(12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) (13) B1

Wielkość: px
Rozpocząć pokaz od strony:

Download "(12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) (13) B1"

Transkrypt

1 R Z E C Z P O S P O L IT A PO LSK A (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) (13) B1 U rząd Patentow y R zeczypospolitej Polskiej (21) N um er zgłoszenia: (22) D ata zgłoszenia: (5 1 ) In t.cl.5: G01B 11/08 (54) Sposób pomiaru średnicy wewnętrznej i grubości ścianek przezroczystych rur (73) Uprawniony z patentu: (43) Z głoszenie ogłoszono: Politechnika Warszawska, Warszawa, PL BUP 23/90 (72) Twórcy wynalazku: (45) O udzieleniu p aten tu ogłoszono: Paweł Fotowicz, Warszawa, PL Ryszard Jabłoński, Warszawa, PL WUP 01/93 PL (5 7 ) 1. S p o só b p o m ia ru średnicy w ew n ętrznej i gru b o ści ścian ek p rzezro czysty ch ru r, zgodnie z k tó ry m ru rę o św ietla się św iatłem lasero w y m, sk a n u je się w iązką p ro - sto p a d le d o p rz ek ro ju p o p rzeczn ego ru ry i m ierzy się n atężen ie św iatła p o o d b iciu i przejściu przez ścian k i tej ru ry, znam ienny tym, że m ierzy się odleg ło ść (pd) m iędzy d w o m a p u n k ta m i całk o w iteg o w ew nętrznego o d b icia św iatła o d pow ierzchni w ew nętrznej ru ry (R), a także m ierzy się zn an y m sp o so b em średnicę zew n ętrzn ą (dz) rury (R). zaś średnicę w ew nętrzną wylicza się ze w zoru : a g ru b o ść ścianki wylicza się ze w zoru B1 gdzie n je st w spółczynnik iem z ałam a n ia św iatła w rurze (R). 2. S p o só b w edług zastrz. 1, znam ienny tym, że m ierz o n ą ru rę (R ) przesu w a się w p o p rzek w iązki (W ) w jej o g n isk u (O ). FIG 2

2 Sposób pomiaru średnicy wewnętrznej i grubości ścianek przezroczystych rur Zastrzeżenia patentowe 1. Sposób pomiaru średnicy wewnętrznej i grubości ścianek przezroczystych rur, zgodnie z którym rurę oświetla się światłem laserowym, skanuje się wiązką prostopadle do przekroju poprzecznego rury i mierzy się natężenie światła po odbiciu i przejściu przez ścianki tej rury, znamienny tym, że mierzy się odległość (Pd) między dwoma punktami całkowitego wewnętrznego odbicia światła od powierzchni wewnętrznej rury (R), a także mierzy się znanym sposobem średnicę zewnętrzną (dz) rury (R), zaś średnicę wewnętrzną wylicza się ze wzoru a grubość ścianki ze wzoru gdzie n jest współczynnikiem załamania światła w rurze (R). 2. Sposób według zastrz. 1, znamienny tym, że mierzoną rurę (R) przesuwa się w poprzek wiązki (W) w jej ognisku (O). 3. Sposób według zastrz. 1, znamienny tym, że wiązkę (W) przemiata się w poprzek mierzonej rury (R), zaś mierzone odległości (dz), (pa) wzorcuje się poprzez pomiar odstępów czasu (tdz, tpd) potrzebnych do przebycia przez wiązkę (W) tych odległości (dz, Pd). 4. Sposób według zastrz. 1, znamienny tym, że punkt całkowitego wewnętrznego odbicia światła określa się jako pierwsze lokalne maksimum sygnału (U) przesłonięcia wiązki (W). 5. Sposób pomiaru średnicy wewnętrznej i grubości ścianek przezroczystych rur, zgodnie z którym rurę oświetla się światłem laserowym i mierzy się jego natężenie po odbiciu i przejściu przez ścianki tej rury, znamienny tym, że przesuwa się względem siebie mierzoną rurę (R) i wiązkę laserową (W) przekrojem poprzecznym rury prostopadle do osi wiązki (W) oraz mierzy się odległość (pg) między punktem całkowitego wewnętrznego odbicia światła od wewnętrznej powierzchni rury (R) a punktem zetknięcia się osi wiązki (W) powierzchnią zewnętrzną rury, a także mierzy się znanym sposobem średnicę zewnętrzną (dz) rury (R), zaś średnicę wewnętrzną (dw) wylicza się ze wzoru:

3 a grubość ścianki - ze wzoru: gdzie n jest współczynnikiem załamania światła w rurze (R). 6. Sposób według zastrz. 5, znamienny tym, że mierzoną rurę (R) przesuwa się w poprzek wiązki (W) w jej ognisku (O). 7. Sposób według zastrz. 5, znamienny tym, że wiązkę (W) przemiata się w poprzek mierzonej rury (R), zaś mierzone odległości (dz) i (pg) wzorcuje się poprzez pomiar odstępów czasu (tdz, tpg). 8. Sposób według zastrz. 5, znamienny tym, że punkt całkowitego wewnętrznego odbicia światła określa się jako pierwsze lokalne maksimum sygnału (U) przesłonięcia wiązki (W). * * * Przedmiotem wynalazku jest sposób pomiaru średnicy wewnętrznej i grubości ścianek przezroczystych rur stosowanych, zwłaszcza w technologii światłowodów. Znany jest z publikacji USA Proceedings of the IEEE vol. 70 No 6 June 1982 sposób pomiaru ścianek przezroczystych rur, zgodnie z którym uformowana wiązka laserowa oświetla krawędź rurki. Część wiązki odbija się od powierzchni zewnętrznej a druga jej część odbija się od powierzchni wewnętrznej rury. W ten sposób powstają dwie wiązki przesunięte względem siebie proporcjonalnie do grubości mierzonej ścianki. Odległość tę mierzy się za pomocą fotolinijki. Znany jest z polskiego opisu patentowego nr sposób pomiaru średnic i grubości zgodnie z którym zaogniskowaną wiązkę świetlną skanuje się prostopadle do mierzonego elementu. Miarą średnicy zewnętrznej mierzonego elementu jest wielkość przesłonięcia fotodetektora. Bezpośrednio mierzy się odległość między zboczem opadającym i narastającym sygnału elektrycznego rejestrując minimalne wartości sygnału elektrycznego. Powyższy sposób charakteryzuje się wysokimi kosztami przyrządów. Zgodnie z wynalazkiem przesuwa się względem siebie mierzoną rurę i wiązkę laserową przekrojem poprzecznym rury prostopadle do osi wiązki oraz mierzy się odległość między dwoma punktami całkowitego wewnętrznego odbicia światła od powierzchni wewnętrznej rury. Mierzy się także znanym sposobem średnicę zewnętrzną rury. Średnicę wewnętrzną wylicza się ze wzoru: a grubość ścianki wylicza się ze wzoru gdzie n jest współczynnikiem załamania światła w rurze.

4 W drugiej odmianie wynalazku zamiast mierzyć odległość między dwoma punktami całkowitego wewnętrznego odbicia mierzy się odległość między punktem całkowitego wewnętrznego odbicia światła od wewnętrznej powierzchni rury a punktem zetknięcia się osi wiązki z powierzchnią zewnętrzną rury. Średnicę wewnętrzną oblicza się ze wzoru a grubość ścianki ze wzoru W obu odmianach wynalazku mierzoną rurę przesuwa się w poprzek wiązki w jej ognisku, albo wiązkę przesuwa się w poprzek mierzonej rury. Mierzone odległości wzoruje się poprzez pomiar odstępów czasu potrzebnych do przebycia przez wiązkę tych odległości. Punkt całkowitego wewnętrznego odbicia wiązki określa się jako pierwsze lokalne maksimum sygnału przesłonięcia wiązki. Sposób według wynalazku pozwala na dynamiczny pomiar przy zastosowaniu dostępnych standardowych, krajowych i tanich zespołów elektronicznych. Układ optyczny według wynalazku jest prosty, zachowując jednocześnie wysoką dokładność pomiaru przy dużej szybkości pomiaru. Przedmiot wynalazku jest bliżej objaśniony przykładowo na podstawie rysunku, na którym fig. 1 przedstawia schematycznie układ pomiaru średnicy wewnętrznej i grubości ścianek rur przezroczystych z przesuwem rury w poprzek osi wiązki, fig. 2 przedstawia kształt sygnału przesłonięcia w przekroju rury, fig. 3 przedstawia schematycznie układ pomiaru średnicy wewnętrznej i grubości ścianek rur przezroczystych ze skanowaniem, a fig. 4 - kształt sygnału przesłonięcia w funkcji czasu. Mierzona rura R umieszczona w ognisku O światła z lasera L skupionego za pomocą soczewki pomiarowej SP jest przesuwana prostopadle do osi tak utworzonej wiązki W laserowej. W ten sposób wiązka ta przesłania stopniowo kolejne fragmenty przekroju poprzecznego tej rury R wzdłuż osi x, jak to wynika z fig. 2. Wiązka przesłaniania przez rurę, formowana soczewką detektora SD dochodzi do fotodetektora. Sygnał na wyjściu detektora, jako sygnał przesłonięcia przedstawiony jest na fig. 2. Od momentu zetknięcia się wiązki z powierzchnią zewnętrzną rury następuje przesłanianie wiązki powodujące spadek wartości sygnału przesłonięcia U. Następnie na skutek całkowitego wewnętrznego odbicia od powierzchni wewnętrznej ścianki wiązka wychodzi na zewnątrz mierzonej rury R wywołując chwilowy wzrost wartości sygnału U. Dalsze przesuwanie rurki prostopadle do osi wiązki W powoduje rozproszenie i odchylenie wiązki W od osi układu pomiarowego, co wywołuje ponowny spadek wartości sygnału przesłonięcia U. Położenie lokalnego maksimum sygnału U przy brzegu ścianki rury R odpowiada miejscu równoległego przejścia wiązki W przez ściankę rury R. Ponowny wzrost sygnału U pośrodku rury R spowodowany jest przejściem wiązki przez środek rury R. Kształt sygnału jest symteryczny względem środka rury R gdyż opisane zjawiska są identyczne z obu stron przesuwanej rury R.

5 Z poniższych równań, formuujących prawa załamania, odbicia oraz z twierdzenia sinusów: sinα = n sinβ gdzie n - współczynnik załamania dz - średnica zewnętrzna dw - średnica wewnętrzna pg - odległość zbocza w połowie jego wysokości a najbliższym maksimum pd - odległość między obu maksimami przy powierzchni rury wynika, że średnica wewnętrzna rurki opisana jest zależnością lub a grubość ścianki lub W ten sposób możliwy jest pomiar odległości między charakterystycznymi punktami sygnału przesłonięcia U jak odległości pd między pierwszym i ostatnim maksimum sygnału oraz odległość między zboczem i najbliższym maksimum pg. Grubość ścianki i średnicę wewnętrzną rury R wyznacza się z powyższych wzorów. Wartość średnicy zewnętrznej dz można wyznaczyć bezpośrednio przez pomiar odległości między zboczem opadającym i narastającym sygnału przesłonięcia w połowie jego wysokości lub przez pomiar innymi znanymi metodami.

6 Przesunięcie rury R wiązki można także zrealizować przez skanowanie, czyli przez przemiatanie wiązki laserowej W w poprzek mierzonej rury R. Jak to ilustruje fig. 3 obracające się zwierciadło skanujące ZS nadaje wiązce ruch kątowy. Soczewka pomiarowa SP przekształca ten ruch na przesunięcie poprzeczne wiązki W w obszarze pomiarowym, w którym znajduje się mierzona rura R. Detektor D rejestruje sygnał przesłonięcia U wiązki W przez mierzoną rurę R. Układ elektroniczny mierzy czasy tpd, tpg i tdz przedstawione na fig. 4 odpowiadające i proporcjonalne do odpowiednich odległości na wykresie przedstawiającym sygnał przesłonięcia U w poprzek rury R. Czasy te mierzy się również między charakterystycznymi punktami na wykresie sygnału przesłonięcia wiązki w poprzek rury R. FIG.4 FIG.3 FIG.1 FIG.2 Zakład Wydawnictw UP RP. Nakład 90 egz. Cena zł

(54) Sposób pomiaru cech geometrycznych obrzeża koła pojazdu szynowego i urządzenie do

(54) Sposób pomiaru cech geometrycznych obrzeża koła pojazdu szynowego i urządzenie do RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19)PL (11)167818 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 2 9 3 7 2 5 (22) Data zgłoszenia: 0 6.0 3.1 9 9 2 (51) Intcl6: B61K9/12

Bardziej szczegółowo

postaci przezroczystego walca zabarwionego i osadzonego (12) OPIS PATEN TO W Y (19) P L (11) (13) B3 PL B3

postaci przezroczystego walca zabarwionego i osadzonego (12) OPIS PATEN TO W Y (19) P L (11) (13) B3 PL B3 RZECZPO SPO LITA POLSKA Urząd Patentow y R zeczy p o sp o litej P o lsk iej (12) OPIS PATEN TO W Y (19) P L (11) 157831 (13) B3 Numer zgłoszenia: 270269 (21) D ata zgłoszenia: 22.01.1988 (61) Patent dodatkowy

Bardziej szczegółowo

PL B1. Sposób optycznej detekcji wad powierzchni obiektów cylindrycznych, zwłaszcza wałków łożysk. POLITECHNIKA WROCŁAWSKA, Wrocław, PL

PL B1. Sposób optycznej detekcji wad powierzchni obiektów cylindrycznych, zwłaszcza wałków łożysk. POLITECHNIKA WROCŁAWSKA, Wrocław, PL RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 208183 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 379580 (51) Int.Cl. G01N 21/952 (2006.01) G01B 11/30 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22)

Bardziej szczegółowo

(12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11)

(12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) RZECZPOSPOLITA POLSKA Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 190160 (21 ) Numer zgłoszenia: 329164 (22) Data zgłoszenia: 13.10.1998 (13) B1 (51 ) IntCl7 E04G 11/48 (54)

Bardziej szczegółowo

PL B1 A61B 1/26 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12)OPIS PATENTOWY (19)PL (11) (13) B1. (21) Numer zgłoszenia:

PL B1 A61B 1/26 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12)OPIS PATENTOWY (19)PL (11) (13) B1. (21) Numer zgłoszenia: RZECZPOSPOLITA POLSKA (12)OPIS PATENTOWY (19)PL (11)175300 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 305449 (22) Data zgłoszenia: 14.10.1994 (21) IntCl6: G01D 9/42 A61B 1/26

Bardziej szczegółowo

(12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) (13) B1

(12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) (13) B1 R Z E C Z P O S P O L IT A PO LSK A (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 163880 (13) B1 (21) N um er zgłoszenia: 290043 (51) In t.cl.5: B65F 3/02 Urząd Patentow y R zeczypospolitej Polskiej (22) D ata zgłoszenia:

Bardziej szczegółowo

PL 207433 B1. PRZEMYSŁOWY INSTYTUT AUTOMATYKI I POMIARÓW PIAP, Warszawa, PL 26.06.2006 BUP 13/06. ZBIGNIEW BORKOWICZ, Wrocław, PL 31.12.

PL 207433 B1. PRZEMYSŁOWY INSTYTUT AUTOMATYKI I POMIARÓW PIAP, Warszawa, PL 26.06.2006 BUP 13/06. ZBIGNIEW BORKOWICZ, Wrocław, PL 31.12. RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 207433 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 371716 (51) Int.Cl. G01N 27/82 (2006.01) B25J 15/06 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22)

Bardziej szczegółowo

PL B1. Hybrydowy układ optyczny do rozsyłu światła z tablicy znaków drogowych o zmiennej treści

PL B1. Hybrydowy układ optyczny do rozsyłu światła z tablicy znaków drogowych o zmiennej treści PL 219112 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 219112 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 392659 (22) Data zgłoszenia: 15.10.2010 (51) Int.Cl.

Bardziej szczegółowo

PL 196881 B1. Trójfazowy licznik indukcyjny do pomiaru nadwyżki energii biernej powyżej zadanego tg ϕ

PL 196881 B1. Trójfazowy licznik indukcyjny do pomiaru nadwyżki energii biernej powyżej zadanego tg ϕ RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 196881 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 340516 (51) Int.Cl. G01R 11/40 (2006.01) G01R 21/00 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22)

Bardziej szczegółowo

PL B BUP 26/ WUP 04/07 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19)PL (11) (13) B1

PL B BUP 26/ WUP 04/07 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19)PL (11) (13) B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19)PL (11)194002 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 340855 (22) Data zgłoszenia: 16.06.2000 (51) Int.Cl. G01B 7/14 (2006.01)

Bardziej szczegółowo

PL B1. POLITECHNIKA ŚWIĘTOKRZYSKA, Kielce, PL BUP 07/19. PAWEŁ ZMARZŁY, Brzeziny, PL WUP 08/19. rzecz. pat.

PL B1. POLITECHNIKA ŚWIĘTOKRZYSKA, Kielce, PL BUP 07/19. PAWEŁ ZMARZŁY, Brzeziny, PL WUP 08/19. rzecz. pat. RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 233066 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 427690 (51) Int.Cl. G01B 5/08 (2006.01) G01B 3/18 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data

Bardziej szczegółowo

PL B1. PRZEMYSŁOWY INSTYTUT AUTOMATYKI I POMIARÓW PIAP, Warszawa, PL BUP 12/10

PL B1. PRZEMYSŁOWY INSTYTUT AUTOMATYKI I POMIARÓW PIAP, Warszawa, PL BUP 12/10 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 209061 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 386693 (51) Int.Cl. F16B 7/10 (2006.01) F16B 7/16 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data

Bardziej szczegółowo

Sposób sterowania ruchem głowic laserowego urządzenia do cięcia i znakowania/grawerowania materiałów oraz urządzenie do stosowania tego sposobu

Sposób sterowania ruchem głowic laserowego urządzenia do cięcia i znakowania/grawerowania materiałów oraz urządzenie do stosowania tego sposobu PL 217478 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 217478 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 397035 (22) Data zgłoszenia: 18.11.2011 (51) Int.Cl.

Bardziej szczegółowo

(12) OPIS PATENTOWY (19)PL (11) (13) B1

(12) OPIS PATENTOWY (19)PL (11) (13) B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19)PL (11)160312 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 280556 (51) IntCl5: Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data zgłoszenia: 04.07.1989 F16H 57/12 (54)

Bardziej szczegółowo

(13) B1 (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) PL B1 A47L 9/24. (54)Teleskopowa rura ssąca do odkurzacza

(13) B1 (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) PL B1 A47L 9/24. (54)Teleskopowa rura ssąca do odkurzacza RZECZPOSPOLITA POLSKA Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 181955 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 316742 (22) Data zgłoszenia: 28.10.1996 (51) IntCl7 A47L 9/24 (54)Teleskopowa

Bardziej szczegółowo

Fig. 2 PL B1 (13) B1 G02B 23/02 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) (21) Numer zgłoszenia:

Fig. 2 PL B1 (13) B1 G02B 23/02 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) (21) Numer zgłoszenia: RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 167356 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 293293 Urząd Patentowy (22) Data zgłoszenia: 24.01.1992 Rzeczypospolitej Polskiej (51) IntCl6: G02B 23/12 G02B

Bardziej szczegółowo

PL 214592 B1. POLITECHNIKA CZĘSTOCHOWSKA, Częstochowa, PL 14.03.2011 BUP 06/11

PL 214592 B1. POLITECHNIKA CZĘSTOCHOWSKA, Częstochowa, PL 14.03.2011 BUP 06/11 PL 214592 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 214592 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 388915 (51) Int.Cl. G01B 5/28 (2006.01) G01C 7/04 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej

Bardziej szczegółowo

PL 214401 B1. Kontener zawierający co najmniej jeden wzmacniający profil oraz sposób wytwarzania takiego profilu

PL 214401 B1. Kontener zawierający co najmniej jeden wzmacniający profil oraz sposób wytwarzania takiego profilu PL 214401 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 214401 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 378396 (51) Int.Cl. B65F 1/00 (2006.01) B65D 88/12 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej

Bardziej szczegółowo

PL B1. POLITECHNIKA WARSZAWSKA, Warszawa, PL INSTYTUT TECHNOLOGII EKSPLOATACJI. PAŃSTWOWY INSTYTUT BADAWCZY, Radom, PL

PL B1. POLITECHNIKA WARSZAWSKA, Warszawa, PL INSTYTUT TECHNOLOGII EKSPLOATACJI. PAŃSTWOWY INSTYTUT BADAWCZY, Radom, PL RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 207917 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 380341 (22) Data zgłoszenia: 31.07.2006 (51) Int.Cl. G01B 21/04 (2006.01)

Bardziej szczegółowo

(12) OPIS PATENTOWY (19) PL

(12) OPIS PATENTOWY (19) PL RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 165426 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 291751 (22) Data zgłoszenia: 18.09.1991 (51) IntCl5: G01H5/00 G01N

Bardziej szczegółowo

(12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) (13) B1

(12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) (13) B1 R Z E C Z P O S P O L IT A P O L S K A (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 172202 (13) B1 U rz ą d P a te n to w y R z e c z y p o sp o lite j P o lsk ie j (21) N umer zgłoszenia 301554 (2 2 ) D a ta z g

Bardziej szczegółowo

PL B1. Aberracyjny czujnik optyczny odległości w procesach technologicznych oraz sposób pomiaru odległości w procesach technologicznych

PL B1. Aberracyjny czujnik optyczny odległości w procesach technologicznych oraz sposób pomiaru odległości w procesach technologicznych RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 229959 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 421970 (22) Data zgłoszenia: 21.06.2017 (51) Int.Cl. G01C 3/00 (2006.01)

Bardziej szczegółowo

PL B1. Sposób kątowego wyciskania liniowych wyrobów z materiału plastycznego, zwłaszcza metalu

PL B1. Sposób kątowego wyciskania liniowych wyrobów z materiału plastycznego, zwłaszcza metalu PL 218911 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 218911 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 394839 (51) Int.Cl. B21C 23/02 (2006.01) B21C 25/02 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej

Bardziej szczegółowo

(13) B1 (12) OPIS PATENTOW Y (19)PL (11)182539 PL 182539 B1 B03C 1/025 B03C 1/18

(13) B1 (12) OPIS PATENTOW Y (19)PL (11)182539 PL 182539 B1 B03C 1/025 B03C 1/18 RZECZPOSPOLITA POLSKA Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (12) OPIS PATENTOW Y (19)PL (11)182539 (21) Numer zgłoszenia: 319932 (22) Data zgłoszenia: 13.05.1997 (13) B1 (51) IntCl7 B03C 1/025 B03C

Bardziej szczegółowo

(12)OPIS PATENTOW Y (19) P L (11) 158550 (13) B1

(12)OPIS PATENTOW Y (19) P L (11) 158550 (13) B1 R Z E C ZPO SPO LITA P O L SK A (12)OPIS PATENTOW Y (19) P L (11) 158550 (13) B1 Urząd Patentow y R zeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 278881 D ata zgłoszenia: 13.04.1989 (51)IntCl5: F16CF16C1/26

Bardziej szczegółowo

PL B1. Sposób wykonania ogrodzeniowego słupka metalowego z zastosowaniem kotwy mocującej oraz słupek ogrodzeniowy według tego sposobu

PL B1. Sposób wykonania ogrodzeniowego słupka metalowego z zastosowaniem kotwy mocującej oraz słupek ogrodzeniowy według tego sposobu RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 209023 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 376668 (22) Data zgłoszenia: 18.08.2005 (51) Int.Cl. E04H 17/20 (2006.01)

Bardziej szczegółowo

PL 203490 B1. Akademia Górniczo-Hutnicza im. Stanisława Staszica,Kraków,PL 01.10.2007 BUP 20/07

PL 203490 B1. Akademia Górniczo-Hutnicza im. Stanisława Staszica,Kraków,PL 01.10.2007 BUP 20/07 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 203490 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 379229 (51) Int.Cl. G01N 21/00 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data zgłoszenia: 20.03.2006

Bardziej szczegółowo

(12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) (13) B1

(12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) (13) B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 174166 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 304578 (2 2 ) Data zgłoszenia: 05.08.1994 (51) IntCl6 F24H 7/00 F24H

Bardziej szczegółowo

(13)B1 PL B1. (54) Sposób oraz urządzenie do pomiaru odchyłek okrągłości BUP 21/ WUP 04/99

(13)B1 PL B1. (54) Sposób oraz urządzenie do pomiaru odchyłek okrągłości BUP 21/ WUP 04/99 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19)PL 176148 (13)B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 307963 (22) Data zgłoszenia: 30.03.1995 (51) IntCl6 G01B 5/20 (54) Sposób

Bardziej szczegółowo

PL B1 (13) B1. Ośrodek Badawczo-Rozwojowy Maszyn i Urządzeń Chemicznych METALCHEM, Toruń, PL. Joachim Stasiek, Toruń, PL

PL B1 (13) B1. Ośrodek Badawczo-Rozwojowy Maszyn i Urządzeń Chemicznych METALCHEM, Toruń, PL. Joachim Stasiek, Toruń, PL R Z E C Z P O S P O L IT A PO LSK A (12)OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 165778 (13) B1 (21) N um er zgłoszenia: 291142 U rząd Patentow y (22) D ata zgłoszenia: 19.07.1991 R zeczypospolitej Polskiej (51) IntC

Bardziej szczegółowo

(12) OPIS PATENTOWY (19) PL

(12) OPIS PATENTOWY (19) PL RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 176574 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 308582 (22) Data zgłoszenia: 13.05.1995 (51) IntCI6: B28B 7/28 B28B

Bardziej szczegółowo

Laboratorium techniki laserowej Ćwiczenie 2. Badanie profilu wiązki laserowej

Laboratorium techniki laserowej Ćwiczenie 2. Badanie profilu wiązki laserowej Laboratorium techniki laserowej Ćwiczenie 2. Badanie profilu wiązki laserowej 1. Katedra Optoelektroniki i Systemów Elektronicznych, WETI, Politechnika Gdaoska Gdańsk 2006 1. Wstęp Pomiar profilu wiązki

Bardziej szczegółowo

(13) B1 (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) PL B1. Fig. 2 RZECZPOSPOLITA POLSKA. (21) Numer zgłoszenia:

(13) B1 (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) PL B1. Fig. 2 RZECZPOSPOLITA POLSKA. (21) Numer zgłoszenia: RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 178809 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 308862 (22) Data zgłoszenia: 01.06.1995 (51) IntCl7: F16B7/18 E04F

Bardziej szczegółowo

PL B1. WOJTAŚ JAN, Kaźmierz, PL BUP 25/15. JAN WOJTAŚ, Kaźmierz, PL WUP 01/17 RZECZPOSPOLITA POLSKA

PL B1. WOJTAŚ JAN, Kaźmierz, PL BUP 25/15. JAN WOJTAŚ, Kaźmierz, PL WUP 01/17 RZECZPOSPOLITA POLSKA PL 224525 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 224525 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 411168 (51) Int.Cl. F24D 3/10 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data zgłoszenia:

Bardziej szczegółowo

(13) B1 PL B1. (21) Numer zgłoszenia: (51) IntCl6: B65D5/18 865D 5/3P. (57) 1. Pudełko składane w kształcie prostopadłościanu

(13) B1 PL B1. (21) Numer zgłoszenia: (51) IntCl6: B65D5/18 865D 5/3P. (57) 1. Pudełko składane w kształcie prostopadłościanu RZECZPOSPOLITA POLSKA (12)OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 174286 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 303728 Urząd Patentowy (22) Data zgłoszenia: 06.06.1994 Rzeczypospolitej Polskiej (51) IntCl6: B65D5/18 865D

Bardziej szczegółowo

PL B1 (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) (13) B1. (21) Numer zgłoszenia: (74) Pełnomocnik:

PL B1 (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) (13) B1. (21) Numer zgłoszenia: (74) Pełnomocnik: RZECZPOSPOLITA POLSKA Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 185827 (21) Numer zgłoszenia: 326469 (22) Data zgłoszenia: 25.05.1998 (13) B1 (51) IntCl7 E03D 1/34 (54)

Bardziej szczegółowo

(12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11)

(12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) R Z E C Z P O S P O L IT A P O LSK A (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 178501 (21) Numer zgłoszenia: 319402 (22) Data zgłoszenia: 28.09.1995 (86) Data i numer zgłoszenia międzynarodowego: 28.09.1995, PCT/DK95/00389

Bardziej szczegółowo

PL B1. System kontroli wychyleń od pionu lub poziomu inżynierskich obiektów budowlanych lub konstrukcyjnych

PL B1. System kontroli wychyleń od pionu lub poziomu inżynierskich obiektów budowlanych lub konstrukcyjnych RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 200981 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 360320 (51) Int.Cl. G01C 9/00 (2006.01) G01C 15/10 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22)

Bardziej szczegółowo

(86) Data i numer zgłoszenia międzynarodowego: , PCT/CH03/ (87) Data i numer publikacji zgłoszenia międzynarodowego:

(86) Data i numer zgłoszenia międzynarodowego: , PCT/CH03/ (87) Data i numer publikacji zgłoszenia międzynarodowego: RZECZPOSPOLITA POLSKA Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 206950 (21) Numer zgłoszenia: 377651 (22) Data zgłoszenia: 28.03.2003 (86) Data i numer zgłoszenia międzynarodowego:

Bardziej szczegółowo

PL 210566 B1. UNIWERSYTET PRZYRODNICZY WE WROCŁAWIU, Wrocław, PL 11.07.2005 BUP 14/05. KAZIMIERZ ĆMIELEWSKI, Wrocław, PL 29.02.

PL 210566 B1. UNIWERSYTET PRZYRODNICZY WE WROCŁAWIU, Wrocław, PL 11.07.2005 BUP 14/05. KAZIMIERZ ĆMIELEWSKI, Wrocław, PL 29.02. RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 210566 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 371985 (51) Int.Cl. G02B 27/30 (2006.01) G02B 23/00 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22)

Bardziej szczegółowo

PL B1. POLITECHNIKA WARSZAWSKA, Warszawa, PL BUP 25/06

PL B1. POLITECHNIKA WARSZAWSKA, Warszawa, PL BUP 25/06 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 209495 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 375424 (22) Data zgłoszenia: 30.05.2005 (51) Int.Cl. G01N 21/05 (2006.01)

Bardziej szczegółowo

PL B1. Instytut Automatyki Systemów Energetycznych,Wrocław,PL BUP 26/ WUP 08/09. Barbara Plackowska,Wrocław,PL

PL B1. Instytut Automatyki Systemów Energetycznych,Wrocław,PL BUP 26/ WUP 08/09. Barbara Plackowska,Wrocław,PL RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 202961 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 354738 (51) Int.Cl. G01F 23/14 (2006.01) F22B 37/78 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22)

Bardziej szczegółowo

(12) OPIS PATENTOWY (19)PL

(12) OPIS PATENTOWY (19)PL RZECZPOSPOLITA POLSKA Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (12) OPIS PATENTOWY (19)PL (11)187065 (2 1) Numer zgłoszenia: 319023 (22) Data zgłoszenia: 18.03.1997 (13)B1 (51) IntCl7 A63F 9/08 (54) Układanka

Bardziej szczegółowo

(73) Uprawniony z patentu: (72)

(73) Uprawniony z patentu: (72) RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 179824 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 314390 (22) Data zgłoszenia: 21.05.1996 (51) IntCl7: B65F 1/06 B65D

Bardziej szczegółowo

(19) PL (11) (13) B2 (12) OPIS PATENTOWY PL B2 B23C 3/02. (57) 1. Przyrząd mocująco-centrujący na frezarkonakiełczarkę,

(19) PL (11) (13) B2 (12) OPIS PATENTOWY PL B2 B23C 3/02. (57) 1. Przyrząd mocująco-centrujący na frezarkonakiełczarkę, RZECZPO SPO LITA POLSKA Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (12) OPIS PATENTOWY (21) Numer zgłoszenia: 284148 (22) Data zgłoszenia: 03.03.1990 (19) PL (11) 161879 (13) B2 (51) IntCl5: B23C 3/02 (54)

Bardziej szczegółowo

(12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11)

(12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 182676 (21 ) Numer zgłoszenia 320546 (13) B3 (5 1) IntCl7 (22) Data zgłoszenia: 11.06.1997 B61G 11/10 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (61)

Bardziej szczegółowo

PL B1. Politechnika Łódzka,Łódź,PL BUP 12/06

PL B1. Politechnika Łódzka,Łódź,PL BUP 12/06 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 204273 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 371573 (51) Int.Cl. F01D 5/02 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data zgłoszenia: 06.12.2004

Bardziej szczegółowo

RZECZPOSPOLITAPOLSKA(12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) (13) B1

RZECZPOSPOLITAPOLSKA(12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) (13) B1 RZECZPOSPOLITAPOLSKA(12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 173969 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 303477 (22) Data zgłoszenia: 16.05.1994 (51) IntCl6 E04B 1/38 (54)Sposób

Bardziej szczegółowo

PL B1. AKADEMIA GÓRNICZO-HUTNICZA IM. STANISŁAWA STASZICA W KRAKOWIE, Kraków, PL BUP 12/13

PL B1. AKADEMIA GÓRNICZO-HUTNICZA IM. STANISŁAWA STASZICA W KRAKOWIE, Kraków, PL BUP 12/13 PL 222357 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 222357 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 400712 (22) Data zgłoszenia: 10.09.2012 (51) Int.Cl.

Bardziej szczegółowo

(12) OPIS PATENTOWY (19) PL

(12) OPIS PATENTOWY (19) PL RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 174307 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej ( 2 1) Numer zgłoszenia: 305733 (22) Data zgłoszenia: 05.11.1994 (51) IntCl6: A47L 9/24 (54)

Bardziej szczegółowo

PL 207568 B1. Sposób pomiaru grubości i kształtu cienkich płytek i układ do pomiaru grubości i kształtu cienkich płytek

PL 207568 B1. Sposób pomiaru grubości i kształtu cienkich płytek i układ do pomiaru grubości i kształtu cienkich płytek RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 207568 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 376824 (22) Data zgłoszenia: 30.08.2005 (51) Int.Cl. G01B 11/06 (2006.01)

Bardziej szczegółowo

PL B1. Sposób i układ pomiaru całkowitego współczynnika odkształcenia THD sygnałów elektrycznych w systemach zasilających

PL B1. Sposób i układ pomiaru całkowitego współczynnika odkształcenia THD sygnałów elektrycznych w systemach zasilających RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 210969 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 383047 (51) Int.Cl. G01R 23/16 (2006.01) G01R 23/20 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22)

Bardziej szczegółowo

(13) B1 (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) PL B1 H02P 1/34

(13) B1 (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) PL B1 H02P 1/34 RZECZPOSPOLITA POLSKA Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (12) OPIS PATENTOWY ( 2 1) Numer zgłoszenia: 329338 (22) Data zgłoszenia: 21.10.1998 (19) PL (11) 189658 (13) B1 (51) IntCl7 H02P 1/34 (54)

Bardziej szczegółowo

PL 203461 B1. Politechnika Warszawska,Warszawa,PL 15.12.2003 BUP 25/03. Mateusz Turkowski,Warszawa,PL Tadeusz Strzałkowski,Warszawa,PL

PL 203461 B1. Politechnika Warszawska,Warszawa,PL 15.12.2003 BUP 25/03. Mateusz Turkowski,Warszawa,PL Tadeusz Strzałkowski,Warszawa,PL RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 203461 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 354438 (51) Int.Cl. G01F 1/32 (2006.01) G01P 5/01 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data

Bardziej szczegółowo

(12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) (13) B1

(12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) (13) B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 173831 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 304562 Urząd Patentowy (22) Data zgłoszenia: 03.08.1994 Rzeczypospolitej Polskiej (51) IntCl6: G01R 31/26 (54)

Bardziej szczegółowo

(13) B1 (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) PL B1 F16L 27/02

(13) B1 (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) PL B1 F16L 27/02 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 177481 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 308811 (51) IntCl6: F16L 27/02 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data zgłoszenia: 25.05.1995 (

Bardziej szczegółowo

PL 200888 B1. Sposób dokładnego wykrawania elementów z blach i otworów oraz wykrojnik do realizacji tego sposobu

PL 200888 B1. Sposób dokładnego wykrawania elementów z blach i otworów oraz wykrojnik do realizacji tego sposobu RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 200888 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 355081 (51) Int.Cl. B21D 28/06 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data zgłoszenia: 17.07.2002

Bardziej szczegółowo

WZORU UŻYTKOWEGO PL Y1. GPT STAL SPÓŁKA Z OGRANICZONĄ ODPOWIEDZIALNOŚCIĄ, Bytom, PL BUP 10/

WZORU UŻYTKOWEGO PL Y1. GPT STAL SPÓŁKA Z OGRANICZONĄ ODPOWIEDZIALNOŚCIĄ, Bytom, PL BUP 10/ PL 67102 Y1 RZECZPOSPOLITA POLSKA Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (12) OPIS OCHRONNY WZORU UŻYTKOWEGO (21) Numer zgłoszenia: 120458 (22) Data zgłoszenia: 31.10.2011 (19) PL (11) 67102 (13) Y1

Bardziej szczegółowo

WZORU UŻYTKOWEGO PL Y1. SPYRA PRIMO POLAND SPÓŁKA Z OGRANICZONĄ ODPOWIEDZIALNOŚCIĄ, Mikołów, PL BUP 23/

WZORU UŻYTKOWEGO PL Y1. SPYRA PRIMO POLAND SPÓŁKA Z OGRANICZONĄ ODPOWIEDZIALNOŚCIĄ, Mikołów, PL BUP 23/ RZECZPOSPOLITA POLSKA Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (12) OPIS OCHRONNY WZORU UŻYTKOWEGO (21) Numer zgłoszenia: 118993 (22) Data zgłoszenia: 30.04.2010 (19) PL (11) 66329 (13) Y1 (51) Int.Cl.

Bardziej szczegółowo

PL B1. POLITECHNIKA WROCŁAWSKA, Wrocław, PL BUP 02/08. PIOTR KURZYNOWSKI, Wrocław, PL JAN MASAJADA, Nadolice Wielkie, PL

PL B1. POLITECHNIKA WROCŁAWSKA, Wrocław, PL BUP 02/08. PIOTR KURZYNOWSKI, Wrocław, PL JAN MASAJADA, Nadolice Wielkie, PL RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 211200 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 380223 (22) Data zgłoszenia: 17.07.2006 (51) Int.Cl. G01N 21/23 (2006.01)

Bardziej szczegółowo

(19) PL (11) (13) B1 (12) OPIS PATENTOWY PL B1 E03F 3/04

(19) PL (11) (13) B1 (12) OPIS PATENTOWY PL B1 E03F 3/04 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 177794 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 310866 (22) Data zgłoszenia: 07.10.1995 (51) IntCl6 E03F 3/04 E03B

Bardziej szczegółowo

(12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) (13) B1

(12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) (13) B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 174162 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 303848 (51) IntCl6: F16H 1/14 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data zgłoszenia: 14.06.1994 (54)

Bardziej szczegółowo

PL B1. UNIWERSYTET ŁÓDZKI, Łódź, PL BUP 03/05. STANISŁAW BEDNAREK, Łódź, PL WUP 09/10

PL B1. UNIWERSYTET ŁÓDZKI, Łódź, PL BUP 03/05. STANISŁAW BEDNAREK, Łódź, PL WUP 09/10 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 206633 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 361507 (22) Data zgłoszenia: 30.07.2003 (51) Int.Cl. G09B 23/22 (2006.01)

Bardziej szczegółowo

PL B BUP 12/03. Kinkel Marcin,Różyny,PL WUP 06/08

PL B BUP 12/03. Kinkel Marcin,Różyny,PL WUP 06/08 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 198184 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 351035 (51) Int.Cl. A01L 1/00 (2006.01) A01L 1/02 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data

Bardziej szczegółowo

PL B BUP 03/05. Molawka Ryszard,Nisko-Zarzecze,PL WUP 09/08 RZECZPOSPOLITA POLSKA

PL B BUP 03/05. Molawka Ryszard,Nisko-Zarzecze,PL WUP 09/08 RZECZPOSPOLITA POLSKA RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 199544 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 361483 (51) Int.Cl. F25D 23/02 (2006.01) E05D 15/06 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22)

Bardziej szczegółowo

(19) PL (11) (13)B1 (12) OPIS PATENTOWY PL B1 FIG. 2 F28F 1/32 B60H 3/00. (57) 1. Wymiennik ciepła dla układu klimatyzacji

(19) PL (11) (13)B1 (12) OPIS PATENTOWY PL B1 FIG. 2 F28F 1/32 B60H 3/00. (57) 1. Wymiennik ciepła dla układu klimatyzacji RZECZPOSPOLITA POLSKA Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (12) OPIS PATENTOWY (21 ) Numer zgłoszenia: 318582 (22) Data zgłoszenia: 20.02.1997 (19) PL (11)182506 (13)B1 (51) IntCl7 F28F 1/32 B60H

Bardziej szczegółowo

PL B1. Politechnika Koszalińska,Koszalin,PL Wanatowicz Szymon,Koszalin,PL BUP 18/01. Szymon Wanatowicz,Koszalin,PL

PL B1. Politechnika Koszalińska,Koszalin,PL Wanatowicz Szymon,Koszalin,PL BUP 18/01. Szymon Wanatowicz,Koszalin,PL RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 200395 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 346259 (22) Data zgłoszenia: 02.03.2001 (51) Int.Cl. B65D 85/575 (2006.01)

Bardziej szczegółowo

RZECZPOSPOLITAPOLSKA(12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) (13)B1 PL B1. Fig.1. (51) Int.Cl.6: G01N 21/23 G01J 4/04

RZECZPOSPOLITAPOLSKA(12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) (13)B1 PL B1. Fig.1. (51) Int.Cl.6: G01N 21/23 G01J 4/04 RZECZPOSPOLITAPOLSKA(12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 174585 PO LSK A (13)B1 U rząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 304405 (22) Data zgłoszenia: 22.07.1994 (51) Int.Cl.6: G01N

Bardziej szczegółowo

PL B1. Urządzenie wskazujące do elektronarzędzi, zwłaszcza wyposażonych w obrotowe tarcze, zwłaszcza dla szlifierek kątowych

PL B1. Urządzenie wskazujące do elektronarzędzi, zwłaszcza wyposażonych w obrotowe tarcze, zwłaszcza dla szlifierek kątowych PL 216884 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 216884 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 390556 (22) Data zgłoszenia: 26.02.2010 (51) Int.Cl.

Bardziej szczegółowo

(54) (13)B1 PL B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19)PL (11)165054

(54) (13)B1 PL B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19)PL (11)165054 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19)PL (11)165054 (13)B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 289981 (22) Data zgłoszenia: 19.04.1991 (51) IntCl5: B63B 39/14 (54)

Bardziej szczegółowo

(12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) (13) B1

(12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) (13) B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 160314 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 280734 (22) Data zgłoszenia: 21.07.1989 (51) IntCl5: F16H 3/06 F16H

Bardziej szczegółowo

PL B1. Sposób trzydobowego pomiaru ciepła twardnienia betonów i urządzenie do trzydobowego pomiaru ciepła twardnienia betonów

PL B1. Sposób trzydobowego pomiaru ciepła twardnienia betonów i urządzenie do trzydobowego pomiaru ciepła twardnienia betonów PL 220335 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 220335 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 399026 (51) Int.Cl. G01N 25/20 (2006.01) G01N 33/38 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej

Bardziej szczegółowo

PL B1. SKRZETUSKI RAFAŁ, Niemodlin, PL SKRZETUSKI ZBIGNIEW, Niemodlin, PL SKRZETUSKI BARTOSZ, Niemodlin, PL

PL B1. SKRZETUSKI RAFAŁ, Niemodlin, PL SKRZETUSKI ZBIGNIEW, Niemodlin, PL SKRZETUSKI BARTOSZ, Niemodlin, PL RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 209287 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 376523 (51) Int.Cl. E04H 17/20 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data zgłoszenia: 05.08.2005

Bardziej szczegółowo

PL B1. AKADEMIA GÓRNICZO-HUTNICZA IM. STANISŁAWA STASZICA W KRAKOWIE, Kraków, PL BUP 10/12

PL B1. AKADEMIA GÓRNICZO-HUTNICZA IM. STANISŁAWA STASZICA W KRAKOWIE, Kraków, PL BUP 10/12 PL 220157 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 220157 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 392822 (51) Int.Cl. G01P 5/02 (2006.01) G01F 1/26 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej

Bardziej szczegółowo

PL B1. AKADEMIA GÓRNICZO-HUTNICZA IM. STANISŁAWA STASZICA, Kraków, PL BUP 15/09

PL B1. AKADEMIA GÓRNICZO-HUTNICZA IM. STANISŁAWA STASZICA, Kraków, PL BUP 15/09 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 210877 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 384963 (22) Data zgłoszenia: 18.04.2008 (51) Int.Cl. G01N 21/59 (2006.01)

Bardziej szczegółowo

(12) OPIS PATENTOWY. (86) Data i numer zgłoszenia międzynarodowego: , PCT/DE96/02405

(12) OPIS PATENTOWY. (86) Data i numer zgłoszenia międzynarodowego: , PCT/DE96/02405 RZECZPOSPOLITA POLSKA Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (12) OPIS PATENTOWY (21 ) Numer zgłoszenia: 321888 (22) Data zgłoszenia: 15.12.1996 (86) Data i numer zgłoszenia międzynarodowego: 15.12.1996,

Bardziej szczegółowo

PL B1. POLITECHNIKA WROCŁAWSKA, Wrocław, PL BUP 25/09. ANDRZEJ KOLONKO, Wrocław, PL ANNA KOLONKO, Wrocław, PL

PL B1. POLITECHNIKA WROCŁAWSKA, Wrocław, PL BUP 25/09. ANDRZEJ KOLONKO, Wrocław, PL ANNA KOLONKO, Wrocław, PL RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 209351 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 385341 (51) Int.Cl. F16L 55/165 (2006.01) F16L 58/02 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22)

Bardziej szczegółowo

(12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) (13) B1

(12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) (13) B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 169204 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej ( 2 1) Numer zgłoszenia. 297226 ( 2 2) Data zgłoszenia 29.12.1992 (51) IntCl6 B27B 5/36 B23D

Bardziej szczegółowo

WZORU UŻYTKOWEGO PL 65150 Y1 G09F 13/18 (2006.01) G09F 13/22 (2006.01) KEY COMPANY Sp. z o.o., Zaścianki, PL 23.11.2009 BUP 24/09

WZORU UŻYTKOWEGO PL 65150 Y1 G09F 13/18 (2006.01) G09F 13/22 (2006.01) KEY COMPANY Sp. z o.o., Zaścianki, PL 23.11.2009 BUP 24/09 RZECZPOSPOLITA POLSKA Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (12) OPIS OCHRONNY WZORU UŻYTKOWEGO (21) Numer zgłoszenia: 117471 (22) Data zgłoszenia: 14.05.2008 (19) PL (11) 65150 (13) Y1 (51) Int.Cl.

Bardziej szczegółowo

PL 208802 B1. NYK BOGUSŁAW, Warszawa, PL 13.10.2008 BUP 21/08. BOGUSŁAW NYK, Warszawa, PL 30.06.2011 WUP 06/11. rzecz. pat.

PL 208802 B1. NYK BOGUSŁAW, Warszawa, PL 13.10.2008 BUP 21/08. BOGUSŁAW NYK, Warszawa, PL 30.06.2011 WUP 06/11. rzecz. pat. RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 208802 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 382138 (51) Int.Cl. A47H 1/02 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data zgłoszenia: 04.04.2007

Bardziej szczegółowo

WZORU UŻYTKOWEGO PL Y1. TILIA SPÓŁKA Z OGRANICZONĄ ODPOWIEDZIALNOŚCIĄ, Łódź, PL BUP 05/ WUP 11/12

WZORU UŻYTKOWEGO PL Y1. TILIA SPÓŁKA Z OGRANICZONĄ ODPOWIEDZIALNOŚCIĄ, Łódź, PL BUP 05/ WUP 11/12 RZECZPOSPOLITA POLSKA Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (12) OPIS OCHRONNY WZORU UŻYTKOWEGO (21) Numer zgłoszenia: 119276 (22) Data zgłoszenia: 23.08.2010 (19) PL (11) 66194 (13) Y1 (51) Int.Cl.

Bardziej szczegółowo

PL B1. POLITECHNIKA WROCŁAWSKA, Wrocław, PL BUP 18/15. HANNA STAWSKA, Wrocław, PL ELŻBIETA BEREŚ-PAWLIK, Wrocław, PL

PL B1. POLITECHNIKA WROCŁAWSKA, Wrocław, PL BUP 18/15. HANNA STAWSKA, Wrocław, PL ELŻBIETA BEREŚ-PAWLIK, Wrocław, PL PL 224674 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 224674 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 409674 (51) Int.Cl. G02B 6/02 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data zgłoszenia:

Bardziej szczegółowo

RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 166562 (13) B1

RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 166562 (13) B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 166562 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 292871 (22) Data zgłoszenia: 19.12.1991 (51) IntCl6: B65D 1/16 B21D

Bardziej szczegółowo

(13) B1 (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) PL B1 F16F 9/14 F16F 9/30 RZECZPOSPOLITA POLSKA. Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej

(13) B1 (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) PL B1 F16F 9/14 F16F 9/30 RZECZPOSPOLITA POLSKA. Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 173407 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 305460 (22) Data zgłoszenia: 13.10.1994 (51) IntCl6: F16F 9/14 F16F

Bardziej szczegółowo

PL B1. AXTONE SPÓŁKA Z OGRANICZONĄ ODPOWIEDZIALNOŚCIĄ, Kańczuga, PL BUP 07/10

PL B1. AXTONE SPÓŁKA Z OGRANICZONĄ ODPOWIEDZIALNOŚCIĄ, Kańczuga, PL BUP 07/10 PL 212572 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 212572 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 386087 (51) Int.Cl. B61G 11/08 (2006.01) F16F 7/12 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej

Bardziej szczegółowo

^ OPIS OCHRONNY PL 60786

^ OPIS OCHRONNY PL 60786 EGZEMPLARZ ARCHIWALNY RZECZPOSPOLITA POLSKA ^ OPIS OCHRONNY PL 60786 WZORU UŻYTKOWEGO 13) Y1 (2l) Numer zgłoszenia: 109400 5i) Intel7: Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej @ Data zgłoszenia: 13.03.1999

Bardziej szczegółowo

PL 201250 B1. Balcer Józef Zakład Wielobranżowy RETRO,Nakło n/notecią,pl 13.12.2004 BUP 25/04. Józef Balcer,Nakło n/notecią,pl 31.03.

PL 201250 B1. Balcer Józef Zakład Wielobranżowy RETRO,Nakło n/notecią,pl 13.12.2004 BUP 25/04. Józef Balcer,Nakło n/notecią,pl 31.03. RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 201250 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 360458 (51) Int.Cl. E04G 1/32 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data zgłoszenia: 02.06.2003

Bardziej szczegółowo

PL 214324 B1. SMAY SPÓŁKA Z OGRANICZONĄ ODPOWIEDZIALNOŚCIĄ, Kraków, PL 02.08.2010 BUP 16/10. JAROSŁAW WICHE, Kraków, PL 31.07.

PL 214324 B1. SMAY SPÓŁKA Z OGRANICZONĄ ODPOWIEDZIALNOŚCIĄ, Kraków, PL 02.08.2010 BUP 16/10. JAROSŁAW WICHE, Kraków, PL 31.07. PL 214324 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 214324 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 387102 (22) Data zgłoszenia: 23.01.2009 (51) Int.Cl.

Bardziej szczegółowo

(12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) (13) B1

(12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) (13) B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 171065 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 299277 (22) Data zgłoszenia: 11.06.1993 (51) IntCl6: G01R 35/02 (54)

Bardziej szczegółowo

(57) 1 Analizator ilości węgla w popiele, zwłaszcza unoszonym (13) B1 (12) OPIS PATENTOWY (19)PL (11) PL B1 G01N 21/25 G01N 33/00

(57) 1 Analizator ilości węgla w popiele, zwłaszcza unoszonym (13) B1 (12) OPIS PATENTOWY (19)PL (11) PL B1 G01N 21/25 G01N 33/00 RZECZPOSPOLITA POLSKA Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (12) OPIS PATENTOWY (19)PL (11)185142 (13) B1 (21 ) Numer zgłoszenia: 321304 (22) Data zgłoszenia 22.07.1997 (51) IntCl7 G01N 33/00 G01N

Bardziej szczegółowo

PL B1. UNIWERSYTET PRZYRODNICZY WE WROCŁAWIU, Wrocław, PL BUP 25/06

PL B1. UNIWERSYTET PRZYRODNICZY WE WROCŁAWIU, Wrocław, PL BUP 25/06 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 208036 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 379920 (51) Int.Cl. G01C 9/06 (2006.01) G01C 9/18 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data

Bardziej szczegółowo

PL B1. POLITECHNIKA LUBELSKA, Lublin, PL BUP 01/12. VIKTOR LOZBIN, Lublin, PL PIOTR BYLICKI, Świdnik, PL

PL B1. POLITECHNIKA LUBELSKA, Lublin, PL BUP 01/12. VIKTOR LOZBIN, Lublin, PL PIOTR BYLICKI, Świdnik, PL PL 218000 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 218000 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 391573 (51) Int.Cl. G01N 25/56 (2006.01) G01N 25/68 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej

Bardziej szczegółowo

PL B1. Sposób prostopadłego ustawienia osi wrzeciona do kierunku ruchu posuwowego podczas frezowania. POLITECHNIKA POZNAŃSKA, Poznań, PL

PL B1. Sposób prostopadłego ustawienia osi wrzeciona do kierunku ruchu posuwowego podczas frezowania. POLITECHNIKA POZNAŃSKA, Poznań, PL PL 222915 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 222915 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 401901 (22) Data zgłoszenia: 05.12.2012 (51) Int.Cl.

Bardziej szczegółowo

PL B1. PRZEDSIĘBIORSTWO CIMAT SPÓŁKA Z OGRANICZONĄ ODPOWIEDZIALNOŚCIĄ, Bydgoszcz, PL BUP 04/16

PL B1. PRZEDSIĘBIORSTWO CIMAT SPÓŁKA Z OGRANICZONĄ ODPOWIEDZIALNOŚCIĄ, Bydgoszcz, PL BUP 04/16 PL 223987 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 223987 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 409120 (22) Data zgłoszenia: 06.08.2014 (51) Int.Cl.

Bardziej szczegółowo

( 5 4 ) Urządzenie do nanoszenia cienkich warstw metalicznych i/lub ceramicznych

( 5 4 ) Urządzenie do nanoszenia cienkich warstw metalicznych i/lub ceramicznych RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 163335 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 289562 Urząd Patentowy (22) Data zgłoszenia: 21. 03. 1991 Rzeczypospolitej Polskiej (51) IntCl5: C23C 14/56

Bardziej szczegółowo

(12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11)

(12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) RZECZPOSPOLITA POLSKA Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 184035 (21 ) Numer zgłoszenia: 322833 (22) Data zgłoszenia: 23.10.1997 (13) B1 (51) IntCl7: A47B 57/48 A47B

Bardziej szczegółowo

OPIS PATENTOWY A01K 1/12 ( ) A01J 5/00 ( ) Sposób udoju mechanicznego mlecznych zwierząt udojowych,

OPIS PATENTOWY A01K 1/12 ( ) A01J 5/00 ( ) Sposób udoju mechanicznego mlecznych zwierząt udojowych, RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 197651 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 351036 (51) Int.Cl. A01K 1/12 (2006.01) A01J 5/00 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data

Bardziej szczegółowo

(21) Num er zgłoszenia:

(21) Num er zgłoszenia: R Z E C Z PO SPO L IT A ( 12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 157979 PO L SK A (13) B1 (21) Num er zgłoszenia: 277718 (51) Int.Cl.5: F16F 3/00 U rząd P atentow y R zeczypospolitej Polskiej (22) D ata zgłoszenia:

Bardziej szczegółowo

PL B BUP 03/04. Zielenda Andrzej,Rostarzewo,PL Pigłas Wojciech,Wolsztyn,PL WUP 10/09 RZECZPOSPOLITA POLSKA

PL B BUP 03/04. Zielenda Andrzej,Rostarzewo,PL Pigłas Wojciech,Wolsztyn,PL WUP 10/09 RZECZPOSPOLITA POLSKA RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 203501 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 361725 (51) Int.Cl. H01R 13/633 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data zgłoszenia: 19.08.2003

Bardziej szczegółowo

OPIS PATENTOWY (19) PL

OPIS PATENTOWY (19) PL RZECZPOSPOLITA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 181056 POLSKA (13) B1 (21 ) Numer zgłoszenia: 315605 (51) IntCl7 E04B 9/22 Urząd Patentowy (22) Data zgłoszenia: 09.08.1996 Rzeczypospolitej Polskiej (54)

Bardziej szczegółowo