SPECYFIKACJA TECHNICZNA. Zakup, dostawa i instalacja Spektrometru FT-Raman z zintegrowaną przystawką FT-IR oraz mikroskopu podczerwieni.
|
|
- Nina Rosińska
- 7 lat temu
- Przeglądów:
Transkrypt
1 SPECYFIKACJA TECHNICZNA Załącznik nr 1 Zakup, dostawa i instalacja Spektrometru FT-Raman z zintegrowaną przystawką FT-IR oraz mikroskopu podczerwieni. 1. WYMAGANIA TECHNICZNE 1.1. Założenia ogólne Przedmiotem zakupu, dostawy oraz instalacji jest spektrometr ramanowski z transformacją Fouriera z zintegrowaną przystawką do pomiarów w podczerwieni oraz mikroskop podczerwieni FTIR typu "stand-alone" pracujący bez konieczności podłączania zewnętrznego spektrometru FTIR. Zakup jest realizowany dla Laboratorium Międzyuczelnianego w Stalowej Woli. W celu potwierdzenia, parametrów oferowanego przedmiotu zamówienia należy do oferty dołączyć opisy w formie papierowej, które w sposób jednoznaczny pozwolą stwierdzić, że parametry eksploatacyjno techniczne oferowanego urządzenia będą zgodne z wymaganiami Zamawiającego. Urządzenie musi spełniać wymagania dyrektywy "Nowego Podejścia UE - znak CE, oraz wymagania odpowiednich norm przedmiotowych Parametry techniczne urządzeń SPEKTROMETR RAMANOWSKI PODSTAWOWE WYMAGANIA TECHNICZNE Lp. Nazwa parametru Wielkość parametru Źródła 1. Minimum dwa źródła promieniowania wybierane i przełączane komputerowo: lampa wolframowa na zakres cm -1 oraz źródło ceramiczne na zakres cm Źródło ceramiczne o maksymalnej temp. pracy 1.577K, nie wymagające chłodzenia wodą 3. Temperatura źródła kontrolowana elektronicznie. 4. Układ sterujący pozwalający na pracę w 3 trybach: oszczędnościowym, standardowym i maksymalnej energii. Dzielnik wiązki (beamsplitter) 5. Ge/KBr na zakres spektralny cm -1 i Si/CaF 2 na zakres cm Możliwość rozbudowy o dodatkowe beamsplittery gwarantujące pokrycie zakresu spektralnego co najmniej cm -1
2 7. Automatyczne rozpoznawanie rodzaju beamsplittera przez system 8. Miejsce na przechowanie 2 zapasowych beamsplitterów wewnątrz aparatu w głównym przedziale optyki osuszanym i przedmuchiwanym Detektor 9. Detektor DLaTGS z okienkiem KBr na zakres cm Zdolność rozdzielcza lepsza niż 0,09 cm -1 (pomiar szerokości połówkowej pasma CO) 11. Dwupozycyjny, komputerowo sterowany układ wyboru detektorów 12. Łatwy dostęp i wymiana detektorów 13. Interferometr Michelsona 90º Interferometr Michelsona 14. Nie wymagający zasilania sprężonym powietrzem, odporny na wibracje i wpływ zmian temperaturowych 15. Justowany dynamicznie w trakcie skanowania z częstotliwością odpowiadającą częstotliwości przejść przez zero sygnału lasera nawet przy maksymalnej szybkości skanowania. Mechanizm dynamicznego justowania wykorzystujący wiązkę lasera He-Ne, padającą na trójpozycyjny detektor laserowy, do monitorowania i utrzymywania idealnego względnego położenia kątowego zwierciadeł. 16. Inteligentny system włączania/wyłączania dynamicznego justowania interferometru w trakcie eksperymentów stepscan. Inne parametry 17. Szybkość skanowania regulowana w zakresie 18. System automatycznego rozpoznawania z poziomu oprogramowania akcesoriów (co najmniej: ATR Golden Gate, Miracle, SplitPea, DRITFS, Specular Reflectance, PAS) oraz elementów systemu takich jak detektory i beamsplittery 19. Możliwość rozbudowy na dalsze zakresy spektralne i do pracy z technikami łączonymi: GC/IR, TG/IR, mikroskopia IR 20. Apertura regulująca moc wiązki, o powtarzalnej regulacji średnicy w zakresie 0 100% co 1% 21. Elementy układu optycznego montowane stabilnie na ławie optycznej za pomocą kołków pozycjonujących 22. Monolityczne zwierciadła w układzie optycznym pokrywane metalem szlachetnym 23. Poziom szumów (amplituda międzyszczytowa) dla detektora DLaTGS min. 0,16 6,2 cm/s niższy niż 8, Abs (sygnał/szum >50.000:1)
3 24. Maksymalna szybkość zbierania danych nie gorsza niż 65 skanów/s dla rozdzielczości 16 cm Układ optyczny szczelny i osuszany z okienkami oddzielającymi przedział próbek 26. Podłączenia do opcjonalnego przedmuchu spektrometru i przedziału próbek osuszonym gazem 27. Port do pomiarów emisyjnych z automatycznym przełączaniem lustra 28. Wysokociśnieniowa przystawka ATR z kryształem diamentowym wyposażona w odchylane urządzenie dociskowe o regulowanej sile docisku 29. Automatyczny system wyprowadzania promieniowania do pomiarów w modułach zewnętrznych zarówno po obu stronach aparatu Moduł FT-Raman (odstęp danych 8 cm -1 ) 30. Detektor InGaAs nie wymagający chłodzenia 31. Detektor germanowy chłodzony ciekłym azotem 32. Automatyczne przełączenie detektorów z poziomu oprogramowania 33. Standaryzowane źródło światła białego 34. Źródło min. 2W laser nm Nd:YVO4 o mocy regulowanej z poziomu oprogramowania z krokiem 0,1W 35. Filtr promieniowania Rayleighowskiego 36. Zakres spektralny przesunięcia Raman nie mniejszy niż cm Apertura wiązki z płynną kontrolą ustawienia przesłony z oprogramowania 38. Możliwość rozbudowy o polaryzator wiązki promieniowania ramanowskiego, umożliwiający badanie właściwości polaryzacyjnych próbek z automatycznym sterowaniem przez oprogramowanie 39. Zasilacz spektrometru umieszczony na zewnątrz aparatu Przystawka makro/mikroskopowa 40. Mocowanie próbek horyzontalne 41. Stolik z automatyczną kontrolą przesuwu w osiach X Y Z 42. Wbudowaną kolorową kamerą wideo do obserwacji pola 43. Rozdzielczości przestrzennej (wielkość plamki lasera) w nie gorsza niż 50 µm pomiarach mikroskopowych (1 mm w trybie makro) 44. Krok przesuwu stolika we wszystkich płaszczyznach nie gorszy niż 20 µm 45. Przystawka całkowicie zamknięta w przedziale próbek, zapewniająca pełne bezpieczeństwo pracy z laserem Oprogramowanie
4 46. Komunikacja aparatu z jednostką sterującą USB Program obsługi spektrometru zarówno do eksperymentów IR jak Ramanowskich co najmniej w języku polskim i angielskim. Automatyczny wybór wersji językowej przy logowaniu 48. Logowanie użytkowników z hasłami i różnymi poziomami dostępu 49. Funkcja automatycznego doboru wzmocnienia sygnału 50. Funkcje wykonywania eksperymentów i analizy danych we wszystkich rodzajach eksperymentów step-scan i dwukanałowych 51. Podgląd widm zapisanych na dysku przed ich otwarciem (jak podgląd dokumentów w pakiecie Office) 52. Funkcje przetwarzania widm: korekcja linii bazowej automatyczna i manualna, dekonwolucja, odejmowanie spektralne, wyznaczanie pochodnych, znajdowanie maksimów, wygładzanie, transformacja Kramersa Kroniga, korekcja ATR, pomiar wysokości i położenia pasma, pomiar pola powierzchni pasm - bezwględnej i względnej 53. Funkcja rozkładu pasm na składowe z algorytmem konwergencji typu Fletcher-Powell-McCormick, uwzględniająca co najmniej następujące typy pasm: Gaussian, Lorentzian, mieszany Gaussian/Lorentzian, Voigt 54. Przeszukiwanie bibliotek w celu identyfikacji widma nieznanej próbki oraz/lub porównania z widmem wzorca 55. Tworzenie własnych bibliotek użytkownika, 56. Moduł oprogramowania do analiz chemometrycznych obejmujący algorytmy analizy ilościowej i klasyfikacyjnej min. następujące: do analiz ilościowych: * Prawo Lamberta-Beera * CLS (klasyczna metoda najmniejszych kwadratów) do analiz klasyfikacyjnych * Search Standards (przeszukiwanie biblioteki wzorców z analizą korelacji, także dla pochodnych widm) * Similarity match (wektorowa analiza podobieństwa) * QC compare (analiza korelacyjna widm uśrednionych) 57. Moduł do tworzenia i wykonywania makroinstrukcji 58. Moduł spektralnej interpretacji widm 59. Automatyczna korekcja zawartości CO 2 i pary wodnej przez oprogramowanie bez konieczności zbierania widm referencyjnych 60. Wyświetlanie widm w czasie rzeczywistym (w trakcie pomiaru)
5 61. Automatyczne wykonywanie testów jakości widm z informowaniem użytkownika m.in. o niepożądanych pasmach spektralnych w widmie tła, nieprawidłowym kształcie pasm, obecności pasm całkowicie absorbujących, nachyleniu linii podstawowej, zbyt małej energii interferogramu 62. Aktywna diagnostyka w trakcie pomiaru z ciągłym monitorowaniem stanu elementów systemu i wizualnym wskaźnikiem poprawnej pracy aparatu 63. Wbudowany edytor do tworzenia raportów według własnych szablonów 64. Archiwizowanie gotowych raportów w nieedytowalnych skoroszytach elektronicznych z funkcją przeszukiwania skoroszytów umożliwiającą szybkie dotarcie do każdego raportu Wyposażenie dodatkowe 65. Uniwersalny zestaw bibliotek widm obejmujący co najmniej widm IR i widm Ramana 66. Dewar transportowy na ciekły azot o pojemności min. 35 dm Stół laboratoryjny z blatem z wkładkami wibroizolacyjnymi 68. Zestaw komputerowy umożliwiający sterowanie systemem z drukarką 69. System do analizy danych z licencją na pakiet oprogramowania biurowego Przystawka Nanotwardościomierz/ Scratch tester 70. Możliwość wykonywania testów typu: pomiar twardości, scratch, zużycie, trybologiczne, pełzanie. 71. Konstrukcja modułowa, możliwość równoczesnego zamontowania modułów do testów w skali Micro i Nano 72. Zintegrowany wyłącznik bezpieczeństwa oraz manipulator kontrolujący ruch stolika XY 73. Regulacja prześwitu przy pomocy sprężyny powietrznej 74. Zmotoryzowany stolik XY o zakresie co najmniej mm 75. Rozdzielczość pozycjonowania stolika nie gorsza niż 10 nm 76. Maksymalny prześwit w osi Z co najmniej 140 mm 77. Maksymalna prędkość przesuwu w osi Z co najmniej 50 mm/min 78. Maksymalna prędkość dla testów typu scratch co najmniej 240 mm/s 79. Maksymalna długość dla testów typu scratch co najmniej 90 mm z kontrolą optyczną 150 mm bez kontroli optycznej 80. Maksymalny zakres pomiaru głębokości co najmniej 50 mm 81. Maksymalny rozmiar próbki co najmniej 300 mm Moduł do testów nano do przyst. nanotwardościomierza 82. Możliwość wykonywania testów typu: scratch, twardość.
6 83. Bezpośrednia kontrola obciążenia przy pomocy czujnika piezoelektrycznego, pracującego w pętli sprzężenia zwrotnego. 84. Zakres obciążeń co najmniej: mn 85. Rozdzielczość czujnika siły nie gorsza niż: 0,08 μn 86. Zakres pomiaru głębokości co najmniej 100 μm 87. Rozdzielczość pomiaru głębokości nie gorsza niż: 0,003 nm 88. Rozszerzony zakres pomiaru głębokości co najmniej 50 mm (rozdzielczość 2,5 nm) 89. Wpływ zmiany temperatury otoczenia w trakcie badania nie większy niż <0,05 nm/sec 90. Maksymalna siła dla pomiarów tarcia co najmniej: 400 mn 91. Rozdzielczość czujnika siły dla pomiarów tarcia nie gorsza niż 0,03 μn 92. Certyfikat kalibracji producenta Moduł do testów w skali Micro do przyst. nanotwardościomierza 93. Możliwość wykonywania testów typu: scratch, twardość 94. Bezpośrednia kontrola obciążenia przy pomocy czujnika piezoelektrycznego, pracującego w pętli sprzężenia zwrotnego. 95. Zakres obciążeń co najmniej: 0,05 40 N 96. Rozdzielczość czujnika siły nie gorsza niż: 0,6 mn 97. Zakres pomiaru głębokości co najmniej 300 μm 98. Rozdzielczość pomiaru głębokości nie gorsza niż: 0,2 nm 99. Rozszerzony zakres pomiaru głębokości co najmniej: 50mm (rozdzielczość 2,5 nm) 10 Maksymalna siła dla pomiarów tarcia co najmniej: 40 N Rozdzielczość czujnika siły dla pomiarów tarcia nie gorsza niż 0,6 mn Certyfikat kalibracji producenta Bezkontaktowy czujnik pomiaru głębokości do przyst. nanotwardościomierza 10 Zakres pomiarowy co najmniej 300 μm Rozdzielczość nie gorsza niż 2 nm Możliwość instalacji różnych sond optycznych Możliwość rejestracji obrazu (profilu) Próbki wzorcowe Mikroskopowy system obrazowania do przyst. nanotwardościomierza
7 10 8. Wyposażony w kamerę cyfrową o rozdzielczości co najmniej PAL 752x Zestaw obiektywów o powiększeniu Min. x5, x20, x Maksymalne dostępne powiększenie co najmniej 2000x Oprogramowanie do testów typu scratch do przyst. nanotwardościomierza 111. Testy typu scratch przy stałym lub zmiennym obciążeniu 11 Możliwość podglądu panoramicznego Wykonywanie testów seryjnych Kontrola parametrów długość rysy, prędkość testu, obciążenie 11 Możliwość eksportu zdjęcia próbki Kontrola stolika XY Możliwość programowania testów wielu próbek Automatyczne raporty. Oprogramowanie do pomiarów twardości do przyst. nanotwardościomierza 11 Kontrola parametrów obciążenia Kontrola stolika XY Wyznaczanie parametrów i właściwości mechanicznych 1. materiałów Możliwość programowania testów wielu próbek Automatyczne raporty. Zestaw akcesoriów do testów typu scratch oraz do pomiarów twardości do przyst. nanotwardościomierza 12 Wgłębnik diamentowy Vickers dla zakresu Nano i Micro Wgłębnik typu Berkovich dla zakresu Nano i Micro Płtyka wzorcowa - silicat Komputer klasy PC Zainstalowany system operacyjny Monitor min. 19 LCD Kompresor o parametrach odpowiednich dla oferowanego 9. urządzenia Stół antywibracyjny.
8 SPEKTROMETR RAMANOWSKI WYMAGANIA DODATKOWE Lp. Nazwa Opis 1. Szkolenie (min. 3 dni) w zakresie obsługi przyrządu, urządzeń dodatkowych i pakietów oprogramowania w miejscu użytkowania aparatury w terminie uzgodnionym przez obie strony (dla min. 2 osób) 2. Szkolenie (min. 2 dni) aplikacyjne w zakresie zaawansowanej obsługi aparatu i użytkowania oprogramowania w miejscu użytkowania aparatury w terminie uzgodnionym przez obie strony (dla min. 2 osób) 3. Instrukcja obsługi i dokumentacja techniczna w języku polskim. 4. Czas reakcji serwisu nie dłuższy niż 72 godziny 1 5. Gwarancja na źródło ceramiczne 5 lat. minimum 5 lat 6. Gwarancja na interferometr: 5 lat. minimum 5 lat 7. Okres pełnej gwarancji na całe urządzenie i pozostałe jego minimum 12miesięcy podzespoły 8. Bezpłatna obsługa serwisowa; co najmniej 2 lata MIKROSKOP PODCZERWIENI PODSTAWOWE WYMAGANIA TECHNICZNE Lp. Nazwa parametru Wielkość parametru 1. Zamknięta i osuszana optyka FTIR wraz z interferometrem dedykowana do mikroskopu IR znajdująca się w jednej obudowie z mikroskopem. 2. Konwerter ADC 24-bity 3. Wskaźnik poziomu wilgotności zewnętrzny 4. Port do wymiany wkładów osuszających 5. Optyka dichroiczna do równoczesnej obserwacji i pomiarów, zarówno w trybie transmisyjnym jak odbiciowym 6. W pełni zautomatyzowana, kontrolowana komputerowo apertura z regulacją rozmiarów X, Y i kąta obrotu umożliwiająca jednoczesną obserwację obszaru aperturowanego i pełnego pola 7. Automatyczne przełączanie trybu transmisyjnego i odbiciowego 8. Automatyczne, sterowane z poziomu oprogramowania ogniskowanie na próbce obrazu wideo i maksymalizowanie sygnału IR 9. Automatyczna kontrola kontaktu w trybie ATR z cyfrowym odczytem nacisku 10. Niezależne systemy oświetlenia LED, sterowane z oprogramowania: min.3: oświetlenie transmisyjne, odbiciowe i apertury 1 Czas reakcji serwisu jest to okres czasu, jaki upływa od chwili zgłoszenia awarii do momentu przyjazdu serwisanta do miejsca zainstalowania urządzenia. Dotyczy to sytuacji, w której niemożliwe jest usunięcie awarii (usterki) na drodze konsultacji telefonicznych
9 11. Teleskopowe osłony obiektywu i kondensera zapewniające izolację od otoczenia strefy pomiaru próbki 12. Zintegrowana kolorowa cyfrowa kamera CCD pikseli z komunikacją USB Rozdzielczość min. XGA 1024 x Zmotoryzowany stolik mikroskopu o wysokiej precyzji z wyposażony w system ułatwiający szybkie zakładanie/demontaż z zakresem przesuwu co najmniej 5 cm x 12,5 cm 14. Ultraszybkie mapowanie zebranie mapy obszaru 1,2 1,2 mm z rozdzielczością 25 µm w czasie nie dłuższym niż 20 s, przy rozdzielczości 16 cm Maksymalna szybkość mapowania nie gorsza niż 10 kroków stolika na sekundę (rozdzielczość 16 cm -1, zakres spektralny 16. Obiektyw 15x z wbudowanym uchwytem do łatwego zakładania opcjonalnego kryształu ATR 17. Zmotoryzowany kondenser 15x zapewniający utrzymywanie wyjustowanego położenia i automatyczne przesuwanie do pozycji spoczynkowej w przypadku pomiarów odbiciowych 18. Możliwość podłączenia opcjonalnego zewnętrznego modułu FTIR zapewniającego możliwość wykonywania cm -1 ) o aperturze numerycznej co najmniej 0,7 o aperturze numerycznej co najmniej 0,7 standardowych pomiarów IR Detektor 19. Dedykowany mikroskopowy detektor DLaTGS 20. Zakres spektralny detektora DLaTGS co najmniej cm Gwarantowany pomiar próbek o wielkości od 50 µm 22. Matrycowy detektor MCT-A zapewniający pomiary w mikroskopie 23. Zakres spektralnym co najmniej cm Stosunek sygnału do szumu dla parametrów: rozdzielczość > 500 :1 przestrzenna 25 µm, 4 skany, rozdzielczość spektralna 16 cm -1, zakres cm System automatycznego sterowanego z komputera przełączania detektorów Interferometr 26. Typ Interferometru Michelsona 90º 27. Nie wymagający zasilania sprężonym powietrzem, 28. Odporny na wibracje i wpływ zmian temperaturowych, 29. Ustawiany dynamicznie w trakcie skanowania z częstotliwością odpowiadającą częstotliwości przejść przez zero sygnału lasera nawet przy maksymalnej szybkości skanowania.
10 30. Mechanizm dynamicznego ustawiania wykorzystujący wiązkę lasera 31. Interferometr wyposażony w wielowarstwowy dzielnik wiązki Ge/KBr posiadający zakres co najmniej cm Laser HeNe 633nm zapewniający precyzyjną kontrolę ruchu interferometru i utrzymywanie kalibracji liczb falowych uzyskiwanych widm Źródło 33. Trwałe źródło ceramiczne nie wymagające chłodzenia wodą, 34. Dostępne z zewnątrz bez zdejmowania obudowy, wymienne przez użytkownika Oprogramowanie 35. Pomiar widm i podgląd pomiaru w czasie rzeczywistym 36. Automatyczna korekcja atmosferyczną w czasie rzeczywistym 37. Przeszukiwanie bibliotek widm w czasie rzeczywistym w trakcie podglądu 38. Wyświetlanie obrazu cyfrowego z różnymi ustawieniami kamery CCD dopasowanymi do różnych próbek 39. Przechwytywanie obrazu wideo, pomiar wielkości obiektów, wpisywanie komentarzy na obrazach 40. Niezależna kontrola oświetlenia LED przy pracy w dbiciu, transmisji i dla apertury 41. System ogniskowania automatycznego i ręcznego z poziomu oprogramowania 42. Autoogniskowanie kondensera i przesuwanie do pozycji spoczynkowej 43. Automatyczna kontrola rozmiarów x-y apertury i jej kąta obrotu 44. Funkcje mapowania i kontroli obrazowania spektralnego 45. Praca z wirtualnym (w oprogramowaniu) joystickiem 46. Automatyczne ustawianie kontaktu ATR i jego zwalniania z definiowanym poziomem wartości progowej nacisku 47. Podgląd slajdu mikroskopowego z szybkim ładowaniem i wysuwaniem próbek 48. Automatyczne lokalizowanie pozycji tła i jego pomiar w trybie odbiciowym 49. Standardowe procedury prowadzące użytkownika za rękę w typowych pomiarach mikroanalizy IR 50. Tworzenie i analiza map spektralnych, w tym: map liniowych, map obszarów, zestawów punktów dyskretnych wskazanych przez użytkownika 51. Automatyczne tworzenie map mozaikowych (sklejanych) z obszarów większych niż pole obserwacji 52. Interaktywna kontrola przesuwu stolika (m.in. przesunięcie stolika do punktu wskazanego myszą) 53. Kalibracja wymiarów próbek 54. Tworzenie map spektralnych przekrojowych (konturowych) i trójwymiarowych
11 55. Analiza chemometryczna map metodą PCA (principle component analysis) i MCR (Multivariate Curve Resolution) 56. Tworzenie obrazów chemicznych według położeń maksimów, wysokosci/pola pasm czy korelacji z widmami referencyjnymi 57. Przełączanie trybów pomiarowych: odbicie, transmisja, ATR 58. Obsługa mikroskopu i opcjonalnego zewnętrznego modułu pomiarowego 59. Kontrola opcjonalnego polaryzatora światła widzialnego (wstawianie w wiązkę i kąt obrotu) 60. Standardowe funkcje przetwarzania widm 61. Przeszukiwanie bibliotek widm 62. Menedżer bibliotek z możliwością tworzenia własnych bibliotek widm 63. Tworzenie elektronicznych raportów 64. Narzędzia odczytu i zapisu plików i bibliotek widm w różnych formatach Wyposażenie dodatkowe 65. Podstawowy zestaw do przygotowania próbek mikroskopowych (co najmniej: pinceta, skalpel, płytki solne 13mm BaF 2, slajdy mikroskopowe 1"x 3" do pomiarów transmisyjnych i odbiciowych) 66. Dodatkowy joystick zewnętrzny 67. Stół laboratoryjny z blatem z wkładkami wibroizaolacyjnymi 68. Zestaw komputerowy umożliwiający sterowanie systemem z drukarką 69. System do analizy danych z licencją na pakiet oprogramowania biurowego MIKROSKOP PODCZERWIENI WYMAGANIA DODATKOWE Lp. Nazwa Opis 1. Szkolenie (min. 3 dni) w zakresie obsługi przyrządu, urządzeń dodatkowych i pakietów oprogramowania w miejscu użytkowania aparatury w terminie uzgodnionym przez obie strony (dla min. 2 osób) 2. Szkolenie (min. 2 dni) aplikacyjne w zakresie zaawansowanej obsługi aparatu i użytkowania oprogramowania oraz chemometrii w miejscu użytkowania aparatury lub zewnętrznym ośrodku w terminie uzgodnionym przez obie strony (dla min. 2 osób) 3. Instrukcja obsługi i dokumentacja techniczna w języku polskim. 4. Czas reakcji serwisu nie dłuższy niż 48 godzin 2 2 Czas reakcji serwisu jest to okres czasu, jaki upływa od chwili zgłoszenia awarii do momentu przyjazdu serwisanta do miejsca zainstalowania urządzenia. Dotyczy to sytuacji, w której niemożliwe jest usunięcie awarii (usterki) na drodze konsultacji telefonicznych
12 Lp. Nazwa Opis 5. Gwarancja na interferometr minimum 3 lata 6. Okres pełnej gwarancji na całe urządzenie i pozostałe jego podzespoły minimum 12 miesięcy 2. PARAMETRY TRANSPORTOWO INSTALACYJNE Koszt transportu, instalacji i uruchomienia urządzenia ponosi dostawca. Odbiór urządzenia nastąpi w oparciu o przeprowadzone badanie detalu dostarczonego przez zamawiającego. 3. TERMIN WYKONANIA Czas realizacji dostawy urządzenia: 1 czerwiec 2013 r 31 październik 2013 r.
Załącznik nr 1 do SIWZ z dnia r.
Załącznik nr 1 do SIWZ z dnia 16.06.2010 r. Opis przedmiotu zamówienia (Wykonawca jest obowiązany wypełnić część dotyczącą parametrów oferowanego urządzenia i załączyć dokument do oferty) SPEKTROMETR FTIR
Bardziej szczegółowoINFORMACJA DLA WYKONAWCÓW NR 2
RAP.272.87.2014 Wrocław, 13.11.2014r. INFORMACJA DLA WYKONAWCÓW NR 2 Dotyczy: postępowania o udzielenie zamówienia publicznego, prowadzonego w trybie przetargu nieograniczonego, którego przedmiotem jest
Bardziej szczegółowoUCZESTNICY POSTĘPOWANIA
ATI 55, 57/II/LJ/2007 Bielsko-Biała 22.02.2007r. UCZESTNICY POSTĘPOWANIA Dotyczy: Postępowania prowadzonego w trybie przetargu nieograniczonego powyŝej 60 000 euro na: Dostawa spektrofotometru z oprzyrządowaniem
Bardziej szczegółowoSPECYFIKACJA TECHNICZNA ZESTAWU DO ANALIZY TERMOGRAWIMETRYCZNEJ TG-FITR-GCMS ZAŁĄCZNIK NR 1 DO ZAPYTANIA OFERTOWEGO
SPECYFIKACJA TECHNICZNA ZESTAWU DO ANALIZY TERMOGRAWIMETRYCZNEJ TG-FITR-GCMS ZAŁĄCZNIK NR 1 DO ZAPYTANIA OFERTOWEGO NR 113/TZ/IM/2013 Zestaw ma umożliwiać analizę termiczną próbki w symultanicznym układzie
Bardziej szczegółowoCZĘŚĆ 2 OPIS TECHNICZNY PRZEDMIOTU ZAMÓWIENIA
Nr postępowania GEK/PMR-ELB/08131/2015 Nr rejestru PMR-ELB.290-183/ZK/2015 Zał. nr 1 do Projektu Umowy nr CZĘŚĆ 2 OPIS TECHNICZNY PRZEDMIOTU ZAMÓWIENIA Przedmiotem zamówienia jest: 1. Zakup, dostawa, instalacja
Bardziej szczegółowoSPECYFIKACJA TECHNICZNA PRZEDMIOTU ZAMÓWIENIA
Załącznik Nr 3 do SIWZ Specyfikacja techniczna Nr sprawy: ZP/3/2012 SPECYFIKACJA TECHNICZNA PRZEDMIOTU ZAMÓWIENIA Na dostawę 1 kpl. spektrometru Ramana w ramach realizacji zadania nr 3 projektu POIG 02.01.00-14-111/09-00
Bardziej szczegółowoZAPYTANIE OFERTOWE nr 2/2017 na dostawę spektrometru FTIR
Radawiec Duży, dnia 30.10.2017 r. ZAPYTANIE OFERTOWE nr 2/2017 na dostawę spektrometru FTIR 1. Nazwa Zamawiającego ComerLab Dorota Nowak Radawiec Duży 196 21-030 Motycz Tel. 604 276 796, 604 534 770 1.1
Bardziej szczegółowoSPECYFIKACJA TECHNICZNA
Załącznik Nr 10 SPECYFIKACJA TECHNICZNA Zakup, dostawa i instalacją dwóch sztuk zestawów elektrochemicznych, stanowiących wyposażenie laboratoryjne dla potrzeb Katolickiego Uniwersytetu Lubelskiego w Stalowej
Bardziej szczegółowoSpektrometry Ramana JASCO serii NRS-5000/7000
Spektrometry Ramana JASCO serii NRS-5000/7000 Najnowsza seria badawczych, siatkowych spektrometrów Ramana japońskiej firmy Jasco zapewnia wysokiej jakości widma. Zastosowanie najnowszych rozwiązań w tej
Bardziej szczegółowoOferowany przedmiot zamówienia
Oferowany przedmiot zamówienia Załącznik Nr 3 do oferty Postępowanie Nr ZP/3/2012 Lp. Opis Nazwa asortymentu, typ, model, nr katalogowy, nazwa producenta *) I. Spektrofotometr Ramana w ukompletowaniu:
Bardziej szczegółowoOpis przedmiotu zamówienia
ZP/UR/169/2012 Zał. nr 1a do siwz Opis przedmiotu zamówienia A. Spektrometr ramanowski z mikroskopem optycznym: 1) Spektrometr ramanowski posiadający podwójny tor detekcyjny, wyposażony w chłodzony termoelektrycznie
Bardziej szczegółowoSpecyfikacja istotnych warunków zamówienia publicznego
DZPIE/012/2014 Specyfikacja istotnych warunków zamówienia publicznego Przedmiot postępowania: Spektrometr fourierowski klasy research na podczerwień z akcesoriami Kod CPV: 38.43.30.00-9 Tryb udzielenia
Bardziej szczegółowoDOTYCZY: Sygn. akt SZ /12/6/6/2012
Warszawa dn. 2012-07-26 SZ-222-20/12/6/6/2012/ Szanowni Państwo, DOTYCZY: Sygn. akt SZ-222-20/12/6/6/2012 Przetargu nieograniczonego, którego przedmiotem jest " sprzedaż, szkolenie, dostawę, montaż i uruchomienie
Bardziej szczegółowoWymagane parametry dla platformy do mikroskopii korelacyjnej
Strona1 ROZDZIAŁ IV OPIS PRZEDMIOTU ZAMÓWIENIA Wymagane parametry dla platformy do mikroskopii korelacyjnej Mikroskopia korelacyjna łączy dane z mikroskopii świetlnej i elektronowej w celu określenia powiązań
Bardziej szczegółowoOGŁOSZENIE O ZAMÓWIENIU. Dostawa spektrometru FTIR z wyposażeniem dla Wydziału Chemii Uniwersytetu Wrocławskiego
Postępowanie Nr WCH.2420.26.2016.AB OGŁOSZENIE O ZAMÓWIENIU Dostawa spektrometru FTIR z wyposażeniem dla Wydziału Chemii Uniwersytetu Wrocławskiego Postępowanie prowadzone w trybie artykułu 4d ust.1pkt.1
Bardziej szczegółowoFORMULARZ OFERTY-SPECYFIKACJA
FORMULARZ OFERTY-SPECYFIKACJA załącznik nr 1a do SIWZ nr postępowania: BZP.2410.5.2018.BD Postępowanie przetargowe pn.: Dostawa, instalacja i uruchomienie fabrycznie nowego elektronowego mikroskopu skaningowego
Bardziej szczegółowoU N I W E R S Y T E T W A R S Z A W S K I Krakowskie Przedmieście 26/ Warszawa SIWZ opublikowana na stronie:
U N I W E R S Y T E T W A R S Z A W S K I Krakowskie Przedmieście 26/28 00-927 Warszawa SIWZ opublikowana na stronie: www.chem.uw.edu.pl SPECYFIKACJA ISTOTNYCH WARUNKÓW ZAMÓWIENIA na: Dostawa spektrometru
Bardziej szczegółowoOPIS PRZEDMIOTU ZAMÓWIENIA
OPIS PRZEDMIOTU ZAMÓWIENIA Przedmiotem zamówienia jest: dostawa analizatora termograwimetrycznego sprzężonego ze spektrometrem FT-IR i spektrometrem masowym wraz z: oprogramowaniem sterującym, wyposażeniem,
Bardziej szczegółowoSzczegółowy opis przedmiotu zamówienia
Załącznik nr 5.6. do SIWZ Lp. Szczegółowy opis przedmiotu zamówienia Część 6 Zakup i dostawa aparatury do pracowni geologiczno-gleboznawczej oraz fizykochemicznej inżynierii materiałoznawstwa - spektrometry,
Bardziej szczegółowoSkaningowy mikroskop elektronowy - Ilość: 1 kpl.
Zamówienie publiczne w trybie przetargu nieograniczonego nr ZP/PN/15/2014 Przedmiot postępowania: Dostawa skaningowego mikroskopu elektronowego ARKUSZ INFORMACJI TECHNICZNEJ Wszystkie parametry podane
Bardziej szczegółowoDotyczy: Specyfikacji Istotnych Warunków Zamówienia do przetargu nieograniczonego na dostawę mikroskopu elektronowego - numer Zp/pn/76/2015
Dęblin, dnia 16.09.2015 r. Dotyczy: Specyfikacji Istotnych Warunków Zamówienia do przetargu nieograniczonego na dostawę mikroskopu elektronowego - numer Zp/pn/76/2015 NA PYTANIE DO SPECYFIKACJI ISTOTNYCH
Bardziej szczegółowoSPECYFIKACJA ISTOTNYCH WARUNKÓW ZAMÓWIENIA
Instytut Metalurgii i Inżynierii Materiałowej im. A. Krupkowskiego Polskiej Akademii Nauk w Krakowie ul. Reymonta 25, 30-059 Kraków Znak sprawy: PN-12 2013 Kraków dn. 12 sierpnia 2013 r. SPECYFIKACJA ISTOTNYCH
Bardziej szczegółowoOPIS PRZEDMIOTU ZAMÓWIENICZĘŚĆ - CZĘŚĆ 14 ZESTAW DO CHARAKTERYSTYKI NANOMATERIAŁÓW
OPIS PRZEDMIOTU ZAMÓWIENICZĘŚĆ - CZĘŚĆ 14 1. Tabela z wyszczególnieniem poszczególnych komponentów przedmiotu zamówienia. Pozy cja Podp ozycj a Przedmiot zamówienia i jego składowe oraz wymagane minimalne
Bardziej szczegółowoPostępowanie WB RM ZAŁĄCZNIK NR Mikroskop odwrócony z fluorescencją
Postępowanie WB.2410.6.2016.RM ZAŁĄCZNIK NR 5 L.p. Nazwa asortymentu Ilość Nazwa wyrobu, nazwa producenta, określenie marki, modelu, znaku towarowego Cena jednostkowa netto (zł) Wartość netto (zł) (kolumna
Bardziej szczegółowoSPECYFIKACJA TECHNICZNA
Załącznik Nr 6 SPECYFIKACJA TECHNICZNA Zakup maszyn i urządzeń dla Oddziału Politechniki Rzeszowskiej w Stalowej Woli. Wyposażenie Katedry Technologii Maszyn i Organizacji Produkcji w ramach Laboratorium
Bardziej szczegółowoZałącznik nr 6 I. SZCZEGÓŁOWY OPIS PRZEDMIOTU ZAMÓWIENIA
Załącznik nr 6 OPIS PRZEDMIOTU ZAMÓWIENIA WRAZ Z WYCENĄ CZĘŚĆ 6 ZESTAW DO POMIARU WYDAJNOŚCI OPTYCZNEJ METALICZNYCH KAPILAR RENTGENOWSKICH Z WYKORZYSTANIEM MIKROŹRÓDŁA RENTGENOWSKIEGO Dostawa i instalacja
Bardziej szczegółowoSzczegółowa charakterystyka przedmiotu zamówienia
Szczegółowa charakterystyka przedmiotu zamówienia Przedmiotem zamówienia jest dostawa i uruchomienie zestawu termowizyjnego wysokiej rozdzielczości wraz z wyposażeniem o parametrach zgodnych z określonymi
Bardziej szczegółowoCENTRUM MATERIAŁÓW POLIMEROWYCH I WĘGLOWYCH POLSKIEJ AKADEMII NAUK
Zabrze, dn. 5.02.209 r. sprawy: PN/UOPWE/0/208 Wg rozdzielnika Powiadomienie o wyborze Informujemy, iż w przetargu w sprawie dostawy: Dostawa aparatury badawczej dla Centrum Materiałów Polimerowych i Węglowych
Bardziej szczegółowo1. MIKROSKOP BADAWCZY (1 SZT.) Z SYSTEMEM KONTRASTU NOMARSKIEGO DIC ORAZ CYFROWĄ DOKUMENTACJĄ I ANALIZĄ OBRAZU WRAZ Z OPROGRAMOWANIEM
1. MIKROSKOP BADAWCZY (1 SZT.) Z SYSTEMEM KONTRASTU NOMARSKIEGO DIC ORAZ CYFROWĄ DOKUMENTACJĄ I ANALIZĄ OBRAZU WRAZ Z OPROGRAMOWANIEM Producent:... Typ/model:... Kraj pochodzenia:... LP. 1. Minimalne wymagane
Bardziej szczegółowoZałącznik Nr 1 do SIWZ MIKROSKOPY. opis i rozmieszczenie
Załącznik Nr 1 do SIWZ MIKROSKOPY opis i rozmieszczenie ZADANIE 1: Mikroskopy optyczne stanowiące wyposaŝenie laboratorium histopatologicznego Pomieszczenie ( 2.22 ) - Kierownik Zakładu Mikroskop konsultacyjny
Bardziej szczegółowoPARAMETR MINIMALNE WYMAGANIA OFEROWANE PARAMETRY
Załącznik nr 2 do SIWZ DG-2501/19994/1503/10 Część 1 zestaw do mineralizacji mikrofalowej na mokro CPV: 38540000-2 PARAMETR MINIMALNE WYMAGANIA OFEROWANE PARAMETRY 8 stanowiskowy ciśnieniowy mineralizator
Bardziej szczegółowoPodpis osoby upoważnionej do złożenia oferty
AE/ZP-27-101/14 Załącznik nr 6 Wymagane i oferowane parametry techniczne aparatu USG dla O/Ginekologiczno-Położniczego 1 szt. Lp. Wymagania Zamawiającego Warunek graniczny Punktacja w kryterium okres gwarancji
Bardziej szczegółowoFORMULARZ WYMAGANYCH WARUNKÓW TECHNICZNYCH
Załącznik Nr 2 WYMAGANIA BEZWZGLĘDNE: FORMULARZ WYMAGANYCH WARUNKÓW TECHNICZNYCH Przedmiotem zamówienia jest dostawa i instalacja fabrycznie nowego skaningowego mikroskopu elektronowego (SEM) ze zintegrowanym
Bardziej szczegółowo(Pieczęć Wykonawcy) Załącznik nr 8 do SIWZ Nr postępowania: ZP/259/050/D/11. Opis oferowanej dostawy OFERUJEMY:
. (Pieczęć Wykonawcy) Załącznik nr 8 do SIWZ Nr postępowania: ZP/259/050/D/11 Opis oferowanej dostawy OFERUJEMY: 1) Mikroskop AFM według pkt 1 a) załącznika nr 7 do SIWZ, model / producent..... Detekcja
Bardziej szczegółowoPirometr LaserSight Pirometr umożliwia bezkontaktowy pomiar temperatury obiektów o wymiarach większych niż 1mm w zakresie: C.
Pirometr przenośny Optyka podwójna 75:1 i close focus Zakres: -35...900 C Emisyjność: 0.100...1.000 Alarmy akustyczne i wizualne Optyka o zmiennej ogniskowej Interfejs USB i oprogramowanie Wejście na termoparę
Bardziej szczegółowoAE/ZP-27-12/15 Załącznik nr 6 Wymagane i oferowane parametry techniczne aparatu USG dla O/Ginekologiczno-Położniczego 1 szt. Tak
AE/ZP-27-12/15 Załącznik nr 6 Wymagane i oferowane parametry techniczne aparatu USG dla O/Ginekologiczno-Położniczego 1 szt. Lp. Wymagania Zamawiającego Warunek graniczny Punktacja w kryterium okres gwarancji
Bardziej szczegółowoSPECYFIKACJA TECHNICZNA PRZEDMIOTU ZAMÓWIENIA
Załącznik Nr 1 do SIWZ Specyfikacja techniczna Nr sprawy: ZP/5/2016 SPECYFIKACJA TECHNICZNA PRZEDMIOTU ZAMÓWIENIA Na dostawę 1 kpl. zintegrowanego spektrometru dedykowanego pomiarom widm oscylacyjnego
Bardziej szczegółowoSPECYFIKACJA WYMAGAŃ UŻYTKOWNIKA URZĄDZENIA (URS) Detektor Corona z generatorem azotu (Propozycja zakupu)
Str.1/6 1. Wstęp dla potrzeb Centrum Badawczo-Rozwojowego Produktów Biotechnologicznych w IBSS S.A. tworzonego w ramach projektu: Utworzenie Centrum Badawczo-Rozwojowego Produktów Biotechnologicznych w
Bardziej szczegółowoCharakterystyka przedmiotu zamówienia
Załącznik nr 5 do siwz W/NO/ZP-2/12 Charakterystyka przedmiotu zamówienia Ilekroć w treści siwz, w tym w opisie przedmiotu zamówienia, użyte są znaki towarowe, patenty lub pochodzenie, a także normy, Zamawiający
Bardziej szczegółowookres gwarancji na źródła promieniowania, liczony od daty odbioru całości zamówienia, wraz z nieodpłatną (wliczoną w cenę oferty) bieżącą konserwacją
BIURO ZAMÓWIEŃ PUBLICZNYCH UNIWERSYTETU JAGIELLOŃSKIEGO Ul. Straszewskiego 25/9, 31-113 Kraków tel. +4812-432-44-50, fax +4812-432-44-51 lub +4812-663-39-14; e-mail: bzp@uj.edu.pl www.uj.edu.pl http://przetargi.adm.uj.edu.pl/oglosz.php
Bardziej szczegółowoPRZEDMIOT ZAMÓWIENIA: DOSTAWA FABRYCZNIE NOWEGO PROFILOMETRU OPTYCZNEGO WRAZ Z WYPOSAśENIEM I AKCESORIAMI
CZĘŚĆ 1. Załącznik nr 1 PRZEDMIOT ZAMÓWIENIA: DOSTAWA FABRYCZNIE NOWEGO PROFILOMETRU OPTYCZNEGO WRAZ Z WYPOSAśENIEM I AKCESORIAMI CPV: 38540000-2 - Maszyny i aparatura badawcza i pomiarowa 48463000-1 Pakiety
Bardziej szczegółowoSpektrometr XRF THICK 800A
Spektrometr XRF THICK 800A DO POMIARU GRUBOŚCI POWŁOK GALWANIZNYCH THICK 800A spektrometr XRF do szybkich, nieniszczących pomiarów grubości powłok i ich składu. Zaprojektowany do pomiaru grubości warstw
Bardziej szczegółowoRFT-6000 Przystawka FT-Raman do spektrometru FT/IR-6300
RFT-6000 Przystawka FT-Raman do spektrometru FT/IR-6300 Model RFT-6000 został zaprojektowany w celu wykonywania szybkich, nieinwazyjnych analiz FT-Raman właściwie wszystkich możliwych próbek we współpracy
Bardziej szczegółowoKOMPLETNY SYSTEM DO OCENY STÓP, RÓWNOWAGI I POSTAWY CIAŁA
Numer sprawy: PN/21/2016/07/25 Załącznik nr 2 ZADANIE NR 1 OPIS PRZEDMIOTU ZAMÓWIENIA ZESTAWIENIE PARAMETRÓW TECHNICZNYCH KOMPLETNY SYSTEM DO OCENY STÓP, RÓWNOWAGI I POSTAWY CIAŁA DANE OGÓLNE Pełna nazwa
Bardziej szczegółowoTHICK 800A DO POMIARU GRUBOŚCI POWŁOK. THICK 800A spektrometr XRF do szybkich, nieniszczących pomiarów grubości powłok i ich składu.
THICK 800A DO POMIARU GRUBOŚCI POWŁOK THICK 800A spektrometr XRF do szybkich, nieniszczących pomiarów grubości powłok i ich składu. Zoptymalizowany do pomiaru grubości warstw Detektor Si-PIN o rozdzielczości
Bardziej szczegółowoSZCZEGÓŁOWY OPIS PRZEDMIOTU ZAMÓWIENIA
Załącznik nr 1 do SIWZ Znak sprawy: KA-2/124/2010 SZCZEGÓŁOWY OPIS PRZEDMIOTU ZAMÓWIENIA Zadanie nr 1 Dostawa mikroskopu i spektrometru FT-IR Przedmiotem zamówienia jest dostawa mikroskopu i spektrometru
Bardziej szczegółowoSPECYFIKACJA TECHNICZNA PRZEDMIOTU ZAMÓWIENIA
Załącznik Nr 1 do SIWZ Specyfikacja techniczna Nr sprawy: ZP/40/2011 SPECYFIKACJA TECHNICZNA PRZEDMIOTU ZAMÓWIENIA Na dostawę 1 kpl. analizatora TGA-DTA (TGA-DSC) (Termowagi) w ramach realizacji zadania
Bardziej szczegółowoZADANIE NR 1 APARAT USG Liczba sztuk 1 sztuka Producent: Kraj pochodzenia:.. Oferowany model:.. Rok produkcji min. 2014 :...
Załącznik nr 1 do SIWZ ZADANIE NR 1 APARAT USG Liczba sztuk 1 sztuka Producent:.. Kraj pochodzenia:.. Oferowany model:.. Rok produkcji min. 2014 :..... Lp Parametry techniczne Warunek graniczny 1 Nowoczesny
Bardziej szczegółowoSPECYFIKACJA TECHNICZNA. Wymagane Parametry Techniczne i Eksploatacyjne POLOMIERZA
Załącznik nr 4 do SIWZ nr SZPZOZ /ZP/02/20 z dnia 23.03.20 r. SPECYFIKACJA TECHNICZNA Wymagane Parametry Techniczne i Eksploatacyjne POLOMIERZA (tekst jednolity ostateczny z dnia 20.04.20 roku) POLOMIERZ:
Bardziej szczegółowoKamera termowizyjna MobIR M8. Dane Techniczne
Kamera termowizyjna MobIR M8 Dane Techniczne Termowizyjny Typ detektora: Zakres spektralny: Czułość sensora: Pole widzenia/ Ogniskowa: Ostrzenie obrazu: Zbliżenie elektroniczne: Obraz Niechłodzony FPA
Bardziej szczegółowoOpis przedmiotu zamówienia i wymagania techniczne
Załącznik nr 1 Parametry techniczne Opis przedmiotu zamówienia i wymagania techniczne Lp. Opis wymaganego parametru Wartość graniczna Parametry oferowane 1. 2 3 4 I WYMAGANIA OGÓLNE 1 Aparat stacjonarny
Bardziej szczegółowoZAPYTANIE OFERTOWE NR PLCRC/ /06/1871/2015
Projekt współfinansowany ze środków Europejskiego Funduszu Rozwoju Regionalnego w ramach Programu Operacyjnego Innowacyjna Gospodarka ZAPYTANIE OFERTOWE NR PLCRC/2830700/06/1871/2015 Kraków, 2015-06-17
Bardziej szczegółowoFormularz TAK TAK TAK TAK TAK/NIE TAK/NIE
Zestawienie parametrów techniczno użytkowych Aparat USG Doppler do badań naczyniowych Formularz Lp. PARAMETR/WARUNEK WARUNEK GRANICZNY Konstrukcja i konfiguracja 1. Aparat fabrycznie nowy - rok produkcji
Bardziej szczegółowoPoza tym zaawansowanym systemem elektromechanicznego zadawania siły, FALCON oferuje najwyższą jakość mechaniczną i optyczną wszystkich komponentów.
FALCON 500 Seria twardościomierzy micro Vickersa, Vickersa oraz Brinella FALCON 500 to najnowsze osiągniecie firmy INNOVATEST. Jest to zupełnie nowa generacja twardościomierzy eliminująca błąd użytkownika
Bardziej szczegółowoMaszyny wytrzymałościowej o maksymalnej obciążalności 5kN z cyfrowym systemem sterującym
Załącznik nr 1 FORMULARZ OFERTOWY.. Nazwa Wykonawcy Adres siedziby nr telefonu/nr faxu NIP, REGON Przystępując do udziału w postępowaniu prowadzonym w trybie zapytania ofertowego na zakup, dostawę, montaż
Bardziej szczegółowoSPEKTROFOTOMETR UV/Vis T60 firmy PG Instruments
SPEKTROFOTOMETR UV/Vis T60 firmy PG Instruments PG Instruments wieloletni producent spektrofotometrów oraz systemów ASA przedstawia jeden z najbardziej zaawansowanych w swojej klasie spektrofotometrów
Bardziej szczegółowoOferowany przedmiot zamówienia
Załącznik Nr 1 do oferty Modyfikacja nr 1 SIWZ Postępowanie Nr ZP/50/2011 Oferowany przedmiot zamówienia Lp. Opis Nazwa asortymentu, typ, model, nr katalogowy, nazwa producenta *) Il. szt. I. Spektrofotometr
Bardziej szczegółowoU N I W E R S Y T E T W A R S Z A W S K I Krakowskie Przedmieście 26/ Warszawa SIWZ opublikowana na stronie:
U N I W E R S Y T E T W A R S Z A W S K I Krakowskie Przedmieście 26/28 00-927 Warszawa SIWZ opublikowana na stronie: www.chem.uw.edu.pl SPECYFIKACJA ISTOTNYCH WARUNKÓW ZAMÓWIENIA na: Dostawę spektrometru
Bardziej szczegółowoSzczegółowy opis przedmiotu zamówienia
Załącznik nr 5.6. do SIWZ Lp. Szczegółowy opis przedmiotu zamówienia Część 6 Zakup i dostawa aparatury do pracowni geologiczno-gleboznawczej oraz fizykochemicznej inżynierii materiałoznawstwa - spektrometry,
Bardziej szczegółowoNRS-3000 Systems wysoko wydajne spektrofotometry rozpraszającego Raman
NRS-3000 Systems wysoko wydajne spektrofotometry rozpraszającego Raman Wyższa czułość, niezawodność i łatwość obsługi Mikro-spektrometry serii NRS-3000 wykorzystują najnowsze rozwiązania optyczne oraz
Bardziej szczegółowoSPECYFIKACJA TECHNICZNA
Załącznik Nr 10 SPECYFIKACJA TECHNICZNA Zakup, dostawa i instalacja maszyny wytrzymałościowej oraz młota wahadłowego do Katedry Mechaniki dla potrzeb Katolickiego Uniwersytetu Lubelskiego w Stalowej Woli.
Bardziej szczegółowoRoHS-Vision / X-RoHS + SDD
Spektrometr EDXRF do analiz RoHS i w wersji full analysis RoHS-Vision / X-RoHS + SDD Szybka i prosta analiza substancji niebezpiecznych zgodnie z regulacjami prawnymi dotyczącymi ochrony środowiska RoHS
Bardziej szczegółowoMikroskopy szkolne Mbl 101 b binokular monokularowa Mbl 101 M Mbl 120 b binokularowa Mbl 120 M Mbl 120 t Mbl 120 lcd typ rodzaj nr kat.
Mikroskopy szkolne MBL 101 B Obrotowa nasadka okularowa: : binokular (30 ) Miska rewolwerowa 4 miejscowa Obiektywy achromatyczne: 4 x 0,10 (N.A.),10 x 0,25 (N.A.),40 x 0,65 (N.A.),100 x 1,25 (N.A.) Kondensor
Bardziej szczegółowoOferowany przedmiot zamówienia
Oferowany przedmiot zamówienia Załącznik Nr 1 do oferty Postępowanie Nr ZP/40/2011 Lp. Opis Nazwa asortymentu, typ, model, nr katalogowy, nazwa producenta *) I. Analizator TGA-DTA (TGA-DSC) (Termowaga)
Bardziej szczegółowoWartość netto (zł) (kolumna 3x5)
Postępowanie WB.2420.9.2012.NG ZAŁĄCZNIK NR 6 Zadanie nr 2 L.p. Nazwa asortymentu parametry techniczne Ilość Nazwa wyrobu, nazwa producenta, określenie marki, modelu, znaku towarowego Cena jednostkowa
Bardziej szczegółowoZałącznik nr 8. UNIA EUROPEJSKA Europejski Fundusz Rozwoju Regionalnego
1 Załącznik nr 8 OPIS TECHNICZNY PARAMETRY GRANICZNE Fotel pozycjonujący do radioterapii protonowej nowotworów oka na stanowisku radioterapii nowotworów gałki ocznej w CCB, IFJ PAN L.p. Minimalne wymagane
Bardziej szczegółowoODPOWIEDŹ NA PYTANIE NR
Nr sprawy: 66/D/PN/2011 WCB/107/2012 Wrocław, dnia 17.01.2012r. Do wszystkich wykonawców Dotyczy: Przetargu nieograniczonego na dostawę wraz z montażem, uruchomieniem i bezpłatnym instruktażem personelu
Bardziej szczegółowoSPECYFIKACJA WYMAGAŃ UŻYTKOWNIKA URZĄDZENIA (URS) Urządzenie: Spektrofotometr (Propozycja zakupu)
Strona1 Załącznik nr 1 do Zapytania ofertowego z dnia 16.04.2014 r. WYMAGAŃ UŻYTKOWNIKA ZĄDZENIA (S) Str.1/5 1. Wstęp Powstające Laboratorium Technologiczne w ramach działalności CBR planuje oprzeć swoją
Bardziej szczegółowoLp. Opis wymaganych parametrów Opis oferowanych parametrów 1. System chromatograficzny dedykowany do analizy, rozdziału i oczyszczania białek.
Załącznik nr 1 do SIWZ Opis przedmiotu zamówienia (Wykonawca jest obowiązany wypełnić część dotyczącą parametrów oferowanego urządzenia i załączyć dokument do oferty) Chromatograf preparatywny Nazwa/typ/model
Bardziej szczegółowoSPECYFIKACJA TECHNICZNA PRZEDMIOTU ZAMÓWIENIA
Załącznik Nr 1 do SIWZ Specyfikacja techniczna Nr sprawy: ZP/10/2018 SPECYFIKACJA TECHNICZNA PRZEDMIOTU ZAMÓWIENIA Dostawa 1 kpl. spektrometru ECD z niezbędnym wyposażeniem. Szczegółowy opis przedmiotu
Bardziej szczegółowoSpektrofotometr FT-IR WQF-530
Spektrofotometr FT-IR WQF-530 Dzięki doskonałej jakości i wydajności najnowszy model spektrometru IR zapewnia równowagę między wygodą obsługi, efektywnością wykonywanych analiz oraz i niskimi kosztami
Bardziej szczegółowoTAK, WYMAGA NIE WYMAGA
Pytania z dnia 07.04.2016 r. w postępowaniu o udzielenie zamówienia publicznego prowadzonego w trybie przetargu nieograniczonego na dostawę wraz z montażem wyświetlacza wielkoformatowego (telebimu) w technologii
Bardziej szczegółowohurtowniakamer.com.pl
Kamera Sunell SN-FXP59/21UIR Cena : 382,00 zł (netto) 469,86 zł (brutto) Producent : Sunell Dostępność : Dostępny Stan magazynowy : brak w magazynie Średnia ocena : brak recenzji Utworzono 27-09-2016 Kamera
Bardziej szczegółowoSPECYFIKACJA WYMAGAŃ UŻYTKOWNIKA URZĄDZENIA (URS) Urządzenie: Spektrofotometr (Propozycja zakupu)
Strona1 Załącznik nr 1 do Zapytania ofertowego z dnia 16.04.2014 r. Str.1/5 1. Wstęp Powstające Laboratorium Technologiczne w ramach działalności CBR planuje oprzeć swoją działalność na hodowlach mikroorganizmów
Bardziej szczegółowoWYJAŚNIENIE TREŚCI SIWZ
Warszawa, dnia 17.11.2015r. WYJAŚNIENIE TREŚCI SIWZ Dotyczy przetargu nieograniczonego na: Dostawa stołowego skaningowego mikroskopu elektronowego wraz z wyposażeniem dla Instytutu Technologii Materiałów
Bardziej szczegółowoSPECYFIKACJA TECHNICZNA
SPECYFIKACJA TECHNICZNA model obciążenia NEXUS 412A analogowy, 2 obiektywy 0.01-0.025-0.05-0.1-0.2-0.3-0.5-1 kgf (HV) NEXUS 413A analogowy, 3 obiektywy 0.01-0.025-0.05-0.1-0.2-0.3-0.5-1 kgf (HV) NEXUS
Bardziej szczegółowoParametryzacja przetworników analogowocyfrowych
Parametryzacja przetworników analogowocyfrowych wersja: 05.2015 1. Cel ćwiczenia Celem ćwiczenia jest zaprezentowanie istoty działania przetworników analogowo-cyfrowych (ADC analog-to-digital converter),
Bardziej szczegółowokonkurencyjności ofert. Odpowiedź: Nie. Zamawiający pozostawia zapisy SIWZ bez zmian w tym zakresie.
Warszawa, dn. 19.05.2016 r. Do wszystkich zainteresowanych Wykonawców Dotyczy: postępowania przetargowego prowadzonego w trybie przetargu nieograniczonego poniżej 209 000 euro na: Dostawa urządzeń medycznych
Bardziej szczegółowoCzujniki podczerwieni do bezkontaktowego pomiaru temperatury. Czujniki stacjonarne.
Czujniki podczerwieni do bezkontaktowego pomiaru temperatury Niemiecka firma Micro-Epsilon, której WObit jest wyłącznym przedstawicielem w Polsce, uzupełniła swoją ofertę sensorów o czujniki podczerwieni
Bardziej szczegółowoTa nowa metoda pomiaru ma wiele zalet w stosunku do starszych technik opartych na pomiarze absorbancji.
CHLOROFILOMIERZ CCM300 Unikalna metoda pomiaru w oparciu o pomiar fluorescencji chlorofilu! Numer katalogowy: N/A OPIS Chlorofilomierz CCM-300 jest unikalnym urządzeniem pozwalającym zmierzyć zawartość
Bardziej szczegółowoCzy zamawiający dopuści do przetargu wysokiej klasy aparat renomowanego producenta o maksymalnej dynamice systemu do 255dB?
Stargard Szczeciński, 16.10.2015 r. OFERENCI dotyczy: Przetargu nieograniczonego nr 11/n/do/2015 r. na dostawę, instalację, i uruchomienie aparatu ultrasonograficznego wraz z głowicami dla Pracowni USG
Bardziej szczegółowoOFERTA 0001-CENA 3300 ZŁ
OFERTA 0001-CENA 3300 ZŁ PROFESJONALNY ZESTAW DO MONITORINGU 4 KAMERY WANDALOODPORNE KONIG - SOLIDNA OBUDOWA W skład zestawu wchodzi: - REJESTRATOR CYFROWY DVS-0404DR (nr kat. 9342) 4 kanałowy cyfrowy
Bardziej szczegółowoLCPRO T INTELIGENTNY SYSTEM DO POMIARU WYMIANY GAZOWEJ INTENSYWNOŚCI FOTOSYNTEZY. Możliwość pełnej kontroli mikroklimatu w komorze pomiarowej!
LCPRO T INTELIGENTNY SYSTEM DO POMIARU WYMIANY GAZOWEJ INTENSYWNOŚCI FOTOSYNTEZY Możliwość pełnej kontroli mikroklimatu w komorze pomiarowej! Numer katalogowy: LCpro T OPIS Ekran dotykowy wbudowany odbiornik
Bardziej szczegółowoPrzewaga klasycznego spektrometru Ramana czyli siatkowego, dyspersyjnego nad przystawką ramanowską FT-Raman
Porównanie Przewaga klasycznego spektrometru Ramana czyli siatkowego, dyspersyjnego nad przystawką ramanowską FT-Raman Spektroskopia FT-Raman Spektroskopia FT-Raman jest dostępna od 1987 roku. Systemy
Bardziej szczegółowoZałącznik nr 1 do SIWZ
Załącznik nr 1 do SIWZ FORMULARZ OFERTY TECHNICZNEJ NA DOSTAWĘ SPRZĘTU MEDYCZNEGO NA POTRZEBY WOJSKOWEJ SPECJALISTYCZNEJ PRZYCHODNI LEKARSKIEJ SPZOZ W SZCZECINKU - audiotympanometr Audiotympanometr kpl.
Bardziej szczegółowoRejestratory Sił, Naprężeń.
JAS Projektowanie Systemów Komputerowych Rejestratory Sił, Naprężeń. 2012-01-04 2 Zawartość Typy rejestratorów.... 4 Tryby pracy.... 4 Obsługa programu.... 5 Menu główne programu.... 7 Pliki.... 7 Typ
Bardziej szczegółowoPrzedmiot zamówienia: Aparat USG z kolorowym Dopplerem oraz głowicami convexową, liniową, sektorową i endovaginalną
Załącznik nr 1a do oferty CZĘŚĆ I. OPIS PRZEDMIOTU ZAMÓWIENIA Przedmiot zamówienia: Aparat USG z kolorowym Dopplerem oraz głowicami convexową, liniową, sektorową i endovaginalną ZESTAWIENIE PARAMETRÓW
Bardziej szczegółowoMikroskop pomiarowy 3D z głowicą konfokalną do analizy topografii powierzchni - Ilość: 1 kpl.
Zamówienie publiczne w trybie przetargu nieograniczonego nr ZP/PN/17/2014 Przedmiot postępowania: Dostawa mikroskopu pomiarowego 3D z głowicą konfokalną do analizy mikrostruktury i topografii powierzchni
Bardziej szczegółowoOPIS PRZEDMIOTU ZAMÓWIENIA Ultrasonograf z trzema głowicami oraz kolorowym Dopplerem
Znak sprawy: 19/WOMP ZCLiP / 2013 Załącznik nr 1A do Specyfikacji Istotnych Warunków Zamówienia. OPIS PRZEDMIOTU ZAMÓWIENIA Ultrasonograf z trzema głowicami oraz kolorowym Dopplerem Nazwa aparatu:... Producent:...
Bardziej szczegółowoZnak postępowania: CEZAMAT/ZP11/2015/F Warszawa, 4.05.2015 r. L. dz. CEZ - 134/15 ODPOWIEDZI NA PYTANIA DO SPECYFIKACJI ISTOTNYCH WARUNKÓW ZAMÓWIENIA
Znak postępowania: CEZAMAT/ZP11/2015/F Warszawa, 4.05.2015 r. L. dz. CEZ - 134/15 ODPOWIEDZI NA PYTANIA DO SPECYFIKACJI ISTOTNYCH WARUNKÓW ZAMÓWIENIA Dotyczy postępowania prowadzonego w trybie przetargu
Bardziej szczegółowoMiejski Szpital Zespolony
DZZ-382-76/18 OLSZTYN, DN. 27.11.2018 R. WYJAŚNIENIE TREŚCI SIWZ DOT. POSTĘPOWANIA W SPRAWIE ZAMÓWIENIA PUBLICZNEGO Na dostawę kardiomonitorów wraz z centralą monitorującą NR DZZ-382-76/18 Miejski Szpital
Bardziej szczegółowoLaserowy mikrometr skanujący Strona 376. Moduł wyświetlający LSM Strona 377
Systemy sensoryczne - LSM Zestaw laserowego mikrometru skanującego i wskaźnika Strona 372 Moduł pomiarowy laserowego mikrometra skanującego Strona 373 Laserowy mikrometr skanujący Strona 376 Moduł wyświetlający
Bardziej szczegółowoProcesor. Pamięć RAM. Dysk twardy. Karta grafiki
Komputer stacjonarny typ A 36 sztuk Formularz 1.2 Symbol Procesor Wydajność uzyskana w teście Passmark CPU Mark punktów Pamięć RAM TYP DDR 3 Częstotliwość taktowania Pojemność zainstalowana Pojemność maksymalna
Bardziej szczegółowoGWIEZDNE INTERFEROMETRY MICHELSONA I ANDERSONA
GWIEZNE INTERFEROMETRY MICHELSONA I ANERSONA Cel ćwiczenia Celem ćwiczenia jest zestawienie i demonstracja modelu gwiezdnego interferometru Andersona oraz laboratoryjny pomiar wymiaru sztucznej gwiazdy.
Bardziej szczegółowoRodzina czujników przemieszczeń w płaszczyźnie z wykorzystaniem interferometrii siatkowej (GI) i plamkowej (DSPI)
Rodzina czujników przemieszczeń w płaszczyźnie z wykorzystaniem interferometrii siatkowej (GI) i plamkowej (DSPI) Kierownik: Małgorzata Kujawińska Wykonawcy: Leszek Sałbut, Dariusz Łukaszewski, Jerzy Krężel
Bardziej szczegółowoSZCZEGÓŁOWY OPIS PRZEDMIOTU ZAMÓWIENIA STANOWIĄCY JEDNOCZEŚNIE DRUK POTWIERDZENIE ZGODNOŚCI TECHNICZNEJ OFERTY
Załącznik nr 2 do SIWZ Załacznik nr 2 do umowy SZCZEGÓŁOWY OPIS PRZEDMIOTU ZAMÓWIENIA STANOWIĄCY JEDNOCZEŚNIE DRUK POTWIERDZENIE ZGODNOŚCI TECHNICZNEJ OFERTY Przedmiot oferty: Wysokorozdzielczy skaningowy
Bardziej szczegółowoSPECYFIKACJA TECHNICZNA SYSTEMU TELEWIZJI PRZEMYSŁOWEJ Łódź 2015
Załącznik nr 4 do SIWZ/Nr 1 do umowy Nr postępowania OI/IP/031/2015 SPECYFIKACJA TECHNICZNA SYSTEMU TELEWIZJI PRZEMYSŁOWEJ Łódź 2015 1. Założenia ogólne System telewizji przemysłowej/dozorowej ma być integralną
Bardziej szczegółowoIlość łączna Kategoria Opis. pozycjonowanie w podczerwieni >=79"
Załącznik nr do SIWZ Opis Przedmiotu Zamówienia na DOSTAWA, WNIESIENIE I MONTAŻ WRAZ Z URUCHOMIENIEM SPRZĘTU ELEKTRONICZNEGO NA POTRZEBY ZESPOŁU SZKÓŁ SPORTOWYCH NR 50 IM. JANUSZA KUSOCIŃSKIEGO W WARSZAWIE
Bardziej szczegółowoOBLIGATORYJNE WYMAGANIA TECHNICZNE CZĘŚĆ II DRUKARKI I SKANERY
Załącznik nr 3B do SIWZ.. Pieczęć firmowa Wykonawcy OBLIGATORYJNE WYMAGANIA TECHNICZNE CZĘŚĆ II DRUKARKI I SKANERY A. DRUKARKI LASEROWE - 12 sztuk 1. 2 sztuki z dodatkowym podajnikiem Producent, model,
Bardziej szczegółowoNazwa asortymentu Ilość Nazwa wyrobu, nazwa producenta, określenie marki, modelu, znaku towarowego
Postępowanie ZAŁĄCZNIK NR 6 L. p. Nazwa asortymentu Ilość Nazwa wyrobu, nazwa producenta, określenie marki, modelu, znaku towarowego Cena jednostkowa netto (zł) Wartość netto (zł) (kolumna 3x5) 1 2 3 4
Bardziej szczegółowo