Wydział Elektroniki Mikrosystemów i Fotoniki Politechniki Wrocławskiej STUDIA DZIENNE. Wpływ oświetlenia na półprzewodnik oraz na złącze p-n

Podobne dokumenty
LABORATORIUM PRZYRZĄDÓW PÓŁPRZEWODNIKOWYCH

LABORATORIUM INŻYNIERII MATERIAŁOWEJ

Rekapitulacja. Detekcja światła. Rekapitulacja. Rekapitulacja

IA. Fotodioda. Cel ćwiczenia: Pomiar charakterystyk prądowo - napięciowych fotodiody.

Ćwiczenie nr 34. Badanie elementów optoelektronicznych

LABORATORIUM INŻYNIERII MATERIAŁOWEJ

Ćwiczenie E17 BADANIE CHARAKTERYSTYK PRĄDOWO-NAPIĘCIOWYCH MODUŁU OGNIW FOTOWOLTAICZNYCH I SPRAWNOŚCI KONWERSJI ENERGII PADAJĄCEGO PROMIENIOWANIA

Ćwiczenie nr 4 Charakterystyki I= f(u) złącza p-n.

IV. Wyznaczenie parametrów ogniwa słonecznego

E12. Wyznaczanie parametrów użytkowych fotoogniwa

Fotoelementy. Symbole graficzne półprzewodnikowych elementów optoelektronicznych: a) fotoogniwo b) fotorezystor

Podstawy fizyki ciała stałego półprzewodniki domieszkowane

Instrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego nr 13

Instrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego nr 13

EFEKT FOTOWOLTAICZNY OGNIWO SŁONECZNE

Instrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego nr 6a

Wykład VIII. Detektory fotonowe

LABORATORIUM Miernictwa elementów optoelektronicznych

Fotodetektory. Fotodetektor to przyrząd, który mierzy strumień fotonów bądź moc optyczną przetwarzając energię fotonów na inny użyteczny sygnał

BADANIA MODELOWE OGNIW SŁONECZNYCH

Ćwiczenie nr 2 Charakterystyki I= f(u) złącza p-n.

WYZNACZANIE STAŁEJ PLANCKA Z POMIARU CHARAKTERYSTYK PRĄDOWO-NAPIĘCIOWYCH DIOD ELEKTROLUMINESCENCYJNYCH. Irena Jankowska-Sumara, Magdalena Krupska

Instrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego nr 7

Ćwiczenie 1 LABORATORIUM ELEKTRONIKI POLITECHNIKA ŁÓDZKA KATEDRA PRZYRZĄDÓW PÓŁPRZEWODNIKOWYCH I OPTOELEKTRONICZNYCH

Ćwiczenie 134. Ogniwo słoneczne

1 Źródła i detektory. V. Fotodioda i diody LED Cel ćwiczenia: Pomiar charakterystyk prądowo - napięciowych fotodiody i diod LED.

Źródła i 1detektory IV. ZJAWISKO FOTOELEKTRYCZNE WEWNĘTRZNE W PÓŁPRZEWODNIKACH.

Wykład 5 Fotodetektory, ogniwa słoneczne

1. Właściwości materiałów półprzewodnikowych 2. Półprzewodniki samoistne i domieszkowane 3. Złącze pn 4. Polaryzacja złącza

Wykład 5 Fotodetektory, ogniwa słoneczne

Wydział Elektroniki Mikrosystemów i Fotoniki Politechniki Wrocławskiej STUDIA DZIENNE. Badanie tranzystorów unipolarnych typu JFET i MOSFET

E12. Wyznaczanie parametrów użytkowych fotoogniwa

BADANIE CHARAKTERYSTYK FOTOELEMENTU

Badanie detektorów promieniowania optycznego

V. Fotodioda i diody LED

Rys.2. Schemat działania fotoogniwa.

ZJAWISKA FOTOELEKTRYCZNE

Elementy optoelektroniczne. Materiały dydaktyczne dla kierunku Technik Optyk (W12) Kwalifikacyjnego kursu zawodowego.

LASERY I ICH ZASTOSOWANIE

Wyznaczanie parametrów baterii słonecznej

J Wyznaczanie względnej czułości widmowej fotorezystorów

spis urządzeń użytych dnia moduł O-01

Badanie baterii słonecznych w zależności od natężenia światła

EFEKT FOTOWOLTAICZNY OGNIWO SŁONECZNE

Repeta z wykładu nr 5. Detekcja światła. Plan na dzisiaj. Złącze p-n. złącze p-n

Widmo promieniowania elektromagnetycznego Czułość oka człowieka

Elementy optoelektroniczne

PRACOWNIA ELEKTRYCZNA I ELEKTRONICZNA. Zespół Szkół Technicznych w Skarżysku-Kamiennej. Sprawozdanie

WOJSKOWA AKADEMIA TECHNICZNA

BADANIE ZEWNĘTRZNEGO ZJAWISKA FOTOELEKTRYCZNEGO

Skończona studnia potencjału

UNIWERSYTET SZCZECIŃSKI INSTYTUT FIZYKI ZAKŁAD FIZYKI CIAŁA STAŁEGO. Ćwiczenie laboratoryjne Nr.2. Elektroluminescencja

ELEKTRONIKA ELM001551W

Repeta z wykładu nr 8. Detekcja światła. Przypomnienie. Efekt fotoelektryczny

Ćwiczenie nr 123: Dioda półprzewodnikowa

Laboratorium fizyki CMF PŁ

Równanie Shockley a. Potencjał wbudowany

Część 1. Wprowadzenie. Przegląd funkcji, układów i zagadnień

Źródła i detektory IV. ZJAWISKO FOTOELEKTRYCZNE WEWNĘTRZNE W PÓŁPRZEWODNIKACH.

Repeta z wykładu nr 4. Detekcja światła. Dygresja. Plan na dzisiaj

Część 2. Przewodzenie silnych prądów i blokowanie wysokich napięć przy pomocy przyrządów półprzewodnikowych

Zakres wykładu. Detekcja światła. Zakres wykładu. Zakres wykładu

Ćwiczenie 3 WPŁYW NASŁONECZNIENIA I TECHNOLOGII PRODUKCJI KRZEMOWYCH OGNIW FOTOWOLTAICZNYCH NA ICH WŁASNOŚCI EKSPLOATACYJNE

POLITECHNIKA ŁÓDZKA INSTYTUT FIZYKI. Efekt fotowoltaiczny i fotoprzewodnictwo Badanie fotodiody i fotoopornika

Nazwisko i imię: Zespół: Data: Ćwiczenie nr 123: Półprzewodnikowe złącze p-n

Ćwiczenie 2 LABORATORIUM ELEKTRONIKI POLITECHNIKA ŁÓDZKA KATEDRA PRZYRZĄDÓW PÓŁPRZEWODNIKOWYCH I OPTOELEKTRONICZNYCH

Ćwiczenie Nr 5. Badanie różnych konfiguracji modułów fotowoltaicznych

Wykład IV. Półprzewodniki samoistne i domieszkowe

Złącze p-n: dioda. Przewodnictwo półprzewodników. Dioda: element nieliniowy

WYZNACZENIE STAŁEJ PLANCKA NA PODSTAWIE CHARAKTERYSTYKI DIODY ELEKTROLUMINESCENCYJNEJ

Elementy optoelektroniczne. Przygotował: Witold Skowroński

Urządzenia półprzewodnikowe

TEORIA TRANZYSTORÓW MOS. Charakterystyki statyczne

LABORATORIUM ELEKTRONIKI ĆWICZENIE 4 POLITECHNIKA ŁÓDZKA KATEDRA PRZYRZĄDÓW PÓŁPRZEWODNIKOWYCH I OPTOELEKTRONICZNYCH

Cel ćwiczenia: Wyznaczenie szerokości przerwy energetycznej przez pomiar zależności oporności elektrycznej monokryształu germanu od temperatury.

Laboratorium Elementów Elektronicznych. Sprawozdanie nr Charakterystyki i parametry dyskretnych półprzewodnikowych.

Przerwa energetyczna w germanie

I. DIODA ELEKTROLUMINESCENCYJNA

Wybrane elementy optoelektroniczne. 1. Dioda elektroluminiscencyjna LED 2. Fotodetektory 3. Transoptory 4. Wskaźniki optyczne 5.

Badanie ogniw fotowoltaicznych

Optyczne elementy aktywne

Przyrządy półprzewodnikowe część 5 FET

Ćwiczenie Nr 11 Fotometria

1 Źródła i detektory. I. Badanie charakterystyki spektralnej nietermicznych źródeł promieniowania elektromagnetycznego

Złącze p-n. Stan zaporowy

Diody i tranzystory. - prostownicze, stabilizacyjne (Zenera), fotodiody, elektroluminescencyjne, pojemnościowe (warikapy)

Sprawdzanie prawa Ohma i wyznaczanie wykładnika w prawie Stefana-Boltzmanna

POLITECHNIKA ŁÓDZKA INSTYTUT FIZYKI. Temperaturowa zależność statycznych i dynamicznych charakterystyk złącza p-n

ĆWICZENIE 4 CHARAKTERYSTYKI STATYCZNE TRANZYSTORA BIPOLARNEGO

Wykład V Złącze P-N 1

Stanowisko do badania zjawiska tłumienia światła w ośrodkach materialnych

Fizyka i technologia złącza PN. Adam Drózd r.

WYKORZYSTANIE FOTOPRZETWORNIKÓW W UKŁADACH AUTOMATYKI.

Sprawozdanie z laboratorium proekologicznych źródeł energii

Ćwiczenie - 3. Parametry i charakterystyki tranzystorów

Ćwiczenie 2 WSPÓŁPRACA JEDNAKOWYCH OGNIW FOTOWOLTAICZNYCH W RÓŻNYCH KONFIGURACJACH POŁĄCZEŃ. Opis stanowiska pomiarowego. Przebieg ćwiczenia

1. Wymień trendy rozwojowe współczesnej elektroniki. 2. Zdefiniuj pojęcie sygnału. Jakie rodzaje sygnałów występują w elektronice?

Aleksandra Banaś Dagmara Zemła WPPT/OPTOMETRIA

Wydział Elektrotechniki, Elektroniki, Informatyki i Automatyki Katedra Przyrządów Półprzewodnikowych i Optoelektronicznych.

Transkrypt:

Wydział Elektroniki Mikrosystemów i Fotoniki Politechniki Wrocławskiej STUDA DZENNE LABORATORUM PRZYRZĄDÓW PÓŁPRZEWODNKOWYCH Ćwiczenie nr 5 Wpływ oświetlenia na półprzewodnik oraz na złącze p-n. Zagadnienia do samodzielnego przygotowania - model pasmowy półprzewodnika, - konduktywność półprzewodników domieszkowanych i niedomieszkowanych, - wpływ światła na konduktywność półprzewodnika, - wewnętrzne zjawisko fotoelektryczne, - parametry fotorezystorów, - charakterystyka prądowo-napięciowa złącza p-n, wzór Shockley a, - wpływ światła na charakterystykę prądowo-napięciową złącza p-n, - dioda półprzewodnikowa jako detektor promieniowania (parametry, budowa), - ogniowo słoneczne (parametry, budowa).. Program zajęć - pomiar zależności rezystancji fotorezystora od natężenia oświetlenia, - pomiar charakterystyki prądowo-napięciowej fotodiody, - pomiar charakterystyki prądowo-napięciowej ogniwa słonecznego (wyznaczenie parametrów charakterystycznych). Literatura C. Świt, J. Pułtorak - Przyrządy półprzewodnikowe. D. Ohly, Z. Radzimski - Elementy elektroniczne, Skrypt do Laboratorium. E. Streetman - Przyrządy półprzewodnikowe. Wykonując pomiary PRZESTRZEGAJ przepisów BHP związanych z obsługą urządzeń elektrycznych.

V. Wiadomości wstępne 1. Wewnętrzne zjawisko fotoelektryczne 2 Fotony absorbowane przez półprzewodnik mogą spowodować powstanie nośników prądu w drodze generacji par elektron-dziura lub w drodze generacji jednego typu nośników z poziomów domieszkowych (jonizacji donorów lub akceptorów w niskich temperaturach). Warunkiem wystąpienia opisanych efektów jest odpowiednia energia absorbowanego fotonu. Warunek progowy zjawiska fotoelektrycznego wewnętrznego: półprzewodnik samoistny: hν W stąd : czyli [ µ m] g prog ch W g prog 1, 24 W g [ ev ] półprzewodnik donorowy: ch hν Wc Wd stąd : prog, W W c d 1,24 prog[ µ m] c - prędkość światła, h - stała Plancka W W półprzewodnik akceptorowy: prog [ µ m] c W a d 1,24 W v [ ev ] [ ev ] Przykładowe wartości progowej długości fali: ch hν Wa Wν stąd : prog, W W a ν materiał Ge Si GaN Ge (dom. Au) Ge (dom. Zn) nsb prog [µm] 1,8 1,1 0,37 15 40 10 Konduktywność półprzewodnika oświetlonego σ f wyraża się sumą konduktywności ciemnej σ o (półprzewodnik nieoświetlony) i konduktywności fotoelektrycznej σ (przyrost konduktywności półprzewodnika wynikający z oświetlenia) σ σ + σ f o ( p ) σ q n µ + µ o o n o p µ n, µ p - ruchliwości elektronów i dziur n o, p o - koncentracje równowagowe elektronów i dziur q - ładunek elementarny σ q ( nµ n + pµ p ) przy czym: przyrost liczby nośników n, p jest liniową funkcją strumienia świetlnego (dla małych mocy promieniowania) i wyraża się wzorem: n β k τ - dla elektronów (dla dziur analogicznie),

3 gdzie: β - wydajność kwantowa, proporcjonalna do ilości par elektron-dziura generowanych przez jeden padający foton; k - współczynnik absorpcji półprzewodnika ; - strumień świetlny; τ - czas życia nośników Stąd konduktywność półprzewodnika jest liniową funkcją strumienia świetlnego w granicach stosowalności wzoru n βkτ. Właściwość tą wykorzystuje się w fotorezystorach. Wzrost konduktywności pod wpływem światła powoduje malenie rezystancji fotorezystora. Przy stałym napięciu przyłożonym do fotorezystora spowoduje to określony przyrost prądu w obwodzie fotorezystora. Do parametrów charakterystycznych fotorezystorów zalicza się: wartość rezystancji ciemnej (zwykle zakres MΩ), wartość rezystancji przy określonym natężeniu oświetlenia (np. 1kΩ dla E1klx) oraz zakres widmowy i czułość. Czułość fotoelementu (fotorezystora, ale także fotodiody złączowej) dla światła monochromatycznego określa się następującymi wzorami: C P A W E lub C A lx gdzie: P - moc padającego promieniowania, E - natężenie oświetlenia, - przyrost prądu (fotoprądu) w stosunku do prądu ciemnego przy określonym napięciu na fotoelemencie. Czułość zależy od rodzaju półprzewodnika i długości fali świetlnej - tę ostatnią zależność przedstawia Rys. 1. Zwykle w katalogach podaje się wartość maksymalną czułości dla optymalnej długości fali. 100 Si Ge nsb względna czułość [ ] % 50 10 oko ludzkie 0,1 0,5 1 2 5 10 prog Si [µm] Rys. 1. Przebieg względnej czułości widmowej kilku materiałów półprzewodnikowych

4 2. Wpływ światła na złącze p-n Zależność prądowo-napięciową oświetlonego złącza p-n opisuje zmodyfikowany wzór Shockley a: s qu exp kt 1 gdzie: s - prąd ciemny, generacji lub nasycenia - fotoprąd, prąd związany z występowaniem wewn. efektu fotoelektrycznego Fotoprąd zależy od strumienia świetlnego (ilości padających fotonów), a nie zależy od napięcia polaryzacji złącza. Pole elektryczne złącza p-n powoduje natychmiastowe rozdzielenie nośników generowanych przez fotony w obszarze złącza i przepływ zwiększonego prądu w obwodzie zewnętrznym. Również nośniki prądu generowane poza obszarem złącza ale w jego pobliżu, dyfundując do obszaru warstwy zaporowej, podlegają działaniu pola w złączu. Na rys. 2 przedstawiono charakterystykę prądowo-napięciową oświetlonego złącza p-n. Parametrem rodziny krzywych jest strumień świetlny (odpowiadający mocy padającego światła, P wyrażonej w lumenach) lub natężenie oświetlenia E (jednostką jest luks, przy czym: 1 lx 1 lm/m 2 ). Jak widać, ze wzrostem strumienia świetlnego rośnie prąd wsteczny złącza spolaryzowanego zaporowo (wykres w ćwiartce układu współrzędnych). Ten rodzaj pracy, polaryzacja złącza stałym napięciem w kierunku zaporowym, jest wykorzystywany w fotodiodach. Fotodiody pracują jako czujniki promieniowania optycznego w wielu zastosowaniach; w telekomunikacji światłowodowej przede wszystkim jako bardzo szybkie detektory sygnałów optycznych. Ogniwo fotowoltaiczne (fotoogniwo, ogniwo słoneczne). Opisany wyżej mechanizm rozdzielania ładunków (nośników) w polu wbudowanym złącza powoduje wytworzenie w niespolaryzowanym złączu siły elektromotorycznej, E Jest to zjawisko fotowoltaiczne, które wykorzystuje się w ogniwie słonecznym. 0 Rys. 2. Charakterystyka prądowo-napięciowa złącza p-n oświetlonego strumieniem światła U Siła elektromotoryczna fotoogniwa, Ε inaczej nazywana jest napięciem rozwarcia fotoogniwa, U oc : patrz Rys.3. W V ćwiartce ukł. wsp. ogniwo jest elementem dostarczającym moc elektryczną.

5 Napięcie rozwarcia U oc, można wyznaczyć z podanego wyżej wzoru na prąd oświetlonego złącza p-n. Dla ogniwa rozwartego, prąd w obwodzie zewnętrznym nie płynie, więc: quoc s exp 1 0 nkt nkt φ stąd U oc ln 1 + q s Na charakterystyce prądowo-napięciowej ogniwa fotowoltaicznego ( Rys. 3), wartość siły elektromotorycznej odpowiada punktowi przecięcia charakterystyki z osią odciętych (U). Przecięcie tej charakterystyki z osią rzędnych () wyznacza prąd zwarciowy ogniwa fotowoltaicznego sc dla ogniwa zwartego czyli dla U0. Na charakterystyce -U wyznaczyć można punkt P max, w którym moc dostarczana przez ogniwo będzie maksymalna. Przez punkt mocy maksymalnej o współrzędnych (U m, m ), który jest punktem pracy ogniwa, oraz początek układu współrzędnych wykreślić m SC P U max m m U m U OC 1 R obc U φ const. Rys. 3. Charakterystyka prądowo-napięciowa ogniwa słonecznego można prostą obciążenia. Nachylenie tej prostej związane jest z wartością rezystancji obciążenia R obc (w tym wypadku obciążenia optymalnego) dołączonego do ogniwa. Współczynnik wypełnienia FF (ang. fill-factor) definiowany jest jako (patrz Rys. 3) stosunek maksymalnej mocy wydzielonej w obciążeniu do iloczynu sc U oc : m Um FF U Wartość współczynnika wypełnienia świadczy o jakości fotoogniwa, dla ogniw słonecznych o dobrej konstrukcji i technologii zawiera się w granicach 0,7...0,8. sc Ważnym, z energetycznego punktu widzenia, parametrem ogniw fotowoltaicznych jest ich sprawność η definiowana jako stosunek wytworzonej mocy elektrycznej do mocy padającego promieniowania świetlnego (P we ) m U η P we m oc 100% Sprawność wytwarzanych przemysłowo krzemowych ogniw fotowoltaicznych zawiera się w granicach 12-14%, a sprawność teoretyczna wynosi: dla ogniw krzemowych ok. 24%, dla ogniw wykonanych z GaAs przekracza 30%.

6 V. Pomiary Jako źródło promieniowania świetlnego stosujemy rzutnik z żarówką halogenową. Wielkość strumienia światła jest proporcjonalna do natężenia oświetlenia E. Oświetlenie mierzonego elementu fotoelektrycznego maleje w miarę wzrostu odległości elementu od źródła światła. Zmieniając położenie elementu fotoelektrycznego względem źródła światła mierzymy charakterystyki oświetleniowe. Przed pomiarami elementów należy wyskalować źródło światła dla danego stanowiska za pomocą luksomierza według wskazówek Prowadzącego. 1. Pomiar charakterystyki fotorezystora Zależność rezystancji fotorezystora od oświetlenia zmierzyć w układzie jak na Rys. 4 a wykreślić w liniowym układzie współrzędnych zależności R -1 f(e) gdzie: R - rezystancja fotorezystora, E - natężenie oświetlenia wyrażone w klx (kilo-luksach). omomierz Rys. 4. Układ do pomiaru zależności rezystancji fotorezystora od oświetlenia 2. Pomiar charakterystyki f(u) / Econst. dla fotodiody pracującej jako fotodetektor Zmierzyć charakterystyki f(u) / Econst. fotodiody, kierunek zaporowy, dla trzech wartości oświetlenia, w układzie jak na Rys. 5. UWAGA: Zwrócić uwagę na prawidłową polaryzację elementu i dopuszczalne napięcie. zasilacz napięciowy + _ 1kΩ X 100Ω Y Rys. 5. Układ do pomiaru charakterystyki prądowo-napięciowej fotodiody pracującej jako detektor (X,Y wejścia rejestratora)

7 3. Pomiar charakterystyk f(u) dla ogniwa fotowoltaicznego W układzie jak na rys. 6 zmierzyć dla co najmniej trzech wartości natężenia oświetlenia Eparametr, zależność f(u) ogniwa. Wykres charakterystyki -U otrzymujemy zmieniając płynnie wartość rezystora regulowanego R obc, czyli zmieniając płynnie punkt pracy ogniwa. Pomiar przeprowadzić wykorzystując rejestrator X-Y. 10Ω X Y R obc Rys. 6. Układ do pomiaru charakterystyki napięciowo-prądowej ogniwa słonecznego X,Y wejścia rejestratora dla R obc 0 uzyskujemy warunek bliski sc, U sc 10 Ω dla R obc uzyskujemy warunek bliski UU oc, 0; dla odczytu U oc spowodować rozwarcie obwodu odłączając R obc. Na arkuszu z wykreślonymi charakterystykami, dla jednej ze zmierzonych zależności, wyznaczyć punkt pracy dla optymalnego obciążenie R obc, P max oraz współczynnik FF. Punkt pracy dla P max określić orientacyjnie porównując wartość mocy w wybranych 3 punktach położonych w zakresie kolana charakterystyki -U.