Infomacje o podukcie Utwozo 31-01-2017 Teste mien elementów RLC i półpzewodnów Cena : 120,00 zł N katalogowy : BTE-057 Dostępność : Dostępny Stan magazynowy : badzo wysoki Śednia ocena : bak ecenzji Teste mien elementów elekticznych RLC i półpzewodnowych Mien - teste dla elementów elekticznych pasywny RLC czyli R ezystoów, L cewek, dławów, C kdensatoów, oaz dysketnych elementów półpzewodnowych: diod półpzewodnowych (postownicze, zenea, pzełączające, led), tanzystoów bipolanych pnp i npn, tanzystoów MOSFET z kanałem n i p, tiaków. Wielkim atutem miena jest jego łatwość obsługi. Szybko i łatwo wkładamy badany element do podstawki ZIF miena i naciskamy pzycisk uuchamiający test. Nie musimy wybieać odzaju badanego elementu, ani zakesu pomiaowego. Najczęściej pomia twa od 2 do 10 sekund. W jego wynu zymujemy następujące infomacje: ozpoznanie odzaju badanego elementu w postacji gaficznej na wyświetlaczu LCD. Pzy badaniu elementów półpzewodnowych opisywana jest polayzacja wypowadzeń na wyświetlaczu np. w diodach mamy infomacje gdzie jest anoda i katoda, w pzypadku tanzystoów bipolanych okeślany jest typ pnp lub npn oaz gaficznie pzedstawiane wypowadzenia baz, kolekto, emite itd. Wygeneowano w pogamie www.oscold.com
Obsługa ofeowanego testea miena LCR jest badzo posta. Jednak pzy pomiaze pojemności kdensatoów należy zwócić szczególną uwagę by badany element był ozładowany. Jest to badzo paktyczne nazędzie pzydatne każdemu elektowi, pieważ pozwala na szybkie pomiay watości elementów. Poszę jednak pamiętać że budowa tego miena jest badzo uposzcza i toleancja wykywanych pomiaów nie zawsze może się pokywać z dogimi uządzeniami pomiaowymi używanymi w waunkach laboatoyjnych. paamety techniczne: mien - teste elementów elekticznych wyświetlacz LCD gaficzny 128x64 z podświetlaniem zielym podstawka ZIF-14 do wkładania testowanych elementów pzewlekanych THT pola ktaktowe do badania elementów mtowanych powiezchniowo SMD zasilanie: bateia 9V 6F22 poceso steujący: Atmega328 szybkość testowania: ok. 2-10 sekund pzycisk TEST - do uuchomienia testu pzycisk OFF - do wyłączenia uządzenia w pzypadku pomiau pojemności kdensatoów o dużej pojemności test może pzedłużyć się do ok 1 minuty płytka dwustna z metalizacją woów wymiay płytki dukowanej uządzenia: 71mm x 63mm funkcja oszczędzania enegii - automatyczne wyłączenie po ok 10 sekundach testowanie napięcia beteii zasilającej wykywanie odzaju włożego elementu wykywanie polayzacji np. diod, tanzystoów film pezentacja miena testea: zakesy pomiaowe: pomia pojemności kdensatoów: 30pF-100mF (ozdzielczość 1pF) pomia współczynna ESR dla pojemności powyżej 2uF pomia indukcyjności: 0.01mH (10uF) - 20Henów pomia ezystancji R: 0,1Ohm - 50MOhm (ozdzielczość 0,1Ohm) pomia teste tanzystoów bipolanych pnp/npn; pomia bety h21e pomia teste tanzystoów MOSFET kanał n/p pomia tiaków / tyystoów diody Uf maksymalnie 4,5V w skład zestawu wchodzi:
Infomacje o podukcie mien teste x 1szt. bateię 6F22 9V należy dokupić osobno zdjęcia: Widoczna bateia i elementy elekticzne na zdjęciach nie wchodzą w skład zestawu. Widoczne na wyświetlaczu ysy wyświetlaczu są to ysy na folii zabezpieczającej. Po jej odklejeniu nie ma żadnych ys. Wygeneowano w pogamie www.oscold.com
Infomacje o podukcie Wygeneowano w pogamie www.oscold.com
Infomacje o podukcie Wygeneowano w pogamie www.oscold.com
Infomacje o podukcie Wygeneowano w pogamie www.oscold.com