UCZESTNICY POSTĘPOWANIA



Podobne dokumenty
OGŁOSZENIE O PRZETARGU NIEOGRANICZONYM o wartości powyŝej EURO

INFORMACJA DLA WYKONAWCÓW NR 2

Spektrometry Ramana JASCO serii NRS-5000/7000

SPECYFIKACJA TECHNICZNA ZESTAWU DO ANALIZY TERMOGRAWIMETRYCZNEJ TG-FITR-GCMS ZAŁĄCZNIK NR 1 DO ZAPYTANIA OFERTOWEGO

DOTYCZY: Sygn. akt SZ /12/6/6/2012

Przewaga klasycznego spektrometru Ramana czyli siatkowego, dyspersyjnego nad przystawką ramanowską FT-Raman

Spektrofotometr FT-IR WQF-530

SPECYFIKACJA TECHNICZNA. Zakup, dostawa i instalacja Spektrometru FT-Raman z zintegrowaną przystawką FT-IR oraz mikroskopu podczerwieni.

Szczegółowa charakterystyka przedmiotu zamówienia

Dotyczy: Specyfikacji Istotnych Warunków Zamówienia do przetargu nieograniczonego na dostawę mikroskopu elektronowego - numer Zp/pn/76/2015

RFT-6000 Przystawka FT-Raman do spektrometru FT/IR-6300

Wymagane parametry dla platformy do mikroskopii korelacyjnej

Opis przedmiotu zamówienia

Załącznik Nr 1 do SIWZ MIKROSKOPY. opis i rozmieszczenie

FORMULARZ OFERTY-SPECYFIKACJA

Ważniejsza aparatura. Dynamiczna maszyna 322 MTS Load Unit

(Pieczęć Wykonawcy) Załącznik nr 8 do SIWZ Nr postępowania: ZP/259/050/D/11. Opis oferowanej dostawy OFERUJEMY:

SZCZEGÓŁOWY OPIS PRZEDMIOTU ZAMÓWIENIA

SPECYFIKACJA TECHNICZNA PRZEDMIOTU ZAMÓWIENIA

CZĘŚĆ 2 OPIS TECHNICZNY PRZEDMIOTU ZAMÓWIENIA

ZAPYTANIE OFERTOWE NR PLCRC/ /06/1871/2015

Spektrometr XRF THICK 800A

THICK 800A DO POMIARU GRUBOŚCI POWŁOK. THICK 800A spektrometr XRF do szybkich, nieniszczących pomiarów grubości powłok i ich składu.

845_Mailing_PL.qxd :05 Seite 1 Rozmiar rzeczy- wisty

ScrappiX. Urządzenie do wizyjnej kontroli wymiarów oraz kontroli defektów powierzchni

Czujniki podczerwieni do bezkontaktowego pomiaru temperatury. Czujniki stacjonarne.

ODPOWIEDZI NA PYTANIA DO TREŚCI SIWZ

PYTANIA I ODPOWIEDZI, WYJAŚNIENIA DO SIWZ ORAZ ZMIANA TERMINÓW SKŁADANIA I OTWARCIA OFERT

Arkusz Informacji Technicznej

PhoeniX. Urządzenie do wizyjnej kontroli wymiarów oraz kontroli defektów powierzchni

Pirometr LaserSight Pirometr umożliwia bezkontaktowy pomiar temperatury obiektów o wymiarach większych niż 1mm w zakresie: C.

ODPOWIEDŹ NA PYTANIE NR

DOTYCZY: Sygn. akt SZ /12/6/6/2012

Pomnażaj swoje eksperymentalne możliwości. Spektrofotometr UV-Vis Agilent Cary 3500

ZAPYTANIE OFERTOWE nr 32/2017 z dnia

Elometer CG100: Mierniki korozyjności

SPECYFIKACJA ZAPYTANIA OFERTOWEGO

Załącznik nr 6 I. SZCZEGÓŁOWY OPIS PRZEDMIOTU ZAMÓWIENIA

Załącznik nr 1 do SIWZ z dnia r.

Laserowy mikrometr skanujący Strona 376. Moduł wyświetlający LSM Strona 377

SPECYFIKACJA WYMAGAŃ UŻYTKOWNIKA URZĄDZENIA (URS) Urządzenie: Spektrofotometr (Propozycja zakupu)

Zadanie nr 1 Dostawa oraz uruchomienie spektrofotometru

CENTRUM MATERIAŁÓW POLIMEROWYCH I WĘGLOWYCH POLSKIEJ AKADEMII NAUK

OGŁOSZENIE DODATKOWYCH INFORMACJI, INFORMACJE O NIEKOMPLETNEJ PROCEDURZE LUB SPROSTOWANIE

WYJAŚNIENIE TREŚCI SIWZ

SpectraTrend HT. Pomiar barwy online 0/30

MatliX + MatliX MS. Urządzenie do wizyjnej kontroli wymiarów oraz kontroli defektów powierzchni

PARAMETRY TECHNICZNE I WARUNKI BEZWZGLĘDNIE WYMAGANE

Oferowany przedmiot zamówienia

Część A - Emisyjny spektrometr optyczny ze wzbudzeniem plazmowym ICP

SZCZEGÓŁOWY OPIS PRZEDMIOTU ZAMÓWIENIA STANOWIĄCY JEDNOCZEŚNIE DRUK POTWIERDZENIE ZGODNOŚCI TECHNICZNEJ OFERTY

Przyrządy na podczerwień do pomiaru temperatury

GONIOMETR DSA25 SPECYFIKACJA

Specyfikacja istotnych warunków zamówienia publicznego

Odpowiedzi na pytania w postępowaniu ofertowym dot.:

KAM-TECH sklep internetowy Utworzono : 09 listopad 2014

Ręczne testery FiberBasix 50 SERIA ZAWIERAJĄCA ŹRÓDŁO ŚWIATŁA ELS-50 I MIERNIK MOCY EPM-50

Specyfikacja istotnych warunków zamówienia publicznego

Pytania i odpowiedzi do postępowania ofertowego nr 1/CB/2019

SPECYFIKACJA TECHNICZNA

L.dz.:WETI/ 2946/2009 Gdańsk, dn

Kamera szybkoobrotowa 540/660 linii, DZIEŃ/NOC, 23 X ZOOM, oświetlacz IR 6 diod o zasięgu do 80 m, HQ-SD5423-IR

FER Częstochowa, r. Zmiana zapytania ofertowego

MUE 404 SERIA MUE-404. Maszyny do badań wytrzymałości na rozciąganie/ściskanie/zginanie 600 kn- 2 MN.

Ultrasonograficzne mierniki grubości materiału. Seria MTG & PTG

NRS-3000 Systems wysoko wydajne spektrofotometry rozpraszającego Raman

Instytut Systematyki i Ewolucji Zwierząt Polskiej Akademii Nauk

PARAMETR MINIMALNE WYMAGANIA OFEROWANE PARAMETRY

GWIEZDNE INTERFEROMETRY MICHELSONA I ANDERSONA

SAMODZIELNY PUBLICZNY ZAKŁAD OPIEKI ZDROWOTNEJ WOJEWÓDZKI SZPITAL ZAKAŹNY. w Warszawie. DZP/33/11/10 Warszawa, dnia

1. MIKROSKOP BADAWCZY (1 SZT.) Z SYSTEMEM KONTRASTU NOMARSKIEGO DIC ORAZ CYFROWĄ DOKUMENTACJĄ I ANALIZĄ OBRAZU WRAZ Z OPROGRAMOWANIEM

Mikroskop Cyfrowy Levenhuk DTX 500 Mobi

WYJAŚNIENIE ORAZ MODYFIKACJA treści Specyfikacji Istotnych Warunków Zamówienia

Cyfrowy wzmacniacz AED dla przetworników tensometrycznych.

Dwukanałowy miernik mocy i energii optycznej z detektorami

K-Series Optyczna WMP. Mobilne oraz innowacyjne rozwiązania metrologiczne.

O D P O W I E D Ź na zapytania w sprawie SIWZ

Ultrasonograficzne mierniki grubości materiału. Seria MTG & PTG

ZAPYTANIE OFERTOWE nr 17/2016. (wraz ze specyfikacją zamówienia) z dnia

OPIS PRZEDMIOTU ZAMÓWIENIA WRAZ Z WYCENĄ DLA CZĘŚCI I

Przegląd urządzeń pomiarowych do lamp UV

1. Zasilacz mocy AC/ DC programowany 1 sztuka. 2. Oscyloskop cyfrowy z pomiarem - 2 sztuki 3. Oscyloskop cyfrowy profesjonalny 1 sztuka

KAM-TECH sklep internetowy Utworzono : 13 listopad 2014

SPECYFIKACJA TECHNICZNA PRZEDMIOTU ZAMÓWIENIA

KOMPLETNY SYSTEM DO OCENY STÓP, RÓWNOWAGI I POSTAWY CIAŁA

PYTANIA I ODPOWIEDZI

Rejestratory Sił, Naprężeń.

MUF 401 SERIA MUF-401. Maszyny do badań dynamicznych do 100 Hz kn.

Aparat do magnetoterapii. MagneticWave - CTL mini. Aparat do magnetoterapii MagneticWave - CTL Aparat do magnetoterapii

UMO-2011/01/B/ST7/06234

Oferowany przedmiot zamówienia

Kamera termowizyjna MobIR M8. Dane Techniczne

3GHz (opcja 6GHz) Cyfrowy Analizator Widma GA4063

LABORATORIUM ANALITYCZNEJ MIKROSKOPII ELEKTRONOWEJ (L - 2)

Podpis osoby upoważnionej do złożenia oferty

LABORATORIUM Pomiar charakterystyki kątowej

KAM-TECH sklep internetowy Utworzono : 05 styczeń 2016

Ta nowa metoda pomiaru ma wiele zalet w stosunku do starszych technik opartych na pomiarze absorbancji.

SPECYFIKACJA WYMAGAŃ UŻYTKOWNIKA URZĄDZENIA (URS) Urządzenie: Spektrofotometr (Propozycja zakupu)

Ultrasonograficzne mierniki grubości materiału. Seria MTG & PTG

Transkrypt:

ATI 55, 57/II/LJ/2007 Bielsko-Biała 22.02.2007r. UCZESTNICY POSTĘPOWANIA Dotyczy: Postępowania prowadzonego w trybie przetargu nieograniczonego powyŝej 60 000 euro na: Dostawa spektrofotometru z oprzyrządowaniem I. W związku z otrzymanymi pytaniami do w/w postępowania przesyłamy treść pytań i odpowiedzi zgodnie z art. 38 ust. 1 i 2 ustawy pzp*: Pytanie 1 W nawiązaniu do ogłoszonego przez Państwa przetargu zwracamy się z pytaniem czy dopuszczacie Państwo dostawę spektrometru FTIR wraz z mikroskopem w następującej konfiguracji: 1. Spektrofotometr FTIR : Zakres liczby falowej min. :7500-370cm-1 Rozdzielczość min.: 0.9 cm-1 Stosunek sygnał/szum min. : 22000:1 Detektor DLATGS z moŝliwością zainstalowania opcjonalnie MCT, Si, InSb, InGaAs Beam-splitter Ge/KBr z moŝliwością zainstalowania opcjonalnie Si/CaF, Ge/CsI) Źródło światła ceramiczne o wysokiej intensywności System optyczny 1-wiązkowy Interferometr szczelnie zamknięty, automatyczne justowanie, sterowanie DSP lub 60 0 interferometr wykorzystujący pozłacane lustra kubiczne zapewniające wysoką przepustowość promieniowania bez dynamicznego justowania czy teŝ justowania automatycznego. Szybkość interferometru min. 2, 4 mm/s Osuszanie standardowe interferometru, komory prób, komory detektora. Połączenie z PC za pomocą USB + kabel lub Ethernet + kabel, Dwa uchwyty uniwersalne do róŝnego typu kuwet i próbek, dwie kuwety IR. MoŜliwość zainstalowania przystawki fotoakustycznej i przystawki do badań termicznych. Dodatkowe szybkie skanowanie 10Hz, moŝliwość zespolenia mikroskopu, oraz obrazowania IR z wielokanałowym mikroskopem. 2. Mikroskop FTIR: MoŜliwość współpracy z opisanym wyŝej spektrofotometrem Zakres liczby falowej min.:5000-650cm-1 1

Tryb pracy transmisyjny i odbiciowy Stosunek sygnał/szum min.: 5000:1 (pik-pik) Detektor średniozakresowy MCT, chłodzony ciekłym azotem z opcją dodatkową DLATGS i moŝliwością zainstalowania detektorów InGaAs (12000 4000 cm-1), InSb (do 1850 cm-1), szerokozakresowego MCT (do 450 cm-1) i moŝliwością zainstalowania dwóch detektorów jednocześnie Obiektyw typu Cassegrainian 10x, 16x lub 32x lub 15x Schwarzchilde (do wyboru) z moŝliwością zainstalowania 4 obiektywów jednocześnie Statyw X-Y-Zręczny, wymiar próbki min. : 50x70x20 mm Zakres próbkowania minimalny 3 x 3 µm (z obiektywem 32x) Szczelina regulowana automatycznie Sterowanie poprzez PC WyposaŜenie dodatkowe mikroskopu: okular VIS 30 do obserwacji bezpośredniej, manipulator do statywu, system X-Y-Z automatyczny system z funkcją mapowania, wraz z oprogramowaniem sterująco - obróbczym Funkcje dostępne : mapowanie ATR, autoogniskowanie, definiowanie podziału liniowego lub siatkowego próbki Parametry próbki i pomiaru: próbka max. 50x70x25 mm. pomiar ze skokiem 1 µm, kontrola przez mysz lub opcjonalnie przez dŝojstik, dokładność pozycjonowania 5 µm Dodatkowe akcesoria detektor DLATGS (opcjonalnie), okular, dŝojstik manipulator W/w zmiany nie maja wpływu na jakość uzyskiwanych wyników czy funkcjonalność zestawu, a umoŝliwiają nam zaproponowanie Państwu naszego systemu. Dalsza cześć specyfikacji pozostała bez zmian. Odpowiedź na Pytanie 1 Propozycja - Zakres liczby falowej min. 7500-370 cm -1. W związku z tym, Ŝe skrajne zakresy widma z reguły są znacznie gorszej jakości kaŝdorazowe zawęŝenie zakresu pomiarowego powoduje pogorszenie sygnału istotnego. Nie zgadzamy się na takie rozwiązanie. Propozycja - 60 0 interferometr wykorzystujący pozłacane lustra kubiczne zapewniające wysoką przepustowość promieniowania bez dynamicznego justowania czy teŝ justowania automatycznego. Po głębokiej analizie tego rozwiązania okazuje się, Ŝe docelowo spektrofotometr będzie zainstalowany w budynku poddawanym drganiom komunikacyjnym. Dlatego teŝ wymagające długiego czasu skanowania pomiary mogłyby ulegać zakłóceniu. Nie zgadzamy się na takie rozwiązanie. Propozycja Połączenie z PC za pomocą USB + kabel lub Ethernet + kabel Zgadzamy się na takie rozwiązanie. 2

Propozycja - Obiektyw typu Cassegranian 10x, 16x lub 32x lub 15x Schwarzchilde ( do wyboru ) z moŝliwością zainstalowania 4 obiektywów jednocześnie Obiektyw Cassegranian i Schwarzchilde stanowią te same rozwiązania techniczne. Zgadzamy się na takie rozwiązanie. Propozycja - Parametry próbki i pomiaru: próbka max. 50x70x25 mm. Pomiar ze skokiem 1 um, kontrola przez mysz lub opcjonalnie przez dŝojstik, dokładność pozycjonowania 5um. Zgadzamy się na zmniejszenie rozmiaru próbki do 50x70x25mm. Propozycja Dodatkowe akcesoria detektor DLATGS (opcjonalnie), okular, dŝojstik - manipulator Specyfikacja zawiera dwa wbudowane detektory jednocześnie z moŝliwością ich przełączania oraz moŝliwość zainstalowania pozostałych. Sformułowanie (opcjonalnie) w propozycji jest nie do przyjęcia. Nie zgadzamy się na takie rozwiązanie. Pytanie 2 Proszę równieŝ o wyjaśnienie zwrotu dodatkowe szybkie skanowanie 10Hz. Czy chodziło Państwu o prędkość skanowania 10 khz? Odpowiedź na Pytanie 2 Szybkie skanowanie (10Hz) tzw. "rapid scan" dotyczy funkcji wykonywania pełnych (w całym zakresie spektralnym ujętym wcześniej) 10 widm w ciągu jednej sekundy. Czyli spektrofotometr wykonuje 10 pomiarów na sekundę. Pytanie 3 Jaki jest wymagany system obserwacyjny mikroskopu? Odpowiedź na Pytanie 3 Wymagane jest by moŝliwy był podgląd próbki w czasie rzeczywistym w trakcie pomiaru IR, z widokiem całego pola próbki i zaznaczonym obszarem apretury. Pytanie 4 Jakie powinno być ustawienie kompensacji obiektywu i kondensera Cassegraina (0mm, 2 mm)? 3

Odpowiedź na Pytanie 4 Wymagane jest by zarówno kondenser jak obiektyw Cassegraina wyposaŝone były w system regulowanej kompensacji ogniska na grubość płytek solnych przynajmniej do 3mm grubości Pytanie 5 Czy wymagane jest zaoferowanie 2 stolików próbek: ręcznego i automatycznego czy wystarczy stolik automatyczny? Odpowiedź na Pytanie 5 Wystarczy stolik automatyczny. Pytanie 6 Czy z uwagi na niewystarczającą czułość detektorów nie chłodzonych do pomiarów mikroskopowych Zamawiający dopuszcza zaoferowanie mikroskopu z detektorem MCT wraz z dwupozycyjnym układem zmiany detektorów umoŝliwiającym rozbudowę systemu w przyszłości o następujące wysokoczułe detektory: MCT-B, MCT-A*, InGaAs? Odpowiedź na Pytanie 6 Mikroskop powinien być wyposaŝony w dwa detektory jednocześnie MCT oraz DLATGS, z moŝliwością rozbudowy systemu o pozostałe detektory. Pytanie 7 Czy oprócz moŝliwości wizualnej obserwacji próbki przez okular wymagana jest kamera CCD? Odpowiedź na Pytanie 7 TAK, wymagany jest system w którym moŝliwy jest równoczesny podgląd wizualny i przez kamerę (trinokular), kamera musi być cyfrowa i mieć matrycę co najmniej 768 x 494 piksle. 4

Pytanie 8 Co Zamawiający rozumie przez automatyczne justowanie interferometru? Odpowiedź na Pytanie 8 Wymagane jest by interferometr był justowany dynamicznie w trakcie skanowania z częstotliwością odpowiadającą częstotliwości przejść przez zero sygnału lasera nawet przy maksymalnej szybkości skanowania poprzez mechanizm wykorzystujący wiązkę lasera He- Ne, padającą na trójpozycyjny detektor laserowy, aby monitorować i utrzymywać idealne względne połoŝenie kątowe zwierciadeł interferometru w trakcie pomiaru. Pytanie 9 Czy z uwagi na efekty dyfrakcyjne sterowana automatycznie szczelina (apertura) mikroskopu powinna być usytuowana: a) przed próbką b) za próbką c) przed i za próbką? Odpowiedź na Pytanie 9 Bezwzględnie wymagane jest podwójne aperturowanie przed i za próbką w celu minimalizacji efektów dyfrakcyjnych. Z powaŝaniem Przewodniczący Komisji Przetargowej /-/ mgr inŝ. Mariusz Pasik pzp* - ustawa Prawo Zamówień Publicznych z dnia 29 stycznia 2004r. (Dz. U. Nr 19 poz. 177 z póź. zm.) 5