Rodzina czujników przemieszczeń w płaszczyźnie z wykorzystaniem interferometrii siatkowej (GI) i plamkowej (DSPI)
|
|
- Bogdan Markiewicz
- 6 lat temu
- Przeglądów:
Transkrypt
1 Rodzina czujników przemieszczeń w płaszczyźnie z wykorzystaniem interferometrii siatkowej (GI) i plamkowej (DSPI) Kierownik: Małgorzata Kujawińska Wykonawcy: Leszek Sałbut, Dariusz Łukaszewski, Jerzy Krężel
2 Motywacja Zasada działania czujników Plan Prezentacji Konstrukcja i parametry proponowanych czujników Stanowisko laboratoryjne do testowania głowic czujników Przykładowe zastosowania Podsumowanie
3 Motywacja Zapotrzebowanie rynku na tanie, uniwersalne czujniki przemieszczeo (systemy SHM, inżynieria materiałowa, mechanika eksperymentalna) Ciągły rozwój nowych technologii otwiera nowe możliwości dla miniaturyzacji opracowywanych systemów
4 Zasada działania czujników Interferometria siatkowa (GI)
5 Zasada działania czujników Interferometria plamkowa (DSPI)
6 Zasada działania czujników Porównanie metod Interferometria siatkowa GI Oświetlenie Interferometria plamkowa DPSI Koherentne, skolimowane i symetryczne Przygotowanie obiektu Wielkośd mierzona Pole pomiarowe Czułośd Konieczne nałożenie siatki obiektowej (pamięd siatki o stanie obiektu od momentu nałożenia) Zależne od wielkości siatki obiektowej i średnicy wiązki oświetlającej (u,v) Submikrometrowa Obiekt o powierzchni rozpraszającej (konieczne zbieranie obrazów w dwóch kolejnych stanach obiektu) Zależne od średnicy wiązki oświetlającej
7 Opracowane czujniki Kanał akwizycji danych Kanał oświetlający Wyprowadzenie kabli Zwierciadło PZT Dystans Zwierciadło Siatka Czujnik z niskokosztową głowicą GI Czujnik z hybrydową głowicą GI/DPSI
8 Konstrukcja i parametry proponowanych czujników Modułowa konstrukcja czujników zwiększa ich uniwersalnośd i ułatwia modyfikacje
9 Blok oświetlający Konstrukcja i parametry proponowanych czujników Źródło światła VCSEL (ang. vertical cavity surface light emitting laser) Sterownik źródła światła układ elektroniczny kontrolujący i stabilizujący napięcie Kolimator układ optyczny kolimujący wiązkę wyjściowa z VCSEL a
10 Parametry VCSELa Parametr Długośd fali Konstrukcja i parametry proponowanych czujników Szerokośd spektralna Zmiana długości fali pod wpływem temperatury Wartośd 665 nm <1nm 0,05 nm Wiązka przed i po kolimacji
11 Blok detekcyjny Konstrukcja i parametry proponowanych czujników Obiektyw odwzorowujący zapewnia sprzężenie obiektu badanego z detektorem Kamera CCD/CMOS typu board level
12 Konstrukcja i parametry proponowanych czujników Blok przetwarzania danych Dane przesyłane do komputera za pomocą kabla USB lub firewire (w przyszłości możliwośd montażu modułu bezprzewodowego) Osobne tryby analizy dla obrazów GI, DSPI i obrazów hybrydowych Dane wyjściowe w postaci map przemieszczeo i odkształceo
13 Konstrukcja i parametry proponowanych czujników Konstrukcja mechaniczna Mocowanie kamery CCD/CMOS Mocowanie płytki sterującej VCSEL Korpus główny głowicy i obiektywów Obudowa Mocowanie głowicy pomiarowej
14 Konstrukcja i parametry proponowanych czujników Obudowa głowicy uniwersalna dla obu czujników oraz dedykowane mocowanie
15 Konstrukcja głowicy Replikacja głowicy Konstrukcja i parametry proponowanych czujników Porównanie proponowanych czujników Obiekt badany Czujnik GI Prosta, monolityczna ze szkła lub tworzywa sztucznego Możliwa replikacja niskokosztowa Z nałożoną siatką dyfrakcyjną Siatka odniesienia 1200 l/mm 1200 l/mm Czujnik GI/DSPI Wnękowa z elementów szklanych lub krzemowych Możliwa replikacja w krzemie wymagająca zaawansowanych i kosztowych technologii Z nałożoną siatką dyfrakcyjną lub o powierzchni rozpraszającej
16 Metoda automatycznej analizy obrazów prążkowych (AAOP) Konstrukcja i parametry proponowanych czujników Metody z przestrzennym przesunięciem fazy CNDZF Metody z przestrzennym (CNDZF) i czasowym (CDZF) przesunięciem fazy Wpływ drgań Zminimalizowany Zminimalizowany ale większy niż w przypadku czujnika GI Tryby pracy Tryb GI Tryb GI; tryb DSPI; hybrydowy tryb GI/DSPI Pole pomiarowe 2 mm x 2mm Zakres pomiarowy do 20 µm Czułośd bazowa 417 nm/prążek Rozdzielczośd ok. 5nm po zastosowaniu AAOP Gabaryty czujnika Φ60 mm x 115 mm
17 Stanowisko laboratoryjne do testowania głowic czujników Manipulatory liniowe i kątowe Mocowanie głowicy pomiarowej nad próbką
18 Przykładowe zastosowania Pomiar konstrukcji inżynierskich Obrazy uzyskane głowicą w trybie GI
19 Przykładowe zastosowania Charakterystyka mechaniczna nowych materiałów Obrazy uzyskane głowicą w trybie DSPI
20 Podsumowanie Przedstawiono konstrukcje czujników przemieszczeń w płaszczyźnie z wykorzystaniem metody GI i DSPI Wykorzystano falowodowe głowice pomiarowe monolityczne i wnękowe Przeprowadzono badania modelowe i wstępne testy laboratoryjne czujników potwierdzające założone parametry techniczne Rozpoczęto analizy metrologiczne głowic
21 Zespół realizujący: Małgorzata Kujawińska, Leszek Sałbut, Dariusz Łukaszewski, Jerzy Krężel, Grzegorz Dymny Współpraca: Partnerzy Projektu MONIT Zakład Mikroinżynierii i Fotowoltaiki Politechniki Wrocławskiej (prof. J. Dziuban) Dziękuję
Metody optyczne z wykorzystaniem światła koherentnego do monitorowania i wysokoczułych pomiarów inżynierskich obiektów statycznych i dynamicznych
Metody optyczne z wykorzystaniem światła koherentnego do monitorowania i wysokoczułych pomiarów inżynierskich obiektów statycznych i dynamicznych Kierownik: Małgorzata Kujawioska Wykonawcy: Leszek Sałbut,
Bardziej szczegółowoBadania elementów i zespołów maszyn laboratorium (MMM4035L)
Badania elementów i zespołów maszyn laboratorium (MMM4035L) Ćwiczenie 23. Zastosowanie elektronicznej interferometrii obrazów plamkowych (ESPI) do badania elementów maszyn. Opracowanie: Ewelina Świątek-Najwer
Bardziej szczegółowoĆWICZENIA LABORATORYJNE Z KONSTRUKCJI METALOWCH. Ć w i c z e n i e H. Interferometria plamkowa w zastosowaniu do pomiaru przemieszczeń
Akademia Górniczo Hutnicza Wydział Inżynierii Mechanicznej i Robotyki Katedra Wytrzymałości, Zmęczenia Materiałów i Konstrukcji Nazwisko i Imię: Nazwisko i Imię: Wydział Górnictwa i Geoinżynierii Grupa
Bardziej szczegółowoZastosowanie niekoherentnych metod i systemów optycznych do monitorowania i pomiarów wielkogabarytowych konstrukcji budowlanych oraz maszyn
Zastosowanie niekoherentnych metod i systemów optycznych do monitorowania i pomiarów wielkogabarytowych konstrukcji budowlanych oraz maszyn Małgorzata Kujawińska R. Sitnik, G. Dymny, M. Malesa D. Siwek,
Bardziej szczegółowoPL B1. System kontroli wychyleń od pionu lub poziomu inżynierskich obiektów budowlanych lub konstrukcyjnych
RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 200981 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 360320 (51) Int.Cl. G01C 9/00 (2006.01) G01C 15/10 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22)
Bardziej szczegółowoMetody Optyczne w Technice. Wykład 5 Interferometria laserowa
Metody Optyczne w Technice Wykład 5 nterferometria laserowa Promieniowanie laserowe Wiązka monochromatyczna Duża koherencja przestrzenna i czasowa Niewielka rozbieżność wiązki Duża moc Największa możliwa
Bardziej szczegółowoZastosowanie deflektometrii do pomiarów kształtu 3D. Katarzyna Goplańska
Zastosowanie deflektometrii do pomiarów kształtu 3D Plan prezentacji Metody pomiaru kształtu Deflektometria Zasada działania Stereo-deflektometria Kalibracja Zalety Zastosowania Przykład Podsumowanie Metody
Bardziej szczegółowoPomiar drogi koherencji wybranych źródeł światła
Politechnika Gdańska WYDZIAŁ ELEKTRONIKI TELEKOMUNIKACJI I INFORMATYKI Katedra Optoelektroniki i Systemów Elektronicznych Pomiar drogi koherencji wybranych źródeł światła Instrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego
Bardziej szczegółowoStanowisko do pomiaru fotoprzewodnictwa
Stanowisko do pomiaru fotoprzewodnictwa Kraków 2008 Układ pomiarowy. Pomiar czułości widmowej fotodetektorów polega na pomiarze fotoprądu w funkcji długości padającego na detektor promieniowania. Stanowisko
Bardziej szczegółowoPlanowanie, realizacja i dokumentacja wzorcowego procesu digitalizacji 3D
Planowanie, realizacja i dokumentacja wzorcowego procesu digitalizacji 3D obiektów muzealnych Robert Sitnik OGX OPTOGRAPHX Instytut Mikromechaniki i Fotoniki Politechnika Warszawska Plan prezentacji 1)
Bardziej szczegółowoRozwiązania firmy Harrer & Kassen do pomiaru gęstości i wilgotności
Rozwiązania firmy Harrer & Kassen do pomiaru gęstości i wilgotności Firma Biosens specjalizuje się w spektroskopii. Od czterech lat dostarcza spektrofotometry do pomiaru barwy (zarówno w laboratorium jak
Bardziej szczegółowoUMO-2011/01/B/ST7/06234
Załącznik nr 5 do sprawozdania merytorycznego z realizacji projektu badawczego Szybka nieliniowość fotorefrakcyjna w światłowodach półprzewodnikowych do zastosowań w elementach optoelektroniki zintegrowanej
Bardziej szczegółowoMICRON3D skaner do zastosowań specjalnych. MICRON3D scanner for special applications
Mgr inż. Dariusz Jasiński dj@smarttech3d.com SMARTTECH Sp. z o.o. MICRON3D skaner do zastosowań specjalnych W niniejszym artykule zaprezentowany został nowy skaner 3D firmy Smarttech, w którym do pomiaru
Bardziej szczegółowoMOŻLIWOŚCI DIAGNOSTYKI WYŁADOWAŃ NIEZUPEŁNYCH POPRZEZ POMIAR ICH PROMIENIOWANIA ULTRAFIOLETOWEGO
MOŻLIWOŚCI DIAGNOSTYKI WYŁADOWAŃ NIEZUPEŁNYCH POPRZEZ POMIAR ICH PROMIENIOWANIA ULTRAFIOLETOWEGO Autorzy: Jerzy Skubis, Michał Kozioł Toruń, 2019 CEL I ZAKRES BADAŃ Podjęta tematyka badawcza ma na celu
Bardziej szczegółowoSpektrometry Ramana JASCO serii NRS-5000/7000
Spektrometry Ramana JASCO serii NRS-5000/7000 Najnowsza seria badawczych, siatkowych spektrometrów Ramana japońskiej firmy Jasco zapewnia wysokiej jakości widma. Zastosowanie najnowszych rozwiązań w tej
Bardziej szczegółowoDOTYCZY: Sygn. akt SZ /12/6/6/2012
Warszawa dn. 2012-07-26 SZ-222-20/12/6/6/2012/ Szanowni Państwo, DOTYCZY: Sygn. akt SZ-222-20/12/6/6/2012 Przetargu nieograniczonego, którego przedmiotem jest " sprzedaż, szkolenie, dostawę, montaż i uruchomienie
Bardziej szczegółowoLaboratorium Informatyki Optycznej ĆWICZENIE 3. Dwuekspozycyjny hologram Fresnela
ĆWICZENIE 3 Dwuekspozycyjny hologram Fresnela 1. Wprowadzenie Holografia umożliwia zapis pełnej informacji o obiekcie, zarówno amplitudowej, jak i fazowej. Dzięki temu można m.in. odtwarzać trójwymiarowe
Bardziej szczegółowoCele pracy Badania rozsyłu wiązek świetlnych lamp sygnałowych stosowanych we współczesnych pojazdach samochodowych Stworzenie nowego ćwiczenia laborat
PRACA DYPLOMOWA INŻYNIERSKA Rumiński Dariusz Badania wybranych elementów optycznoświetlnych oświetlenia sygnałowego pojazdu samochodowego 1 Cele pracy Badania rozsyłu wiązek świetlnych lamp sygnałowych
Bardziej szczegółowoLaserowe technologie wielowiązkowe oraz dynamiczne formowanie wiązki 25 październik 2017 Grzegorz Chrobak
Laserowe technologie wielowiązkowe oraz dynamiczne formowanie wiązki 25 październik 2017 Grzegorz Chrobak Nasdaq: IPG Photonics(IPGP) Zasada działania laserów włóknowych Modułowość laserów włóknowych IPG
Bardziej szczegółowoModel układu z diodami LED na potrzeby sygnalizacji świetlnej. Czujniki zasolenia przegląd dostepnych rozwiązań
Model układu z diodami LED na potrzeby sygnalizacji świetlnej Projekt i wykonanie modelu sygnalizacji świetlnej na bazie diod LED. Program sterujący układem diod LED na potrzeby sygnalizacji świetlnej
Bardziej szczegółowoPL B1. Aberracyjny czujnik optyczny odległości w procesach technologicznych oraz sposób pomiaru odległości w procesach technologicznych
RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 229959 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 421970 (22) Data zgłoszenia: 21.06.2017 (51) Int.Cl. G01C 3/00 (2006.01)
Bardziej szczegółowoSPRAWOZDANIE NAUKOWE
P R O J E K T B A D A W C Z Y Z A M A W I A N Y PBZ-MiN-009/T11/2003 Elementy i moduły optoelektroniczne do zastosowań w medycynie, przemyśle, ochronie środowiska i technice wojskowej SPRAWOZDANIE NAUKOWE
Bardziej szczegółowoDwukanałowy miernik mocy i energii optycznej z detektorami
SZCZEGÓŁOWY OPIS PRZEDMIOTU ZAMÓWIENIA Dostawa, wraz z montażem, uruchomieniem i bezpłatnym instruktażem, następującej aparatury naukowo badawczej, fabrycznie nowej i kompletnej: Dwukanałowy miernik mocy
Bardziej szczegółowoSpektrometr XRF THICK 800A
Spektrometr XRF THICK 800A DO POMIARU GRUBOŚCI POWŁOK GALWANIZNYCH THICK 800A spektrometr XRF do szybkich, nieniszczących pomiarów grubości powłok i ich składu. Zaprojektowany do pomiaru grubości warstw
Bardziej szczegółowoTHICK 800A DO POMIARU GRUBOŚCI POWŁOK. THICK 800A spektrometr XRF do szybkich, nieniszczących pomiarów grubości powłok i ich składu.
THICK 800A DO POMIARU GRUBOŚCI POWŁOK THICK 800A spektrometr XRF do szybkich, nieniszczących pomiarów grubości powłok i ich składu. Zoptymalizowany do pomiaru grubości warstw Detektor Si-PIN o rozdzielczości
Bardziej szczegółowoCzujniki podczerwieni do bezkontaktowego pomiaru temperatury. Czujniki stacjonarne.
Czujniki podczerwieni do bezkontaktowego pomiaru temperatury Niemiecka firma Micro-Epsilon, której WObit jest wyłącznym przedstawicielem w Polsce, uzupełniła swoją ofertę sensorów o czujniki podczerwieni
Bardziej szczegółowoEkonomiczne rozwiązanie do oświetlania obszarów zewnętrznych
Lighting Ekonomiczne rozwiązanie do oświetlania obszarów zewnętrznych CoreLine Tempo (mały) CoreLine Tempo (mały) to rodzina ultrawydajnych opraw, będących idealnymi zamiennikami technologii konwencjonalnych
Bardziej szczegółowoZałącznik nr 8. do sprawozdania merytorycznego z realizacji projektu badawczego
Załącznik nr 8 do sprawozdania merytorycznego z realizacji projektu badawczego Szybka nieliniowość fotorefrakcyjna w światłowodach półprzewodnikowych do zastosowań w elementach optoelektroniki zintegrowanej
Bardziej szczegółowoTa nowa metoda pomiaru ma wiele zalet w stosunku do starszych technik opartych na pomiarze absorbancji.
CHLOROFILOMIERZ CCM300 Unikalna metoda pomiaru w oparciu o pomiar fluorescencji chlorofilu! Numer katalogowy: N/A OPIS Chlorofilomierz CCM-300 jest unikalnym urządzeniem pozwalającym zmierzyć zawartość
Bardziej szczegółowoEkonomiczne rozwiązanie do oświetlania obszarów zewnętrznych
Lighting Ekonomiczne rozwiązanie do oświetlania obszarów zewnętrznych to rodzina ultrawydajnych opraw, będących idealnymi zamiennikami technologii konwencjonalnych przy zachowaniu tej samej instalacji
Bardziej szczegółowoBADANIE I ACHROMATYZACJA PRĄŻKÓW INTERFERENCYJNYCH TWORZONYCH ZA POMOCĄ ZWIERCIADŁA LLOYDA
BADANIE I ACHROMATYZACJA PRĄŻKÓW INTERFERENCYJNYCH TWORZONYCH ZA POMOCĄ ZWIERCIADŁA LLOYDA Celem ćwiczenia jest: 1. demonstracja dużej liczby prążków w interferometrze Lloyda z oświetleniem monochromatycznym,
Bardziej szczegółowoMG-02L SYSTEM LASEROWEGO POMIARU GRUBOŚCI POLON-IZOT
jednoczesny pomiar grubości w trzech punktach niewrażliwość na drgania automatyczna akwizycja i wizualizacja danych pomiarowych archiwum pomiarów analizy statystyczne dla potrzeb systemu zarządzania jakością
Bardziej szczegółowoPARAMETRY TECHNICZNO UŻYTKOWE Zadanie nr 7 Ploter laserowy 1 szt.
Załącznik nr 7 + OPZ + formularz szacowanie wartości zamówienia PARAMETRY TECHNICZNO UŻYTKOWE Zadanie nr 7 Ploter laserowy 1 szt. Urządzenie musi być fabrycznie nowe, nie dopuszcza się urządzeń powystawowych,
Bardziej szczegółowoLaboratorium nanotechnologii
Laboratorium nanotechnologii Zakres zagadnień: - Mikroskopia sił atomowych AFM i STM (W. Fizyki) - Skaningowa mikroskopia elektronowa SEM (WIM) - Transmisyjna mikroskopia elektronowa TEM (IF PAN) - Nanostruktury
Bardziej szczegółowoPrzykłady realizacji dokumentacji przestrzennej obiektów zabytkowych
Przykłady realizacji dokumentacji przestrzennej obiektów zabytkowych Robert Sitnik OGX OPTOGRAPHX Instytut Mikromechaniki i Fotoniki Politechnika Warszawska Plan prezentacji 1) Techniki odwzorowania współrzędnych
Bardziej szczegółowoUMO-2011/01/B/ST7/06234
Załącznik nr 7 do sprawozdania merytorycznego z realizacji projektu badawczego Szybka nieliniowość fotorefrakcyjna w światłowodach półprzewodnikowych do zastosowań w elementach optoelektroniki zintegrowanej
Bardziej szczegółowoStanowisko do badania zjawiska tłumienia światła w ośrodkach materialnych
Stanowisko do badania zjawiska tłumienia światła w ośrodkach materialnych Na rys. 3.1 przedstawiono widok wykorzystywanego w ćwiczeniu stanowiska pomiarowego do badania zjawiska tłumienia światła w ośrodkach
Bardziej szczegółowoUMO-2011/01/B/ST7/06234
Załącznik nr 4 do sprawozdania merytorycznego z realizacji projektu badawczego Szybka nieliniowość fotorefrakcyjna w światłowodach półprzewodnikowych do zastosowań w elementach optoelektroniki zintegrowanej
Bardziej szczegółowoPolitechnika Warszawska Instytut Mikroelektroniki i Optoelektroniki Zakład Optoelektroniki
Politechnika Warszawska Instytut Mikroelektroniki i Optoelektroniki Zakład Optoelektroniki LASEROWY POMIAR ODLEGŁOŚCI INTERFEROMETREM MICHELSONA Instrukcja wykonawcza do ćwiczenia laboratoryjnego ćwiczenie
Bardziej szczegółowoINŻYNIERIA ODWROTNA - praktyczne zastosowania. dr inż. Ireneusz Wróbel Katedra Podstaw Budowy Maszyn, ATH w Bielsku-Białej
INŻYNIERIA ODWROTNA - praktyczne zastosowania dr inż. Ireneusz Wróbel Katedra Podstaw Budowy Maszyn, ATH w Bielsku-Białej Inżynieria odwrotna, inżynieria wsteczna (ang. reverse engineering) to proces badania
Bardziej szczegółowoAdres strony internetowej, na której Zamawiający udostępnia Specyfikację Istotnych Warunków Zamówienia: www.fuw.edu.pl
Adres strony internetowej, na której Zamawiający udostępnia Specyfikację Istotnych Warunków Zamówienia: www.fuw.edu.pl Warszawa: Dostawa układu budującego i sterującego strojone ksenonowe źródło światła
Bardziej szczegółowoPiezorezystancyjny czujnik ciśnienia: pomiar i wyznaczenie parametrów metrologicznych czujnika i przetwornika ciśnienia
MIKROSYSTEMY - laboratorium Ćwiczenie 3 Piezorezystancyjny czujnik ciśnienia: pomiar i wyznaczenie parametrów metrologicznych czujnika i przetwornika ciśnienia Zadania i cel ćwiczenia. W ćwiczeniu zostaną
Bardziej szczegółowoWYZNACZANIE DŁUGOŚCI FALI ŚWIETLNEJ ZA POMOCĄ SIATKI DYFRAKCYJNEJ
ĆWICZENIE 84 WYZNACZANIE DŁUGOŚCI FALI ŚWIETLNEJ ZA POMOCĄ SIATKI DYFRAKCYJNEJ Cel ćwiczenia: Wyznaczenie długości fali emisji lasera lub innego źródła światła monochromatycznego, wyznaczenie stałej siatki
Bardziej szczegółowoGŁÓWNE CECHY ŚWIATŁA LASEROWEGO
GŁÓWNE CECHY ŚWIATŁA LASEROWEGO Światło może być rozumiane jako: Strumień fotonów o energii E Fala elektromagnetyczna. = hν i pędzie p h = = hν c Najprostszym przypadkiem fali elektromagnetycznej jest
Bardziej szczegółowoWłasności światła laserowego
Własności światła laserowego Cechy światła laserowego: rozbieżność (równoległość) wiązki, pasmo spektralne, gęstość mocy oraz spójność (koherencja). Równoległość wiązki Dyfrakcyjną rozbieżność kątową awkącie
Bardziej szczegółowo3. WYNIKI POMIARÓW Z WYKORZYSTANIEM ULTRADŹWIĘKÓW.
3. WYNIKI POMIARÓW Z WYKORZYSTANIEM ULTRADŹWIĘKÓW. Przy rozchodzeniu się fal dźwiękowych może dochodzić do częściowego lub całkowitego odbicia oraz przenikania fali przez granice ośrodków. Przeszkody napotykane
Bardziej szczegółowowww.zamelcet.com Bezprzewodowy System Sterowania exta free exta free www.zamelcet.com
Bezprzewodowy System Sterowania EXTA FREE to propozycja bezprzewodowego (radiowego) systemu sterowania pracą urządzeń elektrycznych w instalacjach domowych, biurowych i częściowo przemysłowych. System
Bardziej szczegółowoPRACA PRZEJŚCIOWA SYMULACYJNA. Zadania projektowe
Katedra Mechaniki i Podstaw Konstrukcji Maszyn POLITECHNIKA OPOLSKA PRACA PRZEJŚCIOWA SYMULACYJNA Zadania projektowe dr inż. Roland PAWLICZEK Praca przejściowa symulacyjna 1 Układ pracy 1. Strona tytułowa
Bardziej szczegółowoSystem automatycznego odwzorowania kształtu obiektów przestrzennych 3DMADMAC
System automatycznego odwzorowania kształtu obiektów przestrzennych 3DMADMAC Robert Sitnik, Maciej Karaszewski, Wojciech Załuski, Paweł Bolewicki *OGX Optographx Instytut Mikromechaniki i Fotoniki Wydział
Bardziej szczegółowoPRZEWODNIK PO PRZEDMIOCIE
Nazwa przedmiotu: Techniki pomiarowe i analiza sygnałów Kierunek: Inżynieria Środowiska Rodzaj przedmiotu: Poziom kształcenia: Obieralny, moduł 5.4 II stopnia Rodzaj zajęć: Liczba godzin/tydzień/zjazd
Bardziej szczegółowoLABORATORIUM Pomiar charakterystyki kątowej
Ćwiczenie 6 LABORATORIUM Pomiar charakterystyki kątowej Opracował: Grzegorz Wiśniewski Zagadnienia do przygotowania Opisz budowę złączy światłowodowych. Opisz budowę lasera w tym lasera półprzewodnikowego.
Bardziej szczegółowoGWIEZDNE INTERFEROMETRY MICHELSONA I ANDERSONA
GWIEZNE INTERFEROMETRY MICHELSONA I ANERSONA Cel ćwiczenia Celem ćwiczenia jest zestawienie i demonstracja modelu gwiezdnego interferometru Andersona oraz laboratoryjny pomiar wymiaru sztucznej gwiazdy.
Bardziej szczegółowoPL B1. POLITECHNIKA WROCŁAWSKA, Wrocław, PL
RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 228974 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 419599 (51) Int.Cl. A61B 5/00 (2006.01) G01N 21/64 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22)
Bardziej szczegółowoUWAGA. Wszystkie wyniki zapisywać na dysku Dane E: Program i przebieg ćwiczenia:
Cel ćwiczenia: Zapoznanie się z. metodami badania i analitycznego wyznaczania parametrów dynamicznych obiektów rzeczywistych na przykładzie mikrotermostatu oraz z metodami symulacyjnymi umożliwiającymi
Bardziej szczegółowoAutomatyka przemysłowa na wybranych obiektach. mgr inż. Artur Jurneczko PROCOM SYSTEM S.A., ul. Stargardzka 8a, 54-156 Wrocław
Automatyka przemysłowa na wybranych obiektach mgr inż. Artur Jurneczko PROCOM SYSTEM S.A., ul. Stargardzka 8a, 54-156 Wrocław 2 Cele prezentacji Celem prezentacji jest przybliżenie automatyki przemysłowej
Bardziej szczegółowoLDPS-12ME LISTWOWY DWUPRZEWODOWY PRZETWORNIK SYGNAŁOWY DOKUMENTACJA TECHNICZNO-RUCHOWA. Wrocław, marzec 2003 r.
LISTWOWY DWUPRZEWODOWY PRZETWORNIK SYGNAŁOWY ME DOKUMENTACJA TECHNICZNO-RUCHOWA Wrocław, marzec 2003 r. 50-305 WROCŁAW TEL./FAX (+71) 373-52-27 ul. S. Jaracza 57-57a TEL. 0-602-62-32-71 str.2 SPIS TREŚCI
Bardziej szczegółowoLaboratorium Informatyki Optycznej ĆWICZENIE 7. Hologram gruby widoczny w zakresie 360
ĆWICZENIE 7 Hologram gruby widoczny w zakresie 360 1. Wprowadzenie Klasyczne hologramy są jak dotąd najlepszą metodą rejestracji obiektów trójwymiarowych. Dzięki pełnemu zapisowi informacji o obiekcie
Bardziej szczegółowoNowa metoda pomiarów parametrów konstrukcyjnych hełmów ochronnych z wykorzystaniem skanera 3D
Nowa metoda pomiarów parametrów konstrukcyjnych hełmów ochronnych z wykorzystaniem skanera 3D dr inż. Marcin Jachowicz, CIOP-PIB 2016 r. Na wielu stanowiskach pracy, na których występuje ryzyko urazu głowy
Bardziej szczegółowoWielomodowe, grubordzeniowe
Wielomodowe, grubordzeniowe i z plastykowym pokryciem włókna. Przewężki i mikroelementy Multimode, Large-Core, and Plastic Clad Fibers. Tapered Fibers and Specialty Fiber Microcomponents Wprowadzenie Włókna
Bardziej szczegółowoTechnologia elementów optycznych
Technologia elementów optycznych dr inż. Michał Józwik pokój 507a jozwik@mchtr.pw.edu.pl Część 1 Treść wykładu Specyfika wymagań i technologii elementów optycznych. Ogólna struktura procesów technologicznych.
Bardziej szczegółowoMikroskop teoria Abbego
Zastosujmy teorię dyfrakcji do opisu sposobu powstawania obrazu w mikroskopie: Oświetlacz typu Köhlera tworzy równoległą wiązkę światła, padającą na obserwowany obiekt (płaszczyzna 0 ); Pole widzenia ograniczone
Bardziej szczegółowoWykorzystanie programu COMSOL do analizy zmiennych pól p l temperatury. Tomasz Bujok promotor: dr hab. Jerzy Bodzenta, prof. Politechniki Śląskiej
Wykorzystanie programu COMSOL do analizy zmiennych pól p l temperatury metodą elementów w skończonych Tomasz Bujok promotor: dr hab. Jerzy Bodzenta, prof. Politechniki Śląskiej Plan prezentacji Założenia
Bardziej szczegółowoMCP 100. Modułowy Polarymetr Kompaktowy. ::: Superior Optical Instruments
MCP 100 Modułowy Polarymetr Kompaktowy ::: Superior Optical Instruments Twój Polarymetr Twoja Pewność Zawsze dbałeś o to, aby Twoje produkty aktywne optycznie spełniały wszelkie wymogi jakości. Z pewnością
Bardziej szczegółowo[HOME] 1080 P KAMERA IP FULLHD/P2P/WI-FI... KARTA PRODUKTOWA WI-FI OBSŁUGA PRZEZ APLIKACJĘ OBROTOWA GŁOWICA OBSŁUGA KART MICRO SD TRYB NOCNY
[HOME] KAMERA IP FULLHD/P2P/WI-FI... KARTA PRODUKTOWA RUCHOMA GŁOWICA 349 H 84 V 1080 P OBSŁUGA WI-FI WI-FI OBSŁUGA PRZEZ APLIKACJĘ OBROTOWA GŁOWICA OBSŁUGA KART MICRO SD TRYB NOCNY [HOME WSZĘDZIE I NA
Bardziej szczegółowoRys. 1 Geometria układu.
Ćwiczenie 9 Hologram Fresnela Wprowadzenie teoretyczne Holografia umożliwia zapis pełnej informacji o obiekcie optycznym, zarówno amplitudowej, jak i fazowej. Dzięki temu można m.in. odtwarzać trójwymiarowe
Bardziej szczegółowoPomiar dyspersji materiałów za pomocą spektrometru
Ćwiczenie nr 9 Pomiar dyspersji materiałów za pomocą spektrometru I. Zestaw przyrządów 1. Spektrometr 2. Lampy spektralne: helowa i rtęciowa 3. Pryzmaty szklane, których własności mierzymy II. Cel ćwiczenia
Bardziej szczegółowoROBOT MOBILNY ZBIERAJĄCY INFORMACJE O POMIESZCZENIU
P O L I T E C H N I K A P O Z N A Ń S K A Praca magisterska ROBOT MOBILNY ZBIERAJĄCY INFORMACJE O POMIESZCZENIU Promotor: dr inż. Dariusz Sędziak inż. Maciej Ciechanowski Poznań 2016 Cel pracy: CEL I ZAKRES
Bardziej szczegółowoOpracowanie bloku scalania światła do dyskretnego pseudomonochromatora wzbudzającego
Przemysław CEYNOWA Wydział Elektroniki i Informatyki, Politechnika Koszalińska E-mail: przemysław.ceynowa@gmail.com Opracowanie bloku scalania światła do dyskretnego pseudomonochromatora wzbudzającego
Bardziej szczegółowoPolitechnika Wrocławska Wydział Podstawowych Problemów Techniki
Politechnika Wrocławska Wydział Podstawowych Problemów Techniki specjalność FOTONIKA 3,5-letnie studia stacjonarne I stopnia (studia inżynierskie) FIZYKA TECHNICZNA Charakterystyka wykształcenia: - dobre
Bardziej szczegółowoFORMULARZ TECHNICZNY nr 2 dla Stanowiska do Badań Elektrycznych Anten do 110 GHz
Załącznik 1 FORMULARZ TECHNICZNY nr 2 dla Stanowiska do Badań Elektrycznych Anten do 110 GHz W niniejszym formularzu wyspecyfikowano sprzęt pomiarowo-kontrolny niezbędny do realizacji Stanowiska do Badań
Bardziej szczegółowoPL B1. Sposób optycznej detekcji wad powierzchni obiektów cylindrycznych, zwłaszcza wałków łożysk. POLITECHNIKA WROCŁAWSKA, Wrocław, PL
RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 208183 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 379580 (51) Int.Cl. G01N 21/952 (2006.01) G01B 11/30 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22)
Bardziej szczegółowoEkonomiczne rozwiązanie do oświetlania terenów zewnętrznych
Lighting Ekonomiczne rozwiązanie do oświetlania terenów zewnętrznych CoreLine Tempo (duży) CoreLine Tempo (wersja Large) to rodzina ultrawydajnych projektorów zewnętrznych, będących idealnymi zamiennikami
Bardziej szczegółowoKATEDRA INŻYNIERII BIOMEDYCZNEJ OPTYCZNA DIAGNOSTYKA MEDYCZNA
Wydział PPT Laboratorium Ćwiczenie nr 4 KATEDRA INŻYNIERII BIOMEDYCZNEJ OPTYCZNA DIAGNOSTYKA MEDYCZNA Podstawowe konfiguracje mikroskopu optycznego CEL ĆWICZENIA: zapoznanie z budową i obsługą mikroskopu
Bardziej szczegółowoEkonomiczne rozwiązanie do oświetlania terenów zewnętrznych
Lighting Ekonomiczne rozwiązanie do oświetlania terenów zewnętrznych CoreLine Tempo (duży) CoreLine Tempo (wersja Large) to rodzina ultrawydajnych projektorów zewnętrznych, będących idealnymi zamiennikami
Bardziej szczegółowoOpt Lasers CLH 2500/5000. Laserowa głowica grawerująca. Opis produktu
CLH 2500/5000 Laserowa głowica grawerująca pozwala wykorzystać wysoką prędkość poruszania się podczas grawerowania nawet skomplikowanych wzorów. Długość przewodu pomiędzy głowicą laserową i sterownikiem
Bardziej szczegółowoMaxos LED Performer wydajne i precyzyjne oświetlenie liniowe
Lighting wydajne i precyzyjne oświetlenie liniowe Klienci szukają możliwości zmniejszenia zużycia energii i obniżenia kosztów w porównaniu do systemów oświetlenia tradycyjnego. Jednocześnie chcą jak najlepszej
Bardziej szczegółowoMechatronika i inteligentne systemy produkcyjne. Paweł Pełczyński ppelczynski@swspiz.pl
Mechatronika i inteligentne systemy produkcyjne Paweł Pełczyński ppelczynski@swspiz.pl 1 Program przedmiotu Wprowadzenie definicja, cel i zastosowania mechatroniki Urządzenie mechatroniczne - przykłady
Bardziej szczegółowoUMO-2011/01/B/ST7/06234
Załącznik nr 9 do sprawozdania merytorycznego z realizacji projektu badawczego Szybka nieliniowość fotorefrakcyjna w światłowodach półprzewodnikowych do zastosowań w elementach optoelektroniki zintegrowanej
Bardziej szczegółowoLUZS-12 LISTWOWY UNIWERSALNY ZASILACZ SIECIOWY DOKUMENTACJA TECHNICZNO-RUCHOWA. Wrocław, kwiecień 1999 r.
LISTWOWY UNIWERSALNY ZASILACZ SIECIOWY DOKUMENTACJA TECHNICZNO-RUCHOWA Wrocław, kwiecień 1999 r. 50-305 WROCŁAW TEL./FAX (+71) 373-52-27 ul. S. Jaracza 57-57a TEL. 602-62-32-71 str.2 SPIS TREŚCI 1.OPIS
Bardziej szczegółowoWideoSondy - Pomiary. Trzy Metody Pomiarowe w jednym urządzeniu XL G3 lub XL Go. Metoda Porównawcza. Metoda projekcji Cienia (ShadowProbe)
Trzy Metody Pomiarowe w jednym urządzeniu XL G3 lub XL Go Metoda Porównawcza Metoda projekcji Cienia (ShadowProbe) Metoda Stereo Metoda Porównawcza Metoda Cienia - ShadowProbe Metoda Stereo Metoda Porównawcza
Bardziej szczegółowooznaczenie sprawy: CRZP/231/009/D/17, ZP/66/WETI/17 Załącznik nr 6 I-III do SIWZ Szczegółowy opis przedmiotu zamówienia dla części I-III
oznaczenie sprawy: CRZP/231/009/D/17, ZP/66/WETI/17 Załącznik nr 6 I-III do SIWZ Szczegółowy opis przedmiotu zamówienia dla części I-III Część I zamówienia Dostawa urządzeń na potrzeby modernizacji stolika
Bardziej szczegółowoVision systems BCR IVU2PRB604
Druga generacja czujników ivu Pamięć wewnętrzna dla 30 inspekcji 1/3 CMOS, 752x480 pikseli Zintegrowane oświetlenie pierścieniowe: oświetlenie UV (365 nm) Stopień ochrony IP67 Zewnętrzne wyjście strobowe
Bardziej szczegółowoElektroniczny systemy prowadzenia statystyk odwiedzin placówek publicznych Opis oprogramowania przeznaczonego do liczników CC-1 oraz CC-2
Elektroniczny systemy prowadzenia statystyk odwiedzin placówek publicznych Opis oprogramowania przeznaczonego do liczników CC-1 oraz CC-2 Uwaga! Oprogramowanie działa wyłącznie z systemem operacyjnym Windows,
Bardziej szczegółowoPhoeniX. Urządzenie do wizyjnej kontroli wymiarów oraz kontroli defektów powierzchni
PhoeniX Urządzenie do wizyjnej kontroli wymiarów oraz kontroli defektów powierzchni Phoenix jest najnowszą odmianą naszego urządzenia do wizyjnej kontroli wymiarów, powierzchni przedmiotów okrągłych oraz
Bardziej szczegółowoPolaryzacyjne metody zmiany fazy w interferometrii dwuwiązkowej
Polaryzacyjne metody zmiany fazy w interferometrii dwuwiązkowej Cel ćwiczenia: Celem ćwiczenia jest demonstracja i ilościowa analiza wybranych metod dyskretnej i ciągłej zmiany fazy w interferometrach
Bardziej szczegółowoPowerBalance do montażu na powierzchni równowaga w wydajności
Lighting PowerBalance do montażu na powierzchni równowaga w wydajności PowerBalance, surface mounted W przypadku oświetlania pomieszczeń biurowych źródłami w oprawach LED inwestorzy są zwykle skłonni wydać
Bardziej szczegółowoPrzyrządy na podczerwień do pomiaru temperatury
Przyrządy na podczerwień do pomiaru temperatury Seria IR Termometry na podczerwień będą zawsze pierwszym wyborem kiedy potrzebna jest technika pomiaru łącząca prostotę kontroli i dużą dokładność. Wybór
Bardziej szczegółowoPOMIARY OPTYCZNE 1. Wykład 1. Dr hab. inż. Władysław Artur Woźniak
POMIARY OPTYCZNE Wykład Dr hab. inż. Władysław Artur Woźniak Instytut Fizyki Politechniki Wrocławskiej Pokój 8/ bud. A- http://www.if.pwr.wroc.pl/~wozniak/ OPTYKA GEOMETRYCZNA Codzienne obserwacje: światło
Bardziej szczegółowoMikroskopy uniwersalne
Mikroskopy uniwersalne Źródło światła Kolektor Kondensor Stolik mikroskopowy Obiektyw Okular Inne Przesłony Pryzmaty Płytki półprzepuszczalne Zwierciadła Nasadki okularowe Zasada działania mikroskopu z
Bardziej szczegółowoRęczne testery FiberBasix 50 SERIA ZAWIERAJĄCA ŹRÓDŁO ŚWIATŁA ELS-50 I MIERNIK MOCY EPM-50
SPECYFIKACJA Ręczne testery FiberBasix 50 SERIA ZAWIERAJĄCA ŹRÓDŁO ŚWIATŁA ELS-50 I MIERNIK MOCY EPM-50 KLUCZOWE CECHY I KORZYŚCI Prosty w użyciu interfejs dla bezbłędnych testów Wymienne złącza dla pierwszorzędnej
Bardziej szczegółowoPomiar prędkości obrotowej
2.3.2. Pomiar prędkości obrotowej Metody: Kontaktowe mechaniczne (prądniczki tachometryczne różnych typów), Bezkontaktowe: optyczne (światło widzialne, podczerwień, laser), elektromagnetyczne (indukcyjne,
Bardziej szczegółowoSoczewka z wyjściem kątowym, montowana bezpośrednio na. światłowody o średnicy 2,2 mm lub nakręcana na światłowody
SOCZEWKI Akcesoria Symbol Zastosowanie LVL2.2 Soczewka z wyjściem osiowym, montowana bezpośrednio na światłowody o średnicy 2,2 mm lub nakręcana na światłowody zakończone tuleją M 2,6 (Rys. ) mosiądz niklowany
Bardziej szczegółowoPL 203490 B1. Akademia Górniczo-Hutnicza im. Stanisława Staszica,Kraków,PL 01.10.2007 BUP 20/07
RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 203490 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 379229 (51) Int.Cl. G01N 21/00 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data zgłoszenia: 20.03.2006
Bardziej szczegółowoŹródło światła λ = 850 nm λ = 1300 nm. Miernik. mocy optycznej. Badany odcinek światłowodu MM lub SM
Sieci i instalacje z tworzyw sztucznych 2005 Wojciech BŁAŻEJEWSKI*, Paweł GĄSIOR*, Anna SANKOWSKA** *Instytut Materiałoznawstwa i Mechaniki Technicznej, Politechnika Wrocławska **Wydział Elektroniki, Fotoniki
Bardziej szczegółowoWALL PLUG FIBARO SYSTEM
WALL PLUG FIBARO SYSTEM Uruchomienie Twój jest gotowy do dodania Urządzenie powinno być dodawane w bezpośrednim zasięgu Home Center. Tryb dodawania KROK 2 Wybierz Dodaj urządzenie. KROK 1 Uruchom aplikację
Bardziej szczegółowoZAPYTANIE OFERTOWE. Huta Krzeszowska r. Dotyczy: Spektofotometr (znak sprawy: AS/15/7/2018).
Huta Krzeszowska 25.07.2018 r. ZAPYTANIE OFERTOWE Dotyczy: Spektofotometr (znak sprawy: AS/15/7/2018). 1. Tryb udzielenia zamówienia: Zamówienie udzielane w trybie zapytania ofertowego na podstawie art.
Bardziej szczegółowoPL B1. POLITECHNIKA WARSZAWSKA, Warszawa, PL INSTYTUT TECHNOLOGII EKSPLOATACJI. PAŃSTWOWY INSTYTUT BADAWCZY, Radom, PL
RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 207917 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 380341 (22) Data zgłoszenia: 31.07.2006 (51) Int.Cl. G01B 21/04 (2006.01)
Bardziej szczegółowoI0.ZSP APLISENS PRODUKCJA PRZETWORNIKÓW CIŚNIENIA I APARATURY POMIAROWEJ INSTRUKCJA OBSŁUGI (DOKUMENTACJA TECHNICZNO-RUCHOWA)
APLISENS PRODUKCJA PRZETWORNIKÓW CIŚNIENIA I APARATURY POMIAROWEJ INSTRUKCJA OBSŁUGI (DOKUMENTACJA TECHNICZNO-RUCHOWA) LISTWOWY POWIELACZ SYGNAŁÓW ANALOGOWYCH ZSP-41-2 WARSZAWA, Kwiecień 2011 APLISENS
Bardziej szczegółowoPOLITECHNIKA POZNAŃSKA. Wydział Budowy Maszyn i Zarządzania MECHATRONIKA. Profile dyplomowania Konstrukcje Mechatroniczne
POLITECHNIKA POZNAŃSKA Wydział Budowy Maszyn i Zarządzania MECHATRONIKA Profile dyplomowania Konstrukcje Mechatroniczne Prof. dr hab. inż. Andrzej Milecki Kształcenie Profile dyplomowania: Konstrukcje
Bardziej szczegółowo