SPECYFIKACJA TECHNICZNA Załącznik nr 1 Zakup, dostawa i instalacja Spektrometru FT-Raman z zintegrowaną przystawką FT-IR oraz mikroskopu podczerwieni. 1. WYMAGANIA TECHNICZNE 1.1. Założenia ogólne Przedmiotem zakupu, dostawy oraz instalacji jest spektrometr ramanowski z transformacją Fouriera z zintegrowaną przystawką do pomiarów w podczerwieni oraz mikroskop podczerwieni FTIR typu "stand-alone" pracujący bez konieczności podłączania zewnętrznego spektrometru FTIR. Zakup jest realizowany dla Laboratorium Międzyuczelnianego w Stalowej Woli. W celu potwierdzenia, parametrów oferowanego przedmiotu zamówienia należy do oferty dołączyć opisy w formie papierowej, które w sposób jednoznaczny pozwolą stwierdzić, że parametry eksploatacyjno techniczne oferowanego urządzenia będą zgodne z wymaganiami Zamawiającego. Urządzenie musi spełniać wymagania dyrektywy "Nowego Podejścia UE - znak CE, oraz wymagania odpowiednich norm przedmiotowych. 1.2. Parametry techniczne urządzeń 1.2.1. SPEKTROMETR RAMANOWSKI PODSTAWOWE WYMAGANIA TECHNICZNE Lp. Nazwa parametru Wielkość parametru Źródła 1. Minimum dwa źródła promieniowania wybierane i przełączane komputerowo: lampa wolframowa na zakres 27.000 2.000 cm -1 oraz źródło ceramiczne na zakres 9.600 20 cm -1. 2. Źródło ceramiczne o maksymalnej temp. pracy 1.577K, nie wymagające chłodzenia wodą 3. Temperatura źródła kontrolowana elektronicznie. 4. Układ sterujący pozwalający na pracę w 3 trybach: oszczędnościowym, standardowym i maksymalnej energii. Dzielnik wiązki (beamsplitter) 5. Ge/KBr na zakres spektralny 7.800 350 cm -1 i Si/CaF 2 na zakres 14.500 1.200 cm -1 6. Możliwość rozbudowy o dodatkowe beamsplittery gwarantujące pokrycie zakresu spektralnego co najmniej 27.000 15 cm -1
7. Automatyczne rozpoznawanie rodzaju beamsplittera przez system 8. Miejsce na przechowanie 2 zapasowych beamsplitterów wewnątrz aparatu w głównym przedziale optyki osuszanym i przedmuchiwanym Detektor 9. Detektor DLaTGS z okienkiem KBr na zakres 12.000 350 cm -1 10. Zdolność rozdzielcza lepsza niż 0,09 cm -1 (pomiar szerokości połówkowej pasma CO) 11. Dwupozycyjny, komputerowo sterowany układ wyboru detektorów 12. Łatwy dostęp i wymiana detektorów 13. Interferometr Michelsona 90º Interferometr Michelsona 14. Nie wymagający zasilania sprężonym powietrzem, odporny na wibracje i wpływ zmian temperaturowych 15. Justowany dynamicznie w trakcie skanowania z częstotliwością odpowiadającą częstotliwości przejść przez zero sygnału lasera nawet przy maksymalnej szybkości skanowania. Mechanizm dynamicznego justowania wykorzystujący wiązkę lasera He-Ne, padającą na trójpozycyjny detektor laserowy, do monitorowania i utrzymywania idealnego względnego położenia kątowego zwierciadeł. 16. Inteligentny system włączania/wyłączania dynamicznego justowania interferometru w trakcie eksperymentów stepscan. Inne parametry 17. Szybkość skanowania regulowana w zakresie 18. System automatycznego rozpoznawania z poziomu oprogramowania akcesoriów (co najmniej: ATR Golden Gate, Miracle, SplitPea, DRITFS, Specular Reflectance, PAS) oraz elementów systemu takich jak detektory i beamsplittery 19. Możliwość rozbudowy na dalsze zakresy spektralne i do pracy z technikami łączonymi: GC/IR, TG/IR, mikroskopia IR 20. Apertura regulująca moc wiązki, o powtarzalnej regulacji średnicy w zakresie 0 100% co 1% 21. Elementy układu optycznego montowane stabilnie na ławie optycznej za pomocą kołków pozycjonujących 22. Monolityczne zwierciadła w układzie optycznym pokrywane metalem szlachetnym 23. Poziom szumów (amplituda międzyszczytowa) dla detektora DLaTGS min. 0,16 6,2 cm/s niższy niż 8,68 10-6 Abs (sygnał/szum >50.000:1)
24. Maksymalna szybkość zbierania danych nie gorsza niż 65 skanów/s dla rozdzielczości 16 cm -1 25. Układ optyczny szczelny i osuszany z okienkami oddzielającymi przedział próbek 26. Podłączenia do opcjonalnego przedmuchu spektrometru i przedziału próbek osuszonym gazem 27. Port do pomiarów emisyjnych z automatycznym przełączaniem lustra 28. Wysokociśnieniowa przystawka ATR z kryształem diamentowym wyposażona w odchylane urządzenie dociskowe o regulowanej sile docisku 29. Automatyczny system wyprowadzania promieniowania do pomiarów w modułach zewnętrznych zarówno po obu stronach aparatu Moduł FT-Raman (odstęp danych 8 cm -1 ) 30. Detektor InGaAs nie wymagający chłodzenia 31. Detektor germanowy chłodzony ciekłym azotem 32. Automatyczne przełączenie detektorów z poziomu oprogramowania 33. Standaryzowane źródło światła białego 34. Źródło min. 2W laser 1.064 nm Nd:YVO4 o mocy regulowanej z poziomu oprogramowania z krokiem 0,1W 35. Filtr promieniowania Rayleighowskiego 36. Zakres spektralny przesunięcia Raman nie mniejszy niż 50 3.500 cm -1 37. Apertura wiązki z płynną kontrolą ustawienia przesłony z oprogramowania 38. Możliwość rozbudowy o polaryzator wiązki promieniowania ramanowskiego, umożliwiający badanie właściwości polaryzacyjnych próbek z automatycznym sterowaniem przez oprogramowanie 39. Zasilacz spektrometru umieszczony na zewnątrz aparatu Przystawka makro/mikroskopowa 40. Mocowanie próbek horyzontalne 41. Stolik z automatyczną kontrolą przesuwu w osiach X Y Z 42. Wbudowaną kolorową kamerą wideo do obserwacji pola 43. Rozdzielczości przestrzennej (wielkość plamki lasera) w nie gorsza niż 50 µm pomiarach mikroskopowych (1 mm w trybie makro) 44. Krok przesuwu stolika we wszystkich płaszczyznach nie gorszy niż 20 µm 45. Przystawka całkowicie zamknięta w przedziale próbek, zapewniająca pełne bezpieczeństwo pracy z laserem Oprogramowanie
46. Komunikacja aparatu z jednostką sterującą USB 2.0 47. Program obsługi spektrometru zarówno do eksperymentów IR jak Ramanowskich co najmniej w języku polskim i angielskim. Automatyczny wybór wersji językowej przy logowaniu 48. Logowanie użytkowników z hasłami i różnymi poziomami dostępu 49. Funkcja automatycznego doboru wzmocnienia sygnału 50. Funkcje wykonywania eksperymentów i analizy danych we wszystkich rodzajach eksperymentów step-scan i dwukanałowych 51. Podgląd widm zapisanych na dysku przed ich otwarciem (jak podgląd dokumentów w pakiecie Office) 52. Funkcje przetwarzania widm: korekcja linii bazowej automatyczna i manualna, dekonwolucja, odejmowanie spektralne, wyznaczanie pochodnych, znajdowanie maksimów, wygładzanie, transformacja Kramersa Kroniga, korekcja ATR, pomiar wysokości i położenia pasma, pomiar pola powierzchni pasm - bezwględnej i względnej 53. Funkcja rozkładu pasm na składowe z algorytmem konwergencji typu Fletcher-Powell-McCormick, uwzględniająca co najmniej następujące typy pasm: Gaussian, Lorentzian, mieszany Gaussian/Lorentzian, Voigt 54. Przeszukiwanie bibliotek w celu identyfikacji widma nieznanej próbki oraz/lub porównania z widmem wzorca 55. Tworzenie własnych bibliotek użytkownika, 56. Moduł oprogramowania do analiz chemometrycznych obejmujący algorytmy analizy ilościowej i klasyfikacyjnej min. następujące: do analiz ilościowych: * Prawo Lamberta-Beera * CLS (klasyczna metoda najmniejszych kwadratów) do analiz klasyfikacyjnych * Search Standards (przeszukiwanie biblioteki wzorców z analizą korelacji, także dla pochodnych widm) * Similarity match (wektorowa analiza podobieństwa) * QC compare (analiza korelacyjna widm uśrednionych) 57. Moduł do tworzenia i wykonywania makroinstrukcji 58. Moduł spektralnej interpretacji widm 59. Automatyczna korekcja zawartości CO 2 i pary wodnej przez oprogramowanie bez konieczności zbierania widm referencyjnych 60. Wyświetlanie widm w czasie rzeczywistym (w trakcie pomiaru)
61. Automatyczne wykonywanie testów jakości widm z informowaniem użytkownika m.in. o niepożądanych pasmach spektralnych w widmie tła, nieprawidłowym kształcie pasm, obecności pasm całkowicie absorbujących, nachyleniu linii podstawowej, zbyt małej energii interferogramu 62. Aktywna diagnostyka w trakcie pomiaru z ciągłym monitorowaniem stanu elementów systemu i wizualnym wskaźnikiem poprawnej pracy aparatu 63. Wbudowany edytor do tworzenia raportów według własnych szablonów 64. Archiwizowanie gotowych raportów w nieedytowalnych skoroszytach elektronicznych z funkcją przeszukiwania skoroszytów umożliwiającą szybkie dotarcie do każdego raportu Wyposażenie dodatkowe 65. Uniwersalny zestaw bibliotek widm obejmujący co najmniej 15.000 widm IR i 14.000 widm Ramana 66. Dewar transportowy na ciekły azot o pojemności min. 35 dm 3 67. Stół laboratoryjny z blatem z wkładkami wibroizolacyjnymi 68. Zestaw komputerowy umożliwiający sterowanie systemem z drukarką 69. System do analizy danych z licencją na pakiet oprogramowania biurowego Przystawka Nanotwardościomierz/ Scratch tester 70. Możliwość wykonywania testów typu: pomiar twardości, scratch, zużycie, trybologiczne, pełzanie. 71. Konstrukcja modułowa, możliwość równoczesnego zamontowania modułów do testów w skali Micro i Nano 72. Zintegrowany wyłącznik bezpieczeństwa oraz manipulator kontrolujący ruch stolika XY 73. Regulacja prześwitu przy pomocy sprężyny powietrznej 74. Zmotoryzowany stolik XY o zakresie co najmniej 150 150 mm 75. Rozdzielczość pozycjonowania stolika nie gorsza niż 10 nm 76. Maksymalny prześwit w osi Z co najmniej 140 mm 77. Maksymalna prędkość przesuwu w osi Z co najmniej 50 mm/min 78. Maksymalna prędkość dla testów typu scratch co najmniej 240 mm/s 79. Maksymalna długość dla testów typu scratch co najmniej 90 mm z kontrolą optyczną 150 mm bez kontroli optycznej 80. Maksymalny zakres pomiaru głębokości co najmniej 50 mm 81. Maksymalny rozmiar próbki co najmniej 300 mm Moduł do testów nano do przyst. nanotwardościomierza 82. Możliwość wykonywania testów typu: scratch, twardość.
83. Bezpośrednia kontrola obciążenia przy pomocy czujnika piezoelektrycznego, pracującego w pętli sprzężenia zwrotnego. 84. Zakres obciążeń co najmniej: 0 400 mn 85. Rozdzielczość czujnika siły nie gorsza niż: 0,08 μn 86. Zakres pomiaru głębokości co najmniej 100 μm 87. Rozdzielczość pomiaru głębokości nie gorsza niż: 0,003 nm 88. Rozszerzony zakres pomiaru głębokości co najmniej 50 mm (rozdzielczość 2,5 nm) 89. Wpływ zmiany temperatury otoczenia w trakcie badania nie większy niż <0,05 nm/sec 90. Maksymalna siła dla pomiarów tarcia co najmniej: 400 mn 91. Rozdzielczość czujnika siły dla pomiarów tarcia nie gorsza niż 0,03 μn 92. Certyfikat kalibracji producenta Moduł do testów w skali Micro do przyst. nanotwardościomierza 93. Możliwość wykonywania testów typu: scratch, twardość 94. Bezpośrednia kontrola obciążenia przy pomocy czujnika piezoelektrycznego, pracującego w pętli sprzężenia zwrotnego. 95. Zakres obciążeń co najmniej: 0,05 40 N 96. Rozdzielczość czujnika siły nie gorsza niż: 0,6 mn 97. Zakres pomiaru głębokości co najmniej 300 μm 98. Rozdzielczość pomiaru głębokości nie gorsza niż: 0,2 nm 99. Rozszerzony zakres pomiaru głębokości co najmniej: 50mm (rozdzielczość 2,5 nm) 10 Maksymalna siła dla pomiarów tarcia co najmniej: 40 N 0. 10 Rozdzielczość czujnika siły dla pomiarów tarcia nie gorsza niż 0,6 mn 1. 10 2. Certyfikat kalibracji producenta Bezkontaktowy czujnik pomiaru głębokości do przyst. nanotwardościomierza 10 Zakres pomiarowy co najmniej 300 μm 3. 10 Rozdzielczość nie gorsza niż 2 nm 4. 10 Możliwość instalacji różnych sond optycznych 5. 10 Możliwość rejestracji obrazu (profilu) 6. 10 7. Próbki wzorcowe Mikroskopowy system obrazowania do przyst. nanotwardościomierza
10 8. Wyposażony w kamerę cyfrową o rozdzielczości co najmniej PAL 752x582 10 Zestaw obiektywów o powiększeniu Min. x5, x20, x50 9. 11 0. Maksymalne dostępne powiększenie co najmniej 2000x Oprogramowanie do testów typu scratch do przyst. nanotwardościomierza 111. Testy typu scratch przy stałym lub zmiennym obciążeniu 11 Możliwość podglądu panoramicznego 2. 11 Wykonywanie testów seryjnych 3. 11 4. Kontrola parametrów długość rysy, prędkość testu, obciążenie 11 Możliwość eksportu zdjęcia próbki 5. 11 Kontrola stolika XY 6. 11 Możliwość programowania testów wielu próbek 7. 11 8. Automatyczne raporty. Oprogramowanie do pomiarów twardości do przyst. nanotwardościomierza 11 Kontrola parametrów obciążenia 9. 12 Kontrola stolika XY 0. 12 Wyznaczanie parametrów i właściwości mechanicznych 1. materiałów 12 2. Możliwość programowania testów wielu próbek Automatyczne raporty. Zestaw akcesoriów do testów typu scratch oraz do pomiarów twardości do przyst. nanotwardościomierza 12 Wgłębnik diamentowy Vickers dla zakresu Nano i Micro 3. 12 Wgłębnik typu Berkovich dla zakresu Nano i Micro 4. 12 Płtyka wzorcowa - silicat 5. 12 Komputer klasy PC. 6. 12 Zainstalowany system operacyjny 7. 12 Monitor min. 19 LCD. 8. 12 Kompresor o parametrach odpowiednich dla oferowanego 9. urządzenia 13 0. Stół antywibracyjny.
1.2.2. SPEKTROMETR RAMANOWSKI WYMAGANIA DODATKOWE Lp. Nazwa Opis 1. Szkolenie (min. 3 dni) w zakresie obsługi przyrządu, urządzeń dodatkowych i pakietów oprogramowania w miejscu użytkowania aparatury w terminie uzgodnionym przez obie strony (dla min. 2 osób) 2. Szkolenie (min. 2 dni) aplikacyjne w zakresie zaawansowanej obsługi aparatu i użytkowania oprogramowania w miejscu użytkowania aparatury w terminie uzgodnionym przez obie strony (dla min. 2 osób) 3. Instrukcja obsługi i dokumentacja techniczna w języku polskim. 4. Czas reakcji serwisu nie dłuższy niż 72 godziny 1 5. Gwarancja na źródło ceramiczne 5 lat. minimum 5 lat 6. Gwarancja na interferometr: 5 lat. minimum 5 lat 7. Okres pełnej gwarancji na całe urządzenie i pozostałe jego minimum 12miesięcy podzespoły 8. Bezpłatna obsługa serwisowa; co najmniej 2 lata 1.2.3. MIKROSKOP PODCZERWIENI PODSTAWOWE WYMAGANIA TECHNICZNE Lp. Nazwa parametru Wielkość parametru 1. Zamknięta i osuszana optyka FTIR wraz z interferometrem dedykowana do mikroskopu IR znajdująca się w jednej obudowie z mikroskopem. 2. Konwerter ADC 24-bity 3. Wskaźnik poziomu wilgotności zewnętrzny 4. Port do wymiany wkładów osuszających 5. Optyka dichroiczna do równoczesnej obserwacji i pomiarów, zarówno w trybie transmisyjnym jak odbiciowym 6. W pełni zautomatyzowana, kontrolowana komputerowo apertura z regulacją rozmiarów X, Y i kąta obrotu umożliwiająca jednoczesną obserwację obszaru aperturowanego i pełnego pola 7. Automatyczne przełączanie trybu transmisyjnego i odbiciowego 8. Automatyczne, sterowane z poziomu oprogramowania ogniskowanie na próbce obrazu wideo i maksymalizowanie sygnału IR 9. Automatyczna kontrola kontaktu w trybie ATR z cyfrowym odczytem nacisku 10. Niezależne systemy oświetlenia LED, sterowane z oprogramowania: min.3: oświetlenie transmisyjne, odbiciowe i apertury 1 Czas reakcji serwisu jest to okres czasu, jaki upływa od chwili zgłoszenia awarii do momentu przyjazdu serwisanta do miejsca zainstalowania urządzenia. Dotyczy to sytuacji, w której niemożliwe jest usunięcie awarii (usterki) na drodze konsultacji telefonicznych
11. Teleskopowe osłony obiektywu i kondensera zapewniające izolację od otoczenia strefy pomiaru próbki 12. Zintegrowana kolorowa cyfrowa kamera CCD pikseli z komunikacją USB Rozdzielczość min. XGA 1024 x 768 13. Zmotoryzowany stolik mikroskopu o wysokiej precyzji z wyposażony w system ułatwiający szybkie zakładanie/demontaż z zakresem przesuwu co najmniej 5 cm x 12,5 cm 14. Ultraszybkie mapowanie zebranie mapy obszaru 1,2 1,2 mm z rozdzielczością 25 µm w czasie nie dłuższym niż 20 s, przy rozdzielczości 16 cm -1 15. Maksymalna szybkość mapowania nie gorsza niż 10 kroków stolika na sekundę (rozdzielczość 16 cm -1, zakres spektralny 16. Obiektyw 15x z wbudowanym uchwytem do łatwego zakładania opcjonalnego kryształu ATR 17. Zmotoryzowany kondenser 15x zapewniający utrzymywanie wyjustowanego położenia i automatyczne przesuwanie do pozycji spoczynkowej w przypadku pomiarów odbiciowych 18. Możliwość podłączenia opcjonalnego zewnętrznego modułu FTIR zapewniającego możliwość wykonywania 4000 715 cm -1 ) o aperturze numerycznej co najmniej 0,7 o aperturze numerycznej co najmniej 0,7 standardowych pomiarów IR Detektor 19. Dedykowany mikroskopowy detektor DLaTGS 20. Zakres spektralny detektora DLaTGS co najmniej 7.600 450 cm -1 21. Gwarantowany pomiar próbek o wielkości od 50 µm 22. Matrycowy detektor MCT-A zapewniający pomiary w mikroskopie 23. Zakres spektralnym co najmniej 7.600 715 cm -1 24. Stosunek sygnału do szumu dla parametrów: rozdzielczość > 500 :1 przestrzenna 25 µm, 4 skany, rozdzielczość spektralna 16 cm -1, zakres 2.000 2.100 cm -1 25. System automatycznego sterowanego z komputera przełączania detektorów Interferometr 26. Typ Interferometru Michelsona 90º 27. Nie wymagający zasilania sprężonym powietrzem, 28. Odporny na wibracje i wpływ zmian temperaturowych, 29. Ustawiany dynamicznie w trakcie skanowania z częstotliwością odpowiadającą częstotliwości przejść przez zero sygnału lasera nawet przy maksymalnej szybkości skanowania.
30. Mechanizm dynamicznego ustawiania wykorzystujący wiązkę lasera 31. Interferometr wyposażony w wielowarstwowy dzielnik wiązki Ge/KBr posiadający zakres co najmniej 7.600 375 cm -1 32. Laser HeNe 633nm zapewniający precyzyjną kontrolę ruchu interferometru i utrzymywanie kalibracji liczb falowych uzyskiwanych widm Źródło 33. Trwałe źródło ceramiczne nie wymagające chłodzenia wodą, 34. Dostępne z zewnątrz bez zdejmowania obudowy, wymienne przez użytkownika Oprogramowanie 35. Pomiar widm i podgląd pomiaru w czasie rzeczywistym 36. Automatyczna korekcja atmosferyczną w czasie rzeczywistym 37. Przeszukiwanie bibliotek widm w czasie rzeczywistym w trakcie podglądu 38. Wyświetlanie obrazu cyfrowego z różnymi ustawieniami kamery CCD dopasowanymi do różnych próbek 39. Przechwytywanie obrazu wideo, pomiar wielkości obiektów, wpisywanie komentarzy na obrazach 40. Niezależna kontrola oświetlenia LED przy pracy w dbiciu, transmisji i dla apertury 41. System ogniskowania automatycznego i ręcznego z poziomu oprogramowania 42. Autoogniskowanie kondensera i przesuwanie do pozycji spoczynkowej 43. Automatyczna kontrola rozmiarów x-y apertury i jej kąta obrotu 44. Funkcje mapowania i kontroli obrazowania spektralnego 45. Praca z wirtualnym (w oprogramowaniu) joystickiem 46. Automatyczne ustawianie kontaktu ATR i jego zwalniania z definiowanym poziomem wartości progowej nacisku 47. Podgląd slajdu mikroskopowego z szybkim ładowaniem i wysuwaniem próbek 48. Automatyczne lokalizowanie pozycji tła i jego pomiar w trybie odbiciowym 49. Standardowe procedury prowadzące użytkownika za rękę w typowych pomiarach mikroanalizy IR 50. Tworzenie i analiza map spektralnych, w tym: map liniowych, map obszarów, zestawów punktów dyskretnych wskazanych przez użytkownika 51. Automatyczne tworzenie map mozaikowych (sklejanych) z obszarów większych niż pole obserwacji 52. Interaktywna kontrola przesuwu stolika (m.in. przesunięcie stolika do punktu wskazanego myszą) 53. Kalibracja wymiarów próbek 54. Tworzenie map spektralnych przekrojowych (konturowych) i trójwymiarowych
55. Analiza chemometryczna map metodą PCA (principle component analysis) i MCR (Multivariate Curve Resolution) 56. Tworzenie obrazów chemicznych według położeń maksimów, wysokosci/pola pasm czy korelacji z widmami referencyjnymi 57. Przełączanie trybów pomiarowych: odbicie, transmisja, ATR 58. Obsługa mikroskopu i opcjonalnego zewnętrznego modułu pomiarowego 59. Kontrola opcjonalnego polaryzatora światła widzialnego (wstawianie w wiązkę i kąt obrotu) 60. Standardowe funkcje przetwarzania widm 61. Przeszukiwanie bibliotek widm 62. Menedżer bibliotek z możliwością tworzenia własnych bibliotek widm 63. Tworzenie elektronicznych raportów 64. Narzędzia odczytu i zapisu plików i bibliotek widm w różnych formatach Wyposażenie dodatkowe 65. Podstawowy zestaw do przygotowania próbek mikroskopowych (co najmniej: pinceta, skalpel, płytki solne 13mm BaF 2, slajdy mikroskopowe 1"x 3" do pomiarów transmisyjnych i odbiciowych) 66. Dodatkowy joystick zewnętrzny 67. Stół laboratoryjny z blatem z wkładkami wibroizaolacyjnymi 68. Zestaw komputerowy umożliwiający sterowanie systemem z drukarką 69. System do analizy danych z licencją na pakiet oprogramowania biurowego 1.2.2. MIKROSKOP PODCZERWIENI WYMAGANIA DODATKOWE Lp. Nazwa Opis 1. Szkolenie (min. 3 dni) w zakresie obsługi przyrządu, urządzeń dodatkowych i pakietów oprogramowania w miejscu użytkowania aparatury w terminie uzgodnionym przez obie strony (dla min. 2 osób) 2. Szkolenie (min. 2 dni) aplikacyjne w zakresie zaawansowanej obsługi aparatu i użytkowania oprogramowania oraz chemometrii w miejscu użytkowania aparatury lub zewnętrznym ośrodku w terminie uzgodnionym przez obie strony (dla min. 2 osób) 3. Instrukcja obsługi i dokumentacja techniczna w języku polskim. 4. Czas reakcji serwisu nie dłuższy niż 48 godzin 2 2 Czas reakcji serwisu jest to okres czasu, jaki upływa od chwili zgłoszenia awarii do momentu przyjazdu serwisanta do miejsca zainstalowania urządzenia. Dotyczy to sytuacji, w której niemożliwe jest usunięcie awarii (usterki) na drodze konsultacji telefonicznych
Lp. Nazwa Opis 5. Gwarancja na interferometr minimum 3 lata 6. Okres pełnej gwarancji na całe urządzenie i pozostałe jego podzespoły minimum 12 miesięcy 2. PARAMETRY TRANSPORTOWO INSTALACYJNE Koszt transportu, instalacji i uruchomienia urządzenia ponosi dostawca. Odbiór urządzenia nastąpi w oparciu o przeprowadzone badanie detalu dostarczonego przez zamawiającego. 3. TERMIN WYKONANIA Czas realizacji dostawy urządzenia: 1 czerwiec 2013 r 31 październik 2013 r.