Marcin Miczek Badania wpływu temperatury na właściwości elektronowe struktur metal/izolator/algan/gan grant MNiSW / NCN (39. konkurs) N N515 606339, PBU-91/RMF1/2010 21 IX 2010 20 III 2013 Zakład Fizyki Powierzchni i Nanostruktur Instytut Fizyki Centrum Naukowo-Dydaktyczne Politechniki Śląskiej Gliwice, 25 maja 2011 roku
Plan wystąpienia 1. Motywacja 2. Cel naukowy i metodyka badao 3. Projekty pokrewne i współpraca 4. Wykonawcy i zakres prac 5. Pomiary planowane na zewnątrz 6. Oprogramowanie 7. Obecne laboratorium i plany rozbudowy 8. Podsumowanie: docelowe laboratorium. 2
Motywacja: ciekawe materiały Szeroka przerwa energetyczna (3,4 ev), stabilnośd chemiczna i termiczna, dobra przewodnośd cieplna, wysokie pole przebicia, duża prędkośd unoszenia elektronów. Elektronika wysokich mocy, częstotliwości i temperatur, niebieska, ultrafioletowa optoelektronika. przerwa energetyczna (ev) 6 5 4 3 2 1 AlN GaN 3.1 3.2 3.3 3.4 3.5 3.6 stała sieciowa (A) www.arguslab.com UV InN 200 300 400 500 700 1000 długość fali (nm) 3
Motywacja: co mamy, co potrafimy Wytworzone struktury AlGaN/GaN pasywowane różnymi wielowarstwami dielektrycznymi, doświadczenie w modelowaniu własności elektronowych takich struktur, doświadczenie w badaniach chemicznych (spektroskopia i mikroskopia elektronów Augera) z zaawansowaną analizą danych pochodzących ze struktur z ultracienkimi warstwami. Adamowicz, Miczek, Hashizume, Klimasek, Bobek, Żywicki: Optica Applicata 37 (2007) 327. Miczek, Mizue, Hashizume, Adamowicz: Journal of Applied Physics 103 (2008) 104510. omowy bramka SiO 2 albo SiN x (10-20 nm) Al 2 O 3 (1 nm) AlGaN (25 nm) GaN (3 μm) Al 2 O 3 (szafir) kontakt 4
Cel naukowy projektu Opracowanie fizykalnego modelu struktur metal/izolator/algan/gan uwzględniającego: elektronowe stany powierzchniowe, defekty objętościowe, dwuwymiarowy gaz elektronowy (2DEG) na heterozłączu AlGaN/GaN, upływ przez warstwę izolatora, mechanizm pasywacji powierzchni AlGaN. 5
Metodyka badao (1/2) Pomiar zależności pojemność-napięcieczęstotliwość w temperaturach od 77 do 573 K oraz prąd-napięcie-temperatura. Porównanie wyników pomiarów z zależnościami teoretycznymi z symulacji numerycznych zjawisk elektronowych w badanych strukturach (COMSOL Multiphysics, MATLAB, własne oprogramowanie w C/C++). Dopasowanie zależności teoretycznych do eksperymentalnych za pomocą procedur klasycznych oraz algorytmów ewolucyjnych wyznaczenie parametrów elektronowych struktur. 6
Metodyka badao (2/2) Obrazowanie powierzchni za pomocą mikroskopu sił atomowych (także z przewodzącym ostrzem) porowatość i upływność warstw dielektrycznych. Profile i mapy chemiczne skaningowy mikroskop elektronów Augera z układem trawienia jonowego oraz spektrometr masowy jonów wtórnych skład warstwy pasywacyjnej i obszaru granicy fazowej izolator/algan. 7
Projekty pokrewne i współpraca 1. Projekt strukturalny Innowacyjne technologie wielofunkcyjnych materiałów i struktur dla nanoelektroniki, fotoniki, spintroniki i technik sensorowych (InTechFun, UDA-POIG.01.03.01-159/08, FSB-33/RMF1/2009): sonda Kelvina, komora próżniowa do pomiarów fotoelektrycznych; 2. środki inwestycyjne Instytutu Fizyki: zestaw do wytwarzania i kontroli próżni; 3. współpraca z Research Center for Integrated Quantum Electronics, Uniwersytet Hokkaido, Sapporo, Japonia: próbki, konsultacje naukowe. 8
Wykonawcy i zakres prac (1/2) Kierownik: dr inż. Marcin Miczek: pomiary elektryczne i fotoelektryczne, analiza wyników, modelowanie. Wykonawcy: dr hab. inż. Bogusława Adamowicz, prof. Pol. Śl.: analiza wyników, modelowanie, badania składu chemicznego; dr Andrzej Klimasek: badania składu chemicznego; dr inż. Alina Domanowska: analiza wyników (dopasowania wieloparametryczne), modelowanie; dr Jacek Mazur: obrazowanie AFM i interpretacja wyników. 9
Wykonawcy i zakres prac (2/2) Doktoranci i dyplomant: mgr inż. Piotr Bidzioski: modelowanie; mgr inż. Maciej Matys: modelowanie; Rafał Ucka: pomiary fotoelektryczne. Personel administracyjny i techniczny: Maria Naróg i Marlena Orlicka: obsługa administracyjna i finansowa projektu; mgr inż. Maciej Setkiewicz: aparatura elektroniczna; Ryszard Muzyka i Tomasz Wardzała: elementy mechaniczne. 10
Pomiary planowane na zewnątrz Pomiary upływności mikroskopem sił atomowych z ostrzem przewodzącym (conductive atomic force microscope, C-AFM) na Wydziale Elektroniki Mikrosystemów i Fotoniki Politechniki Wrocławskiej (prof. Teodor Gotszalk). Analiza chemiczna (jakościowa i ilościowa) metodą spektrometrii masowej jonów wtórnych (secondary ion mass spectrometry, SIMS) w Przemysłowym Instytucie Elektroniki w Warszawie. 11
Oprogramowanie komputerowe MATLAB: wersja R2010b, licencja sieciowa jednostanowiskowa; producent: The MathWorks, USA; dystrybutor: ONT, Kraków. Pakiet programistyczny RAD Studio XE oraz Embarcadero XE Developer Tools (C++, Delphi, PHP,.NET), licencja akademicka; producent: Embarcadero Technologies, USA; dystrybutor: BSC Polska, Warszawa. Obu zakupów dokonano w listopadzie 2010 roku. 12
Obecne laboratorium: komora próżniowa Komora z mikromanipulatorami do kontaktów elektrycznych [OmniVac]. Zestaw wytwarzania i kontroli próżni *Varian+. 13
Obecne laboratorium: optyka VIS/UV Lampa deuterowa i halogenowa (200 nm 2,5 μm) *Avantes+. miernik mocy światła *Standa+ (1 μw 3 W, 190 nm 20 μm), filtr szary obrotowy [Newport], filtry dichroiczne (pasmowoprzepustowe), płytka światłodzieląca, światłowód itd. mikroskop stereoskopowy [DeltaOptical]. 14
Obecne laboratorium: elektronika Sonda Kelvina (Besocke Kelvin Probe S z siatką o średnicy 3 mm) z układem sterująco-pomiarowym [Besocke], Pikoamperomierz ze źródłem napięciowym Keithley 6487 Analizator impedancji Agilent 4294A (własnośd: prof. S. Kochowski) 15
Rozbudowa laboratorium Doposażenie komory próżniowej do pomiarów fotoelektrycznych w układ grzania i chłodzenia ciekłym azotem Maciej Setkiewicz, projekt w toku. Zakup ostrzowej sondy Kelvina Besocke Kelvin Probe T (średnica ostrza 0,5 mm) w toku. Zakup drobnych elementów optycznych (zwierciadła, soczewki, uchwyty itp.). 16
Podsumowanie: docelowe laboratorium napięcie częstotli wośd temperatura natężenie światła długośd fali próbka (foto)pojemnośd (foto)prąd fotoluminescencja (PL) kontaktowa różnica potencjałów (CPD) fotonapięcie powierzchniowe (SPV) 17