Wydział Elektryczny MTR, studia I stopnia przez W-5. 1. Właściwości metrologiczne analogowych i cyfrowych przyrządów pomiarowych. 2. Pomiary napięcia i natężenia prądu stałego i zmiennego. 3. Pomiary rezystancji i impedancji oraz jej składowych. 4. Prawo Ohma dla gałęzi szeregowej R, L, C zasilanej napięciem sinusoidalnie zmiennym. 5. Metoda klasyczna rozwiązywania obwodów elektrycznych. Równania Kirchhoffa. 6. Wartość skuteczna prądu przebiegu okresowego. Wartość skuteczna przebiegu sinusoidalnie zmiennego. 7. Moc czynna symetrycznego odbiornika 3-fazowego. 8. Wymagania stawiane układom regulacji automatycznej, parametry odpowiedzi skokowej, uchyby statyczne i sposoby ich wyznaczania. 9. Podstawowe człony układów regulacji automatycznej. 10. Stabilność układów ciągłych. Definicje, podstawowe kryteria. Zapas modułu i fazy. 11. Stabilność układów dyskretnych. Definicje, podstawowe kryteria. 12. Sterowalność obiektu dyskretnego. 13. Metody regulacji prędkości silnika obcowzbudnego prądu stałego zasady regulacji i charakterystyki mechaniczne. 14. Metody regulacji prędkości silnika indukcyjnego zasady regulacji i charakterystyki mechaniczne. 15. Sterowanie wektorowe momentem i prędkością silnika indukcyjnego lub silnika PMSM. 16. Prostowniki sterowane, podstawowe charakterystyki, zastosowanie prostowników sterowanych. 17. Przekształtniki impulsowe prądu stałego (Przekształtniki DC/DC). Zasada działania, zastosowania przekształtników impulsowych. 18. Falowniki napięcia (inwertery napięcia DC/AC). Zasada działania, zastosowanie falowników. 19. Twierdzenie o próbkowaniu. 20. Filtry cyfrowe. B Przedmioty Wydziałowe 1. Niepewność pomiarów złożonych. 2. Wytwarzanie, właściwości i zastosowanie elektretów.
3. Materiały inteligentne (smart materials): podział, właściwości, znaczenie w nauce i technice. 4. Budowa, zasada działania, ograniczenia sterowników mikroprocesorowych. 5. Podstawowe układy wejść i wyjść mikroprocesora. 6. Budowa, zasada działania sterowników PLC. 7. Języki programowania sterowników PLC. 8. Właściwości statyczne i dynamiczne czujników pomiarowych. 9. Czujniki temperatury. 10. Zabezpieczenia silników - rodzaje i zasady doboru. 11. Sposoby regulacji prędkości obrotowej silników. 12. Szybkie prototypowanie (ang. Rapid Prototyping). 13. Ogólne cechy i właściwości programów wspomagających projektowanie i prototypowanie systemów sterowania. 14. Metody adresowania pamięci na przykładzie dowolnego mikroprocesora. 15. Modulacja PWM oraz sposoby jej realizowania za pomocą mikrokontrolerów 16. Rozwiązania konstrukcyjne wyrzutni magnetronowych. 17. Metody pomiaru próżni wstępnej i wysokiej. 18. Klasyfikacje systemów automatyki budynkowej. Pojęcie inteligentnej instalacji i inteligentnego budynku. 19. System KNX zasady topologii i logiki działania. 20. Podział urządzeń i struktura budowy urządzeń magistralnych w systemach KNX i LCN. Wydział Mechaniczny MTR, studia I stopnia przez W-10. 1. Moment siły względem punktu, moment główny, moment gnący, wyznaczanie. 2. Warunki równowagi dla układów statycznie wyznaczalnych. 3. Środek masy, moment statyczny, moment bezwładności,momenty dewiacji. 4. Ruch punktu materialnego 5. Przyspieszenie styczne i normalne. 6. Zasada zachowania energii mechanicznej. 7. Zasada zachowania pędu oraz krętu 8. Warunek wytrzymałości i sztywności na przykładzie ściskania lub skręcania, zjawisko utraty stateczności. 9. Materiały konstrukcyjne ciągliwe i kruche. 10. Współczynnik bezpieczeństwa, czynniki wpływające na jego wartości. 11. Stan naprężenia w cienkościennym zbiorniku cylindrycznym obciążonym ciśnieniem wewnętrznym. 12. Hipotezy wytrzymałościowe
13. Stałe sprężystości materiału izotropowego. Wyznaczanie doświadczalnie współczynnik Poissona i modułu Younga 14. Zjawisko zmęczenia materiałów konstrukcyjnych. 15. Charakterystyka tworzyw sztucznych 16. Charakterystyka materiałów ceramicznych 17. Charakterystyka materiałów kompozytowych 18. Cechy wiązania metalicznego 19. Obróbka cieplna stali 20. Podział stali ze względu na zastosowania 21. Podział i przykłady zastosowań stopów miedzi i stopów aluminium B Przedmioty wydziałowe 1. Dokładność geometryczna, odchyłki, tolerancje wykonania części maszyn, oznaczenia na rysunkach 2. Pasowanie, rodzaje 3. Cechy metrologiczne narzędzi pomiarowych, grupy przyczyn powstawania błędów pomiaru 4. Symbole tolerancji kształtu oraz położenia 5. Najczęściej stosowane parametry chropowatości powierzchni. 6. Odlewanie, rodzaje 7. Spawanie łukowe, metody, zastosowanie 8. Zgrzewanie materiałów, metody, zastosowanie. 9. Lutowanie, metody, zastosowanie 10. Obróbka ubytkowa, rodzaje 11. Sposoby wykonywania gwintów. 12. Zasady obliczenia połączenia wpustowego dla wału o zadanej średnicy, przenoszącego ustalony moment obrotowy. 13. Zasady obliczeń mocy mechanicznej aktora, wykonującego ruch liniowy ze znaną prędkością przy ustalonej sile. 14. Podział łożysk, ważniejsze ich cechy. 15. Rodzaje przekładni cięgnowych, ważniejsze ich cechy. 16. Koło zębate, cechy geometryczne. 17. Synteza geometryczna układu korbowo-wahaczowego 18. Lepkości fizyczne i porównawcze cieczy hydraulicznych 19. Zawory różnicowe ciśnieniowe 20. Regulatory przepływu - zasada działania i zastosowanie
Wydział Elektroniki Mikrosystemów i Fotoniki MTR, studia I stopnia przez W-12. 1. Zjawisko korozji; definicja i podział. 2. Czynniki wpływające na szybkość reakcji. 3. Paradygmaty (zbiór najważniejszych założeń, sposób rozwiązywania problemu) programowania proceduralnego i obiektowego. 4. Wskaźniki, przykłady zastosowań, w tym dynamiczna alokacja pamięci. 5. Poszczególne warstwy modelu ISO/OSI systematyka i krótka charakteryzacja. 6. Protokoły TCP i UDP - porównanie; typowe zastosowania. 7. Sposoby charakteryzacji pasywnych i aktywnych elementów elektronicznych. 8. Tranzystory bipolarne - klasyfikacja, zasada działania, zastosowania. 9. Tranzystory polowe - klasyfikacja, zasada działania, zastosowania. 10. Podstawowe różnice w działaniu tranzystorów polowych i bipolarnych. 11. Bramki logiczne TTL i CMOS podstawowa charakterystyka bramki NAND (tabela stanów, charakterystyka przejściowa). 12. Zasada działania stabilizatora parametrycznego z diodą Zenera. 13. Systematyka i najważniejsze obszary aplikacyjne MEMS. 14. Mikrosystemy zero-energetyczne (angel sensors/energy harvesters). 15. Mikromechaniczne sensory i aktuatory. 16. Podstawy mikrofluidyki. 17. Podstawowe architektury mikrokontrolerów podział i podstawowe cechy. 18. Budowa i działanie mikrokontrolera RISC na przykładzie AVR ATmega. 19. Przerwania mechanizm i programowanie. 20. Interfejsy szeregowe SPI, UART, I2C. B Przedmioty wydziałowe 1. Polimorfizm w aspekcie programowania obiektowego. 2. Dziedziczenie oraz hermetyzacja w aspekcie programowania obiektowego. 3. Metody detekcji i aktuacji w mikroskali. 4. Piezorezystancyjny, krzemowo-szklany czujnik ciśnienia konstrukcja, technologia i podstawowe parametry. 5. Transformacje Fouriera rodzaje i właściwości. 6. Metody projektowania filtrów cyfrowych. 7. Elementy bierne do montażu powierzchniowego przykłady rozwiązań materiałowych i technologiczno-konstrukcyjnych. 8. Parametry konstrukcyjno-eksploatacyjne elementów biernych (rezystorów, kondensatorów). Znormalizowany szereg rezystancji (pojemności). 9. Sztuczne organy zmysłów (na przykładzie bionicznego oka i e-słuchu). 10. Systemy bezpieczeństwa aktywnego i biernego w pojazdach zadania, stosowane czujniki. 11. Systemy zasilania paliwem zadania, stosowane czujniki. 12. Typy i rodzaje światłowodów; okna optyczna, zastosowania.
13. Półprzewodnikowe emitery i detektory promieniowania świetlnego; parametry, budowa, zastosowania. 14. Metody wytwarzania, podział i zastosowania układów grubowarstwowych. 15. Technologia LTCC (Low Temperature Cofired Ceramics niskotemperaturowa ceramika współwypalana) materiały, zastosowanie. 16. Główne komponenty systemu mikroprocesorowego, rola układów wejścia/wyjścia w komunikacji między procesorem i urządzeniami peryferyjnymi, przykłady urządzeń peryferyjnych. 17. Zasada tworzenia obrazu na ekranie monitora, działanie wyświetlacza ciekłokrystalicznego (LCD). 18. Technologie lutowania w montażu elektronicznym. 19. Rodzaje i charakterystyka błędów w modelowaniu numerycznym. 20. Metody interpolacji, aproksymacji i ekstrapolacji wyników pomiarowych zalety i wady.