Tranzystory typu BDP 279, BDP 281, BDP 283, BDP 285

Podobne dokumenty
NORMA BRANŻOWA. Elementy półprzewodnikowe T ranzysłory BUYP 52, BUYP 53, BUYP 54. zastosowań

BN-BB. BO 650 Grupa katalogowa Tranzystory typu /24. r [2. r N O R M A B R A N Ż O WA I BN-S8/ Ą-1I .-- ' M '\ -, "~,o N

BRANŻOWA. Tranzystory typu BF 182, BF 183

BRANŻOWA. Tranzystory BC 313 i BC 313A. Kolektor (C) tranzystora jest połączony elektrycznie z obudową. Symbol wymiaru A a - 5,08' ) o b 3 - -

r-! i, b -" I, B' C E e,

T ranzysłory typu Be 147, Be 148, Be 149

BRANŻOWA. typu UL 7741 N. b ) wysokiej jakości: UKŁAD SCALONY ANALOGOWY UL 774lN/3. UKŁAD SCALONY ANALOGOWy UL 7741N/4. jakości Q.

NORMA BRANŻOWA. Diody typu BB 104, BB 104B, BB 104G. typu. epiplanarnę. wysokiej jakości. Diody wysokiej jakości powinny być znakowane.

Układy scalone typu UL 1482K UKŁAD SCALONY ANALOGOWY UL 1482K. Przeznaczone. powszechnego UKŁAD SCALONY ANALOGOWY UL 1482K /3.

UKD , I 1403P 1401P, ' dane,: , ' d) datę produkcji. dla, wyrobów mających nadany znak. jakości Q.

BN PÓŁPRZEWODNI KOWE

BRANŻOWA. Układy scalone. typu /09 UL 1490N, UL 1495N, UL 1496K, UL 1497K, UL 1498K, UL 1496R, UL 1497R, UL 1498R

NORMA BRANtOWA. T ranzysłory BF 257, BF 258, BF Tranzystory przeznaczone sę do pracy we wzmacniaczach

I I I. .~,2f~ BN-B8 BDP 392, BDP 394, BDP ,.J,, vw~ N O R M A ',... IBN 88! i. Przedmiot normy. Przedmiotem normy są szczególo:

BRANŻOWA. 2. Pr zykład oznaczenia tyrystorów. a) standardowej j a kości: 3. Cechowanie tyrystorów powinno zawierać następujące

NORMA BRANŻOWA. Układy scalone cyfrowe układów: _ podwy:tszonej jakości (poziom jakości II) - 00/070/10,

3. 4 n a k r ę t k i M k o r p u s m i s a n a w o d ę m i s a n a w ę g i e l 6. 4 n o g i

"- '""'"I ~,~ ~. ~ ~ I BN T ranzystory typu BF 194 i BF ~ e ~ E B' C IBN b1 ~ I I I NORMA BRANŻOWA

Układy, scalone 1111 N. typu UL. Kolektor każdego tranzystora układu jest odizolowany od. podłoża złęczem p-n. W celu z~pewnienia normalnej pracy

NORMA BRANŻOWA. Elementy półprzewodnikowe. częstotliwości, 3.7. Wymagania niezawodnościowe - wg PN-78jT-OISIS. p. 3.7.

Wymagania i badania Grupa katalogowa arkusza szczegółowego. P P

Ć Ę Ę ż ŁĄ

BN oqu cc. Układy typu UCY 7437N, UCY 7438N i UCY 7440N 4M2 4Y 38 JA JY NORMA BRANŻOWA. MIKROUKlADY SCALONE. fooq.


Diody typu BAVP17, BAVP18, BAVP19, BAVP20, BAVP21

N O R M A BRANŻOWA. Diody typu. Sym- b l 1,10-1,85 H 12,00-13,50 b2 0,60-0,75 l - - 3,05 C 0,17-0, , D - 2,60 - N 1,50 - -

Ę Ę Ó ć ź Ż Ż Ą Ł Ę ć Ę Ą ź ć ź ć Ę

BN /04. Układy scalone typu UL 1601 N. MIKROUKlADY SCALONE. Kategoria klimatyczna dla układów:

ą ą Ą ł ą Ą Ł ÓŁ Ą ę ą ż ę łą ą łą

BN-81. Stabilistory. Wymagania i badania. NORMA 8RANtOWA. ELEMENTY Elementy półprzewodnikowe PÓŁPRZEWODNIKOWE

Dziś: Pełna tabela loterii państwowej z poniedziałkowego ciągnienia

Ń

Rozdział 1. Nazwa i adres Zamawiającego Gdyński Ośrodek Sportu i Rekreacji jednostka budżetowa Rozdział 2.

ź -- ć ł ź ł -ł ł --

ę ą ę ó ń ń ń ó ń ó ó ń ź ą ę Ń ą ó ę ą ó ą ą ć ś ą ó ś ó ń ó ą Ń Ą ś ę ńś Ą ń ó ń ó ńś ó ś Ą ś ś ó ó ś ś ó ą ń ó ń Ę ń ć ńś ę ó ś ś Ę ń Ł ó ń ź ń ś ę

Ść Ł ŁĄ Ł Ł ŁĄ Ą

ń ć ć ć ć

, , , , 0

ŁĄ Ę ę ę Ę ę ę ę ę ę ŁĄ ę Ą ę ę

Ę ż Ł ś ą ł ść ó ą ż ę ł Ł ś ą ś Ż ż ż ń ż ł ś ń ż żę Ł ż ó ń ę ż ł ńó ó ł ń ą ż ę ż ą ą ż Ń ż ż ż óź ź ź ż Ę ż ś ż ł ó ń ż ć óź ż ę ż ż ńś ś ó ń ó ś

Ę Ć Ś Ż ź Ż ć ć ć ć Ś ć ć ż ż Ź ć Ż ć

Ą

- ---Ą

ć ć Ę ż Ą ż ż Ź ć Ę Ą ż Ą ć ż ć ć ż ż ć Ę ż ż ć ż ć

SPECYFIKACJA ISTOTNYCH WARUNKÓW ZAMÓWIENIA

ŁĄ ę ł

ć ć ć ć ć ź Ź ć ć Ń Ę ź ź Ą ć ć

Ę ę ę Łó-ź ----


o d ro z m ia r u /p o w y ż e j 1 0 c m d ł c m śr e d n ic y 5 a ) o ś r e d n ic y 2,5 5 c m 5 b ) o śr e d n ic y 5 c m 1 0 c m 8



ĺ ą Ł ĺĺ ĺ ĺĺĺ ĺ ĺ ę Żĺ ĺĺĺĺ ę ĺ ĺ ĺĺ ĺ ą ę ś Ść Ą ę ę ś ś ś ę ý ś ż ę ś ý ę ę ń ę ą Ż ę ę ý ś ń ą ĺ ż ż ś ć ż Ż ś ć ś ś ś ą ę ś ę ę Ś ęś ś ś ś ę ęć ż

I 3 + d l a : B E, C H, C Y, C Z, ES, F R, G B, G R, I E, I T, L T, L U V, P T, S K, S I

Ł Ó Ł

Rozdział 1. Nazwa i adres Zamawiającego Rozdział 2. Informacja o trybie i stosowaniu przepisów Rozdział 3. Przedmiot zamówienia

ć Ż ż ć ż ć Ż ć ć ć ć Ż źń ż ć ć Ż ż Ż Ę ć ź Ż

Ł Ł Ó Ś Ż Ń Ł

ĘŚ ĘŚ Ó Ę

Ż Ę ź Ó

Władcy Skandynawii opracował

Ń Ń Ń

I I ~orem. ! I ~ AncxJ.a dio. . lu, ! I b pota,czona z BN-B /02. Stabilistory typu BZP 650 L, ~ uz ';:; 10 V. ~~' N O R M A ELEMENTY

S.A RAPORT ROCZNY Za 2013 rok

ń Ó Ń ś ń ś ń Ó ę ą Ż ę ą ę Ż ó Ę ą ą ę ś Ę ó Ż ę Ó

Ę Ę ź Ę Ą ć ć Ę Ą ć Ą Ę ć Ę Ę ć

Ł Ą Ź Ą Ń Ą Ą ź Ń Ł Ł

Ł Ą Ó Ł ć Ą ć ć

Ó Ż ż Ć ż ż ż Ó Ę Ę Ó Ó ż Ó Ł ż Ł

Ó Ó ć

ć ź ć Ó

ń

Ł Ń ś ń ć Ź ś ń

ź ź

ć Ę ć Ę ć Ę ż ź ż Ą ć Ą ż Ę Ę ć ż ź ż Ę ż ż Ą ż

N O R M A BRANŻOWA. Tranzystory typu '''1. Symbol wymiaru. A 4,5-5,2 l 12,5-14,5 - b 0,35-0,55 M 3,6-4,2 - b l - 0,4 - E 3,4-3,6 -

ń ń Ś Ż Ś ń

Ó ć ź ź ę ń ę ź ń ę ć ź ć ę ę ć ń ć

Ą Ł Ę Ń Ą Ó ŚĆ Ś ć Ó ń ć ŚĆ ć ć

Ł ź ś ń ść ść ś ć ć ś ć ź ź ć ć ń ć ść ć ć ś

Opis i zakres czynności sprzątania obiektów Gdyńskiego Centrum Sportu


Zawód: monter instalacji i urządzeń sanitarnych I. Etap teoretyczny (część pisemna i ustna) egzaminu obejmuje: Z ak res w iadomoś ci i umieję tnoś ci

Wrocław, dnia 31 marca 2017 r. Poz UCHWAŁA NR XXXVII/843/17 RADY MIEJSKIEJ WROCŁAWIA. z dnia 23 marca 2017 r.

Rozdział 1. Nazwa i adres Zamawiającego Gdyński Ośrodek Sportu i Rekreacji jednostka budżetowa Rozdział 2.

Ł Ł Ą Ą Ą Ą Ą Ą Ś Ą Ń

Zawód: stolarz meblowy I. Etap teoretyczny (część pisemna i ustna) egzaminu obejmuje: Z ak res wi ad omoś c i i u mi ej ę tn oś c i wł aś c i wyc h d

Rozdział 1. Nazwa i adres Zamawiającego Gdyńskie Centrum Sportu jednostka budżetowa Rozdział 2. Informacja o trybie i stosowaniu przepisów

ń ń ń

Rozdział 1. Nazwa i adres Zamawiającego Gdyńskie Centrum Sportu jednostka budżetowa w Gdyni Rozdział 2. Informacja o trybie i stosowaniu przepisów

T00o historyczne: Rozwój uk00adu okresowego pierwiastków 1 Storytelling Teaching Model: wiki.science-stories.org , Research Group

Zawód: z d u n I. Etap teoretyczny (część pisemna i ustna) egzaminu obejmuje: Z a k r e s w i a d o m o ś c i i u m i e j ę t n o ś c i w ł a ś c i w

ć ć ć ć ć ć ź ć ź ć Ć Ó Ż Ó Ć Ł ć ć ć ć ć Ą

ń ź ź ń ń ź ć Ń ń Ż ń

Ż ś ś ś ń Ż ś

Ł Ł Ó Ś Ż ż Ń Ł

Gdyńskim Ośrodkiem Sportu i Rekreacji jednostka budżetowa

ł ó ś ó Ę

Rozdział 1. Nazwa i adres Zamawiającego Gdyński Ośrodek Sportu i Rekreacji jednostka budżetowa Rozdział 2.

Zawód: s t o l a r z I. Etap teoretyczny (część pisemna i ustna) egzaminu obejmuje: r e s m o ś c i i u m i e j ę t n o ś c i c i c h k i f i k j i m

Transkrypt:

UKD 621.382.3 ELEMENTY PÓŁPRZEWODNKOWE N O R M A BRANŻOWA Tranzystry typu BDP 279 BDP 281 BDP 283 BDP 285 BN87 337532/23 Grupa katalgwa 1923 1. Przedm it nrm:i... P rzedmitem nrmy sę krzemwe z epi t aksj al nę bazę t ranzys try mcy ma ł ej c zęstt l iwści n_ p_n t ypu SDP 279 SDP 28 1 S DP 283 SDP 285 w bu_ dwi e p last ykwej E 30( TO220AS) d zas t sw ań w sprzęc i e pwszechneg uży t ku raz w u rzędzen l ach w któr ych wym aga s i ę zastswania e lementów wyskiej i bardz wyskiej j akści zgdn ie z kreś l en iam i wg P N _ 78/ T 01515. T ranzys try p r zeznaczne sę d pracy w uk ł adac h prze_ łęczajęcych mcy w szeregwych i równ l eg ł ych regu l a 3. echwanie tranzystrów pw i nn zawierać nas t ępu jęce dane: a) nazwę prducenta lub znak fabryczny b) zn aczeni e typu c ) znakwani e ddatkwe d l a t ranzys t rów wyski ej bardz wysk i ej jakśc i. T ranzystry wyskiej jakści pwinny być znakwan e cyfrę 3 a tranzystry bardz wyskiej jakści cyfrę 4 umieszczni p znaczeniu typu. 4. W y miary i znaczenie wyprwadzeń tra nzystra _ wg t rach we wzma cniaczach rn. cz. mcy i w s tpniach ste r ys. 1 i tabl. 1. rujęcych i k ń cwych wzmacniaczy. T ranzystry typu SDP 279 SDP 28 1 SDP 283 S DP 28 5 sę kmpl e ment arne dpwi edni d tranzyst rów SDP 280 SDP 282 SDP 284 SDP 286. Kat egria k li mat yczna d l a t r anzystrów: standar dwej jakśc i (pzim jakści ) 4 0/ 100/ 10 _ wyskiej j a kści (pzim jakści ) _ 4 0 / 100 /2 1 bardz wyskiej j akści (pzim j a kści ) 4 0/ 100/ 56. 2. P rzyk ł ad znaczenia tranzystrów: a) s tanda r dwe j j ak ś ci: TRANZY S TOR SDP 28 5 b ) w yskiej jakśc i: BN87/337532/23 TRAN Z Y STOR SDP 28 5/ 3 S N 87/33 75 32/23 O znaczeni e budwy stswane przez prducenta E 30. :i' 45 +501 A e: [ [ F El <:!t '>< [ W \. <łp l' J b c) b a rdz wyski e j j akśc i: BNB7/337532/231 TRANZYSTOR SDP 28 5/4 SN87/33 7532/23 R ys. 1. Obudwa E 3 0... J'.. b :1 "" Zg łsz n a przez F abry k ę P ół p rze w d nik ó w T EWA Ustanwina przez Dy rektra NaukwPrdukcyj neg entrum P ółp r zewdn ik ó w dn ia 15 kwietnia 1987 r. jak nrma b w iązu j ąca d d nia 1 paźdz i e rni ka 1987 r. (Dz. Nrm. i M iar nr 11/ 1987 pz 27) WYDAWNT WA NORMALZAYJNE A LFA' 1987. Olu k. Wyd. Nrm Wwa Ark wyd. 150 Nakl. 2500 ' 40 Zam. 1248/ 87 ena Zł 4500

2 BN 87j337S 32j23 S ymbl wymiaru Wymiary mm m in nm max T ablica 1 Wym iary budwy E 3 0 S ymbl wymiaru Wymiary mm min nm max A 406 483 b 064 089 b 1 122 140 038 043 D 146 1 1588 e 2 0 3 3 0 5 e 1. 4 5 7 5 64 F 127 H 1 597 673 L 1 2 16 2 9 2 L 127 L 1 762 889 p 358 3 63 Q 2 54 305 z 1 0 2 1 52 E 1003 10 4 1 E 1 920 9 4 0 EZ 762 8 13 5 B adania w grupie A B D wg B N 80j337S32jOO dl badania pdgrupy A4 sprawdzenie parametrów e lek_ p 5......Wymagania szczegó ł we d badań grupy A B i D : al badania pdgrupy A l sprawdzenie wymiarów A b b D) e w d l eg ł :ki 6 4 5.;. 650 mm d budwy wg 1 rys. 1 i tabl 1 bl badania pdgrupy A2 sprawdzenie pds tawwych par ametrów e lektrycznych wg tab l 2 trycznych w temperaturze ( pzim ) wg tab l 4 e) badanie pdgru py B i D wg tabl 5 f) paramet ry e lek t ryczne spr awdzan e w czasie p badaniach grupy B i D wg tab l. 6 g) wartść AQL d la jakści pdstawwej w badaniu 2 _ 4 0 % w badan iu 4 _ 25 % c) badani a pdgrupy A3 sprawdzeni e drugrzędnych parametrów elek t r ycznych wg tab l. 3 7 Pzstałe pst anwi eni a wg B N8 0 j 337S32jOO T ab lica 2 Parametry elek t ryczne sprawdzane w badaniu pdgrupy A 2 (pzim l ) War t ści graniczne Oznaczeni e Metda p L p l iterwe miaru wg W arunki pm iaru J edns tka pa r ametru P N 74j S D P 279 SDP 28 1 B DP 283 BDP 28 5 T 01 5 04 min ma x mi n max m i n max min max 1 2 3 4 5 6 '7 8 g 10 11 12 13 l EO ark Og U EO = 2 0 1 l U EO = 40 ma l. U EO = 60 1 2 1) p 6 ry s. 2 = loo ma = O U( BR) EO B 2 5 3 0 50 70 3 U a r k 0 4 E = l ma = 0 3 5 5 5 (SR )ES O.. 4 h 21E 1) ark 08 U E = 4 = l A 2 5 5 1) p. 6 rys 2 U ( S R)ER U E = 4 l = 2 A 30 2 00 U E = 4 l = 25 A 30 200 U E = 4 = 3 A 3 0 2 00 = O l A R BE = 1000 30 4 0 60 8 0 6 ER ark 09 U 3 0 ER 2 50 100 U 5 0 p.a 100 ER U ER = 7 0 100 1) P miar impu lswy: t p 300 P. s;!5 2'.

SN8 7/337532/23 3 a) Ucc = + 12!O D Przekaźnik 12052 W J 100st OSW UrBR)EO OmH Hiller Nr45JJ lub rwnrzędnlj Odchlj/anie: Q 1% 05 W } (bezindllkc. pinwe y y pollme xx Oseljlskp HP Mdel /30B lllb rdwflrzędny b) Je (ma) 1 l?.s 100 t<;)<r<;)\ i 0 ''::'::::':= 30 50 70 Napięcie klektr emiter Ucd) mel7lj)]s 32723 21 R ys. 2. Metda p miaru napięć p r zebicia k l ektremiter U (BR) eeo i U ( BR) ER a) p ds tawwy układ pmiarw y b) scy lgram napięć przebic ia Tablica 3. Parame t r y elektryczne s prawdz ane w badaniu pdgrupy A3 i 2 (pzim l ) Lp. Jed nstka Ozna c zenie literwe parametru Warunki pmiaru Metda pmiaru w g PN74/ T01504 Wart ści g ranicz ne SDP 279 SDP 281 SDP 283 SDP 285 min max min max min max min max l l 2 3 4 2 3 4 5 6 7 8 9 10 l l 12 13 U 1) ark. 06 = l A = O l A ee sal B l Le = 2 A B = 02 A l e =2SA B = 025 A l le = 3 A B = 03 A l U 1) ark. 06 = l A lb = O 1 A l 8 BE s al ' f T a r k. 24 re = 2 A L B = 0 2 A 18 e =2SA = 025 A l 8 B =;$ A B = 03 A 18 ' U =4 = 05 A E f = 1 MHz MHz 3 4 4 4 e BO a r k. 22 UB = 10 f = 1 MHz pf 250 250 250 250 1) P miar im p ulswy t p 300 s; es 2 %.

4 8N87/ 337532/23 lablica 4 Parametry elektryczne sprawdzane w badaniu pdqrupy A4 (pzim i Wartś ci graniczne Metda p Oznac zenie miaru wg Jedliterwe Warunki pmiaru BDP 27DP 281 BDP 283 BDP 285 PN _74/ nstka parametru T01504 min max min max min max min max l 2 3 4 5 6 7 8 9 10 l l 12 eer ark. 09 U eeo = = 30 5 2 ma 2 tamb = 100 U EO= 50 Lp. Pdgrupa badań R BE = 100Q' \JEO = 70 2 Tab i ca 5 Wvmaqani a szczeqó ł we d badań q rupv B D Rdzaj badań W ymagania szczegółwe l 2 3 4 B sprawdzenie wytrzyma ł ści mechanicznej próba Ub' metda 2; 5N 3 cyk le próba U a1 wyp r wadzeń 10 N sprawdzeni e szczelnści próba Q 2 B3 sprawdzenie wytrzymałści na spadki swbd pł żenie tranzystra w czasie spadania wypra_ ne wadzeniami d góry 3 B 4 i 4 sprawdzenie wyt rz y małści na udary wiel mcwanie za budwę krtne 4 B6 i 6 sprawdzenie dprnści na narażenia elek wg PN78/T 01515 P. 5.3.22 tabl. 5 metda tryczne badania układ t amb =25 OB; BDP 279 U E =175; e = 100 ma BDP 281 U = 2 1 E re =85 ma BDP 283 U = 35 ; e E = 50 ma BDP 285 U = 50 E ' Zc = 36 ma 5 3 sprawdzeni e masy 2G 6 4 sprawdzeni e wytrzyma ł ści na przyśpi eszen i e kierunek p r bierczy; stałe bydwa kierunki wz dłu ż s i wyprwadzeń mcwanie za budwę sprawdzeni e wytrzymałści na udar y wielkrtne sprawdzenie wytrzyma łś ci na wibracje stał ej częstt li wści mcwanie za budwę 7 5 sprawdzenie wy t r zymałi;c i na ci epł lutwa temperatura kępie li 350 nia 8 l0 sprawdzenie wymiarów wg r ys. 1 i tab. 1 9 Dl (pzim sprawdzeni e dprnści na niskie ciśnienie temperatura narażenia 25 i ) atmsferyczne 10 D2 sprawdzenie wytl'zymałści na rzpuszczalniki alkhl ety l wy acetn 1 1 D3 sprawdzenie pa ln ści palnść zewnętrzna 12 D4 (pz i mja spra wdzeni e wytrzymałści na pleśń brak prstu pleśni p badaniu kści " i ) 13 D5 (pzim ja sprawdzenie wyt r zymałści na mgłę slnę płżenie tranzystra dwlne kści i )

8N87/337532/23 5 Tablica 6. Parametry elektryczne sprawdzane w czasie i p badaniach grupy 8 i O (pzim i ) Oznacz... Metda Wartści graniczne nie lite pmiaru Jed_ Lp rwe wg Warunki pmiaru POdgrupa badań 8DP 279 8DP 281 8DP 2B3 nstka para_ PN74/ metru T01504 min max min max min max 1 2 3 4 5 6 7 B 9 to 11 12 1 ark 09 30 8 83 84 85 250 100 ER 2 3 4 50 5 7 9 01 1 ) p.a 100 2 1 O B R al00qu =50 BE ER 70 30 86 6 B 1200 500 p.a 500 70 30 2 i } 5 2 50 ma 2 70 h 21E 1) ark 08 la 81 83 84 85 25 2 3 4 2A S 7 9 01 1 ) 1) W czasie badania 25 A 30 200 3A 30 200 U 4 E e = la 86 6 B 20 20 A 25 A 23 250 3A 23 250 la 2 1 ) 10 2A 25 A 15 3A 15 8DP 2B5 min max 13 14 100 500 2 30 200 23 250 15 KON E nfrmacje ddatkwe

6 nfrmacje ddatkwe d SN87j337S32j23 NFORMAJE OODATKOWE l ns tytuc ja pracwu jęca nrmę _ NaukwPrduk_ cyjne entrum Półprzewdników Fabryka Półprzewdników PN7Bj T01515 Elementy półprzewdnikwe Ogólne wymagania i badani a TEWA Warszawa SN80j337S32jO Elementy półprzewdnikwe Tranzys try mcy małej częsttliwści Wymagania badania 2 Nrmy zw ięzane PN74jT01504j04 Tranzystry Pmiar ilpięć przebicia. (BR )BO (BR)EBn PN74jT01504j06 Tranzystry Pmiar napięć nasycania E sat BEsat metdę impulswę P stanwienia gólne 3 Symbl KTM wyrbu: SDP 279 1156231301003 SDP 28 1 11 56231 303005 PN74jT_01504j08 Tranzystry Pmiar h 21E impul s wę PN75jT01504j09 Tranzystry P miar prędów metdę SDP 283 1156231305005 SDP 285 1156231307009 resztkwych ER ' prędu zerweg E O PN74jT 01504j22 BO i EBO Tranzystry Pmiar PN74jT01504j24 Tranzystry Pmiar mdułu w zakresie w cz i częsttliwści f T pjemnści h 21e 4 Wartści dpuszczalne _ wg tabl ll rys ll S Dane charakterystyczne wg tabl 12 rys 12+ 18 Tablica ll Wartści dpuszczalne Lp Oznaczenie Jed Nazwa parametru parametru nstka Wartści dpuszczalne SDP 279 SDP 281 SDP 283 SDP 285 1 2 3 4 5 6 7 B 1 2 BO l'er napięcie klektrbaza przy E = O 30 40 60 BO napięcie klektremiter przy 30 40 60 80 R BE = 100 3 EO napięcie klektremiter przy = O B 25 30 50 70 4 U EBO napięcie emiterbaza przy = O 3 5 5 5 5 pręd klektra przy te as e.:s O 100 A 7 7 7 7 6 l B pręd bazy przy t ease 125 A 3 3 3 3 7 P t 1 ca łkwita mc wejściwa t case 25 W 40 40 40 40 (sta ła lub średnia) na wszystkich elektrdach t ease 100 W 16 16 16 16 tamb 25 W 1 B l B l B 18 6 t j temperatura złęcza 150 150 150 150 9 tamb temperatura tczenia w czasie pracy Oc 40.;. 100 40.;. 100 _40.. 100 40.;. 100 10 t slg temperatura pr;!echwywani a 40.;.+15! 40.;.+ 155 _40.;. +155 40.. +155

nfrmacje ddatkwe d BN87j337532j23 7 Tablica 2 Dane charakterystyczne Lp Oznaczenie Nazwa Warunki pmiaru Jedparametru parametru tamb = 250 nstk.. Typ BDP 279 BDP 281 BDP 283 BDP 285 min typ max min typ max min typ max min typ max 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 1 1 12 13 14 15 16 17 \ 1 U U ER ER = 30 150 250 1 100 l/) kwy klek N tra U ER = 50 /la 100..." ER pręd reszt.c 1 O U = 70 1 100 U l) U ER = 30 5OQ 200 O..:: U ER = 50 ma 2.c..." U = 70 200 ER 2 EO pręd zer U UEO = 20 05 1 O 1 1 wy klektra O l/) N UEO = 40 ma O 1 1.c... " UEO = 60 O 1 1 3 U napięci e = 1 ma 3 5 5 5 4 (BR )EBO 1) U(BR)EO przebicia E emiterbaza napięci e = O 1 A 25 28 30 45 50 60 70 80 przebicia pmiędzy = O B klektr emiter ) 5 U (BR)ER napięci e 1 = O 1 A 30 38 40 50 60 70 80 90 przebicia klektr R " 100 BE a emiter 6 h 1) statyczny = 1 A 25 21e wspó!czyn U = 4 nik wzmc E nienia prę c = 2 A 30 200 dweg l = 25 A 30 200 1 = 3 A 30 200 c = 7 A 23 23 23 23 7 UEsat 1) napięcie = 1 A' B = O 1 A nasycenia klektr_ emiter = 2' A; B = 02 A 1 1 = 25 A B = 025 A 1 = 3 A = 03 A B 1 = 7' = 3 A B 3 5 35 35 35

8 nfrmac j e ddatkwe d 8N87/337532/23 cd. tabl. 12 Tznaczenie Nazwa Warunki pmiaru Jed Lp. t nm. h = 25 0 SOP 279 SOP 281 SDP 283 SDP 285 parametru parametru nstka T yp min typ max min t yp max min t yp max min typ max 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 1 1 12 13 14 15 16 17 8 1) napięcie = 1 A l = O l A 1 8 UBEsat nasycenia baza_emi t er 9 U 1) napięcie BE bazaemiter U = 4 E B ' l = 2 A B = 02 A = 2 SA l B = 0 25 A 18 l = 3 A l = 03 A B 18 ' c = 1 A 1 5 = 2 A 15 lc=25a 15 1 8 = 3 A 1 5 = 7 A 3 3 3 3 10 h 21 e zwarciwy c = 05 A U = 4 20 20 20 20 E ' wspó ł czyn. 1 1 f T nik przenszeni a prę d we g f = 50 khz częstt li = O 5 A U =4 MHz 3 E 4 4 4 ' wść g r a niczna f = 1 /vhz 12 BO pjemnść U = 10 f = 1 MHz pf 250 250 250 250 klektr_ baza B 13 R _ thi c rezystancja l = 1 A U =10 B 13125 f3.125. j125 312: termi czna złęczebu dwa t = los /W R thj _ a złęcze t = 180 ma U = 10 70 70 70 70 B czenie 1) Pmiar impulswy t p E 03 ms; /J.:::. 2 0/0.

nfrmacje ddatkwe d BN87/337532/23 9 10 7 6 t }50 (re cmax O f'tat max = 40 W 4 0.2 6 D l l Q Q "" c<> 2. "'.J a /OmlM/e slb r. '.!. :BDP 28/ L. 1\ BDP 283 1""1 i ' BDP 285 i 2 4 6 5. 7 10 2 6 8 100 3f) 40 50 70 Napięcie międlij klektrem a emiterem () ri B"'N "8""7/J3=75 "'32'"'/27"'3_:[ ""11 BN 87!3375'3lln''31 Rys. 11. Dpuszczalny bszar pracy Rys. 13. Maksymalnie dpuszczalna i lść cykli termicz_ nych w wyniku grzania mcę elektrycznę 125 (% ) 100 t.... r... 14 " <> "b" :... ""Q + 0 q...... 1'. f"'. BOP279 r'i'??: i" " '.. " r... " J... k; i ci> i Si "... ) J J././ / 25 50 75 100 125 O 0.2 D.4 0.6 08 1 12 16 BNB7/3375 32/231' 21 Napięcie bala emiter U BE () l=en8=7/=33=75321"' 23""'41 Rys. 12. Dpuszczalny zakres % wartści ' prędu w funkcji Rys. 14. Typwe charakterystyki wejściwe temperatury budwy tranzystóra 5 150mA " / cs e 25 [ li 100 ma... "( SOmA 1'/... r 1 '/'.... 20 ma 1 8 = 10 ma "' '!/JhY'<?... /y f 2 4 6 8 m U 16 Napięcie mldzlj klektrem emtferem U f () Rys. S. Typwe c ha'rakterystyki wyjściwe mi 8""'N ;8"'7/"'33"'7"' "3"'2/"'23" ' r=''''5

10 lnfrmacje ddatkwe d BN87/337S32/23 5 D Uu: 4; tease 25 [ 4 02 U E = 4 er.. / / / \rf>/ ą sy j Jlr"/ Y / / / / / / / / 04 06 08 l 12 1.4 16 Napięcie baza emiter UB! ( ) / r;@jnns"'77"'33;;;75"'32"'12;;3t "'61 O ao 2 4 4 6 8 al 2 4 6 8 l Prqd klektra Je (A) 2 4 6 8 10 llif'81z337532 (23H Rys. 16. Typwa charakterystyka przejściwa Rys. 17. Typwa charakterystyka częsttliwści granicznej w funkcji prędu klektra 1000 800 600 400 200 100 80 60 40 20 10 01 U. =4 fe r.... /: r... "<?S' ć' $(> "l'.......... r?o' " '..... r"'<' r... " ". '" r\. " 1'\ \... " '\ "\\ 02 Q4 06 08 l 2 4 6 e (AJ t BN 877337532723 r si Rys. 18. Typwa charakterystyka statyczneg współq'ynnika wzmcnienia prędweg w funkcji prędu klektra