYCZNE: sposoby wyznaczania niepewności pomiaru standardowa niepewność wyniku pomiaru wielkości mierzonej bezpośrednio i złożona niepewność standardowa;
Bardziej szczegółowoWYZNACZANIE OGNISKOWYCH SOCZEWEK
WYZNACZANIE OGNISKOWYCH SOCZEWEK Cel ćwiczenia:. Wyznaczenie ogniskowej cienkiej soczewki skupiającej.. Wyznaczenie ogniskowej cienkiej soczewki rozpraszającej (za pomocą wcześniej wyznaczonej ogniskowej
Bardziej szczegółowoSTUDIA STACJONARNE II STOPNIA, sem. 1 wersja z dn KIERUNEK ELEKTROTECHNIKA Laboratorium TECHNIKI ŚWIETLNEJ
STUDIA STACJONARNE II STOPNIA, sem. 1 wersja z dn. 20.03.2013 KIERUNEK ELEKTROTECHNIKA Laboratorium TECHNIKI ŚWIETLNEJ TEMAT: OCENA JAKOŚCI OŚWIETLENIA WNĘTRZ Opracowanie wykonano na podstawie: 1. PN-EN
Bardziej szczegółowoWYZNACZANIE DŁUGOŚCI FALI ŚWIETLNEJ ZA POMOCĄ SIATKI DYFRAKCYJNEJ
ĆWICZEIE 8 WYZACZAIE DŁUGOŚCI FALI ŚWIETLEJ ZA POMOCĄ SIATKI DYFRAKCYJEJ Opis teoretyczny do ćwiczenia zamieszczony jest na stronie www.wtc.wat.edu.pl w dziale DYDAKTYKA FIZYKA ĆWICZEIA LABORATORYJE. Opis
Bardziej szczegółowo( L ) I. Zagadnienia. II. Zadania
( L ) I. Zagadnienia 1. Promieniowanie X w diagnostyce medycznej powstawanie, właściwości, prawo osłabienia. 2. Metody obrazowania naczyń krwionośnych. 3. Angiografia subtrakcyjna. II. Zadania 1. Wykonanie
Bardziej szczegółowoOCENA OŚWIETLENIA STANOWISKA PRACY.
1 OCENA OŚWIETLENIA STANOWISKA PRACY. I. WPROWADZENIE Oświetlenie dzienne i sztuczne stanowi jeden z podstawowych składników środowiska pracy, jest czynnikiem mającym znaczący wpływ na bezpieczeństwo i
Bardziej szczegółowoTemat ćwiczenia. Pomiary oświetlenia
POLITECHNIKA ŚLĄSKA W YDZIAŁ TRANSPORTU Temat ćwiczenia Pomiary oświetlenia Cel ćwiczenia Celem ćwiczenia jest zapoznanie się z metodami pomiaru natęŝenia oświetlenia oraz wyznaczania poŝądanej wartości
Bardziej szczegółowoRys. 2. ZaleŜność ostrości widzenia od luminancji tła i kontrastu. ostrość widzenia [min kąt -1 ] k=5% k=10% k=20% k=40% k=60% k=80% k=100% 2,8 2,4
Grupa: Elektrotechnika, Studia stacjonarne, II stopień, sem. 1. wersja z dn. 10.03.2010 Laboratorium Techniki Świetlnej Ćwiczenie nr 1. Temat: BADANIE OSTROŚCI WIDZENIA Z UWZGLĘDNIENIEM OLŚNIENIA I ZMIANY
Bardziej szczegółowoWYZNACZANIE KĄTA BREWSTERA 72
WYZNACZANIE KĄTA BREWSTERA 72 I. ZAGADNIENIA TEORETYCZNE Polaryzacja światła. Zjawisko polaryzacji światła przy odbiciu od powierzchni dielektrycznej kąt Brewstera. Prawa odbicia i załamania światła na
Bardziej szczegółowo13. WYZNACZANIE CHARAKTERYSTYK ORAZ PRZEŁOŻENIA UKŁADU KIEROWNICZEGO
13. WYZNACZANIE CHARAKTERYSTYK ORAZ PRZEŁOŻENIA UKŁADU KIEROWNICZEGO 13.0. Uwagi dotyczące bezpieczeństwa podczas wykonywania ćwiczenia 1. Studenci są zobowiązani do przestrzegania ogólnych przepisów BHP
Bardziej szczegółowoOCENA PRZYDATNOŚCI FARBY PRZEWIDZIANEJ DO POMALOWANIA WNĘTRZA KULI ULBRICHTA
OCENA PRZYDATNOŚCI FARBY PRZEWIDZIANEJ DO POMALOWANIA WNĘTRZA KULI ULBRICHTA Przemysław Tabaka e-mail: przemyslaw.tabaka@.tabaka@wp.plpl POLITECHNIKA ŁÓDZKA Instytut Elektroenergetyki WPROWADZENIE Całkowity
Bardziej szczegółowoGEODEZJA WYKŁAD Pomiary kątów
GEODEZJA WYKŁAD Pomiary kątów Katedra Geodezji im. K. Weigla ul. Poznańska 2/34 Do rozwiązywania zadań z geodezji konieczna jest znajomość kątów w figurach i bryłach obiektów. W geodezji przyjęto mierzyć:
Bardziej szczegółowoInstrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego nr 2
Instrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego nr 2 Temat: Wpływ temperatury na charakterystyki i parametry statyczne diod Cel ćwiczenia. Celem ćwiczenia jest poznanie wpływu temperatury na charakterystyki i
Bardziej szczegółowoLABORATORIUM INŻYNIERII MATERIAŁOWEJ
Politechnika Lubelska Wydział Elektrotechniki i Informatyki Katedra Urządzeń Elektrycznych i TWN 20-618 Lublin, ul. Nadbystrzycka 38A www.kueitwn.pollub.pl LABORATORIUM INŻYNIERII MATERIAŁOWEJ Protokół
Bardziej szczegółowoRozdział 22 Pole elektryczne
Rozdział 22 Pole elektryczne 1. NatęŜenie pola elektrycznego jest wprost proporcjonalne do A. momentu pędu ładunku próbnego B. energii kinetycznej ładunku próbnego C. energii potencjalnej ładunku próbnego
Bardziej szczegółowoBadanie rozkładu pola elektrycznego
Ćwiczenie 8 Badanie rozkładu pola elektrycznego 8.1. Zasada ćwiczenia W wannie elektrolitycznej umieszcza się dwie metalowe elektrody, połączone ze źródłem zmiennego napięcia. Kształt przekrojów powierzchni
Bardziej szczegółowoBadanie wzmacniacza niskiej częstotliwości
Instytut Fizyki ul Wielkopolska 5 70-45 Szczecin 9 Pracownia Elektroniki Badanie wzmacniacza niskiej częstotliwości (Oprac dr Radosław Gąsowski) Zakres materiału obowiązujący do ćwiczenia: klasyfikacje
Bardziej szczegółowoPlan wykładu. Pojęcie ergonomii Zagrożenia długotrwałej pracy z komputerem Ergonomiczne stanowisko komputerowe Ćwiczenia i przerwy
Plan wykładu Pojęcie ergonomii Zagrożenia długotrwałej pracy z komputerem Ergonomiczne stanowisko komputerowe Ćwiczenia i przerwy Ergonomia Ergonomia - nauka o pracy, czyli dyscyplina naukowa zajmująca
Bardziej szczegółowoĆw. nr 31. Wahadło fizyczne o regulowanej płaszczyźnie drgań - w.2
1 z 6 Zespół Dydaktyki Fizyki ITiE Politechniki Koszalińskiej Ćw. nr 3 Wahadło fizyczne o regulowanej płaszczyźnie drgań - w.2 Cel ćwiczenia Pomiar okresu wahań wahadła z wykorzystaniem bramki optycznej
Bardziej szczegółowoINSTRUKCJA DO ĆWICZEŃ LABORATORYJNYCH
INSTYTUT MASZYN I URZĄDZEŃ ENERGETYCZNYCH Politechnika Śląska w Gliwicach INSTRUKCJA DO ĆWICZEŃ LABORATORYJNYCH BADANIE TWORZYW SZTUCZNYCH OZNACZENIE WŁASNOŚCI MECHANICZNYCH PRZY STATYCZNYM ROZCIĄGANIU
Bardziej szczegółowoBADANIE WYMUSZONEJ AKTYWNOŚCI OPTYCZNEJ. Instrukcja wykonawcza
ĆWICZENIE 89 BADANIE WYMUSZONEJ AKTYWNOŚCI OPTYCZNEJ Instrukcja wykonawcza 1. Wykaz przyrządów Polarymetr Lampa sodowa Solenoid Źródło napięcia stałego o wydajności prądowej min. 5A Amperomierz prądu stałego
Bardziej szczegółowoPomiar kątów poziomych
Pomiar kątów poziomych Pomiar kątów poziomych W ciągu ostatnich 100 lat, na świecie, nie zaobserwowano istotnego wzrostu dokładności pomiarów kątowych. Obecnie nic nie wskazuje na to, aby sytuacja ta uległa
Bardziej szczegółowoURZĄDZENIE DO DEMONSTRACJI POWSTAWANIA KRZYWYCH LISSAJOUS
URZĄDZENIE DO DEMONSTRACJI POWSTAWANIA KRZYWYCH LISSAJOUS Urządzenie słuŝące do pokazu krzywych Lissajous powstających w wyniku składania mechanicznych drgań harmonicznych zostało przedstawione na rys.
Bardziej szczegółowoBADANIE PROSTEGO ZJAWISKA PIEZOELEKTRYCZNEGO POMIAR NAPRĘŻEŃ
ĆWICZENIE NR 14A BADANIE PROSTEGO ZJAWISKA PIEZOELEKTRYCZNEGO POMIAR NAPRĘŻEŃ I. Zestaw pomiarowy: 1. Układ do badania prostego zjawiska piezoelektrycznego metodą statyczną 2. Odważnik 3. Miernik uniwersalny
Bardziej szczegółowoBadanie rozkładu pola magnetycznego przewodników z prądem
Ćwiczenie E7 Badanie rozkładu pola magnetycznego przewodników z prądem E7.1. Cel ćwiczenia Prąd elektryczny płynący przez przewodnik wytwarza wokół niego pole magnetyczne. Ćwiczenie polega na pomiarze
Bardziej szczegółowoINSTRUKCJA DO ĆWICZEŃ LABORATORYJNYCH
INSTYTUT MASZYN I URZĄDZEŃ ENERGETYCZNYCH Politechnika Śląska w Gliwicach INSTRUKCJA DO ĆWICZEŃ LABORATORYJNYCH BADANIE TWORZYW SZTUCZNYCH OZNACZENIE WŁASNOŚCI MECHANICZNYCH PRZY STATYCZNYM ROZCIĄGANIU
Bardziej szczegółowoWyznaczanie współczynnika załamania światła
Ćwiczenie O2 Wyznaczanie współczynnika załamania światła O2.1. Cel ćwiczenia Celem ćwiczenia jest wyznaczenie współczynnika załamania światła dla przeźroczystych, płaskorównoległych płytek wykonanych z
Bardziej szczegółowoWyznaczanie składowej poziomej natężenia pola magnetycznego Ziemi za pomocą busoli stycznych
Ćwiczenie E12 Wyznaczanie składowej poziomej natężenia pola magnetycznego Ziemi za pomocą busoli stycznych E12.1. Cel ćwiczenia Celem ćwiczenia jest wyznaczenie wartości składowej poziomej natężenia pola
Bardziej szczegółowoĆwiczenie Nr 11 Fotometria
Instytut Fizyki, Uniwersytet Śląski Chorzów 2018 r. Ćwiczenie Nr 11 Fotometria Zagadnienia: fale elektromagnetyczne, fotometria, wielkości i jednostki fotometryczne, oko. Wstęp Radiometria (fotometria
Bardziej szczegółowoPomiar drogi koherencji wybranych źródeł światła
Politechnika Gdańska WYDZIAŁ ELEKTRONIKI TELEKOMUNIKACJI I INFORMATYKI Katedra Optoelektroniki i Systemów Elektronicznych Pomiar drogi koherencji wybranych źródeł światła Instrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego
Bardziej szczegółowoEfekt Halla. Cel ćwiczenia. Wstęp. Celem ćwiczenia jest zbadanie efektu Halla. Siła Loretza
Efekt Halla Cel ćwiczenia Celem ćwiczenia jest zbadanie efektu Halla. Wstęp Siła Loretza Na ładunek elektryczny poruszający się w polu magnetycznym w kierunku prostopadłym do linii pola magnetycznego działa
Bardziej szczegółowoGrupa: Elektrotechnika, sem 3, wersja z dn. 03.11.2015 Technika Świetlna Laboratorium
6-965 Poznań tel. (-61) 6652688 fax (-61) 6652389 Grupa: Elektrotechnika, sem 3, wersja z dn. 3.11.2 Technika Świetlna Laboratorium Ćwiczenie nr 3 Temat: BADANIE POLA WIDZENIA Opracowanie wykonano na podstawie:
Bardziej szczegółowoLABORATORIUM PODSTAW TELEKOMUNIKACJI
WOJSKOWA AKADEMIA TECHNICZNA im. Jarosława Dąbrowskiego w Warszawie Wydział Elektroniki LABORATORIUM PODSTAW TELEKOMUNIKACJI Grupa Podgrupa Data wykonania ćwiczenia Ćwiczenie prowadził... Skład podgrupy:
Bardziej szczegółowoBADANIE TRANZYSTORA BIPOLARNEGO
BADANIE TRANZYSTORA BIPOLARNEGO CEL poznanie charakterystyk tranzystora bipolarnego w układzie WE poznanie wybranych parametrów statycznych tranzystora bipolarnego w układzie WE PRZEBIEG ĆWICZENIA: 1.
Bardziej szczegółowoLABORATORIUM POMIARY W AKUSTYCE. ĆWICZENIE NR 4 Pomiar współczynników pochłaniania i odbicia dźwięku oraz impedancji akustycznej metodą fali stojącej
LABORATORIUM POMIARY W AKUSTYCE ĆWICZENIE NR 4 Pomiar współczynników pochłaniania i odbicia dźwięku oraz impedancji akustycznej metodą fali stojącej 1. Cel ćwiczenia Celem ćwiczenia jest poznanie metody
Bardziej szczegółowoTemat ćwiczenia. Pomiar hałasu zewnętrznego emitowanego przez pojazdy samochodowe
POLITECHNIKA ŚLĄSKA W YDZIAŁ TRANSPORTU Temat ćwiczenia Pomiar hałasu zewnętrznego emitowanego przez pojazdy samochodowe POLSKA NORMA PN-92/S-04051 (zamiast PN-83/S-04051) Pojazdy samochodowe i motorowery
Bardziej szczegółowoPolitechnika Poznańska Wydział Budowy Maszyn i Zarządzania Podstawy Automatyki laboratorium
Cel ćwiczenia: Celem ćwiczenia jest uzyskanie wykresów charakterystyk skokowych członów róŝniczkujących mechanicznych i hydraulicznych oraz wyznaczenie w sposób teoretyczny i graficzny ich stałych czasowych.
Bardziej szczegółowoSTATYCZNA PRÓBA ROZCIĄGANIA
Mechanika i wytrzymałość materiałów - instrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego: STATYCZNA PRÓBA ROZCIĄGANIA oprac. dr inż. Jarosław Filipiak Cel ćwiczenia 1. Zapoznanie się ze sposobem przeprowadzania statycznej
Bardziej szczegółowoĆw. 4. BADANIE I OCENA WPŁYWU ODDZIAŁYWANIA WYBRANYCH CZYNNIKÓW NA ROZKŁAD CIŚNIEŃ W ŁOśYSKU HYDRODYNAMICZNYMM
Ćw. 4 BADANIE I OCENA WPŁYWU ODDZIAŁYWANIA WYBRANYCH CZYNNIKÓW NA ROZKŁAD CIŚNIEŃ W ŁOśYSKU HYDRODYNAMICZNYMM WYBRANA METODA BADAŃ. Badania hydrodynamicznego łoŝyska ślizgowego, realizowane na stanowisku
Bardziej szczegółowo