Ogólny schemat inwertera MOS



Podobne dokumenty
Ogólny schemat inwertera MOS

LABORATORIUM z przedmiotu ALGORYTMY I PROJEKTOWANIE UKŁADÓW VLSI

11.Zasady projektowania komórek standardowych

Układy cyfrowe w technologii CMOS

Wprowadzenie do techniki Cyfrowej i Mikroelektroniki

Różnicowe układy cyfrowe CMOS

Cyfrowe układy kombinacyjne. 5 grudnia 2013 Wojciech Kucewicz 2

Podstawy Elektroniki dla Tele-Informatyki. Tranzystory unipolarne MOS

Logiczne układy bistabilne przerzutniki.

LABORATORIUM PROJEKTOWANIA UKŁADÓW VLSI

Instrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego nr 10

Podstawy Elektroniki dla Informatyki. Tranzystory unipolarne MOS

Ćwiczenie 24 Temat: Układy bramek logicznych pomiar napięcia i prądu. Cel ćwiczenia

Katedra Przyrządów Półprzewodnikowych i Optoelektronicznych Laboratorium Przyrządów Półprzewodnikowych. Ćwiczenie 4

Technologia CMOS APSC

Technika Cyfrowa 2 wykład 4: FPGA odsłona druga technologie i rodziny układów logicznych

Materiały używane w elektronice

Ćw. 8 Bramki logiczne

Ćwiczenie ZINTEGROWANE SYSTEMY CYFROWE. Pakiet edukacyjny DefSim Personal. Analiza prądowa IDDQ

Podstawy elektroniki cz. 2 Wykład 2

Różnicowe układy cyfrowe CMOS

Projekt Układów Logicznych

Katedra Przyrządów Półprzewodnikowych i Optoelektronicznych pokój:

Inwerter logiczny. Ilustracja 1: Układ do symulacji inwertera (Inverter.sch)

Wydział Elektryczny. Temat i plan wykładu. Politechnika Białostocka. Wzmacniacze

Przerzutnik ma pewną liczbę wejść i z reguły dwa wyjścia.

Podstawowe bramki logiczne

Zbudować 2wejściową bramkę (narysować schemat): a) NANDCMOS, b) NORCMOS, napisać jej tabelkę prawdy i wyjaśnić działanie przy pomocy charakterystyk

Elementy i sprzężenia pasożytnicze w układach CMOS

10. KLUCZE DWUKIERUNKOWE, MULTIPLEKSERY I DEMULTIPLEKSERY CMOS

Przyrządy półprzewodnikowe część 5 FET

CHARAKTERYSTYKI BRAMEK CYFROWYCH TTL

Prowadzący: Prof. PŁ, dr hab. Zbigniew Lisik. Program: wykład - 15h laboratorium - 15h wizyta w laboratorium technologicznym - 4h

PL B1 H03K 17/687 G05F 1/44. Fig. 1 (19) PL (11) (12) OPIS PATENTOWY (13) B1. Siemens Aktiengesellschaft, Monachium, DE

BADANIE UKŁADÓW CYFROWYCH. CEL: Celem ćwiczenia jest poznanie właściwości statycznych układów cyfrowych serii TTL. PRZEBIEG ĆWICZENIA

LABORATORIUM. Technika Cyfrowa. Badanie Bramek Logicznych

Ćwiczenie 9 TRANZYSTORY POLOWE MOS

Pamięci RAM i ROM. R. J. Baker, "CMOS Circuit Design, Layout, and Simulation", Wiley-IEEE Press, 2 wyd. 2007

Technologia BiCMOS Statystyka procesów produkcji

Podstawy Automatyki. Wykład 13 - Układy bramkowe. dr inż. Jakub Możaryn. Warszawa, Instytut Automatyki i Robotyki

Elementy cyfrowe i układy logiczne

Tranzystory polowe. Podział. Tranzystor PNFET (JFET) Kanał N. Kanał P. Drain. Gate. Gate. Source. Tranzystor polowy (FET) Z izolowaną bramką (IGFET)

2.2. Metoda przez zmianę strumienia magnetycznego Φ Metoda przez zmianę napięcia twornika Układ Ward-Leonarda

Bramki logiczne. 2. Cele ćwiczenia Badanie charakterystyk przejściowych inwertera. tranzystorowego, bramki 7400 i bramki

Elementy elektroniczne Wykłady 7: Tranzystory polowe

Zadanie 1 Projekt bramki NAND lub NOR optymalizacja charakterystyk przejściowych

Statyczne badanie przerzutników - ćwiczenie 3

Komputerowa symulacja bramek w technice TTL i CMOS

Temat: Pamięci. Programowalne struktury logiczne.

Część 3. Przegląd przyrządów półprzewodnikowych mocy. Łukasz Starzak, Przyrządy i układy mocy, studia niestacjonarne, lato 2018/19 51

MIKROELEKTRONIKA [gr.], dział. elektroniki zajmujący się działaniem, konstrukcją Fifth i technologią Level układów scalonych.

Instrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego nr 9

Wzmacniacze napięciowe z tranzystorami komplementarnymi CMOS

Tranzystory. bipolarne (NPN i PNP), polowe (MOSFET), fototranzystory

Tranzystory polowe FET(JFET), MOSFET

Wzmacniacz operacyjny

Badanie działania bramki NAND wykonanej w technologii TTL oraz układów zbudowanych w oparciu o tę bramkę.

Wzmacniacze napięciowe z tranzystorami komplementarnymi CMOS

Komputerowa symulacja bramek w technice TTL i CMOS

Sprawdzenie poprawności podstawowych bramek logicznych: NOT, NAND, NOR

AKADEMIA GÓRNICZO-HUTNICZA IM. STANISŁAWA STASZICA W KRAKOWIE. Wydział Informatyki, Elektroniki i Telekomunikacji LABORATORIUM.

Laboratorium KOMPUTEROWE PROJEKTOWANIE UKŁADÓW

Statyczne i dynamiczne badanie przerzutników - ćwiczenie 2

ELEMENTY UKŁADÓW ENERGOELEKTRONICZNYCH

1 Tranzystor MOS. 1.1 Stanowisko laboratoryjne. 1 TRANZYSTOR MOS

Tranzystor jako element cyfrowy

4. Funktory CMOS cz.2

Cyfrowe układy scalone

Wstęp do Techniki Cyfrowej... Synchroniczne układy sekwencyjne

Tranzystory bipolarne w układach CMOS

Zapoznanie się z podstawowymi strukturami funktorów logicznych realizowanymi w technice RTL (Resistor Transistor Logic) oraz zasadą ich działania.

TRANZYSTOR UNIPOLARNY MOS

płytka montażowa z tranzystorami i rezystorami, pokazana na rysunku 1. płytka montażowa do badania przerzutnika astabilnego U CC T 2 masa

Funkcje logiczne X = A B AND. K.M.Gawrylczyk /55

PoniŜej zamieszczone są rysunki przedstawiane na wykładach z przedmiotu Peryferia Komputerowe. ELEKTRONICZNE UKŁADY CYFROWE

3. Funktory CMOS cz.1

S P R A W O Z D A N I E T e m a t: Projektowanie układów realizujących złożone funkcje logiczne.

Komparator napięcia. Komparator a wzmacniacz operacyjny. Vwe1. Vwy. Vwe2

Wstęp do analizy układów mikroelektronicznych

Podstawy elektroniki cyfrowej dla Inżynierii Nanostruktur. Piotr Fita

Ćwiczenie 4. Parametry statyczne tranzystorów polowych JFET i MOSFET

Technika Cyfrowa. Badanie pamięci

Tranzystory. 1. Tranzystory bipolarne 2. Tranzystory unipolarne. unipolarne. bipolarny

Automatyzacja i robotyzacja procesów produkcyjnych

Cyfrowe układy scalone

Politechnika Poznańska, Instytut Elektrotechniki i Elektroniki Przemysłowej, Zakład Energoelektroniki i Sterowania Laboratorium energoelektroniki

WSTĘP. Budowa bramki NAND TTL, ch-ka przełączania, schemat wewnętrzny, działanie 2

2 Dana jest funkcja logiczna w następującej postaci: f(a,b,c,d) = Σ(0,2,5,8,10,13): a) zminimalizuj tę funkcję korzystając z tablic Karnaugh,

Politechnika Poznańska, Instytut Elektrotechniki i Elektroniki Przemysłowej, Zakład Energoelektroniki i Sterowania Laboratorium energoelektroniki

(12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) (13) B1

Pamięci RAM i ROM. Pamięć RAM 2. R. J. Baker, "CMOS Circuit Design, Layout, and Simulation", Wiley-IEEE Press, 2 wyd (C mbit.

Wykład VIII TRANZYSTOR BIPOLARNY

INSTRUKCJA DO ĆWICZENIA BADANIE STANDARDOWEJ BRAMKI NAND TTL (UCY 7400)

Zasilacze komputerów osobistych

Cyfrowe układy scalone c.d. funkcje

Katedra Przyrządów Półprzewodnikowych i Optoelektronicznych pokój:

PRZERZUTNIKI: 1. Należą do grupy bloków sekwencyjnych, 2. podstawowe układy pamiętające

Ćwiczenie nr 9 Układy scalone CMOS

Porty wejścia/wyjścia w układach mikroprocesorowych i w mikrokontrolerach

Ćwiczenie 5. Zastosowanie tranzystorów bipolarnych cd. Wzmacniacze MOSFET

Transkrypt:

Ogólny schemat inwertera MOS Obciążenie V i V o Sterowanie

Rodzaje cyfrowych układów scalonych MOS Układy cyfrowe MOS PMOS NMOS MOS BiMOS z obciążeniem zubożanym z obciążeniem wzbogacanym statyczne dynamiczne

Bramki NMOS T L T L V GG V o V o T D T D V i L V i L z obciążeniem typu wzbogacanego z obciążeniem typu zubożanego

Bramki NMOS z obciążeniem typu wzbogacanego V o V o (V GG -V TL ) 2 (V GG -V TL ) 2 wyłączanie 1 1 załączanie V T D.V i 1. VGG<VDD+VTL - tranzystor obciążajacy pracuje w zakresie nasycenia 2. VGG VDD+VTL - tranzystor obciążajacy pracuje w zakresie nienasycenia t

Bramki logiczne NMOS - NAND i NOR T L Y T L A 1 A 2 Y A 1 A 2 A n A n

Inwerter MOS T L PMOS V i V o T D L NMOS

harakterystyka przejściowa i prąd inwertera MOS V o A B D E I DS =I DSn =I DSp V i V i V Tn V inv +V Tp V Tn V inv +V Tp

Opóźnienia wnoszone przez inwerter MOS V i /2 V o t dhl t dlh t T 2 g4 gd2 db2 V i w V o db1 T 4 gd1 T 3 /2 T 1 g3 t

Obliczanie czasów opóźnień t dhl i t dlh Vo I DN V i T 1 /2 0 t 0 t dhl t V i 0 t T 2 I DP V o /2 0 t dlh t

Ogólny schemat bramki MOS A B Siec podciągająca Y A B Siec ściągająca

Schematy sieci ściągających w bramkach MOS Y Y A B A B Y A B Y=AB Y=A+B Y=AB+

Schematy sieci podciągających w bramkach MOS A B A A B Y B Y Y Y=AB Y=A+B Y=AB+

Bramki MOS: NAND i NOR A B Y=AB A B Y=A+B

Dobór szerokości tranzystorów w bramkach MOS A 4µw B 4µw A 2µw B 2µw 4µw 2µw Y=AB+ D 4µw Y=A+B++D A 2w w A w B w w D w B 2w

Tranzystor NMOS jako klucz V in,v out in out -V Tn V SS L V in V out 0 t

Tranzystor PMOS jako klucz V in,v out V in in out V out L V Tp 0 t

Bramka transmisyjna MOS in out in out V SS in out

Dwuwejściowy multiplekser z bramek transmisyjnych A Y=A+B B

Inwerter trójstanowy in out in out in out

Przerzutnik D wyzwalany poziomem D Q A B Q D Q Q D Q

Topografia tranzystorów NMOS i PMOS Dyfuzja typu n+ Podłoże typu p Studnia typu n NMOS PMOS Dyfuzja typu p+ Ścieżka polikrzemowa

Topografia inwertera MOS Kontakt Polaryzacja studni Metalizacja OUT GND VDD Polaryzacja podłoża IN

Topografia układu scalonego Wewnętrzne pierścienie masy i zasilania Pad zasilania Pierścienie masy i zasilania Pad wejściowy Pad wyjściowy Kanał rutingowy Pad masy Rząd komórek standardowych

Kanał rutingowy Ścieżki masy i zasilania Kanał rutingowy Rząd komórek standardowych

Komórka standardowa inwertera Szyna zasilania Polaryzacja studni (kontakt do n+) Studnia n Dyfuzja p+ Kontakt do polikrzemu Wejście (metal 2) Bramka tranzystora PMOS Kontakt do dyfuzji Wyjście (metal 2) Bramka tranzystora NMOS Dyfuzja n+ Polaryzacja podłoża (kontakt do p+) Szyna masy

Komórki standardowe inwertera

Komórki NAND i NOR

Przerzutniki

Reguły projektowania r101 r102 r203 r202 P+ diff P+ diff Wyspa N- Podłoże P- Wyspa N- r201 nwell r204 r303 N+ diff P+diff r304 r403 nwell r402 r301 r302 r401 contact metal N+diff r304 r405 r404 r305 N+diff poly

Reguły projektowania r604 r501 r602 metal 1 r502 metal 1 r601 via metal2 r603 contact r701 r803 metal2 r702 metal2 PAD r802 r801