Systemy czujnikowe S / 2.870

Transkrypt

1 Systemy czujnikowe S / Rys. 1. Jarzmo cewki segmentowej LSP 180 z regulacją wysokości, cewka segmentowa LMD i kabel cewki Rys. 2. Jarzmo cewki segmentowej LSP 180 z regulacją wysokości, cewka segmentowa LMD Zastosowanie Systemy czujnikowe S są stosowane do badań nieniszczących szwów spawalniczych w rurach metalowych metodą prądowirową przy użyciu cewek segmentowych LMD. Dostępne są różne systemy czujnikowe S z magnetyzacją DC i bez magnetyzacji, opisane w niniejszej ulotce.

2 Zadania testowania Testowanie materiałów nieferromagnetycznych Testowanie materiałów z małą zawartością składników ferrytycznych Testowanie materiałów ferromagnetycznych Testowanie rur okrągłych wklęsłymi cewkami segmentowymi LMD oraz rur prostokątnych segmentowymi cewkami LMD Zakres średnicy testowanego materiału od 10 do 180 mm Stosowanie bezpośrednio w linii produkcyjnej, tj. za stanowiskiem spawania rur Testowanie przy wszystkich prędkościach spawania Zastosowania System czujnikowy nie styka się z badanym materiałem, tj. dokładność prowadzenia mechanizmu transportowego jest dostatecznie dobra dla zapewnienia stałej czułości. System czujnikowy toczy się po powierzchni materiału, osiągając przez to stałą czułość testowania. Cechy oprawy cewki segmentowej SH 180 oraz jarzm cewki segmentowej LSP 180 i LSM 180 Niskie koszty systemów Zakres średnicy 10 do 180 mm, w wersji specjalnej do 500 mm Krótka, zwarta budowa Łatwa wymiana cewek segmentowych Mocny układ wrzecionowy do regulacji wysokości Zabezpieczenie cewek testujących przez płytki ochronne (SH 180 i LSP 180) lub wymienne nabiegunniki (LSM 180) Częściowa magnetyzacja wzdłużna obszaru szwów spawalniczych (LSP 180 i LSM 180) Możliwość odchylania w górę uchwytu cewki Brak styku oprawy cewki lub jarzma cewki z badanym materiałem Budowa System czujnikowy LSP do testowania materiału o małej zawartości składników ferrytycznych Jarzmo cewki segmentowej LSP ( ) z regulacją wysokości Dostępne jest specjalnie zaprojektowane jarzmo LSP z rolkami do prowadzenia wzdłuż rury. Układ liniowej regulacji wysokości Magnesy stałe Ramię Płytki ochronne kabel cewki połączenie z elektroniką testującą układ liniowej regulacji wysokości cewka segmentowa LMD płaska, wielkość I cewka segmentowa LMD, wielkość I mostek strumienia magnetycznego magnes stały płytka ochronna śruba regulacyjna do regulacji wysokości cewki segmentowej Ramię wysięgnika może się odchylać w górę, gdy badany materiał styka się z płytkami ochronnymi. Rys. 3. System czujnikowy S na przykładzie jarzma cewki segmentowej LSP 180, / /03

3 Jarzmo cewki segmentowej LSP 180 obejmuje zakres średnic rury od 10 do 180 mm. Gniazdo wysięgnika mieści w sobie cewkę segmentową LMD wielkości I o wymiarach nominalnych 11 do 200 mm lub płaską cewkę segmentową LMD (wielkości I). Szczelina między cewką segmentową LMD a powierzchnią materiału może być ustawiona ręcznie i przy liniowym układzie regulacji wynosi 1 do 2,5 mm*. Cewka segmentowa LMD zawiera zarówno uzwojenie różnicowe z obwodem wieloróżnicowym, jak i uzwojenie bezwzględne do oceny z kanałem różnicowym i/lub bezwzględnym. Ponieważ system czujnikowy nie jest podparty przez badany materiał, dla osiągnięcia stałej czułości testowania potrzebne jest dobre prowadzenie materiału. Obowiązuje następująca wartość wytyczna: ze wzrostem szczeliny o 1 mm następuje obniżenie czułości o 6 db. Dla zabezpieczenia cewek segmentowych LMD na wysięgniku po stronie wlotowej i wylotowej zamontowane są płytki ochronne. W zależności od użycia cewki segmentowej wklęsłej lub płaskiej muszą być zamontowane płytki ochronne pryzmatyczne lub płaskie**. Jeśli to konieczne w liniach spawania, trzeba utrzymać maksymalną temperaturę powierzchni 110 C przez zastosowanie chłodzenia powietrznego (dostawa klienta). Jarzmo cewki segmentowej LSP 180 bez regulacji wysokości W tym jarzmie cewki segmentowej szczelina między cewką LMD a powierzchnią materiału musi być ustawiona przez stałą instalację. Nie ma tu liniowego układu regulacji wysokości. System czujnikowy SH do badania materiałów nieferromagnetycznych Oprawa cewki segmentowej SH 180 z regulacją wysokości Ta oprawa cewki segmentowej ma właściwie taką samą budowę, jak jarzmo cewki segmentowej LSP 180***, opisane powyżej. Różnice są następujące: brak magnesów stałych, brak mostka strumienia magnetycznego. Oprawa cewki segmentowej SH 180 bez regulacji wysokości Poza regulacją wysokości oprawa ta ma identyczną budowę jak oprawa cewki segmentowej SH 180 z regulacją wysokości. Wymiary Rys. 4. Oprawa cewki segmentowej SH i jarzmo cewki segmentowej LSP z regulacją wysokości * W zależności od tolerancji średnicy i dokładności prowadzenia. ** Opcja *** W odróżnieniu od oprawy cewki segmentowej SH 180 jarzmo cewki segmentowej LSP 180 zawiera dwa magnesy stałe i mostek strumienia magnetycznego. Poza tym ich budowa jest identyczna / /03 3

4 System czujnikowy LSM do badania materiałów ferromagnetycznych Jarzmo cewki segmentowej LSM 180 Cewka magnetyzacji jest zasilana przez: skrzynkę prądową jarzma o sześciu wartościach prądu. Zasadniczymi elementami jarzma cewki segmentowej LSM 180 są: stojak, układ regulacji wysokości, wysięgnik z cewką magnetyzacji i 1 parą nabiegunników. Jarzmo cewki segmentowej LSM 180 ( ) z regulacją wysokości jest zaprojektowane dla zakresu średnic rur od 10 do 180 mm, a w wersji specjalnej do 500 mm ( ). Inna wersja LSM 180 jest wyposażona w urządzenie unoszące ( ). Solidny stojak wspiera układ regulacji wysokości. Na układzie regulacyjnym zamontowane jest wychylne ramię wysięgnika, zawierające dwa pręty magnesujące. Gniazdo cewki i nabiegunniki znajdują się na końcu wysięgnika, a w jego części środkowej umieszczone są cewki magnetyzacji. Gniazdo wysięgnika mieści w sobie cewkę segmentową LMD wielkości I o wymiarach nominalnych 11 do 200 mm lub płaską cewkę segmentową LMD wielkości I o wymiarze nominalnym od 11 do 200 mm. Szczelina między cewką segmentową LMD a powierzchnią materiału może być ustawiona ręcznie i przy liniowym układzie regulacji wynosi 1 do 2,5 mm*. kabel cewki cewka segmentowa płaska LMD; wielkość I kabel jarzma cewka segmentowa LMD; wielkość I regulacja wysokości cewka segmentowa płaska LMD; wielkość I cewka magnesująca stojak nabiegunnik nabiegunnik płaski Ramię wysięgnika może się odchylać w górę, gdy badany materiał styka się z płytkami ochronnymi. Rys. 5. Jarzmo cewki segmentowej LSM * W zależności od tolerancji średnicy i dokładności prowadzenia / /03

5 Ponieważ ten system czujnikowy nie jest podparty przez badany materiał, dla osiągnięcia stałej czułości testowania potrzebne jest dobre prowadzenie materiału. Obowiązuje następująca wartość wytyczna: ze wzrostem szczeliny o 1 mm następuje obniżenie czułości o 6 db. W celu poprawy strumienia magnetycznego i zabezpieczenia cewek segmentowych, po stronie wlotowej i wylotowej muszą być zamontowane nabiegunniki. Jeśli obowiązują normalne wymagania, cewkę segmentową i nabiegunniki odpowiednie dla danej średnicy badanego materiału należy dobrać na podstawie tabeli 1. Przy doborze konieczne jest zastosowanie cewek segmentowych i nabiegunników o tej samej średnicy nominalnej. W skrajnych przypadkach powoduje to wzrost szczeliny powietrznej od 1,2 mm w położeniu godziny 12 aż do granicy efektywnego obszaru zastosowanej cewki. Dla specjalnych wymagań dostępne są cewki segmentowe i nabiegunniki o drobniejszym stopniowaniu (patrz instrukcja zamawiania). Badana średnica [mm] Tabela 1 10 do do do do do do do do do do do do do do 198 Nominalna średnica cewki segmentowej i nabiegunników [mm] W przypadku stosowania cewek segmentowych o nominalnej średnicy nie podanej w tabeli 1 należy użyć nabiegunników o najbliższej wyższej średnicy nominalnej. Wymiary Rys. 6. Jarzmo cewki segmentowej LSM z regulacją wysokości 2.869/ /03 5

6 Systemy czujnikowe S - elementy specjalne Wózek cewki segmentowej Ten system czujnikowy S jest specjalnym elementem stosowanym do badania materiałów nieferromagnetycznych w zakresie średnic od 10 do 180 mm. Elementami wózka cewki segmentowej są: stojak do ręcznej regulacji wysokości, wychylne ramię wysięgnika, przeciwwaga, gniazdo cewki, para rolek. Rolki i gniazdo cewki są zamocowane po jednej stronie wychylnego wysięgnika o regulowanej wysokości, a przeciwwaga jest zamocowana po drugiej stronie. Gniazdo cewki mieści w sobie cewki segmentowe LMD wielkości I lub cewki segmentowe LMD płaskie wielkości I, stosowane do testowania szwów spawalniczych. Nacisk, z którym rolki toczą się po powierzchni materiału, może być regulowany za pomocą przeciwwagi. Szczelina miedzy cewką testującą a powierzchnią materiału jest wstępnie ustalona przez rolki i utrzymywana bez zmian, jeśli istnieje dobre prowadzenie materiału i jeśli powierzchnia materiału jest w dobrym stanie, aby osiągnąć stałą, wysoką czułość testowania. Powyższe informacje odnoszą się do wahań czułości. Wózek cewki segmentowej może się odchylać w górę wokół czopa wysięgnika i przez to nadążać za pionowymi niedokładnościami prowadzenia. Jego wahadłowe zawieszenie na wysięgniku pozwala także na nadążanie za niewielkimi odchyleniami poziomymi. kabel cewki cewka segmentowa LMD; wielkość I przeciwwaga cewka segmentowa płaska LMD; wielkość I ramię wysięgnika stojak wózek cewki segmentowej; wymiar nominalny 10 do 180 Rys. 7. Wózek cewki segmentowej i stojak / /03

7 Wózek cewki segmentowej PM Wózek cewki segmentowej PM jest stosowany w szczególności do testowania materiałów austenitycznych i ferromagnetycznych o zakresie średnic od 10 do 115 mm. regulacja wysokości kabel cewki cewka segmentowa płaska LMD; wielkość I cewka segmentowa LMD; wielkość I stojak wahacz wózek cewki segmentowej rolki magnesy stałe Rys. 8. Wózek cewki segmentowej PM z oprawą Elementami tego systemu czujnikowego są: stojak, układ regulacji wysokości, wahacz, wózek cewki segmentowej PM, magnesy stałe, rolki, gniazdo cewki. Na stojaku zamontowany jest układ regulacji wysokości z wahaczem, do którego zamocowany jest wózek cewki segmentowej PM. Wysokość wózka cewki segmentowej PM może być regulowana w zakresie 180 mm za pomocą wrzeciona układu regulacyjnego. Można obrócić układ regulacji wysokości z wahaczem i wózkiem cewki o 180, tak aby ten system czujnikowy był ustawiony od dolnej strony badanego materiału. Wózek cewki segmentowej składa się z następujących elementów: gniazdo cewki, oprawa z magnesami stałymi, rolki. Gniazdo cewki mieści w sobie cewkę segmentową. Jej położenie instalacyjne jest niemożliwe do pomylenia dzięki bocznemu wycięciu. Cewka jest blokowana we właściwym położeniu wkrętem blokującym / /03 7

8 W oprawę wbudowane są stałe magnesy, które ujednorodniają badany materiał. Żelazna płytka zapewnia powrotną drogę magnetyczną (funkcja zwory magnesu). Wymiary Rys. 9. Wózek cewki segmentowej PM z oprawą Na oprawie zamontowane są wymienne rolki, powlekane, umieszczone ze względnym kątem rozwarcia 120. Długość rolek jest zaprojektowana w taki sposób, żeby możliwe było testowanie całego zakresu średnic. Jeśli powłoka rolek ulegnie nadmiernemu zużyciu, trzeba je wymienić, żeby zapewnić odpowiednią szczelinę między cewką segmentową a powierzchnią rury. Wózek cewki segmentowej PM ma dwa stopnie swobody, może więc nadążać za niewielkimi niedokładnościami prowadzenia. Wózek może się odchylać w górę wokół czopa wahacza i przez to nadążać za pionowymi niedokładnościami prowadzenia. Jego wahadłowe zawieszenie na wysięgniku pozwala także na nadążanie za niewielkimi odchyleniami poziomymi / /03

9 Systemy czujnikowe M 2.850/51/52 z cewkami segmentowymi Cewki segmentowe LMD mogą być stosowane w systemach czujnikowych bazujących na jarzmach magnesujących działających na zasadzie elektromagnetycznej. Głównym polem zastosowania tych systemów czujnikowych jest badanie materiałów ferromagnetycznych, magnesowanych w celu ujednorodnienia aż do punktu nasycenia. Na poniższych ogólnych rysunkach podano zakres średnic nominalnych, objęty przez każdy z systemów czujnikowych. Więcej informacji można znaleźć w ulotce "Systemy czujnikowe M 2.850/51/52", nr. zam Cechy systemów czujnikowych M Kołowy system czujnikowy z okrężną cewką magnesującą Ochronne dysze prowadzące po stronie wlotowej i wylotowej Dostosowanie wysokości za pomocą podnoszonego stolika Rys. 10. System czujnikowy M 40, M 90 i M / /03 9

10 Wielkość obudowy I Średnica nominalna 11 do 44 9 średnica nom. 11 do 44 Rys. 11. System czujnikowy M / /03

11 Wielkość obudowy I Rys. 12. System czujnikowy M 40, płaska cewka segmentowa 2.869/ /03 11

12 Lista pozycji systemu czujnikowego M 40 Poz. Nazwa Nr części Masa [kg] 1 kabel cewki 10 m ,5 2 segmentowa cewka testująca LMD, wielkość I, Ø nom. 1,2 do 44 mm 7 segmentowa cewka testująca LMD, płaska wielkość I, Ø nom. 1,2 do 180 mm do dysza, Ø nom. 1,2 do 44 mm do do 2,5 10 dysza płaska, Ø nom. 1,2 do 44 mm do jarzmo magnetyzujące M zestaw płytek chłodzenia cieczowego kabel jarzma 10 m lub podwójny czujnik badanego elementu, lub czujnik badanego elementu, H 40 lewy, lub czujnik badanego elementu, H 40 prawy kabel czujnika badanego elementu 10 m , ,8 1, / /03

13 Wielkość obudowy I Wielkość obudowy II Średnica nominalna: 11 do do do średnica nom. 11 do średnica nom. 50 do 100 Rys. 13. System czujnikowy M / /03 13

14 Wielkość obudowy I Wielkość obudowy II Rys. 14. System czujnikowy M 40, płaska cewka segmentowa / /03

15 Lista pozycji systemu czujnikowego M 90 Poz. Nazwa Nr części Masa [kg] 1 kabel cewki 10 m ,5 2 segmentowa cewka testująca LMD, wielkość I, Ø nom. 1,2 do 44 mm do a adaptor cewki ok. 3 3 segmentowa cewka testująca LMD, wielkość I, Ø nom. 50 do 100 mm do a adaptor cewki segmentowej S segmentowa cewka testująca LMD, wielkość II, Ø nom. 50 do 100 mm 7 segmentowa cewka testująca LMD, płaska wielkość I, Ø nom. 1,2 do 180 mm do a adaptor cewki segmentowej płaskiej SF S segmentowa cewka testująca LMD, płaska wielkość II, Ø nom. >44 do 180 mm / dysza, Ø nom. 1,2 do 44 mm do do 2,5 9a adaptor dyszy dysza płaska, Ø nom. 1,2 do 44 mm do dysza, Ø nom. 50 do 100 mm do ,5 do dysza płaska, Ø nom. >44 do 100 mm do jarzmo magnetyzujące M zestaw płytek chłodzenia cieczowego kabel jarzma 10 m lub podwójny czujnik badanego elementu, lub czujnik badanego elementu, H 40 lewy, lub czujnik badanego elementu, H 40 prawy kabel czujnika badanego elementu 10 m ,2 20 wkładka dociskowa I wkładka dociskowa II ,8 1, / /03 15

16 Średnica nominalna: 11 do do do do do średnica nom. 11 do średnica nom. 50 do średnica nom. 106 do 180 Rys. 15. System czujnikowy M 140 lub M / /03

17 Wielkość obudowy I Wielkość obudowy II Rys. 16. System czujnikowy M 140 lub M 170, płaska cewka segmentowa 2.869/ /03 17

18 Lista pozycji systemu czujnikowego M 170 Poz. Nazwa Nr części Masa [kg] 1 kabel cewki 10 m ,5 2 segmentowa cewka testująca LMD, wielkość I, Ø nom. 1,2 do 44 mm do a adaptor cewki ok. 3 2b adaptor cewki ok. 8 3 segmentowa cewka testująca LMD, wielkość I, Ø nom. 50 do 100 mm do a adaptor cewki segmentowej S b adaptor cewki segmentowej S segmentowa cewka testująca LMD, wielkość I, Ø nom. 108 do 180 mm 5 segmentowa cewka testująca LMD, wielkość II, Ø nom. 50 do 100 mm 6 segmentowa cewka testująca LMD, wielkość II, Ø nom. 108 do 180 mm 7 segmentowa cewka testująca LMD, płaska wielkość I, Ø nom. 1,2 do 180 mm do do do a adaptor cewki segmentowej płaskiej SF S b adaptor cewki segmentowej płaskiej SF S segmentowa cewka testująca LMD, płaska wielkość II, Ø nom. >44 do 180 mm / dysza, Ø nom. 1,2 do 44 mm do do 2,5 9a adaptor dyszy dysza płaska, Ø nom. 1,2 do 44 mm do dysza, Ø nom. 50 do 100 mm do ,5 do 12 11a adaptor dyszy ok dysza płaska, Ø nom. >44 do 100 mm do dysza, Ø nom. 108 do 180 mm do dysza płaska, Ø nom. >100 do 180 mm do jarzmo magnetyzujące M zestaw płytek chłodzenia cieczowego kabel jarzma 10 m lub podwójny czujnik badanego elementu, lub czujnik badanego elementu, H 40 lewy, lub czujnik badanego elementu, H 40 prawy kabel czujnika badanego elementu 10 m ,2 20 wkładka dociskowa I wkładka dociskowa II ,8 1, / /03

19 Systemy czujnikowe H 2.859/60 z cewkami segmentowymi Te systemy czujnikowe są stosowane do badań nieniszczących materiałów nieferromagnetycznych o zakresie średnic od 11 do 100 mm. Na poniższych ogólnych rysunkach podano zakres średnic nominalnych, objęty przez każdy z systemów czujnikowych. Więcej informacji można znaleźć w ulotce "Systemy czujnikowe H 2.859/60", numer zamówienia Cechy systemów czujnikowych H Kołowy system czujnikowy bez magnetyzacji Ochronne dysze prowadzące po stronie wlotowej i wylotowej Dostosowanie wysokości za pomocą podnoszonego stolika Rys. 17. System czujnikowy H 90 i H / /03 19

20 2 średnica nom. 11 do 44 Wielkość obudowy I 9 średnica nom. 11 do 44 Rys. 18. System czujnikowy H / /03

21 Wielkość obudowy I 10 średnica nom. 1,2 do 44 Rys. 19. System czujnikowy H 40, płaska cewka segmentowa 2.869/ /03 21

22 Lista pozycji oprawy cewki H40 Poz. Nazwa Nr części Masa [kg] 1 kabel cewki 10 m ,5 2 segmentowa cewka testująca LMD, wielkość I, Ø nom. 1,2 do 44 mm 7 segmentowa cewka testująca LMD, płaska wielkość I, Ø nom. 1,2 do 44 mm do dysza, Ø nom. 1,2 do 44 mm do do 2,5 10 dysza płaska, Ø nom. 1,2 do 44 mm do oprawa cewki H podwójny czujnik badanego elementu, lub czujnik badanego elementu, H 40 lewy, lub czujnik badanego elementu, H 40 prawy kabel czujnika badanego elementu 10 m ,2 20 wkładka dociskowa I ,8 1, / /03

23 2 średnica nom. 11 do 44; wielkość obudowy I 3 średnica nom. 50 do 100; wielkość obudowy I 5 średnica nom. 50 do 100; wielkość obudowy II 9 średnica nom. 11 do średnica nom. 50 do 100 Rys. 20. System czujnikowy H / /03 23

24 7 wielkość obudowy I 8 wielkość obudowy II Rys. 21. System czujnikowy H 90, płaska cewka segmentowa / /03

25 Lista pozycji oprawy cewki H 90 Poz. Nazwa Nr części Masa [kg] 1 kabel cewki 10 m ,5 2 segmentowa cewka testująca LMD, wielkość I, Ø nom. 1,2 do 44 mm do a adaptor cewki ok. 3 3 segmentowa cewka testująca LMD, wielkość I, Ø nom. 50 do 100 mm do a adaptor cewki segmentowej S segmentowa cewka testująca LMD, wielkość II, Ø nom. 50 do 100 mm 7 segmentowa cewka testująca LMD, płaska wielkość I, Ø nom. 1,2 do 100 mm do a adaptor cewki segmentowej płaskiej SF S segmentowa cewka testująca LMD, płaska wielkość II, Ø nom. >44 do 100 mm / dysza, Ø nom. 1,2 do 44 mm do do 2,5 10 dysza płaska, Ø nom. 1,2 do 44 mm do oprawa cewki H podwójny czujnik badanego elementu, lub czujnik badanego elementu, H 40 lewy, lub czujnik badanego elementu, H 40 prawy kabel czujnika badanego elementu 10 m ,2 20 wkładka dociskowa I wkładka dociskowa II ,8 1, / /03 25

26 Dane techniczne Elementy standardowe Badany materiał Oprawa cewki segmentowej SH 180 NFe Jarzmo cewki segmentowej LSP 180 NFe (mała ilość Fe) aust. Fe (mała ilość składników) Jarzmo cewki segmentowej LSM 180 Średnica nom. [mm] 10 do do do 180 Natężenie pola - 50 ka/m 80 ka/m Masa (około) z bez z bez regulacją(i) wysokości regulacją(i) wysokości Fe aust. 9 kg 4,4 kg 10 kg 5,4 kg 65 kg Temperatura otoczenia 0 do 45 C Obudowa (DIN ) - IP 65 Elementy specjalne Badany materiał Wózek cewki segmentowej NFe Wózek cewki segmentowej PM - aust. Fe (mała ilość składników) Średnica nom. [mm] 10 do do 115 Natężenie pola - 48 ka/m Masa (około) 9 kg 11 kg Temperatura otoczenia 0 do 45 C Obudowa (DIN ) - Systemy czujnikowe M i H Badany materiał M 40 M 90 M 140 / M 170 H 40 H 90 - Fe aust. - Fe aust. Średnica nom. [mm] 11 do do do 140/ do do 100 Max. pole przekroju możliwe do magnetyzacji do stanu nasycenia - Fe aust. ok. 800 mm 2 ok. 800 mm 2 ok. 800 mm 2 bez magnetyzacji Masa (około) 55 kg 95 kg 320 kg 9 kg 15 kg Temperatura otoczenia 0 do 45 C NFe NFe / /03

27 Kable Kabel jarzma Do magnetyzacji dostępne są dwa różne kable jarzma długości 10 m: kabel jarzma 10 m; , kabel jarzma 10 m z przyłączem zaciskowym na jednym końcu; Kabel pośredni Elastyczny kabel pośredni łączy cewkę segmentową LMD z ekranowanym kablem testowania. Długość kabla pośredniego: 0,7 m ,0 m Głównym polem zastosowania tych systemów czujnikowych jest badanie materiałów ferromagnetycznych, magnesowanych w celu ujednorodnienia aż do punktu nasycenia. Zaleca się stosowanie tych kabli, gdy w miejscu testowania występuje stłoczenie instalacji i gdy zachodzi potrzeba zgięcia z małym promieniem mniej elastycznego kabla testowania. Kabel cewki 10 m; Ekranowany kabel długości 10 m łączy cewkę segmentową LMD z elektroniką testującą i oceniającą lub elektronikę testującą i oceniającą z kablem pośrednim / /03 27

28 W razie szczególnych problemów prosimy o kontakt z firmą: INSTITUT DR. FÖRSTER Prüfgerätebau GmbH & Co. KG Skrytka D Reutlingen In Laisen 70 D Reutlingen Tel.: +49 (0) Fax: +49 (0) ts@foerstergroup.de lub z jednym z naszych przedstawicielstw zagranicznych Informacje i ilustracje mogą ulec zmianom. Division TS Test systems for semi-finished products Skrytka D Reutlingen In Laisen 70 D Reutlingen Tel.: +49 (0) Fax: +49 (0) ts@foerstergroup.de Nr zam.: Wydanie: 2002/03 Autor: Leibssle Division CT Test systems for component testing Joseph-von-Fraunhofer-Str. 15 D Dortmund Tel.: +49 (0) 231/ Fax: +49 (0) 231/ foerster.ct@t-online.de / /03