TEMATY ĆWICZEŃ LABORATORYJNYCH z PRZEDMIOTU: Metrologia, Podstawy metrologii, Metrologia i systemy pomiarowe, Miernictwo warsztatowe 2018/2019

Podobne dokumenty
Warunkiem dopuszczenia do zajęć jest przygotowanie z części teoretycznej.

część III,IV i V

Metrologia techniczna - opis przedmiotu

Spis treści Wstęp Rozdział 1. Metrologia przedmiot i zadania

Przedmowa Wiadomości ogólne... 17

Metrologia II Metrology II

PRZEWODNIK PO PRZEDMIOCIE

Metrologia II Metrology II. Transport I stopień (I stopień / II stopień) Ogólnoakademicki (ogólno akademicki / praktyczny)

T E M A T Y Ć W I C Z E Ń

Metrologia II Metrology II. Automatyka i Robotyka I stopień (I stopień / II stopień) akademicki (ogólno akademicki / praktyczny)

Data wydruku: Dla rocznika: 2015/2016. Opis przedmiotu

PRZEWODNIK PO PRZEDMIOCIE

Laboratorium metrologii

Elektrotechnika I stopień (I stopień / II stopień) Ogólno akademicki (ogólno akademicki / praktyczny) stacjonarne (stacjonarne / niestacjonarne)

Rok akademicki: 2030/2031 Kod: RBM s Punkty ECTS: 3. Poziom studiów: Studia I stopnia Forma i tryb studiów: -

Metrologia II. Mechanika i Budowa Maszyn I stopień (I stopień / II stopień) ogólnoakademicki (ogólno akademicki / praktyczny)

Elektrotechnika I stopień (I stopień / II stopień) Ogólno akademicki (ogólno akademicki / praktyczny) kierunkowy (podstawowy / kierunkowy / inny HES)

I. KARTA PRZEDMIOTU CEL PRZEDMIOTU

Rok akademicki: 2012/2013 Kod: RBM s Punkty ECTS: 3. Poziom studiów: Studia I stopnia Forma i tryb studiów: -

PRZEWODNIK PO PRZEDMIOCIE

PRZEWODNIK PO PRZEDMIOCIE

Metrologia II Metrology II. TRANSPORT I stopień (I stopień / II stopień) akademicki (ogólno akademicki / praktyczny)

Podstawy elektroniki i metrologii

Politechnika Krakowska im. Tadeusza Kościuszki. Karta przedmiotu. obowiązuje studentów rozpoczynających studia w roku akademickim 2013/2014

PRZEWODNIK PO PRZEDMIOCIE

Metrologia wymiarowa dla zaawansowanych technologii wytwarzania

KARTA PRZEDMIOTU. zaliczenie na ocenę WYMAGANIA WSTĘPNE W ZAKRESIE WIEDZY, UMIEJĘTNOŚCI I INNYCH KOMPETENCJI

POMIARY POŚREDNIE. Zakład Metrologii i Systemów Pomiarowych P o l i t e c h n i k a P o z n ańska

S Y L A B U S P R Z E D M I O T U. Systemy pomiarowe Measurement systems WMLAMCSI-SPom, WMLAMCNI-SPom

PRZEWODNIK PO PRZEDMIOCIE

Karta (sylabus) modułu/przedmiotu ELEKTROTECHNIKA (Nazwa kierunku studiów)

KARTA MODUŁU / KARTA PRZEDMIOTU

Stacjonarne Wszystkie Katedra Fizyki dr Medard Makrenek. Inny / Techniczny Obowiązkowy Polski Semestr szósty. Semestr letni Statystyka, Fizyka I Nie

POMIARY POŚREDNIE POZNAŃ III.2017

Automatyka i Robotyka II stopień ogólno akademicki studia niestacjonarne. Automatyka Przemysłowa Katedra Automatyki i Robotyki Dr inż.

Klasyfikacja przyrządów pomiarowych i wzorców miar

Ćw. 18: Pomiary wielkości nieelektrycznych II

Karta (sylabus) przedmiotu

Sprawdzenie narzędzi pomiarowych i wyznaczenie niepewności rozszerzonej typu A w pomiarach pośrednich

I. KARTA PRZEDMIOTU CEL PRZEDMIOTU

KARTA MODUŁU KSZTAŁCENIA

Z-ID-604 Metrologia. Podstawowy Obowiązkowy Polski Semestr VI

MT 2 N _0 Rok: 1 Semestr: 1 Forma studiów:

KARTA MODUŁU / KARTA PRZEDMIOTU

Rok akademicki: 2014/2015 Kod: EAR s Punkty ECTS: 3. Poziom studiów: Studia I stopnia Forma i tryb studiów: Stacjonarne

SPRAWDZANIE MIKROMIERZA O ZAKRESIE POMIAROWYM: mm

Przekrój 1 [mm] Przekrój 2 [mm] Przekrój 3 [mm]

stacjonarne (stacjonarne / niestacjonarne) kierunkowy (podstawowy / kierunkowy / inny HES)

Obróbka ubytkowa Material Removal Processes. Automatyka i robotyka I stopień Ogólno akademicki Studia stacjonarne

Systemy pomiarowe Measurement systems. Energetyka I stopień (I stopień / II stopień) Ogólnoakademicki (ogólnoakademicki / praktyczny)

Mechanika i budowa maszyn Studia drugiego stopnia. [Współrzędnościowa technika pomiarowa] Rodzaj przedmiotu: [Język polski/j

Przedmiot ID Wykładowca

Obrabiarki Specjalizowane II Specialized Machine Tools. MiBM II stopień (I stopień / II stopień) akademicki (ogólno akademicki / praktyczny)

przedmiot kierunkowy przedmiot obowiązkowy polski piąty semestr zimowy Metrologia, podstawy elektroniki tak

METROLOGIA. MIERNICTWO

KARTA MODUŁU / KARTA PRZEDMIOTU

Karta przedmiotu. obowiązuje studentów rozpoczynających studia w roku akademickim 2013/2014. Forma studiów: Stacjonarne Kod kierunku: 06.

Mechanika i Budowa Maszyn II stopień (I stopień / II stopień) akademicki (ogólno akademicki / praktyczny)

Politechnika Krakowska im. Tadeusza Kościuszki. Karta przedmiotu. obowiązuje studentów rozpoczynających studia w roku akademickim 2015/2016

Instytut Politechniczny Zakład Elektrotechniki i Elektroniki

WZORCE I PODSTAWOWE PRZYRZĄDY POMIAROWE

Z-ZIP-1010 Techniki Wytwarzania II Manufacturing Techniques II

Podstawy elektroniki i miernictwa

SYLABUS. Nazwa jednostki prowadzącej Wydział Matematyczno Przyrodniczy Centrum Mikroelektroniki i Nanotechnologii

POLITECHNIKA RZESZOWSKA PLAN STUDIÓW

SPRAWDZANIE NARZĘDZI POMIAROWYCH

Metrologia wymiarowa dużych odległości oraz dla potrzeb mikro- i nanotechnologii

Opis efektów kształcenia dla modułu zajęć

Metrologia. Zarządzanie i Inżynieria Produkcji I stopień Ogólnoakademicki

Komputerowe systemy pomiarowe. Dr Zbigniew Kozioł - wykład Mgr Mariusz Woźny - laboratorium

ZESPÓŁ SZKÓŁ TECHNICZNYCH RZESZÓW UL. MATUSZCZAKA 7 PLANOWANIE WYNIKOWE. Zawód: Technik mechanik 311[20] Przedmiot: Pracownia techniczna

Informatycznych i Mechatronicznych w Transporcie dr hab. inż. Włodzimierz Choromański, prof. nzw.,

Tematy prac dyplomowych inżynierskich kierunek MiBM

Temat ćwiczenia. Cechowanie przyrządów pomiarowych metrologii długości i kąta

T E M A T Y Ć W I C Z E Ń


KARTA MODUŁU / KARTA PRZEDMIOTU

Ćw. 18: Pomiary wielkości nieelektrycznych II

Inżynieria wytwarzania - obróbka ubytkowa Kod przedmiotu

Metrologia. Wzornictwo Przemysłowe I stopień (I stopień / II stopień) ogólnoakademicki (ogólno akademicki / praktyczny)

CZUJNIKI I PRZETWORNIKI POJEMNOŚCIOWE

Z-ZIP-0101 Metrologia. Zarządzanie i Inżynieria Produkcji I stopień Ogólnoakademicki. Kierunkowy Obowiązkowy Polski Semestr czwarty

PRZEWODNIK PO PRZEDMIOCIE

Miernictwo dynamiczne Dynamic Measurement. Elektrotechnika I stopnia (I stopień / II stopień) Ogólnoakademicki (ogólno akademicki / praktyczny)

Kierunek: MECHANIKA I BUDOWA MASZYN Rok: I Semestr: 1

WYBRANE PROBLEMY WSPÓŁRZĘDNOŚCIOWEJ TECHNIKI POMIAROWEJ. Jerzy Sładek (red.) i inni

Automatyka i Robotyka I stopień (I stopień / II stopień) ogólnoakademicki (ogólno akademicki / praktyczny)

Miernictwo dynamiczne Dynamic Measurement. Elektrotechnika I stopnia (I stopień / II stopień) Ogólnoakademicki (ogólno akademicki / praktyczny)

Laboratorium Obróbki Mechanicznej

Sensoryka i pomiary przemysłowe Kod przedmiotu

Rok akademicki: 2013/2014 Kod: RAR s Punkty ECTS: 5. Poziom studiów: Studia I stopnia Forma i tryb studiów: -

WYZNACZENIE CHARAKTERYSTYK STATYCZNYCH PRZETWORNIKÓW POMIAROWYCH

NOWA KONCEPCJA SPRAWDZANIA DOKŁADNOŚCI MASZYN NC

SPIS TREŚCI Obliczenia zwężek znormalizowanych Pomiary w warunkach wykraczających poza warunki stosowania znormalizowanych

Politechnika Gdańska WYDZIAŁ ELEKTRONIKI TELEKOMUNIKACJI I INFORMATYKI. Katedra Metrologii i Optoelektroniki. Metrologia. Ilustracje do wykładu

PAKIET INFORMACYJNY - informacje uzupełniające

Ćw. 18: Pomiary wielkości nieelektrycznych II

Zakład Metrologii i Systemów Pomiarowych Laboratorium Metrologii I. Grupa. Nr ćwicz.

Laboratorium Metrologii Instytutu Kolejnictwa

Plan zajęć Semestr lzimowy 2012/2013 MECHANIKA I BUDOWA MASZYN Studia niestacjonarne Rok I, sem. I

Transkrypt:

TEMATY ĆWICZEŃ LABORATORYJNYCH z PRZEDMIOTU: Metrologia, Podstawy metrologii, Metrologia i systemy pomiarowe, Miernictwo warsztatowe 2018/2019 Temat Prowadzący Miejsce spotkania Zajęcia organizacyjne PM HT s. 114 Wzorce i przyrządy pomiarowe PM HT s. 114 Analiza systemu pomiarowego metodą R&R MN HT s. 114 Wzorcowanie (kalibracja) czujnika przemieszczeń PM HT s. 114 Pomiar parametrów ruchu drgającego MCH lub MW HT s. 47 Pomiary temperatury i termowizja JZ HT s. 114 Podstawy budowy wirtualnych systemów pomiarowych TO HT s. 5 Pomiary wymiarów zewnętrznych MN HT s. 114 Pomiary wymiarów wewnętrznych KF HT s. 114 Pomiary kątów i stożków MN 030 Sprawdzanie narzędzi pomiarowych PH 030 Pomiary gwintów PH 030 Pomiary kół zębatych PH 030 Pomiar siły AP HT s. 114 Wyznaczanie niepewności pomiaru PM HT s. 114 Pomiary współrzędnościowe PM HT s. 7 Pomiar prostoliniowości metodą opartą na pomiarze kąta PM HT s. 7 Pomiary interferometrem laserowym PM HT s. 7 Przetwarzanie sygnałów elektrycznych (przetworniki pomiarowe) MG W2 Pomiary wielkości elektrycznych - środowisko MultiSim TO HT s. 5 Badanie zdolności systemów produkcyjnych EBR HT s. 114 Badania dokładności kinematycznej obrabiarek PM HT s. 7 W2 - Centrum Mechatroniki, HT - hala technologiczna, 030 - budynek WIMiM Prowadzący ćw. laboratoryjne: dr hab. inż. Paweł Majda dr hab. inż. Marcin Chodźko dr inż. Tomasz Osipowicz mgr inż. Monika Nowak mgr inż. Jacek Zapłata dr hab. inż. Arkadiusz Parus mgr inż. Krzysztof Filipowicz mgr inż. Marek Grudziński mgr inż. Emilia Bachtiak Radka mgr Paweł Herbin mgr Mariusz Wysocki Sprawy organizacyjne: (PM) (MCH) (TO) (MN) (JZ) (AP) (KF) (MG) (EBR) (PH) (MW) dr hab. inż. Paweł Majda Warunkiem dopuszczenia do zajęć jest przygotowanie z części teoretycznej. 1

MiBM S1, semestr III Metrologia i systemy pomiarowe (W 30 godz., L 15 godz.) 1 Zajęcia organizacyjne PM (1 godz) 2 Pomiary wymiarów zewnętrznych MN 3 Pomiary kątów i stożków MN 4 Analiza systemu pomiarowego metodą R&R MN 5 Pomiary wymiarów wewnętrznych KF 6 Przetwarzanie sygnałów elektrycznych MG 7 Podstawy budowy wirtualnych systemów pomiarowych TO 8 Pomiary wielkości elektrycznych - środowisko MultiSim TO MiBM S1, semestr IV Miernictwo warsztatowe (W 15 godz., L 30 godz.) 1 Zajęcia organizacyjne PM 2 Wzorce i przyrządy pomiarowe PM 3 Pomiar parametrów ruchu drgającego MCH 4 Pomiar siły AP 5 Pomiary temperatury i termowizja JZ 6 Wyznaczanie niepewności pomiaru PM 7 Sprawdzanie narzędzi pomiarowych PH 8 Pomiary gwintów PH 9 Pomiary kół zębatych PH 10 Badanie zdolności systemów produkcyjnych EBR 11 Pomiary współrzędnościowe PM 12 Pomiar prostoliniowości metodą opartą na pomiarze kąta PM 13 Wzorcowanie (kalibracja) czujnika przemieszczeń PM 14 Badania dokładności kinematycznej obrabiarek PM 15 Konfiguracja wirtualnych systemów pomiarowych PM MiBM N1, semestr III Metrologia i systemy pomiarowe (W 20 godz., L 15 godz.) 4 Przetwarzanie sygnałów elektrycznych (przetworniki pomiarowe) MG 5 Pomiar prostoliniowości metodą opartą na pomiarze kąta PM 6 Podstawy budowy wirtualnych systemów pomiarowych TO 7 Pomiary współrzędnościowe PM (3 godz.) MiBM N1, semestr IV Miernictwo warsztatowe (W 10 godz., L 15 godz.) 2 Pomiary kątów i stożków MN 3 Pomiar siły AP 4 Pomiary temperatury i termowizja JZ 5 Sprawdzanie narzędzi pomiarowych PH 6 Pomiary gwintów PH 7 Analiza systemu pomiarowego metodą R&R MN (3 godz.) 2

MT S1, semestr IV Metrologia i systemy pomiarowe (W 30 godz., L 30 godz.) 1 Zajęcia organizacyjne PM 2 Wzorce i przyrządy pomiarowe PM 3 Wyznaczanie niepewności pomiaru PM 4 Pomiary wymiarów zewnętrznych MN 5 Analiza systemu pomiarowego metodą R&R MN 6 Pomiar parametrów ruchu drgającego MCH 7 Podstawy budowy wirtualnych systemów pomiarowych TO 8 Pomiar siły AP 8 Pomiary wymiarów wewnętrznych KF 10 Pomiary temperatury i termowizja JZ 11 Sprawdzanie narzędzi pomiarowych PH 12 Badanie zdolności systemów produkcyjnych EBR 13 Pomiary współrzędnościowe PM 14 Wzorcowanie (kalibracja) czujnika przemieszczeń PM 15 Przetwarzanie sygnałów elektrycznych (przetworniki pomiarowe) MG T S1, semestr IV Metrologia (W 15 godz., L 15 godz.) 3 Pomiar siły AP 4 Pomiary wymiarów wewnętrznych KF 5 Pomiary temperatury i termowizja JZ 7 Pomiary współrzędnościowe PM (3 godz.) T N1, semestr III Metrologia (W 10 godz., L 10 godz.) 2 Pomiar siły AP 4 Wyznaczanie niepewności pomiaru PM 5 Sprawdzanie narzędzi pomiarowych PH 3

ZiIP S1, semestr V Podstawy metrologii (W 15 godz., L 15 godz.) 3 Pomiary współrzędnościowe PM (3 godz.) 4 Pomiary wymiarów wewnętrznych KF 5 Pomiar siły AP 6 Sprawdzanie narzędzi pomiarowych PH 7 Badania dokładności kinematycznej obrabiarek PM ZiIP S1, semestr VI Metrologia i systemy pomiarowe (W 30 godz., L 15 godz.) 1 Pomiary kątów i stożków MN 2 Analiza systemu pomiarowego metodą R&R MN 3 Pomiary temperatury i termowizja JZ 4 Podstawy budowy wirtualnych systemów pomiarowych TO 5 Pomiar parametrów ruchu drgającego MW (3 godz.) 7 Pomiary gwintów PH ZiIP S2 Metrologia i systemy pomiarowe II (W 30 godz., C 15 godz, L 15 godz.) 2 Pomiary wielkości elektrycznych - środowisko MultiSim TO 3 Wzorcowanie (kalibracja) czujnika przemieszczeń PM 4 Pomiar prostoliniowości metodą opartą na pomiarze kąta PM 5 Przetwarzanie sygnałów elektrycznych (przetworniki pomiarowe) MG 6 Pomiary kół zębatych PH 7 Pomiary interferometrem laserowym PM (3 godz.) 4

ZiIP N1, semestr V Podstawy metrologii (W 12 godz., L 12 godz.) 2 Pomiary kątów i stożków MN 3 Analiza systemu pomiarowego metodą R&R MN 4 Sprawdzanie narzędzi pomiarowych PH 5 Pomiary gwintów PH ZiIP N1, semestr VI Metrologia i systemy pomiarowe (W 12 godz., L 10 godz.) 1 Podstawy budowy wirtualnych systemów pomiarowych TO 2 Pomiar parametrów ruchu drgającego MW 4 Pomiary temperatury i termowizja JZ 5 Wyznaczanie niepewności pomiaru PM ZiIP N2, semestr II Metrologia i systemy pomiarowe II (W 10 godz., C 10 godz., L 10 godz.) 2 Pomiary kół zębatych PH 3 Pomiary wielkości elektrycznych - środowisko MultiSim TO 4 Pomiar siły AP 5 Przetwarzanie sygnałów elektrycznych (przetworniki pomiarowe) MG 5