OPIS PRZEDMIOTU ZAMÓWIENICZĘŚĆ - CZĘŚĆ 14 ZESTAW DO CHARAKTERYSTYKI NANOMATERIAŁÓW

Transkrypt

1 OPIS PRZEDMIOTU ZAMÓWIENICZĘŚĆ - CZĘŚĆ Tabela z wyszczególnieniem poszczególnych komponentów przedmiotu zamówienia. Pozy cja Podp ozycj a Przedmiot zamówienia i jego składowe oraz wymagane minimalne parametry techniczne Spektrometr FTIR wielozakresowy (NIR-MIR-FAR), spełniający następujące parametry techniczne: Ilość A Źródło promieniowania: lampa wolframowa na zakres cm-1 oraz źródło ceramiczne z azotku krzemu na zakres co najmniej cm-1 niewymagające chłodzenia wodą. Monolityczna konstrukcja źródła ceramicznego zapewniająca brak migracji punktu aktywnego. Średni czas życia > 10 lat. Gwarancja na źródło: min. 5 lat. 2. Automatyczny 4-pozycyjny układ przełączający: a) dwa źródła wbudowane, b) opcjonalny port emisyjny dla źródła zewnętrznego z przejściem przez układ regulacji średnicy wiązki ("J-stop"), c) opcjonalny detektor InGaAs do modułu Ramana. 3. Automatyczny zmieniacz beamsplitterów, mieszczący na raz co najmniej 3 dzielniki wiązki. W zestawie beamsplittery: Ge/KBr na zakres spektralny nie mniejszy niż cm-1, Si/CaF2 na zakres co najmniej cm-1 oraz pojedynczy beamsplitter far-ir na zakres co najmniej cm-1. Możliwość rozbudowy o dodatkowe beamsplittery gwarantujące pokrycie zakresu spektralnego co najmniej cm-1. Automatyczne rozpoznawanie rodzaju beamsplittera przez system, 4. Trójpozycyjny automatyczny układ zmiany detektorów, 5. Wbudowany detektor DLaTGS z okienkiem KBr na zakres cm-1, 6. System obsługujący maksymalnie co najmniej 5 wbudowanych, automatycznie przełączanych detektorów, 7. Zdolność rozdzielcza lepsza niż 0.09 cm-1 (pomiar szerokości połówkowej pasma CO), 8. Interferometr Michelsona 90º, odporny na wibracje i wpływ zmian temperaturowych, justowany dynamicznie w trakcie skanowania z częstotliwością odpowiadającą częstotliwości przejść przez zero sygnału lasera nawet przy maksymalnej 1 szt. Strona 1 z 11

2 szybkości skanowania. Mechanizm dynamicznego justowania wykorzystujący wiązkę lasera He-Ne, padającą na trójpozycyjny detektor laserowy, do monitorowania i utrzymywania idealnego względnego położenia kątowego zwierciadeł. Gwarancja na interferometr: 5 lat, 9. System automatycznego rozpoznawania z poziomu oprogramowania akcesoriów (co najmniej: ATR Golden Gate, Miracle, SplitPea, DRITFS, Specular Reflectance, PAS) oraz elementów systemu takich jak detektory i beamsplittery, 10. Wbudowana przystawka diamentową ATR z własnym detektorem DTGS z okienkiem diamentowym na zakres podczerwieni i dalekiej podczerwieni, nie zajmująca przedziału pomiarowego z funkcją automatycznego przełączania wiązki między przedziałem próbek i przystawką, 11. Możliwość rozbudowy na dalsze zakresy spektralne (zakres maksymalny nie gorszy niż cm-1) i do pracy z technikami łączonymi: GC/IR, TG/IR, FT-Raman, mikroskopia IR, 12. Skanowanie liniowe z szybkością regulowaną w zakresie co najmniej cm/s, 13. Możliwość rozbudowy do skanowania krokowego ("step-scan") zarówno z zatrzymaniem lustra (modulacja amplitudy, pomiary czasowo-rozdzielcze) jak z oscylacją lustra wokół zatrzymanej pozycji (modulacja fazy - w tym pomiary fotoakustyczne z profilowaniem w głąb próbki) oraz z modulacją wielokrotną, 14. Apertura regulująca moc wiązki, o powtarzalnej regulacji średnicy w zakresie 0-100% co 1%, 15. Elementy układu optycznego montowane stabilnie na ławie optycznej za pomocą kołków pozycjonujących, 16. Monolityczne zwierciadła w układzie optycznym, 17. Możliwość rozbudowy o układ wejścia-wyjście promieniowania obejmujący co najmniej: a) wyprowadzenie wiązki na zewnątrz w prawo, b) wyprowadzenie wiązki na zewnątrz w lewo, c) wprowadzenie wiązki skolimowanej, d) wprowadzanie wiązki zogniskowanej przez układ aperturowania wiązki, 18. Poziom szumów (amplituda międzyszczytowa) nie przekraczający 7.9 x 10-6Abs (sygnał/szum : 1) dla detektora DLaTGS, rozdzielczości 4 cm-1 przy pomiarze 1 min, 19. Maksymalna szybkość zbierania danych nie gorsza niż 65 skanów/s dla rozdzielczości 16 cm-1 (odstęp danych 8 cm-1) z opcją Strona 2 z 11

3 rozbudowy do co najmniej 90 skanów/s, 20. Układ optyczny szczelny i osuszany z oddzielającymi przedział próbek okienkami KBr z powłoką niehigroskopijną, 21. Możliwość rozbudowy o zastępujące okienka KBr automatycznie otwierane/zamykane przesłony między przedziałem próbek a wnętrzem spektrometru, 22. Zestaw do przedmuchu obejmujący: generator powietrza bez CO2 i pary wodnej typu Balston, wąż pneumatyczny, złączki, reduktor ciśnienia z filtrem ze wskaźnikiem stopnia osuszenia i regulator przepływu z rotametrem, 23. Duża komora pomiarowa o wymiarach podstawy co najmniej 21 x 26 cm z wysokością wiązki 3.5" ponad podstawą; proste zdejmowanie pokrywy przedziału próbek bez używania narzędzi umożliwiające wygodną pracę w przypadku używania różnorodnych akcesoriów, 24. Przyciski do szybkiego uruchomienia pomiaru w poszczególnych modułach pomiarowych, 25. Wbudowana na stałe w aparat automatyczna przystawka do testowania spektrometru z kołem z wzorcami, sterowana z poziomu oprogramowania, zawierająca co najmniej następujące wzorce: a) folia polistyrenowa o grubości ok. 38µm (1.5mil), b) filtr szklany typu NG Możliwość rozbudowy o polaryzator z automatyzacją regulacji kąta obrotu i wprowadzenia/usunięcia polaryzatora z wiązki, 27. Zestaw do pomiarów metodą pastylek KBr: prasa hydrauliczna o nacisku co najmniej 2 tony, pastylkarka do przygotowania pastylek o średnicy 7 mm, dwa dodatkowe pierścienie, uchwyt do pastylek, proszek KBr co najmniej 50g, moździerz z tłuczkiem, 28. Sfera integrująca do pracy w NIR o wydajności zbierania promieniowania promieniowania > 95% ze zintegrowanym detektorem InGaAs, okienkiem szafirowym i wbudowanym poniżej okienka zmotoryzowanym wzorcem do automatycznego pomiaru tła. Sfera automatycznie rozpoznawana i sprawdzana przez system, 29. Komunikacja aparatu z jednostką sterującą przez szybki port USB 2.0, 30. Zasilacz spektrometru umieszczony na zewnątrz aparatu eliminujący wprowadzanie wysokiego napięcia (prądu zmiennego 230V) do aparatu i zapewniający podwyższoną stabilność termiczną systemu, 31. Pełny program obsługi spektrometru co najmniej w języku polskim i angielskim zgodny z systemem operacyjnym Windows Strona 3 z 11

4 XP, Vista, 7/8 32-bit i 64-bit. Automatyczny wybór wersji językowej przy logowaniu do Windows lub przez wybór opcji regionalnych w panelu sterowania Windows. Wymagana charakterystyka: 1) logowanie użytkowników z hasłami i różnymi poziomami dostępu, 2) funkcja automatycznego doboru wzmocnienia sygnału, 3) podgląd widm zapisanych na dysku przed ich otwarciem (jak podgląd dokumentów w pakiecie Office), 4) dostęp do surowych danych łącznie z interferogramem z możliwością ich przenoszenia (eksportu) do zewnętrznych programów w postaci danych ASCII, 5) funkcje przetwarzania widm: korekcja linii bazowej automatyczna i manualna, dekonwolucja, odejmowanie spektralne, wyznaczanie pochodnych, znajdowanie maksimów, wygładzanie, transformacja Kramersa Kroniga, korekcja ATR, pomiar wysokości i położenia pasma, pomiar pola powierzchni pasm - bezwględnej i względnej, 6) funkcja rozkładu pasm na składowe z algorytmem konwergencji typu Fletcher-Powell-McCormick, uzględniająca co najmniej następujące typy pasm: Gaussian, Lorentzian, mieszany Gaussian/Lorentzian, Voigt, 7) przeszukiwanie bibliotek w celu identyfikacji widma nieznanej próbki oraz/lub porównania z widmem wzorca, 8) w zestawie biblioteka widm obejmująca co najmniej widm związków nieorganicznych i organicznych, 9) tworzenie własnych bibliotek użytkownika, 10) moduł oprogramowania do analiz chemometrycznych obejmujący algorytmy analizy ilościowej i klasyfikacyjnej co najmniej następujące: a) do analiz ilościowych: Prawo Lamberta-Beera, CLS (klasyczna metoda najmniejszych kwadratów), b) do analiz klasyfikacyjnych: Search Standards (przeszukiwanie biblioteki wzorców z analizą korelacji, także dla pochodnych widm), Similarity match (wektorowa analiza podobieństwa), QC compare (analiza korelacyjna widm uśrednionych), Strona 4 z 11

5 2. 11) moduł do tworzenia i wykonywania makroinstrukcji, 12) moduł spektralnej interpretacji widm, 13) automatyczna korekcja zawartości CO2 i pary wodnej przez oprogramowanie bez konieczności zbierania widm referencyjnych, 14) wyświetlanie widm w czasie rzeczywistym (w trakcie pomiaru), 15) automatyczne wykonywanie testów jakości widm z informowaniem użytkownika m.in. o niepożądanych pasmach spektralnych w widmie tła, nieprawidłowym kształcie pasm, obecności pasm całkowicie absorbujących, nachyleniu linii podstawowej, zbyt małej energii interferogramu, 16) aktywna diagnostyka w trakcie pomiaru z ciągłym monitorowaniem stanu elementów systemu i wizualnym wskaźnikiem poprawnej pracy aparatu, 17) wbudowany edytor do tworzenia raportów według własnych szablonów, 18) archiwizowanie gotowych raportów w nieedytowalnych skoroszytach elektronicznych z funkcją przeszukiwania skoroszytów umożliwiającą szybkie dotarcie do każdego raportu 19) moduł rozszerzonej analizy widm obejmujący algorytm jednoczesnej wieloskładnikowej identyfikacji widm, pozwalający na identyfikację składników mieszaniny w trakcie pojedynczego przeszukiwania biblioteki, bez konieczności stosowania odejmowania widm poszczególnych składników. Zestaw komputerowy: Zestaw komputerowy o konfiguracji nie gorszej niż: komputer klasy PC o parametrach minimalnych: 1. procesor zaprojektowany do pracy w komputerach stacjonarnych, osiągający w teście wydajności PassMark PerformanceTest co najmniej wynik 8000 punktów Passmark CPU Mark, 2. Pamięć RAM: 4GB, GB HDD, 4. Nagrywarka DVD-RW, 5. karta sieciowa: co najmniej 10/100/1000 Mbit/s, 6. klawiatura na złącze USB, 7. mysz optyczna bezprzewodowa, 1 szt. Strona 5 z 11

6 8. monitor LCD min. 22", 9. Kolorowa drukarka laserowa o rozdzielczości nie gorszej niż 600 x 600 dpi w kolorze i w czerni. 10. Zainstalowana najnowsza bieżąca wersja systemu operacyjnego; Wymagania systemu operacyjnego: 1) 64 bitowy system operacyjny klasy PC musi spełniać następujące wymagania poprzez natywne dla niego mechanizmy, bez użycia dodatkowych aplikacji: 2) Możliwość dokonywania aktualizacji i poprawek systemu przez Internet z możliwością wyboru instalowanych poprawek; 3) Możliwość dokonywania uaktualnień sterowników urządzeń przez Internet - witrynę producenta systemu; 4) Darmowe aktualizacje w ramach wersji systemu operacyjnego przez Internet (niezbędne aktualizacje, poprawki, biuletyny bezpieczeństwa muszą być dostarczane bez dodatkowych opłat) - wymagane podanie nazwy strony serwera WWW; 5) Internetowa aktualizacja zapewniona w języku polskim; 6) Wbudowana zapora internetowa (firewall) dla ochrony połączeń internetowych; zintegrowana z systemem konsola do zarządzania ustawieniami zapory i regułami IP v4 i v6; 7) Wsparcie dla większości powszechnie używanych urządzeń peryferyjnych (drukarek, urządzeń sieciowych, standardów USB, Plug & Play, WiFi); 8) Interfejs użytkownika działający w trybie graficznym w polskiej wersji językowej; 9) Możliwość zdalnej instalacji, konfiguracji, administrowania oraz aktualizowania systemu; 10) Zabezpieczony hasłem hierarchiczny dostęp do systemu; 11) Zintegrowany z systemem moduł wyszukiwania informacji; 12) Zintegrowane z systemem operacyjnym narzędzie zwalczające złośliwe oprogramowanie; 13) aktualizacje dostępne u producenta nieodpłatnie bez ograniczeń czasowych i licencyjnych; 14) Wbudowany system pomocy w języku polskim; 15) Certyfikat (dokument) producenta oprogramowania potwierdzający poprawność pracy systemu operacyjnego z dostarczonym sprzętem; 16) Możliwość przystosowania stanowiska dla osób niepełnosprawnych (np. słabo widzących); 17) Zdalna pomoc i współdzielenie aplikacji - możliwość zdalnego przejęcia sesji zalogowanego użytkownika celem rozwiązania problemu z komputerem; 18) Rozwiązanie służące do automatycznego zbudowania obrazu systemu wraz z aplikacjami. Obraz systemu służyć ma do Strona 6 z 11

7 B automatycznego upowszechnienia systemu operacyjnego inicjowanego i wykonywanego w całości poprzez sieć komputerową; 19) Rozwiązanie umożliwiające wdrożenie nowego obrazu poprzez zdalną instalację; 20) Graficzne środowisko instalacji i konfiguracji; 21) Zarządzanie kontami użytkowników sieci oraz urządzeniami sieciowymi tj. drukarki, modemy, woluminy dyskowe, usługi katalogowe; 22) Oprogramowanie dla tworzenia kopii zapasowych (backup); automatyczne wykonywanie kopii plików z możliwością automatycznego przywrócenia wersji wcześniejszej. 23) System operacyjny musi umożliwiać obsługę urządzenia oraz działanie oprogramowania wyspecyfikowanego w Części 14 Pozycji A Podpozycji 1 niniejszej specyfikacji (bez zastosowania dodatkowych emulatorów oraz konwerterów). Profilometr interferencyjny do analizy materiałów nanowarstwowych, spełniający następujące wymagania: 1. Pomiar grubości pojedynczej warstwy w zakresie co najmniej od 10 nm do 50 m (dla szczeliny optycznej o szerokości 100 m) z możliwością powiększenia zakresu badania grubości do co najmniej 200 m przy zastosowaniu wymiennych szczelin optycznych. 2. Możliwość rejestracji widma fluorescencji oraz światła odbitego. 3. Oświetlenie na bazie lampy deuterowo-halogenowej, zakres spektralny co najmniej od 190 nm do 2500 nm. 4. Wbudowany spektrometr o zakresie spektralnym co najmniej od 200 nm do 1100 nm. Posiadający wymienny zestaw co najmniej czterech szczelin optycznych o szerokościach od 25 µm do 200 µm. 5. Możliwość ustawienia czasu integracji w zakresie co najmniej od 1,2 ms do 10 minut. 6. Rozdzielczość (szerokość połówkowa piku FWHM) nie gorsza niż 1,20 nm. 7. Sonda światłowodowa składająca się z siedmiu włókien światłowodowych o średnicy włókna 400 µm (jednego zbierającego sygnał do detektora oraz sześciu włókien oświetlających), o długości co najmniej 2 metrów z możliwością pracy w zakresie temperatur od 30 do +100 C. 8. Statyw do sondy. 9. Wzorce do kalibracji pomiaru grubości wykonane z: SiO2 na podłożu Si. 10. Wzorzec pomiaru grubości wielowarstwowy, zawierający co najmniej 5 warstw. 11. Komunikacja z komputerem poprzez łącze USB. 12. Oprogramowanie sterujące pomiarem oraz umożliwiające rejestrację/wyznaczenie grubości warstw (oraz układów wielowarstwowych co najmniej do 5 warstw). 1 szt. Strona 7 z 11

8 13. Dodatkowo wbudowana biblioteka warstw i materiałów. 14. Zestaw komputerowy współpracujący z profilometrem interferencyjnym. 15. Wyposażenie do przygotowania cienkich przekrojów próbek w parafinie, umożliwiające przygotowanie ścinków o grubości co najmniej w zakresie od 0.5 do 60 um, wyposażony w niezbędne akcesoria, w tym noże stalowe w ilości co najmniej 50 sztuk, zabezpieczenia przed przegrzaniem, kontrolę temperatury noża i stolika, z wyświetlaniem jej na wbudowanym wyświetlaczu ciekłokrystalicznym. Analizator powierzchni właściwej i porowatości metodą sorpcji gazów, spełniający wymagane parametry techniczne: C 1 1. Zakres mierzonych porów: 0,35 nm 500 nm, 2. Zakres objętości porów: od 0,00005 cm3/g, 3. Zakres pomiaru powierzchni właściwej: od 0,01 m2/g z użyciem azotu, m2/g z użyciem kryptonu, 4. Powtarzalność pomiaru nie gorsza niż: 0,2%, 5. Wbudowane czujniki ciśnienia w bezpośrednim otoczeniu próbki pracujące w zakresie: mmhg, zapewniający rozdzielczość nie gorszą niż mmhg, oraz w zakresie 0 10 mmhg, zapewniający rozdzielczość pomiaru nie gorszą niż mmhg, 6. Dodatkowy czujnik ciśnienia gazu dozowanego do komory pomiarowej na zakres co najmniej mmhg, 7. Możliwość rozbudowania systemu o przetworniki ciśnienia pracujące w zakresie 0-1 mmhg i mmhg, 8. Analizator wyposażony w automatyczny system sterowania poziomem ciekłego azotu/argonu zapewniający stabilizację poziomu ciekłego azotu/argonu z dokładnością do 0,02 mm, 9. Temperatura gazu wewnątrz kolektora mierzona z precyzją nie gorszą niż 0,01 OC, 10. Stabilność temperatury we wnętrzu kolektora nie gorsza niż: 0,05 OC, 11. Kolektor gazu wykonany ze stali nierdzewnej, 12. Przetworniki ciśnienia, przewody, zawory, kolektor umieszczone w przedziale stabilizowanym temperaturowo regulatorem PID w temperaturze 350C z dokładnością nie gorszą niż 0,1 OC, 13. Przetwornik analogowo cyfrowy 24 bitowy, co najmniej 8-kanałowy, zapewniający ośmiocyfrową rozdzielczość odczytu ciśnienia, 1 szt. Strona 8 z 11

9 14. Co najmniej 4 porty wprowadzające gazy z możliwością automatycznego wyboru z poziomu oprogramowania. Możliwość rozbudowy o 4 dodatkowe porty gazów, 15. Możliwość pracy co najmniej z następującymi gazami: N2, Ar, CO2, He, Kr, H2, O2, CO, CH4, lekkie węglowodory, 16. W zestawie pompa turbomolekularna o wydajności 10-8 mmhg i zawory zapewniające wysoki poziom próżni, 17. Wbudowane w aparat urządzenie odgazowujące umożliwiające równoczesne odgazowanie dwóch próbek, zapewniające temperaturę odgazowania w zakresie: do 450 OC, w sposób balistyczny oraz z programowanym tempem od 1 do 10 OC/min, 18. Oprogramowanie umożliwiające sterowanie urządzeniem i analizę wyników obejmującą m.in. następujące obliczenia: 1) Powierzchnia właściwa: BET 2 parametry, BET pełne równanie z regresją nieliniową, Langmuir, Dubinin-Radushkevich- Kaganer, ESW, t-plot, alpha-s-plot, MP-Plot, 2) Standardowe izotermy: Halsey, Fransil, Harkins-Jura, De Boer, Halenda, Lecloux, definiowane przez użytkownika, 3) Rozkład wielkości mezoporów: Barrett-Joyner-Halenda, Dollimore-Heal, Cranston-Inkley, metoda bez modelowa, 4) Rozkład wielkości mikroporów z potencjałem: Horvath-Kawazoe, Saito-Foley, Dubinin-Stoeckli, 5) Moduł NLDFT (Non Local Density Functional Theory): minimalizacja funkcji energii swobodnej względem gęstości w celu obliczenie rozkładu wielkości mikro i mezoporów. 19. Zasilanie analizatora i urządzenia odgazowującego: 230V, Hz, jednofazowe, 20. W zestawie co najmniej 5 biuret pomiarowych, olej odpowiedni do pracy pompy próżniowej, 21. Możliwość rozbudowy aparatu w opcję do analiz chemisorpcji gazów w zakresie do 450 deg C oraz kompletne wyposażenie do analiz sorpcji CO2, zapewniające analizy w zakresie temperatur od co najmniej -20 do 80 deg C, 22. w zestawie dewar umieszczany w komorze pomiarowej aparatu oraz dewar transportowy o objętości co najmniej 25 litrów wyposażony w podstawę na kółkach i głowicę ciśnieniową ze stali nierdzewnej do pobierania ciekłego azot, zaopatrzona w wylewkę z separatorem faz, dwa zawory odcinające cieczowy i gazowy, manometr, dwa zawory bezpieczeństwa, klamrę zaciskową z uszczelką. Strona 9 z 11

10 Zestaw komputerowy: C 2 Zestaw sterujący obejmujący komputer klasy PC o parametrach nie gorszych niż: 1. Procesor zaprojektowany do pracy w komputerach stacjonarnych, osiągający w teście wydajności PassMark PerformanceTest co najmniej wynik 6100 punktów Passmark CPU Mark, 2. 3 GB RAM, 3. HDD 500GB SATA, 4. złącze RS2, 5. monitor min. 22" LCD, 6. DVD-RW, 7. klawiatura na złącze USB, 8. mysz optyczna bezprzewodowa, 9. Zainstalowana najnowsza bieżąca wersja systemu operacyjnego. Wymagania systemu operacyjnego: 1) 64 bitowy system operacyjny klasy PC musi spełniać następujące wymagania poprzez natywne dla niego mechanizmy, bez użycia dodatkowych aplikacji: 2) Możliwość dokonywania aktualizacji i poprawek systemu przez Internet z możliwością wyboru instalowanych poprawek; 3) Możliwość dokonywania uaktualnień sterowników urządzeń przez Internet - witrynę producenta systemu; 4) Darmowe aktualizacje w ramach wersji systemu operacyjnego przez Internet (niezbędne aktualizacje, poprawki, biuletyny bezpieczeństwa muszą być dostarczane bez dodatkowych opłat) - wymagane podanie nazwy strony serwera WWW; 5) Internetowa aktualizacja zapewniona w języku polskim; 6) Wbudowana zapora internetowa (firewall) dla ochrony połączeń internetowych; zintegrowana z systemem konsola do zarządzania ustawieniami zapory i regułami IP v4 i v6; 7) Wsparcie dla większości powszechnie używanych urządzeń peryferyjnych (drukarek, urządzeń sieciowych, standardów USB, Plug & Play, WiFi); 8) Interfejs użytkownika działający w trybie graficznym w polskiej wersji językowej; 1 szt. Strona 10 z 11

11 9) Możliwość zdalnej instalacji, konfiguracji, administrowania oraz aktualizowania systemu; 10) Zabezpieczony hasłem hierarchiczny dostęp do systemu; 11) Zintegrowany z systemem moduł wyszukiwania informacji; 12) Zintegrowane z systemem operacyjnym narzędzie zwalczające złośliwe oprogramowanie; 13) aktualizacje dostępne u producenta nieodpłatnie bez ograniczeń czasowych i licencyjnych; 14) Wbudowany system pomocy w języku polskim; 15) Certyfikat (dokument) producenta oprogramowania potwierdzający poprawność pracy systemu operacyjnego z dostarczonym sprzętem; 16) Możliwość przystosowania stanowiska dla osób niepełnosprawnych (np. słabo widzących); 17) Zdalna pomoc i współdzielenie aplikacji - możliwość zdalnego przejęcia sesji zalogowanego użytkownika celem rozwiązania problemu z komputerem; 18) Rozwiązanie służące do automatycznego zbudowania obrazu systemu wraz z aplikacjami. Obraz systemu służyć ma do automatycznego upowszechnienia systemu operacyjnego inicjowanego i wykonywanego w całości poprzez sieć komputerową; 19) Rozwiązanie umożliwiające wdrożenie nowego obrazu poprzez zdalną instalację; 20) Graficzne środowisko instalacji i konfiguracji; 21) Zarządzanie kontami użytkowników sieci oraz urządzeniami sieciowymi tj. drukarki, modemy, woluminy dyskowe, usługi katalogowe; 22) Oprogramowanie dla tworzenia kopii zapasowych (backup); automatyczne wykonywanie kopii plików z możliwością automatycznego przywrócenia wersji wcześniejszej. 23) System operacyjny musi umożliwiać obsługę urządzenia oraz działanie oprogramowania wyspecyfikowanego w Części 14 Pozycji C Podpozycji 1 niniejszej specyfikacji (bez zastosowania dodatkowych emulatorów oraz konwerterów) x USB 2.0, 11. drukarka kolorowa laserowa o rozdzielczości nie gorszej niż 600 x 600 dpi w kolorze i w czerni. Strona 11 z 11