WYZNACZANIE CHARAKTERYSTYK DIÓD PÓŁPRZEWODNIKOWYCH

Podobne dokumenty
Ćwiczenie 2 BADANIE DIODY PÓŁPRZEWODNIKOWEJ I TRANZYSTORA

Ćwiczenie E5 WYZNACZANIE CHARAKTERYSTYK TRANZYSTORA WARSTWOWEGO

Badanie charakterystyki diody

Instrukcja do ćwiczenia: Badanie diod półprzewodnikowych i LED (wersja robocza)

3.4 Badanie charakterystyk tranzystora(e17)

WYZNACZANIE STAŁEJ PLANCKA Z POMIARU CHARAKTERYSTYK PRĄDOWO-NAPIĘCIOWYCH DIOD ELEKTROLUMINESCENCYJNYCH. Irena Jankowska-Sumara, Magdalena Krupska

Repeta z wykładu nr 5. Detekcja światła. Plan na dzisiaj. Złącze p-n. złącze p-n

Elektryczne własności ciał stałych

BADANIE DIOD PÓŁPRZEWODNIKOWYCH

Przewodność elektryczna ciał stałych. Elektryczne własności ciał stałych Izolatory, metale i półprzewodniki

Zjawiska zachodzące w półprzewodnikach Przewodniki samoistne i niesamoistne

Podstawy fizyki ciała stałego półprzewodniki domieszkowane

Nazwisko i imię: Zespół: Data: Ćwiczenie nr 123: Półprzewodnikowe złącze p-n

3. ZŁĄCZE p-n 3.1. BUDOWA ZŁĄCZA

Fizyka i technologia złącza PN. Adam Drózd r.

Ćwiczenie 1 LABORATORIUM ELEKTRONIKI POLITECHNIKA ŁÓDZKA KATEDRA PRZYRZĄDÓW PÓŁPRZEWODNIKOWYCH I OPTOELEKTRONICZNYCH

35 KATEDRA FIZYKI STOSOWANEJ

Cel ćwiczenia: Wyznaczenie szerokości przerwy energetycznej przez pomiar zależności oporności elektrycznej monokryształu germanu od temperatury.

Złącze p-n powstaje wtedy, gdy w krysztale półprzewodnika wytworzone zostaną dwa obszary o odmiennym typie przewodnictwa p i n. Nośniki większościowe

Rys.1. Struktura fizyczna diody epiplanarnej (a) oraz wycinek złącza p-n (b)

10 K AT E D R A F I Z Y K I S T O S OWA N E J

Ćwiczenie nr 123: Dioda półprzewodnikowa

Złącze p-n: dioda. Przewodnictwo półprzewodników. Dioda: element nieliniowy

2. Półprzewodniki. Istnieje duża jakościowa różnica między właściwościami elektrofizycznymi półprzewodników, przewodników i dielektryków.

Teoria pasmowa. Anna Pietnoczka

Badanie charakterystyk elementów półprzewodnikowych

Część 2. Przewodzenie silnych prądów i blokowanie wysokich napięć przy pomocy przyrządów półprzewodnikowych

Złącza p-n, zastosowania. Własności złącza p-n Dioda LED Fotodioda Dioda laserowa Tranzystor MOSFET

Ciała stałe. Literatura: Halliday, Resnick, Walker, t. 5, rozdz. 42 Orear, t. 2, rozdz. 28 Young, Friedman, rozdz

Półprzewodniki. złącza p n oraz m s

Elektryczne własności ciał stałych

Przyrządy półprzewodnikowe

Ryszard J. Barczyński, 2012 Politechnika Gdańska, Wydział FTiMS, Katedra Fizyki Ciała Stałego Materiały dydaktyczne do użytku wewnętrznego

Badanie własności hallotronu, wyznaczenie stałej Halla (E2)

SYMBOLE GRAFICZNE. Tyrystory. Struktura Charakterystyka Opis

EFEKT FOTOWOLTAICZNY OGNIWO SŁONECZNE

Ćwiczenie Badanie zależności temperaturowej oporu elektrycznego metalu i półprzewodnika

Aleksandra Banaś Dagmara Zemła WPPT/OPTOMETRIA

Dioda półprzewodnikowa OPRACOWANIE: MGR INŻ. EWA LOREK

Czym jest prąd elektryczny

STRUKTURA PASM ENERGETYCZNYCH

Instytut Systemów Inżynierii Elektrycznej Wydział Elektrotechniki, Elektroniki Informatyki i Automatyki Politechnika Łódzka

Ćwiczenie nr 34. Badanie elementów optoelektronicznych

Półprzewodniki samoistne. Struktura krystaliczna

Struktura pasmowa ciał stałych

SPRAWDZENIE PRAWA OHMA POMIAR REZYSTANCJI METODĄ TECHNICZNĄ

Ćwiczenie 123. Dioda półprzewodnikowa

Budowa. Metoda wytwarzania

Ćwiczenie 241. Wyznaczanie ładunku elektronu na podstawie charakterystyki złącza p-n (diody półprzewodnikowej) .. Ω.

LABORATORIUM INŻYNIERII MATERIAŁOWEJ

Przerwa energetyczna w germanie

W1. Właściwości elektryczne ciał stałych

str. 1 d. elektron oraz dziura e.

LABORATORIUM ELEKTRONIKI ĆWICZENIE 4 POLITECHNIKA ŁÓDZKA KATEDRA PRZYRZĄDÓW PÓŁPRZEWODNIKOWYCH I OPTOELEKTRONICZNYCH

Badanie diod półprzewodnikowych

Przyrządy i układy półprzewodnikowe

III. TRANZYSTOR BIPOLARNY

Teoria pasmowa ciał stałych Zastosowanie półprzewodników

Ćwiczenie 10 Temat: Własności tranzystora. Podstawowe własności tranzystora Cel ćwiczenia

Rekapitulacja. Detekcja światła. Rekapitulacja. Rekapitulacja

Diody półprzewodnikowe

AKADEMIA MORSKA W SZCZECINIE JEDNOSTKA ORGANIZACYJNA: ZAKŁAD KOMUNIKACYJNYCH TECHNOLOGII MORSKICH INSTRUKCJA

Ćwiczenie nr 23. Charakterystyka styku między metalem a półprzewodnikiem typu n. str. 1. Cel ćwiczenia:

Teoria pasmowa ciał stałych

1. Właściwości materiałów półprzewodnikowych 2. Półprzewodniki samoistne i domieszkowane 3. Złącze pn 4. Polaryzacja złącza

IA. Fotodioda. Cel ćwiczenia: Pomiar charakterystyk prądowo - napięciowych fotodiody.

Skończona studnia potencjału

Badanie diody półprzewodnikowej

Urządzenia półprzewodnikowe

Diody półprzewodnikowe

I. DIODA ELEKTROLUMINESCENCYJNA

POMIAR ZALEŻNOŚCI OPORU METALI I PÓŁPRZEWODNIKÓW OD TEMPERATURY

Repeta z wykładu nr 3. Detekcja światła. Struktura krystaliczna. Plan na dzisiaj

Wykład V Złącze P-N 1

Ćwiczenie nr 4 Charakterystyki I= f(u) złącza p-n.

BADANIE CHARAKTERYSTYK FOTOELEMENTU

Diody półprzewodnikowe

EL08s_w03: Diody półprzewodnikowe

Repeta z wykładu nr 6. Detekcja światła. Plan na dzisiaj. Metal-półprzewodnik

UNIWERSYTET SZCZECIŃSKI INSTYTUT FIZYKI ZAKŁAD FIZYKI CIAŁA STAŁEGO. Ćwiczenie laboratoryjne Nr.2. Elektroluminescencja

Ćwiczenie nr 2 Charakterystyki I= f(u) złącza p-n.

Przewodnictwo elektryczne ciał stałych. Fizyka II, lato

POLITECHNIKA ŁÓDZKA INSTYTUT FIZYKI. Temperaturowa zależność statycznych i dynamicznych charakterystyk złącza p-n

WYZNACZENIE STAŁEJ PLANCKA NA PODSTAWIE CHARAKTERYSTYKI DIODY ELEKTROLUMINESCENCYJNEJ

Układy nieliniowe. Stabilizator - dioda Zenera. Dioda LED. Prostownik na diodach (Graetza) Logiczna bramka NAND. w.7, p.1

Wykład IV. Półprzewodniki samoistne i domieszkowe

Część 2. Przewodzenie silnych prądów i blokowanie wysokich napięć przy pomocy przyrządów półprzewodnikowych

Równanie Shockley a. Potencjał wbudowany

ELEKTROTECHNIKA I ELEKTRONIKA

Przyrządy i Układy Półprzewodnikowe

LABORATORIUM INŻYNIERII MATERIAŁOWEJ

Cel ćwiczenia. Podstawowe informacje. eu exp mkt ] 1 (1) I =I S[

Instrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego nr 2

Rozszczepienie poziomów atomowych

!!!DEL są źródłami światła niespójnego.

E3. Badanie temperaturowej zależności oporu elektrycznego ciał stałych 1/5

E104. Badanie charakterystyk diod i tranzystorów

LABORATORIUM PODSTAW ELEKTRONIKI DIODY

Diody półprzewodnikowe cz II

Transkrypt:

Laboratorium Podstaw Elektroniki Wiaczesław Szamow Ćwiczenie E4 WYZNACZANIE CHARAKTERYSTYK DIÓD PÓŁPRZEWODNIKOWYCH opr. tech. Mirosław Maś Krystyna Ługowska Uniwersytet Przyrodniczo - Humanistyczny Siedlce 2011

1. Wstęp W ćwiczeniu mierzy się charakterystyki prądowo-napięciowe różnych diód półprzewodnikowych spolaryzowanych w kierunku przewodzenia lub w kierunku zaporowym. Ilość i typy diód, które należy zbadać ustala prowadzący zajęcia. W skład zestawu laboratoryjnego wchodzą: 1. zasilacz stabilizowany DF 1731 SB 3A 2. elektrometr typ 219A z sondą pomiarową 219-1 3. mikroamperomierz LM-3 4. miliamperomierz LM-3 5. multimetr cyfrowy M 890G 6. płytka pomiarowa 7. zestaw diod półprzewodnikowych 8. trzy pary przewodów zwykłych Elektrometr jest unikalnym przyrządem i służy w ćwiczeniu do pomiaru bardzo małych prądów (w tym ćwiczeniu rzędu na). UWAGA: W żadnym przypadku nie włączaj, nie wyłączaj oraz nie zmieniaj ustawień pokręteł elektrometru Przed rozpoczęciem ćwiczenia sprawdź czy zestaw pomiarowy jest kompletny. Do ćwiczenia należy przygotować następujące zagadnienia teoretyczne: natężenie prądu i napięcie elektryczne zakres, rozdzielczość i klasa mierników analogowych przedrostki multiplikacyjne od nano do giga półprzewodniki samoistne półprzewodniki domieszkowane typu p i n złącze p-n warstwa zaporowa i napięcie kontaktowe typy diód półprzewodnikowych oporność statyczna i dynamiczna 3

2. Półprzewodniki samoistne i domieszkowane Jednym z najważniejszych czynników zadziwiającego rozwoju technicznego w drugiej połowie XX wieku było wynalezienie półprzewodnikowych elementów elektronicznych, w tym diody i tranzystora. Pozwoliło to zminiaturyzować przyrządy elektronowe, znacznie zwiększyć pewność i szybkość ich działania oraz obniżyć koszty produkcji w całym przemyśle. Badaniem półprzewodników zajmuje się fizyka ciała stałego, a początki tych badań sięgają połowy XIX wieku. W skrócie mówiąc półprzewodniki to ciała, które znacznie lepiej przewodzą prąd elektryczny niż izolatory i znacznie gorzej niż metale. Przewodność półprzewodników silnie zależy od temperatury i domieszek. Wszystkie półprzewodniki dzielimy na: półprzewodniki samoistne półprzewodniki domieszkowane, które otrzymuje się wprowadzając do półprzewodników samoistnych odpowiednie domieszki Znamy wiele różnych półprzewodników samoistnych np.: german Ge, krzem Si, selen Se, siarczek srebra Ag 2 S, tlenek miedzi CuO, itd. Jednak większość półprzewodnikowych elementów elektronicznych wytwarza się obecnie w technice krzemowej. Zjawiska zachodzące w półprzewodnikach objaśnia się w oparciu o elektrodynamikę kwantową. Omówimy tylko niektóre z tych zjawisk i to ograniczając się tylko do ich jakościowego opisu na gruncie fizyki klasycznej. Najprostszymi w opisie półprzewodnikami są german i krzem - mają one strukturę diamentu. Na powłoce walencyjnej ich atomów znajdują się 4 elektrony walencyjne. Ponieważ w wiązaniach powłoki walencyjne dążą do oktetu (tj. dążą do posiadania 8 elektronów), każdy atom tworzy z 4-ma sąsiednimi atomami 4 wiązania dwuelektronowe. Schematycznie ilustruje to Rys. 1. Rys. 1 Zgodnie z regułą zakazu Pauliego elektrony w wiązaniu muszą mieć przeciwne spiny. Wiązanie chemiczne poprzez parę elektronów nazywa się kowalencyjnym. Zatem krzem lub german tworzą tzw. kryształy kowalencyjne. Rozmieszczenie przestrzenne atomów w komórce elementarnej ich sieci krystalicznej ukazuje Rys. 2. 4

Rys. 2 Jak widać atomy tworzą sieć sześcienną. Przy tym w sześcianie z Rys. 2 można rozróżnić 8 mniejszych sześcianów, w których centralnie położony atom powiązany jest z 4-ma sąsiednimi. Wiązania kowalencyjne są dość silne, lecz mogą pękać wskutek defektów sieci krystalicznej i jej drgań cieplnych. Gdy wiązanie pęka (patrz Rys. 3), to opuszczający wiązanie elektron staje się swobodnym i może być nośnikiem prądu elektrycznego. Rys. 3 W miejscu, w którym był elektron powstaje niedomiar ujemnego ładunku elektrycznego i wypadkowy ładunek jest lokalnie tam dodatni. Miejsce, w którym w wiązaniu brakuje elektronu nazywa się dziurą. Dziura ma wypadkowy ładunek dodatni +e i może swobodnie wędrować, ponieważ może ją wypełniać elektron z sąsiedniego wiązania. W półprzewodniku samoistnym koncentracje elektronów i dziur są równe i zależą silnie od temperatury. Dla dostatecznie dużych temperatur zachodzi związek pn = AT 3 E g / kt e gdzie: p,n koncentracja elektronów lub dziur odpowiednio A współczynnik charakterystyczny dla danego półprzewodnika E g szerokość przerwy energetycznej pomiędzy pasmem walencyjnym i pasmem przewodzenia półprzewodnika k stała Boltzmanna T temperatura w skali Kelvina 5

Przykładowo, w temperaturze pokojowej koncentracja dziur i elektronów w czystym krzemie wynosi około n=p= 10 10 /cm 3. Ponieważ w jednym cm 3 znajduje się około 5 10 22 atomów krzemu, to jedna para dziura-elektron przypada w temperaturze pokojowej na około 5 10 12 atomów. Tymczasem w metalach z każdego atomu uwalnia się przynajmniej jeden elektron. Jasna jest zatem przyczyna, dlaczego półprzewodniki znacznie gorzej przewodzą prąd elektryczny niż metale. Nawet niewielka domieszka radykalnie zmienia własności elektryczne półprzewodnika. Do krzemu możemy dodać pierwiastki z grupy V (np. antymon Sb, fosfor P) lub pierwiastki z grupy III ( bor B, glin Al). Atomy pierwiastków z grupy V posiadają pięć elektronów na powłoce walencyjnej. W krysztale kowalencyjnym cztery elektrony zostaną wykorzystane w wiązaniach kowalencyjnych, a piąty elektron pozostanie swobodny. Atomy takiej domieszki nazywamy donorami, a półprzewodnik domieszkowany donorami nazywa się półprzewodnikiem typu n. Półprzewodnik typu n posiada znacznie więcej swobodnych elektronów niż dziur. Atomy pierwiastków grupy III posiadają trzy elektrony na powłoce walencyjnej. A zatem w jednym wiązaniu kowalencyjnym przy atomie domieszki zabraknie elektronu i powstanie dziura. Atomy takiej domieszki nazywamy akceptorami, a półprzewodnik domieszkowany akceptorami nazywa się półprzewodnikiem typu p. Nośnikami większościowymi są w nim dziury a nośnikami mniejszościowymi elektrony, Przykładowo, jeżeli do krzemu wprowadzimy domieszkę donorową w stosunku 1 : 5. 10 6, to liczba elektronów swobodnych będzie większa około milion razy niż dziur w czystym krzemie. Elektrony zatem są nośnikami większościowymi a dziury mniejszościowymi. Ponieważ w temperaturze pokojowej iloczyn np jest rzędu 10 10 10 10 = 10 20 i niewiele zależy od domieszki, to w przybliżeniu koncentracje elektronów swobodnych i dziur będą wynosiły: n 10 13 /cm 3, p 10 7 /cm 3 bo część nadmiarowych elektronów ulega rekombinacji z dziurami. W takim półprzewodniku prąd przewodzą głównie elektrony. Ze wzrostem temperatury powstaje coraz więcej par dziura-elektron i dysproporcja między nośnikami większościowymi i nośnikami mniejszościowymi w półprzewodniku domieszkowanym maleje. 3. Złącze p-n i dioda prostownicza Stykając dwa różnie domieszkowane półprzewodniki p i n otrzymujemy złącze p-n. Własności złącz p-n wykorzystuje się w większości półprzewodnikowych elementów elektronicznych. Rys. 4 6

Złącze p-n wykonuje się metodą stopową lub metodą dyfuzyjną. W pierwszym przypadku złącze p-n nazywa się stopowym, a w drugim przypadku dyfuzyjnym. Metoda stopowa polega na zgrzewaniu dwóch półprzewodników typu p i n. W metodzie dyfuzyjnej wprowadza się przeciwną domieszkę i tworzy np. w półprzewodniku typu p lokalny obszar typu n. W stopowym złączu p-n koncentracja dziur i elektronów swobodnych zmienia się gwałtownie przy przejściu przez granicę rozdziału obszarów p i n. W złączu dyfuzyjnym zmiana koncentracji dziur i elektronów jest łagodna. Niezależnie od rodzaju złącza, wskutek różnicy koncentracji, cześć dziur z obszaru p przechodzi do obszaru n i na odwrót cześć elektronów z obszaru n przechodzi do obszaru p. Wskutek tego powstaje wąska warstwa graniczna o polaryzacji jak na Rys. 4. Proces ten trwa aż do momentu, gdy powstające na złączu napięcie kontaktowe U kt zniweluje przepływ dziur i elektronów wywołany różnicą ich koncentracji. Powstająca na granicy rozdziału obszarów p i n warstwa graniczna nazywa się inaczej warstwą zubożoną lub zaporową. W warstwie tej, wskutek zwiększonej rekombinacji par dziura-elektron zawiera się mało ładunków swobodnych. Stąd oporność elektryczna warstwy zaporowej jest znacznie większa niż obszarów p i n. Grubość warstwy zubożonej jest rzędu µm i silnie zależy od wielkości i polaryzacji przykładanego na złącze napięcia. Jedną z najważniejszych własności złącza p-n jest prostowanie prądu zmiennego. Przyłóżmy do złącza napięcie zewnętrzne tak, aby obszar p miał wyższy potencjał niż obszar n. Wówczas dziury z obszaru p przepływają do obszaru n i odwrotnie elektrony z obszaru n płyną do obszaru p. Ponieważ w przewodzeniu biorą udział nośniki większościowe, to złącze przy takiej polaryzacji dobrze przewodzi prąd elektryczny. Złącze praktycznie nie przewodzi, jeżeli spolaryzujemy go przeciwnie tzn. gdy obszar p ma niższy potencjał niż obszar n. Wówczas w przewodzeniu prądu biorą udział nośniki mniejszościowe tj. elektrony z obszaru p i dziury z obszaru n. A zatem złącze p-n może prostować prąd zmienny własność tę wykorzystuje się w półprzewodnikowych diodach prostowniczych. W elektronice mówi się, że diodę półprzewodnikową można polaryzować w kierunku przewodzenia lub w kierunku zaporowym. Diodę prostowniczą oznacza się na schematach symbolem gdzie ostrze wskazuje kierunek przewodzenia. Natężenie i prądu płynącego przez diodę zależy od jej napięcia U w przybliżeniu jak funkcja: I U = I s exp 1 ϕt gdzie I s jest prądem nasycenia diody w kierunku zaporowym, a exp oznacza funkcję wykładniczą. Czynnik φ T = kt/ e nazywa się potencjałem elektrokinetycznym. W temperaturze pokojowej wynosi on około 26mV W kierunku przewodzenia oporność diody jest mała i małe jest też na niej napięcie. Dla diód krzemowych waha się ono praktycznie w przedziale 0,6 0,7V, a dla diód germanowych napięcie to wynosi około 0,3V. W kierunku zaporowym oporność diody jest duża, a prąd płynący przez diodę jest znikomy i niewiele się różni od prądu nasycenia I s. Podkreślmy, że dioda jest elementem nieliniowym i jej charakterystyka prądowo-napięciowa zdecydowanie odbiega od prawa Ohma. W oparciu o charakterystykę, wyznacza się dla diody 7

tzw. oporność statyczną R s i oporność dynamiczną R d. Oblicza się je i dla kierunku przewodzenia i dla kierunku zaporowego. Z definicji: U R s =, I R d U = (1) I gdzie: U, I - napięcie i natężenie w wybranym punkcie charakterystyki diody U, I - zmiany napięcia i natężenia w otoczeniu tego punktu Opory statyczne i dynamiczne, z uwagi na nieliniową charakterystykę, zależą od wyboru punktu pracy diody. Przy tym opory te w kierunku zaporowym wyznacza się dla ustalonego napięcia, a w kierunku przewodzenia dla ustalonego natężenia prądu. Rys. 5 Na Rys. 5 pokazano przykładowo przebieg charakterystyki diody prostowniczej w kierunku przewodzenia. Dla ustalonego natężenia I wyznaczamy napięcie U na diodzie oraz zmianę prądu I spowodowaną zmianą napięcia U. Oporności statyczną i dynamiczną obliczamy ze wzorów (1). 4. Inne typy diód półprzewodnikowych Własność prostowania prądu posiada nie tylko złącze typu p-n ale również złącze wykonane z metalu i półprzewodnika domieszkowanego (tzw. złącze m-s). W zależności od typu złącza, konstrukcji, parametrów i zastosowania rozróżnia się wiele typów diód półprzewodnikowych. Omówimy tu bliżej jedynie diodę Zenera i diodę LED. Dioda Zenera jest nazywana diodą stabilizacyjną lub stabilizatorem. Taką diodę polaryzuje się w kierunku zaporowym, a jej charakterystykę prądowo-napięciową ukazuje Rys. 6. 8

Rys. 6 Przy zwiększaniu napięcia w kierunku zaporowym początkowo prąd diody jest niewielki i niewiele się zmienia. Gdy napięcie na diodzie osiągnie wielkość U z prąd diody gwałtownie rośnie, a napięcie na diodzie jest prawie stałe. Aby nie uległa ona zniszczeniu, prąd diody ogranicza się opornikiem włączonym w szereg z diodą. W diodach silnie domieszkowanych zachodzi tzw. zjawisko przebicia Zenera, a w diodach słabo domieszkowanych tzw. przebicie lawinowe. Przykładowo, przebicie lawinowe polega na lawinowej generacji par dziura elektron pod wpływem dostatecznie silnego pola elektrycznego, które powstaje w diodzie przy napięciu U z. Prąd diody gwałtownie wzrasta, bo gwałtownie rośnie przewodność diody. W zależności od konstrukcji napięcie U z dla różnych diód Zenera jest różne, lecz nie przekracza kilku volt. Aby otrzymać większe napięcia łączy się takie diody w szereg. Z uwagi na stałość napięcia U z diody Zenera wykorzystuje się np. jako wzorce napięcia w zasilaczach stabilizowanych. Dioda LED z angielskiego light emitting diode jest diodą emitującą światło. Działanie jej jest następujące. W półprzewodniku przy rekombinacji elektronu i dziury tj. gdy elektron łączy się z dziurą emitowany jest kwant energii równy szerokości przerwy energetycznej półprzewodnika E g =hν gdzie h stała Plancka ν częstotliwość emitowanego promieniowania W germanie lub krzemie energia ta wydziela się w postaci ciepła, natomiast np. w arsenku galu GaAs szerokość przerwy energetycznej E g jest wystarczająca, by emitowane kwanty byłyby kwantami promieniowania świetlnego. Jeżeli przez złącze p n, wykonane z silnie domieszkowanych obszarów przepuścimy prąd, to elektrony z obszaru n są wstrzykiwane do obszaru p, a dziury odwrotnie z obszaru p do obszaru n. Wówczas w warstwie zaporowej zachodzi dużo aktów rekombinacji par dziura elektron i warstwa zaporowa emituje światło. Różne kolory światła w diodach LED otrzymuje się dzięki odpowiednim domieszkom zmieniającym szerokość przerwy energetycznej E g. 9

5. Układy pomiarowe i płytka montażowa Pomiary charakterystyk badanych diód przeprowadzamy w układach pomiarowych jak na Rys. 7a, b a gdzie wprowadzono oznaczenia: zas zasilacz P potencjometr ma miliamperomierz V woltomierz E elektrometr Rys. 7 b Układ na Rys. 7a służy do badania diody w kierunku przewodzenia, a Rys. 7b ukazuje układ do badania diody w kierunku zaporowym. Aby dioda nie uległa zniszczeniu, prąd diody ograniczono opornikiem 1kΩ. Dla ułatwienia pomiarów oba układy łączy się na płytce montażowej jak na Rys. 8. Rys. 8 Diody są zamontowane na płytkach z pleksiglasu, które umieszcza się w położeniu a lub b jak na Rys. 8. Położenie a wybieramy dla kierunku przewodzenia, a położenie b dla kierunku zaporowego. Kierunek przewodzenia w niektórych diodach jest oznaczany kreską. 10

6. Przebieg pomiarów a. aby zbadać charakterystyki diód w kierunku przewodzenia, połącz układ jak na Rys. 7a b. ustaw zakres miliamperomierza na 30mA, a zakres multimetra na 2V. Zmierz po kolei charakterystyki diód 1, 2, 3 w kierunku przewodzenia. Prąd między 0 2mA zmieniaj co 0,5 ma, a między 2 30 ma co 2mA. UWAGA: W kierunku zaporowym diody wymieniają osoby prowadzące zajęcia c. aby zbadać charakterystyki diód w kierunku zaporowym połącz układ jak na Rys. 7b i ustaw zakres multimetra na 200V. Mierząc charakterystykę zaporową diód 1 i 2, napięcie między 0 2V zmieniaj co 0,5V, a między 2 30V co 2V. d. aby zmierzyć charakterystykę zaporową diody 3 prowadzący zajęcia musi zamienić elektrometr na mikroamperomierz zobacz uwagę ze strony 3. Prąd mierz na zakresie 750µA, zmniejszając napięcie od 30V do 0V co 2V. e. wszystkie wyniki pomiarowe umieść w odpowiednich tabelach. Kierunek przewodzenia Kierunek zaporowy i d [ma] U d [V] dla diody: 1 2 3 U d [V] i d dla diody: 1 [na] 2 [na] 3[µA] 7. Opracowanie wyników 1. na papierze milimetrowym formatu A4 i na jednym wykresie narysuj różnymi kolorami charakterystyki wszystkich diód w kierunku przewodzenia 2. na drugiej kartce papieru milimetrowego formatu A4 narysuj charakterystyki diód 1, 2 w kierunku zaporowym 3. na trzeciej kartce papieru milimetrowego formatu A4 narysuj charakterystykę w kierunku zaporowym diody 3 4. w oparciu o narysowane charakterystyki wyznacz oporności statyczne i dynamiczne badanych diód w kierunku przewodzenia i w kierunku zaporowym. Oporności w kierunku przewodzenia wyznacz dla prądu diody I d =20mA, a w kierunku zaporowym dla napięcia na diodzie U d = 20V. Wyniki umieść w tabeli porównawczej kier. przew.[ω] kier. zap.[mω] dioda 1 dioda 2 dioda 3 R s R d R s R d R s R d 11

5. oszacuj błędy popełnione przy wyznaczaniu oporności z punktu 4. 6. na podstawie charakterystyk określ typy badanych diód i wyciągnij wnioski Literatura: [1] M. Rusek, J. Pasierbiński, Elementy i układy elektroniczne w pytaniach i odpowiedziach, WNT, Warszawa 2006 [2] D.Halliday, R.Resnick, J.Walker, Kurs fizyki, PWN, tom 5, Warszawa 2003 [3] Wprowadzenie do Laboratorium Podstaw Elektroniki. 12