Rodzina czujników przemieszczeń w płaszczyźnie z wykorzystaniem interferometrii siatkowej (GI) i plamkowej (DSPI)

Wielkość: px
Rozpocząć pokaz od strony:

Download "Rodzina czujników przemieszczeń w płaszczyźnie z wykorzystaniem interferometrii siatkowej (GI) i plamkowej (DSPI)"

Transkrypt

1 Rodzina czujników przemieszczeń w płaszczyźnie z wykorzystaniem interferometrii siatkowej (GI) i plamkowej (DSPI) Kierownik: Małgorzata Kujawińska Wykonawcy: Leszek Sałbut, Dariusz Łukaszewski, Jerzy Krężel

2 Motywacja Zasada działania czujników Plan Prezentacji Konstrukcja i parametry proponowanych czujników Stanowisko laboratoryjne do testowania głowic czujników Przykładowe zastosowania Podsumowanie

3 Motywacja Zapotrzebowanie rynku na tanie, uniwersalne czujniki przemieszczeo (systemy SHM, inżynieria materiałowa, mechanika eksperymentalna) Ciągły rozwój nowych technologii otwiera nowe możliwości dla miniaturyzacji opracowywanych systemów

4 Zasada działania czujników Interferometria siatkowa (GI)

5 Zasada działania czujników Interferometria plamkowa (DSPI)

6 Zasada działania czujników Porównanie metod Interferometria siatkowa GI Oświetlenie Interferometria plamkowa DPSI Koherentne, skolimowane i symetryczne Przygotowanie obiektu Wielkośd mierzona Pole pomiarowe Czułośd Konieczne nałożenie siatki obiektowej (pamięd siatki o stanie obiektu od momentu nałożenia) Zależne od wielkości siatki obiektowej i średnicy wiązki oświetlającej (u,v) Submikrometrowa Obiekt o powierzchni rozpraszającej (konieczne zbieranie obrazów w dwóch kolejnych stanach obiektu) Zależne od średnicy wiązki oświetlającej

7 Opracowane czujniki Kanał akwizycji danych Kanał oświetlający Wyprowadzenie kabli Zwierciadło PZT Dystans Zwierciadło Siatka Czujnik z niskokosztową głowicą GI Czujnik z hybrydową głowicą GI/DPSI

8 Konstrukcja i parametry proponowanych czujników Modułowa konstrukcja czujników zwiększa ich uniwersalnośd i ułatwia modyfikacje

9 Blok oświetlający Konstrukcja i parametry proponowanych czujników Źródło światła VCSEL (ang. vertical cavity surface light emitting laser) Sterownik źródła światła układ elektroniczny kontrolujący i stabilizujący napięcie Kolimator układ optyczny kolimujący wiązkę wyjściowa z VCSEL a

10 Parametry VCSELa Parametr Długośd fali Konstrukcja i parametry proponowanych czujników Szerokośd spektralna Zmiana długości fali pod wpływem temperatury Wartośd 665 nm <1nm 0,05 nm Wiązka przed i po kolimacji

11 Blok detekcyjny Konstrukcja i parametry proponowanych czujników Obiektyw odwzorowujący zapewnia sprzężenie obiektu badanego z detektorem Kamera CCD/CMOS typu board level

12 Konstrukcja i parametry proponowanych czujników Blok przetwarzania danych Dane przesyłane do komputera za pomocą kabla USB lub firewire (w przyszłości możliwośd montażu modułu bezprzewodowego) Osobne tryby analizy dla obrazów GI, DSPI i obrazów hybrydowych Dane wyjściowe w postaci map przemieszczeo i odkształceo

13 Konstrukcja i parametry proponowanych czujników Konstrukcja mechaniczna Mocowanie kamery CCD/CMOS Mocowanie płytki sterującej VCSEL Korpus główny głowicy i obiektywów Obudowa Mocowanie głowicy pomiarowej

14 Konstrukcja i parametry proponowanych czujników Obudowa głowicy uniwersalna dla obu czujników oraz dedykowane mocowanie

15 Konstrukcja głowicy Replikacja głowicy Konstrukcja i parametry proponowanych czujników Porównanie proponowanych czujników Obiekt badany Czujnik GI Prosta, monolityczna ze szkła lub tworzywa sztucznego Możliwa replikacja niskokosztowa Z nałożoną siatką dyfrakcyjną Siatka odniesienia 1200 l/mm 1200 l/mm Czujnik GI/DSPI Wnękowa z elementów szklanych lub krzemowych Możliwa replikacja w krzemie wymagająca zaawansowanych i kosztowych technologii Z nałożoną siatką dyfrakcyjną lub o powierzchni rozpraszającej

16 Metoda automatycznej analizy obrazów prążkowych (AAOP) Konstrukcja i parametry proponowanych czujników Metody z przestrzennym przesunięciem fazy CNDZF Metody z przestrzennym (CNDZF) i czasowym (CDZF) przesunięciem fazy Wpływ drgań Zminimalizowany Zminimalizowany ale większy niż w przypadku czujnika GI Tryby pracy Tryb GI Tryb GI; tryb DSPI; hybrydowy tryb GI/DSPI Pole pomiarowe 2 mm x 2mm Zakres pomiarowy do 20 µm Czułośd bazowa 417 nm/prążek Rozdzielczośd ok. 5nm po zastosowaniu AAOP Gabaryty czujnika Φ60 mm x 115 mm

17 Stanowisko laboratoryjne do testowania głowic czujników Manipulatory liniowe i kątowe Mocowanie głowicy pomiarowej nad próbką

18 Przykładowe zastosowania Pomiar konstrukcji inżynierskich Obrazy uzyskane głowicą w trybie GI

19 Przykładowe zastosowania Charakterystyka mechaniczna nowych materiałów Obrazy uzyskane głowicą w trybie DSPI

20 Podsumowanie Przedstawiono konstrukcje czujników przemieszczeń w płaszczyźnie z wykorzystaniem metody GI i DSPI Wykorzystano falowodowe głowice pomiarowe monolityczne i wnękowe Przeprowadzono badania modelowe i wstępne testy laboratoryjne czujników potwierdzające założone parametry techniczne Rozpoczęto analizy metrologiczne głowic

21 Zespół realizujący: Małgorzata Kujawińska, Leszek Sałbut, Dariusz Łukaszewski, Jerzy Krężel, Grzegorz Dymny Współpraca: Partnerzy Projektu MONIT Zakład Mikroinżynierii i Fotowoltaiki Politechniki Wrocławskiej (prof. J. Dziuban) Dziękuję

Metody optyczne z wykorzystaniem światła koherentnego do monitorowania i wysokoczułych pomiarów inżynierskich obiektów statycznych i dynamicznych

Metody optyczne z wykorzystaniem światła koherentnego do monitorowania i wysokoczułych pomiarów inżynierskich obiektów statycznych i dynamicznych Metody optyczne z wykorzystaniem światła koherentnego do monitorowania i wysokoczułych pomiarów inżynierskich obiektów statycznych i dynamicznych Kierownik: Małgorzata Kujawioska Wykonawcy: Leszek Sałbut,

Bardziej szczegółowo

Badania elementów i zespołów maszyn laboratorium (MMM4035L)

Badania elementów i zespołów maszyn laboratorium (MMM4035L) Badania elementów i zespołów maszyn laboratorium (MMM4035L) Ćwiczenie 23. Zastosowanie elektronicznej interferometrii obrazów plamkowych (ESPI) do badania elementów maszyn. Opracowanie: Ewelina Świątek-Najwer

Bardziej szczegółowo

ĆWICZENIA LABORATORYJNE Z KONSTRUKCJI METALOWCH. Ć w i c z e n i e H. Interferometria plamkowa w zastosowaniu do pomiaru przemieszczeń

ĆWICZENIA LABORATORYJNE Z KONSTRUKCJI METALOWCH. Ć w i c z e n i e H. Interferometria plamkowa w zastosowaniu do pomiaru przemieszczeń Akademia Górniczo Hutnicza Wydział Inżynierii Mechanicznej i Robotyki Katedra Wytrzymałości, Zmęczenia Materiałów i Konstrukcji Nazwisko i Imię: Nazwisko i Imię: Wydział Górnictwa i Geoinżynierii Grupa

Bardziej szczegółowo

Zastosowanie niekoherentnych metod i systemów optycznych do monitorowania i pomiarów wielkogabarytowych konstrukcji budowlanych oraz maszyn

Zastosowanie niekoherentnych metod i systemów optycznych do monitorowania i pomiarów wielkogabarytowych konstrukcji budowlanych oraz maszyn Zastosowanie niekoherentnych metod i systemów optycznych do monitorowania i pomiarów wielkogabarytowych konstrukcji budowlanych oraz maszyn Małgorzata Kujawińska R. Sitnik, G. Dymny, M. Malesa D. Siwek,

Bardziej szczegółowo

PL B1. System kontroli wychyleń od pionu lub poziomu inżynierskich obiektów budowlanych lub konstrukcyjnych

PL B1. System kontroli wychyleń od pionu lub poziomu inżynierskich obiektów budowlanych lub konstrukcyjnych RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 200981 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 360320 (51) Int.Cl. G01C 9/00 (2006.01) G01C 15/10 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22)

Bardziej szczegółowo

Metody Optyczne w Technice. Wykład 5 Interferometria laserowa

Metody Optyczne w Technice. Wykład 5 Interferometria laserowa Metody Optyczne w Technice Wykład 5 nterferometria laserowa Promieniowanie laserowe Wiązka monochromatyczna Duża koherencja przestrzenna i czasowa Niewielka rozbieżność wiązki Duża moc Największa możliwa

Bardziej szczegółowo

Zastosowanie deflektometrii do pomiarów kształtu 3D. Katarzyna Goplańska

Zastosowanie deflektometrii do pomiarów kształtu 3D. Katarzyna Goplańska Zastosowanie deflektometrii do pomiarów kształtu 3D Plan prezentacji Metody pomiaru kształtu Deflektometria Zasada działania Stereo-deflektometria Kalibracja Zalety Zastosowania Przykład Podsumowanie Metody

Bardziej szczegółowo

Pomiar drogi koherencji wybranych źródeł światła

Pomiar drogi koherencji wybranych źródeł światła Politechnika Gdańska WYDZIAŁ ELEKTRONIKI TELEKOMUNIKACJI I INFORMATYKI Katedra Optoelektroniki i Systemów Elektronicznych Pomiar drogi koherencji wybranych źródeł światła Instrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego

Bardziej szczegółowo

Stanowisko do pomiaru fotoprzewodnictwa

Stanowisko do pomiaru fotoprzewodnictwa Stanowisko do pomiaru fotoprzewodnictwa Kraków 2008 Układ pomiarowy. Pomiar czułości widmowej fotodetektorów polega na pomiarze fotoprądu w funkcji długości padającego na detektor promieniowania. Stanowisko

Bardziej szczegółowo

Planowanie, realizacja i dokumentacja wzorcowego procesu digitalizacji 3D

Planowanie, realizacja i dokumentacja wzorcowego procesu digitalizacji 3D Planowanie, realizacja i dokumentacja wzorcowego procesu digitalizacji 3D obiektów muzealnych Robert Sitnik OGX OPTOGRAPHX Instytut Mikromechaniki i Fotoniki Politechnika Warszawska Plan prezentacji 1)

Bardziej szczegółowo

Rozwiązania firmy Harrer & Kassen do pomiaru gęstości i wilgotności

Rozwiązania firmy Harrer & Kassen do pomiaru gęstości i wilgotności Rozwiązania firmy Harrer & Kassen do pomiaru gęstości i wilgotności Firma Biosens specjalizuje się w spektroskopii. Od czterech lat dostarcza spektrofotometry do pomiaru barwy (zarówno w laboratorium jak

Bardziej szczegółowo

UMO-2011/01/B/ST7/06234

UMO-2011/01/B/ST7/06234 Załącznik nr 5 do sprawozdania merytorycznego z realizacji projektu badawczego Szybka nieliniowość fotorefrakcyjna w światłowodach półprzewodnikowych do zastosowań w elementach optoelektroniki zintegrowanej

Bardziej szczegółowo

MICRON3D skaner do zastosowań specjalnych. MICRON3D scanner for special applications

MICRON3D skaner do zastosowań specjalnych. MICRON3D scanner for special applications Mgr inż. Dariusz Jasiński dj@smarttech3d.com SMARTTECH Sp. z o.o. MICRON3D skaner do zastosowań specjalnych W niniejszym artykule zaprezentowany został nowy skaner 3D firmy Smarttech, w którym do pomiaru

Bardziej szczegółowo

MOŻLIWOŚCI DIAGNOSTYKI WYŁADOWAŃ NIEZUPEŁNYCH POPRZEZ POMIAR ICH PROMIENIOWANIA ULTRAFIOLETOWEGO

MOŻLIWOŚCI DIAGNOSTYKI WYŁADOWAŃ NIEZUPEŁNYCH POPRZEZ POMIAR ICH PROMIENIOWANIA ULTRAFIOLETOWEGO MOŻLIWOŚCI DIAGNOSTYKI WYŁADOWAŃ NIEZUPEŁNYCH POPRZEZ POMIAR ICH PROMIENIOWANIA ULTRAFIOLETOWEGO Autorzy: Jerzy Skubis, Michał Kozioł Toruń, 2019 CEL I ZAKRES BADAŃ Podjęta tematyka badawcza ma na celu

Bardziej szczegółowo

Spektrometry Ramana JASCO serii NRS-5000/7000

Spektrometry Ramana JASCO serii NRS-5000/7000 Spektrometry Ramana JASCO serii NRS-5000/7000 Najnowsza seria badawczych, siatkowych spektrometrów Ramana japońskiej firmy Jasco zapewnia wysokiej jakości widma. Zastosowanie najnowszych rozwiązań w tej

Bardziej szczegółowo

DOTYCZY: Sygn. akt SZ /12/6/6/2012

DOTYCZY: Sygn. akt SZ /12/6/6/2012 Warszawa dn. 2012-07-26 SZ-222-20/12/6/6/2012/ Szanowni Państwo, DOTYCZY: Sygn. akt SZ-222-20/12/6/6/2012 Przetargu nieograniczonego, którego przedmiotem jest " sprzedaż, szkolenie, dostawę, montaż i uruchomienie

Bardziej szczegółowo

Laboratorium Informatyki Optycznej ĆWICZENIE 3. Dwuekspozycyjny hologram Fresnela

Laboratorium Informatyki Optycznej ĆWICZENIE 3. Dwuekspozycyjny hologram Fresnela ĆWICZENIE 3 Dwuekspozycyjny hologram Fresnela 1. Wprowadzenie Holografia umożliwia zapis pełnej informacji o obiekcie, zarówno amplitudowej, jak i fazowej. Dzięki temu można m.in. odtwarzać trójwymiarowe

Bardziej szczegółowo

Cele pracy Badania rozsyłu wiązek świetlnych lamp sygnałowych stosowanych we współczesnych pojazdach samochodowych Stworzenie nowego ćwiczenia laborat

Cele pracy Badania rozsyłu wiązek świetlnych lamp sygnałowych stosowanych we współczesnych pojazdach samochodowych Stworzenie nowego ćwiczenia laborat PRACA DYPLOMOWA INŻYNIERSKA Rumiński Dariusz Badania wybranych elementów optycznoświetlnych oświetlenia sygnałowego pojazdu samochodowego 1 Cele pracy Badania rozsyłu wiązek świetlnych lamp sygnałowych

Bardziej szczegółowo

Laserowe technologie wielowiązkowe oraz dynamiczne formowanie wiązki 25 październik 2017 Grzegorz Chrobak

Laserowe technologie wielowiązkowe oraz dynamiczne formowanie wiązki 25 październik 2017 Grzegorz Chrobak Laserowe technologie wielowiązkowe oraz dynamiczne formowanie wiązki 25 październik 2017 Grzegorz Chrobak Nasdaq: IPG Photonics(IPGP) Zasada działania laserów włóknowych Modułowość laserów włóknowych IPG

Bardziej szczegółowo

Model układu z diodami LED na potrzeby sygnalizacji świetlnej. Czujniki zasolenia przegląd dostepnych rozwiązań

Model układu z diodami LED na potrzeby sygnalizacji świetlnej. Czujniki zasolenia przegląd dostepnych rozwiązań Model układu z diodami LED na potrzeby sygnalizacji świetlnej Projekt i wykonanie modelu sygnalizacji świetlnej na bazie diod LED. Program sterujący układem diod LED na potrzeby sygnalizacji świetlnej

Bardziej szczegółowo

PL B1. Aberracyjny czujnik optyczny odległości w procesach technologicznych oraz sposób pomiaru odległości w procesach technologicznych

PL B1. Aberracyjny czujnik optyczny odległości w procesach technologicznych oraz sposób pomiaru odległości w procesach technologicznych RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 229959 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 421970 (22) Data zgłoszenia: 21.06.2017 (51) Int.Cl. G01C 3/00 (2006.01)

Bardziej szczegółowo

SPRAWOZDANIE NAUKOWE

SPRAWOZDANIE NAUKOWE P R O J E K T B A D A W C Z Y Z A M A W I A N Y PBZ-MiN-009/T11/2003 Elementy i moduły optoelektroniczne do zastosowań w medycynie, przemyśle, ochronie środowiska i technice wojskowej SPRAWOZDANIE NAUKOWE

Bardziej szczegółowo

Dwukanałowy miernik mocy i energii optycznej z detektorami

Dwukanałowy miernik mocy i energii optycznej z detektorami SZCZEGÓŁOWY OPIS PRZEDMIOTU ZAMÓWIENIA Dostawa, wraz z montażem, uruchomieniem i bezpłatnym instruktażem, następującej aparatury naukowo badawczej, fabrycznie nowej i kompletnej: Dwukanałowy miernik mocy

Bardziej szczegółowo

Spektrometr XRF THICK 800A

Spektrometr XRF THICK 800A Spektrometr XRF THICK 800A DO POMIARU GRUBOŚCI POWŁOK GALWANIZNYCH THICK 800A spektrometr XRF do szybkich, nieniszczących pomiarów grubości powłok i ich składu. Zaprojektowany do pomiaru grubości warstw

Bardziej szczegółowo

THICK 800A DO POMIARU GRUBOŚCI POWŁOK. THICK 800A spektrometr XRF do szybkich, nieniszczących pomiarów grubości powłok i ich składu.

THICK 800A DO POMIARU GRUBOŚCI POWŁOK. THICK 800A spektrometr XRF do szybkich, nieniszczących pomiarów grubości powłok i ich składu. THICK 800A DO POMIARU GRUBOŚCI POWŁOK THICK 800A spektrometr XRF do szybkich, nieniszczących pomiarów grubości powłok i ich składu. Zoptymalizowany do pomiaru grubości warstw Detektor Si-PIN o rozdzielczości

Bardziej szczegółowo

Czujniki podczerwieni do bezkontaktowego pomiaru temperatury. Czujniki stacjonarne.

Czujniki podczerwieni do bezkontaktowego pomiaru temperatury. Czujniki stacjonarne. Czujniki podczerwieni do bezkontaktowego pomiaru temperatury Niemiecka firma Micro-Epsilon, której WObit jest wyłącznym przedstawicielem w Polsce, uzupełniła swoją ofertę sensorów o czujniki podczerwieni

Bardziej szczegółowo

Ekonomiczne rozwiązanie do oświetlania obszarów zewnętrznych

Ekonomiczne rozwiązanie do oświetlania obszarów zewnętrznych Lighting Ekonomiczne rozwiązanie do oświetlania obszarów zewnętrznych CoreLine Tempo (mały) CoreLine Tempo (mały) to rodzina ultrawydajnych opraw, będących idealnymi zamiennikami technologii konwencjonalnych

Bardziej szczegółowo

Załącznik nr 8. do sprawozdania merytorycznego z realizacji projektu badawczego

Załącznik nr 8. do sprawozdania merytorycznego z realizacji projektu badawczego Załącznik nr 8 do sprawozdania merytorycznego z realizacji projektu badawczego Szybka nieliniowość fotorefrakcyjna w światłowodach półprzewodnikowych do zastosowań w elementach optoelektroniki zintegrowanej

Bardziej szczegółowo

Ta nowa metoda pomiaru ma wiele zalet w stosunku do starszych technik opartych na pomiarze absorbancji.

Ta nowa metoda pomiaru ma wiele zalet w stosunku do starszych technik opartych na pomiarze absorbancji. CHLOROFILOMIERZ CCM300 Unikalna metoda pomiaru w oparciu o pomiar fluorescencji chlorofilu! Numer katalogowy: N/A OPIS Chlorofilomierz CCM-300 jest unikalnym urządzeniem pozwalającym zmierzyć zawartość

Bardziej szczegółowo

Ekonomiczne rozwiązanie do oświetlania obszarów zewnętrznych

Ekonomiczne rozwiązanie do oświetlania obszarów zewnętrznych Lighting Ekonomiczne rozwiązanie do oświetlania obszarów zewnętrznych to rodzina ultrawydajnych opraw, będących idealnymi zamiennikami technologii konwencjonalnych przy zachowaniu tej samej instalacji

Bardziej szczegółowo

BADANIE I ACHROMATYZACJA PRĄŻKÓW INTERFERENCYJNYCH TWORZONYCH ZA POMOCĄ ZWIERCIADŁA LLOYDA

BADANIE I ACHROMATYZACJA PRĄŻKÓW INTERFERENCYJNYCH TWORZONYCH ZA POMOCĄ ZWIERCIADŁA LLOYDA BADANIE I ACHROMATYZACJA PRĄŻKÓW INTERFERENCYJNYCH TWORZONYCH ZA POMOCĄ ZWIERCIADŁA LLOYDA Celem ćwiczenia jest: 1. demonstracja dużej liczby prążków w interferometrze Lloyda z oświetleniem monochromatycznym,

Bardziej szczegółowo

MG-02L SYSTEM LASEROWEGO POMIARU GRUBOŚCI POLON-IZOT

MG-02L SYSTEM LASEROWEGO POMIARU GRUBOŚCI POLON-IZOT jednoczesny pomiar grubości w trzech punktach niewrażliwość na drgania automatyczna akwizycja i wizualizacja danych pomiarowych archiwum pomiarów analizy statystyczne dla potrzeb systemu zarządzania jakością

Bardziej szczegółowo

PARAMETRY TECHNICZNO UŻYTKOWE Zadanie nr 7 Ploter laserowy 1 szt.

PARAMETRY TECHNICZNO UŻYTKOWE Zadanie nr 7 Ploter laserowy 1 szt. Załącznik nr 7 + OPZ + formularz szacowanie wartości zamówienia PARAMETRY TECHNICZNO UŻYTKOWE Zadanie nr 7 Ploter laserowy 1 szt. Urządzenie musi być fabrycznie nowe, nie dopuszcza się urządzeń powystawowych,

Bardziej szczegółowo

Laboratorium nanotechnologii

Laboratorium nanotechnologii Laboratorium nanotechnologii Zakres zagadnień: - Mikroskopia sił atomowych AFM i STM (W. Fizyki) - Skaningowa mikroskopia elektronowa SEM (WIM) - Transmisyjna mikroskopia elektronowa TEM (IF PAN) - Nanostruktury

Bardziej szczegółowo

Przykłady realizacji dokumentacji przestrzennej obiektów zabytkowych

Przykłady realizacji dokumentacji przestrzennej obiektów zabytkowych Przykłady realizacji dokumentacji przestrzennej obiektów zabytkowych Robert Sitnik OGX OPTOGRAPHX Instytut Mikromechaniki i Fotoniki Politechnika Warszawska Plan prezentacji 1) Techniki odwzorowania współrzędnych

Bardziej szczegółowo

UMO-2011/01/B/ST7/06234

UMO-2011/01/B/ST7/06234 Załącznik nr 7 do sprawozdania merytorycznego z realizacji projektu badawczego Szybka nieliniowość fotorefrakcyjna w światłowodach półprzewodnikowych do zastosowań w elementach optoelektroniki zintegrowanej

Bardziej szczegółowo

Stanowisko do badania zjawiska tłumienia światła w ośrodkach materialnych

Stanowisko do badania zjawiska tłumienia światła w ośrodkach materialnych Stanowisko do badania zjawiska tłumienia światła w ośrodkach materialnych Na rys. 3.1 przedstawiono widok wykorzystywanego w ćwiczeniu stanowiska pomiarowego do badania zjawiska tłumienia światła w ośrodkach

Bardziej szczegółowo

UMO-2011/01/B/ST7/06234

UMO-2011/01/B/ST7/06234 Załącznik nr 4 do sprawozdania merytorycznego z realizacji projektu badawczego Szybka nieliniowość fotorefrakcyjna w światłowodach półprzewodnikowych do zastosowań w elementach optoelektroniki zintegrowanej

Bardziej szczegółowo

Politechnika Warszawska Instytut Mikroelektroniki i Optoelektroniki Zakład Optoelektroniki

Politechnika Warszawska Instytut Mikroelektroniki i Optoelektroniki Zakład Optoelektroniki Politechnika Warszawska Instytut Mikroelektroniki i Optoelektroniki Zakład Optoelektroniki LASEROWY POMIAR ODLEGŁOŚCI INTERFEROMETREM MICHELSONA Instrukcja wykonawcza do ćwiczenia laboratoryjnego ćwiczenie

Bardziej szczegółowo

INŻYNIERIA ODWROTNA - praktyczne zastosowania. dr inż. Ireneusz Wróbel Katedra Podstaw Budowy Maszyn, ATH w Bielsku-Białej

INŻYNIERIA ODWROTNA - praktyczne zastosowania. dr inż. Ireneusz Wróbel Katedra Podstaw Budowy Maszyn, ATH w Bielsku-Białej INŻYNIERIA ODWROTNA - praktyczne zastosowania dr inż. Ireneusz Wróbel Katedra Podstaw Budowy Maszyn, ATH w Bielsku-Białej Inżynieria odwrotna, inżynieria wsteczna (ang. reverse engineering) to proces badania

Bardziej szczegółowo

Adres strony internetowej, na której Zamawiający udostępnia Specyfikację Istotnych Warunków Zamówienia: www.fuw.edu.pl

Adres strony internetowej, na której Zamawiający udostępnia Specyfikację Istotnych Warunków Zamówienia: www.fuw.edu.pl Adres strony internetowej, na której Zamawiający udostępnia Specyfikację Istotnych Warunków Zamówienia: www.fuw.edu.pl Warszawa: Dostawa układu budującego i sterującego strojone ksenonowe źródło światła

Bardziej szczegółowo

Piezorezystancyjny czujnik ciśnienia: pomiar i wyznaczenie parametrów metrologicznych czujnika i przetwornika ciśnienia

Piezorezystancyjny czujnik ciśnienia: pomiar i wyznaczenie parametrów metrologicznych czujnika i przetwornika ciśnienia MIKROSYSTEMY - laboratorium Ćwiczenie 3 Piezorezystancyjny czujnik ciśnienia: pomiar i wyznaczenie parametrów metrologicznych czujnika i przetwornika ciśnienia Zadania i cel ćwiczenia. W ćwiczeniu zostaną

Bardziej szczegółowo

WYZNACZANIE DŁUGOŚCI FALI ŚWIETLNEJ ZA POMOCĄ SIATKI DYFRAKCYJNEJ

WYZNACZANIE DŁUGOŚCI FALI ŚWIETLNEJ ZA POMOCĄ SIATKI DYFRAKCYJNEJ ĆWICZENIE 84 WYZNACZANIE DŁUGOŚCI FALI ŚWIETLNEJ ZA POMOCĄ SIATKI DYFRAKCYJNEJ Cel ćwiczenia: Wyznaczenie długości fali emisji lasera lub innego źródła światła monochromatycznego, wyznaczenie stałej siatki

Bardziej szczegółowo

GŁÓWNE CECHY ŚWIATŁA LASEROWEGO

GŁÓWNE CECHY ŚWIATŁA LASEROWEGO GŁÓWNE CECHY ŚWIATŁA LASEROWEGO Światło może być rozumiane jako: Strumień fotonów o energii E Fala elektromagnetyczna. = hν i pędzie p h = = hν c Najprostszym przypadkiem fali elektromagnetycznej jest

Bardziej szczegółowo

Własności światła laserowego

Własności światła laserowego Własności światła laserowego Cechy światła laserowego: rozbieżność (równoległość) wiązki, pasmo spektralne, gęstość mocy oraz spójność (koherencja). Równoległość wiązki Dyfrakcyjną rozbieżność kątową awkącie

Bardziej szczegółowo

3. WYNIKI POMIARÓW Z WYKORZYSTANIEM ULTRADŹWIĘKÓW.

3. WYNIKI POMIARÓW Z WYKORZYSTANIEM ULTRADŹWIĘKÓW. 3. WYNIKI POMIARÓW Z WYKORZYSTANIEM ULTRADŹWIĘKÓW. Przy rozchodzeniu się fal dźwiękowych może dochodzić do częściowego lub całkowitego odbicia oraz przenikania fali przez granice ośrodków. Przeszkody napotykane

Bardziej szczegółowo

www.zamelcet.com Bezprzewodowy System Sterowania exta free exta free www.zamelcet.com

www.zamelcet.com Bezprzewodowy System Sterowania exta free exta free www.zamelcet.com Bezprzewodowy System Sterowania EXTA FREE to propozycja bezprzewodowego (radiowego) systemu sterowania pracą urządzeń elektrycznych w instalacjach domowych, biurowych i częściowo przemysłowych. System

Bardziej szczegółowo

PRACA PRZEJŚCIOWA SYMULACYJNA. Zadania projektowe

PRACA PRZEJŚCIOWA SYMULACYJNA. Zadania projektowe Katedra Mechaniki i Podstaw Konstrukcji Maszyn POLITECHNIKA OPOLSKA PRACA PRZEJŚCIOWA SYMULACYJNA Zadania projektowe dr inż. Roland PAWLICZEK Praca przejściowa symulacyjna 1 Układ pracy 1. Strona tytułowa

Bardziej szczegółowo

System automatycznego odwzorowania kształtu obiektów przestrzennych 3DMADMAC

System automatycznego odwzorowania kształtu obiektów przestrzennych 3DMADMAC System automatycznego odwzorowania kształtu obiektów przestrzennych 3DMADMAC Robert Sitnik, Maciej Karaszewski, Wojciech Załuski, Paweł Bolewicki *OGX Optographx Instytut Mikromechaniki i Fotoniki Wydział

Bardziej szczegółowo

PRZEWODNIK PO PRZEDMIOCIE

PRZEWODNIK PO PRZEDMIOCIE Nazwa przedmiotu: Techniki pomiarowe i analiza sygnałów Kierunek: Inżynieria Środowiska Rodzaj przedmiotu: Poziom kształcenia: Obieralny, moduł 5.4 II stopnia Rodzaj zajęć: Liczba godzin/tydzień/zjazd

Bardziej szczegółowo

LABORATORIUM Pomiar charakterystyki kątowej

LABORATORIUM Pomiar charakterystyki kątowej Ćwiczenie 6 LABORATORIUM Pomiar charakterystyki kątowej Opracował: Grzegorz Wiśniewski Zagadnienia do przygotowania Opisz budowę złączy światłowodowych. Opisz budowę lasera w tym lasera półprzewodnikowego.

Bardziej szczegółowo

GWIEZDNE INTERFEROMETRY MICHELSONA I ANDERSONA

GWIEZDNE INTERFEROMETRY MICHELSONA I ANDERSONA GWIEZNE INTERFEROMETRY MICHELSONA I ANERSONA Cel ćwiczenia Celem ćwiczenia jest zestawienie i demonstracja modelu gwiezdnego interferometru Andersona oraz laboratoryjny pomiar wymiaru sztucznej gwiazdy.

Bardziej szczegółowo

PL B1. POLITECHNIKA WROCŁAWSKA, Wrocław, PL

PL B1. POLITECHNIKA WROCŁAWSKA, Wrocław, PL RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 228974 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 419599 (51) Int.Cl. A61B 5/00 (2006.01) G01N 21/64 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22)

Bardziej szczegółowo

UWAGA. Wszystkie wyniki zapisywać na dysku Dane E: Program i przebieg ćwiczenia:

UWAGA. Wszystkie wyniki zapisywać na dysku Dane E: Program i przebieg ćwiczenia: Cel ćwiczenia: Zapoznanie się z. metodami badania i analitycznego wyznaczania parametrów dynamicznych obiektów rzeczywistych na przykładzie mikrotermostatu oraz z metodami symulacyjnymi umożliwiającymi

Bardziej szczegółowo

Automatyka przemysłowa na wybranych obiektach. mgr inż. Artur Jurneczko PROCOM SYSTEM S.A., ul. Stargardzka 8a, 54-156 Wrocław

Automatyka przemysłowa na wybranych obiektach. mgr inż. Artur Jurneczko PROCOM SYSTEM S.A., ul. Stargardzka 8a, 54-156 Wrocław Automatyka przemysłowa na wybranych obiektach mgr inż. Artur Jurneczko PROCOM SYSTEM S.A., ul. Stargardzka 8a, 54-156 Wrocław 2 Cele prezentacji Celem prezentacji jest przybliżenie automatyki przemysłowej

Bardziej szczegółowo

LDPS-12ME LISTWOWY DWUPRZEWODOWY PRZETWORNIK SYGNAŁOWY DOKUMENTACJA TECHNICZNO-RUCHOWA. Wrocław, marzec 2003 r.

LDPS-12ME LISTWOWY DWUPRZEWODOWY PRZETWORNIK SYGNAŁOWY DOKUMENTACJA TECHNICZNO-RUCHOWA. Wrocław, marzec 2003 r. LISTWOWY DWUPRZEWODOWY PRZETWORNIK SYGNAŁOWY ME DOKUMENTACJA TECHNICZNO-RUCHOWA Wrocław, marzec 2003 r. 50-305 WROCŁAW TEL./FAX (+71) 373-52-27 ul. S. Jaracza 57-57a TEL. 0-602-62-32-71 str.2 SPIS TREŚCI

Bardziej szczegółowo

Laboratorium Informatyki Optycznej ĆWICZENIE 7. Hologram gruby widoczny w zakresie 360

Laboratorium Informatyki Optycznej ĆWICZENIE 7. Hologram gruby widoczny w zakresie 360 ĆWICZENIE 7 Hologram gruby widoczny w zakresie 360 1. Wprowadzenie Klasyczne hologramy są jak dotąd najlepszą metodą rejestracji obiektów trójwymiarowych. Dzięki pełnemu zapisowi informacji o obiekcie

Bardziej szczegółowo

Nowa metoda pomiarów parametrów konstrukcyjnych hełmów ochronnych z wykorzystaniem skanera 3D

Nowa metoda pomiarów parametrów konstrukcyjnych hełmów ochronnych z wykorzystaniem skanera 3D Nowa metoda pomiarów parametrów konstrukcyjnych hełmów ochronnych z wykorzystaniem skanera 3D dr inż. Marcin Jachowicz, CIOP-PIB 2016 r. Na wielu stanowiskach pracy, na których występuje ryzyko urazu głowy

Bardziej szczegółowo

Wielomodowe, grubordzeniowe

Wielomodowe, grubordzeniowe Wielomodowe, grubordzeniowe i z plastykowym pokryciem włókna. Przewężki i mikroelementy Multimode, Large-Core, and Plastic Clad Fibers. Tapered Fibers and Specialty Fiber Microcomponents Wprowadzenie Włókna

Bardziej szczegółowo

Technologia elementów optycznych

Technologia elementów optycznych Technologia elementów optycznych dr inż. Michał Józwik pokój 507a jozwik@mchtr.pw.edu.pl Część 1 Treść wykładu Specyfika wymagań i technologii elementów optycznych. Ogólna struktura procesów technologicznych.

Bardziej szczegółowo

Mikroskop teoria Abbego

Mikroskop teoria Abbego Zastosujmy teorię dyfrakcji do opisu sposobu powstawania obrazu w mikroskopie: Oświetlacz typu Köhlera tworzy równoległą wiązkę światła, padającą na obserwowany obiekt (płaszczyzna 0 ); Pole widzenia ograniczone

Bardziej szczegółowo

Wykorzystanie programu COMSOL do analizy zmiennych pól p l temperatury. Tomasz Bujok promotor: dr hab. Jerzy Bodzenta, prof. Politechniki Śląskiej

Wykorzystanie programu COMSOL do analizy zmiennych pól p l temperatury. Tomasz Bujok promotor: dr hab. Jerzy Bodzenta, prof. Politechniki Śląskiej Wykorzystanie programu COMSOL do analizy zmiennych pól p l temperatury metodą elementów w skończonych Tomasz Bujok promotor: dr hab. Jerzy Bodzenta, prof. Politechniki Śląskiej Plan prezentacji Założenia

Bardziej szczegółowo

MCP 100. Modułowy Polarymetr Kompaktowy. ::: Superior Optical Instruments

MCP 100. Modułowy Polarymetr Kompaktowy. ::: Superior Optical Instruments MCP 100 Modułowy Polarymetr Kompaktowy ::: Superior Optical Instruments Twój Polarymetr Twoja Pewność Zawsze dbałeś o to, aby Twoje produkty aktywne optycznie spełniały wszelkie wymogi jakości. Z pewnością

Bardziej szczegółowo

[HOME] 1080 P KAMERA IP FULLHD/P2P/WI-FI... KARTA PRODUKTOWA WI-FI OBSŁUGA PRZEZ APLIKACJĘ OBROTOWA GŁOWICA OBSŁUGA KART MICRO SD TRYB NOCNY

[HOME] 1080 P KAMERA IP FULLHD/P2P/WI-FI... KARTA PRODUKTOWA WI-FI OBSŁUGA PRZEZ APLIKACJĘ OBROTOWA GŁOWICA OBSŁUGA KART MICRO SD TRYB NOCNY [HOME] KAMERA IP FULLHD/P2P/WI-FI... KARTA PRODUKTOWA RUCHOMA GŁOWICA 349 H 84 V 1080 P OBSŁUGA WI-FI WI-FI OBSŁUGA PRZEZ APLIKACJĘ OBROTOWA GŁOWICA OBSŁUGA KART MICRO SD TRYB NOCNY [HOME WSZĘDZIE I NA

Bardziej szczegółowo

Rys. 1 Geometria układu.

Rys. 1 Geometria układu. Ćwiczenie 9 Hologram Fresnela Wprowadzenie teoretyczne Holografia umożliwia zapis pełnej informacji o obiekcie optycznym, zarówno amplitudowej, jak i fazowej. Dzięki temu można m.in. odtwarzać trójwymiarowe

Bardziej szczegółowo

Pomiar dyspersji materiałów za pomocą spektrometru

Pomiar dyspersji materiałów za pomocą spektrometru Ćwiczenie nr 9 Pomiar dyspersji materiałów za pomocą spektrometru I. Zestaw przyrządów 1. Spektrometr 2. Lampy spektralne: helowa i rtęciowa 3. Pryzmaty szklane, których własności mierzymy II. Cel ćwiczenia

Bardziej szczegółowo

ROBOT MOBILNY ZBIERAJĄCY INFORMACJE O POMIESZCZENIU

ROBOT MOBILNY ZBIERAJĄCY INFORMACJE O POMIESZCZENIU P O L I T E C H N I K A P O Z N A Ń S K A Praca magisterska ROBOT MOBILNY ZBIERAJĄCY INFORMACJE O POMIESZCZENIU Promotor: dr inż. Dariusz Sędziak inż. Maciej Ciechanowski Poznań 2016 Cel pracy: CEL I ZAKRES

Bardziej szczegółowo

Opracowanie bloku scalania światła do dyskretnego pseudomonochromatora wzbudzającego

Opracowanie bloku scalania światła do dyskretnego pseudomonochromatora wzbudzającego Przemysław CEYNOWA Wydział Elektroniki i Informatyki, Politechnika Koszalińska E-mail: przemysław.ceynowa@gmail.com Opracowanie bloku scalania światła do dyskretnego pseudomonochromatora wzbudzającego

Bardziej szczegółowo

Politechnika Wrocławska Wydział Podstawowych Problemów Techniki

Politechnika Wrocławska Wydział Podstawowych Problemów Techniki Politechnika Wrocławska Wydział Podstawowych Problemów Techniki specjalność FOTONIKA 3,5-letnie studia stacjonarne I stopnia (studia inżynierskie) FIZYKA TECHNICZNA Charakterystyka wykształcenia: - dobre

Bardziej szczegółowo

FORMULARZ TECHNICZNY nr 2 dla Stanowiska do Badań Elektrycznych Anten do 110 GHz

FORMULARZ TECHNICZNY nr 2 dla Stanowiska do Badań Elektrycznych Anten do 110 GHz Załącznik 1 FORMULARZ TECHNICZNY nr 2 dla Stanowiska do Badań Elektrycznych Anten do 110 GHz W niniejszym formularzu wyspecyfikowano sprzęt pomiarowo-kontrolny niezbędny do realizacji Stanowiska do Badań

Bardziej szczegółowo

PL B1. Sposób optycznej detekcji wad powierzchni obiektów cylindrycznych, zwłaszcza wałków łożysk. POLITECHNIKA WROCŁAWSKA, Wrocław, PL

PL B1. Sposób optycznej detekcji wad powierzchni obiektów cylindrycznych, zwłaszcza wałków łożysk. POLITECHNIKA WROCŁAWSKA, Wrocław, PL RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 208183 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 379580 (51) Int.Cl. G01N 21/952 (2006.01) G01B 11/30 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22)

Bardziej szczegółowo

Ekonomiczne rozwiązanie do oświetlania terenów zewnętrznych

Ekonomiczne rozwiązanie do oświetlania terenów zewnętrznych Lighting Ekonomiczne rozwiązanie do oświetlania terenów zewnętrznych CoreLine Tempo (duży) CoreLine Tempo (wersja Large) to rodzina ultrawydajnych projektorów zewnętrznych, będących idealnymi zamiennikami

Bardziej szczegółowo

KATEDRA INŻYNIERII BIOMEDYCZNEJ OPTYCZNA DIAGNOSTYKA MEDYCZNA

KATEDRA INŻYNIERII BIOMEDYCZNEJ OPTYCZNA DIAGNOSTYKA MEDYCZNA Wydział PPT Laboratorium Ćwiczenie nr 4 KATEDRA INŻYNIERII BIOMEDYCZNEJ OPTYCZNA DIAGNOSTYKA MEDYCZNA Podstawowe konfiguracje mikroskopu optycznego CEL ĆWICZENIA: zapoznanie z budową i obsługą mikroskopu

Bardziej szczegółowo

Ekonomiczne rozwiązanie do oświetlania terenów zewnętrznych

Ekonomiczne rozwiązanie do oświetlania terenów zewnętrznych Lighting Ekonomiczne rozwiązanie do oświetlania terenów zewnętrznych CoreLine Tempo (duży) CoreLine Tempo (wersja Large) to rodzina ultrawydajnych projektorów zewnętrznych, będących idealnymi zamiennikami

Bardziej szczegółowo

Opt Lasers CLH 2500/5000. Laserowa głowica grawerująca. Opis produktu

Opt Lasers CLH 2500/5000. Laserowa głowica grawerująca. Opis produktu CLH 2500/5000 Laserowa głowica grawerująca pozwala wykorzystać wysoką prędkość poruszania się podczas grawerowania nawet skomplikowanych wzorów. Długość przewodu pomiędzy głowicą laserową i sterownikiem

Bardziej szczegółowo

Maxos LED Performer wydajne i precyzyjne oświetlenie liniowe

Maxos LED Performer wydajne i precyzyjne oświetlenie liniowe Lighting wydajne i precyzyjne oświetlenie liniowe Klienci szukają możliwości zmniejszenia zużycia energii i obniżenia kosztów w porównaniu do systemów oświetlenia tradycyjnego. Jednocześnie chcą jak najlepszej

Bardziej szczegółowo

Mechatronika i inteligentne systemy produkcyjne. Paweł Pełczyński ppelczynski@swspiz.pl

Mechatronika i inteligentne systemy produkcyjne. Paweł Pełczyński ppelczynski@swspiz.pl Mechatronika i inteligentne systemy produkcyjne Paweł Pełczyński ppelczynski@swspiz.pl 1 Program przedmiotu Wprowadzenie definicja, cel i zastosowania mechatroniki Urządzenie mechatroniczne - przykłady

Bardziej szczegółowo

UMO-2011/01/B/ST7/06234

UMO-2011/01/B/ST7/06234 Załącznik nr 9 do sprawozdania merytorycznego z realizacji projektu badawczego Szybka nieliniowość fotorefrakcyjna w światłowodach półprzewodnikowych do zastosowań w elementach optoelektroniki zintegrowanej

Bardziej szczegółowo

LUZS-12 LISTWOWY UNIWERSALNY ZASILACZ SIECIOWY DOKUMENTACJA TECHNICZNO-RUCHOWA. Wrocław, kwiecień 1999 r.

LUZS-12 LISTWOWY UNIWERSALNY ZASILACZ SIECIOWY DOKUMENTACJA TECHNICZNO-RUCHOWA. Wrocław, kwiecień 1999 r. LISTWOWY UNIWERSALNY ZASILACZ SIECIOWY DOKUMENTACJA TECHNICZNO-RUCHOWA Wrocław, kwiecień 1999 r. 50-305 WROCŁAW TEL./FAX (+71) 373-52-27 ul. S. Jaracza 57-57a TEL. 602-62-32-71 str.2 SPIS TREŚCI 1.OPIS

Bardziej szczegółowo

WideoSondy - Pomiary. Trzy Metody Pomiarowe w jednym urządzeniu XL G3 lub XL Go. Metoda Porównawcza. Metoda projekcji Cienia (ShadowProbe)

WideoSondy - Pomiary. Trzy Metody Pomiarowe w jednym urządzeniu XL G3 lub XL Go. Metoda Porównawcza. Metoda projekcji Cienia (ShadowProbe) Trzy Metody Pomiarowe w jednym urządzeniu XL G3 lub XL Go Metoda Porównawcza Metoda projekcji Cienia (ShadowProbe) Metoda Stereo Metoda Porównawcza Metoda Cienia - ShadowProbe Metoda Stereo Metoda Porównawcza

Bardziej szczegółowo

oznaczenie sprawy: CRZP/231/009/D/17, ZP/66/WETI/17 Załącznik nr 6 I-III do SIWZ Szczegółowy opis przedmiotu zamówienia dla części I-III

oznaczenie sprawy: CRZP/231/009/D/17, ZP/66/WETI/17 Załącznik nr 6 I-III do SIWZ Szczegółowy opis przedmiotu zamówienia dla części I-III oznaczenie sprawy: CRZP/231/009/D/17, ZP/66/WETI/17 Załącznik nr 6 I-III do SIWZ Szczegółowy opis przedmiotu zamówienia dla części I-III Część I zamówienia Dostawa urządzeń na potrzeby modernizacji stolika

Bardziej szczegółowo

Vision systems BCR IVU2PRB604

Vision systems BCR IVU2PRB604 Druga generacja czujników ivu Pamięć wewnętrzna dla 30 inspekcji 1/3 CMOS, 752x480 pikseli Zintegrowane oświetlenie pierścieniowe: oświetlenie UV (365 nm) Stopień ochrony IP67 Zewnętrzne wyjście strobowe

Bardziej szczegółowo

Elektroniczny systemy prowadzenia statystyk odwiedzin placówek publicznych Opis oprogramowania przeznaczonego do liczników CC-1 oraz CC-2

Elektroniczny systemy prowadzenia statystyk odwiedzin placówek publicznych Opis oprogramowania przeznaczonego do liczników CC-1 oraz CC-2 Elektroniczny systemy prowadzenia statystyk odwiedzin placówek publicznych Opis oprogramowania przeznaczonego do liczników CC-1 oraz CC-2 Uwaga! Oprogramowanie działa wyłącznie z systemem operacyjnym Windows,

Bardziej szczegółowo

PhoeniX. Urządzenie do wizyjnej kontroli wymiarów oraz kontroli defektów powierzchni

PhoeniX. Urządzenie do wizyjnej kontroli wymiarów oraz kontroli defektów powierzchni PhoeniX Urządzenie do wizyjnej kontroli wymiarów oraz kontroli defektów powierzchni Phoenix jest najnowszą odmianą naszego urządzenia do wizyjnej kontroli wymiarów, powierzchni przedmiotów okrągłych oraz

Bardziej szczegółowo

Polaryzacyjne metody zmiany fazy w interferometrii dwuwiązkowej

Polaryzacyjne metody zmiany fazy w interferometrii dwuwiązkowej Polaryzacyjne metody zmiany fazy w interferometrii dwuwiązkowej Cel ćwiczenia: Celem ćwiczenia jest demonstracja i ilościowa analiza wybranych metod dyskretnej i ciągłej zmiany fazy w interferometrach

Bardziej szczegółowo

PowerBalance do montażu na powierzchni równowaga w wydajności

PowerBalance do montażu na powierzchni równowaga w wydajności Lighting PowerBalance do montażu na powierzchni równowaga w wydajności PowerBalance, surface mounted W przypadku oświetlania pomieszczeń biurowych źródłami w oprawach LED inwestorzy są zwykle skłonni wydać

Bardziej szczegółowo

Przyrządy na podczerwień do pomiaru temperatury

Przyrządy na podczerwień do pomiaru temperatury Przyrządy na podczerwień do pomiaru temperatury Seria IR Termometry na podczerwień będą zawsze pierwszym wyborem kiedy potrzebna jest technika pomiaru łącząca prostotę kontroli i dużą dokładność. Wybór

Bardziej szczegółowo

POMIARY OPTYCZNE 1. Wykład 1. Dr hab. inż. Władysław Artur Woźniak

POMIARY OPTYCZNE 1. Wykład 1.  Dr hab. inż. Władysław Artur Woźniak POMIARY OPTYCZNE Wykład Dr hab. inż. Władysław Artur Woźniak Instytut Fizyki Politechniki Wrocławskiej Pokój 8/ bud. A- http://www.if.pwr.wroc.pl/~wozniak/ OPTYKA GEOMETRYCZNA Codzienne obserwacje: światło

Bardziej szczegółowo

Mikroskopy uniwersalne

Mikroskopy uniwersalne Mikroskopy uniwersalne Źródło światła Kolektor Kondensor Stolik mikroskopowy Obiektyw Okular Inne Przesłony Pryzmaty Płytki półprzepuszczalne Zwierciadła Nasadki okularowe Zasada działania mikroskopu z

Bardziej szczegółowo

Ręczne testery FiberBasix 50 SERIA ZAWIERAJĄCA ŹRÓDŁO ŚWIATŁA ELS-50 I MIERNIK MOCY EPM-50

Ręczne testery FiberBasix 50 SERIA ZAWIERAJĄCA ŹRÓDŁO ŚWIATŁA ELS-50 I MIERNIK MOCY EPM-50 SPECYFIKACJA Ręczne testery FiberBasix 50 SERIA ZAWIERAJĄCA ŹRÓDŁO ŚWIATŁA ELS-50 I MIERNIK MOCY EPM-50 KLUCZOWE CECHY I KORZYŚCI Prosty w użyciu interfejs dla bezbłędnych testów Wymienne złącza dla pierwszorzędnej

Bardziej szczegółowo

Pomiar prędkości obrotowej

Pomiar prędkości obrotowej 2.3.2. Pomiar prędkości obrotowej Metody: Kontaktowe mechaniczne (prądniczki tachometryczne różnych typów), Bezkontaktowe: optyczne (światło widzialne, podczerwień, laser), elektromagnetyczne (indukcyjne,

Bardziej szczegółowo

Soczewka z wyjściem kątowym, montowana bezpośrednio na. światłowody o średnicy 2,2 mm lub nakręcana na światłowody

Soczewka z wyjściem kątowym, montowana bezpośrednio na. światłowody o średnicy 2,2 mm lub nakręcana na światłowody SOCZEWKI Akcesoria Symbol Zastosowanie LVL2.2 Soczewka z wyjściem osiowym, montowana bezpośrednio na światłowody o średnicy 2,2 mm lub nakręcana na światłowody zakończone tuleją M 2,6 (Rys. ) mosiądz niklowany

Bardziej szczegółowo

PL 203490 B1. Akademia Górniczo-Hutnicza im. Stanisława Staszica,Kraków,PL 01.10.2007 BUP 20/07

PL 203490 B1. Akademia Górniczo-Hutnicza im. Stanisława Staszica,Kraków,PL 01.10.2007 BUP 20/07 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 203490 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 379229 (51) Int.Cl. G01N 21/00 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data zgłoszenia: 20.03.2006

Bardziej szczegółowo

Źródło światła λ = 850 nm λ = 1300 nm. Miernik. mocy optycznej. Badany odcinek światłowodu MM lub SM

Źródło światła λ = 850 nm λ = 1300 nm. Miernik. mocy optycznej. Badany odcinek światłowodu MM lub SM Sieci i instalacje z tworzyw sztucznych 2005 Wojciech BŁAŻEJEWSKI*, Paweł GĄSIOR*, Anna SANKOWSKA** *Instytut Materiałoznawstwa i Mechaniki Technicznej, Politechnika Wrocławska **Wydział Elektroniki, Fotoniki

Bardziej szczegółowo

WALL PLUG FIBARO SYSTEM

WALL PLUG FIBARO SYSTEM WALL PLUG FIBARO SYSTEM Uruchomienie Twój jest gotowy do dodania Urządzenie powinno być dodawane w bezpośrednim zasięgu Home Center. Tryb dodawania KROK 2 Wybierz Dodaj urządzenie. KROK 1 Uruchom aplikację

Bardziej szczegółowo

ZAPYTANIE OFERTOWE. Huta Krzeszowska r. Dotyczy: Spektofotometr (znak sprawy: AS/15/7/2018).

ZAPYTANIE OFERTOWE. Huta Krzeszowska r. Dotyczy: Spektofotometr (znak sprawy: AS/15/7/2018). Huta Krzeszowska 25.07.2018 r. ZAPYTANIE OFERTOWE Dotyczy: Spektofotometr (znak sprawy: AS/15/7/2018). 1. Tryb udzielenia zamówienia: Zamówienie udzielane w trybie zapytania ofertowego na podstawie art.

Bardziej szczegółowo

PL B1. POLITECHNIKA WARSZAWSKA, Warszawa, PL INSTYTUT TECHNOLOGII EKSPLOATACJI. PAŃSTWOWY INSTYTUT BADAWCZY, Radom, PL

PL B1. POLITECHNIKA WARSZAWSKA, Warszawa, PL INSTYTUT TECHNOLOGII EKSPLOATACJI. PAŃSTWOWY INSTYTUT BADAWCZY, Radom, PL RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 207917 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 380341 (22) Data zgłoszenia: 31.07.2006 (51) Int.Cl. G01B 21/04 (2006.01)

Bardziej szczegółowo

I0.ZSP APLISENS PRODUKCJA PRZETWORNIKÓW CIŚNIENIA I APARATURY POMIAROWEJ INSTRUKCJA OBSŁUGI (DOKUMENTACJA TECHNICZNO-RUCHOWA)

I0.ZSP APLISENS PRODUKCJA PRZETWORNIKÓW CIŚNIENIA I APARATURY POMIAROWEJ INSTRUKCJA OBSŁUGI (DOKUMENTACJA TECHNICZNO-RUCHOWA) APLISENS PRODUKCJA PRZETWORNIKÓW CIŚNIENIA I APARATURY POMIAROWEJ INSTRUKCJA OBSŁUGI (DOKUMENTACJA TECHNICZNO-RUCHOWA) LISTWOWY POWIELACZ SYGNAŁÓW ANALOGOWYCH ZSP-41-2 WARSZAWA, Kwiecień 2011 APLISENS

Bardziej szczegółowo

POLITECHNIKA POZNAŃSKA. Wydział Budowy Maszyn i Zarządzania MECHATRONIKA. Profile dyplomowania Konstrukcje Mechatroniczne

POLITECHNIKA POZNAŃSKA. Wydział Budowy Maszyn i Zarządzania MECHATRONIKA. Profile dyplomowania Konstrukcje Mechatroniczne POLITECHNIKA POZNAŃSKA Wydział Budowy Maszyn i Zarządzania MECHATRONIKA Profile dyplomowania Konstrukcje Mechatroniczne Prof. dr hab. inż. Andrzej Milecki Kształcenie Profile dyplomowania: Konstrukcje

Bardziej szczegółowo