Technika Cyfrowa. Badanie pamięci

Transkrypt

1 LABORATORIUM Technika Cyfrowa Badanie pamięci Opracował: mgr inż. Andrzej Biedka

2 CEL ĆWICZENIA Celem ćwiczenia jest zapoznanie się studentów z budową i zasadą działania scalonych liczników asynchronicznych i synchronicznych oraz metodami projektowania liczników jako automaty synchroniczne. Podczas realizacji ćwiczenia będą badane właściwości liczników w różnych układach połączeń i konfiguracji umożliwiających zmianę ich pojemności oraz projektowanie liczników z przeniesienie szeregowym i równoległym. REALIZACJA ĆWICZENIA 1. Zapoznać się ze stanowiskiem ćwiczeniowym 2. Pomiar czasu opóźnienia wtórnika emiterowego. Zmierzyć opóźnienie wnoszone przez wtórnik emiterowy. Uzyskany czas należy uwzględnić w następnych pomiarach. WE1 74LS126 X1 D R9 R11 75 R10 WY2 +5V Generator R WY1-5V M Oscyloskop Y2 Y1 2-CH Rys. 1. Schemat ideowy układu pomiaru czasu opóźnienia wtórnika emiterowego. 2

3 3. Pomiar czasu dostępu pamięci od zmiany adresu. pomiaru czasu dostępu pamięci EPROM przy zmianie adresu. i przeprowadzić pomiary dla różnych adresów i różnych bitów słowa wyjściowego. Porównać uzyskane wyniki z danymi katalogowymi. 4. Pomiar czasu dostępu pamięci od zmiany sygnału!. Występujący w następnych pomiarach stan wysokiej impedancji wykrywany jest przy pomocy dodatkowego dzielnika napięcia przyłączanego do badanego wyjścia pamięci. W stanie nieaktywnym sygnału! dzielnik wymusza na wyjściu poziom napięcia równy ok. połowie napięcia Ucc. W stanie aktywnym sygnału! bufor wyjściowy pamięci wymusza właściwy stan logiczny, innymi słowy przeciąga wyjście dzielnika do wartości poziomu LOW lub HIGH. Przebiegi czasowe ilustrujące zasadę pomiaru czasu dostępu pamięci przy sterowaniu sygnałem! przedstawione są na poniższym rysunku. HI HI Dn t A2 t A1 LOW Bit czytany LOW Bit czytany HIGH Poziom wyznaczony przez dzielnik R9, R10 Rys. 2. Przebiegi czasowe pomiaru czasu dostępu od zmiany sygnału!. pomiaru czasu dostępu pamięci EPROM przy zmianie sygnału!. i przeprowadzić pomiary czasów dostępu dla różnych adresów i różnych bitów słowa wyjściowego. Porównać uzyskane wyniki z danymi katalogowymi. Przeszkicować z ekranu oscyloskopu kształt uzyskanych przebiegów z zaznaczeniem kryteriów pomiaru badanych parametrów. 3

4 5. Pomiar czasu dostępu pamięci od zmiany sygnału!oe. pomiaru czasu dostępu pamięci EPROM przy zmianie sygnału!. i przeprowadzić pomiary czasów dostępu dla różnych adresów i różnych bitów słowa wyjściowego. Porównać uzyskane wyniki z danymi katalogowymi. Przeszkicować z ekranu oscyloskopu kształt uzyskanych przebiegów z zaznaczeniem kryteriów pomiaru badanych parametrów. GND A6,7 A4,5 A3 A2 A1 A0 7 x 1 kom R1 R2 R3 R4 R5 R6 R A8 A13 A7 A6 A5 A4 A3 A2 A1 A0 Badana pamięć D7 D6 D5 D4 D3 D2 D1 D0 D7 D6 D5 D4 D3 D2 D1 D0 D R9 R11 75 R10 R WY2 +5V -5V 74LS126 X X1 OE M WE1 WY1 OE Schemat ideowy płytki badania pamięci 4

5 OPRACOWANIE WYNIKÓW - SPRAWOZDANIE Sprawozdanie z ćwiczenia powinno zawierać schematy układów do badania poszczególnych parametrów pamięci oraz wtórnika emiterowego. Wyniki pomiarów umieścić w tabelach i dokonać porównania zmierzonych parametrów z parametrami katalogowymi badanych pamięci. ZALICZENIE ĆWICZENIA 1. Zaliczenie kolokwium wstępnego oraz poprawne wykonanie zadań laboratoryjnych. 2. Złożenie sprawozdania zawierającego opis zadań i wnioski. ZAGADNIENIA DO PRZYGOTOWANIA PRZED PRZYSTĄPIENIEM DO ĆWICZENIA 1. Budowa i zasada działania pamięci RAM i EPROM 2. Wyjścia trójstanowe układów logicznych i ich parametry. 3. Magistrale adresowe, danych i sterujące pamięci półprzewodnikowych. 4. Rozbudowa pamięci, zmiana organizacji - łączenie w bloki o większej pojemności i większej długości słowa. 5. Parametry dynamiczne pamięci. 6. Metody pomiarów parametrów dynamicznych przebiegów impulsowych. 5. Karta katalogowa pamięci EPROM typu 27C128 i pamięci RAM typu LITERATURA 1. Kalisz J.: Podstawy elektroniki cyfrowej. WKiŁ, Warszawa Gajewski P., Turczyński J.: Cyfrowe układy scalone CMOS. WKiŁ, Warszawa Pieńkos J., Turczyński J.: Układy scalone TTL w systemach cyfrowych. WKiŁ, Warszawa Łakomy M., Zabrodzki J.: Cyfrowe układy scalone. PWN, Warszawa Misiurewicz P.: Podstawy techniki cyfrowej. WNT, Warszawa, Głocki W.: Układy cyfrowe. WSiP, Warszawa Majewski W.: Układy logiczne. WNT, Warszawa Filipkowski A.: Układy elektroniczne analogowe i cyfrowe. WNT, Warszawa Misiurewicz P., Grzybek M.: Półprzewodnikowe układy logiczne. WNT, Warszawa Molski M.: Wstęp do techniki cyfrowej. WKiŁ, Warszawa Molski M.: Modułowe i mikroprogramowalne układy cyfrowe. WKiŁ, Warszawa Coffron J.W., Long W.E.: Technika sprzęgania układów w systemach mikroprocesorowych. WNT, Warszawa Cwalina Z. i in.: Wybrane układy MOS-LSI. Zastosowania, pomiary. WKiŁ (USC), Warszawa