SPECYFIKACJA TECHNICZNA. Zakup, dostawa i instalacja Spektrometru FT-Raman z zintegrowaną przystawką FT-IR oraz mikroskopu podczerwieni.

Save this PDF as:
 WORD  PNG  TXT  JPG

Wielkość: px
Rozpocząć pokaz od strony:

Download "SPECYFIKACJA TECHNICZNA. Zakup, dostawa i instalacja Spektrometru FT-Raman z zintegrowaną przystawką FT-IR oraz mikroskopu podczerwieni."

Transkrypt

1 SPECYFIKACJA TECHNICZNA Załącznik nr 1 Zakup, dostawa i instalacja Spektrometru FT-Raman z zintegrowaną przystawką FT-IR oraz mikroskopu podczerwieni. 1. WYMAGANIA TECHNICZNE 1.1. Założenia ogólne Przedmiotem zakupu, dostawy oraz instalacji jest spektrometr ramanowski z transformacją Fouriera z zintegrowaną przystawką do pomiarów w podczerwieni oraz mikroskop podczerwieni FTIR typu "stand-alone" pracujący bez konieczności podłączania zewnętrznego spektrometru FTIR. Zakup jest realizowany dla Laboratorium Międzyuczelnianego w Stalowej Woli. W celu potwierdzenia, parametrów oferowanego przedmiotu zamówienia należy do oferty dołączyć opisy w formie papierowej, które w sposób jednoznaczny pozwolą stwierdzić, że parametry eksploatacyjno techniczne oferowanego urządzenia będą zgodne z wymaganiami Zamawiającego. Urządzenie musi spełniać wymagania dyrektywy "Nowego Podejścia UE - znak CE, oraz wymagania odpowiednich norm przedmiotowych Parametry techniczne urządzeń SPEKTROMETR RAMANOWSKI PODSTAWOWE WYMAGANIA TECHNICZNE Lp. Nazwa parametru Wielkość parametru Źródła 1. Minimum dwa źródła promieniowania wybierane i przełączane komputerowo: lampa wolframowa na zakres cm -1 oraz źródło ceramiczne na zakres cm Źródło ceramiczne o maksymalnej temp. pracy 1.577K, nie wymagające chłodzenia wodą 3. Temperatura źródła kontrolowana elektronicznie. 4. Układ sterujący pozwalający na pracę w 3 trybach: oszczędnościowym, standardowym i maksymalnej energii. Dzielnik wiązki (beamsplitter) 5. Ge/KBr na zakres spektralny cm -1 i Si/CaF 2 na zakres cm Możliwość rozbudowy o dodatkowe beamsplittery gwarantujące pokrycie zakresu spektralnego co najmniej cm -1

2 7. Automatyczne rozpoznawanie rodzaju beamsplittera przez system 8. Miejsce na przechowanie 2 zapasowych beamsplitterów wewnątrz aparatu w głównym przedziale optyki osuszanym i przedmuchiwanym Detektor 9. Detektor DLaTGS z okienkiem KBr na zakres cm Zdolność rozdzielcza lepsza niż 0,09 cm -1 (pomiar szerokości połówkowej pasma CO) 11. Dwupozycyjny, komputerowo sterowany układ wyboru detektorów 12. Łatwy dostęp i wymiana detektorów 13. Interferometr Michelsona 90º Interferometr Michelsona 14. Nie wymagający zasilania sprężonym powietrzem, odporny na wibracje i wpływ zmian temperaturowych 15. Justowany dynamicznie w trakcie skanowania z częstotliwością odpowiadającą częstotliwości przejść przez zero sygnału lasera nawet przy maksymalnej szybkości skanowania. Mechanizm dynamicznego justowania wykorzystujący wiązkę lasera He-Ne, padającą na trójpozycyjny detektor laserowy, do monitorowania i utrzymywania idealnego względnego położenia kątowego zwierciadeł. 16. Inteligentny system włączania/wyłączania dynamicznego justowania interferometru w trakcie eksperymentów stepscan. Inne parametry 17. Szybkość skanowania regulowana w zakresie 18. System automatycznego rozpoznawania z poziomu oprogramowania akcesoriów (co najmniej: ATR Golden Gate, Miracle, SplitPea, DRITFS, Specular Reflectance, PAS) oraz elementów systemu takich jak detektory i beamsplittery 19. Możliwość rozbudowy na dalsze zakresy spektralne i do pracy z technikami łączonymi: GC/IR, TG/IR, mikroskopia IR 20. Apertura regulująca moc wiązki, o powtarzalnej regulacji średnicy w zakresie 0 100% co 1% 21. Elementy układu optycznego montowane stabilnie na ławie optycznej za pomocą kołków pozycjonujących 22. Monolityczne zwierciadła w układzie optycznym pokrywane metalem szlachetnym 23. Poziom szumów (amplituda międzyszczytowa) dla detektora DLaTGS min. 0,16 6,2 cm/s niższy niż 8, Abs (sygnał/szum >50.000:1)

3 24. Maksymalna szybkość zbierania danych nie gorsza niż 65 skanów/s dla rozdzielczości 16 cm Układ optyczny szczelny i osuszany z okienkami oddzielającymi przedział próbek 26. Podłączenia do opcjonalnego przedmuchu spektrometru i przedziału próbek osuszonym gazem 27. Port do pomiarów emisyjnych z automatycznym przełączaniem lustra 28. Wysokociśnieniowa przystawka ATR z kryształem diamentowym wyposażona w odchylane urządzenie dociskowe o regulowanej sile docisku 29. Automatyczny system wyprowadzania promieniowania do pomiarów w modułach zewnętrznych zarówno po obu stronach aparatu Moduł FT-Raman (odstęp danych 8 cm -1 ) 30. Detektor InGaAs nie wymagający chłodzenia 31. Detektor germanowy chłodzony ciekłym azotem 32. Automatyczne przełączenie detektorów z poziomu oprogramowania 33. Standaryzowane źródło światła białego 34. Źródło min. 2W laser nm Nd:YVO4 o mocy regulowanej z poziomu oprogramowania z krokiem 0,1W 35. Filtr promieniowania Rayleighowskiego 36. Zakres spektralny przesunięcia Raman nie mniejszy niż cm Apertura wiązki z płynną kontrolą ustawienia przesłony z oprogramowania 38. Możliwość rozbudowy o polaryzator wiązki promieniowania ramanowskiego, umożliwiający badanie właściwości polaryzacyjnych próbek z automatycznym sterowaniem przez oprogramowanie 39. Zasilacz spektrometru umieszczony na zewnątrz aparatu Przystawka makro/mikroskopowa 40. Mocowanie próbek horyzontalne 41. Stolik z automatyczną kontrolą przesuwu w osiach X Y Z 42. Wbudowaną kolorową kamerą wideo do obserwacji pola 43. Rozdzielczości przestrzennej (wielkość plamki lasera) w nie gorsza niż 50 µm pomiarach mikroskopowych (1 mm w trybie makro) 44. Krok przesuwu stolika we wszystkich płaszczyznach nie gorszy niż 20 µm 45. Przystawka całkowicie zamknięta w przedziale próbek, zapewniająca pełne bezpieczeństwo pracy z laserem Oprogramowanie

4 46. Komunikacja aparatu z jednostką sterującą USB Program obsługi spektrometru zarówno do eksperymentów IR jak Ramanowskich co najmniej w języku polskim i angielskim. Automatyczny wybór wersji językowej przy logowaniu 48. Logowanie użytkowników z hasłami i różnymi poziomami dostępu 49. Funkcja automatycznego doboru wzmocnienia sygnału 50. Funkcje wykonywania eksperymentów i analizy danych we wszystkich rodzajach eksperymentów step-scan i dwukanałowych 51. Podgląd widm zapisanych na dysku przed ich otwarciem (jak podgląd dokumentów w pakiecie Office) 52. Funkcje przetwarzania widm: korekcja linii bazowej automatyczna i manualna, dekonwolucja, odejmowanie spektralne, wyznaczanie pochodnych, znajdowanie maksimów, wygładzanie, transformacja Kramersa Kroniga, korekcja ATR, pomiar wysokości i położenia pasma, pomiar pola powierzchni pasm - bezwględnej i względnej 53. Funkcja rozkładu pasm na składowe z algorytmem konwergencji typu Fletcher-Powell-McCormick, uwzględniająca co najmniej następujące typy pasm: Gaussian, Lorentzian, mieszany Gaussian/Lorentzian, Voigt 54. Przeszukiwanie bibliotek w celu identyfikacji widma nieznanej próbki oraz/lub porównania z widmem wzorca 55. Tworzenie własnych bibliotek użytkownika, 56. Moduł oprogramowania do analiz chemometrycznych obejmujący algorytmy analizy ilościowej i klasyfikacyjnej min. następujące: do analiz ilościowych: * Prawo Lamberta-Beera * CLS (klasyczna metoda najmniejszych kwadratów) do analiz klasyfikacyjnych * Search Standards (przeszukiwanie biblioteki wzorców z analizą korelacji, także dla pochodnych widm) * Similarity match (wektorowa analiza podobieństwa) * QC compare (analiza korelacyjna widm uśrednionych) 57. Moduł do tworzenia i wykonywania makroinstrukcji 58. Moduł spektralnej interpretacji widm 59. Automatyczna korekcja zawartości CO 2 i pary wodnej przez oprogramowanie bez konieczności zbierania widm referencyjnych 60. Wyświetlanie widm w czasie rzeczywistym (w trakcie pomiaru)

5 61. Automatyczne wykonywanie testów jakości widm z informowaniem użytkownika m.in. o niepożądanych pasmach spektralnych w widmie tła, nieprawidłowym kształcie pasm, obecności pasm całkowicie absorbujących, nachyleniu linii podstawowej, zbyt małej energii interferogramu 62. Aktywna diagnostyka w trakcie pomiaru z ciągłym monitorowaniem stanu elementów systemu i wizualnym wskaźnikiem poprawnej pracy aparatu 63. Wbudowany edytor do tworzenia raportów według własnych szablonów 64. Archiwizowanie gotowych raportów w nieedytowalnych skoroszytach elektronicznych z funkcją przeszukiwania skoroszytów umożliwiającą szybkie dotarcie do każdego raportu Wyposażenie dodatkowe 65. Uniwersalny zestaw bibliotek widm obejmujący co najmniej widm IR i widm Ramana 66. Dewar transportowy na ciekły azot o pojemności min. 35 dm Stół laboratoryjny z blatem z wkładkami wibroizolacyjnymi 68. Zestaw komputerowy umożliwiający sterowanie systemem z drukarką 69. System do analizy danych z licencją na pakiet oprogramowania biurowego Przystawka Nanotwardościomierz/ Scratch tester 70. Możliwość wykonywania testów typu: pomiar twardości, scratch, zużycie, trybologiczne, pełzanie. 71. Konstrukcja modułowa, możliwość równoczesnego zamontowania modułów do testów w skali Micro i Nano 72. Zintegrowany wyłącznik bezpieczeństwa oraz manipulator kontrolujący ruch stolika XY 73. Regulacja prześwitu przy pomocy sprężyny powietrznej 74. Zmotoryzowany stolik XY o zakresie co najmniej mm 75. Rozdzielczość pozycjonowania stolika nie gorsza niż 10 nm 76. Maksymalny prześwit w osi Z co najmniej 140 mm 77. Maksymalna prędkość przesuwu w osi Z co najmniej 50 mm/min 78. Maksymalna prędkość dla testów typu scratch co najmniej 240 mm/s 79. Maksymalna długość dla testów typu scratch co najmniej 90 mm z kontrolą optyczną 150 mm bez kontroli optycznej 80. Maksymalny zakres pomiaru głębokości co najmniej 50 mm 81. Maksymalny rozmiar próbki co najmniej 300 mm Moduł do testów nano do przyst. nanotwardościomierza 82. Możliwość wykonywania testów typu: scratch, twardość.

6 83. Bezpośrednia kontrola obciążenia przy pomocy czujnika piezoelektrycznego, pracującego w pętli sprzężenia zwrotnego. 84. Zakres obciążeń co najmniej: mn 85. Rozdzielczość czujnika siły nie gorsza niż: 0,08 μn 86. Zakres pomiaru głębokości co najmniej 100 μm 87. Rozdzielczość pomiaru głębokości nie gorsza niż: 0,003 nm 88. Rozszerzony zakres pomiaru głębokości co najmniej 50 mm (rozdzielczość 2,5 nm) 89. Wpływ zmiany temperatury otoczenia w trakcie badania nie większy niż <0,05 nm/sec 90. Maksymalna siła dla pomiarów tarcia co najmniej: 400 mn 91. Rozdzielczość czujnika siły dla pomiarów tarcia nie gorsza niż 0,03 μn 92. Certyfikat kalibracji producenta Moduł do testów w skali Micro do przyst. nanotwardościomierza 93. Możliwość wykonywania testów typu: scratch, twardość 94. Bezpośrednia kontrola obciążenia przy pomocy czujnika piezoelektrycznego, pracującego w pętli sprzężenia zwrotnego. 95. Zakres obciążeń co najmniej: 0,05 40 N 96. Rozdzielczość czujnika siły nie gorsza niż: 0,6 mn 97. Zakres pomiaru głębokości co najmniej 300 μm 98. Rozdzielczość pomiaru głębokości nie gorsza niż: 0,2 nm 99. Rozszerzony zakres pomiaru głębokości co najmniej: 50mm (rozdzielczość 2,5 nm) 10 Maksymalna siła dla pomiarów tarcia co najmniej: 40 N Rozdzielczość czujnika siły dla pomiarów tarcia nie gorsza niż 0,6 mn Certyfikat kalibracji producenta Bezkontaktowy czujnik pomiaru głębokości do przyst. nanotwardościomierza 10 Zakres pomiarowy co najmniej 300 μm Rozdzielczość nie gorsza niż 2 nm Możliwość instalacji różnych sond optycznych Możliwość rejestracji obrazu (profilu) Próbki wzorcowe Mikroskopowy system obrazowania do przyst. nanotwardościomierza

7 10 8. Wyposażony w kamerę cyfrową o rozdzielczości co najmniej PAL 752x Zestaw obiektywów o powiększeniu Min. x5, x20, x Maksymalne dostępne powiększenie co najmniej 2000x Oprogramowanie do testów typu scratch do przyst. nanotwardościomierza 111. Testy typu scratch przy stałym lub zmiennym obciążeniu 11 Możliwość podglądu panoramicznego Wykonywanie testów seryjnych Kontrola parametrów długość rysy, prędkość testu, obciążenie 11 Możliwość eksportu zdjęcia próbki Kontrola stolika XY Możliwość programowania testów wielu próbek Automatyczne raporty. Oprogramowanie do pomiarów twardości do przyst. nanotwardościomierza 11 Kontrola parametrów obciążenia Kontrola stolika XY Wyznaczanie parametrów i właściwości mechanicznych 1. materiałów Możliwość programowania testów wielu próbek Automatyczne raporty. Zestaw akcesoriów do testów typu scratch oraz do pomiarów twardości do przyst. nanotwardościomierza 12 Wgłębnik diamentowy Vickers dla zakresu Nano i Micro Wgłębnik typu Berkovich dla zakresu Nano i Micro Płtyka wzorcowa - silicat Komputer klasy PC Zainstalowany system operacyjny Monitor min. 19 LCD Kompresor o parametrach odpowiednich dla oferowanego 9. urządzenia Stół antywibracyjny.

8 SPEKTROMETR RAMANOWSKI WYMAGANIA DODATKOWE Lp. Nazwa Opis 1. Szkolenie (min. 3 dni) w zakresie obsługi przyrządu, urządzeń dodatkowych i pakietów oprogramowania w miejscu użytkowania aparatury w terminie uzgodnionym przez obie strony (dla min. 2 osób) 2. Szkolenie (min. 2 dni) aplikacyjne w zakresie zaawansowanej obsługi aparatu i użytkowania oprogramowania w miejscu użytkowania aparatury w terminie uzgodnionym przez obie strony (dla min. 2 osób) 3. Instrukcja obsługi i dokumentacja techniczna w języku polskim. 4. Czas reakcji serwisu nie dłuższy niż 72 godziny 1 5. Gwarancja na źródło ceramiczne 5 lat. minimum 5 lat 6. Gwarancja na interferometr: 5 lat. minimum 5 lat 7. Okres pełnej gwarancji na całe urządzenie i pozostałe jego minimum 12miesięcy podzespoły 8. Bezpłatna obsługa serwisowa; co najmniej 2 lata MIKROSKOP PODCZERWIENI PODSTAWOWE WYMAGANIA TECHNICZNE Lp. Nazwa parametru Wielkość parametru 1. Zamknięta i osuszana optyka FTIR wraz z interferometrem dedykowana do mikroskopu IR znajdująca się w jednej obudowie z mikroskopem. 2. Konwerter ADC 24-bity 3. Wskaźnik poziomu wilgotności zewnętrzny 4. Port do wymiany wkładów osuszających 5. Optyka dichroiczna do równoczesnej obserwacji i pomiarów, zarówno w trybie transmisyjnym jak odbiciowym 6. W pełni zautomatyzowana, kontrolowana komputerowo apertura z regulacją rozmiarów X, Y i kąta obrotu umożliwiająca jednoczesną obserwację obszaru aperturowanego i pełnego pola 7. Automatyczne przełączanie trybu transmisyjnego i odbiciowego 8. Automatyczne, sterowane z poziomu oprogramowania ogniskowanie na próbce obrazu wideo i maksymalizowanie sygnału IR 9. Automatyczna kontrola kontaktu w trybie ATR z cyfrowym odczytem nacisku 10. Niezależne systemy oświetlenia LED, sterowane z oprogramowania: min.3: oświetlenie transmisyjne, odbiciowe i apertury 1 Czas reakcji serwisu jest to okres czasu, jaki upływa od chwili zgłoszenia awarii do momentu przyjazdu serwisanta do miejsca zainstalowania urządzenia. Dotyczy to sytuacji, w której niemożliwe jest usunięcie awarii (usterki) na drodze konsultacji telefonicznych

9 11. Teleskopowe osłony obiektywu i kondensera zapewniające izolację od otoczenia strefy pomiaru próbki 12. Zintegrowana kolorowa cyfrowa kamera CCD pikseli z komunikacją USB Rozdzielczość min. XGA 1024 x Zmotoryzowany stolik mikroskopu o wysokiej precyzji z wyposażony w system ułatwiający szybkie zakładanie/demontaż z zakresem przesuwu co najmniej 5 cm x 12,5 cm 14. Ultraszybkie mapowanie zebranie mapy obszaru 1,2 1,2 mm z rozdzielczością 25 µm w czasie nie dłuższym niż 20 s, przy rozdzielczości 16 cm Maksymalna szybkość mapowania nie gorsza niż 10 kroków stolika na sekundę (rozdzielczość 16 cm -1, zakres spektralny 16. Obiektyw 15x z wbudowanym uchwytem do łatwego zakładania opcjonalnego kryształu ATR 17. Zmotoryzowany kondenser 15x zapewniający utrzymywanie wyjustowanego położenia i automatyczne przesuwanie do pozycji spoczynkowej w przypadku pomiarów odbiciowych 18. Możliwość podłączenia opcjonalnego zewnętrznego modułu FTIR zapewniającego możliwość wykonywania cm -1 ) o aperturze numerycznej co najmniej 0,7 o aperturze numerycznej co najmniej 0,7 standardowych pomiarów IR Detektor 19. Dedykowany mikroskopowy detektor DLaTGS 20. Zakres spektralny detektora DLaTGS co najmniej cm Gwarantowany pomiar próbek o wielkości od 50 µm 22. Matrycowy detektor MCT-A zapewniający pomiary w mikroskopie 23. Zakres spektralnym co najmniej cm Stosunek sygnału do szumu dla parametrów: rozdzielczość > 500 :1 przestrzenna 25 µm, 4 skany, rozdzielczość spektralna 16 cm -1, zakres cm System automatycznego sterowanego z komputera przełączania detektorów Interferometr 26. Typ Interferometru Michelsona 90º 27. Nie wymagający zasilania sprężonym powietrzem, 28. Odporny na wibracje i wpływ zmian temperaturowych, 29. Ustawiany dynamicznie w trakcie skanowania z częstotliwością odpowiadającą częstotliwości przejść przez zero sygnału lasera nawet przy maksymalnej szybkości skanowania.

10 30. Mechanizm dynamicznego ustawiania wykorzystujący wiązkę lasera 31. Interferometr wyposażony w wielowarstwowy dzielnik wiązki Ge/KBr posiadający zakres co najmniej cm Laser HeNe 633nm zapewniający precyzyjną kontrolę ruchu interferometru i utrzymywanie kalibracji liczb falowych uzyskiwanych widm Źródło 33. Trwałe źródło ceramiczne nie wymagające chłodzenia wodą, 34. Dostępne z zewnątrz bez zdejmowania obudowy, wymienne przez użytkownika Oprogramowanie 35. Pomiar widm i podgląd pomiaru w czasie rzeczywistym 36. Automatyczna korekcja atmosferyczną w czasie rzeczywistym 37. Przeszukiwanie bibliotek widm w czasie rzeczywistym w trakcie podglądu 38. Wyświetlanie obrazu cyfrowego z różnymi ustawieniami kamery CCD dopasowanymi do różnych próbek 39. Przechwytywanie obrazu wideo, pomiar wielkości obiektów, wpisywanie komentarzy na obrazach 40. Niezależna kontrola oświetlenia LED przy pracy w dbiciu, transmisji i dla apertury 41. System ogniskowania automatycznego i ręcznego z poziomu oprogramowania 42. Autoogniskowanie kondensera i przesuwanie do pozycji spoczynkowej 43. Automatyczna kontrola rozmiarów x-y apertury i jej kąta obrotu 44. Funkcje mapowania i kontroli obrazowania spektralnego 45. Praca z wirtualnym (w oprogramowaniu) joystickiem 46. Automatyczne ustawianie kontaktu ATR i jego zwalniania z definiowanym poziomem wartości progowej nacisku 47. Podgląd slajdu mikroskopowego z szybkim ładowaniem i wysuwaniem próbek 48. Automatyczne lokalizowanie pozycji tła i jego pomiar w trybie odbiciowym 49. Standardowe procedury prowadzące użytkownika za rękę w typowych pomiarach mikroanalizy IR 50. Tworzenie i analiza map spektralnych, w tym: map liniowych, map obszarów, zestawów punktów dyskretnych wskazanych przez użytkownika 51. Automatyczne tworzenie map mozaikowych (sklejanych) z obszarów większych niż pole obserwacji 52. Interaktywna kontrola przesuwu stolika (m.in. przesunięcie stolika do punktu wskazanego myszą) 53. Kalibracja wymiarów próbek 54. Tworzenie map spektralnych przekrojowych (konturowych) i trójwymiarowych

11 55. Analiza chemometryczna map metodą PCA (principle component analysis) i MCR (Multivariate Curve Resolution) 56. Tworzenie obrazów chemicznych według położeń maksimów, wysokosci/pola pasm czy korelacji z widmami referencyjnymi 57. Przełączanie trybów pomiarowych: odbicie, transmisja, ATR 58. Obsługa mikroskopu i opcjonalnego zewnętrznego modułu pomiarowego 59. Kontrola opcjonalnego polaryzatora światła widzialnego (wstawianie w wiązkę i kąt obrotu) 60. Standardowe funkcje przetwarzania widm 61. Przeszukiwanie bibliotek widm 62. Menedżer bibliotek z możliwością tworzenia własnych bibliotek widm 63. Tworzenie elektronicznych raportów 64. Narzędzia odczytu i zapisu plików i bibliotek widm w różnych formatach Wyposażenie dodatkowe 65. Podstawowy zestaw do przygotowania próbek mikroskopowych (co najmniej: pinceta, skalpel, płytki solne 13mm BaF 2, slajdy mikroskopowe 1"x 3" do pomiarów transmisyjnych i odbiciowych) 66. Dodatkowy joystick zewnętrzny 67. Stół laboratoryjny z blatem z wkładkami wibroizaolacyjnymi 68. Zestaw komputerowy umożliwiający sterowanie systemem z drukarką 69. System do analizy danych z licencją na pakiet oprogramowania biurowego MIKROSKOP PODCZERWIENI WYMAGANIA DODATKOWE Lp. Nazwa Opis 1. Szkolenie (min. 3 dni) w zakresie obsługi przyrządu, urządzeń dodatkowych i pakietów oprogramowania w miejscu użytkowania aparatury w terminie uzgodnionym przez obie strony (dla min. 2 osób) 2. Szkolenie (min. 2 dni) aplikacyjne w zakresie zaawansowanej obsługi aparatu i użytkowania oprogramowania oraz chemometrii w miejscu użytkowania aparatury lub zewnętrznym ośrodku w terminie uzgodnionym przez obie strony (dla min. 2 osób) 3. Instrukcja obsługi i dokumentacja techniczna w języku polskim. 4. Czas reakcji serwisu nie dłuższy niż 48 godzin 2 2 Czas reakcji serwisu jest to okres czasu, jaki upływa od chwili zgłoszenia awarii do momentu przyjazdu serwisanta do miejsca zainstalowania urządzenia. Dotyczy to sytuacji, w której niemożliwe jest usunięcie awarii (usterki) na drodze konsultacji telefonicznych

12 Lp. Nazwa Opis 5. Gwarancja na interferometr minimum 3 lata 6. Okres pełnej gwarancji na całe urządzenie i pozostałe jego podzespoły minimum 12 miesięcy 2. PARAMETRY TRANSPORTOWO INSTALACYJNE Koszt transportu, instalacji i uruchomienia urządzenia ponosi dostawca. Odbiór urządzenia nastąpi w oparciu o przeprowadzone badanie detalu dostarczonego przez zamawiającego. 3. TERMIN WYKONANIA Czas realizacji dostawy urządzenia: 1 czerwiec 2013 r 31 październik 2013 r.

Załącznik nr 1 do SIWZ z dnia r.

Załącznik nr 1 do SIWZ z dnia r. Załącznik nr 1 do SIWZ z dnia 16.06.2010 r. Opis przedmiotu zamówienia (Wykonawca jest obowiązany wypełnić część dotyczącą parametrów oferowanego urządzenia i załączyć dokument do oferty) SPEKTROMETR FTIR

Bardziej szczegółowo

UCZESTNICY POSTĘPOWANIA

UCZESTNICY POSTĘPOWANIA ATI 55, 57/II/LJ/2007 Bielsko-Biała 22.02.2007r. UCZESTNICY POSTĘPOWANIA Dotyczy: Postępowania prowadzonego w trybie przetargu nieograniczonego powyŝej 60 000 euro na: Dostawa spektrofotometru z oprzyrządowaniem

Bardziej szczegółowo

SPECYFIKACJA TECHNICZNA ZESTAWU DO ANALIZY TERMOGRAWIMETRYCZNEJ TG-FITR-GCMS ZAŁĄCZNIK NR 1 DO ZAPYTANIA OFERTOWEGO

SPECYFIKACJA TECHNICZNA ZESTAWU DO ANALIZY TERMOGRAWIMETRYCZNEJ TG-FITR-GCMS ZAŁĄCZNIK NR 1 DO ZAPYTANIA OFERTOWEGO SPECYFIKACJA TECHNICZNA ZESTAWU DO ANALIZY TERMOGRAWIMETRYCZNEJ TG-FITR-GCMS ZAŁĄCZNIK NR 1 DO ZAPYTANIA OFERTOWEGO NR 113/TZ/IM/2013 Zestaw ma umożliwiać analizę termiczną próbki w symultanicznym układzie

Bardziej szczegółowo

CZĘŚĆ 2 OPIS TECHNICZNY PRZEDMIOTU ZAMÓWIENIA

CZĘŚĆ 2 OPIS TECHNICZNY PRZEDMIOTU ZAMÓWIENIA Nr postępowania GEK/PMR-ELB/08131/2015 Nr rejestru PMR-ELB.290-183/ZK/2015 Zał. nr 1 do Projektu Umowy nr CZĘŚĆ 2 OPIS TECHNICZNY PRZEDMIOTU ZAMÓWIENIA Przedmiotem zamówienia jest: 1. Zakup, dostawa, instalacja

Bardziej szczegółowo

SPECYFIKACJA TECHNICZNA PRZEDMIOTU ZAMÓWIENIA

SPECYFIKACJA TECHNICZNA PRZEDMIOTU ZAMÓWIENIA Załącznik Nr 3 do SIWZ Specyfikacja techniczna Nr sprawy: ZP/3/2012 SPECYFIKACJA TECHNICZNA PRZEDMIOTU ZAMÓWIENIA Na dostawę 1 kpl. spektrometru Ramana w ramach realizacji zadania nr 3 projektu POIG 02.01.00-14-111/09-00

Bardziej szczegółowo

SPECYFIKACJA TECHNICZNA

SPECYFIKACJA TECHNICZNA Załącznik Nr 10 SPECYFIKACJA TECHNICZNA Zakup, dostawa i instalacją dwóch sztuk zestawów elektrochemicznych, stanowiących wyposażenie laboratoryjne dla potrzeb Katolickiego Uniwersytetu Lubelskiego w Stalowej

Bardziej szczegółowo

Opis przedmiotu zamówienia

Opis przedmiotu zamówienia ZP/UR/169/2012 Zał. nr 1a do siwz Opis przedmiotu zamówienia A. Spektrometr ramanowski z mikroskopem optycznym: 1) Spektrometr ramanowski posiadający podwójny tor detekcyjny, wyposażony w chłodzony termoelektrycznie

Bardziej szczegółowo

Spektrometry Ramana JASCO serii NRS-5000/7000

Spektrometry Ramana JASCO serii NRS-5000/7000 Spektrometry Ramana JASCO serii NRS-5000/7000 Najnowsza seria badawczych, siatkowych spektrometrów Ramana japońskiej firmy Jasco zapewnia wysokiej jakości widma. Zastosowanie najnowszych rozwiązań w tej

Bardziej szczegółowo

Wymagane parametry dla platformy do mikroskopii korelacyjnej

Wymagane parametry dla platformy do mikroskopii korelacyjnej Strona1 ROZDZIAŁ IV OPIS PRZEDMIOTU ZAMÓWIENIA Wymagane parametry dla platformy do mikroskopii korelacyjnej Mikroskopia korelacyjna łączy dane z mikroskopii świetlnej i elektronowej w celu określenia powiązań

Bardziej szczegółowo

OPIS PRZEDMIOTU ZAMÓWIENIA

OPIS PRZEDMIOTU ZAMÓWIENIA OPIS PRZEDMIOTU ZAMÓWIENIA Przedmiotem zamówienia jest: dostawa analizatora termograwimetrycznego sprzężonego ze spektrometrem FT-IR i spektrometrem masowym wraz z: oprogramowaniem sterującym, wyposażeniem,

Bardziej szczegółowo

Dotyczy: Specyfikacji Istotnych Warunków Zamówienia do przetargu nieograniczonego na dostawę mikroskopu elektronowego - numer Zp/pn/76/2015

Dotyczy: Specyfikacji Istotnych Warunków Zamówienia do przetargu nieograniczonego na dostawę mikroskopu elektronowego - numer Zp/pn/76/2015 Dęblin, dnia 16.09.2015 r. Dotyczy: Specyfikacji Istotnych Warunków Zamówienia do przetargu nieograniczonego na dostawę mikroskopu elektronowego - numer Zp/pn/76/2015 NA PYTANIE DO SPECYFIKACJI ISTOTNYCH

Bardziej szczegółowo

Postępowanie WB RM ZAŁĄCZNIK NR Mikroskop odwrócony z fluorescencją

Postępowanie WB RM ZAŁĄCZNIK NR Mikroskop odwrócony z fluorescencją Postępowanie WB.2410.6.2016.RM ZAŁĄCZNIK NR 5 L.p. Nazwa asortymentu Ilość Nazwa wyrobu, nazwa producenta, określenie marki, modelu, znaku towarowego Cena jednostkowa netto (zł) Wartość netto (zł) (kolumna

Bardziej szczegółowo

SPECYFIKACJA TECHNICZNA

SPECYFIKACJA TECHNICZNA Załącznik Nr 6 SPECYFIKACJA TECHNICZNA Zakup maszyn i urządzeń dla Oddziału Politechniki Rzeszowskiej w Stalowej Woli. Wyposażenie Katedry Technologii Maszyn i Organizacji Produkcji w ramach Laboratorium

Bardziej szczegółowo

Szczegółowa charakterystyka przedmiotu zamówienia

Szczegółowa charakterystyka przedmiotu zamówienia Szczegółowa charakterystyka przedmiotu zamówienia Przedmiotem zamówienia jest dostawa i uruchomienie zestawu termowizyjnego wysokiej rozdzielczości wraz z wyposażeniem o parametrach zgodnych z określonymi

Bardziej szczegółowo

Podpis osoby upoważnionej do złożenia oferty

Podpis osoby upoważnionej do złożenia oferty AE/ZP-27-101/14 Załącznik nr 6 Wymagane i oferowane parametry techniczne aparatu USG dla O/Ginekologiczno-Położniczego 1 szt. Lp. Wymagania Zamawiającego Warunek graniczny Punktacja w kryterium okres gwarancji

Bardziej szczegółowo

AE/ZP-27-12/15 Załącznik nr 6 Wymagane i oferowane parametry techniczne aparatu USG dla O/Ginekologiczno-Położniczego 1 szt. Tak

AE/ZP-27-12/15 Załącznik nr 6 Wymagane i oferowane parametry techniczne aparatu USG dla O/Ginekologiczno-Położniczego 1 szt. Tak AE/ZP-27-12/15 Załącznik nr 6 Wymagane i oferowane parametry techniczne aparatu USG dla O/Ginekologiczno-Położniczego 1 szt. Lp. Wymagania Zamawiającego Warunek graniczny Punktacja w kryterium okres gwarancji

Bardziej szczegółowo

FORMULARZ WYMAGANYCH WARUNKÓW TECHNICZNYCH

FORMULARZ WYMAGANYCH WARUNKÓW TECHNICZNYCH Załącznik Nr 2 WYMAGANIA BEZWZGLĘDNE: FORMULARZ WYMAGANYCH WARUNKÓW TECHNICZNYCH Przedmiotem zamówienia jest dostawa i instalacja fabrycznie nowego skaningowego mikroskopu elektronowego (SEM) ze zintegrowanym

Bardziej szczegółowo

RFT-6000 Przystawka FT-Raman do spektrometru FT/IR-6300

RFT-6000 Przystawka FT-Raman do spektrometru FT/IR-6300 RFT-6000 Przystawka FT-Raman do spektrometru FT/IR-6300 Model RFT-6000 został zaprojektowany w celu wykonywania szybkich, nieinwazyjnych analiz FT-Raman właściwie wszystkich możliwych próbek we współpracy

Bardziej szczegółowo

1. MIKROSKOP BADAWCZY (1 SZT.) Z SYSTEMEM KONTRASTU NOMARSKIEGO DIC ORAZ CYFROWĄ DOKUMENTACJĄ I ANALIZĄ OBRAZU WRAZ Z OPROGRAMOWANIEM

1. MIKROSKOP BADAWCZY (1 SZT.) Z SYSTEMEM KONTRASTU NOMARSKIEGO DIC ORAZ CYFROWĄ DOKUMENTACJĄ I ANALIZĄ OBRAZU WRAZ Z OPROGRAMOWANIEM 1. MIKROSKOP BADAWCZY (1 SZT.) Z SYSTEMEM KONTRASTU NOMARSKIEGO DIC ORAZ CYFROWĄ DOKUMENTACJĄ I ANALIZĄ OBRAZU WRAZ Z OPROGRAMOWANIEM Producent:... Typ/model:... Kraj pochodzenia:... LP. 1. Minimalne wymagane

Bardziej szczegółowo

Kamera termowizyjna MobIR M8. Dane Techniczne

Kamera termowizyjna MobIR M8. Dane Techniczne Kamera termowizyjna MobIR M8 Dane Techniczne Termowizyjny Typ detektora: Zakres spektralny: Czułość sensora: Pole widzenia/ Ogniskowa: Ostrzenie obrazu: Zbliżenie elektroniczne: Obraz Niechłodzony FPA

Bardziej szczegółowo

Poza tym zaawansowanym systemem elektromechanicznego zadawania siły, FALCON oferuje najwyższą jakość mechaniczną i optyczną wszystkich komponentów.

Poza tym zaawansowanym systemem elektromechanicznego zadawania siły, FALCON oferuje najwyższą jakość mechaniczną i optyczną wszystkich komponentów. FALCON 500 Seria twardościomierzy micro Vickersa, Vickersa oraz Brinella FALCON 500 to najnowsze osiągniecie firmy INNOVATEST. Jest to zupełnie nowa generacja twardościomierzy eliminująca błąd użytkownika

Bardziej szczegółowo

PRZEDMIOT ZAMÓWIENIA: DOSTAWA FABRYCZNIE NOWEGO PROFILOMETRU OPTYCZNEGO WRAZ Z WYPOSAśENIEM I AKCESORIAMI

PRZEDMIOT ZAMÓWIENIA: DOSTAWA FABRYCZNIE NOWEGO PROFILOMETRU OPTYCZNEGO WRAZ Z WYPOSAśENIEM I AKCESORIAMI CZĘŚĆ 1. Załącznik nr 1 PRZEDMIOT ZAMÓWIENIA: DOSTAWA FABRYCZNIE NOWEGO PROFILOMETRU OPTYCZNEGO WRAZ Z WYPOSAśENIEM I AKCESORIAMI CPV: 38540000-2 - Maszyny i aparatura badawcza i pomiarowa 48463000-1 Pakiety

Bardziej szczegółowo

Oferowany przedmiot zamówienia

Oferowany przedmiot zamówienia Załącznik Nr 1 do oferty Modyfikacja nr 1 SIWZ Postępowanie Nr ZP/50/2011 Oferowany przedmiot zamówienia Lp. Opis Nazwa asortymentu, typ, model, nr katalogowy, nazwa producenta *) Il. szt. I. Spektrofotometr

Bardziej szczegółowo

Charakterystyka przedmiotu zamówienia

Charakterystyka przedmiotu zamówienia Załącznik nr 5 do siwz W/NO/ZP-2/12 Charakterystyka przedmiotu zamówienia Ilekroć w treści siwz, w tym w opisie przedmiotu zamówienia, użyte są znaki towarowe, patenty lub pochodzenie, a także normy, Zamawiający

Bardziej szczegółowo

NRS-3000 Systems wysoko wydajne spektrofotometry rozpraszającego Raman

NRS-3000 Systems wysoko wydajne spektrofotometry rozpraszającego Raman NRS-3000 Systems wysoko wydajne spektrofotometry rozpraszającego Raman Wyższa czułość, niezawodność i łatwość obsługi Mikro-spektrometry serii NRS-3000 wykorzystują najnowsze rozwiązania optyczne oraz

Bardziej szczegółowo

Mikroskopy szkolne Mbl 101 b binokular monokularowa Mbl 101 M Mbl 120 b binokularowa Mbl 120 M Mbl 120 t Mbl 120 lcd typ rodzaj nr kat.

Mikroskopy szkolne Mbl 101 b binokular monokularowa Mbl 101 M Mbl 120 b binokularowa Mbl 120 M Mbl 120 t Mbl 120 lcd typ rodzaj nr kat. Mikroskopy szkolne MBL 101 B Obrotowa nasadka okularowa: : binokular (30 ) Miska rewolwerowa 4 miejscowa Obiektywy achromatyczne: 4 x 0,10 (N.A.),10 x 0,25 (N.A.),40 x 0,65 (N.A.),100 x 1,25 (N.A.) Kondensor

Bardziej szczegółowo

ZADANIE NR 1 APARAT USG Liczba sztuk 1 sztuka Producent: Kraj pochodzenia:.. Oferowany model:.. Rok produkcji min. 2014 :...

ZADANIE NR 1 APARAT USG Liczba sztuk 1 sztuka Producent: Kraj pochodzenia:.. Oferowany model:.. Rok produkcji min. 2014 :... Załącznik nr 1 do SIWZ ZADANIE NR 1 APARAT USG Liczba sztuk 1 sztuka Producent:.. Kraj pochodzenia:.. Oferowany model:.. Rok produkcji min. 2014 :..... Lp Parametry techniczne Warunek graniczny 1 Nowoczesny

Bardziej szczegółowo

Formularz TAK TAK TAK TAK TAK/NIE TAK/NIE

Formularz TAK TAK TAK TAK TAK/NIE TAK/NIE Zestawienie parametrów techniczno użytkowych Aparat USG Doppler do badań naczyniowych Formularz Lp. PARAMETR/WARUNEK WARUNEK GRANICZNY Konstrukcja i konfiguracja 1. Aparat fabrycznie nowy - rok produkcji

Bardziej szczegółowo

Opis przedmiotu zamówienia i wymagania techniczne

Opis przedmiotu zamówienia i wymagania techniczne Załącznik nr 1 Parametry techniczne Opis przedmiotu zamówienia i wymagania techniczne Lp. Opis wymaganego parametru Wartość graniczna Parametry oferowane 1. 2 3 4 I WYMAGANIA OGÓLNE 1 Aparat stacjonarny

Bardziej szczegółowo

Załącznik nr 8. UNIA EUROPEJSKA Europejski Fundusz Rozwoju Regionalnego

Załącznik nr 8. UNIA EUROPEJSKA Europejski Fundusz Rozwoju Regionalnego 1 Załącznik nr 8 OPIS TECHNICZNY PARAMETRY GRANICZNE Fotel pozycjonujący do radioterapii protonowej nowotworów oka na stanowisku radioterapii nowotworów gałki ocznej w CCB, IFJ PAN L.p. Minimalne wymagane

Bardziej szczegółowo

SPECYFIKACJA WYMAGAŃ UŻYTKOWNIKA URZĄDZENIA (URS) Urządzenie: Spektrofotometr (Propozycja zakupu)

SPECYFIKACJA WYMAGAŃ UŻYTKOWNIKA URZĄDZENIA (URS) Urządzenie: Spektrofotometr (Propozycja zakupu) Strona1 Załącznik nr 1 do Zapytania ofertowego z dnia 16.04.2014 r. Str.1/5 1. Wstęp Powstające Laboratorium Technologiczne w ramach działalności CBR planuje oprzeć swoją działalność na hodowlach mikroorganizmów

Bardziej szczegółowo

THICK 800A DO POMIARU GRUBOŚCI POWŁOK. THICK 800A spektrometr XRF do szybkich, nieniszczących pomiarów grubości powłok i ich składu.

THICK 800A DO POMIARU GRUBOŚCI POWŁOK. THICK 800A spektrometr XRF do szybkich, nieniszczących pomiarów grubości powłok i ich składu. THICK 800A DO POMIARU GRUBOŚCI POWŁOK THICK 800A spektrometr XRF do szybkich, nieniszczących pomiarów grubości powłok i ich składu. Zoptymalizowany do pomiaru grubości warstw Detektor Si-PIN o rozdzielczości

Bardziej szczegółowo

Czujniki podczerwieni do bezkontaktowego pomiaru temperatury. Czujniki stacjonarne.

Czujniki podczerwieni do bezkontaktowego pomiaru temperatury. Czujniki stacjonarne. Czujniki podczerwieni do bezkontaktowego pomiaru temperatury Niemiecka firma Micro-Epsilon, której WObit jest wyłącznym przedstawicielem w Polsce, uzupełniła swoją ofertę sensorów o czujniki podczerwieni

Bardziej szczegółowo

TAK, WYMAGA NIE WYMAGA

TAK, WYMAGA NIE WYMAGA Pytania z dnia 07.04.2016 r. w postępowaniu o udzielenie zamówienia publicznego prowadzonego w trybie przetargu nieograniczonego na dostawę wraz z montażem wyświetlacza wielkoformatowego (telebimu) w technologii

Bardziej szczegółowo

SPECYFIKACJA TECHNICZNA

SPECYFIKACJA TECHNICZNA SPECYFIKACJA TECHNICZNA model obciążenia NEXUS 412A analogowy, 2 obiektywy 0.01-0.025-0.05-0.1-0.2-0.3-0.5-1 kgf (HV) NEXUS 413A analogowy, 3 obiektywy 0.01-0.025-0.05-0.1-0.2-0.3-0.5-1 kgf (HV) NEXUS

Bardziej szczegółowo

ODPOWIEDŹ NA PYTANIE NR

ODPOWIEDŹ NA PYTANIE NR Nr sprawy: 66/D/PN/2011 WCB/107/2012 Wrocław, dnia 17.01.2012r. Do wszystkich wykonawców Dotyczy: Przetargu nieograniczonego na dostawę wraz z montażem, uruchomieniem i bezpłatnym instruktażem personelu

Bardziej szczegółowo

Przewaga klasycznego spektrometru Ramana czyli siatkowego, dyspersyjnego nad przystawką ramanowską FT-Raman

Przewaga klasycznego spektrometru Ramana czyli siatkowego, dyspersyjnego nad przystawką ramanowską FT-Raman Porównanie Przewaga klasycznego spektrometru Ramana czyli siatkowego, dyspersyjnego nad przystawką ramanowską FT-Raman Spektroskopia FT-Raman Spektroskopia FT-Raman jest dostępna od 1987 roku. Systemy

Bardziej szczegółowo

SIGMACHECK. Przenośny miernik pomiaru przewodności właściwej prądami wirowymi. TechControl s.c. ul. Gdyńska Racibórz Poland

SIGMACHECK. Przenośny miernik pomiaru przewodności właściwej prądami wirowymi. TechControl s.c. ul. Gdyńska Racibórz Poland Przenośny miernik pomiaru przewodności właściwej prądami wirowymi SIGMACHECK Miernik przewodności właściwej Sigmacheck został zaprojektowany w sposób aby zapewnić najdokładniejszy pomiar, oferując użytkownikowi

Bardziej szczegółowo

Mikroskop pomiarowy 3D z głowicą konfokalną do analizy topografii powierzchni - Ilość: 1 kpl.

Mikroskop pomiarowy 3D z głowicą konfokalną do analizy topografii powierzchni - Ilość: 1 kpl. Zamówienie publiczne w trybie przetargu nieograniczonego nr ZP/PN/17/2014 Przedmiot postępowania: Dostawa mikroskopu pomiarowego 3D z głowicą konfokalną do analizy mikrostruktury i topografii powierzchni

Bardziej szczegółowo

OPIS PRZEDMIOTU ZAMÓWIENIA Ultrasonograf z trzema głowicami oraz kolorowym Dopplerem

OPIS PRZEDMIOTU ZAMÓWIENIA Ultrasonograf z trzema głowicami oraz kolorowym Dopplerem Znak sprawy: 19/WOMP ZCLiP / 2013 Załącznik nr 1A do Specyfikacji Istotnych Warunków Zamówienia. OPIS PRZEDMIOTU ZAMÓWIENIA Ultrasonograf z trzema głowicami oraz kolorowym Dopplerem Nazwa aparatu:... Producent:...

Bardziej szczegółowo

SPECYFIKACJA TECHNICZNA. Wymagane Parametry Techniczne i Eksploatacyjne POLOMIERZA

SPECYFIKACJA TECHNICZNA. Wymagane Parametry Techniczne i Eksploatacyjne POLOMIERZA Załącznik nr 4 do SIWZ nr SZPZOZ /ZP/02/20 z dnia 23.03.20 r. SPECYFIKACJA TECHNICZNA Wymagane Parametry Techniczne i Eksploatacyjne POLOMIERZA (tekst jednolity ostateczny z dnia 20.04.20 roku) POLOMIERZ:

Bardziej szczegółowo

SPECYFIKACJA TECHNICZNA SYSTEMU TELEWIZJI PRZEMYSŁOWEJ Łódź 2015

SPECYFIKACJA TECHNICZNA SYSTEMU TELEWIZJI PRZEMYSŁOWEJ Łódź 2015 Załącznik nr 4 do SIWZ/Nr 1 do umowy Nr postępowania OI/IP/031/2015 SPECYFIKACJA TECHNICZNA SYSTEMU TELEWIZJI PRZEMYSŁOWEJ Łódź 2015 1. Założenia ogólne System telewizji przemysłowej/dozorowej ma być integralną

Bardziej szczegółowo

SPEKTROFOTOMETR UV/Vis T60 firmy PG Instruments

SPEKTROFOTOMETR UV/Vis T60 firmy PG Instruments SPEKTROFOTOMETR UV/Vis T60 firmy PG Instruments PG Instruments wieloletni producent spektrofotometrów oraz systemów ASA przedstawia jeden z najbardziej zaawansowanych w swojej klasie spektrofotometrów

Bardziej szczegółowo

OFERTA 0001-CENA 3300 ZŁ

OFERTA 0001-CENA 3300 ZŁ OFERTA 0001-CENA 3300 ZŁ PROFESJONALNY ZESTAW DO MONITORINGU 4 KAMERY WANDALOODPORNE KONIG - SOLIDNA OBUDOWA W skład zestawu wchodzi: - REJESTRATOR CYFROWY DVS-0404DR (nr kat. 9342) 4 kanałowy cyfrowy

Bardziej szczegółowo

Czy zamawiający dopuści do przetargu wysokiej klasy aparat renomowanego producenta o maksymalnej dynamice systemu do 255dB?

Czy zamawiający dopuści do przetargu wysokiej klasy aparat renomowanego producenta o maksymalnej dynamice systemu do 255dB? Stargard Szczeciński, 16.10.2015 r. OFERENCI dotyczy: Przetargu nieograniczonego nr 11/n/do/2015 r. na dostawę, instalację, i uruchomienie aparatu ultrasonograficznego wraz z głowicami dla Pracowni USG

Bardziej szczegółowo

Przedmiot zamówienia: Aparat USG z kolorowym Dopplerem oraz głowicami convexową, liniową, sektorową i endovaginalną

Przedmiot zamówienia: Aparat USG z kolorowym Dopplerem oraz głowicami convexową, liniową, sektorową i endovaginalną Załącznik nr 1a do oferty CZĘŚĆ I. OPIS PRZEDMIOTU ZAMÓWIENIA Przedmiot zamówienia: Aparat USG z kolorowym Dopplerem oraz głowicami convexową, liniową, sektorową i endovaginalną ZESTAWIENIE PARAMETRÓW

Bardziej szczegółowo

Znak postępowania: CEZAMAT/ZP11/2015/F Warszawa, 4.05.2015 r. L. dz. CEZ - 134/15 ODPOWIEDZI NA PYTANIA DO SPECYFIKACJI ISTOTNYCH WARUNKÓW ZAMÓWIENIA

Znak postępowania: CEZAMAT/ZP11/2015/F Warszawa, 4.05.2015 r. L. dz. CEZ - 134/15 ODPOWIEDZI NA PYTANIA DO SPECYFIKACJI ISTOTNYCH WARUNKÓW ZAMÓWIENIA Znak postępowania: CEZAMAT/ZP11/2015/F Warszawa, 4.05.2015 r. L. dz. CEZ - 134/15 ODPOWIEDZI NA PYTANIA DO SPECYFIKACJI ISTOTNYCH WARUNKÓW ZAMÓWIENIA Dotyczy postępowania prowadzonego w trybie przetargu

Bardziej szczegółowo

Najnowszej generacji długościomierz z trzema osiami sterowanymi w trybie CNC

Najnowszej generacji długościomierz z trzema osiami sterowanymi w trybie CNC Renens, Lipiec 2009 Trimos S.A. Av.de Longe m alle 5 C H- 1020 Renens T. +41 21 633 01 12 F. +41 21 633 01 02 Najnowszej generacji długościomierz z trzema osiami sterowanymi w trybie CNC Najwyższa dokładność

Bardziej szczegółowo

Rejestratory Sił, Naprężeń.

Rejestratory Sił, Naprężeń. JAS Projektowanie Systemów Komputerowych Rejestratory Sił, Naprężeń. 2012-01-04 2 Zawartość Typy rejestratorów.... 4 Tryby pracy.... 4 Obsługa programu.... 5 Menu główne programu.... 7 Pliki.... 7 Typ

Bardziej szczegółowo

na dostawę endoskopu z wyposażeniem wraz z laserowymi narzędziami do pomiarów geometrycznych elementów maszyn

na dostawę endoskopu z wyposażeniem wraz z laserowymi narzędziami do pomiarów geometrycznych elementów maszyn Warszawa, dnia 22.10.2015r. ZAPYTANIE OFERTOWE na dostawę endoskopu z wyposażeniem wraz z laserowymi narzędziami do pomiarów geometrycznych elementów maszyn Do niniejszego postępowania nie mają zastosowania

Bardziej szczegółowo

OBLIGATORYJNE WYMAGANIA TECHNICZNE CZĘŚĆ II DRUKARKI I SKANERY

OBLIGATORYJNE WYMAGANIA TECHNICZNE CZĘŚĆ II DRUKARKI I SKANERY Załącznik nr 3B do SIWZ.. Pieczęć firmowa Wykonawcy OBLIGATORYJNE WYMAGANIA TECHNICZNE CZĘŚĆ II DRUKARKI I SKANERY A. DRUKARKI LASEROWE - 12 sztuk 1. 2 sztuki z dodatkowym podajnikiem Producent, model,

Bardziej szczegółowo

Pomiar drogi koherencji wybranych źródeł światła

Pomiar drogi koherencji wybranych źródeł światła Politechnika Gdańska WYDZIAŁ ELEKTRONIKI TELEKOMUNIKACJI I INFORMATYKI Katedra Optoelektroniki i Systemów Elektronicznych Pomiar drogi koherencji wybranych źródeł światła Instrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego

Bardziej szczegółowo

hurtowniakamer.com.pl

hurtowniakamer.com.pl Kamera Sunell SN-FXP59/21UIR Cena : 382,00 zł (netto) 469,86 zł (brutto) Producent : Sunell Dostępność : Dostępny Stan magazynowy : brak w magazynie Średnia ocena : brak recenzji Utworzono 27-09-2016 Kamera

Bardziej szczegółowo

WYJAŚNIENIE TREŚCI SIWZ

WYJAŚNIENIE TREŚCI SIWZ Warszawa, dnia 17.11.2015r. WYJAŚNIENIE TREŚCI SIWZ Dotyczy przetargu nieograniczonego na: Dostawa stołowego skaningowego mikroskopu elektronowego wraz z wyposażeniem dla Instytutu Technologii Materiałów

Bardziej szczegółowo

SZCZEGÓŁOWY OPIS PRZEDMIOTU ZAMÓWIENIA I WYMAGAŃ TECHNICZNYCH DOTYCZĄCYCH DOSTAWY SPRZĘTU KOMPUTEROWEGO WRAZ Z OPROGRAMOWANIEM (ZADANIE NR 1)

SZCZEGÓŁOWY OPIS PRZEDMIOTU ZAMÓWIENIA I WYMAGAŃ TECHNICZNYCH DOTYCZĄCYCH DOSTAWY SPRZĘTU KOMPUTEROWEGO WRAZ Z OPROGRAMOWANIEM (ZADANIE NR 1) Projekt współfinansowany przez Unię Europejską ze środków Europejskiego Funduszu Rozwoju Regionalnego w ramach Programu Operacyjnego Innowacyjna Gospodarka 2007-2013 Załącznik nr 6 do SIWZ SZCZEGÓŁOWY

Bardziej szczegółowo

SZCZEGÓŁOWY OPIS PRZEDMIOTU ZAMÓWIENIA DLA CZĘŚCI V 1. Lustrzanka cyfrowa liczba sztuk: 6

SZCZEGÓŁOWY OPIS PRZEDMIOTU ZAMÓWIENIA DLA CZĘŚCI V 1. Lustrzanka cyfrowa liczba sztuk: 6 SZCZEGÓŁOWY OPIS PRZEDMIOTU ZAMÓWIENIA DLA CZĘŚCI V 1. Lustrzanka cyfrowa liczba sztuk: 6 Załącznik nr 1 Matryca Obiektyw Ekran LCD Czułość ISO Co najmniej 100-12800 Pomiar światła Filmowanie Złącza APS-C

Bardziej szczegółowo

DOTYCZY: Sygn. akt SZ-222-20/12/6/6/2012

DOTYCZY: Sygn. akt SZ-222-20/12/6/6/2012 Warszawa dn. 2012-08-03 SZ-222-20/12/6/6/2012/ Szanowni Państwo, DOTYCZY: Sygn. akt SZ-222-20/12/6/6/2012 Przetargu nieograniczonego, którego przedmiotem jest " sprzedaż, szkolenie, dostawę, montaż i uruchomienie

Bardziej szczegółowo

Specyfikacja techniczna obrabiarki. wersja 2013-02-03, wg. TEXT VMX42 U ATC40-05 VMX42 U ATC40

Specyfikacja techniczna obrabiarki. wersja 2013-02-03, wg. TEXT VMX42 U ATC40-05 VMX42 U ATC40 Specyfikacja techniczna obrabiarki wersja 2013-02-03, wg. TEXT VMX42 U ATC40-05 VMX42 U ATC40 KONSTRUKCJA OBRABIARKI HURCO VMX42 U ATC40 Wysoka wytrzymałość mechaniczna oraz duża dokładność są najważniejszymi

Bardziej szczegółowo

Zastosowanie deflektometrii do pomiarów kształtu 3D. Katarzyna Goplańska

Zastosowanie deflektometrii do pomiarów kształtu 3D. Katarzyna Goplańska Zastosowanie deflektometrii do pomiarów kształtu 3D Plan prezentacji Metody pomiaru kształtu Deflektometria Zasada działania Stereo-deflektometria Kalibracja Zalety Zastosowania Przykład Podsumowanie Metody

Bardziej szczegółowo

SZCZEGÓŁOWY OPIS PRZEDMIOTU ZAMÓWIENIA I WYMAGAŃ TECHNICZNYCH DOTYCZĄCYCH DOSTAWY SPRZĘTU KOMPUTEROWEGO WRAZ Z OPROGRAMOWANIEM

SZCZEGÓŁOWY OPIS PRZEDMIOTU ZAMÓWIENIA I WYMAGAŃ TECHNICZNYCH DOTYCZĄCYCH DOSTAWY SPRZĘTU KOMPUTEROWEGO WRAZ Z OPROGRAMOWANIEM Załącznik Nr 7 do SIWZ SZCZEGÓŁOWY OPIS PRZEDMIOTU ZAMÓWIENIA I WYMAGAŃ TECHNICZNYCH DOTYCZĄCYCH DOSTAWY SPRZĘTU KOMPUTEROWEGO WRAZ Z OPROGRAMOWANIEM Postanowienia ogólne: 1) Dostawa 30 sztuk zestawów

Bardziej szczegółowo

e. Antena musi spełniać normę min. IP66 12. Zasilacz

e. Antena musi spełniać normę min. IP66 12. Zasilacz OPIS PRZEDMIOTU ZAMÓWIENIA CZĘŚĆ II DOSTAWA SATELITARNYCH TERMINALI DO TRANSMISJI DANYCH L.p. Cecha wymagana przez Zamawiającego Informacja o spełnieniu lub nie spełnieniu wymaganego parametru. *( SPEŁNIA

Bardziej szczegółowo

3GHz (opcja 6GHz) Cyfrowy Analizator Widma GA4063

3GHz (opcja 6GHz) Cyfrowy Analizator Widma GA4063 Cyfrowy Analizator Widma GA4063 3GHz (opcja 6GHz) Wysoka kla sa pomiarowa Duże możliwości pomiarowo -funkcjonalne Wysoka s tabi lność Łatwy w użyc iu GUI Małe wymiary, lekki, przenośny Opis produktu GA4063

Bardziej szczegółowo

SPECYFIKACJA TECHNICZNA. Zakup i dostawa mikroskopów optycznych

SPECYFIKACJA TECHNICZNA. Zakup i dostawa mikroskopów optycznych SPECYFIKACJA TECHNICZNA Zakup i dostawa mikroskopów optycznych 1. WYMAGANIA TECHNICZNE 1.1. Założenia ogólne Przedmiotem zakupu, dostawy oraz instalacji są mikroskopy optyczne (mikroskop stereoskopowy

Bardziej szczegółowo

załącznik nr 2 do SIWZ nr SPZOZ/PN/15/2013 - formularz cenowy przedmiotu zamówienia Zadanie 2 Zestaw do badania układu równowagi i narządu słuchu

załącznik nr 2 do SIWZ nr SPZOZ/PN/15/2013 - formularz cenowy przedmiotu zamówienia Zadanie 2 Zestaw do badania układu równowagi i narządu słuchu załącznik nr 2 do SIWZ nr SPZOZ/PN/15/2013 - formularz cenowy przedmiotu zamówienia Zadanie 2 Zestaw do badania układu równowagi i narządu słuchu Lp Nazwa jm Ilość Cena jednost netto 1 Zestaw do badania

Bardziej szczegółowo

Fundusze europejskie dla rozwoju Polski Wschodniej SPECYFIKACJA ISTOTNYCH WARUNKÓW ZAMÓWIENIA

Fundusze europejskie dla rozwoju Polski Wschodniej SPECYFIKACJA ISTOTNYCH WARUNKÓW ZAMÓWIENIA A-213-1/09 A-2401-8/10 SPECYFIKACJA ISTOTNYCH WARUNKÓW ZAMÓWIENIA W POSTĘPOWANIU O UDZIELENIE ZAMÓWIENIA PUBLICZNEGO W TRYBIE PRZETARGU NIEOGRANICZONEGO NA: Dostawę systemu spektroskopii w podczerwieni

Bardziej szczegółowo

1. Wymagania funkcjonalne dla modułu pozycjonowania patroli zainstalowany moduł musi posiadać następującą funkcjonalność:

1. Wymagania funkcjonalne dla modułu pozycjonowania patroli zainstalowany moduł musi posiadać następującą funkcjonalność: SPECYFIKACJA TECHNICZNA I ZAKRES RZECZOWY załącznik nr 6 do SIWZ nr 1 do umowy 1. Wymagania funkcjonalne dla modułu pozycjonowania patroli zainstalowany moduł musi posiadać następującą funkcjonalność:

Bardziej szczegółowo

Instrukcja instalacji i użytkowania kamery internetowej - 2010-06-02. Sopot 2010-06-02. Andrzej Poszewiecki. University of Gdansk

Instrukcja instalacji i użytkowania kamery internetowej - 2010-06-02. Sopot 2010-06-02. Andrzej Poszewiecki. University of Gdansk Instrukcja instalacji i użytkowania kamery internetowej - 2010-06-02 Sopot 2010-06-02 Andrzej Poszewiecki University of Gdansk Spis treści Czym jest kamera internetowa?... 3 Do czego można użyd kamery

Bardziej szczegółowo

FORMULARZ OFERTY. Nazwa Wykonawcy:... Adres:... e-mail:

FORMULARZ OFERTY. Nazwa Wykonawcy:... Adres:... e-mail: ... pieczęć wykonawcy Załącznik nr 1 FORMULARZ OFERTY Nazwa Wykonawcy:... Adres:... tel./fax:. e-mail: Oferta dla Samodzielnego Publicznego Zespołu Podstawowej Opieki Zdrowotnej w Busku-Zdroju, ul. Sądowa

Bardziej szczegółowo

WYJAŚNIENIE ORAZ MODYFIKACJA treści Specyfikacji Istotnych Warunków Zamówienia

WYJAŚNIENIE ORAZ MODYFIKACJA treści Specyfikacji Istotnych Warunków Zamówienia BIURO OCHRONY RZĄDU Tel. (+48 22) 606 50 00 Tel. (+48 22) 606 51 01 Tel. (+48 22) 606 51 36 Fax (+48 22) 843 26 02 ul. PodchorąŜych 38, 00-463 Warszawa, www.bor.gov.pl, e-mail kancelaria@bor.pl Warszawa,

Bardziej szczegółowo

- Porównanie reflektometrów optycznych - IDEAL OTDR & Noyes M200 - Kolorowy wyświetlacz dotykowy

- Porównanie reflektometrów optycznych - IDEAL OTDR & Noyes M200 - Kolorowy wyświetlacz dotykowy - Porównanie reflektometrów optycznych - IDEAL & Noyes - Specyfikacja ogólna Wyświetlacz IDEAL Quad & MM rozdzielczości Kolorowy wyświetlacz dotykowy Wymiary 250 x 125 x 75 mm 230 x 110 x 70 mm Waga z

Bardziej szczegółowo

Instrument wzorcowy do pomiarów odległości i kątów TYP A - szt. 1

Instrument wzorcowy do pomiarów odległości i kątów TYP A - szt. 1 Sprawa Nr RAP.272. 2. 2015 załącznik nr 6.1 do SIWZ PARAMETRY TEHNIZNE PRZEMIOTU ZAMÓWIENIA Nazwa i adres Wykonawcy:... Instrument wzorcowy do pomiarów odległości i kątów TYP A - szt. 1 zęść 1A Instrument

Bardziej szczegółowo

Cyfrowy wzmacniacz AED dla przetworników tensometrycznych.

Cyfrowy wzmacniacz AED dla przetworników tensometrycznych. Cyfrowy wzmacniacz AED dla przetworników tensometrycznych. Zamień swoje analogowe przetworniki wagi na cyfrowe. AED sprawia, że wdrażanie systemów sterowania procesami jest łatwe i wygodne. AED przetwarza

Bardziej szczegółowo

SZCZEGÓŁOWY OPIS PRZEDMIOTU ZAMÓWIENIA

SZCZEGÓŁOWY OPIS PRZEDMIOTU ZAMÓWIENIA ZP/UR/153/2013 Załącznik nr 2 do SIWZ SZCZEGÓŁOWY OPIS PRZEDMIOTU ZAMÓWIENIA Zadanie 1 pn: Dostawa mikroskopu metalograficznego Opis przedmiotu zamówienia: Dostarczenie, instalacja, nieodpłatne szkolenie

Bardziej szczegółowo

ZESTAWIENIE PARAMETRÓW TECHNICZNYCH ULTRASONOGRAFU

ZESTAWIENIE PARAMETRÓW TECHNICZNYCH ULTRASONOGRAFU Załącznik nr 2 do SIWZ ZESTAWIENIE PARAMETRÓW TECHNICZNYCH ULTRASONOGRAFU Nazwa aparatu /model.. Producent:. Kraj pochodzenia:. Rok produkcji... LP Parametr Wartość graniczna Oferowane parametry z kolumny

Bardziej szczegółowo

DOTYCZY: Sygn. akt SZ-222-20/12/6/6/2012

DOTYCZY: Sygn. akt SZ-222-20/12/6/6/2012 Warszawa dn. 2012-07-20 SZ-222-20/12/6/6/2012/2713 Szanowni Państwo, DOTYCZY: Sygn. akt SZ-222-20/12/6/6/2012 Przetargu nieograniczonego, którego przedmiotem jest " sprzedaż, szkolenie, dostawę, montaż

Bardziej szczegółowo

OPIS PRZEDMIOTU ZAMÓWIENIA WRAZ Z WYCENĄ DLA CZĘŚCI I

OPIS PRZEDMIOTU ZAMÓWIENIA WRAZ Z WYCENĄ DLA CZĘŚCI I Załącznik nr 1a do SIWZ OPIS PRZEDMIOTU ZAMÓWIENIA WRAZ Z WYCENĄ DLA CZĘŚCI I Część I Dostawa i instalacja fabrycznie nowych urządzeń: Suszarka mrożeniowa z pompą turbomolekularną i wyposażeniem, kamera

Bardziej szczegółowo

Część A - Emisyjny spektrometr optyczny ze wzbudzeniem plazmowym ICP

Część A - Emisyjny spektrometr optyczny ze wzbudzeniem plazmowym ICP Sprawa Nr RAP.272. 80. 2014 załącznik nr 6 do SIWZ (pieczęć Wykonawcy) PARAMETRY TECHNICZNE PRZEDMIOTU ZAMÓWIENIA Nazwa i adres Wykonawcy:... Nazwa i typ (producent) oferowanego urządzenia:... Nazwa przedmiotu

Bardziej szczegółowo

Lp. wymagane. 1. Nazwa producenta podać. 2. Model/ Typ aparatu podać. 3. Kraj pochodzenia podać

Lp. wymagane. 1. Nazwa producenta podać. 2. Model/ Typ aparatu podać. 3. Kraj pochodzenia podać Parametry techniczno- użytkowe załącznik nr 1 do SIWZ Aparat USG 3D4D położniczo- ginekologiczny do diagnostyki wad prenatalnych z zestawem głowic i możliwością podłączenia do sieci teleinformatycznej

Bardziej szczegółowo

HART-COM - modem / przenośny komunikator HART

HART-COM - modem / przenośny komunikator HART CECHY Kalibracja przyrządów obiektowych wyposażonych w protokół HART Praca jako przenośny komunikator HART lub modem HART / USB Wbudowany zasilacz przetworników 2-przew. Wbudowana funkcja rezystora 250Ω

Bardziej szczegółowo

ScrappiX. Urządzenie do wizyjnej kontroli wymiarów oraz kontroli defektów powierzchni

ScrappiX. Urządzenie do wizyjnej kontroli wymiarów oraz kontroli defektów powierzchni ScrappiX Urządzenie do wizyjnej kontroli wymiarów oraz kontroli defektów powierzchni Scrappix jest innowacyjnym urządzeniem do kontroli wizyjnej, kontroli wymiarów oraz powierzchni przedmiotów okrągłych

Bardziej szczegółowo

Wdrożenie innowacyjnego sposobu otrzymywania ściany budynku lub budowli o podwyższonej termoizolacyjności oraz uproszczenie montażu elementów modułu.

Wdrożenie innowacyjnego sposobu otrzymywania ściany budynku lub budowli o podwyższonej termoizolacyjności oraz uproszczenie montażu elementów modułu. Łódź, dnia 22.01.2014 r. Commercecon Spółka z ograniczoną odpowiedzialnością Spółka Komandytowa (nazwa Beneficjenta) 727-27-41-139 (NIP) 100649281 (REGON) Wdrożenie innowacyjnego sposobu otrzymywania ściany

Bardziej szczegółowo

Kamera termowizyjna. testo 885 wszechstronna, profesjonalna i precyzyjna. www.testo.com.pl. Rozdzielczość detektora 320x240 pikseli

Kamera termowizyjna. testo 885 wszechstronna, profesjonalna i precyzyjna. www.testo.com.pl. Rozdzielczość detektora 320x240 pikseli Kamera termowizyjna testo 885 wszechstronna, profesjonalna i precyzyjna Rozdzielczość detektora 320x240 pikseli SuperResolution rozdzielczość 640x480 pikseli Czułość termiczna

Bardziej szczegółowo

Załącznik nr 1. Specyfikacja techniczna dla dostawy 1 szt. automatycznego analizatora stężenia benzenu w powietrzu atmosferycznym.

Załącznik nr 1. Specyfikacja techniczna dla dostawy 1 szt. automatycznego analizatora stężenia benzenu w powietrzu atmosferycznym. Załącznik nr 1 Specyfikacja techniczna dla dostawy 1 szt. automatycznego analizatora stężenia benzenu w powietrzu atmosferycznym. Tabela 1. Wymagania ogólne Lp. 1. Opis zadania Opis 2. Dokumentacja techniczna

Bardziej szczegółowo

Załącznik nr 2 do SIWZ (Załącznik nr 2 do umowy) Opis przedmiotu zamówienia/zestawienie parametrów technicznych

Załącznik nr 2 do SIWZ (Załącznik nr 2 do umowy) Opis przedmiotu zamówienia/zestawienie parametrów technicznych Załącznik nr 2 do SIWZ (Załącznik nr 2 do umowy) Opis przedmiotu zamówienia/zestawienie parametrów technicznych Nr postępowania: DZP.272-26/14 1. Przedmiotem zamówienia publicznego jest dostarczenie i

Bardziej szczegółowo

SPECYFIKACJA TECHNICZNA SYSTEMU TELEWIZJI PRZEMYSŁOWEJ/DOZOROWEJ Łódź 2014

SPECYFIKACJA TECHNICZNA SYSTEMU TELEWIZJI PRZEMYSŁOWEJ/DOZOROWEJ Łódź 2014 Załącznik nr 5 do SIWZ/ nr 1 do Umowy Postępowanie nr OI/PP/171/2014 SPECYFIKACJA TECHNICZNA SYSTEMU TELEWIZJI PRZEMYSŁOWEJ/DOZOROWEJ Łódź 2014 1. Założenia ogólne System telewizji przemysłowej/dozorowej

Bardziej szczegółowo

Postępowanie WB.2420.7.2012.NG ZAŁĄCZNIK NR 6. Wartość netto (zł) (kolumna 3x5) Nazwa asortymentu parametry techniczne

Postępowanie WB.2420.7.2012.NG ZAŁĄCZNIK NR 6. Wartość netto (zł) (kolumna 3x5) Nazwa asortymentu parametry techniczne Postępowanie WB.2420.7.2012.NG ZAŁĄCZNIK NR 6 L.p. Nazwa asortymentu parametry techniczne Ilość Nazwa wyrobu, nazwa producenta, określenie marki, modelu, znaku towarowego Cena jednostkowa netto (zł) Wartość

Bardziej szczegółowo

Stanowisko do pomiaru fotoprzewodnictwa

Stanowisko do pomiaru fotoprzewodnictwa Stanowisko do pomiaru fotoprzewodnictwa Kraków 2008 Układ pomiarowy. Pomiar czułości widmowej fotodetektorów polega na pomiarze fotoprądu w funkcji długości padającego na detektor promieniowania. Stanowisko

Bardziej szczegółowo

Opis przedmiotu zamówienia

Opis przedmiotu zamówienia 1 Załącznik nr 1 do Specyfikacji Istotnych Warunków Zamówienia Opis przedmiotu zamówienia Przedstawione niżej szczegółowe parametry zamawianej aparatury są parametrami minimalnymi. Wykonawca może zaproponować

Bardziej szczegółowo

Lp. Parametry Wymagane Warunek Opisać 1 Serwer 1.1 Producent oprogramowania Podać 1.2 Kraj pochodzenia Podać 1.3. Wymóg.

Lp. Parametry Wymagane Warunek Opisać 1 Serwer 1.1 Producent oprogramowania Podać 1.2 Kraj pochodzenia Podać 1.3. Wymóg. Lp. Parametry Wymagane Warunek Opisać 1 Serwer 1.1 Producent oprogramowania Podać 1.2 Kraj pochodzenia Podać 1.3 Licencja bezterminowa na jeden serwer fizyczny 2 System operacyjny serwera 2.1 System operacyjny

Bardziej szczegółowo

Przygotuj się na przyszłość!

Przygotuj się na przyszłość! Przygotuj się na przyszłość! Zobacz więcej. Oferuj więcej. Z kamerą termowizyjną Testo osiągnij kolejny poziom profesjonalizmu! testo 880 - profesjonalna tecnologia pomiarowa w nowym wymiarze cenowym.

Bardziej szczegółowo

IR II. 12. Oznaczanie chloroformu w tetrachloroetylenie metodą spektrofotometrii w podczerwieni

IR II. 12. Oznaczanie chloroformu w tetrachloroetylenie metodą spektrofotometrii w podczerwieni IR II 12. Oznaczanie chloroformu w tetrachloroetylenie metodą spektrofotometrii w podczerwieni Promieniowanie podczerwone ma naturę elektromagnetyczną i jego absorpcja przez materię podlega tym samym prawom,

Bardziej szczegółowo

Specyfikacja techniczna

Specyfikacja techniczna Specyfikacja techniczna zał. nr. 1 do SIWZ Producent: Nazwa aparatu, typ, model: Rok produkcji,( wymagany 2008, fabrycznie nowy, model nie używany do prezentacji) Jednostka/ wartość Szczegółowy opis Lp.

Bardziej szczegółowo

na dostawę rejestratorów z radiową transmisją danych

na dostawę rejestratorów z radiową transmisją danych Warszawa, dnia 17.08.2015 r. ZAPYTANIE OFERTOWE na dostawę rejestratorów z radiową transmisją danych Do niniejszego postępowania nie mają zastosowania przepisy ustawy Prawo zamówień publicznych. 1. NAZWA

Bardziej szczegółowo

Załącznik nr 2a do SIWZ postęp. A120-211-169/15/SS szczegółowy opis przedmiotu zamówienia

Załącznik nr 2a do SIWZ postęp. A120-211-169/15/SS szczegółowy opis przedmiotu zamówienia Załącznik nr 2a do SIWZ postęp. A120-211-169/15/SS szczegółowy opis przedmiotu zamówienia Dostawa wraz z instalacją systemu do ultra wysokosprawnej chromatografii cieczowej UHPLC oraz preparatywnego systemu

Bardziej szczegółowo

Do wszystkich wykonawców

Do wszystkich wykonawców ZSP3.ZP.1.2013 Tarnobrzeg 18.01.2013r. Do wszystkich wykonawców Dotyczy : przetargu nieograniczonego pn. Dostawa komputerowego oraz wyposażenia multimedialnego dla Zespołu Szkól Ponadgimnazjalnych nr 3

Bardziej szczegółowo

OPIS PRZEDMIOTU ZAMÓWIENIA, FORMULARZ ASORTYMENTOWO-CENOWY

OPIS PRZEDMIOTU ZAMÓWIENIA, FORMULARZ ASORTYMENTOWO-CENOWY Załącznik nr 2.8 do SIWZ OPIS PRZEDMIOTU ZAMÓWIENIA, FORMULARZ ASORTYMENTOWO-CENOWY Pełna nazwa urządzenia, typ, marka i model, kraj pochodzenia, deklarowana klasa wyrobu (podać): Producent (podać): Rok

Bardziej szczegółowo

Załącznik nr 6 do SIWZ. 1. Stacja robocza 46 szt. NAZWA PRODUCENTA: NUMER PRODUKTU (part number):

Załącznik nr 6 do SIWZ. 1. Stacja robocza 46 szt. NAZWA PRODUCENTA: NUMER PRODUKTU (part number): Załącznik nr 6 do SIWZ 1. Stacja robocza 46 szt. NUMER PRODUKTU (part number): LP. Atrybut Parametr wymagany Opis parametru urządzenia 1. Procesor Min. 2-rdzeniowy, osiągający w teście PassMark CPU Mark

Bardziej szczegółowo

PULSOKSYMETR sieciowo akumulatorowy dla dzieci do opieki domowej 3 sztuki

PULSOKSYMETR sieciowo akumulatorowy dla dzieci do opieki domowej 3 sztuki Załącznik nr 4 Pakiet nr 2 PULSOKSYMETR sieciowo akumulatorowy dla dzieci do opieki domowej 3 sztuki Lp. 1. Oferent/Producent Podać 2. Nazwa i typ Podać 3. Deklaracja zgodności 4. Rok produkcji 2012 5.

Bardziej szczegółowo

Seria tachimetrów GTS-750

Seria tachimetrów GTS-750 Seria tachimetrów GTS-750 www.topcon.com.pl Seria tachimetrów GTS-750 2 1. Tachimetry GTS-750 Jest to następca pierwszej serii tachimetrów Topcona pracujących pod kontrolą systemu operacyjnego Microsoft

Bardziej szczegółowo

Precyzyjna kamera termowizyjna z unikalnymi funkcjami

Precyzyjna kamera termowizyjna z unikalnymi funkcjami We measure it. Precyzyjna kamera termowizyjna z unikalnymi funkcjami testo 885 Zalety testo 885 Rozmiar detektora 320x240 pikseli Dzięki 76.800 punktom pomiaru temperatury obiekt pomiarowy rejestrowany

Bardziej szczegółowo