Znak postępowania: CEZAMAT/ZP11/2015/F Warszawa, r. L. dz. CEZ - 134/15 ODPOWIEDZI NA PYTANIA DO SPECYFIKACJI ISTOTNYCH WARUNKÓW ZAMÓWIENIA

Transkrypt

1 Znak postępowania: CEZAMAT/ZP11/2015/F Warszawa, r. L. dz. CEZ - 134/15 ODPOWIEDZI NA PYTANIA DO SPECYFIKACJI ISTOTNYCH WARUNKÓW ZAMÓWIENIA Dotyczy postępowania prowadzonego w trybie przetargu nieograniczonego na dostawę wysokorozdzielczego skaningowego mikroskopu elektronowego z emisją polową (HR-FE-SEM) kompatybilnego z procesami litograficznymi wraz z wyposażeniem na potrzeby realizacji projektu Fotonika i Technologie Terahercowe Rozwój Wydziałowego Centrum Badawczego współfinansowanego ze środków Europejskiego Funduszu Rozwoju Regionalnego w ramach Programu Operacyjnego Innowacyjna Gospodarka Zamawiający,, działając na podstawie art. 38 ust. 2 ustawy z dnia 29 stycznia 2004 r. Prawo zamówień publicznych (Dz. U. z 2013 r. poz. 907 ze zm.), informuje, że w dniach r. wpłynęły zapytania do ww. postępowania dotyczące treści specyfikacji istotnych warunków zamówienia, zwanej dalej SIWZ. Treść zapytania wraz z wyjaśnieniami Zamawiający zamieszcza poniżej. Pytanie 1. Dotyczy przedmiotu zamówienia: Czy znaczniki w uchwycie korelacyjnym do płytek o średnicy 200mm mogą znajdować się nad powierzchnią płytki? Odpowiedź. Zamawiający dopuszcza ww. rozwiązanie pod warunkiem, że nie spowoduje to ograniczeń w obserwacji preparatu (ustawieniu ogniska na preparacie, kolizji pomiędzy znacznikami a obiektywem) przy użyciu mikroskopu optycznego dla wszystkich obiektywów jak i mikroskopu elektronowego (chodzi tu o odległość roboczą). Pytanie 2. Dotyczy wzoru umowy 10 ust. 13, pkt. 1) Czy Zamawiający wyrazi zgodę na wydłużenie czasu reakcji serwisu do 3 dni? Odpowiedź. Nie.

2 Pytanie 3. Dotyczy: Część III, pkt. 20 Kryteria oceny ofert - Dodatkowe oprogramowanie wraz z jednostką obliczeniową (O) waga 5% Prosimy o uszczegółowienie wymogu dodatkowego oprogramowania. Do czego ma służyć dodatkowe oprogramowanie? Jakie wymagania ma spełniać jednostka obliczeniowa? Odpowiedź. Zamawiający określił sposób przyznawania punktów w kryterium dodatkowe oprogramowanie wraz z jednostką obliczeniową w pkt SIWZ. Pytanie 4. Czy Zamawiający dopuszcza możliwość zainstalowania jednej kamery IR CCD z podświetleniem (ang. IR-illumination) do podglądu wnętrza komory próbki umieszczonej na bocznej ścianie komory? Obraz z kamery wyświetlany na ekranie LCD. Uzasadnienie: W naszej opinii kamera CCD umieszczona na bocznej ścianie komory umożliwia lepszą obserwację sytuacji w komorze. Oś optyczna kamery CCD umieszczona prostopadle do osi optycznej mikroskopu elektronowego pozwala na dokładne oszacowanie odległości pomiędzy próbką a nabiegunnikiem obiektywu. W takiej konfiguracji dobrze widoczne są również detektory i akcesoria (np. detektor BSE). Takie rozwiązanie jest powszechnie stosowane w mikroskopii elektronowej. Odpowiedź. Zamawiający dopuszcza takie rozwiązanie. Zamawiający dokona modyfikacji SIWZ w tym zakresie. Pytanie 5. Dotyczy: SOPZ D. pkt. 3. Czy Zamawiający dopuszcza zamiast panelu kontrolnego pozwalającego na cyfrową regulację podstawowych, często używanych parametrów i funkcji, obejmujących co najmniej: jasność, kontrast, powiększenie, ogniskowanie, stygmator oraz manipulowanie stolikiem w minimum 5 osiach, panel kontrolny pozwalający na cyfrową regulację jasności, kontrastu, powiększenia, ogniskowania, stygmatora oraz manipulowanie stolikiem w 2 osiach płaszczyzny poziomej (pozostałe osie sterowane z poziomu oprogramowania) wraz z dodatkowym, wirtualnym (wyświetlanym na monitorze) manipulatorze sterowanym myszką? Uzasadnienie: Zamawiający wymaga, aby panel sterujący oferował regulację podstawowych, często używanych

3 parametrów. O ile parametry takie jak: jasność, kontrast, powiększenie, ogniskowanie, stygmator oraz manipulowanie stolikiem w 2 osiach płaszczyzny poziomej są faktycznie podstawowe i często używane, o tyle manipulacja w pozostałych 3 osiach (obrót, pochylenie, wysokość) jest działaniem zdecydowanie rzadszym. Najczęściej po ustawieniu pozycji roboczej konieczna jest już tylko regulacja pozycji stolika w osiach X i Y. Pozostałe 3 osie mogą być wygodnie sterowane z poziomu oprogramowania lub wirtualnego manipulatora. Zamawiający dopuszcza takie rozwiązanie. Zamawiający dokona modyfikacji SIWZ w tym zakresie. Pytanie 6. Dotyczy: SOPZ- D. pkt. 8. d. Czy Zamawiający dopuszcza zamiast stolika pochylonego pod kątem 25 stopni umożliwiający oglądanie wszystkich podłoży, w tym o średnicy 200mm, stolik pochylony pod kątem 25 stopni umożliwiający oglądanie wszystkich podłoży o średnicy nie większej niż 25mm a dla większych podłoży stolik płaski umożliwiający oglądanie wszystkich podłoży, w tym o średnicy 200mm, stolik ten następnie może być pochylony o 25 stopni we wnętrzu komory? Uzasadnienie: Pochylony pod kątem 25 stopni stolik umożliwiający zamontowanie podłoży o średnicy 200mm wymagałby zapowietrzenia całej komory preparatowej i wysunięcia mechanizmu stolika w celu umieszczenia pochylonego stolika we wnętrzu komory. Jest to działanie czasochłonne i niewygodne. Proponowanym przez nas rozwiązaniem jest zastosowanie płaskiego stolika umożliwiającego zamontowanie podłoży o średnicy 200mm i pochylenie go pod kątem 25 stopni we wnętrzu komory przy pomocy mechanizmu stolika. Takie działanie jest znacznie szybsze i wygodniejsze dla operatora, jednocześnie daje ten sam rezultat podłoże pochylone pod kątem 25 stopni do obserwacji. Pytanie 7. Dotyczy: SOPZ - D. pkt. 1 x. iv. Czy Zamawiający dopuszcza zamiast makro generatora do automatyzacji systemu rozwiązanie równoważne obejmujące możliwość zapisywania parametrów pracy (takich jak np. napięcie przyspieszające, prąd emisji, nastawy kondensora etc.) i pozycji stolika oraz automatyzację pracy mikroskopu polegającą na automatycznej akwizycji serii obrazów z określonego przez użytkownika

4 obszaru? Pytanie 8. Dotyczy: SOPZ- Mikroskop optyczny pkt.1. e. Czy Zamawiający dopuszcza zaoferowanie zestawu filtrów szarych w jednym, sześciopozycyjnym kole filtrowym? Zastosowanie filtrów na dwóch kołach daje 9 pozycji kombinacji a nie 6. Pytanie 9. Dotyczy: SOPZ - Mikroskop optyczny pkt. 1. f, Czy Zamawiający dopuszcza zaoferowanie zmotoryzowanego, precyzyjnego układu nastawiania osi Z z precyzyjnym ruchem ogniskowania w zakresie 254mm z minimalnym krokiem 0,25um? Pytanie 10. Dotyczy: SOPZ - Mikroskop optyczny pkt. 1. i. Czy Zamawiający dopuszcza zaoferowanie dotykowego panelu z ekranem LCD do obsługi wszystkich zautomatyzowanych funkcji mikroskopu oraz panelu do obsługi przesuwu osi Z (mikro- i makro) wraz z przesuwem w osiach XY? Pytanie 11. Dotyczy: SOPZ - Mikroskop optyczny pkt.2.a. Czy Zamawiający dopuszcza zaoferowanie tubusa trinokularowego o ergonomicznym dla obserwatora kącie nachylenia 30stopni i wbudowanym portem do podłączenia kamery?

5 Pytanie 12. Dotyczy: SOPZ - Mikroskop optyczny pkt.2.c. Czy Zamawiający dopuszcza zaoferowanie pola widzenia 22mm (FN 22)? Pytanie 13. Dotyczy: SOPZ - Mikroskop optyczny pkt. 5.a. Czy Zamawiający dopuszcza zaoferowanie kondensora o aperturze regulowanej do wartości 0,65? Pytanie 14. Dotyczy: SOPZ - Mikroskop optyczny pkt.10.c. Czy Zamawiający dopuszcza zaoferowanie kamery cyfrowej o rozdzielczo6ci 2576x1960. Zamawiający dopuszcza takie rozwiązanie. Zamawiający dokona modyfikacji SIWZ w tym zakresie. Pytanie 15. Dotyczy: SOPZ - Mikroskop optyczny pkt.10.e. Czy Zamawiający dopuszcza zaoferowanie kamery o dynamice 14 bit? Zamawiający wymaga aby dynamika wynosiła minimum 12 bitów dla każdego koloru RGB, czyli minimum 36 bitów. Pytanie 16. Dotyczy: SOPZ - Mikroskop optyczny pkt.10.f.

6 Czy Zamawiający dopuszcza zaoferowanie kamery z czasami ekspozycji regulowanymi w zakresie 0,1ms do 10s? Pytanie 17. Dotyczy: SOPZ - Mikroskop optyczny pkt. 10.f. Czy Zamawiający dopuszcza zaoferowanie kamery z funkcją binningu 2x, 4x, 6x? Zamawiający dopuszcza takie rozwiązanie. Zamawiający dokona modyfikacji SIWZ w tym zakresie. Pytanie 18. Dotyczy: SOPZ - Mikroskop optyczny pkt. 12.e. Czy Zamawiający dopuszcza zaoferowanie oprogramowania mikroskopu skaningowego (różnego od oprogramowania mikroskopu optycznego) z pełną funkcjonalnością sterowania mikroskopem, systemem do akwizycji obrazu, automatyczną korelacją współrzędnych obrazowych za pomocą prostej procedury kalibracji opartej o minimum trzy charakterystyczne punkty? Proponowane rozwiązanie daje możliwość importu zdjęcia/próbki z dowolnego mikroskopu optycznego i jego kalibrację w mikroskopie elektronowym. Pytanie 19. Czy znaczniki w uchwycie korelacyjnym do płytek o średnicy 200mm mogą znajdować się nad powierzchnią płytki? Zamawiający udzielił odpowiedzi na takie samo pytanie. Patrz odpowiedź na pytanie 1. Pytanie 20. Czy możliwy jest montaż urządzenia o wymaganej nośności stropu 2000kg/m2, bez dodatkowej konstrukcji wspierającej? Uzasadnienie: wg naszej najlepszej wiedzy (jako firmy profesjonalnej dostarczającej mikroskopy elektronowe) nie ma na rynku urządzenia, które spełnia ten wymóg SIWZ. Ciężar takich systemów waha się od 1000 do 2000 kg, zależnie od doposażenia (ilości detektorów, etc.)

7 Zamawiający nie wyraża zgody, chyba że zostanie wykonana podkonstrukcja stalowa przenosząca ciężar Urządzenia na większą powierzchnię stropu o nośności 500kg/m2. Wykonanie projektu podkonstrukcji stalowej - w warunkach dopuszczonych przez zamawiającego - należy do obowiązków Wykonawcy (dostawcy mikroskopu) w ramach zaoferowanej ceny. Projekt podkonstrukcji stalowej powinien być wykonany przez osobę posiadającą odpowiednie uprawnienia projektowe. Pytanie 21. Czy Zamawiający zaakceptuje wykonanie podkonstrukcji stalowej lub żelbetowej podstawy, która umożliwi równomierne rozłożenie obciążenia dając wartość do 5kN/mkw? Szacunkowa powierzchnia takiej konstrukcji to 4 mkw. Zamawiający zaakceptuje wykonanie podkonstrukcji stalowej. Wykonanie projektu podkonstrukcji stalowej - w warunkach dopuszczonych przez Zamawiającego - należy do obowiązków Wykonawcy (dostawcy mikroskopu) w ramach zaoferowanej ceny. Projekt podkonstrukcji stalowej powinien być wykonany przez osobę posiadającą odpowiednie uprawnienia projektowe. Pytanie 22. Czy Zamawiający zaakceptuje w ramach wykonania powyższej konstrukcji wspierającej bezpośrednie oparcie jej na konstrukcji stropu (co w praktyce oznacza lokalne usunięcie warstwy wykończeniowej i warstw posadzki)? Zamawiający dopuszcza ww. rozwiązanie przy zapewnieniu przepływu powietrza. Pytanie 23. Czy Zamawiający może udostępnić dokumentację projektową budynku, określającą parametry pomieszczeń oraz infrastruktury niezbędnej do instalacji (projekt architektoniczny i projekt konstrukcyjny)? Zamawiający udostępni projekt architektoniczny i projekt konstrukcyjny Laboratorium Centralnego CEZAMAT na swojej stronie internetowej. Pytanie 24. Czy Zamawiający ma zgodę projektanta obiektu i konstruktora na zamontowanie tego typu urządzenia (przedmiotu postępowania przetargowego) i ewentualnej konstrukcji wspierającej w danej lokalizacji

8 i z danym obciążeniem punktowym? Zamawiający nie musi mieć zgody projektanta obiektu i konstruktora na zamontowanie urządzenia ani wykonanie konstrukcji wspierającej. Wykonanie projektu podkonstrukcji stalowej - w warunkach dopuszczonych przez Zamawiającego - należy do obowiązków Wykonawcy (dostawcy mikroskopu) w ramach zaoferowanej ceny. Projekt podkonstrukcji stalowej powinien być wykonany przez osobę posiadającą odpowiednie uprawnienia. Pytanie 25. Czy budynek w którym znajduje się miejsce instalacji wyposażone jest w windę o nośności min kg? Tak. Pytanie 26. Czy podczas pierwszego etapu odbioru, testów u Producenta, dopuszczone zostanie niestosowanie dodatkowego systemu kompensacji pola magnetycznego? Uzasadnienie: warunki panujące w miejscu wykonywania testów, zapewniają optymalną pracę urządzenia. Nie jest konieczne stosowanie zewnętrznego systemu kompensacyjnego w celu potwierdzenia gwarantowanych parametrów urządzenia. Zamawiający dopuszcza ww. rozwiązanie. Zamawiający dokona modyfikacji SIWZ w tym zakresie. Pytanie 27. Czy podczas pierwszego etapu odbioru, testów u Producenta, dopuszczone zostanie niestosowanie dodatkowego, zewnętrznego systemu kompensacji drgań? Uzasadnienie: proponowane urządzenie wyposażone jest w wewnętrzny system kompensacji drgań, a warunki panujące w miejscu przeprowadzania testów nie wymagają dodatkowego systemu. Zamawiający dopuszcza ww. rozwiązanie. Zamawiający dokona modyfikacji SIWZ w tym zakresie. Pytanie 28. Czy Zamawiający zaakceptuje zintegrowany system kompensacji drgań (który spełni wymogi SIWZ) w Urządzeniu docelowo dostarczanym czy wymaga dostarczenia zewnętrznego, dodatkowego systemu kompensacji drgań?

9 Uzasadnienie: po potencjalnym podpisaniu umowy dany Wykonawca wykona pomiary w miejscu instalacji. Jeśli wystarczający okaże się zintegrowany system kompensacji nie ma uzasadnienia do instalacji zewnętrznego. Mikroskop musi być wyposażony w system antywibracyjny (system redukcji drgań odpowiedni do warunków środowiskowych umożliwiający uzyskanie wymaganych parametrów we wskazanym przez Zamawiającego miejscu instalacji). Oznacza to, że może być to system zintegrowany w Urządzeniu, ale musi on być odpowiedni do warunków środowiskowych umożliwiający uzyskanie wymaganych parametrów we wskazanym przez Zamawiającego miejscu instalacji. Jeżeli system zintegrowany spełni te wymagania, Zamawiający zaakceptuje takie rozwiązanie. Pytanie 29. Dotyczy wzoru umowy 10 ust 13, pkt 2) Czy Zamawiający wyrazi zgodę na wydłużenie czasu podjęcia czynności serwisowych przez serwis producenta Urządzenia do 10 dni roboczych? Nie. Mariusz Wielec /-/ Prezes Zarządu Romuald Beck /-/ Wiceprezes Zarządu ds. naukowych