SPECYFIKACJA TECHNICZNA Zakup i dostawa konfokalnego spektrometru ramanowskiego i mikroskopu AFM WYMAGANIA TECHNICZNE Założenia ogólne Przedmiotem zakupu oraz dostawy spektrometr ramanowski z mikroskopem optycznym oraz skaningowy mikroskop sił atomowych (AFM) dla Laboratorium Międzyuczelnianego w Stalowej Woli W celu potwierdzenia, parametrów oferowanego przedmiotu zamówienia należy do oferty dołączyć opisy w formie papierowej, które w sposób jednoznaczny pozwolą stwierdzić, że parametry eksploatacyjno techniczne oferowanego urządzenia będą zgodne z wymaganiami Zamawiającego Urządzenie musi spełniać wymagania dyrektywy "Nowego Podejścia UE - znak CE, oraz wymagania odpowiednich norm przedmiotowych Parametry techniczne urządzenia PODSTAWOWE WYMAGANIA TECHNICZNE SPEKTORMETR RAMANOWSKI Lp Nazwa parametru Wielkość parametru Spektrometr ze wzbudzaniem światłem laserowym o długości fal λ=nm, λ=nm, λ=nm i λ=nm Spektrograf wyposażony w podwójny tor detekcyjny Płynna regulacja plamki lasera z całkowicie zoptymalizowaną drogą wiązki laserowej Zmotoryzowany zestaw neutralnych filtrów szarych do regulacji poziomu mocy promieniowania lasera wzbudzającego Zestaw wymiennych zmotoryzowanych soczewek montowanych kinematycznie, niezbędnych do optymalizacji zdolności rozdzielczej spektrometru w zakresie UV, VIS i NIR podwójny tor detekcyjny z jednostopniowym przejściem wiązki, o ogniskowej max mm rozmiar plamki lasera - µm (zależnie od obiektywu i długości fali) zakres mocy od % do %
Lp Nazwa parametru Wielkość parametru Automatyczny system zmiany filtrów odcinających Rayleigha Zestaw krawędziowych filtrów służących do odcięcia linii Rayleigha fal λ=nm, λ=nm Krawędziowy filtr służących do odcięcia linii Rayleigha fali λ=nm Krawędziowy filtr służących do odcięcia linii Rayleigha fali λ=nm Stolik do zamocowania kompletu siatek dyspersyjnych z elektroniczną kontrolą położenia Holograficzne siatki dyspersyjne montowane na zmotoryzowanym stoliku Detektor CCD z matrycą o zwiększonej grubości warstwy światłoczułej oraz zwiększonej czułości w zakresie UV i VIS Chłodzenie termoelektryczne (moduł Peltiera), bez konieczności chłodzenia wodą lub ciekłym azotem dolny limit rejestracji widma dla każdego z nich cm - dolny limit rejestracji widma dla każdego z nich cm - dolny limit rejestracji widma dla każdego z nich cm - ilość linii/ mm dla siatek dyspersyjnych linii/mm, linii/mm, linii/mm, linii/mm zakres roboczy detektora: - nm minimalny wymiar matrycy: x pikseli temperatura chłodzenia : C Detektor liniowy typu InGaAs, o minimalnym rozmiarze x pikseli, rozmiar piksela min: x µm, szybkości rejestracji min widm/s, chłodzony termoelektrycznie bez konieczności chłodzenia ciekłym azotem System pomiarów konfokalnych z możliwością ciągłego strojenia, ze zmotoryzowaną szczeliną oraz automatyczną optymalizacją sygnału Automatyczna zmiana trybu pracy pomiar konfokalny/ standardowy zakres spektralny: do µm minimalny wymiar matrycy: x pikseli temperatura chłodzenia : C wydajność kwantowa: %
Lp Nazwa parametru Wielkość parametru System detekcji umożliwiający płynny pomiar z wysoką rozdzielczością w rozszerzonym zakresie spektralnym bez zszywania widm z kolejnych zakresów spektralnych Zmieniająca się zdolność rozdzielcza kontrolowana przez CCD, wysoka czułość detektora Zakres spektralny : a) dla λ=nm: - cm - b) dla λ=nm: - cm - Rozdzielczość spektralna dla nm: cm - Automatyzacja modułu ramanowskiego Automatyczna regulacja i optymalizacja mocy wiązki laserowej padającej na próbkę Automatyczna zmiana i regulacji średnicy wiązki przechodzącej przez szczelinę kołową modułu teleskopowego ( beam expander ) Automatyczna regulacja parametrów systemu przy użyciu wewnętrznej próbki referencyjnej Kalibracja osi częstości oraz korekcja intensywności przy użyciu wbudowanego źródła światła białego oraz lampy neonowej Automatyczne przełączanie między obrazem w świetle białym a pomiarem w świetle lasera Obrazowanie ramanowskie Spektrometr ramanowski musi zapewniać możliwość obrazowania/mapowania ramanowskiego: punktową, liniową, szybkie obrazowanie typu streamline lub linescan wraz z pakietem do analizy chemometrycznej szybkie obrazowanie punktowe w trybie wysokiej rozdzielczości < nm Mikroskop (Specjalnie przystosowany konfokalny mikroskop optyczny klasy Research Grade zintegrowany ze spektrometrem Ramana, zawierający jak wyszczególniono niżej) Osłonę mikroskopu z automatyczną blokadą emisji lasera zgodną z I klasą bezpieczeństwa Iluminację światłem odbitym
Lp Nazwa parametru Wielkość parametru Głowicę trójobiektywową - binokular + kolorowa kamera video Cztery obiektywy ze standardową ogniskową Dwa obiektywy z długą ogniskową Obiektyw UV Powiększenia obiektywów: x, x, x, x Powiększenia obiektywów: x, NA, WD, x, NA, WD, Powiększenie obiektywu: X Zmotoryzowany stolik mikroskopowy XYZ z aktywnymi funkcjami mapowania punktowego i liniowego oraz obrazowania objętościowego D Mikroskop musi posiadać funkcję autofocus do automatycznego badania próbek chropowatych Joystick do pozycjonowania próbki oraz oprogramowanie sterujące do stolika i mapowania Wyposażenie do ogniskowania liniowego ( line focus accessory) Minimalny krok w osiach XY/Z : / µm (dla obiektywu x) Rozdzielczość lateralna XY: µm (dla obiektywu x) Rozdzielczość konfokalna w osi Z: < µm Laser He-Cd pracujący na linii nm Lasery Laser Nd:YAG nm, chłodzony powietrzem Moc wyjściowa lasera (CW): mw Moc wyjściowa lasera (CW): mw Laser diodowy o linii nm, z filtrem plazmowym i integralnym systemem chłodzenia powietrzem Moc wyjściowa lasera (CW): mw
Lp Nazwa parametru Wielkość parametru Moc wyjściowa lasera Laser Nd:YAG pracujący na linii nm (CW): mw Wyposażenie dodatkowe Spektrometr musi być wyposażony w sondę światłowodową dla długości fali nm, z integralnym filtrem Rayleigh a do min cm-, wyposażona w światłowód o długości min m sprzężony ze spektrometrem Stół optyczny z pasywną wibroizolacją Stanowisko robocze zawierające: biurko i fotele pracownicze zgodne w wymogami BHP Zintegrowany system komputerowy i zintegrowane oprogramowanie do sterowania układem AFM/RAMAN, akwizycji danych i ich przetwarzania Komputer do sterowania systemem zalecane przez producenta Wymiary minimalne blatu: xx, m szt Monitor Laserowa drukarka kolorowa z opcją druku duplex szt szt Oprogramowanie komputerowe z programem umożliwiającym sterowanie systemem, akwizycję i obróbkę danych pomiarowych Wymagana licencja wielostanowiskowa Oprogramowanie biurowe typu Office lub równoważne z licencja stanowiskowa Biblioteki widm ramana Min widm Sprzężenie z AFM Spektrometr ramanowski musi być zintegrowany z mikroskopem AFM (specyfikacja techniczna niżej) na poziomie mechanicznym, optycznym oraz programowym umożliwiającym automatyczne wykonywanie mapowania Raman/AFM Sprzężenie optyczne w symetrii off-axis dla optymalizacji pomiarów typu TERS
Lp Nazwa parametru Wielkość parametru Układ sprzężenia optycznego dla AFM powinien być wyposażony w: elastyczne ramię próbkowania do bezpośredniego ogniskowania lasera ramanowskiego na sondzie, ramię musi być zamontowane na zmotoryzowanym stoliku umożliwiającym przesuw w kierunkach x,y,z poprzez interfejs trackball, kamerę wideo zamontowaną na końcu ramienia, dla ogniskowania lasera na ostrzu Opcje Dostarczona aparatura musi spełniać warunki dalszej rozbudowy o: przestrajalny filtr umożliwiający pomiary niskoczęstotliwościowe, zestaw do analizy polaryzacyjnej Dolny zakres pomiarowy: cm - (zależnie od próbki) PODSTAWOWE WYMAGANIA TECHNICZNE SKANINGOWY MIKROSKOP SIŁ ATO- MOWYCH AFM Lp Nazwa Opis Tryby pomiarowe AFM - Kontaktowy AFM, - Pół-kontaktowy AFM, - Bezkontaktowy AFM, - Obrazowania fazowego, - Mikroskopia prądów tunelowych (STM), - Krzywe siła odległość, Układ skanowania Układ skanowania z nieruchomą sondą oraz ruchomą próbką we wszystkich trzech osiach (Inne typy układów skanowania nie będą brane pod uwagę przez Zamawiającego) Parametry skanera Pole skanowania z rozdzielczością, pozwalającą na uzyskanie obrazu periodyczności struktury atomowej na mice w trybie kontaktowym AFM Skaner musi być wyposażony w układ sprzężenia zwrotnego pracujący w zamkniętej pętli sprzężenia zwrotnego Pole skanowania XY: co najmniej x µm Zakres skanowania Z: co najmniej, µm Głowica SPM Głowica SPM: z możliwością manualnego ustawiania położenia próbki w zakresie co najmniej x mm, wyposażona w układ zmotoryzowanego zbliżania sondy do próbki z regulacją pochyłu (przód-tył oraz na boki) realizowaną poprzez oprogramowanie, możliwość pracy we wszystkich trybach AFM oraz STM bez konieczności zmiany głowicy skanującej oraz skanera umożliwia wymianę sondy pomiarowej bez zdejmowania głowicy z mikroskopu Głowica integrująca AFM i spektrometr ramanowski
Lp Nazwa Opis Głowica wyposażona w : układ zmotoryzowanego zbliżania sondy do próbki z regulacją pochyłu (przód-tył oraz na boki) realizowaną poprzez oprogramowanie, detekcja położenia sondy odbywa się w oparciu o laser pracujący w zakresie widma podczerwieni, aby nie zakłócać działania spektrometru ramanowskiego umożliwia akwizycje widm ramanowskich na próbkach nieprzeźroczystych w układzie z oświetlaniem ostrza pomiarowego AFM od boku umożliwia wymianę sondy pomiarowej bez zdejmowania głowicy z mikroskopu Zakres ustawiania położenia próbki: X mm Rozmiar próbek: nie mniejszy niż x om o wysokości nie mniejszej niż mm Zintegrowany układ optyczny z kamerą CCD: rozdzielczość układu optycznego co najmniej µm, funkcje powiększenia oraz regulacji natężenia oświetlenia kontrolowane poprzez oprogramowanie mikroskopu Oprogramowanie integrujące AFM i spektrometr ramanowski Oprogramowanie umożliwiające integrację spektrometru ramanowskiego z mikroskopem AFM, w sposób umożliwiający zebranie widm ramanowskich z wybranych punktów lub przeprowadzenie tzw mapingu czyli zebranie macierzy widm z zadanego obszaru Kontroler Kontroler sterujący pomiarem AFM Komunikacja pomiędzy kontrolerem mikroskopu, a komputerem sterującym poprzez port USB Rozdzielczość: co najmniej bitów dla każdej osi skanowania, Możliwość rejestracji obrazów z rozdzielczością: co najmniej x punktów dla co najmniej ośmiu kanałów danych jednocześnie Sondy pomiarowe Sondy do pracy w trybie kontaktowym szt Sondy do pracy w trybie pół-kontaktowym i bezkontaktowym szt Sondy do pracy w trybie mikroskopu tunelowego Sonda do nanoindentacji Oprogramowanie mikroskopu AFM szt szt
Lp Nazwa Opis Umożliwiające wykonanie pomiaru, obróbkę, opracowanie oraz prezentację danych pomiarowych Pracujące pod kontrolą systemu zainstalowanego na komputerze sterującym Umożliwiające wyświetlanie kanałów danych Dające możliwość jednoczesnego wyświetlania danych do przodu i do tyłu dla jednego kanału Opcje (tryby pomiarowe, o które można rozbudować mikroskop w przyszłości) Mikroskopia pojemnościowa dc/dv (mikroskopy pozwalające na pomiary w trybie wyłącznie dc/dz nie będą brane pod uwagę przez Zamawiającego), Pomiar temperatury oraz przewodnictwa temperaturowego Rozdzielczość obrazowania w tym trybie powinna wynosić co najmniej nm Możliwość prowadzenia badań w powietrzu i w cieczach w temperaturach z zakresu od temperatury pokojowej do temperatury WYMAGANIA DODATKOWE Lp Nazwa Opis Wymagane przeszkolenie co najmniej użytkowników w czasie instalacji systemu włączając przynajmniej dni szkolenia w zakresie obsługi spektrometru ramanowskiego oraz dni w zakresie obsługi AFM Wymagane dodatkowe szkolenie aplikacyjne w wymiarze dni w terminie uzgodnionym z Zamawiającym w jednym z czołowych laboratoriów badawczych Podręczniki użytkownika w formie drukowanej w języku polskim (preferowany) lub angielskim i na CD opisujące działanie spektrometru, rejestrację widm, oprogramowanie Maksymalny czas oczekiwania na usunięcie uszkodzenia w okresie gwarancji wynosi dni roboczych od czasu zgłoszenia awarii, a w okresie pogwarancyjnym dni Okres gwarancji będzie automatycznie przedłużany o czas trwania zgłoszonych awarii aparatury Okres pełnej gwarancji zarówno na całe urządzenie jak i wszystkie jego podzespoły minimum miesięcy
PARAMETRY TRANSPORTOWO INSTALACYJNE Koszt transportu, instalacji i uruchomienia urządzenia ponosi dostawca Odbiór urządzenia nastąpi w oparciu o przeprowadzone badanie detalu dostarczonego przez zamawiającego TERMIN WYKONANIA Czas realizacji dostawy urządzenia: do tygodni od dnia podpisania umowy